JP2024000153A - 加工装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】保持面の中心とウェーハの中心とを容易に一致させる。【解決手段】保持面22に置かれたウェーハ100の撮像画である第1取得撮像画903に基づいて、予め設定されている保持面22の保持面中心222と、ウェーハ100のウェーハ中心112とが一致したことを検知部が検知したときに、制御部が、保持面22を吸引源201に連通してウェーハ100を吸引保持する。このため、保持面22によってウェーハ100を吸引保持する際、保持面中心222とウェーハ中心112とを容易に一致させることが可能となる。したがって、ウェーハ100を保持面22に保持させるための時間を短縮することができる。また、保持面中心222とウェーハ中心112とがずれている状態で保持面22によってウェーハ100を吸引保持することを、良好に抑制することができる。【選択図】図5
Description
本発明は、加工装置に関する。
特許文献1および2に開示のように、ウェーハを砥石で研削する研削装置は、チャックテーブルの保持面にウェーハを保持させ、保持面の中心を軸にチャックテーブルを回転させ、回転する環状の砥石でウェーハを研削している。
上記の様な研削装置は、仮置きテーブルに載置されているウェーハの中心を検出して、搬送機構によってウェーハを保持して、チャックテーブルにおける保持面の中心にウェーハの中心を一致させるよう、仮置きテーブルからチャックテーブルの保持面にウェーハを搬送して、保持面にウェーハを吸引保持させている。
しかし、特許文献3に開示のようなマニュアル研削装置は、搬送機構を備えていない。そのため、作業者が、保持面にウェーハを置いて、タッチパネルに表示されている吸引ボタンを押すことにより、保持面にウェーハを吸引保持させている。
しかしながら、作業者は、保持面に置いているウェーハの上面を片手で押さえているため、作業者が吸引ボタンを押すときに、ウェーハの中心が、保持面に平行な方向に沿って保持面の中心からずれることがある。
保持面の中心とウェーハの中心とが一致していない状態では、ウェーハの外周部分に、保持面によって吸引保持されていない領域ができる。そして、チャックテーブルの回転によって、ウェーハは偏心して回転する。このように偏心して回転するウェーハを研削砥石で研削すると、ウェーハの外周部分における保持面に吸引保持されていない領域に、欠けができることがある。
したがって、本発明の目的は、保持面によってウェーハを吸引保持する際、保持面の中心とウェーハの中心とを容易に一致させることにある。
本発明の加工装置(本加工装置)は、保持面によってウェーハを吸引保持するチャックテーブルと、該保持面に吸引保持されたウェーハを加工する加工機構と、該保持面と吸引源とを連通する吸引路と、該吸引路を開閉する吸引バルブと、を備える加工装置であって、該保持面および該保持面に置かれたウェーハを上方から撮像するカメラと、該保持面に置かれたウェーハを該カメラが撮像した撮像画に基づいて、予め設定されている該保持面の中心座標と、ウェーハの中心座標とが一致したことを検知する検知部と、該保持面の中心座標とウェーハの中心座標とが一致したことを該検知部が検知したことに基づいて、該吸引バルブを開き、該保持面を前記吸引源に連通する制御部と、を備える。
本加工装置では、該検知部は、予め設定されている該保持面の中心にウェーハの中心が一致している場合のウェーハの撮像画と、該保持面に置かれたウェーハを該カメラが撮像した撮像画とが一致したことを検知することによって、該保持面の中心座標とウェーハの中心座標とが一致したことを検知してもよい。
本加工装置では、該検知部は、該保持面に置かれたウェーハを該カメラが撮像した撮像画のウェーハの外周部分の少なくとも三カ所の座標から算出したウェーハの中心座標が、予め設定されている該保持面の中心座標に一致したことを検知してもよい。
本加工装置では、保持面に置かれたウェーハをカメラが撮像した撮像画に基づいて、予め設定されている保持面の中心座標と、ウェーハの中心座標とが一致したことを検知部が検知したときに、制御部が、保持面を吸引源に連通してウェーハを吸引保持している。
このため、本加工装置が、保持面にウェーハを搬送するための搬送機構を備えていないマニュアル式の加工装置である場合でも、保持面によってウェーハを吸引保持する際、保持面の中心座標とウェーハの中心座標とを容易に一致させることが可能となる。これにより、ウェーハを保持面に保持させるための時間を短縮することができる。また、保持面の中心座標とウェーハの中心座標とがずれている状態で保持面によってウェーハを吸引保持することを、良好に抑制することができる。
また、本加工装置が研削装置である場合、保持面の中心座標とウェーハの中心座標とを一致させた状態で、保持面に保持されたウェーハを研削することができる。このため、研削によってウェーハの外周に形成されるチッピングを、均一に小さくすることができる。すなわち、保持面の中心座標とウェーハの中心座標とがずれることによって、部分的に大きなチッピングが形成されることを、良好に抑制することができる。
図1に示すように、本実施形態にかかる加工装置である第1研削装置1は、ウェーハ100を環状の第1研削砥石77によって研削する装置である。第1研削装置1は、直方体状の基台10、上方に延びるコラム11、および、第1研削装置1の各部材を制御する制御部7を備えている。
ウェーハ100は、たとえば、円形の半導体ウェーハであり、表面101および裏面102を含んでいる。図1においては下方を向いているウェーハ100の表面101は、複数のデバイスを保持しており、保護テープ103が貼着されることによって保護されている。ウェーハ100の裏面102は、研削加工が施される被加工面となる。
基台10の上面側には、開口部13が設けられている。そして、開口部13内には、ウェーハ保持機構30が配置されている。ウェーハ保持機構30は、保持面22によってウェーハ100を吸引保持するチャックテーブル20、および、チャックテーブル20を支持して回転するテーブル回転機構28を含んでいる。
チャックテーブル20は、ポーラス部材21と、ポーラス部材21の上面が露出するようにポーラス部材21を収容する枠体23と、を備えている。ポーラス部材21の上面は、ウェーハ100を吸引保持する保持面22である。枠体23の上面である枠体面24は、保持面22と面一となるように形成されている。
また、第1研削装置1は、保持面22と吸引源201とを連通する吸引路25と、吸引路25を開閉する吸引バルブ26とを備えている。第1研削装置1では、吸引バルブ26が開かれることによって吸引路25が開放されて、保持面22が、吸引路25を介して吸引源201に連通される。これにより、保持面22がウェーハ100を吸引保持することが可能となる。
テーブル回転機構28は、下方からチャックテーブル20を支持している。テーブル回転機構28は、保持面22の中心を軸にチャックテーブル20を回転させるように構成されている。
チャックテーブル20の周囲には、チャックテーブル20とともにY軸方向に沿って移動されるカバー板39が設けられている。また、カバー板39には、Y軸方向に伸縮する蛇腹カバー12が連結されている。そして、ウェーハ保持機構30の下方には、Y軸方向移動機構40が配設されている。
Y軸方向移動機構40は、チャックテーブル20と研削機構70とを、相対的に、保持面22に平行な方向であるY軸方向に移動させる。本実施形態では、Y軸方向移動機構40は、研削機構70に対して、チャックテーブル20を含むウェーハ保持機構30をY軸方向に移動させるように構成されている。
Y軸方向移動機構40は、Y軸方向に平行な一対のY軸ガイドレール42、このY軸ガイドレール42上をスライドするY軸移動テーブル45、Y軸ガイドレール42と平行なY軸ボールネジ43、Y軸ボールネジ43に接続されているY軸モータ44、および、これらを保持する保持台41を備えている。
Y軸移動テーブル45は、Y軸ガイドレール42にスライド可能に設置されている。Y軸移動テーブル45の下面には、ナット部(図示せず)が固定されている。このナット部には、Y軸ボールネジ43が螺合されている。Y軸モータ44は、Y軸ボールネジ43の一端部に連結されている。
Y軸方向移動機構40では、Y軸モータ44がY軸ボールネジ43を回転させることにより、Y軸移動テーブル45が、Y軸ガイドレール42に沿って、Y軸方向に移動する。Y軸移動テーブル45には、ウェーハ保持機構30のテーブル回転機構28が載置されている。したがって、Y軸移動テーブル45のY軸方向への移動に伴って、チャックテーブル20を含むウェーハ保持機構30が、Y軸方向に移動する。
本実施形態では、チャックテーブル20を含むウェーハ保持機構30は、保持面22によってウェーハ100を保持するための-Y方向側の保持位置301と、ウェーハ100が研削加工される+Y方向側の加工位置302との間を、Y軸方向移動機構40によって、Y軸方向に沿って移動される。
また、図1に示すように、基台10上の後方(+Y方向側)には、コラム11が立設されている。コラム11の前面には、ウェーハ100を研削する研削機構70、および、垂直移動機構50が設けられている。
垂直移動機構50は、チャックテーブル20と研削機構70とを、保持面22に垂直なZ軸方向(研削送り方向)に相対的に移動させる。本実施形態では、垂直移動機構50は、チャックテーブル20に対して、第1研削砥石77をZ軸方向に移動させるように構成されている。
垂直移動機構50は、Z軸方向に平行な一対のZ軸ガイドレール51、このZ軸ガイドレール51上をスライドするZ軸移動テーブル53、Z軸ガイドレール51と平行なZ軸ボールネジ52、Z軸ボールネジ52に接続されているZ軸モータ54、および、Z軸移動テーブル53に取り付けられたホルダ56を備えている。ホルダ56は、研削機構70を支持している。
Z軸移動テーブル53は、Z軸ガイドレール51にスライド可能に設置されている。Z軸移動テーブル53には、図示しないナット部が固定されている。このナット部には、Z軸ボールネジ52が螺合されている。Z軸モータ54は、Z軸ボールネジ52の一端部に連結されている。
垂直移動機構50では、Z軸モータ54がZ軸ボールネジ52を回転させることにより、Z軸移動テーブル53が、Z軸ガイドレール51に沿って、Z軸方向に移動する。これにより、Z軸移動テーブル53に取り付けられたホルダ56、および、ホルダ56に支持された研削機構70も、Z軸移動テーブル53とともにZ軸方向に移動する。
研削機構70は、保持面22に吸引保持されたウェーハ100を加工する加工機構の一例であり、ウェーハ100を研削加工する。研削機構70は、ホルダ56に固定されたスピンドルハウジング71、スピンドルハウジング71に回転可能に保持されたスピンドル72、スピンドル72を回転駆動するスピンドルモータ73、スピンドル72の下端に取り付けられたホイールマウント74、および、ホイールマウント74に支持された第1研削ホイール75を備えている。
スピンドルハウジング71は、Z軸方向に延びるようにホルダ56に保持されている。スピンドル72は、チャックテーブル20の保持面22と直交するようにZ軸方向に延び、スピンドルハウジング71に回転可能に支持されている。
スピンドルモータ73は、スピンドル72の上端側に連結されている。このスピンドルモータ73により、スピンドル72は、Z軸方向に延びる軸を中心として回転する。
ホイールマウント74は、円板状に形成されており、スピンドル72の下端(先端)に固定されている。ホイールマウント74は、第1研削ホイール75を支持している。
第1研削ホイール75は、外径がホイールマウント74の外径と略同径を有するように形成されている。第1研削ホイール75は、金属材料から形成された円環状の第1ホイール基台76を含む。第1ホイール基台76の下面には、全周にわたって、環状に配列された複数の第1研削砥石77が固定されている。第1研削砥石77は、スピンドル72とともにスピンドルモータ73によって回転され、チャックテーブル20に保持されたウェーハ100の裏面102を研削する。
基台10における開口部13の側部には、厚み測定器60が配設されている。厚み測定器60は、保持面22に保持されたウェーハ100の厚みを測定することができる。
厚み測定器60は、接触式あるいは非接触式のハイトゲージである、ウェーハ高さ測定部61および保持面高さ測定部62を有している。
ウェーハ高さ測定部61は、保持面22に保持されているウェーハ100の高さを測定する。保持面高さ測定部62は、保持面22に面一である枠体23の枠体面24の高さを測定する。そして、厚み測定器60は、測定されたウェーハ100の高さと保持面22の高さとの差分に基づいて、ウェーハ100の厚みを算出する。
ウェーハ高さ測定部61は、保持面22に保持されているウェーハ100の高さを測定する。保持面高さ測定部62は、保持面22に面一である枠体23の枠体面24の高さを測定する。そして、厚み測定器60は、測定されたウェーハ100の高さと保持面22の高さとの差分に基づいて、ウェーハ100の厚みを算出する。
たとえば、ウェーハ高さ測定部61は、保持面22に保持されているウェーハ100に接触して、ウェーハ100の高さを測定するものである。また、保持面高さ測定部62は、チャックテーブル20の枠体23の枠体面24に接触して、枠体面24の高さ(すなわち、保持面22の高さ)を測定するものである。
また、保持面高さ測定部62およびウェーハ高さ測定部61は、それぞれ、枠体面24およびウェーハ100にレーザ光線あるいは音波を照射し、その反射光あるいは反射波に基づいて、保持面22の高さおよびウェーハ100の高さを測定するように構成されていてもよい。
また、第1研削装置1は、保持面22および保持面22に置かれたウェーハ100を上方から撮像するカメラ80を有している。本実施形態では、カメラ80は、ウェーハ100を保持するための保持位置301にチャックテーブル20が配置されているときに、チャックテーブル20における保持面22の直上に位置するように、基台10の上方に設置されている。図2に示すように、カメラ80の撮像領域(視野)である第1撮像領域801は、チャックテーブル20の上面の全体を含むように設定されている。
図3に、ウェーハ100が載置されていない保持面22をカメラ80によって撮像することによって得られる撮像画である第1初期撮像画901を示す。図3に示すように、第1初期撮像画901は、図2に示した第1撮像領域801に対応する画像であり、チャックテーブル20における保持面22の外周部分である保持面外周221および枠体面24の外周部分である枠体外周241の全てを含んでいる。また、図3には、保持面22の中心座標である保持面中心222を示している。第1初期撮像画901における保持面中心222の位置は、検知部8に予め設定(記憶)されている。
また、第1研削装置1は、タッチパネル9を備えている。タッチパネル9には、第1研削装置1に関する各種情報が表示される。また、タッチパネル9は、各種情報を設定するためにも用いられる。このように、タッチパネル9は、情報を入力するための入力部材として機能するとともに、情報を表示するための表示部材としても機能する。
制御部7は、制御プログラムにしたがって演算処理を行うCPU、および、メモリ等の記憶媒体等を備えている。たとえば、制御部7は、第1研削装置1の上述した各部材を制御して、ウェーハ100に対する研削加工を実行する。この際、制御部7は、図1に示した検知部8とともに、保持面22にウェーハ100を保持させる保持工程を実施する。
以下に、保持工程および研削工程を含む、ウェーハ100に対する研削加工の動作について説明する。
以下に、保持工程および研削工程を含む、ウェーハ100に対する研削加工の動作について説明する。
〔保持工程〕
[載置ステップ]
保持工程では、まず、制御部7が、Y軸方向移動機構40を制御して、チャックテーブル20を含むウェーハ保持機構30を、保持面22によってウェーハ100を保持するための-Y方向側の保持位置301に配置する。次に、作業者が、チャックテーブル20の保持面22に、裏面102が上向きとなるようにウェーハ100を載置する。
[載置ステップ]
保持工程では、まず、制御部7が、Y軸方向移動機構40を制御して、チャックテーブル20を含むウェーハ保持機構30を、保持面22によってウェーハ100を保持するための-Y方向側の保持位置301に配置する。次に、作業者が、チャックテーブル20の保持面22に、裏面102が上向きとなるようにウェーハ100を載置する。
[撮像ステップ]
載置ステップの後、制御部7が、カメラ80を制御して、ウェーハ100が載置されている保持面22をカメラ80によって撮像する。
載置ステップの後、制御部7が、カメラ80を制御して、ウェーハ100が載置されている保持面22をカメラ80によって撮像する。
図4および図5に、ウェーハ100が載置されている保持面22をカメラ80によって撮像することによって得られる撮像画の例である撮像画902・903を示す。これらの撮像画も、図2に示した第1撮像領域801に対応する画像であり、チャックテーブル20における保持面22の保持面外周221および枠体面24の枠体外周241の全てを含んでいる。
図4に示す第1目標撮像画902は、ウェーハ100が保持面22に適切に保持されている場合に得られる撮像画、すなわち、保持面22の保持面中心222にウェーハ100のウェーハ中心112が一致している場合に得られるウェーハ100の撮像画である。この第1目標撮像画902は、検知部8に予め設定(記憶)されている。
この第1目標撮像画902では、保持面22はウェーハ100よりも僅かに小さいため、保持面22の外周部分である保持面外周221は、ウェーハ100の外周部分であるウェーハ外周111の内側に位置している。
この第1目標撮像画902では、保持面22はウェーハ100よりも僅かに小さいため、保持面22の外周部分である保持面外周221は、ウェーハ100の外周部分であるウェーハ外周111の内側に位置している。
一方、図5に示す第1取得撮像画903は、撮像ステップにおいて実際に得られる撮像画、すなわち、載置ステップにおいて保持面22に置かれたウェーハ100を、カメラ80が撮像した撮像画である。図5に示す例では、保持面22の保持面中心222が、ウェーハ100のウェーハ中心112とずれており、保持面22の外周部分である保持面外周221の一部が、ウェーハ100の外周部分であるウェーハ外周111の外側に位置している。
[検知ステップ]
撮像ステップの後、検知部8が、保持面22に置かれたウェーハ100をカメラ80が撮像した撮像画である第1取得撮像画903に基づいて、予め設定した保持面22の中心座標である保持面中心222と、ウェーハ100の中心座標であるウェーハ中心112とが一致したことを検知する。この際、本実施形態では、検知部8は、撮像ステップにおいて得られる第1取得撮像画903(図5参照)と、第1目標撮像画902(図4参照)とが一致したことを検知することによって、保持面22の保持面中心222とウェーハ100のウェーハ中心112とが一致したことを検知する。
撮像ステップの後、検知部8が、保持面22に置かれたウェーハ100をカメラ80が撮像した撮像画である第1取得撮像画903に基づいて、予め設定した保持面22の中心座標である保持面中心222と、ウェーハ100の中心座標であるウェーハ中心112とが一致したことを検知する。この際、本実施形態では、検知部8は、撮像ステップにおいて得られる第1取得撮像画903(図5参照)と、第1目標撮像画902(図4参照)とが一致したことを検知することによって、保持面22の保持面中心222とウェーハ100のウェーハ中心112とが一致したことを検知する。
具体的には、検知部8は、第1取得撮像画903と第1目標撮像画902とを比較して、これらの撮像画が一致しているか否かを判断する。そして、これらの撮像画が一致していない場合、検知部8は、その旨を、たとえばタッチパネル9を用いて作業者に通知する。
作業者は、この通知を受けて、保持面22の保持面中心222と、ウェーハ100のウェーハ中心112とが一致するように、保持面22に載置されているウェーハ100の位置をずらす。そして、作業者は、タッチパネル9を用いて、ウェーハ100の載置位置を再設定したことを制御部7に伝達する。
これを受けて、制御部7が上述した撮像ステップを実施するとともに、検知部8が、新たに得られた第1取得撮像画903と、第1目標撮像画902(図4参照)とを比較して、これらの画像が一致しているか否かを判断する。
このように、検知ステップでは、検知部8が、保持面22に置かれたウェーハ100をカメラ80が撮像した第1取得撮像画903と第1目標撮像画902とが一致したことを検知するまで、作業者が、保持面22におけるウェーハ100の載置位置を調整する。
そして、検知部8は、これらの撮像画が一致したこと、すなわち、保持面22の保持面中心222とウェーハ100のウェーハ中心112とが一致したことを検知した場合、その旨を、たとえばタッチパネル9を用いて作業者に通知する。その後、以下の吸引ステップが実施される。
[吸引ステップ]
吸引ステップでは、保持面22の保持面中心222とウェーハ100のウェーハ中心112とが一致したことを検知部8が検知したことに基づいて、制御部7が、吸引バルブ26を開き、吸引路25を介して保持面22を吸引源201に連通する。これにより、ウェーハ100が保持面22によって吸引保持される。
〔研削工程〕
研削工程では、制御部7は、保持面22によってウェーハ100を吸引保持したチャックテーブル20を含むウェーハ保持機構30を、図1に示したY軸方向移動機構40によって、加工位置302に配置する。そして、制御部7は、研削機構70の第1研削砥石77およびチャックテーブル20を回転させながら、垂直移動機構50によって研削機構70を下降させて、チャックテーブル20の保持面22に保持されているウェーハ100を、第1研削砥石77によって、所定の厚みとなるまで研削する。
吸引ステップでは、保持面22の保持面中心222とウェーハ100のウェーハ中心112とが一致したことを検知部8が検知したことに基づいて、制御部7が、吸引バルブ26を開き、吸引路25を介して保持面22を吸引源201に連通する。これにより、ウェーハ100が保持面22によって吸引保持される。
〔研削工程〕
研削工程では、制御部7は、保持面22によってウェーハ100を吸引保持したチャックテーブル20を含むウェーハ保持機構30を、図1に示したY軸方向移動機構40によって、加工位置302に配置する。そして、制御部7は、研削機構70の第1研削砥石77およびチャックテーブル20を回転させながら、垂直移動機構50によって研削機構70を下降させて、チャックテーブル20の保持面22に保持されているウェーハ100を、第1研削砥石77によって、所定の厚みとなるまで研削する。
以上のように、本実施形態では、保持面22に置かれたウェーハ100をカメラ80が撮像した撮像画である第1取得撮像画903に基づいて、予め設定されている保持面22の保持面中心222と、ウェーハ100のウェーハ中心112とが一致したことを検知部8が検知したときに、制御部7が、保持面22を吸引源201に連通してウェーハ100を吸引保持している。
このため、第1研削装置1のような、保持面22にウェーハ100を搬送するための搬送機構を備えていないマニュアル式の研削装置においても、保持面22によってウェーハ100を吸引保持する際、保持面中心222とウェーハ中心112とを容易に一致させることが可能となる。したがって、ウェーハ100を保持面22に保持させるための時間を短縮することができる。また、保持面中心222とウェーハ中心112とがずれている状態で保持面22によってウェーハ100を吸引保持することを、良好に抑制することができる。
また、本実施形態では、研削工程において、保持面中心222とウェーハ中心112とを一致させた状態で、保持面22に保持されたウェーハ100を研削することができる。このため、研削によってウェーハ100の外周に形成されるチッピングを、均一に小さくすることができる。すなわち、保持面中心222とウェーハ中心112とがずれることによって、部分的に大きなチッピングが形成されることを、良好に抑制することができる。
なお、本実施形態では、図2に示したように、カメラ80が、チャックテーブル20の上面の全体を含むような第1撮像領域801を有している。これに関し、カメラ80は、図6に示すように、チャックテーブル20の一部を含むような第2撮像領域802を有していてもよい。
この場合、ウェーハ100が載置されていない保持面22をカメラ80によって撮像することによって得られる初期撮像画は、図3に示すような、第1初期撮像画901よりも小さい第2初期撮像画911となる。第2初期撮像画911は、図6に示した第2撮像領域802に対応する画像であり、チャックテーブル20における保持面22の保持面外周221および枠体面24の枠体外周241の一部を含む画像である。
また、図4および図5に、ウェーハ100が載置されている保持面22をカメラ80によって撮像することによって得られる撮像画の例である撮像画912・913の例を示す。これらの撮像画も、図6に示した第2撮像領域802に対応する画像であり、チャックテーブル20における保持面22の保持面外周221および枠体面24の枠体外周241の一部を含んでいる。
図4に示す第2目標撮像画912は、上述した第1目標撮像画902の一部であり、保持面22の保持面中心222にウェーハ100のウェーハ中心112が一致している場合のウェーハ100の撮像画である。この第2目標撮像画912も、検知部8に予め設定(記憶)されている。
一方、図5に示す第2取得撮像画913は、上述した第1取得撮像画903の一部であり、撮像ステップにおいて実際に得られる撮像画、すなわち、載置ステップにおいて保持面22に置かれたウェーハ100を、カメラ80が撮像した撮像画である。
この場合も、上述した保持工程の検知ステップにおいて、検知部8は、図4に示した第2目標撮像画912と、図5に示した第2取得撮像画913とを比較して、これらの撮像画が一致したことを検知することによって、保持面22の保持面中心222と、ウェーハ100のウェーハ中心112とが一致したことを検知することができる。
また、本実施形態では、検知部8は、上述した検知ステップにおいて、図4に示した第1目標撮像画902と、図5に示した第1取得撮像画903とが一致したことを検知することによって、保持面22の保持面中心222と、ウェーハ100のウェーハ中心112とが一致したことを検知している。これに関し、検知部8は、保持面22に置かれたウェーハ100をカメラ80が撮像した撮像画である第1取得撮像画903のウェーハ100のウェーハ外周111の少なくとも三カ所の座標から算出したウェーハ100のウェーハ中心112が、予め設定されている保持面22の保持面中心222に一致したことを検知してもよい。すなわち、検知部8は、第1取得撮像画903におけるウェーハ100のウェーハ外周111の少なくとも三カ所の座標から、ウェーハ100のウェーハ中心112を算出し、このように算出されたウェーハ中心112と、予め設定されている保持面22の保持面中心222とが一致していることを検知するように構成されていてもよい。
この場合、検知部8は、上述した保持工程の検知ステップにおいて、図7に示すように、撮像ステップにおいて得られた第1取得撮像画903におけるウェーハ100のウェーハ外周111の三カ所の測定点A1、A2およびA3の座標を求める。さらに、検知部8は、測定点A1、A2およびA3を頂点とする三角形の外心の座標を、ウェーハ100の中心座標であるウェーハ中心112として算出する。
そして、検知部8は、算出したウェーハ中心112と保持面22の保持面中心222とが一致しているか否かを判断し、タッチパネル9を用いて判断結果を作業者に通知する。その後、上述したように、作業者は、ウェーハ中心112と保持面中心222とが一致したことが検知されるまで、保持面22におけるウェーハ100の載置位置を調整する。
なお、測定点A1、A2およびA3は、ウェーハ100のウェーハ外周111上において、なるべく均等に散らばるように、たとえば、測定点A1、A2およびA3によって形成される三角形が略正三角形になるように、設定されることが好ましい。これにより、ウェーハ中心112を求める際の誤差を小さくすることができる。
また、本実施形態にかかる加工装置は、図8に示す第2研削装置2であってもよい。この第2研削装置2は、図1に示した第1研削装置1の構成において、研削機構70が、第1研削ホイール75に代えて、第2研削ホイール90を備えている構成である。
第2研削ホイール90は、ホイールマウント74よりも小さい外径を有する円環状の第2ホイール基台91を備えている。第2ホイール基台91の下面には、全周にわたって、環状に配列された複数の第2研削砥石92が固定されている。第2研削砥石92は、第1研削砥石77と同様に、スピンドル72とともにスピンドルモータ73によって回転され、チャックテーブル20に保持されたウェーハ100の裏面102を研削する。環状に配列された第2研削砥石92の直径は、たとえば、ウェーハ100の半径と同程度に設定されている。
第2研削装置2における研削加工では、上述した保持工程にしたがって、チャックテーブル20の保持面22によって、裏面102が上向きとなるようにウェーハ100が保持される。そして、図9に示すように、制御部7が、ウェーハ100の外周よりも内側に第2研削砥石92を位置づけた状態で、第2研削砥石92によって、ウェーハ100の裏面102を粗研削する。これにより、図10に示すように、ウェーハ100の裏面102に凹部121が形成される。さらに、凹部121の外周に沿って、凹部121を囲繞する環状凸部122が形成される。
また、第2研削装置2を用いた研削では、このような凹部121および環状凸部122が形成されたウェーハ100を再研削する。たとえば、凹部121および環状凸部122を形成する粗研削に用いられた砥石よりも小さな砥粒を含む砥石を第2研削砥石92として用いることにより、ウェーハ100の凹部121を仕上げ研削する。
この仕上げ研削の際にも、上述した保持工程にしたがって、凹部121の形成された裏面102が上向きとなるように、チャックテーブル20の保持面22によってウェーハ100が保持される。そして、図9に示すように、制御部7が、第2研削砥石92によって、ウェーハ100の凹部121を仕上げ研削する。
このように、第2研削装置2における研削加工では、上述した保持工程にしたがって、保持面22によってウェーハ100を保持している。したがって、ウェーハ100のウェーハ中心112と保持面22の保持面中心222とを一致させた状態(図4参照)で、保持面22によってウェーハ100を保持することができる。
これにより、ウェーハ100に凹部121を形成する粗研削の際、ウェーハ100に対して凹部121が偏心した状態で形成されてしまうことを抑制すること、すなわち、ウェーハ100の中心と凹部121の中心とを一致させることができる。
また、ウェーハ100の凹部121を仕上げ研削する際、第2研削砥石92によって環状凸部122を研削してしまうことを抑制しながら、凹部121を良好に仕上げ研削することができる。
また、ウェーハ100の凹部121を仕上げ研削する際、第2研削砥石92によって環状凸部122を研削してしまうことを抑制しながら、凹部121を良好に仕上げ研削することができる。
このように、第2研削装置2のような、保持面22にウェーハ100を搬送するための搬送機構を備えていないマニュアル式の研削装置においても、ウェーハ100に対して凹部121を良好に形成すること、および、ウェーハ100の凹部121を良好に仕上げ研削することができる。
また、本実施形態では、検知部8が保持面22の保持面中心222とウェーハ100のウェーハ中心112とが一致したことを検知したときに、制御部7によって保持面22が吸引源201に連通されて、保持面22によってウェーハ100が吸引保持されている。これに関し、検知部8は、保持面中心222とウェーハ中心112とが完全に一致している場合に限らず、実質的に一致しているときに、これらが一致していると判断するように設定されていることが好ましい。
たとえば、検知部8は、本発明の効果が得られる範囲、たとえば、研削の際にウェーハ100の外周に形成されるチッピングを小さくすることができる範囲であれば、保持面中心222とウェーハ中心112とが僅かにずれていたとしても、保持面中心222とウェーハ中心112とが一致していると判断するように設定されていてもよい。
たとえば、検知部8は、本発明の効果が得られる範囲、たとえば、研削の際にウェーハ100の外周に形成されるチッピングを小さくすることができる範囲であれば、保持面中心222とウェーハ中心112とが僅かにずれていたとしても、保持面中心222とウェーハ中心112とが一致していると判断するように設定されていてもよい。
1:第1研削装置、2:第2研削装置、7:制御部、8:検知部、9:タッチパネル、
10:基台、11:コラム、12:蛇腹カバー、13:開口部、
20:チャックテーブル、21:ポーラス部材、22:保持面、23:枠体、
24:枠体面、25:吸引路、26:吸引バルブ、28:テーブル回転機構、
30:ウェーハ保持機構、39:カバー板、
40:Y軸方向移動機構、41:保持台、42:Y軸ガイドレール、
43:Y軸ボールネジ、44:Y軸モータ、45:Y軸移動テーブル、
50:垂直移動機構、51:Z軸ガイドレール、52:Z軸ボールネジ、
53:Z軸移動テーブル、54:Z軸モータ、56:ホルダ、
60:厚み測定器、61:ウェーハ高さ測定部、62:保持面高さ測定部、
70:研削機構、71:スピンドルハウジング、72:スピンドル、
73:スピンドルモータ、74:ホイールマウント、75:第1研削ホイール、
76:第1ホイール基台、77:第1研削砥石、80:カメラ、
90:第2研削ホイール、91:第2ホイール基台、92:第2研削砥石、
100:ウェーハ、101:表面、102:裏面、103:保護テープ、
111:ウェーハ外周、112:ウェーハ中心、121:凹部、122:環状凸部、
201:吸引源、221:保持面外周、222:保持面中心、241:枠体外周、
301:保持位置、302:加工位置、801:第1撮像領域、802:第2撮像領域、
901:第1初期撮像画、902:第1目標撮像画、903:第1取得撮像画、
911:第2初期撮像画、912:第2目標撮像画、913:第2取得撮像画
10:基台、11:コラム、12:蛇腹カバー、13:開口部、
20:チャックテーブル、21:ポーラス部材、22:保持面、23:枠体、
24:枠体面、25:吸引路、26:吸引バルブ、28:テーブル回転機構、
30:ウェーハ保持機構、39:カバー板、
40:Y軸方向移動機構、41:保持台、42:Y軸ガイドレール、
43:Y軸ボールネジ、44:Y軸モータ、45:Y軸移動テーブル、
50:垂直移動機構、51:Z軸ガイドレール、52:Z軸ボールネジ、
53:Z軸移動テーブル、54:Z軸モータ、56:ホルダ、
60:厚み測定器、61:ウェーハ高さ測定部、62:保持面高さ測定部、
70:研削機構、71:スピンドルハウジング、72:スピンドル、
73:スピンドルモータ、74:ホイールマウント、75:第1研削ホイール、
76:第1ホイール基台、77:第1研削砥石、80:カメラ、
90:第2研削ホイール、91:第2ホイール基台、92:第2研削砥石、
100:ウェーハ、101:表面、102:裏面、103:保護テープ、
111:ウェーハ外周、112:ウェーハ中心、121:凹部、122:環状凸部、
201:吸引源、221:保持面外周、222:保持面中心、241:枠体外周、
301:保持位置、302:加工位置、801:第1撮像領域、802:第2撮像領域、
901:第1初期撮像画、902:第1目標撮像画、903:第1取得撮像画、
911:第2初期撮像画、912:第2目標撮像画、913:第2取得撮像画
Claims (3)
- 保持面によってウェーハを吸引保持するチャックテーブルと、該保持面に吸引保持されたウェーハを加工する加工機構と、該保持面と吸引源とを連通する吸引路と、該吸引路を開閉する吸引バルブと、を備える加工装置であって、
該保持面および該保持面に置かれたウェーハを上方から撮像するカメラと、
該保持面に置かれたウェーハを該カメラが撮像した撮像画に基づいて、予め設定されている該保持面の中心座標と、ウェーハの中心座標とが一致したことを検知する検知部と、
該保持面の中心座標とウェーハの中心座標とが一致したことを該検知部が検知したことに基づいて、該吸引バルブを開き、該保持面を前記吸引源に連通する制御部と、を備える、
加工装置。 - 該検知部は、予め設定されている該保持面の中心にウェーハの中心が一致している場合のウェーハの撮像画と、該保持面に置かれたウェーハを該カメラが撮像した撮像画とが一致したことを検知することによって、該保持面の中心座標とウェーハの中心座標とが一致したことを検知する、
請求項1に記載の加工装置。 - 該検知部は、該保持面に置かれたウェーハを該カメラが撮像した撮像画のウェーハの外周部分の少なくとも三カ所の座標から算出したウェーハの中心座標が、予め設定されている該保持面の中心座標に一致したことを検知する、
請求項1に記載の加工装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2022098755A JP2024000153A (ja) | 2022-06-20 | 2022-06-20 | 加工装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2022098755A JP2024000153A (ja) | 2022-06-20 | 2022-06-20 | 加工装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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ID=89384501
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2022098755A Pending JP2024000153A (ja) | 2022-06-20 | 2022-06-20 | 加工装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2024000153A (ja) |
-
2022
- 2022-06-20 JP JP2022098755A patent/JP2024000153A/ja active Pending
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