JP2500626B2 - 横型微小共振器レ―ザ - Google Patents
横型微小共振器レ―ザInfo
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- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/04—Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping, e.g. by electron beams
- H01S5/042—Electrical excitation ; Circuits therefor
- H01S5/0425—Electrodes, e.g. characterised by the structure
- H01S5/04256—Electrodes, e.g. characterised by the structure characterised by the configuration
- H01S5/04257—Electrodes, e.g. characterised by the structure characterised by the configuration having positive and negative electrodes on the same side of the substrate
-
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- H01S5/32—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising PN junctions, e.g. hetero- or double- heterostructures
- H01S5/3211—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising PN junctions, e.g. hetero- or double- heterostructures characterised by special cladding layers, e.g. details on band-discontinuities
- H01S5/3214—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising PN junctions, e.g. hetero- or double- heterostructures characterised by special cladding layers, e.g. details on band-discontinuities comprising materials from other groups of the periodic system than the materials of the active layer, e.g. ZnSe claddings and GaAs active layer
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- H01S5/20—Structure or shape of the semiconductor body to guide the optical wave ; Confining structures perpendicular to the optical axis, e.g. index or gain guiding, stripe geometry, broad area lasers, gain tailoring, transverse or lateral reflectors, special cladding structures, MQW barrier reflection layers
- H01S5/204—Strongly index guided structures
- H01S5/2045—Strongly index guided structures employing free standing waveguides or air gap confinement
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Electromagnetism (AREA)
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- Semiconductor Lasers (AREA)
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体レーザ、特に低し
きい値動作の横型微小共振器レーザに関する。
きい値動作の横型微小共振器レーザに関する。
【0002】
【従来の技術】微小共振器レーザはYokoyamaら
が報告しているように(ジャーナルオブ アプライド
フィジックス 66巻 4801ページ:J.App
l.Phys.66,4801,1989)、レーザモ
ードを小さな体積に閉じこめることができれば、自然放
出光が制御でき、超低しきい値動作や超高速変調を行う
ことが可能となることが予想されている。
が報告しているように(ジャーナルオブ アプライド
フィジックス 66巻 4801ページ:J.App
l.Phys.66,4801,1989)、レーザモ
ードを小さな体積に閉じこめることができれば、自然放
出光が制御でき、超低しきい値動作や超高速変調を行う
ことが可能となることが予想されている。
【0003】また、須崎の報告(U−OEIC研究会報
告書 106ページ、1992年,財団法人光産業技術
振興会)にあるような通常の半導体レーザと同じ横型共
振器では、共振器の導波方向に垂直な方向の光の閉じこ
めが十分できずにしみだしてしまうために、微小共振器
効果を十分発現させることは困難である。
告書 106ページ、1992年,財団法人光産業技術
振興会)にあるような通常の半導体レーザと同じ横型共
振器では、共振器の導波方向に垂直な方向の光の閉じこ
めが十分できずにしみだしてしまうために、微小共振器
効果を十分発現させることは困難である。
【0004】そこで、Yamamotoらの報告にある
ように屈折率差が大きい空気で活性層を囲みこむ構造
(エアーポスト構造)が有効となる(フィジカル レビ
ューA44巻 657ページ:Physs.Rev.A
44,657,1991)。このエアーポスト構造は、
縦型共振器に用いることができる。この構造は活性層の
上下に半導体多層反射膜を設けて共振器構造を構成し、
これを活性層の下側部分まで除去し、活性層部を空気で
閉じこめることで、横方向への閉じこめを十分に行うよ
うにしたものである。
ように屈折率差が大きい空気で活性層を囲みこむ構造
(エアーポスト構造)が有効となる(フィジカル レビ
ューA44巻 657ページ:Physs.Rev.A
44,657,1991)。このエアーポスト構造は、
縦型共振器に用いることができる。この構造は活性層の
上下に半導体多層反射膜を設けて共振器構造を構成し、
これを活性層の下側部分まで除去し、活性層部を空気で
閉じこめることで、横方向への閉じこめを十分に行うよ
うにしたものである。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】半導体多層反射鏡は高
反射率を得るために多周期が必要で、例えばGaAs/
AlAsの場合で上下それぞれ20周期程度が必要とな
る。さらに活性層下部も、回折損を抑制するために5〜
10周期除去する必要があるため、全体のサイズとして
はサブミクロン径に対して高さ4μm以上の高アスペク
ト比のポスト形状となる。これは力学的に強度が低い欠
点を有する。また、電流注入を考えた場合、高抵抗であ
る半導体多層反射膜を通して電流注入するため、電流か
ら光への変換効率が悪い欠点を持つ。
反射率を得るために多周期が必要で、例えばGaAs/
AlAsの場合で上下それぞれ20周期程度が必要とな
る。さらに活性層下部も、回折損を抑制するために5〜
10周期除去する必要があるため、全体のサイズとして
はサブミクロン径に対して高さ4μm以上の高アスペク
ト比のポスト形状となる。これは力学的に強度が低い欠
点を有する。また、電流注入を考えた場合、高抵抗であ
る半導体多層反射膜を通して電流注入するため、電流か
ら光への変換効率が悪い欠点を持つ。
【0006】本発明の目的は、光の閉じこめが良いエア
ーポスト構造を、力学的強度が高く、電流注入構造の作
製しやすい横型共振器構造で作製することにある。
ーポスト構造を、力学的強度が高く、電流注入構造の作
製しやすい横型共振器構造で作製することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明の横型微小共振器
レーザは、活性層が空気に囲まれたエアーブリッジ構造
を有することを特徴とする。
レーザは、活性層が空気に囲まれたエアーブリッジ構造
を有することを特徴とする。
【0008】
【作用】本発明の微小共振器レーザは、エアーブリッジ
構造であるため、活性層は空気に囲まれ、閉じこめが強
いので微小体積での低入力パワー発振動作が可能とな
る。また横型なので、電流注入構造を容易に作製でき
る。さらに基板表面からの突出する構造でないため、力
学的強度も縦型共振器より良好となる。
構造であるため、活性層は空気に囲まれ、閉じこめが強
いので微小体積での低入力パワー発振動作が可能とな
る。また横型なので、電流注入構造を容易に作製でき
る。さらに基板表面からの突出する構造でないため、力
学的強度も縦型共振器より良好となる。
【0009】
【実施例】以下、本発明の実施例であるエアーブリッジ
構造横型微小共振器レーザを説明する。
構造横型微小共振器レーザを説明する。
【0010】(実施例1)図1にInP/InGaAs
Pエアーブリッジ構造横型微小共振器レーザを示す断面
斜視図である。この微小共振器レーザの構造を、その製
造方法を説明することによって明らかにする。
Pエアーブリッジ構造横型微小共振器レーザを示す断面
斜視図である。この微小共振器レーザの構造を、その製
造方法を説明することによって明らかにする。
【0011】半絶縁性InP基板1上に有機金属気相成
長法により0.5μm厚のn−InAlAs層2、0.
5μm厚のn−InP電流注入層3を成長する。
長法により0.5μm厚のn−InAlAs層2、0.
5μm厚のn−InP電流注入層3を成長する。
【0012】この基板に、電子ビーム露光法とウェット
エッチングまたはドライエッチングとによりDestr
ibuted Bragg Reflector(DB
R)4を片側約2μmずつ形成する。さらに0.5μm
厚のi−InGaAsP活性層5、0.5μm厚のp−
InP電流注入層6を成長する。
エッチングまたはドライエッチングとによりDestr
ibuted Bragg Reflector(DB
R)4を片側約2μmずつ形成する。さらに0.5μm
厚のi−InGaAsP活性層5、0.5μm厚のp−
InP電流注入層6を成長する。
【0013】このように、InAlAs層2上には、I
nP/InGaAsPダブルヘテロ構造が形成される。
nP/InGaAsPダブルヘテロ構造が形成される。
【0014】この基板上に熱化学気相蒸着法(熱CV
D)により0.5μm厚のSiO2 膜を作製し、これに
電子ビーム露光法を用いて図2に示す0.5μm幅パタ
ーニングを行い、SiO2 マスク11を作製する。これ
を塩素反応性イオンビームエッチングを用いてInAl
As層2の上から0.2μmまでエッチングする。
D)により0.5μm厚のSiO2 膜を作製し、これに
電子ビーム露光法を用いて図2に示す0.5μm幅パタ
ーニングを行い、SiO2 マスク11を作製する。これ
を塩素反応性イオンビームエッチングを用いてInAl
As層2の上から0.2μmまでエッチングする。
【0015】次に、CVD法と光学露光プロセスを用い
て、図1のn電極7とp電極8とSiO2 絶縁膜9を作
製する。その後にb−HFによりウェットエッチングを
行うことでInAlAs部分が選択エッチングされて空
洞10を生じ図1に示すようなエアーブリッジ構造が作
製される。
て、図1のn電極7とp電極8とSiO2 絶縁膜9を作
製する。その後にb−HFによりウェットエッチングを
行うことでInAlAs部分が選択エッチングされて空
洞10を生じ図1に示すようなエアーブリッジ構造が作
製される。
【0016】なお図1は、図2のSiO2 マスク11に
示すA−A′線に沿って切断した断面部を示す斜視図で
あり、横型微小共振器型レーザは断面部を境にして図1
と同じ構造が対称に存在している。
示すA−A′線に沿って切断した断面部を示す斜視図で
あり、横型微小共振器型レーザは断面部を境にして図1
と同じ構造が対称に存在している。
【0017】(実施例2)図3にAlGaAs/InG
aAsエアーブリッジ構造横型微小共振器レーザを示
す。図中、12は半絶縁性基板GaAs基板、13はn
−GaAs層、14はn−AlGaAs電流注入層、1
5はi−InGaAs活性層、16はp−AlGaAs
電流注入層、4はDestributed Bragg
Reflector(DBR)、7はn電極、8はp
電極、9はSiO2 絶縁膜、10は空洞である。パター
ニング、電極プロセス等は実施例1と同じで、中空構造
を作製するためのGaAs層の選択エッチングは、室温
で、塩素とSF6 混合ガスによるラジカルエッチングで
行う。
aAsエアーブリッジ構造横型微小共振器レーザを示
す。図中、12は半絶縁性基板GaAs基板、13はn
−GaAs層、14はn−AlGaAs電流注入層、1
5はi−InGaAs活性層、16はp−AlGaAs
電流注入層、4はDestributed Bragg
Reflector(DBR)、7はn電極、8はp
電極、9はSiO2 絶縁膜、10は空洞である。パター
ニング、電極プロセス等は実施例1と同じで、中空構造
を作製するためのGaAs層の選択エッチングは、室温
で、塩素とSF6 混合ガスによるラジカルエッチングで
行う。
【0018】なお、図3は図1と同様に断面斜視図であ
り、横型微小共振器レーザは断面部を境にして図3と同
じ構造が対称に存在している。
り、横型微小共振器レーザは断面部を境にして図3と同
じ構造が対称に存在している。
【0019】
【発明の効果】以上のように本発明はエアーブリッジ構
造であるため、活性層は空気に囲まれ、閉じこめが強く
モード体積が小さいので低しきい値動作が可能となる。
また横型なので、実施例に示したように、電流注入構造
を容易に作製できる。さらに基板表面から突出する構造
でないため、力学的強度も縦型共振器より良好となる。
造であるため、活性層は空気に囲まれ、閉じこめが強く
モード体積が小さいので低しきい値動作が可能となる。
また横型なので、実施例に示したように、電流注入構造
を容易に作製できる。さらに基板表面から突出する構造
でないため、力学的強度も縦型共振器より良好となる。
【図1】InP/InGaAsPエアーブリッジ構造横
型微小共振器レーザの断面斜視図である。
型微小共振器レーザの断面斜視図である。
【図2】SiO2 マスクパターンを示す図である。
【図3】AlGaAs/InGaAsエアーブリッジ構
造横型微小共振器レーザの断面斜視図である。
造横型微小共振器レーザの断面斜視図である。
1 半絶縁性InP基板 2 n−InAlAs層 3 n−InP電流注入層 4 DBR 5 i−InGaAsP活性層 6 p−InP電流注入層 7 n電極 8 p電極 9 SiO2 絶縁膜 10 空洞 11 SiO2 マスク 12 半絶縁性基板GaAs基板 13 n−GaAs層 14 n−AlGaAs電流注入層 15 i−InGaAs活性層 16 p−AlGaAs電流注入層
Claims (3)
- 【請求項1】活性層が空気に囲まれたエアーブリッジ構
造を有することを特徴とする横型微小共振器レーザ。 - 【請求項2】前記エアーブリッジ構造部分には、InP
/InGaAsPダブルヘテロ構造を有することを特徴
とする請求項1記載の横型微小共振器レーザ。 - 【請求項3】前記エアーブリッジ構造部分には、AlG
aAs/InGaAsダブルヘテロ構造を有することを
特徴とする請求項1記載の横型微小共振器レーザ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5172802A JP2500626B2 (ja) | 1993-07-13 | 1993-07-13 | 横型微小共振器レ―ザ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5172802A JP2500626B2 (ja) | 1993-07-13 | 1993-07-13 | 横型微小共振器レ―ザ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0730191A JPH0730191A (ja) | 1995-01-31 |
JP2500626B2 true JP2500626B2 (ja) | 1996-05-29 |
Family
ID=15948647
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5172802A Expired - Lifetime JP2500626B2 (ja) | 1993-07-13 | 1993-07-13 | 横型微小共振器レ―ザ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2500626B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5918611B2 (ja) * | 2012-04-17 | 2016-05-18 | 日本電信電話株式会社 | 光半導体素子 |
DE102021211848A1 (de) * | 2021-10-20 | 2023-04-20 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung eingetragener Verein | Vorrichtung zur erzeugung einer laserstrahlung mit einer lateral-current-injection-laseranordnung und einem hohlraum, sowie verfahren zur herstellung derselben |
-
1993
- 1993-07-13 JP JP5172802A patent/JP2500626B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0730191A (ja) | 1995-01-31 |
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