JP2565649Y2 - 光電スイッチ - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本考案は、投光器から投光される
スポット光をこのスポット光に対応した所定の受光領域
を有する受光器により受け所定の検出レベルと比較して
物体を検出するようにした光電スイッチに関する。

【０００２】

【従来の技術】この種の光電スイッチにおいては、投光
器から発せられるスポット光が受光器の受光面に適切に
投影されるように光軸調整を行なう必要がある。そして
このような光軸調整のために、従来では、例えば、受光
器の検出用受光素子に入射するスポット光の強度に応じ
てその出力を表示する表示器を設け、作業者はその表示
器を見ながら受光素子への入射強度が所定の受光レベル
を超えるように受光器の位置或は角度を調整するように
している。

【０００３】この場合、設定する受光レベルを物体の検
出をするための検出レベルよりも高いレベルとしておく
ことにより、光軸調整が完了すると、通常の検出状態に
おける投光器からのスポット光の受光状態では、受光素
子に十分に検出レベルを超える光の強度が得られるよう
にしている。これにより、安定した受光状態が得られ、
確実な検出を行なうことができる。

【０００４】

【考案が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
ような表示器では、単に検出用受光素子への入射光の強
度を表示するだけであるので、投光器からのスポット光
に対して受光面がどの方向にずれているかという情報が
得られない。従って、作業者は表示器を見ながら受光器
を種々の方向に移動調整してみて入射光の強度が最大に
なる位置を探し出す必要があり、非常に面倒で時間がか
かってしまう不具合がある。

【０００５】また、このような光学系の光軸調整におい
ては、上述のような光軸ずれに対する調整を行なって
も、スポット光の入射角度がずれていると検出用受光素
子への入射光強度が不足して安定な検出動作が行なえな
くなる場合があり、従って、入射角ずれに対する調整も
必要である。

【０００６】ところが、従来の方法による光軸調整作業
においては、入射光強度が受光レベルに達していない場
合に、それが光軸ずれによるものなのか入射角ずれによ
るものなのかが区別できないため、調整の仕方が複雑で
面倒になると共に、受光レベルのみの表示であるために
確実に光軸調整ができているのかがよくわからない状況
であった。

【０００７】本考案は、上記事情に鑑みてなされたもの
で、その目的は、投光器からのスポット光がどちらにず
れているかという情報と、入射角のずれによる入射光強
度の情報について独立して知ることができ、従って、光
軸調整作業を光軸ずれ及び入射角ずれの夫々に対して独
立して確実且つ迅速に行なうことができる光電スイッチ
を提供するにある。

【０００８】

【課題を解決するための手段】本考案は、投光器から投
光されるスポット光を受光器に設けられた検出用の受光
素子にて受光すると共にその検出用の受光素子からの受
光信号を所定の検出レベルと比較して物体を検出するよ
うにした光電スイッチを対象とするものであり、前記受
光器の受光領域内の縁部近傍で光軸調整方向に夫々配設
された複数個の光軸モニタ用の受光素子と、これら複数
の光軸モニタ用の受光素子の受光状態に対応して前記光
軸調整方向を表示する複数個の表示部を有する光軸モニ
タ手段と、前記検出用の受光素子に対する前記スポット
光の入射光強度が前記検出レベルよりも高いレベルに設
定された所定の受光レベル以上あるときにこれを表示す
る受光レベル表示手段とを設けて構成したところに特徴
を有する。

【０００９】

【作用】本考案の光電スイッチによれば、投光器からの
スポット光が受光器の受光領域に投射されると、そのス
ポット光は受光領域内の縁部近傍で光軸調整方向に夫々
配設された複数個の光軸モニタ用の受光素子にも受けら
れる。このとき、光軸がずれていてスポット光が受光領
域の全体に投射されていないときには、その受光状態に
応じて表示部に光軸調整方向を表示する。また、スポッ
ト光の受光器への入射角度が適正な角度からずれている
場合には、検出用の受光素子によるスポット光の受光レ
ベルが低くなるので、受光レベル表示手段は所定の受光
レベルを超える入射光強度がないことにより、適正な受
光状態である旨の表示がなされない状態となる。

【００１０】このような表示状態に対応して、作業者は
光軸モニタ手段の表示部により表示された光軸調整方向
に受光器を移動調整すれば、対応する光軸モニタ用の受
光素子にもスポット光が投射されるようになり、即ちす
べての光軸モニタ用の受光素子を受光状態とすることが
でき、これによりスポット光を受光器の受光面の適切な
位置に簡単且つ迅速に調整することができる。

【００１１】次に、この状態で、受光器の受光面を光軸
に対して移動しないように保持しながら、スポット光が
適切な入射角で受光器に投影されるように受光器の受光
角度を調整して受光レベル表示手段の表示が行なわれる
ようにすれば、確実に入射角ずれに対する適正な調整を
行なうことができる。

【００１２】また、このような光軸モニタ手段及び受光
レベル表示手段を常時動作させることにより、検出動作
中に光軸ずれや入射角ずれが生じても、それらの表示状
態を目視により確認することができるので簡単且つ迅速
に光軸ずれ及び入射角ずれを調整することができる。

【００１３】

【実施例】以下、本考案を帯状の検出エリアを有するレ
ーザ式ラインセンサに適用した場合の一実施例について
図面を参照しながら説明する。

【００１４】全体構成を示す図１において、投光器１の
内部には、投光用の半導体レーザ２及びコリメータレン
ズ３が配設されており、この半導体レーザ２から出力さ
れるレーザ光はコリメータレンズ３を介して平行光線に
変換され、前面部１ａの窓部を介してスポット光Ｓとし
て出力されるようになっている。受光器４は投光器１と
対向して配置されるもので、その前面部の受光面４ａに
投光器１からのスポット光Ｓが投射される。

【００１５】受光器４において、受光面４ａの中央部に
は縦方向に形成された受光スリット４ｂが設けられ、受
光面４ａに投射されたスポット光Ｓは内部に配設された
集光レンズ５を介して検出用の受光素子としてのフォト
ダイオード６に入射するようになっている。この場合、
スポット光Ｓの受光面４ａに対する投影像は、半導体レ
ーザ２の発光特性により縦長の楕円形状をなしており、
受光面４ａの受光スリット４ｂを含んだ受光領域を覆う
ようになっている。

【００１６】受光器４の受光面４ａには、受光スリット
４ｂの周囲に複数個の光軸モニタ用の受光素子たる４個
のフォトダイオード７ａ乃至７ｄが配設されている。こ
の場合、４個のフォトダイオード７ａ乃至７ｄは、受光
スリット４ｂの中心を原点としてＸ方向（横方向）及び
Ｙ方向（縦方向）で、スポット光Ｓが正規の位置に投射
されているときの受光領域内の縁部近傍に夫々配設され
ている。

【００１７】受光器４の上面部には光軸モニタ用の表示
部８が配設されている。この表示部８は十字状に配置さ
れた４個の発光ダイオード９ａ乃至９ｄとその中心に位
置する受光レベル表示手段たる発光ダイオード１０とに
より構成される。発光ダイオード９ａ乃至９ｄは、夫々
フォトダイオード７ａ乃至７ｄに対応しているもので、
光軸の４つの修正方向「Ｌ（左）」，「Ｒ（右）」，
「Ｄ（下）」，「Ｕ（上）」を示すべく三角形の矢印形
状をした窓部を介して発光表示するようになっている。
そして、中心に位置する発光ダイオード１０は、検出用
のフォトダイオード６の受光レベルを表示するためのも
ので、所定の受光レベルを超える受光状態で発光するよ
うになっている。また、受光器４の上面部には出力表示
用の発光ダイオード１１及び感度調整用のボリューム１
２等が配設されている。

【００１８】次に、図２及び図３を参照して電気的構成
について述べる。図２には、投光器１に配設された投光
回路１３及び受光器４に配設された受光回路１４の電気
的構成を示している。

【００１９】投光回路１３において、半導体レーザ２は
レーザダイオード２ａ及び出力モニタ用のフォトダイオ
ード２ｂから構成されており、レーザダイオード２ａの
陽極端子は直流電源端子１５に接続され、陰極端子は出
力用トランジスタ１６を介してアースされている。フォ
トダイオード２ｂの陰極端子は直流電源端子１５に接続
され、陽極端子は可変抵抗器１７を介してアースされる
と共に、差動アンプ１８の負入力端子に接続されてい
る。

【００２０】差動アンプ１８の正入力端子は、抵抗１９
を介して直流電源端子１５に接続されると共に抵抗２０
を介してアースされており、抵抗２０の分担電圧が与え
られるようになっている。差動アンプ１８の出力端子
は、制御スイッチ２１（例えばアナログスイッチ等から
なり、制御端子に与えられる信号に応じてオンオフす
る）を介した後トランジスタ１６のベースに接続される
と共に抵抗２２を介してアースされている。

【００２１】制御回路２３はレーザダイオード２ａの発
振を制御するもので、その出力端子Ａは制御スイッチ２
１の制御端子に接続され、出力端子Ｂは差動アンプ１８
の正入力端子をアースレベルに落とす制御スイッチ２４
（例えばトランジスタ）に接続され、出力端子Ｃはレー
ザ発振状態を発光ダイオード２５ａにより点灯表示する
表示回路２５に接続されている。制御回路２３の入力端
子Ｄにはキースイッチ装置２６が接続され、入力端子Ｅ
はリモートインタロック端子Ｉに接続され、入力端子Ｆ
には同期信号端子ＳＳが接続されている。

【００２２】この場合、制御回路２３はキースイッチ装
置２６から「Ｈ」レベルのオン信号が与えられると共に
同期信号端子ＳＳから同期信号Ｖｓが与えられると、こ
れに同期して制御スイッチ２１オン・オフすると共に制
御スイッチ２４をオフ・オンするように制御を行なって
レーザダイオード２ａをパルス点灯させる。そして、リ
モートインタロック端子Ｉから「Ｈ」レベルの信号が与
えられるとレーザダイオード２ａの発振を停止するよう
になっている。

【００２３】次に、受光回路１４において、検出用フォ
トダイオード６の陽極端子はアースされ、陰極端子は抵
抗２７を介して直流電源端子１５に接続されると共に直
流阻止用のコンデンサ２８を介して第１アンプ２９の入
力端子に接続されている。第１アンプ２９の出力端子
は、第２アンプ３０を介して積分回路３１の入力端子に
接続されると共に、受光レベル表示手段を構成する比較
器３２の一方の入力端子に接続されている。積分回路３
１の出力端子はバッファ回路３３を介してアナログ出力
端子ＶＡに接続されている。同期信号を発生するパルス
発生器３４はタイミング発生回路３５を介して積分回路
３１の制御入力端子に接続されると共に、同期信号出力
端子ＳＶに接続されている。この同期信号出力端子ＳＶ
は投光回路１３の同期信号入力端子ＳＳに接続されてい
る。

【００２４】比較器３２の他方の入力端子は基準電圧を
発生する基準電圧発生回路３６に接続され、比較器３２
の出力端子は受光レベル表示用の発光ダイオード１０を
介して直流電源端子１５に接続されている。基準電圧発
生回路３６の他方の出力端子は可変抵抗器３７を介して
アースされている。検出出力用の比較器３８の反転入力
端子は可変抵抗器３７の可変出力端子に接続され、非反
転入力端子はバッファ回路３３の出力端子に接続されて
いる。比較器３８の出力端子は出力表示用の発光ダイオ
ード１１を介してｎｐｎ形トランジスタ３９のベースに
接続されている。トランジスタ３９のコレクタは比較出
力端子ＶＣに接続され、エミッタはアースされている。

【００２５】さて、光軸調整用の４個のフォトダイオー
ド７ａ乃至７ｄは、夫々光軸モニタ手段たる４個のモニ
タ回路４０に接続されている。そして、４個のモニタ回
路４０の夫々の出力端子には表示部８を構成する４個の
発光ダイオード９ａ乃至９ｄに接続されている。また、
４個のモニタ回路４０には夫々にパルス発生器３４が接
続されており、同期信号Ｖｓが与えられるようになって
いる。

【００２６】図３はモニタ回路４０の電気的構成を示す
もので、フォトダイオード７ａ（他のフォトダイオード
７ｂ乃至７ｄについても全く同様である）の陰極端子は
抵抗４１を介して直流電源端子１５に接続されると共に
コンデンサ４２を介してアースされている。フォトダイ
オード７ａの陽極端子は抵抗４３を介してアースされる
と共にコンデンサ４４を介して比較器４５の非反転入力
端子に接続されている。比較器４５の非反転入力端子は
バイアス電源４６にも接続され、反転入力端子は比較基
準電源４７に接続されている。発光ダイオード９ａ（他
の発光ダイオード９ｂ乃至９ｄについても全く同様であ
る）の陽極端子はアナログスイッチ４８を介して直流電
源端子１５に接続され、陰極端子は比較器４５の出力端
子に接続されている。アナログスイッチ４８のゲートは
上述したようにパルス発生器３４に接続されている。

【００２７】次に、本実施例の作用について図４乃至図
７をも参照して説明する。

【００２８】まず、検出作用の概略について説明する。
即ち、投光回路１３において、電源が投入されると共に
キースイッチ装置２６のキースイッチがオンされると
（リモートインタロック端子Ｉは「Ｌ」レベルの入力状
態となっている）、制御回路２３はレーザダイオード２
ａの点灯制御を行なう。この場合、制御回路２３は、受
光回路１４のパルス発生器３４から与えられる所定周期
の同期信号Ｖｓに応じて制御スイッチ２１をオン・オフ
すると共に制御スイッチ２４をオフ・オンするように制
御する。これにより、トランジスタ１６は差動アンプ１
８の差動出力に応じたベース電流でオンオフされ、レー
ザダイオード２ａは適切な電流が断続的に流れてパルス
点灯するようになる。

【００２９】このとき、モニタ用のフォトダイオード２
ｂはレーザダイオード２ａの発光出力をモニタし、差動
アンプ１８によりそのモニタ出力の基準電圧に対する差
を求めてレーザダイオード２ａの通電電流を制御してお
り、これによりレーザダイオード２ａがその特性上温度
変化に対して発光強度が大きく変動するのを一定の発光
出力となるように制御している。

【００３０】また、制御回路２３は、このようにレーザ
ダイオード２ａに通電してパルス点灯をしているときに
は、出力端子Ｃから「Ｈ」レベルの信号を出力して点灯
状態を表示する発光ダイオード２５を通電点灯するよう
になっている。

【００３１】さて、このようにしてレーザダイオード２
ａから出力されたレーザ光はコリメータレンズ３を介し
て平行光線に変換され、投影像が縦長の楕円形状をなす
スポット光Ｓとして受光器４の受光面４ａに投射され
る。

【００３２】受光器４において、スポット光Ｓは受光ス
リット４ｂを介して内部に入射すると、集光レンズ５に
より集光されてフォトダイオード６に受けられる。この
場合、受光スリット４ｂは縦方向に形成されているの
で、実質的にはスポット光Ｓは、投影像が楕円形となっ
ていても受光スリット４ｂの形状に対応する帯状の光軸
部分が検出範囲となり、後述するように、この帯状の光
軸部分を遮る物体を検出することになる。

【００３３】さて、受光回路１４においては、パルス点
灯によるスポット光Ｓを受けてフォトダイオード６に受
光電流が流れると、その受光による変化成分がコンデン
サ２８を介して第１アンプ２９に与えられ、この第１ア
ンプ２９により増幅されて第２アンプ３０に入力され
る。この第２アンプ３０は可変抵抗器３０ａにより増幅
度の調整が行えるようになっており、検出レベルを変更
することができる。

【００３４】積分回路３１は、第２アンプ３０から出力
が与えられると、パルス発生器３４からタイミング発生
回路３５を介して与えられるタイミング信号に応じて積
分した出力をバッファ回路３３を介してアナログ出力端
子ＶＡに出力する。この場合、前述のように検出範囲が
帯状をなす光軸部分であり、物体によって検出範囲を遮
る幅が異なると、物体により遮光された幅に応じてフォ
トダイオード６に入射する光の強度が変化するので、ア
ナログ出力端子ＶＡに現れる出力電圧Ｖａの大きさが異
なる。つまり、アナログの出力電圧Ｖａの大きさに応じ
て検出物の遮光幅まで判定することができるのである。

【００３５】バッファ回路３３からの出力電圧Ｖａは比
較器３８にも入力されており、その入力電圧が予め基準
電圧発生回路３６から与えられている比較基準電圧より
も大きい場合に、比較器３８は「Ｈ」レベルの信号を出
力する。これにより、検出表示用の発光ダイオード１１
に通電点灯すると共にトランジスタ３９をオンさせて比
較出力端子ＶＣの出力をオープン状態から「Ｌ」レベル
に反転して検出状態を示す信号として出力する。

【００３６】さて、上述のような検出動作を行なう場合
に、スポット光Ｓは図５（ａ）に示すように受光器４の
受光面４ａに正しく投影されていることが必要である。
即ち、例えば、図５（ｃ）に示すように、スポット光Ｓ
が受光器４の受光面４ａに投影されていない光軸ずれの
場合や、或は同図（ｂ）に示すように受光面４ａには投
影されているが、入射角ずれを起こしているためにフォ
トダイオード６への入射強度が所定以上ない場合等には
安定した検出動作が行なえないので、受光器４の設置位
置を正しい位置に修正する必要があり、以下にその光軸
調整について説明する。

【００３７】（１）光軸ずれの調整 いま、受光器４の設置位置が、図４（ｂ）に示すように
スポット光Ｓに対して上方にずれている場合を例にとっ
て述べる。この場合には、受光スリット４ｂの周りに配
設されたフォトダイオード７ａ乃至７ｄのうち上側にあ
るフォトダイオード７ｃにはスポット光Ｓが投影されな
い状態となっている。

【００３８】この状態で、フォトダイオード７ａ，７
ｂ，７ｄが接続されたモニタ回路４０においては、スポ
ット光Ｓの入射によりフォトダイオード７ａ，７ｂ，７
ｄに電流が流れると、この受光電流により発生する電圧
信号はコンデンサ４４を介して比較器４５に入力され
る。このとき、比較器４５にはバイアス電源４６による
バイアス電圧ＶＢを加えた電圧（図６（ａ）参照）が与
えられる。

【００３９】フォトダイオード７ａ，７ｂ，７ｄにスポ
ット光Ｓが確実に投影され、実質的に受光状態にあると
きには、比較器４５に入力される電圧は比較基準電源４
７から与えられている比較基準電圧Ｖｔｈよりも大きく
なるので、比較器４５は「Ｈ」レベルの信号を出力す
る。従って、同期信号Ｖｓ（図６（ｂ）参照）がアナロ
グスイッチ４８に与えられた場合でも、発光ダイオード
９ａ，９ｂ，９ｄには電流が流れないので発光しない
（図６（ｃ）参照）。つまり、スポット光Ｓを受光して
いるフォトダイオード７ａ，７ｂ，７ｄに対応する発光
ダイオード９ａ，９ｂ，９ｄは「点灯」しないのであ
る。

【００４０】一方、スポット光Ｓを受光していないフォ
トダイオード７ｃは受光電流が流れないので、そのモニ
タ回路４０における比較器４５の入力端子にはバイアス
電圧ＶＢのみとなる。この場合には、比較基準電圧Ｖｔ
ｈよりも低いので、比較器４５は「Ｌ」レベルの出力状
態となる。そして、この状態で、アナログスイッチ４８
に同期信号が与えられると、そのタイミングで発光ダイ
オード９ｃに通電されてアナログスイッチ４８がオンし
ている期間中発光する。そして、このような非受光状態
が継続すると、発光ダイオード９ｃは同期信号が入力す
る度に通電されるので断続的に発光するようになり、
「点灯」状態として視認できるパルス点灯状態となる。

【００４１】尚、上述のようにフォトダイオード７ｃに
全く入射光がない場合に加えて、フォトダイオード６に
僅かに光が入射するのみで比較器４５に対する入力信号
のレベルとしては図６（ａ）に示すような比較基準電圧
Ｖｔｈに達しない場合も含めて実質的な非受光状態であ
るとし、発光ダイオード９ｃをパルス点灯状態とするよ
うにしている。

【００４２】この発光ダイオード９ｃによるパルス点灯
状態では、図４（ｂ）に示すように、「Ｄ（下）」方向
を示す矢印の点灯表示状態となり、これにより、受光器
４の光軸調整方向が下方であることが示される。つま
り、スポット光Ｓの光軸が下方にずれているので、受光
器４を下方に移動するように調整すれば良いことを表示
しているのである。

【００４３】次に、上記の表示に従って下方に受光器４
を移動調整してゆくと、フォトダイオード７ｃにもスポ
ット光Ｓが入射するようになり、モニタ回路４０は発光
ダイオード９ｃをパルス点灯状態から消灯状態にする。
この結果、全ての発光ダイオード９ａ乃至９ｄが消灯状
態となる。つまり、このように全ての発光ダイオード９
ａ乃至９ｄが消灯状態になって光軸調整方向の表示がな
くなると、図４（ａ）に示すように、スポット光Ｓが受
光面４ａの正しい位置に投影されている状態が得られる
のである。

【００４４】尚、上述と異なり、受光器４の受光面４ａ
に対してスポット光Ｓが上方，左方，右方或は下方を含
めてこれらの組み合わせ方向にずれている場合には、夫
々に対応した光軸調整方向を示す発光ダイオード９ａ乃
至９ｄがパルス点灯状態となり、受光器４の調整方向を
表示するようになるので、作業者はその表示部８を視認
しながら簡単に光軸を調整することができる。

【００４５】また、モニタ回路４０において、バイアス
電圧ＶＢを加算してレベルを上げた状態の信号を比較器
４５に入力して比較を行なうのは、コンデンサ４４を介
して入力される信号が交流成分のみであり、ノイズに対
する誤検出が発生するのを防止するためである。

【００４６】（２）入射角ずれの調整 上述のようにして光軸ずれが調整された状態であって
も、先に述べたように、図４（ｂ）に示す如く入射角が
ずれていると、検出用のフォトダイオード６へのスポッ
ト光Ｓの入射が不十分となるため、安定した検出状態が
得られなくなる。そこで、次のようにしてスポット光Ｓ
の入射強度のレベルをチェックして入射角ずれを調整す
る。

【００４７】即ち、安定した検出を行なうためには、比
較器３８に設定された基準電圧発生器３６による検出レ
ベルよりも高いレベルの入射光強度が必要であるので、
フォトダイオード６に入射された光の強度を比較器３２
においてそのレベルを判定するようになっている。比較
器３２には検出レベルよりも高く設定された受光レベル
を示す基準電圧が基準電圧発生器３６から与えられてお
り（図７参照）、その受光レベルを超えると「Ｌ」レベ
ルの信号を出力して発光ダイオード１０に通電して発光
させるようになっている。そして、このときスポット光
Ｓによる受光信号はパルス点灯に応じたタイミングで与
えられるので、発光ダイオード１０は断続的に発光する
パルス点灯状態となって「点灯」状態の表示を行なう。

【００４８】上述と異なり、入射角がずれている場合に
はスポット光Ｓによるフォトダイオード６への入射光の
強度が不足するため、比較器３２の出力は「Ｈ」レベル
となり、発光ダイオード１０は消灯状態となる。この場
合には、受光面４ａの位置をずらさないようにして入射
角を適宜変化させ、発光ダイオード１０が「点灯」状態
となるまで調整をして最適な受光状態を得るようにす
る。これにより、発光ダイオード１０が「点灯」状態に
なれば、十分な入射光強度が得られることになって安定
な検出状態とすることができる。

【００４９】このような本実施例によれば、受光器４の
受光面４ａに配設されたフォトダイオード７ａ乃至７ｄ
により投光器１からのスポット光Ｓを受け、非受光状態
であるときに表示部８の発光ダイオード９ａ乃至９ｄに
より光軸調整方向を指示するように点灯させるので、簡
単且つ迅速にスポット光Ｓを受光面４ａの正しい位置に
調整することができる。

【００５０】また、検出用のフォトダイオード６により
受けた受光信号のレベルを比較器３２により比較して、
受光レベルを設定する基準電圧発生器３６からの基準電
圧を超えているときに発光ダイオード１０を点灯表示さ
せるようにしたので、上述の光軸ずれに対する調整をし
た後に、スポット光Ｓの入射角ずれに対する調整のみを
独立して行なうことができ、確実に入射角ずれに対する
調整を行なうことができる。

【００５１】尚、上記実施例においては、複数個の受光
素子として４個のフォトダイオードを使用したが、これ
に限らず、例えば８個用いて８方向に対して表示するよ
うにしても良いし、或は２方向のみの場合には２個だけ
用いるようにしても良い。

【００５２】また、上記実施例においては、受光レベル
表示手段として発光ダイオード１０を用いる構成とした
が、これに限らず、例えば、入射光強度をアナログ的に
表示するレベルインジケータ等を用いて受光レベルを表
示するようにしても良い。

【００５３】

【考案の効果】以上説明したように、本考案の光電スイ
ッチによれば、受光器の受光領域内の縁部近傍に光軸調
整方向に配設した複数個の光軸モニタ用の受光素子によ
り投光器からのスポット光を受け、それらの受光状態に
応じて光軸モニタ手段により、光軸調整方向を表示する
と共に、受光レベル表示手段により、スポット光の検出
用の受光素子への入射光強度が受光レベルを超えたか否
かを表示するようにしたので、受光器に対するスポット
光の光軸ずれ及び入射角ずれを夫々独立して認識するこ
とができ、光軸調整作業にあたっては光軸ずれを調整し
た後に入射角ずれを調整すれば、確実に光軸調整が行な
うことができ、しかも、簡単且つ迅速に行なうことがで
きるという優れた効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本考案の一実施例を示す全体構成の斜視図

【図２】全体の電気的構成図

【図３】モニタ回路の電気的構成図

【図４】光軸調整の作用説明図

【図５】光軸と受光器の位置関係を示す図

【図６】各部の信号波形説明図

【図７】受光レベル及び検出レベルの説明図

【符号の説明】

１は投光器、２は半導体レーザ、２ａはレーザダイオー
ド、３はコリメータレンズ、４は受光器、４ｂは受光ス
リット、５は集光レンズ、６はフォトダイオード（検出
用の受光素子）、７ａ〜７ｄはフォトダイオード（光軸
モニタ用の受光素子）、８は表示部、９ａ〜９ｄは光軸
調整方向表示用の発光ダイオード、１０は受光レベル表
示用の発光ダイオード（受光レベル表示手段），１１は
出力表示用の発光ダイオード、１３は投光回路、１４は
受光回路、１８は差動アンプ、２１は制御スイッチ、２
３は制御回路、２６はキースイッチ装置、３１は積分回
路、３４はパルス発生器、３５はタイミング発生回路、
４０はモニタ回路（光軸モニタ手段）、４５は比較器、
４６はバイアス電源、４７は比較基準電源、４８はアナ
ログスイッチである。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)考案者 池谷 泰昌 東京都立川市曙町三丁目５番３号 サン クス株式会社内 (56)参考文献 実開 平１−66085（ＪＰ，Ｕ) 実開 昭51−5965（ＪＰ，Ｕ) 実開 昭49−39972（ＪＰ，Ｕ)

Claims (1)

(57)【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 投光器から投光されるスポット光を受光
   器に設けられた検出用の受光素子にて受光すると共にそ
   の検出用の受光素子からの受光信号を所定の検出レベル
   と比較して物体を検出するようにした光電スイッチにお
   いて、 前記受光器の受光領域内の縁部近傍で光軸調整方向に夫
   々配設された複数個の光軸モニタ用の受光素子と、 これら複数の光軸モニタ用の受光素子の受光状態に対応
   して前記光軸調整方向を表示する複数個の表示部を有す
   る光軸モニタ手段と、 前記検出用の受光素子に対する前記スポット光の入射光
   強度が前記検出レベルよりも高いレベルに設定された所
   定の受光レベル以上あるときにこれを表示する受光レベ
   ル表示手段とを具備したことを特徴とする光電スイッ
   チ。