JP2566124Y2 - 液体クロマトグラフィー用示差屈折率検出装置 - Google Patents
液体クロマトグラフィー用示差屈折率検出装置Info
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- JP2566124Y2 JP2566124Y2 JP1992043741U JP4374192U JP2566124Y2 JP 2566124 Y2 JP2566124 Y2 JP 2566124Y2 JP 1992043741 U JP1992043741 U JP 1992043741U JP 4374192 U JP4374192 U JP 4374192U JP 2566124 Y2 JP2566124 Y2 JP 2566124Y2
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N30/00—Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
- G01N30/02—Column chromatography
- G01N30/62—Detectors specially adapted therefor
- G01N30/74—Optical detectors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/41—Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
- G01N21/4133—Refractometers, e.g. differential
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本考案は液体クロマトグラフィー
用示差屈折率検出装置に係り、さらに詳しくは、高性能
であって、しかも、軽量小型化を実現することができる
液体クロマトグラフィー用示差屈折率検出装置に関す
る。
用示差屈折率検出装置に係り、さらに詳しくは、高性能
であって、しかも、軽量小型化を実現することができる
液体クロマトグラフィー用示差屈折率検出装置に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】液体クロマトグラフを構成する検出手段
については、示差屈折率検出装置などのような溶液物性
型の汎用検出手段と、紫外吸収検出装置などのような溶
質物性型の特異型検出手段とに大別することができる。
については、示差屈折率検出装置などのような溶液物性
型の汎用検出手段と、紫外吸収検出装置などのような溶
質物性型の特異型検出手段とに大別することができる。
【０００３】このうち、特異型検出手段である紫外吸収
検出装置は、一般に移動相溶媒の温度変化や流量の脈動
などの外部要因の変動を受けがたいので容易に高感度化
できる特長があるものの、物質に紫外線吸収性がない場
合や特定波長に依存しない場合などに適用できない難点
があった。
検出装置は、一般に移動相溶媒の温度変化や流量の脈動
などの外部要因の変動を受けがたいので容易に高感度化
できる特長があるものの、物質に紫外線吸収性がない場
合や特定波長に依存しない場合などに適用できない難点
があった。
【０００４】一方、汎用検出手段である示差屈折率検出
装置は、紫外吸収検出装置を用いることができない上記
場合においても利用できる点で優れているものの、分析
精度を高感度化するためには微小な溶媒の温度変化や流
量（圧力）変化などの外的要因を少なくする必要があっ
た。
装置は、紫外吸収検出装置を用いることができない上記
場合においても利用できる点で優れているものの、分析
精度を高感度化するためには微小な溶媒の温度変化や流
量（圧力）変化などの外的要因を少なくする必要があっ
た。
【０００５】ところで、このような特性を有する屈折率
検出装置、特に図２に示すような偏光型の従来タイプの
屈折率検出装置においては、フィラメント型ランプによ
り形成される光源２から出て形成される光路Ｒがスリッ
ト３を経てレンズ４で集光された後、測定セル５を通過
して反射ミラー６と至り、その反射光が再度測定セル５
を通過し、二分割された受光素子からなる受光部７へと
到達し、この受光部７により電気信号に変換され、所定
の処理を行なうことで屈折率を検出することができるよ
うにした光学系１を配置することで形成されている。
検出装置、特に図２に示すような偏光型の従来タイプの
屈折率検出装置においては、フィラメント型ランプによ
り形成される光源２から出て形成される光路Ｒがスリッ
ト３を経てレンズ４で集光された後、測定セル５を通過
して反射ミラー６と至り、その反射光が再度測定セル５
を通過し、二分割された受光素子からなる受光部７へと
到達し、この受光部７により電気信号に変換され、所定
の処理を行なうことで屈折率を検出することができるよ
うにした光学系１を配置することで形成されている。
【０００６】このような光学系１を備えてなる液体クロ
マトグラフィー用示差屈折率検出装置の場合には、検出
される屈折率に温度依存性があることから、光学系１の
全体を温度調節して恒温状態を保持させておかなければ
ならず、したがって、光学系１の全体を熱容量の大きな
アルミブロック８内に収容し、さらにこのアルミブロッ
ク８を１０〜２０ｍｍ程度の厚さのスポンジ材９を用い
て外被することで外部周辺温度の影響を受けないように
配慮しておく必要があった。
マトグラフィー用示差屈折率検出装置の場合には、検出
される屈折率に温度依存性があることから、光学系１の
全体を温度調節して恒温状態を保持させておかなければ
ならず、したがって、光学系１の全体を熱容量の大きな
アルミブロック８内に収容し、さらにこのアルミブロッ
ク８を１０〜２０ｍｍ程度の厚さのスポンジ材９を用い
て外被することで外部周辺温度の影響を受けないように
配慮しておく必要があった。
【０００７】
【考案が解決しようとする課題】ところで、従来の示差
屈折率検出装置によっても精度の高い屈折率を検出する
ことはできる。
屈折率検出装置によっても精度の高い屈折率を検出する
ことはできる。
【０００８】しかし、従来装置の光源２は、フィラメン
ト型ランプであることから発熱量が多く、装置を構成し
ている各種金属部材が熱膨張と冷却収縮とを繰り返し、
このことが温度依存性のある屈折率にドリフトを発生さ
せる大きな原因となっていた。
ト型ランプであることから発熱量が多く、装置を構成し
ている各種金属部材が熱膨張と冷却収縮とを繰り返し、
このことが温度依存性のある屈折率にドリフトを発生さ
せる大きな原因となっていた。
【０００９】また、光学系１が収容されるアルミブロッ
ク８内の温度変化は、光源２から受光部７へと至る光路
Ｒのずれの変化率を大きくすることから、アルミブロッ
ク８自体の熱容量を大きくすることでドリフトの発生を
抑制する策を講じていたほか、１０〜２０ｍｍ程度の厚
さのスポンジ材９を内張りする必要もあったため、結果
的にその全体が大型化してしまう不都合があった。
ク８内の温度変化は、光源２から受光部７へと至る光路
Ｒのずれの変化率を大きくすることから、アルミブロッ
ク８自体の熱容量を大きくすることでドリフトの発生を
抑制する策を講じていたほか、１０〜２０ｍｍ程度の厚
さのスポンジ材９を内張りする必要もあったため、結果
的にその全体が大型化してしまう不都合があった。
【００１０】一方、ドリフトの発生を防止するために
は、光学系１が収容されるアルミブロック８内を温度調
節する必要があり、そのために重量のあるトランスなど
を備えた電源部が必要になり、この電源部が発熱の原因
となる問題もあった。
は、光学系１が収容されるアルミブロック８内を温度調
節する必要があり、そのために重量のあるトランスなど
を備えた電源部が必要になり、この電源部が発熱の原因
となる問題もあった。
【００１１】しかも、このような電源部の発熱防止を講
じるためには、そのための各種機器も必要になり、結果
的に装置全体の構成を大型化し、製品コストを高いもの
としてしまう不都合があった。
じるためには、そのための各種機器も必要になり、結果
的に装置全体の構成を大型化し、製品コストを高いもの
としてしまう不都合があった。
【００１２】
【課題を解決するための手段】本考案は、従来技術の上
記課題に鑑みてなされてたものであり、その構成上の特
徴は、光源と受光部との間に光路を形成すべく反射ミラ
ーを介在させ、前記光路における光源と反射ミラーとの
間に測定セルを配置して形成される光学系をアルミブロ
ック内に恒温制御して配置してなる液体クロマトグラフ
ィー用示差屈折率検出装置において、前記光源をＬＥＤ
を用いて形成し、アルミブロック内の光学系に対しての
恒温制御は、肉厚が１〜２ｍｍである断熱用スポンジ材
を内側に、アルミ箔を外側に配置して外被させたアルミ
ブロック内に温度センサと熱源としての半導体素子とを
配置し、前記温度センサが検出する温度状況に基づいて
作動する前記半導体素子のためのスイッチングレギュレ
ータを少なくとも備える温度制御手段を用いて行うよう
にしたことにある。
記課題に鑑みてなされてたものであり、その構成上の特
徴は、光源と受光部との間に光路を形成すべく反射ミラ
ーを介在させ、前記光路における光源と反射ミラーとの
間に測定セルを配置して形成される光学系をアルミブロ
ック内に恒温制御して配置してなる液体クロマトグラフ
ィー用示差屈折率検出装置において、前記光源をＬＥＤ
を用いて形成し、アルミブロック内の光学系に対しての
恒温制御は、肉厚が１〜２ｍｍである断熱用スポンジ材
を内側に、アルミ箔を外側に配置して外被させたアルミ
ブロック内に温度センサと熱源としての半導体素子とを
配置し、前記温度センサが検出する温度状況に基づいて
作動する前記半導体素子のためのスイッチングレギュレ
ータを少なくとも備える温度制御手段を用いて行うよう
にしたことにある。
【００１３】
【作用】このため、光学系が収容されるアルミブロック
内から無用な発熱源を一掃し、しかも、コンパクト化し
て形成される温度制御手段により光学系を恒温状態のも
とにおくことができるので、軽量小型で、しかも高性能
な装置を提供することができる。
内から無用な発熱源を一掃し、しかも、コンパクト化し
て形成される温度制御手段により光学系を恒温状態のも
とにおくことができるので、軽量小型で、しかも高性能
な装置を提供することができる。
【００１４】
【実施例】以下、図面に基づいて本考案の実施例を詳説
する。
する。
【００１５】図１は、本考案に係る装置構成の概要を示
す説明図である。
す説明図である。
【００１６】同図によれば、装置の全体は、光源１２と
受光部２１との間に光路Ｒを形成すべく反射ミラー２０
を介在させ、前記光路Ｒにおける光源１２と反射ミラー
２０との間に測定セル１９を配置して形成される光学系
１１をアルミブロック２２内に恒温状態を保つように温
度制御可能に配置して構成されている。
受光部２１との間に光路Ｒを形成すべく反射ミラー２０
を介在させ、前記光路Ｒにおける光源１２と反射ミラー
２０との間に測定セル１９を配置して形成される光学系
１１をアルミブロック２２内に恒温状態を保つように温
度制御可能に配置して構成されている。
【００１７】この場合、前記光源１２は、その直径が１
mm前後である点光源と同等な発光面を有してなるＬＥＤ
を用いて形成され、その近接する前方には、１〜1.5mm
前後の横幅のスリット１５を有して照射光量を均一化す
るための光源側スリット１４部が集光レンズ１３を介在
させて配置されている。
mm前後である点光源と同等な発光面を有してなるＬＥＤ
を用いて形成され、その近接する前方には、１〜1.5mm
前後の横幅のスリット１５を有して照射光量を均一化す
るための光源側スリット１４部が集光レンズ１３を介在
させて配置されている。
【００１８】また、集光レンズ１３と光源側スリット部
１４とを経て直進する光源１２からの光路Ｒには、不必
要な散乱光を除去するための例えば１mm前後の横幅で形
成されたスリット１７を有する測定セル側スリット部１
８と反射ミラー２０とがコリメーターレンズ１８を介在
させて近接配置されている。
１４とを経て直進する光源１２からの光路Ｒには、不必
要な散乱光を除去するための例えば１mm前後の横幅で形
成されたスリット１７を有する測定セル側スリット部１
８と反射ミラー２０とがコリメーターレンズ１８を介在
させて近接配置されている。
【００１９】さらに、反射ミラー２０に反射されて再度
測定セル１９と測定セル側スリット部１６とを経た光路
Ｒの前方には、二分割光電変換素子からなる受光部２１
が配置されている。
測定セル１９と測定セル側スリット部１６とを経た光路
Ｒの前方には、二分割光電変換素子からなる受光部２１
が配置されている。
【００２０】一方、このような構成からなる光学系１１
が収容されるアルミブロック２２は、光学系１１を恒温
制御する必要があることから、アルミブロック２２の内
部２３に配設される温度センサ２５と半導体素子２８
と、アルミブロック２２の外部に配設される温度制御回
路２６とスイッチングレギュレータ２７とで構成される
温度制御手段２４を備えて形成されている。
が収容されるアルミブロック２２は、光学系１１を恒温
制御する必要があることから、アルミブロック２２の内
部２３に配設される温度センサ２５と半導体素子２８
と、アルミブロック２２の外部に配設される温度制御回
路２６とスイッチングレギュレータ２７とで構成される
温度制御手段２４を備えて形成されている。
【００２１】このうち、温度センサ２５は、アルミブロ
ック２２の内部２３の温度状況を検出するために用いら
れ、半導体素子２８は、アルミブロック２２を温度制御
して恒温状態を維持させる際の熱源として用いられる。
また、温度制御回路２６は、スイッチングレギュレータ
２７と共に前記温度センサ２５が検出する温度状況に基
づき回路を開閉するために用いられる。
ック２２の内部２３の温度状況を検出するために用いら
れ、半導体素子２８は、アルミブロック２２を温度制御
して恒温状態を維持させる際の熱源として用いられる。
また、温度制御回路２６は、スイッチングレギュレータ
２７と共に前記温度センサ２５が検出する温度状況に基
づき回路を開閉するために用いられる。
【００２２】熱源である前記半導体素子２８としては、
パワートランジスタを用いるのが好ましく、この場合、
エミッタとコレクタ間に定電圧を印加してベース電流を
制御することによりコレクタ電流を変化させるようにし
た熱源として使用されている。
パワートランジスタを用いるのが好ましく、この場合、
エミッタとコレクタ間に定電圧を印加してベース電流を
制御することによりコレクタ電流を変化させるようにし
た熱源として使用されている。
【００２３】また、本考案におけるアルミブロック２２
は、肉厚が１〜２ｍｍである断熱用スポンジ材３０を内
側に、アルミ箔２９を外側に配置することで外被され、
これによりアルミブロック２２の内外が熱的に隔絶され
ることになる。
は、肉厚が１〜２ｍｍである断熱用スポンジ材３０を内
側に、アルミ箔２９を外側に配置することで外被され、
これによりアルミブロック２２の内外が熱的に隔絶され
ることになる。
【００２４】なお、図中の符号３１はＬＥＤの光量を安
定させたり、受光部２１が検出した電圧を増幅したりす
るための回路を、３２はスイッチングレギュレータをそ
れぞれ示す。
定させたり、受光部２１が検出した電圧を増幅したりす
るための回路を、３２はスイッチングレギュレータをそ
れぞれ示す。
【００２５】本考案はこのようにして構成されているの
で、温度制御のために用いる熱源としては、大きな電力
と比較的広いスペースとを必要とするニクロムヒータに
替え、アルミブロック２２内に配設される半導体素子２
８を用いることができ、しかも、その作動をスイッチン
グレギュレータ２７を用いて行うことができ、従来は必
要であったトランス等の各種の部品をなくすことで、内
部２３から無用な発熱源を排除しながら、光学系１１を
収容した装置の全体を軽量小型化することができる。
で、温度制御のために用いる熱源としては、大きな電力
と比較的広いスペースとを必要とするニクロムヒータに
替え、アルミブロック２２内に配設される半導体素子２
８を用いることができ、しかも、その作動をスイッチン
グレギュレータ２７を用いて行うことができ、従来は必
要であったトランス等の各種の部品をなくすことで、内
部２３から無用な発熱源を排除しながら、光学系１１を
収容した装置の全体を軽量小型化することができる。
【００２６】また、光源１２は、フィラメント型ランプ
に替えてＬＥＤを用いて形成されているので、光源１２
からの発熱量を少なくすることができ、したがって、熱
容量を大きくすることでドリフトの発生を防止するとい
う要請自体が不要のものとなり、アルミブロック２２の
小型化をさらに推進することができる。
に替えてＬＥＤを用いて形成されているので、光源１２
からの発熱量を少なくすることができ、したがって、熱
容量を大きくすることでドリフトの発生を防止するとい
う要請自体が不要のものとなり、アルミブロック２２の
小型化をさらに推進することができる。
【００２７】しかも、ドリフトの発生を抑制することが
できるということは、光源１２から受光部２１へと至る
光路Ｒの長さを従来よりも短くすることができることに
通じ、この点からも光学系１１が収容されるアルミブロ
ック２２の小型化を推し進めることができる。
できるということは、光源１２から受光部２１へと至る
光路Ｒの長さを従来よりも短くすることができることに
通じ、この点からも光学系１１が収容されるアルミブロ
ック２２の小型化を推し進めることができる。
【００２８】一方、このようにして実現されるアルミブ
ロック２２の小型化は、必然的に熱応答性を高めて温度
制御を容易にすることから、装置自体の立上げ時間を大
幅に短縮することができるので、分析作業の効率化を実
現することができる。
ロック２２の小型化は、必然的に熱応答性を高めて温度
制御を容易にすることから、装置自体の立上げ時間を大
幅に短縮することができるので、分析作業の効率化を実
現することができる。
【００２９】
【考案の効果】以上述べたように本考案によれば、光学
系が収容される内部内から無用な発熱源を一掃し、しか
も、温度制御手段をコンパクト化すると同時に、アルミ
ブロック自体もアルミ箔を外被させ、肉厚が１〜２ｍｍ
である薄い断熱用スポンジ材を内側に配置してその内外
を熱的に隔絶することにより、小型化することができ
る。したがって、アルミブロックは、その熱応答性を高
めて内部の温度制御も簡易・迅速に行うことができるの
で、装置自体の立上げ時間を大幅に短縮することにより
分析作業の効率化を実現することもできる。
系が収容される内部内から無用な発熱源を一掃し、しか
も、温度制御手段をコンパクト化すると同時に、アルミ
ブロック自体もアルミ箔を外被させ、肉厚が１〜２ｍｍ
である薄い断熱用スポンジ材を内側に配置してその内外
を熱的に隔絶することにより、小型化することができ
る。したがって、アルミブロックは、その熱応答性を高
めて内部の温度制御も簡易・迅速に行うことができるの
で、装置自体の立上げ時間を大幅に短縮することにより
分析作業の効率化を実現することもできる。
【図１】本考案に係る装置の概略構成の一例を示す説明
図。
図。
【図２】従来装置の概略構成の一例を示す説明図。
１１ 光学系 １２ 光源 １３ 集光レンズ １４ 光源側スリット部 １５ スリット １６ 測定セル側スリット部 １７ スリット １８ コリメーターレンズ １９ 測定セル ２０ 反射ミラー ２１ 受光部 ２２ アルミブロック ２３ 内部 ２４ 温度制御手段 ２５ 温度センサ ２６ 温度制御回路 ２７ スイッチングレギュレータ ２８ 半導体素子 ２９ アルミ箔 ３０ 断熱用スポンジ材 Ｒ 光路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭63−27733（ＪＰ，Ａ) 特開 昭52−105878（ＪＰ，Ａ) 特開 昭48−40043（ＪＰ，Ａ) 実開 昭62−119664（ＪＰ，Ｕ) 実開 平４−15025（ＪＰ，Ｕ) 実開 平３−33386（ＪＰ，Ｕ)
Claims (1)
- 【請求項１】 光源と受光部との間に光路を形成すべく
反射ミラーを介在させ、前記光路における光源と反射ミ
ラーとの間に測定セルを配置して形成される光学系をア
ルミブロック内に恒温制御して配置してなる液体クロマ
トグラフィー用示差屈折率検出装置において、前記光源
をＬＥＤを用いて形成し、アルミブロック内の光学系に
対しての恒温制御は、肉厚が１〜２ｍｍである断熱用ス
ポンジ材を内側に、アルミ箔を外側に配置して外被させ
たアルミブロック内に温度センサと熱源としての半導体
素子とを配置し、前記温度センサが検出する温度状況に
基づいて作動する前記半導体素子のためのスイッチング
レギュレータを少なくとも備える温度制御手段を用いて
行うようにしたことを特徴とする液体クロマトグラフィ
ー用示差屈折率検出装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1992043741U JP2566124Y2 (ja) | 1992-06-01 | 1992-06-01 | 液体クロマトグラフィー用示差屈折率検出装置 |
| DE19934317757 DE4317757C2 (de) | 1992-06-01 | 1993-05-28 | Differential-Refraktometer für die Flüssigkeits-Chromatographie |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1992043741U JP2566124Y2 (ja) | 1992-06-01 | 1992-06-01 | 液体クロマトグラフィー用示差屈折率検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0594753U JPH0594753U (ja) | 1993-12-24 |
| JP2566124Y2 true JP2566124Y2 (ja) | 1998-03-25 |
Family
ID=12672199
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1992043741U Expired - Lifetime JP2566124Y2 (ja) | 1992-06-01 | 1992-06-01 | 液体クロマトグラフィー用示差屈折率検出装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2566124Y2 (ja) |
| DE (1) | DE4317757C2 (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6094262A (en) * | 1999-02-26 | 2000-07-25 | Waters Investments Limited | High temperature differential refractometry apparatus |
| WO2001053803A1 (fr) * | 2000-01-17 | 2001-07-26 | Norihiro Kiuchi | Procede de detection de concentrations dans un liquide et dispositif a cet effet |
| DE60035984T2 (de) * | 2000-06-27 | 2007-11-29 | Agilent Technologies, Inc. (n.d.Ges.d. Staates Delaware), Santa Clara | Verfahren zur Verringerung des Einflusses schwankender Umgebungsbedingungen auf ein Messgerät und dieses Verfahren verwendendes Messgerät |
| CN107923885A (zh) * | 2015-08-18 | 2018-04-17 | 株式会社岛津制作所 | 液相色谱仪用检测器 |
| WO2020039478A1 (ja) * | 2018-08-20 | 2020-02-27 | 株式会社島津製作所 | クロマトグラフィー用検出器 |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4840043A (ja) * | 1971-09-25 | 1973-06-12 | ||
| JPS52105878A (en) * | 1976-03-02 | 1977-09-05 | Showa Denko Kk | High sensitive differential refractometer |
| JPS62119664U (ja) * | 1986-01-21 | 1987-07-29 | ||
| JPH0617870B2 (ja) * | 1986-07-21 | 1994-03-09 | 有限会社ラボシステム機器 | 液体クロマトグラフイ−用示差屈折率検出装置 |
| JPH0415025U (ja) * | 1990-05-25 | 1992-02-06 | ||
| JP3033386U (ja) * | 1996-07-09 | 1997-01-21 | 富士木工株式会社 | 建物の内壁等に対するビスの保持力を増すための構造 |
-
1992
- 1992-06-01 JP JP1992043741U patent/JP2566124Y2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1993
- 1993-05-28 DE DE19934317757 patent/DE4317757C2/de not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE4317757A1 (de) | 1993-12-02 |
| DE4317757C2 (de) | 1995-08-10 |
| JPH0594753U (ja) | 1993-12-24 |
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