JP2023016281A - 材料試験機 - Google Patents
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Abstract
Description
かかる材料試験機においては、供試体の傾きに起因して、負荷方向と異なる方向に分力が生じ、この分力が負荷アクチュエータに作用する。そこで、特許文献1の材料試験機は、分力の発生時に負荷方向に直交する方向に移動可能に負荷治具が構成されており、負荷アクチュエータに作用する分力が負荷治具の移動によって低減されるようになっている。
図1は、本実施形態に係る材料試験機1の構成を示す図である。
材料試験機1は、試験片TP(「供試体」とも言う)に負荷(「試験力」とも言う)を与える試験機本体2と、当該試験機本体2を制御する制御装置4と、を備える。
試験機本体2は、テーブル11と、当該テーブル11に垂直に立設された2本の支柱12A、12Bと、これらの支柱12A、12Bに直交する方向に延び、これらの支柱12、13Bに両端部が支持されたクロスヘッド13と、テーブル11とクロスヘッド13との間に配置された試験片TPに負荷を与える負荷アクチュエータ14と、を備える。
テーブル11、支柱12A、12B、及びクロスヘッド13は負荷枠を構成し、負荷アクチュエータ14は、負荷枠の一部であるクロスヘッド13に配設される。また、試験機本体2は、試験片TPを固定する固定治具15と、試験片TPに与えられている負荷を検出するロードセル16と、を備え、当該固定治具15が負荷アクチュエータ14の下方の位置で、ロードセル16を介してテーブル11に固定される。
なお、ロードセル16は負荷アクチュエータ14に固定されてもよく、この場合、ロードセル16は、直動する後述する軸20と固定治具15との間に配設される。
また、試験機本体2は、負荷アクチュエータ14がテーブル11に配置され、ロードセル16がクロスヘッド13に配置されてもよい。
本実施形態の昇降アクチュエータ18は、駆動源であるサーボモータと、当該サーボモータの出力を支柱12A、12Bの下端部12A1、12B1に伝達し、これらの支柱12A、12Bを回転する伝達機構とを備える。これら支柱12A、12Bは、ねじ棹であり、クロスヘッド13の両端部が支柱12A、12Bに螺合している。そして、支柱12A、12Bが昇降アクチュエータ18によって回転駆動されることで、クロスヘッド13が昇降し、例えば、試験片TPの大きさなどに応じてクロスヘッド13の高さ位置が変更される。なお、昇降アクチュエータ18は、例えば、クロスヘッド13を昇降する油圧式又は空圧式のシリンダを備えた構成、又は、手動操作されるハンドルを備え、当該ハンドルの操作に応じてクロスヘッド13を昇降する構成でもよい。
なお、固定治具15の構成は、材料試験の目的(種類)や試験片TPの形状などに応じて変更可能である。すなわち、固定治具15は、試験片TPをテーブル11に対して固定可能であって、負荷アクチュエータ14による負荷を試験片TPに付与可能な他の構成でもよい。
すなわち、制御装置4は、材料試験時に、負荷アクチュエータ14に駆動信号を出力することで、当該負荷アクチュエータ14の駆動を制御して、軸20を垂直方向DAに直線移動させ、固定治具15に固定された試験片TPに負荷を与える。この場合において、制御装置4は、材料試験の目的に応じた態様の負荷が試験片TPに与えられるように負荷アクチュエータ14を駆動する駆動信号を出力する。例えば、材料試験が試験片TPの疲労・耐久試験である場合、制御装置4は、垂直方向DAに軸20を周期的に垂直方向DAに進退駆動するための駆動信号を生成し、当該駆動信号を負荷アクチュエータ14に出力する。負荷アクチュエータ14が当該駆動信号にしたがって軸20を駆動することで、試験片TPに繰り返し負荷が与えられる。
試験片TPに負荷が与えられると、この負荷がロードセル16によって検出され、制御装置4に負荷の検出値が出力される。そして、制御装置4は、負荷の検出値、及び、軸20のストーローク(試験片TPの変形量)に基づいて試験結果を演算によって求める。
本実施形態の負荷アクチュエータ14は、電磁力を用いて軸20を直動駆動する電磁アクチュエータであり、油圧シリンダなどを用いたアクチュエータに比べて高精度に負荷を制御できる。かかる負荷アクチュエータ14は、図2に示すように、略円筒状のケーシング22と、当該ケーシング22を貫通するロッド24と、ケーシング22に収容された磁気駆動部26と、を備え、ロッド24が上記軸20を構成し、磁気駆動部26が、制御装置4の駆動信号に基づいてロッド24を直動駆動する。負荷アクチュエータ14は、ロッド24が垂直方向DAに平行になる状態で試験機本体2に設けられ、垂直方向DAを負荷方向とする負荷が負荷アクチュエータ14によって試験片TPに与えられる。
負荷アクチュエータ14は、ケーシング22の天面22A、及び底面22Bのそれぞれに、ケーシング22を貫通するロッド24の両端部を上下動可能に支持する第1支持装置41と、第2支持装置42と、を備える。
第1支持装置41、及び第2支持装置42はいずれも略同一の構成を有し、ケーシング22の天面22A、又は底面22Bに固定されるホルダー50と、当該ホルダー50の端部50Aに固定されたロッド係止具51と、当該ロッド係止具51に固定されたガイドユニット52と、を備える。なお、第1支持装置41には、ロッド24の回転を制限する回り止め機構がロッド係止具51に取り付けられており、この取付構造を有無により、第1支持装置41と第2支持装置42のロッド係止具51の形状に違いが生じている。
ガイドユニット52は、ロッド24の直動をガイドする装置であり、ロッド24が貫通する円筒状のケース60と、当該ケース60に内設され、ロッド24を支える軸受62と、を備える。軸受62は、流体軸受の一種である静圧式の空気軸受である。空気軸受は作動流体に空気が用いられた、すべり軸受の一種でもある。かかる軸受62は、ロッド24との間に僅かな隙間δをあけて当該ロッド24の軸周りを包囲する円筒状部材であるスリーブ65を備え、当該隙間δの空気圧によってロッド24を支える。より具体的には、ガイドユニット52は、ケース60とスリーブ65の間に、外部から空気が流入する密封の空気室66を有し、また、空気室66から給気孔67を介して隙間δに連通する複数の微細な絞り孔67Aがスリーブ65の軸受面65Bに開口している。空気室66は、スリーブ65の外側面65Aの全周に亘って、ケース60の内側に形成された空間であり、ケース60の外表面60Aに設けられたコネクタ68が空気室66に連通し、外部の圧縮機で圧縮された圧縮空気がコネクタ68から空気室66に供給される。給気孔67は、スリーブ65の径方向に延びた略円筒状を成し、スリーブ65の周方向に所定間隔で形成されており、また、周方向に並ぶ給気孔67の列が、スリーブ65の軸方向にも1列又は複数列(図示例では2列)形成されている。絞り孔67Aは、各給気孔67の隙間δ側の先端に設けられ、当該給気孔67よりも径が非常に小さな貫通孔である。空気室66から給気孔67に流れ込む圧縮空気が絞り孔67Aで絞られることで隙間δの空気圧が高められ、軸受62の剛性が高められる。
また、試験片TPに負荷を与えた際に、ロッド24の直動方向に交差する方向の力(以下、「横力」という)がロッド24に作用する場合でも、軸受62の隙間δの空気圧が高圧に維持されることでロッド24と軸受62との接触を防止し、非接触状態が維持される。これにより、横力がロッド24に作用する場合でも、摩擦抵抗の発生が抑えられる。
これに対し、自成絞り、及びオリフィス絞りは、隙間δが多孔質絞りよりも大きく、十~数十μmオーダの大きさである。したがって、これら自成絞り、又はオリフィス絞りを絞り孔67Aに用いることで、第1支持装置41及び第2支持装置42の間で隙間δの互いの位置を容易に合わせることができ、ロッド24の直動時の接触を防止できる。本実施形態の絞り孔67Aには、加工性やコストの点で優れた自成絞りが用いられている。
試験態様1は、ロッド24の直動方向(垂直方向DA)に対して試験片TPが傾斜した傾斜面TPAを有し、この傾斜面TPAにロッド24の先端24A(軸20の先端)を所定周期で繰り返し当接させて負荷を与え、試験片TPの変形を測定する試験である。
試験態様2は、垂直方向DAに伸縮自在な試験片TP(例えば、ショックアブソーバー)にリング部材80を装着し、当該リング部材80を水平方向DBにワイヤ81で引張り当該試験片TPに水平方向DBの横力を加えた状態で、ロッド24の先端24A(軸20の先端)を所定周期で繰り返し当接させて負荷を与え、試験片TPの伸縮時の摺動抵抗などを測定する試験である。
これらの試験態様1,及び試験態様2のいずれにおいても、負荷アクチュエータ14のロッド24の直動によって試験片TPに負荷を与えた場合、横力の成分を含む反力がロッド24に作用する。
同図に示す出力波形は、試験機本体2が備えるロードセル16から出力される波形であり、ロッド24によって試験片TPに与えられている負荷の検出値を示す。
試験態様1では、所定周波数の正弦波形の駆動信号が負荷アクチュエータ14の磁気駆動部26に入力されることで、ロッド24の直動時のストローク(変位量)も正弦波状に変化し、かかるロッド24によって試験片TPに負荷が与えられることで、試験力の検出値も正弦波状に変化する。
しかしながら、試験態様1では横力がロッド24に作用するため、負荷アクチュエータ14の軸受62が滑り軸受けである場合には、ロッド24と滑り軸受の摩擦抵抗によってロッド24の直動が影響を受け、結果として、負荷の検出値(線A)の正弦波形に歪みが生じ、負荷が適切に与えられず、試験に影響が生じる。特に、負荷の検出値の出力波形(線A)における歪みは、負荷が弱いほど顕著になっており、負荷が弱くなるほど、出力波形における摩擦抵抗の影響が大きい。
これに対し、軸受62が空気軸受である場合には、ロッド24と軸受62とが非接触状態に維持されることで摩擦抵抗の発生が抑えられているため、負荷が弱いときであっても、負荷の検出値(線B)の波形の歪みが抑えられている。
同図に示す出力波形は、試験機本体2が備える負荷アクチュエータ14から出力される波形であり、ロッド24のストロークを検出するセンサの出力波形を示す。試験機本体2において、かかるセンサは、ロッド24の上下移動を検出可能に、負荷アクチュエータ14におけるロッド24の上端部の近傍に取り付けられている。
試験態様2では、試験態様1と同様に、所定周波数の正弦波形の駆動信号が負荷アクチュエータ14の磁気駆動部26に入力されることで、ロッド24の試験片TP側へのストロークも正弦波状に変化し、試験片TPの伸縮変形も正弦波状に変化する。
しかしながら、試験態様2でも横力がロッド24に作用するため、負荷アクチュエータ14の軸受62が滑り軸受けである場合には、ストロークの検出値(線A)の正弦波形に歪みが生じ、負荷が適切に与えられず、試験に影響が生じる。特に、ストロークの検出値の出力波形(線A)における歪みは、試験片TPを引っ張る横力が強いほど顕著になっている。
これに対し、軸受62が空気軸受である場合には、試験片TPを引っ張る横力が強いときでも、ロッド24と軸受62とが非接触状態に維持されることで摩擦抵抗の発生が抑えられ、ストロークの検出値(線B)の波形の歪みが抑えられている。
これに加え、軸受62における摩擦抵抗の発生が抑えられることで、発熱も抑えられる。
さらに、軸受62が空気軸受であるため、隙間δの高圧の気体で力が釣り合う位置でロッド24が支えられる。これにより、滑り軸受や転がり軸受などの一般的な軸受の嵌め合い精度よりも軸心の位置決め精度が高められる。
この構成によれば、絞り孔67Aが多孔質絞りである場合に比べ、軸受62の隙間δが大きくなり、ロッド24の両端部の軸受62のそれぞれの隙間δの互いの位置を容易に合わせることができる。これにより、ロッド24が直動したときに軸受62との接触を防止できる。
なお、絞り孔67Aは、オリフィス絞りであってもよい。
この構成によれば、ロッド24によって所定周期で繰り返し試験片TPに負荷を与えて試験を行うことができる。この場合において、負荷の反力によって横力がロッド24に作用したときでも、ロッド24と軸受62とが非接触状態に維持されることで、ロッド24と軸受62の間での摩擦抵抗の発生が抑えられ、ロッド24のストロークの波形が歪みのない正弦波状となる。
この構成においては、試験片TPの傾斜面TPAにロッド24によって負荷が与えられ、又は、横力が加えられた状態の試験片TPにロッド24が負荷を与えることで、横力がロッド24に作用する。しかしながら、当該横力が作用した場合でも、ロッド24と軸受62とが非接触状態に維持されるため、摩擦抵抗の影響を受けることなく、試験片TPに対する試験を高精度に行うことができる。
上述した例示的な実施形態は、以下の態様の具体例であることが当業者により理解される。
2 試験機本体
14 負荷アクチュエータ
20 軸
22 ケーシング
24 ロッド
41 第1支持装置
42 第2支持装置
52 ガイドユニット
62 軸受
65 スリーブ
65B 軸受面
67A 絞り孔
DA 垂直方向(直動方向)
DB 水平方向
TP 試験片
δ 隙間
Claims (4)
- 直動する軸を有する負荷アクチュエータを備え、前記軸の直動によって試験片に負荷を与える材料試験機において、
前記負荷アクチュエータは、
前記軸を支える軸受を備え、当該軸受が空気軸受である、
材料試験機。 - 前記負荷アクチュエータは、
前記軸の両端部のそれぞれを支える前記軸受を備え、
前記軸受のそれぞれは、
前記軸を包囲するスリーブと、
前記スリーブの軸受面に開口する複数の絞り孔と、を備え、
前記絞り孔が、自成絞り、又はオリフィス絞りである、
請求項1に記載の材料試験機。 - 前記負荷アクチュエータは、前記軸のストロークが正弦波状に変化するように当該軸を駆動する、請求項1または2に記載の材料試験機。
- 前記負荷アクチュエータの軸は、
前記軸の直動方向に対して傾斜した傾斜面を有する前記試験片の当該傾斜面に当接し、又は、
前記軸の直動方向に伸縮し、かつ当該直動方向に交差する方向に力が加えられた状態の前記試験片に負荷を与える、
請求項1から3のいずれかに記載の材料試験機。
Priority Applications (3)
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