JP3269364B2 - 液体クロマトグラフ用光学式検出器 - Google Patents
液体クロマトグラフ用光学式検出器Info
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- JP3269364B2 JP3269364B2 JP30838395A JP30838395A JP3269364B2 JP 3269364 B2 JP3269364 B2 JP 3269364B2 JP 30838395 A JP30838395 A JP 30838395A JP 30838395 A JP30838395 A JP 30838395A JP 3269364 B2 JP3269364 B2 JP 3269364B2
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、液体クロマトグラ
フのカラム溶出液の成分分析に用いられる光学式検出器
に関する。
フのカラム溶出液の成分分析に用いられる光学式検出器
に関する。
【０００２】
【従来の技術】液体クロマトグラフでは、カラム溶出液
の何らかの物理的特性を測定することにより含有成分の
特定を行なう。このような方法の一つとして、カラム溶
出液の屈折率や光透過率等の光学的特性を測定する光学
式検出器を用いる方法がある。
の何らかの物理的特性を測定することにより含有成分の
特定を行なう。このような方法の一つとして、カラム溶
出液の屈折率や光透過率等の光学的特性を測定する光学
式検出器を用いる方法がある。
【０００３】光学式検出器の一例として、示差屈折率検
出器について説明する。示差屈折率検出器は、物質の屈
折率にはその物質に固有の値があることを利用して、光
学的手法により試料の成分分析を行なう装置である。図
４に示差屈折率検出器に用いられる測定光学系の一例を
示す。この測定光学系は主にランプ１１、レンズ１２、
スリット１３、フローセル１４、反射鏡１５及び光検出
器１６からなる。フローセル１４の内部は光軸に対して
傾斜した透明な隔壁により試料セル１４ａ及び参照セル
１４ｂに分かれている。試料の分析に際しては、試料セ
ル１４ａにカラム溶出液を通す一方、参照セル１４ｂに
は液体クロマトグラフの移動相に用いられる液体を封入
する。ランプ１１の光はレンズ１２及びスリット１３を
通過した後フローセル１４に入射し、光軸に対して傾い
た隔壁を通過する際に屈折する。試料セル１４ａを通過
する液体の屈折率が異なれば、ランプ１１から発せられ
る光の光路も異なり、光検出器１６の受光面上において
スリット１３の像が結像する位置にも変位が生じる。こ
の変位を調べることにより試料セル１４ａ中の成分の特
定が行なわれる。
出器について説明する。示差屈折率検出器は、物質の屈
折率にはその物質に固有の値があることを利用して、光
学的手法により試料の成分分析を行なう装置である。図
４に示差屈折率検出器に用いられる測定光学系の一例を
示す。この測定光学系は主にランプ１１、レンズ１２、
スリット１３、フローセル１４、反射鏡１５及び光検出
器１６からなる。フローセル１４の内部は光軸に対して
傾斜した透明な隔壁により試料セル１４ａ及び参照セル
１４ｂに分かれている。試料の分析に際しては、試料セ
ル１４ａにカラム溶出液を通す一方、参照セル１４ｂに
は液体クロマトグラフの移動相に用いられる液体を封入
する。ランプ１１の光はレンズ１２及びスリット１３を
通過した後フローセル１４に入射し、光軸に対して傾い
た隔壁を通過する際に屈折する。試料セル１４ａを通過
する液体の屈折率が異なれば、ランプ１１から発せられ
る光の光路も異なり、光検出器１６の受光面上において
スリット１３の像が結像する位置にも変位が生じる。こ
の変位を調べることにより試料セル１４ａ中の成分の特
定が行なわれる。
【０００４】液体の屈折率は温度によっても変化する。
もし分析中に測定光学系の雰囲気温度が変化し、その結
果液体の屈折率が変化すると、この変化を成分変化によ
る屈折率変化と区別することができないため、正しい分
析ができない。従って、正しい分析を行なうためには、
測定光学系の雰囲気温度を分析に応じた一定温度（以
下、「分析温度」という）に保つ温調手段が必要にな
る。従来の温調手段の一例を図５に示す。図５は、測定
光学系を格納する温調槽２２、温調槽２２を加熱するた
めのヒータ２３及び温調槽２２を覆う断熱壁２４からな
る温調手段が、ケース２５内に格納された様子を示す断
面図である。ヒータ２３により発生される熱を温調槽２
２に十分貯留し、温調槽２２の温度を時間的のみならず
空間的にも一定に保持するため、温調槽２２には熱伝導
性の良い材料からなる熱容量の大きい部材、例えばアル
ミニウム製ブロックケース等を用いる。断熱壁２４は温
調槽２２と外気との間の熱交換を防止するためものであ
り、ポリエチレン製スポンジ等が用いられる。
もし分析中に測定光学系の雰囲気温度が変化し、その結
果液体の屈折率が変化すると、この変化を成分変化によ
る屈折率変化と区別することができないため、正しい分
析ができない。従って、正しい分析を行なうためには、
測定光学系の雰囲気温度を分析に応じた一定温度（以
下、「分析温度」という）に保つ温調手段が必要にな
る。従来の温調手段の一例を図５に示す。図５は、測定
光学系を格納する温調槽２２、温調槽２２を加熱するた
めのヒータ２３及び温調槽２２を覆う断熱壁２４からな
る温調手段が、ケース２５内に格納された様子を示す断
面図である。ヒータ２３により発生される熱を温調槽２
２に十分貯留し、温調槽２２の温度を時間的のみならず
空間的にも一定に保持するため、温調槽２２には熱伝導
性の良い材料からなる熱容量の大きい部材、例えばアル
ミニウム製ブロックケース等を用いる。断熱壁２４は温
調槽２２と外気との間の熱交換を防止するためものであ
り、ポリエチレン製スポンジ等が用いられる。
【０００５】図６は温調槽２２内部に測定光学系を配置
した様子を示す図である。図６（ａ）は温調槽２２上に
配置された測定光学系の平面図、図６（ｂ）は図６
（ａ）のＢ−Ｂ’線における端面図である（なお、これ
らの図においては温調槽２２はその底面部分のみ描かれ
ている）。ランプ１１はランプホルダ１７により台１８
に固定されている。レンズ１２及びスリット１３は台１
９に固定されている。台２０にはフローセル１４が取り
付けられている。反射鏡１５は台２１に固定されてい
る。これらの台１８〜２１は温調槽２２上に直接固定さ
れている。また、光検出器１６はスリット１３の下で台
１９に隣接する形で温調槽２２上に直接固定されてい
る。
した様子を示す図である。図６（ａ）は温調槽２２上に
配置された測定光学系の平面図、図６（ｂ）は図６
（ａ）のＢ−Ｂ’線における端面図である（なお、これ
らの図においては温調槽２２はその底面部分のみ描かれ
ている）。ランプ１１はランプホルダ１７により台１８
に固定されている。レンズ１２及びスリット１３は台１
９に固定されている。台２０にはフローセル１４が取り
付けられている。反射鏡１５は台２１に固定されてい
る。これらの台１８〜２１は温調槽２２上に直接固定さ
れている。また、光検出器１６はスリット１３の下で台
１９に隣接する形で温調槽２２上に直接固定されてい
る。
【０００６】温調手段により測定光学系の温度が安定に
保たれていても、フローセルに流入するカラム溶出液の
温度が安定していなければ、正しい分析を行なうことは
できない。このため、カラム溶出液をフローセルに流入
させる前に、該溶出液の温度を分析温度に安定させるた
めの熱交換器が用いられる。図７は熱交換器２６を温調
手段に取り付けた様子を示す図である。熱交換器２６は
温調槽２２に埋め込まれる形で取り付けられており、試
料導入管４１から導入されたカラム溶出液は熱交換器２
６を介して温調槽２２と熱交換を行なう。こうしてカラ
ム溶出液は、その温度が分析温度に安定させられた後
に、フローセル１４に流入する。フローセル１４を通過
したカラム溶出液は試料流出管４２を通って装置外へ流
出する。
保たれていても、フローセルに流入するカラム溶出液の
温度が安定していなければ、正しい分析を行なうことは
できない。このため、カラム溶出液をフローセルに流入
させる前に、該溶出液の温度を分析温度に安定させるた
めの熱交換器が用いられる。図７は熱交換器２６を温調
手段に取り付けた様子を示す図である。熱交換器２６は
温調槽２２に埋め込まれる形で取り付けられており、試
料導入管４１から導入されたカラム溶出液は熱交換器２
６を介して温調槽２２と熱交換を行なう。こうしてカラ
ム溶出液は、その温度が分析温度に安定させられた後
に、フローセル１４に流入する。フローセル１４を通過
したカラム溶出液は試料流出管４２を通って装置外へ流
出する。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】試料を分析する場合、
まずヒータにより温調槽を加熱してその温度を上昇さ
せ、最終的にはその温度を分析温度を中心とした一定の
変動幅内に安定させる必要がある。高精度の分析を行な
うためにはこの変動幅を約１／１０００℃程度にするこ
とが要求されるが、このような高い安定状態を達成する
ために、従来は、ヒータによる加熱を始めてから１時間
程度という長時間を要していた。この加熱の間は分析が
行なえないわけであるから、分析の作業効率が著しく損
なわれていたことになる。
まずヒータにより温調槽を加熱してその温度を上昇さ
せ、最終的にはその温度を分析温度を中心とした一定の
変動幅内に安定させる必要がある。高精度の分析を行な
うためにはこの変動幅を約１／１０００℃程度にするこ
とが要求されるが、このような高い安定状態を達成する
ために、従来は、ヒータによる加熱を始めてから１時間
程度という長時間を要していた。この加熱の間は分析が
行なえないわけであるから、分析の作業効率が著しく損
なわれていたことになる。
【０００８】一方、温調槽の温度は一旦安定した後でも
様々な外部的要因により変化する。そのような要因とし
ては、ランプから発せられる熱、外気の温度変化、カラ
ム溶出液の温度変化等が挙げられる。これらの要因によ
り温調槽の温度が変化すると、温調槽の寸法や形状も変
化する。もし測定光学系の構成部品が温調槽に直接固定
されていると、温調槽の変形が測定光学系の構成部品の
位置関係に変化をもたらし、正しい分析ができなくな
る。さらに、温調槽の温度変化が熱伝導によりフローセ
ルに伝わりフローセル中の液体の屈折率が変化すること
も正しい分析の阻害要因となる。
様々な外部的要因により変化する。そのような要因とし
ては、ランプから発せられる熱、外気の温度変化、カラ
ム溶出液の温度変化等が挙げられる。これらの要因によ
り温調槽の温度が変化すると、温調槽の寸法や形状も変
化する。もし測定光学系の構成部品が温調槽に直接固定
されていると、温調槽の変形が測定光学系の構成部品の
位置関係に変化をもたらし、正しい分析ができなくな
る。さらに、温調槽の温度変化が熱伝導によりフローセ
ルに伝わりフローセル中の液体の屈折率が変化すること
も正しい分析の阻害要因となる。
【０００９】本発明はこのような課題を解決するために
成されたものであり、その目的とするところは、従来よ
りも短時間で測定光学系の温度を安定させることがで
き、且つ、外気の温度変化等の要因による影響を受けに
くい温調手段及び熱交換手段を有する光学式検出器を提
供することにある。
成されたものであり、その目的とするところは、従来よ
りも短時間で測定光学系の温度を安定させることがで
き、且つ、外気の温度変化等の要因による影響を受けに
くい温調手段及び熱交換手段を有する光学式検出器を提
供することにある。
【００１０】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に成された本発明に係る第一の光学式検出器は、 a)ランプ、フローセルを構成部品として含む測定光学系
と、 b)測定光学系を内部に格納し、その温度を安定させるた
めの温調槽と、 c)温調槽の外部から内部のフローセルへ流入する試料溶
液の温度を安定させるための熱交換器と、を有する光学
式検出器であって、d)熱伝導率の低い材料からなるスペ
ーサを介して温調槽に固定された載置台にランプ以外の
測定光学系の構成部品を固定するとともに、前記載置台
とは別の固定手段でランプを温調槽に固定したことを特
徴とする。
に成された本発明に係る第一の光学式検出器は、 a)ランプ、フローセルを構成部品として含む測定光学系
と、 b)測定光学系を内部に格納し、その温度を安定させるた
めの温調槽と、 c)温調槽の外部から内部のフローセルへ流入する試料溶
液の温度を安定させるための熱交換器と、を有する光学
式検出器であって、d)熱伝導率の低い材料からなるスペ
ーサを介して温調槽に固定された載置台にランプ以外の
測定光学系の構成部品を固定するとともに、前記載置台
とは別の固定手段でランプを温調槽に固定したことを特
徴とする。
【００１１】また、上記課題を解決するために成された
本発明に係る第二の光学式検出器は、 a)ランプ、フローセルを構成部品として含む測定光学系
と、 b)測定光学系を内部に格納し、その温度を安定させるた
めの第一温調槽と、 c)第一温調槽の外部から内部のフローセルへ流入する試
料溶液の温度を安定させるための第一熱交換器と、を有
する光学式検出器であって、その特徴は、 d)第一温調槽を内部に格納し、該温調槽の温度を安定さ
せるための第二温調槽と、 e)上記試料溶液が第一熱交換器に流入する前に該溶液の
温度を安定させるための第二熱交換器と、を備えるとこ
ろにある。
本発明に係る第二の光学式検出器は、 a)ランプ、フローセルを構成部品として含む測定光学系
と、 b)測定光学系を内部に格納し、その温度を安定させるた
めの第一温調槽と、 c)第一温調槽の外部から内部のフローセルへ流入する試
料溶液の温度を安定させるための第一熱交換器と、を有
する光学式検出器であって、その特徴は、 d)第一温調槽を内部に格納し、該温調槽の温度を安定さ
せるための第二温調槽と、 e)上記試料溶液が第一熱交換器に流入する前に該溶液の
温度を安定させるための第二熱交換器と、を備えるとこ
ろにある。
【００１２】
【発明の実施の形態及び発明の効果】本発明の第一の態
様による光学式検出器においては、測定光学系の各構成
部品を、該構成部品が温調槽に直接接しないような状態
で、温調槽の内部で固定する手段を設けるようにする。
これにより、測定光学系の構成部品を温調槽に直接固定
している場合に比べて、温調槽の変形による測定光学系
の構成部品の位置関係の変化を小さくすることができる
だけでなく、温調槽の温度の変動が測定光学系の温度に
与える影響を小さくすることもできる。
様による光学式検出器においては、測定光学系の各構成
部品を、該構成部品が温調槽に直接接しないような状態
で、温調槽の内部で固定する手段を設けるようにする。
これにより、測定光学系の構成部品を温調槽に直接固定
している場合に比べて、温調槽の変形による測定光学系
の構成部品の位置関係の変化を小さくすることができる
だけでなく、温調槽の温度の変動が測定光学系の温度に
与える影響を小さくすることもできる。
【００１３】また、本発明の第二の態様による光学式検
出器においては、第一温調槽を含む従来の温調手段の外
側に、該温調手段の温度を安定させるための第二温調槽
を含む第二の温調手段を設けるとともに、第二熱交換器
を設け、第二熱交換器の液体流出口と第一熱交換器の液
体流入口とを管で接続する。カラム溶出液の導入の際に
は、その温度を第二熱交換器により安定させた後に、こ
れを第一熱交換器に導入するようにする。これにより、
外気の温度変化が第一温調槽の温度に直接与える影響を
小さくすることができるだけでなく、外気の温度変化に
よるカラム溶出液の温度変化が第一温調槽の温度に与え
る影響をも小さくすることができる。
出器においては、第一温調槽を含む従来の温調手段の外
側に、該温調手段の温度を安定させるための第二温調槽
を含む第二の温調手段を設けるとともに、第二熱交換器
を設け、第二熱交換器の液体流出口と第一熱交換器の液
体流入口とを管で接続する。カラム溶出液の導入の際に
は、その温度を第二熱交換器により安定させた後に、こ
れを第一熱交換器に導入するようにする。これにより、
外気の温度変化が第一温調槽の温度に直接与える影響を
小さくすることができるだけでなく、外気の温度変化に
よるカラム溶出液の温度変化が第一温調槽の温度に与え
る影響をも小さくすることができる。
【００１４】
【実施例】図１に本発明による示差屈折率検出器の一実
施例を示す。本実施例においては、ランプ１１用の台１
８、レンズ１２及びスリット１３用の台１９、フローセ
ル１４用の台２０、反射鏡１５用の台２１及び光検出器
１６は、ベンチ２７上に固定されている。ベンチ２７と
しては強度が高く熱膨張率の低い部材、例えばアンバー
（Ｉｎｖａｒ）製厚板などが好適に利用できるが、コス
ト的に有利なアルミニウム製厚板を用いても本発明の効
果を十分に得ることができる。ベンチ２７の面積は温調
槽２２の内部空間の底面積よりも小さくする。このベン
チ２７は、スペーサ２８を介してボルト２９により温調
槽２２に固定されている。スペーサ２８は強度が高く熱
伝導率の低い材料、例えばセラミックスを用いて作成さ
れた円盤状の部品であり、その中心軸上にはボルトを通
すための穴がある。スペーサ２８の断面積は、測定光学
系を固定したベンチ２７の構造的安定が損なわれない範
囲で小さくする。
施例を示す。本実施例においては、ランプ１１用の台１
８、レンズ１２及びスリット１３用の台１９、フローセ
ル１４用の台２０、反射鏡１５用の台２１及び光検出器
１６は、ベンチ２７上に固定されている。ベンチ２７と
しては強度が高く熱膨張率の低い部材、例えばアンバー
（Ｉｎｖａｒ）製厚板などが好適に利用できるが、コス
ト的に有利なアルミニウム製厚板を用いても本発明の効
果を十分に得ることができる。ベンチ２７の面積は温調
槽２２の内部空間の底面積よりも小さくする。このベン
チ２７は、スペーサ２８を介してボルト２９により温調
槽２２に固定されている。スペーサ２８は強度が高く熱
伝導率の低い材料、例えばセラミックスを用いて作成さ
れた円盤状の部品であり、その中心軸上にはボルトを通
すための穴がある。スペーサ２８の断面積は、測定光学
系を固定したベンチ２７の構造的安定が損なわれない範
囲で小さくする。
【００１５】以上のような構成によると、測定光学系を
温調槽２２に直接固定する場合に比べて、温調槽２２の
変形が測定光学系の構成部品の位置関係の変化に与える
影響を小さくすることができる。また、この構成の下で
は、温調槽２２の温度の変動はスペーサ２８を介してベ
ンチ２７へ伝わるようになるが、温調槽２２とスペーサ
２８の接触面積が小さいため、単位時間当たりに温調槽
２２とベンチ２７との間で交換される熱量も小さくな
り、従って、測定光学系を直接温調槽２２に固定する場
合に比べて、温調槽２２の温度の変動幅に対する測定光
学系の温度の変動幅の比が小さくなる。この結果、ヒー
タ２３により温調槽２２を加熱し始めた後、温調槽２２
の温度の変動幅が目的の変動幅、例えば１／１０００℃
に達する前に、測定光学系の温度の変動幅が先に１／１
０００℃に達するようになるため、ヒータ２３を起動し
てから分析を始めるまでの時間を短くすることができ
る。
温調槽２２に直接固定する場合に比べて、温調槽２２の
変形が測定光学系の構成部品の位置関係の変化に与える
影響を小さくすることができる。また、この構成の下で
は、温調槽２２の温度の変動はスペーサ２８を介してベ
ンチ２７へ伝わるようになるが、温調槽２２とスペーサ
２８の接触面積が小さいため、単位時間当たりに温調槽
２２とベンチ２７との間で交換される熱量も小さくな
り、従って、測定光学系を直接温調槽２２に固定する場
合に比べて、温調槽２２の温度の変動幅に対する測定光
学系の温度の変動幅の比が小さくなる。この結果、ヒー
タ２３により温調槽２２を加熱し始めた後、温調槽２２
の温度の変動幅が目的の変動幅、例えば１／１０００℃
に達する前に、測定光学系の温度の変動幅が先に１／１
０００℃に達するようになるため、ヒータ２３を起動し
てから分析を始めるまでの時間を短くすることができ
る。
【００１６】図２は上記実施例の別の態様の一つを示し
た図である。この態様においては、ランプ１１の台１８
は温調槽２２に直接固定されている一方で、ランプ１１
以外の測定光学系の台１９〜２１はベンチ２７上に固定
されている。このような構成によると、ランプ１１から
発生する熱はベンチ２７に直接伝わることなく、大部分
は熱伝導により温調槽２２に流入するため、ランプ１１
の熱がベンチ２７に与える影響を小さくすることができ
る。
た図である。この態様においては、ランプ１１の台１８
は温調槽２２に直接固定されている一方で、ランプ１１
以外の測定光学系の台１９〜２１はベンチ２７上に固定
されている。このような構成によると、ランプ１１から
発生する熱はベンチ２７に直接伝わることなく、大部分
は熱伝導により温調槽２２に流入するため、ランプ１１
の熱がベンチ２７に与える影響を小さくすることができ
る。
【００１７】図３は本発明に係る温調手段及び熱交換手
段の一実施例の概略構成図である。本実施例における温
調手段は、温調槽２２、ヒータ２３及び断熱壁２４から
なる既存の温調手段を覆うようにして設けられた第二温
調槽３０、第二温調槽３０を加熱するための第二ヒータ
３１及び第二温調槽３０を覆う第二断熱壁３２からな
り、これら全体がケース２５内に格納されている。試料
の分析を行なう場合、ヒータ２３により温調槽２２を加
熱して該温調槽の温度を分析温度に安定させるととも
に、第二ヒータ３１により第二温調槽３０をも加熱して
該温調槽の温度を分析温度に安定させる。このように第
二温調槽３０を設けることにより、外気温の変化が温調
槽２２の温度に与える影響を小さくすることができる。
段の一実施例の概略構成図である。本実施例における温
調手段は、温調槽２２、ヒータ２３及び断熱壁２４から
なる既存の温調手段を覆うようにして設けられた第二温
調槽３０、第二温調槽３０を加熱するための第二ヒータ
３１及び第二温調槽３０を覆う第二断熱壁３２からな
り、これら全体がケース２５内に格納されている。試料
の分析を行なう場合、ヒータ２３により温調槽２２を加
熱して該温調槽の温度を分析温度に安定させるととも
に、第二ヒータ３１により第二温調槽３０をも加熱して
該温調槽の温度を分析温度に安定させる。このように第
二温調槽３０を設けることにより、外気温の変化が温調
槽２２の温度に与える影響を小さくすることができる。
【００１８】また、第二温調槽３０には第二熱交換器３
３が、該温調槽に埋め込まれる形で取り付けられてお
り、熱交換器２６の液体流入口と第二熱交換器３３の液
体流出口とが管４３で接続されている。このような構成
によれば、カラム溶出液が、第二熱交換器３３の働きに
より分析温度にほぼ等しい温度にされた後に熱交換器２
６に流入するため、熱交換器２６内でのカラム溶出液と
温調槽２２との熱交換は安定する。従って、外気温の変
化によりカラム溶出液の温度が変化した場合でも、温調
槽２２はその影響をほとんど受けず、安定した分析を行
なうことができる。
３が、該温調槽に埋め込まれる形で取り付けられてお
り、熱交換器２６の液体流入口と第二熱交換器３３の液
体流出口とが管４３で接続されている。このような構成
によれば、カラム溶出液が、第二熱交換器３３の働きに
より分析温度にほぼ等しい温度にされた後に熱交換器２
６に流入するため、熱交換器２６内でのカラム溶出液と
温調槽２２との熱交換は安定する。従って、外気温の変
化によりカラム溶出液の温度が変化した場合でも、温調
槽２２はその影響をほとんど受けず、安定した分析を行
なうことができる。
【図１】 測定光学系を設置するためのベンチを備えた
光学式検出器の概略構成図。
光学式検出器の概略構成図。
【図２】 ランプ以外の測定光学系を設置するためのベ
ンチを備えた光学式検出器の概略構成図。
ンチを備えた光学式検出器の概略構成図。
【図３】 ２重の温調槽と２つの熱交換器を備える光学
式検出器の概略構成図。
式検出器の概略構成図。
【図４】 測定光学系の構成及び原理を示す図。
【図５】 従来の温調手段の一例の断面図。
【図６】（ａ） 測定光学系を温調槽に直接配置した様
子を示す平面図。 （ｂ） 図６（ａ）のＢ−Ｂ’線における端面図。
子を示す平面図。 （ｂ） 図６（ａ）のＢ−Ｂ’線における端面図。
【図７】 既存の温調手段に熱交換器を取り付けた様子
を示す図。
を示す図。
１１…ランプ １２…レンズ １３…スリット １４…フローセル １５…反射鏡 １６…光検出器 ２２…温調槽 ２３…ヒータ ２４…断熱壁 ２６…熱交換器 ２７…ベンチ ２８…スペーサ ２９…ボルト ３０…第二温調槽 ３１…第二ヒータ ３２…第二断熱壁 ３３…第二熱交換器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01N 21/00 - 21/61 実用ファイル（ＰＡＴＯＬＩＳ) 特許ファイル（ＰＡＴＯＬＩＳ)
Claims (1)
- 【請求項１】 a)ランプ、フローセルを構成部品として
含む測定光学系と、 b)測定光学系を内部に格納し、その温度を安定させるた
めの温調槽と、 c)温調槽の外部から内部のフローセルへ流入する試料溶
液の温度を安定させるための熱交換器と、 を有する光学式検出器であって、 d)熱伝導率の低い材料からなるスペーサを介して温調槽
に固定された載置台にランプ以外の測定光学系の構成部
品を固定するとともに、前記載置台とは別の固定手段で
ランプを温調槽に固定したことを特徴とする光学式検出
器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30838395A JP3269364B2 (ja) | 1995-10-31 | 1995-10-31 | 液体クロマトグラフ用光学式検出器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30838395A JP3269364B2 (ja) | 1995-10-31 | 1995-10-31 | 液体クロマトグラフ用光学式検出器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09126997A JPH09126997A (ja) | 1997-05-16 |
| JP3269364B2 true JP3269364B2 (ja) | 2002-03-25 |
Family
ID=17980414
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30838395A Expired - Fee Related JP3269364B2 (ja) | 1995-10-31 | 1995-10-31 | 液体クロマトグラフ用光学式検出器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3269364B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6094262A (en) * | 1999-02-26 | 2000-07-25 | Waters Investments Limited | High temperature differential refractometry apparatus |
| JP5714977B2 (ja) * | 2010-06-28 | 2015-05-07 | 株式会社堀場製作所 | 光学測定装置 |
-
1995
- 1995-10-31 JP JP30838395A patent/JP3269364B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH09126997A (ja) | 1997-05-16 |
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