JP2566952Y2 - 鋼帯の表面温度分布測定装置 - Google Patents
鋼帯の表面温度分布測定装置Info
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- JP2566952Y2 JP2566952Y2 JP1991079249U JP7924991U JP2566952Y2 JP 2566952 Y2 JP2566952 Y2 JP 2566952Y2 JP 1991079249 U JP1991079249 U JP 1991079249U JP 7924991 U JP7924991 U JP 7924991U JP 2566952 Y2 JP2566952 Y2 JP 2566952Y2
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- measured
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本考案は、焼鈍中の鋼帯などのよ
うな物体の測定波長放射率を補正して、真の温度分布に
可及的に近い温度分布を求めることができるようにした
鋼帯の表面温度分布測定装置に関する。
うな物体の測定波長放射率を補正して、真の温度分布に
可及的に近い温度分布を求めることができるようにした
鋼帯の表面温度分布測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】物体であるたとえば鋼帯の表面温度分布
を測定するための装置は、各測定点を走査するために回
転ミラーや振動ミラーが使われており、また温度検出器
としてＰｂＳまたはＳｉを使用するなど、測定温度範囲
によって各種のものが用いられている。しかしながら、
その原理は、ある波長区間の熱エネルギから温度を求め
るものがほとんどである。
を測定するための装置は、各測定点を走査するために回
転ミラーや振動ミラーが使われており、また温度検出器
としてＰｂＳまたはＳｉを使用するなど、測定温度範囲
によって各種のものが用いられている。しかしながら、
その原理は、ある波長区間の熱エネルギから温度を求め
るものがほとんどである。
【０００３】すなわち、温度Ｔ°Ｋの黒体から放射され
る熱エネルギの波長分布は、プランクの放射則によって
数１によって求められる。
る熱エネルギの波長分布は、プランクの放射則によって
数１によって求められる。
【０００４】
【数１】
【０００５】また物体の放射率ελは、数２に示される
ように、ある波長λにおいて、同温度の黒体放射の比と
して定義される。
ように、ある波長λにおいて、同温度の黒体放射の比と
して定義される。
【０００６】
【数２】
【０００７】さらに放射温度計では、それぞれの波長に
対する放射率ではなく、その放射温度計に予め設定され
ている波長区間の放射率εΔλによって温度が求められ
る。
対する放射率ではなく、その放射温度計に予め設定され
ている波長区間の放射率εΔλによって温度が求められ
る。
【０００８】この特定の波長区間にわたる放射率εΔλ
は、数３によって求められる。
は、数３によって求められる。
【０００９】
【数３】
【００１０】すなわち放射温度計とは、
【００１１】
【数４】
【００１２】の関係から、温度Ｔを求めるものであり、
条件として放射率εΔλが既知であることが必要とな
る。
条件として放射率εΔλが既知であることが必要とな
る。
【００１３】
【考案が解決しようとする課題】しかしながら、測定物
体の放射率εΔλは、その特定が困難であり、放射率デ
ータについて多くの資料があるのもかかわらず、実際の
計測においてはそれらの値は参考値の域を出ず、多くの
場合、確実な値を見い出すことができないのが実状であ
る。
体の放射率εΔλは、その特定が困難であり、放射率デ
ータについて多くの資料があるのもかかわらず、実際の
計測においてはそれらの値は参考値の域を出ず、多くの
場合、確実な値を見い出すことができないのが実状であ
る。
【００１４】したがって本考案の目的は、前記放射率ε
Δλが不明であっても、自動的に補正して温度分布を求
めることができるようにした表面温度分布測定装置を提
供することである。
Δλが不明であっても、自動的に補正して温度分布を求
めることができるようにした表面温度分布測定装置を提
供することである。
【００１５】
【課題を解決するための手段】本考案は、物体表面の熱
放射エネルギ分布を、被写界深度の範囲内で測定し、こ
の測定値と物体の測定波長放射率とから、プランクの放
射則によって物体の表面温度を計算して、温度を求める
第１の温度測定手段と、第１の温度測定手段によって測
定される物体表面の測定領域内の任意の点の温度を、波
長区間Δλ１とΔλ２とを極力近い波長に選択して極小
波長区間において各波長区間Δλ１，Δλ２の各放射率
εΔλ１，εΔλ２の比がεΔλ１／εΔλ２＝一定と
なる関係が成立するようにした２色温度計によって測定
する第２の温度測定手段とを含み、第２の温度測定手段
によって測定された温度を真の温度として、第１の温度
測定手段の測定波長放射率を補正することを特徴とする
鋼帯の表面温度分布測定装置である。
放射エネルギ分布を、被写界深度の範囲内で測定し、こ
の測定値と物体の測定波長放射率とから、プランクの放
射則によって物体の表面温度を計算して、温度を求める
第１の温度測定手段と、第１の温度測定手段によって測
定される物体表面の測定領域内の任意の点の温度を、波
長区間Δλ１とΔλ２とを極力近い波長に選択して極小
波長区間において各波長区間Δλ１，Δλ２の各放射率
εΔλ１，εΔλ２の比がεΔλ１／εΔλ２＝一定と
なる関係が成立するようにした２色温度計によって測定
する第２の温度測定手段とを含み、第２の温度測定手段
によって測定された温度を真の温度として、第１の温度
測定手段の測定波長放射率を補正することを特徴とする
鋼帯の表面温度分布測定装置である。
【００１６】また本考案は、前記補正された測定波長放
射率が、物体表面の前記第１の温度測定手段によって測
定される全ての測定領域で同一値であるとして、各測定
領域の熱放射エネルギから、プランクの放射則によって
物体の表面温度を計算して、温度分布を求めることを特
徴とする。
射率が、物体表面の前記第１の温度測定手段によって測
定される全ての測定領域で同一値であるとして、各測定
領域の熱放射エネルギから、プランクの放射則によって
物体の表面温度を計算して、温度分布を求めることを特
徴とする。
【００１７】
【００１８】
【作用】本考案に従えば、鋼帯などの物体などの放射率
を、第１の温度測定手段によって測定された表面温度分
布の任意の一点と同一場所を、放射率比が一定であるこ
とが確認されている２色温度計である第２の温度測定手
段によって測定し、その測定値を物体の真温度とみなし
て、その点の放射率を計算して求め、前記第１の温度測
定手段の測定面における放射率を全ての前記放射率とし
て、表面温度分布を求める。
を、第１の温度測定手段によって測定された表面温度分
布の任意の一点と同一場所を、放射率比が一定であるこ
とが確認されている２色温度計である第２の温度測定手
段によって測定し、その測定値を物体の真温度とみなし
て、その点の放射率を計算して求め、前記第１の温度測
定手段の測定面における放射率を全ての前記放射率とし
て、表面温度分布を求める。
【００１９】また本考案に従えば、前述のようにして求
められて補正された測定波長放射率が第１の温度測定手
段によって測定される全ての物体表面の測定領域で同一
値であるとして、各測定領域の熱放射エネルギ分布か
ら、プランクの放射則によって物体の表面温度を計算し
て、温度分布が求められる。
められて補正された測定波長放射率が第１の温度測定手
段によって測定される全ての物体表面の測定領域で同一
値であるとして、各測定領域の熱放射エネルギ分布か
ら、プランクの放射則によって物体の表面温度を計算し
て、温度分布が求められる。
【００２０】
【００２１】
【実施例】図１は、本考案の一実施例の全体の構成を示
す系統図である。たとえば焼鈍ラインにおいて物体であ
る鋼帯１は、矢符Ａ方向に走行されて焼鈍され、この鋼
帯１の表面温度を測定するために、本考案に従う表面温
度分布測定装置が用いられる。この表面温度分布測定装
置は、基本的に、鋼帯の表面の熱放射エネルギ分布を被
写界深度の範囲内で測定し、この測定値と物体の測定波
長放射率ελとから、プランクの放射則によって鋼帯の
表面温度を計算して、温度分布を求める第１の温度測定
手段である走査形放射温度計２と、走査形放射温度計２
によって測定される鋼帯の表面の測定領域内の任意の点
の温度を測定する第２の温度測定手段である２色温度計
３と、各温度計２，３からの出力を演算処理する演算処
理手段４と、演算処理手段からの出力によって温度分布
を表示する、たとえば陰極線管などによって実現される
表示手段５とを含む。前記鋼帯１は、たとえば焼鈍後の
ステンレス鋼帯である。
す系統図である。たとえば焼鈍ラインにおいて物体であ
る鋼帯１は、矢符Ａ方向に走行されて焼鈍され、この鋼
帯１の表面温度を測定するために、本考案に従う表面温
度分布測定装置が用いられる。この表面温度分布測定装
置は、基本的に、鋼帯の表面の熱放射エネルギ分布を被
写界深度の範囲内で測定し、この測定値と物体の測定波
長放射率ελとから、プランクの放射則によって鋼帯の
表面温度を計算して、温度分布を求める第１の温度測定
手段である走査形放射温度計２と、走査形放射温度計２
によって測定される鋼帯の表面の測定領域内の任意の点
の温度を測定する第２の温度測定手段である２色温度計
３と、各温度計２，３からの出力を演算処理する演算処
理手段４と、演算処理手段からの出力によって温度分布
を表示する、たとえば陰極線管などによって実現される
表示手段５とを含む。前記鋼帯１は、たとえば焼鈍後の
ステンレス鋼帯である。
【００２２】前記走査形放射温度計２は、鋼帯１の走行
経路上に設けられる検出部６と、検出部６からの出力が
入力される処理回路７とを有し、この処理回路７におい
て、放射率εΔλ＝１として温度換算されて、平面的温
度分布データとして出力される。すなわち測定波長λが
既知であることから、後述する数５によって温度Ｔを求
める。また前記２色温度計３は、鋼帯１の走行経路に近
接して設けられる検出部８と、この検出部からの出力を
受信して温度換算する処理回路９とを有する。前記検出
部８は、走査形放射温度計２の測定範囲Ｓ内でその中央
部の測定点Ｓ１の熱放射エネルギを測定して、前記処理
回路９において温度換算する。
経路上に設けられる検出部６と、検出部６からの出力が
入力される処理回路７とを有し、この処理回路７におい
て、放射率εΔλ＝１として温度換算されて、平面的温
度分布データとして出力される。すなわち測定波長λが
既知であることから、後述する数５によって温度Ｔを求
める。また前記２色温度計３は、鋼帯１の走行経路に近
接して設けられる検出部８と、この検出部からの出力を
受信して温度換算する処理回路９とを有する。前記検出
部８は、走査形放射温度計２の測定範囲Ｓ内でその中央
部の測定点Ｓ１の熱放射エネルギを測定して、前記処理
回路９において温度換算する。
【００２３】図２は、走査形放射温度計２の構成を簡略
化して示す系統図である。前記走査形放射温度計２は、
鋼帯１から放射される赤外線を、レンズ１０にいわば機
械光学的な手段によって走査して入射し、その集光され
た赤外線を検出素子１１によって検出して電気信号に時
系列的に変換し、その信号を増幅器１２によって増幅し
た後、信号処理回路１３によって可視光領域に波長変換
し、この信号処理回路１３からの可視光領域に波長変換
された出力信号によって、前記表示手段５に温度分布を
表示するように構成されている。
化して示す系統図である。前記走査形放射温度計２は、
鋼帯１から放射される赤外線を、レンズ１０にいわば機
械光学的な手段によって走査して入射し、その集光され
た赤外線を検出素子１１によって検出して電気信号に時
系列的に変換し、その信号を増幅器１２によって増幅し
た後、信号処理回路１３によって可視光領域に波長変換
し、この信号処理回路１３からの可視光領域に波長変換
された出力信号によって、前記表示手段５に温度分布を
表示するように構成されている。
【００２４】前記鋼帯１の表面とレンズ１０との間にお
ける光経路長には、図３に示されるように、集光レンズ
１７と、走査手段１４を構成する垂直走査用プリズム１
５と、水平走査用プリズム１６とが介在される。垂直走
査用プリズム１５は水平な回転軸線まわりに回転駆動さ
れ、また水平走査用プリズム１６は垂直な回転軸線まわ
りに回転駆動されて、鋼帯１の表面を鋼帯１の幅方向お
よび走行方向に走査するように構成されている。
ける光経路長には、図３に示されるように、集光レンズ
１７と、走査手段１４を構成する垂直走査用プリズム１
５と、水平走査用プリズム１６とが介在される。垂直走
査用プリズム１５は水平な回転軸線まわりに回転駆動さ
れ、また水平走査用プリズム１６は垂直な回転軸線まわ
りに回転駆動されて、鋼帯１の表面を鋼帯１の幅方向お
よび走行方向に走査するように構成されている。
【００２５】図４は、２色温度計３の構成を簡略化して
示す系統図である。この２色温度計３は、互いに異なる
２つの測定波長λ１，λ２における放射輝度比を求める
温度計であって、測定面が灰色体のときに放射率に関係
なく真温度を示すように構成されている。すなわち、前
記測定点Ｓ１からの光をレンズ２０を介して集光し、絞
り２１を経て入射した光を反射鏡２２，２３によって反
射され、接眼レンズ２４を介して肉眼で前記測定点Ｓ１
を確認することができる。またこの２色温度計３に入射
した赤外線は回転板２５に設けられる波長の異なる波長
フィルタ２６，２７を通って検出素子２８によって検出
され、その検出信号はＡＧＣ（オートゲインコントロー
ル）増幅器２９によって、増幅される。前記一方の波長
フィルタ２６は波長λ１帯域の光を通過させ、また他方
の波長フィルタ２７は波長λ２帯域の光を通過させる。
すなわち、図５に示されるように、前記フィルタ２６を
通過する光の透過量が最大値Ｇとなる波長がλ１である
とき、その最大値Ｇのたとえば１／２で弁別したときの
波長区間がΔλ１である。同様に、フィルタ２７を通過
する光の透過量が最大値となる波長λ２に関しても、波
長区間Δλ２が特定される。
示す系統図である。この２色温度計３は、互いに異なる
２つの測定波長λ１，λ２における放射輝度比を求める
温度計であって、測定面が灰色体のときに放射率に関係
なく真温度を示すように構成されている。すなわち、前
記測定点Ｓ１からの光をレンズ２０を介して集光し、絞
り２１を経て入射した光を反射鏡２２，２３によって反
射され、接眼レンズ２４を介して肉眼で前記測定点Ｓ１
を確認することができる。またこの２色温度計３に入射
した赤外線は回転板２５に設けられる波長の異なる波長
フィルタ２６，２７を通って検出素子２８によって検出
され、その検出信号はＡＧＣ（オートゲインコントロー
ル）増幅器２９によって、増幅される。前記一方の波長
フィルタ２６は波長λ１帯域の光を通過させ、また他方
の波長フィルタ２７は波長λ２帯域の光を通過させる。
すなわち、図５に示されるように、前記フィルタ２６を
通過する光の透過量が最大値Ｇとなる波長がλ１である
とき、その最大値Ｇのたとえば１／２で弁別したときの
波長区間がΔλ１である。同様に、フィルタ２７を通過
する光の透過量が最大値となる波長λ２に関しても、波
長区間Δλ２が特定される。
【００２６】前記ＡＧＣ増幅器２９の出力は、分離回路
３０に入力され、同期信号発生器３１からの前記同期信
号に基づいてＡＧＣ増幅器２９によって利得制御した
後、２つ信号成分Ｖ１，Ｖ２に分離し、一方の信号Ｖ１
は放射率比補正回路３２によってその利得が補正され、
ゼロクランプ回路３３を経て比較回路３４の一方の入力
端子に入力される。この比較回路３４の他方の入力端子
には、弁別レベル信号Ｖ０が入力されて、前記信号Ｖ２
がレベル弁別され、再びＡＧＣ増幅器２９に入力されて
利得制御する。測定温度が下限を下まわるとき、入射束
不足によって比率演算が不安定になるので、信号レベル
を検出して強制的に出力を零点にクランプし、このクラ
ンプされなかった信号は出力端子３５に導出される。
３０に入力され、同期信号発生器３１からの前記同期信
号に基づいてＡＧＣ増幅器２９によって利得制御した
後、２つ信号成分Ｖ１，Ｖ２に分離し、一方の信号Ｖ１
は放射率比補正回路３２によってその利得が補正され、
ゼロクランプ回路３３を経て比較回路３４の一方の入力
端子に入力される。この比較回路３４の他方の入力端子
には、弁別レベル信号Ｖ０が入力されて、前記信号Ｖ２
がレベル弁別され、再びＡＧＣ増幅器２９に入力されて
利得制御する。測定温度が下限を下まわるとき、入射束
不足によって比率演算が不安定になるので、信号レベル
を検出して強制的に出力を零点にクランプし、このクラ
ンプされなかった信号は出力端子３５に導出される。
【００２７】前記２色温度計３は、互いに異なる２つの
測定波長帯域がλ１，λ２における熱放射エネルギ比Ｒ
（Ｔ）から物体である鋼帯１の温度を求めることがで
き、その関係式は、数５によって示される。
測定波長帯域がλ１，λ２における熱放射エネルギ比Ｒ
（Ｔ）から物体である鋼帯１の温度を求めることがで
き、その関係式は、数５によって示される。
【００２８】
【数５】
【００２９】この数５において、鋼帯１の放射率εΔλ
１，εΔλ２が未知数であっても、波長区間Δλ１，Δ
λ２が既知で、かつεΔλ１／εΔλ２が一定であれ
ば、熱放射エネルギ比Ｒ（Ｔ）は常に温度Ｔの関数とな
り得ることを示している。すなわち、熱放射エネルギ比
Ｒ（Ｔ）を測定すれば、温度Ｔを逆算することによって
求めることができる。そこで２色温度計３は、波長区間
Δλ１とΔλ２とを極力近い波長に選択して、極小波長
区間においてεΔλ１／εΔλ２＝一定となる関係を成
立させている。
１，εΔλ２が未知数であっても、波長区間Δλ１，Δ
λ２が既知で、かつεΔλ１／εΔλ２が一定であれ
ば、熱放射エネルギ比Ｒ（Ｔ）は常に温度Ｔの関数とな
り得ることを示している。すなわち、熱放射エネルギ比
Ｒ（Ｔ）を測定すれば、温度Ｔを逆算することによって
求めることができる。そこで２色温度計３は、波長区間
Δλ１とΔλ２とを極力近い波長に選択して、極小波長
区間においてεΔλ１／εΔλ２＝一定となる関係を成
立させている。
【００３０】この検証のために、第１の材料特性、すな
わち結晶粒度または硬さと２色温度計の指示値とを１コ
イルあたり数回チェックして、管理範囲内にあることを
確認している。前記温度と硬さＨv との関係は図６に示
されており、ラインＬ１，Ｌ２間が管理範囲内にあるこ
とが確認される。また材質温度と結晶粒度との関係は図
７に示されており、ラインＬ３とラインＬ４とに挟まれ
た管理範囲内にあることが確認される。このように温度
と硬さあるいは温度と結晶粒度との関係が一定の相関性
を有して管理範囲内にあれば、２色温度計３の指示値は
ほぼ真値に近いと考えることができる。
わち結晶粒度または硬さと２色温度計の指示値とを１コ
イルあたり数回チェックして、管理範囲内にあることを
確認している。前記温度と硬さＨv との関係は図６に示
されており、ラインＬ１，Ｌ２間が管理範囲内にあるこ
とが確認される。また材質温度と結晶粒度との関係は図
７に示されており、ラインＬ３とラインＬ４とに挟まれ
た管理範囲内にあることが確認される。このように温度
と硬さあるいは温度と結晶粒度との関係が一定の相関性
を有して管理範囲内にあれば、２色温度計３の指示値は
ほぼ真値に近いと考えることができる。
【００３１】次に、２色温度計３の指示値を鋼帯１の真
の温度として、走査形放射温度計２の放射率εΔλを数
６によって求める。
の温度として、走査形放射温度計２の放射率εΔλを数
６によって求める。
【００３２】
【数６】
【００３３】また数６において分母は、温度Ｔ１に２色
温度計３の測定温度を代入することによって求めること
ができる。したがって数６は数７のように示される。
温度計３の測定温度を代入することによって求めること
ができる。したがって数６は数７のように示される。
【００３４】
【数７】
【００３５】数７において、τλ，ａλおよびΔλは、
固有値であることから、放射率εΔλを導くことができ
る。
固有値であることから、放射率εΔλを導くことができ
る。
【００３６】前記演算処理手段４において、放射率εΔ
λ＝１として温度換算されて保存されている平面的温度
データとなっている全ての温度値Ｔ２と、数５によって
求められた放射率εΔλとを、次の数８に代入して、温
度Ｔ３を求めることができる。
λ＝１として温度換算されて保存されている平面的温度
データとなっている全ての温度値Ｔ２と、数５によって
求められた放射率εΔλとを、次の数８に代入して、温
度Ｔ３を求めることができる。
【００３７】
【数８】
【００３８】このようにして数８によって導かれる鋼帯
１の測定面全体の温度Ｔ３をそれぞれ演算して求めるこ
とによって、補正された温度分布を得ることができる。
１の測定面全体の温度Ｔ３をそれぞれ演算して求めるこ
とによって、補正された温度分布を得ることができる。
【００３９】このようにして、本考案によれば、物体の
温度分布の変位をほぼ真値に近い状態で管理が可能とな
るので、たとえば焼鈍炉の温度分布の異常、あるいは直
火焚き焼鈍炉のバーナの異常を早期に発見することがで
きる。また鋼帯１の表面材温分布を小さくするために、
直火焚き焼鈍炉のフレーム長を調整することによって、
幅方向に均一な鋼帯の焼鈍が可能となり、しかも鋼帯の
温度分布と板形状との関連を解析することができ、鋼帯
品質の向上および安定に寄与することが可能である。
温度分布の変位をほぼ真値に近い状態で管理が可能とな
るので、たとえば焼鈍炉の温度分布の異常、あるいは直
火焚き焼鈍炉のバーナの異常を早期に発見することがで
きる。また鋼帯１の表面材温分布を小さくするために、
直火焚き焼鈍炉のフレーム長を調整することによって、
幅方向に均一な鋼帯の焼鈍が可能となり、しかも鋼帯の
温度分布と板形状との関連を解析することができ、鋼帯
品質の向上および安定に寄与することが可能である。
【００４０】
【考案の効果】このように本考案によれば、第１の温度
測定手段によって測定される物体表面の測定領域内の任
意の点の温度を第２温度測定手段によって測定し、第２
の温度測定手段によって求められた温度分布と、第２の
温度測定手段によって測定された温度とによって、第１
の温度測定手段の測定波長放射率を補正するようにした
ので、たとえば鋼帯などの物体の表面温度分布を可及的
に真の表面温度分布に近い値として求めることができ、
物体の温度分布の異常などを早期に発見することが可能
となる。
測定手段によって測定される物体表面の測定領域内の任
意の点の温度を第２温度測定手段によって測定し、第２
の温度測定手段によって求められた温度分布と、第２の
温度測定手段によって測定された温度とによって、第１
の温度測定手段の測定波長放射率を補正するようにした
ので、たとえば鋼帯などの物体の表面温度分布を可及的
に真の表面温度分布に近い値として求めることができ、
物体の温度分布の異常などを早期に発見することが可能
となる。
【図１】本考案の一実施例の概略的構成を示す系統図で
ある。
ある。
【図２】走査形放射温度計２の構成を示す系統図であ
る。
る。
【図３】走査手段１４の具体的構成を示す図である。
【図４】２色温度計３の具体的構成を示す系統図であ
る。
る。
【図５】フィルタ２６を通過する波長λ１の光とその波
長区間Δλ１との関係を示すグラフである。
長区間Δλ１との関係を示すグラフである。
【図６】２色温度計３の放射率比εΔλが一定であるこ
とを示すための温度と硬度との関係を示すグラフであ
る。
とを示すための温度と硬度との関係を示すグラフであ
る。
【図７】２色温度計３の放射率比が一定であることを示
す温度と結晶粒度との関係を示すグラフである。
す温度と結晶粒度との関係を示すグラフである。
１ 鋼帯 ２ 走査形放射温度計 ３ ２色温度計 ４ 演算処理手段 ５ 表示手段 ６，８ 検出部 ７，９ 処理回路
Claims (2)
- 【請求項１】 物体表面の熱放射エネルギ分布を、被写
界深度の範囲内で測定し、この測定値と物体の測定波長
放射率とから、プランクの放射則によって物体の表面温
度を計算して、温度を求める第１の温度測定手段と、 第１の温度測定手段によって測定される物体表面の測定
領域内の任意の点の温度を、波長区間Δλ１とΔλ２と
を極力近い波長に選択して極小波長区間において各波長
区間Δλ１，Δλ２の各放射率εΔλ１，εΔλ２の比
がεΔλ１／εΔλ２＝一定となる関係が成立するよう
にした２色温度計によって測定する第２の温度測定手段
とを含み、 第２の温度測定手段によって測定された温度を真の温度
として、第１の温度測定手段の測定波長放射率を補正す
ることを特徴とする鋼帯の表面温度分布測定装置。 - 【請求項２】 前記補正された測定波長放射率が、物体
表面の前記第１の温度測定手段によって測定される全て
の測定領域で同一値であるとして、各測定領域の熱放射
エネルギから、プランクの放射則によって物体の表面温
度を計算して、温度分布を求めることを特徴とする請求
項１記載の鋼帯の表面温度分布測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1991079249U JP2566952Y2 (ja) | 1991-09-30 | 1991-09-30 | 鋼帯の表面温度分布測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1991079249U JP2566952Y2 (ja) | 1991-09-30 | 1991-09-30 | 鋼帯の表面温度分布測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0530741U JPH0530741U (ja) | 1993-04-23 |
| JP2566952Y2 true JP2566952Y2 (ja) | 1998-03-30 |
Family
ID=13684587
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1991079249U Expired - Lifetime JP2566952Y2 (ja) | 1991-09-30 | 1991-09-30 | 鋼帯の表面温度分布測定装置 |
Country Status (1)
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| JP (1) | JP2566952Y2 (ja) |
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1991
- 1991-09-30 JP JP1991079249U patent/JP2566952Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0530741U (ja) | 1993-04-23 |
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