JP2525385Y2 - 検品用サンプル追跡装置 - Google Patents
検品用サンプル追跡装置Info
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- JP2525385Y2 JP2525385Y2 JP1988033316U JP3331688U JP2525385Y2 JP 2525385 Y2 JP2525385 Y2 JP 2525385Y2 JP 1988033316 U JP1988033316 U JP 1988033316U JP 3331688 U JP3331688 U JP 3331688U JP 2525385 Y2 JP2525385 Y2 JP 2525385Y2
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- Japan
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- detection sensor
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Description
【考案の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本考案はボックスティッシュ製造ラインにおける検品
用サンプル追跡装置であって、検品用サンプルを製造ラ
イン上で簡単、かつ確実に追跡できる追跡装置に関する
ものである。
用サンプル追跡装置であって、検品用サンプルを製造ラ
イン上で簡単、かつ確実に追跡できる追跡装置に関する
ものである。
［考案の背景］ ボックスティッシュの製造ラインは、数百個の幅狭の
ティッシュ巻取を巻戻し、折り畳み器で連続的に折り畳
み、第３図に示すように、所定枚数に積み重ねられた連
続シートの束31とし、これをコンベア32で断裁部33に供
給する。
ティッシュ巻取を巻戻し、折り畳み器で連続的に折り畳
み、第３図に示すように、所定枚数に積み重ねられた連
続シートの束31とし、これをコンベア32で断裁部33に供
給する。
断裁部33は、コンベア32の流れ方向と同一方向の軸34
に、JIS規格で規定されているボックスティッシュの長
さ寸法と同一間隔を有する複数の回転する丸鋸35が設置
されており、該回転丸鋸35が、コンベア32の速度と同一
速度で流れ方向へ移動すると同時に下降して（第３図中
矢印Ａ）コンベア32上に載置されている連続シートの束
31を複数個のボックスティッシュT1、T2、T3、T4、T5に断裁
した後、複数の丸鋸35は上昇すると同時にコンベア32の
流れ方向反対方向へ移動して（第３図中矢印Ｂ）次の断
裁に待機し、前記操作を順次繰り返して連続シートの束
31を連続的に断裁している。
に、JIS規格で規定されているボックスティッシュの長
さ寸法と同一間隔を有する複数の回転する丸鋸35が設置
されており、該回転丸鋸35が、コンベア32の速度と同一
速度で流れ方向へ移動すると同時に下降して（第３図中
矢印Ａ）コンベア32上に載置されている連続シートの束
31を複数個のボックスティッシュT1、T2、T3、T4、T5に断裁
した後、複数の丸鋸35は上昇すると同時にコンベア32の
流れ方向反対方向へ移動して（第３図中矢印Ｂ）次の断
裁に待機し、前記操作を順次繰り返して連続シートの束
31を連続的に断裁している。
しかし、前記のようにシートの束31を連続的に断裁す
る場合、コンベア32の流れ方向下流最先端に位置するボ
ックスティッシュT5は、他のボックスティッシュT1〜T4
のように一定間隔の回転丸鋸35で両端を同時に断裁され
るのと異なり、一端は先の断裁操作で断裁されているた
め、回転丸鋸35の反復運動に大きく支配され、機械不良
や或は連続シートのテンション等の不具合から寸法に狂
いを生ずるおそれがあるため、これらすべてのボックス
ティッシュを検品用サンプルとして全数検査をする必要
がある。
る場合、コンベア32の流れ方向下流最先端に位置するボ
ックスティッシュT5は、他のボックスティッシュT1〜T4
のように一定間隔の回転丸鋸35で両端を同時に断裁され
るのと異なり、一端は先の断裁操作で断裁されているた
め、回転丸鋸35の反復運動に大きく支配され、機械不良
や或は連続シートのテンション等の不具合から寸法に狂
いを生ずるおそれがあるため、これらすべてのボックス
ティッシュを検品用サンプルとして全数検査をする必要
がある。
［従来の技術］ ボックスティッシュ製造ラインは、コンベアその他の
機構が連続的で、かつ速い速度でボックスティッシュを
生産しているため（毎分200個）、前述の検品用サンプ
ルT5を断裁後の後工程で検出することは非常に困難であ
り、そのため従来はランダムに選んだボックスティッシ
ュを取出し、これを検品用サンプルとして断裁寸法を測
定している。
機構が連続的で、かつ速い速度でボックスティッシュを
生産しているため（毎分200個）、前述の検品用サンプ
ルT5を断裁後の後工程で検出することは非常に困難であ
り、そのため従来はランダムに選んだボックスティッシ
ュを取出し、これを検品用サンプルとして断裁寸法を測
定している。
［考案が解決しようとする課題］ しかし、従来の如くライン上のボックスティッシュを
ランダムに選択する場合、検品用サンプルのみを適確に
サンプリングすることができず、そのため検品用サンプ
ル（特に寸法異常のサンプル）が良品中に紛れ込む確率
が高く、従って品質検査上充分ではない。
ランダムに選択する場合、検品用サンプルのみを適確に
サンプリングすることができず、そのため検品用サンプ
ル（特に寸法異常のサンプル）が良品中に紛れ込む確率
が高く、従って品質検査上充分ではない。
また、ランダムに選択した検品用サンプルを速い速度
で移動するライン上で追跡し、更に可動コンベアから抜
き取ることは非能率であるばかりか、作業の安全面にお
いて問題があるという欠点がある。
で移動するライン上で追跡し、更に可動コンベアから抜
き取ることは非能率であるばかりか、作業の安全面にお
いて問題があるという欠点がある。
本考案はボックスティッシュ製造ラインにおける前記
検品用サンプルを適確に追跡することができ、その結
果、寸法不良の検品用サンプルを簡単に抜き取ることが
できる検品用サンプル追跡装置を提供することにある。
検品用サンプルを適確に追跡することができ、その結
果、寸法不良の検品用サンプルを簡単に抜き取ることが
できる検品用サンプル追跡装置を提供することにある。
［課題を解決するための手段］ 本考案は、ボックスティッシュ製造ラインにおいて、
断裁部に設置されている複数の回転丸鋸で断裁されるボ
ックスティッシュの流れ方向最先端に位置する検品用サ
ンプル位置に、検知センサーが取り付けられており、さ
らに断裁部流れ方向の下流に、個数検知センサー、照射
ランプ群がそれぞれ取り付けられており、他方検知セン
サーの信号および個数検知センサーの信号がカウンター
を介して制御回路に入力しており、該制御回路は検知セ
ンサーの信号および個数検知センサーの信号から検品用
サンプルを記憶し、該検品用サンプルの信号を照射ラン
プ群へ出力し、照射ランプ群は該検品用サンプルの信号
を検知し、検品用サンプルの移動に伴って該検知センサ
ーの信号によって照射ランプ群の先頭ランプから最終ラ
ンプへ点滅させて検品用サンプルを追跡できる検品用サ
ンプル追跡装置である。
断裁部に設置されている複数の回転丸鋸で断裁されるボ
ックスティッシュの流れ方向最先端に位置する検品用サ
ンプル位置に、検知センサーが取り付けられており、さ
らに断裁部流れ方向の下流に、個数検知センサー、照射
ランプ群がそれぞれ取り付けられており、他方検知セン
サーの信号および個数検知センサーの信号がカウンター
を介して制御回路に入力しており、該制御回路は検知セ
ンサーの信号および個数検知センサーの信号から検品用
サンプルを記憶し、該検品用サンプルの信号を照射ラン
プ群へ出力し、照射ランプ群は該検品用サンプルの信号
を検知し、検品用サンプルの移動に伴って該検知センサ
ーの信号によって照射ランプ群の先頭ランプから最終ラ
ンプへ点滅させて検品用サンプルを追跡できる検品用サ
ンプル追跡装置である。
［作用］ 本考案は以上の如き構成のものからなり、検品用サン
プルは、第３図から明らかなようにボックスティッシュ
の流れ方向最先端に位置しており、ボックスティッシュ
を連続的に断裁する際、最初の検品用サンプルから所定
個数（例えば、第３図では次の検品用サンプルは最初の
検品用サンプルから５個目）毎に常に発生するため、最
初の検品用サンプルから次に発生する検品用サンプルを
チェックする必要がある。
プルは、第３図から明らかなようにボックスティッシュ
の流れ方向最先端に位置しており、ボックスティッシュ
を連続的に断裁する際、最初の検品用サンプルから所定
個数（例えば、第３図では次の検品用サンプルは最初の
検品用サンプルから５個目）毎に常に発生するため、最
初の検品用サンプルから次に発生する検品用サンプルを
チェックする必要がある。
本考案は断裁部の検品用サンプルの位置に検知センサ
ーを取付け、該検知センサーが切断したことを確認し、
そのパルス信号をカウンターに出力する。他方、個数検
知センサーはボックスティッシュの全数を１個１個をチ
ェックし、次の検品用サンプルまでの個数を確認し、制
御回路で該個数を記憶し、最初の検知センサーの信号か
ら該個数検知センサーで記憶された信号の数をカウント
し、検知センサーの信号と個数検知センサーの信号とを
照射ランプ群へ出力し、次の検品用サンプルを確認し、
前記と同様にして照射ランプ群で順次追跡することがで
き、従って、連続的に発生する検品用サンプルをその都
度照射ランプ群で追跡することができる。
ーを取付け、該検知センサーが切断したことを確認し、
そのパルス信号をカウンターに出力する。他方、個数検
知センサーはボックスティッシュの全数を１個１個をチ
ェックし、次の検品用サンプルまでの個数を確認し、制
御回路で該個数を記憶し、最初の検知センサーの信号か
ら該個数検知センサーで記憶された信号の数をカウント
し、検知センサーの信号と個数検知センサーの信号とを
照射ランプ群へ出力し、次の検品用サンプルを確認し、
前記と同様にして照射ランプ群で順次追跡することがで
き、従って、連続的に発生する検品用サンプルをその都
度照射ランプ群で追跡することができる。
従って、従来の如く作業員が目で追跡する必要がない
ため、見落しは皆無である。尚、本考案の照射ランプ群
のランプの数は特に限定する必要はなく、ライン速度、
断裁されるボックスティッシュの寸法等を考慮して適宜
の数とすればよい。
ため、見落しは皆無である。尚、本考案の照射ランプ群
のランプの数は特に限定する必要はなく、ライン速度、
断裁されるボックスティッシュの寸法等を考慮して適宜
の数とすればよい。
［実施例］ 第１図及び第２図は本考案の一実施例であるが、以下
これら図面を参照して本考案を説明する。
これら図面を参照して本考案を説明する。
ボックスティッシュ製造ライン１はコンベア２とこれ
に続くターンテーブル３及びコンベア４とから構成され
ており、コンベア２に断裁部５が配置されており、該断
裁部５には流れ方向と同一方向の軸６にボックスティッ
シュと同一寸法で、かつ等間隔に複数の丸鋸7a、7b…
…、7eが取り付けられている。該複数の丸鋸7a、7b、…
…、7eは、断裁時には第１図中矢印Ａのように下降する
と同時にコンベア２と同一速度で同一方向へ前進でき、
断裁終了後は逆に矢印Ｂのように上昇すると同時に反対
方向へ後退して次の断裁に待機する。
に続くターンテーブル３及びコンベア４とから構成され
ており、コンベア２に断裁部５が配置されており、該断
裁部５には流れ方向と同一方向の軸６にボックスティッ
シュと同一寸法で、かつ等間隔に複数の丸鋸7a、7b…
…、7eが取り付けられている。該複数の丸鋸7a、7b、…
…、7eは、断裁時には第１図中矢印Ａのように下降する
と同時にコンベア２と同一速度で同一方向へ前進でき、
断裁終了後は逆に矢印Ｂのように上昇すると同時に反対
方向へ後退して次の断裁に待機する。
また、前記断裁部５における複数の丸鋸7a、7b……、
7eのうち流れ方向最先端の丸鋸7e外部に位置するボック
スティッシュ、即ち検品用サンプルXSの側面に検知セン
サー８が取り付けられている。他方、コンベア４には個
数検知センサー９が取り付けられており、更にその流れ
方向下流に照射ランプ群10が取り付けられている。該照
射ランプ群10は検品用サンプルXSの流れ方向に沿って複
数のランプが取付けられており、カウンター13からの検
知センサー８及び個数検知センサー９の信号が入力され
ている。
7eのうち流れ方向最先端の丸鋸7e外部に位置するボック
スティッシュ、即ち検品用サンプルXSの側面に検知セン
サー８が取り付けられている。他方、コンベア４には個
数検知センサー９が取り付けられており、更にその流れ
方向下流に照射ランプ群10が取り付けられている。該照
射ランプ群10は検品用サンプルXSの流れ方向に沿って複
数のランプが取付けられており、カウンター13からの検
知センサー８及び個数検知センサー９の信号が入力され
ている。
尚、第１図中、符号12は払出し装置である。
第２図は本考案の制御回路を示したものであって、検
知センサー８及び個数検知センサー９の信号が夫々カウ
ンター13に入力している。前記検知センサー８は断裁部
５で切断した際のパルスをカウンター13に出力し、他
方、個数検知センサー９は、前記検知センサー８の検品
用サンプルXSから次に発生する検品用サンプルXSまでの
数（第１図では５番目の数）をカウンター13に出力して
おり、該カウンター13は先の検知センサー８の信号に続
いて次の検品用サンプルXSに対応する信号を順次制御回
路14に出力し、該制御回路14は前記２つの信号を記憶す
る。
知センサー８及び個数検知センサー９の信号が夫々カウ
ンター13に入力している。前記検知センサー８は断裁部
５で切断した際のパルスをカウンター13に出力し、他
方、個数検知センサー９は、前記検知センサー８の検品
用サンプルXSから次に発生する検品用サンプルXSまでの
数（第１図では５番目の数）をカウンター13に出力して
おり、該カウンター13は先の検知センサー８の信号に続
いて次の検品用サンプルXSに対応する信号を順次制御回
路14に出力し、該制御回路14は前記２つの信号を記憶す
る。
制御回路14は前記のように記憶した検品用サンプルの
検知センサー８の信号を照射ランプ群10に出力し、照射
ランプ群10は検品用サンプルXSの流れにつれて移動する
検知センサー８の信号を先頭ランプから最終ランプ（第
１図中、左から右方向）へ順次入力させてランプを点滅
させて追跡する。即ち、検品用サンプルXSの移動位置は
照射ランプ群10のランプの点滅によって直ちに検品用サ
ンプルXSの移動位置を確認することができる。
検知センサー８の信号を照射ランプ群10に出力し、照射
ランプ群10は検品用サンプルXSの流れにつれて移動する
検知センサー８の信号を先頭ランプから最終ランプ（第
１図中、左から右方向）へ順次入力させてランプを点滅
させて追跡する。即ち、検品用サンプルXSの移動位置は
照射ランプ群10のランプの点滅によって直ちに検品用サ
ンプルXSの移動位置を確認することができる。
更に、ボックスティッシュ製造ラインの断裁部５の連
続断裁によって発生する次の検品用サンプルXSは制御回
路14に記憶されている個数検知センサー９の信号と検知
センサー８の信号を照射ランプ群10に出力し、次の検品
用サンプルXSが照射ランプ群10に達したとき、前記と同
様に先頭ランプから最終ランプへ順次点滅させてその位
置を確認することができる。従って、連続的に断裁され
て発生する検品用サンプルXSを常にチェックして追跡す
ることができる。
続断裁によって発生する次の検品用サンプルXSは制御回
路14に記憶されている個数検知センサー９の信号と検知
センサー８の信号を照射ランプ群10に出力し、次の検品
用サンプルXSが照射ランプ群10に達したとき、前記と同
様に先頭ランプから最終ランプへ順次点滅させてその位
置を確認することができる。従って、連続的に断裁され
て発生する検品用サンプルXSを常にチェックして追跡す
ることができる。
本考案で使用するセンサーは検知センサー８、個数検
知センサー９には光電スイッチ、近接スイッチ、リミッ
ト及びマイクロスイッチ、超音波スイッチロータリーエ
ンコーダー、オプトセンサー、フォトマイクロセンサ
ー、プレッシャーセンサー又は焦電センサー等常用の各
種センサーが使用できる。
知センサー９には光電スイッチ、近接スイッチ、リミッ
ト及びマイクロスイッチ、超音波スイッチロータリーエ
ンコーダー、オプトセンサー、フォトマイクロセンサ
ー、プレッシャーセンサー又は焦電センサー等常用の各
種センサーが使用できる。
以上のようにして追跡された検品用サンプルXSは、該
検品用サンプルXSの信号を制御回路14から払出し回路17
に出力し、該払出し回路17がコンベア４に設置されてい
る払出し装置12を作動させて検品用サンプルXSをはじき
出すこともできる。
検品用サンプルXSの信号を制御回路14から払出し回路17
に出力し、該払出し回路17がコンベア４に設置されてい
る払出し装置12を作動させて検品用サンプルXSをはじき
出すこともできる。
［考案の効果］ 以上の如く本考案は一定間隔で連続的に送られてくる
検品用サンプルを照射ランプ群によって確実に追跡でき
るから、不慣れな作業員でもミスなく確実に検品用サン
プルを確認することができる。また、払出し装置を作動
させてはじき出すこともできるため、作業能率を大幅に
改善でき、寸法異常の検品用サンプルが良品中に紛れ込
むおそれは皆無であるから、品質管理を改善することも
できる。
検品用サンプルを照射ランプ群によって確実に追跡でき
るから、不慣れな作業員でもミスなく確実に検品用サン
プルを確認することができる。また、払出し装置を作動
させてはじき出すこともできるため、作業能率を大幅に
改善でき、寸法異常の検品用サンプルが良品中に紛れ込
むおそれは皆無であるから、品質管理を改善することも
できる。
第１図は本考案の一実施例の説明図、第２図は本考案の
制御系の一実施例の説明図、第３図は従来の製造ライン
の説明図である。 1:ボックスティッシュ製造ライン、２、4:コンベア、3:
ターンテーブル、5:断裁部、7a、7b、7c、7d、7e:丸
鋸、8:検知センサー、9:個数検知センサー、10:照射ラ
ンプ群、12:払出し装置、13:カウンター、14:制御装
置、17:払出し回路。
制御系の一実施例の説明図、第３図は従来の製造ライン
の説明図である。 1:ボックスティッシュ製造ライン、２、4:コンベア、3:
ターンテーブル、5:断裁部、7a、7b、7c、7d、7e:丸
鋸、8:検知センサー、9:個数検知センサー、10:照射ラ
ンプ群、12:払出し装置、13:カウンター、14:制御装
置、17:払出し回路。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)考案者 新美 寿通 愛知県春日井市王子町１番地 王子製紙 株式会社春日井工場内 (72)考案者 永井 信行 愛知県春日井市王子町１番地 王子製紙 株式会社春日井工場内 (56)参考文献 特開 昭62−132576（ＪＰ，Ａ) 特開 昭57−66304（ＪＰ，Ａ)
Claims (1)
- 【請求項１】ボックスティッシュ製造ラインにおいて、
断裁部に設置されている複数の回転丸鋸で断裁されるボ
ックスティッシュの流れ方向最先端に位置する検品用サ
ンプル位置に、検知センサーが取り付けられており、さ
らに断裁部流れ方向の下流に、個数検知センサー、照射
ランプ群が夫々取り付けられており、他方検知センサー
の信号および個数検知センサーの信号がカウンターを介
して制御回路に入力しており、該制御回路は検知センサ
ーの信号および個数検知センサーの信号から検品用サン
プルを記憶し、該検品用サンプルの信号を順次照射ラン
プ群へ出力し、照射ランプ群は該検品用サンプルの信号
を検知し、検品用サンプルの移動に伴って該検知センサ
ーの信号によって照射ランプ群の先頭ランプから最終ラ
ンプへ点滅させて検品用サンプルを追跡させることを特
徴とする検品用サンプル追跡装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1988033316U JP2525385Y2 (ja) | 1988-03-14 | 1988-03-14 | 検品用サンプル追跡装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1988033316U JP2525385Y2 (ja) | 1988-03-14 | 1988-03-14 | 検品用サンプル追跡装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01137410U JPH01137410U (ja) | 1989-09-20 |
| JP2525385Y2 true JP2525385Y2 (ja) | 1997-02-12 |
Family
ID=31259970
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1988033316U Expired - Lifetime JP2525385Y2 (ja) | 1988-03-14 | 1988-03-14 | 検品用サンプル追跡装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2525385Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5230325B2 (ja) * | 2007-09-28 | 2013-07-10 | 大王製紙株式会社 | 積層連続シートの切断装置 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4068163A (en) * | 1976-07-02 | 1978-01-10 | Diamond Power Specialty Corporation | Reed switch oscillator assembly for a position indicating system |
| JPS5766304A (en) * | 1980-10-09 | 1982-04-22 | Nippon Kokan Kk <Nkk> | Device for discriminaing part of defective shape of steel plate |
| JPS62132576A (ja) * | 1985-12-03 | 1987-06-15 | 富士電機株式会社 | 測長装置を有するビレツト加熱装置 |
-
1988
- 1988-03-14 JP JP1988033316U patent/JP2525385Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01137410U (ja) | 1989-09-20 |
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