JP2022524726A - 半導体部品用の電子ビーム検出デバイスおよび電子ビーム検出ユニット - Google Patents
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Abstract
Description
本開示は、2019年11月27日に中国専利局に提出され、出願番号が201911179973.5である中国出願の権利を主張し、当該出願を全て引用方式によって本文に援用する。
上記目的を達成するために、前記技術案は以下の通りである。
前記反射装置が前記第2の位置にあるとき、前記電子ビーム検出装置がオンとなり、前記検出対象領域が前記第2の可視領域にある。
L1=D2/2+ D3/2 (1)
Sy=|+ D1/2|+|-D1/2|=D1 (2)
Sx=|+ D1/2|+|- (D1/2+ L1)|=D1+ L1 (3)
Claims (19)
- 前記半導体部品を上面で支持し、直交する2方向に並進移動可能であるステージと、
前記半導体部品の画像を採集することによって、前記電子ビーム検出デバイスの座標系における前記半導体部品の位置を決定し、第1の視野及び第1の光軸を有するように構成されアライメント装置と、
前記半導体部品に電子ビームを投射し、前記半導体部品から放出された電子ビームを検出し、第2の視野及び前記第1の光軸と重ならない第2の光軸を有するように構成される電子ビーム検出装置と、を備え、
前記電子ビーム検出デバイスは、前記半導体部品の検出対象領域が前記アライメント領域に向って反射され、前記半導体部品の検出対象領域を前記アライメント装置内に反射して結像するように構成される反射装置を更に備え、
前記第1の視野は、前記反射装置の反射を用いて前記上面の第1の可視領域に投影され、前記第2の視野は、前記電子ビームの光路に沿って前記上面の第2の可視領域に投影される
半導体部品用の電子ビーム検出デバイス。 - 前記第1の光軸は、前記第2の光軸に対してゼロでない角度をなし、前記第1の可視領域と、前記第2の可視領域の中心とは、間隔を置いて、または同心に配置される
請求項1に記載の電子ビーム検出デバイス。 - 前記第1の可視領域と前記第2の可視領域とが同心に配置される場合に、前記反射装置は、第1の位置と第2の位置との間に切り替え可能であり、前記検出対象領域は、前記第1の位置における、前記反射装置によって反射して前記アライメント装置に結像する第1の視野内にあり、前記第2の位置は、前記電子ビームの光路から外れた
請求項2に記載の電子ビーム検出デバイス。 - 前記反射装置は、第1の位置と第2の位置との間で移動可能である
請求項3に記載の電子ビーム検出デバイス。 - 前記反射装置は、第1の位置と第2の位置との間で回動可能である
請求項3または4に記載の電子ビーム検出デバイス。 - 前記反射装置が前記第1の位置にあるとき、前記電子ビーム検出装置はオフとなり、前記検出対象領域は前記第1の可視領域にあり、あるいは、
前記反射装置が前記第2の位置にあるとき、前記電子ビーム検出装置がオンとなり、前記検出対象領域が前記第2の可視領域にある
請求項3に記載の電子ビーム検出デバイス。 - 前記第1の位置は、前記電子ビームの光路にある
請求項3に記載の電子ビーム検出デバイス。 - 前記第1の光軸と前記第2の光軸とは、ゼロでない角度で交差する
請求項1~7のいずれか一項に記載の電子ビーム検出デバイス。 - 前記第1の光軸と前記第2の光軸とは直交する
請求項8に記載の電子ビーム検出デバイス。 - 前記第1の光軸は前記上面と平行であり、前記第2の光軸は前記上面と垂直である
請求項9に記載の電子ビーム検出デバイス。 - 前記第1の位置において、前記反射装置の反射面の法線は、前記第1の光軸及び前記第2の光軸と同一平面にあり、前記第1の光軸と前記第2の光軸のそれぞれと45度の角度をなす
請求項9または10に記載の電子ビーム検出デバイス。 - 前記第1の光軸と前記第2の光軸とは斜めに交差する
請求項8に記載の電子ビーム検出デバイス。 - 前記アライメント装置は、光学顕微鏡である
請求項1に記載の電子ビーム検出デバイス。 - 前記電子ビーム検出装置は、
電子ビームを出入射する電子ビーム源と、
電子ビームを偏向させて半導体部品の検出対象表面に投射させるように構成された偏向器と、
入射電子ビームが前記検出対象表面に投射されることによって生成される出射電子を検出することによって、前記検出対象表面を結像するように構成された電子検出器とを備える
請求項1に記載の電子ビーム検出デバイス。 - 予め設定されたアライメント戦略に従って前記ステージの並進移動を制御することによって、前記半導体部品を前記第1の可視領域に移動させ、
前記アライメント装置によって採集された前記半導体部品の画像を処理することによって、前記電子ビーム検出デバイスのデバイス座標系における前記半導体部品の位置を決定し、
前記ステージを制御することによって、前記半導体部品の前記検出対象領域を前記第1の可視領域から前記第2の可視領域に移動させるように構成された制御回路をさらに備える
請求項1に記載の電子ビーム検出デバイス。 - 前記反射装置は、平面ミラー、曲面ミラー、反射プリズムのいずれか1つを含む
請求項1に記載の電子ビーム検出デバイス。 - 内部が真空状態である第1のチャンバと、前記第1のチャンバに配置される請求項1~16のいずれか一項に記載の電子ビーム検出デバイスと、を含む検出モジュールと、
前記第1のチャンバに隣接して配置され、一側で第1のバルブを介して前記第1のチャンバと連通し、反対側で第2のバルブを介して大気雰囲気と連通する第2のチャンバと、前記第2のチャンバの外部に設けられ、前記半導体部品を大気雰囲気から前記第2のチャンバに移動させるように構成された第1のロボットアームと、前記第1のチャンバに設けられ、前記半導体部品を前記第2のチャンバから前記第1のチャンバに移動させ、さらに前記ステージの前記上面に移動させるように構成された第2のロボットアームとを備える伝送モジュールと、を備える
電子ビーム検出ユニット。 - 前記第2のチャンバは、第1のバルブおよび第2のバルブが同時に閉鎖されている場合に真空にするように構成されている
請求項17に記載の電子ビーム検出ユニット。 - 前記第2のチャンバの容積は、前記第1のチャンバの容積よりも小さい
請求項17に記載の電子ビーム検出ユニット。
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