JP2022079134A - 薄板状部品処理装置 - Google Patents

Abstract

【課題】 薄板状の部品を効率よく検査することのできる装置を提供する。【解決手段】 γ方向から投入された平ワッシャ４０は、ガイド板３６と回転円盤３２の間に保持される。回転円盤３２には、窪部３４が設けられているので、回転円盤３２の回転とともに、平ワッシャ４０がこの窪部３４に収納される。収納された平ワッシャ４０は、移動通路５０に放出される。移動通路５０を転がる平ワッシャ４０を、カメラにて撮像して検査を行う。【選択図】 図１

Description

この発明は、ワッシャなどの薄板状部品に対する検査などの処理をする処理装置に関するものである。

ボルトなどの部品を、その使用前に大量に検査する装置が用いられている。予め規格外の部品を排除することで、当該部品を用いて自動組立などを行うロボットの誤動作を防止したり、あるいは不良品を製造したりするのを防ぐためである。

特許文献１には、図２０に示すように、回転する円盤８の外周に凹部１０を設けた検査装置が開示されている。この凹部１０に、供給部４からボルト２を送り込む。凹部１０の幅は、ボルト２の頭部の外径より小さく形成されいている。送り込まれたボルト２は、その頭部によって凹部１０に保持され、回転円盤８によって搬送される。そして、カメラ１６によって撮像されて検査がなされる。

良品であれば、アクチュエータ１８によって押し出して、当該ボルト２を良品通路２０に落とし込む。不良品であれば、アクチュエータ２２によって押し出して、当該ボルト２を不良品通路２４に落とし込む。

このような装置を使用することで、大量のボルトを正確に検査することができる。

特許５４９６９３０

しかしながら、特許文献１のような従来装置では、ボルトのように頭部がある軸状の部品であれば検査などの処理をすることができるが、ワッシャのような薄板状の部品を処理することはできなかった。

この発明は、上記のような問題点を解決して、薄板状の部品を処理することのできる装置を提供することを目的とする。

この発明の独立して適用可能ないくつかの特徴を以下に列挙する。

(1)この発明に係る薄板状部品処理装置は、薄板状部品の外形端部に当接する段差壁を有し外周方向に開放された窪部が複数設けられた回転円盤であって、回転軸方向を重力方向に対して所定角度傾けた回転円盤と、前記回転円盤の下部に設けられ、前記窪部に入っていない薄板状部品を前記回転円盤の外周端部において保持し、前記回転円盤の回転に伴って、当該薄板状部品を前記窪部に保持させる保持結合部と、前記結合保持部に向けて、薄板状部品を投入する投入部と、前記窪部に保持された薄板状部品が、前記回転円盤の回転に伴って、窪部の開放部分によって外周方向に放出される位置において、当該放出された薄板状部品を受けて、移動させるよう構成された移動路と、前記移動路を移動する薄板状部品に対して所定の処理を行う処理部とを備えている。

したがって、所定間隔にて薄板状部品を移動路において移動させることができ、効率よく処理を行うことができる。

(2)この発明に係る薄板状部品処理装置は、薄板状部品が、円盤状部品であることを特徴としている。

したがって、移動路を転がしながら移動させることができる。

(3)この発明に係る薄板状部品処理装置は、処理部が、前記移動路を移動する薄板状部品を撮像する撮像部と、撮像部によって撮像された画像に基づいて良品と不良品を判断する判断手段とを備えていることを特徴としている。

したがって、移動路において良品と不良品の検査を行うことができる。

(4)この発明に係る薄板状部品処理装置は、移動路の少なくとも一部は透明部材によって構成されており、撮像部は、前記移動路を移動する薄板状部材の表面を撮像する第１撮像部材と、前記透明部材を介して薄板状部品の裏面を撮像する第２撮像部材を備えていることを特徴としている。

したがって、薄板状部品の両面を撮像して検査することができる。

(5)この発明に係る薄板状部品処理装置は、移動路が、薄板状部材が移動路を移動することによって、表裏を反転させるよう構成されており、前記反転前の移動路に薄板状部材を撮像する第１撮像部材が設けられ、前記反転前の移動路に薄板状部材を撮像する第２撮像部材が設けられることを特徴としている。

したがって、薄板状部品の両面を撮像して検査することができる。

(6)この発明に係る薄板状部品処理装置は、近接位置において上方向に回転する２つの回転ローラを、前記薄板部材の厚みに対応する所定間隔にて対向させ、一端から当該対向部分に向けて薄板状部材を投入し、薄板状部材が他端に移動する間に、厚み不足の薄板状部材を２つのローラ間から落として排除し、所定厚み以上の薄板状部材のみを他端側に得るよう構成された厚み不足検査部をさらに備えることを特徴としている。

したがって、厚み超過の薄板状部材を検査することができる。

(7)この発明に係る薄板状部品処理装置は、近接位置において上方向に回転する２つの回転ローラを、前記薄板部材の厚みに対応する所定間隔を基準として、一端から他端に向けて徐々に間隔が広くなるように対向させ、一端から当該対向部分に向けて薄板状部材を投入し、厚み超過の薄板状部材を他端へ排除し、厚み超過でない薄板状部材を２つのローラ間から落として得るよう構成された厚み過剰検査部をさらに備えることを特徴としている。

したがって、厚み不足の薄板状部材を検査することができる。

「プログラム」とは、ＣＰＵにより直接実行可能なプログラムだけでなく、ソース形式のプログラム、圧縮処理がされたプログラム、暗号化されたプログラム等を含む概念である。

この発明の一実施形態による検査装置の外観である。 回転円盤３２近傍の断面図である。 回転円盤３２下部の詳細図である。 回転円盤３２の構造を示す図である。 回転円盤３２の窪部３４の詳細図である。 回転円盤３２の窪部３４に平ワッシャ４０が収納された状態を示す図である。 回転円盤３２から移動路５０への開口６１を示す図である。 移動路５０を示す図である。 回転円盤３２に収納された平ワッシャ４０が移動路５０に移動する際の状態を示す図である。 撮像領域の近傍を示す図である。 撮像領域の断面図である。 良品通路８４と、不良品通路８２を示す図である。 制御回路のハードウエア構成である。 センサ１０８の動作を示す図である。 制御プログラム１１２のフローチャートである。 撮像画像の例である。 厚み超過検査部の構成を示す図である。 厚み不足検査部の構成を示す図である。 平ワッシャ４０を反転させる構成を示す図である。 従来の検査装置を示す図である。

１．構成および動作
図１に、この発明の一実施形態による薄板状部品処理装置の構成を示す。この実施形態では、薄板状部品である平ワッシャを検査する装置として構成した例を示す。

モータ（図示せず）によって回転される軸３０に結合された回転円盤３２が設けられている。この回転円盤３２は、矢印β方向に回転させられる。また、回転円盤３２は、図２の側断面図に示すように、重力方向Ｇに対して所定角度α（５度～４５度が好ましく、特に３５度～４０度が好ましく、最も好ましいのは３８度である）傾けられている。

回転円盤３２の略下半分の外周には、ガイド板３６が、回転円盤３２の上面から斜めに外周端において近接するように設けられている。さらに、このガイド板３６を覆うように、飛び出し防止板３８（この実施形態では、透明のアクリル材を用いている）が設けられている。

図１の矢印γの方向から、投入部２０２、２０４によって平ワッシャが投入されると、図３に示すように、平ワッシャ４０はガイド板３６によって、回転円盤３２の外周に保持される。

図４Ａに、図２の矢印IIIの方向から見た図を示す。回転円盤３２の上面の外周には、外側に向けて開放された窪部３４が形成されている。図４Ｂの断面図に示すように、この実施形態では、ベース円盤３２Ｂの上に切欠円盤３２Ａを重ねることで、窪部３４のある回転円盤３２を形成している。

図５に、切欠円盤３２Ａにおける窪部３４（切欠円盤３２Ａ単体で見た場合には切欠である）の詳細を示す。窪部３４の内側は平ワッシャの外径φよりもわずかに大きい半径Ｒの円弧にて形成されている。たとえば、Ｒはφより２％～５％程度大きく形成することが好ましい。この実施形態では、平ワッシャの外径φが１３ｍｍであるとき、Ｒを１３．３ｍｍとしている。

上記の円弧の中心を結ぶ円４０と、切欠円盤３２Ａの外周円４２との半径差Ｄは、平ワッシャの外径φの半分（すなわち半径）よりも小さく（６０％程度）形成されている。この実施形態では、平ワッシャの半径６．５ｍｍに対し、３．６５ｍｍに形成されている。したがって、窪部３４に収まった平ワッシャは、回転円盤３２の外周からわずかに飛び出すことになる。

なお、窪部３４は、外側に向けて所定の角度θ（この実施形態では１０度）をもって広がっている。これにより、平ワッシャの導入と排出が容易になっている。

図３に戻って、ガイド板３６によって、回転円盤３２の下部外周には、窪部３４に入らない平ワッシャ４０が複数枚保持されることになる。これら平ワッシャ４０は、回転円盤３２が回転することで、図６の４０ａに示すように、窪部３４に収納されることになる。

窪部３４に収納された平ワッシャ４０は、ガイド板３６によって窪部３４に保持されたまま、回転円盤３２のβ方向への回転により、同じくβ方向に移動させられる。図１に示すように、ガイド板３６が終わると、ガード板４２が外周に設けられている。したがって、平ワッシャ４０は、図６に示すように、４０ｂの位置まで窪部３４に保持されて移動される。

図１に示すように、回転円盤３２の左側の、ガード部材４２、ガイド部材３６の設けられていない箇所に、移動路５０が設けられている。この移動路５０は、図１の左側の方向にわずかに（数度程度）傾けて設けられている。これにより、移動路５０に運ばれた平ワッシャ４０が、左側に転がるようになっている。

図８Ａ～図８Ｄに、この移動路５０の詳細を示す。図８Ａが正面図、図８Ｂが側面図、図８ＣがＣ－Ｃ断面図、図８ＤがＤ－Ｄ断面図である。図８Ａに示すように、移動路５０は、底板５２と背板５４、５６、５８とガラス材６２を備えて構成されている。

図８Ａにおける移動路５０の左端（回転円盤３２と対向する部分）には、移動路５０への入り口となる入口板６０が設けられている。この入口板６０には、平ワッシャ４０が通過するに十分な余裕を持った大きさの開口６１が設けられている。

移動路５０の背板５４は、図７に示すように、回転円盤３２と同じ傾きになるように設けられている。したがって、窪部３４に保持された平ワッシャ４０が移動路５０に対向する位置に来ると、平ワッシャ４０は、回転円盤３２の窪部３４から移動路５０に放出されることになる。

図９Ａ、図９Ｂにその状態を示す。図９Ａに示す状態では、窪部３４の中に平ワッシャ４０が保持された状態である。さらに回転円盤３２が回転し、図９Ｂの状態になると（窪部３４の下側の傾斜が左下がりになると）、窪部３４から平ワッシャ４０が左方向に転がり始める。これにより、平ワッシャ４０は、転がり続け、入口板６０の開口６１を通って移動路５０に移動していく。したがって、入口板６０の開口６１は、平ワッシャ４０が窪部３４から転がりはじめて、入口板６０の開口６１を半分程度通過したときでも、平ワッシャ４０の外周に干渉しない高さＨ（図９Ｂ参照）と位置に設けられることが好ましい。また、その幅Ｗ（図８Ｂ参照）は、平ワッシャ４０の厚みに対して十分な幅（数十倍の幅）であることが好ましい。

平ワッシャ４０は、移動路５０に入ると、背板５４に背面を接しながら、底板５２の上を転がっていく。この際、移動路５０は図７に示すように傾いているので、平ワッシャ４０の背面を確実に背板５４で受け止めて、平ワッシャ４０が脱落しないようになっている。

背板５４に接して転がる平ワッシャ４０は、背板５４に代えて透明部材であるガラス材６２が填められた撮像領域に到達する。撮像領域の詳細を図１０、図１１に示す。図１０Ａが平面図、図１０Ｂが正面図である。また、図１０ＡのＸＩ－ＸＩ断面を示したのが図１１である。

ガラス板６２の後面には発光素子１２０ａが設けられている。発光素子１２０ａからの光は、ガラス板６２の前面に設けられた受光素子１２０ｂによって受光される。ガラス板６２を通過する平ワッシャ４０によって光が遮られることにより、受光素子１２０ｂでの受光がなくなり、平ワッシャ４０の存在を検出することができる。発光素子１２０ａ、受光素子１２０ｂは、後述のカメラによる撮像に支障の無い位置に設けられる。この実施形態では、発光素子１２０ａ、受光素子１２０ｂによってセンサ１２０が構成されている。

また、ガラス板６２の直後の背板５６の始端部には、背板５６に設けられた長穴の中に光センサ１２２が設けられている。この実施形態では、光センサ１２２として反射型センサを用いている。したがって、背板５６を通過する平ワッシャ４０によって反射光を受光し、平ワッシャ４０の存在を検出する。光軸幅の広い光センサ１２２を用いることにより、大きさの異なる平ワッシャ４０についても検出をすることができるようにしている。

背板５４、５６、５８は、底板５２に固定されているが、ガラス材６２は着脱可能に構成されている。図１１に示すように、底板５２の後端には、ガラス材６２を保持するための下部保持部材７０が設けられている。ガラス部材６２の左右端の後面は、装置筐体に固定された固定ブロック６８に当接して支えられる。

固定ブロック６８の上端およびガラス部材６２の上端に跨がって、上部保持部材６４が設けられている。上部保持部材６４の前端はＬ字に曲がっており、ガラス部材６２の前面を支えている。また、上部保持部材６４は、ボルト６６によって固定ブロック６８に保持されている。これにより、背板５４、５６の前面とガラス部材６２の前面が、面一になるように、ガラス部材６２が保持される。

なお、ガラス部材６２はボルト６６によって上部保持部材６４を外すことにより、取り代えることが可能である。

図１１に示すように、ガラス部材６２の両側には、撮像部であるカメラ７２、７６が設けられている。カメラ７６の前方には、図１０Ｂに示すように、内部がくり抜かれた形状の直方体７８が設けられている。この直方体７８の内部には、照明が設けられ、撮像画像の品質がよくなるように構成されている。カメラ７２の前方にも、直方体７８と同じ構成の直方体７４が設けられている。したがって、ガラス部材６２の前を転がって通過する平ワッシャ４０の表面、裏面をカメラ７２、７６によって撮像することができる。

なお、図１０Ａに示すように、カメラ７２の光軸７７（カメラ７６の光軸でもある）と、ガラス板６２の前面とが交わる位置に平ワッシャ４０が来たときに、センサ１２０によって平ワッシャ４０が検出できるようにその位置が調整されている。

平ワッシャ４０は、回転を続け、背板５６から背板５８の移動路５０を転がっていく。背板５８には、エアーコンプレッサーに接続されたエアーノズル８０が設けられている。エアーノズル８０付近の詳細を、図１２Ａ、図１２Ｂに示す。

図１２Ａが平面図、図１２Ｂが側断面図である。エアーノズル８０に対向する位置には、良品通路８２が設けられている。撮像によって良品と判断された平ワッシャ４０は、エアーノズル８０によって吹き飛ばされ、良品通路８２に落とされ、良品回収箱（図示せず）に収納される。

一方、不良品であると判断された平ワッシャ４０に対しては、エアーノズル８０は作用させない。したがって、平ワッシャ４０は、そのまま転がって、不良品通路８４に落とされ、不良品回収箱（図示せず）に回収される。

上記のような構成にすることで、エアーノズル８０によって良品を飛ばすことができなくても、不良品中に良品が混じるだけであり問題が生じにくい。この方式にすれば、良品中に不良品が混じるという、好ましくない事態を避けることができる。

図１３に、制御回路をＣＰＵを用いて実現した場合のハードウエア構成を示す。ＣＰＵ１００には、メモリ１０２、タッチディスプレイ１０４、不揮発性メモリ１０６、センサ１０８、１２０、１２２、エアーノズル８０、カメラ７２、７６が接続されている。

不揮発性メモリ１０６には、オペレーティングシステム１１０、制御プログラム１１２が記録されている。制御プログラム１１２は、オペレーティングシステム１１０と協働してその機能を発揮するものである。

センサ１０８は、図１に示すように、ガード板４２の近傍に取り付けられている。センサ１０８近傍の詳細を、図１４Ａ、図１４Ｂに示す。図１４Ａに示すように、窪部３４に平ワッシャ４０が収納されていれば、センサ１０８（光学式反射センサ）は、放出した光の反射光を受光する。また、図１４Ｂに示すように、窪部３４に平ワッシャ４０が収納されていなければ、センサ１０８は、放出した光の反射光を受光しない。

図１５に、制御プログラム１１２のフローチャートを示す。カメラ７２は、動画での撮像を行っている。ＣＰＵ１００は、センサ１２０が平ワッシャ４０を検出したかどうかを判断する（ステップＳ５１）。

センサ１２０が平ワッシャ４０を検出すると、ＣＰＵ１００は、照明を点灯し、カメラ７２、７４にて平ワッシャ４０を撮像し、その静止画像をメモリ１０２に記録する（ステップＳ５３）。図１６に、カメラ７２によって撮像され、記録された平ワッシャ４０の表面の静止画像の例を示す。カメラ７６による裏面の静止画像も同様である。

次に、ＣＰＵ１００は、この表裏面の静止画像に基づいて、外径、内径、外周の真円度、内周の真円度、外径と内径の同心度、表面傷などの検査を行う（ステップＳ５４）。続いて、検査数Ｎに１を加える（インクリメントする）（ステップＳ５５）。

検査の結果、いずれの項目についても公差の範囲内であれば、当該平ワッシャ４０を良品であると判断する。ＣＰＵ１００は、良品であると判断すると、センサ１２２によって平ワッシャ４０が検出されたかどうか（すなわち、検査領域を通過したかどうか）を判断する（ステップＳ５７）。

センサ１２２によって平ワッシャ４０が検出されると、ＣＰＵ１００は、エアーノズル８０をオンにして、エアーの吹き出しを開始する（ステップＳ５８）。これにより、検査領域から図１２Ａのエアーノズル８０の位置まで来た良品の平ワッシャ４０は、吹き飛ばされて、良品通路８２に落とされる。

なお、エアーノズル８０による吹き出しは、センサ１２０によって次の平ワッシャ４０が検出されるとＯＦＦにされる（ステップＳ５２）。

検査の結果、いずれかの項目が公差外であれば、当該平ワッシャ４０を不良品であると判断する。ＣＰＵ１００は、不良品であると判断すると、エアーノズル８０をＯＦＦのままに維持する。したがって、不良品の平ワッシャ４０は、エアーノズル８０で噴き飛ばされず、不良品通路８４に落とされる。以上のようにして平ワッシャ４０の検査が行われる。

上記では、検査総数Ｎを計数しているが、これに加えて良品数、不良品数を計数するようにしてもよい。

なお、上記の処理と平行して、ＣＰＵ１００は、センサ１０８からの検出信号を取得し、回転円盤の回転数との関係において、平ワッシャ４０が収納されない窪部３４が多すぎないかを検出する。平ワッシャ４０が収納されない窪部３４が所定割合以上（たとえば３０％以上）になると、警告をタッチディスプレイ１０４に表示する。あるいは、パーツフィーダなどを制御して、回転円盤３２に供給する平ワッシャ４０の量を制御する。

なお、この実施形態では、上記の検査の前に（後でもよい）平ワッシャ４０の厚み検査を行うようにしている。

図１７に、上限厚みを超える平ワッシャ４０を排除するための構成を示す。図１７Ａは平面図、図１７Ｂは正面図、図１７Ｃは側面図である。

供給路１５０には、パーツフィーダ（図示せず）から平ワッシャ４０が供給される。この供給路１５０は、図１７Ｂに示すようにＶ字状に形成されており、平ワッシャ４０が転がりながら、先端部に送り込まれるようになっている。

先端部では、下方向に開口１５２が設けられている。また、先端部には、ストッパ１５４が設けられている。したがって、供給路１５０を転がってきた平ワッシャ４０は、ストッパ１５４に当たって、開口１５２から下方向に落下する。

開口１５２の下には、モーター（図示せず）によって回転させられる回転ローラ１６０、１６２が設けられている。回転ローラ１６０、１６２は、図１７Ｃの矢印γに示すように、ローラの上部において平ワッシャ４０を上方に移動させる向きに回転している。回転ローラ１６０、１６２は、図１７Ｂに示すように、供給路１５０のある根元側から、先端側に向けて下方向に傾斜している。

したがって、供給路１５０から落とされた平ワッシャ４０は、回転ローラ１６０、１６２の間を先端側に向けて滑っていくことになる。

また、回転ローラ１６０、１６２の間隔は、根元部分で狭く、先端に向かうほど徐々に広くなるようになっている。すなわち、図１７Ａに示すように、間隔Ｗ１よりもＷ２の方が広くなっている。上限厚みを超えない平ワッシャ４０は回転ローラ１６０、１６２の間から落ち、上限厚みを超える（規格外の）平ワッシャ４０は回転ローラ１６０、１６２の間から落ちずに先端部から落ちるように、間隔Ｗ１、Ｗ２が調整されている。

回転ローラ１６０、１６２の先端部の下部には、不良品通路１７２が設けられている。したがって、規格外の平ワッシャ４０は、不良品通路１７２に落とされて、不良品回収箱（図示せず）に回収される。

また、回転ローラ１６０、１６２の間の下部には、Ｖ字状に形成された良品通路１７０が設けられている。したがって、上限厚みを超えない良品である平ワッシャ４０は、回転ローラ１６０、１６２の間から落ちて、良品通路１７０に導かれる。良品通路１７０は、先端方向（図の左側方向）が下になるようにわずかに傾けられている。したがって、良品の平ワッシャ４０は、Ｖ字状の良品通路を転がりながら先端部に移動していく。

図１８に、下限厚みに達しない平ワッシャ４０を排除するための構成を示す。図１８Ａは平面図、図１８Ｂは正面図、図１８Ｃは側面図である。上記の良品通路１７０の先端部下部には、モーター（図示せず）によって回転されている回転ローラ１８０、１８２が設けられている。回転ローラ１８０、１８２は、図１８Ｃの矢印εに示すように、ローラの上部において平ワッシャ４０を上方に移動させる向きに回転している。回転ローラ１８０、１８２は、図１８Ｂに示すように、良品通路１７０のある根元側から、先端側に向けて下方向に傾斜している。

したがって、良品通路１７０から供給された平ワッシャ４０は、回転ローラ１８０、１８２の間を先端側に向けて滑っていくことになる。

また、回転ローラ１８０、１８２の間隔は、根元部分と先端部分で同じ幅に形成されている。その間隔は、下限厚みに達しない（規格外の）平ワッシャ４０が、回転ローラ１８０、１８２の間から落ちるように調整されている。

回転ローラ１８０、１８２の下部には、不良品通路１９０が設けられている。したがって、規格外の平ワッシャ４０は、不良品通路１９０に落とされて、不良品回収箱（図示せず）に回収される。

また、回転ローラ１８０、１８２の間の先端には、Ｖ字状に形成された良品通路２００が設けられている。したがって、下限厚みを超える良品である平ワッシャ４０は、回転ローラ１８０、１８２の先端部から落ちて、良品通路２００に導かれる。良品通路２００は、先端方向（図の左側方向）が下になるようにわずかに傾けられている。したがって、良品の平ワッシャ４０は、Ｖ字状の良品通路２００を転がりながら先端部に移動していく。

良品通路２００の先端部には、方向規制板２０２とストッパ２０４が設けられている。この方向規制板２０２、ストッパ２０４は、図１に一点鎖線で示すように、回転円盤３２への投入部を構成している。平ワッシャ４０は、ストッパ２０４に当たって下に落下する。この際、方向規制板２０２によって、飛び出し防止板３８の外側に行かないようにしている。したがって、平ワッシャ４０は、飛び出し防止板３８と回転円盤３２の間に落下することになる。

２．その他
(1)上記実施形態では、ガラス板６２を用いている。このガラス板６２が使用によって傷ついた場合には、上下反転して用いることができる大きさにしてもよい。また、正方形にすることで、９０度回転して、４回使用することができる。

(2)上記実施形態では透明部材であるガラス板６２を用いることで、裏面、表面双方の撮像を行うようにしている。しかし、図１９Ａに示すように、移動路５０において矢印の方向から片面のみ撮像し、図１９Ｂ、図１９Ｃ、図１９Ｄ、図１９Ｅというように徐々に移動路５０の角度を変えるように形成してもよい。そして、図１９Ｅの状態にて、もう一面を撮像するようにする。このようにすれば、ガラス材６２を用いないようにできる。

(3)上記では、平ワッシャ４０の検査について説明したが、薄板状の円形の部品であれば同様に検査することができる。また、円形でない薄板状の部品の場合であれば、転がして移動させるのではなく、平面上を滑らせるようにして移動させれば、同様に検査することができる。

(4)上記実施形態では、撮像領域の前後にセンサを設けている。しかし、カメラによって動画撮影を行っておき、撮像領域に平ワッシャ４０が入ったこと、撮像領域から平ワッシャ４０が出たことを、画像によって検出するようにしてもよい。このようにすれば、センサ１２０、１２２を省略することができる。

(5)上記実施形態では、平ワッシャ４０の検出のために反射型光センサ１２２を用いている。しかし、透過型光センサを用いてもよい。また、光センサ以外の、磁気センサ、重量センサ等のセンサを用いてもよいし、カメラ画像によって判断するようにしてもよい。

同様に透過型光センサ１２０に変えて、反射型光センサを用いてもよい。また、光センサ以外の、磁気センサ、重量センサ等のセンサを用いてもよいし、カメラ画像によって判断するようにしてもよい。

(6)上記実施形態では、エアーノズル８０を用いている。しかし、その他のアクチュエータを用いてもよい。また、良品と不良品よって、経路を切り替える機構を設けてもよい。

(7)上記実施形態では、両面の検査を行っているが片面のみを検査する場合にも用いることができる。

(8)上記実施形態では、図１７、図１８に示す厚さ検査を行っている。しかし、これを行わず、パーツフィーダからの平ワッシャ４０を、直接、回転円盤３２に供給するようにしてもよい。反対に、厚さ検査のみを行うようにしてもよい。

(9)上記実施形態では、撮像領域にて撮像を行って検査を行っている。しかし、撮像流域に対応する位置において、塗装、計量など検査以外の処理を行うようにしてもよい。

(10)回転円盤３２は、検査対象である平ワッシャ４０の直径に合わせた窪部３４を有するものを複数枚用意しておき取り替えて使用することが好ましい。なお、図４のような構成にした場合には、切欠円盤３２Ａのみを複数枚用意すればよい。

Claims (7)

1. 薄板状部品の外形端部に当接する段差壁を有し外周方向に開放された窪部が複数設けられた回転円盤であって、回転軸方向を重力方向に対して所定角度傾けた回転円盤と、
   前記回転円盤の下部に設けられ、前記窪部に入っていない薄板状部品を前記回転円盤の外周端部において保持し、前記回転円盤の回転に伴って、当該薄板状部品を前記窪部に保持させる保持結合部と、
   前記結合保持部に向けて、薄板状部品を投入する投入部と、
   前記窪部に保持された薄板状部品が、前記回転円盤の回転に伴って、窪部の開放部分によって外周方向に放出される位置において、当該放出された薄板状部品を受けて、移動させるよう構成された移動路と、
   前記移動路を移動する薄板状部品に対して所定の処理を行う処理部と、
   を備えた薄板状部品処理装置。
2. 請求項１の薄板状部品処理装置において、
   前記薄板状部品は、円盤状部品であることを特徴とする薄板状部品処理装置。
3. 請求項１または２の薄板状部品処理装置において、
   前記処理部は、前記移動路を移動する薄板状部品を撮像する撮像部と、撮像部によって撮像された画像に基づいて良品と不良品を判断する判断手段とを備えていることを特徴とする薄板状部品処理装置。
4. 請求項３の薄板状部品処理装置において、
   前記移動路の少なくとも一部は透明部材によって構成されており、
   前記撮像部は、前記移動路を移動する薄板状部材の表面を撮像する第１撮像部材と、前記透明部材を介して薄板状部品の裏面を撮像する第２撮像部材を備えていることを特徴とする薄板状部品処理装置。
5. 請求項３の薄板状部品処理装置において、
   前記移動路は、薄板状部材が移動路を移動することによって、表裏を反転させるよう構成されており、
   前記反転前の移動路に薄板状部材を撮像する第１撮像部材が設けられ、
   前記反転前の移動路に薄板状部材を撮像する第２撮像部材が設けられることを特徴とする薄板状部品処理装置。
6. 請求項１～５のいずれかの薄板状部品処理装置において、
   近接位置において上方向に回転する２つの回転ローラを、前記薄板部材の厚みに対応する所定間隔にて対向させ、一端から当該対向部分に向けて薄板状部材を投入し、薄板状部材が他端に移動する間に、厚み不足の薄板状部材を２つのローラ間から落として排除し、所定厚み以上の薄板状部材のみを他端側に得るよう構成された厚み不足検査部をさらに備えることを特徴とする薄板状部品処理装置。
7. 請求項１～６のいずれかの薄板状部品処理装置において、
   近接位置において上方向に回転する２つの回転ローラを、前記薄板部材の厚みに対応する所定間隔を基準として、一端から他端に向けて徐々に間隔が広くなるように対向させ、一端から当該対向部分に向けて薄板状部材を投入し、厚み超過の薄板状部材を他端へ排除し、厚み超過でない薄板状部材を２つのローラ間から落として得るよう構成された厚み過剰検査部をさらに備えることを特徴とする薄板状部品処理装置。
   
   
   
   

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