JP2024505712A - パワー半導体モジュール、パワー半導体デバイスおよびパワー半導体デバイスを製作するための方法 - Google Patents
パワー半導体モジュール、パワー半導体デバイスおよびパワー半導体デバイスを製作するための方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2024505712A JP2024505712A JP2023547661A JP2023547661A JP2024505712A JP 2024505712 A JP2024505712 A JP 2024505712A JP 2023547661 A JP2023547661 A JP 2023547661A JP 2023547661 A JP2023547661 A JP 2023547661A JP 2024505712 A JP2024505712 A JP 2024505712A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- power semiconductor
- alignment
- cooler
- semiconductor module
- power
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 191
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 44
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims abstract description 35
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 3
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 20
- 239000002826 coolant Substances 0.000 description 10
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 8
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 8
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 8
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 3
- 238000004026 adhesive bonding Methods 0.000 description 2
- 239000008393 encapsulating agent Substances 0.000 description 2
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 2
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 2
- 238000005245 sintering Methods 0.000 description 2
- TVEXGJYMHHTVKP-UHFFFAOYSA-N 6-oxabicyclo[3.2.1]oct-3-en-7-one Chemical compound C1C2C(=O)OC1C=CC2 TVEXGJYMHHTVKP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 1
- 238000011900 installation process Methods 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 1
- 238000004382 potting Methods 0.000 description 1
- 239000003566 sealing material Substances 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/34—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
- H01L23/40—Mountings or securing means for detachable cooling or heating arrangements ; fixed by friction, plugs or springs
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/34—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
- H01L23/40—Mountings or securing means for detachable cooling or heating arrangements ; fixed by friction, plugs or springs
- H01L23/4006—Mountings or securing means for detachable cooling or heating arrangements ; fixed by friction, plugs or springs with bolts or screws
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/34—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
- H01L23/42—Fillings or auxiliary members in containers or encapsulations selected or arranged to facilitate heating or cooling
- H01L23/433—Auxiliary members in containers characterised by their shape, e.g. pistons
- H01L23/4338—Pistons, e.g. spring-loaded members
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/34—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
- H01L23/46—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements involving the transfer of heat by flowing fluids
- H01L23/473—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements involving the transfer of heat by flowing fluids by flowing liquids
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/48—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
- H01L23/488—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
- H01L23/495—Lead-frames or other flat leads
- H01L23/49541—Geometry of the lead-frame
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/48—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
- H01L23/488—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
- H01L23/495—Lead-frames or other flat leads
- H01L23/49541—Geometry of the lead-frame
- H01L23/49565—Side rails of the lead frame, e.g. with perforations, sprocket holes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/544—Marks applied to semiconductor devices or parts, e.g. registration marks, alignment structures, wafer maps
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L25/00—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
- H01L25/03—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
- H01L25/04—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
- H01L25/07—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L29/00
- H01L25/072—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L29/00 the devices being arranged next to each other
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L25/00—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
- H01L25/18—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof the devices being of types provided for in two or more different subgroups of the same main group of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/34—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
- H01L23/40—Mountings or securing means for detachable cooling or heating arrangements ; fixed by friction, plugs or springs
- H01L23/4006—Mountings or securing means for detachable cooling or heating arrangements ; fixed by friction, plugs or springs with bolts or screws
- H01L2023/4037—Mountings or securing means for detachable cooling or heating arrangements ; fixed by friction, plugs or springs with bolts or screws characterised by thermal path or place of attachment of heatsink
- H01L2023/4043—Mountings or securing means for detachable cooling or heating arrangements ; fixed by friction, plugs or springs with bolts or screws characterised by thermal path or place of attachment of heatsink heatsink to have chip
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/34—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
- H01L23/40—Mountings or securing means for detachable cooling or heating arrangements ; fixed by friction, plugs or springs
- H01L23/4006—Mountings or securing means for detachable cooling or heating arrangements ; fixed by friction, plugs or springs with bolts or screws
- H01L2023/4075—Mechanical elements
- H01L2023/4081—Compliant clamping elements not primarily serving heat-conduction
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/34—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
- H01L23/40—Mountings or securing means for detachable cooling or heating arrangements ; fixed by friction, plugs or springs
- H01L23/4006—Mountings or securing means for detachable cooling or heating arrangements ; fixed by friction, plugs or springs with bolts or screws
- H01L2023/4075—Mechanical elements
- H01L2023/4087—Mounting accessories, interposers, clamping or screwing parts
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/48—Manufacture or treatment of parts, e.g. containers, prior to assembly of the devices, using processes not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326
- H01L21/4814—Conductive parts
- H01L21/4871—Bases, plates or heatsinks
- H01L21/4882—Assembly of heatsink parts
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2223/00—Details relating to semiconductor or other solid state devices covered by the group H01L23/00
- H01L2223/544—Marks applied to semiconductor devices or parts
- H01L2223/54426—Marks applied to semiconductor devices or parts for alignment
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
Abstract
パワー半導体モジュール(1)は、- 冷却構造物(3)に接続される少なくとも1つの半導体チップ(5)と、- 少なくとも1つの半導体チップ(5)に電気的に接触している少なくとも2つのパワー端子(7)と、- パワー半導体チップ(5)および少なくとも2つのパワー端子(7)のためのハウジング(23)とを備え、- 少なくとも2つのパワー端子(7)の各々が横方向にハウジング(23)を越えて突き出している突出部(9)を有し、- 少なくとも2つの突出部(9)の各々が第1のアライメントホール(10)を設けられることで特定される。さらに、パワー半導体デバイスおよびパワー半導体デバイスを製作するための方法が特定される。
Description
本開示は、パワー半導体モジュール、パワー半導体デバイスおよびパワー半導体デバイスを製作するための方法に関する。
例示的には、ピンフィンを有するベースプレートを設けられたパワー半導体モジュールは、直接液体冷却のための冷却器に搭載される。例えば、パワー半導体モジュールの正しい位置決めが、動作中に冷却媒体の何らかの漏れなしに冷却器とパワー半導体モジュールとの間の密着した機械的接続を実現するために必要とされる。さらにその上、冷却器の冷却空洞内部のピンフィンの正しい位置決めが、例えば、最適な冷却効率を与える。
冷却器上にいくつかのパワー半導体モジュールを搭載するときに、冷却器上のパワー半導体モジュールの位置決めそれ自体だけでなく、パワー半導体モジュール相互のアライメントも重要である。正しいアライメントだけが、共通制御ボードへのパワー半導体モジュールの対応する制御端子の適正なフィッティングを容易にする。
開示の実施形態は、改善した信頼性を有するパワー半導体モジュール、このようなパワー半導体モジュールを有するパワー半導体デバイスおよびこのようなパワー半導体デバイスを製作するための方法により上記の欠点を全体としてまたは部分的に取り扱う。
開示の例示的な実施形態は、独立請求項の主題により上記の欠点を取り扱う。さらなる例示的な実施形態は、従属請求項および下記の説明から明らかである。
第1の態様は、パワー半導体デバイスに関する。「パワー」という用語は、ここではおよび下記では、例えば、100Vよりももっと大きい、例えば5000Vよりも大きい、および/または10Aよりも大きい、例えば、1000Aよりも大きい電圧および電流を処理するために適合したパワー半導体モジュール、半導体チップおよびパワー半導体デバイスを称する。例えば、パワー半導体モジュールは、電気車両、ハイブリッド車両、モーターバイク、バス、トラック、オフロード建設車両および充電スタンドなどの自動車用途で使用される。
パワー半導体モジュールは、例えば、拡張の主平面を有する。横方向は、拡張の主平面に平行にアライメントされ、垂直方向は、拡張の主平面に垂直にアライメントされる。
第1の態様の実施形態によれば、パワー半導体モジュールは、冷却構造物に接続される少なくとも1つの半導体チップを備える。
例えば、パワー半導体モジュールは、第1の主面のところに冷却構造物を備えるベースプレートを備える。あるいは、半導体モジュールは、ベースプレートのないパワー半導体モジュールである。
例えば、冷却構造物は、複数のピンフィンを備える。各々のピンフィンは、ピラーから例示的には形成され、ここでは各々のピンフィンの尖端は、第1の主面から遠くに面する垂直方向に延びる。例えば、ピンフィンのすべては、垂直方向に平行である延伸の共通方向を有する。例えば、ピンフィンは、第1の主面におけるベースプレートの底部表面の面積を大きくする。
例えば、ベースプレートは、Cuなどの金属を含むまたは金属から構成される。ピンフィンは、例えば、Cuなどのベースプレートと同じ材料から形成される。例えば、冷却構造物およびベースプレートは、互いに一体的に形成される。
半導体チップは、例えば、基板またはリードフレームを備える。基板またはリードフレームは、例えば、ベースプレート上に搭載される。半導体チップは、例えば、基板上に直接配置される。例示的には、少なくとも1つの半導体チップは、第1の主面とは反対の第2の主面のところでベースプレート上に配置される。半導体チップは、例えば、シリコンまたはワイドバンドギャップ材料、例示的には炭化ケイ素に基づく。
半導体チップは、例えば、ダイオードおよびスイッチのうちの少なくとも1つから形成される。半導体チップは、例示的には、トランジスタ、バリスタ、絶縁ゲートバイポーラトランジスタ、略してIGBT、または金属酸化物半導体電界効果トランジスタ、略してMOSFET、または金属絶縁体半導体電界効果トランジスタ、略してMISFETである。
パワー半導体モジュールは、少なくとも2つの半導体チップを典型的には備える。2つの半導体チップは、横方向に互いに間隔を空けられる。例えば、少なくとも2つの半導体チップのうちの一方が、スイッチとして形成され、少なくとも2つの半導体チップのうちの他方が、ダイオードとして形成される。このケースでは、スイッチおよびダイオードは、互いに逆平行に接続される。互いに逆平行に接続される少なくとも2つの半導体チップは、例えば、ハーフブリッジを形成する。例えば、パワー半導体モジュールは、1つまたは複数のハーフブリッジを備える。
少なくとも1つの実施形態によれば、パワー半導体モジュールは、少なくとも1つの半導体チップに電気的に接触している少なくとも2つのパワー端子を備える。例えば、パワー端子は、パワー半導体モジュール、すなわち半導体チップの外部接続のために構成される。パワー端子は、少なくとも領域内の横方向に例示的に延びる。パワー端子は、例えば、金属、例示的にはCuを含むまたはCuから構成される。
例えば、パワー端子は、第1の側においてアライメントプロセスの痕跡を示す。アライメントプロセスの痕跡は、例えば、スクラッチマークである。
実施形態によれば、パワー半導体モジュールは、パワー半導体チップおよび少なくとも2つのパワー端子のためのハウジングを備える。ハウジングは、例えば、モールドコンパウンド、ゲルまたは樹脂、例えばポッティング樹脂などの封止材料を含め、例えば、パワー半導体チップ用のパッケージである任意の要素により形成される。
例えば、ハウジングは、パワー半導体チップ、少なくとも2つのパワー端子および第2の主面のところのベースプレート上に配置されたモールドコンパウンドを含む。例えば、モールドコンパウンドは、パワー半導体モジュール、パワー端子およびベースプレートに直接接触している。モールドコンパウンドは、エポキシモールドコンパウンド、例示的にはエポキシ樹脂を含むまたはエポキシ樹脂から構成される。
例えば、パワー半導体チップは、モールドコンパウンドおよびベースプレートにより完全に封止される。「封止される」ということは、半導体チップが三次元的に封止されることをここではおよび下記では意味する。
さらに、パワー端子の各々は、ハウジング、例えば、モールドコンパウンド内部の少なくとも領域内に埋め込まれる。「埋め込まれる」ということは、各々のパワー端子の外側表面が、ハウジング、例えば、モールドコンパウンドにより覆われる半導体チップに近い少なくとも領域内にあることをここではおよび下記では意味する。
パワー半導体モジュールの少なくとも1つの実施形態によれば、少なくとも2つのパワー端子の各々は、横方向にハウジングから突き出している突出部を有する。すなわち、各々のパワー端子が、横方向にハウジングを越えて典型的に突き出す。突出部には、例えば、ハウジングがない。例示的には、突出部は、外部から接触可能にするために自由にアクセス可能である。
パワー半導体モジュールの少なくとも1つの実施形態によれば、少なくとも2つの突出部が、第1のアライメントホールを設けられる。例えば、第1のアライメントホールの各々は、垂直方向にパワー端子を完全に貫く。
例えば、第1のアライメントホールの各々は、少なくとも1つの側面を含む。少なくとも1つの第1のアライメントホールの側面のうちの少なくとも1つは、例示的には垂直方向に広がる。あるいは、少なくとも1つの第1のアライメントホールの側面のうちの少なくとも1つは、垂直方向に対して傾斜する。このケースでは、少なくとも1つの第1のアライメントホールの少なくとも1つの側面は、大きくとも80°、60°、40°または30°、例えば、大きくとも20°、10°または5°の垂直方向との角度で取り囲む。
例示的に、パワー端子は、少なくとも1つの追加の穴を有することが可能である。追加の穴は、例示的には、ねじを受け入れるようにさらに構成される。例示的には、追加の穴は、外部バスバーとのねじ型の相互接続部用に構成される。例えば、追加の穴の横方向の寸法は、第1のアライメントホールの横方向の寸法よりも大きい。
第1のアライメントホールは、例えば、少なくとも0.5mmまたは少なくとも5mmの横方向の直径を有する。さらに、追加の穴は、例えば、第1のアライメントホールの直径よりも大きい直径を有する。
要約すると、このようなパワー半導体モジュールは、とりわけ、下記の利点を提供できる。例えば、横方向のパワー半導体モジュールの正しいアライメントおよび位置決めが、第1のアライメントホールの助けを借りて実現されることが可能である。さらにその上、1つよりも多くのパワー半導体モジュールが位置決めされようとするときに、パワー半導体モジュールは、第1のアライメントホールの助けを借りて相互に正しくアライメントされ位置決めされることが可能である。このようなパワー半導体モジュールが適正に位置決めされることが可能であるので、冷却効率は低下せず、その結果、パワー半導体モジュールの寿命が改善される。これゆえに、パワー半導体モジュールの信頼性は、典型的に改善される。
パワー半導体モジュールの少なくとも1つの実施形態によれば、少なくとも2つの突出部は、パワー半導体モジュールの第1の横方向の面上にまたは第1の横方向の面とは反対のパワー半導体モジュールの第2の横方向の面上に設けられる。
パワー半導体モジュールの少なくとも1つの実施形態によれば、少なくとも2つの突出部のうちの少なくとも1つが、パワー半導体モジュールの第1の横方向の面上に設けられ、少なくとも2つの突出部のうちの少なくとも別の1つが第1の横方向の面とは反対であるパワー半導体モジュールの第2の横方向の面上に設けられる。すなわち、第1のアライメントホールが、パワー半導体モジュールの反対の横方向の面に例示的には設けられる。例えば、突出部のうちの1つは、第1の横方向の面のところでハウジングから突き出す。さらに、突出部の他方は、第2の横方向の面のところでハウジングから突き出す。
パワー半導体モジュールの少なくとも1つの実施形態によれば、少なくとも2つの第1のアライメントホールのうちの少なくとも1つは、少なくとも2つの第1のアライメントホールのうちの少なくとも別の1つとは異なる形状を有する。あるいは、少なくとも2つの第1のアライメントホールの形状は同じである。
パワー半導体モジュールの少なくとも1つの実施形態によれば、少なくとも2つの第1のアライメントホールのうちの少なくとも1つは、円形形状を有する。例えば、第1のアライメントホールのうちの1つは、円形である横方向にアライメントされた断面を有する。
パワー半導体モジュールの少なくとも1つの実施形態によれば、少なくとも2つの第1のアライメントホールのうちの少なくとも別の1つは、溝付き穴形状を有する。例えば、第1のアライメントホールのうちの1つは、溝付き穴として成形される横方向にアライメントした断面を有する。
パワーモジュールのアライメントおよび位置決めでの取り扱い改善のために、例えば、少なくとも2つの第1のアライメントホールのうちの1つは、横方向の正確な位置決めを容易にするために円形、例えば、丸くあるべきであり、ところが、少なくとも2つの第1のアライメントホールのうちの他の1つは、正確な回転位置決めのために十分である溝付き穴であるべきである。典型的には、これらの異なる形状はまた、第1のアライメントホールのわずかに異なる距離のために位置決めでの潜在的な誤差も考えている。
代わりにまたは加えて、少なくとも2つの第1のアライメントホールのうちの少なくとも1つは、例えば、横方向の断面で、溝付き穴、楕円形、卵形、三角形または正方形である形状を有することが可能である。
第2の態様は、パワー半導体デバイスに関する。第2の態様の実施形態によれば、パワー半導体デバイスは、本明細書において上に説明した少なくとも1つのパワー半導体モジュールを備える。パワー半導体モジュールに関連して開示されたすべての特徴もまた、これゆえにパワー半導体デバイスに関連しても開示され、そして逆も同様である。
実施形態によれば、パワー半導体デバイスは、冷却器上に少なくとも1つのパワー半導体モジュールが配置される冷却器を備える。冷却器は、冷却媒体を受け入れるための冷却空洞を例示的には備える。例示的には冷却器は、注入ポートおよび排出ポートを備える。例示的には、冷却器は、注入ポートから排出ポートへの冷却空洞内部の冷却媒体の流れ方向に適合される。
例示的には、冷却媒体は、注入ポートから冷却空洞を通り排出ポートまでポンプで送られる。冷却媒体は、例えば、液体冷却剤またはガス冷却剤である。例示的には、パワー半導体モジュールの動作中に発生した熱は、冷却媒体を介して効果的に散逸されることが可能である。
パワー半導体デバイスの実施形態によれば、冷却器は、少なくとも2つの第2のアライメントホールを設けられる。例えば、第2のアライメントホールのうちの少なくとも1つは、垂直方向に冷却器を完全に貫く。
あるいは、第2のアライメントホールのうちの少なくとも1つは、部分的に冷却器を貫く。このケースでは、第2のアライメントホールが、第1の主面のところの底面から冷却器へと冷却器内部で延びる。
パワー半導体デバイスの実施形態によれば、少なくとも2つの第1のアライメントホールのうちの少なくとも1つは、垂直方向にまたは垂直方向に対して斜めに広がる少なくとも1つの側面を有する。
パワー半導体デバイスの実施形態によれば、少なくとも2つの第2のアライメントホールのうちの少なくとも1つは、垂直方向にまたは垂直方向に対して斜めに広がる少なくとも1つの側面を有する。
例えば、第2のアライメントホールの各々は、少なくとも1つの側面を備える。少なくとも1つの第2のアライメントホールの少なくとも1つの側面は、典型的には垂直方向に広がる。あるいは、少なくとも1つの第2のアライメントホールの少なくとも1つの側面は、垂直方向に対して傾斜する。このケースでは、少なくとも1つの第2のアライメントホールの少なくとも1つの側面は、大きくとも80°、60°、40°または30°、例えば、大きくとも20°、10°または5°の垂直方向との角度で取り囲む。
例えば、少なくとも2つの第2のアライメントホールのうちの少なくとも1つは、溝付き穴、円形、楕円形、卵形、三角形または正方形である横方向の断面を有することができる。
例示的には、少なくとも2つの第2のアライメントホールのうちの1つは、冷却器の前面の領域内に設置され、少なくとも2つの第2のアライメントホールのうちの別の1つは、前面とは反対の冷却器の裏面の領域内に設置される。前面および裏面は、垂直方向に典型的には広がる。前面の領域は、パワー半導体モジュールに対する方向で横方向に広がり、例えば、注入ポートを備え、裏面の領域は、パワー半導体モジュールに対する方向で横方向に広がり、例えば、注入ポートを備える。例えば、少なくとも2つの第2のアライメントホールのうちの1つは、注入ポートの領域内に設置され、少なくとも2つの第2のアライメントホールのうちの別の1つは、排出ポートの領域内に設置される。
第1のアライメントホールおよび第2のアライメントホールのために、冷却器に対する少なくとも1つのパワー半導体モジュールの正しい位置決めおよびアライメントが実現されることが可能である。同時に、1つよりも多くのパワー半導体モジュールが存在する場合に、相互に対するパワー半導体モジュールの正しい位置決めおよびアライメントが実現されることが可能である。
パワー半導体デバイスの少なくとも1つの実施形態によれば、冷却構造物は、冷却器と一体的に形成される。例示的に、冷却構造物は、冷却器と一体的に形成されたピンフィンを備えることができる。
あるいは、冷却構造物は、例えば、高くなった構造物のない冷却領域である。このケースでは、冷却構造物は、冷却器と一体的に形成された冷却プレートである。
パワー半導体デバイスの少なくとも1つの実施形態によれば、冷却器は、少なくとも1つの開口部を設けられる。
例えば、冷却器は、1つよりも多くの開口部を設けられる。例示的には、開口部は、流れ方向の方向に連続して冷却器内に設けられる。例えば、開口部は、横方向に、例えば、流れ方向に沿って互いに間隔を空けられる。このケースでは、パワー半導体モジュールが、各々の開口部上に設けられる。
例示的には、パワー半導体モジュールは、開口部の上にパワー半導体モジュールが配置される開口部の横方向の寸法よりも少なくとも5%大きい横方向の寸法を有する。
パワー半導体デバイスの少なくとも1つの実施形態によれば、少なくとも1つのパワー半導体モジュールは、冷却構造物が冷却器の冷却空洞の中へと突き出すように少なくとも1つの開口部上に設けられる。
第3の態様は、パワー半導体デバイスを製作するための方法に関する。例えば、方法は、本明細書において上に説明したパワー半導体デバイスを製作する。このように、パワー半導体デバイスに関連して開示したすべての特徴もまた、これゆえに方法に関連して開示され、そして逆も同様である。
第3の態様の実施形態によれば、方法は、少なくとも2つの第1のアライメントピンおよび少なくとも2つの第2のアライメントピンを設けられた固定具を提供することを含む。例えば、固定具は、ベース基板上に第1のアライメントピンおよび第2のアライメントピンが配置されるベース基板を備える。
第1のアライメントピンおよび第2のアライメントピンのうちの少なくとも一方は、例示的にはロッドから形成され、ここでは、ロッドの尖端が、固定具から遠くに面する垂直方向に延びる。例えば、すべての第1のアライメントピンおよびすべての第2のアライメントピンは、垂直方向に平行である延伸の共通方向を有する。
例示的に、第1のアライメントピンの各々は、対応する第1のアライメントホールへと挿入可能であるように構成される。第1のアライメントピンは、例えば、対応する第1のアライメントホールに適合する形状を有する。例示的には、第1のアライメントピンの横方向の断面は、対応する第1のアライメントホールよりも小さく、少なくとも10μm、例えば、少なくとも500μmまたは少なくとも1mmである。
さらに、第2のアライメントピンの各々は、例えば、対応する第2のアライメントホールへと挿入可能であるように構成される。第2のアライメントピンは、例えば、対応する第2のアライメントホールに適合する形状を有する。例示的には、第2のアライメントピンの横方向の断面は、対応する第1のアライメントホールよりも小さく、少なくとも10μm、例えば、少なくとも500μmまたは少なくとも1mmである。
実施形態によれば、方法は、少なくとも2つの第1のアライメントホールを設けられる少なくとも2つのパワー端子を備える少なくとも1つのパワー半導体デバイスを提供することを含む。
実施形態によれば、方法は、少なくとも2つの第2のアライメントホールを設けられた冷却器を提供することを含む。
実施形態によれば、方法は、少なくとも2つの第2のアライメントピンが少なくとも2つの第2のアライメントホールへと挿入されるように固定具上に冷却器を配置することを含む。
実施形態によれば、方法は、少なくとも2つの第1のアライメントピンが少なくとも2つの第1のアライメントホールへと挿入されるように、冷却器上に少なくとも1つのパワー半導体モジュールを配置することを含む。
例示的には、冷却器は、少なくとも1つのパワー半導体モジュールが冷却器上に配置される前に、固定具上に配置される。
第1のアライメントピンと第1のアライメントホールおよび第2のアライメントピンと第2のアライメントホールのために、冷却器上のパワー半導体モジュールの精密な位置決めが実現されることが可能である。方法は、正しく再現性のある位置決めおよびアライメントのために単純で容易な方法を提供する。さらに、一方では共通制御ボードまたはドライバボードへの、他方ではインバータのバスバー構造物へのパワー半導体モジュールの据え付けプロセスでの歩留まりが高められる。結果として、このことは、典型的には、顧客満足度の向上という結果になる。加えて、例えば、パワー端子へアライメントホールを実装するときにコストアダーがない。
少なくとも1つの実施形態によれば、方法は、少なくとも1つのクランプにより冷却器に少なくとも1つのパワー半導体モジュールを固定することを含む。例えば、クランプは、冷却器への方向にパワー半導体モジュールを押し付けるように構成される。クランプは、例示的には冷却器にクランプ用ねじにより固定される。すなわち、クランプは、例えばクランプ用ねじをしっかりと締めることによって、垂直方向にパワー半導体モジュールおよび冷却器を一緒に押し付ける。
例示的に、クランプをねじ止めすることにより冷却器にパワー半導体モジュールを搭載するために必要な時間は、第1のアライメントピンと第1のアライメントホールおよび第2のアライメントピンと第2のアライメントホールを使用する方法により短縮され、低い製造コストという結果をもたらす。さらに、第1のアライメントピンと第1のアライメントホールおよび第2のアライメントピンと第2のアライメントホールを使用することによって、例示的に、さらにパワー半導体モジュールの望まれない動きも、クランプをねじ止めする間に防止される。
あるいは、少なくとも1つのパワー半導体モジュールが、接着剤付け、焼結またははんだ付けにより冷却器に固定される。
方法の少なくとも1つの実施形態によれば、少なくとも2つの第2のアライメントホールに対する少なくとも2つの第1のアライメントホールの相対的な位置は、事前に設定される。
方法の少なくとも1つの実施形態によれば、少なくとも2つの第1のアライメントピンのうちの少なくとも1つは、円柱形、円錐形の形状のうちの少なくとも1つを少なくとも部分的に有する。
方法の少なくとも1つの実施形態によれば、少なくとも2つの第2のアライメントピンのうちの少なくとも1つは、円柱形、円錐形の形状のうちの少なくとも1つを少なくとも部分的に有する。
例えば、第1のアライメントピンおよび第2のアライメントピンのうちの少なくとも1つは、円柱形または円錐形に成形される端部領域を有するロッドで形成される。
例えば、円錐形である端部領域を有すると、セルフアライメントが実現され得る。
少なくとも1つの実施形態によれば、方法は、少なくとも2つの第1のアライメントピンおよび少なくとも2つの第2のアライメントピンのうちの少なくとも一方にばね素子を設けることを含む。例えば、少なくとも2つの第1のアライメントピンのうちの少なくとも1つが、ばね素子を設けられる。さらに、例示的には、少なくとも2つの第2のアライメントピンのうちの少なくとも1つが、ばね素子を設けられる。ばね素子は、垂直方向にそれぞれのアライメントピンに力を加えるように例示的に構成される。
少なくとも1つの実施形態によれば、方法は、少なくとも2つの第1のアライメントピンおよび少なくとも2つの第2のアライメントピンのうちの少なくとも一方にばね素子を設けることを含む。例えば、少なくとも2つの第1のアライメントピンのうちの少なくとも1つが、ばね素子を設けられる。さらに、例示的には、少なくとも2つの第2のアライメントピンのうちの少なくとも1つが、ばね素子を設けられる。ばね素子は、垂直方向にそれぞれのアライメントピンに力を加えるように例示的に構成される。
方法の少なくとも1つの実施形態によれば、少なくとも1つのパワー半導体モジュールは、少なくとも2つの補助端子をさらに備える。例えば、補助端子は、電気信号を少なくとも1つのパワー半導体チップへ与えるように構成される。例示的に、補助端子は、少なくとも領域内のハウジング、例えば、モールドコンパウンドに埋め込まれる。さらに、パワー端子の各々は、ハウジング、例えば、モールドコンパウンド内部の少なくとも領域に埋め込まれる。「埋め込まれる」は、各々の補助端子の外側表面が、ハウジング、例えばモールドコンパウンドにより覆われる半導体チップの近くの少なくとも領域内にあることをここではおよび下記では意味する。
方法の少なくとも1つの実施形態によれば、少なくとも2つの補助端子は、垂直方向の少なくとも領域内で延びる。製作許容誤差のために、領域内を垂直方向に延びる少なくとも2つの補助端子は、大きくとも10°または大きくとも5°、例えば、1°の垂直方向に対する角度を取り囲むことがある。
例えば、補助端子の各々は、ハウジングからの横方向の面から突き出すさらなる突出部を有する。補助端子のさらなる突出部は、少なくとも領域内で垂直方向に延びる。補助端子のさらなる突出部の端部領域は、例示的にはんだ付けまたはプレスフィット接続により、共通制御ボードまたはドライバボードに直接接続可能であるように構成される。
少なくとも1つの実施形態によれば、方法は、固定具上にさらなる第2のアライメントホールを備える共通制御ボードを配置することを含み、さらなる第2のアライメントホールが第2のアライメントピンを受け入れるように構成される。
方法の少なくとも1つの実施形態によれば、共通制御ボードは、補助端子を受け入れるように構成されるコンタクホールを備える。
すなわち、共通制御ボードが搭載されるときに、共通制御ボードのさらなる第2のアライメントホールは、冷却器の第2のアライメントホールの直ぐ上方の垂直方向に設置される。例示的には、共通制御ボードのさらなる第2のアライメントホールおよび冷却器の第2のアライメントホールは、合同的に重なっている。
少なくとも1つの実施形態によれば、方法は、冷却器上に、少なくとも2つの第1のアライメントホールを各々が設けられる少なくとも2つのパワー半導体モジュールを配置することを含む。
方法が冷却上のパワー半導体モジュールの正しく再現性のあるアライメントおよび互いに対するパワー半導体モジュールの正しく再現性のあるアライメントを可能にするので、例えば、冷却構造物の周りをバイパスする冷却媒体が、より上手く制御される。さらにその上、すべての補助端子は、例示的に、顧客側での、PCBなどの共通制御ボードにより上手く搭載するために相互により良くアライメントされる。
開示の主題は、添付した図面に図示される例示的な実施形態を参照して下記でより詳細に説明されるだろう。
図面で使用される参照符号、およびそれらの意味が、参照符号のリストに要約形態に列挙される。原則として、同一の部品は、複数の図で同じ参照符号で与えられる。
図1の例示的な実施形態によるパワー半導体モジュール1は、第1の主面のところに冷却構造物3を有するベースプレート2、あるいは基板を備える。冷却構造物3は、複数のピンフィンから形成される。
さらに、少なくとも1つの半導体チップ5が、第1の主面4とは反対の第2の主面のところでベースプレート2上に配置され、半導体チップ5は、この例示的な実施形態ではモールドコンパウンド8であるハウジング23により覆われるのでここでは示されない。モールドコンパウンド8は、パワー半導体チップ5、少なくとも2つのパワー端子7および第2の主面6のところのベースプレート2上に配置される。
加えて、パワー半導体モジュール1は、この実施形態では、少なくとも1つの半導体チップ5に電気的に接触している4つのパワー端子7を備える。パワー半導体チップ5に近いパワー端子7は、モールドコンパウンド8の内部に埋め込まれる。パワー端子7の各々は、横方向にモールドコンパウンド8を越えてさらに延びる。したがって、パワー端子7の各々は、横方向にモールドコンパウンド8から突き出している突出部9を有する。突出部9には、モールドコンパウンド8がなく、電気的コンタクトのために自由に利用可能である。
パワー半導体モジュール1の反対の横方向の面に設けられる2つの突出部9は、第1のアライメントホール10を設けられる。すなわち、複数のパワー端子7のうちの1つが、複数の第1のアライメントホール10のうちの1つを設けられる第1の横方向の面11上に配置され、パワー端子7のうちの別の1つが第1のアライメントホール10のうちの別の1つを設けられる第1の横方向の面11とは反対の第2の横方向の面12上に配置される。
パワー半導体モジュール1は、電気信号をパワー半導体チップ5へ与えるように構成された7つの補助端子21をさらに備える。補助端子21は、パワー半導体チップ5の近くのモールドコンパウンド8に埋められる。補助端子21は、垂直方向の少なくとも領域内で、補助端子21がモールドコンパウンド8に埋められていない領域に延びる。
図2および図3の例示的な実施形態によるパワー半導体デバイス35は、図1による3つのパワー半導体モジュール1および冷却器13を備える。ここで、図3は、図2のパワー半導体デバイス35の断面側面図である。
冷却器13は、冷却媒体を受け入れるための冷却空洞22を備える。さらに、冷却器13は、注入ポート18および排出ポート19を備える。このように、冷却器13は、注入ポート18から排出ポート19への冷却空洞22内部の冷却媒体の流れ方向に適合する。
冷却器13は、この例示的な実施形態では3つの開口部15を設けられる。開口部15は、流れ方向の方向に連続して冷却器13内に設けられる。この例示的な実施形態では、1つのパワー半導体モジュール1は、冷却構造物3の各々が冷却器13の冷却空洞22へと突き出すように各々の開口部15に設けられる。
パワー半導体モジュール1の各々は、2つのクランプ17により冷却器13に固定される。さらに、各々のクランプ17は、冷却器13に2つのねじ16により固定される。直接隣り合うパワー半導体モジュール1は、1つのクランプ17を共有する。複数のクランプ17のうちの2つは、1つのパワー半導体モジュール1を冷却器13へ押し付けるように構成され、ここでは冷却器13とパワー半導体モジュール1との間に封止材20が配置される。封止材20は、冷却媒体に対して不浸透性である可撓性材料を含むことが可能である。
図4による冷却器13は、図3に示したような開口部15を含まない。パワー半導体モジュール1の各々は、冷却器13に直接固定される。この例示的な実施形態では、冷却構造物3は、各々のパワー半導体モジュール1の下方の垂直方向の領域に冷却器13と一体的に形成される。
図3および図4と対照的に、図5によれば、パワー半導体モジュール1の各々は、クランプ17を使用せずに、接着剤付け、焼結またははんだ付けによって冷却器13に直接固定される。
加えて、冷却器13は、図6、図7および図8に関連してより詳細に説明され示される2つの第2のアライメントホール14を設けられる。
図6、図7および図8による方法ステージでは、図2によるパワー半導体デバイス35が製作される。初めに、固定具25が提供される。固定具25は、ベース基板31上に第1のアライメントピン26および第2のアライメントピン27が配置されるベース基板31を備える。この実施形態では、固定具25は、6つの第1のアライメントピン26および2つの第2のアライメントピン27を備える。
続いて、2つの第2のアライメントホール14を設けられた冷却器13は、各々の第2のアライメントピン27が1つの第2のアライメントホール14へと挿入されるように固定具25上に配置される。
2つの第2のアライメントホール14のうちの一方が、冷却器13の前面36の領域内に設置され、2つの第2のアライメントホール14のうちの他の1つが、前面36とは反対の冷却器の裏面37の領域内に設置される。
固定具25上の冷却器13の配置の後で、3つのパワー半導体モジュール1は、各々の第1のアライメントピン26が第1のアライメントホール10へと挿入されるように冷却器13上に配置される。
図6に関連して、各々のパワー半導体モジュール1の第1のアライメントホール10は、パワー半導体モジュール1の反対の横方向の面に配置される。例えば、2つの第1のアライメントホール10のうちの一方が、第1の横方向の面11上に設置され、2つの第1のアライメントホール10のうちの他方が、図1に関連して示したように、第1の横方向の面11とは反対の第2の横方向の面12上に設置される。ここで、クランプ17がねじ16により冷却器13に接続される。
図7に関連して、第1のアライメントホール10を有する突出部9が、パワー半導体モジュール1の同じ横方向の面に設けられる。
図9に関連して、パワー半導体モジュール1の補助端子21がアライメントされる。補助端子21は、接続部を用いて補助端子21が共通制御ボードに接続されるピン型接続部またはプレスフィット型接続部を含むことが可能である。例えば、各々の補助端子は、端部領域のところにピンショルダ30を有する(ここでは図示せず)。
共通制御ボード34が、補助端子21上に配置される。共通制御ボード34は、補助端子21を受け入れるように構成されるコンタクトホール33を備える。さらに、共通制御ボード34は、第2のアライメントピン27を受け入れるように構成されるさらなる第2のアライメントホール24を備える。
図10、図11、図12および図13によれば第1のアライメントピン26および第2のアライメントピン27のうちの少なくとも一方は、ロッドから形成され、アライメントピンの端部領域で異なる。端部領域は、第1のアライメントホール10および第2のアライメントホール14のうちの少なくとも一方に挿入されるように構成される。図10の端部領域は、円柱形であり、図11の端部領域は、円錐形である。図12の端部領域は、2つの部分に分けられる。ロッドに面する部分が、円柱形に形成され、ロッドから遠くに面する部分が円錐形に形成される。
図13によれば第1のアライメントピン26および第2のアライメントピン27のうちの少なくとも一方は、ばね素子32をさらに設けられる。例えば、ばね素子32は、横方向の許容誤差をゼロに減少させるために、第1のアライメントピン26および第2のアライメントピン27のうちの少なくとも一方が、対応するアライメントホールよりも大きく円錐形の尖端を有するときに使用されるだけである。ばね素子32は、垂直方向に力を加えるように構成される。例示的に、ばね素子32は、垂直方向の許容誤差を補償するために使用される。
参照符号リスト
1 パワー半導体モジュール
2 ベースプレート
3 冷却構造物
4 第1の主面
5 半導体チップ
6 第2の主面
7 パワー端子
8 モールドコンパウンド
9 突出部
10 第1のアライメントホール
11 第1の横方向の面
12 第2の横方向の面
13 冷却器
14 第2のアライメントホール
15 開口部
16 ねじ
17 クランプ
18 注入ポート
19 排出ポート
20 封止材
21 補助端子
22 冷却空洞
23 ハウジング
24 さらなる第2のアライメントホール
25 固定具
26 第1のアライメントピン
27 第2のアライメントピン
30 補助ピンショルダ
31 ベース基板
32 ばね素子
33 コンタクトホール
34 制御ボード
35 パワー半導体デバイス
36 前面
37 裏面
1 パワー半導体モジュール
2 ベースプレート
3 冷却構造物
4 第1の主面
5 半導体チップ
6 第2の主面
7 パワー端子
8 モールドコンパウンド
9 突出部
10 第1のアライメントホール
11 第1の横方向の面
12 第2の横方向の面
13 冷却器
14 第2のアライメントホール
15 開口部
16 ねじ
17 クランプ
18 注入ポート
19 排出ポート
20 封止材
21 補助端子
22 冷却空洞
23 ハウジング
24 さらなる第2のアライメントホール
25 固定具
26 第1のアライメントピン
27 第2のアライメントピン
30 補助ピンショルダ
31 ベース基板
32 ばね素子
33 コンタクトホール
34 制御ボード
35 パワー半導体デバイス
36 前面
37 裏面
Claims (14)
- パワー半導体モジュール(1)であって、
冷却構造物(3)に接続される少なくとも1つの半導体チップ(5)と、
前記少なくとも1つの半導体チップ(5)に電気的に接触している少なくとも2つのパワー端子(7)と、
前記パワー半導体チップ(5)および前記少なくとも2つのパワー端子(7)のためのハウジング(23)と
を有し、
前記少なくとも2つのパワー端子(7)の各々が横方向に前記ハウジング(23)を越えて突き出している突出部(9)を有し、
少なくとも2つの突出部(9)が第1のアライメントホール(10)を設けられ、
前記少なくとも2つの突出部(9)のうちの少なくとも1つが前記パワー半導体モジュール(1)の第1の横方向の面(11)上に設けられ、前記少なくとも2つの突出部(9)のうちの少なくとも別の1つが前記第1の横方向の面(11)とは反対である前記パワー半導体モジュール(1)の第2の横方向の面(12)に設けられる、
パワー半導体モジュール(1)。 - 請求項1に記載の少なくとも1つのパワー半導体モジュール(1)と、
冷却器(13)であって、前記冷却器(13)上に前記少なくとも1つのパワー半導体モジュール(1)が配置される、冷却器(13)と
を有し、
前記冷却器(13)が少なくとも2つの第2のアライメントホール(14)を設けられる、
パワー半導体デバイス(35)。 - 前記少なくとも2つの第1のアライメントホール(10)のうちの少なくとも1つが、前記少なくとも2つの第1のアライメントホール(10)のうちの少なくとも別の1つとは異なる形状を有する、請求項2に記載のパワー半導体デバイス(35)。
- 前記少なくとも2つの第1のアライメントホール(10)のうちの少なくとも1つが円形形状を有し、
前記少なくとも2つの第1のアライメントホール(10)のうちの少なくとも別の1つが溝付き穴形状を有する、
請求項2または3のいずれか1項に記載のパワー半導体デバイス(35)。 - 前記冷却構造物(3)が前記冷却器(13)と一体的に形成される、または
前記冷却器(13)が少なくとも1つの開口部(15)を設けられ、前記少なくとも1つのパワー半導体モジュール(1)は、前記冷却構造物(3)が前記冷却器(13)の冷却空洞(22)の中へと突き出すように前記少なくとも1つの開口部(15)のうちの1つに設けられる、
請求項2から4のいずれか1項に記載のパワー半導体デバイス(35)。 - 前記少なくとも2つの第1のアライメントホール(10)のうちの少なくとも1つの各々が、垂直方向または前記垂直方向に斜めに広がる少なくとも1つの側面を有する、および
前記少なくとも2つの第2のアライメントホール(14)のうちの少なくとも1つが、垂直方向または前記垂直方向に斜めに広がる少なくとも1つの側面を有する
ことのうちの少なくとも一方である、請求項2から5のいずれか1項に記載のパワー半導体デバイス(35)。 - 少なくとも1つのパワー半導体モジュール(1)および冷却器(13)を有するパワー半導体デバイス(35)を製作するための方法であって、
少なくとも2つの第1のアライメントピン(26)および少なくとも2つの第2のアライメントピン(27)を設けられた固定具(25)を提供することと、
少なくとも2つの第1のアライメントホール(10)を設けられる少なくとも2つのパワー端子(7)を備える前記少なくとも1つのパワー半導体デバイス(35)を提供することと、
少なくとも2つの第2のアライメントホール(14)を設けられた前記冷却器(13)を提供することと、
前記少なくとも2つの第2のアライメントピン(27)が前記少なくとも2つの第2のアライメントホール(14)に挿入されるように前記固定具(25)上に前記冷却器(13)を配置することと、
前記少なくとも2つの第1のアライメントピン(26)が前記少なくとも2つの第1のアライメントホール(10)に挿入されるように、前記冷却器(13)上に前記少なくとも1つのパワー半導体モジュール(1)を配置することと
を含む方法。 - 少なくとも1つのクランプ(17)により前記冷却器(13)に前記少なくとも1つのパワー半導体モジュール(1)を固定する、請求項7に記載の方法。
- 前記少なくとも2つの第2のアライメントホール(14)に対する前記少なくとも2つの第1のアライメントホール(10)の相対的な位置が事前に設定される、請求項7から8のいずれか1項に記載の方法。
- 前記少なくとも2つの第1のアライメントピン(26)のうちの少なくとも1つが、円柱形の形状、円錐形の形状のうちの少なくとも一方を少なくとも部分的に有する、請求項7から9のいずれか1項に記載の方法。
- 前記少なくとも2つの第2のアライメントピン(27)のうちの少なくとも1つが、円柱形の形状、円錐形の形状のうちの少なくとも一方を少なくとも部分的に有する、請求項7から10のいずれか1項に記載の方法。
- ばね素子(32)を有する前記少なくとも2つの第1のアライメントピン(26)および前記少なくとも2つの第2のアライメントピン(27)のうちの少なくとも一方を提供する、請求項7から11のいずれか1項に記載の方法。
- 前記少なくとも1つのパワー半導体モジュール(1)が、少なくとも2つの補助端子(21)をさらに備え、
前記少なくとも2つの補助端子(21)が、垂直方向の少なくとも領域内に延び、
前記固定具(25)上にさらなる第2のアライメントホール(24)を備える共通制御ボード(33)を配置することであり、前記共通制御ボード(34)のコンタクトホール(33)が前記補助端子(21)を受け入れるように構成されるように、前記さらなる第2のアライメントホール(24)が前記第2のアライメントピン(27)を受け入れるように構成される、
請求項7から12のいずれか1項に記載の方法。 - 前記冷却器(13)上に、各々が少なくとも2つの第1のアライメントホール(10)を設けられる、少なくとも2つのパワー半導体モジュール(1)を配置する、請求項7から13のいずれか1項に記載の方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
EP21155784.8 | 2021-02-08 | ||
EP21155784.8A EP4040471A1 (en) | 2021-02-08 | 2021-02-08 | Power semiconductor module, power semiconductor device and method for producing a power semiconductor device |
PCT/EP2022/051903 WO2022167317A1 (en) | 2021-02-08 | 2022-01-27 | Power semiconductor module, power semiconductor device and method for producing a power semiconductor device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2024505712A true JP2024505712A (ja) | 2024-02-07 |
Family
ID=74561780
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2023547661A Pending JP2024505712A (ja) | 2021-02-08 | 2022-01-27 | パワー半導体モジュール、パワー半導体デバイスおよびパワー半導体デバイスを製作するための方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20240120255A1 (ja) |
EP (1) | EP4040471A1 (ja) |
JP (1) | JP2024505712A (ja) |
CN (1) | CN116830247B (ja) |
WO (1) | WO2022167317A1 (ja) |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3648417B2 (ja) * | 1999-12-09 | 2005-05-18 | 株式会社東芝 | パワー半導体モジュール及び電力変換装置 |
JP4430497B2 (ja) * | 2004-09-17 | 2010-03-10 | ニチコン株式会社 | 半導体モジュール |
JP5260347B2 (ja) * | 2009-02-06 | 2013-08-14 | 日立オートモティブシステムズ株式会社 | 電力変換装置 |
JP5962752B2 (ja) * | 2012-03-21 | 2016-08-03 | 富士電機株式会社 | 電力変換装置 |
CN203503643U (zh) * | 2013-08-27 | 2014-03-26 | 南京银茂微电子制造有限公司 | 一种免功率端子折弯的功率模块 |
JP2015128138A (ja) * | 2013-11-27 | 2015-07-09 | 株式会社豊田自動織機 | 半導体装置 |
JP6295768B2 (ja) * | 2014-03-26 | 2018-03-20 | 株式会社デンソー | 半導体装置の製造方法 |
CN104900640A (zh) * | 2015-05-06 | 2015-09-09 | 嘉兴斯达微电子有限公司 | 一种带卡环结构外壳的功率半导体模块 |
EP3545550B1 (en) * | 2016-11-23 | 2021-02-17 | ABB Schweiz AG | Manufacturing of a power semiconductor module |
EP3555914B1 (en) * | 2016-12-16 | 2021-02-03 | ABB Schweiz AG | Power semiconductor module with low gate path inductance |
EP3616476B1 (en) * | 2017-06-07 | 2020-11-25 | ABB Power Grids Switzerland AG | Power semiconductor module |
DE102019202903A1 (de) * | 2019-03-04 | 2020-09-10 | Abb Schweiz Ag | Elektronischer Konverter ausgebildet basierend auf Schweißtechnologien |
-
2021
- 2021-02-08 EP EP21155784.8A patent/EP4040471A1/en active Pending
-
2022
- 2022-01-27 CN CN202280013845.7A patent/CN116830247B/zh active Active
- 2022-01-27 JP JP2023547661A patent/JP2024505712A/ja active Pending
- 2022-01-27 US US18/276,237 patent/US20240120255A1/en active Pending
- 2022-01-27 WO PCT/EP2022/051903 patent/WO2022167317A1/en active Application Filing
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP4040471A1 (en) | 2022-08-10 |
US20240120255A1 (en) | 2024-04-11 |
CN116830247A (zh) | 2023-09-29 |
WO2022167317A1 (en) | 2022-08-11 |
CN116830247B (zh) | 2024-08-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US9385061B2 (en) | Semiconductor device and method for manufacturing semiconductor device | |
US8421235B2 (en) | Semiconductor device with heat spreaders | |
US9312192B2 (en) | Semiconductor device | |
EP2613350B1 (en) | Semiconductor module | |
CN107924885B (zh) | 构造体 | |
WO2015166696A1 (ja) | 半導体モジュールおよびその製造方法 | |
US9934990B2 (en) | Method of manufacturing a cooler for semiconductor modules | |
US11251108B2 (en) | Semiconductor module mounted on a cooling device for use in a vehicle | |
US11631641B2 (en) | Semiconductor device, semiconductor module, and vehicle | |
CN111584446A (zh) | 半导体模块、车辆及制造方法 | |
CN113644038A (zh) | 半导体模块和车辆 | |
US20200273778A1 (en) | Power Semiconductor Arrangement and Method for Fabricating a Power Semiconductor Arrangement | |
JP7367418B2 (ja) | 半導体モジュールおよび車両 | |
JP2020092250A (ja) | 半導体モジュール、車両および製造方法 | |
JP2024505712A (ja) | パワー半導体モジュール、パワー半導体デバイスおよびパワー半導体デバイスを製作するための方法 | |
CN220731516U (zh) | 功率半导体模块和冷却器的布置 | |
US12125767B2 (en) | Clamping element and method for producing a power semiconductor device | |
US20220328665A1 (en) | Semiconductor module and semiconductor apparatus | |
CN113192919B (zh) | 功率半导体模块 | |
US20240266250A1 (en) | Clamping element and method for producing a power semiconductor device | |
US20240332148A1 (en) | Power module with overlapping terminals | |
US20230274994A1 (en) | Power electronics module, electrical system having such a module, corresponding manufacturing methods | |
US20220084901A1 (en) | Semiconductor apparatus and semiconductor apparatus manufacturing method | |
US20220216130A1 (en) | Semiconductor module | |
JP2023101338A (ja) | 半導体装置、及び車両 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20230927 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712 Effective date: 20240130 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20240205 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20240301 |