JP2538758Y2 - ベクトル変化検出装置 - Google Patents
ベクトル変化検出装置Info
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Description
【考案の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 この考案はベクトル変化検出装置に関する。
近年マイクロコンピュータを応用した保護継電器、い
わゆるデジタルリレーが広く適用されつつある。
わゆるデジタルリレーが広く適用されつつある。
マイクロコンピュータは高度な数値演算能力、あるい
は記憶能力を有しているため、従来の保護機能は勿論の
こと、従来のアナログリレーでは実現が極めて困難であ
った変化分に応動する保護機能等も実現されている。
は記憶能力を有しているため、従来の保護機能は勿論の
こと、従来のアナログリレーでは実現が極めて困難であ
った変化分に応動する保護機能等も実現されている。
変化分応動リレーの必要性は以下の点から理解される
ように、最近故障度の低い、換言すれば故障点抵抗の高
い系統故障も放置できず、これを検出したいという要求
が強くなってきている。
ように、最近故障度の低い、換言すれば故障点抵抗の高
い系統故障も放置できず、これを検出したいという要求
が強くなってきている。
ところで、実系統では相毎のアンバランス等から常
時、残留分（残留零相電圧、残留零相電流）が発生して
いるが、この残留分に故障分が重畳することになり、前
述のように故障点抵抗が高い場合は故障分が小さく、残
留分の影響を受けるので故障分の大きさと位相が本来の
値から大幅に変化し、故障方向や故障の程度を正しく示
さないことになる。
時、残留分（残留零相電圧、残留零相電流）が発生して
いるが、この残留分に故障分が重畳することになり、前
述のように故障点抵抗が高い場合は故障分が小さく、残
留分の影響を受けるので故障分の大きさと位相が本来の
値から大幅に変化し、故障方向や故障の程度を正しく示
さないことになる。
従って残留分をキャンセルするために位相も考慮した
ベクトル変化を検出することが不可欠となる。
ベクトル変化を検出することが不可欠となる。
デジタルリレーでは一般に交流入力を一定時間間隔を
もってサンプリングし、そのサンプリング値をホールド
してA/D変換器によりデジタル変換し、そのデジタル値
をもって所要の演算を行うようにしている。
もってサンプリングし、そのサンプリング値をホールド
してA/D変換器によりデジタル変換し、そのデジタル値
をもって所要の演算を行うようにしている。
〈従来の技術〉 デジタルリレーで従来から広く行われている一定時間
間隔のサンプリング方式について考えてみる。
間隔のサンプリング方式について考えてみる。
電気角30°のサンプリング方式とし、60Hz系で説明す
る。この場合、60×360/60＝720Hzのサンプリング周波
数でベクトル変化を検出するためには、現データとｎサ
イクル前（ｎは正の整数）即ち12×ｎサンプリング前の
データと比較する必要がある。系統に何ら変化がない場
合、系統周波数が60Hzである限り前述の比較によるベク
トル変化は検出されるが、系統周波数が変動すると、ｎ
サイクル前のデータとの間に見かけ上のベクトル変化が
生じ、このためリレーは誤った変化を検出してしまうこ
とになる。
る。この場合、60×360/60＝720Hzのサンプリング周波
数でベクトル変化を検出するためには、現データとｎサ
イクル前（ｎは正の整数）即ち12×ｎサンプリング前の
データと比較する必要がある。系統に何ら変化がない場
合、系統周波数が60Hzである限り前述の比較によるベク
トル変化は検出されるが、系統周波数が変動すると、ｎ
サイクル前のデータとの間に見かけ上のベクトル変化が
生じ、このためリレーは誤った変化を検出してしまうこ
とになる。
この原因は明らかにサンプリング周波数が系統周波数
に同期していないためであり、前述の誤検出を避けるた
めの対策として、PLL（PHASE LOCKLOOP）回路の使用が
考えられるが、この種PLL回路は構成が複雑で高価であ
る。
に同期していないためであり、前述の誤検出を避けるた
めの対策として、PLL（PHASE LOCKLOOP）回路の使用が
考えられるが、この種PLL回路は構成が複雑で高価であ
る。
〈考案が解決しようとする課題〉 一定時間間隔をもってサンプリングする、いわゆる固
定サンプリング方式を第２図を参照して説明する。交流
波形（例えば零相電圧）がV0m sinωｔとして表される
ものとする。但しωは角周波数、V0mは波高値である。
今、交流波形の周波数を60Hzとし、30°サンプリングを
行うとすれば30°間隔つまり、1/720≒1.398ミリセコン
ド毎にサンプリングパルスを出して各サンプリングデー
タを得る。
定サンプリング方式を第２図を参照して説明する。交流
波形（例えば零相電圧）がV0m sinωｔとして表される
ものとする。但しωは角周波数、V0mは波高値である。
今、交流波形の周波数を60Hzとし、30°サンプリングを
行うとすれば30°間隔つまり、1/720≒1.398ミリセコン
ド毎にサンプリングパルスを出して各サンプリングデー
タを得る。
この場合系統周波数が変動しないと仮定すれば、ある
サンプリング時点S2のサンプル値V0とｎサイクル前（ｎ
は正整数）時点S1、第２図ではｎ＝１、のサンプル値V
0′とは一致する。しかし系統周波数が変動すると前記
サンプリング値V0とV0′とは明らかに一致しない。第３
図はこの様子をベクトル図で示したものであり、その差
Δ０が見かけ上生じる。この見かけ上の差はあたかも
系統で故障があったかのように見え、前述したような誤
動作の原因となる。
サンプリング時点S2のサンプル値V0とｎサイクル前（ｎ
は正整数）時点S1、第２図ではｎ＝１、のサンプル値V
0′とは一致する。しかし系統周波数が変動すると前記
サンプリング値V0とV0′とは明らかに一致しない。第３
図はこの様子をベクトル図で示したものであり、その差
Δ０が見かけ上生じる。この見かけ上の差はあたかも
系統で故障があったかのように見え、前述したような誤
動作の原因となる。
〈課題を解決するための手段〉 この考案の目的は上述したように固定サンプリング方
式の場合でも系統周波数の変動に影響されることのない
ベクトル変化検出装置を提供することである。
式の場合でも系統周波数の変動に影響されることのない
ベクトル変化検出装置を提供することである。
この目的を達成するためこの考案では、高抵抗接地系
統あるいは非接地系統では健全時と一線地絡故障、二線
地絡故障あるいは二線短絡故障のときでも位相変化の殆
どない正相電圧を基準として、第７図に示すように高抵
抗接地系統あるいは非接地系統の三相電圧と三相電流と
正相電圧と零相電圧と零相電流とを入力とし、前記各入
力をサンプリングし保持するサンプルホールド回路と、
前記サンプルホールド回路の出力をデジタル量に変換す
るアナログ／デジタル変換器からなる入力手段と、前記
入力手段から正相電圧のデジタル値を抽出する正相電圧
抽出手段と、前記入力手段から各線間電圧、各相電流、
零相電圧または零相電流を抽出するベクトル変化検出対
象電気量抽出手段と、前記正相電圧抽出手段の出力の正
弦成分を求める第１正弦成分演算手段と、前記正相電圧
抽出手段の出力の余弦成分を求める第１余弦成分演算手
段と、前記ベクトル変化検出対象電気量抽出手段の出力
の正弦成分を求める第２正弦成分演算手段と、前記ベク
トル変化検出対象電気量抽出手段の出力の余弦成分を求
める第２余弦成分演算手段と、前記第１正弦成分演算手
段の出力と前記第２正弦成分演算手段の出力の積を求め
る第１乗算手段と、前記第１余弦成分演算手段の出力と
前記第２余弦成分演算手段の出力の積を求める第２乗算
手段と、前記第１余弦成分演算手段の出力と前記第２正
弦成分演算手段の出力の積を求める第３乗算手段と、前
記第１正弦成分演算手段の出力と前記第２余弦成分演算
手段の出力の積を求める第４乗算手段と、前記第１乗算
手段の出力と前記第２乗算手段の出力を加算し、その値
を前記正相電圧の絶対値で除す加算手段と、前記第３乗
算手段の出力から前記第４乗算手段の出力を減算し、そ
の値を前記正相電圧の絶対値で除く減算手段と、前記加
算手段および減算手段の各出力を、前記系統の基本周波
数の少なくともｎサイクル（ｎは正の整数）にわたって
記憶する記憶手段と、前記記憶装置に記憶されているｎ
サイクル前の前記加算手段および減算手段の各出力と最
新の前記加算手段および減算手段の出力との差を求める
差分演算手段とを備え、正相電圧を基準にして周波数変
動に基づく見かけ上の誤差を補正するようにしたもので
ある。
統あるいは非接地系統では健全時と一線地絡故障、二線
地絡故障あるいは二線短絡故障のときでも位相変化の殆
どない正相電圧を基準として、第７図に示すように高抵
抗接地系統あるいは非接地系統の三相電圧と三相電流と
正相電圧と零相電圧と零相電流とを入力とし、前記各入
力をサンプリングし保持するサンプルホールド回路と、
前記サンプルホールド回路の出力をデジタル量に変換す
るアナログ／デジタル変換器からなる入力手段と、前記
入力手段から正相電圧のデジタル値を抽出する正相電圧
抽出手段と、前記入力手段から各線間電圧、各相電流、
零相電圧または零相電流を抽出するベクトル変化検出対
象電気量抽出手段と、前記正相電圧抽出手段の出力の正
弦成分を求める第１正弦成分演算手段と、前記正相電圧
抽出手段の出力の余弦成分を求める第１余弦成分演算手
段と、前記ベクトル変化検出対象電気量抽出手段の出力
の正弦成分を求める第２正弦成分演算手段と、前記ベク
トル変化検出対象電気量抽出手段の出力の余弦成分を求
める第２余弦成分演算手段と、前記第１正弦成分演算手
段の出力と前記第２正弦成分演算手段の出力の積を求め
る第１乗算手段と、前記第１余弦成分演算手段の出力と
前記第２余弦成分演算手段の出力の積を求める第２乗算
手段と、前記第１余弦成分演算手段の出力と前記第２正
弦成分演算手段の出力の積を求める第３乗算手段と、前
記第１正弦成分演算手段の出力と前記第２余弦成分演算
手段の出力の積を求める第４乗算手段と、前記第１乗算
手段の出力と前記第２乗算手段の出力を加算し、その値
を前記正相電圧の絶対値で除す加算手段と、前記第３乗
算手段の出力から前記第４乗算手段の出力を減算し、そ
の値を前記正相電圧の絶対値で除く減算手段と、前記加
算手段および減算手段の各出力を、前記系統の基本周波
数の少なくともｎサイクル（ｎは正の整数）にわたって
記憶する記憶手段と、前記記憶装置に記憶されているｎ
サイクル前の前記加算手段および減算手段の各出力と最
新の前記加算手段および減算手段の出力との差を求める
差分演算手段とを備え、正相電圧を基準にして周波数変
動に基づく見かけ上の誤差を補正するようにしたもので
ある。
〈作用〉 系統周波数が変動した場合でも後述する所要の演算を
行うことにより固定サンプリング方式における見かけ上
のベクトル変化演算誤差をなくして誤動作を防止でき
る。
行うことにより固定サンプリング方式における見かけ上
のベクトル変化演算誤差をなくして誤動作を防止でき
る。
まず、この考案の基本原理を零相電圧を一例として第
４図のベクトル図を参照して説明する。ここで、 １は正相電圧のベクトル V1は１の大きさ ０は零相電圧のベクトル V0は０の大きさ を示す。
４図のベクトル図を参照して説明する。ここで、 １は正相電圧のベクトル V1は１の大きさ ０は零相電圧のベクトル V0は０の大きさ を示す。
ベクトル０の、ベクトル１基準による成分X,Y
は、 で表すことができる。Ｘは０の１基準の余弦成分で
あり、Ｙは同じく正弦成分である。
は、 で表すことができる。Ｘは０の１基準の余弦成分で
あり、Ｙは同じく正弦成分である。
（１），（２）式中V1 cosθ,V1 sinθ,V0 cosφおよび
V0 sinφは任意時刻の、その時刻より過去１サイクル分
（30°サンプリングの場合は過去12点）のサンプリング
データからデジタルフィルタ処理演算で得られる1,
０の余弦、正弦成分であり、全ての演算の基本データと
なる。
V0 sinφは任意時刻の、その時刻より過去１サイクル分
（30°サンプリングの場合は過去12点）のサンプリング
データからデジタルフィルタ処理演算で得られる1,
０の余弦、正弦成分であり、全ての演算の基本データと
なる。
このようにしてX,Yが求まれば、元の零相電圧V0と位
相角（φ−θ）はそれぞれ V0＝√（X2＋Y2） （φ−θ）＝tan-1（X/Y） として求めることができる。
相角（φ−θ）はそれぞれ V0＝√（X2＋Y2） （φ−θ）＝tan-1（X/Y） として求めることができる。
従って前（１），（２）式を演算することにより得ら
れる任意時刻における１を基準とする０の余弦、正
弦成分を、少なくとも過去ｎサイクルにわたって記憶し
ておき、現在の記憶値とｎサイクル前の記憶値と差分を
求めることによってベクトル変化を検出するものであ
る。
れる任意時刻における１を基準とする０の余弦、正
弦成分を、少なくとも過去ｎサイクルにわたって記憶し
ておき、現在の記憶値とｎサイクル前の記憶値と差分を
求めることによってベクトル変化を検出するものであ
る。
第5,6図を参照して更に詳細に説明する。第５図にお
いて１′，０′は健全時の或サンプリング時刻にお
ける正相電圧、零相電圧のベクトルである。０′は残
留零相電圧である。1,０は地絡故障時の或サンプリ
ング時刻における正相電圧、零相電圧のベクトルであ
る。
いて１′，０′は健全時の或サンプリング時刻にお
ける正相電圧、零相電圧のベクトルである。０′は残
留零相電圧である。1,０は地絡故障時の或サンプリ
ング時刻における正相電圧、零相電圧のベクトルであ
る。
１′，１は前述したように、高抵抗接地系統、非
接地系統では一線地絡故障時、二線地絡故障じあるいは
二線短絡故障時に変化しないが、固定サンプリングのデ
ジタルリレーからは第５図に示したように変化して見え
る。
接地系統では一線地絡故障時、二線地絡故障じあるいは
二線短絡故障時に変化しないが、固定サンプリングのデ
ジタルリレーからは第５図に示したように変化して見え
る。
前（１），（２）式に従って基準化の演算を行うと第
６図のような結果が得られΔ０＝０−０′とな
る。この変化分Δ０を求めることにより正確な変化分
を検出することができる。また系統周波数の変動によっ
て見かけ上１′，０′から１０に変化したと考
えた場合、１′と０′の位相関係、１と０の位
相関係に周波数変動前後において殆ど変化はないので、
前（１），（２）式に従った基準化の演算を行うと、
０≒０′となりΔ０≒０となり系統周波数の変動の
影響を受けない。
６図のような結果が得られΔ０＝０−０′とな
る。この変化分Δ０を求めることにより正確な変化分
を検出することができる。また系統周波数の変動によっ
て見かけ上１′，０′から１０に変化したと考
えた場合、１′と０′の位相関係、１と０の位
相関係に周波数変動前後において殆ど変化はないので、
前（１），（２）式に従った基準化の演算を行うと、
０≒０′となりΔ０≒０となり系統周波数の変動の
影響を受けない。
このように固定サンプリング方式の場合でも正しい変
化分Δ０が得られ系統周波数の変動による見かけ上の
ベクトル変化演算誤差をなくすことができる。 〈実施
例〉 この考案の実施例を第１図，および第７図に基づいて
一線地絡故障を例に説明する。第１図において、１は系
統に接続された電圧変成器、２は同じく電流変成器であ
る。
化分Δ０が得られ系統周波数の変動による見かけ上の
ベクトル変化演算誤差をなくすことができる。 〈実施
例〉 この考案の実施例を第１図，および第７図に基づいて
一線地絡故障を例に説明する。第１図において、１は系
統に接続された電圧変成器、２は同じく電流変成器であ
る。
電圧変成器１より系統の線間電圧ab,bc,caおよ
び零相電圧０を得、電流変成器２より適宜処理して零
相電流０を得る（勿論一線地絡故障に殆ど関係しない
各相電流も検出できる）。
び零相電圧０を得、電流変成器２より適宜処理して零
相電流０を得る（勿論一線地絡故障に殆ど関係しない
各相電流も検出できる）。
3,4,5は各変成器1,2の出力を絶縁し、適当な量に変換
する入力変換器、６は１＝（ab＋αbc＋α2c
a）/3（ただし、α＝（−１＋ｊ√３）/2、αはベクト
ルオペレータ）を発生する周知の正相回路、AFはそれぞ
れ前記系統から得られる各交流データに含まれる高調波
成分をカットするために設けられるアナログフィルタで
ある。
する入力変換器、６は１＝（ab＋αbc＋α2c
a）/3（ただし、α＝（−１＋ｊ√３）/2、αはベクト
ルオペレータ）を発生する周知の正相回路、AFはそれぞ
れ前記系統から得られる各交流データに含まれる高調波
成分をカットするために設けられるアナログフィルタで
ある。
S/Hはそれぞれサンプルホールド回路であり、前記系
統から得られた各交流入力を制御回路CONからの指令に
基づき例えば１サイクル中に12回（30°間隔）の同時刻
サンプリングを行いそのサンプル値を保持する。
統から得られた各交流入力を制御回路CONからの指令に
基づき例えば１サイクル中に12回（30°間隔）の同時刻
サンプリングを行いそのサンプル値を保持する。
MPXは前記サンプル値を順次切り替えて出力するマル
チプレクサ、A/Dは前記アナログのサンプル値をデジタ
ル量に変換するアナログ／デジタル変換器である。
チプレクサ、A/Dは前記アナログのサンプル値をデジタ
ル量に変換するアナログ／デジタル変換器である。
CPUは前記デジタル量を記憶すると同時に所定の演算
を行うマイクロプロセッサ等の演算装置（機能の詳細は
第７図の機能ブロック図参照）、OUTは出力回路であ
る。なお、MPX,A/D,CPUはS/H同様制御回路CONからの指
令により所定の動作を行う。
を行うマイクロプロセッサ等の演算装置（機能の詳細は
第７図の機能ブロック図参照）、OUTは出力回路であ
る。なお、MPX,A/D,CPUはS/H同様制御回路CONからの指
令により所定の動作を行う。
ここで、系統で一線地絡故障が発生したとすると、正
相電圧1,零相電圧０および零相電流０がサンプリ
ングデジタルデータとしてCPUに記憶される。
相電圧1,零相電圧０および零相電流０がサンプリ
ングデジタルデータとしてCPUに記憶される。
正相電圧１は前述したように一線地絡故障前、後で
変化しないのでCPUはこの正相電圧V1を基準に第７図の
機能ブロック図に示す手順で先の（１），（２）式の演
算を実行する。
変化しないのでCPUはこの正相電圧V1を基準に第７図の
機能ブロック図に示す手順で先の（１），（２）式の演
算を実行する。
第７図において、入力手段は第１図のAF,S/H,A/Dなど
から構成される。正相電圧抽出手段によってこの入力手
段から正相電圧１を抽出し、第１正弦成分演算手段に
よりあるサンプリング点を起点とした正相電圧の位相角
θを基にして正相電圧の正弦成分V1 sinθを演算する。
同様にして第１余弦成分演算手段によって正相電圧の余
弦成分V1 cosθを演算する。
から構成される。正相電圧抽出手段によってこの入力手
段から正相電圧１を抽出し、第１正弦成分演算手段に
よりあるサンプリング点を起点とした正相電圧の位相角
θを基にして正相電圧の正弦成分V1 sinθを演算する。
同様にして第１余弦成分演算手段によって正相電圧の余
弦成分V1 cosθを演算する。
一方ベクトル変化検出対象電気量抽出手段によって入
力手段からベクトル変化検出対象電気量として例えば零
相電圧０を抽出し、第２正弦成分演算手段により前記
サンプリング点をと同じ点を起点とした零相電圧の位相
角φを基にして零相電圧の正弦成分V0 sinφを演算す
る。同様にして第２余弦成分演算手段によって零相電圧
の余弦成分V0 cosθを演算する。
力手段からベクトル変化検出対象電気量として例えば零
相電圧０を抽出し、第２正弦成分演算手段により前記
サンプリング点をと同じ点を起点とした零相電圧の位相
角φを基にして零相電圧の正弦成分V0 sinφを演算す
る。同様にして第２余弦成分演算手段によって零相電圧
の余弦成分V0 cosθを演算する。
第１乗算手段では第１正弦成分演算手段の出力と第２
正弦成分演算手段の出力の積V1 sinθ・V0 sinφを演算
し、第２乗算手段では第１余弦成分演算手段の出力と第
２余弦成分演算手段の出力の積V1 cosθ・V0 cosφを演
算する。
正弦成分演算手段の出力の積V1 sinθ・V0 sinφを演算
し、第２乗算手段では第１余弦成分演算手段の出力と第
２余弦成分演算手段の出力の積V1 cosθ・V0 cosφを演
算する。
同様にして、第３乗算手段では第１余弦成分演算手段
の出力と第２正弦成分演算手段の出力の積V1 cosθ・V0
sinφを演算し、第４乗算手段では第１正弦成分演算手
段の出力と第２余弦成分演算手段の出力の積V1 sinθ・
V0 cosφを演算する。
の出力と第２正弦成分演算手段の出力の積V1 cosθ・V0
sinφを演算し、第４乗算手段では第１正弦成分演算手
段の出力と第２余弦成分演算手段の出力の積V1 sinθ・
V0 cosφを演算する。
加算手段では、第１乗算手段の出力と第２乗算手段の
出力とを加算しこれを正相電圧V1で除した値（1/V1）
（V1 cosθ・V0 cosφ＋V1 sinφ・V0 sinφ）＝Ｘを演
算し、同様にして演算手段では第３乗算手段の出力から
第４乗算手段の出力を減じこれを正相電圧V1で除した値
（1/V1）（V1 cosθ・V0 sinφ−V1 sinθ・V0 cosφ）
＝Ｙを演算する。
出力とを加算しこれを正相電圧V1で除した値（1/V1）
（V1 cosθ・V0 cosφ＋V1 sinφ・V0 sinφ）＝Ｘを演
算し、同様にして演算手段では第３乗算手段の出力から
第４乗算手段の出力を減じこれを正相電圧V1で除した値
（1/V1）（V1 cosθ・V0 sinφ−V1 sinθ・V0 cosφ）
＝Ｙを演算する。
記憶手段で加算手段の出力と減算手段の出力とを少な
くともｎサイクル（ｎは正整数）にわたって記憶し、差
分演算手段によってｎサイクル前の値Ｘ′,Y′と現在の
値X,Yのそれぞれの差分を演算するようにしている。
くともｎサイクル（ｎは正整数）にわたって記憶し、差
分演算手段によってｎサイクル前の値Ｘ′,Y′と現在の
値X,Yのそれぞれの差分を演算するようにしている。
この演算出力（Ｘ′−Ｘ），（Ｙ′−Ｙ）は前記＜作
用＞に述べたように系統周波数の影響を除去したものと
なり、零相電圧０のベクトル変化分を高精度で検出す
ることができるようになる。
用＞に述べたように系統周波数の影響を除去したものと
なり、零相電圧０のベクトル変化分を高精度で検出す
ることができるようになる。
なお、零相電流I0、各線間電圧ab,bc,caおよび
各相電流a,b,ｃの変化分も同様の手法によって求
め得ること勿論である。
各相電流a,b,ｃの変化分も同様の手法によって求
め得ること勿論である。
〈考案の効果〉 以上詳述したようにこの考案によれば、固定サンプリ
ング方式において、系統の周波数が変動した場合でも見
かけ上のベクトル変化演算誤差をなくすことができ、正
相電圧を基準電圧として用いたので、特に高抵抗接地系
あるいは非接地系の一線地絡故障の他に二線地絡故障、
あるいは二線短絡故障の検出にも電圧喪失を考慮する必
要がないと言った効果を奏する。
ング方式において、系統の周波数が変動した場合でも見
かけ上のベクトル変化演算誤差をなくすことができ、正
相電圧を基準電圧として用いたので、特に高抵抗接地系
あるいは非接地系の一線地絡故障の他に二線地絡故障、
あるいは二線短絡故障の検出にも電圧喪失を考慮する必
要がないと言った効果を奏する。
第１図はこの考案の実施例を示すブロック線図、第２図
はこの考案を説明するための波形図、第３図ないし第６
図はこの考案を説明するためのベクトル図、第７図は第
１図の機能を表す機能ブロック図である。 １……電圧変成器 ２……電流変成器 ３〜５……入力変換器 AF……アナログフィルタ S/H……サンプルホールド回路 MPX……マルチプレクサ A/D……アナログ／デジタル変換器 CON……制御回路 CPU……演算装置
はこの考案を説明するための波形図、第３図ないし第６
図はこの考案を説明するためのベクトル図、第７図は第
１図の機能を表す機能ブロック図である。 １……電圧変成器 ２……電流変成器 ３〜５……入力変換器 AF……アナログフィルタ S/H……サンプルホールド回路 MPX……マルチプレクサ A/D……アナログ／デジタル変換器 CON……制御回路 CPU……演算装置
フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭61−157220（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−106021（ＪＰ，Ａ)
Claims (1)
- 【請求項１】一定時間間隔のサンプリングの指令を出す
制御回路と、高抵抗接地系統あるいは非接地系統の三相
電圧と三相電流と正相電圧と零相電圧と零相電流とを入
力とし、前記制御回路のサンプリング指令により前記各
入力をサンプリングし保持するサンプルホールド回路
と、前記サンプルホールド回路の出力をデジタル量に変
換するアナログ／デジタル変換器からなる入力手段と、 前記入力手段から正相電圧のデジタル値を抽出する正相
電圧抽出手段と、 前記入力手段から各線間電圧、各相電流、零相電圧また
は零相電流を抽出するベクトル変化検出対象電気量抽出
手段と、 前記正相電圧抽出手段の出力の正弦成分を求める第１正
弦成分演算手段と、 前記正相電圧抽出手段の出力の余弦成分を求める第１余
弦成分演算手段と、 前記ベクトル変化検出対象電気量抽出手段の出力の正弦
成分を求める第２正弦成分演算手段と、 前記ベクトル変化検出対象電気量抽出手段の出力の余弦
成分を求める第２余弦成分演算手段と、 前記第１正弦成分演算手段の出力と前記第２正弦成分演
算手段の出力の積を求める第１乗算手段と、 前記第１余弦成分演算手段の出力と前記第２余弦成分演
算手の出力の積を求める第２乗算手段と、 前記第１余弦成分演算手段の出力と前記第２正弦成分演
算手段の出力の積を求める第３乗算手段と、 前記第１正弦成分演算手段の出力と前記第２余弦成分演
算手段の出力の積を求める第４乗算手段と、 前記第１乗算手段の出力と前記第２乗算手段の出力を加
算し、その値を前記正相電圧の絶対値で除す加算手段
と、 前記第３乗算手段の出力から前記第４乗算手段の出力を
減算し、その値を前記正相電圧の絶対値で除す減算手段
と、 前記加算手段および減算手段の各出力を、前記系統の基
本周波数の少なくともｎサイクル（ｎは正の整数）にわ
たって記憶する記憶手段と、 前記記憶装置に記憶されているｎサイクル前の前記加算
手段および減算手段の各出力と最新の前記加算手段およ
び減算手段の出力との差を求める差分演算手段と、から
なるベクトル変化検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2715688U JP2538758Y2 (ja) | 1988-02-29 | 1988-02-29 | ベクトル変化検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2715688U JP2538758Y2 (ja) | 1988-02-29 | 1988-02-29 | ベクトル変化検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01131168U JPH01131168U (ja) | 1989-09-06 |
| JP2538758Y2 true JP2538758Y2 (ja) | 1997-06-18 |
Family
ID=31249404
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2715688U Expired - Lifetime JP2538758Y2 (ja) | 1988-02-29 | 1988-02-29 | ベクトル変化検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2538758Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5501933B2 (ja) * | 2010-10-25 | 2014-05-28 | 三菱電機株式会社 | 交流電気量測定装置および交流電気量測定方法 |
-
1988
- 1988-02-29 JP JP2715688U patent/JP2538758Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01131168U (ja) | 1989-09-06 |
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