JP2622885B2 - シート厚さ測定装置 - Google Patents
シート厚さ測定装置Info
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Description
【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、磁界利用センサーと光センサーとを併用し
て紙、プラスチック等のシートの厚さを測定するための
シート厚さ測定装置に関するものである。
て紙、プラスチック等のシートの厚さを測定するための
シート厚さ測定装置に関するものである。
従来の技術 従来のこの種のシート厚さ測定装置は、添付図面の第
５図に概略的に示すように、金属製バックアッププレー
ト１の上に載置した紙シート２の上にそって磁気センサ
ーや渦電流センサー等の磁界利用センサー３と光センサ
ー４とを含むセンサー組合せ体５を走査していくことに
より、紙シート２の厚さを測定している。原理的には、
金属製バックアッププレート１の表面までの距離l1を磁
界利用センサー３にて測定し、紙シート２の上面までの
距離l2を光センサー４にて測定し、その点での紙シート
２の厚さｔを、次の式にて求めることによっている。
５図に概略的に示すように、金属製バックアッププレー
ト１の上に載置した紙シート２の上にそって磁気センサ
ーや渦電流センサー等の磁界利用センサー３と光センサ
ー４とを含むセンサー組合せ体５を走査していくことに
より、紙シート２の厚さを測定している。原理的には、
金属製バックアッププレート１の表面までの距離l1を磁
界利用センサー３にて測定し、紙シート２の上面までの
距離l2を光センサー４にて測定し、その点での紙シート
２の厚さｔを、次の式にて求めることによっている。
ｔ＝l1−l2 発明が解決しようとする課題 しかしながら、このような従来のシート厚さ測定装置
では、厚さを測定しようとするシートが透明体であるよ
うな場合には、光センサー３による距離測定値に信頼が
おけず、正確なシート厚さを求めることが困難であっ
た。その上、測定すべきシートが不透明な場合であって
も、このような従来のシート測定装置によって実際に測
定してみると、1/100mm程度の精度では問題なく測定で
きるのであるが、1/1000mm程度の精度まで測定しようと
すると問題があった。この問題は、金属製バックアップ
プレートに対してセンサーを移動させながら測定する場
合に時に著しい。
では、厚さを測定しようとするシートが透明体であるよ
うな場合には、光センサー３による距離測定値に信頼が
おけず、正確なシート厚さを求めることが困難であっ
た。その上、測定すべきシートが不透明な場合であって
も、このような従来のシート測定装置によって実際に測
定してみると、1/100mm程度の精度では問題なく測定で
きるのであるが、1/1000mm程度の精度まで測定しようと
すると問題があった。この問題は、金属製バックアップ
プレートに対してセンサーを移動させながら測定する場
合に時に著しい。
例えば、紙シート２が載置されていない金属製バック
アッププレート１の表面上にそってセンサー組合せ体５
を走査させて、その時の磁気センサー３の出力特性と光
センサー４の出力特性を記録してみると、第６図に示す
ようになった。第６図（Ａ）は、磁気センサー３の出力
特性の一例を示し、第６図（Ｂ）は、光センサー４の出
力特性の一例を示している。この場合における磁気セン
サー３の出力特性と光センサーの出力特性とは、同一の
面を測定しているのであるから、同一形状とならなけれ
ばならないであるが、第６図（Ａ）と第６図（Ｂ）とを
比較すると明らかなように、磁気センサー３の出力特性
は、光センサー４の出力特性の変化に比べて大きく複雑
に変化している。この原因は、各種の実験、文献調査等
から推察できることであるが、金属製バックアッププレ
ートの局部的な帯磁、材質の不均一等が磁気センサーの
誤差原因となっているものと思われる。また、金属製バ
ックアッププレートに磁性体を使用した場合、一部にマ
グネット等の付け局部的に帯磁（数ガウス程度）させた
後、走査すると、磁気利用センサーの出力は、数十μｍ
分の変動を示す。また、ガウスメーターでバックアップ
プレートの表面を調べ、変動の全くないところ（ガウス
メーターの分解能は、0.1ガウス）でも、大きな変動を
示すところがある。このようなことは、金属製バックア
ッププレートに非磁性体を使用し、渦電流型磁気センサ
ーを使用しても同様の問題が生じてしまう。このよう
な、特に、磁界利用センサーによる誤差が、この種のシ
ート厚さ測定装置の測定精度を上げる上での支障となっ
ているものと考えられる。
アッププレート１の表面上にそってセンサー組合せ体５
を走査させて、その時の磁気センサー３の出力特性と光
センサー４の出力特性を記録してみると、第６図に示す
ようになった。第６図（Ａ）は、磁気センサー３の出力
特性の一例を示し、第６図（Ｂ）は、光センサー４の出
力特性の一例を示している。この場合における磁気セン
サー３の出力特性と光センサーの出力特性とは、同一の
面を測定しているのであるから、同一形状とならなけれ
ばならないであるが、第６図（Ａ）と第６図（Ｂ）とを
比較すると明らかなように、磁気センサー３の出力特性
は、光センサー４の出力特性の変化に比べて大きく複雑
に変化している。この原因は、各種の実験、文献調査等
から推察できることであるが、金属製バックアッププレ
ートの局部的な帯磁、材質の不均一等が磁気センサーの
誤差原因となっているものと思われる。また、金属製バ
ックアッププレートに磁性体を使用した場合、一部にマ
グネット等の付け局部的に帯磁（数ガウス程度）させた
後、走査すると、磁気利用センサーの出力は、数十μｍ
分の変動を示す。また、ガウスメーターでバックアップ
プレートの表面を調べ、変動の全くないところ（ガウス
メーターの分解能は、0.1ガウス）でも、大きな変動を
示すところがある。このようなことは、金属製バックア
ッププレートに非磁性体を使用し、渦電流型磁気センサ
ーを使用しても同様の問題が生じてしまう。このよう
な、特に、磁界利用センサーによる誤差が、この種のシ
ート厚さ測定装置の測定精度を上げる上での支障となっ
ているものと考えられる。
本発明の目的は、前述したような従来の問題点を解消
しうるシート厚さ測定装置を提供することである。
しうるシート厚さ測定装置を提供することである。
課題を解決するための手段 本発明によれば、金属製バックアップ面の上のシート
厚さを測定するためのシート厚さ測定装置において、磁
界利用センサーと光センサーとを互いに一体化して備え
たシート厚さセンサーであって、前記磁界利用センサー
は、前記金属製バックアップ面および前記シートの上方
に配置されて前記金属製バックアップ面までの距離測定
値を出力するようになっており、前記光センサーは、前
記シートの載置される前記金属製バックアップ面の付近
へ横方向からビーム状の光を投光する投光手段と、前記
金属製バックアップ面の前記付近に関して前記投光手段
とは反対の側に配置されて前記投光されたビーム上の光
を受けて、前記ビーム状の光が前記金属製バックアップ
面およびこの金属製バックアップ面の上の前記シートの
厚さによって遮光される遮光量の変化または遮光位置の
ずれ量等から前記金属製バックアップ面および前記シー
トによる遮光巾測定値を出力する受光手段とを有してい
るようなシート厚さセンサーと、該シート厚さセンサー
を前記金属製バックアップ面に対して平行に所定の方向
において相対的に移動させるための走査手段と、記憶手
段と、前記金属製バックアップ面の上に前記シートが載
置されていない状態での前記走査手段による前記シート
厚さセンサーの基準値記憶走査において前記シート厚さ
センサーが各測定点に達する毎に前記磁界利用センサー
からの距離測定値d0および前記光センサーからの遮光巾
測定値W0を前記記憶手段に記憶させ、且つ前記金属製バ
ックアップ面の上に前記シートが載置された状態での前
記走査手段による前記シート厚さセンサーの計測走査に
おいて前記シート厚さセンサーが各測定点に達する毎に
前記磁界利用センサーからの距離測定値ｄおよび前記光
センサーからの遮光巾測定値Ｗを前記記憶手段に記憶さ
せるための書込み手段と、前記記憶手段から各測定点に
対応する距離測定値d0およびｄ並びに遮光巾測定値W0お
よびＷを読み取り、次の式:T＝Ｗ−（W0＋d0−ｄ）に従
った演算をして各測定点での前記シートの厚さＴを決定
するための演算手段と、を備えたことを特徴とする。
厚さを測定するためのシート厚さ測定装置において、磁
界利用センサーと光センサーとを互いに一体化して備え
たシート厚さセンサーであって、前記磁界利用センサー
は、前記金属製バックアップ面および前記シートの上方
に配置されて前記金属製バックアップ面までの距離測定
値を出力するようになっており、前記光センサーは、前
記シートの載置される前記金属製バックアップ面の付近
へ横方向からビーム状の光を投光する投光手段と、前記
金属製バックアップ面の前記付近に関して前記投光手段
とは反対の側に配置されて前記投光されたビーム上の光
を受けて、前記ビーム状の光が前記金属製バックアップ
面およびこの金属製バックアップ面の上の前記シートの
厚さによって遮光される遮光量の変化または遮光位置の
ずれ量等から前記金属製バックアップ面および前記シー
トによる遮光巾測定値を出力する受光手段とを有してい
るようなシート厚さセンサーと、該シート厚さセンサー
を前記金属製バックアップ面に対して平行に所定の方向
において相対的に移動させるための走査手段と、記憶手
段と、前記金属製バックアップ面の上に前記シートが載
置されていない状態での前記走査手段による前記シート
厚さセンサーの基準値記憶走査において前記シート厚さ
センサーが各測定点に達する毎に前記磁界利用センサー
からの距離測定値d0および前記光センサーからの遮光巾
測定値W0を前記記憶手段に記憶させ、且つ前記金属製バ
ックアップ面の上に前記シートが載置された状態での前
記走査手段による前記シート厚さセンサーの計測走査に
おいて前記シート厚さセンサーが各測定点に達する毎に
前記磁界利用センサーからの距離測定値ｄおよび前記光
センサーからの遮光巾測定値Ｗを前記記憶手段に記憶さ
せるための書込み手段と、前記記憶手段から各測定点に
対応する距離測定値d0およびｄ並びに遮光巾測定値W0お
よびＷを読み取り、次の式:T＝Ｗ−（W0＋d0−ｄ）に従
った演算をして各測定点での前記シートの厚さＴを決定
するための演算手段と、を備えたことを特徴とする。
実施例 次に、添付図面の第１図から第４図に基づいて、本発
明の実施例について本発明をより詳細に説明する。
明の実施例について本発明をより詳細に説明する。
第１図は、本発明の一実施例としてのシート厚さ測定
装置の概略構造を示す正面図、第２図は、その側面部分
拡大図である。第１図によく示されるように、両側の支
持フレーム20の間に水平に金属製バックアップロール12
が支持されている。また、支持フレーム20の間には、金
属製バックアップロール12の上に平行に間隔を置いてリ
ニアレール14が支持されている。このリニアレール14に
は、磁界利用センサーと光センサーとを組み合わせ一体
化したシート厚さセンサー13がスライド可能に支持され
ている。このシート厚さセンサー13は、走査用ステッピ
ングモーター15によって駆動されるチェーンホイール16
の間に掛けられたチェーン21に接続されていて、走査用
ステッピングモーター15の作動により、リニアレール14
にそって移動させられるようになっている。さらに、第
１図において左側のチェーンホイール16の近傍には、原
点検出用近傍スイッチ17が配置されており、リニアレー
ル14の両端近傍には、走査リミットスイッチ18が配置さ
れている。さらにまた、支持フレーム20には、金属製バ
ックアップロール12の回転位置を検出するためのロール
回転検出トランスジューサー19が設けられている。
装置の概略構造を示す正面図、第２図は、その側面部分
拡大図である。第１図によく示されるように、両側の支
持フレーム20の間に水平に金属製バックアップロール12
が支持されている。また、支持フレーム20の間には、金
属製バックアップロール12の上に平行に間隔を置いてリ
ニアレール14が支持されている。このリニアレール14に
は、磁界利用センサーと光センサーとを組み合わせ一体
化したシート厚さセンサー13がスライド可能に支持され
ている。このシート厚さセンサー13は、走査用ステッピ
ングモーター15によって駆動されるチェーンホイール16
の間に掛けられたチェーン21に接続されていて、走査用
ステッピングモーター15の作動により、リニアレール14
にそって移動させられるようになっている。さらに、第
１図において左側のチェーンホイール16の近傍には、原
点検出用近傍スイッチ17が配置されており、リニアレー
ル14の両端近傍には、走査リミットスイッチ18が配置さ
れている。さらにまた、支持フレーム20には、金属製バ
ックアップロール12の回転位置を検出するためのロール
回転検出トランスジューサー19が設けられている。
第２図によく示されるように、シート厚さセンサー13
は、金属製バックアップロール12の上方に配置された磁
界利用センサー24と、半導体レーザー22およびレンズ23
からなる投光器、ミラー25およびPSDまたはCCDからなる
受光器26で一体的に構成される光センサーとを備えてい
る。半導体レーザー23は、金属製バックアップロール12
のシート11の載置される付近をかすめるようにして横方
向からビーム状の光をレンズ23をとおして投光し、受光
器26は、金属製バックアップロール12に関して半導体レ
ーザー22とは直径方向において反対の側に配置されてミ
ラー15を介して前記ビーム状の光を受けるようになって
いる。なお、光源は、半導体レーザーに限定されず、LE
D等でもよい。
は、金属製バックアップロール12の上方に配置された磁
界利用センサー24と、半導体レーザー22およびレンズ23
からなる投光器、ミラー25およびPSDまたはCCDからなる
受光器26で一体的に構成される光センサーとを備えてい
る。半導体レーザー23は、金属製バックアップロール12
のシート11の載置される付近をかすめるようにして横方
向からビーム状の光をレンズ23をとおして投光し、受光
器26は、金属製バックアップロール12に関して半導体レ
ーザー22とは直径方向において反対の側に配置されてミ
ラー15を介して前記ビーム状の光を受けるようになって
いる。なお、光源は、半導体レーザーに限定されず、LE
D等でもよい。
第３図は、第１図および第２図に示したシート厚さ測
定装置の制御部の構成を略示したブロック図であり、こ
の第３図に示されるように、この制御部は、主として、
マイクロコンピュータ等で構成される中央処理装置CP
U、各種測定データを記憶しておくためのメモリー27
と、シート厚さセンサー13の磁界利用センサー２による
距離測定信号を増幅する演算増幅器28と、シート厚さセ
ンサー13の光センサー22、26による遮光巾測定信号を処
理する演算増幅器29と、各演算増幅器28および29によっ
て演算増幅されたアナログ値である各測定信号をそれぞ
れデジタルデータに変換するためのA/Dコンバータ30お
よび31と、走査用ステッピングモーター15の作動を制御
するためのステッピングモーターコントロール回路32
と、原点検出用近接スイッチ17、走査リミットスイッチ
18およびその他の制御用近接スイッチ17A（第１図およ
び第２図には示していない）のための入出力回路33と、
測定結果をCRT、レコーダー、プリンタ等へ出力するた
めの出力回路34とを備えている。
定装置の制御部の構成を略示したブロック図であり、こ
の第３図に示されるように、この制御部は、主として、
マイクロコンピュータ等で構成される中央処理装置CP
U、各種測定データを記憶しておくためのメモリー27
と、シート厚さセンサー13の磁界利用センサー２による
距離測定信号を増幅する演算増幅器28と、シート厚さセ
ンサー13の光センサー22、26による遮光巾測定信号を処
理する演算増幅器29と、各演算増幅器28および29によっ
て演算増幅されたアナログ値である各測定信号をそれぞ
れデジタルデータに変換するためのA/Dコンバータ30お
よび31と、走査用ステッピングモーター15の作動を制御
するためのステッピングモーターコントロール回路32
と、原点検出用近接スイッチ17、走査リミットスイッチ
18およびその他の制御用近接スイッチ17A（第１図およ
び第２図には示していない）のための入出力回路33と、
測定結果をCRT、レコーダー、プリンタ等へ出力するた
めの出力回路34とを備えている。
次に、このような構成のシート厚さ測定装置にて、シ
ートの厚さを測定する動作例について説明する。
ートの厚さを測定する動作例について説明する。
先ず初めに、金属製バックアップロール12の上にシー
トを載置していない状態において、中央処理装置CPU
は、走査用ステッピングモーター15へ指令を送り、シー
ト厚さセンサー13が原点位置にくるようにせしめる。す
なわち、シート厚さセンサー13によって原点検出用近接
スイッチ17が作用される位置まで、走査用ステッピング
モーター15を作動させて、シート厚さセンサー13を移動
させる。次に、その原点位置より、シート厚さセンサー
13による走査を開始させる。この走査は、基準値の読み
込みのための基準値記憶走査と称される。走査用ステッ
ピングモーター15によっておこなわれ且つバックアップ
ロール12の回転検出用トランスデューサー19のパルスに
同調して駆動される。即ち、バックアップロール面上を
スパイラル状に、しかも常に一定の経路を走査するよう
になっている。シート厚さセンサー13が一定距離走査す
る毎に、磁界利用センサー24とロール面までの距離測定
信号を、演算増幅器28およびA/Dコンバータ30を介して
メモリー27にデジタルデータとして記憶させ、且つ光セ
ンサーの受光器26の遮光巾測定信号を、演算増幅器29お
よびA/Dコンバータ31を介してデジタルデータとしてメ
モリー27に記憶させる。ここで、受光器26による遮光巾
測定信号は、各測定点における金属製バックアップロー
ルのみによって遮光される投光器22からのビーム状の光
の遮光量の変化または遮光位置のずれ量等に基づくもの
であり、これは言い換えると、シート厚さセンサー13と
各測定点におけるロール面との距離の変動と見做すこと
ができる。しかして、これに対応する磁界利用センサー
24の出力を対比させることにより、走査線上の各測定点
における磁気特性をイニシャル条件としてすべて知るこ
とができるのである。
トを載置していない状態において、中央処理装置CPU
は、走査用ステッピングモーター15へ指令を送り、シー
ト厚さセンサー13が原点位置にくるようにせしめる。す
なわち、シート厚さセンサー13によって原点検出用近接
スイッチ17が作用される位置まで、走査用ステッピング
モーター15を作動させて、シート厚さセンサー13を移動
させる。次に、その原点位置より、シート厚さセンサー
13による走査を開始させる。この走査は、基準値の読み
込みのための基準値記憶走査と称される。走査用ステッ
ピングモーター15によっておこなわれ且つバックアップ
ロール12の回転検出用トランスデューサー19のパルスに
同調して駆動される。即ち、バックアップロール面上を
スパイラル状に、しかも常に一定の経路を走査するよう
になっている。シート厚さセンサー13が一定距離走査す
る毎に、磁界利用センサー24とロール面までの距離測定
信号を、演算増幅器28およびA/Dコンバータ30を介して
メモリー27にデジタルデータとして記憶させ、且つ光セ
ンサーの受光器26の遮光巾測定信号を、演算増幅器29お
よびA/Dコンバータ31を介してデジタルデータとしてメ
モリー27に記憶させる。ここで、受光器26による遮光巾
測定信号は、各測定点における金属製バックアップロー
ルのみによって遮光される投光器22からのビーム状の光
の遮光量の変化または遮光位置のずれ量等に基づくもの
であり、これは言い換えると、シート厚さセンサー13と
各測定点におけるロール面との距離の変動と見做すこと
ができる。しかして、これに対応する磁界利用センサー
24の出力を対比させることにより、走査線上の各測定点
における磁気特性をイニシャル条件としてすべて知るこ
とができるのである。
次回からの走査（計測走査と称する）は、金属製バッ
クアップロール12の上に測定すべきシートを載置した状
態において行う。基準値記憶走査の場合と同様にして、
シート厚さセンサー13を再び原点から移動させて、シー
ト厚さセンサー13が各測定ポイントに達する毎に、中央
処理装置CPUは、その時々の磁界利用センサー24による
距離測定値（金属製バックアップロール12の上面までの
距離）および光センサーの受光器26による遮光巾測定値
（金属バックアップロール12とシート11の厚みによる遮
光巾）をメモリー27に記憶させる。
クアップロール12の上に測定すべきシートを載置した状
態において行う。基準値記憶走査の場合と同様にして、
シート厚さセンサー13を再び原点から移動させて、シー
ト厚さセンサー13が各測定ポイントに達する毎に、中央
処理装置CPUは、その時々の磁界利用センサー24による
距離測定値（金属製バックアップロール12の上面までの
距離）および光センサーの受光器26による遮光巾測定値
（金属バックアップロール12とシート11の厚みによる遮
光巾）をメモリー27に記憶させる。
次に、中央処理装置CPUは、メモリー27に記憶された
これらの距離測定値および遮光巾測定値に基づいてシー
ト11の厚さを演算して、出力回路34を通して出力させる
ようにする。この演算の基本的原理について以下、第４
図を参照して説明する。
これらの距離測定値および遮光巾測定値に基づいてシー
ト11の厚さを演算して、出力回路34を通して出力させる
ようにする。この演算の基本的原理について以下、第４
図を参照して説明する。
第４図において、参照符号12Bは、金属製バックアッ
プロール12上にシート11を載置していない状態で、基準
値記憶走査を行なうときのバックアップロール12のロー
ル面（CPU記憶面）の位置を示しており、参照符号12A
は、金属製バックアップロール12上にシート11を載置し
た状態で、計測走査を行なうときのバックアップロール
12のロール面（シート載置時のバックアップ面）の位置
を示している。第４図では、計測走査時のバックアップ
ロール12のロール面の位置12Aが、装置の振動、或いは
バックアップロールの熱膨張等のために、基準値記憶走
査時のバックアップロール12のロール面の位置12Bよ
り、磁界利用センサー24側にΔｄだけシフトした状態を
示している。参照符号Ｔは、シート11の厚さを示し、参
照符号W0は、基準値記録走査時における金属製バックア
ップロール12のみによる遮光巾の測定値を示しており、
参照符号Ｗは、計測走査時における金属製バックアップ
ロール12とシート11とによる遮光巾の測定値を示してお
り、参照符号d0は、基準値記憶走査時、すなわち、シー
ト11を載置していない状態での磁界利用センサー24によ
る距離測定値を示しており、参照符号ｄは、計測走査
時、すなわち、シート11を載置した状態での磁界利用セ
ンサー24による距離測定値を示している。第４図から明
らかなように、シート11の厚さＴは、次の式によって求
められる。
プロール12上にシート11を載置していない状態で、基準
値記憶走査を行なうときのバックアップロール12のロー
ル面（CPU記憶面）の位置を示しており、参照符号12A
は、金属製バックアップロール12上にシート11を載置し
た状態で、計測走査を行なうときのバックアップロール
12のロール面（シート載置時のバックアップ面）の位置
を示している。第４図では、計測走査時のバックアップ
ロール12のロール面の位置12Aが、装置の振動、或いは
バックアップロールの熱膨張等のために、基準値記憶走
査時のバックアップロール12のロール面の位置12Bよ
り、磁界利用センサー24側にΔｄだけシフトした状態を
示している。参照符号Ｔは、シート11の厚さを示し、参
照符号W0は、基準値記録走査時における金属製バックア
ップロール12のみによる遮光巾の測定値を示しており、
参照符号Ｗは、計測走査時における金属製バックアップ
ロール12とシート11とによる遮光巾の測定値を示してお
り、参照符号d0は、基準値記憶走査時、すなわち、シー
ト11を載置していない状態での磁界利用センサー24によ
る距離測定値を示しており、参照符号ｄは、計測走査
時、すなわち、シート11を載置した状態での磁界利用セ
ンサー24による距離測定値を示している。第４図から明
らかなように、シート11の厚さＴは、次の式によって求
められる。
Ｔ＝Ｗ−（W0＋Δｄ） ここで、Δｄ＝d0−ｄ この式によって示されるように、装置の振動あるいは
シート厚さセンサーの走査精度等に起因して、磁界利用
センサーから金属製バックアップロールの面までの距離
に微妙な変動があった場合でも、両者間の差異である微
小変化量Δｄを計算し、シートを載置した状態において
光センサーで測定して得られたシート厚さによる遮光巾
（Ｗ−W0）を、この微小変化量Δｄで補正することによ
り、真のシート厚さＴを求めることができる。
シート厚さセンサーの走査精度等に起因して、磁界利用
センサーから金属製バックアップロールの面までの距離
に微妙な変動があった場合でも、両者間の差異である微
小変化量Δｄを計算し、シートを載置した状態において
光センサーで測定して得られたシート厚さによる遮光巾
（Ｗ−W0）を、この微小変化量Δｄで補正することによ
り、真のシート厚さＴを求めることができる。
前述した実施例では、測定基準面に金属製バックアッ
プロールを使用したのであるが、本発明は、測定基準面
に金属製バックアッププレートを使用した場合にも同様
に適用しうるものである。この場合には、光センサーの
投光器と受光器は、金属製バックアッププレートの巾方
向を跨ぐように配置して、投光器から受光器へのビーム
状の光が金属製バックアッププレート上のシートの厚さ
によって遮光されるように光の入射角を設定することが
重要である。
プロールを使用したのであるが、本発明は、測定基準面
に金属製バックアッププレートを使用した場合にも同様
に適用しうるものである。この場合には、光センサーの
投光器と受光器は、金属製バックアッププレートの巾方
向を跨ぐように配置して、投光器から受光器へのビーム
状の光が金属製バックアッププレート上のシートの厚さ
によって遮光されるように光の入射角を設定することが
重要である。
発明の効果 本発明のシート厚さ測定装置は、前述したような構成
で動作するものであるから、厚さを測定すべきシートが
透明体であっても、また装置の振動や走査精度に多少の
問題のある場合でも、非常に精度よくそのシートの厚さ
を測定することができる。
で動作するものであるから、厚さを測定すべきシートが
透明体であっても、また装置の振動や走査精度に多少の
問題のある場合でも、非常に精度よくそのシートの厚さ
を測定することができる。
第１図は、本発明の一実施例としてのシート厚さ測定装
置の概略構造を示す正面図、第２図は、第１図のシート
厚さ測定装置の側面部拡大図、第３図は、第１図および
第２図のシート厚さ測定装置の制御部の構成を概略的に
示すブロック図、第４図は、第１図から第３図に示した
シート厚さ測定装置の測定原理を説明するための概略
図、第５図は、従来のシート厚さ測定装置の一例の原理
を説明するための概略図、第６図は、第５図の従来装置
の問題点を解決するための測定値の変化を例示する図で
ある。 11……シート、 12……金属製バックアップロール、 13……シート厚さセンサー、 14……リニアレール、 15……走査用ステッピングモーター、 16……チェンホイール、 17……原点検出用近接スイッチ、 18……走査リミットスイッチ、 19……ロール回転検出トランスジューサー、 20……支持フレーム、21……チェン、 22……半導体レーザー、23……レンズ、 24……磁界利用センサー、25……ミラー、 26……受光器、27……メモリー、 28、29……増幅器、 30、31……A/Dコンバーター、 32……ステッピングモーターコントロール回路、 33……入出力回路、34……出力回路。
置の概略構造を示す正面図、第２図は、第１図のシート
厚さ測定装置の側面部拡大図、第３図は、第１図および
第２図のシート厚さ測定装置の制御部の構成を概略的に
示すブロック図、第４図は、第１図から第３図に示した
シート厚さ測定装置の測定原理を説明するための概略
図、第５図は、従来のシート厚さ測定装置の一例の原理
を説明するための概略図、第６図は、第５図の従来装置
の問題点を解決するための測定値の変化を例示する図で
ある。 11……シート、 12……金属製バックアップロール、 13……シート厚さセンサー、 14……リニアレール、 15……走査用ステッピングモーター、 16……チェンホイール、 17……原点検出用近接スイッチ、 18……走査リミットスイッチ、 19……ロール回転検出トランスジューサー、 20……支持フレーム、21……チェン、 22……半導体レーザー、23……レンズ、 24……磁界利用センサー、25……ミラー、 26……受光器、27……メモリー、 28、29……増幅器、 30、31……A/Dコンバーター、 32……ステッピングモーターコントロール回路、 33……入出力回路、34……出力回路。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 田原 義則 静岡県富士市五貫島746―３ 明産株式 会社内 (72)発明者 市川 茂 静岡県富士市五貫島746―３ 明産株式 会社内 (56)参考文献 特開 昭56−44803（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−206204（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−193604（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−254812（ＪＰ，Ａ) 実開 昭64−5106（ＪＰ，Ｕ) 実開 昭62−7012（ＪＰ，Ｕ)
Claims (1)
- 【請求項１】金属製バックアップ面の上のシートの厚さ
を測定するためのシート厚さ測定装置において、 磁界利用センサーと光センサーとを互いに一体化して備
えたシート厚さセンサーであって、前記磁界利用センサ
ーは、前記金属製バックアップ面および前記シートの上
方に配置されて前記金属製バックアップ面までの距離測
定値を出力するようになっており、前記光センサーは、
前記シートの載置される前記金属製バックアップ面の付
近へ横方向からビーム状の光を投光する投光手段と、前
記金属製バックアップ面の前記付近に関して前記投光手
段とは反対の側に配置されて前記投光されたビーム上の
光を受けて、前記ビーム状の光が前記金属製バックアッ
プ面およびこの金属製バックアップ面の上の前記シート
の厚さによって遮光される遮光量の変化または遮光位置
のずれ量等から前記金属製バックアップ面および前記シ
ートによる遮光巾測定値を出力する受光手段とを有して
いるようなシート厚さセンサーと、 該シート厚さセンサーを前記金属製バックアップ面に対
して平行に所定の方向において相対的に移動させるため
の走査手段と、 記憶手段と、 前記金属製バックアップ面の上に前記シートが載置され
ていない状態での前記走査手段による前記シート厚さセ
ンサーの基準値記憶走査において前記シート厚さセンサ
ーが各測定点に達する毎に前記磁界利用センサーからの
距離測定値d0および前記光センサーからの遮光巾測定値
W0を前記記憶手段に記憶させ、且つ前記金属製バックア
ップ面の上に前記シートが載置された状態での前記走査
手段による前記シート厚さセンサーの計測走査において
前記シート厚さセンサーが各測定点に達する毎に前記磁
界利用センサーからの距離測定値ｄおよび前記光センサ
ーからの遮光巾測定値Ｗを前記記憶手段に記憶させるた
めの書込み手段と、 前記記憶手段から各測定点に対応する距離測定値d0およ
びｄ並びに遮光巾測定値W0およびＷを読み取り、次の
式:T＝Ｗ−（W0＋d0−ｄ）に従った演算をして各測定点
での前記シートの厚さＴを決定するための演算手段と、 を備えることを特徴とするシート厚さ測定装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1263602A JP2622885B2 (ja) | 1989-10-09 | 1989-10-09 | シート厚さ測定装置 |
| DE69006673T DE69006673T2 (de) | 1989-10-09 | 1990-10-08 | Blattdicken-Messapparat. |
| EP90119239A EP0422545B1 (en) | 1989-10-09 | 1990-10-08 | Sheet thickness measuring apparatus |
| US07/594,562 US5075622A (en) | 1989-10-09 | 1990-10-09 | Sheet thickness measuring apparatus with magnetic and optical sensors |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1263602A JP2622885B2 (ja) | 1989-10-09 | 1989-10-09 | シート厚さ測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03123811A JPH03123811A (ja) | 1991-05-27 |
| JP2622885B2 true JP2622885B2 (ja) | 1997-06-25 |
Family
ID=17391823
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1263602A Expired - Lifetime JP2622885B2 (ja) | 1989-10-09 | 1989-10-09 | シート厚さ測定装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5075622A (ja) |
| EP (1) | EP0422545B1 (ja) |
| JP (1) | JP2622885B2 (ja) |
| DE (1) | DE69006673T2 (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| US5526939A (en) * | 1989-02-22 | 1996-06-18 | Hadewe B.V. | Method of checking the composition of multilayer units composed of sheetlike parts and apparatus for composing, and checking the composition of, such units |
| JPH0571941A (ja) * | 1991-09-11 | 1993-03-23 | Tsudakoma Corp | レピアバンドの摩耗検知装置 |
| US5532588A (en) * | 1993-02-26 | 1996-07-02 | Beta Instrument Co., Ltd. | Cable eccentricity gauge including an E-shaped core and a sensor coil disposed between an outer tip of the central limb and the cable |
| GB9303978D0 (en) * | 1993-02-26 | 1993-04-14 | Beta Instr Co | An eccentricity gauge |
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-
1989
- 1989-10-09 JP JP1263602A patent/JP2622885B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1990
- 1990-10-08 DE DE69006673T patent/DE69006673T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1990-10-08 EP EP90119239A patent/EP0422545B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1990-10-09 US US07/594,562 patent/US5075622A/en not_active Expired - Lifetime
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|---|---|
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| JPH03123811A (ja) | 1991-05-27 |
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| DE69006673T2 (de) | 1994-05-26 |
| EP0422545A2 (en) | 1991-04-17 |
| EP0422545B1 (en) | 1994-02-16 |
| EP0422545A3 (en) | 1991-07-03 |
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