JP2536988B2 - レ―ザダイオ―ドの制御方法および制御回路装置 - Google Patents

レ―ザダイオ―ドの制御方法および制御回路装置

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    • H01S5/068Stabilisation of laser output parameters

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、レーザダイオードが使用される技術分野、
例えば複製技術に適用され、レーザプリンタまたはレー
ザデコーダのような記録装置のレーザダイオードの制御
方法および制御回路装置に関する。
このような記録装置では、レーザダイオードから放射
され、記録すべく情報により変調された光が光学的手段
により記録ビームに形成され、偏向装置を用いた記録の
際に点毎および線毎に記録媒体上を偏向される。
レーザダイオードを制御するために多くの場合、定電
流源が使用される。定電流源は一定の駆動電流を形成
し、この駆動電流は記録すべき情報を含む画像信号によ
り変調され、レーザダイオードに供給される。
線分情報を記録するためにレーザダイオードはスイツ
チング動作で作動される。これは2レベル画像信号によ
り変調された駆動電流がレーザダイオードをオンオフす
ることにより行われる。
線分情報の記録の際に高い記録品質を得るために、レ
ーザダイオードは急速にスイッチングし、レーザダイオ
ードから放射された光レベルは投入接続間隔で一定でな
ければならない。これは均一に露光を得るためである。
一定の光レベルを投入接続間隔で得るという要求を自
然のままのレーザダイオードは満たさない。
放射された光出力は温度に依存する。すなわち、光出
力はレーザダイオードの動作温度の上昇と共に減少す
る。
レーザダイオードの基板での動作温度の緩慢な上昇お
よびそれに起因する放射光出力の低下はケーシング温度
の制御により補償される。しかしレーザダイオードは変
調動作ないしスイッチング動作ではダイナミックな熱作
用をまだ有している。ダイナミックな熱作用の原因はチ
ップ内のレーザ接合部が変調ないし変調により制御され
る画像信号に依存して温度変化することである。レーザ
接合部のこの温度依存性により、ケーシング温度を制御
しても基板とレーザ接合部との間に温度差が残り、内部
温度補正プロセスが必要である。この内部温度補正プロ
セスはスイッチング動作で作動するレーザダイオードの
場合、放射される光出力が画像信号に依存して次のよう
に変化することとなる。すなわち、放射される光出力が
スイッチオン時点で実効レベルを越えて上昇し、それぞ
れの投入接続間隔内で初めて緩慢に実効レベルに達す
る。この作用により記録媒体に線分情報を記録する際
に、障害となる後引き作用が生じる。この後引き作用は
記録品質に大きく影響する。
レーザダイオードの光出力放射の補正のための種々の
手段が既に公知である。
例えば、レーザダイオードから放射される光出力をそ
れぞれ、1つの線の記録に必要な線間隔内で測定し、光
出力を駆動電流を介して測定結果に依存して制御するの
である。
GB−PS2101841から、放射された光出力をレーザダイ
オードに集積されたホトダイオード(モニタダイオー
ド)によって、1つの線の記録に必要な線間隔内または
線間隔外で測定し、それぞれ測定された光出力から補正
値を求め、補正値を線毎にサンプリングアンドホールド
回路で中間記録し、光出力を駆動電流を介して記憶した
補正値に依存して制御することが公知である。
光出力放射の補正のための制御はコストがかかり、制
御ループにより安定性の問題が生じ、レーザダイオード
のスイッチング速度が低減するという欠点がある。
従い本発明の課題は、放射される光出力の簡単な補正
とスイッチング特性の改善が得られる、レーザダイオー
ドの制御方法および制御回路装置を提供することであ
る。
この課題は請求の範囲第1項記載の方法および請求の
範囲第2項記載の回路装置により解決される。
これらの手段により、記録装置にレーザダイオードを
使用する場合、特に障害となる後引き作用なしに、スイ
ッチング速度を低下することなく、全体で良好な記録品
質が高い記録速度の際にも達成される。
本発明を以下図1から図3に基づき詳細に説明する。
図1は、レーザダイオード制御のための回路装置に対
する実施例の原理的回路図、 図2は、時間線図、 図3は、正および負のの内部抵抗を有する電圧発生器
に対する実施例の回路図である。
図1は、レーザダイオード制御のための回路装置の原
理的実施例を示す。レーザダイオード2制御のための回
路装置1は実質的に、調整可能な内部抵抗Riを備えた電
圧源3からなる。スイッチング動作では電圧源3が2レ
ベル画像信号Bにより制御される。画像信号Bは電圧源
3のジェネレータ電圧U0を記録すべき情報の依存して変
調する。持続動作では、電圧源3は一定のジェネレータ
電圧U0を送出する。
実際のレーザダイオード2が、理想レーザダイオード
2′と内部抵抗RDiからなる直列回路として等価回路に
示されている。ジェネレータ電圧U0はレーザダイオード
2に対する駆動電流ITを形成する。駆動電流はジェネレ
ータ電圧U0、レーザダイオード2′の導通電圧UDおよび
内部抵抗RiとRDiに式(1)に従い依存する。
IT=(U0−UD)/(Ri+RDi) (1) レーザダイオード2から放射される光出力Pは駆動電
流ITに比例する。駆動電流の変化ΔITは式(2)に従い
放射される光出力の変化ΔPIになる。
ΔPI=(dP/dI)ΔIT=σΔIT (2) 式(2)中、σはレーザダイオード2の効率であり、
例えば0.3から1mW/mAである。
冒頭に説明したレーザダイオード2の温度特性によ
り、放射される光出力Pとレーザダイオード2の導通電
圧UDは温度Tの上昇と共に低下する。
温度変化ΔTは式(3)に従い放射光出力の変化ΔPU
になる。
ΔPU=(dPU/dT)ΔT=TKP ΔT (3) 式(3)で、TKP=dP/dTは出力に関連した温度係数で
あり、例えば−0.4から−0.7mW/℃であり得る。
レーザダイオード2の導通電圧UDの温度に依存した変
化は、本発明によりレーザダイオード1を電圧源3によ
り式(1)に従い制御することにより、駆動電流ITの上
昇になる。温度変化ΔTの際の導通電圧変化ΔUDは式
(4)に従い駆動電流変化ΔITになる。
ΔIT=(−dUD/tD)*(ΔT/(Ri+RDi)) =−TKU(ΔT/(Ri+RDi)) (4) 式(4)で、TKU=dUD/dTは電圧に関連した温度係数
で、例えば−1.7から−1.3mV/℃であり得る。
レーザダイオードの制御により、駆動電流ITの上昇は
調整可能な内部抵抗Riを用いた導通電圧UDの温度に依存
する低下に基づき次のように調整される。すなわち、光
出力Pの温度に依存する低下が補正されるように調整さ
れる。これにより有利には、持続動作およびスイッチン
グ動作の投入接続間隔において一定の実効レベルに達す
る。
温度に依存する光出力低下の補償は、ΔPI=−ΔPUの
ときに行われる。そこから式(4)により、補償に必要
な内部抵抗式(5)に従い次のように計算される。
Ri=σ(TKU/TKP)−RDi (5) 計算された内部抵抗Riは実際には正または負となり得
る。そのためレーザダイオード2の制御は正または負の
内部抵抗を有する電圧源により行わなければならない。
正および負の内部抵抗を有する電圧源に対する実施例は
図3に示されている。
図2の線図a)、b)、c)はスイッチング動作に対
して、画像信号B(線図a)、駆動電流IT(線図b)お
よびレーザダイオード2から放射される光出力P(線図
c)の時間経過を、冒頭に説明したレーザ接合部での温
度補償プロセスに基づきレーザダイオードの従来の制御
の場合で示す。線図cは、放射される光出力Pがそれぞ
れスイッチオン時点で出力実効レベル(100%)を越え
て振動し、それぞれ投入接続間隔内で初めて出力実効レ
ベルに緩慢に達していることを示す。これにより同様に
既に冒頭に述べた障害となる後引き作用が記録媒体に発
生する。
本発明によるレーザダイオード2の制御により得られ
た結果が線図d、eに示されている。
線図dは駆動電流I′Tを示す。この駆動電流はレー
ザダイオードの電圧制御の際に調整され、線図eは補正
された光出力P′の時間経過を示す。
図3のaは調整可能な正の内部抵抗Riを有する電圧源
に対する実施例を示す。この電圧源は接続された演算増
幅器4からなる。
図3のbは調整可能な負の内部抵抗Riを有する電圧源
に対する実施例を示す。この実施例は図3aの実施例とは
回路5が後置接続されている点で異なっている。この回
路5は負の内部抵抗をシミュレートする。

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】レーザダイオード(2)に、放射される光
    出力を定める駆動電流(IT)を印加し、その際放射され
    る光出力はレーザダイオード(2)の内部温度の上昇と
    共に低下する、レーザダイオードの制御方法において、 光出力の温度に依存する低下を補償するために、 レーザダイオード(2)を。調整可能な内部抵抗(Ri)
    を備えた電圧発生器(3)により駆動し、 内部抵抗(Ri)を式: Ri=σ(TKU/TKP)−RDi に従い算出し、 ここで、“σ”はレーザダイオード(2)の効率、 “TKU"はdUD/dTで、レーザダイオード(2)の導通電圧
    (UD)と温度(T)との温度係数、 “TKP"はdPD/dTで、レーザダイオードの光出力(PU)と
    温度(T)との温度係数、 “RDi"はレーザダイオード(2)の内部抵抗であり、 駆動電流(IT)の上昇は、レーザダイオード(2)の温
    度が上昇する際に内部抵抗(Ri)によって、駆動電流
    (IT)の上昇による放射光出力の上昇が光り出力の温度
    に依存する低下を補償するように調整されることを特徴
    とする、レーザダイオードの制御方法。
  2. 【請求項2】放射されるレーザダイオード(2)の光出
    力を定める駆動電流(IT)を形成するためのジェネレー
    タを有する、レーザダイオードの制御回路装置におい
    て、 光出力の温度に依存する低下を補償するために、 ジェネレータは、電圧源(3)と調整可能な内部抵抗
    (Ri)を有する電圧発生器(1)として構成されてお
    り、 内部抵抗(Ri)は式: Ri=σ(TKU/TKP)−RDi に従い算出され、 ここで、“σ”はレーザダイオード(2)の効率、 “TKU"はdUD/dTで、レーザダイオード(2)の導通電圧
    (UD)と温度(T)との温度係数、 “TKP"はdPD/dTで、レーザダイオードの光出力(PU)と
    温度(T)との温度係数、 “RDi"はレーザダイオード(2)の内部抵抗であること
    を特徴とする、レーザダイオードの制御回路装置。
JP3513123A 1990-08-17 1991-08-16 レ―ザダイオ―ドの制御方法および制御回路装置 Expired - Lifetime JP2536988B2 (ja)

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