JP2023113198A - 信号発生装置、レベル補正値算出システム、レベル補正値算出方法 - Google Patents
信号発生装置、レベル補正値算出システム、レベル補正値算出方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2023113198A JP2023113198A JP2022015374A JP2022015374A JP2023113198A JP 2023113198 A JP2023113198 A JP 2023113198A JP 2022015374 A JP2022015374 A JP 2022015374A JP 2022015374 A JP2022015374 A JP 2022015374A JP 2023113198 A JP2023113198 A JP 2023113198A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- value
- signal
- variable attenuator
- attenuation amount
- attenuation
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000012937 correction Methods 0.000 title claims abstract description 37
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 title claims abstract description 19
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 title claims description 14
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 65
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 14
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 claims abstract description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 12
- 230000008569 process Effects 0.000 description 11
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 4
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 3
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000010295 mobile communication Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B17/00—Monitoring; Testing
- H04B17/10—Monitoring; Testing of transmitters
- H04B17/11—Monitoring; Testing of transmitters for calibration
- H04B17/13—Monitoring; Testing of transmitters for calibration of power amplifiers, e.g. gain or non-linearity
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B1/00—Details of transmission systems, not covered by a single one of groups H04B3/00 - H04B13/00; Details of transmission systems not characterised by the medium used for transmission
- H04B1/02—Transmitters
- H04B1/04—Circuits
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B17/00—Monitoring; Testing
- H04B17/10—Monitoring; Testing of transmitters
- H04B17/101—Monitoring; Testing of transmitters for measurement of specific parameters of the transmitter or components thereof
- H04B17/102—Power radiated at antenna
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Control Of Amplification And Gain Control (AREA)
Abstract
Description
2 信号発生部
3 DAコンバータ
4 RFモジュール
5 ADコンバータ
6 測定部
7 制御部
40、42、44、46 可変減衰器
Claims (3)
- 所定のデジタル信号を発生させる信号発生部(2)と、
前記信号発生部で発生されたデジタル信号を所定の無線周波数のアナログ信号に変換するDAコンバータ(3)と、
前記DAコンバータで変換されたアナログ信号を減衰させる可変減衰器(40、42、44、46)と、
前記可変減衰器で減衰され、1つ以上の半導体部品を通過した信号のレベルを検出する測定部(6)と、
前記可変減衰器の減衰量の最大値を所定の減衰量である変動量で分割した複数のステップそれぞれでの前記可変減衰器の減衰量の補正値であるステップエラー値を求める制御部(7)と、を備え、
前記制御部は、前記信号発生部のゲインをゼロとし、前記可変減衰器での減衰量をゼロとしたときの前記測定部での測定値を減衰量ゼロでのステップエラー値とし、前記信号発生部のゲインをマイナスの前記変動量とし、前記可変減衰器での減衰量を前の測定時の減衰量としたときの前記測定部での測定値を基準値とし、前記信号発生部のゲインをゼロとし、前記可変減衰器での減衰量を前の測定時の減衰量に前記変動量を加えた減衰量としたときの前記測定部での測定値を、前記基準値から減算した値を誤差値とし、前記誤差値と、前のステップのステップエラー値と、を加算した値を次のステップのステップエラー値とし、これを繰り返して前記可変減衰器の補正値を算出する信号発生装置。 - 所定のデジタル信号を発生させる信号発生部(2)と、
前記信号発生部で発生されたデジタル信号を所定の無線周波数のアナログ信号に変換するDAコンバータ(3)と、
前記DAコンバータで変換されたアナログ信号を減衰させる可変減衰器(40、42、44、46)と、
前記可変減衰器の減衰量の最大値を所定の減衰量である変動量で分割した複数のステップそれぞれでの前記可変減衰器の減衰量の補正値であるステップエラー値を求める制御部(7)と、を備える信号発生装置(1)と、前記信号発生装置の出力する信号のレベルを検出して前記制御部に送信する測定装置と、を備えるレベル補正値算出システムであって、
前記制御部は、前記信号発生部のゲインをゼロとし、前記可変減衰器での減衰量をゼロとしたときの前記測定装置での測定値を減衰量ゼロでのステップエラー値とし、前記信号発生部のゲインをマイナスの前記変動量とし、前記可変減衰器での減衰量を前の測定時の減衰量としたときの前記測定装置での測定値を基準値とし、前記信号発生部のゲインをゼロとし、前記可変減衰器での減衰量を前の測定時の減衰量に前記変動量を加えた減衰量としたときの前記測定装置での測定値を、前記基準値から減算した値を誤差値とし、前記誤差値と、前のステップのステップエラー値と、を加算した値を次のステップのステップエラー値とし、これを繰り返して前記可変減衰器の補正値を算出するレベル補正値算出システム。 - 所定のデジタル信号を発生させる信号発生部(2)と、前記信号発生部で発生されたデジタル信号を所定の無線周波数のアナログ信号に変換するDAコンバータ(3)と、前記DAコンバータで変換されたアナログ信号を減衰させる可変減衰器(40、42、44、46)と、前記可変減衰器で減衰され、1つ以上の半導体部品を通過した信号のレベルを検出する測定部(6)と、前記可変減衰器の減衰量の最大値を所定の減衰量である変動量で分割した複数のステップそれぞれでの前記可変減衰器の減衰量の補正値であるステップエラー値を求める制御部(7)と、を備える信号発生装置(1)のレベル補正値算出方法であって、
前記信号発生部のゲインをゼロとし、前記可変減衰器での減衰量をゼロとしたときの前記測定部での測定値を減衰量ゼロでのステップエラー値とするステップと、
前記信号発生部のゲインをマイナスの前記変動量とし、前記可変減衰器での減衰量を前の測定時の減衰量としたときの前記測定部での測定値を基準値とするステップと、
前記信号発生部のゲインをゼロとし、前記可変減衰器での減衰量を前の測定時の減衰量に前記変動量を加えた減衰量としたときの前記測定部での測定値を、前記基準値から減算した値を誤差値とするステップと、
前記誤差値と、前のステップのステップエラー値と、を加算した値を次のステップのステップエラー値とするステップと、
これらのステップを繰り返して前記可変減衰器の補正値を算出するレベル補正値算出方法。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2022015374A JP7478175B2 (ja) | 2022-02-03 | 2022-02-03 | 信号発生装置、レベル補正値算出システム、レベル補正値算出方法 |
US18/069,435 US20230246720A1 (en) | 2022-02-03 | 2022-12-21 | Signal generation apparatus, level correction value calculation system, and level correction value calculation method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2022015374A JP7478175B2 (ja) | 2022-02-03 | 2022-02-03 | 信号発生装置、レベル補正値算出システム、レベル補正値算出方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2023113198A true JP2023113198A (ja) | 2023-08-16 |
JP7478175B2 JP7478175B2 (ja) | 2024-05-02 |
Family
ID=87432769
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2022015374A Active JP7478175B2 (ja) | 2022-02-03 | 2022-02-03 | 信号発生装置、レベル補正値算出システム、レベル補正値算出方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20230246720A1 (ja) |
JP (1) | JP7478175B2 (ja) |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3639804B2 (ja) | 2001-07-02 | 2005-04-20 | アンリツ株式会社 | 移動端末試験システム及び信号の補正方法 |
JP4455605B2 (ja) | 2007-02-20 | 2010-04-21 | アンリツ株式会社 | 信号発生装置 |
JP5612715B2 (ja) | 2013-02-05 | 2014-10-22 | アンリツ株式会社 | 携帯端末試験用接続装置の校正システムおよび校正方法 |
JP6259742B2 (ja) | 2014-09-17 | 2018-01-10 | アンリツ株式会社 | 試験装置及びその校正方法 |
-
2022
- 2022-02-03 JP JP2022015374A patent/JP7478175B2/ja active Active
- 2022-12-21 US US18/069,435 patent/US20230246720A1/en active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20230246720A1 (en) | 2023-08-03 |
JP7478175B2 (ja) | 2024-05-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
RU2297714C2 (ru) | Система и способ для калибровки управления мощностью устройства радиосвязи | |
US20070176681A1 (en) | Transmission power control device | |
JP6738359B2 (ja) | 信号発生装置とその出力レベル調整方法 | |
KR20140040156A (ko) | 포락선 추적 증폭 스테이지에서 시간 및 진폭 정렬 | |
JP7478172B2 (ja) | 信号発生装置、レベル補正値算出システム、レベル補正値算出方法 | |
JP7478175B2 (ja) | 信号発生装置、レベル補正値算出システム、レベル補正値算出方法 | |
JP7431265B2 (ja) | 信号発生装置、レベル補正値算出システム、レベル補正値算出方法 | |
JP5696725B2 (ja) | 送信電力制御回路及び送信装置、送信電力制御方法、プログラム | |
JP7395542B2 (ja) | 信号発生装置とその直線性補正方法 | |
JP5486613B2 (ja) | 信号発生装置及び信号発生方法 | |
JP7165574B2 (ja) | 信号発生装置とその温度変化に対する補正方法 | |
US20060083330A1 (en) | Distortion compensation table creation method and distortion compensation method | |
JP7165765B2 (ja) | 信号発生装置とその減衰量補正方法 | |
JP3077427B2 (ja) | データ受信装置 | |
CN220207791U (zh) | 射频测试机及射频测试系统 | |
JP7495092B2 (ja) | 高周波出力装置および高周波出力安定化方法 | |
JP7165766B2 (ja) | 信号発生装置とその減衰量補正方法 | |
JP2013138308A (ja) | 信号発生装置及び信号発生方法 | |
JP2008193719A (ja) | 無線送信装置 | |
JP3637258B2 (ja) | アンプ測定装置 | |
JP4769549B2 (ja) | 無線送信装置 | |
JP2990507B2 (ja) | 信号発生装置および隣接・隣々接チャネル漏洩電力測定システム | |
JP2017028535A (ja) | 送信回路及び送信回路の制御方法 | |
JP2022109772A (ja) | 信号発生装置とその減衰量補正方法 | |
CN116265959A (zh) | 测量系统及相关方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20230627 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20240318 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20240416 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20240419 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7478175 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |