JP2583352B2 - Ｉｃ試験用コンタクト治具 - Google Patents
Ｉｃ試験用コンタクト治具Info
- Publication number
- JP2583352B2 JP2583352B2 JP2284920A JP28492090A JP2583352B2 JP 2583352 B2 JP2583352 B2 JP 2583352B2 JP 2284920 A JP2284920 A JP 2284920A JP 28492090 A JP28492090 A JP 28492090A JP 2583352 B2 JP2583352 B2 JP 2583352B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- contact
- probe
- tip
- jig
- tape
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- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はIC試験用コンタクト治具に関する。
従来のIC試験用コンタクト治具は、接触子の先端の探
針をICの外部リードに加圧接触させてコンタクトしてい
た。
針をICの外部リードに加圧接触させてコンタクトしてい
た。
上述した従来のIC試験用コンタクト治具は、接触子先
端の探針をICの外部リードへ加圧しながらコンタクトさ
せる動作を単純に繰り返している為、探針に半田層等の
異物が付着してコンタクト不良を発生し、電気的試験が
正常に行えなくなる等の問題点がある。
端の探針をICの外部リードへ加圧しながらコンタクトさ
せる動作を単純に繰り返している為、探針に半田層等の
異物が付着してコンタクト不良を発生し、電気的試験が
正常に行えなくなる等の問題点がある。
本発明のIC試験用コンタクト治具は、治具本体に設け
た支点で支持されて回転する接触子と、前記接触子の先
端に設けた探針と、前記接触子の終端に接して設けたIC
載置台と、前記探針の先端に近接して設け前記IC載置台
にICを搭載して押し下げることにより前記接触子が回転
して前記探針を貫通させてICのリードにコンタクトさせ
且つ探針の先端をクリーニングする絶縁性テープとを有
する。
た支点で支持されて回転する接触子と、前記接触子の先
端に設けた探針と、前記接触子の終端に接して設けたIC
載置台と、前記探針の先端に近接して設け前記IC載置台
にICを搭載して押し下げることにより前記接触子が回転
して前記探針を貫通させてICのリードにコンタクトさせ
且つ探針の先端をクリーニングする絶縁性テープとを有
する。
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第１図（ａ），（ｂ）は本発明の一実施例を説明する
ための動作順に示したIC試験用コンタクト治具の断面模
式図、第２図は第１図の部分斜視図である。
ための動作順に示したIC試験用コンタクト治具の断面模
式図、第２図は第１図の部分斜視図である。
第１図（ａ）及び第２図に示すように、治具本体３に
支点11で支持され回転する接触子４と、接触子４の先端
に設けた探針５と、接触子４と治具本体３との間に設け
て探針５を開放状態に支持するスプリング８と、接触子
４の終端に接して設けたIC載置台1aと、探針５の先端近
くに設けたクリーニング用の厚さ1mm程度のナイロン系
織布等で作られた絶縁性テープ６と、テープ６をベルト
状にかけたプーリー７とプーリー７を支持する回転軸９
とを有して構成され、IC載置台1a上にPLCC（Plastic Le
aded Chip Carrier）又はSOJ（Small Out−line J−lea
d）型のIC2を搭載し、IC2の上にIC抑え1bを載せて装着
する。
支点11で支持され回転する接触子４と、接触子４の先端
に設けた探針５と、接触子４と治具本体３との間に設け
て探針５を開放状態に支持するスプリング８と、接触子
４の終端に接して設けたIC載置台1aと、探針５の先端近
くに設けたクリーニング用の厚さ1mm程度のナイロン系
織布等で作られた絶縁性テープ６と、テープ６をベルト
状にかけたプーリー７とプーリー７を支持する回転軸９
とを有して構成され、IC載置台1a上にPLCC（Plastic Le
aded Chip Carrier）又はSOJ（Small Out−line J−lea
d）型のIC2を搭載し、IC2の上にIC抑え1bを載せて装着
する。
次に、第１図（ｂ）に示すように、IC押え1bを押し下
げると、接触子４が回転して探針５がテープ６を貫通し
てIC2の外部リード10にコンタクトする。ここで、探針
５の先端がテープ６を貫通するときに探針５の先端に付
着していた異物がテープ６により取除かれて清浄な状態
で外部リード10にコンタクトさせることができるため、
コンタクト不良を防止できる。
げると、接触子４が回転して探針５がテープ６を貫通し
てIC2の外部リード10にコンタクトする。ここで、探針
５の先端がテープ６を貫通するときに探針５の先端に付
着していた異物がテープ６により取除かれて清浄な状態
で外部リード10にコンタクトさせることができるため、
コンタクト不良を防止できる。
なお、テープ６はプーリー７の回転により探針５が貫
通する場所を変えることができテープ６に付着した異物
が再度探針５に付着しないようにできる。
通する場所を変えることができテープ６に付着した異物
が再度探針５に付着しないようにできる。
以上説明したように本発明は接触子の先端に設けた探
針の先端付近にクリーニング用のテープを設けてICの外
部リードに探針をコンタクトさせる度にテープに探針を
貫通させて探針の先端をクリーニングすることによりコ
ンタクト不良を防止できるという効果を有する。
針の先端付近にクリーニング用のテープを設けてICの外
部リードに探針をコンタクトさせる度にテープに探針を
貫通させて探針の先端をクリーニングすることによりコ
ンタクト不良を防止できるという効果を有する。
第１図（ａ），（ｂ）は本発明の一実施例を説明するた
めの動作順に示したIC試験用コンタクト治具の断面模式
図、第２図は第１図の部分斜視図である。 1a……IC載置部、1b……IC押え、２……IC、３……治具
本体、４……接触子、５……端子、６……テープ、７…
…プーリー、８……スプリング、９……回転軸、10……
外部リード、11……支点。
めの動作順に示したIC試験用コンタクト治具の断面模式
図、第２図は第１図の部分斜視図である。 1a……IC載置部、1b……IC押え、２……IC、３……治具
本体、４……接触子、５……端子、６……テープ、７…
…プーリー、８……スプリング、９……回転軸、10……
外部リード、11……支点。
Claims (1)
- 【請求項１】治具本体に設けた支点で支持されて回転す
る接触子と、前記接触子の先端に設けた探針と、前記接
触子の終端に接して設けたIC載置台と、前記探針の先端
に近接して設け前記IC載置台にICを搭載して押し下げる
ことにより前記接触子が回転して前記探針を貫通させて
ICのリードにコンタクトさせ且つ探針の先端をクリーニ
ングする絶縁性テープとを有することを特徴とするIC試
験用コンタクト治具。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2284920A JP2583352B2 (ja) | 1990-10-23 | 1990-10-23 | Ｉｃ試験用コンタクト治具 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2284920A JP2583352B2 (ja) | 1990-10-23 | 1990-10-23 | Ｉｃ試験用コンタクト治具 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04160376A JPH04160376A (ja) | 1992-06-03 |
| JP2583352B2 true JP2583352B2 (ja) | 1997-02-19 |
Family
ID=17684771
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2284920A Expired - Fee Related JP2583352B2 (ja) | 1990-10-23 | 1990-10-23 | Ｉｃ試験用コンタクト治具 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2583352B2 (ja) |
-
1990
- 1990-10-23 JP JP2284920A patent/JP2583352B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04160376A (ja) | 1992-06-03 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |