JP2023176592A - Ｘ線診断装置 - Google Patents

Abstract

【課題】撮影装置の移動に伴うＣアームの振動を抑制すること。【解決手段】実施形態に係るＸ線診断装置は、床旋回アームと、Ｃアームと、電磁石と、磁石と、電流制御部とを備える。床旋回アームは、床に支持される。Ｃアームは、床旋回アームに支持され、Ｘ線照射部及びＸ線検出器を保持する。電磁石は、床旋回アームに設けられる。磁石は、電磁石に対向する床下の位置に設けられる。電流制御部は、電磁石に流す電流を制御する。【選択図】 図３

Description

本明細書及び図面に開示の実施形態は、Ｘ線診断装置に関する。

Ｘ線診断装置として、Ｃ型のアーム（以下、「Ｃアーム」と呼ぶ）を天井から吊下げ支持した構造の撮影装置を備えるＸ線診断装置が知られている。この吊下げ式の撮影装置は、Ｃアームに、被検体にＸ線を照射するＸ線照射部と、当該Ｘ線を検出してＸ線画像データを生成するＸ線検出部とを対向配置する。そして、Ｃアームは、吊下げ機構を介して天井から伸縮自在に支持される。通常、Ｃアームは、吊下げ機構に対して、水平方向の軸を回転軸として回転したり（回転動）、Ｃアームの円弧に沿ってスライドしたり（円弧動）するように移動される。

また、Ｘ線診断装置として、Ｃアームを、床に支持される床旋回アームに支持した構造の撮影装置を備えるＸ線診断装置も知られている。この床旋回式のＸ線診断装置もまた、Ｃアームに、Ｘ線照射部とＸ線検出部とを対向配置する。そして、Ｃアームは、床旋回アームを介して鉛直軸を中心に旋回することで移動される。また、Ｃアームは、床旋回アームに対して、水平方向の軸を回転軸として回転したり、Ｃアームの円弧に沿ってスライドしたりするように移動される。

特開２００７－２２２４１２号公報

本明細書及び図面に開示の実施形態が解決しようとする課題の一つは、撮影装置の移動に伴うＣアームの振動を抑制することである。ただし、本明細書等に開示の実施形態により解決される課題は上記課題に限られない。後述する実施形態に示す各構成による各効果に対応する課題を、本明細書等に開示の実施形態が解決する他の課題として位置づけることもできる。

実施形態に係るＸ線診断装置は、床旋回アームと、Ｃアームと、電磁石と、磁石と、電流制御部とを備える。床旋回アームは、床に支持される。Ｃアームは、床旋回アームに支持され、Ｘ線照射部及びＸ線検出器を保持する。電磁石は、床旋回アームに設けられる。磁石は、電磁石に対向する床下の位置に設けられる。電流制御部は、電磁石に流す電流を制御する。

図１は、第１実施形態に係るＸ線診断装置の構成を示す概略図。 図２は、第１実施形態に係るＸ線診断装置に備えられる撮影装置のアーム側磁石とガイド磁石の配置について説明するための図。 図３は、第１実施形態に係るＸ線診断装置の機能を示すブロック図。 図４は、第１実施形態に係るＸ線診断装置に備えられるアーム側磁石に流す電流の向きによる床旋回アームの作用を示す側面図。 図５は、第１実施形態に係るＸ線診断装置に備えられるアーム側磁石に流す電流の大きさによる床旋回アームの作用を示す側面図。 図６は、第１実施形態に係るＸ線診断装置の動作をフローチャートとして示す図。 図７は、第１実施形態に係るＸ線診断装置の第１変形例における構成を示す概略図。 図８は、第１実施形態に係るＸ線診断装置の第１変形例における機能を示すブロック図。 図９は、第１実施形態に係るＸ線診断装置の第１変形例において、学習時におけるデータフローの一例を示す説明図。 図１０は、第１実施形態に係るＸ線診断装置の第１変形例において、運用時におけるデータフローの一例を示す説明図。 図１１は、第１実施形態に係るＸ線診断装置の第２変形例に備えられるアーム側磁石に流す電流の向きによる床旋回アームの作用を示す側面図。 図１２は、第１実施形態に係るＸ線診断装置の第３変形例において、アーム側磁石に流す電流の向きによる床旋回アームの作用を説明するための側面図。 図１３は、第２実施形態に係るＸ線診断装置の構成を示す概略図。 図１４は、第２実施形態に係るＸ線診断装置に備えられる撮影装置のガイド磁石の配置について説明するための図。 図１５は、第３実施形態に係るＸ線診断装置の構成を示す概略図。 図１６は、第３実施形態に係るＸ線診断装置に備えられる撮影装置のガイド磁石の配置について説明するための図。

以下、図面を参照しながら、Ｘ線診断装置の実施形態について詳細に説明する。

実施形態に係るＸ線診断装置は、撮影装置と画像処理装置を備え、Ｘ線撮影を行う。Ｘ線撮影は、Ｘ線の照射方法により「撮影」と「透視」に大別される。「撮影」は、比較的高い管電流にてＸ線を照射する。一方で、「透視」は、比較的低い管電流にてＸ線を照射する。また、「透視」は、連続透視及びパルス透視に大別される。パルス透視とは、連続透視と異なり、Ｘ線のパルスが断続的に繰り返し照射される透視方法を意味する。パルス透視によれば、連続透視に比べ、画像の連続性（フレームレート）がやや劣るが患者に対する被ばく線量を抑えることができる。本明細書で使用される「Ｘ線撮影」は、「撮影」と「透視」とのうち少なくとも一方を含むものとする。

（第１実施形態）
図１は、第１実施形態に係るＸ線診断装置の構成を示す概略図である。

図１は、Ｘ線診断装置１のうち、第１実施形態に係る床旋回式のＸ線診断装置１Ａを示す。床旋回式のＸ線診断装置１Ａは、撮影装置１０Ａと、寝台装置２０と、画像処理装置（例えば、コンソール）３０とを備える。撮影装置１０Ａと、寝台装置２０とは、検査室（「血管造影撮影室」、「カテーテル室」とも呼ばれる）内に設置される。一方で、画像処理装置３０は、検査室に隣接する制御室に設置される。

撮影装置１０Ａは、床旋回アーム１１と、鉛直支持部１２と、Ｃアーム軸回転部１３と、Ｃアーム円弧回転部１４と、Ｃアーム１５と、Ｘ線照射部１６と、Ｘ線検出部１７と、センサＳとを設ける。

床旋回アーム１１は、床面に支持され、ｙ軸に平行な軸Ｄ１を中心として旋回可能である。床旋回アーム１１は、画像処理装置３０による制御又は手動操作によって、軸Ｄ１を中心とする移動、つまり、旋回動を行うことができる。鉛直支持部１２は、床旋回アーム１１に支持される。

Ｃアーム軸回転部１３は、鉛直支持部１２に支持され、ｘｚ平面上の軸Ｄ２（図１ではｘ軸に平行な軸を例示）を中心として回転可能である。Ｃアーム軸回転部１３は、画像処理装置３０による制御又は手動操作によって、軸Ｄ２を中心とする移動、つまり、回転動を行うことができる。

Ｃアーム円弧回転部１４は、Ｃアーム軸回転部１３に支持される。Ｃアーム１５は、Ｃアーム円弧回転部１４によって支持され、Ｃアーム１５の軸方向（すなわち、円周方向）に沿ってスライド可能である。Ｃアーム円弧回転部１４は、画像処理装置３０による制御又は手動操作によって、Ｃアーム１５の軸方向に沿った移動、つまり、円弧動を行うことができる。また、Ｃアーム１５は、Ｘ線照射部１６とＸ線検出部１７とを、患者Ｐを中心に対向配置させる。

Ｘ線照射部１６は、Ｃアーム１５の一端に保持される。Ｘ線照射部１６は、画像処理装置３０による制御又は手動操作によって、Ｘ線焦点とＸ線検出器の中心とを結ぶ方向（ＳＩＤ（Source Image Distance）方向）に沿って動作、すなわち、前後動作を行うことができる。

Ｘ線照射部１６は、Ｘ線管などのＸ線源（図示省略）と、可動絞り装置（図示省略）とを設ける。Ｘ線管は、高電圧発生装置（図示省略）からの高電圧電力の供給を受けてＸ線を発生する。可動絞り装置は、画像処理装置３０による制御によって、Ｘ線管のＸ線照射口で、Ｘ線を遮蔽する物質から構成された絞り羽根を移動可能に支持する。なお、Ｘ線管の前面に、Ｘ線管によって発生されたＸ線の線質を調整する線質調整フィルタ（図示省略）を備えてもよい。

Ｘ線検出部１７は、Ｃアーム１５の他端に、Ｘ線照射部１６に対向するように保持される。Ｘ線検出部１７は、画像処理装置３０による制御又は手動操作によって、ＳＩＤ方向に沿って動作、すなわち、前後動作を行うことができる。また、Ｘ線検出部１７は、画像処理装置３０による制御又は手動操作によって、ＳＩＤ方向を中心とした回転方向に沿って移動、つまり、回転動を行うことができる。

Ｘ線検出部１７は、図示しないＦＰＤ（平面検出器：Flat Panel Detector）と、Ａ／Ｄ（Analog to Digital）変換回路とを備える。ＦＰＤは、二次元に配列された複数の検出素子を有する。ＦＰＤの各検出素子間は、走査線と信号線とが直交するように配設される。なお、ＦＰＤの前面に、グリッド（図示省略）が備えられてもよい。グリッドは、ＦＰＤに入射する散乱線を吸収してＸ線画像のコントラストを改善するために、Ｘ線吸収の大きい鉛等によって形成されるグリッド板と透過しやすいアルミニウムや木材等とが交互に配置されて成る。Ａ／Ｄ変換回路は、ＦＰＤから出力される時系列的なアナログ信号（ビデオ信号）の投影データをデジタル信号に変換し、画像処理装置３０に出力する。

なお、Ｘ線検出部１７は、Ｉ．Ｉ．（Image Intensifier）－ＴＶ系であってもよい。Ｉ．Ｉ．－ＴＶ系では、患者Ｐを透過したＸ線及び直接入射されるＸ線を可視光に変換し、さらに、光－電子－光変換の過程で輝度の倍増を行なって感度のよい投影データを形成させ、ＣＣＤ（Charge Coupled Device）撮影素子を用いて光学的な投影データを電気信号に変換する。

寝台装置２０は、患者Ｐを載置可能な天板２１を備える。天板２１は、画像処理装置３０による制御の下、ｘ軸方向に沿って動作、すなわち、左右方向へのスライドを行うことができる。天板２１は、画像処理装置３０による制御の下、ｙ軸方向に沿って動作、すなわち、昇降方向へのスライドを行うことができる。天板２１は、画像処理装置３０による制御の下、ｚ軸方向に沿って動作、すなわち、頭足方向へのスライドを行うことができる。また、天板２１は、画像処理装置３０による制御の下、ローリング動作や、チルト動作を行うことも可能である。

画像処理装置３０は、コンピュータをベースとして構成されており、Ｘ線診断装置１Ａ全体の動作制御や、撮影装置１０Ａによって取得されたＸ線画像に関する画像処理等を行なう装置である。画像処理装置３０は、処理回路３１と、メモリ３２と、Ｘ線画像生成回路３３と、Ｘ線画像処理回路３４と、ディスプレイ３６と、入力インターフェース３５とを有する。

処理回路３１は、専用又は汎用のＣＰＵ（Central Processing Unit）、ＭＰＵ（Micro Processor Unit）、又はＧＰＵ（Graphics Processing Unit）等のプロセッサの他、ＡＳＩＣ、及び、プログラマブル論理デバイス等によって構成される。プログラマブル論理デバイスとしては、例えば、単純プログラマブル論理デバイス（ＳＰＬＤ：Simple Programmable Logic Device）、複合プログラマブル論理デバイス（ＣＰＬＤ：Complex Programmable Logic Device）、及び、フィールドプログラマブルゲートアレイ（ＦＰＧＡ：Field Programmable Gate Array）等が挙げられる。

また、処理回路３１は、単一の回路によって構成されてもよいし、複数の独立した回路要素の組み合わせによって構成されてもよい。後者の場合、メモリ３２は回路要素ごとに個別に設けられてもよいし、単一のメモリ３２が複数の回路要素の機能に対応するプログラムを記憶するものであってもよい。なお、処理回路３１は、処理部の一例である。

メモリ３２は、ＲＡＭ（Random Access Memory）、フラッシュメモリ（Flash Memory）等の半導体メモリ素子、ハードディスク、光ディスク等によって構成される。メモリ３２は、ＵＳＢ（Universal Serial Bus）メモリ及びＤＶＤ（Digital Video Disk）等の可搬型メディアによって構成されてもよい。メモリ３２は、処理回路３１において用いられる各種処理プログラム（アプリケーションプログラムの他、ＯＳ（Operating System）等も含まれる）や、プログラムの実行に必要なデータを記憶する。また、ＯＳに、操作者に対するディスプレイ２８への情報の表示にグラフィックを多用し、基礎的な操作を入力インターフェース３５によって行うことができるＧＵＩ（Graphical User Interface）を含めることもできる。なお、メモリ３２は、記憶部の一例である。

Ｘ線画像生成回路３３は、処理回路３１の制御によって、Ｘ線検出部１７から出力された投影データに対して対数変換処理（ＬＯＧ処理）行なって必要に応じて加算処理して、Ｘ線画像のデータを生成する。Ｘ線画像生成回路３３は、Ｘ線画像生成部の一例である。

Ｘ線画像処理回路３４は、処理回路３１の制御によって、Ｘ線画像生成回路３３によって生成されたＸ線画像に対して画像処理を施す。画像処理としては、データに対する拡大／階調／空間フィルタ処理や、時系列に蓄積されたデータの最小値／最大値トレース処理、及びノイズを除去するための加算処理などが挙げられる。なお、Ｘ線画像処理回路３４による画像処理後のデータは、ディスプレイ３６に出力されると共に、メモリ３２に記憶される。Ｘ線画像処理回路３４は、Ｘ線画像処理部の一例である。

入力インターフェース３５は、操作者によって操作が可能な入力デバイスと、入力デバイスからの信号を入力する入力回路とを含む。入力デバイスは、トラックボール、スイッチ、マウス、キーボード、操作面に触れることで入力操作を行うタッチパッド、表示画面とタッチパッドとが一化されたタッチスクリーン、光学センサを用いた非接触入力デバイス、及び、音声入力デバイス等によって実現される。操作者により入力デバイスが操作されると、入力回路はその操作に応じた信号を生成して処理回路３１に出力する。なお、入力インターフェース３５は、入力部の一例である。

ディスプレイ３６は、例えば液晶ディスプレイやＯＬＥＤ（Organic Light Emitting Diode）ディスプレイ等の一般的な表示出力装置により構成される。ディスプレイ３６は、処理回路３１の制御に従って各種情報を表示する。なお、ディスプレイ３６は、表示部の一例である。

また、図１において、撮影装置１０Ａが備えるＣアーム構造は、Ｘ線照射部１６が天板２１の下方に位置するアンダーテーブルの場合を示す。しかしながらその場合に限定されるものではなく、Ｘ線照射部１６が天板２１の上方に位置するオーバーテーブルの場合であってもよい。また、Ｃアーム１５には、Ωアームが組み合わされてもよい。

撮影装置１０Ａは、床旋回アーム１１にアーム側磁石１１１を設ける。アーム側磁石１１１は、磁性材料の芯のまわりに巻かれたコイルを通電することによって一時的に磁力を発生させる電磁石である。アーム側磁石１１１に流れる電流の向きを変えることにより、アーム側磁石１１１をＳ極又はＮ極の極性とすることができる。また、アーム側磁石１１１に流れる電流の大きさを変えることにより、磁力の強さを替えることができる。

一方で、撮影装置１０Ａは、アーム側磁石１１１に対向する床面にガイド磁石１１２を設ける。ガイド磁石１１２は、電磁石、又は、永久に一定の磁力を発生させ続ける永久磁石である。ガイド磁石１１２が電磁石である場合、アーム側磁石１１１は第１の電磁石であり、ガイド磁石１１２は第２の電磁石となる。なお、アーム側磁石１１１が永久磁石である一方で、ガイド磁石１１２が電磁石であってもよい。図２を用いて、撮影装置１０Ａのアーム側磁石１１１とガイド磁石１１２の配置について説明する。

図２（Ａ）は、アーム側磁石１１１の配置を示す斜視図である。また、図２（Ｂ）は、ガイド磁石１１２の配置を示す上面図である。床旋回アーム１１は、旋回軸Ｄ１を中心として旋回する。図２（Ａ）に示すように、床旋回アーム１１の旋回軸Ｄ１側は床に接している一方で、床旋回アーム１１の回転円周側（すなわち、ガイド磁石１１２に対向する側）は床との間には隙間が設けられる。アーム側磁石１１１は、床旋回アーム１１の床との隙間に、円周に沿って複数個設けられる。

図２（Ｂ）に示すように、ガイド磁石１１２は、床旋回アーム１１の床に対する旋回動に応じたアーム側磁石１１１の軌道Ｒ１に対向する床下の位置に複数個埋め込まれる。軌道Ｒ１に対向する床下の位置にガイド磁石１１２を複数個埋め込むことで、床旋回アーム１１が軸Ｄ１を中心とする旋回方向のどの角度に位置していても、後述する吸着力又は反発力を発生させることができる。なお、床旋回アーム１１の長軸方向をｕ軸方向と定義し、ｕ軸方向とｙ軸方向とに直交する方向をｖ軸方向と定義する。図２（Ａ），（Ｂ）において、ｘｙｚ座標系におけるｘ軸がｕ軸と平行でありｚ軸がｖ軸と平行な場合について図示するが、床旋回アーム１１が床に対して旋回するとｘｚ平面においてｕ軸とｖ軸は回転する。

図１の説明に戻って、センサＳは、床旋回アーム１１に取り付けられる。センサＳは、例えば、３次元空間における３軸の加速度を検知する３軸加速度センサであり、床旋回アーム１１、つまり、撮影装置１０Ａの振動情報（振動の振幅と位相と周波数）を検知してデジタルデータとして画像処理装置３０に出力する。

続いて、床旋回式のＸ線診断装置１Ａの機能について図３を用いて説明する。図３は、床旋回式のＸ線診断装置１Ａの機能を示すブロック図である。

画像処理装置３０の処理回路３１は、メモリ３２に記憶された、又は、処理回路３１内に直接組み込まれたコンピュータプログラムを読み出して実行することで、図２に示すように、Ｘ線撮影機能Ｆ１と、移動指示検知機能Ｆ２と、情報取得機能Ｆ３と、電流値取得機能Ｆ４と、電流制御機能Ｆ５とを実現する。以下、機能Ｆ１～Ｆ５がコンピュータプログラムの実行によりソフトウェア的に機能する場合を例に挙げて説明するが、機能Ｆ１～Ｆ５の全部又は一部は、ＡＳＩＣなどの回路により実現されてもよい。

Ｘ線撮影機能Ｆ１は、検査オーダに含まれる撮影の目的に応じて、患者Ｐに対する撮影装置１０Ａの位置合わせを行う機能と、Ｘ線のばく射スイッチの押圧に応じてＸ線撮影を実行する機能と、Ｘ線撮影によりＸ線画像処理回路３４が生成したＸ線画像データをディスプレイ３６（又は、検査室内のディスプレイ）に表示させる機能とを含む。なお、患者Ｐに対する撮影装置１０Ａの位置合わせは、Ｃアーム１５の回転動及び円弧動と、床旋回アーム１１の旋回と、天板２１のスライド動などによる位置合せである。

ここで、Ｘ線撮影中の撮影装置１０Ａの移動、例えば、床旋回アーム１１の旋回動や、Ｃアーム１５の回転動や、Ｃアーム１５の円弧動などに伴うＣアーム１５の振動が画質低下に繋がるため、振動が収まってからＸ線撮影を行うなどの対応が取られているケースがある。しかし、その場合、Ｘ線撮影に要する時間が長くなってしまい患者Ｐ及び操作者（例えば、放射線技師）の負担が大きいという問題がある。その問題解決の一つの方法として、Ｃアームから突っ張り棒を出して床面に固定し、Ｃアームの移動に伴う振動を抑制する方法がある。しかしその場合、床面にケーブルなどが這っていると突っ張り棒がケーブルを踏んでしまったり、床面に液体等が飛散していると突っ張り棒に付着して周囲を汚染してしまったりといった新たな問題が生じる。

そこで、Ｘ線診断装置１Ａは、Ｃアームに突っ張り棒を備えることなく効果的にＣアーム１５の振動を低減することを目的として磁石１１１，１１２を備えるとともに、後述する機能Ｆ２～Ｆ５を備えるものとする。

移動指示検知機能Ｆ２は、Ｘ線撮影機能Ｆ１によるＸ線撮影中に撮影装置１０Ａの移動指示を検知する機能を含む。例えば、撮影装置１０Ａの移動は、床旋回アーム１１の旋回動、Ｃアーム１５の回転動、Ｃアーム１５の円弧動などを含む。

情報取得機能Ｆ３は、移動指示検知機能Ｆ２によりＣアーム１５の撮影装置１０Ａの移動指示を検知すると、センサＳから床旋回アーム１１の振動情報を取得する機能を含む。例えば、情報取得機能Ｆ３は、ｙ軸方向やｖ軸方向（図２に図示）の振動情報を取得する。

電流値取得機能Ｆ４は、情報取得機能Ｆ３によって取得された床旋回アーム１１の振動の相殺振動に対応するアーム側磁石１１１に流す電流値を取得（算出）する機能を含む。なお、アーム側磁石１１１が複数設けられる場合は、複数のアーム側磁石１１１のそれぞれについて電流値を取得する。

電流制御機能Ｆ５は、電流値取得機能Ｆ４によって取得された電流値に従って、アーム側磁石１１１に流す電流を制御する機能を含む。電流制御機能Ｆ５の電流制御による床旋回アーム１１、つまり、撮影装置１０Ａの作用について図４を用いて説明する。

図４（Ａ），（Ｂ）は、アーム側磁石１１１に流す電流の向きによる床旋回アーム１１の作用を説明するための側面図である。図４（Ａ），（Ｂ）は、床旋回アーム１１の下部に設けられる２個のアーム側磁石１１１（１１１Ａ，１１１Ｂ）と、２個のアーム側磁石１１１に対向する位置に設けられる２個のガイド磁石１１２（１１２Ａ，１１２Ｂ）とを示す。また、図４（Ｃ）は、アーム側磁石１１１とガイド磁石１１２とが無い従来技術の場合における床旋回アーム１１の振動の時間変化をグラフとして示す。

図４（Ｃ）のタイミングｔ１において、従来技術では、床旋回アーム１１はｙ軸正方向に変位することになる。そこで、電流制御機能Ｆ５は、タイミングｔ１において、電磁石であるアーム側磁石１１１Ａ，１１１Ｂに、ガイド磁石１１２Ａ，１１２Ｂと反極となるような向きの電流を流す。その場合、図４（Ａ）に示すように、アーム側磁石１１１Ａとガイド磁石１１２Ａとの間と、アーム側磁石１１１Ｂとガイド磁石１１２Ｂとの間とにそれぞれｙ軸負方向の吸着力（引力）が発生する。吸着力の向きは、図４（Ａ）において矢印の向きで示す。それにより、床旋回アーム１１のｙ軸正方向の変位を相殺することができる。

また、図４（Ｃ）のタイミングｔ２において、従来技術では、床旋回アーム１１はｙ軸正方向に変位することになる。そこで、電流制御機能Ｆ５は、タイミングｔ２において、電磁石であるアーム側磁石１１１Ａ，１１１Ｂに、ガイド磁石１１２Ａ，１１２Ｂと同極となるような向きの電流を流す。その場合、図４（Ｂ）に示すように、アーム側磁石１１１Ａとガイド磁石１１２Ａとの間と、アーム側磁石１１１Ｂとガイド磁石１１２Ｂとの間とにそれぞれｙ軸正方向の反発力（斥力）が発生する。反発力の向きは、図４（Ｂ）において矢印の向きで示す。それにより、床旋回アーム１１のｙ軸負方向の変位を相殺することができる。

さらに、図５（Ａ）～（Ｃ）は、アーム側磁石１１１に流す電流の大きさによる床旋回アーム１１の作用を説明するための側面図である。図５（Ａ）～（Ｃ）は、床旋回アーム１１の下部に設けられる２個のアーム側磁石１１１（１１１Ａ，１１１Ｂ）と、２個のアーム側磁石１１１に対向する位置に設けられる２個のガイド磁石１１２（１１２Ａ，１１２Ｂ）とを示す。また、図５（Ｄ）は、アーム側磁石１１１とガイド磁石１１２とが無い従来技術の場合における床旋回アーム１１の振動の時間変化をグラフとして示す。

図５（Ｄ）のタイミングｔ３において、従来技術では、床旋回アーム１１はｙ軸正方向に小さく変位することになる。そこで、電流制御機能Ｆ５は、タイミングｔ３において、電磁石であるアーム側磁石１１１Ａ，１１１Ｂに、ガイド磁石１１２Ａ，１１２Ｂと反極となるような向きの小さな電流を流す（図５（Ａ）に図示）。それにより、床旋回アーム１１のｙ軸負方向の小さい変位を相殺することができる。

また、図５（Ｄ）のタイミングｔ４において、従来技術では、床旋回アーム１１はｙ軸正方向に中程度に変位することになる。そこで、電流制御機能Ｆ５は、タイミングｔ４において、電磁石であるアーム側磁石１１１Ａ，１１１Ｂに、ガイド磁石１１２Ａ，１１２Ｂと反極となるような向きの中程度の電流を流す（図５（Ｂ）に図示）。それにより、床旋回アーム１１のｙ軸負方向の中程度の変位を相殺することができる。

また、図５（Ｄ）のタイミングｔ５において、従来技術では、床旋回アーム１１はｙ軸正方向に大きく変位することになる。そこで、電流制御機能Ｆ５は、タイミングｔ５において、電磁石であるアーム側磁石１１１Ａ，１１１Ｂに、ガイド磁石１１２Ａ，１１２Ｂと反極となるような向きの大きな電流を流す（図５（Ｃ）に図示）。それにより、床旋回アーム１１のｙ軸負方向の大きい変位を相殺することができる。

このように、電流制御機能Ｆ５は、電磁石であるアーム側磁石１１１Ａ，１１１Ｂに、床旋回アーム１１の振動の振幅に応じた大きさの電流を逐次流すことで、図５に示すように、アーム側磁石１１１Ａとガイド磁石１１２Ａとの間と、アーム側磁石１１１Ｂとガイド磁石１１２Ｂとの間とにそれぞれｙ軸方向の吸着力が発生する。吸着力の大きさは、図５（Ａ）～（Ｃ）において矢印の長さで示す。

図４と図５を用いて説明したように、アーム側磁石１１１Ａ，１１１Ｂに流れる電流の向きと大きさとを制御することで、撮影装置１０Ａの見かけの剛性が大きくなる作用を生む。撮影装置１０Ａの剛性が高くなると、次の式（１）より同一荷重に対しｙ軸方向の変位量が少なくなる。これにより、Ｃアーム１５のｙ軸方向の振動を抑制することができる。なお、次の式（１）において、「Ｆ」は荷重であり、「Ｋ」は剛性であり、ｘは、変位量である。
Ｆ＝Ｋｘ …（１）

続いて、床旋回式のＸ線診断装置１Ａの動作について図６を用いて説明する。図６は、床旋回式のＸ線診断装置１Ａの動作をフローチャートとして示す図である。図６において、「ＳＴ」に数字を付した符号はフローチャートの各ステップを示す。

床旋回式のＸ線診断装置１ＡのＸ線撮影機能Ｆ１は、検査オーダに含まれる撮影の目的に応じて、天板２１に載置された患者Ｐに対する撮影装置１０Ａの位置合わせを行うことで、Ｘ線撮影の準備を行う（ステップＳＴ１）。

Ｘ線撮影機能Ｆ１は、Ｘ線のばく射スイッチの押圧に応じて患者ＰにＸ線を照射し、Ｘ線撮影を開始させる（ステップＳＴ２）。ステップＳＴ２により開始されたＸ線撮影によりＸ線画像処理回路３４が生成したＸ線画像データをディスプレイ３６（又は、検査室内のディスプレイ）に表示させる。

移動指示検知機能Ｆ２は、ステップＳＴ２によって開始されたＸ線撮影中に撮影装置１０Ａの移動の開始指示（例えば、撮影装置１０Ａの移動後の位置の指定）を検知したか否かを判断する（ステップＳＴ３）。例えば、撮影装置１０Ａの移動は、床旋回アーム１１の旋回動、Ｃアーム１５の回転動、Ｃアーム１５の円弧動などを含む。ステップＳＴ３の判断にてＮＯ、つまり、Ｘ線撮影中に撮影装置１０Ａの移動の開始指示を検知していないと判断される場合、ステップＳＴ９に進む。

一方で、ステップＳＴ３の判断にてＹＥＳ、つまり、Ｘ線撮影中に撮影装置１０Ａの移動の開始指示を検知したと判断される場合、Ｘ線撮影機能Ｆ１は、移動の内容に従い撮影装置１０Ａを移動させるとともに（ステップＳＴ４）、情報取得機能Ｆ３は、センサＳから床旋回アーム１１の振動情報を取得する（ステップＳＴ５）。

電流値取得機能Ｆ４は、ステップＳＴ５によって取得された床旋回アーム１１の振動の相殺振動に対応するアーム側磁石１１１に流す電流値を取得（算出）する（ステップＳＴ６）。電流制御機能Ｆ５は、ステップＳＴ６によって取得された電流値に従って、アーム側磁石１１１に流す電流を制御する（ステップＳＴ７）。

移動指示検知機能Ｆ２は、ステップＳＴ３によって指示された位置まで撮影装置１０Ａが移動したか、つまり、撮影装置１０Ａの移動を終了するか否かを判断する（ステップＳＴ８）。ステップＳＴ８の判断にてＮＯ、つまり、Ｘ線撮影中に撮影装置１０Ａの移動を終了しないと判断される場合、ステップＳＴ４に戻り、撮影装置１０Ａの移動と床旋回アーム１１の振動情報の取得とを継続する。

一方で、ステップＳＴ８の判断にてＹＥＳ、つまり、Ｘ線撮影中に撮影装置１０Ａの移動を終了すると判断される場合、Ｘ線撮影機能Ｆ１は、ステップＳＴ１によって開始されたＸ線撮影を終了するか否かを判断する（ステップＳＴ９）。ステップＳＴ９の判断にてＮＯ、つまり、Ｘ線撮影を継続すると判断される場合、ステップＳＴ３の判断に戻る。

一方で、ステップＳＴ９の判断にてＹＥＳ、つまり、Ｘ線撮影を終了すると判断される場合、Ｘ線撮影機能Ｆ１は、患者ＰへのＸ線の照射を終了してＸ線撮影を終了させる。

以上説明したように、床旋回式のＸ線診断装置１Ａによれば、センサＳからの振動情報に基づいて、撮影装置１０Ａの移動に伴い振動する床旋回アーム１１に相殺振動を与えることができるので、撮影装置１０Ａの移動に伴うＣアーム１５のｙ軸方向の振動を抑制することができる。

（第１変形例）
上述では、センサＳを用いて床旋回アーム１１の振動をリアルタイムで検知しながら床旋回アーム１１の振動を相殺する相殺振動を与えるものであるが、その場合に限定されるものではない。例えば、メモリ３２に学習済みモデル（又は、シミュレーションデータ）を記憶させておき、電流値取得機能Ｆは、記憶された情報に基づいて、床旋回アーム１１の振動の相殺振動に対応する電流値変動を取得してもよい。その場合について、図７～図１０を用いて説明する。

図７は、第１実施形態に係るＸ線診断装置の第１変形例における構成を示す概略図である。

図７は、Ｘ線診断装置１のうち、第１実施形態に係る床旋回式のＸ線診断装置１Ａの第１変形例を示す。床旋回式のＸ線診断装置１Ａは、撮影装置１０Ａと、寝台装置２０と、画像処理装置３０とを備える。

撮影装置１０Ａは、床旋回アーム１１と、鉛直支持部１２と、Ｃアーム軸回転部１３と、Ｃアーム円弧回転部１４と、Ｃアーム１５と、Ｘ線照射部１６と、Ｘ線検出部１７とを設ける。第１変形例において、撮影装置１０Ａは、センサＳ（図１に図示）を設ける必要はない。

なお、図７において、図１と同一部材には同一符号を付して説明を省略する。

続いて、床旋回式のＸ線診断装置１Ａの第１変形例の機能について図８を用いて説明する。図８は、床旋回式のＸ線診断装置１Ａの第１変形例における機能を示すブロック図である。

画像処理装置３０の処理回路３１は、メモリ３２に記憶された、又は、処理回路３１内に直接組み込まれたコンピュータプログラムを読み出して実行することで、図８に示すように、Ｘ線撮影機能Ｆ１と、移動指示検知機能Ｆ２と、電流制御機能Ｆ５と、電流値取得機能Ｆ６とを実現する。以下、機能Ｆ１，Ｆ２，Ｆ５，Ｆ６がコンピュータプログラムの実行によりソフトウェア的に機能する場合を例に挙げて説明するが、機能Ｆ１，Ｆ２，Ｆ５，Ｆ６の全部又は一部は、ＡＳＩＣなどの回路により実現されてもよい。

電流値取得機能Ｆ６は、移動指示検知機能Ｆ２による移動指示に基づいて、メモリ３２に記憶された学習済みモデルなどの情報から、床旋回アーム１１の振動の相殺振動に対応するアーム側磁石１１１に流す電流値を取得する機能を含む。なお、アーム側磁石１１１が複数設けられる場合は、複数のアーム側磁石１１１のそれぞれについて電流値を取得する。

ここで、電流値取得機能Ｆ６は、撮影装置１０Ａの移動前の位置と移動後の位置との組に基づいて、床旋回アーム１１の振動の相殺振動に対応するアーム側磁石１１１に流す電流値変動を取得する処理を行う。この処理には、例えば、撮影装置１０Ａの移動前及び移動後の位置の組とアーム側磁石１１１に流す電流値変動とを関連付けたルックアップテーブル（ＬＵＴ）が用いられる。また、この処理には、機械学習が用いられる。機械学習としてＣＮＮ（畳み込みニューラルネットワーク）や畳み込み深層信念ネットワーク（ＣＤＢＮ：Convolutional Deep Belief Network）等の、多層のニューラルネットワークを用いた深層学習が用いられる。

ここでは、電流値取得機能Ｆ６がニューラルネットワークＮａを含み、深層学習を用いて、撮影装置１０Ａの移動前の位置と移動後の位置との組に基づいて、電流値変動を取得する場合の例を示す。つまり、電流値取得機能Ｆ６は、撮影装置１０Ａの移動前の位置と移動後の位置との組に基づいて電流値変動を取得するための学習済みモデルに対して、撮影装置１０Ａの移動前の位置と移動後の位置との組を入力することで、アーム側磁石１１１に流すべき電流値変動を取得する。

図９は、学習時におけるデータフローの一例を示す説明図である。

電流値取得機能Ｆ６は、トレーニングデータが多数入力されて学習を行うことにより、パラメータデータＰａを逐次的に更新する。トレーニングデータは、トレーニング入力データとしての撮影装置１０Ａの移動前の位置と移動後の位置の組Ｇ１，Ｇ２，Ｇ３，…と、アーム側磁石１１１に流す電流値変動Ｈ１，Ｈ２，Ｈ３，…との組みからなる。撮影装置１０Ａの移動前の位置と移動後の位置の組Ｇ１，Ｇ２，Ｇ３，…は、トレーニング入力データ群Ｇを構成する。撮影装置１０Ａの移動前の位置と移動後の位置の組Ｇ１，Ｇ２，Ｇ３，…の位置は、床旋回アーム１１の旋回動の方向における位置（角度）や、Ｃアーム１５の回転動の方向における位置（角度）や、Ｃアーム１５の円弧動の方向における位置（角度）などからなる。電流値変動Ｈ１，Ｈ２，Ｈ３，…は、トレーニング出力データ群Ｈを構成する。電流値変動Ｈ１，Ｈ２，Ｈ３，…はそれぞれ、対応する撮影装置１０Ａの移動前の位置と移動後の位置の組Ｇ１，Ｇ２，Ｇ３，…に関する電流値変動（又は、振動情報）である。

電流値取得機能Ｆ６は、トレーニングデータが入力されるごとに、撮影装置１０Ａの移動前の位置と移動後の位置の組Ｇ１，Ｇ２，Ｇ３，…をニューラルネットワークＮａで処理した結果が電流値変動Ｈ１，Ｈ２，Ｈ３，…に近づくようにパラメータデータＰａを更新していく、いわゆる学習を行う。一般に、パラメータデータＰａの変化割合が閾値以内に収束すると、学習は終了と判断される。以下、学習後のパラメータデータＰａを特に学習済みパラメータデータＰａ´という。

図１０は、運用時におけるデータフローの一例を示す説明図である。

運用時には、電流値取得機能Ｆ６は、撮影装置１０Ａの移動前の位置と移動後の位置の組Ｇ´を入力し、学習済みパラメータデータＰａ´を用いて、アーム側磁石１１１に流す電流値変動を出力する。

なお、ニューラルネットワークＮａと学習済みパラメータデータＰａ´は、学習済みモデル３１ａを構成する。ニューラルネットワークＮａは、プログラムの形態でメモリ３２に記憶される。学習済みパラメータデータＰａ´は、メモリ３２に記憶されてもよいし、ネットワークを介してＸ線診断装置１に接続された記憶媒体（図示省略）に記憶されてもよい。この場合、処理回路３１のプロセッサにより実現される電流値取得機能Ｆ６は、メモリ３２から学習済みモデル３１ａを読み出して実行することで、撮影装置１０Ａの移動前の位置と移動後の位置の組に基づいて、電流値変動を取得する。なお、学習済みモデル３１ａは、ＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）、ＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array）等の集積回路によって構築されてもよい。

そして、電流制御機能Ｆ５は、電流値取得機能Ｆ４によって取得された電流値変動に従って、アーム側磁石１１１に流す電流を制御する。

以上説明したように、床旋回式のＸ線診断装置１Ａの第１変形例によれば、予め決定された情報（例えば、学習済みモデル）に基づいて、撮影装置１０Ａの移動に伴い振動する床旋回アーム１１に相殺振動を与えることができるので、撮影装置１０Ａの移動に伴うＣアーム１５の振動を抑制することができる。

（第２変形例）
上述では、床旋回アーム１１の振動を検知して床旋回アーム１１の振動を相殺する相殺振動を与えるものであるが、その場合に限定されるものではない。例えば、床旋回アーム１１のねじれを検知して床旋回アーム１１のねじれを相殺するものであってもよい。その場合について図１１を用いて説明する。

図１１は、アーム側磁石１１１に流す電流の向きによる床旋回アーム１１の作用を説明するための側面図である。図１１は、床旋回アーム１１の下部に設けられる２個のアーム側磁石１１１（１１１Ａ，１１１Ｂ）と、２個のアーム側磁石１１１に対向する位置に設けられる２個のガイド磁石１１２（１１２Ａ，１１２Ｂ）とを示す。

情報取得機能Ｆ３は、センサＳから床旋回アーム１１のねじれ情報を取得する機能を含む。ここで、センサＳは位置センサであり、複数設けられる。情報取得機能Ｆ３は、床旋回アーム１１に取り付けられた複数の位置センサの位置情報を比較することで、床旋回アーム１１のねじれ情報を取得することができる。

電流値取得機能Ｆ４は、情報取得機能Ｆ３によって取得された床旋回アーム１１のねじれを相殺する相殺ねじれに対応するアーム側磁石１１１に流す電流値を取得（算出）する機能を含む。なお、アーム側磁石１１１が複数設けられる場合は、複数のアーム側磁石１１１のそれぞれについて電流値を取得する。

電流制御機能Ｆ５は、電磁石であるアーム側磁石１１１Ａに、ガイド磁石１１２Ａと同極となるような向きの電流を流すとともに、電磁石であるアーム側磁石１１１Ｂに、ガイド磁石１１２Ｂと反極となるような向きの電流を流す。その場合、図１１に示すように、アーム側磁石１１１Ａとガイド磁石１１２Ａとの間にｙ軸方向の反発力が発生するとともに、アーム側磁石１１１Ｂとガイド磁石１１２Ｂとの間にｙ軸方向の吸引力が発生する。また、電流の向きに加えアーム側磁石１１１Ａ，１１１Ｂに流れる電流の大きさを制御することで、撮影装置１０Ａの、ｕ軸を中心とする回転方向のねじれを抑制することができる。

以上説明したように、床旋回式のＸ線診断装置１Ａの第２変形例によれば、撮影装置１０Ａのねじれを相殺することができる。

（第３変形例）
第３変形例は、ｙ軸方向の振動ではなく、床旋回アーム１１の旋回方向（ｖ軸方向）の振動を抑制するものである。
図１２は、アーム側磁石１１１に流す電流の向きによる床旋回アーム１１の作用を説明するための側面図である。図１２は、床旋回アーム１１の下部に設けられる３個のアーム側磁石１１１（１１１Ａ，１１１Ｂ，１１１Ｃ）と、３個のアーム側磁石１１１に対向する位置に設けられる２個のガイド磁石１１２（１１２Ａ，１１２Ｂ）とを示す。つまり、床旋回アーム１１に設けられるアーム側磁石１１１の個数は、対向するガイド磁石１１２の個数よりも多く配置される。

情報取得機能Ｆ３は、センサＳから床旋回アーム１１のｖ軸方向の振動情報を取得する機能を含む。電流値取得機能Ｆ４は、情報取得機能Ｆ３によって取得された床旋回アーム１１のｖ軸方向の振動を相殺する相殺振動に対応するアーム側磁石１１１に流す電流値を取得（算出）する機能を含む。

電流制御機能Ｆ５は、電磁石である真中のアーム側磁石１１１Ｂに、ガイド磁石１１２Ａと同極となるような向き、かつ、ガイド磁石１１２Ｂと反極となるような向きの電流を流す（ガイド磁石１１２Ａとガイド磁石１１２Ｂとは反極）。その場合、図１２に示すように、アーム側磁石１１１Ｂとガイド磁石１１２Ａとの間にｖ軸正方向の成分を含む反発力が発生するとともに、アーム側磁石１１１Ｂとガイド磁石１１２Ｂとの間にｖ軸正方向の成分を含む吸着力が発生する。これにより、床旋回アーム１１のｖ軸正方向の変位を生じる。なお、ガイド磁石１１２Ａとの間でアーム側磁石１１１Ｂに発生する反発力のｙ軸正方向の成分は、ガイド磁石１１２Ｂとの間でアーム側磁石１１１Ｂに発生する吸着力のｙ軸負方向の成分でほぼ相殺される。また、電流の向きに加えアーム側磁石１１１Ｂに流れる電流の大きさを制御することで、撮影装置１０Ａの、ｙ軸を中心とする旋回方向の振動を抑制することができる。

以上説明したように、床旋回式のＸ線診断装置１Ａの第３変形例によれば、撮影装置１０Ａの移動に伴うＣアーム１５のｖ軸方向の振動を相殺することができる。なお、端のアーム側磁石１１１Ａ，１１１Ｃにそれぞれ所定の向き及び大きさの電流を流すことで、上述したように、床旋回アーム１１、つまり、Ｃアーム１５のｙ軸方向の振動やねじれを相殺することもできる。

（第２実施形態）
図１３は、Ｘ線診断装置１のうち、第２実施形態に係る吊下げ式のＸ線診断装置１Ｂを示す。吊下げ式のＸ線診断装置１Ｂは、撮影装置１０Ｂと、寝台装置２０（図示省略）と、画像処理装置３０（図示省略）とを備える。撮影装置１０Ｂは、検査室内に設置される。

撮影装置１０Ａは、台車１８と、回転部（図示省略）と、鉛直支持部１９と、Ｃアーム軸回転部１３と、Ｃアーム円弧回転部１４と、Ｃアーム１５と、Ｘ線照射部１６と、Ｘ線検出部１７と、センサＳとを設ける。

台車１８は、天井レールに支持され、天井レール上を走行可能である。鉛直支持部１９は、回転部を介して台車１８に支持される。鉛直支持部１９は、回転部によりｙ軸に平行な軸Ｄ３を中心として台車１８に対して回転可能である。鉛直支持部１９は、画像処理装置３０による制御又は手動操作によって、軸Ｄ３を中心とする移動、つまり、回転動を行うことができる。

Ｃアーム軸回転部１３は、鉛直支持部１９に支持され、ｘｚ平面上の軸Ｄ２（図１３ではｘ軸に平行な軸を例示）を中心として回転可能である。Ｃアーム軸回転部１３は、画像処理装置３０による制御又は手動操作によって、軸Ｄ２を中心とする移動、つまり、回転動を行うことができる。

センサＳは、鉛直支持部１９に取り付けられる。なお、第１変形例で上述したように、センサＳは必須の構成ではない。

なお、図１３において、図１と同一部材には同一符号を付して説明を省略する。

図１４は、Ｘ線診断装置１Ｂに備えられる撮影装置１０Ｂのガイド磁石１１２の配置について説明するための図である。

図１４に示すように、ガイド磁石１１２は、鉛直支持部１９の回転動に応じたアーム側磁石１１１の軌道Ｒ２に対向する台車１８の位置に複数個埋め込まれる。軌道Ｒ２に対向する台車１８の位置にガイド磁石１１２を複数個埋め込むことで、鉛直支持部１９が軸Ｄ３を中心とする回転方向のどの角度に位置していても、磁石１１１，１１２間に吸着力又は反発力を発生させることができる。なお、鉛直支持部１９をｘｚ平面に投影した場合の長軸方向をｕ軸方向と定義し、ｕ軸方向とｙ軸方向とに直交する方向をｖ軸方向と定義する。図１４において、ｘｙｚ座標系におけるｘ軸がｕ軸と平行でありｚ軸がｖ軸と平行な場合について図示するが、鉛直支持部１９が台車１８に対して回転するとｘｚ平面においてｕ軸とｖ軸は回転する。

なお、吊下げ式のＸ線診断装置１Ｂの機能について、図３に示す床旋回式のＸ線診断装置１Ａの機能と同等であるので、説明を省略する。床旋回式のＸ線診断装置１Ａの床旋回アーム１１の振動を、鉛直支持部１９の振動に読み替えればよい。また、上述の第１～第３変形例は吊下げ式のＸ線診断装置１Ｂに対しても適用することができる。

以上説明したように、吊下げ式のＸ線診断装置１Ｂによれば、センサＳからの振動情報（又は、予め決定された情報）に基づいて、撮影装置１０Ｂの移動に伴い振動する鉛直支持部１９に相殺振動を与えることができるので、撮影装置１０Ｂの移動に伴うＣアーム１５の振動を抑制することができる。

（第３実施形態）
図１５は、Ｘ線診断装置１のうち、第３実施形態に係る吊下げ式のＸ線診断装置１Ｃを示す。吊下げ式のＸ線診断装置１Ｃは、撮影装置１０Ｃと、寝台装置２０（図示省略）と、画像処理装置３０（図示省略）とを備える。撮影装置１０Ｃは、検査室内に設置される。

撮影装置１０Ｃは、台車１８と、鉛直支持部１９と、Ｃアーム軸回転部１３と、Ｃアーム円弧回転部１４と、Ｃアーム１５と、Ｘ線照射部１６と、Ｘ線検出部１７と、センサＳとを設ける。

センサＳは、台車１８に取り付けられる。なお、第１変形例で上述したように、センサＳは必須の構成ではない。

なお、図１５において、図１及び図１３と同一部材には同一符号を付して説明を省略する。

図１６は、Ｘ線診断装置１Ｃに備えられる撮影装置１０Ｃのガイド磁石１１２の配置について説明するための図である。

図１６に示すように、ガイド磁石１１２は、台車１８の走行に応じた台車１８の軌道Ｒ３に対向する天井の位置に複数個埋め込まれる。軌道Ｒ３に対向する天井の位置にガイド磁石１１２を複数個埋め込むことで、台車１８が走行方向のどこに位置していても、磁石１１１，１１２間に吸着力又は反発力を発生させることができる。なお、台車１８が走行する方向をｕ軸方向と定義し、ｕ軸方向とｙ軸方向とに直交する方向をｖ軸方向と定義する。図１６において、台車１８が天井に対して回転しないのでｘｚ平面においてｕ軸とｖ軸は回転しない。つまり、ｘｙｚ座標系におけるｘ軸がｕ軸と平行でありｚ軸がｖ軸と平行である。

なお、吊下げ式のＸ線診断装置１Ｃの機能について、図３に示す床旋回式のＸ線診断装置１Ａの機能と同等であるので、説明を省略する。床旋回式のＸ線診断装置１Ａの床旋回アーム１１の振動を、台車１８の振動に読み替えればよい。また、上述の第１～第３変形例は吊下げ式のＸ線診断装置１Ｃに対しても適用することができる。

以上説明したように、吊下げ式のＸ線診断装置１Ｃによれば、センサＳからの振動情報（又は、予め決定された情報）に基づいて、撮影装置１０Ｃの移動に伴い振動する台車１８に相殺振動を与えることができるので、撮影装置１０Ｃの移動に伴うＣアーム１５の振動を抑制することができる。

以上説明した少なくとも１つの実施形態によれば、撮影装置１０Ａの移動に伴うＣアーム１５の振動を抑制することができる。

なお、Ｘ線撮影機能Ｆ１は、Ｘ線撮影部の一例である。移動指示検知機能Ｆ２は、移動指示検知部の一例である。情報取得機能Ｆ３は、情報取得部の一例である。電流値取得機能Ｆ４，Ｆ６は、電流値取得部の一例である。電流制御機能Ｆ５は、電流制御部の一例である。

いくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更、実施形態同士の組み合わせ、実施形態と１又は複数の第１変形例との組み合わせを行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。

１…Ｘ線診断装置
１…Ｘ線診断装置
１Ａ…床旋回式のＸ線診断装置
１Ｂ，１Ｃ…吊下げ式のＸ線診断装置
１０Ａ，１０Ｂ，１０Ｃ…撮影装置
１１…床旋回アーム
１１１，１１１Ａ，１１１Ｂ…アーム側磁石
１１２，１１２Ａ，１１２Ｂ…ガイド磁石
１２…鉛直支持部
１５…Ｃアーム
３０…画像処理装置
３１…処理回路
Ｆ１…Ｘ線撮影機能
Ｆ２…移動指示検知機能
Ｆ３…情報取得機能
Ｆ４，Ｆ６…電流値取得機能
Ｆ５…電流制御機能

Claims (11)

1. 床に支持される床旋回アームと、
   前記床旋回アームに支持され、Ｘ線照射部及びＸ線検出器を保持するＣアームと、
   前記床旋回アームに設けられる電磁石と、
   前記電磁石に対向する床下の位置に設けられる磁石と、
   前記電磁石に流す電流を制御する電流制御部と、
   を備えるＸ線診断装置。
2. 前記電磁石は第１の電磁石であり、前記磁石は第２の電磁石である、
   請求項１に記載のＸ線診断装置。
3. 前記床旋回アームの振動情報を取得する情報取得部、
   をさらに備え、
   前記電流制御部は、前記情報取得部によって取得された前記床旋回アームの鉛直方向又は旋回方向の振動を相殺するように前記電磁石に流す電流の向きを制御する、
   請求項１又は２に記載のＸ線診断装置。
4. 前記床旋回アームの振動情報を取得する情報取得部と、
   前記情報取得部によって取得された前記床旋回アームの振動の相殺振動に対応する前記電磁石に流す電流値を取得する電流値取得部と、
   をさらに備え、
   前記電流制御部は、前記電流値取得部によって取得された電流値に従って、前記電磁石に流す電流を制御する、
   請求項１又は２に記載のＸ線診断装置。
5. 前記床旋回アームと、前記Ｃアームとを備える撮影装置の移動前の位置と移動後の位置との組に基づいて、前記床旋回アームの振動の相殺振動に対応する前記電磁石に流す電流値変動を生成する学習済みモデルに対して、前記撮影装置の移動前の位置と移動後の位置との組を入力することで、前記電磁石に流す電流値変動を取得する電流値取得部
   をさらに備え、
   前記電流制御部は、前記電流値取得部によって取得された電流値変動に従って、前記電磁石に流す電流を制御する、
   請求項１又は２に記載のＸ線診断装置。
6. 前記電磁石と前記磁石はいずれも複数である、
   請求項１又は２に記載のＸ線診断装置。
7. 前記床旋回アームに設けられた前記電磁石の個数は、対向する位置の前記磁石の個数よりも多く配置される、
   請求項１又は２に記載のＸ線診断装置。
8. 前記床旋回アームのねじれ情報を取得する情報取得部と、
   前記情報取得部によって取得された前記床旋回アームのねじれの相殺ねじれに対応する前記電磁石に流す電流値を取得する電流値取得部と、
   をさらに備え、
   前記電流制御部は、前記電流値取得部によって取得された電流値に従って、前記電磁石に流す電流を制御する、
   請求項７に記載のＸ線診断装置。
9. 床に支持される床旋回アームと、
   前記床旋回アームに支持され、Ｘ線照射部及びＸ線検出器を保持するＣアームと、
   床下に設けられる電磁石と、
   前記電磁石に対向する前記床旋回アームの位置に設けられる磁石と、
   前記電磁石に流す電流を制御する電流制御部と、
   を備えるＸ線診断装置。
10. 天井レールを走行する台車と、
    前記台車に支持される鉛直支持部と、
    前記鉛直支持部に支持され、Ｘ線照射部及びＸ線検出器を保持するＣアームと、
    前記鉛直支持部に設けられる電磁石と、
    前記電磁石に対向する前記台車の位置に設けられる磁石と、
    前記電磁石に流す電流を制御する電流制御部と、
    を備えるＸ線診断装置。
11. 天井レールを走行する台車と、
    前記台車に支持される鉛直支持部と、
    前記鉛直支持部に支持され、Ｘ線照射部及びＸ線検出器を保持するＣアームと、
    前記台車に設けられる電磁石と、
    前記電磁石に対向する天井の位置に設けられる磁石と、
    前記電磁石に流す電流を制御する電流制御部と、
    を備えるＸ線診断装置。

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