JP2022106378A - 温度測定回路及び温度測定装置 - Google Patents
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Abstract
Description
感温素子を用いて温度を測定する温度測定回路であって、
前記感温素子に制御電圧を印加する電圧制御回路と、
前記感温素子に流れる電流に基づいて前記制御電圧の値を切り替える第1切り替え回路と、
前記感温素子に流れる電流を、所定の変換利得で、測定温度に応じた電圧値に変換する変換回路と、
前記電圧値に基づいて前記変換利得の値を切り替える第2切り替え回路と、を備える、温度測定回路が提供される。
感温素子を用いて温度を測定する温度測定回路であって、
前記感温素子を駆動するトランジスタの出力電圧を基準電圧と比較する差動回路の出力に応じて前記トランジスタのゲートを制御することで、前記感温素子に制御電圧を印加する電圧制御回路と、
前記トランジスタの出力電流を、測定温度に応じた電圧値に変換する変換回路と、備え、
前記トランジスタの出力電圧は、前記トランジスタの出力電流を前記感温素子の抵抗値により変換された電圧である、温度測定回路が提供される。
RNTC=VTH/ITH
=(Vref×α)/ITH
=(Vref×α)×(β/Iref)
=(Vref×α)×(β×Rref/VADC)
=Rref×Vref×n/VADC
という演算式が成立する。ただし、係数nは、α×βである。また、この例では、αは、1又はaであり、βは、1又はbである。
1/T=1/B×ln(R/R0)+1/T0 ・・・式1b
T:周囲温度(K)
T0:基準温度(K)
R:周囲温度Tでの感温素子60の抵抗値(=RNTC)
R0:基準温度T0での感温素子60の抵抗値
B:定数
なお、式1bは、式1aを変形した式であり、T0,R0,Bは、感温素子60のパラメータである。
20 電圧制御回路
21 トランジスタ
22 基準電圧回路
23 差動回路
29 定電圧源
30 第1切り替え回路
31 スイッチ
32 トランジスタ
33 電流検出回路
34 シュミットトリガインバータ
35 第1定電流源
36 第2定電流源
37 スイッチ
40 変換回路
41,42 トランジスタ
43 抵抗体
44 AD変換器
50 第2切り替え回路
51 閾値生成回路
52 スイッチ
53 比較器
54 スイッチ
60 感温素子
71 第1カレントミラー回路
72 第2カレントミラー回路
101 温度測定回路
201 電源
301 温度測定装置
感温素子を用いて温度を測定する温度測定回路であって、
前記感温素子に制御電圧を印加する電圧制御回路と、
前記感温素子に流れる電流に基づいて前記制御電圧の値を切り替える第1切り替え回路と、を備え、
前記電圧制御回路は、前記感温素子を駆動するトランジスタを有し、前記制御電圧を基準電圧と比較して前記トランジスタのゲートを制御することで、前記感温素子に前記制御電圧を印加し、
前記第1切り替え回路は、前記基準電圧の値を前記トランジスタに流れる電流に基づいて切り替えることで、前記制御電圧の値を切り替える、温度測定回路が提供される。
感温素子を用いて温度を測定する温度測定回路であって、
前記感温素子を駆動するトランジスタの出力電圧を基準電圧と比較する差動回路の出力に応じて前記トランジスタのゲートを制御することで、前記感温素子に制御電圧を印加する電圧制御回路と、を備え、
前記トランジスタの出力電流に基づいて、前記基準電圧の値を切り替える、温度測定回路が提供される。
Claims (22)
- 感温素子を用いて温度を測定する温度測定回路であって、
前記感温素子に制御電圧を印加する電圧制御回路と、
前記感温素子に流れる電流に基づいて前記制御電圧の値を切り替える第1切り替え回路と、
前記感温素子に流れる電流を、所定の変換利得で、測定温度に応じた電圧値に変換する変換回路と、
前記電圧値に基づいて前記変換利得の値を切り替える第2切り替え回路と、を備える、温度測定回路。 - 前記電圧制御回路は、前記感温素子を駆動するトランジスタによって、前記感温素子に前記制御電圧を印加する、請求項1に記載の温度測定回路。
- 前記電圧制御回路は、前記制御電圧を基準電圧と比較して前記トランジスタのゲートを制御することで、前記感温素子に前記制御電圧を印加する、請求項2に記載の温度測定回路。
- 前記電圧制御回路は、前記制御電圧を前記基準電圧と比較する差動回路の出力に応じて前記ゲートを制御することで、前記感温素子に前記制御電圧を印加する、請求項3に記載の温度測定回路。
- 前記第1切り替え回路は、前記基準電圧の値を前記トランジスタに流れる電流に基づいて切り替えることで、前記制御電圧の値を切り替える、請求項3又は4に記載の温度測定回路。
- 前記第1切り替え回路は、前記トランジスタに流れる電流の値が第1電流閾値を超えると、前記制御電圧の値を第1電圧値に低下させる値に前記基準電圧の値を切り替え、前記トランジスタに流れる電流の値が前記第1電流閾値よりも低い第2電流閾値を下回ると、前記制御電圧の値を前記第1電圧値よりも高い第2電圧値に上昇させる値に前記基準電圧の値を切り替える、請求項5に記載の温度測定回路。
- 前記第1切り替え回路は、前記トランジスタに流れる電流に応じて第1カレントミラー回路から出力される第1ミラー電流に応じて、前記基準電圧の値を切り替える、請求項5又は6に記載の温度測定回路。
- 前記第1切り替え回路は、前記トランジスタに流れる電流に基づいて、前記制御電圧の値を切り替える、請求項2に記載の温度測定回路。
- 前記第1切り替え回路は、前記トランジスタに流れる電流の値が第1電流閾値を超えると、前記制御電圧の値を第1電圧値に切り替え、前記トランジスタに流れる電流の値が前記第1電流閾値よりも低い第2電流閾値を下回ると、前記制御電圧の値を前記第1電圧値よりも高い第2電圧値に切り替える、請求項8に記載の温度測定回路。
- 前記第1切り替え回路は、前記トランジスタに流れる電流に応じて第1カレントミラー回路から出力される第1ミラー電流に応じて、前記制御電圧の値を切り替える、請求項8又は9に記載の温度測定回路。
- 前記変換回路は、前記トランジスタに流れる電流を第2カレントミラー回路により変換することで前記電圧値を生成する、請求項2から10のいずれか一項に記載の温度測定回路。
- 前記変換回路は、前記トランジスタに流れる電流を前記第2カレントミラー回路により第2ミラー電流に変換し、前記第2ミラー電流を抵抗体に流すことで前記電圧値を生成する、請求項11に記載の温度測定回路。
- 前記変換回路は、前記第2ミラー電流を前記抵抗体に流すことで生成されたアナログの前記電圧値をデジタル値に変換するAD変換器を有する、請求項12に記載の温度測定回路。
- 前記第2切り替え回路は、前記電圧値が所定の範囲内で変換されるように、前記電圧値に基づいて前記変換利得の値を切り替える、請求項1から13のいずれか一項に記載の温度測定回路。
- 前記第2切り替え回路は、前記電圧値が第1閾値を超えると、前記変換利得の値を第1変換利得値に切り替え、前記電圧値が前記第1閾値よりも低い第2閾値を下回ると、前記変換利得の値を前記第1変換利得値よりも高い第2変換利得値に切り替える、請求項1から14のいずれか一項に記載の温度測定回路。
- 前記制御電圧の値に基づいて変化する第1情報を温度測定回路外部に出力する第1出力端子と、
前記変換利得の値に基づいて変化する第2情報を温度測定回路外部に出力する第2出力端子と、を備える、請求項1から15のいずれか一項に記載の温度測定回路。 - 感温素子を用いて温度を測定する温度測定回路であって、
前記感温素子を駆動するトランジスタの出力電圧を基準電圧と比較する差動回路の出力に応じて前記トランジスタのゲートを制御することで、前記感温素子に制御電圧を印加する電圧制御回路と、
前記トランジスタの出力電流を、測定温度に応じた電圧値に変換する変換回路と、備え、
前記トランジスタの出力電圧は、前記トランジスタの出力電流を前記感温素子の抵抗値により変換された電圧である、温度測定回路。 - 前記トランジスタの出力電流に基づいて、前記基準電圧の値を切り替える、請求項17に記載の温度測定回路。
- 前記トランジスタの出力端は、前記感温素子の一方の端部に接続される、請求項2から13,17,18のいずれか一項に記載の温度測定回路。
- 前記トランジスタは、Pチャネル型のMOSFETである、請求項19に記載の温度測定回路。
- 前記感温素子は、NTCサーミスタである、請求項1から20のいずれか一項に記載の温度測定回路。
- 請求項1から21のいずれか一項に記載の温度測定回路と、前記感温素子と、を備える、温度測定装置。
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Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6093933U (ja) * | 1983-12-01 | 1985-06-26 | テルモ株式会社 | 温度測定装置 |
JPS6166971A (ja) * | 1984-09-06 | 1986-04-05 | メトラー トレド アーゲー | デジタル抵抗測定装置とその測定方法 |
JPS6224333U (ja) * | 1985-07-26 | 1987-02-14 | ||
JPH0279467U (ja) * | 1988-12-06 | 1990-06-19 | ||
JPH0360041U (ja) * | 1989-10-17 | 1991-06-13 | ||
JP2007093592A (ja) * | 2005-08-31 | 2007-04-12 | Ngk Spark Plug Co Ltd | 温度センサ制御装置 |
JP2011524006A (ja) * | 2008-05-28 | 2011-08-25 | センサータ テクノロジーズ インコーポレーテッド | 非線形センサを線形化するための装置 |
JP2015145823A (ja) * | 2014-02-03 | 2015-08-13 | 株式会社リコー | 温度検出装置 |
JP2016142717A (ja) * | 2015-02-05 | 2016-08-08 | 株式会社デンソー | 温度補正回路および感温素子の検出温度補正方法 |
JP2018077134A (ja) * | 2016-11-09 | 2018-05-17 | 株式会社デンソー | サーミスタ駆動回路 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4845512B2 (ja) | 2006-01-04 | 2011-12-28 | パナソニック株式会社 | 温度検出装置 |
EP2644050B1 (fr) | 2012-03-27 | 2016-05-25 | Rolex S.A. | Fermoir dépliant pour bracelet |
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-
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Patent Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6093933U (ja) * | 1983-12-01 | 1985-06-26 | テルモ株式会社 | 温度測定装置 |
JPS6166971A (ja) * | 1984-09-06 | 1986-04-05 | メトラー トレド アーゲー | デジタル抵抗測定装置とその測定方法 |
JPS6224333U (ja) * | 1985-07-26 | 1987-02-14 | ||
JPH0279467U (ja) * | 1988-12-06 | 1990-06-19 | ||
JPH0360041U (ja) * | 1989-10-17 | 1991-06-13 | ||
JP2007093592A (ja) * | 2005-08-31 | 2007-04-12 | Ngk Spark Plug Co Ltd | 温度センサ制御装置 |
JP2011524006A (ja) * | 2008-05-28 | 2011-08-25 | センサータ テクノロジーズ インコーポレーテッド | 非線形センサを線形化するための装置 |
JP2015145823A (ja) * | 2014-02-03 | 2015-08-13 | 株式会社リコー | 温度検出装置 |
JP2016142717A (ja) * | 2015-02-05 | 2016-08-08 | 株式会社デンソー | 温度補正回路および感温素子の検出温度補正方法 |
JP2018077134A (ja) * | 2016-11-09 | 2018-05-17 | 株式会社デンソー | サーミスタ駆動回路 |
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