JP2023141542A - 射出成形管理システム - Google Patents

Abstract

【課題】射出成形において発生する不良の要因を総合的に判断して対策を打つことのできる技術を提供する。【解決手段】射出成形管理システムは、成形品を識別するための成形品識別情報を取得する識別情報取得部と、成形品が不良品に該当する場合、成形品の不良の分類を表す第１不良分類情報と、成形品の第１不良分類情報とは異なる不良の分類を表す第２不良分類情報と、を取得する不良分類取得部と、第１不良分類情報および第２不良分類情報を、成形品の成形品識別情報と関連付けて記憶する記憶部と、を備える。【選択図】図１

Description

本開示は、射出成形管理システムに関する。

射出成形管理システムに関し、特許文献１には、ユーザーが、ヤケやショート、ヒケといった不良分類を選択ボタンで選択することで不良分類情報とショット番号とを対応付けて記憶し、不良分類情報と不良発生個所情報とに基づいて、不良数を金型における位置ごとにグラフ表示することが開示されている。

特開２０１４－６９３８２号公報

特許文献１に記載されたグラフ表示によれば、ユーザーは、金型の各位置における不良の発生件数を視覚的に確認することができる。従来、この種の技術において、射出成形において発生する不良の要因を総合的に判断して対策を打つことのできる技術が求められている。

本開示の一形態によれば、成形品の射出成形管理システムが提供される。この射出成形管理システムは、成形品を識別するための成形品識別情報を取得する識別情報取得部と、前記成形品が不良品に該当する場合、前記成形品の不良の分類を表す第１不良分類情報と、前記成形品の前記第１不良分類情報とは異なる不良の分類を表す第２不良分類情報と、を取得する不良分類取得部と、前記第１不良分類情報および前記第２不良分類情報を、前記成形品の前記成形品識別情報と関連付けて記憶する記憶部と、を備える。

射出成形管理システムの概略構成を示す説明図である。 不良情報データベースの一例を示す図である。 処理部によって実行される集計処理のフローチャートである。 不良件数情報の集計結果の例を示す図である。 不良件数の集計結果がグラフによって表示された例を示す図である。 不良件数の集計結果の他の表示例を示す図である。 不良件数の集計結果の他の表示例を示す図である。 不良件数の集計結果の他の表示例を示す図である。 不良件数の集計結果の他の表示例を示す図である。 代表不良分類情報を特定するための入力画面を示す図である。 不良発生箇所情報および不良分類情報の入力画面の例を示す図である。

Ａ．第１実施形態：
図１は、第１実施形態における射出成形管理システム１０の概略構成を示す説明図である。本実施形態における射出成形管理システム１０は、射出成形機１００と、材料乾燥機２００と、検査装置３００と、端末装置４００と、管理装置５００とを備えている。管理装置５００は、射出成形機１００、材料乾燥機２００、検査装置３００、および、端末装置４００と通信可能に接続されている。本実施形態では、管理装置５００は、これらの装置とネットワークＮＴを介して相互に通信可能に構成されている。ネットワークＮＴは、例えば、ＬＡＮであってもよいし、ＷＡＮであってもよいし、インターネットであってもよい。射出成形機１００と材料乾燥機２００と検査装置３００とは、これらが、例えば同一の筐体あるいは連結された筐体に配置され、一体的に組み合わせられることにより、射出成形ユニットとして構成されてもよい。

射出成形機１００は、射出成形を行う装置である。射出成形機１００は、第１制御部１１０と、それぞれ図示しない射出装置と型締装置を備えている。型締装置には、キャビティーを有する成形型が装着される。成形型は、金属製でもよいし、セラミック製でもよいし、樹脂製でもよい。金属製の成形型のことを金型と呼ぶ。第１制御部１１０は、１つまたは複数のプロセッサーと、記憶装置と、外部との信号の入出力を行う入出力インターフェイスとを備えるコンピューターによって構成されている。第１制御部１１０は、複数のコンピューターによって構成されてもよい。材料乾燥機２００の第２制御部２１０、および、検査装置３００の第３制御部３１０についても、第１制御部１１０と同様の構成である。

第１制御部１１０は、射出成形機１００の各部を制御して射出成形を行い、成形品を成形する。より具体的には、第１制御部１１０は、型締装置を制御して成形型を型締めし、射出装置を制御して材料を可塑化して成形型に射出することによって、成形型に設けられたキャビティーの形状に応じた形状を有する成形品を成形する。成形された成形品は、図示していない取り出しロボット等の搬送装置によって検査装置３００に搬送される。

第１制御部１１０は、射出成形に関する物理量を表す物理量情報を管理装置５００に送信する。物理量情報には、射出成形機１００に備えられた各種センサーによって計測された計測値と、射出成形に関する各種指令値とが含まれる。指令値は、例えば、射出充填時間や射出圧力、設定温度など、射出成形機１００に設定される値であり、計測値は、これらの実際の値をセンサーによって計測した値である。

材料乾燥機２００は、射出成形機１００に供給する材料を乾燥させる装置である。材料乾燥機２００は、第２制御部２１０と、それぞれ図示していない加熱器と乾燥ホッパーとを備える。材料乾燥機２００は、空気中の水分を吸湿剤によって除去し、その乾燥空気を加熱器によって加熱して乾燥ホッパーに送り込み、乾燥ホッパー内に貯留された材料を乾燥させる。乾燥させた材料は、図示していない圧送ポンプによって射出成形機１００に圧送される。第２制御部２１０は、加熱器による乾燥温度や、加熱ホッパーに送り込む乾燥空気の風量を制御する。

検査装置３００は、画像検査を行う装置である。検査装置３００は、第３制御部３１０とカメラとによって構成される。第３制御部３１０は、カメラを制御して成形品を撮像し、撮像した成形品を画像解析することによって、成形品の外観検査を行う。この外観検査により、例えば、バリ、ヒケ、ヤケ、クモリ、といった、成形品の不良が検査される。本実施形態の検査装置３００は、成形品を一方向から撮影し、撮影された一枚の画像から、複数種類の不良を検査することができる。第３制御部３１０は、成形品毎に、成形品の検査結果を表す検査情報を管理装置５００に送信する。検査情報には、成形品の不良の種類を表す不良分類情報が含まれる。

端末装置４００は、ＣＰＵと記憶装置と表示部４５０とを備えるコンピューターとして構成されている。端末装置４００としては、例えば、タブレット端末やノート型パソコン、スマートフォン、ハンディターミナルを適用できる。本実施形態では、表示部４５０にタッチパネル機能が備えられている。表示部４５０には、管理装置５００から出力された各種の画面が表示される。なお、他の実施形態では、表示部４５０は、管理装置５００に備えられてもよい。

管理装置５００は、処理部５０１と記憶部５０２と通信制御部５０３とを備えるコンピューターによって構成されている。処理部５０１は、１つ又は複数のプロセッサーおよび主記憶装置を備えている。記憶部５０２は、ハードディスクドライブなどの補助記憶装置により構成される。通信制御部５０３は、射出成形機１００や材料乾燥機２００、検査装置３００、端末装置４００などの他の装置との通信を制御するための通信回路を備えている。

処理部５０１は、識別情報取得部５１０と、不良分類取得部５２０と、演算部５３０とを備える。識別情報取得部５１０と、不良分類取得部５２０と、演算部５３０とは、処理部５０１が記憶部５０２に記憶されたプログラムを実行することによって実現される。なお、これらは回路によって実現されてもよい。

識別情報取得部５１０は、成形品を識別するための成形品識別情報を取得する。成形品識別情報は、例えば、ロット番号とショット番号の組合せによって構成される。本実施形態において、識別情報取得部５１０は、検査装置３００から、検査が行われた成形品の成形品識別情報を取得する。識別情報取得部５１０は、成形品識別情報を射出成形機１００から取得してもよい。

不良分類取得部５２０は、成形品が不良品に該当する場合、成形品の不良の分類を表す不良分類情報を取得する。不良分類情報とは、例えば、バリ、ヒケ、ヤケ、クモリ、といった不良の分類を表す。本実施形態において、不良分類取得部５２０は、検査装置３００から、不良分類情報を含む検査情報を取得する。上記のように、本実施形態の検査装置３００は、１枚の画像から複数種類の不良を検査することができる。そのため、不良分類取得部５２０は、１つの成形品に対して、検査装置３００から複数種類の不良分類情報を取得可能である。複数種類の不良分類情報には、成形品の不良の分類を表す第１不良分類情報と、第１不良分類情報とは異なる不良の分類を表す第２不良分類情報と、が含まれる。

演算部５３０は、集計単位毎に、不良分類取得部５２０が取得した不良分類の集計を行う。例えば、不良分類取得部５２０が、第１不良分類情報と第２不良分類情報とを取得した場合、演算部５３０は、集計単位毎に第１不良分類情報を集計した第１不良件数情報と、集計単位毎に第２不良分類情報を集計した第２不良件数情報と、を算出する。集計単位とは、年単位、月単位、週単位、日単位、時間単位、ロット単位、箱単位、トレイ単位、金型の取り個数単位、成形品種別単位など、成形品が製造されるひとまとまりの単位である。集計単位は、予め定められていてもよいし、ユーザーが任意に指定してもよい。演算部５３０によって算出された不良件数情報は、端末装置４００に出力され、表示部４５０に表示される。

記憶部５０２には、不良情報データベースＤＢが記憶されている。不良情報データベースＤＢには、識別情報取得部５１０によって取得された成形品識別情報と、不良分類取得部５２０が取得した不良分類情報とが関連付けて記録される。不良分類取得部５２０が、複数の不良分類情報、例えば、第１不良分類情報と第２不良分類情報とを取得した場合、不良情報データベースＤＢには、第１不良分類情報および第２不良分類情報が、成形品識別情報と関連付けて記録される。

図２は、不良情報データベースＤＢの一例を示す図である。本実施形態における不良情報データベースＤＢには、検査装置３００において検査が行われた検査日時と、検査が行われた成形品の名称と、ロット番号と、ショット番号と、バリ、ヒケ、ヤケ、クモリのそれぞれの検査結果とが関連付けて記録されている。ロット番号とショット番号の組合せが、成形品識別情報に相当し、バリ、ヒケ、ヤケ、クモリのそれぞれの検査結果が、不良分類情報に相当する。

図３は、処理部５０１によって実行される集計処理のフローチャートである。この集計処理は、表示部４５０に不良件数情報を表示するための処理である。

ステップＳ１０において、処理部５０１の識別情報取得部５１０は、検査装置３００から成形品識別情報を取得する。

ステップＳ１２において、処理部５０１の不良分類取得部５２０は、検査装置３００から不良分類情報を取得する。

ステップＳ１４において、処理部５０１は、ステップＳ１０で取得した成形品識別情報と、ステップＳ１２で取得した不良分類情報とを関連付けて記憶部５０２の不良情報データベースＤＢに記録する。

ステップＳ１６において、処理部５０１の演算部５３０は、集計単位毎にそれぞれの不良分類情報を集計して不良件数情報を算出する。

図４は、不良件数情報の集計結果の例を示す図である。図４には、ロットを集計単位として、不良分類情報を集計した結果を示している。図４に示した例では、ロット番号に対して、そのロットにおける成形品の良品数、成形品の不良数、および、不良件数情報が対応付けられている。不良件数情報には、各ロットにおける各不良分類の件数がそれぞれ集計されて記録されている。

図３のステップＳ１８において、処理部５０１は、ステップＳ１６で集計単位毎に集計された不良件数情報を端末装置４００に送信する。端末装置４００は、受信した情報を表示部４５０に表示する。本実施形態において、管理装置５００は、図４に示した集計結果を、表示部４５０にグラフ表示させる。なお、表示部４５０は、図４に示した集計結果の表をグラフとともに表示してもよい。

図５は、不良件数の集計結果がグラフによって表示された例を示す図である。図５において、「不良数」と示した棒グラフは、各ロットの不良数の合計を示している。図５では、ロット１～３の各ロットにおいて、２件ずつ、不良が発生していることが表されている。「不良Ａ」と示した棒グラフは、不良分類が「不良Ａ」である不良の件数が、ロット２で２件発生していることを表している。「不良Ｂ」と示した棒グラフは、不良分類が「不良Ｂ」である不良の件数が、ロット１で２件、ロット３で１件発生していることを表している。「不良Ｃ」と示した棒グラフは、不良分類が「不良Ｃ」である不良の件数が、ロット１で１件、ロット３で２件発生していることを表している。本実施形態では、１つの成形品に対して、１または２以上の不良分類が関連付けて不良情報データベースＤＢに記録される。つまり、１つの成形品に対して異なる不良分類が関連付けられる。そのため、各ロットにおける不良Ａ、不良Ｂ、不良Ｃの各件数の合計値と、不良数とは一致しない。

図５に示したグラフからは、次のようなことが読み取れる。
（１）不良数が同じであっても、複数種類の異なる不良が存在する。
（２）不良Ｂと不良Ｃは同時に発生することが多い。そのため、ひとつの対策で不良Ｂ・不良Ｃの両方の不良数が減少した場合、原因が同じであったことがわかる。また、そのような検証に有用である。
（３）不良原因が異なる場合、不良数のグラフだけでは見かけ上は改善せず対策の効果が無かったように見える場合があるが、図５に示したグラフであれば、ロット１とロット３とで不良Ｃの数は増加したものの、不良Ｂは減少しているため、その対策は、不良Ｂに対しては効果があったということが読み取れる。
（４）不良Ａとその他の不良は同時に発生しておらず、原因が異なる可能性がある。そのため、不良のモードや発生原因が異なるため、全ての不良数を改善するためには複数の対策が必要であることが事前にわかる。この結果、事前に複数の対策を立案し、計画的な対策活動が可能となる。

図６～９は、不良件数の集計結果の他の表示例を示す図である。図６には、各ロットにおける不良Ａ～Ｃのそれぞれの件数が積み上げグラフによって表示された例を示している。図７には、各ロットにおける不良Ａ～Ｃのそれぞれの件数が、横並びの棒グラフによって表示された例を示している。図８には、各ロットにおける不良Ａ～Ｃのそれぞれの割合が１００％積み上げ棒グラフによって表示された例を示している。図９には、不良分類毎の、各ロットにおける件数が横並びの棒グラフによって表されている。これらのグラフを図５に示したグラフとともに、あるいは図５に示したグラフに代えて表示することによっても、ユーザーに有用な情報を提供することが可能である。

以上で説明した本実施形態の射出成形管理システム１０によれば、複数種類の不良分類情報を成形品識別情報と関連付けて記憶することで、ユーザーが１つの成形品に存在する複数の不良を総合的に判断して対策を打つことが可能になる。そのため、工場全体の不良を低減することができる。また、本実施形態では、ロットなどの集計単位毎に、複数種類の不良分類情報をそれぞれ集計して表示するため、ユーザーは、その集計単位において発生した複数種類の不良を容易に認識できる。

ここで、１つの成形品に対して１つの不良分類ではなく、１つの成形品に対して複数種類の不良分類を関連付けることの利点を説明する。例えば、不良Ａ（例えば、反り）が１５件、不良Ｂ（例えば、強度不足）が５件、不良Ｃ（例えば、ヤケ）が１件、不良Ｄ（例えば、気泡）が１件、不良Ｅ（例えば、ヒケ）が１件検出されたとする。この場合、ユーザーはこの検出結果から費用対効果の高い反りと強度不足の２つの不良に対して対策を検討し、「射出圧力の低減、射出時間の低減、シリンダー温度の上昇」する方向に変更した成形条件によって次回のロットから生産を再開する場合がある。しかしながら、１つの成形品に１つだけではなく複数種類の不良が含まれていることが多々ある。例えば、強度不足や反りが発生している不良品に気泡の不良が含まれている場合、「射出圧力の低減、射出時間の低減、シリンダー温度の上昇」する方向に成形条件を変更すると気泡が発生しやすくなり、強度が必要な個所に気泡が発生して強度不足の不良件数が増加することや気泡の不良件数が増加する等、かえって不良品数が増加するおそれがある。そのため、１つの成形品に対して１つの不良分類を関連付けるだけでは、ユーザーが、適切な対策を打つことが難しいという問題がある。これに対して、本実施形態では、１つの成形品に対して複数種類の不良分類を関連付けることができるので、他の代表的な不良で隠れていた不良（例えば、気泡）の件数が、１つの成形品に対して１つの不良分類を関連付けた場合の集計結果よりも多くなる。そのため、ユーザーは反りと強度不足だけでなく、気泡についても考慮して、「金型温度の上昇、射出速度の上昇」する方向に成形条件を変更して次回のロットから生産を再開することができる。この結果、工場全体の不良数を低減することが可能になる。

また、本実施形態では、１つの成形品に対して複数種類の不良分類を関連付けるものの、１つの成形品に対して、同じ種類の不良分類を複数関連付けることはない。１つの成形品に対して、同じ種類の不良分類を複数関連付けるとは、例えば、成形品の側面と底面とにそれぞれバリが生じていた場合に、不良分類として、「バリ」を２つ関連付けることをいう。このように、１つの成形品に対して、同じ種類の不良分類を複数関連付けたとすると、所定の集計単位で集計して表示した場合に、同じ不良分類が１つの成形品で発生した不良なのか、異なる成形品で発生した不良なのかが判断できなくなる。そのため、例えば、１つの成形品でクモリの不良分類が５件記憶され、５つの成形品でバリの不良分類が１件ずつ記憶された場合、集計された件数を見たユーザーは、クモリの不良品が突発的な不良でありバリの不良対策を優先すべきところを、クモリとバリの不良対策の優先順位を同等として扱う恐れがある。しがたって、ユーザーが、生産工程において頻発する不良分類を誤って認識する可能性がある。しかし、本実施形態では、１つの成形品に対して、同じ種類の不良分類を複数関連付けることがないため、こうした誤認を防ぐことが可能になる。

なお、上述した第１実施形態では、管理装置５００は、成形品識別情報および不良分類情報を、検査装置３００から取得している。これに対して、管理装置５００は、成形品識別情報および不良分類情報を、ユーザーからの入力によって取得してもよい。ユーザーは、例えば、キーボードなどの入力装置を用いてこれらの情報を管理装置５００に入力してもよいし、他のコンピューターなどで集計したデータを、管理装置５００に入力してもよい。

Ｂ．第２実施形態：
第１実施形態では、処理部５０１の不良分類取得部５２０が、１つの成形品識別情報に対して、複数種類の不良分類情報を取得し、記憶部５０２に記憶させる。第２実施形態では、不良分類取得部５２０は、第１不良分類情報および第２不良分類情報を含む２種類以上の不良分類情報の中から代表不良分類情報を特定する。第２実施形態における射出成形管理システム１０の構成は、第１実施形態と同じである。

図１０は、代表不良分類情報を特定するための入力画面を示す図である。第２実施形態において、不良分類取得部５２０は、成形品識別情報および不良分類情報を、表示部４５０に表示された入力画面を通じてユーザーから取得するものとする。図１０に示した入力画面には、不良分類を指定するためのドロップダウンリストが、第１不良分類、第２不良分類、第３不良分類、第４不良分類についてそれぞれ配置されている。ユーザーは、これらのドロップダウンリストを用いて、成形品識別情報に対応する不良分類を１または複数種類、指定する。不良分類取得部５２０は、各ドロップダウンリストによって指定された不良分類情報を取得し、それらのうち、第１不良分類に対応するドロップダウンリストから取得された不良分類情報を、代表不良分類情報として特定する。そして、処理部５０１は、記憶部５０２の不良情報データベースＤＢに対して、代表不良分類情報を、他の不良分類情報と弁別可能に記録する。本実施形態において、演算部５３０は、集計単位毎に、代表不良分類情報の件数を集計した代表不良件数情報を算出し、表示部４５０に表示させる。集計単位毎に代表不良分類数の件数を集計した場合、その値は、集計単位毎の不良数と一致する。なお、図１０では、ドロップダウンリストを用いて代表不良分類情報として特定したが、例えば、各不良分類にチェックボックス等を配置し、ユーザーが代表不良分類情報を特定するなど、複数の不良分類情報の中から代表不良分類情報を指定できる方法でもかまわない。

以上で説明した第２実施形態によれば、１つの成形品種別情報に対して複数種類の不良分類情報を関連付けて記憶することができるものの、集計の際には、代表不良分類情報の件数を集計すればよい。そのため、不良数や不良率を算出する演算部５３０の負荷を低減することができる。なお、第２実施形態においても、代表不良分類情報だけではなく、図４および図５に示したように、複数種類の不良分類情報の件数を集計して表示してもよい。また、複数種類の不良分類情報の集計結果の表示と、代表不良分類情報の集計結果の表示とを、ユーザーが選択可能であってもよい。

上述した第２実施形態において、不良分類取得部５２０は、表示部４５０に表示された入力画面を通じてユーザーから取得した不良分類情報の中から代表不良分類情報を特定している。これに対して、不良分類取得部５２０は、検査装置３００から取得する不良分類情報の中から代表不良分類情報を特定してもよい。この場合、例えば、不良分類取得部５２０は、ユーザーから予め代表不良分類情報の指定を受け付け、検査装置３００から取得する不良分類情報の中から、指定された代表不良分類情報を特定する。なお、代表不良分類情報は、ユーザーによる選択ではなく、管理装置５００において予め決定されていてもよい。

Ｃ．第３実施形態：
第２実施形態では、不良分類取得部５２０は、複数種類の不良分類情報を、表示部４５０に表示された入力画面を通じてユーザーから取得している。第３実施形態では、不良分類取得部５２０は、表示部４５０に表示された入力画面を通じて、複数種類の不良分類情報だけではなく、それぞれの不良の発生箇所を示す不良発生箇所の選択を受け付ける。記憶部５０２には、第１不良分類情報および第２不良分類情報尾を含む複数の不良分類情報に対して、それぞれ不良発生箇所を表す不良発生箇所情報が関連付けて記憶される。

図１１は、不良発生箇所情報および不良分類情報の入力画面の例を示す図である。入力画面には、不良発生箇所情報の入力を受け付ける領域ＡＲが配置されている。領域ＡＲの形状、大きさは、成形品の外形形状に対応している。領域ＡＲは、予め定められた大きさの小領域に分割されている。ユーザーは、表示部４５０のタッチパネル機能を用いて、不良が発生した位置に対応する小領域を選択することで、不良発生箇所情報を入力することができる。例えば、ユーザーは、不良発生位置に対応する小領域を選択した後に、入力画面の右側に配置されている、不良分類を指定するためのドロップダウンリストから、該当する不良分類を選択することにより、選択した領域に対して不良分類を指定することができる。ユーザーは、小領域の選択と、不良分類の選択とを繰り返すことで、複数の小領域に対して、それぞれ異なる不良分類を対応付けることができる。不良分類取得部５２０は、表示部４５０に対する入力操作を端末装置４００から取得することで、成形品識別情報毎に、複数種類の不良分類情報と、それぞれの不良分類に対応する不良発生箇所情報とを関連付けて記憶部５０２の不良情報データベースＤＢに記録する。

以上で説明した第３実施形態によれば、成形品毎に不良発生箇所と不良分類情報とを記憶部５０２に記憶させることができる。そのため、不良発生箇所毎の不良分類情報の件数を集計して、表示部４５０に表示させることができる。これにより、ユーザーは、成形品のどの位置にどのような不良が発生しているのかを把握することができる。

Ｄ．他の実施形態：
上記実施形態では、記憶部５０２には、第１不良分類情報と第２不良分類情報とが成形品種別情報に関連付けて記録されている。つまり、一の成形品に対して、複数種類の異なる不良分類情報が関連付けられる。これに対して、記憶部５０２には、第１不良分類情報と第２不良分類情報とが、ロットや箱、トレイといった一定の生産単位を識別するための生産単位識別情報と関連付けられてもよい。こうすることによって、各生産単位に対して複数種類の不良分類を紐付けることができるので、生産単位毎に、不良分類情報の件数を集計して表示させることができる。つまり、記憶部５０２には、図２に示した不良情報データベースＤＢの形態ではなく、図４に示した形態のデータベースが記憶されてもよい。この場合、例えば、不良分類取得部５２０は、生産単位毎に、不良分類情報および不良分類件数情報をユーザーあるいは検査装置から取得する。

Ｅ．他の形態：
本開示は、上述の実施形態に限られるものではなく、その趣旨を逸脱しない範囲において種々の構成で実現することができる。例えば、以下に記載する各形態中の技術的特徴に対応する実施形態の技術的特徴は、上述の課題の一部又は全部を解決するために、あるいは、上述の効果の一部又は全部を達成するために、適宜、差し替えや、組み合わせを行うことが可能である。また、その技術的特徴が本明細書中に必須なものとして説明されていなければ、適宜、削除することが可能である。

（１）本開示の一形態によれば、射出成形管理システムが提供される。この射出成形管理システムは、成形品を識別するための成形品識別情報を取得する識別情報取得部と、前記成形品が不良品に該当する場合、前記成形品の不良の分類を表す第１不良分類情報と、前記成形品の前記第１不良分類情報とは異なる不良の分類を表す第２不良分類情報と、を取得する不良分類取得部と、前記第１不良分類情報および前記第２不良分類情報を、前記成形品の前記成形品識別情報と関連付けて記憶する記憶部と、を備える。
この形態の射出成形管理システムによれば、複数種類の不良分類情報を成形品識別情報と関連付けて記憶することで、ユーザーが１つの成形品に存在する複数種類の不良を総合的に判断して対策を打つことが可能になる。そのため、工場全体の不良を低減することができる。

（２）上記形態は、更に、集計単位毎に前記第１不良分類情報を集計した第１不良件数情報と、前記集計単位毎に前記第２不良分類情報を集計した第２不良件数情報と、を算出する演算部と、前記集計単位毎に、前記第１不良件数情報および前記第２不良件数情報を表示する表示部と、を備えてもよい。この形態によれば、集計単位毎に、複数種類の不良分類情報をそれぞれ集計して表示することができるので、ユーザーは、集計単位において発生した複数種類の不良を容易に認識できる。

（３）上記形態において、前記不良分類取得部は、前記第１不良分類情報および前記第２不良分類情報を含む２種類以上の不良分類情報の中から、代表不良分類情報を特定し、集計単位毎に前記代表不良分類情報を集計した代表不良件数情報を算出する演算部、を備えてもよい。この形態によれば、代表不良分類情報を集計することで、演算部の負荷を低減することができる。

（４）上記形態において、前記記憶部は、前記第１不良分類情報と前記第２不良分類情報とに対して、不良発生箇所を表す不良発生箇所情報を関連付けて記憶してもよい。この形態によれば、成形品の位置に応じた不良を把握することができる。

（５）本開示の他の形態によれば、射出成形管理システムが提供される。この射出成形管理システムは、成形品が不良品に該当する場合、前記成形品の不良の分類を表す第１不良分類情報と、前記成形品の前記第１不良分類情報とは異なる不良の分類を表す第２不良分類情報と、を取得する不良分類取得部と、前記第１不良分類情報および前記第２不良分類情報を、前記成形品の生産単位を識別するための生産単位識別情報と関連付けて記憶する記憶部と、を備える。

１０…射出成形管理システム、１００…射出成形機、１１０…第１制御部、２００…材料乾燥機、２１０…第２制御部、３００…検査装置、３１０…第３制御部、４００…端末装置、４５０…表示部、５００…管理装置、５０１…処理部、５０２…記憶部、５０３…通信制御部、５１０…識別情報取得部、５２０…不良分類取得部、５３０…演算部

Claims (4)

1. 射出成形管理システムであって、
   成形品を識別するための成形品識別情報を取得する識別情報取得部と、
   前記成形品が不良品に該当する場合、前記成形品の不良の分類を表す第１不良分類情報と、前記成形品の前記第１不良分類情報とは異なる不良の分類を表す第２不良分類情報と、を取得する不良分類取得部と、
   前記第１不良分類情報および前記第２不良分類情報を、前記成形品の前記成形品識別情報と関連付けて記憶する記憶部と、
   を備える射出成形管理システム。
2. 請求項１に記載の射出成形管理システムであって、
   集計単位毎に前記第１不良分類情報を集計した第１不良件数情報と、前記集計単位毎に前記第２不良分類情報を集計した第２不良件数情報と、を算出する演算部と、
   前記集計単位毎に、前記第１不良件数情報および前記第２不良件数情報を表示する表示部と、
   を備える射出成形管理システム。
3. 請求項１に記載の射出成形管理システムであって、
   前記不良分類取得部は、前記第１不良分類情報および前記第２不良分類情報を含む２種類以上の不良分類情報の中から、代表不良分類情報を特定し、
   集計単位毎に前記代表不良分類情報を集計した代表不良件数情報を算出する演算部、
   を備える射出成形管理システム。
4. 請求項１に記載の射出成形管理システムであって、
   前記記憶部は、前記第１不良分類情報と前記第２不良分類情報とに対して、不良発生箇所を表す不良発生箇所情報を関連付けて記憶する、射出成形管理システム。

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