JP2593684Y2 - 試験片搬送装置 - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この考案は、試験片を供給部位置
から試験位置に搬送する装置に係り、特に試験片をその
一方側から押し出す方式で供給部位置から試験位置に自
動的に搬送する装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】この種の搬送装置は、試験片を供給部位
置から試験位置に自動的に搬送、また試験を自動的に行
ういわゆる自動試験機の一環として開発されているが、
例えば一定の形に形成された試験片を自動的に曲げ試験
する場合、マガジンなどの収納部に収納された試験片を
その最下部から一枚ずつ押し出して曲げ試験位置に搬送
する搬送装置が提供されている。

【０００３】この場合自動試験である関係から、搬送工
程の途中で試験片の厚さや幅などの寸法測定を行うよう
になっているが、従来の装置においては、この試験片の
寸法測定には幅測定器と厚さ測定器の２個が併設されて
いた。しかも、幅と厚さはたがいにその測定方向が９０
度異なるから、それぞれの測定器の測定方向を変えて設
置している。測定器の測定方向を同一にする方式では、
搬送する試験片をこの両測定器の間で方向転換する機構
が設置される。

【０００４】

【考案が解決しようとする課題】測定器の測定方向を変
えて設置する場合は測定器が２個必要であり、装置の大
型化は避けられない。また試験片を方向転換する方式で
はその転換機構が必要で搬送装置が複雑にしてかつ故障
が発生しやすい。メンテナンス上も種々の問題があっ
た。

【０００５】この考案は、上述の問題点を解決する試験
片搬送装置を提供するものである。

【０００６】

【課題を解決するための手段】本考案は、上記課題を解
決するために、試験片をその一方側から押し出す方式で
供給部位置から試験位置に搬送する装置において、搬送
機構に搬送量を計測する搬送量計測機構および搬送力を
一定値以下に制限するためのスリップ機構を設置すると
ともに、搬送行程途中の試験片の寸法を測定する寸法測
定位置に試験片の移動を止める出し入れ自在のストッパ
ーを設置し、試験片が前記ストッパーに当接して前記ス
リップ機構が働いている間に前記供給部位置から寸法測
定位置までの試験片搬送量計測値から試験片の幅または
厚さの寸法を測定するようにしたことを特徴とする。

【０００７】

【作用】この考案が提供する試験片搬送装置によれば、
搬送機構そのものが試験片の幅または厚さの寸法を測定
することになり、いずれか一方の測定器の設置が省略で
きる。

【０００８】

【実施例】以下、この考案を図面に示す実施例にしたが
って説明する。この考案が提供する試験片搬送装置の構
成は、図１に示すとおりである。図１は、自動曲げ試験
機における試験片搬送装置の外観を斜視的に示してい
る。試験片１は所定の位置に設置された収納容器すなわ
ちマガジン２に上下方向に積み重ねられて収納されてい
る。このマガジン２は底が開口していて最下位の試験片
１は並設された案内杆１４，１４の上面に乗載された形
となる。そしてこの最下位の試験片１が、左方から移動
してくる試験片押出し治具１３によって右方へと押出さ
れる。左方へ復帰した試験片押出し治具１３がマガジン
２の後方へ移動すると、マガジン２内の最下位の試験片
が降下して再び案内杆１４，１４の上面に乗載される。
このようにして、マガジン２に積み重ね収納された試験
片１は順次し下方に送り出され（落下され）、搬送に対
して供給されることになる。

【０００９】試験片押出し治具１３は、その上面が並設
された案内杆１４，１４の上面より試験片１の厚さ程度
上面に設定されており、かつこの治具１３は、その上面
がこの治具１３の上面に一致するように設定された可動
体１２の右方先端部に一体的に付設されている。他方、
並設された案内杆１４，１４間には、これらと平行にボ
ールネジ桿８が両支持具１０，１１にて回転可能に設置
されている。前記可動体１２はこのボールネジ桿８に螺
合しており、ボールネジ桿８に対するナットとして機能
し、ボールネジ桿８の回転駆動により左右に移動する。
またこのボールネジ桿８の左方端には支持具１０との間
にロータリエンコーダ９が介設されていて、前記可動体
１２すなわち試験片押出し治具１３の移動量が計測され
る。このロータリエンコーダ９は、たとえば１００分の
１ミリ単位で移動量を計測できるものである。ボールネ
ジ桿８の回転駆動は電動機３によって行われるが、電動
機３の出力軸はスリップ機構４を介してプーリ５に伝達
され、さらにベルト６を介してプーリ７が回転されるこ
とによる。スリップ機構４の介在は、ボールネジ桿８へ
の回転伝達力を一定値以下に制限するためである。この
ようにして、ボールネジ桿８は回転駆動され、それが可
動体１２にて直線運動に変換されて試験片押出し治具１
３の左右移動となる。

【００１０】試験片押出し治具１３の右方移動によって
送り出された試験片１は、支持台２４が設置されている
曲げ試験位置に至るまでに寸法測定が行われるが、その
ために搬送行程の途中に２個の昇降枠２０，２２が設置
されている。昇降枠２０は昇降機構２１によって上下動
するもので、先端部には試験片押出し治具１３の移動方
向にストッパー１５が突設されている。そして試験片１
が左方から搬送されてくるとき、案内杆１４，１４間で
その上面部位置にストッパー１５が位置されるよう昇降
枠２０が昇降機構２１によって下動する。試験片１がス
トッパー１５に当接するとスリップ機構４が作動して電
動機３の回転出力はボールネジ桿８への伝達が絶たれ
る。この操作で試験片１の幅寸法が測定されるが、つぎ
に昇降枠２０が昇降機構２１によって昇動する。する
と、ボールネジ桿８は回転駆動が再開され試験片１は試
験片押出し治具１３にて右方に移動される。そして厚さ
測定位置にある上下スピンドル１６，１７の位置にて搬
送が停止される。上スピンドル１６は昇降機構２３によ
って昇降する昇降枠２２に設置されており、他方下スピ
ンドル１７は昇降台２６にて昇降する。この下スピンド
ル１７は、その上端面が案内杆１４，１４の上面に一致
するよう昇降台２６にて調整される。したがってこの位
置に試験片１が搬送されてきたとき、厚さ測定の下固定
面として機能する。そして上スピンドル１６が昇降機構
２３によって降下し、その下端が試験片１の上面に当接
したときその降下量から試験片１の厚さ寸法が測定され
る。この寸法測定は昇降機構２３の内部に設置された測
定機構（図示せず）にて、例えば１０００分の１ミリ単
位で計測される。測定機構の原理としては、差動トラン
ス方式や磁気スケール方式などのものが採用される。測
定が終了した試験片１は、試験片押出し治具１３にてさ
らに右方に移動され試験位置まで搬送される。試験片１
は両支持台２４に両持ち（スパン）状態で支持される。
そして上方からのポンチ（図１では図示せず）にて曲げ
試験が行われるようになっている。なお、試験が終了す
ると試験後両支持台２４に位置する試験後の試験片は、
試験片押出し治具１３がさらに少量右方に移動すること
によって、両支持台２４位置から落下され、落下された
試験後の試験片は下方の収納容器（図示せず）に収納さ
れることになる。ボールネジ桿８の長さは、この試験片
押出し治具１３の少量右方移動ができる程度までに設定
されている。その後試験片押出し治具１３はボールネジ
桿８の逆回転駆動にて左方に復帰される。１９は以上の
各搬送機能を駆動し制御するための駆動装置である。

【００１１】これらの構成においてはつぎの工夫がおこ
なわれている。たとえば可動体１２の移動方向長さは、
試験片１が試験片押出し治具１３にて試験位置に搬送さ
れたときにおいても、その後端はマガジン２の底部位置
にあるようになっている。そのことによって可動体１２
の左右移動が円滑に行われ、試験片押出し治具１３によ
る１個１個の試験片押出し操作が順序よく行われること
になる。また、厚さ測定には下スピンドル１７が必要な
ことから、ボールネジ桿８の設置と下スピンドル１７の
設置が干渉しないよう厚さ測定用スピンドル位置がボー
ルネジ桿８の位置より偏位している。そのため昇降枠２
２が昇降枠２０より長く設定されている。そして可動体
１２の移動にも下スピンドル１７が支障とならぬように
構成されている。なお、ロータリエンコーダ９や昇降機
構２３の内部に設置された測定機構からの出力信号は駆
動装置１９に導かれるとともに、電動機３の回転駆動制
御も駆動装置１９内の制御機構にて制御される。そして
測定された試験片１の寸法は別途設置された表示装置や
記録計（ともに図示せず）にて表示され、あるいはコン
ピュータ（図示せず）に入力される。

【００１２】さて、以上のような構成において、試験片
１の寸法測定順序を図２に示す作動説明図にしたがって
説明する。

【００１３】図から明らかなように、試験片１はマガジ
ンの供給部位置Ａから幅測定の測定位置Ｂそして厚さ測
定の測定位置Ｃさらに試験位置Ｄへと順次搬送される。
この場合、試験片押出し治具１３が試験片１に当接した
位置Ａからの試験片押出し治具１３の右方移動量がロー
タリエンコーダ９で計測される。そして試験片１がスト
ッパー１５（位置Ｂ）に当接したまでの移動量（試験片
搬送量）Ｌ２をロータリエンコーダ９が計測する。試験
片が存在しない場合のこの距離はＬ１であるから、Ｌ１
−Ｌ２＝Ｗで試験片１の幅（Ｗ）が計測される。つぎに
試験片１は試験片押出し治具１３にて右方に搬送される
が、つぎの厚さ測定位置においては、試験片１の幅中央
位置にスピンドル１６，１７が位置するよう電動機３の
回転駆動制御が行なわれる。このとき移動量はロータリ
エンコーダ９で計測されつつ制御されるが、試験片押出
し治具１３は距離Ｌ４だけ移動される。この移動量Ｌ４
はストッパー１５（位置Ｂ）から厚さ測定位置（Ｃ）ま
での既知距離Ｌ３とはつぎの関係にある。Ｌ４＝Ｗ＋Ｌ
３−（１／２）Ｗ＝Ｌ３＋（１／２）Ｗ。こうして試験
片１の厚さ測定も正確に行なわれる。この寸法測定の
後、試験片１は試験位置（Ｄ）にてポンチ２６による曲
げ試験が行なわれる。なお、図２において曲げ試験位置
のみは向きを９０度変えて図示している。

【００１４】この考案が提供する試験片搬送装置は以上
説明したとおりであるが、上記ならびに図示例に限定さ
れず、種々の変形実施例を包含するものである。まず、
試験機構については曲げ試験機に限定されず、引っ張り
試験や圧縮試験など種々の試験機用に適用可能である。
また、図示例では幅測定を試験片の搬送量で計測する例
を示したが、厚さ測定を試験片の搬送量で計測するよう
にしてもよい。試験片の供給部をマガジンの例で示した
が、１本１本供給する他の供給機構でも、その搬送量計
測の開始地点が明確になる形であれば、供給機構の構成
に限定されるものではない。供給機構としてマガジンを
利用する場合でもその形は図示例に限定されない。ま
た、図示例では搬送量の計測をロータリエンコーダ９に
て行う例としたが、試験片押出し治具などの直線移動量
を直接的に計測する機構とすることも可能である。試験
片の形や大きさによっては、その案内機構も変わり、図
示案内杆の構成に限定されない。幅測定や厚さ測定の具
体的機器についても試験片の形や大きさによって変更さ
れる場合があり、図示例には限定されない。スリップ機
構は試験片の寸法測定における挟圧力を一定値にするた
めのもので、図示例のような装置においてもプーリでな
く、ボールネジ桿８に介在させることができる。この考
案はこれらすべての変形実施例を含む。

【００１５】

【考案の効果】この考案が提供する試験片搬送装置は以
上説明したとおりであって、搬送行程の途中でストッパ
ーに試験片を押し当てるまでの試験片の搬送距離から試
験片の幅または厚さを測定するから、幅測定機構または
厚さ測定機構のいずれかを省略でき、測定機構を簡略に
し試験片の搬送を効率よくして、小型軽量で故障の少な
く、経済的にも安価な搬送装置を提供する。自動化試験
機に有効に適用可能であり、かつその性能向上に有益で
ある。

【図面の簡単な説明】

【図１】この考案による試験片搬送装置の外観を斜視的
に示す図である。

【図２】この考案による試験片搬送装置の作動を説明す
るための図である。

【符号の説明】 １…試験片 ２…マガジン ４…スリップ機構 ８…ボールネジ桿 ９…ロータリエンコーダ １３…試験片押出し治具 １４…案内杆 １５…ストッパー １６，１７…スピンドル １９…駆動装置 ２０，２２…昇降枠 ２１，２３…昇降機構

Claims (1)

(57)【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】試験片をその一方側から押し出す方式で供
   給部位置から試験位置に搬送する装置において、搬送機
   構に搬送量を計測する搬送量計測機構および搬送力を一
   定値以下に制限するためのスリップ機構を設置するとと
   もに、搬送行程途中の試験片の寸法を測定する寸法測定
   位置に試験片の移動を止める出し入れ自在のストッパー
   を設置し、試験片が前記ストッパーに当接して前記スリ
   ップ機構が働いている間に前記供給部位置から寸法測定
   位置までの試験片搬送量計測値から試験片の幅または厚
   さの寸法を測定するようにしたことを特徴とする試験片
   搬送装置。