JP2621782B2 - Ａｔｍ回線収容装置試験方式 - Google Patents
Ａｔｍ回線収容装置試験方式Info
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- JP2621782B2 JP2621782B2 JP5335187A JP33518793A JP2621782B2 JP 2621782 B2 JP2621782 B2 JP 2621782B2 JP 5335187 A JP5335187 A JP 5335187A JP 33518793 A JP33518793 A JP 33518793A JP 2621782 B2 JP2621782 B2 JP 2621782B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ＡＴＭ（Ａｓｙｎｃｈ
ｒｏｎｏｕｓ Ｔｒａｎｓｆｅｒ Ｍｏｄｅ，非同期転
送モード）回線を介してＡＴＭ交換装置と接続されてい
るＡＴＭ回線収容装置の試験方式に関し、特に、ＡＴＭ
交換装置からの試験用セルを、ＡＴＭ回線収容装置の各
試験用折返しポイントで、当該折返しポイント番号を書
込んで返送することにより、ＡＴＭ回線収容装置全体の
正常性を試験するＡＴＭ回線収容装置試験方式に関す
る。
ｒｏｎｏｕｓ Ｔｒａｎｓｆｅｒ Ｍｏｄｅ，非同期転
送モード）回線を介してＡＴＭ交換装置と接続されてい
るＡＴＭ回線収容装置の試験方式に関し、特に、ＡＴＭ
交換装置からの試験用セルを、ＡＴＭ回線収容装置の各
試験用折返しポイントで、当該折返しポイント番号を書
込んで返送することにより、ＡＴＭ回線収容装置全体の
正常性を試験するＡＴＭ回線収容装置試験方式に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】従来、ＡＴＭ回線収容装置の正常性を確
認する試験においては、ＡＴＭ回線収容装置の制御装置
まで含めた、装置全体の試験は行なわれておらず、例え
ば、ＡＴＭ交換装置から送出される試験用セルをＡＴＭ
回線終端装置で折返したりして、主に、伝送路、通話路
の試験を行っているだけである。
認する試験においては、ＡＴＭ回線収容装置の制御装置
まで含めた、装置全体の試験は行なわれておらず、例え
ば、ＡＴＭ交換装置から送出される試験用セルをＡＴＭ
回線終端装置で折返したりして、主に、伝送路、通話路
の試験を行っているだけである。
【０００３】仮に、ＡＴＭ回線収容装置全体の試験が行
なわれるとしても、試験用セルの生成送信元であるＡＴ
Ｍ交換装置の近端点で折返し試験を行い、その試験結果
が良であれば、順次遠端点での折返し試験を行っていく
という様に、ＡＴＭ交換装置からの複数回の試験用セル
の送信が必要となる。
なわれるとしても、試験用セルの生成送信元であるＡＴ
Ｍ交換装置の近端点で折返し試験を行い、その試験結果
が良であれば、順次遠端点での折返し試験を行っていく
という様に、ＡＴＭ交換装置からの複数回の試験用セル
の送信が必要となる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の試験方
式では、ＡＴＭ回線収容装置の伝送路、通話路が正常で
ある限り、たとえ制御装置が障害であっても、その障害
を発見できないという欠点がある。
式では、ＡＴＭ回線収容装置の伝送路、通話路が正常で
ある限り、たとえ制御装置が障害であっても、その障害
を発見できないという欠点がある。
【０００５】また、ＡＴＭ交換装置からの試験用セルを
近端点から遠端点に順次折返して試験を行なう場合に
は、その都度、折返しポイントでの折返し設定、また、
ＡＴＭ交換装置からの試験用セルの生成送信が必要とな
り、ＡＴＭ交換装置の負荷が増え、かつ、非能率的とな
る。
近端点から遠端点に順次折返して試験を行なう場合に
は、その都度、折返しポイントでの折返し設定、また、
ＡＴＭ交換装置からの試験用セルの生成送信が必要とな
り、ＡＴＭ交換装置の負荷が増え、かつ、非能率的とな
る。
【０００６】本発明の目的は、ＡＴＭ交換装置の中央処
理装置に負担をかけることなく、周期的に、自動的に、
さらに、ＡＴＭ交換装置からの一回の試験用セルの送出
で、ＡＴＭ回線収容装置の制御装置まで含めた装置全体
の正常性の確認及び、障害箇所の特定を行う効率の良い
試験を可能とするＡＴＭ回線収容装置試験方式を提供す
ることにある。
理装置に負担をかけることなく、周期的に、自動的に、
さらに、ＡＴＭ交換装置からの一回の試験用セルの送出
で、ＡＴＭ回線収容装置の制御装置まで含めた装置全体
の正常性の確認及び、障害箇所の特定を行う効率の良い
試験を可能とするＡＴＭ回線収容装置試験方式を提供す
ることにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明のＡＴＭ回線収容
装置試験方式は、ＡＴＭ交換装置と、ＡＴＭ回線を介し
て前記ＡＴＭ交換装置と接続されるＡＴＭ回線収容装置
において、前記ＡＴＭ回線収容装置は、前記ＡＴＭ回線
と接続され、前記ＡＴＭ交換装置より送出される試験用
セルを抜き取り、当該試験用セルを複製し、原試験用セ
ルはそのまま集線部へ通過させ、複製した試験用セルに
は当該ＡＴＭ回線収容装置の識別情報と第１の折り返し
点を表示する情報を書き込んで前記ＡＴＭ交換装置に返
送する第１の試験手段と、前記第１の試験手段を通過し
た原試験用セルを集線部を介して受信し、当該試験用セ
ルを複製し、複製した試験用セルには当該ＡＴＭ回線収
容装置の識別情報と第２の折り返し点を表示する情報を
書き込んで前記ＡＴＭ交換装置に返送し、前記原試験用
セルには当該ＡＴＭ回線収容装置の制御装置の指示によ
り当該ＡＴＭ回線収容装置の識別情報と第３の折り返し
点を表示する情報を書き込んで前記ＡＴＭ交換装置に返
送する第２の試験手段とを有し、前記ＡＴＭ交換装置
は、前記試験用セルを生成して前記ＡＴＭ回線収容装置
に送出し、前記ＡＴＭ回線収容装置から返送される試験
用セルを受信して当該返送された試験用セルの内容を記
録する手段を有し、当該記録の前記折り返し点を表示す
る情報より障害箇所を特定することを特徴とする。
装置試験方式は、ＡＴＭ交換装置と、ＡＴＭ回線を介し
て前記ＡＴＭ交換装置と接続されるＡＴＭ回線収容装置
において、前記ＡＴＭ回線収容装置は、前記ＡＴＭ回線
と接続され、前記ＡＴＭ交換装置より送出される試験用
セルを抜き取り、当該試験用セルを複製し、原試験用セ
ルはそのまま集線部へ通過させ、複製した試験用セルに
は当該ＡＴＭ回線収容装置の識別情報と第１の折り返し
点を表示する情報を書き込んで前記ＡＴＭ交換装置に返
送する第１の試験手段と、前記第１の試験手段を通過し
た原試験用セルを集線部を介して受信し、当該試験用セ
ルを複製し、複製した試験用セルには当該ＡＴＭ回線収
容装置の識別情報と第２の折り返し点を表示する情報を
書き込んで前記ＡＴＭ交換装置に返送し、前記原試験用
セルには当該ＡＴＭ回線収容装置の制御装置の指示によ
り当該ＡＴＭ回線収容装置の識別情報と第３の折り返し
点を表示する情報を書き込んで前記ＡＴＭ交換装置に返
送する第２の試験手段とを有し、前記ＡＴＭ交換装置
は、前記試験用セルを生成して前記ＡＴＭ回線収容装置
に送出し、前記ＡＴＭ回線収容装置から返送される試験
用セルを受信して当該返送された試験用セルの内容を記
録する手段を有し、当該記録の前記折り返し点を表示す
る情報より障害箇所を特定することを特徴とする。
【０００８】
【実施例】次に本発明について、図面を参照して説明す
る。
る。
【０００９】図１は、本発明に係るＡＴＭ回線収容装置
試験方式の一実施例の構成を示すブロック図である。
試験方式の一実施例の構成を示すブロック図である。
【００１０】ＡＴＭ回線３を収容するＡＴＭ交換装置１
は、セルのスイッチングを行うＡＴＭスイッチ部１１
と、ＡＴＭ交換装置１全体の制御を行う中央処理装置１
３と、ＡＴＭ回線３とインタフェースするＡＴＭ回線イ
ンタフェース部１４と、試験用セルの生成送信、受信記
録を行うセル試験部１２とから構成される。
は、セルのスイッチングを行うＡＴＭスイッチ部１１
と、ＡＴＭ交換装置１全体の制御を行う中央処理装置１
３と、ＡＴＭ回線３とインタフェースするＡＴＭ回線イ
ンタフェース部１４と、試験用セルの生成送信、受信記
録を行うセル試験部１２とから構成される。
【００１１】ＡＴＭ回線３を介してＡＴＭ交換装置１と
接続されているＡＴＭ回線収容装置２は、セルの集線を
行うＡＴＭ集線部２１と、ＡＴＭ回線収容装置２全体の
制御を行う制御装置２４と、複数の回線終端部２５と、
試験用セルの抜取り、折返しを行うＡＴＭ回線終端部２
２と、試験用セルの送受信を行うセル送受信部２３とか
ら構成される。
接続されているＡＴＭ回線収容装置２は、セルの集線を
行うＡＴＭ集線部２１と、ＡＴＭ回線収容装置２全体の
制御を行う制御装置２４と、複数の回線終端部２５と、
試験用セルの抜取り、折返しを行うＡＴＭ回線終端部２
２と、試験用セルの送受信を行うセル送受信部２３とか
ら構成される。
【００１２】さらに、ＡＴＭ回線終端部２２は、ＡＴＭ
回線３とインタフェースする回線インタフェース部２２
２と、試験用セル抜取り部２２１と、試験用セル返送部
２２３とから構成される。
回線３とインタフェースする回線インタフェース部２２
２と、試験用セル抜取り部２２１と、試験用セル返送部
２２３とから構成される。
【００１３】セル送受信部２３は、試験用セル抜取り保
存部２３１と、試験用セル返送部２３２と、試験用セル
送信部２３３とから構成される。
存部２３１と、試験用セル返送部２３２と、試験用セル
送信部２３３とから構成される。
【００１４】次に、試験方法について説明する。
【００１５】ＡＴＭ交換装置１のセル試験部１２のマイ
クロプロセッサ１２３は、試験用セル生成送信部１２１
に対して、周期的に、予め決められたある特定の仮想パ
ス識別子（ＶＰＩ）／仮想チャネル識別子（ＶＣＩ）を
持ち、ＡＴＭ回線収容装置２のセル送受信部２３を行先
とする試験用セルを送信する指示を出す。試験用セル生
成送信部１２１は、マイクロプロセッサ１２３からの試
験用セル送信指示を受けると、ＡＴＭ回線３を介してＡ
ＴＭ交換装置１に接続されている全てのＡＴＭ回線収容
装置２に対して、試験用セルを同報送信する。
クロプロセッサ１２３は、試験用セル生成送信部１２１
に対して、周期的に、予め決められたある特定の仮想パ
ス識別子（ＶＰＩ）／仮想チャネル識別子（ＶＣＩ）を
持ち、ＡＴＭ回線収容装置２のセル送受信部２３を行先
とする試験用セルを送信する指示を出す。試験用セル生
成送信部１２１は、マイクロプロセッサ１２３からの試
験用セル送信指示を受けると、ＡＴＭ回線３を介してＡ
ＴＭ交換装置１に接続されている全てのＡＴＭ回線収容
装置２に対して、試験用セルを同報送信する。
【００１６】試験用セルは、図２に示すように５バイト
のセルヘッダ部４と４８バイトのペイロード部５で構成
されている。セルヘッダ部にはＶＰＩ／ＶＣＩ値が書き
込まれ、ペイロード部には試験用セルであることを表示
する試験用セル識別子５１、試験対象となっているＡＴ
Ｍ回線収容装置を示すＡＴＭ回線収容装置アドレス５２
及び後述する折返しポイント５３の各フィールドが定義
されている。
のセルヘッダ部４と４８バイトのペイロード部５で構成
されている。セルヘッダ部にはＶＰＩ／ＶＣＩ値が書き
込まれ、ペイロード部には試験用セルであることを表示
する試験用セル識別子５１、試験対象となっているＡＴ
Ｍ回線収容装置を示すＡＴＭ回線収容装置アドレス５２
及び後述する折返しポイント５３の各フィールドが定義
されている。
【００１７】ＡＴＭ回線収容装置２のＡＴＭ回線終端部
２２では、試験用セル抜取り部２２１が、ＡＴＭ交換装
置１から送信されてくるセルのうち、上述したある特定
のＶＰＩ／ＶＣＩ値を持つ試験用セルのみを抜取り、さ
らに、その試験用セルをコピーする。
２２では、試験用セル抜取り部２２１が、ＡＴＭ交換装
置１から送信されてくるセルのうち、上述したある特定
のＶＰＩ／ＶＣＩ値を持つ試験用セルのみを抜取り、さ
らに、その試験用セルをコピーする。
【００１８】コピーした試験用セルは、試験用セル返送
部２２３に送り、また、元の試験用セルは、ＡＴＭ集線
部２１にそのまま流す。
部２２３に送り、また、元の試験用セルは、ＡＴＭ集線
部２１にそのまま流す。
【００１９】試験用セル返送部２２３は、コピーした試
験用セルを受取ると、セルヘッダ部４のＶＰＩ／ＶＣＩ
値を、予め決められた、ＡＴＭ交換装置１のセル試験部
１２を行先とする値に書換え、さらに、ペイロード部に
おいては、試験用セルの返送であることを示すために、
試験用セル識別子５１に“１”を書込み、ＡＴＭ回線収
容装置アドレス５２には、ＡＴＭ回線収容装置毎に付与
されているアドレスで当該ＡＴＭ回線収容装置１２対応
するアドレスを書込み、折返しポイント５３には、ＡＴ
Ｍ回線終端部２２での折返しであることを示すために、
例えば“１”を書込んだ後に、ＡＴＭ交換装置１に対し
て試験用セルを返送する。
験用セルを受取ると、セルヘッダ部４のＶＰＩ／ＶＣＩ
値を、予め決められた、ＡＴＭ交換装置１のセル試験部
１２を行先とする値に書換え、さらに、ペイロード部に
おいては、試験用セルの返送であることを示すために、
試験用セル識別子５１に“１”を書込み、ＡＴＭ回線収
容装置アドレス５２には、ＡＴＭ回線収容装置毎に付与
されているアドレスで当該ＡＴＭ回線収容装置１２対応
するアドレスを書込み、折返しポイント５３には、ＡＴ
Ｍ回線終端部２２での折返しであることを示すために、
例えば“１”を書込んだ後に、ＡＴＭ交換装置１に対し
て試験用セルを返送する。
【００２０】次に、セル送受信部２３では、試験用セル
抜取り保存部２３１が、ＡＴＭ回線終端部２２から、Ａ
ＴＭ集線部２１を経由して送られて来た試験用セルを保
存すると共に、その試験用セルのコピーを作り、コピー
したセルを試験用セル返送部２３２へ送る。また、試験
用セルを受信した旨を制御装置２４に報告する。
抜取り保存部２３１が、ＡＴＭ回線終端部２２から、Ａ
ＴＭ集線部２１を経由して送られて来た試験用セルを保
存すると共に、その試験用セルのコピーを作り、コピー
したセルを試験用セル返送部２３２へ送る。また、試験
用セルを受信した旨を制御装置２４に報告する。
【００２１】試験用セル返送部２３２は、コピーした試
験用セルを受取ると、セルヘッダ部４のＶＰＩ／ＶＣＩ
値を、予め決められた、ＡＴＭ交換装置１のセル試験部
１２を行先とする値に書換え、さらに、ペイロード部５
においては、試験用セルの返送であることを示すため
に、試験用セル識別子５１に“１”を書込み、ＡＴＭ回
線収容装置アドレス５２には、ＡＴＭ回線収容装置毎に
付与されているアドレスで当該ＡＴＭ回線収容装置に対
応するアドレスを書込み、折返しポイント５３には、セ
ル送受信２３での折返しであることを示すために、例え
ば“２”を書込んだ後に、ＡＴＭ交換装置１に対して試
験用セルを返送する。
験用セルを受取ると、セルヘッダ部４のＶＰＩ／ＶＣＩ
値を、予め決められた、ＡＴＭ交換装置１のセル試験部
１２を行先とする値に書換え、さらに、ペイロード部５
においては、試験用セルの返送であることを示すため
に、試験用セル識別子５１に“１”を書込み、ＡＴＭ回
線収容装置アドレス５２には、ＡＴＭ回線収容装置毎に
付与されているアドレスで当該ＡＴＭ回線収容装置に対
応するアドレスを書込み、折返しポイント５３には、セ
ル送受信２３での折返しであることを示すために、例え
ば“２”を書込んだ後に、ＡＴＭ交換装置１に対して試
験用セルを返送する。
【００２２】次に、制御装置２４は、試験用セル抜取り
保存部２３１から試験用セルを受信した旨の報告を受け
ると、試験用セル抜取り保存部２３１に保存されている
試験用セルのセルヘッダ部４のＶＰＩ／ＶＣＩ値を、予
め決められた、ＡＴＭ交換装置１のセル試験部１２を行
先とする値に書換え、さらに、ペイロード部５において
は、試験用セルの返送であることを示すために、試験用
セル識別子５１に“１”を書込み、ＡＴＭ回線収容装置
アドレスには、ＡＴＭ回線収容装置毎に付与されている
アドレスで当該ＡＴＭ回線収容装置に対応するアドレス
を書込み、折返しポイント５３には、制御装置２４から
の折返しであることを示すために、例えば“３”を書込
む。その後、制御装置２４は、試験用セル送信部２３３
に対して、制御装置２４からのこの折返し試験用セルの
送信指示を出す。
保存部２３１から試験用セルを受信した旨の報告を受け
ると、試験用セル抜取り保存部２３１に保存されている
試験用セルのセルヘッダ部４のＶＰＩ／ＶＣＩ値を、予
め決められた、ＡＴＭ交換装置１のセル試験部１２を行
先とする値に書換え、さらに、ペイロード部５において
は、試験用セルの返送であることを示すために、試験用
セル識別子５１に“１”を書込み、ＡＴＭ回線収容装置
アドレスには、ＡＴＭ回線収容装置毎に付与されている
アドレスで当該ＡＴＭ回線収容装置に対応するアドレス
を書込み、折返しポイント５３には、制御装置２４から
の折返しであることを示すために、例えば“３”を書込
む。その後、制御装置２４は、試験用セル送信部２３３
に対して、制御装置２４からのこの折返し試験用セルの
送信指示を出す。
【００２３】制御装置２４からの試験用セル送信指示を
受けた試験用セル送信部２３３は、制御装置２４により
情報を書込まれた試験用セルを、ＡＴＭ交換装置１に対
して送信する。
受けた試験用セル送信部２３３は、制御装置２４により
情報を書込まれた試験用セルを、ＡＴＭ交換装置１に対
して送信する。
【００２４】次に、ＡＴＭ回線収容装置２からＡＴＭ交
換装置１のセル試験部１２に対して送られて来た試験用
セルは、試験用セル受信記録部１２２で受信される。
換装置１のセル試験部１２に対して送られて来た試験用
セルは、試験用セル受信記録部１２２で受信される。
【００２５】試験用セル受信記録部１２２は、図３に示
す試験結果格納テーブルを持っており、受信された試験
用セルのペイロード部５の試験用セル識別子５１が
“１”であれば、ペイロード内のＡＴＭ回線収容装置ア
ドレス５２の値に対応する試験結果格納テーブル内の折
返しポイント位置７に、ペイロード内の折返しポイント
５３の値を書込む。
す試験結果格納テーブルを持っており、受信された試験
用セルのペイロード部５の試験用セル識別子５１が
“１”であれば、ペイロード内のＡＴＭ回線収容装置ア
ドレス５２の値に対応する試験結果格納テーブル内の折
返しポイント位置７に、ペイロード内の折返しポイント
５３の値を書込む。
【００２６】同様にして、他のＡＴＭ回線収容装置から
返送されて来た試験用セルのペイロード内折返しポイン
トの値も、上述した試験結果格納用テーブルに書込まれ
る。
返送されて来た試験用セルのペイロード内折返しポイン
トの値も、上述した試験結果格納用テーブルに書込まれ
る。
【００２７】マイクロプロセッサ１２３は、試験用セル
生成送信部１２１に対して試験用セルの送信指示を出し
てからある時間経過後、つまり、試験用セルが各ＡＴＭ
回線収容装置からセル試験部１２に返送されて来るため
に必要とされる十分な時間が経過した後、試験用セル受
信記録部１２２にある試験結果格納テーブルをサーチ
し、折返しポイント７の値をチェックする。
生成送信部１２１に対して試験用セルの送信指示を出し
てからある時間経過後、つまり、試験用セルが各ＡＴＭ
回線収容装置からセル試験部１２に返送されて来るため
に必要とされる十分な時間が経過した後、試験用セル受
信記録部１２２にある試験結果格納テーブルをサーチ
し、折返しポイント７の値をチェックする。
【００２８】折返しポイント７の値が全て“３”で、Ａ
ＴＭ回線収容装置２の制御装置２４の制御に基づくセル
が返送されていることを示していれば、ＡＴＭ回線３を
介してＡＴＭ交換装置１に接続されてる全てのＡＴＭ回
線収容装置が、その制御装置を含めて装置全体が正常で
あることを意味する。
ＴＭ回線収容装置２の制御装置２４の制御に基づくセル
が返送されていることを示していれば、ＡＴＭ回線３を
介してＡＴＭ交換装置１に接続されてる全てのＡＴＭ回
線収容装置が、その制御装置を含めて装置全体が正常で
あることを意味する。
【００２９】折返しポイント７の値が“３”以外であれ
ば、ＡＴＭ回線収容装置のどこかに障害があることを意
味し、マイクロプロセッサ１２３は、中央処理装置１３
に対して、障害となっているＡＴＭ回線収容装置アドレ
ス（装置番号）と、その障害ポイント（障害箇所）を報
告し、この後は、保守者による保守作業が実行されるこ
ととなる。
ば、ＡＴＭ回線収容装置のどこかに障害があることを意
味し、マイクロプロセッサ１２３は、中央処理装置１３
に対して、障害となっているＡＴＭ回線収容装置アドレ
ス（装置番号）と、その障害ポイント（障害箇所）を報
告し、この後は、保守者による保守作業が実行されるこ
ととなる。
【００３０】マイクロプロセッサ１２３は周期的に本試
験を実行するが、毎回、試験用セル生成送信部１２１に
対して試験用セル送信指示を出す時には、試験用セル受
信記録部１２２にある試験結果格納テーブル内の折返し
ポイント値は“０”に設定しておく。
験を実行するが、毎回、試験用セル生成送信部１２１に
対して試験用セル送信指示を出す時には、試験用セル受
信記録部１２２にある試験結果格納テーブル内の折返し
ポイント値は“０”に設定しておく。
【００３１】
【発明の効果】以上説明した様に、本発明は、ＡＴＭ回
線を介してＡＴＭ交換装置に接続されているＡＴＭ回線
収容装置に対して、ＡＴＭ交換装置から試験用セルを送
信し、ＡＴＭ回線収容装置は、その試験用セルを、装置
内の各ポイントで、折返しポイントを書込んで返送する
ことにより、ＡＴＭ交換装置からの一回の試験用セルの
送信で、ＡＴＭ回線収容装置の制御装置まで含めた装置
全体の正常性の確認及び障害箇所の特定を行う効率の良
い試験を、ＡＴＭ交換装置の中央処理装置に負担をかけ
ることなく、周期的に、自動的に行うことができるとい
う効果がある。
線を介してＡＴＭ交換装置に接続されているＡＴＭ回線
収容装置に対して、ＡＴＭ交換装置から試験用セルを送
信し、ＡＴＭ回線収容装置は、その試験用セルを、装置
内の各ポイントで、折返しポイントを書込んで返送する
ことにより、ＡＴＭ交換装置からの一回の試験用セルの
送信で、ＡＴＭ回線収容装置の制御装置まで含めた装置
全体の正常性の確認及び障害箇所の特定を行う効率の良
い試験を、ＡＴＭ交換装置の中央処理装置に負担をかけ
ることなく、周期的に、自動的に行うことができるとい
う効果がある。
【図１】本発明の一実施例の構成を示すブロック図。
【図２】本発明の一実施例で使用する試験用セルのフォ
ーマットを示す図。
ーマットを示す図。
【図３】本発明の一実施例における試験結果格納テーブ
ル。
ル。
１ ＡＴＭ交換装置 ２ ＡＴＭ回線収容装置 ３ ＡＴＭ回線 ４ セルヘッダ部 ５ ペイロード部 ６，５２ ＡＴＭ回線収容装置アドレス ７，５３ 折返しポイント １１ ＡＴＭスイッチ部 １２ セル試験部 １３ 中央処理装置 １４ ＡＴＭ回線インタフェース部 ２１ ＡＴＭ集線部 ２２ ＡＴＭ回線終端部 ２３ セル送受信部 ２４ 制御装置 ２５ 回線終端部 ５１ 試験用セル識別子 １２１ 試験用セル生成送信部 １２２ 試験用セル受信記録部 １２３ マイクロプロセッサ ２２１ 試験用セル抜取り部 ２２２ 回線インタフェース部 ２２３ 試験用セル返送部 ２３１ 試験用セル抜取り保存部 ２３２ 試験用セル返送部 ２３３ 試験用セル送信部
Claims (1)
- 【請求項１】 固定長パケット単位のセルを用いて交換
処理を行うＡＴＭ交換システムのＡＴＭ交換装置と、Ａ
ＴＭ回線を介して前記ＡＴＭ交換装置と接続されるＡＴ
Ｍ回線収容装置において、 前記ＡＴＭ回線収容装置は、 前記ＡＴＭ回線と接続され、前記ＡＴＭ交換装置より送
出される試験用セルを抜き取り、当該試験用セルを複製
し、原試験用セルはそのまま集線部へ通過させ、複製し
た試験用セルには当該ＡＴＭ回線収容装置の識別情報と
第１の折り返し点を表示する情報を書き込んで前記ＡＴ
Ｍ交換装置に返送する第１の試験手段と、 前記第１の試験手段を通過した原試験用セルを集線部を
介して受信し、当該試験用セルを複製し、複製した試験
用セルには当該ＡＴＭ回線収容装置の識別情報と第２の
折り返し点を表示する情報を書き込んで前記ＡＴＭ交換
装置に返送し、前記原試験用セルには当該ＡＴＭ回線収
容装置の制御装置の指示により当該ＡＴＭ回線収容装置
の識別情報と第３の折り返し点を表示する情報を書き込
んで前記ＡＴＭ交換装置に返送する第２の試験手段とを
有し、 前記ＡＴＭ交換装置は、 前記試験用セルを生成して前記ＡＴＭ回線収容装置に送
出し、前記ＡＴＭ回線収容装置から返送される試験用セ
ルを受信して当該返送された試験用セルの内容を記録す
る手段を有し、当該記録の前記折り返し点を表示する情
報より障害箇所を特定することを特徴とするＡＴＭ回線
収容装置試験方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5335187A JP2621782B2 (ja) | 1993-12-28 | 1993-12-28 | Ａｔｍ回線収容装置試験方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5335187A JP2621782B2 (ja) | 1993-12-28 | 1993-12-28 | Ａｔｍ回線収容装置試験方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07202898A JPH07202898A (ja) | 1995-08-04 |
| JP2621782B2 true JP2621782B2 (ja) | 1997-06-18 |
Family
ID=18285741
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5335187A Expired - Fee Related JP2621782B2 (ja) | 1993-12-28 | 1993-12-28 | Ａｔｍ回線収容装置試験方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2621782B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3538069B2 (ja) | 1999-07-06 | 2004-06-14 | 日本電気通信システム株式会社 | ブロードキャスト通信試験方式 |
-
1993
- 1993-12-28 JP JP5335187A patent/JP2621782B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3538069B2 (ja) | 1999-07-06 | 2004-06-14 | 日本電気通信システム株式会社 | ブロードキャスト通信試験方式 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH07202898A (ja) | 1995-08-04 |
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