JP2535751Y2 - Ｉｃ試験装置 - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 この考案はドライバの出力側にコンパレータの入力側
が接続され、そのドライバから試験信号を被試験IC素子
へ供給してその被試験IC素子の出力を監視するIC試験装
置に関する。

「従来の技術」 第３図に従来のIC試験装置のこの考案を関連する部分
を示す。試験装置本体11から試験信号がドライバ12₁へ
供給され、そのドライバ12₁の出力試験信号がケーブル1
3₁を通じて被試験IC素子14へ供給され、被試験IC素子14
の出力はケーブル13₂を通じてコンパレータ15₂へ供給さ
れ、基準値と比較され、コンパレータ15₂の出力が試験
装置本体11に取込まれ、被試験IC素子14の良，不良が測
定される。ドライバ12₁の出力側にはコンパレータ15₁の
入力側が接続され、コンパレータ15₂の入力側にドライ
バ12₂の出力側が接続されている。

「考案が解決しようとする課題」 IC試験装置の試験プログラムのデバックの際に、その
不良原因を見付けるため、あるいは被試験IC素子14の不
良原因を知るため等から、被試験IC素子14の出力波形の
みならず、その印加波形も知る必要がある。このためド
ライバ12₁より被試験IC素子14へ供給される試験信号
を、そのドライバ12₁の出力側に接続されたコンパレー
タ15₁により監視することが考えられる。しかし従来の
装置では以下に述べるように満足な監視をすることがで
きなかった。

つまり、いま例えば第４図Ａに示すような波形の信号
がドライバ12₁に入力されるとドライバ12₁の出力は第４
図Ｂに示すようになり、被試験IC素子14の入力信号は、
第４図Ｃに示すように、ドライバ12₁の出力の立上り時
点t₁に対しケーブル13₁による遅延Taだけ遅れた時点t₂
に立上る。この入力に対し、被試験IC素子14から例えば
時間Tbだけ遅れて第４図Ｄに示すように出力が生じたと
する。この出力はケーブル13₂によりTaだけ遅延されて
第４図Ｅに示すような波形信号となってコンパレータ15
₂に入力される。ドライバ12₁の入力の立下りに対し、被
試験IC素子14の入力はTaだけ遅れて立下り、これに対し
被試験IC素子14の出力はTbだけ遅れ、コンパレータ15₂
の入力は更にTaだけ遅れて立下る。従ってコンパレータ
15₂の出力を監視することにより、被試験IC素子14の出
力の波形、つまり、立上り、及び立下りは正しく監視す
ることができる。

しかし、ドライバ12₁の出力、つまりコンパレータ15₁
の入力は第４図Ｂに示すように、ケーブル13₁と被試験I
C素子14との接続点における反射のため、立上り時点t₁
に対し、２T₂（ケーブル13₁の往復伝搬時間）だけ遅れ
た時点t₃にレベルV₁からV₂に更に立上り、またドライバ
12₁の入力信号が立下ってレベルがV₂からV₁に低下して
時点から2Taの後に０レベルに立下る。従って、このド
ライバ12₁の出力を監視するコンパレータ15₁の出力は、
その基準値（しきい値）がV₁より低いV_t1の場合は、第
４図Ｆに示すように立上りは試験信号と一致するが、立
下りは2Ta遅れた長い波形となり、基準値がV₁より高いV
_t2の場合は第４図Ｇに示すように立上りがTa遅れ、立下
りが一致するため短かい波形となる。従って、何れにし
ても被試験IC素子14に印加される試験信号（第４図Ｃ）
と同一波形の信号をコンパレータ15₁から得ることはで
きない。

このため従来ではドライバ12₁の出力の立上り又は立
下りのどちらかに注目した監視しかできなかった。立上
り及び立下りの両者、つまり波形を監視するには、被試
験IC素子14の入力端にオシロスコープを接続して行って
おり、大変面倒であった。

「課題を解決するための手段」 この考案によればドライバとコンパレータとの接続点
とそのコンパレータの出力側との間にスイッチを介して
抵抗器が接続される。ドライバの出力波形を監視する場
合はスイッチをオンとし、コンパレータにその出力反転
入力レベルにヒステリシス特性をもたせ、その出力反転
入力レベルの高レベルV_iHと低レベルV_iLとの間に基準値
（しきい値）を設定する。

「実施例」 第１図にこの考案の実施例を示し、第３図と対応する
部分に同一符号を付けてある。この考案においてはコン
パレータ15₁、15₂の各入力側と出力側との間にそれぞれ
抵抗器16₁、16₂がスイッチ17₁、17₂を介して接続され
る。コンパレータ15₁、15₂は被試験IC素子14の出力を入
力とする時はスイッチ17₁、17₂はオフとされ、ドライバ
12₁、12₂の出力波形を監視する時は、スイッチ17₁、17₂
はオンとされる。

例えば、ドライバ12₁より試験信号を被試験IC素子14
へ供給し、その出力波形をコンパレータ15₂で監視する
と共に、被試験IC素子14へ印加される試験信号を監視す
る場合はスイッチ17₁はオン、スイッチ17₂はオフとされ
る。

この時、第４図Ａ〜Ｅと対応して第２図Ａ〜Ｅに各部
の波形を示すように、従来と同様に被試験IC素子14の出
力波形をコンパレータ15₂の出力で監視することができ
る。

また以下に述べるようにコンパレータ15₁の出力から
被試験IC素子14に対応する印加波形を監視することがで
きる。いまドライバ12₁の出力抵抗値をR₁、抵抗器16₁の
抵抗値をR₂、ドライバ12₁の出力電圧をV_dとすると、コ
ンパレータ15₁の出力電圧が低レベルV_L（V_L＜V_d）の時
の、ドライバ12₁及びコンパレータ15₁の接続点18の電圧
V_iLは となり、コンパレータ15₁の出力電圧が高レベルV_H（V_H
＞V_d）の時の接続点18の電圧V_iHは、 となる。つまりコンパレータ15₁はその出力がV_Lの時はV
_dよりも だけ低いレベル以上で出力が反転するが、出力がV_Hの時
はV_dよりも だけ高いレベル以下にならないと出力は反転しない。第
２図Ｂに示すように最初はコンパレータ15₁の出力は低
レベルV_Lであるから、ドライバ12₁の出力が立上った時
点t₁からの接続点18のレベルはV_iLとなるが、ドライバ1
2₁の入力が立下る直前はコンパレータ15₁の出力は高レ
ベルV_Hであるから、ドライバ12₁の入力が立下った時点t
₄からの接続点18のレベルはV_iHとなる。このV_iLとV_iHと
の間にコンパレータ15₁の基準値（しきい値）V_tが設定
される。この時、コンパレータ15₁の出力は第２図Ｆに
示すように、ドライバ12₁の入力が立上ってから反射波
が戻った時点t₃から高レベルV_Hとなり、ドライバ12₁の
入力が立下ってから反射波が消えた時点t₅から低レベル
V_Lとなる。このコンパレータ15₁の出力信号の波形は被
試験IC素子14に対する印加信号の波形と一致し、時間が
Ta遅れたものとなる。よってコンパレータ15₁の出力を
監視することにより被試験IC素子14に対する印加信号を
監視することができる。

「考案の効果」 以上述べたようにこの考案によればコンパレータの入
出力間にスイッチを介して抵抗器を接続した構成とする
ことにより、コンパレータを利用して被試験IC素子に印
加する試験信号の立上り及び立下りを同時に監視でき、
つまりパルス幅、T_pdを監視でき、わざわざオシロスコ
ープで監視するような面倒なことを必要とせず、迅速
に、かつ簡便に監視することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの考案の実施例の要部を示す接続図、第２図
はその動作例を示す各部の波形図、第３図は従来のIC試
験装置を示す接続図、第４図はその動作例を示す各部の
波形図である。

Claims (1)

(57)【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】ドライバの出力側にコンパレータの入力側
   が接続され、そのドライバから試験信号を被試験IC素子
   へ供給してその被試験IC素子の出力を監視するIC試験装
   置において、 上記コンパレータ及びドライバの接続点とそのコンパレ
   ータの出力側との間にスイッチを介して抵抗器が接続さ
   れていることを特徴とするIC試験装置。