JP2022501582A - 平面物体またはストランド状物体用生産システムを制御するための方法および装置 - Google Patents
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Abstract
Description
以下とともに:
ΔTwd1 少なくとも1つの送信器の方へ向いている外側境界面から反射された測定放射と、少なくとも1つの送信器の方へ向いている物体の壁部の少なくとも1つの送信器の向こう側へ向いている内側境界面から反射された測定放射との間の伝搬時間の差。
ΔTwd2 少なくとも1つの送信器の方へ向いている内側境界面から反射された測定放射と、少なくとも1つの送信器の向こう側へ向いている物体の壁部の外側境界面から反射された測定放射との間の伝搬時間の差。
ΔTR 装置を通して案内された物体の材料によって起こる、少なくとも1つの送信器から放射され、物体を透通した後に少なくとも1つの受信機で受信される測定放射の伝搬時間の変化。
c 空気中における測定放射の伝搬速度。
例えば、上記のWd1の式は、次のように変換できる:
また、以下も当てはまる:
以下とともに:
cK 物体における測定放射の伝搬速度
したがって、以下も当てはまる:
したがって、管状物体の屈折率nは次の通りである:
t 時間
ω 回転角度
10 送受信機
12 管状物体
14 矢印
16 矢印
18 矢印
20 矢印
22 矢印
24 評価器
26 破線の矢印
28 閉ループ制御器
30 破線の矢印
32 生産システム
34 破線の矢印
36 反射器
Claims (21)
- 平面物体またはストランド状物体(12)用生産システム(32)を制御するための方法であって、
前記物体(12)は測定領域を通して搬送方向に搬送され、前記物体(12)は前記測定領域においてギガヘルツまたはテラヘルツの周波数範囲で測定放射が照射され、前記測定放射は少なくとも部分的に前記物体(12)を透通し、前記物体(12)によって反射される測定放射は検出され、前記物体(12)の屈折率(n)および/または前記物体(12)による前記測定放射の吸収は、検出される前記測定放射を使用して判断され、
前記生産システム(32)の少なくとも1つの生産パラメータは、前記屈折率の判断および/または前記吸収の判断に基づいて制御され、前記屈折率(n)および/または前記吸収は前記測定領域を通して前記物体(12)の搬送中に複数の時点で判断され、かつ前記少なくとも1つの生産パラメータは経時的な前記屈折率(n)および/または前記吸収の変化に基づいて制御され、および/または、測定放射は前記物体(12)の種々の点に対して放射され、前記屈折率(n)および/または前記吸収は前記物体(12)の前記種々の点で判断され、前記少なくとも1つの生産パラメータは前記屈折率(n)および/または前記吸収の空間的変化に基づいて制御されることを特徴とする、方法。 - 前記屈折率は、前記物体が前記測定領域に配置される時に前記測定領域を通して前記送信器によって発せられる前記測定放射の伝搬時間と、前記物体が配置されていない前記測定領域を通る前記測定放射の伝搬時間との比較から判断されることを特徴とする、請求項1に記載の方法。
- 前記物体(12)は管状物体(12)であり、前記送信器の方へ向いている第1の壁部、および前記送信器の向こう側に向いている第2の壁部を通して前記送信器によって発せられる前記測定放射の前記伝搬時間はまた、前記屈折率の判断に対して考慮に入れられることを特徴とする、請求項2に記載の方法。
- データ傾向は、前記測定領域を通して前記物体(12)の搬送中に複数の時点で判断される前記屈折率および/または前記吸収の値を使用して生成され、前記生産システムは経時的な前記データ傾向の検出される変化に基づいて制御されることを特徴とする、請求項1から3のいずれか一項に記載の方法。
- 空間値分布は、前記物体(12)の前記種々の点で判断される前記屈折率および/または前記吸収の前記値を使用して生成され、前記生産システムは前記値分布の検出される空間的変化に基づいて制御されることを特徴とする、請求項1から4のいずれか一項に記載の方法。
- 前記物体(12)はプラスチック材料からなり、前記生産システム(32)は前記プラスチック材料を押し出すための押し出し装置を含み、前記押し出し装置の少なくとも1つの生産パラメータは前記屈折率の判断および/または前記吸収の判断に基づいて制御されることを特徴とする、請求項1から5のいずれか一項に記載の方法。
- 前記押し出し装置の出力容量は生産パラメータとして制御されることを特徴とする、請求項6に記載の方法。
- 前記押し出し装置に送り込まれる少なくとも2つの押し出される材料の混合比は、生産パラメータとして制御されることを特徴とする、請求項6または7に記載の方法。
- 前記物体(12)の生産のために使用される前記材料に付加される添加物の比率は、前記屈折率および/または前記吸収の確認された前記値を使用して判断され、前記生産システムは前記添加物の判断された前記比率に基づいて制御されることを特徴とする、請求項1から8のいずれか一項に記載の方法。
- 前記生産システム(32)の前記少なくとも1つの生産パラメータは、前記屈折率の判断および/または前記吸収の判断に基づく閉制御ループで調整されることを特徴とする、請求項1から9のいずれか一項に記載の方法。
- 請求項12から20のいずれか一項に記載の装置によって実行されることを特徴とする、請求項1から10のいずれか一項に記載の方法。
- 平面物体またはストランド状物体(12)用生産システム(32)を制御するための装置であって、
前記装置の測定領域を通して搬送方向に前記物体(12)を搬送するための搬送器と、
前記測定領域におけるギガヘルツまたはテラヘルツの周波数範囲での測定放射を前記物体(12)に照射するための送信器であって、前記測定放射は少なくとも部分的に前記物体(12)を透通する、送信器と、
前記物体(12)によって反射される前記測定放射を検出するための検出器と、
前記検出器によって検出される前記測定放射を使用して、前記物体(12)の屈折率(n)および/または前記物体(12)による前記測定放射の吸収を判断するように設計される評価器(24)と、を含み、
前記屈折率の判断および/または前記吸収の判断に基づいて前記生産システム(32)の少なくとも1つの生産パラメータを制御するように設計される制御器が設けられ、前記評価器(24)は、前記測定領域を通して前記物体(12)の搬送中に複数の時点で前記屈折率(n)および/または前記吸収を判断するように設計され、前記制御器は、前記少なくとも1つの生産パラメータを経時的な前記屈折率(n)および/または前記吸収の変化に基づいて制御するように設計され、および/または、前記送信器は前記物体(12)の種々の点に対して測定放射を放射するように設計され、前記評価器(24)は、前記物体(12)の前記種々の点で前記屈折率(n)および/または前記吸収を判断するように設計され、前記制御器は、前記屈折率(n)および/または前記吸収の空間的変化に基づいて前記少なくとも1つの生産パラメータを制御するように設計されることを特徴とする、装置。 - 前記評価器(24)は、前記物体が前記測定領域に配置される時に前記測定領域を通して前記送信器によって発せられる前記測定放射の伝搬時間と、前記物体が配置されていない前記測定領域を通る前記測定放射の伝搬時間との比較から、前記屈折率を判断するように設計されることを特徴とする、請求項12に記載の装置。
- 前記物体(12)は管状物体(12)であり、前記評価器(24)は、前記屈折率の判断に対して、前記送信器の方へ向いている第1の壁部、および前記送信器の向こう側に向いている第2の壁部を通して前記送信器によって発せられる前記測定放射の前記伝搬時間も考慮に入れられるように設計されることを特徴とする、請求項13に記載の装置。
- 前記評価器(24)は、前記測定領域を通して前記物体(12)の搬送中に複数の時点で判断される前記屈折率および/または前記吸収の値を使用してデータ傾向を生成するように設計され、前記生産システムは経時的な前記データ傾向の検出される変化に基づいて制御可能であることを特徴とする、請求項12から14のいずれか一項に記載の装置。
- 前記評価器(24)は、前記物体(12)の前記種々の点で判断される前記屈折率および/または前記吸収の前記値を使用して空間値分布を生成するように設計され、前記制御器は、前記値分布の検出される空間的変化に基づいて前記生産システムを制御するように設計されることを特徴とする、請求項12から15のいずれか一項に記載の装置。
- 前記物体(12)はプラスチック材料からなり、前記生産システム(32)は前記プラスチック材料を押し出すための押し出し装置を含み、前記制御器は、前記屈折率の判断および/または前記吸収の判断に基づいて前記押し出し装置の少なくとも1つの生産パラメータを制御するように設計されることを特徴とする、請求項12から16のいずれか一項に記載の装置。
- 少なくとも1つの生産パラメータは前記押し出し装置の出力容量であることを特徴とする、請求項17に記載の装置。
- 少なくとも1つの生産パラメータは、前記押し出し装置に送り込まれる少なくとも2つの押し出される材料の混合比であることを特徴とする、請求項17または18に記載の装置。
- 前記制御器は、前記屈折率の判断および/または前記吸収の判断に基づく閉制御ループで前記生産システム(32)の前記少なくとも1つの生産パラメータを調整するように設計される閉ループ制御器(28)を形成することを特徴とする、請求項12から19のいずれか一項に記載の装置。
- 請求項1から10のいずれか一項に記載の方法を実行するように設計されることを特徴とする、請求項12から20のいずれか一項に記載の装置。
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