JP2024008591A - 検査用コネクタ - Google Patents

Abstract

【課題】第１コネクタと第２コネクタとが外れることを抑制することである。【解決手段】検査用コネクタは、第１コネクタの先端に設けられている第１コネクタと、基板本体と基板本体の下主面に設けられている外部電極とを含んでいる回路基板と、基板本体の上主面に設けられている第２コネクタであって、第１コネクタ及び第２コネクタが上から下へとこの順に並ぶように、第１コネクタと結合される第２コネクタと、外部電極に接触し、かつ、基板本体の下主面の下に位置するように回路基板に支持されている信号端子であって、第１コネクタ、第２コネクタ及び回路基板を介して、ケーブルの信号線に電気的に接続されている信号端子と、回路基板に固定されておりかつ、第１コネクタに対して下方向の力を付与する加圧部材と、を備えている。【選択図】 図１

Description

本発明は、高周波信号の測定に用いられる検査用コネクタに関する。

従来の検査用コネクタに関する発明としては、例えば、特許文献１に記載のプローブが知られている。プローブは、実装基板、フレキシブル基板、接続コネクタ、反対側コネクタ及び測定用コネクタを備えている。実装基板は、上主面及び下主面を有している。反対側コネクタは、実装基板の上主面に実装されている。接続コネクタは、反対側コネクタに結合されている。フレキシブル基板の先端は、接続コネクタに接続されている。測定用コネクタは、実装基板の下主面に実装されている。

このようなプローブは、フレキシブル基板が上下方向に移動できる。そして、電子機器の検査時には、フレキシブル基板が下方向に移動させられる。これにより、測定用コネクタは、電子機器のコネクタに結合する。

実用新案登録第３２２６８２１号公報

ところで、特許文献１に記載のプローブは、接続コネクタと反対側コネクタとの結合が外れる場合がある。具体的には、接続コネクタ及び反対側コネクタは、実装基板と共に上方向又は下方向に移動する。接続コネクタは、フレキシブル基板に接続されている。そのため、実装基板が下方向に移動すると、接続コネクタがフレキシブル基板により上方向に引っ張られる。その結果、接続コネクタと反対側コネクタとの結合が外れる場合がある。

そこで、本発明の目的は、第１コネクタと第２コネクタとが外れることを抑制できる検査用コネクタを提供することである。

本発明の一形態に係る検査用コネクタは、
信号線を含むケーブルと、
前記ケーブルの先端に設けられている第１コネクタと、
上主面及び下主面を有する基板本体と、前記基板本体の下主面に設けられている外部電極と、を含んでいる回路基板と、
前記基板本体の前記上主面に設けられている第２コネクタであって、前記第１コネクタ及び前記第２コネクタが上から下へとこの順に並ぶように、前記第１コネクタと結合される第２コネクタと、
前記外部電極に接触し、かつ、前記基板本体の前記下主面の下に位置するように前記回路基板に支持されている信号端子であって、前記第１コネクタ、前記第２コネクタ及び前記回路基板を介して、前記信号線に電気的に接続されている信号端子と、
前記回路基板に固定されており、かつ、前記第１コネクタに対して下方向の力を付与する加圧部材と、
を備えている。

本発明に係る検査用コネクタによれば、第１コネクタと第２コネクタとが外れることを抑制できる。

図１は、検査用コネクタ１０の斜視図である。 図２は、検査用コネクタ１０の斜視図である。 図３は、検査用コネクタ１０の上部の分解斜視図である。 図４は、検査用コネクタ１０の中部の分解斜視図である。 図５は、検査用コネクタ１０の中部の分解斜視図である。 図６は、検査用コネクタ１０の下部の分解斜視図である。 図７は、検査用コネクタ１０の動作説明のための検査用コネクタ１０の断面図である。 図８は、検査用コネクタ１０の動作説明のための検査用コネクタ１０の断面図である。 図９は、検査用コネクタ１０の動作説明のための検査用コネクタ１０の断面図である。

（実施形態）
［検査用コネクタ１０の構造］
以下に、本発明の実施形態に係る検査用コネクタ１０の構造について図面を参照しながら説明する。図１及び図２は、検査用コネクタ１０の斜視図である。図３は、検査用コネクタ１０の上部の分解斜視図である。図４及び図５は、検査用コネクタ１０の中部の分解斜視図である。図６は、検査用コネクタ１０の下部の分解斜視図である。

本明細書では、プローブ１３０が延びる方向を上下方向と定義する。上下方向に直交する方向を左右方向及び前後方向と定義する。左右方向は、前後方向と直交している。なお、上下方向、左右方向及び前後方向は、説明の便宜上定義した方向である。従って、上下方向、左右方向及び前後方向は、検査用コネクタ１０の使用時の上下方向、左右方向及び前後方向と一致していなくてもよい。また、上方向と下方向とが入れ替わってもよいし、左方向と右方向とが入れ替わってもよいし、前方向と後方向とが入れ替わってもよい。

検査用コネクタ１０は、スマートフォン等の電子機器内を伝送される高周波信号の測定に用いられる。まず、検査用コネクタ１０の上部の構造について説明する。検査用コネクタ１０は、図１ないし図３に示すように、ハウジング１０４、フランジ１０６、スプリング１０８、ナット１１０、加圧部材１１２及び弾性部材１１３を備えている。

ハウジング１０４は、図３に示すように、ハウジング本体１０４ａ及びストッパ１０４ｂを含んでいる。ハウジング本体１０４ａは、上下方向に延びる中心軸線を有する円筒形状を有している。

ストッパ１０４ｂは、ハウジング本体１０４ａの上端に設けられている。ストッパ１０４ｂは、上主面及び下主面を有する板形状を有している。ストッパ１０４ｂは、上下方向に見て、ハウジング本体１０４ａから前後方向及び左右方向に突出している。

フランジ１０６は、図３に示すように、貫通孔Ｈａが設けられた板状部材である。フランジ１０６は、上下方向に見たときに、長方形状を有する。フランジ１０６は、図１に示すように、ハウジング１０４の上端部近傍に配置される。貫通孔Ｈａは、フランジ１０６を上下方向に貫通している。貫通孔Ｈａの直径は、ハウジング本体１０４ａの直径より大きい。ただし、フランジ１０６の貫通孔Ｈａの直径は、ストッパ１０４ｂの前後方向の長さ及びストッパ１０４ｂの左右方向の長さより小さい。そのため、ストッパ１０４ｂは、貫通孔Ｈａを下方向に向かって通過できない。

ナット１１０は、上下方向に見て、円環形状を有する部材である。ナット１１０は、フランジ１０６の下に位置している。ハウジング本体１０４ａは、ナット１１０を上下方向に貫通している。ナット１１０は、ハウジング本体１０４ａに沿って上下方向に移動できる。

このようなハウジング１０４、フランジ１０６及びナット１１０は、導電性の高い金属により作製されている。ハウジング１０４、フランジ１０６及びナット１１０は、例えば、ＳＵＳにより作製されている。

スプリング１０８は、フランジ１０６及びナット１１０に接触している弾性体である。具体的には、スプリング１０８の上端は、フランジ１０６の下面に接触している。スプリング１０８の下端は、ナット１１０に接触している。また、ハウジング本体１０４ａは、スプリング１０８内を上下方向に延びている。

加圧部材１１２は、図３に示すように、加圧部材本体１１２ａ及び加圧部材突起１１２ｂを含んでいる。加圧部材本体１１２ａは、直方体形状を有している。加圧部材本体１１２ａの上面には、穴Ｈｂが設けられている。穴Ｈｂは、上下方向に見て円形状を有している。穴Ｈｂの直径は、ハウジング本体１０４ａの直径と一致している。ハウジング本体１０４ａは、穴Ｈｂに挿入されている。これにより、加圧部材１１２は、ハウジング本体１０４ａの下端部に固定されている。加圧部材１１２の加圧部材本体１１２ａの下面は、後述する回路基板１１４に接触している。

加圧部材突起１１２ｂは、加圧部材本体１１２ａの前面から前方向に突出している。加圧部材突起１１２ｂの下端は、加圧部材本体１１２ａの下面より上に位置している。以上のような加圧部材の材料は、例えば、ＳＵＳである。

弾性部材１１３は、加圧部材突起１１２ｂの下端に設けられているシートである。弾性部材１１３の材料は、高周波信号を減衰させる電波吸収体である。弾性部材１１３の材料は、金属、フェライト又はカーボン粉を含む導電性を有するスポンジ又はゴムである。

次に、検査用コネクタ１０の中部について説明する。検査用コネクタ１０は、図１、図４及び図５に示すように、回路基板１１４、支持部材１１６Ｌ，１１６Ｒ、ピン１１８Ｌ，１１８Ｒ、第１コネクタ１２０、第２コネクタ１２２及びケーブル１２４ａ，１２４ｂ，１２５ａ，１２５ｂを更に備えている。

回路基板１１４は、図４ないし図６に示すように、基板本体１１４ａ及び複数の外部電極１１４ｂを含んでいる。なお、図６では、代表的な外部電極１１４ｂのみに参照符号を付した。

基板本体１１４ａは、上主面ＳＵ及び下主面ＳＤを有している。基板本体１１４ａは、複数の絶縁体層が上下方向に積層された構造を有している。また、基板本体１１４ａの表面及び内部に設けられている導体層、及び、絶縁体層を上下方向に貫通する層間接続導体により、基板本体１１４ａ内に電気回路が設けられている。複数の外部電極１１４ｂは、図６に示すように、基板本体１１４ａの下主面ＳＤに設けられている。

ケーブル１２４ａ，１２４ｂは、信号線及びグランド導体を含む同軸ケーブルである。グランド導体は、信号線の周囲を囲んでいる。信号線とグランド導体とは、互いに絶縁されている。ケーブル１２４ａ，１２４ｂは、基板本体１１４ａの上主面ＳＵ上において前後方向に延びている。信号線には、高周波信号が伝送される。グランド導体は、グランド電位に接続される。

第１コネクタ１２０は、ケーブル１２４ａ，１２４ｂの先端に設けられている。第１コネクタ１２０は、複数の端子が配列された構造を有している。第２コネクタ１２２は、基板本体１１４ａの上主面ＳＵに設けられている。第２コネクタ１２２は、複数の端子が配列された構造を有している。第２コネクタ１２２は、第１コネクタ１２０及び第２コネクタ１２２が上から下へとこの順に並ぶように、第１コネクタ１２０と結合されている。これにより、第１コネクタ１２０の複数の端子は、第２コネクタ１２２の複数の端子に接触する。

また、加圧部材１１２の加圧部材突起１１２ｂは、第１コネクタ１２０の上に位置している。従って、加圧部材突起１１２ｂは、上下方向に見て、第１コネクタ１２０と重なっている。また、弾性部材１１３は、加圧部材１１２の加圧部材突起１１２ｂと第１コネクタ１２０との間に位置している。弾性部材１１３は、加圧部材突起１１２ｂ及び第１コネクタ１２０の両方に接触している。

ケーブル１２５ａ，１２５ｂは、信号線及びグランド導体を含む同軸ケーブルである。グランド導体は、信号線の周囲を囲んでいる。信号線とグランド導体とは、互いに絶縁されている。ケーブル１２５ａ，１２５ｂは、基板本体１１４ａに対して半田により固定されている。信号線には、高周波信号が伝送される。グランド導体は、グランド電位に接続される。

支持部材１１６Ｌ，１１６Ｒのそれぞれは、左主面及び右主面を有する板形状を有している。支持部材１１６Ｌは、回路基板１１４の左に位置している。支持部材１１６Ｌには、上下方向に長軸を有する楕円形状の貫通孔ＨＬが設けられている。支持部材１１６Ｒは、回路基板１１４の右に位置している。支持部材１１６Ｒには、上下方向に長軸を有する楕円形状の貫通孔ＨＲが設けられている。

ピン１１８Ｌは、貫通孔ＨＬを左右方向に貫通している。ピン１１８Ｌの右端部は、加圧部材１１２の左面に固定されている。ピン１１８Ｒは、貫通孔ＨＲを左右方向に貫通している。ピン１１８Ｒの左端部は、加圧部材１１２の右面に固定されている。

次に、検査用コネクタ１０の下部について説明する。検査用コネクタ１０は、図６に示すように、複数のプローブ１３０、複数のグランドプローブ１３２、プローブ保持部材１３４，プローブ保持部材１３６及びグランド部材１３８を更に備えている。

複数のプローブ１３０は、回路基板１１４から下方向に延びる棒形状を有している信号端子である。なお、図６では、代表的なプローブ１３０のみに参照符号を付した。複数のプローブ１３０は、上下方向に伸縮可能できる。そのため、複数のプローブ１３０の下端が上方向に押されると、複数のプローブ１３０が上下方向に縮む。ただし、複数のプローブ１３０の構造は、一般的な構造であるので説明を省略する。以上のような複数のプローブ１３０の材料は、例えば、黄銅である。

複数のプローブ１３０の上端のそれぞれは、複数の外部電極１１４ｂに接触している。これにより、一部のプローブ１３０は、第１コネクタ１２０、第２コネクタ１２２及び回路基板１１４を介して、ケーブル１２４ａ，１２４ｂの信号線に電気的に接続されている。残部のプローブ１３０は、回路基板１１４を介して、ケーブル１２５ａ，１２５ｂの信号線に電気的に接続されている。

プローブ保持部材１３４は、上面及び下面を有する板形状を有している。そして、プローブ保持部材１３４の上面は、基板本体１１４ａの下主面に接触している。プローブ保持部材１３４には、複数の貫通孔ｈａが設けられている。複数の貫通孔ｈａは、プローブ保持部材１３４を上下方向に貫通している。複数のプローブ１３０は、複数の貫通孔ｈａを上下方向に貫通している。これにより、プローブ保持部材１３４は、複数のプローブ１３０を保持している。

プローブ保持部材１３６は、プローブ保持部材１３４の下に位置している。プローブ保持部材１３６は、プローブ保持部材本体１３６ａ及びプローブ保持部材突起部１３６ｂを含んでいる。プローブ保持部材本体１３６ａは、上主面及び下主面を有する板形状を有している。プローブ保持部材本体１３６ａは、上下方向に見て長方形状を有している。ただし、プローブ保持部材本体１３６ａには、複数の貫通孔ｈｅが設けられている。複数の貫通孔ｈｅは、プローブ保持部材本体１３６ａを上下方向に貫通している。

プローブ保持部材突起部１３６ｂは、プローブ保持部材本体１３６ａから下方向に突出している。プローブ保持部材突起部１３６ｂ及びプローブ保持部材本体１３６ａには、複数の貫通孔ｈｂが設けられている。複数の貫通孔ｈｂは、プローブ保持部材突起部１３６ｂ及びプローブ保持部材本体１３６ａを上下方向に貫通している。複数のプローブ１３０のそれぞれは、複数の貫通孔ｈｂを上下方向に貫通している。これにより、プローブ保持部材１３６は、複数のプローブ１３０を保持している。

以上のようなプローブ保持部材１３６は、ねじにより回路基板１１４及び加圧部材１１２に固定される。このとき、プローブ保持部材１３４は、回路基板１１４とプローブ保持部材１３６とにより周囲を囲まれる。よって、プローブ保持部材１３４は、プローブ保持部材１３６と共に回路基板１１４及び加圧部材１１２に固定される。したがって、プローブ１３０は、プローブ保持部材１３４，１３６を介して回路基板１１４に支持されている。すなわち、プローブ１３０は、基板本体１１４ａの下主面ＳＤの下に位置するように回路基板１１４に支持されている。

また、ねじが締め付けられるときに、弾性部材１１３が加圧部材１１２と第１コネクタ１２０とにより上下方向から挟まれる。そして、弾性部材１１３が上下方向に圧縮される。その結果、加圧部材１１２は、弾性部材１１３を介して第１コネクタ１２０に対して下方向の力を付与している。

プローブ保持部材１３４，１３６の材料は、絶縁材料である。プローブ保持部材１３４，１３６の材料は、例えば、ＰＥＥＫ（芳香族ポリエーテルケトン）、ＬＣＰ（液晶ポリマ）、ＰＦＡ（四フッ化エチレンとパーフルオロアルコキシエチレンの共重合体）である。

グランド部材１３８は、プローブ保持部材１３６の下に位置している。グランド部材１３８は、上下方向に見て、長方形状を有している。グランド部材１３８は、左右方向に見て、Ｕ字形状を有している。グランド部材１３８には、貫通孔Ｈｃが設けられている。貫通孔Ｈｃは、グランド部材１３８を上下方向に貫通している。プローブ保持部材突起部１３６ｂは、貫通孔Ｈｃ内に位置している。これにより、グランド部材１３８は、上下方向に見て、複数のプローブ１３０（信号端子）の周囲を囲んでいる。

グランド部材１３８は、ねじにより支持部材１１６Ｌ，１１６Ｒに固定されている。以上のようなグランド部材１３８の材料は、例えば、ＳＵＳである。

複数のグランドプローブ１３２は、上下方向に見て、複数のプローブ１３０の周囲に位置している。複数のグランドプローブ１３２は、回路基板１１４から下方向に延びる棒形状を有しているグランド端子である。複数のグランドプローブ１３２のそれぞれは、複数の貫通孔ｈｅを上下方向に貫通している。これにより、複数のグランドプローブ１３２は、プローブ保持部材１３６により保持されている。そして、複数のグランドプローブ１３２の上端は、回路基板１１４のグランド電極（図示せず）に接触している。複数のグランドプローブ１３２の下端は、グランド部材１３８に接触している。よって、複数のグランドプローブ１３２及びグランド部材１３８は、グランド電位に接続されている。

複数のグランドプローブ１３２は、上下方向に伸縮可能である。そのため、複数のグランドプローブ１３２の下端が上方向に押されると、複数のグランドプローブ１３２が上下方向に縮む。これにより、複数のグランドプローブ１３２は、回路基板１１４に対してグランド部材１３８を下方向に押している。ただし、複数のグランドプローブ１３２の構造は、一般的な構造であるので説明を省略する。以上のような複数のグランドプローブ１３２の材料は、例えば、黄銅である。

［検査用コネクタ１０の動作］
次に、検査用コネクタ１０の動作について図面を参照しながら説明する。図７ないし図９は、検査用コネクタ１０の動作説明のための検査用コネクタ１０の断面図である。

まず、図７に示すように、検査用コネクタ１０をコネクタ５００の上にセットする。このとき、複数のプローブ１３０は、グランド部材１３８から下方向に突出していない。

次に、図８に示すように、検査用コネクタ１０を下降させて、検査用コネクタ１０をコネクタ５００に接触させる。このとき、フランジ１０６が下方向の力を受けて、スプリング１０８が縮む。そのため、スプリング１０８は、ナット１１０を下方向に押す。その結果、加圧部材１１２は、スプリング１０８からナット１１０を介して下方向の力を受ける。更に、加圧部材１１２は、回路基板１１４及びプローブ保持部材１３４，１３６に対して下方向の力を付与する。

次に、図９に示すように、検査用コネクタ１０を更に下降させると、複数のグランドプローブ１３２が上下方向に縮む。そして、プローブ保持部材１３６が下降して、プローブ保持部材１３６がグランド部材１３８に接触する。このとき、複数のプローブ１３０は、プローブ保持部材１３６と共に下方向に移動する。その結果、複数のプローブ１３０は、グランド部材１３８から下方向に突出する。これにより、複数のプローブ１３０は、コネクタ５００内の複数の信号端子に接触する。

［効果］
検査用コネクタ１０によれば、第１コネクタ１２０と第２コネクタ１２２とが外れることを抑制できる。より詳細には、検査用コネクタ１０は、第１コネクタ１２０の上に位置している。更に、加圧部材１１２は、第１コネクタ１２０に対して下方向の力を付与する。そのため、第１コネクタ１２０は、加圧部材１１２により第２コネクタ１２２に押さえつけられている。その結果、第１コネクタ１２０は、第２コネクタ１２２に強固に結合する。よって、検査用コネクタ１０によれば、第１コネクタ１２０と第２コネクタ１２２とが外れることを抑制できる。

検査用コネクタ１０は、回路基板１１４及び第１コネクタ１２０の両方に下方向の力を適切に付与できる。より詳細には、基板本体１１４ａの上主面ＳＵの上下方向の位置は、第１コネクタ１２０の上面の上下方向の位置と異なる。そのため、加圧部材１１２が回路基板１１４及び第１コネクタ１２０の両方に接触することは難しい。そこで、加圧部材本体１１２ａの下面が回路基板１１４に接触し、かつ、加圧部材突起１１２ｂの下端と第１コネクタ１２０の上面との間にわずかな隙間が形成されるように、加圧部材１１２が設計される。そして、弾性部材１１３は、加圧部材１１２と第１コネクタ１２０との間に位置するように配置される。これにより、このわずかな隙間が弾性部材１１３により埋められる。その結果、検査用コネクタ１０は、回路基板１１４及び第１コネクタ１２０の両方に下方向の力を適切に付与できる。

検査用コネクタ１０では、加圧部材１１２は、回路基板１１４に接触している。これにより、第１コネクタ１２０に大きな力が加わることが抑制される。その結果、第１コネクタ１２０の破損が抑制される。

検査用コネクタ１０では、弾性部材１１３の材料が電磁波吸収体であるので、第１コネクタ１２０から放射されるノイズが弾性部材１１３により吸収される。また、第１コネクタ１２０に侵入しようとするノイズが弾性部材１１３により吸収される。

検査用コネクタ１０では、弾性部材１１３の材料が電磁波吸収体であるので、加圧部材１１２と第１コネクタ１２０との間に容量が形成されにくくなる。その結果、加圧部材１１２と第１コネクタ１２０との間に形成される容量によって共振が発生することが抑制される。

検査用コネクタ１０によれば、第１コネクタ１２０の上、左及び右には、加圧部材１１２が存在する。これにより、第１コネクタ１２０は、加圧部材１１２により保護される。

検査用コネクタ１０では、複数のグランドプローブ１３２は、上下方向に見て、複数のプローブ１３０の周囲に配置されている。これにより、複数のプローブ１３０から検査用コネクタ１０にノイズが放射されることが抑制される。また、複数のプローブ１３０にノイズが侵入することが抑制される。

（その他の実施形態）
本発明に係る検査用コネクタは、検査用コネクタ１０に限らずその要旨の範囲内において変更可能である。

なお、検査用コネクタ１０は、複数のプローブ１３０の代わりに複数の信号端子を含んでいるコネクタを備えていてもよい。このコネクタは、コネクタ５００と結合する。

なお、検査用コネクタ１０において、加圧部材１１２は、回路基板１１４に接触しなくてもよい。

なお、検査用コネクタ１０において、複数のグランドプローブ１３２は、必須の構成要件ではない。この場合、プローブ保持部材１３６が支持部材１１６Ｌ，１１６Ｒに固定される。そして、グランド部材１３８は不要である。

なお、検査用コネクタ１０において、弾性部材１１３は、必須の構成要件ではない。この場合、加圧部材１１２の加圧部材突起１１２ｂは、第１コネクタ１２０に直接に接触する。この場合、加圧部材本体１１２ａの下面と回路基板１１４との間に弾性部材が設けられてもよい。

なお、検査用コネクタ１０において、加圧部材１１２の材料は絶縁性材料であってもよい。また、加圧部材１１２の一部の材料は、絶縁性材料であり、加圧部材１１２の残部の材料は、導電性材料であってもよい。この場合、加圧部材１１２の残部は、加圧部材１１２において第１コネクタ１２０に接触する部分からナット１１０に接触する部分までを繋いでいる。その結果、加圧部材１１２の残部には、グランド電流が流れるようになる。

本発明は、以下の構造を有する。

（１）
信号線を含むケーブルと、
前記ケーブルの先端に設けられている第１コネクタと、
上主面及び下主面を有する基板本体と、前記基板本体の下主面に設けられている外部電極と、を含んでいる回路基板と、
前記基板本体の前記上主面に設けられている第２コネクタであって、前記第１コネクタ及び前記第２コネクタが上から下へとこの順に並ぶように、前記第１コネクタと結合される第２コネクタと、
前記外部電極に接触し、かつ、前記基板本体の前記下主面の下に位置するように前記回路基板に支持されている信号端子であって、前記第１コネクタ、前記第２コネクタ及び前記回路基板を介して、前記信号線に電気的に接続されている信号端子と、
前記回路基板に固定されており、かつ、前記第１コネクタに対して下方向の力を付与する加圧部材と、
を備えている、
検査用コネクタ。

（２）
前記検査用コネクタは、
前記加圧部材と前記第１コネクタとの間に位置する弾性部材を、
更に備えている、
（１）に記載の検査用コネクタ。

（３）
前記弾性部材の材料は、電磁波吸収体である、
（２）に記載の検査用コネクタ。

（４）
前記加圧部材は、前記回路基板に接触している、
（１）ないし（３）のいずれかに記載の検査用コネクタ。

（５）
前記信号端子は、前記回路基板から下方向に延びる棒形状を有している、
（１）ないし（４）のいずれかに記載の検査用コネクタ。

（６）
前記信号端子は、上下方向に伸縮可能である、
（５）に記載の検査用コネクタ。

（７）
前記回路基板
１以上のグランドプローブと、
上下方向に見て、前記信号端子の周囲を囲んでいるグランド部材と、
を更に備えており、
前記１以上のグランドプローブの上端は、前記回路基板に接触しており、
前記１以上のグランドプローブの下端は、前記グランド部材に接触しており、
前記１以上のグランドプローブは、前記回路基板から下方向に延びる棒形状を有しており、かつ、上下方向に伸縮可能である、
（１）ないし（６）のいずれかに記載の検査用コネクタ。

（８）
前記１以上のグランドプローブの数は、複数であり、
前記複数のグランドプローブは、上下方向に見て、前記信号端子の周囲に位置している、
（７）に記載の検査用コネクタ。

（９）
前記ケーブルは、同軸ケーブルである、
（１）ないし（８）のいずれかに記載の検査用コネクタ。

（１０）
前記第１コネクタは、複数の端子が配列された構造を有している、
（１）ないし（９）のいずれかに記載の検査用コネクタ。

１０：検査用コネクタ
１０４：ハウジング
１０４ａ：ハウジング本体
１０４ｂ：ストッパ
１０６：フランジ
１０８：スプリング
１１０：ナット
１１２：加圧部材
１１２ａ：加圧部材本体
１１２ｂ：加圧部材突起
１１３：弾性部材
１１４：回路基板
１１４ａ：基板本体
１１４ｂ：外部電極
１１６Ｌ，１１６Ｒ：支持部材
１１８Ｌ，１１８Ｒ：ピン
１２０：第１コネクタ
１２２：第２コネクタ
１２４ａ，１２４ｂ，１２５ａ，１２５ｂ：ケーブル
１３０：プローブ
１３２：グランドプローブ
１３４，１３６：プローブ保持部材
１３６ａ：プローブ保持部材本体
１３６ｂ：プローブ保持部材突起部
１３８：グランド部材
５００：コネクタ
Ｈｂ：穴
ＳＤ：下主面
ＳＵ：上主面
ＨＬ，ＨＲ，Ｈａ，Ｈｃ，ｈａ，ｈｂ，ｈｅ：貫通孔

Claims (10)

1. 信号線を含むケーブルと、
   前記ケーブルの先端に設けられている第１コネクタと、
   上主面及び下主面を有する基板本体と、前記基板本体の下主面に設けられている外部電極と、を含んでいる回路基板と、
   前記基板本体の前記上主面に設けられている第２コネクタであって、前記第１コネクタ及び前記第２コネクタが上から下へとこの順に並ぶように、前記第１コネクタと結合される第２コネクタと、
   前記外部電極に接触し、かつ、前記基板本体の前記下主面の下に位置するように前記回路基板に支持されている信号端子であって、前記第１コネクタ、前記第２コネクタ及び前記回路基板を介して、前記信号線に電気的に接続されている信号端子と、
   前記回路基板に固定されており、かつ、前記第１コネクタに対して下方向の力を付与する加圧部材と、
   を備えている、
   検査用コネクタ。
2. 前記検査用コネクタは、
   前記加圧部材と前記第１コネクタとの間に位置する弾性部材を、
   更に備えている、
   請求項１に記載の検査用コネクタ。
3. 前記弾性部材の材料は、電磁波吸収体である、
   請求項２に記載の検査用コネクタ。
4. 前記加圧部材は、前記回路基板に接触している、
   請求項１ないし請求項３のいずれかに記載の検査用コネクタ。
5. 前記信号端子は、前記回路基板から下方向に延びる棒形状を有している、
   請求項１ないし請求項３のいずれかに記載の検査用コネクタ。
6. 前記信号端子は、上下方向に伸縮可能である、
   請求項５に記載の検査用コネクタ。
7. 前記回路基板
   １以上のグランドプローブと、
   上下方向に見て、前記信号端子の周囲を囲んでいるグランド部材と、
   を更に備えており、
   前記１以上のグランドプローブの上端は、前記回路基板に接触しており、
   前記１以上のグランドプローブの下端は、前記グランド部材に接触しており、
   前記１以上のグランドプローブは、前記回路基板から下方向に延びる棒形状を有しており、かつ、上下方向に伸縮可能である、
   請求項１ないし請求項３のいずれかに記載の検査用コネクタ。
8. 前記１以上のグランドプローブの数は、複数であり、
   前記複数のグランドプローブは、上下方向に見て、前記信号端子の周囲に位置している、
   請求項７に記載の検査用コネクタ。
9. 前記ケーブルは、同軸ケーブルである、
   請求項１ないし請求項３のいずれかに記載の検査用コネクタ。
10. 前記第１コネクタは、複数の端子が配列された構造を有している、
    請求項１ないし請求項３のいずれかに記載の検査用コネクタ。

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