JP2592944Y2 - Ｐｔ試験用端子の電圧有無表示装置 - Google Patents
Ｐｔ試験用端子の電圧有無表示装置Info
- Publication number
- JP2592944Y2 JP2592944Y2 JP1993024434U JP2443493U JP2592944Y2 JP 2592944 Y2 JP2592944 Y2 JP 2592944Y2 JP 1993024434 U JP1993024434 U JP 1993024434U JP 2443493 U JP2443493 U JP 2443493U JP 2592944 Y2 JP2592944 Y2 JP 2592944Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- voltage
- test terminal
- light emitting
- display device
- absence
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本考案は、一般配電盤の保守点検
作業時、作業員の誤作業による事故を防止する為のＰＴ
試験用端子の電圧有無表示装置に関するものである。
作業時、作業員の誤作業による事故を防止する為のＰＴ
試験用端子の電圧有無表示装置に関するものである。
【０００２】
【従来技術】近年、配電盤等の制御装置は信頼度が向上
し、発電所等の制御は遠方監視制御化することにより無
人化され、また、事故の発生も少なくなり配電盤等の保
守点検は年間で多くて１〜２回行われるのが現状であ
る。従来、配電盤の保守点検作業時に際して、作業員は
保守点検前に各種制御電源（直流、交流、電圧別に分け
られている）の電圧を点検し、更にＰＴ回路の電圧はＰ
Ｔ試験用端子にテストプラグ等を挿入し、テスタ−やデ
ィジタルボルトメ−タ等の測定器を接続し電圧の有無を
確認し、作業の内容によっては制御電源やＰＴ回路の電
圧を切り作業をしていた。
し、発電所等の制御は遠方監視制御化することにより無
人化され、また、事故の発生も少なくなり配電盤等の保
守点検は年間で多くて１〜２回行われるのが現状であ
る。従来、配電盤の保守点検作業時に際して、作業員は
保守点検前に各種制御電源（直流、交流、電圧別に分け
られている）の電圧を点検し、更にＰＴ回路の電圧はＰ
Ｔ試験用端子にテストプラグ等を挿入し、テスタ−やデ
ィジタルボルトメ−タ等の測定器を接続し電圧の有無を
確認し、作業の内容によっては制御電源やＰＴ回路の電
圧を切り作業をしていた。
【０００３】
【考案が解決しようとする課題】しかしながら、配電盤
の制御電源系統は各種あり電圧を確認するのも煩雑にな
り、更にＰＴ回路には通常はスイッチ等は設けられてな
く、作業員がＰＴ回路の電圧の確認を失念し短絡事故等
を起こし、最悪の場合には発電機等を停止させたり、送
電を停止させる事故を起こすこともある。近年、作業員
の若年化等のため制御機器に対して実務作業を行う機会
が少なく、経験も未熟なため保守点検作業時のＰＴ電圧
有無確認作業を失念し事故を発生させる恐れがある。
の制御電源系統は各種あり電圧を確認するのも煩雑にな
り、更にＰＴ回路には通常はスイッチ等は設けられてな
く、作業員がＰＴ回路の電圧の確認を失念し短絡事故等
を起こし、最悪の場合には発電機等を停止させたり、送
電を停止させる事故を起こすこともある。近年、作業員
の若年化等のため制御機器に対して実務作業を行う機会
が少なく、経験も未熟なため保守点検作業時のＰＴ電圧
有無確認作業を失念し事故を発生させる恐れがある。
【０００４】本考案は上述の点に鑑みてなされたもの
で、ＰＴ回路の電圧有無を目視確認することができるＰ
Ｔ試験用端子の電圧有無表示装置を提供することを目的
とする。
で、ＰＴ回路の電圧有無を目視確認することができるＰ
Ｔ試験用端子の電圧有無表示装置を提供することを目的
とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
本考案は、ＰＴ試験用端子を有するＰＴ回路を具備する
配電盤のＰＴ試験用端子に近傍に発光素子を設け、図１
に示すように各相毎に該発光素子（発光ダイオード１−
１、１−２、１−３）に、ＰＴ２次側のＰＴ２次電圧を
前記ＰＴ試験用端子２を通した後、高インピ−ダンス素
子（１−４、１−５、１−６）を介して印加する回路を
設け、発光ダイオ−ドの点灯又は消灯により、ＰＴ２次
電圧の有無を目視できるようしたことを特徴とする。
本考案は、ＰＴ試験用端子を有するＰＴ回路を具備する
配電盤のＰＴ試験用端子に近傍に発光素子を設け、図１
に示すように各相毎に該発光素子（発光ダイオード１−
１、１−２、１−３）に、ＰＴ２次側のＰＴ２次電圧を
前記ＰＴ試験用端子２を通した後、高インピ−ダンス素
子（１−４、１−５、１−６）を介して印加する回路を
設け、発光ダイオ−ドの点灯又は消灯により、ＰＴ２次
電圧の有無を目視できるようしたことを特徴とする。
【０００６】
【作用】本考案は上記構成を採用することにより、高イ
ンピ−ダンス素子を介してＰＴ２次側の電圧を発光素子
に印加しているから、ＰＴ２次電圧が有れば発光素子は
点灯し、無ければ消灯するので、作業員がテストプラグ
等をＰＴ試験用端子に挿入して作業をする際、従来のよ
うに測定器で電圧を測定しなくても目視するだけで配電
盤内のＰＴ回路の電圧の有無を容易に確認することが出
来る。
ンピ−ダンス素子を介してＰＴ２次側の電圧を発光素子
に印加しているから、ＰＴ２次電圧が有れば発光素子は
点灯し、無ければ消灯するので、作業員がテストプラグ
等をＰＴ試験用端子に挿入して作業をする際、従来のよ
うに測定器で電圧を測定しなくても目視するだけで配電
盤内のＰＴ回路の電圧の有無を容易に確認することが出
来る。
【０００７】
【実施例】以下本考案の一実施例を図面に基づいて詳細
に説明する。図１は本考案のＰＴ試験用端子の電圧有無
表示装置の構成例を示すブロック図である。図示するよ
うに本考案の電圧有無表示装置１は発光ダイオ−ド１−
１、１−２、１−３と、高抵抗値の抵抗器１−４、１−
５、１−６で構成され、配電盤のＰＴ試験用端子２の負
荷側に接続され、更にＰＴ回路には種々の保護継電器３
が接続されている。
に説明する。図１は本考案のＰＴ試験用端子の電圧有無
表示装置の構成例を示すブロック図である。図示するよ
うに本考案の電圧有無表示装置１は発光ダイオ−ド１−
１、１−２、１−３と、高抵抗値の抵抗器１−４、１−
５、１−６で構成され、配電盤のＰＴ試験用端子２の負
荷側に接続され、更にＰＴ回路には種々の保護継電器３
が接続されている。
【０００８】ＰＴ２次電圧は通常１００ＶでＰＴ試験用
端子２を介して電圧有無表示装置１へ供給され、電圧有
無表示装置１では各相毎に高抵抗器１−４、１−５、１
−６を通して電圧を印加し発光ダイオ−ド１−１、１−
２、１−３を点灯している。
端子２を介して電圧有無表示装置１へ供給され、電圧有
無表示装置１では各相毎に高抵抗器１−４、１−５、１
−６を通して電圧を印加し発光ダイオ−ド１−１、１−
２、１−３を点灯している。
【０００９】ＰＴ試験用端子２は、配電盤正面よりテス
トプラグを（図示を省略）挿入することにより、テスト
プラグの端子を通して測定器を接続し電圧、電流等を測
定したり、負荷側の電圧を切り離したりすることが出来
る構造をしている。
トプラグを（図示を省略）挿入することにより、テスト
プラグの端子を通して測定器を接続し電圧、電流等を測
定したり、負荷側の電圧を切り離したりすることが出来
る構造をしている。
【００１０】図２は、本考案のＰＴ試験用端子の電圧有
無表示装置を取り付ける配電盤の外観図の例である。図
示するように一般にＰＴ試験用端子２１は配電盤の下方
部に設けられており、本考案の電圧有無表示装置の発光
ダイオ−ド２２（図１の発光ダイオ−ド１−１、１−
２、１−３と同じ）はその近傍（図では上側）に取り付
けられる。従って作業員がテストプラグを使用し保守作
業をする際は、発光ダイオードが点灯しているか否かに
より、ＰＴ２次電圧があるか否かを容易に確認するする
ことが出来できる。
無表示装置を取り付ける配電盤の外観図の例である。図
示するように一般にＰＴ試験用端子２１は配電盤の下方
部に設けられており、本考案の電圧有無表示装置の発光
ダイオ−ド２２（図１の発光ダイオ−ド１−１、１−
２、１−３と同じ）はその近傍（図では上側）に取り付
けられる。従って作業員がテストプラグを使用し保守作
業をする際は、発光ダイオードが点灯しているか否かに
より、ＰＴ２次電圧があるか否かを容易に確認するする
ことが出来できる。
【００１１】なお、上記実施例では発光ダイオ−ド２２
はＰＴ試験用端子２１の上部近傍に設けたが、発光ダイ
オ−ド２２の取り付け位置はこれに限定されるものでは
なく、作業員が確認し易いＰＴ試験用端子２１の近傍で
あればよい。また、上記実施例では発光素子として発光
ダイオードを用いたが、発光ダイオードに限定されるも
のではなく、ランプでよいことは当然である。
はＰＴ試験用端子２１の上部近傍に設けたが、発光ダイ
オ−ド２２の取り付け位置はこれに限定されるものでは
なく、作業員が確認し易いＰＴ試験用端子２１の近傍で
あればよい。また、上記実施例では発光素子として発光
ダイオードを用いたが、発光ダイオードに限定されるも
のではなく、ランプでよいことは当然である。
【００１２】
【考案の効果】以上、詳細に説明したように本考案によ
れば、下記のような優れた効果が期待される。電圧有無
表示装置は、ＰＴ２次電圧をＰＴ試験用端子を介して発
光素子に印加するので、作業員がテストプラグ等をＰＴ
試験用端子に挿入して作業をする際、従来のように測定
器で電圧を測定しなくても目視するだけで配電盤内のＰ
Ｔ回路の電圧の有無を容易に確認することができ、誤作
業等による事故の防止が期待できる。
れば、下記のような優れた効果が期待される。電圧有無
表示装置は、ＰＴ２次電圧をＰＴ試験用端子を介して発
光素子に印加するので、作業員がテストプラグ等をＰＴ
試験用端子に挿入して作業をする際、従来のように測定
器で電圧を測定しなくても目視するだけで配電盤内のＰ
Ｔ回路の電圧の有無を容易に確認することができ、誤作
業等による事故の防止が期待できる。
【図１】本考案のＰＴ試験用端子の電圧有無表示装置の
構成例を示すブロック図である。
構成例を示すブロック図である。
【図２】一般配電盤の外観図の例を示す図である。
１ 電圧有無表示装置 １−１ 発光ダイオ−ド １−２ 発光ダイオ−ド １−３ 発光ダイオ−ド １−４ 抵抗器 １−５ 抵抗器 １−６ 抵抗器 ２ ＰＴ試験用端子 ３ 保護継電器
Claims (1)
- 【請求項１】 ＰＴ試験用端子を有するＰＴ回路を具備
する配電盤のＰＴ試験用端子の近傍に発光素子を取付
け、ＰＴ２次側から供給されるＰＴ２次電圧を前記ＰＴ
試験用端子を介して前記発光素子に印加する回路を設
け、前記発光素子の点灯又は消灯により前記ＰＴ２次電
圧の有無を目視できるようにしたことを特徴とするＰＴ
試験用端子の電圧有無表示装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1993024434U JP2592944Y2 (ja) | 1993-04-12 | 1993-04-12 | Ｐｔ試験用端子の電圧有無表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1993024434U JP2592944Y2 (ja) | 1993-04-12 | 1993-04-12 | Ｐｔ試験用端子の電圧有無表示装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0677409U JPH0677409U (ja) | 1994-10-28 |
| JP2592944Y2 true JP2592944Y2 (ja) | 1999-03-31 |
Family
ID=12138052
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1993024434U Expired - Lifetime JP2592944Y2 (ja) | 1993-04-12 | 1993-04-12 | Ｐｔ試験用端子の電圧有無表示装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2592944Y2 (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4686343B2 (ja) * | 2005-11-30 | 2011-05-25 | 株式会社東芝 | 金属閉鎖形スイッチギヤ |
| JP6235830B2 (ja) * | 2013-08-22 | 2017-11-22 | 株式会社日立産機システム | 電圧検出器及びそれを備えたスイッチギヤ |
| KR102224523B1 (ko) | 2014-09-22 | 2021-03-08 | 팬듀트 코포레이션 | 전압 부존재의 검증을 위한 시스템 |
| US11215646B2 (en) | 2019-04-22 | 2022-01-04 | Panduit Corp. | Absence of voltage detection device |
| KR102313730B1 (ko) * | 2020-02-14 | 2021-10-18 | 주식회사 시스템베이스 | 회로설계 검증 장치 |
-
1993
- 1993-04-12 JP JP1993024434U patent/JP2592944Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0677409U (ja) | 1994-10-28 |
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