JPH0515535U - 光電スイツチ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 光軸調整のうち光軸ずれに対する調整作業を
簡単且つ迅速に実施できるようにする。 【構成】 受光面４ａの受光領域内の縁部近傍に光軸調
整方向に４個のフォトダイオード７ａ〜７ｄを設け、そ
の受光状態により表示部８の発光ダイオード９ａ〜９ｄ
により光軸調整方向を表示する。検出用のフォトダイオ
ード６に入射する光の強度を検出レベルよりも高く設定
した受光レベルと比較して発光ダイオード１０により入
射角ずれに対する表示を行なう。これにより、光軸調整
作業における光軸ずれと入射角ずれの各要素に対して独
立して調整が行なえ、確実且つ迅速に光軸調整が行なえ
る。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

本考案は、投光器から投光されるスポット光をこのスポット光に対応した所定 の受光領域を有する受光器により受け所定の検出レベルと比較して物体を検出す るようにした光電スイッチに関する。

【０００２】

【従来の技術】

この種の光電スイッチにおいては、投光器から発せられるスポット光が受光器 の受光面に適切に投影されるように光軸調整を行なう必要がある。そしてこのよ うな光軸調整のために、従来では、例えば、受光器の検出用受光素子に入射する スポット光の強度に応じてその出力を表示する表示器を設け、作業者はその表示 器を見ながら受光素子への入射強度が所定の受光レベルを超えるように受光器の 位置或は角度を調整するようにしている。

【０００３】 この場合、設定する受光レベルを物体の検出をするための検出レベルよりも高 いレベルとしておくことにより、光軸調整が完了すると、通常の検出状態におけ る投光器からのスポット光の受光状態では、受光素子に十分に検出レベルを超え る光の強度が得られるようにしている。これにより、安定した受光状態が得られ 、確実な検出を行なうことができる。

【０００４】

【考案が解決しようとする課題】

しかしながら、上述のような表示器では、単に検出用受光素子への入射光の強 度を表示するだけであるので、投光器からのスポット光に対して受光面がどの方 向にずれているかという情報が得られない。従って、作業者は表示器を見ながら 受光器を種々の方向に移動調整してみて入射光の強度が最大になる位置を探し出 す必要があり、非常に面倒で時間がかかってしまう不具合がある。

【０００５】 また、このような光学系の光軸調整においては、上述のような光軸ずれに対す る調整を行なっても、スポット光の入射角度がずれていると検出用受光素子への 入射光強度が不足して安定な検出動作が行なえなくなる場合があり、従って、入 射角ずれに対する調整も必要である。

【０００６】 ところが、従来の方法による光軸調整作業においては、入射光強度が受光レベ ルに達していない場合に、それが光軸ずれによるものなのか入射角ずれによるも のなのかが区別できないため、調整の仕方が複雑で面倒になると共に、受光レベ ルのみの表示であるために確実に光軸調整ができているのかがよくわからない状 況であった。

【０００７】 本考案は、上記事情に鑑みてなされたもので、その目的は、投光器からのスポ ット光がどちらにずれているかという情報と、入射角のずれによる入射光強度の 情報について独立して知ることができ、従って、光軸調整作業を光軸ずれ及び入 射角ずれの夫々に対して独立して確実且つ迅速に行なうことができる光電スイッ チを提供するにある。

【０００８】

【課題を解決するための手段】

本考案は、投光器から投光されるスポット光をこのスポット光に対応した所定 の受光領域を有する受光器により受け所定の検出レベルと比較して物体を検出す るようにした光電スイッチを対象としたものであり、前記受光領域内の縁部近傍 で光軸調整方向に夫々配設された複数個の受光素子と、これら複数の受光素子の 受光状態に対応して前記光軸調整方向を表示する複数個の表示部を有する光軸モ ニタ手段と、前記受光器に対する前記スポット光の入射光強度が前記検出レベル よりも高いレベルに設定された所定の受光レベル以上あるときにこれを表示する 受光レベル表示手段とを設けて構成したところに特徴を有する。

【０００９】

【作用】

本考案の光電スイッチによれば、投光器からのスポット光が受光器の受光領域 に投射されると、そのスポット光は受光領域内の縁部近傍で光軸調整方向に夫々 配設された複数の受光素子にも受けられる。このとき、光軸がずれていてスポッ ト光が受光領域の全体に投射されていないときには、その受光状態に応じて表示 部に光軸調整方向を表示する。また、スポット光の受光器への入射角度が適正な 角度からずれている場合には、受光レベル表示手段は所定の受光レベルを超える 入射光強度がないことにより、適正な受光状態である旨の表示がなされない状態 となる。

【００１０】 このような表示状態に対応して、作業者は光軸モニタ手段の表示部により表示 された光軸調整方向に受光器を移動調整すれば、対応する受光素子にもスポット 光が投射されるようになり、即ちすべての受光素子を受光状態とすることができ 、これによりスポット光を受光器の受光面の適切な位置に簡単且つ迅速に調整す ることができる。

【００１１】 次に、この状態で、受光器の受光面を光軸に対して移動しないように保持しな がら、スポット光が適切な入射角で受光器に投影されるように受光器の受光角度 を調整して受光レベル表示手段の表示が行なわれるようにすれば、確実に入射角 ずれに対する適正な調整を行なうことができる。

【００１２】 また、このような光軸モニタ手段及び受光レベル表示手段を常時動作させるこ とにより、検出動作中に光軸ずれや入射角ずれが生じても、それらの表示状態を 目視により確認することができるので簡単且つ迅速に光軸ずれ及び入射角ずれを 調整することができる。

【００１３】

【実施例】

以下、本考案を帯状の検出エリアを有するレーザ式ラインセンサに適用した場 合の一実施例について図面を参照しながら説明する。

【００１４】 全体構成を示す図１において、投光器１の内部には、投光用の半導体レーザ２ 及びコリメータレンズ３が配設されており、この半導体レーザ２から出力される レーザ光はコリメータレンズ３を介して平行光線に変換され、前面部１ａの窓部 を介してスポット光Ｓとして出力されるようになっている。受光器４は投光器１ と対向して配置されるもので、その前面部の受光面４ａに投光器１からのスポッ ト光Ｓが投射される。

【００１５】 受光器４において、受光面４ａの中央部には縦方向に形成された受光スリット ４ｂが設けられ、受光面４ａに投射されたスポット光Ｓは内部に配設された集光 レンズ５を介して検出用のフォトダイオード６に入射するようになっている。こ の場合、スポット光Ｓの受光面４ａに対する投影像は、半導体レーザ２の発光特 性により縦長の楕円形状をなしており、受光面４ａの受光スリット４ｂを含んだ 受光領域を覆うようになっている。

【００１６】 受光器４の受光面４ａには、受光スリット４ｂの周囲に複数個の受光素子たる ４個のフォトダイオード７ａ乃至７ｄが配設されている。この場合、４個のフォ トダイオード７ａ乃至７ｄは、受光スリット４ｂの中心を原点としてＸ方向（横 方向）及びＹ方向（縦方向）で、スポット光Ｓが正規の位置に投射されていると きの受光領域内の縁部近傍に夫々配設されている。

【００１７】 受光器４の上面部には光軸モニタ用の表示部８が配設されている。この表示部 ８は十字状に配置された４個の発光ダイオード９ａ乃至９ｄとその中心に位置す る受光レベル表示手段たる発光ダイオード１０とにより構成される。発光ダイオ ード９ａ乃至９ｄは、夫々フォトダイオード７ａ乃至７ｄに対応しているもので 、光軸の４つの修正方向「Ｌ（左）」，「Ｒ（右）」，「Ｄ（下）」，「Ｕ（上 ）」を示すべく三角形の矢印形状をした窓部を介して発光表示するようになって いる。そして、中心に位置する発光ダイオード１０は、検出用のフォトダイオー ド６の受光レベルを表示するためのもので、所定の受光レベルを超える受光状態 で発光するようになっている。また、受光器４の上面部には出力表示用の発光ダ イオード１１及び感度調整用のボリューム１２等が配設されている。

【００１８】 次に、図２及び図３を参照して電気的構成について述べる。図２には、投光器 １に配設された投光回路１３及び受光器４に配設された受光回路１４の電気的構 成を示している。

【００１９】 投光回路１３において、半導体レーザ２はレーザダイオード２ａ及び出力モニ タ用のフォトダイオード２ｂから構成されており、レーザダイオード２ａの陽極 端子は直流電源端子１５に接続され、陰極端子は出力用トランジスタ１６を介し てアースされている。フォトダイオード２ｂの陰極端子は直流電源端子１５に接 続され、陽極端子は可変抵抗器１７を介してアースされると共に、差動アンプ１ ８の負入力端子に接続されている。

【００２０】 差動アンプ１８の正入力端子は、抵抗１９を介して直流電源端子１５に接続さ れると共に抵抗２０を介してアースされており、抵抗２０の分担電圧が与えられ るようになっている。差動アンプ１８の出力端子は、制御スイッチ２１（例えば アナログスイッチ等からなり、制御端子に与えられる信号に応じてオンオフする ）を介した後トランジスタ１６のベースに接続されると共に抵抗２２を介してア ースされている。

【００２１】 制御回路２３はレーザダイオード２ａの発振を制御するもので、その出力端子 Ａは制御スイッチ２１の制御端子に接続され、出力端子Ｂは差動アンプ１８の正 入力端子をアースレベルに落とす制御スイッチ２４（例えばトランジスタ）に接 続され、出力端子Ｃはレーザ発振状態を発光ダイオード２５ａにより点灯表示す る表示回路２５に接続されている。制御回路２３の入力端子Ｄにはキースイッチ 装置２６が接続され、入力端子Ｅはリモートインタロック端子Ｉに接続され、入 力端子Ｆには同期信号端子ＳＳが接続されている。

【００２２】 この場合、制御回路２３はキースイッチ装置２６から「Ｈ」レベルのオン信号 が与えられると共に同期信号端子ＳＳから同期信号Ｖｓが与えられると、これに 同期して制御スイッチ２１オン・オフすると共に制御スイッチ２４をオフ・オン するように制御を行なってレーザダイオード２ａをパルス点灯させる。そして、 リモートインタロック端子Ｉから「Ｈ」レベルの信号が与えられるとレーザダイ オード２ａの発振を停止するようになっている。

【００２３】 次に、受光回路１４において、検出用フォトダイオード６の陽極端子はアース され、陰極端子は抵抗２７を介して直流電源端子１５に接続されると共に直流阻 止用のコンデンサ２８を介して第１アンプ２９の入力端子に接続されている。第 １アンプ２９の出力端子は、第２アンプ３０を介して積分回路３１の入力端子に 接続されると共に、受光レベル表示手段を構成する比較器３２の一方の入力端子 に接続されている。積分回路３１の出力端子はバッファ回路３３を介してアナロ グ出力端子ＶＡに接続されている。同期信号を発生するパルス発生器３４はタイ ミング発生回路３５を介して積分回路３１の制御入力端子に接続されると共に、 同期信号出力端子ＳＶに接続されている。この同期信号出力端子ＳＶは投光回路 １３の同期信号入力端子ＳＳに接続されている。

【００２４】 比較器３２の他方の入力端子は基準電圧を発生する基準電圧発生回路３６に接 続され、比較器３２の出力端子は受光レベル表示用の発光ダイオード１０を介し て直流電源端子１５に接続されている。基準電圧発生回路３６の他方の出力端子 は可変抵抗器３７を介してアースされている。検出出力用の比較器３８の反転入 力端子は可変抵抗器３７の可変出力端子に接続され、非反転入力端子はバッファ 回路３３の出力端子に接続されている。比較器３８の出力端子は出力表示用の発 光ダイオード１１を介してｎｐｎ形トランジスタ３９のベースに接続されている 。トランジスタ３９のコレクタは比較出力端子ＶＣに接続され、エミッタはアー スされている。

【００２５】 さて、光軸調整用の４個のフォトダイオード７ａ乃至７ｄは、夫々光軸モニタ 手段たる４個のモニタ回路４０に接続されている。そして、４個のモニタ回路４ ０の夫々の出力端子には表示部８を構成する４個の発光ダイオード９ａ乃至９ｄ に接続されている。また、４個のモニタ回路４０には夫々にパルス発生器３４が 接続されており、同期信号Ｖｓが与えられるようになっている。

【００２６】 図３はモニタ回路４０の電気的構成を示すもので、フォトダイオード７ａ（他 のフォトダイオード７ｂ乃至７ｄについても全く同様である）の陰極端子は抵抗 ４１を介して直流電源端子１５に接続されると共にコンデンサ４２を介してアー スされている。フォトダイオード７ａの陽極端子は抵抗４３を介してアースされ ると共にコンデンサ４４を介して比較器４５の非反転入力端子に接続されている 。比較器４５の非反転入力端子はバイアス電源４６にも接続され、反転入力端子 は比較基準電源４７に接続されている。発光ダイオード９ａ（他の発光ダイオー ド９ｂ乃至９ｄについても全く同様である）の陽極端子はアナログスイッチ４８ を介して直流電源端子１５に接続され、陰極端子は比較器４５の出力端子に接続 されている。アナログスイッチ４８のゲートは上述したようにパルス発生器３４ に接続されている。

【００２７】 次に、本実施例の作用について図４乃至図７をも参照して説明する。

【００２８】 まず、検出作用の概略について説明する。即ち、投光回路１３において、電源 が投入されると共にキースイッチ装置２６のキースイッチがオンされると（リモ ートインタロック端子Ｉは「Ｌ」レベルの入力状態となっている）、制御回路２ ３はレーザダイオード２ａの点灯制御を行なう。この場合、制御回路２３は、受 光回路１４のパルス発生器３４から与えられる所定周期の同期信号Ｖｓに応じて 制御スイッチ２１をオン・オフすると共に制御スイッチ２４をオフ・オンするよ うに制御する。これにより、トランジスタ１６は差動アンプ１８の差動出力に応 じたベース電流でオンオフされ、レーザダイオード２ａは適切な電流が断続的に 流れてパルス点灯するようになる。

【００２９】 このとき、モニタ用のフォトダイオード２ｂはレーザダイオード２ａの発光出 力をモニタし、差動アンプ１８によりそのモニタ出力の基準電圧に対する差を求 めてレーザダイオード２ａの通電電流を制御しており、これによりレーザダイオ ード２ａがその特性上温度変化に対して発光強度が大きく変動するのを一定の発 光出力となるように制御している。

【００３０】 また、制御回路２３は、このようにレーザダイオード２ａに通電してパルス点 灯をしているときには、出力端子Ｃから「Ｈ」レベルの信号を出力して点灯状態 を表示する発光ダイオード２５を通電点灯するようになっている。

【００３１】 さて、このようにしてレーザダイオード２ａから出力されたレーザ光はコリメ ータレンズ３を介して平行光線に変換され、投影像が縦長の楕円形状をなすスポ ット光Ｓとして受光器４の受光面４ａに投射される。

【００３２】 受光器４において、スポット光Ｓは受光スリット４ｂを介して内部に入射する と、集光レンズ５により集光されてフォトダイオード６に受けられる。この場合 、受光スリット４ｂは縦方向に形成されているので、実質的にはスポット光Ｓは 、投影像が楕円形となっていても受光スリット４ｂの形状に対応する帯状の光軸 部分が検出範囲となり、後述するように、この帯状の光軸部分を遮る物体を検出 することになる。

【００３３】 さて、受光回路１４においては、パルス点灯によるスポット光Ｓを受けてフォ トダイオード６に受光電流が流れると、その受光による変化成分がコンデンサ２ ８を介して第１アンプ２９に与えられ、この第１アンプ２９により増幅されて第 ２アンプ３０に入力される。この第２アンプ３０は可変抵抗器３０ａにより増幅 度の調整が行えるようになっており、検出レベルを変更することができる。

【００３４】 積分回路３１は、第２アンプ３０から出力が与えられると、パルス発生器３４ からタイミング発生回路３５を介して与えられるタイミング信号に応じて積分し た出力をバッファ回路３３を介してアナログ出力端子ＶＡに出力する。この場合 、前述のように検出範囲が帯状をなす光軸部分であり、物体によって検出範囲を 遮る幅が異なると、物体により遮光された幅に応じてフォトダイオード６に入射 する光の強度が変化するので、アナログ出力端子ＶＡに現れる出力電圧Ｖａの大 きさが異なる。つまり、アナログの出力電圧Ｖａの大きさに応じて検出物の遮光 幅まで判定することができるのである。

【００３５】 バッファ回路３３からの出力電圧Ｖａは比較器３８にも入力されており、その 入力電圧が予め基準電圧発生回路３６から与えられている比較基準電圧よりも大 きい場合に、比較器３８は「Ｈ」レベルの信号を出力する。これにより、検出表 示用の発光ダイオード１１に通電点灯すると共にトランジスタ３９をオンさせて 比較出力端子ＶＣの出力をオープン状態から「Ｌ」レベルに反転して検出状態を 示す信号として出力する。

【００３６】 さて、上述のような検出動作を行なう場合に、スポット光Ｓは図５（ａ）に示 すように受光器４の受光面４ａに正しく投影されていることが必要である。即ち 、例えば、図５（ｃ）に示すように、スポット光Ｓが受光器４の受光面４ａに投 影されていない光軸ずれの場合や、或は同図（ｂ）に示すように受光面４ａには 投影されているが、入射角ずれを起こしているためにフォトダイオード６への入 射強度が所定以上ない場合等には安定した検出動作が行なえないので、受光器４ の設置位置を正しい位置に修正する必要があり、以下にその光軸調整について説 明する。

【００３７】 （１）光軸ずれの調整 いま、受光器４の設置位置が、図４（ｂ）に示すようにスポット光Ｓに対して 上方にずれている場合を例にとって述べる。この場合には、受光スリット４ｂの 周りに配設されたフォトダイオード７ａ乃至７ｄのうち上側にあるフォトダイオ ード７ｃにはスポット光Ｓが投影されない状態となっている。

【００３８】 この状態で、フォトダイオード７ａ，７ｂ，７ｄが接続されたモニタ回路４０ においては、スポット光Ｓの入射によりフォトダイオード７ａ，７ｂ，７ｄに電 流が流れると、この受光電流により発生する電圧信号はコンデンサ４４を介して 比較器４５に入力される。このとき、比較器４５にはバイアス電源４６によるバ イアス電圧ＶＢを加えた電圧（図６（ａ）参照）が与えられる。

【００３９】 フォトダイオード７ａ，７ｂ，７ｄにスポット光Ｓが確実に投影され、実質的 に受光状態にあるときには、比較器４５に入力される電圧は比較基準電源４７か ら与えられている比較基準電圧Ｖｔｈよりも大きくなるので、比較器４５は「Ｈ 」レベルの信号を出力する。従って、同期信号Ｖｓ（図６（ｂ）参照）がアナロ グスイッチ４８に与えられた場合でも、発光ダイオード９ａ，９ｂ，９ｄには電 流が流れないので発光しない（図６（ｃ）参照）。つまり、スポット光Ｓを受光 しているフォトダイオード７ａ，７ｂ，７ｄに対応する発光ダイオード９ａ，９ ｂ，９ｄは「点灯」しないのである。

【００４０】 一方、スポット光Ｓを受光していないフォトダイオード７ｃは受光電流が流れ ないので、そのモニタ回路４０における比較器４５の入力端子にはバイアス電圧 ＶＢのみとなる。この場合には、比較基準電圧Ｖｔｈよりも低いので、比較器４ ５は「Ｌ」レベルの出力状態となる。そして、この状態で、アナログスイッチ４ ８に同期信号が与えられると、そのタイミングで発光ダイオード９ｃに通電され てアナログスイッチ４８がオンしている期間中発光する。そして、このような非 受光状態が継続すると、発光ダイオード９ｃは同期信号が入力する度に通電され るので断続的に発光するようになり、「点灯」状態として視認できるパルス点灯 状態となる。

【００４１】 尚、上述のようにフォトダイオード７ｃに全く入射光がない場合に加えて、フ ォトダイオード６に僅かに光が入射するのみで比較器４５に対する入力信号のレ ベルとしては図６（ａ）に示すような比較基準電圧Ｖｔｈに達しない場合も含め て実質的な非受光状態であるとし、発光ダイオード９ｃをパルス点灯状態とする ようにしている。

【００４２】 この発光ダイオード９ｃによるパルス点灯状態では、図４（ｂ）に示すように 、「Ｄ（下）」方向を示す矢印の点灯表示状態となり、これにより、受光器４の 光軸調整方向が下方であることが示される。つまり、スポット光Ｓの光軸が下方 にずれているので、受光器４を下方に移動するように調整すれば良いことを表示 しているのである。

【００４３】 次に、上記の表示に従って下方に受光器４を移動調整してゆくと、フォトダイ オード７ｃにもスポット光Ｓが入射するようになり、モニタ回路４０は発光ダイ オード９ｃをパルス点灯状態から消灯状態にする。この結果、全ての発光ダイオ ード９ａ乃至９ｄが消灯状態となる。つまり、このように全ての発光ダイオード ９ａ乃至９ｄが消灯状態になって光軸調整方向の表示がなくなると、図４（ａ） に示すように、スポット光Ｓが受光面４ａの正しい位置に投影されている状態が 得られるのである。

【００４４】 尚、上述と異なり、受光器４の受光面４ａに対してスポット光Ｓが上方，左方 ，右方或は下方を含めてこれらの組み合わせ方向にずれている場合には、夫々に 対応した光軸調整方向を示す発光ダイオード９ａ乃至９ｄがパルス点灯状態とな り、受光器４の調整方向を表示するようになるので、作業者はその表示部８を視 認しながら簡単に光軸を調整することができる。

【００４５】 また、モニタ回路４０において、バイアス電圧ＶＢを加算してレベルを上げた 状態の信号を比較器４５に入力して比較を行なうのは、コンデンサ４４を介して 入力される信号が交流成分のみであり、ノイズに対する誤検出が発生するのを防 止するためである。

【００４６】 （２）入射角ずれの調整 上述のようにして光軸ずれが調整された状態であっても、先に述べたように、 図４（ｂ）に示す如く入射角がずれていると、検出用のフォトダイオード６への スポット光Ｓの入射が不十分となるため、安定した検出状態が得られなくなる。 そこで、次のようにしてスポット光Ｓの入射強度のレベルをチェックして入射角 ずれを調整する。

【００４７】 即ち、安定した検出を行なうためには、比較器３８に設定された基準電圧発生 器３６による検出レベルよりも高いレベルの入射光強度が必要であるので、フォ トダイオード６に入射された光の強度を比較器３２においてそのレベルを判定す るようになっている。比較器３２には検出レベルよりも高く設定された受光レベ ルを示す基準電圧が基準電圧発生器３６から与えられており（図７参照）、その 受光レベルを超えると「Ｌ」レベルの信号を出力して発光ダイオード１０に通電 して発光させるようになっている。そして、このときスポット光Ｓによる受光信 号はパルス点灯に応じたタイミングで与えられるので、発光ダイオード１０は断 続的に発光するパルス点灯状態となって「点灯」状態の表示を行なう。

【００４８】 上述と異なり、入射角がずれている場合にはスポット光Ｓによるフォトダイオ ード６への入射光の強度が不足するため、比較器３２の出力は「Ｈ」レベルとな り、発光ダイオード１０は消灯状態となる。この場合には、受光面４ａの位置を ずらさないようにして入射角を適宜変化させ、発光ダイオード１０が「点灯」状 態となるまで調整をして最適な受光状態を得るようにする。これにより、発光ダ イオード１０が「点灯」状態になれば、十分な入射光強度が得られることになっ て安定な検出状態とすることができる。

【００４９】 このような本実施例によれば、受光器４の受光面４ａに配設されたフォトダイ オード７ａ乃至７ｄにより投光器１からのスポット光Ｓを受け、非受光状態であ るときに表示部８の発光ダイオード９ａ乃至９ｄにより光軸調整方向を指示する ように点灯させるので、簡単且つ迅速にスポット光Ｓを受光面４ａの正しい位置 に調整することができる。

【００５０】 また、検出用のフォトダイオード６により受けた受光信号のレベルを比較器３ ２により比較して、受光レベルを設定する基準電圧発生器３６からの基準電圧を 超えているときに発光ダイオード１０を点灯表示させるようにしたので、上述の 光軸ずれに対する調整をした後に、スポット光Ｓの入射角ずれに対する調整のみ を独立して行なうことができ、確実に入射角ずれに対する調整を行なうことがで きる。

【００５１】 尚、上記実施例においては、複数個の受光素子として４個のフォトダイオード を使用したが、これに限らず、例えば８個用いて８方向に対して表示するように しても良いし、或は２方向のみの場合には２個だけ用いるようにしても良い。

【００５２】 また、上記実施例においては、受光レベル表示手段として発光ダイオード１０ を用いる構成としたが、これに限らず、例えば、入射光強度をアナログ的に表示 するレベルインジケータ等を用いて受光レベルを表示するようにしても良い。

【００５３】

【考案の効果】

以上説明したように、本考案の光電スイッチによれば、受光器の受光領域内の 縁部近傍に光軸調整方向に配設した複数個の受光素子により投光器からのスポッ ト光を受け、それらの受光状態に応じて光軸モニタ手段により、光軸調整方向を 表示すると共に、受光レベル表示手段により、スポット光の入射光強度が受光レ ベルを超えたか否かを表示するようにしたので、受光器に対するスポット光の光 軸ずれ及び入射角ずれを夫々独立して認識することができ、光軸調整作業にあた っては光軸ずれを調整した後に入射角ずれを調整すれば、確実に光軸調整が行な うことができ、しかも、簡単且つ迅速に行なうことができるという優れた効果を 奏する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本考案の一実施例を示す全体構成の斜視図

【図２】全体の電気的構成図

【図３】モニタ回路の電気的構成図

【図４】光軸調整の作用説明図

【図５】光軸と受光器の位置関係を示す図

【図６】各部の信号波形説明図

【図７】受光レベル及び検出レベルの説明図

【符号の説明】

１は投光器、２は半導体レーザ、２ａはレーザダイオー
ド、３はコリメータレンズ、４は受光器、４ｂは受光ス
リット、５は集光レンズ、６はフォトダイオード、７ａ
〜７ｄはフォトダイオード（受光素子）、８は表示部、
９ａ〜９ｄは光軸調整方向表示用の発光ダイオード、１
０は受光レベル表示用の発光ダイオード（受光レベル表
示手段），１１は出力表示用の発光ダイオード、１３は
投光回路、１４は受光回路、１８は差動アンプ、２１は
制御スイッチ、２３は制御回路、２６はキースイッチ装
置、３１は積分回路、３４はパルス発生器、３５はタイ
ミング発生回路、４０はモニタ回路（光軸モニタ手
段）、４５は比較器、４６はバイアス電源、４７は比較
基準電源、４８はアナログスイッチである。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 投光器から投光されるスポット光をこの
   スポット光に対応した所定の受光領域を有する受光器に
   より受け所定の検出レベルと比較して物体を検出するよ
   うにした光電スイッチにおいて、前記受光領域内の縁部
   近傍で光軸調整方向に夫々配設された複数個の受光素子
   と、これら複数の受光素子の受光状態に対応して前記光
   軸調整方向を表示する複数個の表示部を有する光軸モニ
   タ手段と、前記受光器に対する前記スポット光の入射光
   強度が前記検出レベルよりも高いレベルに設定された所
   定の受光レベル以上あるときにこれを表示する受光レベ
   ル表示手段とを具備したことを特徴とする光電スイッ
   チ。