JP2520150Y2 - 超音波探触子の保持装置 - Google Patents
超音波探触子の保持装置Info
- Publication number
- JP2520150Y2 JP2520150Y2 JP6184391U JP6184391U JP2520150Y2 JP 2520150 Y2 JP2520150 Y2 JP 2520150Y2 JP 6184391 U JP6184391 U JP 6184391U JP 6184391 U JP6184391 U JP 6184391U JP 2520150 Y2 JP2520150 Y2 JP 2520150Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ultrasonic probe
- inspected
- disc
- contact
- holding device
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この考案は探触子を手で被検査体
に接触移動させるための超音波探触子の保持装置に関す
るものである。
に接触移動させるための超音波探触子の保持装置に関す
るものである。
【０００２】
【従来の技術】一般に、産業における各種構造物、部分
品等において傷の有無を検査することは、その安全度や
寿命の確認のために重要であり、その傷の検査方法の中
で特に超音波探傷方式は広く使用されている。この超音
波探傷の最も通常の直接接触方式としては、探触子を
水、油又はグリセリンのような接触媒質の薄膜を経由し
て被検査体に接触させて移動させ、その移動範囲の被検
査体内部傷を検出するものであるが、この時探触子を直
接手で持ち接触させ移動することが多く、探触子の接触
面が被検査体表面に対して常に薄く一様な接触媒体の厚
さを保つことは熟練者のみに可能である。即ち、超音波
探傷のために超音波探触子を人の手で保持し、被検査体
表面に接触させて移動走査する場合、その探触子の接触
面の前面を被検査体表面と常に一定の接触媒質の薄膜を
存在させるには、操作者の熟練によるのが通例である。
品等において傷の有無を検査することは、その安全度や
寿命の確認のために重要であり、その傷の検査方法の中
で特に超音波探傷方式は広く使用されている。この超音
波探傷の最も通常の直接接触方式としては、探触子を
水、油又はグリセリンのような接触媒質の薄膜を経由し
て被検査体に接触させて移動させ、その移動範囲の被検
査体内部傷を検出するものであるが、この時探触子を直
接手で持ち接触させ移動することが多く、探触子の接触
面が被検査体表面に対して常に薄く一様な接触媒体の厚
さを保つことは熟練者のみに可能である。即ち、超音波
探傷のために超音波探触子を人の手で保持し、被検査体
表面に接触させて移動走査する場合、その探触子の接触
面の前面を被検査体表面と常に一定の接触媒質の薄膜を
存在させるには、操作者の熟練によるのが通例である。
【０００３】
【考案が解決しようとする課題】しかし、超音波探触子
を手で持ち、その接触面の前面を被検査体表面に、常に
接触媒質流体の一定厚さの薄膜を保ちつつ、測定したい
範囲を移動走査せねばならず、広い範囲に常にこれを実
施することは通常困難であり、それが測定の精度を低下
させる。
を手で持ち、その接触面の前面を被検査体表面に、常に
接触媒質流体の一定厚さの薄膜を保ちつつ、測定したい
範囲を移動走査せねばならず、広い範囲に常にこれを実
施することは通常困難であり、それが測定の精度を低下
させる。
【０００４】更に、接触面と被検査体表面との間に接触
媒質流体の一定厚さの薄膜を形成させるには、超音波探
触子を被検査体表面に対して垂直にし、適当な圧力もっ
て押し付けることによるが、超音波探触子を移動させる
時にも常に被検査体表面に垂直でなければならない。も
し超音波探触子の接触面の直径６ｍｍのものを使用し
て、これが被検査体表面に対して１度傾くと、超音波探
触子の接触面と被検査体との間の間隙には約０．１ｍｍ
の偏差を生ずる。通常、接触媒質流体の厚さは０．１ｍ
ｍ単位とするからこの程度の傾きも測定値の感度偏差を
生ずる。また、もし移動中に超音波探触子の接触面と被
検査体表面との間の接触媒質流体の膜厚がゼロに近くな
れば、移動中に接触媒質が潤滑剤として移動が滑らかで
軽かったのが、そのため重くなり、これが超音波探触子
の手で保持した点の高さと移動に要する摩擦力の積によ
るモーメントとなって、超音波探触子を移動方向に倒す
力となり、これが接触媒質の厚さ不均等を助長し、且つ
移動摩擦力を増し、急激に測定誤差を発生させる。
媒質流体の一定厚さの薄膜を形成させるには、超音波探
触子を被検査体表面に対して垂直にし、適当な圧力もっ
て押し付けることによるが、超音波探触子を移動させる
時にも常に被検査体表面に垂直でなければならない。も
し超音波探触子の接触面の直径６ｍｍのものを使用し
て、これが被検査体表面に対して１度傾くと、超音波探
触子の接触面と被検査体との間の間隙には約０．１ｍｍ
の偏差を生ずる。通常、接触媒質流体の厚さは０．１ｍ
ｍ単位とするからこの程度の傾きも測定値の感度偏差を
生ずる。また、もし移動中に超音波探触子の接触面と被
検査体表面との間の接触媒質流体の膜厚がゼロに近くな
れば、移動中に接触媒質が潤滑剤として移動が滑らかで
軽かったのが、そのため重くなり、これが超音波探触子
の手で保持した点の高さと移動に要する摩擦力の積によ
るモーメントとなって、超音波探触子を移動方向に倒す
力となり、これが接触媒質の厚さ不均等を助長し、且つ
移動摩擦力を増し、急激に測定誤差を発生させる。
【０００５】即ち、図４は超音波探触子１を手２で直接
掴んで移動走査する時の力とモーメントの関係を示す説
明図であり、被検査体表面３には超音波探触子１を押し
付ける力４が働き、走査移動の方向を矢印５とすると、
移動により発生する摩擦力は矢印６として示され、この
摩擦力が生じた時に超音波探触子１を倒そうとするモー
メントの高さ成分７が発生する。この場合、実際には被
検査体表面３から手２の指先まででなく、より手首に近
い位置の高さに等価的に存在する。８は超音波探触子１
のケーブルを示す。
掴んで移動走査する時の力とモーメントの関係を示す説
明図であり、被検査体表面３には超音波探触子１を押し
付ける力４が働き、走査移動の方向を矢印５とすると、
移動により発生する摩擦力は矢印６として示され、この
摩擦力が生じた時に超音波探触子１を倒そうとするモー
メントの高さ成分７が発生する。この場合、実際には被
検査体表面３から手２の指先まででなく、より手首に近
い位置の高さに等価的に存在する。８は超音波探触子１
のケーブルを示す。
【０００６】なお、機械的に超音波探触子をしっかり垂
直に保持し、これを適当な圧力で被検査体表面に押し付
けて移動させるものであればこれを解決するが、これに
は大掛かりな機構を要し、手で保持し簡易な測定検査と
なし得ない。
直に保持し、これを適当な圧力で被検査体表面に押し付
けて移動させるものであればこれを解決するが、これに
は大掛かりな機構を要し、手で保持し簡易な測定検査と
なし得ない。
【０００７】本考案は上記実情に鑑み、超音波探触子本
体を保持部に球面すべり軸受けで支承するようにするこ
とで、上記課題を解決する簡易タイプの超音波探触子の
保持装置を提供することを目的としたものである。
体を保持部に球面すべり軸受けで支承するようにするこ
とで、上記課題を解決する簡易タイプの超音波探触子の
保持装置を提供することを目的としたものである。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本考案は、超音波探触子
を、その接触面前面の直径の数倍の直径をもつ平坦な円
板の中央の開口部に、円板の下面と超音波探触子の接触
面が同一面上になるように取り付け、前記円板に同心で
超音波探触子の側面に球面すベり軸受の内側を取り付け
ると共に、該球面すべり軸受の外側に手で掴むための掴
み部を取り付けてたものである。
を、その接触面前面の直径の数倍の直径をもつ平坦な円
板の中央の開口部に、円板の下面と超音波探触子の接触
面が同一面上になるように取り付け、前記円板に同心で
超音波探触子の側面に球面すベり軸受の内側を取り付け
ると共に、該球面すべり軸受の外側に手で掴むための掴
み部を取り付けてたものである。
【０００９】
【作用】上記のように、手により超音波探触子を操作し
て移動走査する時に、その接触前面と被検査体表面の間
隔は接触媒質流体による均一厚の薄膜を確保せねばなら
ないが、この超音波探触子の前面はその直径の数倍の直
径をもつ円板に囲まれ、該円板の下面と超音波探触子の
接触面が同一面上に固定されているため、超音波探触子
を被検査体表面に押し付けるのみで、超音波探触子の接
触面は被検査体表面に対して自動的にほぼ均一な間隔を
得られるのである。更に、円板は球面すべり軸受をもっ
て掴み部から力を受ける。球面すべり軸受構造としたこ
とにより、掴み部に軸方向押し付け力とそれに直角の円
板を移動させようとする力はそのまま円板に伝達される
が、掴み部の前後左右の倒れにはフリーでその力は伝達
されない。よって、掴み部を手で掴み被検査体表面に押
し付ければ、掴み部の被検査体表面と垂直性について調
整不要で接触媒質の均一厚さを得る。これを移動走査す
る時に、仮に接触摩擦力の発生により超音波探触子に対
し横倒モーメントを発生するとして、その力点は球面滑
り軸受の中心であって、超音波探触子の高さよりも低い
点にあるので、通常の手で直接超音波探触子を掴んで操
作する時より小さいモーメントとなる上に、球面すべり
軸受により手の掴み方が倒れる方向に向かうことの影響
はない。
て移動走査する時に、その接触前面と被検査体表面の間
隔は接触媒質流体による均一厚の薄膜を確保せねばなら
ないが、この超音波探触子の前面はその直径の数倍の直
径をもつ円板に囲まれ、該円板の下面と超音波探触子の
接触面が同一面上に固定されているため、超音波探触子
を被検査体表面に押し付けるのみで、超音波探触子の接
触面は被検査体表面に対して自動的にほぼ均一な間隔を
得られるのである。更に、円板は球面すべり軸受をもっ
て掴み部から力を受ける。球面すべり軸受構造としたこ
とにより、掴み部に軸方向押し付け力とそれに直角の円
板を移動させようとする力はそのまま円板に伝達される
が、掴み部の前後左右の倒れにはフリーでその力は伝達
されない。よって、掴み部を手で掴み被検査体表面に押
し付ければ、掴み部の被検査体表面と垂直性について調
整不要で接触媒質の均一厚さを得る。これを移動走査す
る時に、仮に接触摩擦力の発生により超音波探触子に対
し横倒モーメントを発生するとして、その力点は球面滑
り軸受の中心であって、超音波探触子の高さよりも低い
点にあるので、通常の手で直接超音波探触子を掴んで操
作する時より小さいモーメントとなる上に、球面すべり
軸受により手の掴み方が倒れる方向に向かうことの影響
はない。
【００１０】
【実施例】以下、本考案を実施例の図面に基づいて説明
すれば、次の通りである。
すれば、次の通りである。
【００１１】９は直径３０〜４０ｍｍ程で厚さ５ｍｍと
してなる円板で、該円板９の中央に超音波探触子１を取
付ける。この場合、円板９の下面は平滑で超音探触子１
の接触面と面一とする。１０は円板９の上面にあって超
音波探触子１の側面に取付けた球面すべり軸受で、該球
面すべり軸受１０は外側を掴み部１１に取付け、これら
全体として保持装置１２となる。この掴み部１１の形状
は取扱い容易にするために上方を細径とした段付き筒状
のケース体構造となっていて、該掴み部１１の下方に円
板９の外周縁が臨んでいるが、図示の構造に限定される
ものではない。また、もし接触媒質流体ａを本装置から
自動供給させる必要のあるときには、掴み部１１の上端
側部に流体用タンク１３を取付け、該タンク１３に充填
した接触媒質流体ａを供給する可撓性の供給管１４の下
端を、前記円板９内に設けた通路管１５に連続し、該通
路管１５の先端を下面に臨む被検査体表面３との間に開
けた供給用開口点１６に連絡する。この開口点１６は超
音波探触子１の周辺に密着した点、円板の周辺部等の必
要箇所の必要個数を配設する。場合によっては開口は円
板中心に対して同心円状の連続開口としてもよい。ま
た、必要により円板の周辺にそれぞれ９０度の位置にあ
るマークを書き、超音波探触子１の中心位置を外部から
察知できるようにしてもよい。
してなる円板で、該円板９の中央に超音波探触子１を取
付ける。この場合、円板９の下面は平滑で超音探触子１
の接触面と面一とする。１０は円板９の上面にあって超
音波探触子１の側面に取付けた球面すべり軸受で、該球
面すべり軸受１０は外側を掴み部１１に取付け、これら
全体として保持装置１２となる。この掴み部１１の形状
は取扱い容易にするために上方を細径とした段付き筒状
のケース体構造となっていて、該掴み部１１の下方に円
板９の外周縁が臨んでいるが、図示の構造に限定される
ものではない。また、もし接触媒質流体ａを本装置から
自動供給させる必要のあるときには、掴み部１１の上端
側部に流体用タンク１３を取付け、該タンク１３に充填
した接触媒質流体ａを供給する可撓性の供給管１４の下
端を、前記円板９内に設けた通路管１５に連続し、該通
路管１５の先端を下面に臨む被検査体表面３との間に開
けた供給用開口点１６に連絡する。この開口点１６は超
音波探触子１の周辺に密着した点、円板の周辺部等の必
要箇所の必要個数を配設する。場合によっては開口は円
板中心に対して同心円状の連続開口としてもよい。ま
た、必要により円板の周辺にそれぞれ９０度の位置にあ
るマークを書き、超音波探触子１の中心位置を外部から
察知できるようにしてもよい。
【００１２】なお、円板９はその下面を被検査体表面３
に押し付けるが、この時接触媒質流体に加えられ圧力
は、前記押し付け力４を円板９の接触面断面積で割った
値である。接触媒質流体の厚さは、円板９の移動中でも
一定の出来るだけ薄い値を保つことが望ましい。そのた
めに押し付け力４を大きくすればよいが、円板９の接触
面断面積を小としてもよい。
に押し付けるが、この時接触媒質流体に加えられ圧力
は、前記押し付け力４を円板９の接触面断面積で割った
値である。接触媒質流体の厚さは、円板９の移動中でも
一定の出来るだけ薄い値を保つことが望ましい。そのた
めに押し付け力４を大きくすればよいが、円板９の接触
面断面積を小としてもよい。
【００１３】しかし、円板９の直径は前述のように移動
中の転倒モーメントを減少させる重要要素であるので、
直径を減じて断面積を減少させるべきでない。そのた
め、図２の如く円板９の面に１個又は複数個の同心円状
の溝１７を付け、その直径は確保しつつ接触面断面積を
減少させることがよい。場合により鎖線で示す放射状の
溝１８を必要数設けてもよい。
中の転倒モーメントを減少させる重要要素であるので、
直径を減じて断面積を減少させるべきでない。そのた
め、図２の如く円板９の面に１個又は複数個の同心円状
の溝１７を付け、その直径は確保しつつ接触面断面積を
減少させることがよい。場合により鎖線で示す放射状の
溝１８を必要数設けてもよい。
【００１４】次にこの作用を説明すると、先ず使用に際
し手で保持装置１２の掴み部１１を握り超音波探触子１
を被検査体表面３に押し付け移動させる。即ち、接触媒
質の膜厚が超音波探傷に適当な厚さとなる圧下力で円板
９の下面を被検査体表面３に押し付けつつ、必要方向に
移動させる場合、円板９は球面すべり軸受１０をもって
掴み部１１から力を受けるが、、該球面すべり軸受１０
で軸方向押し付け力とそれに直角の円板９を移動させよ
うとする力をそのまま伝達され、被検査体表面との垂直
性について調整不要で接触媒質の均一厚さを得る。この
ため、熟練しない操作者でも僅かな操作要領取得期間で
きわめて安定した探傷結果を得ることができ、且つ個人
誤差も小さい。
し手で保持装置１２の掴み部１１を握り超音波探触子１
を被検査体表面３に押し付け移動させる。即ち、接触媒
質の膜厚が超音波探傷に適当な厚さとなる圧下力で円板
９の下面を被検査体表面３に押し付けつつ、必要方向に
移動させる場合、円板９は球面すべり軸受１０をもって
掴み部１１から力を受けるが、、該球面すべり軸受１０
で軸方向押し付け力とそれに直角の円板９を移動させよ
うとする力をそのまま伝達され、被検査体表面との垂直
性について調整不要で接触媒質の均一厚さを得る。この
ため、熟練しない操作者でも僅かな操作要領取得期間で
きわめて安定した探傷結果を得ることができ、且つ個人
誤差も小さい。
【００１５】
【考案の効果】上記のように、本考案の超音波探触子の
保持装置は円板と球面すべり軸受と掴み部の三点のみで
構成し、これに超音波探触子を取付けただけでよく、超
音波探触子の接触面が被検査体表面と均一厚の接触媒質
流体の薄膜で対向させることが容易に得られ、非熟練者
でも容易に安定した取扱いが可能で、且つ個人誤差の少
ない超音波探傷ができる。特に曲面状の表面をもつ非検
査体の探傷にも最適となる。
保持装置は円板と球面すべり軸受と掴み部の三点のみで
構成し、これに超音波探触子を取付けただけでよく、超
音波探触子の接触面が被検査体表面と均一厚の接触媒質
流体の薄膜で対向させることが容易に得られ、非熟練者
でも容易に安定した取扱いが可能で、且つ個人誤差の少
ない超音波探傷ができる。特に曲面状の表面をもつ非検
査体の探傷にも最適となる。
【図１】この考案の実施例を示す要部縦断正面図。
【図２】円板部の底面図。
【図３】同断面図。
【図４】従来の超音波探触子の使用状態の説明図であ
る。
る。
１ 超音波探触子 ９ 円板 １０ 球面すべり軸受 １１ 掴み部
Claims (1)
- 【請求項１】 超音波探触子を、その接触面前面の直径
の数倍の直径をもつ平坦な円板の中央の開口部に、円板
の下面と超音波探触子の接触面が同一面上になるように
取り付け、前記円板に同心で超音波探触子の側面に球面
すべり軸受けの内側を取り付けると共に、該球面すべり
軸受けの外側に手で掴むための掴み部を取り付けたこと
を特徴とする超音波探触子の保持装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6184391U JP2520150Y2 (ja) | 1991-05-01 | 1991-05-01 | 超音波探触子の保持装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6184391U JP2520150Y2 (ja) | 1991-05-01 | 1991-05-01 | 超音波探触子の保持装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04126157U JPH04126157U (ja) | 1992-11-17 |
| JP2520150Y2 true JP2520150Y2 (ja) | 1996-12-11 |
Family
ID=31930113
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6184391U Expired - Lifetime JP2520150Y2 (ja) | 1991-05-01 | 1991-05-01 | 超音波探触子の保持装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2520150Y2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5319355B2 (ja) * | 2009-03-27 | 2013-10-16 | 高嶋技研株式会社 | 手探傷用超音波探傷器 |
| JP5422464B2 (ja) * | 2010-03-31 | 2014-02-19 | 中日本ハイウェイ・エンジニアリング名古屋株式会社 | 打撃検査装置 |
| JP6153760B2 (ja) * | 2013-04-15 | 2017-06-28 | 株式会社日立製作所 | 超音波板厚測定装置 |
-
1991
- 1991-05-01 JP JP6184391U patent/JP2520150Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04126157U (ja) | 1992-11-17 |
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