JP2753427B2

JP2753427B2 - ２値化閾値設定装置

Info

Publication number: JP2753427B2
Application number: JP4263234A
Authority: JP
Inventors: 明松村; 龍治北門; 均熱田; 泰志佐々
Original assignee: Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Current assignee: Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority date: 1992-09-04
Filing date: 1992-09-04
Publication date: 1998-05-20
Anticipated expiration: 2013-05-20
Also published as: JPH0686073A

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、例えばプリント基板
の配線パターンの検査において使用され、被処理画像を
２値化する際の閾値を設定する装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】画像処理において濃淡の階調を有する画
像をある閾値で”０”と”１”とに２値化する処理は、
画像中の対象を背景から抽出する代表的な方法である。
この２値化処理においては、適切な閾値を決定する技術
が重要である。閾値の決定に対してはこれまで数多くの
手法が提案されており、閾値を変えながら２値化した結
果をもとに、なんらかの判断基準で適切な閾値を決定す
る適応閾値法もその１つである。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
従来技術は、被処理画像を全ての閾値について２値化処
理し、その２値化画像のそれぞれについて算出を行うた
めに、膨大な処理時間を要するという問題点があった。

【０００４】この問題に対し、フィルタ演算を行うこと
によって閾値の数に依存しない演算量で、評価値を高速
に算出する方法も提案されているが、これを実現する場
合には、それに見合う多値画像メモリが必要となる。高
速化する場合、この多値画像メモリは大規模なシフトレ
ジスタ等で構成される必要があり、ハードウェアの肥大
化という問題点を招く。

【０００５】この発明は、上記問題点を解消するために
なされたもので、小規模なハードウェア構成によって、
しかも短い処理時間で最適な２値化閾値を設定する技術
を提供することを目的とする。

【０００６】

【課題を解決するための手段】この発明にかかる請求項
１に記載の２値化閾値設定装置は、被処理画像を２値化
する際の２値化閾値を設定する装置であって、（ａ）そ
れぞれが階調値を有する複数の画素の配列によって前記
被処理画像を表現する画像信号に基づき、当該画像信号
が有する前記階調値が当該画素の配列方向に沿って、所
定の閾値を超えて増加または減少する回数で定義される
１次変化点数の、当該閾値に対する分布を表現する１次
変化点数ヒストグラムを得る１次変化点数ヒストグラム
作成手段と、（ｂ）前記１次変化点数ヒストグラム作成
手段で得られる前記分布に基づき、前記閾値が順次変化
するに伴って、当該閾値に対応する前記１次変化点数
が、所定の基準１次変化点数を超えて増加または減少す
る回数で定義される２次変化点数の、当該基準１次変化
点数に対する分布を表現する２次変化点数ヒストグラム
を得る２次変化点数ヒストグラム作成手段と、（ｃ）前
記２次変化点数ヒストグラムに基づき、前記２次変化点
数が最も長く連続して４である前記基準１次変化点数の
区間で定義される安定区間を判定し、前記安定区間内に
存在する一の前記１次変化点数を与える４つの前記閾値
を求めて、これらの４つの閾値の中で小さい順に第２、
及び第３番目に位置する閾値の間で、前記２値化閾値を
探索する手段と、を備える。

【０００７】この発明にかかる請求項２に記載の２値化
閾値設定装置は、請求項１に記載の２値化閾値設定装置
であって、前記手段（ｃ）が、（ｃ−１）前記安定区間
を判定し、当該安定区間内における前記基準１次変化点
数の下限値を決定する１次変化点数下限値検出手段と、
（ｃ−２）前記一の前記１次変化点数として前記下限値
を採用して探索範囲を決定する探索範囲検出手段と、
（ｃ−３）前記１次変化点数ヒストグラムに基づいて、
前記探索範囲における前記１次変化点数の最小値を算出
し、当該最小値に対応する前記閾値を２値化閾値として
決定する最適値探索手段と、を備える。

【０００８】

【作用】この発明における２値化閾値設定装置は、１次
変化点数ヒストグラムが通例において２峰性を有し、そ
れらのピークに挟まれる範囲内に、適切な大きさの２値
化閾値が実際上存在するという経験上の性質を利用す
る。２次変化点ヒストグラムに基づいて決定される安定
区間は上記のピークの間の区間に相当する。この発明の
装置は、１次及び２次変化点ヒストグラムを作成して、
これらに基づいて最適な２値化閾値を決定する（請求項
１及び請求項２）。

【０００９】この発明における２値化閾値設定装置は、
１次変化点数ヒストグラムにおける２つのピークに挟ま
れる範囲において最も小さい１次変化点数に対応する閾
値が、２値化閾値として実際上最適であるという経験上
の性質を利用して、当該最小の１次変化点数に対応する
閾値を決定する（請求項２）。

【００１０】

【実施例】［１．基本的な原理］この発明の実施例にお
ける装置の説明の前に、この装置が基礎に置いている基
本的な原理について記述する。

【００１１】被処理画像の画素毎に濃淡の階調を表現す
る画像信号において、走査方向に沿ってその階調が所定
の閾値を跨いで増加あるいは減少する回数である１次変
化点数の、その閾値に対する分布（１次変化点数ヒスト
グラム）は、通常図２のグラフに示すように、２つのピ
ークを有している。この２峰性の曲線において、２つの
ピークに挟まれた「谷」における閾値の中に適切な２値
化閾値が存在し、中でも谷において１次変化点数の最小
値に対応する閾値（以下、理論最適値と記す）ないしそ
の近傍の値が２値化閾値として最適であることが、経験
上わかっている。この理論最適値を決定するのに以下の
ような手法を採る。

【００１２】まず、１次変化点数ヒストグラムを、「閾
値」個の画素を持ち、各画素が「１次変化点数」の濃淡
階調である１次元の多値画像とみなして、１次変化点数
ヒストグラムを得る手法と同様の手法により、２次変化
点数ヒストグラムを得る。すなわち、１次変化点数ヒス
トグラムにおいて、閾値が小さい値から大きい値へと順
次変化するに伴って閾値に対応する前記１次変化点数
が、所定の基準値（基準１次変化点数）を超えて増加ま
たは減少する回数で定義される２次変化点数の、基準１
次変化点数に対する分布を算出する。この２次変化点数
ヒストグラムにおいて、２次変化点数は基準１次変化点
数の増加に伴って２〜４〜２〜０と変化する。２次変化
点数が４である領域が、前述の「谷」に相当する。この
ため、２次変化点数を４とする基準１次変化点数の最小
値を求め、元の１次変化点数ヒストグラムにおいて、そ
の最小値を与える閾値を求めることにより、理論最適値
が得られる。

【００１３】しかし、現実の１次変化点数ヒストグラム
では、２つのピークの頂点、谷の底部が必ずしも滑らか
ではないので、２次変化点数ヒストグラムは２〜不定〜
４〜不定〜２〜不定〜０と変化する。そこで、２次変化
点数を４とする適当な１次変化点数、例えば図２におけ
る直線Ｌを採用して、この１次変化点数を与える４つの
閾値Ｃ1 〜Ｃ4 を小さい順に並べて、中央２つのＣ2 、
Ｃ3 を採用し、これら２つの値の間の区間内で理論最適
値を求める。直線Ｌの高さ、すなわち適当な１次変化点
数を決定するのに以下の手法を採る。

【００１４】図３は、図２に示す１次変化点数ヒストグ
ラムから得られる２次変化点数ヒストグラムを示すグラ
フである。このグラフにおいて、２次変化点数が連続し
て４である区間の中で、最も広い区間（安定区間）を抽
出する。安定区間の中にあれば、上記の適当な１次変化
点数としていずれの値を採用してもよいが、理論最適値
を決定する上で効率をよくするためには、最も小さい値
（下限値）を採用するのがよい。図４は図２における符
号Ａで記した下限値の近傍を拡大したグラフである。も
との１次変化点数ヒストグラムにおいて、この下限値に
近接する値を与える４つの閾値（下限値に対応する閾
値）を演算し、これらを小さい順に並べて中央２つの値
Ｐ、Ｑで挟まれる区間（探索範囲）の中で理論最適値を
探索する。

【００１５】［２．装置の全体構成］図５はこの発明の
装置を組み込んだプリント基板の検査装置の全体構成を
示す概略ブロック図である。ステージ１０上には、検査
対象となるプリント基板１１が配置される。基板１１は
読取装置２０により主走査方向Ｘに沿って線状に順次そ
の画像を読み取られるとともに、ステージ１０の移動に
ともなって副走査方向Ｙに主走査の線を順次移動させ
る。これにより基板１１の画像がすべて読み取られる。
読取装置２０は、主走査方向Ｘ及び副走査方向Ｙに配列
した微小区画である画素毎に、画像の濃淡の階調を表現
するデジタル信号である原画像信号ＧＳ（８ビット）を
出力する。原画像信号ＧＳは２値化回路２１へ送られ、
ここで所定の２値化閾値ＴＨを基準として原画像信号Ｇ
Ｓが２値化される。これにより、基板１１が有する配線
パターンを表現する２値化画像信号ＰＩＳが得られ、パ
ターン検査回路４０へ送出される。パターン検査回路４
０は、２値化画像信号ＰＩＳに基づいて配線パターンに
おける欠陥の有無を検査する。

【００１６】２値化回路２１で基準値として用いられる
２値化閾値ＴＨは、パターン検査回路４０における検査
の精度を左右する。このため、２値化閾値ＴＨは適切に
設定される必要がある。２値化閾値設定装置３０はこの
目的のために設けられ、読取装置２０から送出される原
画像信号ＧＳを基に適切な２値化閾値ＴＨを決定し２値
化回路２１へ供給する。

【００１７】図１は２値化閾値設定装置３０の全体構成
を示す概略ブロック図である。原画像信号ＧＳは１次変
化点数ヒストグラム作成部（１次変化点数ヒストグラム
作成手段）３１へ送られ、ここで１次変化点数ヒストグ
ラムが作成される。１次変化点数ヒストグラムを表現す
る信号が２次変化点数ヒストグラム作成部（２次変化点
数ヒストグラム作成手段）３２へ送られ、ここで２次変
化点数ヒストグラムが作成される。１次変化点数下限値
検出部（１次変化点数下限値検出手段）３３では、この
情報をもとにして、２次変化点数が４で連続する区間の
うち最も長く連続する区間を検出し、その区間内で１次
変化点数の最小値を下限値として取り出す。更に、理論
最適値探索範囲検出部（探索範囲検出手段）３４では、
１次変化点数ヒストグラムの情報と１次変化点数下限値
とから理論最適値を探索すべき閾値の範囲（探索範囲）
を求める。理論最適値探索部（最適値探索手段）３５で
は、１次変化点数ヒストグラムに基づいて、探索範囲の
中で理論最適値を探索する。この理論最適値は２値化閾
値ＴＨとして２値化回路２１へ供給される。ＣＰＵ３６
はマイクロコンピュータを内蔵した回路であって、装置
３０全体の動作を制御する。

【００１８】［３．１次、２次変化点数ヒストグラム作
成部］図６は１次変化点数ヒストグラム作成部３１の内
部構成を示す概略ブロック図である。データ合成計数範
囲発生部３１１では、送出した要求信号に対応して、読
取装置２０から主走査方向Ｘに沿って順次１つの画素に
対応する８ビットのデータ長を有する原画像信号ＧＳが
与えられると、これより１つ以前に与えられた原画像信
号ＧＳと合成して計数範囲を決定し、データ計数部３１
２へ送出する。計数範囲は１つ前の原画像信号ＧＳと原
段階での原画像信号ＧＳのそれぞれが表現する階調値の
間の区間で与えられる。データ計数部３１２は、計数範
囲に対応するメモリアドレスに格納される１次変化点数
をメモリ３１３から読み出し、値”１”を加算して元の
メモリアドレスに書き戻す。

【００１９】メモリ３１３には、８ビットで表現される
階調値に対応するメモリアドレスの各１に対応する１次
変化点数が記憶される。すなわち、メモリ３１３は１次
変化点数ヒストグラムを記憶する。１次変化点数ヒスト
グラム作成部３１が処理を開始する前に、メモリ３１３
の全てのアドレスに対するデータ信号として、あらかじ
め値”０”が書き込まれる。

【００２０】コントロール部３１４は、ＣＰＵ３６から
のコントロール信号に基づいて、これら一連の動作を制
御する。メモリ読出／書込部３１５は、ＣＰＵ３６から
の指示信号（ＣＰＵ信号）に基づいて、メモリ３１３に
おける読み出し及び書き込み動作を制御する。

【００２１】２次変化点数ヒストグラム作成部３２は、
１次変化点数ヒストグラム作成部３１と同様の内部構成
を有する。そのブロック図は図６と同様であり、図示を
省略する。データ合成計数範囲発生部３１１において原
画像信号ＧＳの代わりに１次変化点数ヒストグラム作成
部３１からの１６ビットのデータ長を有する１次変化点
数を表現する信号が供給され、メモリ３１３のメモリア
ドレスが基準１次変化点数に対応し、記憶されるデータ
信号が２次変化点数を表現する点が、１次変化点数ヒス
トグラム作成部３１と異なっている。すなわち、２次変
化点数ヒストグラム作成部３２が有するメモリは２次変
化点数ヒストグラムを記憶する。

【００２２】［４．１次変化点数下限値検出部］図７
は、１次変化点数下限値検出部３３の内部構成を示す概
略ブロック図である。２次変化点数ヒストグラムアドレ
ス発生部３３１が発生するアドレス信号に対応して、２
次変化点数ヒストグラム作成部３２が有するメモリ３２
３から、基準１次変化点数が小さい値から大きい値へと
増加する順序に沿って、これに対応する２次変化点数が
順次読み出され、検出部３３２において値”４”と大き
さの比較が行われる。読み出された２次変化点数が値”
４”と等しければ、計数部３３３に計数信号を送信し、
値”４”と異なっておれば初期化信号を送信する。計数
部３３３では、計数信号の送信回数を積算し、初期化信
号によって積算された値を０に戻す。計数部３３３は、
この積算された計数値を最大値比較部３３４へ送出す
る。

【００２３】最大値比較部３３４は最大値保持部３３５
に保持されている最大値と計数値とを比較し、計数値が
大きければ最大値を計数値で更新し、計数値が大きくな
ければ最大値はそのまま保持される。従って、最大値保
持部３３５には２次変化点数が４で連続した回数の中で
最も長く継続した回数が保持される。

【００２４】一方、値”４”の出現回数が１であるとき
には、そのときの１次変化点数が下限値の候補である。
すなわち、値”４”である２次変化点数が、この１次変
化点数を出発点として、最も長く継続する可能性があ
る。このため、この１次変化点数が１次変化点数下限値
候補一時保持部３３６で保持される。最大値比較部３３
４が最大値を更新したときに、同時に１次変化点数下限
値保持部３３７に保持される値が、１次変化点数下限値
候補一時保持部３３６に保持される値に更新される。こ
れにより、処理が終了した時点で１次変化点数下限値保
持部３３７には、メモリ３２３が記憶する２次変化点数
ヒストグラムにおいて、２次変化点数が４で連続する区
間のうち最も長く連続する区間内での１次変化点数の最
小値が保持され、１次変化点数下限値として出力され
る。なお、最大値保持部３３５には処理が開始される前
に、あらかじめ値”０”が書き込まれる。

【００２５】［５．理論最適値探索範囲検出部］図８は
理論最適値探索範囲検出部３４の内部構成を示す概略ブ
ロック図である。１次変化点数ヒストグラムアドレス発
生部３４１が発生するアドレス信号に対応して１次変化
点数ヒストグラム作成部３１のメモリ３１３から、閾値
が小さい値から大きい値へと増加する順序に沿って、こ
れに対応する１次変化点数が順次読み出される。この１
次変化点数は、変化点数比較部３４２において、１次変
化点数下限値保持部３３７（図７）から供給される１次
変化点数下限値と、その大きさが比較される。比較結果
保持部３４３では、この比較結果を表現する信号を保持
する。交点判定部３４４では、変化点数比較部３４２か
ら送られる比較結果と比較結果保持部３４３が保持する
１つ以前の比較結果とから、１次変化点数ヒストグラム
における１次変化点数と、１次変化点数下限値との交点
の有無を検出する。すなわち、２つの比較結果が異なっ
ておれば交点有りと判断される。

【００２６】一連の処理における交点の総数は必ず４で
あるから、交点計数部３４５では交点の数を計数し、２
つ目の交点が現れたときに探索範囲下限保持部３４６へ
制御信号を送信し、３つ目の交点が現れたときには探索
範囲上限保持部３４７へ制御信号を送信する。探索範囲
下限保持部３４６、及び探索範囲上限保持部３４７で
は、それぞれ制御信号が送信されたときの１次変化点数
ヒストグラムアドレス発生部３４１から出力されるヒス
トグラムアドレス信号を取り込み保持する。すなわち、
探索範囲下限保持部３４６、及び探索範囲上限保持部３
４７は、１次変化点数ヒストグラムにおける、第２及び
第３の交点に対応する閾値である探索範囲下限値及び上
限値をそれぞれ保持する。これらの探索範囲上限値およ
び下限値に挟まれた区間が探索範囲に相当する。なお、
探索範囲下限値は、１つ以前の閾値を保持するのが理想
であるが、実際上問題はない。

【００２７】［６．理論最適値探索部］図９は理論最適
値探索部３５の内部構成を示す概略ブロック図である。
１次変化点数ヒストグラムアドレス発生部３５１が発生
するアドレス信号に対応してメモリ３１３から、閾値が
小さい値から大きい値へと増加する順序に沿って、これ
に対応する１次変化点数が順次読み出される。この１次
変化点数は、最小値比較部３５２において、最小値保持
部３５３に保持される最小値と比較される。読み出した
１次変化点数の方が大きければ、最小値はこの値で更新
される。このとき同時に、理論最適値保持部３５４に保
持される値も、このときに１次変化点数ヒストグラムア
ドレス発生部３５１が出力するアドレス信号、すなわち
閾値に更新される。この一連の処理が終了した時点で
は、最小値保持部３５３には探索範囲における１次変化
点数の最小値が保持され、理論最適値保持部３５４には
これに対応する理論最適値が保持される。得られた理論
最適値が２値化閾値ＴＨとして出力される。なお、最小
値保持部３５３には、処理を開始する前にあらかじめ、
取り扱い得る範囲で最大の値が書き込まれる。

【００２８】以上のように、この実施例の装置では被処
理画像を全ての閾値について２値化処理を実際に行う必
要がないので、処理が高速で行われる。しかも、メモリ
には１次変化点数ヒストグラム及び２次変化点数ヒスト
グラムを記憶する容量があれば足り、多値画像メモリを
必要としないので、小規模なハードウェアで構成し得
る。また、この実施例の装置では、１次変化点数ヒスト
グラムにおける２つのピークに挟まれる範囲において最
も小さい１次変化点数を与える閾値である理論最適値を
探索して２値化閾値ＴＨとするので、実際上最適な２値
化閾値ＴＨを得ることができる。

【００２９】［７．変形例］（１）読取装置２０における誤差に相応した許容範囲、
例えば最小値保持部３５３で最終的に保持される最小値
以上で＋０．５％以内の１次変化点数の範囲で、最も低
い閾値を選んで２値化閾値ＴＨとして出力してもよい。
このような閾値は、経験的に好ましい２値化閾値ＴＨを
与えることが判っている。許容範囲の広さは読取装置２
０の誤差に依存するが、読取装置２０が決まれば既知の
解析手法により誤差の概略値を計算することができるの
で許容範囲は一意に決定し得る。

【００３０】なお、この発明において、「最小値に対応
する閾値」とは、上記実施例における理論最適値及びこ
の実施例における２値化閾値の双方を包含する概念であ
る。（２）理論最適値探索範囲検出部３４で得られる探索範
囲下限値及び上限値の平均値の周辺近傍で１次変化点数
を最小にする閾値を探索して、これを２値化閾値ＴＨと
して出力してもよい。（３）理論最適値探索範囲検出部３４で得られる、例え
ば探索範囲下限値を無条件に２値化閾値ＴＨとして出力
してもよい。

【００３１】

【発明の効果】この発明における２値化閾値設定装置で
は、１次変化点数ヒストグラムが有する２つのピークに
挟まれる範囲内で２値化閾値を探索するので、適切な２
値化閾値を得ることができる効果がある。しかも、この
発明の装置は１次及び２次変化点ヒストグラムに基づい
て最適な２値化閾値を決定するものであって、被処理画
像を全ての閾値について２値化処理する必要がないの
で、処理時間を短くすることができ、しかも、多値画像
メモリを必要としないので、小規模なハードウェアで構
成し得る効果を有する（請求項１及び請求項２）。

【００３２】この発明における２値化閾値設定装置は、
１次変化点数ヒストグラムにおける２つのピークに挟ま
れる範囲において最も小さい１次変化点数に対応する閾
値を探索するので、実際上最適な２値化閾値を得ること
ができる効果がある（請求項２）

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の実施例における２値化閾値設定装置
の全体構成を示す概略ブロック図である。

【図２】１次変化点数ヒストグラムの例を示すグラフで
ある。

【図３】２次変化点数ヒストグラムの例を示すグラフで
ある。

【図４】図２における符号Ａの部分を拡大したグラフで
ある。

【図５】この発明の装置を組み込んだプリント基板の検
査装置の全体構成を示す概略ブロック図である。

【図６】この発明の実施例における１次変化点数ヒスト
グラム作成部の内部構成を示す概略ブロック図である。

【図７】この発明の実施例における１次変化点数下限値
検出部の内部構成を示す概略ブロック図である。

【図８】この発明の実施例における理論最適値探索範囲
検出部の内部構成を示す概略ブロック図である。

【図９】この発明の実施例における理論最適値探索部の
内部構成を示す概略ブロック図である。

【符号の説明】

ＴＨ２値化閾値ＧＳ原画像信号３１１次変化点数ヒストグラム作成部（１次変化点数
ヒストグラム作成手段）３２２次変化点数ヒストグラム作成部（２次変化点数
ヒストグラム作成手段）３３１次変化点数下限値検出部（１次変化点数下限値
検出手段）３４理論最適値探索範囲検出部（探索範囲検出手段）３５理論最適値探索部（最適値探索手段）

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者熱田均京都市上京区堀川通寺之内上る４丁目天神北町１番地の１大日本スクリーン製造株式会社内 (72)発明者佐々泰志京都市上京区堀川通寺之内上る４丁目天神北町１番地の１大日本スクリーン製造株式会社内 (56)参考文献特開平４−92982（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁶，ＤＢ名) H04N 1/40 G06T 1/00

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】被処理画像を２値化する際の２値化閾値
を設定する装置であって、（ａ）それぞれが階調値を有する複数の画素の配列によ
って前記被処理画像を表現する画像信号に基づき、当該
画像信号が有する前記階調値が当該画素の配列方向に沿
って、所定の閾値を超えて増加または減少する回数で定
義される１次変化点数の、当該閾値に対する分布を表現
する１次変化点数ヒストグラムを得る１次変化点数ヒス
トグラム作成手段と、（ｂ）前記１次変化点数ヒストグラム作成手段で得られ
る前記分布に基づき、前記閾値が順次変化するに伴っ
て、当該閾値に対応する前記１次変化点数が、所定の基
準１次変化点数を超えて増加または減少する回数で定義
される２次変化点数の、当該基準１次変化点数に対する
分布を表現する２次変化点数ヒストグラムを得る２次変
化点数ヒストグラム作成手段と、（ｃ）前記２次変化点数ヒストグラムに基づき、前記２
次変化点数が最も長く連続して４である前記基準１次変
化点数の区間で定義される安定区間を判定し、前記安定
区間内に存在する一の前記１次変化点数を与える４つの
前記閾値を求めて、これらの４つの閾値の中で小さい順
に第２、及び第３番目に位置する閾値の間で、前記２値
化閾値を探索する手段と、を備える２値化閾値設定装置。
【請求項２】請求項１に記載の２値化閾値設定装置で
あって、前記手段（ｃ）が、（ｃ−１）前記安定区間を判定し、当該安定区間内にお
ける前記基準１次変化点数の下限値を決定する１次変化
点数下限値検出手段と、（ｃ−２）前記一の前記１次変化点数として前記下限値
を採用して探索範囲を決定する探索範囲検出手段と、（ｃ−３）前記１次変化点数ヒストグラムに基づいて、
前記探索範囲における前記１次変化点数の最小値を算出
し、当該最小値に対応する前記閾値を２値化閾値として
決定する最適値探索手段と、を備える２値化閾値設定装置。