JP2515422B2 - 碍子汚損量測定方法 - Google Patents
碍子汚損量測定方法Info
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- JP2515422B2 JP2515422B2 JP19515290A JP19515290A JP2515422B2 JP 2515422 B2 JP2515422 B2 JP 2515422B2 JP 19515290 A JP19515290 A JP 19515290A JP 19515290 A JP19515290 A JP 19515290A JP 2515422 B2 JP2515422 B2 JP 2515422B2
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/12—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing
- G01R31/1227—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing of components, parts or materials
- G01R31/1245—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing of components, parts or materials of line insulators or spacers, e.g. ceramic overhead line cap insulators; of insulators in HV bushings
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は懸垂碍子や長幹碍子などに付着した塩分、
硫化物、硫酸塩、石膏、あるいはセメントなどを含んだ
汚損物の量を測定することができる碍子汚損量測定方法
に関するものである。
硫化物、硫酸塩、石膏、あるいはセメントなどを含んだ
汚損物の量を測定することができる碍子汚損量測定方法
に関するものである。
一般に、送電線の支持碍子の塩害などによる絶対低下
に起因する地絡事故を未然に防止するため、碍子に付着
した汚損物を等価塩分付着密度として正確に把握するこ
とが重要である。このような汚損量測定方法として、水
を貯留した洗浄槽内で被測定碍子を超音波振動作用を利
用して洗浄し、洗浄後の汚損水の電導度を測定して、こ
の電導度から汚損量を演算する測定方法や、前もって複
数の電極が焼き付けてある被測定碍子を使用して、表面
を均等に湿潤させた状態で電極間の抵抗を測定して汚損
量を求める測定方法があった。
に起因する地絡事故を未然に防止するため、碍子に付着
した汚損物を等価塩分付着密度として正確に把握するこ
とが重要である。このような汚損量測定方法として、水
を貯留した洗浄槽内で被測定碍子を超音波振動作用を利
用して洗浄し、洗浄後の汚損水の電導度を測定して、こ
の電導度から汚損量を演算する測定方法や、前もって複
数の電極が焼き付けてある被測定碍子を使用して、表面
を均等に湿潤させた状態で電極間の抵抗を測定して汚損
量を求める測定方法があった。
ところが、前者の超音波洗浄方法は、碍子の被洗浄表
面が必ず洗浄水に浸されていなければならないので、長
幹碍子のように形状が複雑でない碍子の汚損量測定には
適用できるが、懸垂碍子のように複雑な表面形状の碍子
の汚損量測定には適用できないという問題があった。
面が必ず洗浄水に浸されていなければならないので、長
幹碍子のように形状が複雑でない碍子の汚損量測定には
適用できるが、懸垂碍子のように複雑な表面形状の碍子
の汚損量測定には適用できないという問題があった。
一方、後者の測定方法は碍子表面を均等に湿潤させる
のに時間がかかり、又、表面抵抗から汚損量に換算する
ため測定精度が低くなるという問題があった。
のに時間がかかり、又、表面抵抗から汚損量に換算する
ため測定精度が低くなるという問題があった。
なお、懸垂碍子の汚損量を測定する従来の方法とし
て、碍子表面に付着した汚損物を水分を含浸した綿等に
より拭き取り、汚損物を所定量の水に溶解させた後、そ
の汚損水の電導度を測定して汚損量を演算する方法もあ
ったが、これは汚損量測定作業が面倒で長時間を要し、
台風等による急速汚損時での測定作業が危険であるとい
う問題があった。
て、碍子表面に付着した汚損物を水分を含浸した綿等に
より拭き取り、汚損物を所定量の水に溶解させた後、そ
の汚損水の電導度を測定して汚損量を演算する方法もあ
ったが、これは汚損量測定作業が面倒で長時間を要し、
台風等による急速汚損時での測定作業が危険であるとい
う問題があった。
この発明の目的は上記従来の問題点を解消して、汚損
量の測定作業能率を向上することができるとともに、測
定精度を向上し、懸垂碍子のような複雑な形状の碍子の
汚損量測定にも適用できる碍子汚損量測定方法を提供す
ることにある。
量の測定作業能率を向上することができるとともに、測
定精度を向上し、懸垂碍子のような複雑な形状の碍子の
汚損量測定にも適用できる碍子汚損量測定方法を提供す
ることにある。
請求項１記載の発明は、上記目的を達成するため、洗
浄水供給源から碍子洗浄槽内へ洗浄水を供給して洗浄槽
内を清掃した後、被測定碍子を暴露位置から洗浄槽位置
に移動し、清掃後の洗浄水を洗浄槽から排出し、前記洗
浄水供給源から洗浄水を洗浄槽内の被測定碍子に噴射し
て碍子表面を洗浄し、さらに、電導度計により洗浄後の
汚損水の電導度を測定し、演算制御装置により前記電導
度から予め測定又は設定しておいた洗浄水用タンクの洗
浄水の固有電導度を減算し、被測定碍子の塩分付着密度
を演算するという方法をとっている。
浄水供給源から碍子洗浄槽内へ洗浄水を供給して洗浄槽
内を清掃した後、被測定碍子を暴露位置から洗浄槽位置
に移動し、清掃後の洗浄水を洗浄槽から排出し、前記洗
浄水供給源から洗浄水を洗浄槽内の被測定碍子に噴射し
て碍子表面を洗浄し、さらに、電導度計により洗浄後の
汚損水の電導度を測定し、演算制御装置により前記電導
度から予め測定又は設定しておいた洗浄水用タンクの洗
浄水の固有電導度を減算し、被測定碍子の塩分付着密度
を演算するという方法をとっている。
又、請求項２記載の発明は洗浄水供給源から碍子洗浄
槽内へ洗浄水を供給して洗浄槽内を清掃するとともに、
清掃後の洗浄水を洗浄槽から排出し、次に、所定量の洗
浄水を洗浄槽内に供給して電導度計により洗浄水固有の
電導度を測定し、その後、被測定碍子を暴露位置から洗
浄槽位置に移動し、測定後の洗浄水を洗浄槽から排出
し、次に前記洗浄水供給源から所定量の洗浄水を洗浄槽
内の被測定碍子に噴射して碍子表面を洗浄し、さらに、
電導度計により洗浄後の汚損水の電導度を測定し、この
被測定碍子の洗浄後に得られた電導度から前記洗浄水固
有の電導度を演算制御装置により減算し、この減算され
た電導度から被測定碍子の塩分付着密度を演算するとい
う方法をとっている。
槽内へ洗浄水を供給して洗浄槽内を清掃するとともに、
清掃後の洗浄水を洗浄槽から排出し、次に、所定量の洗
浄水を洗浄槽内に供給して電導度計により洗浄水固有の
電導度を測定し、その後、被測定碍子を暴露位置から洗
浄槽位置に移動し、測定後の洗浄水を洗浄槽から排出
し、次に前記洗浄水供給源から所定量の洗浄水を洗浄槽
内の被測定碍子に噴射して碍子表面を洗浄し、さらに、
電導度計により洗浄後の汚損水の電導度を測定し、この
被測定碍子の洗浄後に得られた電導度から前記洗浄水固
有の電導度を演算制御装置により減算し、この減算され
た電導度から被測定碍子の塩分付着密度を演算するとい
う方法をとっている。
さらに、請求項３記載の発明は、請求項１又は２記載
の碍子汚損量測定方法において、被測定碍子の洗浄後の
汚損水の電導度を測定した後、碍子洗浄槽から汚損水を
排出し、洗浄水供給源から碍子洗浄槽内へ洗浄水を供給
して洗浄槽内を清掃するという方法をとっている。
の碍子汚損量測定方法において、被測定碍子の洗浄後の
汚損水の電導度を測定した後、碍子洗浄槽から汚損水を
排出し、洗浄水供給源から碍子洗浄槽内へ洗浄水を供給
して洗浄槽内を清掃するという方法をとっている。
請求項１記載の発明は、洗浄水供給源から碍子洗浄槽
内へ洗浄水を供給して洗浄槽内の清掃を行なうので、洗
浄槽内に付着している残留汚損物が除去されるため、被
測定碍子の汚損量の測定精度が向上する。又、被測定碍
子の碍子表面を洗浄した汚損水の電導度から予め測定又
は設定しておいた洗浄水固有の電導度を減算し、この減
算結果に基づいて汚損量を演算するので、被測定碍子の
汚損量の測定精度が向上する。
内へ洗浄水を供給して洗浄槽内の清掃を行なうので、洗
浄槽内に付着している残留汚損物が除去されるため、被
測定碍子の汚損量の測定精度が向上する。又、被測定碍
子の碍子表面を洗浄した汚損水の電導度から予め測定又
は設定しておいた洗浄水固有の電導度を減算し、この減
算結果に基づいて汚損量を演算するので、被測定碍子の
汚損量の測定精度が向上する。
又、請求項２記載の発明は、所定量の洗浄水を洗浄槽
内に供給して電導度計により洗浄水固有の電導度を測定
するので、請求項１記載の発明よりも測定精度が向上す
る。
内に供給して電導度計により洗浄水固有の電導度を測定
するので、請求項１記載の発明よりも測定精度が向上す
る。
さらに、請求項３記載の発明は、被測定碍子の洗浄後
の汚損水の電導度の測定後、碍子洗浄槽から汚損水を排
出し、洗浄水供給源から碍子洗浄槽内へ洗浄水を供給し
て洗浄槽内を洗浄清掃するので、洗浄槽内に付着して残
留する汚損物の量を減少して、次回の汚損量の測定精度
を向上することができる。
の汚損水の電導度の測定後、碍子洗浄槽から汚損水を排
出し、洗浄水供給源から碍子洗浄槽内へ洗浄水を供給し
て洗浄槽内を洗浄清掃するので、洗浄槽内に付着して残
留する汚損物の量を減少して、次回の汚損量の測定精度
を向上することができる。
以下、請求項１記載の発明の碍子汚損量測定方法に使
用される汚損量測定装置を第２図に基づいて説明する。
用される汚損量測定装置を第２図に基づいて説明する。
第２図に示すように、洗浄水用タンク１には給水管路
２を介して碍子洗浄槽３が接続され、前記給水管路２の
途中には給水用ポンプ４と常閉型の電磁弁SV1が接続さ
れている。又、前記ポンプ４には第１及び第２のバイパ
ス管路5,6が接続され、第１バイパス管路５には手動弁
Ｖが接続され、第２バイパス管路６には常閉型の電磁弁
SV2が接続されている。そして、電磁弁SV1を閉鎖した状
態でポンプ４を起動すると、洗浄水用タンク１内の洗浄
水がポンプ４により給水管路２から第２バイパス管路６
及び電磁弁SV2を通り前記タンク１へ還元される。この
とき手動弁Ｖの開口量を調節することによりポンプ４が
定速回転している状態で、洗浄水の水圧が調整され、電
磁弁SV1を開放した状態でポンプ４を所定時間（所定回
転数）回転した時の洗浄水の供給量が調節される。
２を介して碍子洗浄槽３が接続され、前記給水管路２の
途中には給水用ポンプ４と常閉型の電磁弁SV1が接続さ
れている。又、前記ポンプ４には第１及び第２のバイパ
ス管路5,6が接続され、第１バイパス管路５には手動弁
Ｖが接続され、第２バイパス管路６には常閉型の電磁弁
SV2が接続されている。そして、電磁弁SV1を閉鎖した状
態でポンプ４を起動すると、洗浄水用タンク１内の洗浄
水がポンプ４により給水管路２から第２バイパス管路６
及び電磁弁SV2を通り前記タンク１へ還元される。この
とき手動弁Ｖの開口量を調節することによりポンプ４が
定速回転している状態で、洗浄水の水圧が調整され、電
磁弁SV1を開放した状態でポンプ４を所定時間（所定回
転数）回転した時の洗浄水の供給量が調節される。
前記洗浄槽３には所定圧力の洗浄水をダミー碍子28や
被測定碍子27の表面に噴射して碍子表面の汚損物を洗浄
するための噴射ノズル７が適数箇所に配置されている。
被測定碍子27の表面に噴射して碍子表面の汚損物を洗浄
するための噴射ノズル７が適数箇所に配置されている。
前記洗浄槽３内には電導度計10が設けられ、該洗浄槽
３内に貯留した洗浄水の電導度を測定できるようになっ
ている。又、前記洗浄槽３の下面には排水管路14が接続
され、該管路14の途中に排水用電磁弁SV3が接続されて
いる。
３内に貯留した洗浄水の電導度を測定できるようになっ
ている。又、前記洗浄槽３の下面には排水管路14が接続
され、該管路14の途中に排水用電磁弁SV3が接続されて
いる。
前記電導度計10はリード線15により演算制御装置16に
接続されている。この演算制御装置16は制御部17と演算
部18とにより構成され、前記制御部17は、ポンプ４、電
磁弁SV1〜SV3、及び次に述べる被測定碍子26,27の昇降
機構24などに動作信号を出力するようになっている。
又、演算部18は電導計10から出力された電導度に基づい
て碍子の塩分付着密度などを演算することが可能であ
る。
接続されている。この演算制御装置16は制御部17と演算
部18とにより構成され、前記制御部17は、ポンプ４、電
磁弁SV1〜SV3、及び次に述べる被測定碍子26,27の昇降
機構24などに動作信号を出力するようになっている。
又、演算部18は電導計10から出力された電導度に基づい
て碍子の塩分付着密度などを演算することが可能であ
る。
碍子昇降機構24の支持棒25の下端部には二連の被測定
碍子26,27及び一個のダミー碍子28が昇降動作可能に支
持されている。そして、常時はダミー碍子28の外周が洗
浄槽３の上部内周面に接触した状態で装設されている。
又、被測定碍子26,27のうち例えば被測定碍子27の汚損
量を測定する際には、洗浄槽３が二つに分割された状態
で支持棒25が下降して被測定碍子27が洗浄槽３の所定位
置に降下された後、再び洗浄槽３を合体させて被測定碍
子27の外周縁を密閉した状態で、噴射ノズル７から所定
量の洗浄水を被測定碍子27の裏面に吹き付けて汚損物の
洗浄を行なう。
碍子26,27及び一個のダミー碍子28が昇降動作可能に支
持されている。そして、常時はダミー碍子28の外周が洗
浄槽３の上部内周面に接触した状態で装設されている。
又、被測定碍子26,27のうち例えば被測定碍子27の汚損
量を測定する際には、洗浄槽３が二つに分割された状態
で支持棒25が下降して被測定碍子27が洗浄槽３の所定位
置に降下された後、再び洗浄槽３を合体させて被測定碍
子27の外周縁を密閉した状態で、噴射ノズル７から所定
量の洗浄水を被測定碍子27の裏面に吹き付けて汚損物の
洗浄を行なう。
又、洗浄槽３内の清掃を行なう場合には、ダミー碍子
28の外周縁を洗浄槽３の内周縁に接触した状態で噴射ノ
ズル７から洗浄水を噴射させてダミー碍子28の裏面及び
洗浄槽３の内周面などを洗浄水により洗浄する。
28の外周縁を洗浄槽３の内周縁に接触した状態で噴射ノ
ズル７から洗浄水を噴射させてダミー碍子28の裏面及び
洗浄槽３の内周面などを洗浄水により洗浄する。
次に、前述した碍子汚損量測定装置により、請求項１
記載の発明を具体化した第１実施例の測定方法を説明す
る。
記載の発明を具体化した第１実施例の測定方法を説明す
る。
この第１実施例の測定方法では前記制御装置16に予め
洗浄水の固有の電導度R1が記憶されているものとする。
洗浄水の固有の電導度R1が記憶されているものとする。
第２図に示すように、ダミー碍子28が洗浄槽３を閉鎖
した状態で、制御部17に図示しないスイッチから測定開
始信号が入力されると、第１図のステップS1において、
洗浄水用タンク１から碍子洗浄槽３内へ洗浄水が供給さ
れ洗浄槽３内が清掃される。次に、ステップS2におい
て、被測定碍子27が暴露位置から洗浄槽３位置に移動さ
れる。前述したように洗浄槽３は二分割されているの
で、この移動時には洗浄槽３が二つに分離された状態で
被測定碍子27が下降し、分離された洗浄槽３は被測定碍
子27の下部に移動して合体される。このため被測定碍子
27の下面が洗浄水に入ることはなく、被測定碍子27の下
面に付着した汚損物が洗浄水に溶出することはない。
又、洗浄槽３が分離状態で互いに独立して貯水可能で、
洗浄槽３が分離された状態で洗浄水が排出されることは
ない。このため、次のステップS3で清掃後の洗浄水を洗
浄槽３から排出する必要がある。
した状態で、制御部17に図示しないスイッチから測定開
始信号が入力されると、第１図のステップS1において、
洗浄水用タンク１から碍子洗浄槽３内へ洗浄水が供給さ
れ洗浄槽３内が清掃される。次に、ステップS2におい
て、被測定碍子27が暴露位置から洗浄槽３位置に移動さ
れる。前述したように洗浄槽３は二分割されているの
で、この移動時には洗浄槽３が二つに分離された状態で
被測定碍子27が下降し、分離された洗浄槽３は被測定碍
子27の下部に移動して合体される。このため被測定碍子
27の下面が洗浄水に入ることはなく、被測定碍子27の下
面に付着した汚損物が洗浄水に溶出することはない。
又、洗浄槽３が分離状態で互いに独立して貯水可能で、
洗浄槽３が分離された状態で洗浄水が排出されることは
ない。このため、次のステップS3で清掃後の洗浄水を洗
浄槽３から排出する必要がある。
ステップS3において、清掃後の洗浄水が洗浄槽３から
排出された、次に、ステップS4において、前記洗浄水用
タンク１から洗浄水が洗浄槽３内の被測定碍子27に噴射
されて碍子27裏面が洗浄され、さらに、ステップS5にお
いて、電導度計10により洗浄後の汚損水の電導度R2が測
定され、ステップS6において、演算制御装置16により前
記電導度R2から予め測定又は設定しておいた洗浄水用タ
ンク１の洗浄水の固有電導度R1が減算され、ステップS7
において、前記減算電導度に基づいて被測定碍子27の塩
分付着密度が演算される。
排出された、次に、ステップS4において、前記洗浄水用
タンク１から洗浄水が洗浄槽３内の被測定碍子27に噴射
されて碍子27裏面が洗浄され、さらに、ステップS5にお
いて、電導度計10により洗浄後の汚損水の電導度R2が測
定され、ステップS6において、演算制御装置16により前
記電導度R2から予め測定又は設定しておいた洗浄水用タ
ンク１の洗浄水の固有電導度R1が減算され、ステップS7
において、前記減算電導度に基づいて被測定碍子27の塩
分付着密度が演算される。
又、前記ステップS5の終了後、ステップS8において洗
浄槽３が二つに分離された状態で、被測定碍子27が上昇
して測定位置から暴露位置へ移動され、分離された洗浄
槽３が合体して、ダミー碍子28が第２図に示すように洗
浄槽３と対応し、初期状態に復帰する。
浄槽３が二つに分離された状態で、被測定碍子27が上昇
して測定位置から暴露位置へ移動され、分離された洗浄
槽３が合体して、ダミー碍子28が第２図に示すように洗
浄槽３と対応し、初期状態に復帰する。
このように前記実施例では、洗浄水用タンク１から碍
子洗浄槽３内へ洗浄水を供給して洗浄槽３内を清掃する
ようにしたので、前回の測定時に碍子洗浄槽３内に付着
していた汚損物を除去して、測定精度を向上することが
できる。
子洗浄槽３内へ洗浄水を供給して洗浄槽３内を清掃する
ようにしたので、前回の測定時に碍子洗浄槽３内に付着
していた汚損物を除去して、測定精度を向上することが
できる。
又、前記実施例では、汚損水の電導度R2から予め測定
又は設定しておいた洗浄水の固有電導度R1を減算し、こ
の減算電導度に基づいて被測定碍子27の塩分付着密度を
演算するので、汚損量の測定精度を向上することができ
る。
又は設定しておいた洗浄水の固有電導度R1を減算し、こ
の減算電導度に基づいて被測定碍子27の塩分付着密度を
演算するので、汚損量の測定精度を向上することができ
る。
さらに、碍子裏面を洗浄水により洗浄して汚損物を除
去するようにしたので、測定作業を迅速に行うことがで
きるとともに、懸垂碍子等の複雑な形状の碍子の汚損量
の測定作業に適用することもできる。
去するようにしたので、測定作業を迅速に行うことがで
きるとともに、懸垂碍子等の複雑な形状の碍子の汚損量
の測定作業に適用することもできる。
次に、第２図とほぼ同様の測定装置を使用して請求項
２記載の発明を具体化した第２実施例の碍子の汚損量測
定方法を第３図により説明する。
２記載の発明を具体化した第２実施例の碍子の汚損量測
定方法を第３図により説明する。
この第２実施例の測定方法は前記第１実施例の測定方
法と比較して、第３図のステップS1,S2,S3,S4,S5,S7,S8
は第１図と同様であり、次の点が異なる。すなわち、第
３図のステップS2a,S2bに示すように、洗浄水の固有電
導度RIaを、所定量の洗浄水を碍子洗浄槽３内に供給し
て電導度計10により実測し、ステップS2bにおいて、被
測定碍子を前記実施例と同様にして洗浄槽３位置に移動
する。ステップS3において、洗浄水を洗浄槽３から排出
してステップS4に移行するとともに、ステップS6におい
て、汚損水の測定電導度R2から洗浄水の実測固有電導度
R1aを減算し、この減算電導度に基づいて、碍子の汚損
量を演算するようにしている。従って、第２実施例の測
定方法は、第１実施例の測定方法と比較して、測定精度
をさらに向上することができる。
法と比較して、第３図のステップS1,S2,S3,S4,S5,S7,S8
は第１図と同様であり、次の点が異なる。すなわち、第
３図のステップS2a,S2bに示すように、洗浄水の固有電
導度RIaを、所定量の洗浄水を碍子洗浄槽３内に供給し
て電導度計10により実測し、ステップS2bにおいて、被
測定碍子を前記実施例と同様にして洗浄槽３位置に移動
する。ステップS3において、洗浄水を洗浄槽３から排出
してステップS4に移行するとともに、ステップS6におい
て、汚損水の測定電導度R2から洗浄水の実測固有電導度
R1aを減算し、この減算電導度に基づいて、碍子の汚損
量を演算するようにしている。従って、第２実施例の測
定方法は、第１実施例の測定方法と比較して、測定精度
をさらに向上することができる。
次に、請求項２記載の発明を具体化した第３実施例の
測定方法を実施する測定装置を第４図及び第５図により
説明する。
測定方法を実施する測定装置を第４図及び第５図により
説明する。
前記洗浄槽３には管路８を介して測定用タンク９が接
続されている。この測定用タンク９には電導度計10が設
けられ、該タンク９内に貯留した洗浄水の電導度を測定
できるようになっている。又、前記測定用タンク９の内
部には洗浄水を撹拌するための撹拌羽根11が収容され、
該羽根11はモータ12の回転軸13に取付けられている。さ
らに、測定用タンク９の下面には排水管路14が接続され
該管路14の途中に排水用電磁弁SV3が接続されている。
続されている。この測定用タンク９には電導度計10が設
けられ、該タンク９内に貯留した洗浄水の電導度を測定
できるようになっている。又、前記測定用タンク９の内
部には洗浄水を撹拌するための撹拌羽根11が収容され、
該羽根11はモータ12の回転軸13に取付けられている。さ
らに、測定用タンク９の下面には排水管路14が接続され
該管路14の途中に排水用電磁弁SV3が接続されている。
前記電導度計10はリード線15より演算制御装置16に接
続されている。この演算制御装置16の制御部17は、ポン
プ４、電磁弁SV1〜SV3、撹拌羽根11のモータ12、被測定
碍子26,27の昇降機構24等に動作信号を出力するように
なっている。
続されている。この演算制御装置16の制御部17は、ポン
プ４、電磁弁SV1〜SV3、撹拌羽根11のモータ12、被測定
碍子26,27の昇降機構24等に動作信号を出力するように
なっている。
又、この実施例では例えば洗浄槽３を単独で鉄塔上へ
装着するため長尺の管路2,8を使用している。
装着するため長尺の管路2,8を使用している。
そこで、次に第３実施例の測定方法を第６図を中心に
詳細に説明する。
詳細に説明する。
第４図に示すようにダミー碍子28が洗浄槽３を閉鎖し
た状態で、第５図において制御部17に図示しないスイッ
チから測定開始信号が入力されると、第６図のステップ
S1において給水用ポンプ４が起動され、ステップS2にお
いて電磁弁SV3が開放され、次に、ステップS3において
測定用タンク９内の残水が排出され、ステップ４で電磁
弁SV3が閉じられる。
た状態で、第５図において制御部17に図示しないスイッ
チから測定開始信号が入力されると、第６図のステップ
S1において給水用ポンプ４が起動され、ステップS2にお
いて電磁弁SV3が開放され、次に、ステップS3において
測定用タンク９内の残水が排出され、ステップ４で電磁
弁SV3が閉じられる。
次に、ステップS5において電磁弁SV1が開放されると
ともに電磁弁SV2が閉じられ、洗浄水用タンク１内の洗
浄水がポンプ４により給水管路２を通って洗浄槽３内に
供給され、ダミー碍子28の裏面及び洗浄槽３の内周面が
洗浄されるとともに管路８を通って洗浄水が測定用タン
ク９内に供給され、洗浄槽３、管路８及び測定用タンク
９の内部が清掃される。（ステップS6） そして、ステップS7で電磁弁SV1が閉じられるととも
に電磁弁SV2が開放され、ステップS8でモータ12に通電
され撹拌羽根11が回転される。これにより測定用タンク
９内の洗浄水は該タンク内で撹拌されるため、タンク９
内が効率良く清掃される。
ともに電磁弁SV2が閉じられ、洗浄水用タンク１内の洗
浄水がポンプ４により給水管路２を通って洗浄槽３内に
供給され、ダミー碍子28の裏面及び洗浄槽３の内周面が
洗浄されるとともに管路８を通って洗浄水が測定用タン
ク９内に供給され、洗浄槽３、管路８及び測定用タンク
９の内部が清掃される。（ステップS6） そして、ステップS7で電磁弁SV1が閉じられるととも
に電磁弁SV2が開放され、ステップS8でモータ12に通電
され撹拌羽根11が回転される。これにより測定用タンク
９内の洗浄水は該タンク内で撹拌されるため、タンク９
内が効率良く清掃される。
次に、ステップS9で電磁弁SV3が開放されて、ステッ
プS10において測定用タンク９内の洗浄水が排出され
る。ステップS11において電磁弁SV2、SV3が閉じられる
とともに電磁弁SV1が開放されてポンプ４により洗浄水
が所定量洗浄槽３内に供給される。この洗浄水は洗浄槽
３から管路８を通って測定用タンク９内に貯留される。
（ステップS12） 次に、ステップS13において電磁弁SV1が閉じられると
ともにSV2が開放され、その後ステップS14で撹拌羽根11
が回転され、貯留された洗浄水が測定用タンク内で撹拌
される。そして、ステップS15で電導度計10により洗浄
水の固有電導度R1aが測定される。
プS10において測定用タンク９内の洗浄水が排出され
る。ステップS11において電磁弁SV2、SV3が閉じられる
とともに電磁弁SV1が開放されてポンプ４により洗浄水
が所定量洗浄槽３内に供給される。この洗浄水は洗浄槽
３から管路８を通って測定用タンク９内に貯留される。
（ステップS12） 次に、ステップS13において電磁弁SV1が閉じられると
ともにSV2が開放され、その後ステップS14で撹拌羽根11
が回転され、貯留された洗浄水が測定用タンク内で撹拌
される。そして、ステップS15で電導度計10により洗浄
水の固有電導度R1aが測定される。
次に、ステップS16において洗浄槽３が二つに分離さ
れるとともに、碍子昇降機構24が動作されて被測定碍子
27が洗浄槽３位置に移動された後、洗浄槽３を合体さ
せ、洗浄槽３を被測定碍子27の外周縁に密着させる。ス
テップS17で電磁弁SV3が開放され、ステップS18で測定
用タンク９内の洗浄水が検出される。そして、ステップ
S19で電磁弁SV2、SV3が閉じられるとともに電磁弁SV1が
開放され、ステップS20において所定量の洗浄水で被測
定碍子27の裏面が洗浄される。その後ステップS21にお
いて電磁弁SV1が閉じられるとともにSV2が開放され、ス
テップS22で撹拌羽根11が回転され、測定用タンク９内
の洗浄水が撹拌される。その後ステップS23において電
導度計10により汚損洗浄水の電導度R2が測定される。
れるとともに、碍子昇降機構24が動作されて被測定碍子
27が洗浄槽３位置に移動された後、洗浄槽３を合体さ
せ、洗浄槽３を被測定碍子27の外周縁に密着させる。ス
テップS17で電磁弁SV3が開放され、ステップS18で測定
用タンク９内の洗浄水が検出される。そして、ステップ
S19で電磁弁SV2、SV3が閉じられるとともに電磁弁SV1が
開放され、ステップS20において所定量の洗浄水で被測
定碍子27の裏面が洗浄される。その後ステップS21にお
いて電磁弁SV1が閉じられるとともにSV2が開放され、ス
テップS22で撹拌羽根11が回転され、測定用タンク９内
の洗浄水が撹拌される。その後ステップS23において電
導度計10により汚損洗浄水の電導度R2が測定される。
次に、ステップS24におて演算部18により前記電導度R
2から洗浄水の固有電導度R1aを演算した後、ステップS2
5において前記減算結果に基づいて演算部１により汚損
量の演算が行われ、さらにステップS26においてポンプ
４が停止されてステップS27で被測定碍子27が暴露位置
に移動され、ダミー碍子28が洗浄槽３の開口部を閉鎖す
る。
2から洗浄水の固有電導度R1aを演算した後、ステップS2
5において前記減算結果に基づいて演算部１により汚損
量の演算が行われ、さらにステップS26においてポンプ
４が停止されてステップS27で被測定碍子27が暴露位置
に移動され、ダミー碍子28が洗浄槽３の開口部を閉鎖す
る。
さて、この第３実施例の測定方法においては、被測定
碍子27の汚損量の測定に先立って洗浄槽３、長尺の管路
2,8及び測定用タンク９等の清掃作業を洗浄水により行
なうので、汚損量の測定精度を向上することができる。
碍子27の汚損量の測定に先立って洗浄槽３、長尺の管路
2,8及び測定用タンク９等の清掃作業を洗浄水により行
なうので、汚損量の測定精度を向上することができる。
又、この第３実施例においては、洗浄水固有の電導度
R1aを測定しておき、被測定碍子27の洗浄後の汚損洗浄
水の電導度R2から前記電導度R1aを減算した後、この減
算結果から被測定碍子27の汚損量を演算するようにした
ので、汚損量の測定精度を向上することができる。
R1aを測定しておき、被測定碍子27の洗浄後の汚損洗浄
水の電導度R2から前記電導度R1aを減算した後、この減
算結果から被測定碍子27の汚損量を演算するようにした
ので、汚損量の測定精度を向上することができる。
次に、第７図により請求項３記載の発明を具体化した
第４実施例を説明する。
第４実施例を説明する。
この第４実施例の測定方法は、第６図のステップ25の
後に、第７図に示すように、ステップS2からS8までの前
洗浄清掃工程Ａと同様の工程、すなわちS2aからS8aを後
洗浄清掃工程Ｂとして行っている。
後に、第７図に示すように、ステップS2からS8までの前
洗浄清掃工程Ａと同様の工程、すなわちS2aからS8aを後
洗浄清掃工程Ｂとして行っている。
この第４実施例の場合には被測定碍子27の洗浄で生じ
た汚損物が洗浄槽３、管路2,8及び測定用タンク９に乾
燥して付着する以前に清掃して測定用タンク９内に回収
することができ、このため、次回の汚損量の測定作業時
に管路2,8、洗浄槽３及び測定用タンク９内に付着して
残留しようとする汚損物の量を一層少なくして、測定精
度をさらに向上することができる。
た汚損物が洗浄槽３、管路2,8及び測定用タンク９に乾
燥して付着する以前に清掃して測定用タンク９内に回収
することができ、このため、次回の汚損量の測定作業時
に管路2,8、洗浄槽３及び測定用タンク９内に付着して
残留しようとする汚損物の量を一層少なくして、測定精
度をさらに向上することができる。
なお、前記第１〜第３の実施例においては、被測定碍
子27を暴露位置から洗浄槽３位置に移動後、清掃後の洗
浄水を排出しているので、両行程を逆にした場合に比
べ、被測定碍子27の移動中に洗浄槽３内に雨水等が入っ
ても、測定行程前に排出でき、より好ましい。
子27を暴露位置から洗浄槽３位置に移動後、清掃後の洗
浄水を排出しているので、両行程を逆にした場合に比
べ、被測定碍子27の移動中に洗浄槽３内に雨水等が入っ
ても、測定行程前に排出でき、より好ましい。
又、前記第１〜第４の実施例において、測定終了時点
で測定した洗浄水を貯留しておけば、電導度計10が乾燥
して性能劣化をきたすこと、あるいは汚損水が乾燥して
汚損物が固着すること等を防止でき、より好ましい。
で測定した洗浄水を貯留しておけば、電導度計10が乾燥
して性能劣化をきたすこと、あるいは汚損水が乾燥して
汚損物が固着すること等を防止でき、より好ましい。
ところで、第８図は放水量と測定汚損量変化率との関
係を示すグラフである。このグラフから明らかなよう
に、洗浄水の放水量を400cc以上にすれば、汚損量の変
化率が10％以下に収まり、ステップS1からS8までの前洗
浄清掃工程Ａを行った場合と、前洗浄清掃工程Ａ及び後
洗浄清掃工程Ｂを行った場合とを示す。このグラフのよ
うに両清掃工程A,Bを行った場合には、汚損量変化率が4
00ccの放水量の場合96％と非常に高く検出精度を向上す
ることができる。
係を示すグラフである。このグラフから明らかなよう
に、洗浄水の放水量を400cc以上にすれば、汚損量の変
化率が10％以下に収まり、ステップS1からS8までの前洗
浄清掃工程Ａを行った場合と、前洗浄清掃工程Ａ及び後
洗浄清掃工程Ｂを行った場合とを示す。このグラフのよ
うに両清掃工程A,Bを行った場合には、汚損量変化率が4
00ccの放水量の場合96％と非常に高く検出精度を向上す
ることができる。
又、第９図は塩と、トノコを含有した400ccの洗浄水
（汚損量0.0965mg/cm2）を使用した場合において、前記
管路８の長さと、回収水量との関係を示すグラフであ
る。このグラフから明らかなように管路2,8の長さが長
くなる程、回収水量が減少し、例えば○印は180秒後の
回収水量を示し、・印は60秒後の回収水量を示すもので
ある。従って、管路８が例えば20mのように長くなった
場合においても時間の長い180秒後であればほぼ全部が
回収されることになる。
（汚損量0.0965mg/cm2）を使用した場合において、前記
管路８の長さと、回収水量との関係を示すグラフであ
る。このグラフから明らかなように管路2,8の長さが長
くなる程、回収水量が減少し、例えば○印は180秒後の
回収水量を示し、・印は60秒後の回収水量を示すもので
ある。従って、管路８が例えば20mのように長くなった
場合においても時間の長い180秒後であればほぼ全部が
回収されることになる。
なお、この発明は前記実施例に限定されるものではな
く、例えば、洗浄槽３の上部開口を開閉する蓋を装着す
ることにより、洗浄清掃工程中は前記蓋を閉鎖して行
い、被測定碍子の汚損量を測定する場合には前記蓋を開
放して被測定碍子を洗浄槽３に収容した状態にすること
もできる。
く、例えば、洗浄槽３の上部開口を開閉する蓋を装着す
ることにより、洗浄清掃工程中は前記蓋を閉鎖して行
い、被測定碍子の汚損量を測定する場合には前記蓋を開
放して被測定碍子を洗浄槽３に収容した状態にすること
もできる。
又、第2,4図におてい、被測定碍子26,27は２個として
いるが、１個又は３個以上であってもよい。
いるが、１個又は３個以上であってもよい。
以上詳述したように、請求項１記載の発明は、洗浄内
に付着する汚損物を予め洗浄水により清掃して排出する
ことにより、被測定碍子の汚損量の測定精度を向上する
ことができるとともに、測定作業の能率を向上し、さら
に前もって測定しておいた洗浄水固有の電導度を被測定
碍子の洗浄後の汚損水の電導度から減算して汚損量を演
算するようにしたので、汚損量の測定精度を向上するこ
とができる効果がある。
に付着する汚損物を予め洗浄水により清掃して排出する
ことにより、被測定碍子の汚損量の測定精度を向上する
ことができるとともに、測定作業の能率を向上し、さら
に前もって測定しておいた洗浄水固有の電導度を被測定
碍子の洗浄後の汚損水の電導度から減算して汚損量を演
算するようにしたので、汚損量の測定精度を向上するこ
とができる効果がある。
又、請求項２記載の発明は、洗浄水固有の電導度を実
測するので、請求項１記載の発明よりも汚損量の測定精
度を向上することができる効果がある。
測するので、請求項１記載の発明よりも汚損量の測定精
度を向上することができる効果がある。
さらに、請求項３記載の発明は、後洗浄清掃を行なう
ので、請求項１又は２記載の発明よりも汚損量の測定精
度をさらに向上することができる効果がある。
ので、請求項１又は２記載の発明よりも汚損量の測定精
度をさらに向上することができる効果がある。
第１図はこの発明の碍子汚損量測定方法の第１実施例を
説明するためのフローチャート、第２図は碍子汚損量測
定装置を示す正面図、第３図は測定方法の第２実施例を
説明するためのフローチャート、第４図は碍子汚損量測
定装置の別例を示す略体正面図、第５図はその測定装置
のブロック回路図、第６図は碍子汚損量測定方法の第３
実施例を説明するためのフローチャート、第７図は碍子
汚損量測定方法の第４実施例を説明するためのフローチ
ャート、第８図は洗浄水の放水量と汚損量変化率との関
係を示すグラフ、第９図は管路の長さと回収水量との関
係を示すグラフである。 １……洗浄水用タンク、２……給水管路、３……洗浄
槽、４……給水ポンプ、７……噴射ノズル、８……管
路、９……測定用タンク、10……電導度計、16……制御
装置、17……制御部、18……演算部、24……碍子昇降機
構、26,27……被測定碍子、SV1〜SV3……電磁弁。
説明するためのフローチャート、第２図は碍子汚損量測
定装置を示す正面図、第３図は測定方法の第２実施例を
説明するためのフローチャート、第４図は碍子汚損量測
定装置の別例を示す略体正面図、第５図はその測定装置
のブロック回路図、第６図は碍子汚損量測定方法の第３
実施例を説明するためのフローチャート、第７図は碍子
汚損量測定方法の第４実施例を説明するためのフローチ
ャート、第８図は洗浄水の放水量と汚損量変化率との関
係を示すグラフ、第９図は管路の長さと回収水量との関
係を示すグラフである。 １……洗浄水用タンク、２……給水管路、３……洗浄
槽、４……給水ポンプ、７……噴射ノズル、８……管
路、９……測定用タンク、10……電導度計、16……制御
装置、17……制御部、18……演算部、24……碍子昇降機
構、26,27……被測定碍子、SV1〜SV3……電磁弁。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 太田 浩 東京都千代田区内幸町１丁目１番３号 東京電力株式会社内 (72)発明者 九里 孝義 三重県四日市市西富田町228番地の５ (72)発明者 鈴木 年明 愛知県岡崎市上地５丁目15番地15 (72)発明者 安藤 亨 愛知県豊明市栄町西大根47番地13 (56)参考文献 特開 平１−92651（ＪＰ，Ａ) 特開 昭56−93036（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−218937（ＪＰ，Ａ)
Claims (3)
- 【請求項１】洗浄水供給源から碍子洗浄槽内へ洗浄水を
供給して洗浄槽内を清掃した後、被測定碍子を暴露位置
から洗浄槽位置に移動し、清掃後の洗浄水を洗浄槽から
排出し、次に前記洗浄水供給源から洗浄水を被測定碍子
に噴射して碍子表面を洗浄し、さらに、電導度計により
洗浄後の汚損水の電導度を測定し、演算制御装置により
前記電導度から予め測定又は設定しておいた洗浄水用タ
ンクの洗浄水の固有電導度を減算し、被測定碍子の塩分
付着密度を演算することを特徴とする碍子汚損量測定方
法。 - 【請求項２】洗浄水供給源から碍子洗浄槽内へ洗浄水を
供給して洗浄槽内を清掃するとともに、清掃後の洗浄水
を洗浄槽から排出し、次に、所定量の洗浄水を洗浄槽内
に供給して電導度計により洗浄水固有の電導度を測定
し、その後、被測定碍子を暴露位置から洗浄槽位置に移
動し、前記洗浄水を排出し、次に、前記洗浄水供給源か
ら所定量の洗浄水を被測定碍子に噴射して碍子表面を洗
浄し、さらに、電導度計により洗浄後の汚損水の電導度
を測定し、この被測定碍子の洗浄後に得られた電導度か
ら前記洗浄水固有の電導度を演算制御装置により減算
し、この減算された電導度から被測定碍子の塩分付着密
度を演算することを特徴とする碍子汚損量測定方法。 - 【請求項３】被測定碍子の洗浄後の汚損水の電導度を測
定した後、碍子洗浄槽から汚損水を排出し、洗浄水供給
源から碍子洗浄槽内へ洗浄水を供給して洗浄槽内を清掃
することを特徴とする請求項１又は２記載の碍子汚損量
測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19515290A JP2515422B2 (ja) | 1990-07-24 | 1990-07-24 | 碍子汚損量測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19515290A JP2515422B2 (ja) | 1990-07-24 | 1990-07-24 | 碍子汚損量測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0480644A JPH0480644A (ja) | 1992-03-13 |
| JP2515422B2 true JP2515422B2 (ja) | 1996-07-10 |
Family
ID=16336298
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19515290A Expired - Fee Related JP2515422B2 (ja) | 1990-07-24 | 1990-07-24 | 碍子汚損量測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2515422B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4724606B2 (ja) * | 2006-06-05 | 2011-07-13 | 新日本製鐵株式会社 | 溶鋼の連続鋳造方法 |
| CN102508036B (zh) * | 2011-11-02 | 2014-07-16 | 浙江大学城市学院 | 盘式绝缘子污秽状态在线远程监测方法及装置 |
| CN103323497B (zh) * | 2013-06-03 | 2016-04-13 | 武汉工程大学 | 电力绝缘子表面盐密检测装置 |
| CN103752548B (zh) * | 2014-01-24 | 2016-03-30 | 国家电网公司 | 一种自动化绝缘子盐密在线检测装置 |
| CN105092469B (zh) * | 2015-07-21 | 2018-08-07 | 海南电力技术研究院 | 基于在线监测技术获得绝缘子盐密饱和系数的方法及系统 |
-
1990
- 1990-07-24 JP JP19515290A patent/JP2515422B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0480644A (ja) | 1992-03-13 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |