JP2500626B2 - 横型微小共振器レ―ザ - Google Patents

横型微小共振器レ―ザ

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JP2500626B2
JP2500626B2 JP5172802A JP17280293A JP2500626B2 JP 2500626 B2 JP2500626 B2 JP 2500626B2 JP 5172802 A JP5172802 A JP 5172802A JP 17280293 A JP17280293 A JP 17280293A JP 2500626 B2 JP2500626 B2 JP 2500626B2
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隆士 吉川
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    • H01S5/204Strongly index guided structures
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体レーザ、特に低し
きい値動作の横型微小共振器レーザに関する。
【0002】
【従来の技術】微小共振器レーザはYokoyamaら
が報告しているように(ジャーナルオブ アプライド
フィジックス 66巻 4801ページ:J.App
l.Phys.66,4801,1989)、レーザモ
ードを小さな体積に閉じこめることができれば、自然放
出光が制御でき、超低しきい値動作や超高速変調を行う
ことが可能となることが予想されている。
【0003】また、須崎の報告(U−OEIC研究会報
告書 106ページ、1992年,財団法人光産業技術
振興会)にあるような通常の半導体レーザと同じ横型共
振器では、共振器の導波方向に垂直な方向の光の閉じこ
めが十分できずにしみだしてしまうために、微小共振器
効果を十分発現させることは困難である。
【0004】そこで、Yamamotoらの報告にある
ように屈折率差が大きい空気で活性層を囲みこむ構造
(エアーポスト構造)が有効となる(フィジカル レビ
ューA44巻 657ページ:Physs.Rev.A
44,657,1991)。このエアーポスト構造は、
縦型共振器に用いることができる。この構造は活性層の
上下に半導体多層反射膜を設けて共振器構造を構成し、
これを活性層の下側部分まで除去し、活性層部を空気で
閉じこめることで、横方向への閉じこめを十分に行うよ
うにしたものである。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】半導体多層反射鏡は高
反射率を得るために多周期が必要で、例えばGaAs/
AlAsの場合で上下それぞれ20周期程度が必要とな
る。さらに活性層下部も、回折損を抑制するために5〜
10周期除去する必要があるため、全体のサイズとして
はサブミクロン径に対して高さ4μm以上の高アスペク
ト比のポスト形状となる。これは力学的に強度が低い欠
点を有する。また、電流注入を考えた場合、高抵抗であ
る半導体多層反射膜を通して電流注入するため、電流か
ら光への変換効率が悪い欠点を持つ。
【0006】本発明の目的は、光の閉じこめが良いエア
ーポスト構造を、力学的強度が高く、電流注入構造の作
製しやすい横型共振器構造で作製することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明の横型微小共振器
レーザは、活性層が空気に囲まれたエアーブリッジ構造
を有することを特徴とする。
【0008】
【作用】本発明の微小共振器レーザは、エアーブリッジ
構造であるため、活性層は空気に囲まれ、閉じこめが強
いので微小体積での低入力パワー発振動作が可能とな
る。また横型なので、電流注入構造を容易に作製でき
る。さらに基板表面からの突出する構造でないため、力
学的強度も縦型共振器より良好となる。
【0009】
【実施例】以下、本発明の実施例であるエアーブリッジ
構造横型微小共振器レーザを説明する。
【0010】(実施例1)図1にInP/InGaAs
Pエアーブリッジ構造横型微小共振器レーザを示す断面
斜視図である。この微小共振器レーザの構造を、その製
造方法を説明することによって明らかにする。
【0011】半絶縁性InP基板1上に有機金属気相成
長法により0.5μm厚のn−InAlAs層2、0.
5μm厚のn−InP電流注入層3を成長する。
【0012】この基板に、電子ビーム露光法とウェット
エッチングまたはドライエッチングとによりDestr
ibuted Bragg Reflector(DB
R)4を片側約2μmずつ形成する。さらに0.5μm
厚のi−InGaAsP活性層5、0.5μm厚のp−
InP電流注入層6を成長する。
【0013】このように、InAlAs層2上には、I
nP/InGaAsPダブルヘテロ構造が形成される。
【0014】この基板上に熱化学気相蒸着法(熱CV
D)により0.5μm厚のSiO2 膜を作製し、これに
電子ビーム露光法を用いて図2に示す0.5μm幅パタ
ーニングを行い、SiO2 マスク11を作製する。これ
を塩素反応性イオンビームエッチングを用いてInAl
As層2の上から0.2μmまでエッチングする。
【0015】次に、CVD法と光学露光プロセスを用い
て、図1のn電極7とp電極8とSiO2 絶縁膜9を作
製する。その後にb−HFによりウェットエッチングを
行うことでInAlAs部分が選択エッチングされて空
洞10を生じ図1に示すようなエアーブリッジ構造が作
製される。
【0016】なお図1は、図2のSiO2 マスク11に
示すA−A′線に沿って切断した断面部を示す斜視図で
あり、横型微小共振器型レーザは断面部を境にして図1
と同じ構造が対称に存在している。
【0017】(実施例2)図3にAlGaAs/InG
aAsエアーブリッジ構造横型微小共振器レーザを示
す。図中、12は半絶縁性基板GaAs基板、13はn
−GaAs層、14はn−AlGaAs電流注入層、1
5はi−InGaAs活性層、16はp−AlGaAs
電流注入層、4はDestributed Bragg
Reflector(DBR)、7はn電極、8はp
電極、9はSiO2 絶縁膜、10は空洞である。パター
ニング、電極プロセス等は実施例1と同じで、中空構造
を作製するためのGaAs層の選択エッチングは、室温
で、塩素とSF6 混合ガスによるラジカルエッチングで
行う。
【0018】なお、図3は図1と同様に断面斜視図であ
り、横型微小共振器レーザは断面部を境にして図3と同
じ構造が対称に存在している。
【0019】
【発明の効果】以上のように本発明はエアーブリッジ構
造であるため、活性層は空気に囲まれ、閉じこめが強く
モード体積が小さいので低しきい値動作が可能となる。
また横型なので、実施例に示したように、電流注入構造
を容易に作製できる。さらに基板表面から突出する構造
でないため、力学的強度も縦型共振器より良好となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】InP/InGaAsPエアーブリッジ構造横
型微小共振器レーザの断面斜視図である。
【図2】SiO2 マスクパターンを示す図である。
【図3】AlGaAs/InGaAsエアーブリッジ構
造横型微小共振器レーザの断面斜視図である。
【符号の説明】
1 半絶縁性InP基板 2 n−InAlAs層 3 n−InP電流注入層 4 DBR 5 i−InGaAsP活性層 6 p−InP電流注入層 7 n電極 8 p電極 9 SiO2 絶縁膜 10 空洞 11 SiO2 マスク 12 半絶縁性基板GaAs基板 13 n−GaAs層 14 n−AlGaAs電流注入層 15 i−InGaAs活性層 16 p−AlGaAs電流注入層

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】活性層が空気に囲まれたエアーブリッジ構
    造を有することを特徴とする横型微小共振器レーザ。
  2. 【請求項2】前記エアーブリッジ構造部分には、InP
    /InGaAsPダブルヘテロ構造を有することを特徴
    とする請求項1記載の横型微小共振器レーザ。
  3. 【請求項3】前記エアーブリッジ構造部分には、AlG
    aAs/InGaAsダブルヘテロ構造を有することを
    特徴とする請求項1記載の横型微小共振器レーザ。
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DE102021211848A1 (de) * 2021-10-20 2023-04-20 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung eingetragener Verein Vorrichtung zur erzeugung einer laserstrahlung mit einer lateral-current-injection-laseranordnung und einem hohlraum, sowie verfahren zur herstellung derselben

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