JP2022519430A - 統合型表示デバイス - Google Patents
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Abstract
ICチップが、ICチップの表側で露出されたLEDデバイスと、ICチップの裏側上のI/Oバンプと、LEDデバイスととともにスタックを形成し、かつ、LEDデバイスに電気的に接続されたドライバ回路を含む、第1のダイと、LEDデバイスとI/Oバンプのうちの少なくともいくつかとの間の電気的接続を提供するためにICチップの表側からICチップの裏側に向かって少なくとも第1のダイの厚さにわたって垂直方向に沿って延在する第1の回路と、パイプライン化回路およびドライバ回路のための制御回路を含む第2のダイと、第2のダイから延在する第2の回路と、I/Oバンプおよび電力系統に電気的に接続された回路板と、を備える。【選択図】図7D
Description
関連出願の相互参照
本出願は、2019年2月14日に出願され「Integrated Display Devices」と題された米国特許出願第62/805,948号、2019年4月1日に出願され「Integrated Display Devices」と題された米国特許出願第62/827,407号、および2020年2月11日に出願され「Integrated Display Devices」と題された米国特許出願第16/787,542号からの優先権を主張するものである。米国特許出願第62/805,948号、米国特許出願第62/827,407号、および米国特許出願第16/787,542号の内容は、あらゆる目的のために全体として参照により本明細書に援用される。
本出願は、2019年2月14日に出願され「Integrated Display Devices」と題された米国特許出願第62/805,948号、2019年4月1日に出願され「Integrated Display Devices」と題された米国特許出願第62/827,407号、および2020年2月11日に出願され「Integrated Display Devices」と題された米国特許出願第16/787,542号からの優先権を主張するものである。米国特許出願第62/805,948号、米国特許出願第62/827,407号、および米国特許出願第16/787,542号の内容は、あらゆる目的のために全体として参照により本明細書に援用される。
本開示は一般に、ディスプレイに関し、より具体的には、表示デバイスと制御回路の統合に関する。
ディスプレイは至る所にあり、かつ、ウェアラブルデバイス、スマートフォン、タブレット、ラップトップ、デスクトップ、TV、および表示システムのコア構成要素である。今日の一般的な表示技術は、発光ダイオード(LED)ディスプレイを含む。
表示システムは、バックプレーン上にLED表示デバイスのアレイを組み付けることによって作り出され得る。LED表示デバイスのアレイのうちの1つまたは複数のLED表示デバイスが、画素を形成するためにグループ化され得る。表示システムは、各画素を制御して画像を表示するために、制御信号を生成するための制御回路を含み得る。表示システムは、LED表示デバイスに構造上の支持を提供するため、およびLED表示デバイスに制御信号を送るための電気的接続を提供するためのバックプレーンをさらに含む。LED表示デバイスとバックプレーンおよび制御回路の統合は、表示システムの大きさだけでなく画素レベルの相互接続に影響を及ぼすことができ、それらの全てが、表示システムの性能および用途に影響を及ぼし得る。
集積回路(IC)チップの表側で露出された発光ダイオード(LED)デバイスと、ICチップの裏側上の入力/出力(I/O)バンプと、垂直方向に沿ってLEDデバイスとともにスタックを形成する第1のダイであって、LEDデバイスに電気的に接続されかつI/Oバンプのうちの少なくともいくつかに電気的に接続されたドライバ回路を含む、第1のダイと、LEDデバイスとI/Oバンプのうちの少なくともいくつかとの間の電気的接続を提供するためにICチップの表側からICチップの裏側に向かって少なくとも第1のダイの厚さにわたって垂直方向に沿って延在する、第1の回路と、パイプライン化回路および第1のダイのドライバ回路のための制御回路を含み、かつ、I/Oバンプのうちの少なくともいくつかに電気的に接続された、第2のダイと、第1のダイと第2のダイとの間の電気的接続を提供するために第2のダイから第1のダイまで延在する、第2の回路と、電力系統とICチップの第1のダイ、第2のダイ、およびLEDデバイスのそれぞれとの間の電気的接続を提供するためにICチップのI/Oバンプおよび電力系統に電気的に接続された回路板と、を備えるICチップに関連する方法および装置が提示される。
いくつかの実施形態では、第1のダイは、ICチップ内で横方向に沿って第2のダイに隣接して位置決めされ、この横方向は、垂直方向に対して直角である。ICチップは、横方向に沿って第1のダイに当接する肩構造を含むことができ、第1の回路は、垂直方向に沿って肩構造を貫通して延在する電気伝導経路を備え得る。ICチップは、横方向に沿ってLEDデバイスに隣接する再配線層(RDL)を含むことができ、RDLは、第1のダイと第1の回路との間の電気的接続を提供するために、肩構造の少なくとも一部分および第1のダイの少なくとも一部分の上に延在し得る。場合によっては、第1のダイは、LEDデバイスとRDLとの間を電気的に接続するための内層回路を備える。さらに、ICチップは、横方向に沿って第2のダイに当接する肩構造を含むことができ、第1の回路は、垂直方向に沿って肩構造を貫通して延在する電気伝導経路を備え得る。ICチップは、第2の回路の一部として、横方向に沿ってLEDデバイスに隣接するRDLを含み得る。RDLは、第1のダイと第1の回路との間および第1のダイと第2のダイとの間の電気的接続を提供するために、肩構造の少なくとも一部分、第2のダイ、および第1のダイの少なくとも一部分の上に延在し得る。場合によっては、第1のダイは、ICチップの表側上のLEDデバイスとI/Oバンプとの間の電気的接続を提供するための内層回路を備える。
ICの裏側上のI/Oバンプは、肩構造上に形成されかつ肩構造の電気伝導経路に電気的に接続されたI/Oバンプを含み得る。1つの実施形態では、RDLは、第1のRDLであり、ICチップは、第2のRDLをさらに備え、この第2のRDLは、第1の回路、第1のダイ、および第2のダイへの電気的接続を提供するために、横方向に沿って第2のダイに当接する第2の肩構造の少なくとも一部分、第1のダイ、および第2のダイを覆う。ここで、ICの裏側上のI/Oバンプは、第2の肩構造上に形成されかつ第2の肩構造の電気伝導経路に電気的に接続されたI/Oバンプを含み得る。
場合により、肩構造は、第1のダイがキャリア基板上に存在するときに第1のダイに当接するように形成される。一部の事例では、肩構造は、エポキシ成形化合物(EMC)を含む。単なる一例として、肩構造は、型にEMCを充填することによって形成され得る。電気伝導経路は、材料として銅を含み得る。場合により、ICチップは、第1のダイおよび第2のダイの両方を保持するためのチップキャリアを含む。ここで、第1の回路は、垂直方向に沿ってチップキャリアを貫通して延在しICチップの裏側上のI/Oバンプに達する電気伝導経路を備え得る。一部の事例では、ICチップは、第1の回路と第1のダイとの間の電気的接続を提供するために、チップキャリアの一部分および第1のダイの一部分の上に延在する第1のブリッジ回路を含む。ここで、第1のダイは、第1の回路とLEDデバイスとの間の電気的接続を提供するための内層回路をさらに含み得る。一部の事例では、ICチップは、第2の回路の一部として、第1のダイと第2のダイとの間の電気的接続を提供するために第1のダイの一部分および第2のダイの一部分の上に延在する第2のブリッジ回路を含む。チップキャリアは、例えば、セラミック材料を含み得る。
いくつかの実施形態では、第1のダイは、ICチップ内で垂直方向に沿って第2のダイとともにスタックを形成する。1つの特定の実施形態では、ICチップは、垂直方向に対して直角な横方向に沿って第1のダイに当接する第1の肩構造と、横方向に沿って第2のダイに当接する第2の肩構造とをさらに備える。ここで、第1の回路は、垂直方向に沿って第1の肩構造を貫通して延在する第1の電気伝導経路と、垂直方向に沿って第2の肩構造を貫通して延在する第2の電気伝導経路とを備え得る。ICチップは、LEDデバイスに隣接しかつ第1のダイと第1の電気伝導経路との間の電気的接続を提供するために第1の肩構造の少なくとも一部分および第1のダイの一部分の上に延在する、第1のRDLと、第1のダイに面しかつ第2のダイと第2の電気伝導経路との間の電気的接続を提供するために第2の肩構造の少なくとも一部分および第2のダイの一部分の上に延在する、第2のRDLとを含み得る。第1のRDLおよび第2のRDLは、第2の回路の一部であり得る。ICチップは、第1の電気伝導経路と第2の電気伝導経路との間の電気的接続を提供するために、第1の肩構造と第2の肩構造との間にI/Oバンプをさらに備え得る。ICチップは、第1の肩構造の一部分および第1のダイの一部分の上に延在する第3のRDLをさらに備え得る。第3のRDLは、第1の肩構造の第1の電気伝導経路に電気的に接続され、かつ、第2のRDLに面し得る。ICチップはまた、第3のRDLと第2のRDLとの間の電気的接続を提供するために、第3のRDLと第2のRDLとの間に挟まれたI/Oバンプをさらに備え得る。ICチップの裏側上のI/Oバンプは、第2の肩構造上に存在しかつ第2の肩構造の第2の電気伝導経路に電気的に接続されたI/Oバンプを含み得る。
スタックを形成する第1のダイおよび第2のダイの1つの特定の実施形態では、第1のダイは、第1の回路の一部として、LEDデバイスに電気的に接続された複数の第1のシリコン貫通電極(TSV)を備え、第2のダイは、第1の回路の一部として、複数の第1のTSVに電気的に接続された複数の第2のTSVを備える。ICチップの裏側上のI/Oバンプは、複数の第2のTSVに電気的に接続され得る。第2のダイは、第2の回路の一部として、第1のダイに電気的に接続された複数の第3のTSVを備え得る。ここで、複数の第1のTSVは、第1のダイの周辺領域内に形成され得る。周辺領域は、LEDデバイスが形成される第1のダイの画素領域の外側であり得る。
スタックを形成する第1のダイおよび第2のダイの異なる実施形態では、第1のダイは、この場合もやはり、第1の回路の一部として、LEDデバイスに電気的に接続されかつ第1のダイの周辺領域内に形成されたTSVを備える。前述のように、周辺領域外は、LEDデバイスが形成される第1のダイの画素領域であり得る。しかしこの場合、表示装置は、第1の回路の一部として、横方向に沿って第2のダイに当接する肩構造を貫通して延在する電気伝導経路をさらに含む。
第1のダイは、第1のウェハから製作されてよく、第2のダイは、第2のウェハから製作されてよい。第1のウェハおよび第2のウェハは、異なる動作電圧または異なる処理ノードのうちの少なくとも一方に関連付けられ得る。
上記のICチップを製造するための方法は、発光ダイオード(LED)デバイスを製作することと、第1のダイ内にドライバ回路を含むように第1のウェハから第1のダイを製作することと、LEDデバイスを第1のダイ上に移すことと、第2のウェハから第2のダイを製作することと、第1のダイおよび第2のダイをパッケージングして集積回路(IC)チップを形成することであって、LEDデバイスがICチップの表側で露出される、ICチップを形成することと、LEDデバイスへの電気的接続を提供するためにICチップの表側からICチップの裏側に向かって第1のダイにわたって垂直方向に沿って延在する第1の回路を製作することと、第1のダイと第2のダイとの間の電気的接続を提供するための第2の回路を製作することと、第1のダイ、第2のダイ、および第1の回路への電気的接続を提供するためにICチップの裏側上に入力/出力(I/O)バンプを形成することと、I/Oバンプを介してICチップを回路板に接続して表示装置を形成することと、を含み得る。例えば、第1の回路は、シリコン貫通電極(TSV)を備え得る。TSVは、ドライバ回路を含む第1のダイの第1の表面上にLEDデバイスが移された後で第1のダイの第1の表面を貫通してエッチングすることによって製作され得る。
例示的な実施形態について、以下の図を参照しながら説明する。
図は、本開示の実施形態を単に例示の目的のために示す。当業者は、例示された構造および方法の代替的な実施形態が本開示の原理または宣伝される便益から逸脱することなしに用いられ得ることを、以下の説明から容易に認識するであろう。
添付の図では、同様の構成要素および/または特徴は、同じ参照標識を有し得る。さらに、同じタイプの種々の構成要素は、参照標識の後にダッシュを付けること、および、同様の構成要素を区別する第2の標識によって、区別され得る。第1の参照標識のみが明細書において使用されている場合、その説明は、第2の参照標識に関わりなく、同じ第1の参照標識を有する同様の構成要素のうちのどの1つにも適用できる。
以下の説明では、解説することを目的として、発明性のあるいくつかの実施形態の完全な理解を提供するために、具体的な詳細が記述される。しかし、種々の実施形態はこれらの具体的な詳細を伴わずに実践され得ることが、理解されるであろう。図および説明は、制限的であるように意図されたものではない。
今日、一般的なディスプレイ技術は、液晶ディスプレイ(LCD)から、より最近の有機発光ダイオード(OLED)ディスプレイおよびアクティブマトリックス有機発光ダイオード(AMOLED)ディスプレイにまでわたる。優れた電池性能および強化された輝度に基づく第3世代の平面ディスプレイ画像生成器として、無機発光ダイオード(ILED)が現れつつある。本明細書において説明される「μLED」、「uLED」、または「マイクロLED」は、小さな活性発光領域(例えば、2,000μm2未満)を有しまたいくつかの例では小さな活性発光領域から放射される光の輝度レベルを高めるために指向性光を生成することができる、特定のタイプのILEDを意味する。いくつかの例では、マイクロLEDが、50μm未満、20μm未満、または10μm未満の活性発光領域を有するLEDを意味し得る。いくつかの例では、長さ寸法は、2μmまたは4μmほどの小ささであり得る。本開示の残りの部分にわたって、「LED」は、μLED、ILED、OLED、または任意のタイプのLEDデバイスを意味し得る。
ILEDディスプレイは、OLEDディスプレイとは異なるプロセスを使用して製造され得る。例えば、OLEDデバイスは、ディスプレイ基板上に直接製作される。対照的に、ILEDデバイスは、ディスプレイ基板とは別に製作される。ILEDデバイス母材の母材は、LEDスタータウェハを形成するために、結晶基板上で成長させられる。LEDスタータウェハは、個別のLEDダイを作り出すために様々なステップを通じて加工されてよく、各LEDダイは、LEDデバイスを含む。製作されると、LEDダイは、キャリア基板からバックプレーンへ移され得る。バックプレーンは、表示デバイスのディスプレイバックプレーンであってよい。表示デバイスのLEDデバイスは、画素を形成するために分割され得る。
バックプレーン、ならびに制御回路および電力系統などの他の構成要素は、表示システムを形成するために、回路板(例えば、プリント回路板(PCB))に個別に取り付けられ得る。回路板は、表示システムの様々な構成要素間の電気的接続を提供し得る。そのような構成が望ましくない場合がある。第1に、各構成要素は比較的長い距離によって離間されているので、表示システムのフォームファクタが増大し、それにより、ウェアラブルデバイスなどの非常に限定された空間を有するデバイス内に表示システムを配置することが難しくなる。第2に、構成要素間の電気的接続を提供するために、長い信号トレースが必要とされる。長い信号トレースは、高解像度画像データなどの高速信号の伝達に相当な遅延をもたらす可能性があり、それにより、表示システムの性能が著しく低下する可能性がある。これら全てが、表示システムの適用を限定し得る。
本開示の例は、表示装置を提供する。表示装置は、集積回路(IC)チップを備える。ICチップは、ICチップ内に統合された発光ダイオード(LED)デバイス、第1のダイ、および第2のダイを備える。LEDデバイスは、ICチップの表側で露出される。ICチップは、ICチップの裏側上に入力/出力(I/O)バンプをさらに含む。LEDデバイスは、垂直方向に沿って第1のダイとともにスタックを形成し得る。第1のダイは、LEDデバイスに電気的に接続されたドライバ回路を含み、かつ、I/Oバンプのうちの少なくともいくつかに電気的に接続される。ICチップは、LEDデバイスとI/Oバンプのうちの少なくともいくつかとの間の電気的接続を提供するために、ICチップの表側からICチップの裏側に向かって少なくとも第1のダイの厚さにわたって垂直方向に沿って延在する第1の回路をさらに含む。第1のダイのドライバ回路のための表示エンジンおよび制御回路を備える第2のダイは、I/Oバンプのうちの少なくともいくつかに接続される。ICチップは、第1のダイと第2のダイとの間の電気的接続を提供するために、第2の回路をさらに含む。表示装置は、電力系統とICチップの第1のダイ、第2のダイ、およびLEDデバイスとの間の電気的接続を提供するために、ICチップのI/Oバンプおよび電力系統に電気的に接続された回路板をさらに備える。
本開示は、「電気的に接続される」構成要素または回路に言及する。ここで、「電気的に接続される」とは、2つの構成要素間に直接形成され得るかあるいは1つまたは複数の介在する構成要素、経路、もしくは回路を通じて間接的に形成され得る1つまたは複数の電気的接続を広く意味する。本開示において、「回路」は、電流を伝導することができるかまたは電位を伝達することができる任意の構造を含み得る。回路は、例えば、電線、バイア、および任意の受動的または能動的なデバイス(例えば、抵抗器、蓄電器、誘導器、トランジスタ、など)を含み得る。
いくつかの例では、第1のダイおよび第2のダイは、ICチップ内で横方向に沿って配置され得る。ICチップは、横方向に沿って第1のダイに当接する肩構造を含み得る。肩構造は、LEDデバイスとI/Oバンプとの間の電気的接続を提供するために、ICチップの表側からICチップの裏側まで肩構造にわたって延在する電気伝導経路を含み得る。ICチップは、LEDデバイスに隣接しかつICチップの表側上に位置する表側再配線層(RDL)として構成されたファンアウト回路を含み得る。表側RDLは、電気伝導経路の第1の端部と第1のダイとの間の電気的接続を提供するために、肩構造から第1のダイまで延在し得る。第1のダイは、電気伝導経路の第1の端部とLEDデバイスとの間の電気的接続を提供するための内層回路をさらに含む。ICチップはまた、第1のダイと第2のダイとの間の電気的接続を提供するために、第2のダイから第1のダイまで延在する別の表側RDLを含み得る。
肩構造の電気経路の第2の端部をICチップの裏側上のI/Oバンプに接続するために、様々な構成が提案される。1つの例では、I/Oバンプは、電気伝導経路の第2の端部に電気的に接続するために、ICチップの裏側上の肩構造の一部の上に形成され得る。別の例では、ICチップは、表側RDLに対向する裏側RDLとして構成されたファンアウト回路を含み得る。I/Oバンプは、裏側RDL上に形成されてよく、裏側RDLは、I/Oバンプと電気伝導経路の第2の端部との間の電気的接続を提供するために、I/Oバンプから肩構造まで延在し得る。
いくつかの例では、第1のダイおよび第2のダイは、ICチップ内で垂直方向に沿ってスタックを形成し得る。ICチップは、横方向に沿って第1のダイに当接する第1の肩構造と、横方向に沿って第2のダイに当接する第2の肩構造とを含み得る。第1の肩構造は、垂直方向に沿って第1の肩構造にわたって延在する第1の電気伝導経路を含み得る。第2の肩構造は、垂直方向に沿って第2の肩構造にわたって延在する第2の電気伝導経路を含み得る。第1のダイは、LEDデバイスに隣接する第1の表側RDLを含み得る。第1の表側RDLは、第1のダイを介してLEDデバイスと第1の電気伝導経路との間の電気的接続を提供するために、第1の肩構造から第1のダイまで延在する。いくつかの例では、第1のダイにおける第1の肩構造は、第1のダイ自体の本体内のシリコン貫通電極(TSV)に置き換えられ得る。TSVは、第1のダイの周辺領域内、または実質的に第1のダイの全領域内に存在し得る。
第1の肩構造と第2の肩構造との間の電気的接続を提供するために、様々な構成が提案される。1つの例では、第1の電気伝導経路および第2の電気伝導経路は、第1の肩構造と第2の肩構造との間に挟まれたI/Oバンプを介して、一緒に電気的に接続され得る。いくつかの例では、ICチップは、(ICチップの表側と反対の側を向いた)第1のダイの裏側と、第1のダイの裏側に面する第2のダイの表側とにそれぞれ形成された、向かい合ったRDL層を含み得る。向かい合ったRDL層は、第1の肩構造の第1の電気伝導経路および第2の肩構造の第2の電気伝導経路のそれぞれへの接続を電気的に提供するために、第1の肩構造および第2の肩構造までそれぞれ延在し得る。ICチップは、向かい合ったRDL層の間および第1の電気伝導経路と第2の電気伝導経路との間の電気的接続を提供するために、向かい合ったRDL層の間に挟まれたI/Oバンプを含み得る。上記のように、ICチップの裏側上のI/Oバンプは、第2の肩構造上に配置され得るか、または、第2のチップの上に延在する別の裏側RDL上に配置され得る。
LEDデバイスおよびダイを集積回路チップに統合するために、他の構成も提案される。1つの例では、ICチップは、横方向に沿って配置された第1のダイおよび第2のダイを保持するためのチップキャリアを含み得る。チップキャリアは、ICチップの裏側上のI/Oバンプへの電気的接続を提供するために、電気伝導経路を含み得る。ICチップは、LEDデバイスとチップキャリア内の電気伝導経路との間の電気的接続を提供するために、ブリッジ回路を含み得る。別の例では、ICチップは、垂直方向に沿ってスタックを形成する第1のダイおよび第2のダイを含むことができ、第1のダイおよび第2のダイのそれぞれは、LEDデバイスと裏側上のI/Oバンプとの間の電気的接続を提供するために、シリコン貫通電極(TSV)を含み得る。
開示された技法によれば、LEDデバイスおよび制御回路は、単一の集積回路チップに統合され得る。そのような構成は、表示システムの構成要素間の分離距離を実質的に減少させることができ、それにより、表示システムのフォームファクタのみならずルーティング距離も減少され、結果として、表示システムの動作速度が改善され得る。開示された技法は、非常に限定された空間を有するウェアラブルデバイス(例えば、ヘッドマウントディスプレイ)における高性能表示システムの実装に、特に有利である。
本開示の例は、人工現実感システム(artificial reality system)を含むかまたは人工現実感システムに関連して実装され得る。人工現実感は、ユーザへの提示の前に何らかの方法で調整された現実感の形態であり、例えば、仮想現実感(VR)、拡張現実感(AR)、複合現実感(MR)、ハイブリッド現実感、またはそれらのいくつかの組合せおよび/もしくは派生物を含み得る。人工現実感コンテンツは、完全に生成されたコンテンツ、または、キャプチャされた(例えば、現実世界)コンテンツと組み合わせられた生成コンテンツを含み得る。人工現実感コンテンツは、ビデオ、オーディオ、触覚フィードバック、またはそれらのいくつかの組合せを含むことができ、それらのいずれも、単一チャネルでまたは(視聴者に対する3次元効果を作り出すステレオビデオなどの)多重チャネルで提示され得る。さらに、いくつかの例では、人工現実感はまた、例えば人工現実感におけるコンテンツを作り出すために使用されかつ/または人工現実感において他の方法で使用される(例えば、人工現実感においてアクティビティを実行する)アプリケーション、製品、付属品、サービス、またはそれらのいくつかの組合せに関連付けられ得る。人工現実感コンテンツを提供する人工現実感システムは、ホストコンピュータシステムに接続されたヘッドマウンテッドディスプレイ(HMD)、独立型HMD、モバイルデバイスもしくはモバイルコンピューティングシステム、または1人もしくは複数人の視聴者に人工現実感コンテンツを提供することができる任意の他のハードウェアプラットフォームを含む、様々なプラットフォーム上で実施され得る。
図1は、本開示のいくつかの例によるμLED100の断面図を示す。図1に示されるように、μLED100は、とりわけ、基板102、基板102上に配置された半導体エピタキシャル層104を含む。エピタキシャル層104は、メサ106に成形され得る。活性化されたときに所定の波長範囲の光を放出するように構成された量子井戸構造を含み得るアクティブ層108が、メサ106内に含まれ得る。メサ106は、p型導体パッド110によって覆われた切頭頂部を有するが、メサ106の外側のエピタキシャル層104の一部分は、n型導体パッド112によって覆われ得る。アクティブ層108を活性化させて光114を放出させるために、p型導体パッド110およびn型導体パッド112にまたがって電気信号が印加され得る。さらに、メサ106はまた、反射性のエンクロージャを形成するために、放物線に近い形状を有する。メサ106の放物線に近い構造は、ウェハ加工ステップ中にLEDダイ上に直接エッチングされ得る。典型的なμLEDのためのメサ106は、約50マイクロメートル(μm)以下の直径を有し得るが、p型導体パッド110およびn型導体パッド112のそれぞれは、約20μmの直径を有し得る。
アクティブ層108から放出された光114は、光がμLEDダイ100から脱出するのに十分な角度で(すなわち、全反射の角度内で)、メサ106の内壁から発光表面116に向かって反射され得る。光114は、光が発光表面116から出てくるときに、準平行光線(quasi-collimated light beam)を形成し得る。
図2Aおよび図2Bは、本開示のいくつかの例によるμLED表示装置200の例を示す。図2Aおよび図2Bの例はμLEDデバイスに基づくが、図2Aおよび図2Bの例は他のタイプのLEDデバイスにも適用可能であることが、理解される。図2Aは、表示装置の断面図を示し、図2Bは、表示装置の上面図を示す。図2Aに示されるように、μLEDディスプレイ200は、例えばバックプレーン204上に組み付けられたμLEDダイ202a、μLEDダイ202b、およびμLEDダイ202cを含むμLEDダイ202のアレイを具備し得る。
バックプレーン204は、複数のμLEDデバイスに電気的接続および構造上の支持を提供するために、複数のμLEDダイを取り付けるための構造を含み得る。本明細書において、「バックプレーン」は、複数のLEDデバイス(これは、本開示において説明されるようなμLEDデバイスを含み得る)を取り付けるためおよび複数のLEDデバイスに電気信号を提供するための表面(これは、平面状、曲面状、などであり得る)を提供する、任意の構造を意味し得る。バックプレーンは、表示デバイスを形成するためのディスプレイバックプレーンとして構成され得る。例えば、バックプレーンは、表示素子を形成するLEDデバイスの組立体を保持することができ、また、バックプレーンは、表示素子によって表示される情報を制御するためにLEDデバイスに電気信号を提供するためのトレースを含み得る。バックプレーン204は、他の構成要素に接続することができるトレースを備え得る。バックプレーンはまた、トレースへのアクセスを提供することができる電気接点、例えば金属パッドを備え得る。例えば、図2Aおよび図2Bに示されるように、バックプレーン204は、μLEDダイ202a、μLEDダイ202b、およびμLEDダイ202cにそれぞれ電気的に接続する電気トレース206a、206b、および206cを含む。電気トレース206a、206b、および206cは、様々な信号を印加することによりμLEDダイ202a、μLEDダイ202b、およびμLEDダイ202cのそれぞれが個別に制御されることを可能にする。バックプレーン204はまた、μLEDダイ202a、μLEDダイ202b、およびμLEDダイ202cのそれぞれのためのリターン電流経路の役割を果たす電気トレース208を含む。バックプレーン204は、薄膜トランジスタ(TFT)ガラス基板、ポリマー、ポリ塩化ビフェニル(PCB)などの、異なる種類の材料を含み得る。図2Aは矩形の形状を有するバックプレーン204を示しているが、バックプレーン204は様々な形状およびサイズを有し得ることが理解される。
μLEDダイ202a、μLEDダイ202b、およびμLEDダイ202cのそれぞれは、図1のμLEDダイ100に類似した構造を有し得る。図2Aおよび図2Bにおける各μLEDダイは、基板102、エピタキシャル層104、メサ106、およびアクティブ層108を含み得る。さらに、各μLEDダイは、デバイス側バンプ210およびデバイス側バンプ212を含む。図2Aおよび図2Bは、バンプが矩形の形状のものであることを示すが、バンプは、例えば丸みを帯びた形状、ドーム形状、などを含む他の形状を取ることができることが、理解される。デバイス側バンプ210は、p型導体パッド110(図2Aおよび図2Bには示されていない)に接続されてよく、一方で、デバイス側バンプ212は、n型導体バッド112(やはり図2Aおよび図2Bには示されていない)に接続されてよい。さらに、バックプレーン204は、μLEDダイを配置するための各箇所に、バックプレーン側バンプを含む。例えば、バックプレーン204は、μLEDダイ202aのためのバックプレーン側バンプ214および216を含む。バックプレーン204はまた、バックプレーン側バンプ214および216が堆積される基礎として機能しまたトレース206および208への電気接点を提供するためのものである、金属パッド(図2Aには示されていない)を含む。伝導性ボンディング(例えば、金属ボンディング)が、μLEDダイとバックプレーン204との間の電気経路を提供するために、μLEDダイのバンプと接点との間に形成され得る。
いくつかの例では、μLED表示装置200は、特定の色の光を放出するように構成されたLEDがストリップ(または、複数のストリップ)として形成される、走査ディスプレイとして構成され得る。例えば、図2Cに示されるように、μLEDダイ202a、μLEDダイ202b、およびμLEDダイ202cなどを含む複数のμLEDダイが、緑色光を放出するように構成されたμLEDストリップ220をバックプレーン204上に形成するために、X軸に沿って組み付けられ得る。さらに、バックプレーン204はまた、赤色光を放出するように構成されたμLEDストリップ230、および青色光を放出するように構成されたLEDストリップ240を含む。
μLEDストリップ220、230、および240、ならびに赤色、緑色、および青色のμLEDのさらなるストリップが、走査ディスプレイを形成するために、平行ストリップとしてY軸に沿ってバックプレーン204上に組み付けられ得る。図2Dは、μLED表示装置200、鏡252、およびレンズ254を備える走査ディスプレイ250の例を示す。走査ディスプレイ250では、各LEDのストリップは、特定の色(例えば、赤色、緑色、または青色のうちの1つ)の光を放出するように構成され得る。例えば、μLEDストリップ220が緑色光260を放出することができ、μLEDストリップ230が赤色光270を放出することができる、などである。光は、レンズ254によって集光されて、鏡252によって人の眼球256内へ反射され得る。連続的な走査を行うために、各μLEDのストリップは、光を放出して眼球256の網膜上へ画像の画素の線を投影するように制御され得る。各画素の線の投影は、連続的であってよい。鏡252の回転動作を通じて、各画素の線は、異なるタイミングで異なる点において網膜上に投影されて、画像の認知をもたらし得る。
図2A~図2Dの例では、バックプレーン204は、各μLEDに制御信号を伝達するために、各μLEDに対してバックプレーン側バンプを有する。そのような構成は、各μLEDが個別に制御されることを可能にするが、解像度を高めるためにディスプレイが多数の画素を含む場合に、バックプレーン上に多数のバックプレーン側バンプが配置されることにつながり得る。例えば、走査ディスプレイ250が百万個のμLEDを含む場合、百万個のμLEDのそれぞれへの電気的接続を提供するために、裏側バンプ214および216の百万の対がバックプレーン204上に設けられる必要がある。裏側バンプへの電気的接続を提供するために、さらなる配線206および208もバックプレーン204上に必要とされる。
多数のバンプ、および関連する配線は、LEDデバイスと制御回路との密な統合の質を低下させ得る。例えば、バンプを配置するためにさらなるバックプレーンスペースが必要とされる場合があり、これは、LEDデバイスと制御回路との間の距離を増大させ得る。信号はより長い距離にわたって移動する必要があるので、結果として、LEDデバイスおよび制御回路の両方の動作速度が低下する可能性がある。
図3は、μLED表示装置200の一部であるかまたはμLED表示装置200を含み得る表示システム300の例を示す。図3に示されるように、表示システム300は、画素パイプライン化回路302、ドライバ制御回路304、ドライバ回路306、uLEDデバイス308のアレイ、および電力系統310を含む。画素パイプライン化回路302は、表示システム300によってレンダリングされる画素データを生成することができる。画素データは、例えば、仮想現実場面の画像、混合された現実場面の合成画像、カメラによってキャプチャされた画像、などを含み得る。ドライバ制御回路304は、画素データに基づいてドライバ回路306のための制御信号およびデータ信号を生成することができる。制御信号は、例えば、uLEDデバイス308のアレイの中からuLEDデバイスを選択するためのアドレス信号を含み得る。データ信号は、選択されたuLEDデバイスの出力強度を設定し得る。アドレス信号およびデータ信号の両方は、表示システム300が高解像度および高リフレッシュレートにおいて画像を表示することを可能にするために、高速信号であってよい。典型的には、画素パイプライン化回路302およびドライバ制御回路304の両方が、高速動作および比較的低い動作電圧を支持する加工技術を使用して製作される。
さらに、図3に示されるように、ドライバ回路306は、制御信号を提供するための制御ドライバ312のセットと、データ信号を提供するためのデータドライバ314のセットとを含み得る。ドライバ回路306は、ドライバ制御回路304からアドレス信号およびデータ信号を受信し、かつ、例えばデータ信号に基づいてuLEDデバイスを流れる電流を制御することに基づいて、uLEDデバイスの出力強度を制御することができる。図3に示されるように、ドライバ回路306は、uLEDデバイス内での電流の流れを制御するために、制御信号およびデータ信号によって制御されるトランジスタおよび蓄電器を含み得る。典型的には、ドライバ回路306は、高い動作電圧および比較的低速度の動作を支持する加工技術を使用して製作される。
電力系統310は、電力供給回路(例えば、電圧調整器)、および他の要素(例えば、電圧供給線、接地線、など)を含み得る。図3に示されるように、電力系統310は、例えば、電力(例えば、電圧320)を供給しかつ/または電流リターン経路を提供するために、画素パイプライン化回路302、ドライバ制御回路304、およびドライバ回路306のそれぞれに電気的に接続され得る。電力系統310はまた、uLEDデバイス308のためのリターン経路322を提供する。
上記のように、画素パイプライン化回路302、ドライバ制御回路304、ドライバ回路306、およびuLEDデバイス308を単一の集積回路チップ内に統合してこれらの構成要素間の分離距離を減少させることが有利である。そのような構成は、表示システムのフォームファクタだけでなくルーティング距離を減少させて、表示システムの動作速度を向上させることができる。
図4Aおよび図4Bは、向上された性能および減少されたフォームファクタを提供することができる表示システム400の例を示す。図4Aの左の略図は、表示システム400の例の側面図を示し、図4Aの右の略図は、表示システム400の上面図を示す。図4Aを参照すると、表示システム400は、集積回路(IC)チップ402、および回路板404を含み得る。集積回路チップ402は、表側406(方向「A」の方に面する)、および裏側408(方向「B」の方に面する)を含む。ICチップ402は、ICチップ402内に統合された発光ダイオード(LED)デバイス410、第1のダイ412、および第2のダイ414を含む。LEDデバイス410は、ICチップの表側で露出される。ICチップ402は、裏側408上に入力/出力(I/O)バンプ422をさらに含む。LEDデバイス410は、垂直方向に沿って(例えば、Z軸に沿って)第1のダイ412とともにスタックを形成し得る。第1のダイ412は、例えば、図3のドライバ回路306を含み得る。ドライバ回路306は、I/Oバンプ422のうちのいくつかに電気的に接続され得る。図4Aの右側に示されているように、ICチップ402は、異なる色のLEDデバイス410に結合された複数の第1のダイ412を含み得る。例えば、第1のダイ412aは、赤色LEDデバイス410aとともにスタックを形成することができ、第1のダイ412bは、緑色LEDデバイス410bとともにスタックを形成することができ、第1のダイ412cは、青色LEDデバイス410cとともにスタックを形成することができる。第2のダイ414は、例えば、画素パイプライン化回路302およびドライバ制御回路304を含み得る。画素パイプライン化回路302およびドライバ制御回路304もまた、I/Oバンプ422のうちのいくつかに接続され得る。第1のダイ412および第2のダイ414は、例えば、異なる処理ノード、異なる動作電圧、などに関連付けられた異なるウェハから製作され得る。例えば、第1のダイ412は、より高い動作電圧に耐えるがより低い動作速度を支持する処理ノードを使用して製作されてよく、一方で、第2のダイ414は、より高い動作速度を支持するがより低い動作電圧限界を有する処理ノードを使用して製作されてよい。
さらに、ICチップ402は、第1の回路430および第2の回路440を含む。第1の回路430および第2の回路440の両方が、電気的接続を提供するために、電線、トレース、バイア、などを含み得る。第1の回路430(例えば、第1の回路430a、430b、430c、など)は、ICチップ402の表側からICチップ402の裏側408に向かって少なくとも第1のダイ412の厚さにわたって垂直方向に沿って延在し得る。つまり、第1の回路430によってカバーされる垂直距離は、少なくとも第1のダイ412の厚さに及び得る。しかし、第1の回路430は、採用される実施形態に応じて、実際に第1のダイ412を物理的に通り抜ける場合もあればそうでない場合もある。例えば、図4Aに示された実施形態では、第1の回路430は、第1のダイ412を物理的に通り抜けることなしに、少なくとも第1のダイ412の厚さにわたって垂直に延在する。第1の回路430は、LEDデバイス410に電気的に接続するために、第1のダイ412内に内層回路を含み得る。第1の回路430は、LEDデバイス410とI/Oバンプ422のうちの少なくともいくつかとの間の電気的接続を提供するために、ラップアラウンド回路(wrap-around circuit)として構成され得る。例えば、第1の回路430は、図3のリターン/接地経路322の一部であり得る。第1の回路430はまた、例えばドライバ回路306への電力供給を提供し得る。第2の回路440(例えば、第2の回路440a、440b、440c、など)は、第2のダイ414から第1のダイ412a、412b、および412cのそれぞれまで延在し得る。第2の回路440は、第2のダイ414と第1のダイ412a、412b、および412cのそれぞれとの間の電気的接続を提供し得る。電気的接続は、例えば、第2のダイ414から第1のダイ412a~412cにデータおよび制御信号を伝達すること、I/Oバンプ422から第1のダイ412a~412cに他の信号を伝達すること、などのために使用され得る。
回路板404は、トレースおよびパッドを含み得る。回路板404のパッドのうちのいくつかは、ICチップ402のI/Oバンプ422に電気的に接続されてよく、一方で、回路板404のパッドのうちのいくつかは、例えば電力系統310または他の構成要素に電気的に接続されてよい。回路板404は、電力系統310と第1のダイ412、第2のダイ414、およびLEDデバイス410のそれぞれとの間の電気的接続を提供し得る。例えば、図3のリターン/接地経路322は、uLED308と電力系統310との間で、第1の回路430およびI/Oバンプ422、ならびに回路板404を介して実装され得る。
図4Aの例では、第1のダイ412および第2のダイ414は、ICチップ402内で横方向に沿って(例えば、X軸またはY軸に沿って)配置される。いくつかの例では、図4Bに示されるように、第1のダイ412および第2のダイ414は、集積回路チップ402および表示システム400のフォームファクタをさらに減少させるために、垂直方向に沿ってスタックを形成し得る。図4Aに示されるように、第1の回路430は、ICチップ402の表側406からICチップ402の裏側408に向かって第1のダイ412および第2のダイ414の厚さにわたって垂直方向に沿って延在し得る。さらに、I/Oバンプのセットが、第2の回路440の一部として第1のダイ412と第2のダイ414との間に挟まれ得る。
図5Aおよび図5Bは、第1のダイ412および第2のダイ414が横方向に沿って配置される図4Aの表示システム400の例を示す。図5Aに示されるように、ICチップ402は、横方向に沿って(例えば、X軸またはY軸に平行に)第1のダイ412に当接する肩構造502と、第2のダイ414に当接する肩構造504とを含み得る。肩構造502および504のそれぞれは、第1のダイ412または第2のダイ414の厚さにわたって延在する電気伝導経路512および524をそれぞれ含み得る。ファンアウト回路522が、電気的接続を提供するための金属層を備える再配線層(RDL)として構成され得る。図5Bは、ファンアウト回路522がI/Oパッド(図5Bには示されていない)を介して第1のダイ412の内層回路523に電気的に接続され得ることを示す。ファンアウト回路522はまた、肩構造502の上に延在し、かつ、電気伝導経路512の一方の端部に電気的に接続され得る。電気伝導経路512の他方の端部は、I/Oバンプ422のうちの少なくともいくつかに電気的に接続され得る。いくつかの例では、図5Bの上の略図に示されるように、I/Oバンプ422は、肩構造502の裏側(例えば、方向Bに面する側)上に配置され、かつ、電気伝導経路512に直接接続され得る。いくつかの例では、図5Bの下の略図に示されるように、ICチップ402は、肩構造502から第1のダイ412の裏側(例えば、方向Bに面する側)まで延在する裏側RDLとして構成されたファンアウト回路532を含むことができ、および/またはI/Oバンプ422は、裏側RDL上に位置決めされ得る。電気伝導経路512は、裏側RDLを介してI/Oバンプ422に接続され得る。どちらの例でも、ファンアウト回路522および/または532は、LEDデバイス410とI/Oバンプ422との間の電気的接続を提供するために、電気伝導経路512と一緒に図4Aの第1の回路430の一部になり得る。裏側RDLの使用は、利用可能かつルーティング密度によって駆動され得るI/Oバンプ422の数を増やすことができる。
さらに、ICチップ402はまた、肩構造504から第2のダイ414を越えて第1のダイ412まで延在するファンアウト回路524を含む。ファンアウト回路524もまた、RDLとして構成され得る。図5Bでは、ファンアウト回路524は、I/Oパッド(図5Bには示されていない)を介して第2のダイ414の内層回路および第1のダイ412の内層回路525に電気的に接続され得る。ファンアウト回路524はまた、肩構造504の上に延在し、かつ、電気伝導経路514の一方の端部に電気的に接続され得る。電気伝導経路514の他方の端部は、I/Oバンプ422のうちの少なくともいくつかに電気的に接続され得る。いくつかの例では、図5Bの上の略図に示されるように、I/Oバンプ422は、肩構造504の裏側(例えば、方向Bに面する側)上に配置され、かつ、電気伝導経路514に直接接続され得る。いくつかの例では、図5Bの下の略図に示されるように、ICチップ402は、肩構造504から第2のダイ414の裏側(例えば、方向Bに面する側)まで延在する裏側RDLとして構成された別のファンアウト回路を含むことができ、I/Oバンプ424は、裏側RDL上に位置決めされ得る。電気伝導経路514は、裏側RDLを介してI/Oバンプ422に接続され得る。どちらの例でも、ファンアウト回路524および/または534は、LEDデバイス410とI/Oバンプ422との間の電気的接続を提供するために、電気経路514と一緒に図4Aの第1の回路430の一部になり得る。さらに、ファンアウト回路524および電気経路514はまた、例えば、電力、制御信号、データ信号、などの伝達のための第2のダイ414と第1のダイ412との間の電気的接続を提供するために、第2の回路440の一部となり得る。
肩構造502および504はどちらも、エポキシ成形化合物(EMC)で作られ得る。肩構造は、第1のダイ412および第2のダイ414がキャリア基板上にあるときに製作され得る。例えば、第1のダイ412および第2のダイ414がキャリア基板上に移された後で、キャリア基板上の第1のダイ412および第2のダイ414に隣接して型が位置決めされてよく、型は、肩構造を形成するために、EMCを充填され得る。特定の実施形態では、肩構造502および504は、第1のダイ412および第2のダイ414の周りに形成された単体パッケージング構造(uni-body packaging structure)の一部であり得る。さらに、電気伝導経路512および514は、銅で作られてよくまた、例えば、肩構造502および504に貫通穴を開け、そして貫通穴内に銅を堆積させることによって製作されてもよい。
ファンアウト回路522および524は、肩構造502および504が形成された後で、ファンアウトプロセスにおいて形成され得る。2つのタイプのファンアウトプロセスが、ファンアウト回路522および524を形成するために使用され得る。第1のタイプのファンアウトプロセスは、ダイ表面の共平面性を保証するためにダイ412および414が平坦なキャリア上に下向きに配置される、フェースダウンプロセスであり得る。肩構造502および504もまた、平坦な表面上に形成されてダイ412および414と共平面になってよい。次いで、平坦なキャリアは、ダイ表面を露出させるために(例えば、エッチング除去により)取り除かれ、すると、ファンアウト回路522および524は、露出した表面上に形成され得る。第2のタイプのファンアウトプロセスは、ダイ412および414がキャリア上で上向きに配置される、フェースアッププロセスであり得る。共平面性を保証するために、ダイ412および414のダイ表面に研削工程が適用され得る。いくつかの例では、共平面性の欠如に対応するために、ダイ表面上にプロセスバンプが形成され得る。研削工程の後、プロセスバンプのある程度の残部はそのままであってよく、かつ、ダイとファンアウト回路との間のI/Oパッドとして使用され得る。
図6は、第1のダイ412および第2のダイ414が垂直方向に沿ってスタックに配置された、図4Bの表示システム400の例を示す。図6に示されるように、ICチップ402は、横方向に沿って第1のダイ412に当接する第1の肩構造602と、横方向に沿って第2のダイ414に当接する第2の肩構造604とを含む。第1の肩構造602は、垂直方向に沿って第1のダイ412の厚さにわたって延在する第1の電気伝導経路612を含み、一方で、第2の肩構造604は、垂直方向に沿って第2のダイ414の厚さにわたって延在する第2の電気伝導経路614を含む。ICチップ402は、LEDデバイス410と第1の電気伝導経路612との間の電気的接続を(第1のダイ412の内層回路を介して)提供するために、第1の肩構造602から第1のダイ412まで延在する第1のファンアウト回路622をさらに含む。ICチップ402は、第2の電気伝導経路614と第2のダイ414との間の電気的接続を提供するために、第2の肩構造604から第2のダイ414まで延在する第2のファンアウト回路624をさらに含む。第2の電気伝導経路614は、I/Oバンプ422のうちの少なくともいくつかに電気的に接続されてよく、一方で、第1の電気伝導経路612は、第2の電気伝導経路614に電気的に接続される。第1の電気伝導経路612および第2の電気伝導経路614を通じて、LEDデバイス410とI/Oバンプ422との間、および、第1のダイ412と第2のダイ414との間に、電気的接続が提供され得る。本開示の様々な実施形態によれば、第1のファンアウト回路622および第2のファンアウト回路624は、どちらもRDL層として構成される。
第1の電気伝導経路612と第2の電気伝導経路614との間を電気的に接続するための様々な方法が存在する。例えば、I/Oバンプ640(例えば、I/Oバンプ640a)が、電気的接続を提供するために、第1の肩構造602と第2の肩構造604との間(および、第1の電気伝導経路612と第2の電気伝導経路614との間)に挟まれてもよい。別の例として、図6に示されるように、ICチップ402は、第1のダイ412の(方向Bの方に面する)裏側上に形成された裏側ファンアウト回路630をさらに含み得る。裏側ファンアウト回路630は、第2の肩構造614の上に延在することができ、かつ、第2の電気伝導経路614に電気的に接続される。裏側ファンアウト回路630は、(第2のダイ414上の)ファンアウト回路624とともに、向かい合ったRDL層を形成する。I/Oバンプ640(例えば、I/Oバンプ640b)が、向かい合ったRDL層と第1の電気伝導経路612および第2の電気伝導経路614との間の電気的接続を提供するために、向かい合ったRDL層間に挟まれ得る。
さらに、I/Oバンプ422は、図5Bの例に基づいて分散され得る。例えば、I/Oバンプ422は、第2の肩構造604の下にのみ、または第2のダイ414の下の別の裏側RDL層の上に配置され得る。
図6の構成には、様々な利点がある。例えば、スタック構造は、ICチップ402の設置面積を減少させることができる。さらに、肩構造のサイズは順応性があり、より多くのI/Oバンプに対応するように拡大され得るので、(第1のダイと第2のダイとの間の)I/Oバンプ640の数、および(第2のダイと回路板との間の)I/Oバンプ422の数は、第1のダイおよび第2のダイのサイズにほとんど依存しなくてよく、それにより、ICチップ402の製作および適用に柔軟性が追加される。
図7A、図7B、図7C、および図7Dは、ICチップ402の他の例示的な構造を示す。図7Aに示されるように、ICチップ402は、ダイが横方向に沿って(例えば、X/Y軸に平行に)配置された状態で第1のダイ412および第2のダイ414を保持する、チップキャリア702を含み得る。チップキャリア702は、垂直方向に沿って(例えば、Z軸に沿って)第1のダイ412の厚さにわたって延在する電気伝導経路704を保持することができる肩構造703をさらに含む。ICチップ402は、ブリッジ回路706および708をさらに含む。ブリッジ回路706は、第1のダイ412と第2のダイ414との間の電気的接続を提供することができる。ブリッジ回路708は、第1のダイ412(および、LEDデバイス410)と電気伝導経路704との間の電気的接続を提供することができる。電気伝導経路704はまた、I/Oバンプ422に電気的に接続される。ブリッジ回路708および電気伝導経路704は、LEDデバイス410とI/Oバンプ422との間の電気的接続を提供することができる。
図7Bは、第1のダイ412および第2のダイ414がスタックを形成する、ICチップ402の例を示す。図7Bでは、第1のダイ412および第2のダイ414のそれぞれは、ダイを垂直に(Z軸に沿って)貫通して延在するシリコン貫通電極(TSV)を含む。LEDデバイス410とI/Oバンプ422との間の電気的接続は、例えば、第1のダイ412のTSV730、I/Oバンプ740、および第2のダイ414のTSV750によって提供され得る。電気的接続は、例えば、ドライバ回路306および電流リターン経路322に電力を提供するために使用され得る。さらに、第1のダイ412と第2のダイ414との間の電気的接続は、第1のダイ412のTSV732、およびI/Oバンプ742によって提供され得る。バンプ740/742およびI/Oバンプ422への電気的接続を提供するために、第1のダイおよび第2のダイ上にファンアウト回路が形成され得る。
図7Bにおける構成は、多くの利点を提供し得る。第1に、LEDデバイス410とバンプ740/742との間の電気経路(例えば、第1の回路430によって表されているような、リターン経路322、電力線、など)が第1のダイ412内に限定されるので、パッケージサイズが縮小され得る。したがって、電気経路を保持するために図6の肩構造602および図7Aの肩構造703のような外部構造が第1のダイ412の横に(X/Y軸に沿って)位置決めされる必要がなく、それにより、ICチップ402の設置面積が縮小され得る。さらに、第1のダイ412のTSV(例えば、TSV730)のうちのいくつかまたは全てが、LEDデバイス410を含む画素領域の下でアクティブ領域760内に形成され得る。アクティブ領域760は、例えば、ドライバ回路306、およびLEDデバイス410を制御する他の半導体デバイスを含み得る。TSVに第1のダイ412内のアクティブ領域760を通過させることにより、TSVを用いて実装される電力経路およびリターン経路のためのルーティング距離をさらに短縮することができ、それにより、電力および接地系統の頑健性を向上させることができる。
しかし、図7Bにおける構成は、LEDデバイス410が第1のダイ412上に配置された後でTSVが製作される場合に、多くの課題をもたらし得る。具体的には、TSVは、表側762から第1のダイ412を貫通させて垂直に溝をエッチングし、続いてその溝を金属(または、他の導電性材料)で充填することにより、形成され得る。しかし、エッチングは、LEDデバイス410に損傷を与える可能性があり、LEDデバイス410をエッチング作用から保護するために、ドライバ回路およびLEDデバイス410が配置されるべきではないキープアウトゾーンをアクティブ領域760内に作り出してLEDデバイス410とTSVとの間をさらに分離させることなどの、特別な注意が必要とされ得る。しかし、そのような構成は、TSV、第1のダイ412、およびICチップ402を全体として製作する工程をさらに複雑にする可能性がある。典型的には、図7BにおけるTSVは、第1のダイ412内での能動デバイスおよびTSVの配置がキープアウトゾーンによって課せられる制限に応じることができるように、第1のダイ412の製作工程の一環として製作される必要がある。
図7Cは、TSVの代替的な構成を含みかつICチップ402の一部になり得る、第1のダイ412の別の例を示す。図7Cに示されるように、第1のダイ412は、アクティブ領域760と、アクティブ領域760の上にLEDデバイス410のスタックを含む画素領域770とを具備する。第1のダイ412は、第1のダイ412の表側774(正のZ方向に面する)から第1のダイ412の裏側776(負のZ方向に面する)まで第1のダイ412の厚さを貫通して垂直に(Z軸に沿って)延在するTSV772をさらに含む。図7BのTSVとは異なり、図7Cの例におけるTSVは、アクティブ領域760の外側である第1のダイ412の周辺領域778および780内に形成される。第1のダイ412は、表側774上に形成されたボンディングパッド782をさらに含み、電気的ブリッジ構造(図7Cには示されていない)が、ボンディングパッド782を介して画素領域770とTSVとの間の電気的接続を提供し得る。さらに、金属層784(例えば、再配線層)が、TSVから裏側上のI/Oバンプ(例えば、I/Oバンプ742)への電気的接続を提供するために、第1のダイ412の裏側776上に形成され得る。
図7BにおけるTSVの構成におけるように、図7CにおけるTSVの構成は、LEDデバイス410とバンプ742との間の電気経路(例えば、第1の回路430によって表されているような、リターン経路322、電力線、など)を第1のダイ412内に限定することにより、パッケージサイズが縮小されることを可能にする。しかし、TSVはアクティブ領域760および画素領域770とは別の領域内に形成されるので、TSVの製作は、LEDデバイス410が第1のダイ412上に配置された後でTSVが製作される場合は特に、画素領域770内のLEDデバイス410にもたらすリスクがはるかに低い。図7Bと比較すると、図7CにおけるTSVの製作は、洗練度の劣るプロセスを使用して行われ得る。例えば、上記のように、図7BにおけるTSVは、第1のダイ412内での能動デバイスおよびTSVの配置がキープアウトゾーンによって課せられる制限に応じることができるように、第1のダイ412の製作工程の一環として製作される必要がある。しかし、図7Cの例では、能動デバイスおよびTSVは、異なる領域内に保持されるので、アクティブ領域760内にキープアウトゾーンを設ける必要はなく、アクティブ領域760内での能動デバイスの製作および配置は、TSVを考慮に入れる必要がない。さらに、TSVの製作は、第1のダイ412内のデバイスの製作工程の外で行われ得る。代わりに、図7CにおけるTSVの製作は、ICチップ402を形成するパッケージング作業における後工程の一部とされ得る。結果として、図7CにおけるTSVの構成は、チップ設置面積を縮小させかつ第1のダイ412の表側上のLEDデバイス410と第1のダイ412の裏側上のバンプとの間に頑強な電気的接続を提供するとともに、TSVの製作、および全体としてのICチップ402の形成の複雑さを軽減することができる。
図7CにおけるTSV構成を使用して形成された第1のダイ412は、ICチップ402を形成するために、本開示における様々な技法を使用して形成された第2のダイ414と組み合わせられ得る。例として、図7Cの第1のダイは、ICチップ402を形成するために、図7Bの第2のダイ414と組み合わせられ得る。別の例として、図7Dに示されるように、図7Cの第1のダイ412は、ICチップ402を形成するために、図6の第2のダイ414と組み合わせられ得る。上記のように、図6の例における第2のダイ414は、第2の肩構造604を含み、この第2の肩構造604は、垂直方向に沿って第2のダイ414の厚さにわたって延在する第2の電気伝導経路614を含む。ICチップ402は、RDL層として構成されかつ第2の電気伝導経路614と第2のダイ414との間の電気的接続を提供するために第2の肩構造604から第2のダイ414まで延在し得る、第2のファンアウト回路624をさらに含む。図7Dの構成によって提供される利点には、例えば、第2の肩構造606を含む第2のダイ414の全体設置面積が第1のダイ414の全体設置面積に適合するように、第2の肩構造606が作られ得るので、第2のダイ414のダイサイズが第1のダイ412のダイサイズに依存しないことを含み得る。さらに、上述のように、肩構造は、より多くのI/Oバンプに対応するように拡大されることが可能であり、(第1のダイと第2のダイとの間の)I/Oバンプ640の数、および(第2のダイと回路板との間の)I/Oバンプ422の数は、第1のダイおよび第2のダイのサイズにほとんど依存しなくてよく、それにより、ICチップ402の製作および適用に柔軟性が追加される。
図8は、表示システム400などの表示システムを製造する方法800を示す。方法800は、発光ダイオード(LED)デバイスが製作されるステップ802から始まる。LEDデバイスは、例えば、結晶ウェハ(例えば、サファイア)から製作され得る。
ステップ804では、第1のダイが、第1のウェハから製作され得る。第1のダイは、LEDデバイスのためのドライバ回路を含み得る。
ステップ806では、LEDデバイスは、例えばLEDデバイスと第1のダイとを結合することにより、第1のダイ上に移され得る。
ステップ808では、第2のダイが、第2のウェハから製作され得る。第2のダイは、ドライバ回路のための制御回路を含み得る。第2のウェハは、第1のウェハとは異なる処理ノードを有し得る。
ステップ810では、第1のダイおよび第2のダイが、集積回路(IC)チップを形成するためにパッケージングされてよく、LEDデバイスは、ICチップの表側で露出される。パッケージングされたICチップは、図4Aから図7Bの例によるものであってよい。
ステップ812では、第1の回路が、ICチップ内に製作され得る。第1の回路は、LEDデバイスへの電気的接続を提供するために、ICチップの表側からICチップの裏側に向かって第1のダイにわたって垂直方向に沿って延在する。いくつかの例では、第1の回路は、ダイに当接する肩構造の一部であり得る。いくつかの例では、第1の回路は、第1のダイの厚さにわたって形成されたTSVであり得る。いくつかの例では、TSVは、LEDデバイスのためのドライバ回路を含む第1のダイのアクティブ領域内に形成され得る。いくつかの例では、TSVは、アクティブ領域の外側であるだけでなくLEDデバイスを含む画素領域の外側でもある第1のダイの周辺領域内に形成され得る。TSVは、ステップ806においてドライバ回路を含む第1のダイの第1の表面上にLEDデバイスが移された後で、第1のダイの第1の表面を貫通してエッチングすることによって形成され得る。
ステップ814では、第2の回路が、ICチップ内に製作され得る。第2の回路は、第1のダイと第2のダイとの間の電気的接続を提供することができ、かつ、ファンアウト回路を含み得る。さらに、第2のダイと第1の回路との間の電気的接続を提供するために、第3の回路が、垂直相互接続部612および614を通じて、第2のダイの肩におけるように垂直方向に追加され得る。
ステップ816では、入力/出力(I/O)バンプが、第1のダイ、第2のダイ、および第1の回路への電気的接続を提供するために、ICチップの裏側上に形成される。
ステップ818では、ICチップが、I/Oバンプを介して回路板に電気的に接続されて、表示装置を形成する。
本開示の実施形態に関する上記の説明は、例示の目的のために提示されたものであり、包括的であること、または本開示を開示された正確な形態に限定するようには意図されていない。当業者は、上記開示を踏まえると多くの修正および変形が可能であることを理解することができる。
この記述のうちのいくつかの部分は、情報に対するオペレーションのアルゴリズムおよび記号的表現の観点から本開示の実施形態を説明する。これらのアルゴリズムに関する記述および表現は、データ処理業における技能者がその仕事の内容を他の当業者に効率的に伝えるために一般に使用されるものである。これらのオペレーションは、機能的に、コンピュータ的に、または論理的に説明されるが、コンピュータプログラムまたは同等の電気回路、マイクロコード、などによって実施されるものと理解される。さらに、一般性を失わず、これらのオペレーションの構成をモジュールとして言及することが時には好都合であることも証明された。説明されたオペレーションおよびそれらの関連するモジュールは、ソフトウェア、ファームウェア、および/またはハードウェアにおいて具現化され得る。
説明されたステップ、オペレーション、またはプロセスは、1つまたは複数のハードウェアもしくはソフトウェアモジュールにより、単独でまたは他のデバイスとの組合せで実行または実施され得る。いくつかの実施形態では、ソフトウェアモジュールは、説明されたステップ、オペレーション、もしくはプロセスのいずれかまたは全てを実行するためのコンピュータプロセッサによって実行され得るコンピュータプログラムコードを含むコンピュータ可読媒体を備えたコンピュータプログラム製品を用いて実装される。
本開示の実施形態はまた、説明されたオペレーションを実行するための装置に関し得る。装置は、必要とされる目的のために特別に構成されてよく、かつ/または、装置は、コンピュータに格納されたコンピュータプログラムによって選択的に作動または再構成される汎用コンピューティングデバイスを含み得る。そのようなコンピュータプログラムは、一時的でない有形のコンピュータ可読記憶媒体、またはコンピュータシステムバスに結合され得る電子命令を記憶するのに適した任意のタイプの媒体に記憶され得る。さらに、本明細書において言及されるいかなるコンピューティングシステムも、単一のプロセッサを含み得るか、または、強化された計算能力のための複数プロセッサ設計を用いるアーキテクチャであり得る。
本開示の実施形態はまた、本明細書において説明されたコンピューティングプロセスによって作り出される製品に関し得る。そのような製品は、コンピューティングプロセスからもたらされる情報を含む場合があり、その情報は、一時的でない有形のコンピュータ可読媒体に記憶され、かつ、本明細書において説明されるコンピュータプログラム製品または他のデータ組合せの任意の実施形態を含み得る。
本明細書において使用される文言は、読みやすさおよび教授的目的のために主に選択されており、また、発明の主題を正確に記述するまたは制限するために選択されていない場合がある。したがって、本開示の範囲はこの詳細な説明によって限定されるのではなく、むしろそれに基づく適用に由来する任意の請求項によって限定されることが、意図されている。したがって、実施形態の開示は、以下の特許請求の範囲において具体的に述べられる本開示の範囲の説明に役立つものであるが限定するものではないことが、意図されている。
Claims (33)
- 表示装置であって、
集積回路(IC)チップであって、
集積回路(IC)チップの表側で露出された発光ダイオード(LED)デバイス、
前記ICチップの裏側上の入力/出力(I/O)バンプ、
垂直方向に沿って前記LEDデバイスとともにスタックを形成する第1のダイであって、前記LEDデバイスに電気的に接続されかつ前記I/Oバンプのうちの少なくともいくつかに電気的に接続されたドライバ回路を含む、第1のダイ、
前記LEDデバイスと前記I/Oバンプのうちの少なくともいくつかとの間の電気的接続を提供するために、前記ICチップの前記表側から前記ICチップの前記裏側に向かって少なくとも前記第1のダイの厚さにわたって前記垂直方向に沿って延在する、第1の回路、
パイプライン化回路および前記第1のダイの前記ドライバ回路のための制御回路を含み、かつ前記I/Oバンプのうちの少なくともいくつかに電気的に接続された、第2のダイ、
前記第1のダイと前記第2のダイとの間の電気的接続を提供するために前記第2のダイから前記第1のダイまで延在する、第2の回路
を備える、ICチップと、
電力系統と前記ICチップの前記第1のダイ、前記第2のダイ、および前記LEDデバイスのそれぞれとの間の電気的接続を提供するために、前記ICチップの前記I/Oバンプおよび前記電力系統に電気的に接続された、回路板と、
を備える、表示装置。 - 前記第1のダイが、前記ICチップ内で横方向に沿って前記第2のダイに隣接して位置決めされ、前記横方向が、前記垂直方向に対して直角である、請求項1に記載の表示装置。
- 前記ICチップが、前記横方向に沿って前記第1のダイに当接する肩構造を含み、
前記第1の回路が、前記垂直方向に沿って前記肩構造を貫通して延在する電気伝導経路を備える、請求項2に記載の表示装置。 - 前記ICチップが、前記横方向に沿って前記LEDデバイスに隣接する再配線層(RDL)を含み、
前記RDLが、前記第1のダイと前記第1の回路との間の電気的接続を提供するために、前記肩構造の少なくとも一部分および前記第1のダイの少なくとも一部分の上に延在する、請求項3に記載の表示装置。 - 前記第1のダイが、前記LEDデバイスと前記RDLとの間を電気的に接続するための内層回路を備える、請求項4に記載の表示装置。
- 前記ICチップが、前記横方向に沿って前記第2のダイに当接する肩構造を含み、
前記第1の回路が、前記垂直方向に沿って前記肩構造を貫通して延在する電気伝導経路を備える、請求項2に記載の表示装置。 - 前記ICチップが、前記第2の回路の一部として、前記横方向に沿って前記LEDデバイスに隣接するRDLを含み、
前記RDLが、前記第1のダイと前記第1の回路との間および前記第1のダイと前記第2のダイとの間の電気的接続を提供するために、前記肩構造の少なくとも一部分、前記第2のダイ、および前記第1のダイの少なくとも一部分の上に延在する、請求項6に記載の表示装置。 - 前記第1のダイが、前記ICチップの前記表側上の前記LEDデバイスとI/Oバンプとの間の電気的接続を提供するための内層回路を備える、請求項7に記載の表示装置。
- 前記ICの前記裏側上の前記I/Oバンプが、前記肩構造上に形成されかつ前記肩構造の前記電気伝導経路に電気的に接続されたI/Oバンプを含む、請求項3に記載の表示装置。
- 前記RDLが、第1のRDLであり、
前記ICチップが、第2のRDLをさらに備え、前記第2のRDLが、前記第1の回路、前記第1のダイ、および前記第2のダイへの電気的接続を提供するために、前記横方向に沿って前記第2のダイに当接する第2の肩構造の少なくとも一部分、前記第1のダイ、および前記第2のダイを覆い、
前記ICの前記裏側上の前記I/Oバンプが、前記第2の肩構造上に形成されかつ前記第2の肩構造の電気伝導経路に電気的に接続されたI/Oバンプを含む、請求項4に記載の表示装置。 - 前記肩構造が、前記第1のダイがキャリア基板上に存在するときに前記第1のダイに当接するように形成される、請求項3に記載の表示装置。
- 前記肩構造が、エポキシ成形化合物(EMC)を含む、請求項3に記載の表示装置。
- 前記肩構造が、型に前記EMCを充填することによって形成される、請求項3に記載の表示装置。
- 前記電気伝導経路が、銅を含む、請求項3に記載の表示装置。
- 前記ICチップが、前記第1のダイおよび前記第2のダイの両方を保持するためのチップキャリアを含み、
前記第1の回路が、前記垂直方向に沿って前記チップキャリアを貫通して延在し前記ICチップの前記裏側上の前記I/Oバンプに達する電気伝導経路を備える、請求項2に記載の表示装置。 - 前記ICチップが、前記第1の回路と前記第1のダイとの間の電気的接続を提供するために、前記チップキャリアの一部分および前記第1のダイの一部分の上に延在する第1のブリッジ回路を含む、請求項15に記載の表示装置。
- 前記第1のダイが、前記第1の回路と前記LEDデバイスとの間の電気的接続を提供するための内層回路をさらに含む、請求項16に記載の表示装置。
- 前記ICチップが、前記第2の回路の一部として、前記第1のダイと前記第2のダイとの間の電気的接続を提供するために前記第1のダイの一部分および前記第2のダイの一部分の上に延在する第2のブリッジ回路を含む、請求項16に記載の表示装置。
- 前記チップキャリアが、セラミック材料を含む、請求項16に記載の表示装置。
- 前記第1のダイが、前記ICチップ内で前記垂直方向に沿って前記第2のダイとともにスタックを形成する、請求項1に記載の表示装置。
- 前記垂直方向に対して直角な横方向に沿って前記第1のダイに当接する第1の肩構造と、
前記横方向に沿って前記第2のダイに当接する第2の肩構造と
をさらに備え、
前記第1の回路が、前記垂直方向に沿って前記第1の肩構造を貫通して延在する第1の電気伝導経路と、前記垂直方向に沿って前記第2の肩構造を貫通して延在する第2の電気伝導経路とを備える、請求項20に記載の表示装置。 - 前記ICチップが、
前記LEDデバイスに隣接し、かつ前記第1のダイと前記第1の電気伝導経路との間の電気的接続を提供するために前記第1の肩構造の少なくとも一部分および前記第1のダイの一部分の上に延在する、第1のRDLと、
前記第1のダイに面し、かつ前記第2のダイと前記第2の電気伝導経路との間の電気的接続を提供するために前記第2の肩構造の少なくとも一部分および前記第2のダイの一部分の上に延在する、第2のRDLと
を含み、
前記第1のRDLおよび前記第2のRDLが、前記第2の回路の一部である、請求項21に記載の表示装置。 - 前記第1の電気伝導経路と前記第2の電気伝導経路との間の電気的接続を提供するために、前記第1の肩構造と前記第2の肩構造との間にI/Oバンプをさらに備える、請求項22に記載の表示装置。
- 前記第1の肩構造の一部分および前記第1のダイの一部分の上に延在する第3のRDLであって、前記第1の肩構造の前記第1の電気伝導経路に電気的に接続されかつ前記第2のRDLに面する、第3のRDLと、
前記第3のRDLと前記第2のRDLとの間の電気的接続を提供するために前記第3のRDLと前記第2のRDLとの間に挟まれたI/Oバンプと、
をさらに備える、請求項22に記載の表示装置。 - 前記ICチップの前記裏側上の前記I/Oバンプが、前記第2の肩構造上に存在しかつ前記第2の肩構造の前記第2の電気伝導経路に電気的に接続されたI/Oバンプを含む、請求項22に記載の表示装置。
- 前記第1のダイが、前記第1の回路の一部として、前記LEDデバイスに電気的に接続された複数の第1のシリコン貫通電極(TSV)を備え、
前記第2のダイが、前記第1の回路の一部として、前記複数の第1のTSVに電気的に接続された複数の第2のTSVを備え、
前記ICチップの前記裏側上の前記I/Oバンプが、前記複数の第2のTSVに電気的に接続される、請求項20に記載の表示装置。 - 前記第2のダイが、前記第2の回路の一部として、前記第1のダイに電気的に接続された複数の第3のTSVを備える、請求項26に記載の表示装置。
- 前記複数の第1のTSVが、前記第1のダイの周辺領域内に形成され、
前記周辺領域が、前記LEDデバイスが形成される前記第1のダイの画素領域の外側である、請求項26に記載の表示装置。 - 前記第1のダイが、前記第1の回路の一部として、前記LEDデバイスに電気的に接続されかつ前記第1のダイの周辺領域内に形成されたTSVを備え、
前記周辺領域が、前記LEDデバイスが形成される前記第1のダイの画素領域の外側であり、
前記表示装置が、前記第1の回路の一部として、横方向に沿って前記第2のダイに当接する肩構造を貫通して延在する電気伝導経路をさらに含む、請求項20に記載の表示装置。 - 前記第1のダイが、第1のウェハから製作され、前記第2のダイが、第2のウェハから製作される、請求項1に記載の表示装置。
- 前記第1のウェハおよび前記第2のウェハが、異なる動作電圧または異なる処理ノードの少なくとも一方に関連付けられる、請求項30に記載の表示装置。
- 発光ダイオード(LED)デバイスを製作することと、
第1のダイ内にドライバ回路を含むように第1のウェハから前記第1のダイを製作することと、
前記LEDデバイスを前記第1のダイ上に移すことと、
第2のウェハから第2のダイを製作することと、
集積回路(IC)チップを形成するために、前記第1のダイおよび前記第2のダイをパッケージングすることであって、前記LEDデバイスが前記ICチップの表側で露出される、前記第1のダイおよび前記第2のダイをパッケージングすることと、
前記LEDデバイスへの電気的接続を提供するために前記ICチップの前記表側から前記ICチップの裏側に向かって前記第1のダイにわたって垂直方向に沿って延在する第1の回路を製作することと、
前記第1のダイと前記第2のダイとの間の電気的接続を提供するための第2の回路を製作することと、
前記第1のダイ、前記第2のダイ、および前記第1の回路への電気的接続を提供するために前記ICチップの前記裏側上に入力/出力(I/O)バンプを形成することと、
表示装置を形成するために、前記I/Oバンプを介して前記ICチップを回路板に接続することと、
を含む、方法。 - 前記第1の回路が、シリコン貫通電極(TSV)を備え、
前記TSVが、前記ドライバ回路を含む前記第1のダイの第1の表面上に前記LEDデバイスが移された後で前記第1のダイの前記第1の表面を貫通させてエッチングすることによって製作される、請求項32に記載の方法。
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US11257421B2 (en) * | 2019-08-24 | 2022-02-22 | Huayuan Semiconductor (Shenzhen) Limited Company | Display device with single package light emitting diode and driver circuit |
US11437415B2 (en) * | 2019-08-30 | 2022-09-06 | Advanced Semiconductor Engineering, Inc. | Semiconductor device package and method of manufacturing the same |
FR3102832B1 (fr) * | 2019-11-06 | 2021-10-29 | Valeo Vision | Ensemble de sources lumineuses, dispositif d'éclairage automobile et procédé de fabrication |
US20230327063A1 (en) * | 2020-08-31 | 2023-10-12 | Lg Electronics Inc. | Display device |
WO2022045414A1 (ko) * | 2020-08-31 | 2022-03-03 | 엘지전자 주식회사 | 반도체 발광 소자를 이용한 디스플레이 장치 |
Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003115613A (ja) * | 2001-08-01 | 2003-04-18 | Sony Corp | 画像表示装置及びその製造方法 |
JP2011085883A (ja) * | 2009-10-13 | 2011-04-28 | Samsung Mobile Display Co Ltd | 有機電界発光表示装置 |
JP2012227514A (ja) * | 2011-04-08 | 2012-11-15 | Sony Corp | 画素チップ、表示パネル、照明パネル、表示装置および照明装置 |
CN105206642A (zh) * | 2015-10-13 | 2015-12-30 | 南京大学 | 一种超高密度led显示器件及其制造方法 |
JP2016512347A (ja) * | 2013-03-15 | 2016-04-25 | ルクスビュー テクノロジー コーポレイション | 冗長性スキームを備えた発光ダイオードディスプレイ、及び統合欠陥検出検査を備えた発光ダイオードディスプレイを製造する方法 |
JP2016122832A (ja) * | 2014-12-24 | 2016-07-07 | インテル・コーポレーション | 積層集積回路パッケージにおける複数のビアにおける複数の受動コンポーネント |
US20180074199A1 (en) * | 2016-09-14 | 2018-03-15 | Apple Inc. | Systems and methods for in-frame sensing and adaptive sensing control |
JP2018142713A (ja) * | 2015-09-02 | 2018-09-13 | オキュラス ブイアール,エルエルシー | 半導体デバイスの組立 |
US20180269191A1 (en) * | 2017-03-15 | 2018-09-20 | Globalfoundries Inc. | Micro-led display assembly |
US20180301433A1 (en) * | 2017-04-14 | 2018-10-18 | Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives | Emissive led display device manufacturing method |
Family Cites Families (27)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007027357A (ja) * | 2005-07-15 | 2007-02-01 | Showa Denko Kk | 半導体発光装置及び基板 |
JP4364865B2 (ja) * | 2005-11-24 | 2009-11-18 | Tdk株式会社 | 電子部品 |
US9070662B2 (en) * | 2009-03-05 | 2015-06-30 | Volterra Semiconductor Corporation | Chip-scale packaging with protective heat spreader |
US9355962B2 (en) * | 2009-06-12 | 2016-05-31 | Stats Chippac Ltd. | Integrated circuit package stacking system with redistribution and method of manufacture thereof |
US9153545B2 (en) * | 2010-12-20 | 2015-10-06 | Rohm Co., Ltd. | Light-emitting element unit and light-emitting element package |
KR102021077B1 (ko) * | 2013-01-24 | 2019-09-11 | 삼성전자주식회사 | 적층된 다이 패키지, 이를 포함하는 시스템 및 이의 제조 방법 |
WO2015033557A1 (ja) * | 2013-09-05 | 2015-03-12 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 発光装置 |
EP3018710B1 (en) * | 2014-11-10 | 2020-08-05 | Nxp B.V. | Arrangement of semiconductor dies |
US9922970B2 (en) * | 2015-02-13 | 2018-03-20 | Qualcomm Incorporated | Interposer having stacked devices |
US9793252B2 (en) * | 2015-03-30 | 2017-10-17 | Emagin Corporation | Method of integrating inorganic light emitting diode with oxide thin film transistor for display applications |
US9941450B2 (en) * | 2015-06-18 | 2018-04-10 | Articulated Technologies, Llc | Roll-to-roll fabricated light sheet and encapsulated semiconductor device |
US10304811B2 (en) | 2015-09-04 | 2019-05-28 | Hong Kong Beida Jade Bird Display Limited | Light-emitting diode display panel with micro lens array |
US10483253B1 (en) * | 2015-09-24 | 2019-11-19 | Apple Inc. | Display with embedded pixel driver chips |
CN108475712B (zh) * | 2015-12-01 | 2021-11-09 | 夏普株式会社 | 图像形成元件 |
DE112016006809T5 (de) * | 2016-04-28 | 2019-02-14 | Intel Corporation | Integrierte schaltungsstrukturen mit erweiterten leitungswegen |
US10467952B2 (en) | 2016-10-12 | 2019-11-05 | Shaoher Pan | Integrated light-emitting diode arrays for displays |
CN118117305A (zh) * | 2016-12-21 | 2024-05-31 | 英特尔公司 | 无线通信技术、装置和方法 |
CN108877663B (zh) | 2017-05-10 | 2020-07-10 | 矽照光电(厦门)有限公司 | 显示屏及其制造方法、以及显示结构 |
US10902769B2 (en) * | 2017-07-12 | 2021-01-26 | Facebook Technologies, Llc | Multi-layer fabrication for pixels with calibration compensation |
US10193011B1 (en) * | 2017-07-14 | 2019-01-29 | Globalfoundries Inc. | Method of manufacturing a 3 color LED integrated Si CMOS driver wafer using die to wafer bonding approach |
US10461022B2 (en) * | 2017-08-21 | 2019-10-29 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Ltd. | Semiconductor package structure and manufacturing method thereof |
WO2019066986A1 (en) * | 2017-09-30 | 2019-04-04 | Intel Corporation | STACK OF NON-TSV CHIPS USING PLATED PILLARS / CROSSING MOLD INTERCONNECTION |
CN107564923B (zh) * | 2017-10-13 | 2020-03-31 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种阵列基板及其制备方法、柔性显示装置 |
KR102491107B1 (ko) * | 2018-03-16 | 2023-01-20 | 삼성전자주식회사 | 필름 패키지, 칩 온 필름 패키지 및 패키지 모듈 |
US10437402B1 (en) * | 2018-03-27 | 2019-10-08 | Shaoher Pan | Integrated light-emitting pixel arrays based devices by bonding |
US11037915B2 (en) | 2019-02-14 | 2021-06-15 | Facebook Technologies, Llc | Integrated display devices |
US11114429B2 (en) * | 2019-04-23 | 2021-09-07 | Xilinx, Inc. | Integrated circuit device with electrostatic discharge (ESD) protection |
-
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Patent Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003115613A (ja) * | 2001-08-01 | 2003-04-18 | Sony Corp | 画像表示装置及びその製造方法 |
JP2011085883A (ja) * | 2009-10-13 | 2011-04-28 | Samsung Mobile Display Co Ltd | 有機電界発光表示装置 |
JP2012227514A (ja) * | 2011-04-08 | 2012-11-15 | Sony Corp | 画素チップ、表示パネル、照明パネル、表示装置および照明装置 |
JP2016512347A (ja) * | 2013-03-15 | 2016-04-25 | ルクスビュー テクノロジー コーポレイション | 冗長性スキームを備えた発光ダイオードディスプレイ、及び統合欠陥検出検査を備えた発光ダイオードディスプレイを製造する方法 |
JP2016122832A (ja) * | 2014-12-24 | 2016-07-07 | インテル・コーポレーション | 積層集積回路パッケージにおける複数のビアにおける複数の受動コンポーネント |
JP2018142713A (ja) * | 2015-09-02 | 2018-09-13 | オキュラス ブイアール,エルエルシー | 半導体デバイスの組立 |
CN105206642A (zh) * | 2015-10-13 | 2015-12-30 | 南京大学 | 一种超高密度led显示器件及其制造方法 |
US20180074199A1 (en) * | 2016-09-14 | 2018-03-15 | Apple Inc. | Systems and methods for in-frame sensing and adaptive sensing control |
US20180269191A1 (en) * | 2017-03-15 | 2018-09-20 | Globalfoundries Inc. | Micro-led display assembly |
US20180301433A1 (en) * | 2017-04-14 | 2018-10-18 | Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives | Emissive led display device manufacturing method |
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