JP2506798B2 - 超電導体 - Google Patents
超電導体Info
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Description
【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は超電導体に関するものである。特に化合物薄
膜超電導体に関するものである。
膜超電導体に関するものである。
従来の技術 Ｙ−Ba−Ca−Ｏ系がより高温の超電導体であることが
最近提案された。［M.K.Wu等、フィージカル レビュー
レターズ（Physical Review Latters）Vol.58,No9,90
8−910（1987）］ Ｙ−Ba−Cu−Ｏ系の材料の超電導機構の詳細な明らか
ではないが、転移温度が液体窒素温度以上に高くなる可
能性があり、高温超電導体として従来の２元系化合物よ
り、より有望な特性が期待される。
最近提案された。［M.K.Wu等、フィージカル レビュー
レターズ（Physical Review Latters）Vol.58,No9,90
8−910（1987）］ Ｙ−Ba−Cu−Ｏ系の材料の超電導機構の詳細な明らか
ではないが、転移温度が液体窒素温度以上に高くなる可
能性があり、高温超電導体として従来の２元系化合物よ
り、より有望な特性が期待される。
発明が解決しようとする問題点 しかしながら、Ｙ−Ba−Cu−Ｏ系の材料は、現在の技
術では焼結という過程でしか形成できないため、セラミ
ックの粉末あるいはブロックの形状でしか得られない。
一方、この種の材料を実用化する場合、薄膜化あるいは
線状化が強く要望されているが、従来の技術では、超伝
導特性の再現性・信頼性が悪くいずれも非常に困難とさ
れている。加えて、単結晶基体上に成膜するために基体
のコストが高価なものであった。
術では焼結という過程でしか形成できないため、セラミ
ックの粉末あるいはブロックの形状でしか得られない。
一方、この種の材料を実用化する場合、薄膜化あるいは
線状化が強く要望されているが、従来の技術では、超伝
導特性の再現性・信頼性が悪くいずれも非常に困難とさ
れている。加えて、単結晶基体上に成膜するために基体
のコストが高価なものであった。
本発明者らは、この種の材料を例えばスパッタリング
法等の薄膜化手法を用い超電導膜の界面の構造を工夫す
ると、良質の薄膜状の高温超電導体が形成されることを
発見し、これにもとづいて新規な超電導体構成を発明し
た。
法等の薄膜化手法を用い超電導膜の界面の構造を工夫す
ると、良質の薄膜状の高温超電導体が形成されることを
発見し、これにもとづいて新規な超電導体構成を発明し
た。
問題点を解決するための手段 本発明の超電導体は、結晶性薄膜をコートした基体上
にＡ、Ｂ、Cuを含む酸化物で、元素比が の３元化合物被膜を付着させたことを特徴としている。
ここにＡはSc,Yおよびランタン系列元素（原子番号57−
71）のうちすくなくとも一種、ＢはBa,Sr,Ca,Be,Mgなど
II a族元素のうちの少なくとも一種の元素を示す。
にＡ、Ｂ、Cuを含む酸化物で、元素比が の３元化合物被膜を付着させたことを特徴としている。
ここにＡはSc,Yおよびランタン系列元素（原子番号57−
71）のうちすくなくとも一種、ＢはBa,Sr,Ca,Be,Mgなど
II a族元素のうちの少なくとも一種の元素を示す。
作用 本発明にかかる超電導体は、結晶性被膜をもった基体
上に超電導体を薄膜化している所に大きな特色がある。
すなわち、薄膜化は超電導体の素材を原子状態という極
微粒子に分解してから直接非晶質基体上に堆積させる
と、良質の超電導膜を得ることは困難な場合が多い。し
かし、結晶性被膜で被覆した基体にはエピタキシャル的
に良質の結晶質超電導膜が堆積する。したがって非常に
高性能の超電導体が本発明で実現される。
上に超電導体を薄膜化している所に大きな特色がある。
すなわち、薄膜化は超電導体の素材を原子状態という極
微粒子に分解してから直接非晶質基体上に堆積させる
と、良質の超電導膜を得ることは困難な場合が多い。し
かし、結晶性被膜で被覆した基体にはエピタキシャル的
に良質の結晶質超電導膜が堆積する。したがって非常に
高性能の超電導体が本発明で実現される。
実施例 本発明を図面とともに説明する。
図において、３元化合物被膜13は、例えばシリコン単
結晶基体11の表面に成膜した弗化カルシウム結晶性被膜
12の上に、例えばスパッタリング法で形成する。この場
合、基体11は、超電導を示す３元化合物被膜13の保持を
目的としている。この被膜13は通常700℃の高温で形成
する。結晶性薄膜12をつけず、基体11上に直接３元化合
物を成膜すると、例えば基体のシリコン原子が３元化合
物被膜中に拡散し、電気抵抗が極めて大きくなり超電導
物性を失った。ここで、弗化カルシウム薄膜12をシリコ
ン基体11と３元化合物被膜の間に入れると、配向性の良
質の超電導膜13がつくられた。さらに、本発明者らは、
第１図の結晶性被膜12の材料について、弗化カルシウム
以外に、弗化バリウム、弗化ストロンチュウム等CaF2型
結晶が有効であることを確認した。
結晶基体11の表面に成膜した弗化カルシウム結晶性被膜
12の上に、例えばスパッタリング法で形成する。この場
合、基体11は、超電導を示す３元化合物被膜13の保持を
目的としている。この被膜13は通常700℃の高温で形成
する。結晶性薄膜12をつけず、基体11上に直接３元化合
物を成膜すると、例えば基体のシリコン原子が３元化合
物被膜中に拡散し、電気抵抗が極めて大きくなり超電導
物性を失った。ここで、弗化カルシウム薄膜12をシリコ
ン基体11と３元化合物被膜の間に入れると、配向性の良
質の超電導膜13がつくられた。さらに、本発明者らは、
第１図の結晶性被膜12の材料について、弗化カルシウム
以外に、弗化バリウム、弗化ストロンチュウム等CaF2型
結晶が有効であることを確認した。
さらに本発明者らは、図の基体11に、ゲルマニウム、
ガリウム砒素、窒化ガリウム、ガリウムリン、インジウ
ム砒素、インジウムリン、硫化ガドミニウム、セレン化
亜鉛、硫化亜鉛等の半導体単結晶体が有効であることを
見い出した。
ガリウム砒素、窒化ガリウム、ガリウムリン、インジウ
ム砒素、インジウムリン、硫化ガドミニウム、セレン化
亜鉛、硫化亜鉛等の半導体単結晶体が有効であることを
見い出した。
すなわち、結晶性の高い３元化合物被膜13を半導体単
結晶基体11の表面に形成させるためには、CaF2型結晶性
被膜を持った基体上に、３元化合物を成膜すればよいこ
とがわかった。
結晶基体11の表面に形成させるためには、CaF2型結晶性
被膜を持った基体上に、３元化合物を成膜すればよいこ
とがわかった。
本発明の超導電体Ａ−Ｂ−Cu−Ｏは結晶構造や組成式
がまだ明確には決定されていないが、酸素欠損ペロブス
カイト（A,B）3Cu3O7ともいわれている。本発明者等は
作製された被膜において元素比率が の範囲であれば、臨界温度に多少の差があっても超電導
現象が見出されることを確認した。
がまだ明確には決定されていないが、酸素欠損ペロブス
カイト（A,B）3Cu3O7ともいわれている。本発明者等は
作製された被膜において元素比率が の範囲であれば、臨界温度に多少の差があっても超電導
現象が見出されることを確認した。
なお、スパッタリング蒸着ではターゲットとして、焼
結したＡ−Ｂ−Cu−Ｏセラミックスを用いるが、基体温
度が700℃の場合では、ターゲットの金属成分と形成さ
れた薄膜における成分と比較するとCuが薄膜では不足す
る傾向がみられ、ターゲットに50％程度過剰に加えれば
よいことを本発明者らは確認した。したがって、ターゲ
ットの組成は、被膜の最適範囲の であることを本発明者らは確認した。この場合、ターゲ
ットは板状あるいは、円筒状のセラミックス以外に、粒
状あるいは粉末状の焼結状であってもスパッタリング蒸
着に有効である。
結したＡ−Ｂ−Cu−Ｏセラミックスを用いるが、基体温
度が700℃の場合では、ターゲットの金属成分と形成さ
れた薄膜における成分と比較するとCuが薄膜では不足す
る傾向がみられ、ターゲットに50％程度過剰に加えれば
よいことを本発明者らは確認した。したがって、ターゲ
ットの組成は、被膜の最適範囲の であることを本発明者らは確認した。この場合、ターゲ
ットは板状あるいは、円筒状のセラミックス以外に、粒
状あるいは粉末状の焼結状であってもスパッタリング蒸
着に有効である。
（具体実施例） シリコン（100）面単結晶を基体11として用い、真空
蒸着により弗化カルシウム被膜12を付着させた。この場
合基板温度500〜600℃に保ち、0.1μｍの厚さに成膜し
た。この膜は弗化カルシウム（100）面単結晶体の電気
絶縁物であった。この弗化カルシウム被膜上に焼結した
ErBa2Cu4.5O8ターゲットの高周波プレナーマグネトロン
スパッタにより、被膜13を付着させた。この場合、Arガ
スの圧力は0.5Pa、スパッタリング電力150W、スパッタ
リング時間２時間、被膜の膜厚0.5μｍ、基体温度700℃
であった。
蒸着により弗化カルシウム被膜12を付着させた。この場
合基板温度500〜600℃に保ち、0.1μｍの厚さに成膜し
た。この膜は弗化カルシウム（100）面単結晶体の電気
絶縁物であった。この弗化カルシウム被膜上に焼結した
ErBa2Cu4.5O8ターゲットの高周波プレナーマグネトロン
スパッタにより、被膜13を付着させた。この場合、Arガ
スの圧力は0.5Pa、スパッタリング電力150W、スパッタ
リング時間２時間、被膜の膜厚0.5μｍ、基体温度700℃
であった。
被膜は（002）面配向の結晶性膜で、室温抵抗、Ω、
超電導転移温度90゜Ｋであった。この場合、弗化カルシ
ウムの格子定数は、5.8Aであるが、面心立方であるた
め、面心の原子との格子間隔は3.8Aで、これがＹ−Ｂ−
Ｃ−Ｏ系の超電導体の格子と一致し、良好な結晶性の超
電導体が得られたと考えられる。
超電導転移温度90゜Ｋであった。この場合、弗化カルシ
ウムの格子定数は、5.8Aであるが、面心立方であるた
め、面心の原子との格子間隔は3.8Aで、これがＹ−Ｂ−
Ｃ−Ｏ系の超電導体の格子と一致し、良好な結晶性の超
電導体が得られたと考えられる。
この種の３元化合物超電導体（A,B）3Cu3O7の構成元
素ＡおよびＢの変化による超電導特性の変化の詳細は明
らかではない。ただＡは、３価,Bは２価を示しているの
は事実ではある。Ａ元素としてＹについて例をあげて説
明したが、ScやLa、さらにランタン系列の元素（原子番
号−57〜71）でも、超電導転移温度が変化する程度で本
質的な発明の特性を変えるものではない。
素ＡおよびＢの変化による超電導特性の変化の詳細は明
らかではない。ただＡは、３価,Bは２価を示しているの
は事実ではある。Ａ元素としてＹについて例をあげて説
明したが、ScやLa、さらにランタン系列の元素（原子番
号−57〜71）でも、超電導転移温度が変化する程度で本
質的な発明の特性を変えるものではない。
また、Ｂ元素においても、Sr、Ca、Ba等II a族元素の
変化は超電導転移温度を10゜Ｋ程度変化させるが、本質
的に本発明の特性を変えるものではない。
変化は超電導転移温度を10゜Ｋ程度変化させるが、本質
的に本発明の特性を変えるものではない。
本発明にかかる超電導体は、電気絶縁物で被膜した半
導体基体上に超電導体を薄膜化している所に大きな特色
がある。すなわち、薄膜化は超電導体の素材を原子状態
という極微粒子に分解してから、基体上に堆積させるか
ら、形成された超電導体の組成は本質的に、従来の焼結
体に比べて均質である。したがって、非常に高精度の超
電導体が本発明で実現されるとともに、半導体デバイス
中に、例えば、電気絶縁膜で分離された状態で、結晶性
の良質の超電導体を集積させることができる。
導体基体上に超電導体を薄膜化している所に大きな特色
がある。すなわち、薄膜化は超電導体の素材を原子状態
という極微粒子に分解してから、基体上に堆積させるか
ら、形成された超電導体の組成は本質的に、従来の焼結
体に比べて均質である。したがって、非常に高精度の超
電導体が本発明で実現されるとともに、半導体デバイス
中に、例えば、電気絶縁膜で分離された状態で、結晶性
の良質の超電導体を集積させることができる。
具体的な実施例として、基体にシリコン（100）単結
晶を、結晶性被膜として、弗化カルシウムの場合につい
て述べたが、基体としてシリコンの他の結晶面例えば
（111）面も有効で、この場合は（111）面の弗化カルシ
ウム被膜が形成された。基体として、ガリウムリンや硫
化亜鉛半導体もシリコンとほぼ一致した結果が得られ
た。これは、格子定数がシリコンとガリウムリンとほぼ
一致しているためと考えられた。同様に、基体として、
ガリウム砒素やゲルマニウムを用いた場合、例えば（11
1）面ゲルマニウム基体では、（111）面弗化カルシウム
が得られ、この弗化カルシウム上にも配向性の超電導体
が得られた。ただし、ゲルマニウムやガリウム砒素の格
子定数は、弗化カルシウムより大きいため、弗化カルシ
ウム被膜に歪が発生する。この歪を解消し、安定な被膜
にするために、弗化ストロンチュウムを結晶性被膜に用
いたり、弗化ストロンチュウムと弗化カルシウムとの化
合物被膜、例えばCa0.44Ｓ0.56F2被膜を用いると有効で
あることを本発明者らは確認した。また、インジウムリ
ンや硫化カドミニウムを基体に用いるときは、弗化スト
ロンチウムや、弗化ストロンチュウムと弗化バリウムと
の化合物を結晶性被膜として特に有効であることを本発
明者らは確認した。これらには、いずれも基体と結晶性
被膜の格子整合の度合いが効いていることを本発明者ら
は確認した。
晶を、結晶性被膜として、弗化カルシウムの場合につい
て述べたが、基体としてシリコンの他の結晶面例えば
（111）面も有効で、この場合は（111）面の弗化カルシ
ウム被膜が形成された。基体として、ガリウムリンや硫
化亜鉛半導体もシリコンとほぼ一致した結果が得られ
た。これは、格子定数がシリコンとガリウムリンとほぼ
一致しているためと考えられた。同様に、基体として、
ガリウム砒素やゲルマニウムを用いた場合、例えば（11
1）面ゲルマニウム基体では、（111）面弗化カルシウム
が得られ、この弗化カルシウム上にも配向性の超電導体
が得られた。ただし、ゲルマニウムやガリウム砒素の格
子定数は、弗化カルシウムより大きいため、弗化カルシ
ウム被膜に歪が発生する。この歪を解消し、安定な被膜
にするために、弗化ストロンチュウムを結晶性被膜に用
いたり、弗化ストロンチュウムと弗化カルシウムとの化
合物被膜、例えばCa0.44Ｓ0.56F2被膜を用いると有効で
あることを本発明者らは確認した。また、インジウムリ
ンや硫化カドミニウムを基体に用いるときは、弗化スト
ロンチウムや、弗化ストロンチュウムと弗化バリウムと
の化合物を結晶性被膜として特に有効であることを本発
明者らは確認した。これらには、いずれも基体と結晶性
被膜の格子整合の度合いが効いていることを本発明者ら
は確認した。
発明の効果 すでに説明したごとく、本発明によれば緻密で良質の
超電導膜を形成することが可能となり、本発明を用いて
SiあるいはGaAsさらにCdSなどのデバイスとの集積化が
可能であるとともに、ジョセフソン素子など各種の超電
導デバイスの要素材料として実用される。特にこの種の
化合物超電導体の転移温度が室温になる可能性もあり、
従来の実用の範囲は広く、本発明の工業的価値は高い。
超電導膜を形成することが可能となり、本発明を用いて
SiあるいはGaAsさらにCdSなどのデバイスとの集積化が
可能であるとともに、ジョセフソン素子など各種の超電
導デバイスの要素材料として実用される。特にこの種の
化合物超電導体の転移温度が室温になる可能性もあり、
従来の実用の範囲は広く、本発明の工業的価値は高い。
図は本発明の一実施例の超電導体の基体構成断面図であ
る。 11……基体、12……結晶性被膜、13……３元化合物被
膜。
る。 11……基体、12……結晶性被膜、13……３元化合物被
膜。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｈ０１Ｌ 39/22 ＺＡＡ Ｈ０１Ｌ 39/22 ＺＡＡＢ (72)発明者 鎌田 健 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電 器産業株式会社内 (72)発明者 東野 秀隆 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電 器産業株式会社内 (72)発明者 山崎 攻 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電 器産業株式会社内 (56)参考文献 特開 昭63−274018（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−300580（ＪＰ，Ａ)
Claims (2)
- 【請求項１】基体上に結晶性被膜を形成し、この被膜上
にＡ元素、Ｂ元素およびCuを含む酸化物で、元素のモル
比率が の酸化物被膜を付着させた超電導体に於いて、前記基体
が単結晶材料であり、前記結晶性被膜が、フッ化カルシ
ウム、フッ化バリウム、フッ化ストロンチウム、CaF2型
結晶あるいはこれらの化合物を用いたことを特徴とする
超電導体。 ここに、ＡはSc,Y、ランタン系列元素等、ＢはII a族元
素の内の少なくとも一種の元素を示す。 - 【請求項２】基体として、シリコン、ゲルマニウム、ガ
リウム砒素、窒化ガリウム、ガリウムリン、インジウム
リン、インジウム砒素、硫化亜鉛、セレン化亜鉛、硫化
カドミウム単結晶を用いたことを特徴とする特許請求の
範囲第１項記載の超電導体。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62189281A JP2506798B2 (ja) | 1987-07-29 | 1987-07-29 | 超電導体 |
| US07/223,658 US4980339A (en) | 1987-07-29 | 1988-07-25 | Superconductor structure |
| EP88112169A EP0301525B2 (en) | 1987-07-29 | 1988-07-27 | Superconductor structure |
| DE3853179T DE3853179T3 (de) | 1987-07-29 | 1988-07-27 | Supraleitende Struktur. |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62189281A JP2506798B2 (ja) | 1987-07-29 | 1987-07-29 | 超電導体 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6433818A JPS6433818A (en) | 1989-02-03 |
| JP2506798B2 true JP2506798B2 (ja) | 1996-06-12 |
Family
ID=16238694
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62189281A Expired - Fee Related JP2506798B2 (ja) | 1987-07-29 | 1987-07-29 | 超電導体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2506798B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0764679B2 (ja) * | 1987-08-11 | 1995-07-12 | 古河電気工業株式会社 | セラミックス超電導体薄膜の製造方法 |
| US5295782A (en) * | 1991-08-29 | 1994-03-22 | Vlsi Technology, Inc. | Tab magazine loader and method using a slider mechanism |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63274018A (ja) * | 1987-05-01 | 1988-11-11 | Fujikura Ltd | 超電導体の構造およびその製造方法 |
| JP2641865B2 (ja) * | 1987-05-29 | 1997-08-20 | 日本電気株式会社 | 電子デバイス用基板 |
-
1987
- 1987-07-29 JP JP62189281A patent/JP2506798B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6433818A (en) | 1989-02-03 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |