JP2555044Y2 - Ｌｓｉテスタ - Google Patents
ＬｓｉテスタInfo
- Publication number
- JP2555044Y2 JP2555044Y2 JP1991038566U JP3856691U JP2555044Y2 JP 2555044 Y2 JP2555044 Y2 JP 2555044Y2 JP 1991038566 U JP1991038566 U JP 1991038566U JP 3856691 U JP3856691 U JP 3856691U JP 2555044 Y2 JP2555044 Y2 JP 2555044Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- tester
- panel
- main body
- test head
- opened
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本考案は、テスタ本体とテストヘ
ッド間の信号ケ−ブルの接続に改良を加えたＬＳＩテス
タに関する。
ッド間の信号ケ−ブルの接続に改良を加えたＬＳＩテス
タに関する。
【０００２】
【従来の技術】ＬＳＩテスタは、テストのための各種の
信号を被検査対象デバイス（以下、ＤＵＴと省略する）
に加え、その結果ＤＵＴから出力される信号を各測定モ
ジュ−ルに導入してＤＵＴの品質を検査する装置であ
る。このため、ＬＳＩテスタは、ＤＵＴの各ピンと各種
の信号を授受できるようにテスタ本体のモジュ−ルから
引き出した信号ケ−ブルを一旦テストヘッドで振り分け
て配線し、このテストヘッドを介してＤＵＴに接続され
ている。
信号を被検査対象デバイス（以下、ＤＵＴと省略する）
に加え、その結果ＤＵＴから出力される信号を各測定モ
ジュ−ルに導入してＤＵＴの品質を検査する装置であ
る。このため、ＬＳＩテスタは、ＤＵＴの各ピンと各種
の信号を授受できるようにテスタ本体のモジュ−ルから
引き出した信号ケ−ブルを一旦テストヘッドで振り分け
て配線し、このテストヘッドを介してＤＵＴに接続され
ている。
【０００３】
【考案が解決しようとする課題】このような従来のＬＳ
Ｉテスタは、信号ケ−ブルの配線の振り分けがテストヘ
ッド内で行われているために、次のような欠点を有して
いた。 (1) 信号ケ−ブルの配線を一本ずつ振り分けてテストヘ
ッドに接続するために、接続作業に多大な工数が必要に
なる。 (2) テストヘッド内で信号ケ−ブルがタコ足配線になる
ために、ケ−ブルの収納性が悪い。 (3) 信号ケ−ブル内の配線に一本でも断線が生じると、
配線がタコ足配線されているために信号ケ−ブルの交換
が大変で、メンテナンス性が悪い。
Ｉテスタは、信号ケ−ブルの配線の振り分けがテストヘ
ッド内で行われているために、次のような欠点を有して
いた。 (1) 信号ケ−ブルの配線を一本ずつ振り分けてテストヘ
ッドに接続するために、接続作業に多大な工数が必要に
なる。 (2) テストヘッド内で信号ケ−ブルがタコ足配線になる
ために、ケ−ブルの収納性が悪い。 (3) 信号ケ−ブル内の配線に一本でも断線が生じると、
配線がタコ足配線されているために信号ケ−ブルの交換
が大変で、メンテナンス性が悪い。
【０００４】本考案は、このような点に鑑みてなされた
もので、テスタ本体とテストヘッド間の信号ケ−ブルの
接続を振り分け作業を行わないでできるようにしたもの
で、信号ケ−ブルの接続作業の簡略化とメンテナンス性
の良いＬＳＩテスタを提供することを目的とする。
もので、テスタ本体とテストヘッド間の信号ケ−ブルの
接続を振り分け作業を行わないでできるようにしたもの
で、信号ケ−ブルの接続作業の簡略化とメンテナンス性
の良いＬＳＩテスタを提供することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために、本考案は、被測定対象デバイスを検査する検
査信号をテストヘッドを介してテスタ本体と検査対象デ
バイスとの間で授受するＬＳＩテスタにおいて、前記テ
スタ本体の前面に一側がヒンジを介して開閉可能に取り
付けられ、開閉された内部側の面が上方に向けられて開
かれるパネルと、前記内面側に設けられていて、前記テ
スタ本体と前記テストヘッドとから導出されるケーブル
をコネクタに接続すると共に、このコネクタを介して入
出する前記テスタ本体と前記テストヘッドとの信号を編
集するプリント基板と、を設けたことを特徴としてい
る。
るために、本考案は、被測定対象デバイスを検査する検
査信号をテストヘッドを介してテスタ本体と検査対象デ
バイスとの間で授受するＬＳＩテスタにおいて、前記テ
スタ本体の前面に一側がヒンジを介して開閉可能に取り
付けられ、開閉された内部側の面が上方に向けられて開
かれるパネルと、前記内面側に設けられていて、前記テ
スタ本体と前記テストヘッドとから導出されるケーブル
をコネクタに接続すると共に、このコネクタを介して入
出する前記テスタ本体と前記テストヘッドとの信号を編
集するプリント基板と、を設けたことを特徴としてい
る。
【０００６】
【作用】本考案の各構成要素は、次に示すような作用を
する。パネルは、テスタ本体の前面にヒンジを介して開
閉可能に取り付けられている。 プリント基板は、パネ
ルの背面に設けられていて、モジュ−ルの信号ケ−ブル
から入力される信号を編集し、信号ケ−ブルを介してテ
ストヘッドに接続する。
する。パネルは、テスタ本体の前面にヒンジを介して開
閉可能に取り付けられている。 プリント基板は、パネ
ルの背面に設けられていて、モジュ−ルの信号ケ−ブル
から入力される信号を編集し、信号ケ−ブルを介してテ
ストヘッドに接続する。
【０００７】
【実施例】以下図面を用いて、本考案の一実施例を説明
する。図１は、本考案の一実施例を示すＬＳＩテスタの
テスタ本体部の要部正面図である。図２は、パネルが開
かれた状態の要部の側断面図、図３はパネルが閉じられ
た状態の要部の側断面図である。図中、１０は箱形のテ
スタ本体で、数段にネスト１１が設けられていて、各ネ
スト１１には複数のモジュ−ル１２が挿入並設されてい
る。２０はパネルで、ヒンジ２１を中心にＹ−Ｙ´方向
に開閉できるようになっていて、背面にはプリント基板
２２（以下、マ−シャリングボ−ドと呼ぶ）が絶縁部材
を介して取り付けられている。
する。図１は、本考案の一実施例を示すＬＳＩテスタの
テスタ本体部の要部正面図である。図２は、パネルが開
かれた状態の要部の側断面図、図３はパネルが閉じられ
た状態の要部の側断面図である。図中、１０は箱形のテ
スタ本体で、数段にネスト１１が設けられていて、各ネ
スト１１には複数のモジュ−ル１２が挿入並設されてい
る。２０はパネルで、ヒンジ２１を中心にＹ−Ｙ´方向
に開閉できるようになっていて、背面にはプリント基板
２２（以下、マ−シャリングボ−ドと呼ぶ）が絶縁部材
を介して取り付けられている。
【０００８】マ−シャリングボ−ド２２は、複数枚が２
段になって設けられていて、テスタ本体１０のモジュ−
ル１２から導出された信号ケ−ブル１３が接続されてい
る。信号ケ−ブル１３は、両端に多ピンのコネクタ１３
ａ、ｂが設けられていて、このコネクタ１３ａ，ｂを介
してモジュ−ル１２とマ−シャリングボ−ド２２を接続
している。マ−シャリングボ−ド２２に接続された信号
ケ−ブル１３は、マ−シャリングボ−ド２２で編集さ
れ、両端にコネクタ１４ａ有した信号ケ−ブル１４を介
してテストヘッド（図省略）のマザ−ボ−ドに接続され
る。
段になって設けられていて、テスタ本体１０のモジュ−
ル１２から導出された信号ケ−ブル１３が接続されてい
る。信号ケ−ブル１３は、両端に多ピンのコネクタ１３
ａ、ｂが設けられていて、このコネクタ１３ａ，ｂを介
してモジュ−ル１２とマ−シャリングボ−ド２２を接続
している。マ−シャリングボ−ド２２に接続された信号
ケ−ブル１３は、マ−シャリングボ−ド２２で編集さ
れ、両端にコネクタ１４ａ有した信号ケ−ブル１４を介
してテストヘッド（図省略）のマザ−ボ−ドに接続され
る。
【０００９】このように、本考案のＬＳＩテスタは、モ
ジュ−ル１２とマ−シャリングボ−ド２２間をコネクタ
付きの信号ケ−ブル１３で接続し、更にマ−シャリング
ボ−ド２２とテストヘッド間をコネクタ付きのケ−ブル
１４で接続するため、接続が簡単である。
ジュ−ル１２とマ−シャリングボ−ド２２間をコネクタ
付きの信号ケ−ブル１３で接続し、更にマ−シャリング
ボ−ド２２とテストヘッド間をコネクタ付きのケ−ブル
１４で接続するため、接続が簡単である。
【００１０】ケ−ブル１３、１４の接続は、パネル２０
をヒンジ２１を中心にＹ´方向に回転して開き、チェ−
ン２５によってパネル２０を水平に保持した状態におい
て行う。チェ−ン２５は、長さが調整できるようになっ
ていて、長さを変えることでパネル２０の開口度を自由
に変えることができる。２６はパネル２０を閉じたとき
にテスタ本体１０にパネル２０を固定する固定螺子で、
パネル２０から脱落しないようにパネル２０に一体にな
って構成されている。
をヒンジ２１を中心にＹ´方向に回転して開き、チェ−
ン２５によってパネル２０を水平に保持した状態におい
て行う。チェ−ン２５は、長さが調整できるようになっ
ていて、長さを変えることでパネル２０の開口度を自由
に変えることができる。２６はパネル２０を閉じたとき
にテスタ本体１０にパネル２０を固定する固定螺子で、
パネル２０から脱落しないようにパネル２０に一体にな
って構成されている。
【００１１】
【考案の効果】以上、詳細に説明したように、本考案の
ＬＳＩテスタは、テスタ本体とテストヘッドとから導出
されるケーブルを、ヒンジを介して開閉可能に取り付け
られたパネルの内面側に設けられているプリント基板上
のコネクタを介して接続し、入出した信号の配線関係を
プリント基板で編集するにしているために、以下のよう
な効果を有する。 ケーブルの接続作業が簡単に行える。 パネルが閉じられると、ケーブルがテスタ本体に収納
されるので、収納性が良い。 配線がタコ足配線されていないので、メンテナンスを
簡単に行える。
ＬＳＩテスタは、テスタ本体とテストヘッドとから導出
されるケーブルを、ヒンジを介して開閉可能に取り付け
られたパネルの内面側に設けられているプリント基板上
のコネクタを介して接続し、入出した信号の配線関係を
プリント基板で編集するにしているために、以下のよう
な効果を有する。 ケーブルの接続作業が簡単に行える。 パネルが閉じられると、ケーブルがテスタ本体に収納
されるので、収納性が良い。 配線がタコ足配線されていないので、メンテナンスを
簡単に行える。
【図１】本考案の一実施例を示すＬＳＩテスタのテスタ
本体部の要部正面図である。
本体部の要部正面図である。
【図２】パネルが開かれた状態の要部の側断面図であ
る。
る。
【図３】パネルが閉じられた状態の要部の側断面図であ
る。
る。
１０ テスタ本体 １２ モジュ−ル １３、１４ 信号ケ−ブル ２０ パネル ２２ マ−シャリングボ−ド
Claims (1)
- 【請求項１】被測定対象デバイスを検査する検査信号を
テストヘッドを介してテスタ本体と検査対象デバイスと
の間で授受するＬＳＩテスタにおいて、 前記テスタ本体の前面に一側がヒンジを介して開閉可能
に取り付けられ、開閉された内部側の面が上方に向けら
れて開かれるパネルと、 前記内面側に設けられていて、前記テスタ本体と前記テ
ストヘッドとから導出されるケーブルをコネクタに接続
すると共に、このコネクタを介して入出する前記テスタ
本体と前記テストヘッドとの信号を編集するプリント基
板と、 を設けたことを特徴としたＬＳＩテスタ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1991038566U JP2555044Y2 (ja) | 1991-05-28 | 1991-05-28 | Ｌｓｉテスタ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1991038566U JP2555044Y2 (ja) | 1991-05-28 | 1991-05-28 | Ｌｓｉテスタ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04131786U JPH04131786U (ja) | 1992-12-04 |
| JP2555044Y2 true JP2555044Y2 (ja) | 1997-11-19 |
Family
ID=31920039
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1991038566U Expired - Lifetime JP2555044Y2 (ja) | 1991-05-28 | 1991-05-28 | Ｌｓｉテスタ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2555044Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1751828A4 (en) * | 2004-03-17 | 2008-03-19 | Qualitau Inc | ELECTRICAL CONNECTOR FOR A SEMICONDUCTOR COMPONENT TEST SENSOR AND TEST ASSEMBLY |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51144116U (ja) * | 1975-05-14 | 1976-11-19 | ||
| JPS6260095U (ja) * | 1985-10-01 | 1987-04-14 | ||
| JPH0648940Y2 (ja) * | 1989-04-06 | 1994-12-12 | 東京通信ネットワーク株式会社 | 電子機器の筐体構造 |
-
1991
- 1991-05-28 JP JP1991038566U patent/JP2555044Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04131786U (ja) | 1992-12-04 |
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