CN112823269A - 用于控制用于板形或线形的物体的生产设备的方法和装置 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种用于控制用于板形或线形的物体的生产设备的方法，在所述方法中：沿输送方向输送所述物体通过测量区域；在测量区域中借助于千兆赫兹或太赫兹频率范围内的测量辐射照射所述物体，所述测量辐射至少部分地进入所述物体中；并且探测由所述物体反射的测量辐射并根据探测到的测量辐射确定所述物体的折射率和/或通过所述物体对测量辐射的吸收率，基于折射率确定和/或吸收确定来控制所述生产设备的至少一个生产参数，在输送所述物体通过测量区域期间在多个时刻确定折射率和/或吸收率并基于折射率和/或吸收率随时间的变化控制所述至少一个生产参数，和/或将测量辐射发射到所述物体的不同位置处，此时，在所述物体的所述不同位置处确定折射率和/或吸收率并基于折射率和/或吸收率随空间的变化控制所述至少一个生产参数。此外，本发明还涉及一种相应的装置。

Description

用于控制用于板形或线形的物体的生产设备的方法和装置
技术领域
本发明涉及一种用于控制用于板形或线形的物体的生产设备的方法，在所述方法中：沿输送方向输送所述物体通过测量区域；在测量区域中借助于千兆赫兹或太赫兹频率范围内的测量辐射照射所述物体，所述测量辐射至少部分地进入所述物体中；并且探测由所述物体反射的测量辐射并根据探测到的测量辐射确定所述物体的折射率和/或通过物体对测量辐射的吸收率。
本发明还涉及一种用于控制用于板形或线形的物体的生产设备的装置，所述装置包括：用于沿输送方向输送所述物体通过装置的测量区域的输送装置；用于在测量区域中用千兆赫兹或太赫兹频率范围内的测量辐射来照射所述物体的发射装置，所述测量辐射至少部分地进入所述物体中；用于探测由所述物体反射的测量辐射的探测装置；评估装置，所述评估装置构造成用于，根据通过探测装置探测到的测量辐射来确定物体的折射率和/或通过物体对测量辐射的吸收率。
背景技术
例如由DE 10 2016 103 298 A1中已知一种太赫兹测量装置和一种太赫兹测量方法，用于通过传播运行时间测量来获得测试对象的至少一个层厚。此外，由WO 2016/139155A1中还已知一种装置和一种方法，用于即使在折射率未知的情况下也能测量线状件的直径和/或壁厚。由此，即使在折射率未知或未可靠知晓折射率的情况下也可以精确地确定例如管的直径和壁厚。
由DE 20 2018 006 144 U1已知一种用于测量从挤出装置中出来的管形线状件的装置，其中，可以利用尤其是太赫兹的辐射确定管状股线的直径和/或壁厚和/或形状偏差。基于所确定的直径和/或壁厚和/或形状偏差的值，可以对挤出装置进行控制和/或调节。为了确定所述直径或壁厚或形状偏差，也可以确定线状件材料的折射率。
此外，由DE 10 2015 110 600 B3已知一种方法和装置，用于通过用太赫兹辐射照射供应给挤出机的供应材料和测量所述供应材料的至少一个供应速率或供应量来确定在挤出过程中产生的挤出产品的层特性。DE 10 2015 110 600 B3处理的问题是，对挤出产品的发泡的层，与材料密度相关的折射率是未知的。相反，对于未发泡的层，根据DE10 2015110 600 B3假设，折射率是已知的。为了获得发泡的层的折射率，DE 10 2015 110 600 B3提出，除了利用太赫兹辐射测量挤出产品以外，还使用关于供应给挤出过程的材料量的数据或测量信号。根据DE 10 2015 110 600 B3以重量测定或体积测定的方式获得所述材料量。发泡层这样所确定的折射率应给出关于发泡层的发泡程度的结论。基于所确定的折射率可以对挤出机进料速率进行调节，以实现希望的发泡程度。根据DE 10 2015 110 600B3，借助于称重装置来测量作为颗粒供应给挤出机的材料的重量。但此时，只有当颗粒的比重已知且恒定时，才能确定体积。在实际上通常这两个条件都不存在。另外，根据DE 102015 110 600 B3，测量对挤出机材料输入量并且以此为基础对挤出产品由太赫兹辐射照射的部段的折射率做出预测。但由挤出机的输入得到关于通过挤出机制造的挤出产品的确定部段的折射率的结论的前提条件是，在挤出中，挤出机的旋转速度和提取速度不变，并且由于温度变化导致的收缩度也不变。在实践中不能可靠地存在这些前提条件，因此这种已知方法存在相应的不精确性。
根据DE 10 2015 110 600 B3，可以确定泡沫层的折射率并可以将所述折射率用于控制供料速率以获得希望的发泡程度，而对于未发泡的层，DE 10 2015 110 600 B3假设了一个已知的折射率。但在实践中，由于不同的原因，未发泡的层的折射率也是变化的。根据DE 10 2015 110 600 B3没有识别这种变化。此外，由于根据DE 10 2015 110 600 B3是用体积测定或重量测定的方式根据供应给挤出机以进行挤出的材料间接地得到折射率，如所解释的那样，难以得到与由所述材料挤出的物体的确定部段的对应关系。相应地，根据DE10 2015 110 600 B3设定的对挤出设备的控制或调节也是不精确的。
此外还存在这样的需求，即，获得更多关于生产过程的信息，以实现对生产设备的更有针对性的和更准确的控制。
发明内容
由所说明的现有技术出发，本发明的目的是，改善对用于板形或线形的物体的生产设备的控制。
本发明通过独立的权利要求1和12的特征来实现所述目的。有利的实施形式在从属权利要求、说明书和附图中给出。
对于前面所述类型的方法，这样来实现本发明的目的，即，通过基于折射率确定和/或吸收率确定来控制所述生产设备的至少一个生产参数，此时，在输送所述物体通过测量区域期间在多个时刻确定折射率和/或吸收率并且基于折射率和/或吸收率随时间的变化来控制所述至少一个生产参数，和/或将测量辐射发射到所述物体的不同位置处，此时，在所述物体的所述不同位置处确定折射率和/或吸收率并基于折射率和/或吸收率随空间的变化来控制所述至少一个生产参数。
对于前面所述类型的装置，本发明这样来实现所述目的，即，设有控制装置，所述控制装置构造成用于，基于折射率确定和/或吸收率确定来控制生成系统的至少一个生产参数，其中：所述评估装置构造成用于，在输送所述物体通过测量区域期间在多个时刻确定折射率和/或吸收率，所述控制装置构造成用于，基于折射率和/或吸收率随时间的变化来控制所述至少一个生产参数；和/或所述发射装置构造成用于，将测量辐射发射到所述物体的不同位置处，此时，所述评估装置构造成用于，在所述物体的所述不同位置处确定折射率和/或吸收率，并且所述控制装置构造成用于，基于折射率和/或吸收率随空间的变化来控制所述至少一个生产参数。
在所述生产设备中制造的线形或板形的物体例如可以是由塑料或玻璃制成的物体。所述物体特别可以是非发泡的物体，就是说，这种物体没有发泡的部分，例如发泡层。线形的物体例如可以是管状的物体，例如塑料或玻璃管。板形的物体情况例如可以是塑料或玻璃板。在所述生产设备中制造的物体可以在根据本发明的测量时刻就已经(基本上)完整地具有其最终成形。但也可能的是，在测量时刻成形尚未完成。所述物体在测量时刻还可能具有例如超过2000℃的很高的温度，尤其是当所述物体是玻璃体时。尤其是沿纵向方向输送所述物体通过测量区域，并在这里用千兆赫兹或太赫兹辐射照射所述物体。特别是在这里所涉及类型的生产设备中存在着困难的测量条件。还在所述物体的最终成形期间或恰好在完成所述物体的成形时，尤其是对于早期的测量就存在这种情况。为了能够在提早对生产设备可能的不允许的偏差做出反应并为了避免不必要的次品，这在原则上是希望的。但在所述测量区域内存在来自生产过程的污物带来的高风险。此外，为了冷却所述物体或生产设备的组件，通常向所述物体或生产设备的组件上施加冷却液，如冷却水液。这会导致飞溅水和产生蒸汽。例如利用激光进行的光学测量方法在这种测量环境中原则上是有问题的。通过根据本发明使用千兆赫兹或太赫兹辐射可以避免这些问题，因为这种测量辐射对于所述类型的恶劣测量环境原则上基本上是不敏感的。
由发射装置发出所述测量辐射并将其引导到要测量的物体上。这里，所述测量辐射至少部分地、优选完整地进入所述物体。所述测量辐射尤其是可以完全地透射所述物体。所述测量辐射在所述物体的边界面上发生反射，并且由接收装置接收反射的测量辐射。所述发射装置和接收装置可以以特别实用的方式组合成收发器。当然，也可以设有多个发射装置和多个接收装置，这些发射装置和接收装置例如从不同的方向照射所述物体并接收反射的测量辐射。如果设有多个发射装置和接收装置，则这些发射装置和接收装置可以以特别实用的方式分别成对地组合成收发器。
基于对反射的测量辐射的探测，可以确定所述物体的材料的折射率和通过所述物体对测量辐射的吸收率。DE 10 2015 110 600 B3对于非发泡的层假定折射率是已知的，而本发明则考虑到，尤其是非发泡的材料的折射率在实践中也可能出于不同的原因发生改变。这样，出于不同原因会给用于挤出产品的挤出材料、如塑料管加入添加剂，例如以便降低作为防晒保护或类似物的材料的传导性。挤出设备的使用者为此有时使用预混合的材料混合物，在所述材料混合物中已经由制造商添加了添加剂。但使用者有时也自己制造材料混合物，其方式是，使用者自行向基础材料添加添加剂。特别是在后面的情况下，所添加的添加剂量会发生不希望的变化。如果所添加到挤出材料中的添加剂的比例发生改变，则可以根据本发明根据折射率确定而快速且可靠地识别并通过对生产设备相应的控制干预而消除这种情况。
这里，根据本发明尤其是直接根据由所述物体反射的测量辐射进行折射率确定或吸收率的确定。为了确定折射率或吸收率，根据本发明尤其不必例如对在挤出装置中挤出的材料进行重量测定或体积测定式的测量，如也在DE 10 2015 110 600 B3中仍设定的那样。因此，根据本发明，可以可靠地建立所确定的折射率与所述物体的一个确定部段的对应关系，并且由此可以更准确地进行控制。
根据本发明基于折射率确定和/或吸收率确定来控制生产设备的至少一个生产参数。本发明以这样出人意料的认知为基础，即所测量的物体的折射率和/或吸收度、尤其是这些值的随时间或随空间的变化提供了有关生产过程的信息，以这些信息为基础可以控制生产过程。在实践中，本来就经常利用千兆赫兹或太赫兹辐射进行照射，以确定物体的几何参数，如例如表面轮廓、直径、厚度或壁厚。相应地，根据本发明(通过评估装置)，也可以确定物体的至少一个几何参数，例如其表面轮廓、其直径、其厚度或其壁厚。如上所述，这里也可以为了精确地确定几何参数仍确定折射率。根据本发明，现在继续利用千兆赫兹或太赫兹辐射以及必要时还有折射率和/或吸收率确定，以便得出有关生产过程的结论并相应地控制生产过程，这种控制尤其是可以自动地进行。以这种方式，根据本发明可以以简单和可靠的方式改善生产过程。
本发明尤其是基于这样的认知，即折射率和/或吸收率的随时间或随空间的变化对于控制或调节所述生产设备是重要的参数。为此，根据本发明，作用在多个时刻和/或尤其是在所述物体的周边上分布地对于物体的多个位置确定折射率和/或吸收率。根据本发明，由折射率和/或吸收率已确定的在时间或空间上分布的数据的变化推断出生产过程发生了不希望的变化。以此为基础控制所述生产设备。
在输送所述物体通过测量区域期间，可以例如以规则的时间间隔实现确定折射率或吸收率。以这种方式，可以识别到所述数据的趋势。由此可以导出对生产设备必要的控制干预。例如，折射率或吸收率随时间下降或上升的值表明生产过程发生了不希望的变化。
对于线形的物体，尤其是可以将测量辐射发射到所述物体上的在物体的周边上分布的不同位置处。在前面所述的实施方案中，可以在设有多个发射装置和接收装置，例如多个收发器，这些发射装置和接收装置设置成，所述发射装置和接收装置将测量辐射引导到所述物体的不同位置处并接收分别反射的测量辐射。例如，多个发射装置和接收装置、例如多个收发器可以在线形的物体的周边上分布地设置。但是也可以设想的是，至少一个发射装置和至少一个接收装置、例如至少一个收发器在空间上可变地设置，例如能围绕所述线形的物体转动。通过上面所述的实施方案可以识别折射率或吸收率的空间分布。由此又可以导出对所述生产设备必要的控制干预。例如，折射率或吸收率的值随位置的系统性变化表明生产过程存在故障。例如，当所挤出的塑料材料发生不希望的流动时，由此例如线形物体的下侧是的折射率或吸收率可能与其上侧上是不同的。可以识别到这种情况，并且控制生产过程时对此加以考虑。
例如可以由发射装置发出的测量辐射强度与例如在所述物体背向发射和接收装置的背侧的边界面上反射后接收到的测量辐射的强度的比较来确定吸收率。折射率确定例如可以如在WO 2016/139155 A1中解释的那样进行。这里，例如可以将在所述物体设置在测量区域内时由发射装置发出的测量辐射通过测量区域的传播时间与在测量区域内没有设置物体时测量辐射通过测量区域的传播时间相比较。然后，由传播时间变化可以用数学的方式确定材料的折射率，如下面还将详细说明的那样。为此，发射装置和接收装置例如可以设置在测量区域的相对置的侧面上。但也可以例如在测量区域的一个侧面设置一个发射装置和一个接收装置，而在测量区域的相对置的侧面上设置反射器。
如上所述，可以由在所述物体设置在测量区域内时由发射装置发出的测量辐射通过测量区域的传播时间与在测量区域内没有设置物体时测量辐射通过测量区域的传播时间的比较实现折射率的确定。尤其是当所述物体是管形的物体时，对于折射率的确定还可以考虑，由发射装置发出的测量辐射穿过朝向发射装置的第一壁部段的传播时间和穿过背向发射装置的第二壁部段的传播时间。
如在WO 2016/139155A1中所解释的那样，例如对于管状的物体，可以根据以下公式确定所述物体的朝向所述至少一个发射装置的壁部段的壁厚Wd1或物体的背向所述至少一个发射装置的壁部段的壁厚Wd2：
Figure BDA0003000441500000071
Figure BDA0003000441500000072
其中：
ΔTwd1：在所述物体的朝向所述至少一个发射装置的壁部段的朝向所述至少一个发射装置的外部边界面上和背向至少一个发射装置的内部边界面上反射的测量辐射之间的传播时间差，
ΔTwd2：在所述物体的背向所述至少一个发射装置的壁部段的朝向所述至少一个发射装置的内部边界面上和背向所述至少一个发射装置的外部边界面上反射的测量辐射之间的传播时间差，
ΔTR：由所述至少一个发射装置发出的并且在透射所述物体之后由所述至少一个接收装置接收的测量辐射由被引导通过所述装置的物体的材料引起的传播时间变化，
c：测量辐射在空气中的传播速度
例如，对于Wd1，上述等式可以变换成：
Figure BDA0003000441500000081
此外还有：
Figure BDA0003000441500000082
其中：
cK：测量辐射在所述物体中的传播速度
由此进一步还有：
Figure BDA0003000441500000083
因此对于管状物体的折射率n有：
Figure BDA0003000441500000084
由此，在考虑由所述物体造成的传播时间变化以及测量辐射通过第一和第二壁部段的传播时间的情况下，可以计算确定物体的折射率。对此不需要体积测定或重量测定方式的测量。
根据另一个实施方案，可以根据在输送所述物体通过测量区域期间在多个时刻确定的折射率和/或吸收率的值建立数据趋势。然后可以基于所述数据趋势的识别到的随时间的变化、例如所述数据趋势在确定的时间段上的下降或上升来控制所述生产设备。为此，例如可以按时间对所述数据趋势求导。如果由所述求导计算出的值超过或低于预先规定的期望值，则可以对生产设备进行控制干预。
根据另一个实施方案，可以根据在所述物体的不同位置处确定的折射率和/或吸收率的值建立空间的值分布。然后可以基于所述值分布的识别到的随空间的变化来控制所述生产设备。如已经说明的那样，特别是可以在多个位置处在例如管状物体的周边上分布地确定折射率和/或吸收率。这样可以确定折射率和/或吸收率的所获得的值在管状的物体的周边上的空间分布。如果此时发生尤其是系统性的变化，例如与上侧相比在物体下侧上折射率和/或吸收率的值明显更高，则可以得出材料存在不希望的向下流动的结论，即存在所谓的松垂(Sagging)。此时可以通过对生产过程相应的控制干预来消除这种情况。另一方面，例如，可以对值分布进行空间的求导。如果求导计算出的值超过或低于预先规定的期望值，则可以对生产设备进行控制干预。
根据另一个实施方案，所述物体可以由塑料材料制成，所述生产设备包括用于挤出所述塑料材料的挤出装置，基于折射率和/或吸收率来控制所述挤出装置的至少一个生产参数。根据另一个与此相关的实施方案，作为生产参数可以控制所述挤出装置的产出能力。备选或附加地，也可以作为生产参数控制所供应给挤出装置的要挤出的至少两种材料的混合比。在挤出装置中可以将两种材料混合成要挤出的混合物。这通常是指加入主塑料材料中的掺入物。例如可以将石墨或玻璃纤维混合到载体塑料、例如聚丙烯(PP)或聚乙烯(PE)中。这种掺入物通常仅以例如小于按重量1％的较小比例存在。由此难以调整混合比，并且通常不能可靠地发现错误混合比。例如从不同的制造商购得的成品混合物在混合比方面也可能有明显的变化。根据具体材料，这种掺入物例如对于折射率有显著的影响。这尤其是适用于折射率明显不同于载体材料的折射率的材料。例如，在载体塑料、如PP或PE中掺入石墨或玻璃纤维掺入物时就是这种情况。前面所述的实施方案就利用了这一点。这样，已经出人意料地确认，基于根据本发明的对折射率或吸收率的确定，即使在掺入物比例较小时，也可以可靠地识别到，混合比相对于预先规定的混合比存在不允许的偏差，并且可以相应地介入干预挤出装置中的混合过程。
如已经说明的那样，尤其是在挤出设备中所添加到基础材料中的添加剂对材料的折射率或吸收率有时有很大的影响。根据另一个实施方案，相应地可以根据所确定的折射率和/或吸收率的值来确定所添加到用于生产所述物体的材料中的添加剂的比例，并且可以基于添加剂所确定的比例来控制所述生产设备。以这种方式可以确保，在基础材料和添加剂之间始终保持希望的混合比。
根据另一个实施方案，可以基于折射率确定和/或吸收率确定在闭合的控制回路中调节所述生产设备的所述至少一个生产参数。这就是所谓的闭环控制。就是说，所述控制装置形成调节装置。特别是可以进行全自动调节，在这种调节中不需要进行手动干预。所述调节装置可以例如获得所确定的折射率和/或吸收率的值作为控制变量。将所述控制变量与折射率和/或吸收率的作为参考变量的期望值进行比较。如果所述比较表明存在调节偏差，则调节装置可以操控生产参数、例如挤出装置的混合比，直到调节偏差再次处于在允许的范围内。在这种情况下所提及的所有用于控制所述生产设备的实施方案也相应地可以用于调节所述生产设备。
根据本发明方法可以利用根据本发明的装置来实施。相应地，根据本发明的装置可以构造成用于实施根据本发明的方法。
本发明还涉及一种用于板形或线形的物体的生产设备，所述生产设备包括根据本发明的用于控制所述生产设备的装置并且包括输送装置，用于沿输送方向输送所述物体通过根据本发明的装置的测量区域。这里，根据本发明的装置或根据本发明的生产设备也可以包括板形或线形的物体。
附图说明
下面参考附图来详细说明本发明的一个实施例。
其中示意性地：
图1示出一个图线，其中关于时间绘制出管状的物体利用根据本发明的装置或根据本发明的方法确定的折射率，
图2示出一个图线，其中关于绕管状的物体的旋转角度绘制出利用根据本发明的装置或根据本发明的方法确定的折射率，
图3示出根据本发明的装置，其中带有用横向剖视图所示的管状的物体。
具体实施方式
只要没有另有说明，附图中相同的标记表示相同的对象。
在图1的图线中对于在生产设备中用根据本发明的装置或根据本发明的方法测量的物体、例如管状的物体示出根据本发明确定的折射率的时间曲线。在该图线中，关于时间t绘制出折射率n。在所示的示例中，折射率n随着时间降低。
在图2中对于利用根据本发明的装置或根据本发明的方法在生产设备中测量的尤其是管形的物体再次示出折射率的所确定的空间曲线。尤其是对于图2的图线，已经在管状的物体的周边上分布地确定不同位置处的折射率。为此，例如组合成收发器的发射和接收装置在所述管状的物体的周边上转动，这里分别向管状的物体上发出测量辐射并且由接收装置测量由所述物体反射的测量辐射。在图2的图线中，关于发射和接收装置的旋转角ω示出折射率n。这里可以看出，折射率首先在0°至180°之间的角度范围内经过一个最小值，然后重新接近其原始值。
在图3中示例性示出根据本发明的装置，利用所述装置可以确定根据按照图1和2的图线的数值。在所示出的示例中，所述装置包括收发器10，所述收发器包括用于千兆赫或太赫兹辐射的发射装置和接收装置。所述收发器10将千兆赫兹或太赫兹频率范围内的测量辐射发射到沿其纵向方向被输送通过所述装置的测量区域的管状的物体12上，如通过图3中的箭头14示出的那样。所述测量辐射穿透所述管状的物体12并在管状的物体12的不同的边界面上反射，如通过箭头14、16、18和20示出的那样。如通过图3中的箭头22示出的那样，一定的辐射分量再次从管状的物体12中射出。在所示的示例中，这个辐射分量由反射器34反射，从而这个辐射分量返回到收发器10。在各边界面上反射的测量辐射同样再次被收发器10接收。将收发器10的测量数据传输给评估装置24，如在图3中通过虚线箭头26示出的那样。所述评估装置24可以例如按上面说明的方式确定管状的物体12的材料的折射率。这种折射率确定可以在输送管状的物体12通过所述装置的测量区域期间例如在预先规定的时间段上以规则的间距重复地进行，由此可以得到如图1中所示的图线。也可以设想的是，例如使收发器10(和反射器34)绕管状的物体12转动，在转动期间在管状的物体12的周边上分布地将测量辐射发射到不同位置上并分别接收反射的测量辐射，并且由此得到折射率的空间分布，如在图2的图线中示出的空间分布。这里，特别是当以上述方式进行折射率的确定时，测量值以180°的角度周期重复。
在所示出的示例中，可以将由评估装置24获得的折射率的值传输给调节装置28，如在图3中由虚线箭头30示出的那样。调节装置28可以调节在图3中在附图标记32出极为示意性地示出的生产设备的至少一个生产参数，如在图3中通过虚线箭头34示出的那样。所述至少一个生产参数例如可以是供应给生产设备的挤出装置的两种材料的混合比。
附图标记列表
n 折射率
t 时间
ω 旋转角
10 收发器
12 管状的物体
14 箭头
16 箭头
18 箭头
20 箭头
22 箭头
24 评估装置
26 虚线箭头
28 调节装置
30 虚线箭头
32 生产设备
34 虚线箭头
36 反射器

Claims (21)

1.用于控制用于板形或线形的物体(12)的生产设备(32)的方法，在所述方法中：沿输送方向输送所述物体(12)通过测量区域；在所述测量区域中借助于千兆赫兹或太赫兹频率范围内的测量辐射照射所述物体(12)，所述测量辐射至少部分地进入所述物体(12)中；并且探测由所述物体(12)反射的测量辐射并根据探测到的测量辐射确定所述物体(12)的折射率(n)和/或通过所述物体(12)对测量辐射的吸收率，其特征在于，基于所述折射率确定和/或所述吸收率确定来控制所述生产设备(32)的至少一个生产参数，在输送所述物体(12)通过测量区域期间在多个时刻确定所述折射率(n)和/或吸收率并且基于所述折射率(n)和/或吸收率的随时间的变化来控制所述至少一个生产参数，和/或将测量辐射发射到所述物体(12)的不同位置处，在物体(12)的所述不同位置处确定折射率(n)和/或吸收率并基于所述折射率(n)和/或吸收率随空间的变化来控制所述至少一个生产参数。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，由在所述物体设置在测量区域时由发射装置发出的测量辐射通过测量区域的传播时间与在测量区域没有设置物体时测量辐射通过测量区域的传播时间的比较来确定所述折射率。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述物体(12)是管状的物体(12)，并且为了确定折射率，此外还考虑由发射装置发出的测量辐射穿过朝向发射装置的第一壁部段的传播时间和穿过背向发射装置的第二壁部段的传播时间。
4.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，根据在输送所述物体(12)通过测量区域期间在多个时刻确定的折射率和/或吸收率的值来建立数据趋势，并且基于识别到的所述数据趋势随时间的变化来控制所述生产设备。
5.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，根据在所述物体(12)的不同位置处确定的折射率和/或吸收率的值来建立空间的值分布，并且基于识别到的所述值分布随空间的变化来控制所述生产设备。
6.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，所述物体(12)由塑料材料组成，所述生产设备(32)包括用于挤出塑料材料的挤出装置，并且基于所述折射率确定和/或吸收率确定来控制挤出装置的至少一个生产参数。
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，作为生产参数控制所述挤出装置的产出能力。
8.根据权利要求6或7中任一项所述的方法，其特征在于，作为生产参数控制所供应给所述挤出装置的要挤出的至少两种材料的混合比。
9.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，根据折射率和/或吸收率的所确定的值来确定添加到用于生产所述物体(12)的材料中的添加剂的比例，并且基于所确定的添加剂比例来控制所述生产设备。
10.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，基于所述折射率确定和/或吸收率确定在闭合的控制回路中调节所述生产设备(32)的所述至少一个生产参数。
11.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，通过根据权利要求12至20中任一项所述的装置来实施所述方法。
12.用于控制用于板形或线形的物体(12)的生产设备(32)的装置，所述装置包括：用于沿输送方向输送所述物体(12)通过该装置的测量区域的输送装置；用于用千兆赫兹或太赫兹频率范围内的测量辐射来照射测量区域中的物体(12)的发射装置，所述测量辐射至少部分地进入所述物体(12)中；用于探测由所述物体(12)反射的测量辐射的探测装置；评估装置(24)，所述评估装置构造成用于，根据通过所述探测装置探测到的测量辐射来确定所述物体(12)的折射率(n)和/或通过所述物体(12)对测量辐射的吸收率，其特征在于，设有控制装置，所述控制装置构造成，基于所述折射率确定和/或吸收率确定来控制所述生产设备(32)的至少一个生产参数，所述评估装置(24)构造成用于，在输送所述物体(12)通过测量区域期间在多个时刻确定折射率(n)和/或吸收率，此时，所述控制装置构造成用于，基于折射率(n)和/或吸收率的随时间的变化来控制所述至少一个生产参数，和/或所述发射装置构造成用于，将测量辐射发射到物体(12)的不同位置处，此时，所述评估装置(24)构造成用于，确定所述物体(12)的所述不同位置处的折射率(n)和/或吸收率，并且控制装置构造成用于，基于折射率(n)和/或吸收率的随空间的变化来控制所述至少一个生产参数。
13.根据权利要求12所述的装置，其特征在于，所述评估装置(24)构造成用于，由在所述物体设置在测量区域时由发射装置发出的测量辐射通过测量区域的传播时间与在测量区域没有设置物体时测量辐射通过测量区域的传播时间的比较来确定所述折射率。
14.根据权利要求13所述的装置，其特征在于，所述物体(12)是管状的物体(12)，所述评估装置(24)构造成，为了确定折射率，此外还考虑由发射装置发出的测量辐射穿过朝向发射装置的第一壁部段的传播时间和穿过背向发射装置的第二壁部段的传播时间。
15.根据权利要求12至14中任一项所述的装置，其特征在于，所述评估装置(24)构造成用于，根据在输送所述物体(12)通过测量区域期间在多个时刻确定的折射率和/或吸收率的值来建立数据趋势，并且所述控制装置构造成用于，基于识别到的所述数据趋势随时间的变化来控制所述生产设备。
16.根据权利要求12至15中任一项所述的装置，其特征在于，所述评估装置(24)构造成用于，根据在所述物体(12)的不同位置处确定的折射率和/或吸收率的值来建立空间的值分布，并且所述控制装置构造成用于，基于识别到的所述值分布随空间的变化来控制所述生产设备。
17.根据权利要求12至16中任一项所述的装置，其特征在于，所述物体(12)由塑料材料制成，所述生产设备(32)包括用于挤出所述塑料材料的挤出装置，并且所述控制装置构造成用于，基于所述折射率确定和/或吸收率确定来控制所述挤出装置的至少一个生产参数。
18.根据权利要求17所述的装置，其特征在于，至少一个生产参数是所述挤出装置的产出能力。
19.根据权利要求17或18中任一项所述的装置，其特征在于，至少一个生产参数是供应给挤出装置的要挤出的至少两种材料的混合比。
20.根据权利要求12至19中任一项所述的装置，其特征在于，所述控制装置形成调节装置(28)，所述调节装置构造成用于，基于所述折射率确定和/或吸收率确定在闭合的控制回路中调节所述生产设备(32)的所述至少一个生产参数。
21.根据权利要求12至20中任一项所述的装置，其特征在于，所述装置构造成设计用于执行权利要求1至10中任一项所述的方法。
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