JP2023128466A - カーボンナノチューブ製造装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】所定の品質が確保されたカーボンナノチューブの生産性向上を可能とするためのカーボンナノチューブ製造装置を提供すること。
【解決手段】原料ガスの供給と内部ガスの排気とが可能であって、かつ前記原料ガスと気相反応する触媒を内部に位置付けることが可能な反応炉、および前記反応炉内に配置され、かつカーボンナノチューブが成長可能な複数の基板を備え、前記複数の基板の各々の主面は前記原料ガスの供給方向に対して交差する方向に位置付けられ、および前記複数の基板は前記反応炉内の均熱領域にのみ位置付けられる、カーボンナノチューブ製造装置が提供される。
【選択図】図1
【解決手段】原料ガスの供給と内部ガスの排気とが可能であって、かつ前記原料ガスと気相反応する触媒を内部に位置付けることが可能な反応炉、および前記反応炉内に配置され、かつカーボンナノチューブが成長可能な複数の基板を備え、前記複数の基板の各々の主面は前記原料ガスの供給方向に対して交差する方向に位置付けられ、および前記複数の基板は前記反応炉内の均熱領域にのみ位置付けられる、カーボンナノチューブ製造装置が提供される。
【選択図】図1
Description
本開示は、カーボンナノチューブ製造装置に関する。
カーボンナノチューブ(以下、「CNT」とも称する)は、熱伝導性、導電性、及び機械的強度等に優れることから、広範囲にわたる分野における様々な用途での利用が期待されている。
CNTの合成プロセスとしては、アーク放電法、レーザー蒸発法、及び化学気相成長法(以下、「CVD法」とも称する)等が挙げられる。これらのうち、量産性の観点から主としてCVD法が工業的には用いられる。
CVD法が用いられる場合において、カーボンナノチューブ製造装置は、反応炉、原料ガス供給部、およびガス排気部を備える。反応炉は、反応室内部を加熱可能な加熱部と、反応室内部に固定配置された基板と、反応室内部に供されかつ原料ガスと気相反応可能な触媒とを有して成る。原料ガス供給部は、反応炉の供給口側に配置され、かつ炭素原子を含む原料ガスを反応室内部に供給可能となっている。ガス排気部は、反応炉の排気端側に配置され、かつ原料ガス供給前にて反応室内部のガスを外部に排気可能となっている。
上記構成下において、カーボンナノチューブ製造装置では、反応室内部にて、炭素原子を含む原料ガスと触媒とを気相反応させ、それによって、反応室内部に固定配置された基板上にCNTを成長可能となっている。又、反応室がその内部に筒状管を更に有して成る場合、当該筒状管の内壁にもCNTを成長させることができる。
この点につき、反応炉内部にて所定の品質が確保されたカーボンナノチューブの収量増加が望まれる。
そこで、本発明は、所定の品質が確保されたカーボンナノチューブの生産性向上を可能とするためのカーボンナノチューブ製造装置を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明の一実施形態では、
原料ガスの供給と内部ガスの排気とが可能であって、かつ前記原料ガスと気相反応する触媒を内部に位置付けることが可能な反応炉、および
前記反応炉内に配置され、かつカーボンナノチューブが成長可能な複数の基板
を備え、
前記複数の基板の各々の主面は前記原料ガスの供給方向に対して交差する方向に位置付けられ、および前記複数の基板は前記反応炉内の均熱領域にのみ位置付けられる、カーボンナノチューブ製造装置が提供される。
原料ガスの供給と内部ガスの排気とが可能であって、かつ前記原料ガスと気相反応する触媒を内部に位置付けることが可能な反応炉、および
前記反応炉内に配置され、かつカーボンナノチューブが成長可能な複数の基板
を備え、
前記複数の基板の各々の主面は前記原料ガスの供給方向に対して交差する方向に位置付けられ、および前記複数の基板は前記反応炉内の均熱領域にのみ位置付けられる、カーボンナノチューブ製造装置が提供される。
本発明の一実施形態に係るカーボンナノチューブ製造装置によれば、反応炉内部にて得られるカーボンナノチューブの生産性向上が可能である。
以下では、図面を参照して本発明の一実施形態に係るカーボンナノチューブ製造装置について説明する。図面における各種の要素は、本発明の説明のために模式的かつ例示的に示したにすぎず、外観や寸法比などは実物と異なり得る。
さらに、以下の説明では、必要に応じて特定の方向や位置を示す用語を用いる。しかしながら、これらの用語の使用は図面を参照した発明の理解を容易にするためであって、これらの用語の意味によって本発明の技術的範囲が制限されるものではない。また、複数の図面の同一符号の部分は、同一または同等の部分を指す。
[カーボンナノチューブ製造装置の全体的構成]
まず、本発明の一実施形態に係るカーボンナノチューブ製造装置の全体的構成について説明する。その後、本発明の特徴部分について説明する。
まず、本発明の一実施形態に係るカーボンナノチューブ製造装置の全体的構成について説明する。その後、本発明の特徴部分について説明する。
図1は、本発明の一実施形態に係るカーボンナノチューブ製造装置を模式的に示す断面図である。
本発明の一実施形態に係るカーボンナノチューブ製造装置は、化学気相成長法にて用いられる装置である。図1に示すように、かかるカーボンナノチューブ製造装置100は、反応炉10、反応炉10のガス供給側に位置付けられた原料ガス供給部20、および反応炉10のガス排気側に位置付けられたガス排気部30を備える。
(反応炉)
反応炉10は、反応室11と、反応室11の内部を加熱可能に反応室11上に配置された加熱部12とを有して成る。反応室11は、反応室内部に固定配置された少なくとも1枚の基板50と、反応室内部に供されかつ原料ガスGと気相反応可能な触媒とを有して成る。原料ガスと触媒との気相反応により、反応室11内の基板50の表面に垂直に配向したCNTを成長させることができる。特に限定されるものではないが、加熱部12は例えば抵抗加熱式ヒーターから構成され得る。
反応炉10は、反応室11と、反応室11の内部を加熱可能に反応室11上に配置された加熱部12とを有して成る。反応室11は、反応室内部に固定配置された少なくとも1枚の基板50と、反応室内部に供されかつ原料ガスGと気相反応可能な触媒とを有して成る。原料ガスと触媒との気相反応により、反応室11内の基板50の表面に垂直に配向したCNTを成長させることができる。特に限定されるものではないが、加熱部12は例えば抵抗加熱式ヒーターから構成され得る。
反応室11は、例えばガラス、セラミック、又はSiC等を用いることができる。反応室11自体の形状としては、基板50を収容できる形状であれば特に限定されないが、円筒状、箱状等であることができる。反応室11は、同室内に導入されたガスが外部に拡散しないように密閉され得ることが好ましい。
なお、反応室11は、内部に筒状管を更に有して成り得る。この場合、基板50は当該筒状管内にて固定配置され得る。加熱部12は制御部に接続されており、それによって、反応室11内部の温度がカーボンナノチューブの成長可能な温度にし得るように加熱部12は制御部により制御され得る。
加熱部12の加熱による反応室11内の温度としては、反応室11内の昇華性の触媒と反応室11内に供給されるガスとが気相反応可能な温度、即ちカーボンナノチューブの成長反応が進行可能な温度であることが好ましい。一例としては、カーボンナノチューブを効率良く成長させる観点から、反応室11内の温度は、500度以上1200度以下、好ましくは700度以上1000度以下、より好ましくは800度以上900度以下であることができる。反応室11内の温度が所定の上限値を超えると、反応速度が速くなり、得られるカーボンナノチューブの密度が小さくなるおそれがある。一方、反応室11内の温度が所定の下限値を下回ると、カーボンナノチューブの成長速度が遅くなり生産性が低下する可能性がある。
(基板)
基板50は、反応室11内にて基板支持部40により支持されている。基板50は、その表面にて垂直に配向したカーボンナノチューブが成長可能な基板であり、かかる成長温度以上の融点を有する。後述するが、基板50は、その表面にて触媒を担持可能に構成され得る。
基板50は、反応室11内にて基板支持部40により支持されている。基板50は、その表面にて垂直に配向したカーボンナノチューブが成長可能な基板であり、かかる成長温度以上の融点を有する。後述するが、基板50は、その表面にて触媒を担持可能に構成され得る。
基板50は、全体としてプレート状を有し、平面が円形(真円又は楕円)、矩形、又は多角形であり得る。特に限定されるものではないが、基板50は、シリコン基板などの半導体基板、アルミナ、サファイア、MgO、ガラスなどの絶縁性基板等を用いることができる。好ましくは、カーボンナノチューブの成長核となる炭化物を好適に形成する観点から、例えば石英ガラス、酸化膜付きシリコン等から構成することができる。酸化膜としては、特に限定されるものではないが、膜厚10nm~1000nm、例えば100nm~500nm程度を有するものを用いることができる。
基板50の厚みは100μm以上3000μm以下、好ましくは200μm以上2500μm以下、より好ましくは300μm以上2000μm以下、更により好ましくは400μm以上1500μm以下、更により好ましくは500μm以上1000μm以下、例えば550μmであり得る。
(触媒)
CNTの成長反応に用いる触媒の種類は限定されないが、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Mo、W、Ag、Au、Pt等の第3族~第12族の遷移金属元素を含有することが好ましい。触媒はこれらの元素のハロゲン化物(例えばフッ化物、塩化物、臭化物、及びヨウ化物)、又は酸化物などであってもよい。
CNTの成長反応に用いる触媒の種類は限定されないが、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Mo、W、Ag、Au、Pt等の第3族~第12族の遷移金属元素を含有することが好ましい。触媒はこれらの元素のハロゲン化物(例えばフッ化物、塩化物、臭化物、及びヨウ化物)、又は酸化物などであってもよい。
成長速度の観点から、触媒はハロゲン化物であってよく、特にハロゲン化鉄を用いることが好ましい。ハロゲン化物をさらに具体的に例示すれば、フッ化鉄、フッ化コバルト、フッ化ニッケル、塩化鉄、塩化コバルト、塩化ニッケル、臭化鉄、臭化コバルト、臭化ニッケル、ヨウ化鉄、ヨウ化コバルト、ヨウ化ニッケルなどが挙げられる。ここで、ハロゲン化物は、塩化鉄(II)、塩化鉄(III)のように、2価、3価又は多価であってよい。
一例として、反応室内部に供される触媒として、気相触媒であり得る昇華性の触媒(例えば塩化鉄)を反応室中に存在させることができる。気相触媒の反応室中への導入方法は特に限定されないが、反応室11に気相触媒供給部を設けた上で供給してもよいし、反応室の内部に気相触媒を与える気相以外の物理状態(典型的には固相状態)にある材料(触媒源)を設置し、反応室の内部を加熱することおよび/または負圧することにより触媒源から気相触媒を生成して、気相触媒を反応室11の内部に存在させてもよい。更には、反応室11内で触媒生成反応を生じさせてもよい。
例えば、塩化鉄の場合、塊、平板、スチールウールまたは粉状の鉄等の鉄族元素含有材料を反応室内で所定の温度とし、反応室内の鉄族元素含有材料と反応させるハロゲン含有物質を供給することにより、気相触媒を生成してもよい。
触媒源を用いて気相触媒を生成する場合の具体例を示せば、反応室の内部に触媒源として塩化鉄(II)の無水物を配置し、反応室の内部を加熱するとともに負圧して塩化鉄(II)の無水物を昇華させると、塩化鉄(II)の蒸気からなる気相触媒を反応室内に存在させることができる。
又、反応室内部に供される触媒としては、基板50の表面に担持されたものを用いることができる。この場合、基板50の表面には、支持体層と触媒層とからなる積層構造が形成されていてよく、又は支持体層に触媒が分散されていてよい。触媒層は例えばスパッタ法により触媒粒子を付着させることで、形成させることができる。
この場合、CNTの成長性の観点から触媒粒子を付着させる部分と付着させない部分を交互に形成しておくことが好ましい。このような島状の触媒層は、例えば、メッシュを基板上に設置しこの上からスパッタリング法で触媒粒子を一定のパターンで付着させたり、微分型静電分級器を用いてあらかじめ触媒粒子のサイズを制御したりすることにより作製することができる。
又、触媒の支持体としては、Mo、Ti、Hf、Zr、Nb、V、TaN、TiSix(例えばx=1~2)、Al、Al2O3、TiOx(例えばx=1~2)、Ta、W、Cu、Au、Pt、Pd、TiN又はこれらのうち少なくとも一を含む支持体を有していてよい。支持体はその厚みが0.1nm以上、0.5nm以上、又は1nm以上であってよく、10nm以下、7.5nm以下、又は5nm以下であってよい。
(原料ガス供給部)
原料ガス供給部20は、反応炉10のガス供給口10a側に配置され、ガス供給管60を介して反応室11の内部と連通可能に構成されている。かかる構成により、原料ガス供給部20は、炭素原子を含む原料ガスGを反応室11内部に供給可能に構成されている。炭素原子を含む原料ガスとしては炭化水素ガスを用いることができる。原料ガス供給部20からのガス供給方向は、特に限定されるものではなく、任意の方向を採ることができる。一例としては、略水平方向、後述する略鉛直方向、又はこれら略水平方向と略鉛直方向の間に位置する方向であってもよい。本明細書でいう「略水平方向」とは、重力方向に対して垂直な方向と当該垂直な方向と約±10度異なる方向とを含む方向を指す。即ち、本明細書でいう「略水平方向」とは完全水平方向のみを指すものではない。又、本明細書でいう「略鉛直方向」とは、鉛直方向(重力方向に相当)と鉛直方向に対して約±10度異なる方向とを含む方向を指す。即ち、本明細書でいう「略鉛直方向」とは完全鉛直方向のみを指すものではない。
原料ガス供給部20は、反応炉10のガス供給口10a側に配置され、ガス供給管60を介して反応室11の内部と連通可能に構成されている。かかる構成により、原料ガス供給部20は、炭素原子を含む原料ガスGを反応室11内部に供給可能に構成されている。炭素原子を含む原料ガスとしては炭化水素ガスを用いることができる。原料ガス供給部20からのガス供給方向は、特に限定されるものではなく、任意の方向を採ることができる。一例としては、略水平方向、後述する略鉛直方向、又はこれら略水平方向と略鉛直方向の間に位置する方向であってもよい。本明細書でいう「略水平方向」とは、重力方向に対して垂直な方向と当該垂直な方向と約±10度異なる方向とを含む方向を指す。即ち、本明細書でいう「略水平方向」とは完全水平方向のみを指すものではない。又、本明細書でいう「略鉛直方向」とは、鉛直方向(重力方向に相当)と鉛直方向に対して約±10度異なる方向とを含む方向を指す。即ち、本明細書でいう「略鉛直方向」とは完全鉛直方向のみを指すものではない。
一例としては、脂肪族飽和炭化水素、脂肪族不飽和炭化水素、芳香族炭化水素、アルコール、又はこれらの混合物等が挙げられる。脂肪族飽和炭化水素としては、メタン、エタン、プロパン、ブタン及び/又はヘキサン等を挙げることができる。脂肪族不飽和炭化水素としては、エチレン、プロピレン、ブテン、イソブテン及び/又はアセチレン等を挙げることができる。芳香族炭化水素としては、ベンゼン、トルエン、キシレン及び/又はナフタレン等を挙げることができる。アルコールとしては、メタノール及び/又はエタノール等を挙げることができる。なお、熱分解反応が自発的に継続できる性質をふまえ、好ましくはアセチレン等の有機化合物のガスを用いることができる。
(ガス排気部)
ガス排気部30は、反応炉10の排気口10b側に配置され、ガス排気管70を介して反応室11の内部と連通可能に構成されている。かかる構成により、ガス排気部30は、原料ガス供給前にて反応室11内部のガスを外部に排気可能に構成されている。ガス排気部30としては、ロータリーポンプ等の真空ポンプを用いることができる。
ガス排気部30は、反応炉10の排気口10b側に配置され、ガス排気管70を介して反応室11の内部と連通可能に構成されている。かかる構成により、ガス排気部30は、原料ガス供給前にて反応室11内部のガスを外部に排気可能に構成されている。ガス排気部30としては、ロータリーポンプ等の真空ポンプを用いることができる。
[本発明の特徴部分]
上記のカーボンナノチューブ製造装置100の全体的構成をふまえた上で、以下にて本発明の特徴部分について説明する。
上記のカーボンナノチューブ製造装置100の全体的構成をふまえた上で、以下にて本発明の特徴部分について説明する。
本願発明者らは、反応炉10内部にて、所定の品質が確保されたカーボンナノチューブの生産性向上を可能とするためのカーボンナノチューブ製造装置100の構成について鋭意検討した。その結果として、本願発明者らは、「基板50の配置方向」と「基板50の設置箇所」に着目し、以下の技術的思想を有する本発明を案出するに至った。
具体的には、本発明は、「複数の基板50の各々につき、基板50の主面が原料ガスGの供給方向に対して交差する方向に位置付け、かつ反応炉10内の均熱領域Eにのみ位置付ける」という技術的思想を有する(図1参照)。本明細書でいう「複数の基板」とは、2枚以上の基板を指す。
かかる技術的思想によれば、第1に、複数の基板50の各々の主面が原料ガスGの供給方向に対して交差する方向に位置付けられる。そのため、主面の幅に対して相対的に幅の小さい各基板50の側面を原料ガスGの供給方向と略同一方向に位置付けることができる。本明細書でいう「原料ガスの供給方向に対して交差する方向」とは、基板50の主面の延在方向と原料ガスの供給方向とが交わることが可能な方向であって、原料ガスGの供給方向と略同一方向である方向以外の方向を指す。本明細書でいう「原料ガスの供給方向と略同一方向」とは、原料ガスの供給方向と完全同一方向のみならず、原料ガスの供給方向に対して約±10度異なる方向も含むものを指す。これにより、原料ガスの供給方向に対して略同一方向に延在する主面を備えた基板を用いる場合と比べて、均熱領域Eにのみ設置する基板50の枚数を相対的に増やすことができる。特に、後述するように、主面が原料ガスGの供給方向に対して垂直な方向に延在する基板50を用いる場合、均熱領域Eにのみ設置する基板50の枚数をより増やすことができる。基板50の厚みによるが、例えば、均熱領域Eにのみ設置可能な基板50の枚数として、10枚以上200枚以下、好ましくは30枚以上200枚以下、より好ましくは60枚以上200枚以下であり得る。
更に、所定の基板50につき、基板50の主面が原料ガスGの供給方向と略同一方向に位置付けられる場合と比べて、基板50の一方の主面のみならずこれに対向する他方の主面も、反応室11内にて原料ガスGに晒され得る。これにより、基板50の両主面51、52に略垂直配向のカーボンナノチューブCを成長させることが可能となる(図2参照)。本明細書でいう「基板の主面に略垂直配向」とは、基板の主面の延在方向に対して完全垂直方向のみならず、同延在方向に対して約±10度異なる方向も含むものを指す。以上により、反応炉10内部にてカーボンナノチューブの収量を増加させることが可能となる。
更に、上記の技術的思想によれば、第2に、複数の基板50が反応炉10内の均熱領域Eにのみ位置付けられる。本明細書でいう「均熱領域E」とは、広義には温度が一定に保持されるように加熱された反応炉10内の所定領域を指し、狭義にはカーボンナノチューブ成長のための化学気相反応温度が一定に保持された反応炉10内の所定領域を指す。
即ち、複数の基板50の各々は、化学気相反応温度(原料ガスGと触媒とを気相反応させること可能な温度)が一定に保持された領域にのみ位置付けられる。そのため、反応炉10内の均熱領域E以外の領域X(図1参照)にも基板を配置する場合と比べて、反応炉10内部にて、原料ガスGと触媒とをより安定的に気相反応させることができる。これにより、反応炉10内の均熱領域E以外の領域X(図1参照)にも基板を配置する場合と比べて、均熱領域Eのみに位置付けられる基板50につき所定の品質を確保することが可能となる。
以上の事から、上記の技術的思想によれば、全体として、反応炉10内部にて所定の品質が確保されたカーボンナノチューブの収量増加が可能となる。それ故、全体として、所定の品質が確保されたカーボンナノチューブの生産性向上が可能となる。
なお、本発明は下記態様を更に採り得る。
一態様では、相互に直接対向する一方の基板50Xと他方の基板50Yとの間の距離は、一方の基板50Xに成長するカーボンナノチューブと他方の基板50Yに成長するカーボンナノチューブとが相互に接しない距離Lであることができる(図1および図2参照)。
かかる距離にあれば、第1に、均熱領域Eにのみ設置する基板50の枚数を相対的に増やすことができることで、全体としてカーボンナノチューブの収量増加が可能となる。これに加えて、第2に、成長したカーボンナノチューブ付きの各基板50を独立して取り外すことができるため、各基板50からのカーボンナノチューブの取り出し操作を効率的に行うことができる。なお、かかる距離としては、例えば0.4mm以上8mm以下であることができる。
一態様では、基板50は、均熱領域Eの内側部分E1に位置付けられることが好ましい(図3参照)。
この点につき、当業者の技術常識によれば、反応室11内の供給ガス温度については、供給口および排気口にそれぞれ向かうにつれ低くなる一方、反応室11内の中央領域に向かうにつれ高くなり得る。この点を鑑み、図3に示すように、均熱領域Eの内側部分E1に基板50を位置付けることが好ましい。
これにより、均熱領域Eの内側部分E1以外の部分E2に基板50を設ける場合と比べて、触媒と原料ガスGとの気相化学反応をはやめることができ、それによってカーボンナノチューブの成長速度をよりはやめることができる。その結果、所定の品質が確保されたカーボンナノチューブの生産性をより向上させることが可能である。
一態様では、反応炉10内へと原料ガスGを供給するためのガス供給管60の径が、反応炉10外へと内部ガスを排気するためのガス排気管70の径よりも小さいことが好ましい(図4参照)。
この点につき、当業者の技術常識によれば、管径の違いに起因してガス速度に違いをもたし得る。具体的には、この点を鑑み、ガス供給管60の径をガス排気管70の径よりも小さくすることが好ましい。これにより、所定流量で流す場合に、ガス供給管60の径とガス排気管70の径とが同一である場合と比べて、ガス供給管60を介して反応室11内に供される原料ガスGの速度を相対的にゆっくりとすることができる。
これにより、反応室11内に原料ガスGの滞留時間を相対的に長くすることができる。即ち、「ガス滞留時間」を相対的に長くすることができる。その結果、触媒と原料ガスGとの気相化学反応を安定的に行うことができ、それによってカーボンナノチューブの成長を安定的に行うことができる。その結果、カーボンナノチューブの所定の品質をより向上させることができる。
一態様では、基板50の主面が原料ガスGの供給方向に対して垂直な方向に位置付けられることが好ましい(図1~図4参照)。
主面が原料ガスGの供給方向に対して垂直な方向に延在する基板50を用いる場合、主面が若干程度傾斜した基板を用いる場合と比べて、均熱領域Eにのみ設置する基板50の枚数をより増やすことができる。その結果、基板50の両主面に形成されるカーボンナノチューブの収量を増加させることができる。
なお、本発明の一実施形態では、基板50の主面の延在方向と原料ガスの供給方向とが交わることができればよいため、図5に示すように、基板50が反応室11の排気側へと向かって若干程度傾斜して配置された態様を採ることもできる。この場合、基板50を通過しない原料ガスにつき、基板50が垂直配置の場合と比べて、傾斜配置の基板50に沿って反応室11の供給口側から排気口側に向かって当該原料ガスを移動させやすくすることができる。これにより、全体として反応室11内部全体への原料ガスの拡散速度を向上させることができる。その結果、各基板50における成長開始のタイミングをはやめることが可能となり得る。
一態様では、原料ガスGの供給方向が略鉛直方向であり、基板50Aの主面の延在方向が当該略鉛直方向に対して交差する方向であることが好ましい(図6参照)。
かかる態様によれば、図1に示す「基板50につき、基板50の主面が原料ガスGの供給方向に対して交差する方向に位置付け、かつ反応炉10内の均熱領域Eにのみ位置付ける」という本発明の基本的思想を確保しつつ、更に原料ガスGの供給方向が略鉛直方向に限定されている。この場合、原料ガスGの供給方向が略水平方向である場合と比べて、原料ガス供給部20から相対的に大きな出力を要することなく、原料ガスGを基板50Aに向かって供することができる。これにより、原料ガスGの供給方向が略水平方向である場合と比べて、基板50Aにおけるカーボンナノチューブの生産性を向上させることができる。
一態様では、少なくとも2枚の基板50Bが所定の間隔をおいて配置され、相互に直接対向する一方の基板50B1と他方の基板50B2とが、一方の基板50B1から他方の基板50B2にまでカーボンナノチューブCが連続するように相互に配置されていることが好ましい(図7参照)。
かかる態様によれば、相互に直接対向する2枚の基板50B1、50B2間に連続するカーボンナノチューブを形成することができる。即ち、相互に直接対向する2枚の基板50B1、50B2基板と両者の間に位置するカーボンナノチューブCにより、全体として“ビスケット”状の形態をなすことができる。
相互に直接対向する2枚の基板50B1、50B2間に連続するカーボンナノチューブを形成する観点から、基板50B間の平均間隔は相対的に小さいことが好ましい。
これにより、相互に直接対向する一方の基板50B1に形成されるカーボンナノチューブCと、他方の基板50B2に形成されるカーボンナノチューブCとの間が離隔している場合と比べて、一度に得られるカーボンナノチューブCの長さを大きく採ることができる。その結果、カーボンナノチューブCの収量を増加させることができる。
特に、カーボンナノチューブCが成長する基板の厚みを相対的に薄いもの(例えば厚み:100μm以上500μm以下程度)を用いると、均熱領域Eにのみ配置できる基板50Bの数をより多くすることができる。その結果として、カーボンナノチューブCの収量の更なる増加が可能となり得る。
[カーボンナノチューブの製造方法]
以下、上記特徴を有する本発明のカーボンナノチューブ製造装置100を用いたカーボンナノチューブの製造方法について説明する。かかるカーボンナノチューブの製造方法は、上記のとおり化学気相成長法によりカーボンナノチューブを成長させる方法である。
以下、上記特徴を有する本発明のカーボンナノチューブ製造装置100を用いたカーボンナノチューブの製造方法について説明する。かかるカーボンナノチューブの製造方法は、上記のとおり化学気相成長法によりカーボンナノチューブを成長させる方法である。
(基板設置工程)
まず、基板50を反応炉10の反応室11内に固定配置する。
まず、基板50を反応炉10の反応室11内に固定配置する。
(排気工程)
基板50の設置工程後、原料ガス供給前にて、排気部30により反応室11内のガスを排出して真空状態にする。
基板50の設置工程後、原料ガス供給前にて、排気部30により反応室11内のガスを排出して真空状態にする。
(加熱工程)
排気工程後、加熱部12により、反応室11内の昇華性の触媒と反応室11内に供給されるガスとが気相反応可能な温度、即ちカーボンナノチューブの成長反応が進行可能な温度となるように、反応室11内を加熱する。一例としては、既述のように、カーボンナノチューブを効率良く成長させる観点から、反応室11内の温度は、500度以上1200度以下、好ましくは700度以上1000度以下、より好ましくは800度以上900度以下であることができる。
排気工程後、加熱部12により、反応室11内の昇華性の触媒と反応室11内に供給されるガスとが気相反応可能な温度、即ちカーボンナノチューブの成長反応が進行可能な温度となるように、反応室11内を加熱する。一例としては、既述のように、カーボンナノチューブを効率良く成長させる観点から、反応室11内の温度は、500度以上1200度以下、好ましくは700度以上1000度以下、より好ましくは800度以上900度以下であることができる。
(原料ガス供給工程)
反応室11内の加熱工程後、原料ガス供給部20よりガス供給管60を介して反応室11内に所定流量の原料ガスを供給する。この際、圧力調整部(図示せず)により、反応室11内の原料ガス圧がカーボンナノチューブの成長可能な圧力となるように調整する。
反応室11内の加熱工程後、原料ガス供給部20よりガス供給管60を介して反応室11内に所定流量の原料ガスを供給する。この際、圧力調整部(図示せず)により、反応室11内の原料ガス圧がカーボンナノチューブの成長可能な圧力となるように調整する。
原料ガス圧は、1Torr以上、3Torr以上、5Torr以上、10Torr以上、25Torr以上、又は50Torr以上であってよく、好ましくは1Torr以上である。又、原料ガス圧は、300Torr以下、200Torr以下、150Torr以下、100Torr以下、50Torr以下、25Torr以下、又は12.5Torr以下であってよく、好ましくは100Torr以下である。
又、反応室11へと供給される原料ガスの流量については、反応室11の大きさ、設置する基板50の枚数等によるが、反応室11内に原料ガスを好適に滞留させる観点から、20sccm(Standard cc per min、標準状態(25℃、1気圧)における体積流量、以下同じ)以上3000sccm以下、40sccm以上2000sccm以下、80sccm以上1000sccm以下、例えば500sccmに設定してよい。
なお、上記原料ガスと同時に第二ガスを反応室11内に供給してよい。第二ガスは、原料ガスとは異なるガスであって、酸素原子を有する炭化水素及び水素からなる群から選択される少なくとも一のガスである。第二ガスは、触媒のエッチング作用を有し得る。また、第二ガスは還元性物質であってもよい。具体例には、一酸化炭素、アセトン、エタノール、メタノール、及び/又は水素等が挙げられ、好ましくは一酸化炭素及び/又はアセトンであり得る。
原料ガスと同時に第二ガスを供給することで、CNTの成長性を高めたり、製造されたCNTの紡績性を向上させ得る。更に、CNTアレイの成長に係る反応の活性化エネルギーの低下、CNTアレイの成長速度の向上、CNTアレイの成長安定性の向上、失活原因であるアモルファスカーボン除去に起因する気相触媒の長寿命化、及び成長長さの均一性の向上等を奏することができる。
第二ガスを供給するために、第二ガスそのものを供給することに加えて又は供給することに代えて、第二ガスを形成可能な原料を供給することもできる。例えば、第二ガスとしての一酸化炭素を供給するために、上述した一酸化炭素そのものを供給することに加えて又は供給することに代えて、一酸化炭素を形成可能な原料を供給することもできる。一酸化炭素を形成可能な原料としては、例えば、二酸化炭素やカルボニル錯体等が挙げられる。これら原料は、反応室内において一酸化炭素を形成(生成)して、一酸化炭素を供給した場合と同様の効果を奏することができる。
上記原料ガス圧に対する第二ガス圧比(第二ガス圧/原料ガス圧)は、0.1%以上、1%以上、2%以上、3%以上、5%以上、10%以上、又は20%以上であってよく、好ましくは1%以上である。又、第二ガス圧に対する原料ガス圧は、500%以下、300%以下、100%以下、50%以下、30%以下、20%以下、10%以下、又は5%以下であってよく、好ましくは30%以下である。
(原料ガスの第一排出工程)
所定時間にわたる原料ガス供給工程後、原料ガスの供給を停止し、原料ガスを部分的に排出して、原料ガス圧を成長圧力の5%以上95%以下である低減圧力にまで低減させてよい。かかる低減圧力は、成長工程における原料ガス圧の5%以上、10%以上、20%以上、30%以上、40%以上、50%以上又は60%以上であってよく、好ましくは30%以上又は50%以上である。低減圧力は、成長工程における原料ガス圧の95%以下、90%以下、80%以下、70%以下、60%以下、50%以下又は40%以下であってよく、好ましくは80%以下である。
所定時間にわたる原料ガス供給工程後、原料ガスの供給を停止し、原料ガスを部分的に排出して、原料ガス圧を成長圧力の5%以上95%以下である低減圧力にまで低減させてよい。かかる低減圧力は、成長工程における原料ガス圧の5%以上、10%以上、20%以上、30%以上、40%以上、50%以上又は60%以上であってよく、好ましくは30%以上又は50%以上である。低減圧力は、成長工程における原料ガス圧の95%以下、90%以下、80%以下、70%以下、60%以下、50%以下又は40%以下であってよく、好ましくは80%以下である。
原料ガス排気工程の時間は、300秒以下、200秒以下、100秒以下、60秒以下、又は30秒以下であってよく、例えば25秒以下、20秒以内、15秒以内、10秒以内、又は5秒以内であってよい。
(原料ガス圧の保持工程)
原料ガスの第一排出工程後、原料ガス圧を上記低減圧力の範囲で所定時間保持する。かかる保持工程の間、原料ガス圧を一定に保持する観点から、反応室11内への原料ガスの供給及び反応室11内からのガスの排出を遮断してよい。
原料ガスの第一排出工程後、原料ガス圧を上記低減圧力の範囲で所定時間保持する。かかる保持工程の間、原料ガス圧を一定に保持する観点から、反応室11内への原料ガスの供給及び反応室11内からのガスの排出を遮断してよい。
保持工程の上記の所定時間としては、例えば5秒以上、10秒以上、20秒以上、30秒以上、40秒以上、50秒以上、又は60秒以上であってよく、300秒以下、250秒以下、200秒以下、150秒以下、100秒以下、又は50秒以下であってよい。かかる保持工程においては、反応室11の雰囲気温度を一定の範囲に保持しておいてよく、好ましくは反応室雰囲気温度を成長温度に保持しておく。保持工程の間、反応室雰囲気温度は一定に保持されていてよい。
(反応室雰囲気温度の降温工程)
原料ガス圧の保持工程後、反応室11の雰囲気温度を降下させてよい。反応室11の雰囲気温度の降温速度は3℃/分以上、5℃/分以上、7℃/分以上、9℃/分以上、又は12℃/分以上であってよく、50℃/分以下、40℃/分以下、30℃/分以下、又は20℃/分以下であってよい。
原料ガス圧の保持工程後、反応室11の雰囲気温度を降下させてよい。反応室11の雰囲気温度の降温速度は3℃/分以上、5℃/分以上、7℃/分以上、9℃/分以上、又は12℃/分以上であってよく、50℃/分以下、40℃/分以下、30℃/分以下、又は20℃/分以下であってよい。
かかる反応室雰囲気温度の降温工程については、反応室雰囲気温度が、空気中の酸素でCNTの酸化がなされない温度に達するまで行われてよい。例えば、反応室雰囲気温度が、500℃未満、400℃以下、又は300℃以下であってよい。反応室雰囲気温度が、CNTが空気中の酸素で酸化されない温度に達すると、基板50を大気圧下に解放してよい。
(原料ガスの第二排出工程)
更に、原料ガス圧の保持工程後、原料ガスを更に排出して原料ガス圧を上記低減圧力から更に低減させる。この原料ガスの更なる排出工程(原料ガスの第二工程に相当)については、反応室雰囲気温度の降温工程と同時に行われてよい。この場合、上記の反応室雰囲気温度の降温工程において、所望の反応室11の雰囲気温度に達していない場合、原料ガスの第二排出工程終了後も降温工程を継続してよい。
更に、原料ガス圧の保持工程後、原料ガスを更に排出して原料ガス圧を上記低減圧力から更に低減させる。この原料ガスの更なる排出工程(原料ガスの第二工程に相当)については、反応室雰囲気温度の降温工程と同時に行われてよい。この場合、上記の反応室雰囲気温度の降温工程において、所望の反応室11の雰囲気温度に達していない場合、原料ガスの第二排出工程終了後も降温工程を継続してよい。
原料ガスの第二排出工程後の原料ガス圧については、0.1Torr以下、0.08Torr以下、0.05Torr以下、0.03Torr以下、又は0.01Torr以下であってよく、好ましくは0.05Torr以下である。
原料ガスの第二排出工程後の原料ガス圧は、上記低減圧力の50%以下、40%以下、30%以下、20%以下、10%以下、5%以下又は1%以下であってよく、好ましくは10%以下である。原料ガスの第二排出工程の時間は、300秒以下、200秒以下、100秒以下、60秒以下、又は30秒以下であってよく、例えば25秒以下、20秒以内、15秒以内、10秒以内、又は5秒以内であってよい。
(基板からのCNT剥離工程)
上記工程後、基板50上に形成されたCNTを基板50から剥離してよい。なお、基板50上にはCNTが垂直配向状態となっている。CNTを基板50から剥離する方法としては、物理的、化学的あるいは機械的な剥離方法であり得る。例えば、電場、磁場、遠心力、表面張力等を用いて剥離する方法、機械的に基板50から剥離する方法、並びに、圧力又は熱を用いて基板50から剥離する方法等が挙げられる。また、真空ポンプを用いてCNTを吸引し、基板から剥ぎ取ることも可能である。機械的に基材から剥離する方法としては、CNTをピンセットで直接つまんで基板から剥がす方法や、鋭利部を備えたプラスチック製のヘラ又はカッターブレード等の薄い刃物を使用してCNTをから剥ぎ取る方法が挙げられる。
上記工程後、基板50上に形成されたCNTを基板50から剥離してよい。なお、基板50上にはCNTが垂直配向状態となっている。CNTを基板50から剥離する方法としては、物理的、化学的あるいは機械的な剥離方法であり得る。例えば、電場、磁場、遠心力、表面張力等を用いて剥離する方法、機械的に基板50から剥離する方法、並びに、圧力又は熱を用いて基板50から剥離する方法等が挙げられる。また、真空ポンプを用いてCNTを吸引し、基板から剥ぎ取ることも可能である。機械的に基材から剥離する方法としては、CNTをピンセットで直接つまんで基板から剥がす方法や、鋭利部を備えたプラスチック製のヘラ又はカッターブレード等の薄い刃物を使用してCNTをから剥ぎ取る方法が挙げられる。
上記工程を経ると、図8に示すように、CNT剥離後の基板50にはCNTの残存は殆ど確認されない。即ち、CNTを基板50へのCNTの残存を抑制でき、それによってCNT自体の損傷を抑制可能となっている。
以上、本発明の一実施形態に係るカーボンナノチューブ製造装置について説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、特許請求の範囲の趣旨を逸脱しない限りにおいて、当業者の知識に基づく種々の変更が可能である。
以上説明したように、本発明の一実施形態に係るカーボンナノチューブ製造装置は、電子デバイス材料、光学素子材料、導電性材料、および生体関連材料等で用いられ得るカーボンナノチューブを得るために好適に用いることができる。
100、100A、100B カーボンナノチューブ製造装置
10、10A、10B 反応炉
10a ガス供給口
10b 排気口
11、11A、11B 反応室
12、12A、12B 加熱部2c
20、20A、20B 原料ガス供給部
30、30A、30B ガス排気部
40、40A、40B 基板支持部
50、50X、50Y、50A、50B、50B1、50B2 基板
51 基板の一方の主面
52 基板の他方の主面
60、60A、60B ガス供給管
70、70A、70B ガス排気管
C カーボンナノチューブ
E 均熱領域
E1 均熱領域の内側部分
X 均熱領域以外の領域
10、10A、10B 反応炉
10a ガス供給口
10b 排気口
11、11A、11B 反応室
12、12A、12B 加熱部2c
20、20A、20B 原料ガス供給部
30、30A、30B ガス排気部
40、40A、40B 基板支持部
50、50X、50Y、50A、50B、50B1、50B2 基板
51 基板の一方の主面
52 基板の他方の主面
60、60A、60B ガス供給管
70、70A、70B ガス排気管
C カーボンナノチューブ
E 均熱領域
E1 均熱領域の内側部分
X 均熱領域以外の領域
Claims (11)
- 原料ガスの供給と内部ガスの排気とが可能であって、かつ前記原料ガスと気相反応する触媒を内部に位置付けることが可能な反応炉、および
前記反応炉内に配置され、かつカーボンナノチューブが成長可能な複数の基板
を備え、
前記複数の基板の各々の主面は前記原料ガスの供給方向に対して交差する方向に位置付けられ、および前記複数の基板は前記反応炉内の均熱領域にのみ位置付けられる、カーボンナノチューブ製造装置。 - 相互に直接対向する一方の基板と他方の基板との間の距離は、前記一方の基板に成長する前記カーボンナノチューブと前記他方の基板に成長する前記カーボンナノチューブとが相互に接しない距離である、請求項1に記載のカーボンナノチューブ製造装置。
- 相互に直接対向する前記一方の基板と前記他方の基板との間の距離が0.4mm以上8mm以下である、請求項2に記載のカーボンナノチューブ製造装置。
- 各基板の相互に対向する両主面に前記カーボンナノチューブを成長させることが可能となっている、請求項1~3のいずれかに記載のカーボンナノチューブ製造装置。
- 前記基板の前記主面が前記原料ガスの前記供給方向に対して垂直な方向に位置付けられる、請求項1~4のいずれかに記載のカーボンナノチューブ製造装置。
- 前記基板は、前記均熱領域の内側部分に位置付けられる、請求項1~5のいずれかに記載のカーボンナノチューブ製造装置。
- 前記反応炉が、該反応炉内へと前記原料ガスを供給するためのガス供給管および該反応炉外へと前記内部ガスを排気するためのガス排気管を備え、前記ガス供給管の径が前記ガス排気管の径よりも小さい、請求項1~6のいずれかに記載のカーボンナノチューブ製造装置。
- 前記原料ガスの供給方向が略鉛直方向であり、前記基板の主面の延在方向が該略鉛直方向に対して交差する方向である、請求項1~7のいずれかに記載のカーボンナノチューブ製造装置。
- 相互に一方の基板と他方の基板とが、該一方の基板から該他方の基板にまでカーボンナノチューブが連続するように相互に配置されている、請求項1、4~8のいずれかに記載のカーボンナノチューブ製造装置。
- 請求項1~9のいずれかに記載のカーボンナノチューブ製造装置を用いたカーボンナノチューブの製造方法。
- 前記反応室に原料ガスを供給し、成長温度及び成長圧力の下、前記基板上にカーボンナノチューブを化学気相成長法により成長させる工程と、
前記原料ガスを排出して前記原料ガス圧を前記成長圧力の5%以上95%以下である低減圧力にまで低減させる排出工程と、
前記原料ガス圧を前記低減圧力の範囲で所定時間保持する保持工程と、
を含む、請求項10に記載のカーボンナノチューブの製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2022032826A JP2023128466A (ja) | 2022-03-03 | 2022-03-03 | カーボンナノチューブ製造装置 |
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---|---|
JP2023128466A true JP2023128466A (ja) | 2023-09-14 |
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JP2022032826A Pending JP2023128466A (ja) | 2022-03-03 | 2022-03-03 | カーボンナノチューブ製造装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
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-
2022
- 2022-03-03 JP JP2022032826A patent/JP2023128466A/ja active Pending
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