JP2531115B2 - ライブラリ検証方式 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明はライブラリ検証方式に関
し、特にライブラリに格納された検証対象とする数値の
最小値および最大値が正当かどうかを検証するライブラ
リ検証方式に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、この種のライブラリ検証方式で
は、ライブラリの内容のダンプを採って個々の数値を目
視チェックすることにより、ライブラリに格納された数
値の検証を行っていた。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】上述した従来のライブ
ラリ検証方式では、ライブラリの内容のダンプを採って
個々の数値を目視チェックすることによりライブラリに
格納された数値の検証を行っていたので、見逃しによる
検証漏れが発生しやすいという問題点があった。特に、
本来ありえないような数値を含むような誤りに起因する
検証漏れが発生しやすかった。

【０００４】本発明の目的は、上述の点に鑑み、複数の
実測値から数値の最小値および最大値を予測して、ライ
ブラリに格納された数値の最小値および最大値の正当性
を自動的に検証することにより、見逃しによる検証漏れ
が発生することがないようにしたライブラリ検証方式を
提供することにある。

【０００５】なお、回路のトレースを行って各パスのデ
ィレイ値（最大，最小，ばらつき）を予め計算してお
き、かつタイミングのチェック式とチェック値とをライ
ブラリ化し、チェック値テーブルにチェック値を設定
し、クロックピン，アドレスピン等のディレイ変数テー
ブルにトレース結果に基づくパスディレイ値を加算して
設定し、チェック値テーブルの値と、ディレイ変数テー
ブルの値をライブラリ化されたチェック式に代入して得
たディレイ値とを比較するようにしたデジタル回路のタ
イミングチェック方式が知られているが（特開平４−２
４１６７５号公報参照）、この方式は任意の半導体メモ
リに対応したタイミングチェックをプログラムを変更す
ることなく行えるようにしたものであり、本発明の方式
のように複数の実測値から数値の最小値および最大値を
予測することにより数値の最小値および最大値の正当性
を検証するようにしたものではない。

【０００６】

【課題を解決するための手段】本発明のライブラリ検証
方式は、検証対象とする数値の最小値および最大値を含
むライブラリを格納するライブラリ格納手段と、検証対
象とする数値の複数の実測値を格納する実測値格納手段
と、この実測値格納手段に格納された複数の実測値より
前記ライブラリが持つべき数値の最小値および最大値を
予測する分布予測手段と、この分布予測手段により予測
された予測最小値および予測最大値を格納する予測範囲
格納手段と、前記ライブラリに含まれる数値の最小値お
よび最大値と前記予測範囲格納手段に格納された予測最
小値および予測最大値とを比較して前記ライブラリに含
まれる数値の最小値および最大値の正当性を検証する範
囲検証手段とを有する。

【０００７】

【実施例】次に、本発明について図面を参照して詳細に
説明する。

【０００８】図１は、本発明の一実施例に係るライブラ
リ検証方式の構成を示すブロック図である。本実施例の
ライブラリ検証方式は、ライブラリ格納手段１と、実測
値格納手段２と、分布予測手段３と、予測範囲格納手段
４と、範囲検証手段５とから構成されている。

【０００９】ライブラリ格納手段１は、遅延解析用の数
値ライブラリ（以下、遅延ライブラリと略称する）を格
納する。以下、本実施例では、遅延ライブラリに含まれ
るブロックのピン間の遅延時間の最小値および最大値の
正当性を検証する場合を例にとって説明する。

【００１０】図２は、ライブラリ格納手段１に含まれる
遅延ライブラリの内容の一例を示す図である。この遅延
ライブラリには、論理設計で用いられる各ブロックにつ
いて、ブロック名称，入力ピンおよび出力ピンのピン名
称ならびに入出力ピン間の遅延時間の最小値および最大
値が含まれている。例えば、ブロックＡのＨ０１ピンと
Ｎ０１ピンとの間の遅延時間の最小値は１ｎｓ、最大値
は４ｎｓである。また、ブロックＢのＨ０１ピンとＮ０
１ピンとの間の遅延時間の最小値および最大値は、本
来、それぞれ２ｎｓおよび６ｎｓであるが、入力ミスに
より最大値が６０ｎｓとなっている。

【００１１】実測値格納手段２は、ライブラリ格納手段
１に含まれる各ブロックについて、実物の測定結果によ
るピン間の遅延時間をブロック名称，入力ピンおよび出
力ピンのピン名称ならびに品番号とともに複数格納す
る。

【００１２】図３は、実測値格納手段２に含まれる実物
の測定結果による各ブロックのピン間の遅延時間の実測
値の一例を示す図である。例えば、ブロックＡの品番号
１のＨ０１ピンとＮ０１ピンとの間の遅延時間の実測値
は２ｎｓである。また、ブロックＢの品番号１のＨ０１
ピンとＮ０１ピンとの間の遅延時間の実測値は３ｎｓで
ある。

【００１３】分布予測手段３は、実測値格納手段２に格
納された各ブロックのピン間の遅延時間の複数の実測値
が正規分布をなすことを仮定し、この正規分布上での複
数の実測値の平均値および標準偏差値に基づいてピン間
の遅延時間の最小値および最大値を予測する。

【００１４】図４を参照すると、分布予測手段３の処理
は、ブロック実測値読込みステップ３１と、平均値およ
び標準偏差値算出ステップ３２と、分布範囲予測ステッ
プ３３と、予測最小値および予測最大値格納ステップ３
４とからなる。

【００１５】予測範囲格納手段４は、分布予測手段３に
より求められた正規分布上でのピン間の遅延時間の最小
値および最大値を、予測最小値および予測最大値として
ブロック名称ならびに入力ピンおよび出力ピンのピン名
称とともに格納する。

【００１６】範囲検証手段５は、ライブラリ格納手段１
に含まれるピン間の遅延時間の最小値および最大値と、
予測範囲格納手段４に含まれるピン間の遅延時間の予測
最小値および予測最大値との差が、あらかじめ定められ
た誤差範囲内であることを検証し、誤差範囲内でない場
合はその旨を表示する。

【００１７】図５を参照すると、範囲検証手段５の処理
は、最小値および最大値読込みステップ５１と、予測最
小値および予測最大値読込みステップ５２と、最小値誤
差範囲内判定ステップ５３と、最小値および予測最小値
表示ステップ５４と、最大値誤差範囲内判定ステップ５
５と、最大値および予測最大値表示ステップ５６とから
なる。

【００１８】次に、このように構成された本実施例のラ
イブラリ検証方式の動作について説明する。

【００１９】まず、分布予測手段３は、実測値格納手段
２から同一ブロック名称を有するピン間の遅延時間の実
測値をすべて読み込む（ステップ３１）。

【００２０】次に、分布予測手段３は、読み込んだピン
間の遅延時間の実測値が正規分布をなすものと仮定し
て、ピン間の遅延時間の平均値および標準偏差値を求め
る（ステップ３２）。

【００２１】図３に示した例では、ブロックＡのＨ０１
ピンとＮ０１ピンとの間の遅延時間の平均値および標準
偏差値は、それぞれ２．５ｎｓおよび０．５ｎｓとな
る。また、ブロックＢのＨ０１ピンとＮ０１ピンとの間
の遅延時間の平均値および標準偏差値は、それぞれ３．
８ｎｓおよび０．７４８ｎｓとなる。

【００２２】続いて、分布予測手段３は、求められた平
均値および標準偏差値より、ピン間の遅延時間の分布範
囲（最小値および最大値）を予測する（ステップ３
３）。

【００２３】例えば、ピン間の遅延時間が（平均値）±
３×（標準偏差値）の分布範囲内にあるとすると、ブロ
ックＡのＨ０１ピンとＮ０１ピンとの間の遅延時間の最
小値および最大値は、それぞれ１ｎｓおよび４ｎｓと予
測される。また、ブロックＢのＨ０１ピンとＮ０１ピン
との間の遅延時間の最小値および最大値は、それぞれ
１．５５６ｎｓおよび６．０４４ｎｓと予測される。

【００２４】最後に、分布予測手段３は、予測されたピ
ン間の遅延時間の最小値および最大値を予測範囲格納手
段４に予測最小値および予測最大値としてブロック名称
ならびに入力ピンおよび出力ピンのピン名称とともに格
納する（ステップ３４）。

【００２５】予測範囲格納手段４に予測最小値および予
測最大値が格納された後、範囲検証手段５は、まず、ラ
イブラリ格納手段１から該当するブロックのピン間の遅
延時間の最小値および最大値を読み込む（ステップ５
１）。

【００２６】次に、範囲検証手段５は、予測範囲格納手
段４から該当するブロックのピン間の遅延時間の予測最
小値および予測最大値を読み込む（ステップ５２）。

【００２７】続いて、範囲検証手段５は、ライブラリ格
納手段１から読み込まれたピン間の遅延時間の最小値
と、予測範囲格納手段４から読み込まれた予測最小値と
を比較してこれらの差があらかじめ定められた誤差範囲
内に入っているかどうかを検証し（ステップ５３）、入
っていない場合にはその旨を表示する（ステップ５
４）。

【００２８】例えば、あらかじめ定められた誤差範囲が
±０．５ｎｓであるとすると、図２に示されたブロック
Ａについては、最小値１ｎｓと予測最小値１ｎｓとの差
は誤差範囲±０．５ｎｓ内に入っており、範囲検証手段
５は何も表示しない。また、ブロックＢについても、最
小値２ｎｓと予測最小値１．５５６ｎｓとの差は誤差範
囲±０．５ｎｓ内に入っており、範囲検証手段５は何も
表示しない。

【００２９】続いて、範囲検証手段５は、ライブラリ格
納手段１から読み込まれたピン間の遅延時間の最大値
と、予測範囲格納手段４から読み込まれた予測最大値と
を比較してこれらの差があらかじめ定められた誤差範囲
内に入っているかどうかを検証し（ステップ５５）、入
っていない場合にはその旨を表示する（ステップ５
６）。

【００３０】例えば、あらかじめ定められた誤差範囲が
±０．５ｎｓであるとすると、図２に示されたブロック
Ａについては、最大値４ｎｓと予測最大値４ｎｓとの差
は誤差範囲±０．５ｎｓ内に入っており、範囲検証手段
５は何も表示しない。しかし、ブロックＢについては、
最大値６０ｎｓと予測最大値６．０４４ｎｓとの差は、
５３．９５６ｎｓであり、誤差範囲±０．５ｎｓを越え
ているため、範囲検証手段５は、ブロック名称Ｂ，入力
ピン名称Ｈ０１，出力ピン名称Ｎ０１，ライブラリ上の
遅延時間の最大値６０ｎｓおよび予測最大値６．０４４
ｎｓを表示する。これにより、ライブラリに含まれるブ
ロックＢのＨ０１ピンとＮ０１ピンとの間の遅延時間の
最大値が入力ミス等により６０ｎｓになっており、６．
０４４ｎｓに近い値に訂正すべきことを知ることができ
る。

【００３１】なお、上記実施例では、遅延ライブラリに
含まれるブロックのピン間の遅延時間の最小値および最
大値の正当性を検証する場合を例にとって説明したが、
検証対象となる数値の最小値および最大値が他の数値の
最小値および最大値であっても本発明が同様に適用可能
であることはいうまでもない。

【００３２】

【発明の効果】以上説明したように本発明は、ライブラ
リ格納手段，実測値格納手段，分布予測手段，予測範囲
格納手段および範囲検証手段を設け、ライブラリに含ま
れる数値の最小値および最大値と、実測値に基づいた数
値の予測最小値および予測最大値とを比較して、ライブ
ラリに含まれる数値の最小値および最大値の正当性の検
証を自動的に行うようにしたことにより、目視による従
来の方法に比べて、検証漏れが発生しにくいという効果
がある。特に、本来あり得ないような数値を含む誤りに
起因する検証漏れが発生しにくいという効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例に係るライブラリ検証方式の
構成を示すブロック図である。

【図２】図１中のライブラリ格納手段に格納されている
遅延ライブラリの内容の一例を示す図である。

【図３】図１中の実測値格納手段に格納されているピン
間の遅延時間の一例を示す図である。

【図４】図１中の分布予測手段の処理を示す流れ図であ
る。

【図５】図１中の範囲検証手段の処理を示す流れ図であ
る。

【符号の説明】

１ ライブラリ格納手段 ２ 実測値格納手段 ３ 分布予測手段 ４ 予測範囲格納手段 ５ 範囲検証手段

Claims (4)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 検証対象とする数値の最小値および最大
   値を含むライブラリを格納するライブラリ格納手段と、 検証対象とする数値の複数の実測値を格納する実測値格
   納手段と、 この実測値格納手段に格納された複数の実測値より前記
   ライブラリが持つべき数値の最小値および最大値を予測
   する分布予測手段と、 この分布予測手段により予測された予測最小値および予
   測最大値を格納する予測範囲格納手段と、 前記ライブラリに含まれる数値の最小値および最大値と
   前記予測範囲格納手段に格納された予測最小値および予
   測最大値とを比較して前記ライブラリに含まれる数値の
   最小値および最大値の正当性を検証する範囲検証手段と
   を有することを特徴とするライブラリ検証方式。
2. 【請求項２】 前記分布予測手段が、複数の実測値が正
   規分布をなすことを仮定し複数の実測値の平均値および
   標準偏差値に基づいて数値の最小値および最大値を予測
   する請求項１記載のライブラリ検証方式。
3. 【請求項３】 前記範囲検証手段が、所定の誤差値を使
   用して前記ライブラリに含まれる数値の最小値および最
   大値の正当性を検証する請求項１記載のライブラリ検証
   方式。
4. 【請求項４】 前記検証対象の数値が、遅延ライブラリ
   におけるピン間の遅延時間である請求項１記載のライブ
   ラリ検証方式。