JP2589729Y2

JP2589729Y2 - 外形判別装置

Info

Publication number: JP2589729Y2
Application number: JP1993046945U
Authority: JP
Inventors: 保雄小松
Original assignee: Nidec Sankyo Corp
Current assignee: Nidec Sankyo Corp
Priority date: 1993-08-30
Filing date: 1993-08-30
Publication date: 1999-02-03
Anticipated expiration: 2008-08-30
Also published as: JPH0716106U

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この考案は外形判別装置に関す
る。この考案は、各種製品検査やカード・コイン類の画
像認識装置等に利用できる。

【０００２】

【従来の技術】製品やカード・コイン等の「ワーク」を
定方向へ搬送しつつ、ラインセンサで走査し、ワークの
外形を判別することは従来から広く行われている。

【０００３】このようなワークの外形判別において、従
来は、ラインセンサによる走査のデータから走査方向に
おけるワークの長さを検出し、これら検出値を、ワーク
に応じて予め設定された基準的な寸法値と比較し、ワー
ク搬送方向における先端位置と後端位置を検出してい
た。

【０００４】しかし、ラインセンサからのデータに基づ
く「ワーク長さ」と比較される基準的な寸法値が固定値
であるため、環境変動によりラインセンサの出力レベル
が変化した場合に、外形判定に誤りが発生しやすく、ワ
ーク固体差の影響を受け易いという問題があった。

【０００５】

【考案が解決しようとする課題】この考案は、上述した
事情に鑑みてなされたものであって、環境変動やワーク
固体差の影響を受けにくく、常に適正な外形判別を行い
得る、新規な外形判別装置の提供を目的とする。

【０００６】

【課題を解決するための手段】この考案の外形判別装置
は、「定方向へ定速搬送されるワークを、ラインセンサ
によりワーク搬送方向に直交する方向へ走査して１ライ
ンづつ信号化する読取りを行い、読取り結果に基づきワ
ークの外形を判別する装置」であって、読取り結果に基
づき、ワークの外形を判別する外形計測手段を有する。

【０００７】上記ワークの搬送される方向に対応して
「垂直軸」、ワークの走査方向に対応して「水平軸」を
想定する。「外形計測手段」は、外形計測回路と制御手
段とにより構成される。

【０００８】「外形計測回路」は、１ライン加算回路
と、垂直軸投影向ヒストグラムメモリと、ラインデータ
比較回路と、ラインデータレジスタと、終端検出回路
と、水平軸投影加算回路と、水平軸投影ヒストグラムメ
モリとを有する。

【０００９】「１ライン加算回路」は、ラインセンサか
らのデータを１ライン分づつ加算する。即ち、１ライン
加算回路は、ラインセンサからのデータの１ラインごと
に各画素データを加算する。

【００１０】「垂直軸投影ヒストグラムメモリ」は、１
ライン加算回路により加算されたラインごとの加算デー
タを書き込まれる。上記の如く、ラインセンサの走査方
向に対応して水平軸を想定しているから。１ライン加算
回路の１ラインごとの加算結果は１ラインのデータを
「垂直軸」に対して投影したものであり、垂直軸投影ヒ
ストグラムメモリは、１ラインごとの投影値を書き込ま
れるのである。「ラインデータ比較回路」は、１ライン
加算回路による１ライン分づつの加算値の大小関係を、
ラインごとに順次比較する。

【００１１】「ラインデータレジスタ」は、最小ライン
レジスタと、最大ラインレジスタとを有する。「最小ラ
インレジスタ」は、ラインデータ比較回路による比較に
より、加算値のより小さい値を最小ラインとして書き込
まれる。「最大ラインレジスタ」は、上記加算値のより
大きい値を最大ラインとして書き込まれる。「終端検出
回路」は、１ライン加算回路の１ラインごとの加算デー
タと、最小ラインレジスタの内容と、最大ラインレジス
タの内容とにより、１ラインごとに、ワークの終端を判
別するための所定の演算を行う。「水平軸投影加算回
路」は、ラインセンサによるデータを、同一画素番ごと
にライン順に加算する。即ち、この和は、垂直軸方向に
おける画素データの和であり、垂直軸方向のデータを
「水平軸」に対して投影したものとなる。「水平軸投影
ヒストグラムメモリ」は、水平軸投影加算回路の加算結
果を書き込まれる。

【００１２】「制御手段」は、外形計測回路を制御する
とともに、水平軸投影ヒストグラムメモリ、垂直軸投影
ヒストグラムメモリ、２値フレームメモリの記憶内容に
基づきワークの外形を判別する機能を有する。

【００１３】この考案の外形判別装置は、上記構成に加
え、上記「ラインデータレジスタ」が、最小ラインレジ
スタにおいて書き替えられる最小ラインのうちの最大の
ものを書き込まれる「最小ライン中最大値レジスタ」を
有し、且つ、ラインセンサのデータを１ラインごとに、
上記最小ライン中最大値レジスタの内容と比較して２値
化する「２値化回路」および、この２値化回路により２
値化されたデータを書き込まれる「２値フレームメモ
リ」とを有することが出来る。

【００１４】この場合には、制御手段は、垂直軸投影ヒ
ストグラムメモリ、水平軸投影ヒストグラムメモリおよ
び上記２値フレームメモリの記憶内容に基づきワークの
外形を判別する機能を有する（請求項２）。

【００１５】また、上記請求項１または２記載の外形判
別装置において、「１ライン加算回路」は、水平軸方向
におけるデータ取り込み領域を制限するウインドウ機能
を有することが出来る（請求項３）。

【００１６】

【作用】上記のように、この考案の外形判別装置におい
ては、ワークの終端検出に最小ラインのデータが用いら
れるので、環境変動等によりバックグラウンドの読取値
が変化したような場合にも、変化が自動的に補正され
る。また、ワークの終端検出に最大ラインのデータが用
いられるので、環境変動やワーク固体差の影響が自動的
に補正される。

【００１７】さらに、垂直軸投影・水平軸投影ヒストグ
ラムをリアルタイムで作成するので、その結果を用いて
外形の長さ、幅等を計測できる。

【００１８】請求項２記載の装置では、最小ライン中最
大値とラインセンサによる読取りデータを１ラインごと
に比較してリアルタイムで２値化することにより、ワー
クが「貫通孔」を有する場合にも、孔の有無を判別でき
る。

【００１９】請求項３記載の装置では、水平軸方向にお
けるデータ取り込み領域をウインドウ機能により制限す
ることにより、データ取り込み領域端部でのノイズを有
効に除去することができる。

【００２０】

【実施例】以下、具体的な実施例を説明する。図１は、
請求項２記載の考案の１実施例の要部を説明図的に略示
している。中心部に貫通孔があいた円形状のワーク２
（メダルやゲーム用チップ、丸札等を想定している）
は、搬送手段１により矢印Ａで示す定方向へ搬送され、
制御手段６により制御されるラインセンサ３による「搬
送方向へ直交する方向（水平軸方向）への走査の繰り返
し」により画像信号化される。ラインセンサ３はＣＣＤ
１次元カメラである。ラインセンサ３による画像取り込
みは、図示されない位置において、ワーク２の通過が検
出されてから所定時間後に開始される。

【００２１】ラインセンサ３からの出力はＡ／Ｄコンバ
ータ４により、画素信号が所定ビット数、例えば８ビッ
トのデジタル信号に変換される。Ａ／Ｄコンバータ４か
らのデジタル出力（ラインセンサからのデータ）は外形
計測回路５に送られる。制御手段６は、外形計測回路５
の計測結果に基づき、ワーク１の外形を判別する。

【００２２】図２は、外形計測回路５と制御手段の一部
とを示している。図の左上に「ＣＣＤＤＡＴＡ」と表
示された、ラインセンサからのデータは１ライン加算回
路１００と、終端検出回路３００と、水平軸投影加算回
路４００と、２値化回路５００とに入力される。入力
は、ラインセンサの走査の１ラインごとに行われ、入力
先アドレスは、Ａ／Ｄコンバータ４（図１）のデジタル
変換を制御する「Ａ／ＤＣｌｏｃｋ」により制御される
アドレスカウンタ１０の出力により決定される。

【００２３】１ライン加算回路１００に入力した１ライ
ン分のデータは、画素ごとのデータが１ライン分加算さ
れ、その結果は、垂直軸投影ヒストグラムの１ラインデ
ータとして、垂直軸投影ヒストグラムメモリ１０１に書
き込まれる。垂直軸投影ヒストグラムレジスタ１０１へ
の書込みは、ラインセンサからの１ライン分のデータが
更新され、１ライン加算回路１００が加算を繰り返すご
とに行われ、垂直軸投影ヒストグラムメモリ１０１に
は、１ラインづつの画素データの和がワーク搬送方向即
ち垂直軸方向へ１ライン分づつ書き込まれ、ワーク２に
対する「垂直軸投影ヒストグラム」が、垂直軸投影ヒス
トグラムメモリ１０１の記憶内容として形成されて行く
ことになる。

【００２４】１ライン加算回路１００による加算結果
は、垂直軸投影ヒストグラムメモリ１０１への書込みと
同時に、ラインデータ比較回路２００と終端検出回路３
００とに入力する。

【００２５】ラインデータ比較回路２００は、最初に入
力してくる最初のデータ（ラインセンサによりデータ化
された最初の１ライン分の加算値）を自ら記憶するとと
もに、最小ラインレジスタ２０１，最小ライン中最大値
レジスタ２０２，最大ラインレジスタ２０３に書き込
む。

【００２６】ラインセンサからのデータが１ライン分づ
つ更新されるに従い、１ライン加算回路１００の加算結
果は順次ラインデータ比較回路２００に入力される。ラ
インデータ比較回路２００は、自らが記憶しているデー
タ（入力データの直前のデータ）と新たな入力データと
の大小関係を比較し、加算値のより小さい値を最小ライ
ンレジスタ２０１に、加算値のより大きい値を最大ライ
ンレジスタ２０３に書き込む。

【００２７】従ってライン情報が更新されるごとに、最
小ラインレジスタ２０１の内容は、１ライン加算回路１
００の加算値の「より小さい値」に更新され、最大ライ
ンレジスタ２０３の内容は上記加算値の「より大きい
値」に更新されることになり、後述する後端検出が行わ
れて、ワークの読取りが終った時点では、最小ラインレ
ジスタ２０１の内容は、読取られたデータのうちで「１
ライン加算値の最小値」となり、最大ラインレジスタ２
０３の内容は、読取られたデータのうちで「１ライン加
算値の最大値」となる。

【００２８】また、最小ラインレジスタ２０１の内容が
書き替えられるとき、即ち、新たな加算値が、それ以前
の加算値よりも小さくなっているとき、最小ライン中最
大値レジスタ２０２の内容は書き替えられず、従って、
最終的には、最小ラインレジスタ２０２に書き込まれた
加算値のうちで最大のものが書き込まれていることにな
る。

【００２９】一方、１ライン加算回路１００の加算結果
が入力される終端検出回路３００には、最小ラインレジ
スタ２０１の内容と最大ラインレジスタ２０３の内容と
が入力され、これら１ライン加算回路１００の１ライン
ごとの加算データと、最小ラインレジスタ２０１の内容
と、最大ラインレジスタ２０３の内容とにより、１ライ
ンごとに、ワークの終端を判別するための所定の演算を
行う。

【００３０】演算は、経験的に設定される「演算式」に
より行われる。演算式は、例えば、Ｙ＝｛（Ｎｍｘ×Ｐ）／３２｝＋Ｎｍｎ（１）で与えられる。ここに、Ｎｍｎは最小ラインレジスタ２
０１の内容、Ｎｍｘは最大ラインレジスタ２０３の内容
である。また、Ｐはパラメータであって１〜１６の整数
値を取り、Ｎｍｘ，Ｎｍｎに応じて制御手段が設定す
る。走査ごとに行われる前記加算の結果（１ライン加算
回路１００から入力される）が、上記演算式（１）の演
算結果：Ｙよりも小さくなったとき、終端検出回路７
は、ワーク２の終端を検出し、その結果を制御手段に送
り、同時に終端レベルレジスタ３０１に終端検出時のＹ
の値を書き込む。また終端信号遅延回路３０２により一
定の遅延信号を発生させ、この遅延信号（遅延終端信
号）が発生すると、この信号により制御手段６はライン
センサによる画像取り込みを停止させる。また、各メモ
リへの書込みも停止される。

【００３１】さて、水平軸投影加算回路４００には、ラ
インセンサからのデータが１ライン分づつ順次入力す
る。水平軸投影加算回路は、ラインセンサによるデータ
を、同一画素番ごとにライン順に加算する。即ち、ライ
ンセンサの１ライン分のデータがｎ画素のデータで構成
されている場合に、ライン順序数：ｊのラインデータに
おいて、ｉ番目の画素データをＸ_ijとするとき、水平軸
投影成分のｉ番目の値：Ｚ_iを、演算：Ｚ_i＝ΣＸ_ij（和
は、サフィックス：ｊに就いて取る）により算出する。

【００３２】演算の結果は水平軸投影ヒストグラムメモ
リ４０１に書き込まれ、ラインデータが更新されるたび
に書き替えられる。また、演算結果のうちで最大のもの
は、最大水平軸投影ヒストグラムレジスタ４０３に書き
込まれ、このレジスタ４０３の内容はラインデータが更
新されるたびに、直前の値と比較され、より大きい値が
書き込まれる。

【００３３】従って、画像読取りが終了した時点におい
て、水平軸投影ヒストグラムメモリ４０１には、ワーク
搬送方向の長さに対するデータが書き込まれており、最
大水平軸投影ヒストグラムメモリ４０３には、ワーク自
体の搬送方向の幅（円形状のワーク１では直径）に対応
した値が書き込まれていることになる。

【００３４】ラインセンサからのデータはまた２値化回
路５００に入力される。２値化回路５００にはまた最小
ライン中最大値レジスタ２０２の内容が入力される。２
値化回路５００は、ラインセンサからのデータが入力す
ると、その１ラインごとに、各画素データを２値化す
る。

【００３５】即ち、最小ライン中最大値レジスタ２０２
からの入力値を「ＭＩＮｌｉｎｅｓＭＡＸ」とすると、
制御手段の側から書き込まれる２値オフセット値：Ｂｏ
ｆｆと上記ＭＩＮｌｉｎｅｓＭＡＸとの和：ＭＩＮｌｉ
ｎｅｓＭＡＸ＋Ｂｏｆｆを閾値として２値化を行い、そ
の結果を２値フレームメモリ５０１に書き込む。

【００３６】書き込まれたデータでは、ワークの外側と
貫通孔の部分とで、微小なバックグラウンドレベルとな
るので、この記憶内容によりワークの貫通孔の有無の判
別が可能となる。

【００３７】以上に説明した、１ライン加算回路１０
０、垂直軸投影ヒストグラムメモリ１０１、ラインデー
タ比較回路２００、最小ラインレジスタ２０１、最大ラ
インレジスタ２０３、最小ライン中最大値レジスタ２０
２、終端検出回路３００、終端レベルレジスタ３０１、
終端信号遅延回路３０２、水平軸投影加算回路４００、
水平軸投影ヒストグラムメモリ４０１、最大水平軸投影
ヒストグラムレジスタ４０３、２値化回路５００、２値
フレームメモリ５０１は、外形計測回路を構成してい
る。このうちで、メモリ１０１，４０１，５０１を除い
た部分はＩＣチップとしてチップ化されており、上記各
メモリは外付けＲＡＭが用いられる。

【００３８】垂直軸投影ヒストグラムメモリ１０１と、
水平軸投影ヒストグラムメモリ４０１は、共に２５６ワ
ードで、同一のＳ−ＲＡＭの一部を使用する。また２値
フレームメモリはＳ−ＲＡＭによる８ビット構成のメモ
リで、２値画像空間１ビット×２５６×２５６を８ビッ
ト×３２×２５６に変換して保存する。

【００３９】上で、図１に即して説明したように、ライ
ンセンサ３による画像取り込みは、図１に図示されない
位置において、ワーク２の通過が検出されてから所定時
間後に開始される。画像取り込みの開始と、その時のワ
ークの位置とは、必ずしも一定せず、従って、画像取り
込みの開始は、ワークの先端部が必ず読み取られるよう
に余裕をもって行われる。

【００４０】このため、画像読取が開始されてから、メ
モリ１０１，４０１，５０１への書込み（２５６ライン
分）が満了した状態において、ワークの画像がなお未取
り込みの部分を残していることが考えられる。このよう
な事情を考慮して、上記メモリ１０１，４０１，５０１
への書込みは「循環的」に行われる。即ち、メモリの記
憶領域が全て書き込まれた状態において、まだ終端検出
が成されていないときは、最初のアドレスへ戻り、最初
のアドレスから順次再書込みを行うのである。

【００４１】メモリ１０１，４０１，５０１のサイズ
は、ワーク全体を記憶できるように、ワークのサイズに
応じて設定されているから、上記の如くして終端検出が
成された時点では、各メモリに、ワーク全体に関する情
報が記憶されることになる。なお、上記「循環的」な記
憶は、演算手段により各メモリの書込みアドレスを循環
的に制御することにより行われる。

【００４２】また、制御手段６により停止制御が成され
た時点における記憶アドレスはストップアドレスレジス
タ６０にラッチされる。

【００４３】以上のようにして、垂直軸投影ヒストグラ
ムメモリ１０１，水平軸投影ヒストグラムメモリ４０
１，２値フレームメモリ５０１にワーク外形に関するデ
ータが格納されると、制御手段６（図１）は、これら各
メモリの内容を読み出し、ワーク２の外形を判別する。
制御手段は、図２に示すアドレスカウンタ１０、データ
セレクタ２０、アドレス加算回路、ストップアドレスレ
ジスタ６０と、図示されないＣＰＵにより構成されてい
る。

【００４４】また、ＣＰＵはデータセレクタ２０を介し
て各レジスタの内容の読み書き、アドレスカウンタ１０
等のリセットを行い、アドレス加算回路３０を制御し、
アドレス加算回路３０において、ストップアドレスレジ
スタ６０にラッチされたアドレス番号をもとに、アドレ
ス加算を行い、各メモリ１０１，４０１，５０１に循環
的に、即ち、前後が不連続に記憶されている情報を、ワ
ーク本来の形状に合わせた順序になおして読みだす。

【００４５】垂直軸投影ヒストグラムメモリ１０１に
は、その最大値としてワークの水平軸方向の直径に応じ
た値が、また水平軸投影ヒストグラムメモリ４０１に
は、その最大値としてワークの搬送方向の直径に応じた
値が格納されている。従って、これらの値により上記各
方向の直径を判別できる。また２値フレームメモリ５０
１の記憶データからは、貫通孔の有無を判別できる。

【００４６】このようにして、ワーク２の形状を判別す
ることができる。なお、上記説明から明らかなように、
判別すべきワークが、貫通孔の無いものに限られている
場合には、２値化回路および２値フレームメモリを省略
できる（請求項１）。

【００４７】また、２値フレームメモリの０または１の
画素数を、ＣＰＵで演算することにより、貫通孔の面積
やワークの面積を計算することもできる。

【００４８】ここで、上記直径の特定工程を簡単に説明
しておく。図３（ａ）は、ワーク２Ａと、水平軸方向、
垂直軸方向の関係を示している。このようなワーク２Ａ
を読み取った場合、垂直軸投影ヒストグラムおよび水平
軸投影ヒストグラムが、それぞれ図３（ｂ），（ｃ）の
ようになることは上述の説明から容易に理解されよう。

【００４９】図４は、図３（ｂ）に示した垂直軸投影ヒ
ストグラムの様子を示している。最大ラインレジスタの
内容を表すＮｍｘは、ワーク２Ａの輝度に応じて破線の
ようにも鎖線のようにも変化する。また最小ラインレジ
スタの内容を表すＮｍｎは、略バックグラウンドレベル
である。このような水調軸投影ヒストグラムの無いよう
に対し、閾値：Ｇ_VTHを、演算：Ｇ_VTH＝（Ｎｍｘ−Ｎｍｎ）×ａ＋Ｎｍｎによって求める。ａは０＜ａ＜１の範囲の定数で、経験
的に０．１程度であることが分かっている。このように
して、閾値：Ｇ_VTHが得られたら、この閾値を用いて、
垂直軸方向のワーク直径を、図５に示す如き手順で求め
る。

【００５０】パラメータ：ｊは、垂直軸投影ヒストグラ
ムのアドレスで０から２５５までを取る。また、Ｈ
_jは、垂直軸投影ヒストグラムのアドレス：ｊに於ける
データ値である。アドレス：ｊを０から順次大きくし
て、アドレスが繰り上がるごとに、データ値：Ｈ_jと閾
値：Ｇ_VTHの大小関係を調べ、初めてＨ_j＞Ｇ_VTHとなる
アドレスｊをＴｏ（図４参照）とする。Ｔｏが定まった
ら、アドレスを終端の２５５とし、アドレスを１ずつ繰
り下げ、アドレスが繰り下がるごとに、データ値：Ｈ_j
と閾値：Ｇ_VTHの大小関係を調べ、初めてＨ_j＞Ｇ_VTHと
なるアドレスｊをＴａ（図４参照）とする。

【００５１】ワーク２Ａ（図３）の垂直軸方向の直径は
上記Ｔｏ，Ｔａ、および１画素のワーク換算サイズ：Ｐ
を用いて、（Ｔａ−Ｔｏ）×Ｐで与えられる。水平軸方
向の直径も同様の手法で求めることができるが、水平軸
方向に関しては、最小値が不明であるので、ＣＰＵで求
めるか、あるいは垂直軸投影ヒストグラムを代用しても
とめても良い。

【００５２】このようにすると、輝度やバックグラウン
ドに変化があると、閾値：Ｇ_VTHが、それに応じて変化
するので、ワークの直径を精度良く求めることができ
る。

【００５３】図６は、請求項３記載の考案の実施例を特
徴部分のみ示している。図６（ｂ）は、ワーク２Ａが搬
送手段１により垂直軸方向へ搬送されている状態を示し
ている。このとき、ラインセンサによる読み取り領域が
Ｌ₁のように広いと、搬送手段の両端部での不規則な反
射等がノイズとして影響し、垂直軸投影ヒストグラムは
図６（ｃ）に示すように、バックグラウンドレベルが不
規則な変動を示し、ワークの直径の算出に誤差を生じる
虞れがある。

【００５４】このとき、１ライン加算回路におけるデー
タ取り込みにウインドウを掛け、図６（ｂ）に示すよう
に、データ取り込み領域をＬ₂のように制限すれば、搬
送手段端部による不規則な反射の影響は除かれて、図６
（ｄ）に示すような、良好な垂直軸投影ヒストグラムを
得ることができる。図６（ｂ）において、ＶＨＩＳＴ
ＬｅｆｔおよびＶＨＩＳＴＲｉｇｈｔは、ウイン
ドウにおけるデータ取り込み領域の両端のアドレスを示
す。

【００５５】図６（ａ）は、請求項３記載の考案を適用
した場合の１ライン加算回路の構成を示している。上記
アドレス：ＶＨＩＳＴＬｅｆｔおよびＶＨＩＳＴ
Ｒｉｇｈｔは、図６（ａ）に示すウインドウ設定レジ
スタ１１１，１１２にそれぞれ設定される。ラインセン
サーからの画像データが１ライン加算回路に取り込まれ
るとき、ラインセンサ画像データのアドレス（ＨＡｄ
ｄｒｅｓｓ）はアドレス比較器１１３に入力し、上記ア
ドレス：ＶＨＩＳＴＬｅｆｔおよびＶＨＩＳＴ
Ｒｉｇｈｔと比較される。そして、ＨＡｄｄｒｅｓｓ
＝ＶＨＩＳＴＬｅｆｔとなると、アドレス比較器１１
３からの信号によりラッチ１１５がイネーブルとなり、
そして、加算器１１６は、ＶＨＩＳＴＬｅｆｔ≦Ｈ
Ａｄｄｒｅｓｓ≦ＶＨＩＳＴＲｉｇｈｔのアドレ
ス内のデータを加算する。この加算結果は、アドレス比
較器１１３からの信号を受けるＲ／Ｗ制御回路１１４に
より制御されて、垂直方向アドレス（ＶＡｄｄｒｅｓ
ｓ）ごとにＳ−ＲＡＭ１１７（図２の垂直軸投影ヒスト
グラムメモリ１０１）に書き込まれるのである。

【００５６】

【考案の効果】以上に説明したように、この考案によれ
ば新規な外形判別装置を提供できる。この考案は上記の
如き構成となっているので、環境変化によりワークのバ
ックグラウンドの読取値が変化しても、確実にワークの
終端を検出でき、ワークの固体差の影響を受けない。ま
た、リアルタイムで、ワークの水平方向及び垂直方向の
ヒストグラムを作成し、この結果から外形の長さ、幅を
計算するため、精度の良い外形計測が高速で可能であ
る。また請求項２記載の考案では、貫通孔の有無を確実
に検出できる。さらに、請求項３記載の考案では、搬送
手段端部の不規則な反射の影響を除去して、適正な外形
判別を実現できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この考案の１実施例を説明図的に示す図であ
る。

【図２】上記実施例における外形計測回路を説明するた
めの図である。

【図３】直径の特定方法を説明するための図である。

【図４】直径特定方法を説明するための図である。

【図５】直径特定の手順を示すフロー図である。

【図６】請求項３記載の考案の実施例を説明するための
図である。

【符号の説明】

１搬送手段２ワーク３ラインセンサ

Claims

(57)【実用新案登録請求の範囲】

【請求項１】定方向へ定速搬送されるワークを、ライン
センサによりワーク搬送方向に直交する方向へ走査して
１ラインづつ信号化する読取りを行い、読取り結果に基
づきワークの外形を判別する装置であって、上記読取り結果に基づき、ワークの外形を判別する外形
計測手段を有し、この外形計測手段が、外形計測回路と制御手段とにより
構成され、上記外形計測回路は、ラインセンサからのデータを１ライン分づつ加算する１
ライン加算回路と、この１ライン加算回路により加算されたラインごとの加
算データを書き込まれる垂直軸投影ヒストグラムメモリ
と、上記１ライン加算回路による１ライン分づつの加算値
を、ラインごとに順次比較するラインデータ比較回路
と、このラインデータ比較回路による比較により、加算値の
より小さい値を最小ラインとして書き込まれる最小ライ
ンレジスタと、加算値のより大きい値を最大ラインとし
て書き込まれる最大ラインレジスタと、を有するライン
データレジスタと、上記１ライン加算回路の１ラインごとの加算データと、
最小ラインレジスタの内容と、最大ラインレジスタの内
容とにより、１ラインごとに、ワークの終端を判別する
ための所定の演算を行う終端検出回路と、上記ラインセンサによるデータを、同一画素番ごとにラ
イン順に加算する水平軸投影加算回路と、この水平方向加算回路の加算結果を書き込まれる水平軸
投影ヒストグラムメモリと、上記制御手段は、上記外形計測回路を制御するととも
に、上記各メモリの記憶内容に基づきワークの外形を判
別する機能を有することを特徴とする外形判別装置。
【請求項２】請求項１記載の外形判別装置において、ラインデータレジスタが、最小ラインレジスタにおいて
書き替えられる最小ラインのうちの最大のものを書き込
まれる最小ライン中最大値レジスタを有し、ラインセンサのデータを１ラインごとに、上記最小ライ
ン中最大値レジスタの内容と比較して２値化する２値化
回路および、この２値化回路により２値化されたデータ
を書き込まれる２値フレームメモリとを有し、制御手段
が、垂直軸投影ヒストグラムメモリ、水平軸投影ヒスト
グラムメモリおよび上記２値フレームメモリの記憶内容
に基づきワークの外形を判別する機能を有することを特
徴とする外形判別装置。
【請求項３】請求項１または２記載の外形判別装置にお
いて、１ライン加算回路が、水平軸方向におけるデータ取り込
み領域を制限するウインドウ機能を有することを特徴と
する外形判別装置。