JP3415700B2 - 閉領域抽出装置 - Google Patents

閉領域抽出装置

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JP3415700B2
JP3415700B2 JP10044295A JP10044295A JP3415700B2 JP 3415700 B2 JP3415700 B2 JP 3415700B2 JP 10044295 A JP10044295 A JP 10044295A JP 10044295 A JP10044295 A JP 10044295A JP 3415700 B2 JP3415700 B2 JP 3415700B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、入力した画像データ
からエッジ部分に囲まれた閉領域を抽出する装置に関す
るものである。特に、所定のある範囲の大きさの閉じた
目標形状を抽出するための装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】まず、従来の形状抽出技術について説明
する。画像データから目標を抽出するに際して、一般に
画像データ中で目標は明るい映像となっている、という
前提が成り立っている。エッジとは画像中で明るさの急
激な変化が或る部分をいう。また、エッジ方向とは画像
中の暗い部分から明るい部分に向かう方向を言う。この
エッジとエッジの持つ方向を抽出する処理を行うフィル
タをエッジ抽出フィルタと呼ぶ。
【0003】図38は、エッジを説明する図である。図
において、90は目標の輪郭であると想定されるエッジ
である。図39は、エッジ方向を説明する図である。図
39(a)は、図38に示す91の部分を拡大したもの
である。また、図39(b)は、図38における92の
部分を拡大したものである。図において、斜線を施した
部分が画像中の暗い部分であり、無地の部分が画像中の
明るい部分である。両者の境界線がエッジであり、図3
9において矢印で示す方向がエッジ方向である。図40
は、従来のエッジ抽出処理を説明する図である。図にお
いて、矩形の一枡が1画素に相当する。注目画素eにエ
ッジが有るかどうかを検出するために、画素aから画素
iまでの9画素の領域を用いる。各画素は、例えば、0
〜255のいずれかの画素値を持っているものとする。
図41は、従来のX方向エッジ抽出フィルタを示す図で
ある。また、図42は、従来のY方向エッジ抽出フィル
タを示す図である。図41及び図42に示すフィルタ
を、図40に示す注目画素の領域の画素値とかけ算する
ことにより、エッジがあるかどうかを検出する。ソーベ
ルオペレータの計算式を図43に示す。図43に示す計
算式によって、X及びYの値が求められた後、Xの絶対
値とYの絶対値の和が閾値Tよりも大きかった場合に画
素eは、エッジを持つと判断される。図44にエッジ方
向を判断する基準を示す。図44に示すような、X及び
Yのそれぞれの値の大きさに応じてエッジ方向が8つの
方向に分類され、決定される。図45は、エッジ方向を
量子化する値を示す図である。
【0004】従来の形状抽出方法においては、特に目標
が円及び楕円である場合を想定している。円及び楕円に
おいては、エッジ方向は全て中心に向かっている。即
ち、エッジ抽出フィルタを用いて検出されたエッジ方向
を利用して、8方向が交差する部分を抽出する方法をと
っている。図46の点線で示すように、エッジ方向は円
の中心で交差する。図47は、量子化された方向1につ
いて、長さL画素分の線要素「スポーク」を伸ばした図
である。この従来例においては、スポークの長さを7画
素分とする。即ち、エッジが検出された画素P11から
量子化された方向1に向かって、7画素分矢印aで示す
方向にスポークを伸ばしてゆく。この時、スポーク内の
各画素P11からP17は、それぞれ量子化された方向
である1という値を持っている。図48は、量子化され
た方向が5である場合のスポークを示している。エッジ
方向5を持つ画素P23から矢印Pで示す方向、即ち、
方向5に向かってP17までスポークを伸ばしていく。
その結果、図49に示すように、画素P17は、1とい
う値と5という値の両方を持つので、6という値にな
る。同様に、他の方向から伸ばされたスポークも中心で
ある画素P17においては、全て重なる。図50に示す
ように、画素P17は、1+2+3+4+5+6+7+
8即ち、36という値を持つ。
【0005】なお、ここまでの説明においては、量子化
された方向を分かりやすく示すために、1から8の数値
を用いて表現してきたが、実際には各エッジ方向に対応
するビットを持つレジスタでエッジ方向を表現する。図
51に量子化されたエッジ方向と、8ビットレジスタと
の対応を示す。図に示すように、レジスタは右から左に
向かって0ビット目から7ビット目までが並んでいる。
エッジ方向が1の時には、0ビット目が1となり、エッ
ジ方向が2の時には、1ビット目が1となる。以下、同
様にエッジ方向が8の時には、7ビット目が1となる。
図51に示すように、8ビットを用いて量子化されたエ
ッジ方向を表現しスポークを伸ばした場合、図50に示
した画素P17の持つレジスタは、8方向全てを持つこ
とになるので、図52に示すように、全てのビットがオ
ンになった状態、即ち、1がたった状態となる。これに
より、この形状が円であることが判断される。また、図
52には、目標物が円である場合の中心に当たる画素の
レジスタのみを示したが、同様の8ビット表現のレジス
タは、全ての画素に対応して備えられている。即ち、画
素の画像データ中の画素の数と、エッジ方向を示す画素
毎のレジスタの数は同一である。
【0006】次に、検出されたエッジの持つ方向が長方
形である場合について、図53及び図54を用いて説明
する。図53(a)は、検出された長方形のエッジから
伸ばされるスポークの例を示している。又図53(b)
は、検出されたエッジの方向を示している。このような
場合には、レジスタの値はエッジ方向1,3,5,7の
みを示しており、図54に示すようなレジスタの内容と
なる。また、長方形が傾きを持つような場合には、レジ
スタが図55に示すような値を持つ場合もある。
【0007】図56,図57は、検出されたエッジが平
行線を成す場合を示している。図56に示すように、エ
ッジ方向1及びエッジ方向5を持つようなエッジが検出
されると、レジスタは図57に示すような値を持つ。前
述した長方形の場合と同様に、平行線が傾きを持つ場
合、その傾きに応じてレジスタは、図58に示すような
値を取る場合もある。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】従来の目標抽出装置
は、以上のように構成されていたので、以下に述べるよ
うな問題点があった。マトリクス状のエッジ抽出フィル
タを用いていることにより、1画素のエッジ検出及びエ
ッジ方向の検出に3×3画素、即ち9画素の演算が必要
であり、計算時間がかかるという問題点があった。ま
た、記憶容量も大きな容量を必要としていた。また、
円、楕円形状等の特殊な形状の抽出しかできず、細長い
形状や複雑な形状は抽出できないという問題点があっ
た。抽出できない形状の例を図59及び図60に示す。
図59は、細長い領域が抽出されない例である。また、
図60は、複雑な領域が抽出されない例である。また、
円、楕円形状の一部分のみが抽出されることがあるとい
う問題点があった。この場合の例を図61,図62に示
す。図61は、1つの領域の一部分しか抽出されない例
であり、実際の形状が図61(a)であるのに対して、
抽出された形状は、図61(b)となってしまう。ま
た、図62は、1つの連続した領域が複数の領域に分断
されて抽出される例である。実際の領域は、図62
(a)に示す形状であるのに対して抽出された形状は図
62(b)となってしまう。これらの問題点は、この従
来の方式がエッジ方向は、すべて中心に向かっていると
いう考え方に基づいていることによる。
【0009】この発明は上記のような問題点を解消する
ためになされたもので、以下の各点を目的としている。
画像データのノイズを誤って目標として抽出することの
ない閉領域抽出装置を得る。目標対象物でないものを抽
出したり、目標対象物の抽出を逃すことのない閉領域抽
出装置を得る。目標対象物よりも大きなものの一部を目
標対象物と誤って抽出することのない閉領域抽出装置を
得る。
【0010】
【課題を解決するための手段】この発明の閉領域抽出装
置は、以下の要素を有する。 (a)複数の画素から構成された画像を画素データに基
づいて記憶する記憶部、(b)上記記憶部に記憶された
画素データに対して所定の演算を行い、各画素が上記画
像内の輪郭となるエッジであるか否かを検出するととも
に、エッジである場合に第1〜第4のエッジ方向の内、
いずれのエッジ方向を持つエッジであるかを検出するエ
ッジ検出部、(c)上記エッジ検出部によりエッジとし
て検出された各画素からエッジ方向に存在する画素であ
って、第1〜第4のエッジ方向が交差する画素を、閉領
域内の画素として抽出する抽出部。
【0011】
【0012】
【0013】上記閉領域抽出装置は、更に、エッジ検出
部が検出したエッジとエッジ方向に基づいて、エッジ検
出部がエッジとして検出した画素が、閉領域の輪郭であ
ることを確認する輪郭確認部を備えていることを特徴と
する。
【0014】上記輪郭確認部は、エッジ検出部が検出し
たエッジとエッジ方向に基づいて、隣接する画素がエッ
ジであることを追跡確認することを特徴とする。
【0015】上記輪郭確認部は、エッジ検出部が検出し
たエッジが持つエッジ方向に対向するエッジ方向を持つ
エッジの存在をチェックすることを特徴とする。
【0016】
【作用】この発明の閉領域抽出装置においては、エッジ
検出部が画素データに対して所定の演算を行い、各画素
がエッジであるかどうかを検出する。また、エッジであ
ると検出された場合には、第1〜第4のエッジ方向の
内、いずれのエッジ方向を持つ画素であるかを検出す
る。抽出部は、エッジ検出部により、エッジとして検出
された画素からエッジ方向にある画素であって、かつ、
第1〜第4のエッジ方向が交差する画素を閉領域内の画
素として抽出する。この発明においては、画素をエッジ
として検出しているエッジ検出部における演算が少なく
てすむ。また、第1〜第4のエッジ方向が交差すること
を検出すればよいため、抽出部における処理が容易にな
る。
【0017】
【0018】
【0019】更に、この発明の閉領域抽出装置は、輪郭
確認部を備えている。輪郭確認部は、エッジ検出部が検
出したエッジが閉領域の輪郭であるかどうかを確認す
る。この輪郭確認部により、領域が閉領域であるか、開
領域であるかを認識することができる。
【0020】上記輪郭確認部は、エッジ検出部が検出し
たエッジとエッジ方向を辿ることにより、隣接する画素
がエッジであることを追跡確認する。追跡の結果、輪郭
の確認を開始した画素に戻ってきた場合には、閉領域で
あることが確認できる。
【0021】上記輪郭部は、エッジ検出部が検出したエ
ッジが持つエッジ方向に対向するエッジ方向を待つエッ
ジの存在を確認することにより、閉領域であることを確
認する。例えば、ある画素が+X方向のエッジである場
合には、その画素に対応して−X方向のエッジを持つ画
素が存在していることを確認する。また、ある画素が+
Y方向のエッジである場合には、その画素に対応して−
Y方向のエッジを待つ画素が存在することを確認する。
全てのエッジに対して、対向する方向を持つエッジが存
在していれば、閉領域であることが確認できる。
【0022】
【実施例】
実施例1.図1は、この発明の実施例の目標探知アルゴ
リズムを示す流れ図である。この実施例においても、入
力画像中で周辺の画素と比較して明るい部分が目標物で
あるという考え方を前提にしている。即ち、入力画像が
周りの画素に比べて、明るい部分(目標と思われる部
分)を抽出し、抽出された形状により目標を2値化して
画像として出力するまでの処理を行う。
【0023】図1を用いて説明する。先ず、S10にお
いて、目標を抽出する対象の画像を入力する。次に、S
11において、エッジ抽出フィルタを用いてエッジの抽
出を行う。また、同時にエッジ方向の検出も行う。次
に、S12において、フィルタにより目標候補を検出す
る。続いて、S13において、検出された目標候補に対
してラベリング、即ち、ラベル付け操作を行う。次に、
S14において、ラベル付けされた目標候補からモーメ
ント特徴量により目標を検出する。最後に、S15にお
いて、画像を出力する。2値化された画像を出力する。
【0024】図2は、前述した流れ図のS12におい
て、目標候補として検出された明るい部分の分布配置を
示す図である。S13において、ラベリングが行われた
後の状態を図3に示す。ラベリングとは、検出された目
標候補を識別するために行う名前付けのことである。各
目標候補に対して、ユニークな一意の識別子が付けられ
る。図3においては、数字とアルファベットの組み合わ
せでラベリングを行っているが、目標候補同士がユニー
クになる方式であれば、他の文字の組み合わせ等でも構
わない。また、S14の目標検出では、検出された目標
候補の面積やモーメント特徴量(目標の長さの縦,横
比)等を用いて目標の検出が行われる。
【0025】図4に、この実施例の閉領域抽出装置の構
成を示すブロック図を示す。図において、1は閉領域抽
出装置であり、記憶部10、エッジ検出部20、抽出部
30、輪郭確認部40からなる。エッジ検出部20は、
X方向エッジ抽出フィルタ22及びY方向エッジ抽出フ
ィルタを備えている。X方向エッジ抽出フィルタは、X
方向の+X方向と−X方向のエッジを検出する。Y方向
エッジ抽出フィルタは、+Y方向と−Y方向のエッジを
検出する。また、抽出部30は、レジスタ部32、レジ
スタ設定部34、選択部36を備えている。
【0026】先ず、エッジ検出部20について説明す
る。図5は、この実施例の閉じた領域からなる目標の一
例を示す図である。図5において、点線で示す矩形が一
画素に対応している。また、図6は、図5に示した目標
のエッジ方向を矢印で書き表した図である。図7は、こ
の発明の実施例において用いられるX方向エッジ抽出フ
ィルタの一例を示す図である。図に示すように、+方
向、−方向それぞれに長さrを持つ線状のフィルタであ
る。図8に、この発明の実施例のY方向エッジ抽出フィ
ルタを示す。図7に示すX方向エッジ抽出フィルタと同
様に、+Y方向、−Y方向それぞれに長さrを持つ線状
のフィルタである。図7及び図8に示すように、この実
施例で用いるエッジ抽出フィルタは、幅1画素に対して
長さが2r+1となっている。画素a,b,c,d,e
がX方向に並んでおり、注目画素を画素cとすると、 X=−a−b+d+e という計算をする。また、画素a,b,c,d,eがY
方向に並んでおり、注目画素を画素cとすると、 Y=−a−b+d+e という計算をする。そして、抽出する目標によって予め
与えられた所定の閾値Tと、X及びYの値をそれぞれ比
較することによって、X>Tであれば、注目画素cが+
X方向、即ち右向きのエッジ方向を持つエッジであると
検出する。また、X<−Tの場合には、−X方向、即ち
左向きのエッジ方向を持つエッジであると検出する。同
様に、Y>Tの時には、注目画素cが+Y方向、即ち上
向きのエッジ方向を持つエッジであると検出され、Y<
−Tの時には、注目画素cが−Y方向の、即ち下向きの
エッジ方向を持つエッジであると検出される。なお、こ
のエッジ抽出フィルタの値は可変である。このように、
幅が1画素である線状のエッジ抽出フィルタを用いるこ
とにより、従来用いていたマトリクス状(面状)のエッ
ジ抽出フィルタより、演算計算時間が早くなるという利
点が得られる。
【0027】図9は、抽出部30によるエッジ検出から
形状抽出までの処理の流れを示す流れ図である。エッジ
が検出されると、S20において、エッジ方向を縦,横
4方向に量子化する。図10は、この実施例の4方向に
量子化されたエッジ方向の値を示す図である。1は+X
方向、2は−Y方向、3は−X方向、4は+Y方向とそ
れぞれ定められている。図11は、この実施例において
画素毎に備えられる4ビットレジスタを示す図である。
この実施例では、エッジ方向の量子化は4方向で行われ
るので、レジスタも画素毎に4ビットからなる。0ビッ
ト目がエッジ方向1、1ビット目がエッジ方向2、2ビ
ット目がエッジ方向3、3ビット目がエッジ方向4にそ
れぞれ対応して設けられている。例えば、縦200画
素、横200画素の解像度を持つ画像が入力された場合
には、画素数は、200×200(40000)画素と
なり、4ビットレジスタの数も40000となる。レジ
スタ部32は、これらのレジスタを保持しているメモリ
である。
【0028】次に、図を用いてこの実施例の閉領域抽出
装置の動作について詳しく説明する。図12は、図6に
示したエッジ方向を矢印で表わした図の拡大図である。
また、図13は、図12と同じ大きさで、エッジ方向の
量子化された値を用いて表現した図である。また、図1
4は、エッジ方向を図11に示した画素毎のレジスタを
用いて表現した図である。なお、これ以降、図におい
て、エッジ方向を持たない画素のレジスタは、ブランク
で表示する。図面を見やすくするためにブランクで表し
ているが、実際にはレジスタの値はオール0となってい
る。図11から図14に示したように、図9を示す流れ
図において、S21では全ての画素に対し、量子化され
た4つのレジスタを持たせる。次に、S22において、
レジスタ設定部34が検出されたエッジから長さL画素
分に対してエッジ方向にあるレジスタの対応するビット
を1にする。図15は、4方向に囲まれた長さLの範囲
の領域Lの領域抽出を説明する図である。抽出したい目
標の長さがL画素未満である場合、レジスタ設定部34
により、エッジ部分から長さL画素分検出されたエッジ
方向の値を入れることによって、縦,横の4方向が交差
する部分を抽出すれば、目標が検出できる。図16から
図23を用いて詳しく説明する。図16は、+X方向の
エッジ方向を持つ画素から、L画素分(この実施例では
6画素)の長さの線状フィルタを伸ばした図である。そ
れぞれの画素の量子化された方向1に対応するビットで
ある0ビット目のレジスタに1がたっている。図17
は、量子化された方向に(−Y)のエッジ方向を持つ画
素から、−Y方向に線状フィルタを伸ばした図である。
−Y方向に対応するビット各画素のレジスタ2ビット目
に1がたっている。図18は、量子化された方向3(−
X)のエッジ方向を持つ画素から6画素分のフィルタを
−X方向に伸ばした図である。量子化された方向3に対
応する画素毎のレジスタの2ビット目に1がたってい
る。図19は、量子化された方向4(+Y)のエッジ方
向を持つ画素から6画素分の線状フィルタを伸ばした図
である。量子化された方向4に対応する各画素毎のレジ
スタの3ビット目に1がたっている。目標の形状抽出
は、図16から図19に示した各フィルタの各レジスタ
の各ビットをオア演算することで行われる。図20は、
図14に示した検出されたエッジ方向を示すレジスタ
に、図16に示した+X方向のフィルタの値をオア演算
したものである。図21は、図20で示した図に、図1
7で示した−Y方向のフィルタの値をオア演算した各画
素ごとのレジスタを示す図である。図22は、図21に
示したレジスタに、図18に示した−X方向のフィルタ
の値をオア演算したものである。また、図23は、図2
2に示したレジスタの値に、図19に示した+Y方向の
フィルタの値を、オア演算した各画素毎のレジスタを示
す図である。以上のような手順で、図9に示した流れ図
のS22における処理が完了する。
【0029】続いて、S23において、抽出部30の選
択部36が4つのビットが、全てが1になった画素を抽
出する。図24は、図23に示した画素毎のレジスタの
各ビットの値が、全て1になった画素のみを取り出して
2値化して表した図である。図において、レジスタの各
ビットが4つ全て1になった画素を1として、斜線部分
で表している。また、それ以外のレジスタの値を持つ画
素は0として、空白で表している。このように、斜線部
で示された画素の集合が抽出された形状となる。
【0030】以上のように、この発明の閉領域抽出装置
においては、エッジ検出部20と抽出部30を用いるこ
とにより、画像内の各画素がエッジであるか否かを検出
する。また、エッジである場合には、第1〜第4のエッ
ジ方向の内、いずれのエッジ方向を持つエッジであるか
を検出する。更に、レジスタ設定部34が画素毎に設け
られたレジスタ部32に値を設定することにより、選択
部36がレジスタがオンに設定された画素を閉領域内に
属する画素として選択する。
【0031】次に、輪郭確認部40の動作について説明
する。図25は、形状全体が抽出されている場合の検出
されたエッジを表した図である。図26は、形状の一部
分しか抽出されていない場合のエッジを表す図である。
図25及び図26に示すように、人間が目で見て確認で
きるように、エッジ方向を表示すれば、形状全体が抽出
されているか、あるいは一部分しか抽出されていないか
の判断は、即座に行うことができる。一方、エッジの存
在、あるいは存在するエッジのエッジ方向をデータとし
て記憶している装置の場合には、検出されたエッジが形
状全体を囲んでいるかどうかの判断には、一定のアルゴ
リズムが必要である。図27に、この実施例の輪郭確認
部40の動作を説明する図を示す。輪郭確認部が輪郭を
追跡していく場合、エッジ方向と追跡方向を同一にして
追跡を開始する。更には、追跡は時計廻りに行う。その
詳細については、図28から図34を用いて説明する。
図27(a)は、追跡を行う画素の持つエッジ方向が量
子化された方向1である場合の追跡を示す。即ち、エッ
ジ方向と同一の方向から時計廻りにエッジが存在するか
どうかの追跡を行い、時計廻りに一回りする間にエッジ
の存在が検出されたら、そのエッジを持つ画素から継続
して次の追跡を行う。図27(b)は、追跡を開始する
画素の持つエッジ方向が量子化された方向2の場合であ
る。図27(c)は、追跡を開始する画素の持つエッジ
方向が量子化された方向3である場合を示している。図
27(d)は、追跡を開始する画素の持つエッジ方向が
量子化された方向4を持つ場合を示している。このよう
に、エッジの存在を発見するとそのエッジから追跡を開
始し、追跡中に検出された次のエッジから、そのエッジ
の持つ方向に応じて定められた方向で追跡を継続し、最
終的に追跡を開始した一番目の画素(始点の画素a)ま
で戻ってきたら追跡を完了する。以上のように、連続し
て追跡を行い始点まで戻って来たことにより、抽出され
た形状が閉じた領域(閉領域)であることの確認ができ
る。また、図26に示すように、エッジの存在が連続し
ていない場合には、輪郭確認部は図26のエッジ10
1、あるいは、エッジ102において、エッジの追跡を
行っても追跡する該当画素内において、エッジの存在を
検出することができなくなるので、抽出された形状が閉
領域ではないと判断できる。
【0032】図28から図34を用いて詳しく説明す
る。輪郭確認部は、エッジ方向を持つ画像データを走査
し、最初に見つかったエッジから輪郭の追跡を開始す
る。図28は、最初の画素の追跡方向を示す図である。
図において、点線でかこまれているエッジが最初に見つ
かったエッジを持つ画素であるとする。エッジ方向が2
なので、図27(b)の方向で追跡を行うと、次のエッ
ジが(図中では左斜め下)検出される。図29に示すよ
うに、検出された画素の持つエッジ方向が1であるの
で、図27(a)に示す方向で追跡を行う。追跡中に次
のエッジを持つ画素が検出されると、その画素に着目し
て次の追跡を行う。図30に示すように、検出されたエ
ッジのエッジ方向は1であるので、図29に示した場合
と同様に、図27(a)の方向で追跡を行う。次に、検
出されたエッジは、図31に示すように、エッジ方向が
2であるので、図27(b)に示した方向で追跡を継続
する。同様に、図32においてもエッジ方向2に従って
追跡を行う。図33に示すように、検出されたエッジの
方向は1であるので図27(a)に示す方向で追跡を継
続する。以下、同様に追跡を連続して行い、最終的に図
34に示すように、開始した画素の隣の画素に至る。図
34では、検出されたエッジ方向が2であるので、図2
7(b)に示す方向で追跡を行い、図中で左隣に存在す
るエッジを検出する。輪郭確認部は、エッジの追跡中に
検出されたエッジをもつ画素が、1番最初に検出された
エッジを持つ画素であるかどうか常に監視している。図
34に示した追跡の時点で、検出されたエッジを持つ画
素が最初の画素と一致し、始点まで戻ってきたことが判
断され、追跡を終了する。この時点で、輪郭確認部は、
自分が追跡してきた抽出形状が閉領域であることを確認
する。以上のように、この実施例においては、エッジ検
出部が検出したエッジとエッジ方向に基づいて、隣接す
る画素がエッジであることを追跡確認する輪郭確認部に
ついて説明した。この例では、エッジ方向と同一方向に
追跡を開始する場合を示したが、エッジ方向を反対方向
に追跡を開始する場合でも構わない。エッジ方向と反対
方向に追跡する場合でも、右回りに追跡することで、エ
ッジを捜していくことができる。
【0033】次に、輪郭確認部の他の動作例について説
明する。図35は、前述した図25に示した図と同一の
形状全体が抽出されている場合のエッジを表わす図であ
る。図に示すように、閉じた形状全体が抽出されている
場合には、エッジが持つエッジ方向に対向するエッジ方
向を持つエッジが必ず存在する。例えば、図35に示す
ように、エッジ1aにはエッジ1bが対向している。同
様に、エッジ2aには2bが、エッジ3aには3bが対
向している。一方、図36に示すように、形状の一部分
しか抽出されていない場合には、図35に示したエッジ
1b,2bが存在していない。輪郭確認部は、このこと
を利用して、あるエッジが持つエッジ方向に対向するエ
ッジ方向を持つエッジが存在を確認できないことによ
り、形状が閉形状でないことを判断してもよい。
【0034】実施例2.前述した実施例においては、エ
ッジ抽出フィルタの長さrが2画素で構成されている例
を示したが、図37に示すように、長さrを3画素で構
成してもよい。あるいは、フィルタに設定する値を変え
ることによって、特性の違う抽出を行うエッジ抽出フィ
ルタを得ることができる。図37(a)に示すように、
前述した実施例で用いたエッジ抽出フィルタよりも画素
数を多く設定すると、画像データの輝度の変化が淡くて
も、輝度の差が出やすくなるというエッジ抽出フィルタ
を実現できる。また、図37(b)に示すように、値が
0である画素を多く、即ち幅広く設定すると、画像デー
タの輝度の差が淡くても、検出しやすい抽出フィルタを
得ることができ。即ち、輪郭がぼやけた画像データから
エッジの抽出が行える。図37においては、水平方向の
エッジを抽出するX方向エッジ抽出フィルタの例を示し
たが、同一の抽出フィルタをY方向エッジ抽出フィルタ
に用いても構わない。また、図示はしないが、幅を1画
素でなく2画素以上で構成して、エッジ抽出フィルタと
して用いても構わない。但し、その場合には、使用する
メモリが増え、計算時間も長くかかるという欠点があ
る。しかし、その場合でも、X方向又はY方向のみの計
算で済むので、従来の3×3のマトリクス状(面状)の
フィルタを用いた場合よりも、計算量が少なく、早く計
算が行えるという利点がある。
【0035】
【発明の効果】以上のように、この発明によれば、第1
〜第4のエッジ方向の検出を行うことにより、閉領域の
抽出を行うことができ、従来にまして高速な閉領域抽出
を行える。
【0036】
【0037】
【0038】また、この発明によれば、輪郭確認部を備
えているので、画像に含まれているノイズやクラッター
等の除去が行える。
【0039】上記輪郭確認部は、隣接する画素を順に追
跡確認することにより、閉領域であることを確実にチェ
ックすることができる。
【0040】また、上記輪郭部は、対向するエッジの存
在を確認することにより、前記画素を追跡する場合に比
べて、より高速に閉領域であることを確認することがで
きる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明の目標探知アルゴリズムの流れ図で
ある。
【図2】 この発明の実施例におけるラベリングを説明
する図である。
【図3】 この発明の実施例におけるラベリングを説明
する図である。
【図4】 この発明の閉領域抽出装置の構成を示すブロ
ック図である。
【図5】 この発明の実施例で抽出される閉領域を示す
図である。
【図6】 この発明の実施例で抽出される閉領域をエッ
ジ方向を持つエッジで表した図である。
【図7】 この発明の実施例のX方向エッジ抽出フィル
タを示す図である。
【図8】 この発明の実施例のY方向エッジ抽出フィル
タを示す図である。
【図9】 この発明の実施例のエッジ検出から形状抽出
の流れ図である。
【図10】 この発明の実施例のエッジ方向の値を示す
図である。
【図11】 この発明の実施例の画素毎のレジスタを示
す図である。
【図12】 この発明の実施例の図6の拡大図である。
【図13】 この発明の実施例のエッジ方向を量子化さ
れた方向を示す1〜4の数字で表した図である。
【図14】 この発明の実施例のエッジ方向を画素毎の
レジスタを用いて表した図である。
【図15】 この発明の実施例の4方向に囲まれた長さ
Lの範囲の領域抽出の概念図である。
【図16】 この発明の実施例の+X方向の線状フィル
タの図である。
【図17】 この発明の実施例の−Y方向の線状フィル
タの図である。
【図18】 この発明の実施例の−X方向の線状フィル
タの図である。
【図19】 この発明の実施例の+Y方向の線状フィル
タの図である。
【図20】 この発明の実施例の+X方向の線状フィル
タをOR演算したレジスタを示す図である。
【図21】 この発明の実施例の−Y方向の線状フィル
タをOR演算したレジスタを示す図である。
【図22】 この発明の実施例の−X方向の線状フィル
タをOR演算したレジスタを示す図である。
【図23】 この発明の実施例の+Y方向の線状フィル
タをOR演算したレジスタを示す図である。
【図24】 この発明の実施例の抽出された形状を示す
図である。
【図25】 この発明の実施例の形状全体が抽出されて
いる場合を示す図である。
【図26】 この発明の実施例の形状の一部分しか抽出
されていない場合を示す図である。
【図27】 この発明の実施例の輪郭追跡部の動作を説
明する図である。
【図28】 この発明の実施例の画素の追跡方向を示す
図である。
【図29】 この発明の実施例の画素の追跡方向を示す
図である。
【図30】 この発明の実施例の画素の追跡方向を示す
図である。
【図31】 この発明の実施例の画素の追跡方向を示す
図である。
【図32】 この発明の実施例の画素の追跡方向を示す
図である。
【図33】 この発明の実施例の画素の追跡方向を示す
図である。
【図34】 この発明の実施例の画素の追跡方向を示す
図である。
【図35】 この発明の実施例の形状全体が抽出されて
いる場合のエッジを表す図である。
【図36】 この発明の実施例の形状の一部分しか抽出
されていない場合のエッジを示す図である。
【図37】 この発明の実施例のエッジ抽出フィルタの
他の例を示す図である。
【図38】 従来のエッジを説明する図である。
【図39】 従来のエッジ方向を説明する図である。
【図40】 従来のエッジ抽出を説明する図である。
【図41】 従来のX方向エッジ抽出フィルタを示す図
である。
【図42】 従来のY方向エッジ抽出フィルタを示す図
である。
【図43】 従来のエッジ検出の計算式を示す図であ
る。
【図44】 従来のエッジ方向を判断する基準を示す図
である。
【図45】 従来のエッジ方向を量子化する値を示す図
である。
【図46】 従来のエッジ方向が円形状の中心で交差す
ることを示す図である。
【図47】 従来のスポークを伸ばした例を示す図であ
る。
【図48】 従来の量子化されたエッジ方向が5の時の
スポークを示す図である。
【図49】 従来のスポークが重なった画素を示す図で
ある。
【図50】 従来のスポークが重なった画素を示す図で
ある。
【図51】 従来の量子化されたエッジ方向と8ビット
の対応を示す図である。
【図52】 従来の画素毎のレジスタを示す図である。
【図53】 従来の形状が長方形の例を示す図である。
【図54】 従来の形状が長方形の例を示す図である。
【図55】 従来の形状が長方形の例を示す図である。
【図56】 従来の形状が平行線の例を示す図である。
【図57】 従来の形状が平行線の例を示す図である。
【図58】 従来の形状が平行線の例を示す図である。
【図59】 従来の抽出できない形状を示す図である。
【図60】 従来の抽出できない形状を示す図である。
【図61】 従来の抽出できない形状を示す図である。
【図62】 従来の抽出できない形状を示す図である。
【符号の説明】
1 閉領域抽出装置、10 記憶部、20 エッジ検出
部、22 X方向エッジ抽出フィルタ、24 Y方向エ
ッジ抽出フィルタ、30 抽出部、32 レジスタ部、
34 レジスタ設定部、36 選択部、40 輪郭確認
部。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平1−171072(JP,A) 平位隆史,笹川耕一,黒田伸一,池端 重樹,移動車両検出法の開発,ASPシ ンポジウム講演論文集,日本,システム 制御情報学会,1994年 7月29日,p p.29−32 (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G06T 7/60 250 JICSTファイル(JOIS)

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 a)複数の画素から構成された画像を
    画素データに基づいて記憶する記憶部と、 (b)上記記憶部に記憶された画素データに対して所定
    の演算を行い、各画素が上記画像内の輪郭となるエッジ
    であるか否かを検出するとともに、エッジである場合に
    複数のエッジ方向の内、いずれのエッジ方向を持つエッ
    ジであるかを検出するエッジ検出部と、 (c)上記エッジ検出部によりエッジとして検出された
    各画素からエッジ方向に存在する画素であって、複数の
    エッジ方向が交差する画素を、閉領域内の画素として抽
    出する抽出部と、 (d)上記エッジ検出部が検出したエッジとエッジ方向
    に基づいて、エッジ検出部がエッジとして検出した画素
    が、閉領域の輪郭であることを確認する輪郭確認部とを
    備えたことを特徴とする閉領域抽出装置。
  2. 【請求項2】 上記輪郭確認部は、エッジ検出部が検出
    したエッジとエッジ方向に基づいて、隣接する画素がエ
    ッジであることを追跡確認することを特徴とする請求項
    1記載の閉領域抽出装置。
  3. 【請求項3】 上記輪郭確認部は、エッジ検出部が検出
    したエッジが持つエッジ方向に対向するエッジ方向を持
    つエッジの存在をチェックすることを特徴とする請求項
    1記載の閉領域抽出装置。
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JP6363863B2 (ja) * 2014-04-15 2018-07-25 キヤノン株式会社 情報処理装置および情報処理方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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平位隆史,笹川耕一,黒田伸一,池端重樹,移動車両検出法の開発,ASPシンポジウム講演論文集,日本,システム制御情報学会,1994年 7月29日,pp.29−32

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