JP2549391Y2 - Icハンドラーのトレイ支持構造 - Google Patents

Icハンドラーのトレイ支持構造

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JP2549391Y2
JP2549391Y2 JP1992026838U JP2683892U JP2549391Y2 JP 2549391 Y2 JP2549391 Y2 JP 2549391Y2 JP 1992026838 U JP1992026838 U JP 1992026838U JP 2683892 U JP2683892 U JP 2683892U JP 2549391 Y2 JP2549391 Y2 JP 2549391Y2
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貢 栗原
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株式会社ダイトー
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Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本考案は、ICハンドラーおいて
ICの供給収納に用いられるトレイの支持構造に関す
る。
【0002】
【従来の技術】ICハンドラーは、量産されたICを高
温または低温状態にして順次データを測定し、良品と不
良品、さらにはデータに応じた分類を自動的に行なう装
置である。この種のハンドラーは、ICを供給するロー
ダ部、ICを搬送する搬送部、ICのデータを測定する
測定部、測定後のICが戻ってくる搬送部、ICをデー
タ別に分類収納するアンローダ部に大別される。このう
ちローダ部には、図3に示すように上方にトレイ供給口
31、下方に支持台32と空トレイストッカ33、中間
にローダハンド34とウォーキングビーム35が設置さ
れている。従って、ICの入ったトレイ36が1枚ずつ
支持台32に落下すると、ローダハンド34が中のIC
を順次ウォーキングビーム35に載置し、空になったト
レイはストッカ33まで下降し、上方から次のトレイ3
6が降りてくる。また、アンローダ部には、上方に空ト
レイ供給口37、下方に支持台38とストッカ39、中
間にアンローダハンド40とウォーキングビーム41が
設置されている。従って、空トレイ供給口37から支持
台38上に空のトレイ36’が1枚ずつ落下すると、ウ
ォーキングビーム41から戻ってきたICをアンローダ
ハンド40が順にトレイ36’に収納し、満杯になった
トレイはストッカ39まで下降し、上方から次のトレイ
36が降りてくる。また、実開平2−129878号の
ようにウォーキングビーム41の右側に収納トレイ3
6”を配置するハンドラーもある。ローダ側のウォーキ
ングビーム35で測定部に送られたICは、検査ステー
ジでデータを測定された後、不良品はサイドの不良品ボ
ックス42(図1参照)へ送られ、良品のみがウォーキ
ングビーム41でアンローダ部まで搬送される。
【0003】
【考案が解決しようとする課題】しかし、従来のハンド
ラーにあっては、各支持台上にトレイの供給口31,3
7が設置されているので、ハンドラーの高さHがかなり
大きくなる欠点がある。ICの供給搬送状態をチェック
する上でローダハンド34やトレイ36の高さは作業員
が操作し易い位置に設定されるので、トレイの供給口は
どうしてもこれより高くなり、ハンドラーの背丈が大き
くなるのみならず、女性や小柄な作業員にとってトレイ
の詰め替え等が大変になるのである。また、不良品ボッ
クス42が測定部の横に突出しているので、よけいなス
ペースを必要とし、さらに見栄え上の問題も生ずる。
【0004】本考案は、かかる事情に鑑みてなされたも
のであり、その目的は、ローダ部及びアンローダ部の高
さを抑制できると共に不良品ボックスを排除し得るIC
ハンドラーのトレイ支持構造を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本考案のトレイ支持構造は、ローダ部に上下動可能
に設置され積み重ねられたIC供給トレイが載置される
支持台と、アンローダ部に上下動可能に設置され支持
台及び分類ストッカと、支持台上に積み重ねられ良品の
ICを受容するIC収納トレイと、分類ストッカ上に載
置され不良品やデータの異なるICを受容するIC収納
トレイと、各支持台の上方に横移動可能に配置されたト
レイハンドとを備えている。
【0006】
【作用】これらの構成により、供給トレイは積み重ね状
態で順に上昇し、ICがなくなるとトレイハンドでアン
ローダ部の支持台に移送され、測定後のICが空のトレ
イに収納されて満杯になると支持台が1枚ずつ下降し、
その上に空のトレイが載置される。また、不良品やデー
タの異なるICは、分類ストッカのトレイに収納され
る。
【0007】
【実施例】図1及び図2は、各々本考案のトレイ支持構
造が適用されたICハンドラーの簡略平面図及び正面図
で、このハンドラーは、ローダ部1、搬送部2、測定部
3、戻り搬送部4、アンローダ部5に大別される。
【0008】ローダ部1には、供給トレイ6を載置する
支持台7、下方にトレイの自動センタリング機構、支持
台7の上方にトレイハンド8とローダハンド9が設置さ
れている。供給トレイ6は、多数のICを受容した状態
で支持台7に複数積み重ねられている。支持台7は、4
辺に対向して切欠き10aと溝10bが形成され、下方
のパルスモータ(図示せず)によりポスト11に沿って
上下動可能となっている。自動センタリング機構は、ト
レイ6の両側を把持するX方向のチャックガイド12
と、トレイ6の前後側を把持するY方向の一対のチャッ
クガイド13に分かれ、図示してないが下方のエアシリ
ンダと歯車機構によってトレイ6を正規の位置にチャッ
クするようになっている。
【0009】トレイハンド8は、図2に示すように空に
なったトレイ6をアンローダ5側に移送するもので、こ
の実施例ではエアシリンダ(図示省略)により開閉動
作、モータで横移動する。ローダハンド9は、供給トレ
イ6内の各ICを2個ずつ吸着して搬送部3のウォーキ
ングビーム14に載置すると共にトレイ6上のICの有
無をもバキュームチェックする。このためトレイ6のI
C収納箇所には各々小孔(図示せず)が形成されてお
り、ICがない場合にローダハンド9がこれを検出でき
るようになっている。
【0010】搬送部2には、ウォーキングビーム14と
予熱ヒータ15が設置されている。ウォーキングビーム
14は、載置された多数のICを所定ピッチで測定部3
側へ搬送するもので、図示しないパルスモータにより上
昇、前進、下降、後退のサイクルで動作する。予熱ヒー
タ15は、ウォーキングビーム14の途中に配置され、
高温試験時にビーム上のICを予熱する。
【0011】測定部3には、コンタクトブロック16、
検査ステージ17及び取り出しハンド18が配置されて
いる。コンタクトブロック16は、従来の吸着ハンドと
ヒートブロックを一体化したもので、下端にバキューム
方式の吸着孔、内部にIC加熱用ヒータが組み込まれて
いる。検査ステージ17には、2個のソケット19が並
設され、その下方にICのデータを測定するテスタ(図
示せず)が設置されている。取り出しハンド18も吸着
式で測定後のICを戻り側のウォーキングビーム20に
移送し、コンタクトブロック16と一体に動作するよう
になっている。
【0012】搬送部4には、戻り用のウォーキングビー
ム20がアンローダ側に向かって設置され、これはIC
の送り方向が逆になるだけで構造的にはウォーキングビ
ーム14とほぼ同じである。
【0013】アンローダ部5には、アンローダハンド2
1、支持台7’及び自動センタリング機構、分類ストッ
カ22が設置されている。アンローダハンド21は、吸
着式でローダハンド9と同様であり、ウォーキングビー
ム20からのICをデータに応じてトレイ6’,6”に
収納分類する。支持台7’と自動センタリング機構は、
ローダ側のものと全く同じである。トレイ6”は、一部
の不良品やデータの異なる良品を収納するもので、各ス
トッカ22上に1枚ずつ載置され、1角が固定ガイド2
3により、対向角がマグネットガイド24によって固定
されている。従って、トレイ6”の一角を固定ガイド2
3に合わせてストッカ22上に載置し、対向側にマグネ
ットガイド24を押し当てればどんなサイズのトレイ
6”でも簡単に固定することができる。
【0014】次にこのICハンドラーの動作について説
明する。まず、図1及び図2において作業員がトレイ6
を積み重ねた状態で支持台7に載置し、ハンドラーを動
作させるとトレイ6の両側がチャックガイド12によ
り、トレイ6の前後がチャックガイド13によって正規
の位置に挟持される。続いて、支持台7はポスト11に
沿って上昇し、最上段のトレイ6がICの供給位置に達
すると停止する。各トレイ6は、低い位置にある支持台
7に載置されてから上昇するため、従来のように作業員
が背伸びしてトレイ6をセットする必要はない。
【0015】次にローダハンド9によりトレイ6からI
Cが2個ずつウォーキングビーム14に載置され、ウォ
ーキングビーム14はピッチ毎にICを測定部3へ搬送
する。支持台7上の空になったトレイ6’は、トレイハ
ンド8によってアンローダ部の支持台7’に移され、ロ
ーダ部の支持台7はトレイ1枚分だけ上昇する。トレイ
6の上方には、小さいトレイハンド8が設置されている
だけであるから、ハンドラーの高さhもかなり抑えるこ
とができる。この間、ウォーキングビーム14上のIC
は、搬送の途中で予熱ヒータ15により順次予熱され
る。
【0016】ウォーキングビーム14の終端に達したI
Cは、コンタクトブロック16によって2個ずつソケッ
ト19に送られると共に上から押圧される。ICはコン
タクトブロック16の内部ヒータで加熱されながらソケ
ット19のコンタクトと接触し、下方のテスタでデータ
が測定される。測定後のICは、取り出しハンド18に
よってウォーキングビーム20に載置されるが、ハンド
18とコンタクトブロック16は一体であるから、ソケ
ット19へのIC送り込みとウォーキングビーム20へ
のIC送り出しは同時に効率よく行なわれる。
【0017】測定後のICは、ウォーキングビーム20
によってアンローダ部5へ搬送され、アンローダハンド
21によりデータ別にトレイ6’,6”等に分類収納さ
れる。具体的には、最も多い良品のICがトレイ6’
に、不良品と他のデータを有するICがトレイ6”に収
納される。従って、ハンドラーの一部に突出する不良品
ボックスは不要となる。各トレイ6’,6”のICが満
杯になると、支持台7’や分類ストッカ22は所定距離
だけ下降または上昇する。
【0018】
【考案の効果】以上詳述したように本考案のトレイ支持
構造では、多数の供給収納トレイを支持台に載せて上下
動させ、上方にはトレイハンドのみを設置しているの
で、ハンドラーの高さが小さくなると共に小柄な作業員
もトレイの詰め替え等を楽に行なえる効果がある。ま
た、不良品のICを分類ストッカ側の一部のトレイに収
納しているので、不良品ボックスを省略することができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】ICハンドラーの簡略平面図である。
【図2】ICハンドラーの簡略正面図である。
【図3】従来のトレイ支持構造の簡略正面図である。
【符号の説明】
1 ローダ部 5 アンローダ部 6,6’,6” トレイ 7,7’ 支持台 8 トレイハンド 11 ポスト 22 分類ストッカ

Claims (1)

    (57)【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】ローダ部1に上下動可能に設置され積み重
    ねられたIC供給トレイ6が載置される支持台7と、ア
    ンローダ部5に上下動可能に設置され支持台7’及び
    分類ストッカ22と、支持台7’上に積み重ねられ良品
    のICを受容するIC収納トレイ6’と、分類ストッカ
    22上に載置され不良品やデータの異なるICを受容す
    るIC収納トレイ6”と、各支持台7,7’の上方に横
    移動可能に配置されたトレイハンド8とを備えたICハ
    ンドラーのトレイ支持構造。
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JPS5934606B2 (ja) * 1978-11-01 1984-08-23 帝人株式会社 巻糸体の自動積層装置
JPS605241A (ja) * 1983-06-21 1985-01-11 宇部興産株式会社 ボ−ルミル
JPS6196798A (ja) * 1984-10-18 1986-05-15 日立電子エンジニアリング株式会社 薄形icの検査用搬送装置

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