JP2023114813A - クランプセンサ - Google Patents

Abstract

【課題】測定対象物の測定精度の低下を抑制することができるクランプセンサを提供する。【解決手段】クランプセンサは、回動軸を中心として回動する第１クランプアームと、回動軸を中心として回動し、第１クランプアームと協働して測定対象物を挟持可能な第２クランプアームと、第１クランプアーム及び第２クランプアームの少なくとも一方に設けられ、測定対象物の被測定量を測定する測定部と、第２クランプアームに対して相対移動可能に第２クランプアームに取り付けられ、測定対象物との距離が大きくなる回動方向に第１クランプアームが回動することを、第１クランプアームと接触することによって規制する規制部とを備える。規制部の第２クランプアームに対する相対位置に応じて、第１クランプアームの回動可能量が異なり且つ測定対象物が挟持される部分における第１クランプアームと第２クランプアームとの間の最大距離が異なる。【選択図】図１０

Description

本発明は、測定対象物をクランプして当該測定対象物の被測定量を測定するクランプセンサに関する。

従来、この種のクランプセンサとして、例えば、特許文献１（特開２０１８－１３５００号公報）に記載されたものが知られている。特許文献１には、一対のクランプアーム（クリップ片ともいう）を互いに近づく方向に回動軸を中心として回動させることで、当該一対のクランプアームの間で測定対象物である電線をばね力のみで挟持する構造が記載されている。この構造によれば、電線を挟持して、当該電線の測定量、例えば、当該電線に印加された電圧や当該電線を流れる電流を測定することができる。

特開２０１８－１３５００号公報

特許文献１に記載されたクランプセンサは、クランプアームに測定部（検出部ともいう）を備える。このクランプセンサでは、測定部及び電線の間の結合容量によって、当該電線に印加された電圧や当該電線を流れる電流が測定される。電圧や電流の測定中において、結合容量が蓄えられる条件を一定に保たれる必要がある。そのため、電圧や電流の測定中において、測定部の電線に対する位置が変わらないことが求められる。

しかし、特許文献１に記載されたクランプセンサは、ばね力のみで一対のクランプアームの間に電線を挟持する構造である。そのため、測定中の電線の振動等によって、測定部の電線に対する位置が変わるおそれがある。また、クランプセンサの電線への挟持を長期間に亘って維持することが求められることがある。この場合、経年によって、測定部の電線に対する位置が変わる可能性が高まる。測定部の電線に対する位置が変わると、電線に印加された電圧や電線を流れる電流の測定精度が低下するおそれがある。

従って、本発明の目的は、前記課題を解決することにあって、測定対象物の測定精度の低下を抑制することができるクランプセンサを提供することにある。

前記目的を達成するために、本発明は以下のように構成する。
本発明の一態様に係るクランプセンサは、
回動軸を中心として回動する第１クランプアームと、
前記回動軸を中心として回動し、前記第１クランプアームと協働して測定対象物を挟持可能な第２クランプアームと、
前記第１クランプアーム及び前記第２クランプアームの少なくとも一方に設けられ、前記測定対象物の被測定量を測定する測定部と、
前記第２クランプアームによって移動可能に支持されており、前記測定対象物との距離が大きくなる回動方向である挟持解除方向に前記第１クランプアームが回動することを、前記第１クランプアームと接触することによって規制する規制部と、を備え、
前記規制部の前記第２クランプアームに対する相対位置に応じて、前記測定対象物と接触する位置から前記規制部と接触する位置までの前記第１クランプアームの前記挟持解除方向への回動量が異なる。

本発明によれば、測定対象物の測定精度の低下を抑制することができる。

本発明の実施形態に係るクランプセンサの斜視図。 本発明の実施形態に係るクランプセンサの分解斜視図。 図１からカバー部材を取り除いたクランプセンサの斜視図。 本発明の実施形態に係るクランプセンサの斜視断面図。 図４の右側面図。 第１クランプアームの斜視図。 本発明の実施形態に係るクランプセンサの斜視断面図。 本発明の実施形態に係るクランプセンサの斜視図。 本発明の実施形態に係るクランプセンサの右側面図。 本発明の実施形態に係るクランプセンサの斜視図。 本発明の実施形態の変形例に係るクランプセンサの斜視図。

本発明の一態様に係るクランプセンサは、
回動軸を中心として回動する第１クランプアームと、
前記回動軸を中心として回動し、前記第１クランプアームと協働して測定対象物を挟持可能な第２クランプアームと、
前記第１クランプアーム及び前記第２クランプアームの少なくとも一方に設けられ、前記測定対象物の被測定量を測定する測定部と、
前記第２クランプアームに対して相対移動可能に前記第２クランプアームに取り付けられ、前記測定対象物との距離が大きくなる回動方向である挟持解除方向に前記第１クランプアームが回動することを、前記第１クランプアームと接触することによって規制する規制部と、を備え、
前記規制部の前記第２クランプアームに対する相対位置に応じて、前記第１クランプアームの回動可能量が異なり且つ前記測定対象物が挟持される部分における前記第１クランプアームと前記第２クランプアームとの間の最大距離が異なる。

この構成によれば、第１クランプアーム及び第２クランプアームによって測定対象物を挟持した状態で、規制部を移動させて第１クランプアームと接触させることができる。これにより、第１クランプアームの挟持解除方向への回動が規制される。その結果、第１クランプアーム及び第２クランプアームによって測定対象物を挟持した状態において、測定部の測定対象物に対する位置が変わる可能性が低くなる。よって、測定対象物の測定精度の低下を抑制することができる。

前記クランプセンサにおいて、
前記規制部は、前記第２クランプアームに形成されたネジ穴に挿入されるネジ部であってもよく、
前記規制部の前記相対位置は、前記ネジ部の軸の周りへの回転量に応じて変わってもよい。

この構成によれば、規制部はネジ部である。ネジ部の挿入方向の位置は、段階的ではなく連続的に変化可能である。そのため、第１クランプアーム及び第２クランプアームによって挟持された測定対象物の直径にかかわらず、測定部の測定対象物に対する位置が変わる可能性を低くすることができる。

前記クランプセンサにおいて、
前記規制部は、前記第１クランプアームへ近づく向きと前記第１クランプアームから離れる向きとに移動可能であってもよい。

この構成によれば、規制部が第１クランプアームと接触しているとき、第１クランプアームから規制部へ作用する力の向きは、規制部の移動方向である。多くの場合、規制部の移動方向は、規制部の長手方向である。そのため、当該力によって規制部が曲がること等によって破損する可能性を低くすることができる。

前記クランプセンサにおいて、
前記第１クランプアームは、前記規制部へ向けて突出した凸部を備えていてもよく、
前記規制部は、前記凸部と接触することによって前記第１クランプアームの前記挟持解除方向への回動を規制してもよい。

この構成によれば、規制部は、第１クランプアームに設けられて規制部へ向けて突出した凸部と接触する。そのため、規制部が第１クランプアームに接触するまでの規制部の移動量を小さくすることができる。

前記クランプセンサにおいて、
前記規制部は、前記回動軸へ近づく向きと前記回動軸から離れる向きとに移動可能であってもよい。

挟持解除方向へ回動する第１クランプアームから規制部へ作用する力の向きは、挟持解除方向である。そのため、仮に、規制部の移動方向が挟持解除方向である場合、第１クランプアームから規制部へ作用する力によって、規制部が移動する可能性が高まる。しかし、この構成によれば、規制部の移動方向は、挟持解除方向と異なる。そのため、第１クランプアームから規制部へ作用する力によって、規制部が移動する可能性を低くすることができる。

前記クランプセンサにおいて、
前記第１クランプアームは、前記規制部へ向けて突出した凸部を備えていてもよく、
前記回動軸の軸方向から見て、前記凸部は、前記回動軸の径方向において前記回動軸に近い程、前記第１クランプアームから前記回動軸の周方向へ大きく突出することによって形成され、前記規制部と接触可能な接触面を有していてもよく、
前記規制部は、前記接触面と接触することによって前記挟持解除方向への前記第１クランプアームの回動を規制してもよい。

この構成によれば、第１クランプアームの前記挟持解除方向の回動位置にかかわらず、凸部の適切な位置に規制部を接触させるように凸部を構成することが容易である。

前記クランプセンサにおいて、
前記規制部は、前記回動軸に対して前記測定対象物の反対側において前記第１クランプアームと前記第２クランプアームとの間に形成される空間に位置していてもよい。

この構成によれば、規制部が第１クランプアーム及び第２クランプアームより外側に位置しない。そのため、クランプセンサの大型化を抑制することができる。

＜実施形態＞
図１は、本発明の実施形態に係るクランプセンサの斜視図である。図２は、本発明の実施形態に係るクランプセンサの分解斜視図である。図３は、図１からカバー部材を取り除いたクランプセンサの斜視図である。

図１～図３に示すように、本実施形態に係るクランプセンサ１０は、クランプアーム２０，３０，４０と、シャフト５０とを備える。クランプアーム２０は、第１クランプアームの一例である。クランプアーム４０は、第２クランプアームの一例である。

クランプアーム２０，４０は、互いに協働して測定対象物６０を挟持可能に構成されている。クランプアーム３０，４０は、互いに協働して測定対象物６０の外周面６０Ａを覆いつつ測定対象物６０の挟むことができるように構成されている。本実施形態において、測定対象物６０は、電線である。なお、本実施形態に係るクランプセンサ１０は、直径の異なる複数種類の電線を挟むことができる。

クランプアーム２０は、回動軸５１を中心として回動するように構成されている。本実施形態において、クランプアーム２０に設けられた貫通孔２１Ａに、シャフト５０が貫通されている。回動軸５１は、シャフト５０の中心を通る仮想線である。本実施形態において、クランプアーム２０は、ねじりコイルばね等の付勢部材（図示せず）によって、回動軸５１を中心としてクランプアーム４０に近づく方向に回動するように付勢されている。

クランプアーム２０は、本体部２１と、本体部２１から突出した一対のアーム部２２とを備える。各アーム部２２は、回動軸５１と平行な幅方向９１における本体部２１の両端部から突出している。各アーム部２２は、前述した貫通孔２１Ａと、押圧面２１Ｂとを有する。押圧面２１Ｂは、幅方向９１から見て円弧状に湾曲している。押圧面２１Ｂの曲率は、測定対象物６０の直径に合わせて（例えば、測定対象物６０の直径と同じまたはやや大きく）設定されている。

クランプアーム３０は、回動軸５１を中心として回動するように構成されている。本実施形態において、クランプアーム３０は、クランプアーム２０の一対のアーム部２２の間に設けられている。クランプアーム３０に設けられた貫通孔３１Ａに、シャフト５０が貫通されている。本実施形態において、クランプアーム３０は、ねじりコイルばね等の付勢部材（図示せず）によって、回動軸５１を中心としてクランプアーム４０に近づく方向に回動するように付勢されている。

クランプアーム３０は、一対の凸部３１を有する。各凸部３１は、前述した貫通孔３１Ａを有する。一対の凸部３１の一方は、突出部３１Ｂを有する。突出部３１Ｂは、回動するクランプアーム２０の本体部２１が凸部３１を押すことによって、クランプアーム３０は回動する。

クランプアーム３０は、カバー部材３３と、一対の突起３４と、突起３５とを備える。

カバー部材３３は、突起３４に被せられている。カバー部材３３は、クランプアーム３０に対して取り付け及び取り外し可能である。図１及び図２において、カバー部材３３はクランプアーム３０に取り付けられている。図３において、カバー部材３３はクランプアーム３０から取り外されている。

突起３４，３５は、クランプアーム３０の先端部３２に設けられている。クランプアーム３０の先端部３２は、クランプアーム３０のうち、回動軸５１と直交する径方向において回動軸５１から最も離れた部分である。突起３４，３５は、回動軸５１を中心としてクランプアーム３０に近づくように突出している。一対の突起３４は、幅方向９１に間隔をあけて設けられている。突起３５は、幅方向９１における一対の突起３４の間に設けられている。なお、突起３４，３５の位置関係は前記に限らず、例えば突起３５は一対の突起３４より幅方向９１の外側に設けられていてもよい。

図４は、本発明の実施形態に係るクランプセンサの斜視断面図である。図５は、図４の右側面図である。

図４及び図５に示すように、クランプアーム３０には、第１シールド導体３０Ａと、第１電極７１とが設けられている。

本実施形態において、第１シールド導体３０Ａは、クランプアーム３０の内面及び一対の突起３４の先端面３４Ａに亘って塗装された導電塗料（導電性材料を含む塗料）である。第１シールド導体３０Ａは、クランプアーム２０，４０によって挟持された測定対象物６０の外周面６０Ａの一部を覆うように形成されている。つまり、第１シールド導体３０Ａは、クランプアーム２０，４０によって挟持された測定対象物６０の外周面６０Ａと対向するようにクランプアーム３０に設けられている。

一対の突起３４の先端面３４Ａに塗装された導電塗料は、他の部分に塗布された導電塗料（クランプアーム３０の内面に塗装された導電塗料）と電気的に接続されている。第１シールド導体３０Ａは、第１接触部３０Ａａを有する。第１接触部３０Ａａは、一対の突起３４と、一対の突起３４の各々の先端面３４Ａに塗装された導電塗料（第１シールド導体３０Ａ）とによって構成されている。つまり、本実施形態において、第１シールド導体３０Ａは、複数の第１接触部３０Ａａを備える。

本実施形態において、第１電極７１は、クランプアーム３０の内部に配置された導電板である。第１電極７１は、円弧部７１Ａと、突出部７１Ｂとを備える。

円弧部７１Ａは、幅方向９１から見て円弧状に湾曲している。円弧部７１Ａの曲率は、測定対象物６０の直径に合わせて（例えば、測定対象物６０の直径と同じまたはやや大きく）設定されている。円弧部７１Ａは、測定対象物６０の外周面６０Ａの一部を覆う。図５に示すように、円弧部７１Ａの周方向の一端部７１Ａａは、円弧部７１Ａの周方向の端部のうち、測定対象物６０の挟み位置に対してシャフト５０（言い換えると回動軸５１）の反対側に位置する。測定対象物６０の挟み位置は、クランプアーム２０，３０とクランプアーム４０とによって測定対象物６０が挟まれる位置である。円弧部７１Ａの周方向の他端部７１Ａｂは、円弧部７１Ａの周方向の端部のうち、測定対象物６０の挟み位置に対してシャフト５０側に位置する。つまり、円弧部７１Ａの周方向の他端部７１Ａｂは、測定対象物６０の挟み位置とシャフト５０との間に位置する。突出部７１Ｂは、円弧部７１Ａの周方向の他端部７１Ａｂからシャフト５０へ向けて突出している。

なお、第１シールド導体３０Ａは導電塗料に限らず、第１電極７１は導電板に限らない。例えば、第１シールド導体３０Ａは、クランプアーム３０の内部に配置された導電板であってもよい。

図１～図３に示すように、クランプアーム４０は、回動軸５１を中心として回動するように構成されている。本実施形態において、クランプアーム４０は、クランプアーム２０，３０と、クランプアーム２０，３０，４０の回動方向に対向して設けられている。クランプアーム４０に設けられた貫通孔４１Ａに、シャフト５０が貫通されている。

クランプアーム４０は、一対の凸部４１を有する。各凸部４１は、前述した貫通孔４１Ａを有する。クランプアーム４０は、幅方向９１の両端部に受け面４０Ｂを有する。受け面４０Ｂは、幅方向９１から見て円弧状に湾曲している。受け面４０Ｂの曲率は、測定対象物６０の直径に合わせて（例えば、測定対象物６０の直径と同じまたはやや大きく）設定されている。受け面４０Ｂは、クランプアーム２０の押圧面２１Ｂと回動方向に対向しており、押圧面２１Ｂとの間に測定対象物６０を挟持することができる。

クランプアーム４０は、カバー部材４３と、一対の板ばね部４４と、凹部４５とを備える。

カバー部材４３は、板ばね部４４に被せられている。カバー部材４３は、クランプアーム４０に対して取り付け及び取り外し可能である。図１及び図２において、カバー部材４３はクランプアーム４０に取り付けられている。図３において、カバー部材４３はクランプアーム４０から取り外されている。

板ばね部４４及び凹部４５は、クランプアーム４０の先端部４２に設けられている。クランプアーム４０の先端部４２は、クランプアーム４０のうち、回動軸５１と直交する径方向において回動軸５１から最も離れた部分である。一対の板ばね部４４の各々は、一対の突起３４の各々と回動方向に対向している。一対の板ばね部４４の各々は、先端部４２から幅方向９１の外側に突出している。一対の板ばね部４４の各々は、幅方向９１の外側に向かうにしたがって突起３４に近づくように、幅方向９１に対して傾斜している。板ばね部４４は、弾性変形によって回動方向に撓むことが可能である。

凹部４５は、幅方向９１における一対の板ばね部４４の間に設けられている。凹部４５は、突起３５と回動方向に対向している。突起３５は、凹部４５に嵌ることが可能である（図１及び図３参照）。

図４及び図５に示すように、クランプアーム４０には、第２シールド導体４０Ａと、第２電極７２とが設けられている。

本実施形態において、第２シールド導体４０Ａは、クランプアーム４０の内面及び一対の板ばね部４４の対向面４４Ａに亘って塗装された導電塗料である。一対の板ばね部４４の対向面４４Ａは、一対の板ばね部４４の面のうち、突起３４の先端面３４Ａと回動方向に対向する面である。第２シールド導体４０Ａは、クランプアーム３０，４０によって挟まれた測定対象物６０の外周面６０Ａの一部を覆うように形成されている。つまり、第２シールド導体４０Ａは、クランプアーム３０，４０によって挟まれた測定対象物６０の外周面６０Ａと対向するようにクランプアーム４０に設けられている。

一対の板ばね部４４の対向面４４Ａに塗装された導電塗料は、他の部分に塗装された導電塗料（クランプアーム４０の内面に塗装された導電塗料）と電気的に接続されている。第２シールド導体４０Ａは、第２接触部４０Ａａを有する。第２接触部４０Ａａは、一対の板ばね部４４と、一対の板ばね部４４の各々の対向面４４Ａに塗装された導電塗料（第２シールド導体４０Ａ）とによって構成されている。つまり、本実施形態において、第２シールド導体４０Ａは、複数の第１接触部３０Ａａの各々に対応して１つずつ設けられた複数の第２接触部４０Ａａを備える。

本実施形態において、第２電極７２は、クランプアーム４０の内部に配置された導電板である。第２電極７２は、円弧部７２Ａと、突出部７２Ｂ，７２Ｃとを備える。

円弧部７２Ａは、幅方向９１から見て円弧状に湾曲している。円弧部７２Ａの曲率は、測定対象物６０の直径に合わせて（例えば、測定対象物６０の直径と同じまたはやや大きく）設定されている。円弧部７２Ａは、第１電極７１の円弧部７１Ａとは反対側から、測定対象物６０の外周面６０Ａの一部を覆う。つまり、第２電極７２は、第１電極７１との間に測定対象物６０を挟む。図５に示すように、円弧部７２Ａの周方向の一端部７２Ａａは、円弧部７２Ａの周方向の端部のうち、測定対象物６０の挟み位置に対してシャフト５０（言い換えると回動軸５１）の反対側に位置する。円弧部７２Ａの周方向の他端部は、円弧部７２Ａの周方向の端部のうち、測定対象物６０の挟み位置に対してシャフト５０側に位置する。つまり、円弧部７２Ａの周方向の他端部は、測定対象物６０の挟み位置とシャフト５０との間に位置する。突出部７２Ｂは、円弧部７２Ａの周方向の他端部からシャフト５０へ向けて突出している。

突出部７２Ｃは、幅方向９１において突出部７２Ｂに隣接して設けられている。突出部７２Ｃは、円弧部７２Ａの周方向の他端部から突出している。突出部７２Ｃは、幅方向９１から見て、クランプアーム３０から離れる方向に突出している。突出部７２Ｃは、クランプアーム４０の内部に配置されたプリント基板８０と電気的に接続されている。プリント基板８０には、測定対象物６０の被測定量を測定するための回路を構成する様々な電子部品が実装されている。本実施形態において、被測定量は、測定対象物６０（電線）に印加された電圧、または、測定対象物６０（電線）に流れる電流である。

なお、第２シールド導体４０Ａは導電塗料に限らず、第２電極７２は導電板に限らない。例えば、第２シールド導体４０Ａは、クランプアーム４０の内部に配置された導電板であってもよい。

第１接触部３０Ａａと第２接触部４０Ａａとは互いに接触すること（図３参照）及び離れること（図８参照）が可能である。

クランプアーム２０，３０がクランプアーム４０に対して開かれた状態において（図８参照）、第１接触部３０Ａａと第２接触部４０Ａａとは互いに離れている。

一方、図３～図５に示すように、クランプアーム３０，４０が測定対象物６０を挟んだ状態において、第１接触部３０Ａａと第２接触部４０Ａａとは互いに接触する。このとき、第１接触部３０Ａａの一部である突起３４の先端面３４Ａは、第２接触部４０Ａａの一部である板ばね部４４の対向面４４Ａを回動方向に押圧している。これにより、板ばね部４４が弾性変形によって回動方向に撓む。その結果、第１接触部３０Ａａ（詳細には突起３４の先端面３４Ａに塗装された第１シールド導体３０Ａ）及び第２接触部４０Ａａ（詳細には板ばね部４４の対向面４４Ａに塗装された第２シールド導体４０Ａ）は、第２接触部４０Ａａが第１接触部３０Ａａに押圧されて弾性変形によって撓んだ状態で互いに接触する。以上により、第１シールド導体３０Ａ及び第２シールド導体４０Ａは、互いに電気的に接続される。

本実施形態において、第２シールド導体４０Ａは、接地されている。言い換えると、第２シールド導体４０Ａは、グランドに電気的に接続されている。よって、第２シールド導体４０Ａと電気的に接続された第１シールド導体３０Ａも、接地されている。ここで、第１シールド導体３０Ａ及び第２シールド導体４０Ａは、クランプアーム３０，４０によって挟まれた測定対象物６０の外周面６０Ａと対向しており且つ外周面６０Ａを囲んでいる。以上のように構成されていることにより、第１シールド導体３０Ａ及び第２シールド導体４０Ａは、クランプアーム３０，４０によって挟まれた測定対象物６０に対する電磁波シールド機能を有する。なお、第２シールド導体４０Ａの代わりに第１シールド導体３０Ａが接地されていてもよいし、第１シールド導体３０Ａ及び第２シールド導体４０Ａの双方が接地されていてもよい。

なお、本実施形態では、第１シールド導体３０Ａ及び第２シールド導体４０Ａは、先端部３２，４２において互いに接触している一方で、測定対象物６０の挟み位置に対して先端部３２，４２の反対側において互いに接触していない。しかし、第１シールド導体３０Ａ及び第２シールド導体４０Ａは、当該反対側において互いに接触していてもよい。

図４及び図５に示す第１電極７１と第２電極７２とは互いに接触すること及び離れることが可能である。

クランプアーム２０，３０がクランプアーム４０に対して開かれた状態において（図８参照）、第１電極７１と第２電極７２とは互いに離れている。

一方、図４及び図５に示すように、クランプアーム３０，４０が測定対象物６０を挟んだ状態において、第１電極７１と第２電極７２とは互いに接触する。詳細には、第１電極７１の円弧部７１Ａの周方向の一端部７１Ａａは、第２電極７２の円弧部７２Ａの周方向の一端部７２Ａａと接触して電気的に接続される。また、第１電極７１の突出部７１Ｂは、第２電極７２の突出部７２Ｂと接触して電気的に接続される。これにより、第１電極７１及び第２電極７２は、幅方向９１から見て、測定対象物６０を完全に囲んでいる。

本実施形態において、測定対象物６０は電線であり、電線は、導体と、導体を覆う被覆部とを備える。第１電極７１及び第２電極７２は、電線の被覆部を挟んで、電線の導体と対向している。つまり、第１電極７１及び第２電極７２は、測定対象物６０（詳細には電線の導体）に容量結合して、クランプアーム３０，４０によって挟まれた電線の導体に印加された電圧（被測定量）を非接触で測定するように構成された電圧検出素子として機能する。すなわち、第１電極７１及び第２電極７２は、測定部の一例である。

図６は、第１クランプアームの斜視図である。図６に示すように、第１電極７１は、板ばね部７１Ｃを備える。板ばね部７１Ｃは、突出部７１Ｂの幅方向９１の両端部に設けられている。板ばね部７１Ｃは、突出部７１Ｂから幅方向９１の外側に延びている。板ばね部７１Ｃは、幅方向９１に外側に向かうにしたがって第２電極７２の突出部７２Ｂに近づくように、幅方向９１に対して傾斜している。板ばね部７１Ｃは、弾性変形によって回動方向に撓むことが可能である。

図７は、本発明の実施形態に係るクランプセンサの斜視断面図である。図７に示すように、第１電極７１の一対の板ばね部７１Ｃの各々と、第２電極７２の突出部７２Ｂとは、互いに接触可能である。例えば、クランプアーム３０，４０が測定対象物６０を挟んだ状態において、一対の板ばね部７１Ｃの各々と、突出部７２Ｂとは、互いに接触する。このとき、突出部７２Ｂは、一対の板ばね部７１Ｃを回動方向に押圧している。これにより、一対の板ばね部７１Ｃが弾性変形によって回動方向に撓む。その結果、突出部７２Ｂ及び一対の板ばね部７１Ｃは、一対の板ばね部７１Ｃが突出部７２Ｂに押圧されて弾性変形によって撓んだ状態で互いに接触する。以上により、第１電極７１及び第２電極７２は、互いに電気的に接続される。

第１電極７１及び第２電極７２は、測定対象物６０の挟み位置の両側において互いに接触している。これにより、前述したように、第１電極７１及び第２電極７２は、幅方向９１から見て、測定対象物６０を完全に囲んでいる。ここで、測定対象物６０の挟み位置に対してシャフト５０（回動軸５１）の反対側における接触の圧力（言い換えると、一端部７１Ａａ及び一端部７２Ａａの接触の圧力）を高めることで、一端部７１Ａａ，７２Ａａの接触の確実性が向上する。しかし、この場合、測定対象物６０の挟み位置に対してシャフト５０側における接触の圧力（言い換えると、突出部７１Ｂ及び突出部７２Ｂの接触の圧力）が低くなり、突出部７１Ｂ，７２Ｂの接触の確実性が低下するおそれがある。しかし、本実施形態では、仮に、突出部７１Ｂ，７２Ｂの接触の確実性が低下したとしても、板ばね部７１Ｃと突出部７２Ｂとの間の接触の確実性を良好に保つことができる。

前述したように、幅方向９１から見て、第１シールド導体３０Ａの第１接触部３０Ａａ及び第２シールド導体４０Ａの第２接触部４０Ａａは、図５に示すように、測定対象物６０の挟み位置に対するシャフト５０（回動軸５１）の反対側に位置する。一方、幅方向９１から見て、第１電極７１の第１接触部に相当する一対の板ばね部７１Ｃ及び第２電極７２の第２接触部に相当する突出部７２Ｂは、図６及び図７に示すように、測定対象物６０の挟み位置に対するシャフト５０側に位置する。つまり、第１シールド導体３０Ａの第１接触部３０Ａａ及び第２シールド導体４０Ａの第２接触部４０Ａａと、第１電極７１の第１接触部及び第２電極７２の第２接触部とは、測定対象物６０の挟み位置を挟んで互いに反対側に位置する。

なお、前記とは逆に、幅方向９１から見て、第１シールド導体３０Ａの第１接触部３０Ａａ及び第２シールド導体４０Ａの第２接触部４０Ａａは、測定対象物６０の挟み位置に対するシャフト５０側に位置していてもよい。また、幅方向９１から見て、第１電極７１の一対の板ばね部７１Ｃ及び第２電極７２の突出部７２Ｂは、測定対象物６０の挟み位置に対するシャフト５０の反対側に位置していてもよい。

また、第１シールド導体３０Ａの第１接触部３０Ａａ及び第２シールド導体４０Ａの第２接触部４０Ａａと、第１電極７１の第１接触部及び第２電極７２の第２接触部とは、双方ともに測定対象物６０の挟み位置に対して同じ側（例えば、双方ともに測定対象物６０の挟み位置に対してシャフト５０の反対側）に位置していてもよい。

図８は、本発明の実施形態に係るクランプセンサの斜視図である。図９は、本発明の実施形態に係るクランプセンサの右側面図である。

図９に示すように、突起３５は、測定対象物６０がクランプアーム３０，４０によって挟まれるときの測定対象物６０のクランプセンサ１０への挿入方向９２において第１接触部３０Ａａ及び第２接触部４０Ａａよりも挿入方向９２の上流側の位置に設けられている。

図８及び図９に示すように、クランプアーム３０が備える突起３５は、幅方向９１から見て第１接触部３０Ａａよりも第２接触部４０Ａａ側まで突出している。

なお、突起３５は、挿入方向９２において第１接触部３０Ａａ及び第２接触部４０Ａａと同位置に設けられていてもよい。また、突起３５は、クランプアーム４０に設けられていてもよい。この場合、突起３５は、幅方向９１から見て第２接触部４０Ａａよりも第１接触部３０Ａａ側まで突出している。

図１０は、本発明の実施形態に係るクランプセンサの斜視図である。図１０に示すように、本実施形態に係るクランプセンサ１０は、ネジ部８１を備える。ネジ部８１は、規制部の一例である。

図５に示すように、ネジ部８１は、クランプアーム２０とクランプアーム４０との間の空間９５に位置している。空間９５は、シャフト５０（回動軸５１）に対して測定対象物６０の反対側においてクランプアーム２０とクランプアーム４０との間に形成される。図５において、空間９５は、一点鎖線で囲まれた領域である。

図２に示すように、ネジ部８１は、本体８１１と、フランジ８１２とを備える。本体８１１は、棒状であり且つ外側面に不図示のネジ山及びネジ溝が形成された雄ネジである。フランジ８１２は、本体８１１の外側面から張り出している。つまり、ネジ部８１において、フランジ８１２の部分の直径は、本体８１１の部分の直径より大きい。

図１０に示すように、ネジ部８１の本体８１１は、クランプアーム４０が備える突出部４６に形成されたネジ穴４６Ｂに挿入される。つまり、ネジ部８１は、クランプアーム４０に対して相対移動可能にクランプアーム４０に取り付けられている。本実施形態において、ネジ部８１は、クランプアーム４０から取り外し可能である。なお、ネジ部８１は、クランプアーム４０から取り外し可能でなくてもよい。

突出部４６は、測定対象物６０の挟み位置に対してシャフト５０（言い換えると回動軸５１）の反対側に位置する。ネジ穴４６Ｂは、突出部４６の面４６Ａに形成されている。面４６Ａは、突出部４６の外面のうち、シャフト５０とは反対側を向く面である。ネジ穴４６Ｂは、内側面に不図示のネジ山及びネジ溝が形成された雌ネジである。ネジ穴４６Ｂの内側面に形成されたネジ山及びネジ溝は、ネジ部８１の本体８１１の外側面に形成されたネジ山及びネジ溝に対応している。これにより、雄ネジである本体８１１が、雌ネジであるネジ穴４６Ｂに、軸の周りに回転しながら挿入される。このとき、本体８１１の軸の周りの回転量に応じて、本体８１１のネジ穴４６Ｂへの挿入量が変化する。言い換えると、ネジ部８１のクランプアーム４０に対する相対位置は、ネジ部８１の軸の周りの回転量に応じて変わる。

ネジ部８１は、ネジ穴４６Ｂに対するネジ部８１の軸の周りの回転量が多くなる程、ネジ穴４６Ｂに深く挿入され、シャフト５０（回動軸５１）へ近づく。一方、ネジ部８１は、ネジ穴４６Ｂに対するネジ部８１の軸の周りの回転量が少なくなる程、ネジ穴４６Ｂへの挿入量が小さくなり、シャフト５０（回動軸５１）から遠くなる。つまり、ネジ部８１は、回動軸５１へ近づく向きと回動軸５１から離れる向きとに移動可能である。

ネジ部８１は、以下に詳述するクランプアーム２０の凸部８２と接触可能である。

図５及び図１０に示すように、クランプアーム２０は、凸部８２を備える。凸部８２は、クランプアーム２０，３０，４０の回動方向（回動軸５１の周りの周方向）において、ネジ部８１のフランジ８１２と対向している。

以下の説明において、クランプアーム２０，３０，４０の回動方向のうち、クランプアーム２０の回動方向は、図５及び図９に示される挟持方向９３及び挟持解除方向９４の総称とされる。挟持方向９３は、クランプアーム２０の回動方向のうち、クランプアーム２０及びクランプアーム４０によって測定対象物６０が挟持される方向である。挟持解除方向９４は、クランプアーム２０の回動方向のうち、クランプアーム２０及びクランプアーム４０によって挟持された測定対象物６０の挟持が解除される方向である。挟持方向９３及び挟持解除方向９４は、互いに逆向きである。図５及び図９の紙面上において、挟持方向９３は反時計回りであり、挟持解除方向９４は時計回りである。

クランプアーム２０，４０が測定対象物６０を挟持しているときに、クランプアーム２０が挟持解除方向９４へ回動すると、クランプアーム２０と測定対象物６０との距離が大きくなる。言い換えると、クランプアーム２０が挟持解除方向９４へ回動することによって、クランプアーム２０の押圧面２１Ｂ（図１参照）のクランプアーム４０の受け面４０Ｂ（図１参照）との間の距離が大きくなる。つまり、測定対象物６０が挟持される部分におけるクランプアーム２０とクランプアーム４０との間の最大距離が大きくなる。このとき、クランプアーム２０，４０が挟持可能な測定対象物６０の直径は大きくなる。

クランプアーム４０の受け面４０Ｂに測定対象物６０が支持され且つクランプアーム２０が測定対象物６０から離れているときに、クランプアーム２０が挟持方向９３へ回動すると、クランプアーム２０と測定対象物６０との距離が小さくなる。言い換えると、クランプアーム２０が挟持方向９３へ回動することによって、クランプアーム２０の押圧面２１Ｂ（図１参照）のクランプアーム４０の受け面４０Ｂ（図１参照）との間の距離が小さくなる。つまり、測定対象物６０が挟持される部分におけるクランプアーム２０とクランプアーム４０との間の最大距離が小さくなる。このとき、クランプアーム２０，４０が挟持可能な測定対象物６０の直径は小さくなる。

凸部８２は、ネジ部８１へ向けて突出している。言い換えると、凸部８２は、挟持解除方向９４へ突出している。

凸部８２は、面８２Ａを有する。面８２Ａは、接触面の一例である。面８２Ａは、凸部８２の外面のうち、挟持解除方向９４を向く面である。言い換えると、面８２Ａは、クランプアーム４０と挟持解除方向９４に対向する面である。

回動軸５１の軸方向から見て、つまり図５に示すアングルにおいて、凸部８２は、回動軸５１の径方向において回動軸５１に近い程、クランプアーム２０から挟持解除方向９４へ大きく突出している。これにより、凸部８２の外面に、回動軸５１の径方向に対して傾斜した面８２Ａが形成されている。回動軸５１の径方向は、回動軸５１の軸方向から見て回動軸５１から放射状に向かう方向である。面８２Ａは、回動軸５１の径方向のうち、回動軸５１から凸部８２へ延びる方向に対して傾斜している。なお、面８２Ａは、回動軸５１の径方向のうち、回動軸５１から凸部８２へ延びる方向に対して傾斜していなくてもよい。

面８２Ａは、ネジ部８１のフランジ８１２と接触可能である。図５に示す状態において、面８２Ａは、フランジ８１２と接触している。この状態において、クランプアーム２０は、挟持解除方向９４へ回動することはできない。クランプアーム２０の挟持解除方向９４への回動は、面８２Ａがフランジ８１２に接触していることによって、フランジ８１２によって規制されるためである。同様に、クランプアーム４０の回動（詳細にはネジ部８１がクランプアーム２０へ近づく向きの回動）も、フランジ８１２が面８２Ａに接触していることによって、凸部８２によって規制されている。

ネジ部８１が図５において実線で示す位置のときに、ネジ部８１が軸の周りに左右の一方に回転されて、ネジ部８１が図５の紙面における右側へ移動すると、図５に破線で示すように、ネジ部８１のクランプアーム４０に対する相対位置が変わる。このとき、フランジ８１２が面８２Ａから離れる。これにより、クランプアーム２０は、面８２Ａがフランジ８１２に接触するまで挟持解除方向９４へ更に回動可能となる。つまり、ネジ部８１が図５に破線で示す位置のときのクランプアーム２０の回動可能量は、ネジ部８１が図５に実線で示す位置のときのクランプアーム２０の回動可能量より大きくなる。また、クランプアーム２０の回動可能量が大きくなることにより、測定対象物６０が挟持される部分におけるクランプアーム２０とクランプアーム４０との間の最大距離（図１に示す押圧面２１Ｂ及び受け面４０Ｂの距離）が大きくなる。

逆に、ネジ部８１が図５において破線で示す位置のときに、ネジ部８１が軸の周りに左右の他方に回転されて、ネジ部８１が図５の紙面における左側へ移動すると、図５に実線で示すように、ネジ部８１のクランプアーム４０に対する相対位置が変わる。このとき、フランジ８１２が面８２Ａに近づく。これにより、クランプアーム２０の回動可能量は小さくなる。また、クランプアーム２０の回動可能量が小さくなることにより、測定対象物６０が挟持される部分におけるクランプアーム２０とクランプアーム４０との間の最大距離（図１に示す押圧面２１Ｂ及び受け面４０Ｂの距離）が小さくなる。

以上より、ネジ部８１のクランプアーム４０に対する相対位置に応じて、クランプアーム２０の回動可能量が異なり且つ測定対象物６０が挟持される部分におけるクランプアーム２０とクランプアーム４０との間の最大距離が異なる。

本実施形態によれば、クランプアーム２０及びクランプアーム４０によって測定対象物６０を挟持した状態で、ネジ部８１を移動させてクランプアーム２０と接触させることができる。これにより、クランプアーム２０の挟持解除方向９４への回動が規制される。その結果、クランプアーム２０及びクランプアーム４０によって測定対象物６０を挟持した状態において、第１電極７１及び第２電極７２の測定対象物６０に対する位置が変わる可能性が低くなる。よって、測定対象物６０の測定精度の低下を抑制することができる。

本実施形態によれば、規制部はネジ部８１である。ネジ部８１の挿入方向の位置は、段階的ではなく連続的に変化可能である。そのため、クランプアーム２０及びクランプアーム４０によって挟持された測定対象物６０の直径にかかわらず、第１電極７１及び第２電極７２の測定対象物６０に対する位置が変わる可能性を低くすることができる。

挟持解除方向９４へ回動するクランプアーム２０からネジ部８１へ作用する力の向きは、挟持解除方向９４である。そのため、仮に、ネジ部８１の移動方向が挟持解除方向９４である場合、クランプアーム２０からネジ部８１へ作用する力によって、ネジ部８１が移動する可能性が高まる。しかし、本実施形態によれば、ネジ部８１の移動方向は、回動軸５１へ近づく向きと回動軸５１から離れる向きであり、挟持解除方向９４と異なる。そのため、クランプアーム２０からネジ部８１へ作用する力によって、ネジ部８１が移動する可能性を低くすることができる。

本実施形態によれば、凸部８２が面８２Ａを有している。そのため、クランプアーム２０の挟持解除方向９４の回動位置にかかわらず、凸部８２の適切な位置にネジ部８３を接触させるように凸部８２を構成することが容易である。

本実施形態によれば、ネジ部８１がクランプアーム２０及びクランプアーム４０より外側に位置しない。そのため、クランプセンサ１０の大型化を抑制することができる。

前述した実施形態では、ネジ部８１は、回動軸５１へ近づく向きと回動軸５１から離れる向きとに移動可能である。しかし、ネジ部８１が前記の方向とは異なる方向に移動可能であるように、クランプセンサ１０が構成されていてもよい。また、前述した実施形態では、ネジ部８１は、クランプアーム２０とクランプアーム４０との間の空間９５に位置している。しかし、ネジ部８１の少なくとも一部が空間９５外に位置していてもよい。

例えば、クランプセンサ１０は、図１１に示すように構成されていてもよい。図１１は、本発明の実施形態の変形例に係るクランプセンサの斜視図である。以下、変形例に係るクランプセンサ１０Ａのうち、クランプセンサ１０と異なる部分が説明される。

図１１に示すように、変形例に係るクランプセンサ１０Ａは、ネジ部８１（図１０参照）の代わりにネジ部８３を備え、凸部８２（図１０参照）の代わりに凸部８４を備える。ネジ部８３は、規制部の一例である。

ネジ部８３は、本体８３１と、把持部８３２とを備える。本体８３１は、ネジ部８１の本体８１１（図１０参照）と同様に、棒状であり且つ外側面に不図示のネジ山及びネジ溝が形成された雄ネジである。把持部８３２は、本体８３１の一端部に形成されている。ネジ部８３が巻かれるとき、把持部８３２がユーザによって把持される。

本体８３１の多くの部分は、クランプアーム２０とクランプアーム４０との間の空間に位置している。本体８３１の一部は、クランプアーム４０に形成されたネジ穴４０Ｃを貫通して、クランプアーム２０とクランプアーム４０との間の空間の外に位置している。ネジ穴４０Ｃは、クランプアーム４０を貫通している。把持部８４１は、クランプアーム２０とクランプアーム４０との間の空間の外において本体８３１の一端部に取り付けられている。

本体８３１の他端部は、クランプアーム２０とクランプアーム４０との間の空間に位置している。本体８３１の他端部は、凸部８４と接触可能である。

ネジ穴４０Ｃは、概ねクランプアーム４０の回動方向に対する接線方向に延びている。ネジ穴４０Ｃは、ネジ穴４６Ｂ（図１０参照）と同様に、内側面に不図示のネジ山及びネジ溝が形成された雌ネジである。ネジ穴４０Ｃの内側面に形成されたネジ山及びネジ溝は、ネジ部８３の本体８３１の外側面に形成されたネジ山及びネジ溝に対応している。これにより、雄ネジである本体８３１が、雌ネジであるネジ穴４０Ｃに、軸の周りに回転しながら挿入される。図１０に示す構成と同様に、ネジ部８３のクランプアーム４０に対する相対位置は、ネジ部８３の軸の周りの回転量に応じて変わる。

ネジ部８３は、ネジ部８３の軸の周りの回転量が多くなる程、ネジ穴４０Ｃに深く挿入され、クランプアーム２０へ近づく。一方、ネジ部８３は、ネジ部８３の軸の周りの回転量が少なくなる程、ネジ穴４０Ｃへの挿入量が小さくなり、クランプアーム２０から遠くなる。つまり、ネジ部８３は、クランプアーム２０へ近づく向きとクランプアーム２０から離れる向きとに移動可能である。

クランプアーム２０は、凸部８４を備える。凸部８４は、クランプアーム２０，３０，４０の回動方向（回動軸５１の周りの周方向）において、ネジ部８３の本体８３１の他端部と対向している。

凸部８４は、ネジ部８３の本体８３１の他端部へ向けて突出している。言い換えると、凸部８４は、挟持解除方向９４へ突出している。

凸部８４は、ネジ部８３の本体８３１の他端部と接触可能である。図１１に示す状態において、面８２Ａは、本体８３１の他端部と接触している。この状態において、クランプアーム２０は、挟持解除方向９４へ回動することはできない。クランプアーム２０の挟持解除方向９４への回動は、凸部８４が本体８３１の他端部に接触していることによって、本体８３１の他端部によって規制されるためである。同様に、クランプアーム４０の回動（詳細にはネジ部８１がクランプアーム２０へ近づく向きの回動）も、本体８３１の他端部が凸部８４に接触していることによって、凸部８４によって規制されている。

ネジ部８３が軸の周りに左右の一方に回転されて、ネジ部８３が凸部８４から遠ざかる向きへ移動すると、ネジ部８３のクランプアーム４０に対する相対位置が変わる。このとき、クランプアーム２０は、凸部８４がネジ部８３の本体８３１の他端部に接触するまで挟持解除方向９４へ更に回動可能となる。つまり、クランプアーム２０の回動可能量は大きくなる。

逆に、ネジ部８３が軸の周りに左右の他方に回転されて、ネジ部８３が凸部８４に近づく向きへ移動して、ネジ部８３のクランプアーム４０に対する相対位置が変わると、クランプアーム２０の回動可能量は小さくなる。

以上より、図１１に示すクランプセンサ１０Ａでは、図１０に示すクランプセンサ１０と同様に、ネジ部８３のクランプアーム４０に対する相対位置に応じて、クランプアーム２０の回動可能量が異なり且つ測定対象物６０が挟持される部分におけるクランプアーム２０とクランプアーム４０との間の最大距離が異なる。

本実施形態の変形例によれば、ネジ部８３がクランプアーム２０と接触しているとき、クランプアーム２０からネジ部８３へ作用する力の向きは、ネジ部８３の移動方向である。ネジ部８３の移動方向は、ネジ部８３の軸方向（ネジ部８３の長手方向）である。そのため、当該力によってネジ部８３が曲がること等によって破損する可能性を低くすることができる。

本実施形態の変形例によれば、ネジ部８３は、クランプアーム２０に設けられてネジ部８３へ向けて突出した凸部８４と接触する。そのため、ネジ部８３がクランプアーム２０に接触するまでのネジ部８３の移動量を小さくすることができる。

本実施形態において、測定部（第１電極７１及び第２電極７２）は、クランプアーム３０，４０の双方に設けられている。しかし、測定部は、クランプアーム３０，４０の一方のみに設けられていてもよい。例えば、クランプセンサ１０は、第１電極７１及び第２電極７２のうちの一方のみを備えていてもよい。

本実施形態において、第１シールド導体３０Ａ及び第２シールド導体４０Ａが第１接触部３０Ａａ及び第２接触部４０Ａａを備えると共に、第１電極７１及び第２電極７２が第１接触部（一対の板ばね部７１Ｃ）及び第２接触部（突出部７２Ｂ）を備える。しかし、第１接触部及び第２接触部は、第１シールド導体３０Ａ及び第２シールド導体４０Ａと、第１電極７１及び第２電極７２との一方のみに設けられていてもよい。例えば、第１電極７１及び第２電極７２が第１接触部に相当する一対の板ばね部７１Ｃを備えていなくてもよい。

本実施形態とは逆に、突起３４がクランプアーム４０に設けられ、一対の板ばね部４４がクランプアーム３０に設けられていてもよい。

本実施形態において、第１電極７１が一対の板ばね部７１Ｃを備えているが、第２電極７２が一対の板ばね部７１Ｃを備えていてもよい。この場合、突出部７１Ｂが、一対の板ばね部７１Ｃを回動方向に押圧する。

第１接触部及び第２接触部の構成は、本実施形態において説明された構成に限らない。つまり、第１接触部及び第２接触部の一方が他方に押圧されて当該一方及び当該他方の少なくとも一方が弾性変形によって撓んだ状態で互いに接触する構成である限りにおいて、様々な構成が第１接触部及び第２接触部として適用可能である。

例えば、本実施形態では、第１接触部３０Ａａ及び第２接触部４０Ａａは、第２接触部４０Ａａが第１接触部３０Ａａに押圧されて第２接触部４０Ａａが弾性変形によって撓んだ状態で互いに接触する。しかし、前記とは逆に、第１接触部及び第２接触部は、第１接触部が第２接触部に押圧されて第１接触部が弾性変形によって撓んだ状態で互いに接触してもよい。また、第１接触部及び第２接触部は、双方が互いに押圧されて第１接触部及び第２接触部の双方が弾性変形によって撓んだ状態で互いに接触してもよい。

クランプセンサ１０，１０Ａは凸部８２，８４を備えていなくてもよい。この場合、ネジ部８１，８３は、例えばクランプアーム２０におけるクランプアーム４０との対向面に接触可能である。

規制部の構成は、本実施形態及び変形例において説明された構成に限らない。例えば、規制部は、クランプアーム４０ではなくクランプアーム２０に取り付けられてもよい。規制部は、２つのクランプアームの一方に対して相対移動可能に２つのクランプアームの一方に取り付けられ、測定対象物６０との距離が大きくなる回動方向である挟持解除方向に２つのクランプアームの他方が回動することを、２つのクランプアームの他方と接触することによって規制する構成であればよい。また、規制部の２つのクランプアームの一方に対する相対位置に応じて、２つのクランプアームの他方の回動可能量が異なり且つ測定対象物６０が挟持される部分における２つのクランプアームの間の最大距離が異なればよい。以上の限りにおいて、様々な構成が規制部として適用可能である。

本発明は、適宜図面を参照しながら好ましい実施の形態に関連して充分に記載されているが、この技術に熟練した人々にとっては種々の変形や修正は明白である。そのような変形や修正は、添付した請求の範囲による本発明の範囲から外れない限りにおいて、その中に含まれると理解されるべきである。

本発明に係るクランプセンサは、２つのクランプアームが測定対象物を挟持したときに、当該２つのクランプアームが回動することを規制することができる。そのため、例えば、クランプセンサが備える測定部の測定対象物に対する位置ずれを防止することによって、測定対象物の電圧測定を精度よく行う必要がある電力品質監視などの用途に有用である。

１０ クランプセンサ
２０ クランプアーム（第１クランプアーム）
４０ クランプアーム（第２クランプアーム）
４６Ｂ ネジ穴
５１ 回動軸
６０ 測定対象物
７１ 第１電極（測定部）
７２ 第２電極（測定部）
８１ ネジ部（規制部）
８２ 凸部
８２Ａ 面（接触面）
８４ 凸部
９４ 挟持解除方向
９５ 空間

Claims (7)

1. 回動軸を中心として回動する第１クランプアームと、
   前記回動軸を中心として回動し、前記第１クランプアームと協働して測定対象物を挟持可能な第２クランプアームと、
   前記第１クランプアーム及び前記第２クランプアームの少なくとも一方に設けられ、前記測定対象物の被測定量を測定する測定部と、
   前記第２クランプアームに対して相対移動可能に前記第２クランプアームに取り付けられ、前記測定対象物との距離が大きくなる回動方向である挟持解除方向に前記第１クランプアームが回動することを、前記第１クランプアームと接触することによって規制する規制部と、を備え、
   前記規制部の前記第２クランプアームに対する相対位置に応じて、前記第１クランプアームの回動可能量が異なり且つ前記測定対象物が挟持される部分における前記第１クランプアームと前記第２クランプアームとの間の最大距離が異なるクランプセンサ。
2. 前記規制部は、前記第２クランプアームに形成されたネジ穴に挿入されるネジ部であり、
   前記規制部の前記相対位置は、前記ネジ部の軸の周りへの回転量に応じて変わる請求項１に記載のクランプセンサ。
3. 前記規制部は、前記第１クランプアームへ近づく向きと前記第１クランプアームから離れる向きとに移動可能である請求項１または２に記載のクランプセンサ。
4. 前記第１クランプアームは、前記規制部へ向けて突出した凸部を備え、
   前記規制部は、前記凸部と接触することによって前記第１クランプアームの前記挟持解除方向への回動を規制する請求項３に記載のクランプセンサ。
5. 前記規制部は、前記回動軸へ近づく向きと前記回動軸から離れる向きとに移動可能である請求項１または２に記載のクランプセンサ。
6. 前記第１クランプアームは、前記規制部へ向けて突出した凸部を備え、
   前記回動軸の軸方向から見て、前記凸部は、前記回動軸の径方向において前記回動軸に近い程、前記第１クランプアームから前記回動軸の周方向へ大きく突出することによって形成され、前記規制部と接触可能な接触面を有し、
   前記規制部は、前記接触面と接触することによって前記挟持解除方向への前記第１クランプアームの回動を規制する請求項５に記載のクランプセンサ。
7. 前記規制部は、前記回動軸に対して前記測定対象物の反対側において前記第１クランプアームと前記第２クランプアームとの間に形成される空間に位置している請求項１から６のいずれか１項に記載のクランプセンサ。

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