JP2600714Y2 - Rfモジュレータのキャリア信号およびテスト信号発生回路 - Google Patents

Rfモジュレータのキャリア信号およびテスト信号発生回路

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JP2600714Y2
JP2600714Y2 JP1991053532U JP5353291U JP2600714Y2 JP 2600714 Y2 JP2600714 Y2 JP 2600714Y2 JP 1991053532 U JP1991053532 U JP 1991053532U JP 5353291 U JP5353291 U JP 5353291U JP 2600714 Y2 JP2600714 Y2 JP 2600714Y2
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carrier
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茂 濁川
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Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この考案はVTR等のRFモジュ
レータのキャリア信号およびテスト信号を発生するキャ
リア信号およびテスト信号発生回路に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、VTR等のRFモジュレータに
は、その送信周波数に対してテレビ受信機側で同調しや
すくするため、テスト信号発生回路を内蔵しているもの
がある。図2はこのような従来のRFモジュレータのテ
スト信号発生回路の構成例を示すブロック図であり、こ
の図において、1は基準発振周波数が500kHzの水
晶発振子、2は水晶発振子1を用いて500kHzの基
準信号を出力する基準信号発生器、3は500kHzの
基準信号を1/32の周波数の信号に分周して所定周期
の水平同期信号と同一周期のパルス信号を出力する分周
器、4はパルス信号の波形を整形してテスト信号である
ビデオ信号を出力する波形整形器、5はテスト信号が出
力される出力端子である。
【0003】また、図3は従来のPLL回路を用いたR
Fモジュレータのキャリア発生回路の構成例を示すブロ
ック図であり、この図において、6は水晶発振子、7は
水晶発振子6を用いて基準信号を出力する基準信号発生
器、8は基準信号発生器7から出力される基準信号を1
/256の周波数の信号に分周する分周器、9は所定の
周波数のキャリア信号を出力するキャリア発生器、10
は図示せぬ制御回路によりその分周比が設定されるプロ
グラム分周器、11は分周器8の出力信号の位相とプロ
グラム分周器10の出力信号の位相とを比較して位相比
較信号を出力する位相比較器、12は所定のカットオフ
周波数を有するローパスフィルタ(以下、LPFとい
う)であり、LPF12の出力信号は、キャリア発生器
9の制御電圧入力端子に入力される。これにより、キャ
リア信号の周波数が制御される。
【0004】
【考案が解決しようとする課題】ところで、上述した従
来のRFモジュレータにおいては、上述したように、テ
スト信号発生回路とキャリア発生回路とは、それぞれ独
立に構成され、それぞれ別々の水晶発振子により基準信
号を発生していた。このため、回路構成が複雑で高価に
なるという欠点があった。この考案は、このような背景
の下になされたもので、回路構成を簡素化できると共
に、安価に構成できるRFモジュレータのキャリア信号
およびテスト信号発生回路を提供することを目的とす
る。
【0005】
【課題を解決するための手段】この考案によるRFモジ
ュレータのキャリア信号およびテスト信号発生回路は、
基準信号を出力する基準信号発生器と、前記基準信号
平同期信号と同一の周期の信号に分周する第1の分周
器と、キャリア信号を出力するキャリア発生器と、前記
キャリア信号を分周する第2の分周器と、前記第1の分
周器の出力信号の位相と前記第2の分周器の出力信号の
位相とを比較して位相比較信号を出力する位相比較器
と、前記位相比較信号の高域をカットし、その出力信号
によって前記キャリア信号の周波数を制御するローパス
フィルタと、前記第1の分周器の出力信号の一部を波形
整形しテスト信号として出力する波形整形器とを具備す
ることを特徴としている。
【0006】
【作用】上記構成によれば、まず、基準信号発生器にお
いて発生された基準信号は、第1の分周器において所定
周期の水平同期信号と同一の周期の信号に分周され、位
相比較器に入力される。一方、キャリア発生器において
発生されたキャリア信号は、第2の分周器において所定
の分周比で分周され、位相比較器に入力される。
【0007】そして、位相比較器において、第1の分周
器の出力信号の位相と第2の分周器の出力信号の位相と
が比較されて位相比較信号が出力される。次に、この位
相差信号は、ローパスフィルタに入力され、その高域が
所定のカットオフ周波数でカットされて出力され、この
信号により、キャリア信号の周波数が制御される。ま
た、第1の分周器の出力信号は、波形整形器において波
形整形され、テスト信号として出力される。
【0008】
【実施例】以下、図面を参照して、この考案の一実施例
について説明する。図1はこの考案の一実施例によるR
Fモジュレータのキャリア信号およびテスト信号発生回
路の構成を示すブロック図であり、この図において、図
2および図3の各部に対応する部分には同一の符号を付
け、その説明を省略する。この図においては、水晶発振
子6に代えて基準発振周波数が4MHzの水晶発振子1
3が新たに設けられている。また、水晶発振子1および
基準信号発生器2が取り除かれ、分周器8の出力信号が
波形整形器4に入力されている。
【0009】このような構成において、まず、基準信号
発生器7において、4MHzの基準信号が発生されてい
る。この基準信号は、分周器8において1/256に分
周され、位相比較器11の第1の入力端子に入力され
る。一方、キャリア発生器9において、所定の周波数の
キャリア信号が発生されている。このキャリア信号は、
プログラム分周器10において図示せぬ制御回路により
設定された分周比で分周され、位相比較器11の第2の
入力端子に入力される。
【0010】そして、位相比較器11において分周器8
の出力信号の位相とプログラム分周器10の出力信号の
位相とが比較されて位相比較信号が出力される。次に、
この位相比較信号は、LPF12を経てキャリア発生器
9の制御電圧入力端子に入力される。この信号により、
キャリア信号の周波数が制御される。また、分周器8の
出力信号は、所定周期の水平同期信号と同一周期のパル
ス信号であり、このパルス信号は、波形整形器4におい
て波形整形され、出力端子5からテスト信号として出力
される。
【0011】
【考案の効果】以上説明したように、この考案によれ
ば、部品点数を削減でき、回路構成を簡素化できると共
に、小型かつ安価に構成できるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】この考案の一実施例によるRFモジュレータの
キャリア信号およびテスト信号発生回路の構成を示すブ
ロック図である。
【図2】従来のRFモジュレータのテスト信号発生回路
の構成例を示すブロック図である。
【図3】従来のRFモジュレータのキャリア発生回路の
構成例を示すブロック図である。
【符号の説明】
1,6,13 水晶発振子 2,7 基準信号発生器 3,8 分周器 4 波形整形器 5 出力端子 9 キャリア発生器 10 プログラム分周器 11 位相比較器 12 LPF

Claims (1)

    (57)【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基準信号を出力する基準信号発生器と、 前記基準信号を水平同期信号と同一の周期の信号に分周
    する第1の分周器と、キャリア信号を出力するキャリア
    発生器と、 前記キャリア信号を分周する第2の分周器と、 前記第1の分周器の出力信号の位相と前記第2の分周器
    の出力信号の位相とを比較して位相比較信号を出力する
    位相比較器と、 前記位相比較信号の高域をカットし、その出力信号によ
    って前記キャリア信号の周波数を制御するローパスフィ
    ルタと、 前記第1の分周器の出力信号の一部を波形整形しテスト
    信号として出力する波形整形器とを具備することを特徴
    とするRFモジュレータのキャリア信号およびテスト信
    号発生回路。
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JPS5946073U (ja) * 1982-09-17 1984-03-27 ソニー株式会社 Rfモジユレ−タ

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