JP2022075581A - 閾値分析に基づく非破壊検査装置、及び非破壊検査方法 - Google Patents

Abstract

【課題】グラウト充填状態を効率よく、かつ精度よく非破壊検査できる非破壊検査装置、及び非破壊検査方法を提供することを目的とする。【解決手段】発信探触子及び受信探触子を備えた非破壊検査装置１０であって、シース反射Ｐ波起生時刻ｔｐを取得する第１の収録手段と、受信波スペクトルＦ（ｆ）を取得する第２の収録手段と、分析用１次かぶり厚ｄｓの組合せを取得する第１の分析手段と、分析用時系列ＧＡ（ｔ）を取得する第２の分析手段と、単一点計測、または多点計測における分析用１次かぶり厚ｄｓが同一の場合、計測対象シースのグラウト充填状態を判定する第１の処理手段と、分析用１次かぶり厚ｄｓが異なる場合、分析用１次かぶり厚ｄｓ｜大のグラウト充填状態を判定する第２の処理手段と、第２の処理手段での判定に引き続いて、分析用１次かぶり厚ｄｓ｜小のグラウト充填状態を判定する第３の処理手段とを備えたことを特徴とする。【選択図】図２２

Description

この発明は、ＰＣ橋梁などのコンクリート構造物に埋設されるシース管内のグラウト充填状態を、広帯域超音波を用いる閾値分析に基づいて非破壊検査する非破壊検査装置、及び非破壊検査方法に関する。

道路や鉄道における橋梁などの主桁、側壁、あるいは床版などには、ポストテンション工法で製造されたプレストレストコンクリート構造物（図４９を参照）が用いられている。
このプレストレストコンクリート構造物は、打設したコンクリートの硬化後、予めコンクリート内に配設されたシース管内のＰＣ鋼材を緊張させて、コンクリートに定着させることで、コンクリート内に残留圧縮応力を発生させている。

これにより、プレストレストコンクリート構造物は、鉄筋コンクリート構造物に比べて、引張荷重に対する耐久性に優れ、かつ軽量となるため、長径間化された大規模建造物の構築を可能にしている。

ところで、このようなプレストレストコンクリート構造物では、緊張させたＰＣ鋼材の防錆のために、セメントミルクなどのグラウト材をシース管内に充填している。このため、プレストレストコンクリート構造物では、グラウト充填状態を確認する必要があった。

特に、グラウト充填状態が未充填、または充填不足の場合、多年度経過すると、シース管内に侵入した雨水などによってＰＣ鋼材が腐食、破断して、所望される耐久性を確保できなくなるおそれがあった。例えば、日本国内及び海外のＰＣ橋梁で、落橋というあってはならない幾つかの重大事故が実際に生じている。

そこで、プレストレストコンクリート構造物に埋設されたシース管のグラウト充填状態を非破壊検査する非破壊検査装置、及び非破壊検査方法が提案、実用化されている（特許文献１、及び特許文献２参照）。

昨今では、ＰＣ橋梁が新設される場合、特許文献１に基づいて開発された非破壊検査装置を用いて、シース管内のグラウト充填状態をコンクリート面から非破壊検査している。
さらにまた、既設ＰＣ橋梁では、特許文献１、及び特許文献２に記載の方法を改良発展させたＷＵＴソフトウェアを用いた非破壊検査装置でグラウト充填状態の非破壊検査が行われている。

ところで、このＷＵＴソフトウェアを用いた非破壊検査では、発信探触子と受信探触子との中心間距離が１１０から２００ｍｍの場合を反射Ｐ波計測分析と呼び、発信探触子と受信探触子との中心間距離が３７５ｍｍ以上の場合を反射Ｓ波計測分析と呼んでいる。

しかしながら、ＷＵＴソフトウェアを用いた非破壊検査では、様々な問題点があることが確認されている。
例えば、反射Ｐ波計測分析の場合、次のような４つの問題点が確認されている。
一つ目の問題点として、シースかぶり厚、及びコンクリート縦波音速の計測精度によって、グラウト充填状態の分析精度が左右されるばかりでなく、「未充填」を「完全充填」、または「完全充填」を「未充填」と誤分析する事象が生ずることが稀ではない。

二つ目の問題点として、シースかぶり厚が浅い場合、シース反射Ｐ波の起生時刻前方に、大きな振幅のコンクリート表面Ｓ_１波、及び直接波が生じ、シース反射Ｐ波の起生時刻後方に、２段目シース、版厚、及び版厚底部コーナーからの反射波が生じることで、グラウト充填状態の分析精度が低下するばかりでなく、「完全充填」を「未充填」と誤分析する事象が稀ではない。

三つ目の問題点として、計測点が、偶然、グラウトの未充填部分とグラウト充填部分との境界直上に位置することで、グラウト充填状態の分析精度が低下するばかりでなく、「未充填」を「完全充填」と誤分析することが稀ではない。
四つ目の問題点として、シースかぶり厚が、シース管の長手方向で大きく変化する場合があり、これに起因して、グラウト充填状態が「未充填」であっても、「完全充填」と誤分析することが稀ではない。

また、反射Ｓ波計測分析の場合、次のような５つの問題点が確認されている。
一つ目の問題点として、シースかぶり厚、及びコンクリート縦波音速の計測精度によって、グラウト充填状態の分析精度が左右される。
二つ目の問題点として、シース反射Ｓ波の分析で用いる分析用切り出し波の起生時刻前方に表面Ｓ_１波が生じ、かつ分析用切り出し波の起生時刻後方に２段目シース、版厚、及び版厚底部コーナーからの反射波が生じることで、グラウト充填状態の分析精度が低下し「完全充填」を「未充填」と誤分析する事象が稀ではない。

三つ目の問題点として、計測点が、偶然、グラウトの未充填部分とグラウト充填部分との境界直上に位置することで、グラウト充填状態の分析精度が低下するばかりでなく、「未充填」を「完全充填」と誤分析することが稀ではない。
四つ目の問題点として、シースかぶり厚が、シース管の長手方向で大きく変化する場合があり、これに起因して、多点計測波の加算処理を用いる従来の分析ではグラウト充填状態が「未充填」であっても、「完全充填」と誤分析する。

五つ目の問題点として、コンクリートの場合、Ｐ波とＳ波との音速比が０．６２程度になるため、シース反射Ｓ波の起生時刻帯域は、シース反射Ｐ波に比べて時刻後方へ移動する。これにより、２段目シース、版厚、及び版厚底部コーナーからの反射波がシース反射Ｓ波の上に混入することで、グラウト充填状態の分析精度が低下して、グラウト充填状態が「完全充填」であっても、「未充填」または「充填不足」と誤判定することが度々である。

上述した様々な問題点に対処するために、ＷＵＴソフトウェアを用いた非破壊検査では、計測日数の数倍の日数をかけた上述の問題点に対処する分析オペレータによる分析処理で、分析結果を取得しているが、分析オペレータのだれもがグラウト充填状態を確実に正解に導くことが出来ない事象が多々生じている。
このため、ＷＵＴソフトウェアを用いた非破壊検査では、グラウト充填状態の分析の高効率化、及び高精度化が求められている。
そこで出願人は、閾値処理と名付ける処理方法により、分析で用いるスペクトル及び時系列を作成し、これを用いて上記多数の問題点を解決するグラウト充填状態の非破壊検査装置、及び非破壊検査方法を創り上げている。

特許第４６４０７７１号公報 特許第５８１４５８２号公報

本発明は、上述の問題に鑑み、グラウト充填状態を効率よく、かつ精度よく非破壊検査できるシース反射Ｐ波を用いた非破壊検査装置、及びシース反射Ｐ波を用いた非破壊検査方法を提供することを目的とする。

超音波を発信する発信探触子、及び超音波を受信する受信探触子からなる一対の探触子と、少なくとも各種情報を表示する表示部を有して計測対象シースのグラウト充填状態を分析判定する解析機器とを備えた非破壊検査装置、及びこれを用いた非破壊検査方法であって、オペレータの操作によるコンクリート縦波音速、２段目シースのかぶり厚、版厚、及び版厚底部コーナーの路程長の入力を受け付ける入力受付手段と、計測対象シースの断面中心からコンクリート表面への垂線と前記コンクリート表面との交点をとおる前記計測対象シースの長手方向に沿った前記コンクリート表面の仮想線分上において、測点ｉ＝１～ｎｗを順に計測する多点計測の場合、測点ｉ＝１でのシースかぶり厚と測点ｉ＝ｎｗでのシースかぶり厚との平均値を、あるいは測点ｉ＝１となる単一点計測の場合、測点ｉ＝１でのシースかぶり厚を、レーダ計測かぶり厚ｄｓ｜_ＲＣとして取得して、下式のｄｓをレーダ計測かぶり厚ｄｓ｜_ＲＣに置き換えてシース反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ＝ｔ_ｐ｜_ＲＣを取得する第１の収録手段と、

前記発信探触子から前記計測対象シースに向かって、所定時刻間隔で超音波を連続発信し、発信のたびに前記受信探触子で得た収録波を加算平均して測点ｉ毎の受信波Ｇ（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ}を取得し、該受信波Ｇ（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ}をＦＦＴ変換して対応する受信波スペクトルＦ（ｆ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ}を取得する第２の収録手段と、振動数０．０から（ｆ_ｓ－Δｆ_ｓ）の間が「０．０」、振動数（ｆ_ｓ－Δｆ_ｓ）からｆ_ｓの間が「０．０から１．０」となるｓｉｎ形状増加関数、振動数ｆ_ｓから（ｆ_ｓ＋Δｆ_ｓ）の間が「１．０から０．０」となるｓｉｎ形状減少関数、振動数（ｆ_ｓ＋Δｆ_ｓ）以上で「０．０」となる関数をＦ３フィルタ関数として、該Ｆ３（ｆ）フィルタ関数の中心振動数ｆ_ｓを低振動数または高振動数側へ徐々に移動させるオペレータの操作を受け付ける操作受付手段と、Δｔ_ｋをオペレータによって設定される値とし、時刻０．０から（ｔ_ｐ｜_ＲＣ－Δｔ_ｋ）の間が「０．０」、時刻（ｔ_ｐ｜_ＲＣ－Δｔ_ｋ）で「０．０」となり時刻ｔ_ｐ｜_ＲＣで「１．０」となるｓｉｎ形状増加関数、時刻ｔ_ｐ｜_ＲＣで「１．０」となり時刻（ｔ_ｐ｜_ＲＣ＋Δｔ_ｋ）で「０．０」となるｓｉｎ形状減少関数、時刻（ｔ_ｐ｜_ＲＣ＋Δｔ_ｋ）以降で「０．０」となる関数を時刻フィルタ関数ＴＧＣ４（ｔ）として、前記操作受付手段でオペレータの操作を受け付けるたびに、前記中心振動数ｆ_ｓとする前記Ｆ３（ｆ）フィルタ関数を前記受信波スペクトルＦ（ｆ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ}に乗じて得たスペクトルをＦＦＴ逆変換して得る時系列波に対して、該時系列波のいずれかの測点ｉの起生時刻を中心時刻とする前記時刻フィルタ関数ＴＧＣ４（ｔ）を乗じて、分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）｜_{ｉ＝１～ｎｗ}を取得するとともに、下式のｄｓを分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_ｉに、下式のｔ_ｐを前記分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）｜_ｉに置き換えて、分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_ｉを取得し、

さらに、測点ｉ＝１～ｎｗの多点計測における前記分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_ｉが全ての測点ｉで同一、または測点ｉ＝ｎｗ＝１の単一点計測の場合、前記分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）｜_ｉ、及び前記分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_ｉをそれぞれｔ_ｐ（１）、及びｄｓ_（１）とするとともに、開始測点ｎＡをｉ＝１、終了測点ｎＢをｉ＝ｎｗとし、測点ｉ＝１～ｎｗの多点計測における前記分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_ｉが測点ｉごとに異なる場合、前記分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）｜_{ｉ＝１～ｎｗ}を２つに区分し、それぞれの平均値をｔ_ｐ（１）｜_大、及びｔ_ｐ（１）｜_小とし、前記分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）｜_大を上式に適用して得た分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）を分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_大とし、前記分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）｜_小を上式に適用して得た分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）を分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_小として、前記分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_大及びｄｓ_（１）｜_小ごとの開始測点ｎＡ、及び終了測点ｎＢを取得する第１の分析手段と、中心振動数ｆ_０を２０ｋＨｚ、振動数ｆ_ｗをオペレータによって設定される５０ｋＨｚ－Δｆ_ｗ＜ｆ_ｗ＜５０ｋＨｚ＋Δｆ_ｗ（ただし、Δｆ_ｗ＝５ｋＨｚ）の範囲のいずれかの値、振動数ｆ_２を８０ｋＨｚとして、振動数－１０ｋＨｚからｆ_０が「０．０から１．０」となるｓｉｎ形状増加関数、振動数ｆ_０からｆ_ｗが「１．０から０．０」となるｓｉｎ形状減少関数、振動数ｆ_ｗからｆ_２が「０．０から１．０」となるｓｉｎ形状増加関数、振動数ｆ_２から（ｆ_２＋３０ｋＨｚ）が「１．０から０．０」となるｓｉｎ形状減少関数、振動数（ｆ_２＋３０ｋＨｚ）以上で「０．０」となるＡ_Ｋ（ｆ）フィルタ関数を、ｉ＝１～ｎｗを受信波、ｉ＝ｎｗ＋１を加算平均波とする受信波スペクトルＦ（ｆ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}に乗じて分析用スペクトルＦＡ（ｆ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を取得し、該分析用スペクトルＦＡ（ｆ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}をＦＦＴ逆変換して対応する分析用時系列ＧＡ（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を取得する第２の分析手段と、ｉ＝１の単一点計測の場合、またはｉ＝１～ｎｗの多点計測における前記分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_ｉが同一の場合、前記分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）｜_ｉをｔ_ｐ（１）とし、前記分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_ｉをｄｓ_（１）として、第３の分析手段、第４の分析手段、第５の分析手段、第６の分析手段、第７の分析手段、及び第８の分析手段による分析によって、前記計測対象シースのグラウト充填状態を判定する第１の処理手段と、ｉ＝１～ｎｗの多点計測における前記分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_ｉが異なる場合、前記分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）をｔ_ｐ（１）｜_大に、前記分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）をｄｓ_（１）｜_大に置き換えた前記第３の分析手段、前記第４の分析手段、前記第５の分析手段、前記第６の分析手段、前記第７の分析手段、及び前記第８の分析手段による分析によって、前記分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_大における前記計測対象シースのグラウト充填状態を判定する第２の処理手段と、該第２の処理手段での判定に引き続いて、前記分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）をｔ_ｐ（１）｜_小に、前記分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）をｄｓ_（１）｜_小に置き換えた前記第３の分析手段、前記第４の分析手段、前記第５の分析手段、前記第６の分析手段、前記第７の分析手段、及び前記第８の分析手段による分析によって、前記分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_小における前記計測対象シースのグラウト充填状態を判定する第３の処理手段とを備え、前記第３の分析手段は、時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_ｈ１を基準時刻とする時刻フィルタ関数ＴＧＣ１（ｔ）、及び時刻ｔ_ｐ（１）を基準時刻とする時刻フィルタ関数ＴＧＣ２（ｔ）を、前記分析用時系列ＧＡ（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}に乗じて分析用切り出し波ＧＢ_（１）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を取得し、該分析用切り出し波ＧＢ_（１）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}をＦＦＴ変換して対応するスペクトルＦＢ_（１）（ｆ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を取得する分析手段であり、前記時刻フィルタ関数ＴＧＣ１（ｔ）は、基準時刻ｔ_ｈ＝ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_ｈ１として、時刻ｔ＝０で「０．０」となり、基準時刻ｔ_ｈで「１．０」となるｓｉｎ形状増加線分、時刻ｔ＝基準時刻ｔ_ｈ以降が「１．０」となるＴＧＣＡ（ｔ）関数を用いて、（ＴＧＣＡ（ｔ））^ｎｅで算出される関数であり、前記時刻フィルタ関数ＴＧＣ２（ｔ）は、基準時刻ｔ_ｈ＝ｔ_ｐ（１）として、時刻ｔ＝０．０から時刻ｔ＝ｔ_ｈが「１．０」、時刻ｔ＝基準時刻ｔ_ｈで「１．０」となり、時刻ｔ＝４００μ秒で「０．０」となるｓｉｎ形状減少線分、時刻ｔ＝４００μ秒以降が「０．０」となるＴＧＣＢ（ｔ）関数を用いて、（ＴＧＣＢ（ｔ））^ｎｆで算出される関数であり、前記第４の分析手段は、前記スペクトルＦＢ_（１）（ｆ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}で、ｉごとに前記振動数ｆ_ｗよりも低振動数側の最大スペクトル値を基準値＝１．０としたのち、前記振動数ｆ_ｗよりも高振動数側の最大スペクトル値を閾値α_σとする閾値処理で、分析用１次スペクトルＦＣ_（１）（ｆ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を取得し、該分析用１次スペクトルＦＣ_（１）（ｆ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}に対応する分析用１次時系列ＧＣ_（１）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}をＦＦＴ逆変換で取得する分析手段であり、前記第５の分析手段は、台形窓関数Ａを時刻ｔ_始＝ｔ_ｐ（１）－Δｔ_ｐ１から時刻ｔ_終＝ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_ｐ２までΔｔ_ａ間隔で移動させるたびに、前記分析用１次時系列ＧＣ_（１）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}に台形窓関数Ａを乗じて切り出した時系列に対応するスペクトルを求め、前記振動数ｆ_ｗ以下での最大スペクトル値を１．０に基準化して得たスペクトルにおいて、前記振動数ｆ_ｗ以上での最大スペクトル値を時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_ｆ２として、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を作成するとともに、前記振動数ｆ_ｗ以上、及び前記振動数ｆ_ｗ以下での最大スペクトル値を時刻の推移毎に比較して大きい方の最大スペクトル値を１．０に基準化して得た時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（１）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を作成する分析手段であり、前記台形窓関数Ａは、基準時刻をｔ_始とし、前記分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）またはｄｓ_（１）｜_大あるいはｄｓ_（１）｜_小に応じて設定された時間幅を示す値をｔ_ａとして、時刻ｔ＝０．０からｔ_始－５の間が「０．０」、時刻ｔ＝ｔ_始－５からｔ_始が「０．０」から「１．０」となるｓｉｎ形状増加関数、時刻ｔ＝ｔ_始からｔ_始＋ｔ_ａが「１．０」、時刻ｔ＝ｔ_始＋ｔ_ａからｔ_始＋ｔ_ａ＋５が「１．０」から「０．０」となるｓｉｎ形状減少関数、時刻ｔ＝ｔ_始＋ｔ_ａ＋５以降が「０．０」となる関数であり、前記第６の分析手段は、計測対象シースの空隙部分とグラウト充填部分との境界測点をｎ１として、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎＡ～ｎＢ}のスペクトル値が、測点ｉ＝ｎＡ～ｎ１（ただし、境界測点ｎ１≦終了測点ｎＢ）において、時刻ｔ_ｐ（１）－Δｔ_Ｂ１から時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_Ｂ２の間で増加傾向にあり、時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_Ｂ２で閾値α_σを超えることを確認して前記境界測点ｎ１が特定される特性ＴＡ、または時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎＡ～ｎＢ}のスペクトル値が、測点ｉ＝ｎＡ～ｎ１（ただし、境界測点ｎ１≦終了測点ｎＢ）において、時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_Ｂ２で閾値α_σを下回ることを確認して前記境界測点ｎ１が特定される特性ＴＢのいずれであるかを特定する分析手段であり、前記第７の分析手段は、前記第６の分析手段において、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎＡ～ｎＢ}のスペクトル形状が特性ＴＡと特定された場合、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎＡ～ｎＢ}に基づいて、第１ＴＡ処理手段、及び第２ＴＡ処理手段による分析を行い、グラウト充填状態を判定する分析手段であり、前記第８の分析手段は、前記第６の分析手段において、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎＡ～ｎＢ}のスペクトル形状が特性ＴＢと特定された場合、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎＡ～ｎＢ}に基づいて、第１ＴＢ処理手段、及び第２ＴＢ処理手段による分析を行い、グラウト充填状態を判定する分析手段であり、前記第７の分析手段の前記第１ＴＡ処理手段は、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_ｉが、測点ｉ＝ｎＡ～ｎ１（ただし、ｎ１≦ｎＢ）ごとに時刻ｔ_ｐ（１）－Δｔ_Ｂ１と時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_Ｂ２の間で増加傾向にあり、時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_Ｂ２で閾値α_σを超えている時、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎＡ～ｎ１}（ただし、ｎ１≦ｎＢ）ごとに、時刻ｔ_ｐ（１）－Δｔ_Ｂ１と時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_Ｂ２との間で、閾値α_σを超える時刻をｔ_ｉとし、この平均値をｔ_Ａとし、または単一点計測の場合、ｔ_Ａ＝ｔ_１として、下式に基づいてΔｔ_Ａを取得するとともに、

下式に基づいて分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）を取得し、

下式のｄｓを分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）に、下式のｔ_ｐを前記分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）に置き換えて分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）を取得し、

前記第３の分析手段、及び前記第４の分析手段における前記分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）を分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）に置き換えて、前記第３の分析手段、及び前記第４の分析手段による再度の分析によって、分析用１次時系列ＧＣ_（１）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}の代わりに分析用２次時系列ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を作成し、さらに、前記第５の分析手段による再度の分析で前記分析用２次時系列ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}に分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）を用いた前記台形窓関数Ａのｔ_ｐ（２）－Δｔ_ｐ１を始点時刻ｔ_始とし、ｔ_ｐ（２）＋Δｔ_ｐ２を終点時刻ｔ_終とする掃引処理を適用し、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及び時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を作成し、次に、ＷＡＶＥ加算平均波ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を下式で作成し直すとともに、

前記ＷＡＶＥ加算平均波ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}のＦＦＴ変換でスペクトルＦＣ_（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を求め、さらに下式に基づいてスペクトルＦＣ^～ _（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を作成し、

前記スペクトルＦＣ^～ _（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}の位相情報を、前記スペクトルＦＣ_（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}の位相情報に変更したのち、前記スペクトルＦＣ^～ _（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}のＦＦＴ逆変換でＳＰ加算平均波ＧＣ^～ _（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を作成し、再々度の前記第５の分析手段による前記台形窓関数Ａのｔ_ｐ（２）－Δｔ_ｐ１を始点時刻ｔ_始とし、ｔ_ｐ（２）＋Δｔ_ｐ２を終点時刻ｔ_終とする掃引処理を前記ＳＰ加算平均波ＧＣ^～ _（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}に適用し、前記分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）とするＳＰ加算の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及び時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を作成し直したのち、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎＡ～ｎ１}とＳＰ加算の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}とを用いて測点ｉ＝ｎＡ～ｎ１各々での、及びＳＰ加算ｉ＝ｎｗ＋１でのグラウト充填状態を、空充判定線分α^～ _σ（＝α_σ＋０．０６）値、及び前記分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）に応じて設定された時刻を＊値とする空充判定カーソルｔ_＊＝ｔ_ｐ（２）＋＊を用いて取得した時刻ｔ_＊での時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ_＊）｜_ｉが、α^～ _σ＋０．１８＜ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ_＊）｜_ｉの場合に「未充填」と自動判定し、α^～ _σ＜ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ_＊）｜_ｉ≦α^～ _σ＋０．１８の場合に「充填不足」と自動判定し、該判定結果及び時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を表示部に表示する処理手段であり、前記第７の分析手段の前記第２ＴＡ処理手段は、ｎ１＜ｎＢの場合において、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_ｉが測点ｉ＝ｎ１＋１～ｎＢごとに、時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_Ｂ２で閾値α_σを下回る時、時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_Ｂ２のさらなる時刻後方で、測点ｉ＝ｎ１＋１～ｎＢの時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_ｉが閾値α_σを超える時刻をｔ_ｉとして、下式を満足させる測点ｉの時刻ｔ_ｉを選定し、該時刻ｔ_ｉの平均値を時刻平均値ｔ_Ａとし、

上式を満足させる時刻ｔ_ｉがない場合、時刻平均値ｔ_Ａ＝ｔ_{Ｍ１（１）}として、下式でΔｔ_Ａを求め、

分析用２次シース反射Ｍ_１波起生時刻ｔ_{Ｍ１（２）}及び分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）を下式群に基づいて取得するとともに、

下式のｄｓを分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）に、下式のｔ_ｐを前記分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）に置き換えて、分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）を取得し、

前記第３の分析手段、及び前記第４の分析手段における前記分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）を分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）に置き換えて、前記第３の分析手段、及び前記第４の分析手段による再度の分析によって、分析用１次時系列ＧＣ_（１）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}の代わりに分析用２次時系列ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を作成し、さらに、前記第５の分析手段による再度の分析で前記分析用２次時系列ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}に分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）を用いた前記台形窓関数Ａのｔ_ｐ（２）－Δｔ_ｐ１を始点時刻ｔ_始とし、ｔ_ｐ（２）＋Δｔ_ｐ２を終点時刻ｔ_終とする掃引処理を適用し、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及び時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を作成し、次に、ＷＡＶＥ加算平均波ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を下式で作成し直すとともに、

前記ＷＡＶＥ加算平均波ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}のＦＦＴ変換でスペクトルＦＣ_（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を求め、さらに下式に基づいてスペクトルＦＣ^～ _（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を作成し、

前記スペクトルＦＣ^～ _（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}の位相情報を、前記スペクトルＦＣ_（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}の位相情報に変更したのち、前記スペクトルＦＣ^～ _（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}のＦＦＴ逆変換でＳＰ加算平均波ＧＣ^～ _（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を作成し、再々度の前記第５の分析手段による前記台形窓関数Ａのｔ_ｐ（２）－Δｔ_ｐ１を始点時刻ｔ_始とし、ｔ_ｐ（２）＋Δｔ_ｐ２を終点時刻ｔ_終とする掃引処理を前記ＳＰ加算平均波ＧＣ^～ _（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}に適用し、前記分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）を用いたＳＰ加算の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及び時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を作成し直したのち、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎ１＋１～ｎＢ}とＳＰ加算の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}とを用いて測点ｉ＝ｎ１＋１～ｎＢ各々での、及びＳＰ加算ｉ＝ｎｗ＋１でのグラウト充填状態を、空充判定線分α^～ _σ（＝α_σ＋０．０６）値、及び前記分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）に応じて設定された時刻を＊値とする空充判定カーソルｔ_＊＝ｔ_ｐ（２）＋＊を用いて取得した時刻ｔ_＊での時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ_＊）｜_ｉが、ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ_＊）｜_ｉ≦α^～ _σの場合に「完全充填」と自動判定し、該判定結果及び時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を表示部に表示する処理手段であり、前記第８の分析手段の前記第１ＴＢ処理手段は、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_ｉが測点ｉ＝ｎＡ～ｎ１（ただし、ｎ１≦ｎＢ）ごとに、時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_Ｂ２で閾値α_σを下回る場合、時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_Ｂ２のさらなる時刻後方で、測点ｉ＝ｎＡ～ｎ１（ただし、ｎ１≦ｎＢ）ごとの時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_ｉが閾値α_σを超える時刻をｔ_ｉ（単一点計測の場合、時刻ｔ_ｉ＝ｔ_１）として、下式を満足させる測点ｉの時刻ｔ_ｉを選定し、該時刻ｔ_ｉの平均値を時刻平均値ｔ_Ａとし、

上式を満足させる時刻ｔ_ｉがない場合、時刻平均値ｔ_Ａ＝ｔ_{Ｍ１（１）}として、下式でΔｔ_Ａを求め、

分析用２次シース反射Ｍ_１波起生時刻ｔ_{Ｍ１（２）}及び分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）を下式群に基づいて取得するとともに、

下式のｄｓを分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）に、下式のｔ_ｐを前記分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）に置き換えて、分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）を取得し、

前記第３の分析手段、及び前記第４の分析手段における前記分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）を分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）に置き換えて、前記第３の分析手段、及び前記第４の分析手段による再度の分析によって、分析用１次時系列ＧＣ_（１）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}の代わりに分析用２次時系列ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を作成し、さらに、前記第５の分析手段による再度の分析で前記分析用２次時系列ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}に分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）を用いた前記台形窓関数Ａのｔ_ｐ（２）－Δｔ_ｐ１を始点時刻ｔ_始とし、ｔ_ｐ（２）＋Δｔ_ｐ２を終点時刻ｔ_終とする掃引処理を適用し、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及び時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を作成し、次に、ＷＡＶＥ加算平均波ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を下式で作成し直すともに、

前記ＷＡＶＥ加算平均波ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}のＦＦＴ変換でスペクトルＦＣ_（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を求め、さらに下式に基づいてスペクトルＦＣ^～ _（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を作成し、

前記スペクトルＦＣ^～ _（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}の位相情報を、前記スペクトルＦＣ_（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}の位相情報に変更したのち、前記スペクトルＦＣ^～ _（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}のＦＦＴ逆変換でＳＰ加算平均波ＧＣ^～ _（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を作成し、再々度の前記第５の分析手段による前記台形窓関数Ａのｔ_ｐ（２）－Δｔ_ｐ１を始点時刻ｔ_始とし、ｔ_ｐ（２）＋Δｔ_ｐ２を終点時刻ｔ_終とする掃引処理を前記ＳＰ加算平均波ＧＣ^～ _（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}に適用し、前記分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）とするＳＰ加算の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及び時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を作成し直したのち、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎＡ～ｎ１}とＳＰ加算の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}とを用いて測点ｉ＝ｎＡ～ｎ１各々での、及びＳＰ加算ｉ＝ｎｗ＋１でのグラウト充填状態を、空充判定線分α^～ _σ（＝α_σ＋０．０６）値、及び前記分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）に応じて設定された時刻を＊値とする空充判定カーソルｔ_＊＝ｔ_ｐ（２）＋＊を用いて取得した時刻ｔ_＊での時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ_＊）｜_ｉが、ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ_＊）｜_ｉ≦α^～ _σの場合に「完全充填」と自動判定し、該判定結果及び時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を表示部に表示する処理手段であり、前記第８の分析手段の前記第２ＴＢ処理手段は、ｎ１＜ｎＢの場合において、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎ１＋１～ｎＢ}ごとに時刻ｔ_ｐ（１）－Δｔ_Ｂ１と時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_Ｂ２の間で増加傾向にあり、時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_Ｂ２で閾値α_σを超える時、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎ１＋１～ｎＢ}ごとに時刻ｔ_ｐ（１）－Δｔ_Ｂ１と時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_Ｂ２との間で閾値α_σを超える時刻をｔ_ｉとし、測点ｉごとの時刻ｔ_ｉの平均値である時刻平均値ｔ_Ａを求め、下式に基づいてΔｔ_Ａを取得するとともに、

下式に基づいて分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）を取得し、

下式のｄｓを分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）に、下式のｔ_ｐを前記分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）に置き換えて、分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）を取得し、

前記第３の分析手段、及び前記第４の分析手段における前記分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）を分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）に置き換えて、前記第３の分析手段、及び前記第４の分析手段による再度の分析によって、分析用１次時系列ＧＣ_（１）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}の代わりに分析用２次時系列ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を作成し、さらに、前記第５の分析手段による再度の分析で前記分析用２次時系列ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}に分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）を用いた前記台形窓関数Ａのｔ_ｐ（２）－Δｔ_ｐ１を始点時刻ｔ_始とし、ｔ_ｐ（２）＋Δｔ_ｐ２を終点時刻ｔ_終とする掃引処理を適用し、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及び時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を作成し、次に、ＷＡＶＥ加算平均波ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を下式で作成し直すとともに、

前記ＷＡＶＥ加算平均波ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}のＦＦＴ変換でスペクトルＦＣ_（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を求め、さらに下式に基づいてスペクトルＦＣ^～ _（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を作成し、

前記スペクトルＦＣ^～ _（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}の位相情報を、スペクトルＦＣ_（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}の位相情報に変更したのち、前記スペクトルＦＣ^～ _（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}のＦＦＴ逆変換でＳＰ加算平均波ＧＣ^～ _（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を作成し、再々度の前記第５の分析手段による前記台形窓関数Ａのｔ_ｐ（２）－Δｔ_ｐ１を始点時刻ｔ_始とし、ｔ_ｐ（２）＋Δｔ_ｐ２を終点時刻ｔ_終とする掃引処理を前記ＳＰ加算平均波ＧＣ^～ _（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}に適用し、前記分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）とするＳＰ加算の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及び時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を作成し直したのち、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎ１＋１～ｎＢ}とＳＰ加算の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}とを用いて測点ｉ＝ｎ１＋１～ｎＢ各々での、及びＳＰ加算ｉ＝ｎｗ＋１でのグラウト充填状態を、空充判定線分α^～ _σ（＝α_σ＋０．０６）値、及び前記分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）に応じて設定された時刻を＊値とする空充判定カーソルｔ_＊＝ｔ_ｐ（２）＋＊を用いて得る時刻ｔ_＊での時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ_＊）｜_ｉが、α^～ _σ＋０．１８＜ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ_＊）｜_ｉの場合に「未充填」と自動判定し、α^～ _σ＜ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ_＊）｜_ｉ≦α^～ _σ＋０．１８の場合に「充填不足」と自動判定し、該判定結果及び時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を表示部に表示する処理手段であることを特徴とする。
この発明によれば、非破壊検査装置、及びこれを用いた非破壊検査方法は、グラウト充填状態を効率よく、かつ精度よく非破壊検査することができる。

この発明の態様として、前記第２の分析手段は、前記Ａ_Ｋ（ｆ）フィルタ関数をＡ_Ｇ（ｆ）^ｎＧフィルタ関数に置き換えて、測点ｉ＝１～ｎｗ＋１での前記分析用スペクトルＦＡ（ｆ）｜_ｉ、及び前記分析用時系列ＧＡ（ｔ）｜_ｉを取得する手段であり、前記Ａ_Ｇ（ｆ）^ｎＧフィルタ関数は、（ｆ_ｗ＋ｆ_２ ^～）／２（ただし、ｆ_２ ^～＝８０ｋＨｚ）を振動数ｆ_ｋとして、振動数ｆ＝０．０で「０．０」となり、振動数ｆ_ｋで「１．０」となるｓｉｎ形状増加関数、前記振動数ｆ_ｋで「１．０」となり、前記振動数ｆ_ｋ×２で「０．０」となるｓｉｎ形状減少関数、そして前記振動数ｆ_ｋ×２以上で「０．０」となる関数であり、前記Ａ_Ｇ（ｆ）^ｎＧフィルタ関数のｎＧ値は、前記振動数ｆ_ｗをオペレータの操作によって設定された４０ｋＨｚ－Δｆ_ｗ＜ｆ_ｗ＜４０ｋＨｚ＋Δｆ_ｗ（ただし、Δｆ_ｗ＝５ｋＨｚ）の範囲のいずれかの値として、前記分析用スペクトルＦＡ（ｆ）｜_ｉが、測点ｉのいずれかで振動数ｆ_ｗ～振動数ｆ_２ ^～＝８０ｋＨｚの間で最大スペクトル値となるときの値であり、前記第４の分析手段は、前記第３の分析手段で取得したスペクトルＦＢ（ｆ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}ごとに前記振動数ｆ_ｗ以下での最大スペクトル値を１．０に基準化し、前記振動数ｆ_ｗ以上での最大スペクトル値を前記閾値α_σとする手段であり、前記第５の分析手段は、前記時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及び前記時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（１）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}の代わりに、それぞれ時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ１，２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及び時刻掃引ｆ_０，（ｆ_１～ｆ_２）スペクトルＳＰ_{ｆ１，２（１）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を作成する手段であり、前記第６の分析手段は、前記時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ１，２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎＡ～ｎＢ}のスペクトル値が、前記特性ＴＡまたは前記特性ＴＢのいずれであるかを特定し、かつ前記境界測点ｎ１を特定する手段であり、前記第７の分析手段、及び前記第８の分析手段は、前記時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_ｉ、及び前記時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_ｉの代わりに、それぞれ時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｔ）｜_ｉ、及び時刻掃引ｆ_０，（ｆ_１～ｆ_２）スペクトルＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_ｉを作成し、前記時刻ｔ_＊での前記時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ_＊）｜_ｉに代えて、前記時刻ｔ_＊での時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｔ_＊）｜_ｉを求めて、グラウト充填状態を判定する手段であってもよい。
この構成によれば、非破壊検査装置、及び非破壊検査方法は、グラウト充填状態をさらに効率よく、かつ精度よく非破壊検査することができる。

本発明により、グラウト充填状態を効率よく、かつ精度よく非破壊検査できる非破壊検査装置、及び非破壊検査方法を提供することができる。

シース反射波計測の概略を説明する概略図。 シース反射波起生時刻帯域の振動数とスペクトル値との関係を説明する説明図。 残存波が混入したシース反射波の概略を説明する説明図。 空シースの振動挙動で生じる波の概略を説明する説明図。 振動挙動波の発生状況の概略を説明する説明図。 既設橋梁での測定位置の違いで生じる受信波の概略を説明する説明図。 閾値α_σを用いたスペクトル波形変換処理の概略を説明する説明図。 非破壊検査装置の構成を示す構成図。 グラウト充填状態を説明する説明図。 非破壊検査装置の内部構成を示すブロック図。 コンクリートの内部を伝播する超音波の概略を示す概略図。 コンクリートの内部を伝播する超音波の概略を示す概略図。 多点計測の概略を示す概略図。 閾値分析処理の概略を説明する説明図。 閾値分析処理の概略を説明する説明図。 閾値分析処理の概略を説明する説明図。 閾値分析処理の概略を説明する説明図。 閾値分析処理の概略を説明する説明図。 閾値分析処理の概略を説明する説明図。 閾値分析処理の概略を説明する説明図。 閾値分析処理の概略を説明する説明図。 反射Ｐ波自動化分析処理の動作を示すフローチャート。 第１の処理の動作を示すフローチャート。 第１の処理の動作を示すフローチャート。 桁梁、及び側壁端部の計測状況の概略を示す概略図。 反射Ｐ波自動化分析処理の概略を説明する説明図。 分析用１次かぶり厚パターンを説明する説明図。 分析例１における概略を説明する説明図。 分析例１における概略を説明する説明図。 分析例１における概略を説明する説明図。 分析例１における概略を説明する説明図。 分析例２における概略を説明する説明図。 分析例２における概略を説明する説明図。 分析例２における概略を説明する説明図。 分析例３における概略を説明する説明図。 分析例３における概略を説明する説明図。 分析例３における概略を説明する説明図。 分析例４における概略を説明する説明図。 分析例４における概略を説明する説明図。 閾値反射Ｐ波分析法の正当性の検証を説明する説明図。 閾値反射Ｐ波分析法の正当性の検証を説明する説明図。 中心間距離ａ／直線距離ｄの大小によるシース反射Ｐ波、シース反射Ｍ_１波、及びシース反射Ｍ_２波の起生状況を説明する説明図。 反射Ｐ波計測の最適探触子間隔の概略を説明する説明図。 桁、箱桁端部の反射Ｐ波計測探触子配置を説明する説明図。 Ａ_Ｋ（ｆ）フィルタ関数、及びＡ_Ｇ（ｆ）^ｎＧフィルタ関数を説明する説明図。 Ａ_Ｇ（ｆ）^ｎＧフィルタ関数を用いた閾値反射Ｐ波自動化分析の概略を説明する説明図。 Ａ_Ｇ（ｆ）^ｎＧフィルタ関数を用いた分析を説明する説明図。 Ａ_Ｇ（ｆ）^ｎＧフィルタ関数を用いた分析を説明する説明図。 箱桁ＰＣ橋梁のグラウト充填状態探査計測位置を説明する説明図。

この発明の一実施形態を以下図面と共に説明する。
＜本発明で利用する物理現象＞
まず、グラウト充填状態の非破壊検査における受信超音波のスペクトル特性について説明する。

超音波は、音響インピーダンスの異なる物質の界面で反射する特性がある。音響インピーダンスは、超音波が物質を伝播する際の抵抗値を表現しており、音響インピーダンスが高くなれば抵抗値が低くなり、逆に音響インピーダンスが低くなれば抵抗値が高くなる。

空気の音響インピーダンスは極めて低いため、超音波は、空洞があると、空洞でほぼ全反射し大きな振幅の反射波が発生する。一方、密実であると超音波の反射率が低いため、振幅の小さい反射波が発生する。

図１に示すように、シース管の直上のコンクリート平面に発信探触子及び受信探触子を配置するシース反射波計測において、発信探触子から超音波をコンクリート表面に入力した場合、超音波は大きく分けて３つの伝播経路をたどって受信探触子に到達する。

この受信探触子が受信する受信波は、図１（ａ）及び図１（ｂ）に示すように、コンクリート内部を迂回するように伝達する直接波（ＤＩ波）と、コンクリート表面に自然発生し伝達する表面波（縦波である表面Ｐ_１波、及び横波である表面Ｓ_１波）と、シース管で反射して戻ってくるシース反射波である。これらの波は、伝播経路が異なるためその性質もそれぞれ異なる。

直接波（ＤＩ波）、及び表面波（表面Ｐ_１波、表面Ｓ_１波）は、指向性の低い低振動帯域の超音波が支配的である。一方、シース反射波は、指向性の高い高振動帯域の波が支配的である。
シース反射波が大きく卓越する振動数が複数あり、そのスペクトルにおいては、グラウト充填状態が未充填の場合で高振動数側が大きくなり、グラウト充填状態が完全充填の場合で低振動数側が大きくなっている。この現象を利用する事が、本発明の根幹の１つである。

図２（ａ）は、受信探触子が受信した受信波のシース反射波起生時刻帯域（図１（Ｃ）中の破線で囲われた領域）における表面Ｐ_１波、表面Ｓ_１波、及び直接波（ＤＩ波）の後方残存波のスペクトル概念図であり、合成波残存スペクトルを示している。なお、中心振動数ｆ_０は、略２０ｋＨｚ前後である。

また、図２（ｂ）はシース反射波起生時刻帯域におけるシース反射波のスペクトル概念図であり、大口径のシース管における高振動数（ｆ_１、ｆ_２）帯域スペクトルを示している。さらに、図２（ｂ）中の実線は、グラウト充填状態が未充填の場合を示し、図２（ｂ）中の破線はグラウト充填状態が充填状態の場合を示している。
なお、図２は、中心振動数ｆ_０での最大スペクトル値を基準値「１．０」として、振動数毎のスペクトル値を基準値「１．０」に対する相対値に置き換えて図示している。

一般的に、既設ＰＣ橋梁コンクリート（コンクリート縦波音速＝４３００ｍ／秒前後）では、多くの計測例より振動数ｆ_１が４０ｋＨｚを超える値、振動数ｆ_２が６０～８０ｋＨｚの値であることが確認されている。振動数ｆ_１、及び振動数ｆ_２は、コンクリート強度（コンクリート縦波音速）が大きくなると高振動数側へ、コンクリート強度が小さくなると低振動数側へ移動する。

シース反射Ｐ波の上に図１中の表面Ｐ_１波、表面Ｓ_１波、及び直接波（ＤＩ波）の後方残存波が混入するため、シース反射波起生時刻帯域のスペクトルは、図３（ａ）に示すように、位相情報を無視すれば、図２（ａ）と図２（ｂ）とを加算したようなスペクトル概念図となる。

図３（ａ）のスペクトル概念図において、表面Ｐ_１波、表面Ｓ_１波、及び表面波（ＤＩ波）の振動数ｆ_０でのスペクトル値は、計測点毎のコンクリートの性状が同一であれば、グラウト充填状態が未充填、完全充填にかかわらず略等しいと考えることができる。
図３（ｂ）は、小口径のシース管の場合におけるシース反射Ｐ波の起生時刻帯域のスペクトル概念図を示している。

シース管の直径が小さくなると反射振幅が小さくなることにより、振動数ｆ_１、及び振動数ｆ_２のスペクトル値が小さくなる。このため、グラウト充填状態が未充填と完全充填とで、このスペクトル値の大小の差分も小さくなっている。

実際には、シース管以外の反射源で反射した反射波、例えば、鉄筋、微細割れ、隣接するシース管、及びコンクリート面端部からの表面反射波が、シース反射Ｐ波に混入してくる。
さらに、２段目シース、ＷＥＢ厚、ＷＥＢ底面コーナーからの反射波等の大きな振幅の波（以降、探査妨害波と呼ぶ）がシース反射Ｐ波の後方に混入してくる。

このため、小口径のシース管の場合、図３（ｂ）の振動数ｆ_１及び振動数ｆ_２のスペクトルの大小関係のみを利用して、グラウト充填状態が未充填か完全充填かを判断することは、極めて困難となる。

ところで、出願人は、グラウト充填状態が未充填の場合、シース管に入力される入力Ｐ波または入力Ｓ波によりシース管が自励振動挙動し、この波における振動数ｆ_１、及び振動数ｆ_２のスペクトルが、図４（ａ）のようになると考えている。

小口径のシース管であっても、シース反射波の起生時刻帯域におけるスペクトル形状は、図３（ｂ）と図４（ａ）を重ね合わせたものとなり、図３（ａ）に酷似したスペクトル比較図となる。グラウト充填状態が未充填のシース管の場合、振動数ｆ_１、及び振動数ｆ_２でのスペクトル値が、グラウト充填状態が完全充填のシース管に比べて大きくなってくる。

図４に示したグラウト充填状態が未充填のシース管において、シース管の振動挙動で生じる波のスペクトルは、コンクリート打設後、日の浅い日時と経年後とで、その値の大小関係が大きく異なっている。コンクリート打設直後では、シース管廻りのコンクリートとシース管とが境界で密着しており、経年でその境界が剥離し、密着状態が密接状態に変化してくると考える。さらに、実橋では、車両の走行により、常に振動挙動を呈しているため、この変化の度合が大きくなる。

このため、グラウト充填状態が未充填のシース管での振動挙動波の振動は、図５に示すように、コンクリート打設時点では小さく、経年で大きくなっていくはずである。図４に示した未充填のシース管での振動挙動のスペクトル値が大きくなるという現象は、既設ＰＣ橋梁の場合、グラウト充填状態の確認にとって都合のよい現象である。

＜本発明の分析の根幹＞
図６は、既設ＰＣ橋梁でのシース管の受信波スペクトルの模式図を示している。図６（ａ）、図６（ｂ）、図６（ｃ）、及び図６（ｄ）は、シース管の直上において、シース管の長手方向に離隔した測定点での受信波のスペクトル模式図をそれぞれ示している。
図６では、振動数ｆ_ｗよりも低振動数側の最大スペクトル値を基準値「１．０」として、振動数毎のスペクトル値を基準値「１．０」に対する相対値に置き換えて図示している。なお、最大スペクトル値を基準値「１．０」として、振動数または時刻ごとのスペクトル値を基準値「１．０」に対する相対値に置き換えることを、以降「基準化」と呼ぶ。

受信波スペクトルは、振動数ｆ_ｗよりも高振動数側のスペクトル値が極めて大きい場合もあれば、小さい場合もある。本来、受信波スペクトルのスペクトル形状は、計測点毎に略同一となるはずだが、そのようになっていない。

既設ＰＣ橋梁は、築後４０年から６０年経過している場合も多数あり、桁、箱桁のコンクリート表面が凸凹した場合もあれば、コンクリート表面、及びコンクリート内部が極度に劣化している場合もある。
さらに、既設ＰＣ橋梁は、コンクリート表層に埋設される鉄筋の配置が不均一で、鉄筋の配置間隔が狭い場合もあれば、広い場合もある。
加えて、既設ＰＣ橋梁は、コンクリート表層に超音波の進行を遮断するひび割れ、または目視し難い亀の子状の微細なひび割れが多数存在する場合もある。

さらにまた、コンクリート表層が劣化している場合、発信探触子、及び受信探触子をコンクリート表面に配置する際、多量の超音波伝達媒質をコンクリート表面に塗布するが、短時間のうちにコンクリート内部に浸透することで、受信超音波の特性が大きく変化する。
このように、様々な理由が合わさることで、図６のような現象が生じている。この問題への対処が本発明にける分析の根幹の１つである。

そこで、スペクトル値の閾値α_σを設定し、図６に示す基準化表示スペクトルにおいて、振動数ｆ_ｗよりも高振動数側で最大スペクトル値εが閾値α_σより小さい場合は、図７（ａ）に示すように、最大スペクトル値εを閾値α_σまで増幅して得たスペクトルを、グラウト充填状態の分析に用い、最大スペクトル値εが閾値α_σよりも大きい場合は、図７（ｂ）に示すように、最大スペクトル値εを閾値α_σまで減幅して得るスペクトルを、グラウト充填状態の分析に用いる閾値分析法と名付ける計測分析法を創り上げている。

＜本実施形態のシース反射Ｐ波閾値分析に基づく非破壊検査装置、及び非破壊検査方法＞
次に、本実施形態における超音波を用いたシース反射Ｐ波非破壊検査装置、及びこの装置を用いたシース反射Ｐ波非破壊検査方法について説明する。
本実施形態の非破壊検査装置１０は、ポストテンション工法で製造された図４９に示すような橋梁の主桁、横桁、箱桁、及び底版などのコンクリート構造物において、コンクリート構造物の内部に埋設されたシース管２のグラウト充填状態を非破壊検査するものである。このような非破壊検査装置１０について、図８から図１３を用いて説明する。

なお、図８は非破壊検査装置１０の構成図を示し、図９はグラウト充填状態を説明する説明図を示し、図１０は非破壊検査装置１０のブロック図を示し、図１１及び図１２はコンクリート４の内部を伝播する超音波の概略図を示し、図１３は多点計測の概略図を示している。

さらに、図９（ａ）はグラウト充填状態が完全充填の状態におけるシース管２の断面図を示し、図９（ｂ）はグラウト充填状態が充填不足の状態におけるシース管２の断面図を示し、図９（ｃ）はグラウト充填状態が未充填の状態におけるシース管２の断面図を示している。

まず、検査対象物であるプレストレストコンクリート構造物１について説明する。
プレストレストコンクリート構造物１は、図８及び図９（ａ）に示すように、略円筒状のシース管２と、シース管２の内部に配置したＰＣ鋼材３と、シース管２の外周面側に打設したコンクリート４とで構成している。
なお、ＰＣ鋼材３は、図９（ａ）に示すように、複数の鋼線３ａを練り合せて形成されている。

このプレストレストコンクリート構造物１は、型枠内の所定位置にシース管２を配置したのち、型枠内にコンクリート４を打設する前、あるいは型枠内にコンクリート４を打設した後、シース管２内にＰＣ鋼材３を挿入している。

そして、コンクリートの養生期間が経過したのち、所定張力で緊張させたＰＣ鋼材３を内包するシース管２をコンクリート４に定着させて形成している。これにより、プレストレストコンクリート構造物１は、コンクリート４の内部に、シース管２の長手方向に沿った圧縮応力を発生させている。

さらに、シース管２の内部には、図９（ａ）に示すように、ＰＣ鋼材３の防錆のために、セメントミルクなどのグラウト５を充填している。このグラウト５が、図９（ａ）に示すように、シース管２の内部に隙間なく充填されたグラウト充填状態を完全充填とする。なお、グラウト充填状態が完全充填のシース管２を、充填シースとする。

また、グラウト充填状態の他の態様として、グラウト５が、図９（ｂ）に示すように、シース管２の内部に十分充填されておらず、シース管２の内部に空隙部分を有するグラウト充填状態を充填不足とする。
また、グラウト５が、図９（ｃ）に示すように、シース管２の内部に充填されていないグラウト充填状態を未充填とする。なお、グラウト充填状態が未充填のシース管２を、空シースとする。

そして、本実施形態における非破壊検査装置１０は、計測対象のシース管２のグラウト充填状態を非破壊検査する装置である。
この非破壊検査装置１０は、図８及び図１０に示すように、プレストレストコンクリート構造物１のコンクリート上面４ａに配設される面発信ユニット１１、及び面受信ユニット１２と、面発信ユニット１１、及び面受信ユニット１２が電気的に接続される解析機器１３とで構成している。

面発信ユニット１１は、図８に示すように、シース管２の直上に位置するコンクリート上面４ａに配置されている。この面発信ユニット１１は、図８に示すように、コンクリート上面４ａに接する底面が、超音波を発信する発信探触子１１ａとして構成されている。

そして、面発信ユニット１１は、解析機器１３からの超音波発信信号を受付ける機能と、超音波発信信号に基づいて発信探触子１１ａがコンクリート上面４ａからプレストレストコンクリート構造物１の内部に超音波Ｅ（図１３参照）を入力する機能とを有している。

面受信ユニット１２は、図８に示すように、面発信ユニット１１に対して計測対象のシース管２の長手方向に離隔し、シース管２の直上に位置するコンクリート上面４ａに配置されている。この面受信ユニット１２は、図８に示すように、コンクリート上面４ａに接する底面が、超音波を受信する受信探触子１２ａとして構成されている。

そして、面受信ユニット１２は、プレストレストコンクリート構造物１の内部を伝播した超音波Ｅを入射波Ｒ（図１３参照）として受信探触子１２ａで受信する機能と、受信した入射波Ｒを示す受信信号を解析機器１３に送信する機能とを有している。

解析機器１３は、図１０に示すように、面発信ユニット１１が接続される発信ユニット接続部１３１と、面受信ユニット１２が接続される受信ユニット接続部１３２と、各種情報を記憶する記憶部１３３と、作業者の操作を受付ける操作部１３４と、各種情報を表示する表示部１３５と、これらを制御する制御部１３６とで構成している。
なお、解析機器１３は、後述する第１の収録処理、第２の収録処理、第１の分析処理、第２の分析処理、第１の処理、第２の処理、及び第３の処理を実現する手段として構成されている。

発信ユニット接続部１３１は、制御部１３６からの指示によって、面発信ユニット１１に対して超音波発信信号を出力する機能を有している。
受信ユニット接続部１３２は、面受信ユニット１２からの受信信号を受付ける機能と、受信信号を制御部１３６に送信する機能とを有している。

記憶部１３３は、ハードディスクあるいは不揮発性メモリなどで構成し、各種情報を書き込んで記憶する機能と、各種情報を読み出す機能とを有している。この記憶部１３３は、グラウト充填状態を解析する解析プログラム、作業者が入力した各種パラメーターなどを記憶している。

操作部１３４は、キーボードなどで構成し、作業者による入力操作を受け付ける機能を有している。
表示部１３５は、液晶ディスプレイなどで構成し、各種パラメーターの入力を促す入力画面や、解析結果を示す解析結果画面などの各種情報を表示する機能を有している。

制御部１３６は、ＣＰＵ及びメモリなどで構成し、面発信ユニット１１への超音波発信信号の出力に係る各種処理機能と、面受信ユニット１２からの受信信号に基づいたグラウト充填状態の解析に係る各種処理機能と、所定のバスを介して接続された各部の動作を制御する機能とを有している。

具体的には、制御部１３６は、３～５ｍｍ秒毎に５００～７００回の超音波Ｅを連続発信するように、面発信ユニット１１の動作を制御する処理機能と、面受信ユニット１２を介して連続受信した入射波Ｒに基づいて加算平均波を作成する処理機能とを有している。

さらに、制御部１３６は、この加算平均波を受信波として表示可能にする処理機能と、加算平均波を記憶部１３３に記憶する処理機能と、グラウト充填状態を判定する処理機能などを有している。なお、これら処理機能は、解析プログラムを実行することで実現している。

このような非破壊検査装置１０は、シース反射Ｐ波を計測する場合、図１１に示すように、シース管２の長手方向に沿った発信探触子１１ａと受信探触子１２ａとの中心間距離ａが１１０ｍｍから２００ｍｍのいずれかの値となるように配置する。

図１１のシース反射Ｐ波計測によれば、シースかぶり厚ｄｓが浅い場合、シース反射Ｐ波の上に表面Ｐ_１波、表面Ｓ_１波、及び直接波（ＤＩ波）が混入する。

さらに、コンクリート上面４ａの位置によっては、表層に配置される鉄筋の間隔が密となる場合があり、鉄筋経路波、及び鉄筋反射波がシース反射Ｐ波の上に直接に混入し、シース反射Ｐ波を用いるグラウト充填状態の分析では、充填シースを空シースとする誤分析が多発する。この問題への対処のために、図１２のシース反射Ｓ波計測を準備している。

中心間距離ａを大きくすることで、面受信ユニット１２で受信する表面Ｐ_１波、表面Ｓ_１波の振幅が減少する現象を利用し、かつシース管２のグラウト充填状態を示す情報を持つ図１２（ａ）のシース反射Ｓ波、図１２（ｂ）の直接波（ＤＩ波）、図１２（ｃ）のシース自励振動波の混合波を用いる分析を準備し、計測分析オペレータの判断で、反射Ｐ波計測とするか、反射Ｓ波計測とするか決めている。

この判断は、ＲＣレーダ計測で得る、または他の手段で得るシースかぶり厚ｄｓを用いて、シースかぶり厚ｄｓが１５０ｍｍ以上の場合、中心間距離ａを１１０ｍｍ～２００ｍｍのいずれかの値とする反射Ｐ波計測とし、シースかぶり厚ｄｓが１５０ｍｍより浅い場合、中心間距離を３７５ｍｍまたは５００ｍｍとする反射Ｓ波計測としている。

一方、反射Ｐ波計測分析は、図１１に示す個々の受信波を用いる単一点計測と、図１３（ａ）に示す多点計測（測点ｉ＝１～ｎｗ）のいずれかとしている。図１３（ａ）の計測分析は、測点ｉ＝１～ｎｗの個々の受信波に生ずる予期し得ない探査妨害波の影響を除去するために測点ｉ＝１～ｎｗの受信波の加算平均波を分析で用いる方法も具備している。

＜シースの充填状態閾値分析概要＞
引き続き、反射Ｐ波計測分析を用いて閾値分析の処理の概要を説明する。
非破壊検査装置１０の制御部１３６が行う計測対象のシース管２（以降、計測対象シースと呼ぶ）のグラウト充填状態の閾値分析処理について、閾値分析処理の概略を説明する説明図を示す図１４から図２１を用いて説明する。

なお、本説明で用いる計測対象シースとして、削孔で未充填（空シース）と判明している中心間距離ａ＝２００ｍｍで計測した後述する表３に示す分析例２のシース管（シース径φ_ｓ３８、レーダ計測かぶり厚ｄｓ｜_ＲＣ＝２４８ｍｍ、２段目シースかぶり厚ｄ_２ｓ＝４８１ｍｍ、版厚ｄｗ＝６５０ｍｍ）を用いる。

図１４（ａ）は、受信波スペクトルＦ（ｆ）｜_ｉ、及び受信波Ｇ（ｔ）｜_ｉとして、測点ｉ＝１～４での受信波と、加算平均波ｉ＝５を並べて図示している。振動数ｆ_１の帯域、振動数ｆ_２帯域に大きな値のスペクトルが生じている事例である。図１４（ａ）は、図６（ｃ）と図６（ｄ）の中間程度のスペクトル形状と判断できる。

図２（ｂ）中のシース反射波の振動数ｆ_２でのスペクトルをグラウト充填状態の分析用スペクトルに選定して詳述する。
振動数ｆ_１でのスペクトルを選定除外する理由は、予期せぬ探査妨害波のスペクトルが低振動数側に、より多く混入する危険性があるからである。

図１４（ａ）の受信波スペクトルＦ（ｆ）｜_{ｉ＝１～５}に、オペレータの操作によって設定される振動数ｆ_ｗが５０ｋＨｚ－Δｆ_ｗ＜ｆ_ｗ＜５０ｋＨｚ＋Δｆ_ｗ（Δｆ_ｗ＝５ｋＨｚ）の範囲のいずれかであるＡ_Ｋ（ｆ）フィルタ関数（図１４（ｂ）参照）を乗じて、ｆ_０、ｆ_２スペクトルのみを抽出して得るスペクトルを分析用スペクトルＦＡ（ｆ）｜_{ｉ＝１～５}とし、対応する時系列をＧＡ（ｔ）｜_{ｉ＝１～５}として図１４（ｂ）を求め、これをグラウト充填状態の分析で用いるスペクトル及び時系列としている。

さらに、計測対象シース以外の反射源等によって、シース反射Ｐ波前方、及び後方に生じる波の分析結果への悪影響を減らすために、分析で用いる分析用切り出し波ＧＢ（ｔ）｜_{ｉ＝１～５}（以降、分析用切り出し波と呼ぶ）を、図１５（ａ）のように求めている。

図１５（ａ）中の時刻フィルタ関数ＴＧＣ１（ｔ）、及びＴＧＣ２（ｔ）を、本閾値分析概要では、式１に示すシース反射Ｐ波の起生時刻ｔ_ｈ＝ｔ_ｐを基準にして作成している。時刻フィルタ関数ＴＧＣ１（ｔ）は、時刻ｔ＝０が「０．０」、時刻ｔ＝０からｔ_ｈがｓｉｎ形状増加関数、時刻ｔ＝ｔ_ｈ以上が「１．０」となる関数としている。
一方、時刻フィルタ関数ＴＧＣ２（ｔ）は、時刻ｔ＝０からｔ_ｈが「１．０」、時刻ｔ＝ｔ_ｈが「１．０」、時刻ｔ＝４００μ秒が「０」となるｓｉｎ形状減少関数としている。

シース反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐが既知の場合、対応するシースかぶり厚ｄｓは、式２で計算される。

ここで、０．５～０．７５の範囲でオペレータが設定する値を閾値α_σとし、以降の説明では閾値α_σ＝０．５として説明する。
図１５（ａ）の分析用切り出し波ＧＢ（ｔ）｜_{ｉ＝１～５}に対するスペクトル比較図は、図１５（ｂ）に示すスペクトルＦＢ（ｆ）｜_{ｉ＝１～５}のようになる。図１５（ｂ）を用いて、グラウト充填状態の分析用スペクトルを閾値α_σ＝０．５として、図１５（ｃ）のＦＣ（ｆ）｜_{ｉ＝１～５}を求めている。

この処理は図６のスペクトルにおいて、α_σなる閾値を設定し、図６（ａ）、図６（ｂ）、図６（ｃ）、及び図６（ｄ）のいずれのスペクトルにおいても、振動数ｆ_ｗよりも低振動数側の最大スペクトル値を「１．０」とし、振動数ｆ_ｗよりも高振動数側の最大スペクトル値を「閾値α_σ＝０．５」とするスペクトル形状変換処理である。図６（ｂ）、及び図６（ｄ）で、この処理を、それぞれ図７（ａ）及び図７（ｂ）に示している。

図１５（ｃ）の閾値α_σ＝０．５でスペクトル形状変換が施されたスペクトルに対応する図１６（ａ）の時系列で、ＲＣレーダ計測かぶり厚ｄｓ｜_ＲＣをｄｓとし、式１で得るシース反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐをｔ_ｐ｜_ＲＣとして、図示する台形窓関数Ａを時刻ｔ_始＝ｔ_ｐ｜_ＲＣ－１９μ秒から時刻ｔ_終＝ｔ_ｐ｜_ＲＣ＋８２μ秒まで、順次移動させるたび、この台形窓関数Ａの前記時系列への乗算で得る振動数ｆ_２帯域の最大スペクトル値ＳＰ_ｆ２の変化を、時間を横軸にして作図すると、図１６（ｂ）を得る。詳細は、後述する第５の分析処理で詳述する。

なお、表示する最大スペクトル値ＳＰ_ｆ２は、台形窓関数Ａの移動毎に得るｆ_０、ｆ_２スペクトルにおいて、振動数ｆ_ｗよりも低振動数側の最大スペクトル値を「１．０」に基準化した時、振動数ｆ_ｗよりも高周波数側の最大スペクトル値を意味している。以降、この図１６（ｂ）の分析結果ＳＰ_ｆ２（ｔ）を「時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_ｆ２」と呼ぶ。
なお、図１６（ａ）、及び図１６（ｂ）で示すシースかぶり厚ｄｓ＝２４８ｍｍは、別途ＲＣレーダで計測された計測対象シースの測点ｉ＝１でのかぶり厚である。

図１６（ｂ）で、時刻ｔ_ｐ（＝ｔ_ｐ｜_ＲＣ）より＊＝２０μ秒後方の時刻で、ｉ＝４波以外の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_ｆ２値が閾値α_σ＝０．５を超えている。この状況下で、本計測シース（削孔空）を「未充填（空）」と判定している。時刻ｔ_＊＝ｔ_ｐ＋＊＝ｔ_ｐ｜_ＲＣ＋＊での台形窓関数Ａによる切り出し波のスペクトルにおいて、振動数ｆ_ｗよりも低振動数側の最大スペクトル値と、振動数ｆ_ｗよりも高振動数側の最大スペクトル値とを比較し、大きい方のスペクトル値を「１．０」に基準化して得たＳＰ_ｆ２（ｆ，ｔ_＊）を図１７（ａ）に示している。

図１７（ａ）によれば、測点ｉ＝４以外で振動数ｆ_２（＝８０ｋＨｚ）近傍のスペクトル値が閾値α_σ＝０．５を大きく超えている。
さらに、加算平均波ｉ＝５（Ｎｏ．１＋Ｎｏ．２＋Ｎｏ．３＋Ｎｏ．４、ＳＰ加算）の時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルの起生状態を、横軸を振動数、斜軸を時刻とする図１７（ｂ）に示す。

なお、図１７（ｂ）は、計測対象シースの未充填（空）、充填不足、及び完全充填を視覚的に示すための表示であり、図１６（ａ）の台形窓関数Ａの時間的推移毎に得るスペクトルにおいて、振動数ｆ_ｗよりも低振動数側の最大スペクトル値と、高振動数側の最大スペクトル値とを比較し、大きい方のスペクトル値を「１．０」に基準化して得たＳＰ_ｆ２（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_ｉ＝５（以降、時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルと呼ぶ）であり、ｎｃ＝２として表示している。

以降、時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_ｆ２（ｆ，ｔ）は、分析結果の視認で未充填（空）、充填不足、及び完全充填の状態を、より明確に示すために、ＦＦＴスペクトルをＭＥＭ（最大エントロピー法）スペクトルに置き換えて表示している。

なお、ＭＥＭスペクトルは、数学分野では認知されているが、工学及び力学分野で一般的方法として用いられていない。しかしながら、台形窓関数Ａで切り出される極端に短い時系列に対応するスペクトルなどではＦＦＴスペクトルに比して極めて高精度となる。

ところで、既設ＰＣ橋梁では、２段目シースと計測対象シースのかぶり厚の差が１００ｍｍ前後の場合もあれば、計測対象シースの版厚との差が１００ｍｍ程度になることがある。
また、これ等の関係が把握されない状況下で、グラウト充填状態の探査を行う場合、グラウト充填状態の誤判定が頻発する。

例えば、分析用切り出し波の中に、振幅の大きな２段目シース及び版厚の反射Ｐ波が混入すると、図１５（ｃ）の閾値処理されたスペクトルの中に、これ等反射波の振動数ｆ_２でのスペクトルが多量に混入することで、グラウト充填状態を誤判定する。

この問題に対処する１つの方法は、図１５（ａ）に示した分析用切り出し波の時刻帯域を可能な限り狭めることである。図１８（ａ）は、この対処を成した分析用切り出し波の作成例である。図１８（ａ）では、計測対象シースのかぶり厚より１００ｍｍ及び１５０ｍｍ後方に存在を仮定した２段目シースまたは版厚の反射Ｐ波の起生時刻を縦カーソルで示している。

図１８（ａ）の分析用切り出し波に対応するＮｏ．１～Ｎｏ．４の受信波、Ｎｏ．５の加算平均のスペクトルを、閾値α_σ＝０．５を用いて形状変換すると、図１５（ｃ）の代わりに、図１８（ｂ）のスペクトル比較図を得る。

図１８（ｂ）の閾値処理されたスペクトルより、図１６（ｂ）に対応する時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_ｆ２を求めると、図１９（ａ）を得る。図１６（ｂ）と図１９（ａ）とを比較すると、スペクトル値の大小の違いはあるが、その形状は略同一である。

これにより、反射Ｐ波計測によるグラウト充填状態の分析では、分析用切り出し波を図１８（ａ）に示すような狭い時間帯域の切り出し波とすることを必須とすれば、コンクリート表面Ｓ_１波、浅く潜って伝達する直接波（ＤＩ波）、２段目シースまたは版厚反射波の存在によるグラウト充填状態の誤判定を自動的に排除できる。このため、以降の説明で用いる分析事例では、図１８（ａ）に示す狭い時間帯域の切り出し波を分析で用いる時系列としている。

次に、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_ｆ２を用いた「グラウト充填状態の確認方法」を説明する。
図１９（ａ）では、式１の計測対象シースかぶり厚ｄｓをＲＣレーダ計測によるレーダ計測かぶり厚ｄｓ｜_ＲＣに置き換え、シース反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐをｔ_ｐ｜_ＲＣに置き換えて算定したシース反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ｜_ＲＣを、図１６（ｂ）と同様に縦カーソルで表示している。ただし、レーダ計測かぶり厚ｄｓ｜_ＲＣ、シース反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｈ＝ｔ_ｐ｜_ＲＣを示す縦カーソル以外に、分析用かぶり厚ｄｓ^～、対応する時刻ｔ_ｈ＝ｔ_ｐ｜_ＲＣ＋Δｔ_ｐを示す縦カーソルを追加表示している（なお、ｄｓ^～は数式及び図中においてｄｓの上に“～”を付された符号を表す。以下同じ）。

図１９（ａ）によれば、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_ｆ２の時間的変化の経緯より、丸印で示す時刻がシース反射Ｐ波の起生時刻近傍と判断できる。測点ｉ＝１，２（図中のＮｏ．１、Ｎｏ．２）と測点ｉ＝３，４（図中のＮｏ．３、Ｎｏ．４）とで、シースかぶり厚が変化している。概略値だが、測点ｉ＝１、２での起生時刻が、レーダ計測かぶり厚ｄｓ｜_ＲＣの起生時刻に比べてΔｔ_ｖ１（＝６μ秒）後方となり、測点ｉ＝３、４での起生時刻がΔｔ_ｖ２（＝１７μ秒）後方となっている。

本例の場合、Δｔ_ｐをΔｔ_ｖ１とΔｔ_ｖ２との平均値として、式１で得るシース反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｈを、次の式３を用いて変更する。

式２でシース反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐをｔ_ｐ｜_ＲＣ＋Δｔ_ｐに置き換えて得た計測対象シースかぶり厚ｄｓを、分析用かぶり厚ｄｓ^～＝２７１ｍｍとして、その位置を縦カーソルで追加表示している。
さらに、図１９（ａ）では、シース反射Ｍ_１波の起生時刻ｔ_Ｍ１に関する時刻ｔ_Ｍ１｜_ＲＣ、及び時刻ｔ_Ｍ１｜_ｄｓ ^～を縦カーソルで示している。

時刻ｔ_Ｍ１｜_ＲＣは、シースかぶり厚をレーダ計測かぶり厚ｄｓ｜_ＲＣとしたときのシース反射Ｍ_１波の起生時刻であり、式４のシースかぶり厚ｄｓをレーダ計測かぶり厚ｄｓ｜_ＲＣに置き換えて求めるシース反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐを、式５及び式６を適用してシース反射Ｍ_１波の起生時刻ｔ_Ｍ１を求め、これを時刻ｔ_Ｍ１｜_ＲＣとしている。なお、シース反射Ｍ_２波の起生時刻は、式６で示されている。

時刻ｔ_Ｍ１｜_ｄｓ ^～はシースかぶり厚を分析用かぶり厚ｄｓ^～としたときのシース反射Ｍ_１波の起生時刻であり、式４のシースかぶり厚ｄｓを分析用かぶり厚ｄｓ^～に置き換えて求めるシース反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐを式５、及び式６に適用してシース反射Ｍ_１波の起生時刻ｔ_Ｍ１を求め、これを時刻ｔ_Ｍ１｜_ｄｓ ^～としている。

図１８（ａ）の分析用切り出し波の取得で、シース反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｈ＝ｔ_ｐをシース反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｈ＝ｔ_ｐ＋Δｔ_ｐ＝１１９．６＋１１＝１３０．６μ秒（ｄｓ^～＝２７１ｍｍ）に変更し、再分析すると、図１９（ａ）に代わり、図１９（ｂ）の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_ｆ２を得る。
なお、図１９（ｂ）中において、Ｎｏ．５加算平均波は、２種類を表示している。

図１９（ｂ）中において、実線で示したＮｏ．５ＳＰ加算は、測点ｉ＝１～４のスペクトル加算（以後、ＳＰ加算と呼ぶ）であり、対応する時系列の位相情報はＷＡＶＥ加算のそれを採用している。一方、図１９（ｂ）中において、点線で示したＮｏ．５は、ＷＡＶＥ加算である。
ところで、空充填判定カーソルを定義し、その時刻を次の式７で求めている。

なお、時刻＊値は、分析用シースかぶり厚をレーダ計測かぶり厚ｄｓ｜_ＲＣとする図１９（ａ）では時刻＊＝２０μ秒としたが、分析用かぶり厚ｄｓ^～とする図１９（ｂ）では、時刻＊＝１６μ秒としている。この値の適正なる設定値は、後述する「閾値を用いた反射Ｐ波自動化分析」で示す表２に分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）ごとに整理している。

さらに、削孔で完全充填と判定している計測対象シースを、中心間距離ａ（＝２００ｍｍ）で計測した計測データ（シース径φ_ｓ３８、削孔かぶり厚ｄｓ｜_削＝１６５ｍｍ、２段目シースかぶり厚ｄ_２ｓ＝４００ｍｍ、版厚ｄ_ｗ＝５５０ｍｍ、コンクリート縦波音速Ｖ_ｐ＝４２６１ｍ／秒）を用いて説明する。

本分析例は、ＲＣレーダ計測によるレーダ計測かぶり厚ｄｓ｜_ＲＣが不明のため、レーダ計測かぶり厚ｄｓ｜_ＲＣを、削孔で得た削孔かぶり厚ｄｓ｜_削と同値として採用している。そして、削孔でグラウト充填状態が完全充填と確認されている。この場合、図１９（ａ）の代わりに、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_ｆ２を図２０（ａ）のように求めることができる。

シース反射波には、シース反射Ｐ波、シース反射Ｍ_１波、及びシース反射Ｍ_２波の３種があるため、これ等の起生時刻を式１、式５、式６を用いて計算し、シース反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ、シース反射Ｍ_１波起生時刻ｔ_Ｍ１、及びシース反射Ｍ_２波起生時刻ｔ_Ｍ２を、それぞれ起生時刻ｔ_ｐ｜_削、起生時刻ｔ_Ｍ１｜_削、起生時刻ｔ_Ｍ２｜_削として、縦カーソルで示している。

さらに、式５、及び式６より、シース反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐとシース反射Ｍ_１波起生時刻ｔ_Ｍ１との関係が、コンクリート横波音速Ｖ_ｓ／コンクリート縦波音速Ｖ_ｐ＝０．６２として、次の式８で定義されている。

これら振動数ｆ_２＝８０ｋＨｚ成分のシース反射Ｍ_１波、及びシース反射Ｍ_２波の振幅は、中心間距離ａの狭い反射波計測の場合、絶対量として小さい値である。加えて、図１８（ａ）のＴＧＣ２（ｔ）処理で、さらにその振幅が縮小されるため、極々小さい値となっている。

しかしながら、図１６（ａ）などで示される台形窓関数Ａの移動毎に得る時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_ｆ２の変化を示す図２０（ａ）では、振動数ｆ_ｗ以下での最大スペクトル値を「１．０」に基準化して表示しているため、シース反射Ｍ_１波、シース反射Ｍ_２波のスペクトル値が大きな値として表示されている。

この数値解析上の現象を利用して、ＲＣレーダ計測でのレーダ計測かぶり厚ｄｓ｜_ＲＣの誤計測、または計測位置の音速値の誤認等で生じるシース反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐを修正することができる。図２０（ａ）で正しいシース反射Ｍ_１波起生時刻ｔ_Ｍ１を時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_ｆ２の大きく立ち上がってくる時刻（図中の白丸印）前後と判断して、式４、式５、式６の関係で得た式８より、シース反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐを０．７６ｔ_Ｍ１に変更すれば、対応するシースかぶり厚ｄｓ^～を、式４を書き直して得る式９で計算できる。

なお、図２０（ａ）に記載されているΔｔ_ｐは、式１０で計算されている。

これにより、分析で用いるシースかぶり厚をレーダ計測かぶり厚ｄｓ｜_ＲＣ（＝削孔かぶり厚ｄｓ｜_削）からｄｓ^～に変更して再分析すれば、図２０（ｂ）の分析結果を得る。
時刻ｔ_＊で測点ｉ＝１～４、加算平均波ｉ＝５の全ての時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_ｆ２が閾値α_σ＝０．５を下回る状況を確認できる。このような時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_ｆ２が得られた場合、「完全充填」と判断する。空充填判定カーソル時刻ｔ_＊は、ｔ_ｐ＝ｔ_ｐ｜_ＲＣ（本分析例では、ｔ_ｐ｜_削とする）として、式１１で計算される。

なお、本分析例では、時刻＊を後述する表２を用いて、時刻＊＝１４μ秒としている。
さらに、図２０（ｂ）の時刻ｔ_＊＝ｔ_ｐ｜_削＋Δｔ_ｐ＋＊での時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ（ｆ，ｔ_＊）を図２１（ａ）に示す。

測点ｉ＝１～４の全ての受信波で、時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ（ｆ，ｔ_＊）が閾値α_σ＝０．５を下回っていることを確認できる。ＳＰ加算で得る加算平均波ｉ＝５の横軸を振動数、斜軸を時間とする時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_ｉ＝５を図２１（ｂ）に示す。このようなスペクトル形状を視認するとき、計測対象シースを「完全充填」と判断する。

＜閾値を用いた反射Ｐ波自動化分析＞
上述した「シースの充填状態閾値分析概要」に示す分析では、受信波から、図１８（ａ）に示す極狭帯域時系列を抽出して分析に用いることで、コンクリート表面Ｓ_１波、コンクリート表面を浅く潜って伝播する直接波（ＤＩ波）、及び２段目シースまたは版厚からの反射波の存在によるグラウト充填状態の誤判定を排除している。

しかしながら、このような対処のみでは、誤判定を完全に排除することはできない。
反射Ｐ波自動化分析で誤判定を生じさせる問題点と対処法を下記に列挙し、これらに対処する分析の流れを、図２２から図２４に示している。

まず、１つ目の問題点（以下、問題点（１）とする）は、レーダ計測かぶり厚ｄｓ｜_ＲＣ、及びコンクリート縦波音速Ｖ_ｐの誤設定により、グラウト充填状態を誤判定することである。図１５（ａ）、及び図１８（ａ）の分析用狭帯域時系列取得で用いるシース反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ値は、レーダ計測かぶり厚ｄｓ｜_ＲＣを用い、式１のシースかぶり厚ｄｓをレーダ計測かぶり厚ｄｓ｜_ＲＣに置き換えて算定している。レーダ計測かぶり厚ｄｓ｜_ＲＣは、コンクリート誘電率の誤設定等で実値と異なる場合が多出する。

さらに、式１で用いるコンクリート縦波音速Ｖ_ｐは、図１４（ａ）に示す計測対象シースの直上受信波を得る場所と異なる場所（箱桁であれば、近くの隔壁等）で計測せざるを得ない。この２つの場所は、コンクリート打設日時が異なることにより、水セメント比等の打設条件の違いを否定できず、このコンクリート縦波音速Ｖ_ｐが計測対象位置のそれと相違することが多出する。

このため、レーダ計測かぶり厚ｄｓ｜_ＲＣ、及びコンクリート縦波音速Ｖ_ｐを、式１に適用して得るシース反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ｜_ＲＣを用い、ｔ_ｈ＝ｔ_ｐ（＝ｔ_ｐ｜_ＲＣ）を基準値とする図１５（ａ）、または図１８（ａ）の切り出し波では、その中にシース反射Ｐ波を適切に取り込めない場合もある。

多数の分析事例によれば、この問題による計測グラウト充填状態の誤判定の発生率は、５０％以上になることもある。この問題への対処を、後述する図２２の第１の分析処理（ステップＳ１０４）で行っている。

２つ目の問題点（以下、問題点（２）とする）は、計測対象シースかぶり厚が浅くなってくると、シース反射Ｐ波の起生時刻前方に振幅の大きなコンクリート表面Ｓ_１波、及び直接波（ＤＩ波）が起生し、かつシース反射Ｐ波起生時刻後方に振幅の大きい２段目シース、版厚、及び版厚底部コーナーからの反射波が起生して、グラウト充填状態の分析に悪影響を及ぼし、誤判定を呈することがある。この問題を回避するため、分析では、分析用切り出し波を図１８（ａ）に示す極狭帯域時系列とすることを必須としている。

３つ目の問題点（以下、問題点（３）とする）は、後述の第１の分析処理（図２２のステップＳ１０４）で計測対象シースの分析測点をｉ＝ｎＡ～ｎＢ（図２７、表１参照）とした時、この間のいずれかの測点が、偶然、空隙と充填部分との境界領域となることがある。この問題に対処した分析法を、境界測点ｉ＝ｎ１を自動的に求め準備する必要がある。

後述する第６の分析処理（図２３のステップＳ１１２）で、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_ｉのスペクトル形状が特性ＴＡとなるか、特性ＴＢとなるかを特定し、特性ＴＡの場合、後述する第７の分析処理（図２４のステップＳ１１４～Ｓ１１６）でグラウト充填状態を判定する。

判定結果は、ｎｗ＞１の多点計測の場合、測点ｉ＝ｎＡ～ｎＢの全てで「未充填（空）」または「充填不足」となるか、測点ｉ＝ｎＡ～ｎ１で「未充填（空）」または「充填不足」、そして測点ｉ＝ｎ１＋１～ｎＢで「完全充填」となる。ｎｗ＝１の単一点計測の場合、測点はｉ＝１のみとなり、「未充填」または「充填不足」となる。

特性ＴＢの場合、後述する第８の分析処理（図２４のステップＳ１１７～Ｓ１１９）で、グラウト充填状態を判定する。判定結果は、ｎｗ＞１の多点計測の場合、測点ｉ＝ｎＡ～ｎＢの全ての測点で「完全充填」となるか、測点ｉ＝ｎＡ～ｎ１で「完全充填」、そして、測点ｉ＝ｎ１＋１～ｎＢ（ただし、ｎ１＜ｎＢ）で「未充填（空）」または「充填不足」となる。ｎｗ＝１の単一点計測の場合、測点はｉ＝１のみとなり、「完全充填」となる。
上述した処理の具体的分析事例を、後述する「閾値反射Ｐ波自動化分析事例」で表３に示す分析例１，２を用いて行っている。

４つ目の問題点（以下、問題点（４）とする）は、計測対象シースかぶり厚が、その長手方向で大きく変化する場合がある。この変化を考慮した計測分析を行わないと、グラウト充填状態を誤判定する。

この問題への対処に、２つの処理を準備している。１つ目の処理は、後述する自動化分析の流れにおける図２２の第１の分析処理（ステップＳ１０４）で、シースかぶり厚の変化パターンを特定し、このパターン毎にシースかぶり厚を分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）、またはｄｓ_（１）｜_大及びｄｓ_（１）｜_小として求め、これ等かぶり厚ごとに対応する測点ｉのグラウト充填状態を判定する機能である（なお、分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）の（１）は、括弧内の数字を○で囲った囲み文字を表し、後述する図中において囲み文字で図示している。以下同じ。）。

２つ目の処理は、問題点（４）の状況下において、各測点受信波の位相情報が変化してくる。これにより、測点ｉ＝１～ｎｗ（ｎｗ＝４）の全てが「未充填（空）」であっても、時系列による加算平均波（ＷＡＶＥ加算）は、個々の測点ｉのシース反射Ｐ波で位相ズレが生じ、「完全充填」または「充填不足」の様相を示すことが多出する。このため、測点ｉ＝１～ｎｗのスペクトルの加算平均波（ＳＰ加算）を用いて、この問題に対処する分析機能を準備する必要がある。具体的分析事例を後述する「閾値反射Ｐ波自動化分析事例」で表３に示す分析例４を用い、図３９（ａ）に示している。なお、図３９（ａ）中のＮｏ．５の実線はＳＰ加算であり、Ｎｏ．５の破線はＷＡＶＥ加算である。

次に、図２２、図２３、及び図２４に示した解析機器１３の制御部１３６が行う反射Ｐ波自動化分析の処理（入力受付処理、第１の収録処理、第２の収録処理、及び第１の分析処理から第８の分析処理）について図２２から図２７用いて説明する。

まず、解析機器１３の制御部１３６は、オペレータの操作によって解析プログラムを実行すると、図２２に示すように、入力受付処理を開始する（ステップＳ１０１）。この際、制御部１３６は、オペレータの入力操作を受け付けて、コンクリート縦波音速Ｖ_ｐ、２段目シースのかぶり厚ｄ２ｓ、版厚ｄｗ、及び版厚底部コーナーの路程長ｄｗｃを取得して、第１の収録処理へ移行する。なお、２段目シースのかぶり厚ｄ２ｓ、版厚ｄｗ、及び版厚底部コーナーの路程長ｄｗｃが不明の場合、オペレータの入力操作によって、入力受付処理をスキップして、第１の収録処理へ移行する。

ここで、コンクリート縦波音速Ｖ_ｐは、計測対象ＰＣ橋梁の桁梁、または内部空間の間仕切り壁等のコンクリート厚がスケールで確認できる部位での超音波計測によって得られたものである。
また、２段目シースのかぶり厚ｄ２ｓ、版厚ｄｗ、及び版厚底部コーナーの路程長ｄｗｃは、構造図面から得られた計測対象シースの計測位置での値である。

次に、第１の収録処理（図２２のステップＳ１０２）について説明する。ＲＣレーダ計測において、多点計測の時は、測点１、及び測点ｎｗでのシースかぶり厚ｄｓをそれぞれｄｓ｜_ＲＣ左、ｄｓ｜_ＲＣ右として計測し、レーダ計測かぶり厚ｄｓ｜_ＲＣ＝（ｄｓ｜_ＲＣ左＋ｄｓ｜_ＲＣ右）／２を算定する。

さらに、ステップＳ１０１で取得したコンクリート縦波音速Ｖ_ｐを用いて、当該反射波の起生時刻ｔ_ｐ｜_ＲＣを、式１のシース反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐをｔ_ｐ｜_ＲＣに、シースかぶり厚ｄｓをレーダ計測かぶり厚ｄｓ｜_ＲＣに置き換えて求める。単一点計測想定時は、測点ｉ＝１でのレーダ計測かぶり厚ｄｓ｜_ＲＣを収録し、多点計測時と同様にして起生時刻ｔ_ｐ｜_ＲＣを求める。

次に、第２の収録処理（図２２のステップＳ１０３）について説明する。計測対象シース直上のコンクリート上面４ａ（図８参照）において、発信探触子１１ａと受信探触子１２ａとの中心間距離ａを１１０ｍｍ～２００ｍｍとして、ｎｗ＝４を多点計測測点数とする受信波群Ｇ（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ}を、図２５（実橋梁計測の図）に示すように、図中の左側から右側へ順次、測点ｉ（Ｎｏ．１、Ｎｏ．２、Ｎｏ．３、Ｎｏ．４）として計測している。なお、単一点計測の時はｎｗ＝１となる。

受信波は、計測対象シースに向かってコンクリート内部に超音波を５ｍｍ秒毎に５００回連続発信し、超音波の発信のたびに、面受信ユニット１２の受信探触子１２ａで得る入射波Ｒを加算平均して求めている。

次に、第１の分析処理（図２２のステップＳ１０４）について説明する。上述したように、問題点（１）によってレーダ計測かぶり厚ｄｓ｜_ＲＣが実値と異なる場合が生じて、グラウト充填状態の判定を難しくしている。このため、計測対象シースの反射Ｐ波起生時刻を正確に求める方法を確立する必要がある。

シース反射Ｐ波１次起生時刻をｔ_ｐ（１）とし、これを第１の分析処理で求めている。なお、ｔ_ｐ（１）の（１）は、括弧内の数字を○で囲った囲み文字を表し、後述する図中において囲み文字で図示している。

図２６（ａ）は、計測対象シースの１つの測点での中心間距離ａを２００ｍｍとして計測した超音波受信波のスペクトルと時系列の一例である。図２６（ａ）中の右図の受信波には、ＲＣレーダ計測によるレーダ計測かぶり厚ｄｓ｜_ＲＣ＝２６０ｍｍと、ステップＳ１０１で取得したコンクリート縦波音速Ｖ_ｐ＝４２６０ｍ／ｓとを用いて、式１のシースかぶり厚ｄｓをレーダ計測かぶり厚ｄｓ｜_ＲＣに、シース反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐを起生時刻ｔ_ｐ｜_ＲＣに置き換えて得る起生時刻ｔ_ｐ｜_ＲＣ＝１２５．５μ秒を縦カーソルで示している。

また、図２６（ａ）の左図に、スペクトル切り出しのためのＦ３（ｆ）フィルタ関数を点線で示している。
なお、Ｆ３（ｆ）フィルタ関数は、振動数０．０から（ｆ_ｓ－Δｆ_ｓ）の間が「０．０」、振動数（ｆ_ｓ－Δｆ_ｓ）からｆ_ｓの間が「０．０から１．０」となるｓｉｎ形状増加関数、振動数ｆ_ｓから（ｆ_ｓ＋Δｆ_ｓ）の間が「１．０から０．０」となるｓｉｎ形状減少関数、振動数（ｆ_ｓ＋Δｆ_ｓ）以上で「０．０」となる関数であり、その初期形状を中心振動数ｆ_ｓ＝８０ｋＨｚ、Δｆ_ｓ＝４０ｋＨｚとしている。

制御部１３６は、図２６（ａ）に示したスペクトルをｉ＝３からｉ＝１～ｎｗに拡張し受信波スペクトルＦ（ｆ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ}を求め、Ｆ３（ｆ）フィルタ関数を乗じたあと、ＦＦＴ逆変換で得る時系列波にシース反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ＝ｔ_ｐ｜_ＲＣを中心時刻とする時刻フィルタ関数ＴＧＣ４（ｔ）を乗じて図２６（ｂ）に示すスペクトルを拡張した受信波スペクトルＦ（ｆ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ}、及び対応する時系列波Ｇ（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ}を求めている。

さらに、制御部１３６は、Ｆ３（ｆ）フィルタ関数の中心振動数ｆ_ｓを低振動数または高振動数側へ徐々に移動させるオペレータの操作を、操作部１３４を介して受け付けている。
この際、制御部１３６は、Ｆ３（ｆ）フィルタ関数の中心振動数ｆ_ｓを低振動数または高振動数側へ移動させるたびに、Ｆ３（ｆ）フィルタ関数を受信波スペクトルＦ（ｆ）｜_ｉに乗じたのち、ＦＦＴ逆変換で時系列波Ｇ（ｔ）｜_ｉを得るとともに、この時系列波Ｇ（ｔ）｜_ｉのいずれかの測点ｉの起生時刻を中心時刻とする時刻フィルタ関数ＴＧＣ４（ｔ）を、ＦＦＴ逆変換で得た時系列波Ｇ（ｔ）｜_ｉに乗じるごとに、時刻フィルタ関数ＴＧＣ４（ｔ）の中心時刻を起生波の起生時刻へ移動させている。

このようにして、制御部１３６は、時刻フィルタ関数ＴＧＣ４（ｔ）の中心時刻を、ＦＦＴ逆変換で得た時系列波Ｇ（ｔ）｜_ｉのいずれかの測点ｉのシース反射Ｐ波の起生時刻に移動させることで、シース反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ｜_ＲＣの近傍に生ずる時系列波の起生時刻を特定し、これを計測対象シースの分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）｜_ｉと定義している。
さらに、制御部１３６は、対応する分析用１次かぶり厚をｄｓ_（１）｜_ｉと定義し、上述の式２のシース反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐを分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）｜_ｉに、シースかぶり厚ｄｓを分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_ｉに置き換えて測点ｉごとに分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_ｉを求めている。

なお、時刻フィルタ関数ＴＧＣ４（ｔ）は、Δｔ_ｋを４０μ秒から６０μ秒の間でオペレータによって設定される値として、時刻ｔ＝０．０から（ｔ_ｐ｜_ＲＣ－Δｔ_ｋ）の間が「０．０」、時刻ｔ＝（ｔ_ｐ｜_ＲＣ－Δｔ_ｋ）で「０．０」となり時刻ｔ＝ｔ_ｐ｜_ＲＣで「１．０」となるｓｉｎ形状増加関数、時刻ｔ_ｐ｜_ＲＣで「１．０」となり時刻ｔ＝（ｔ_ｐ｜_ＲＣ＋Δｔ_ｋ）で「０．０」となるｓｉｎ形状減少関数、時刻ｔ＝（ｔ_ｐ｜_ＲＣ＋Δｔ_ｋ）以降で「０．０」となる形状の関数である。

図２６の受信波にＦ３（ｆ）フィルタ関数、及び時刻フィルタ関数ＴＧＣ４（ｔ）を適用して得た図２６（ｂ）の右図には、分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）が明確に示されている。なお、図２６（ｂ）の右図では、上述の時刻フィルタ関数ＴＧＣ４（ｔ）の中心時刻をｔ_ｐ｜_ＲＣからｔ_ｐ（１）に変更して表示している。

本例は、シースかぶり厚ｄｓ_（１）が２２５ｍｍと深い場合である。これにより、上述の問題点（２）のコンクリート表面の表面Ｓ_１波、直接波（ＤＩ波）の後方残存波がシース反射Ｐ波のうえに混入する現象が除去されており、反射Ｐ波が明確に示されているが、表層に密に配された鉄筋、表層に生じた目視できない微細なひび割れ等による予期しない探査妨害波の混入などにより、分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）の特定が難しいことがある。

この場合、上述したように、オペレータの操作を受け付けて、Ｆ３（ｆ）フィルタ関数の振動数ｆ_ｓ値を徐々に高振動数または低振動数側へ移動させる経緯の中で、時刻フィルタ関数ＴＧＣ４（ｔ）の中心時刻を起生波の始点に移動させることで、分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）を正確に特定できる。後述の「閾値反射Ｐ波自動化分析事例」の分析例１の振動数ｆ_ｓを８２ｋＨｚとする図２８（ｂ）、分析例２の振動数ｆ_ｓを１００ｋＨｚとする図３２（ａ）、分析例３の振動数ｆ_ｓを９６ｋＨｚとする図３５（ａ）、分析例４の振動数ｆ_ｓを９６ｋＨｚとする図３８（ａ）で、この状況を示す分析結果を確認できる。

図２６（ｂ）によれば、分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）が、起生時刻ｔ_ｐ｜_ＲＣ＝１２５．５μ秒近傍で１０９．６μ秒となり、起生時刻ｔ_ｐ｜_ＲＣと分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）とで１６μ秒の差が確認できる。式２での起生時刻ｔ_ｐを分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）に置き換えて得るシースかぶり厚ｄｓが分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）（＝２２５ｍｍ）となり、レーダ計測かぶり厚ｄｓ｜_ＲＣ（＝２６０ｍｍ）と比べて３５ｍｍの差が生じている。

なお、コンクリート縦波音速Ｖ_ｐが実値と異なっていれば、分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）値も実値と異なるが、以降の分析で分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）を用いることにより、分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）の誤認はグラウト充填状態を誤判定させる要因とはならない。
この時刻フィルタ関数ＴＧＣ４（ｔ）の乗算で得る時系列（太線）のスペクトルを、図２６（ｂ）の左図に示している。

本分析例では、分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）が極めて明確に特定されているが、この特定が難しい計測例も多数ある。この場合、中心振動数ｆ_ｓ＝８０ｋＨｚを徐々に高振動数または低振動数方向へ移動させながら、時刻フィルタ関数ＴＧＣ４（ｔ）を時間軸前後で移動させる経緯の中で、分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）を正確に特定できる。

さらに、上述した問題点（４）によって、各測点ｉ（＝１～４）で分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）（分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１））が変化する計測例が多数ある。この問題への対処のため、前記分析で各測点ごとに分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）を求め、図２７に示す如く、各測点ｉでの分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）の変化状況をパターン化し、「パターン（０）」、「パターン（１）～（４）」、「パターン（１´）～（４´）」とし、パターン毎に分析用１次かぶり厚をｄｓ_（１）、ｄｓ_（１）｜_大、及びｄｓ_（１）｜_小の３種に分け、このかぶり厚の測点毎にグラウト充填状態の分析を行っている。

例えば、図２７の「パターン（０）」であれば、Ｎｏ．１測点からＮｏ．４測点の全てで、分析用１次かぶり厚がｄｓ_（１）となる。
また、図２７の「パターン（１）」であれば、Ｎｏ．１測点の分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_１がｄｓ_（１）｜_大となり、Ｎｏ．２測点、Ｎｏ．３測点、及びＮｏ．４測点の分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_２、ｄｓ_（１）｜_３、及びｄｓ_（１）｜_４の平均値がｄｓ_（１）｜_小となる。

これより以降のＮｏ．１測点のグラウト充填状態の分析では、ｄｓ_（１）｜_大を分析用１次かぶり厚とし、Ｎｏ．２測点、Ｎｏ．３測点、及びＮｏ．４測点のグラウト充填状態の分析では、ｄｓ_（１）｜_小を分析用１次かぶり厚とする。

また、図２７の「パターン（２´）」であれば、Ｎｏ．１測点の分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_１と、Ｎｏ．２測点の分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_２との平均値がｄｓ_（１）｜_小となり、Ｎｏ．３測点の分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_３とＮｏ．４測点の分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_４との平均値がｄｓ_（１）｜_大となる。

これより以降のＮｏ．１測点、及びＮｏ．２測点のグラウト充填状態の分析では、ｄｓ_（１）｜_小を分析用１次かぶり厚とし、Ｎｏ．３測点、及びＮｏ．４測点の充填状態の分析では、ｄｓ_（１）｜_大を分析用１次かぶり厚としている。

また、図２７の「パターン（２），（３），（４）」、及び「パターン（１´），（３´），（４´）」でも、それぞれ「パターン（１），（２´）」にならいｄｓ_（１）｜_大またはｄｓ_（１）｜_小を、分析用１次かぶり厚として、グラウト充填状態を分析する測点ｉの組み合わせを特定する。

以上を整理して、各パターンの分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）、またはｄｓ_（１）｜_大、あるいはｄｓ_（１）｜_小ごとに、その開始測点ｎＡ、及び終了測点ｎＢを、多点計測点数ｎｗ＝４として、表１に示す。

なお、表１において、単一点計測の場合、「パターン（０）」、かつ開始測点ｎＡ＝１、終了測点ｎＢ＝１とする。
また、表１において、ｎｗ値が「４」を超える場合、ｎｗ値に応じてパターン数が増加する。
表１を用いて、分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）、またはｄｓ_（１）｜_大、あるいはｄｓ_（１）｜_小ごとに対応する測点ｉのグラウト充填状態を以降の分析で判定する。

次に、第２の分析処理（図２２のステップＳ１０５）について説明する。第２の分析処理は、図１４（ａ）に示す受信波と加算平均波との並びである受信波群Ｇ（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}に対応する受信波スペクトルＦ（ｆ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}にＡ_Ｋ（ｆ）フィルタ関数を乗じ、図１４（ｂ）に示す分析用スペクトルＦＡ（ｆ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を求め、対応する分析用時系列ＧＡ（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}をＦＦＴ逆変換で求めている。

Ａ_Ｋ（ｆ）フィルタ関数は、振動数ｆ＝－１０ｋＨｚからｆ_０が「０．０から１．０」となるｓｉｎ形状増加関数、振動数ｆ＝ｆ_０からｆ_ｗが「１．０から０．０」となるｓｉｎ形状減少関数、振動数ｆ＝ｆ_ｗからｆ_２が「０．０から１．０」となるｓｉｎ形状増加関数、振動数ｆ＝ｆ_２から（ｆ_２＋３０ｋＨｚ）が「１．０から０．０」となるｓｉｎ形状減少関数、振動数ｆ＝（ｆ_２＋３０ｋＨｚ）以上で「０．０」となる関数である。なお、中心振動数ｆ_０を（ｆ_ｗ－１０ｋＨｚ）／２≒２０ｋＨｚ、振動数ｆ_ｗをオペレータの操作によって設定される５０ｋＨｚ－Δｆ_ｗ＜ｆ_ｗ＜５０ｋＨｚ＋Δｆ_ｗ（ただしΔｆ_ｗ＝５ｋＨｚ）の範囲のいずれかの値、振動数ｆ_２を８０ｋＨｚとしている。

第２の分析処理のあと、上述した第１の分析処理で作成された表１のシースかぶり厚パターン毎にグラウト充填状態の分析を、図２２のステップＳ１０６を経て移行した第１の処理、または第２の処理、及び第３処理で行っている。

より詳しくは、上述した第１の分析処理で作成されたパターンが「パターン（０）」の場合（ステップＳ１０６：Ｎｏ）、第１の処理へ移行し、「パターン（１）～（４）」、及び「パターン（１´）～（４´）」の場合（ステップＳ１０６：Ｙｅｓ）、第２の処理へ移行し、その後、第３の処理へ移行する。

第１の処理（図２２のステップＳ１０７）は、上述した問題点（４）を持たない表１の「パターン（０）」の分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）のグラウト充填状態を分析判定する。表１の「パターン（０）」の開始測点ｎＡ、及び終了測点ｎＢを用いて、測点ｉ＝ｎＡ～ｎＢでグラウト充填状態が同一となる計測対象シース、または問題点（３）の空隙と充填部分との境界を持つ計測対象シースに対処して分析判定を終了する。なお、第１の処理は、単一点計測（測点ｉ＝１）の分析判定にも対処する。

第２の処理（図２２のステップＳ１０８）は、上述した問題点（４）を持つ表１の「パターン（１）～（４）」、及び「パターン（１´）～（４´）」の分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_大のグラウト充填状態を分析判定する。表１のパターン毎の開始測点ｎＡ、及び終了測点ｎＢを用いて、測点ｉ＝ｎＡ～ｎＢでグラウト充填状態が同一となる計測対象シース、または測点ｉ＝ｎＡ～ｎＢで問題点（３）の空隙と充填部分との境界を持つ計測対象シースに対処した後、第３の処理へ移行する。なお、第２の処理は、単一点計測の分析判定には対処しない。

第３の処理（図２２のステップＳ１０９）は、上述した問題点（４）を持つ表１の「パターン（１）～（４）」、及び「パターン（１´）～（４´）」の分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_小のグラウト充填状態を分析判定する。表１のパターン毎の開始測点ｎＡ、及び終了測点ｎＢを用いて、測点ｉ＝ｎＡ～ｎＢでグラウト充填状態が同一となる計測対象シース、または測点ｉ＝ｎＡ～ｎＢで問題点（３）の空隙と充填部分との境界を持つ計測対象シースに対処して分析判定を終了する。なお、第３の処理は、単一点計測の分析判定には対処しない。

図２２にシース反射Ｐ波閾値分析の流れを示しているが、このうち、第１の処理（図２２のステップＳ１０７）を図２３、及び図２４に示している。
第２の処理（図２２のステップＳ１０８）は、第１の処理の内容と同一である。ただし、分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）、及び後述する分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）を、それぞれｔ_ｐ（１）｜_大、ｔ_ｐ（２）｜_大に置き換えた処理となる。

第３の処理（図２２のステップＳ１０９）は、第１の処理の内容と同一である。ただし、分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）、及び後述する分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）を、それぞれｔ_ｐ（１）｜_小、ｔ_ｐ（２）｜_小に置き換えた処理となる。

ここで、第１の処理について詳述する。第１の処理は、図２３のステップＳ１１１に示すように、連続する第３の分析処理、第４の分析処理、及び第５の分析処理を、シースかぶり厚の「パターン（０）」の分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）（分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１））を用いて開始する。

まず、第３の分析処理は、上述した分析用時系列ＧＡ（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}に時刻ｔ_ｈを基準時刻とする時刻フィルタ関数ＴＧＣ１（ｔ）、及びＴＧＣ２（ｔ）を乗じ、図１５（ａ）に示す分析用切り出し波ＧＢ_（１）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を求め、ＦＦＴ変換で対応するスペクトルＦＢ_（１）（ｆ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を図１５（ｂ）に示すように求めている。

なお、以降の分析で用いる分析用切り出し波ＧＢ_（１）（ｔ）｜_ｉ、及びスペクトルＦＢ_（１）（ｆ）｜_ｉは、図１５（ａ）の代わりに、図１８（ａ）の極狭時間帯域の切り出し波としている。これは、上述した問題点（２）に対処するために、コンクリート表面Ｓ_１波と、直接波（ＤＩ波）と、２段目シース、版厚、及び版厚底部コーナーからの振幅の大きい反射波等によるグラウト充填状態の判定結果への悪影響を除去、低減するための対処である。さらに、同様の対処のために、時刻フィルタ関数ＴＧＣ１（ｔ）と時刻フィルタ関数ＴＧＣ２（ｔ）の設定を変更している。

時刻フィルタ関数ＴＧＣ１（ｔ）は、基準時刻をｔ_ｈ＝ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_ｈ１（Δｔ_ｈ１＝６μ秒）とし、時刻ｔ＝０．０で「０．０」となり、基準時刻ｔ_ｈで「１．０」となるｓｉｎ形状増加線分、及び時刻ｔ＝ｔ_ｈ以降が「１．０」となるＴＧＣＡ（ｔ）関数を用い、ＴＧＣ１（ｔ）＝（ＴＧＣＡ（ｔ））^ｎｅとしている（ただし、ｎｅ＝５０とする）。

また、時刻フィルタ関数ＴＧＣ２（ｔ）は、基準時刻をｔ_ｈ＝ｔ_ｐ（１）とし、時刻ｔ＝０．０からｔ_ｈが「１．０」、時刻ｔ＝ｔ_ｈで「１．０」となり、時刻ｔ＝４００μ秒で「０．０」となるｓｉｎ形状減少線分、時刻ｔ＝４００μ秒以降が「０．０」となるＴＧＣＢ（ｔ）関数を用い、ＴＧＣ２（ｔ）＝（ＴＧＣＢ（ｔ））^ｎｆとしている（ただし、ｎｆ＝１５０とする）。

なお、Δｔ_ｈ１、ｎｅ、ｎｆは、今後の多数シースの計測分析で、後述する時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及び時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}のスペクトル形状がグラウト充填状態の未充填または充填を明確に示す最適値が得られれば変更される。
また、分析用切り出し波ＧＢ_（１）（ｔ）｜_ｉ、及びスペクトルＦＢ_（１）（ｆ）｜_ｉは、測点ｉ毎に、その最大値を１．０に基準化している。

次に、第４の分析処理は、上述したスペクトルＦＢ_（１）（ｆ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}の分析用切り出し波ごとのスペクトルで振動数ｆ_ｗよりも低振動数の最大スペクトル値を「１．０」と基準化した後、振動数ｆ_ｗよりも高振動数側の最大スペクトル値を閾値α_σ（＝０．５）とする図１５（ｃ）に示すスペクトル形状変換処理（以降、閾値処理と呼ぶ）で、分析用１次スペクトルＦＣ_（１）（ｆ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を求め、ＦＦＴ逆変換で分析用１次時系列ＧＣ_（１）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を求める。また、分析用１次時系列ＧＣ_（１）｜_ｉは、測点ｉ＝１～ｎｗ＋１毎に、その最大値を「１．０」に基準化して表示する。

なお、閾値α_σの値は、今後の多数のシース管の分析検討で、０．５～０．７５の中より、後述する時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_ｉ、及び時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_ｉのスペクトル形状がグラウト充填状態をより適切に明示する値を特定した時は、この値を閾値α_σに変更する。

次に、第５の分析処理は、上述の閾値処理された分析用１次時系列ＧＣ_（１）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}に台形窓関数Ａ（図１６（ａ）参照）を、時刻ｔ_始（＝ｔ_ｐ（１）－Δｔ_ｐ１）から時刻ｔ_終（＝ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_ｐ２）までΔｔ_ａ間隔で移動させるたびに乗じて切り出す時系列に対応するスペクトルにおいて、振動数ｆ_ｗ以下に生じる最大スペクトル値を「１．０」に基準化したとき、振動数ｆ_ｗ以上に生じる最大スペクトル値を時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_ｆ２として、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}（図１６（ｂ）、図２０（ａ）参照）を作成し表示している。

また、時刻の推移毎に、振動数ｆ_ｗ以下、及び振動数ｆ_ｗ以上に生じる最大スペクトル値を比較し、大きい方のスペクトル値を「１．０」に基準化して得るスペクトルを時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルとし、ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}（図１７（ｂ）、図２１（ｂ）参照）を作成し表示している。指数であるｎｃは、ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｆ，ｔ）^ｎｃが空隙部分と充填部分とで明確に区分されるようにする係数であり、本実施例ではｎｃ＝２としている。
なお、時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（１）}（ｆ，ｔ）^ｎｃは最大エントロピー法スペクトル表示（以降、ＭＥＭスペクトル表示と呼ぶ）としている。

なお、上述の台形窓関数Ａの形状を、図１６（ａ）の時刻ｔ_始の場合で示せば、時刻ｔ＝０．０からｔ_始－５の間を「０．０」とし、時刻ｔ＝ｔ_始－５で「０．０」となり、時刻ｔ_始で「１．０」となるｓｉｎ形状増加関数、時刻ｔ＝ｔ_始からｔ_始＋ｔ_ａが「１．０」、時刻ｔ＝ｔ_始＋ｔ_ａで「１．０」となり、時刻ｔ＝ｔ_始＋ｔ_ａ＋５で「０．０」となるｓｉｎ形状減少関数、時刻ｔ＝ｔ_始＋ｔ_ａ＋５以降の「０．０」となる関数である。

形状設定用係数のうち、時刻ｔ_ａは表２で分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）及び分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）毎に示している。また、Δｔ_ａ＝２μ秒としている。
さらに、Δｔ_ｐ１、及びΔｔ_ｐ２は、概略値としてΔｔ_ｐ１＝１９μ秒、Δｔ_ｐ２＝８２μ秒とし、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_ｉ、及び時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（１）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_ｉの変化の形状を確認し易い値をオペレータが設定することを可能としている。例えば、後述する分析例（表３の分析例１）では、図２９（ａ）及び図２９（ｂ）に示すように、分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）＝１３０．１μ秒の場合、Δｔ_ｐ１を１１．２μ秒、Δｔ_ｐ２を９４．４μ秒としている。

さらに、２段目シースのかぶり厚ｄ２ｓ、版厚ｄｗ、または版厚底部コーナーの路程長ｄｗｃの反射Ｐ波、反射Ｍ_１波、及び反射Ｍ_２波のうち、ｔ_ｐ（１）－Δｔ_ｐ１からｔ_ｐ（１）＋Δｔ_ｐ２の間で生ずる反射波の起生時刻ｔ_ｐ｜_ｄ２ｓ、ｔ_Ｍ１｜_ｄ２ｓ、ｔ_Ｍ２｜_ｄ２ｓ、及び起生時刻ｔ_ｐ｜_ｄｗ、ｔ_Ｍ１｜_ｄｗ、ｔ_Ｍ２｜_ｄｗを縦カーソルで表示可能としている。

これら反射波の起生時刻は、上述の式４、式５、及び式６で、２段目シース反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐを反射Ｐ波の起生時刻ｔ_ｐ｜_ｄ２ｓに、２段目シース反射Ｍ_１波の起生時刻ｔ_Ｍ１を反射Ｍ_１波の起生時刻ｔ_Ｍ１｜_ｄ２ｓに、２段目シース反射Ｍ_２波の起生時刻ｔ_Ｍ２を反射Ｍ_２波の起生時刻ｔ_Ｍ２｜_ｄ２ｓに置き換え、または版厚反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐを反射Ｐ波の起生時刻ｔ_ｐ｜_ｄｗに、版厚反射Ｍ_１波の起生時刻ｔ_Ｍ１を反射Ｍ_１波の起生時刻ｔ_Ｍ１｜_ｄｗに、版厚反射Ｍ_２波の起生時刻ｔ_Ｍ２を反射Ｍ_２波の起生時刻ｔ_Ｍ２｜_ｄｗに置き換えて求めている。なお、版厚底部コーナーの路程長ｄｗｃからの反射波も同様の対処で求めている。

次に、第６の分析処理（図２３のステップＳ１１２）で、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎＡ～ｎＢ}の形状から特性ＴＡが選択され、空隙部分と充填部分との境界測点をｎ１と特定した場合（ステップＳ１１３：１）、第７の分析処理における特性ＴＡの処理（第１ＴＡ処理、及び第２ＴＡ処理）へ移行する。

または、第６の分析処理（図２３のステップＳ１１２）で特性ＴＢが選択され、充填部分と空隙部分との境界測点をｎ１と特定した場合（ステップＳ１１３：２）、第８の分析処理における特性ＴＢの処理（第１ＴＢ処理、及び第２ＴＢ処理）へ移行する。

一般的に、グラウト充填状態の探査は、桁または側壁の端部で行うことにより、問題点（３）として上述したように、未充填または充填不足と、完全充填との境界となる事象が多発する。特性ＴＡの処理（第１ＴＡ処理、第２ＴＡ処理）、及び特性ＴＢの処理（第１ＴＢ処理、第２ＴＢ処理）は、この問題点（３）に対処する処理の流れである。

ここで、特性ＴＡは、Δｔ_Ｂ１＝６μ秒、及びΔｔ_Ｂ２＝１２μ秒として、時刻ｔ_ｐ（１）－Δｔ_Ｂ１と時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_Ｂ２との間で時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_ｉ＝ｎＡの値が、時刻ｔの増分毎に増加傾向にあり、時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_Ｂ２で閾値α_σを上回る状況となる場合であり、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_ｉの値が時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_Ｂ２で閾値α_σを上回っていることを測点ｉ＝ｎＡ～ｎ１（ｎ１≦ｎＢ）で確認でき、かつｎ１＜ｎＢとなるとき、測点ｉ＝ｎ１＋１～ｎＢの時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_ｉが時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_Ｂ２で閾値α_σを下回ることを確認して、計測対象シースの「未充填または充填不足」と「完全充填」との境界測点ｉ＝ｎ１を特定する。

一方、特性ＴＢは、Δｔ_Ｂ１＝６μ秒、及びΔｔ_Ｂ２＝１２μ秒として、時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_Ｂ２で時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_ｉ＝ｎＡが閾値α_σを下回る状況となる場合であり、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_ｉの値が時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_Ｂ２で閾値α_σを下回っていることを、測点ｉ＝ｎＡ～ｎ１（ｎ１≦ｎＢ）で確認でき、かつｎ１＜ｎＢとなるとき、測点ｉ＝ｎ１＋１～ｎＢの時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_ｉが、時刻ｔ_ｐ（１）－Δｔ_Ｂ１と時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_Ｂ２との間で増加傾向にあり、時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_Ｂ２で閾値α_σを超えることを確認して、計測対象シースの「完全充填」と「未充填または充填不足」との境界測点ｉ＝ｎ１を特定する。

引き続き、第７の分析処理（図２４のステップＳ１１４～ステップＳ１１６）における第１ＴＡ処理、及び第２ＴＡ処理について詳述する。
第７の分析処理における第１ＴＡ処理（図２４のステップＳ１１４）は、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_ｉが、上述のｎ１を用いた測点ｉ＝ｎＡ～ｎ１（ｎ１≦ｎＢ）ごとに、Δｔ_Ｂ１＝６μ秒、Δｔ_Ｂ２＝１２μ秒とする時刻ｔ_ｐ（１）－Δｔ_Ｂ１と時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_Ｂ２との間で増加傾向にあり、時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_Ｂ２で閾値α_σ＝０．５を超えている時、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎＡ～ｎ１}（ただし、ｎ１≦ｎＢ）ごとに、時刻ｔ_ｐ（１）－Δｔ_Ｂ１と時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_Ｂ２との間で、閾値α_σを超える時刻をｔ_ｉとし、この平均値をｔ_Ａとし、または単一点計測の場合、ｔ_Ａ＝ｔ_１として次の式１２でΔｔ_Ａを求め、次の式１３で分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）を特定する。

分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）は、式２で起生時刻ｔ_ｐを分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）に、シースかぶり厚ｄｓを分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）に置き換えて求めている。
なお、分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）、及び分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）は、計測対象シースにおける対象測点のグラウト充填状態を正確に自動特定するために準備している。

ここで、式１３の係数０．３３は、多数の分析事例で特定したΔｔ_Ａに乗ずる値である。

この後、第３の分析処理、及び第４の分析処理の再度の処理で、分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）を分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）に置き換え、分析用１次時系列ＧＣ_（１）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}の代わりに分析用２次時系列ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を作成する。

次に、第５の分析処理の再度の処理で、分析用２次時系列ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}に対応する分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）を用いた台形窓関数Ａのｔ_ｐ（２）－Δｔ_ｐ１を始点時刻ｔ_始とし、ｔ_ｐ（２）＋Δｔ_ｐ２を終点時刻ｔ_終とする時刻掃引処理で時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及び時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を作成している。

この際、制御部１３６は、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及び時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}（ただし、ＭＥＭスペクトル表示、ｎｃ＝２）を、オペレータの操作を受け付けて表示部１３５に表示可能としている。

ところで、加算平均波は、測点ｉ＝ｎＡ～ｎ１のＧＣ_（２）（ｔ）｜_ｉを用いて作成する必要がある。
そこで、ＷＡＶＥ加算平均波ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}は、式１４で作成し直している。

さらに、上述のＷＡＶＥ加算平均波ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}のＦＦＴ変換でスペクトルＦＣ_（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を求め、式１５で、スペクトルＦＣ^～ _（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を作成し、位相情報をスペクトルＦＣ_（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}のそれに変更し、この後、ＦＦＴ逆変換でＳＰ加算平均波ＧＣ^～ _（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を作成する。なお、ＦＣ^～、及びＧＣ^～は、数式において、それぞれＦＣの上、ＧＣの上に“～”を付された符号を表す。

その後、第５の分析処理の再々度の台形窓関数Ａのｔ_ｐ（２）－Δｔ_ｐ１を始点時刻ｔ_始とし、ｔ_ｐ（２）＋Δｔ_ｐ２を終点時刻ｔ_終とする掃引処理に、上述のＷＡＶＥ加算平均波ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}、及び上述のＳＰ加算平均波ＧＣ^～ _（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を適用し、分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）を用いて、ＷＡＶＥ加算とＳＰ加算との双方で時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}、及び時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を作成し直している。

この際、制御部１３６は、ＷＡＶＥ加算及びＳＰ加算双方の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}、及び空充判定カーソルｔ_＊＝ｔ_ｓ（２）＋＊の時刻での時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ_＊）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を、それぞれオペレータの操作を受け付けて表示部１３５に表示可能としている。

次に、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎＡ～ｎ１}と、ＳＰ加算の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}とを用いて、測点ｉ＝ｎＡ～ｎ１の各々での、及びＳＰ加算ｉ＝ｎｗ＋１での充填状態を、以下の処理で自動判定する。

空充判定線分α^～ _σ値、及び空充判定カーソルｔ_＊＝ｔ_ｐ（２）＋＊を用いて、時刻ｔ_＊での時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ_＊）｜_ｉを求め、これをＳＰ_ｔ＊｜_ｉとして、次の式１６で示すグラウト充填状態判定式に基づいて、グラウト充填状態を「未充填」、または「充填不足」と自動判定する。なお、α^～ _σ値は、数式において、αの上に“～”を付された符号を表す。この第１ＴＡ処理での自動判定結果と、上述の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}とを一緒にして表示部１３５に自動表示している。

ここで、空充判定線分α^～ _σ値は、閾値α_σ＝０．５を用いてα^～ _σ＝α_σ＋０．０６としている。空充判定カーソルｔ_＊＝ｔ_ｐ（２）＋＊の＊値は、多数シースの充填状態分析例により得た平均値であり、表２で分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）及び分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）ごとに設定している。

第１の分析処理で得る表１のシースかぶり厚パターン毎の開始測点ｎＡ、終了測点ｎＢを用い、ｎ１＝ｎＢの場合（図２４のステップＳ１１５：Ｙｅｓ）、測点ｉ＝ｎＡ～ｎＢの全測点におけるグラウト充填状態を判定済みのため、判定結果を表示部１３５に表示したのち、第７の分析処理の第２ＴＡ処理をスキップして、全ての処理を終了する。なお、単一点計測の場合も第７の分析処理の第２ＴＡ処理をスキップして、全ての処理を終了する。

なお、第１の処理は、分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）が一定値の「パターン（０）」の場合であり、測点ｉ＝ｎＡ～ｎＢの反射Ｐ波位相情報が同一となる。

これより、第１ＴＡ処理において、ＳＰ加算及びＷＡＶＥ加算のいずれの時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}でもグラウト充填状態は同一の分析結果（充填不足または未充填）となる。なお、分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）が同一値とはいいながら、若干の違いがあれば、ＷＡＶＥ加算では測点ｉ＝ｎＡ～ｎ１のシース反射Ｐ波の位相が変化することにより、この波の振幅が低減する。

これより、オペレータの操作でｉ＝ｎｗ＋１をＷＡＶＥ加算とＳＰ加算との双方とする２つの時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、２つの時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}（ただし、ＭＥＭスペクトル表示、ｎｃ＝２）、及び空充判定カーソルｔ_＊＝ｔ_ｓ（２）＋＊の時刻での２つの時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ_＊）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を比較表示可能とし、上述の問題点（４）の存在有無を確認できるようにしている。
一方、ｎ１＜ｎＢの場合（図２４のステップＳ１１５：Ｎｏ）、測点ｉ＝ｎ１＋１～ｎＢにおけるグラウト充填状態を判定するため、第２ＴＡ処理へ移行する。

第７の分析処理における第２ＴＡ処理（図２４のステップＳ１１６）は、多点計測の場合にのみ適用し、自動的に単一点計測には適用されず、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_ｉが、測点ｉ＝ｎ１＋１～ｎＢごとに、Δｔ_Ｂ１＝６μ秒、及びΔｔ_Ｂ２＝１２μ秒として、時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_Ｂ２で、閾値α_σ＝０．５を下回るとき、時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_Ｂ２のさらなる後方で測点ｉ＝ｎ１＋１～ｎＢの時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_ｉが閾値α_σ＝０．５を超える時刻をｔ_ｉとし、次の式１７を満足させる測点ｉの時刻ｔ_ｉ値を選定する。

ここでｔ_{Ｍ１（１）}は、上述の式４、式５、及び式６でシース反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐをｔ_ｐ（１）に、シース反射Ｍ_１波の起生時刻ｔ_Ｍ１をｔ_{Ｍ１（１）}に、シース反射Ｍ_２波の起生時刻ｔ_Ｍ２をｔ_{Ｍ２（２）}に置き換えて得るシース反射Ｍ_１波起生時刻ｔ_{Ｍ１（１）}≒（ｔ_ｐ（１）＋ｔ_ｐ（１）／０．６２）／２である。なお、係数０．６２は、一般的なコンクリートの横波音速Ｖ_ｓ／縦波音速Ｖ_ｐで求めている。
これら時刻ｔ_ｉの平均値を時刻平均値ｔ_Ａとして、次の式１８でΔｔ_Ａを求める。なお、式１７を満足させる時刻ｔ_ｉ値がない場合、時刻平均値ｔ_Ａ＝ｔ_{Ｍ１（１）}として、式１８でΔｔ_Ａを求める。

分析用２次シース反射Ｍ_１波起生時刻ｔ_{Ｍ１（２）}を、次の式１９で求めている。

ここで、係数０．６５は、多数の分析結果より得た平均値である。
分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）は、次の式２０で算定される。

式８の関係が分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）の増減分量と、シース反射Ｍ_１波起生時刻ｔ_{Ｍ１（１）}の増減分量Δｔ_Ａとの関係でも成立することにより、次の式２１が成立する。

分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）は、式２のｔ_ｐを分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）に、式２のｄｓを分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）に置き換えて求めている。
なお、分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）、及び分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）は、計測対象シースの対象測点のグラウト充填状態を正確に自動特定するために準備している。
この後、第３の分析処理、及び第４の分析処理の再度の処理で、分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）を分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）に置き換え、分析用１次時系列ＧＣ_（１）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}の代わりに、分析用２次時系列ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を作成する。

次に、第５の分析処理の再度の処理で、分析用２次時系列ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}に、分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）を用いた台形窓関数Ａのｔ_ｐ（２）－Δｔ_ｐ１を始点時刻ｔ_始とし、ｔ_ｐ（２）＋Δｔ_ｐ２を終点時刻ｔ_終とする時刻掃引処理を適用し、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及び時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を作成している。

この際、制御部１３６は、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}（ただし、ＭＥＭスペクトル表示、ｎｃ＝２）、及び空充判定カーソルｔ_＊＝ｔ_ｓ（２）＋＊の時刻での時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ_＊）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を、オペレータの操作を受け付けて表示部１３５に表示可能としている。

ところで、加算平均波は、測点ｉ＝ｎ１＋１～ｎＢのＧＣ_（２）（ｔ）｜_ｉを用いて作成する必要がある。
そこで、ＷＡＶＥ加算平均波ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}は、次の式２２で作成し直している。

さらに、上述のＷＡＶＥ加算平均波ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}のＦＦＴ変換でスペクトルＦＣ_（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を求め、次の式２３でスペクトルＦＣ^～ _（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を作成し、位相情報をスペクトルＦＣ_（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}のそれに変更し、この後、ＦＦＴ逆変換でＳＰ加算平均波ＧＣ^～ _（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を作成する。

次に、第５の分析処理の再々度の台形窓関数Ａのｔ_ｐ（２）－Δｔ_ｐ１を始点時刻ｔ_始とし、ｔ_ｐ（２）＋Δｔ_ｐ２を終点時刻ｔ_終とする掃引処理を、上述のＷＡＶＥ加算平均波ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}、及び上述のＳＰ加算平均波ＧＣ^～ _（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}に適用し、分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）を用いて、ＷＡＶＥ加算とＳＰ加算の双方で時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}、時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を作成し直している。

この際、制御部１３６は、ＷＡＶＥ加算及びＳＰ加算双方の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}（ただし、ＭＥＭスペクトル表示、ｎｃ＝２）を、それぞれオペレータの操作を受け付けて表示部１３５に表示可能としている。

その後、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎ１＋１～ｎＢ}と、ＳＰ加算の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}とを用いて、測点ｉ＝ｎ１＋１～ｎＢ各々での、及びＳＰ加算ｉ＝ｎｗ＋１でのグラウト充填状態を自動判定する。

空充判定線分α^～ _σ値、及び空充判定カーソルｔ_＊＝ｔ_ｐ（２）＋＊を用いて、時刻ｔ_＊での時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ_＊）｜_ｉを求め、これをＳＰ_ｔ＊｜_ｉとして、式１６に示したグラウト充填状態判定式に基づいて、グラウト充填状態を「完全充填」と判定し、この第２ＴＡ処理での判定結果と、上述の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}とを一緒にして表示部１３５に自動表示して分析を終了する。

この際、第７の分析処理の第１ＴＡ処理と同様に、第２ＴＡ処理でもオペレータの操作でｉ＝ｎｗ＋１をＷＡＶＥ加算とＳＰ加算との双方とする２つの時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、２つの時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}（ただし、ＭＥＭスペクトル表示、ｎｃ＝２）、及び空充判定カーソルｔ_＊＝ｔ_ｓ（２）＋＊の時刻での２つの時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ_＊）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を比較表示可能とし、上述の問題点（４）の存在の有無を確認できるようにしている。

後述の「閾値反射Ｐ波自動化分析事例」の表３の分析例３（測点ｉ＝１～４：完全充填）の分析による測点ｉ＝１～４、及びｉ＝５（ＳＰ加算）での時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_ｉを図３６（ａ）に示している。

空充判定カーソルｔ_＊＝ｔ_ｐ（２）＋＊（ただし、分析例３では分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）＝２０１ｍｍより、表２で＊＝１６）の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_ｆ２（ｔ_＊）｜_{ｉ＝１～５}で完全充填と自動判定されている。
なお、分析オペレータの操作によるｉ＝５（ＷＡＶＥ加算）の時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_ｉ＝５（ただし、ＭＥＭスペクトル表示、ｎｃ＝２）を図３６（ｂ）に示している。ＳＰ加算でも完全充填の形状を示すことになる。

引き続き、第８の分析処理（図２４のステップＳ１１７～ステップＳ１１９）における第１ＴＢ処理、及び第２ＴＢ処理について詳述する。
第８の分析処理における第１ＴＢ処理（図２４のステップＳ１１７）は、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_ｉが、上述の境界測点ｎ１を用いた測点ｉ＝ｎＡ～ｎ１（ｎ１≦ｎＢ）ごとに、Δｔ_Ｂ１＝６μ秒、Δｔ_Ｂ２＝１２μ秒として、時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_Ｂ２で閾値α_σ＝０．５を下回るとき、時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_Ｂ２のさらなる後方の時刻で測点ｉ＝ｎＡ～ｎ１の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_ｉが閾値α_σを超える時刻をｔ_ｉ（ただし、単一点計測の場合、時刻ｔ_ｉ＝ｔ_１）とし、これらの平均値をｔ_Ａとし、閾値α_σを超える時刻ｔ_ｉがない時は第１の分析処理（図２２のステップＳ１０４）で得る分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）を用いて、上述の第７の分析処理における第２ＴＡ処理と同一の手順によりｔ_Ａ＝ｔ_{Ｍ１（１）}として、上述の式１７、式１８、式１９、式２０、及び式２１を用いて分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）を特定し、式２で起生時刻ｔ_ｐを分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）に、シースかぶり厚ｄｓを分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）に置き換えて、分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）を求めている。

その後、第３の分析処理、及び第４の分析処理の再度の処理で、分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）を分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）に置き換え、分析用１次時系列ＧＣ_（１）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}の代わりに、分析用２次時系列ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を作成する。

次に、第５の分析処理の再度の処理で、分析用２次時系列ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}に対する分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）を用いた台形窓関数Ａのｔ_ｐ（２）－Δｔ_ｐ１を始点時刻ｔ_始とし、ｔ_ｐ（２）＋Δｔ_ｐ２を終点時刻ｔ_終とする時刻掃引処理で時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及び時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を作成している。

この際、制御部１３６は、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及び時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}（ただし、ＭＥＭスペクトル表示、ｎｃ＝２）を、オペレータの操作を受け付けて表示部１３５に表示可能としている。

ところで、加算平均波は、測点ｉ＝ｎＡ～ｎ１のＧＣ_（２）（ｔ）｜_ｉを用いて作成する必要がある。
そこで、ＷＡＶＥ加算平均波ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}は、下記の式１４で作成し直している。

さらに、上述のＷＡＶＥ加算平均波ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}のＦＦＴ変換でスペクトルＦＣ_（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を求め、下記の式１５でスペクトルＦＣ^～ _（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を作成し、位相情報をスペクトルＦＣ_（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}のそれに変更し、この後、ＦＦＴ逆変換でＳＰ加算平均波ＧＣ^～ _（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を作成する。

その後、第５の分析処理の再々度の台形窓関数Ａのｔ_ｐ（２）－Δｔ_ｐ１を始点時刻ｔ_始とし、ｔ_ｐ（２）＋Δｔ_ｐ２を終点時刻ｔ_終とする掃引処理に、上述のＷＡＶＥ加算平均波ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}、及び上述のＳＰ加算平均波ＧＣ^～ _（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を適用し、分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）を用いて、ＷＡＶＥ加算とＳＰ加算の双方で時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}、及び時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を作成している。

この際、制御部１３６は、ＷＡＶＥ加算及びＳＰ加算双方の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}（ただし、ＭＥＭスペクトル表示、ｎｃ＝２）、及び空充判定カーソルｔ_＊＝ｔ_ｓ（２）＋＊の時刻での時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ_＊）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を、それぞれオペレータの操作を受け付けて表示部１３５に表示可能としている。

次に、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎＡ～ｎ１}と、ＳＰ加算の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}とを用いて、測点ｉ＝ｎＡ～ｎ１各々での、及びＳＰ加算ｉ＝ｎｗ＋１でのグラウト充填状態を判定する。空充判定線分α^～ _σ値、及び空充判定カーソルｔ_＊＝ｔ_ｐ（２）＋＊を用いて、時刻ｔ_＊での時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ_＊）｜_ｉを求め、これをＳＰｔ_＊｜_ｉとして、式１６のグラウト充填状態判定式に基づいて、グラウト充填状態を「完全充填」と自動判定し、この第１ＴＢ処理での自動判定結果と、上述の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}とを一緒にして表示部１３５に自動表示している。

なお、オペレータの操作でｉ＝ｎｗ＋１をＷＡＶＥ加算とＳＰ加算との双方とする２つの時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、２つの時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}（ただし、ＭＥＭスペクトル表示、ｎｃ＝２）、及び空充判定カーソルｔ_＊＝ｔ_ｓ（２）＋＊の時刻での２つの時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ_＊）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を比較表示可能とし、上述の問題点（４）の存在の有無を確認できるようにしている。

第１の分析処理で得る表１のシースかぶり厚パターン毎の開始測点ｎＡ、及び終了測点ｎＢを用い、ｎ１＝ｎＢの場合（図２４のステップＳ１１８：Ｙｅｓ）、測点ｉ＝ｎＡ～ｎＢの全測点におけるグラウト充填状態が判定済みのため、判定結果を表示部１３５に表示したのち、第８の分析処理の第２ＴＢ処理をスキップして、全ての処理を終了する。なお、単一点計測の場合も第８の分析処理の第２ＴＢ処理をスキップして、全ての処理を終了する。
一方、ｎ１＜ｎＢの場合（図２４のステップＳ１１８：Ｎｏ）、測点ｉ＝ｎ１＋１～ｎＢにおけるグラウト充填状態を判定するため、第２ＴＢ処理へ移行する。

第８の分析処理における第２ＴＢ処理（図２４のステップＳ１１９）は、多点計測の場合にのみ適用し、自動的に単一点計測には適用されず、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_ｉが、測点ｉ＝ｎ１＋１～ｎＢ（ｎＢ＝ｎｗ）ごとに、Δｔ_Ｂ１＝６μ秒、Δｔ_Ｂ２＝１２μ秒とする時刻ｔ_ｐ（１）－Δｔ_Ｂ１から時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_Ｂ２の間で増加傾向にあり、時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_Ｂ２で閾値α_σ＝０．５を超えている時、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎ１＋１～ｎＢ}ごとに時刻ｔ_ｐ（１）－Δｔ_Ｂ１と時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_Ｂ２との間で閾値α_σを超える時刻をｔ_ｉとし、測点ｉごとの時刻ｔ_ｉの平均値である時刻平均値ｔ_Ａを求め、上述の式１２でΔｔ_Ａを求め、上述の式１３で分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）を特定する。

対応する分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）は、式２で起生時刻ｔ_ｐを分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）に、シースかぶり厚ｄｓを分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）に置き換えて求める。
その後、第３の分析処理、及び第４の分析処理の再度の処理で、分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）を分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）に置き換え、分析用１次時系列ＧＣ_（１）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}の代わりに、分析用２次時系列ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を作成する。

次に、第５の分析処理の再度の処理で、分析用２次時系列ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}に対する分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）を用いた台形窓関数Ａのｔ_ｐ（２）－Δｔ_ｐ１を始点時刻ｔ_始とし、ｔ_ｐ（２）＋Δｔ_ｐ２を終点時刻ｔ_終とする時刻掃引処理で時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及び時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を作成している。

この際、制御部１３６は、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及び時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}（ただし、ＭＥＭスペクトル表示、ｎｃ＝２）を、オペレータの操作を受け付けて表示部１３５に表示可能としている。

ところで、加算平均波は、測点ｉ＝ｎ１＋１～ｎＢのＧＣ_（２）（ｔ）｜_ｉを用いて作成する必要がある。
そこで、ＷＡＶＥ加算平均波ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を、式２２で作成し直している。

さらに、上述のＷＡＶＥ加算平均波ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}のＦＦＴ変換でスペクトルＦＣ_（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を求め、式２３でスペクトルＦＣ^～ _（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を作成し、位相情報をスペクトルＦＣ_（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}のそれに変更し、この後、ＦＦＴ逆変換でＳＰ加算平均波ＧＣ^～ _（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を作成する。

次に、第５の分析処理の再々度の台形窓関数Ａのｔ_ｐ（２）－Δｔ_ｐ１を始点時刻ｔ_始とし、ｔ_ｐ（２）＋Δｔ_ｐ２を終点時刻ｔ_終とする掃引処理を、上述のＷＡＶＥ加算平均波ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}、及び上述のＳＰ加算平均波ＧＣ^～ _（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}に適用し分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）を用いて、ＷＡＶＥ加算とＳＰ加算との双方で時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}、及び時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を作成し直している。

この際、制御部１３６は、ＷＡＶＥ加算及びＳＰ加算双方の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及び時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}（ただし、ＭＥＭスペクトル表示、ｎｃ＝２）を、それぞれオペレータの操作を受け付けて表示部１３５に表示可能としている。

その後、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎ１＋１～ｎＢ}と、ＳＰ加算の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}とを用いて、測点ｉ＝ｎ１＋１～ｎＢ各々での、及びＳＰ加算ｉ＝ｎｗ＋１でのグラウト充填状態を、以下の処理で自動判定する。

空充判定線分α^～ _σ値、及び空充判定カーソルｔ_＊＝ｔ_ｐ（２）＋＊を用いて、時刻ｔ_＊での時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ_＊）｜_ｉを求め、これをＳＰｔ_＊｜_ｉとして、式１６のグラウト充填状態判定式に基づいて、グラウト充填状態を「未充填」または「充填不足」と自動判定し、この第２ＴＢ処理での判定結果と、上述の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}とを一緒にして表示部１３５に自動表示している。

この際、第７の分析処理の第１ＴＡ処理と同様に、第８の分析処理の第２ＴＢ処理でもオペレータの操作でｉ＝ｎｗ＋１をＷＡＶＥ加算とＳＰ加算との双方とする２つの時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、２つの時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}（ただし、ＭＥＭスペクトル表示、ｎｃ＝２）、及び空充判定カーソルｔ_＊＝ｔ_ｓ（２）＋＊の時刻での２つの時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ_＊）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を比較表示可能とし、上述の問題点（４）の存在の有無を確認できるようにしている。

引き続き、図２２のステップＳ１０６において、「パターン（０）」でない場合（ステップＳ１０６：Ｙｅｓ）、解析機器１３が開始する第２の処理（図２２のステップＳ１０８）、及び第３の処理（図２２のステップＳ１０９）について詳述する。

シースかぶり厚パターンが図２７に示す「パターン（１）～（４）」、「パターン（１´）～（４´）」となる場合、パターン毎に、表１の開始測点ｎＡ、及び終了測点ｎＢを用いて、分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_大による第２の処理、及び分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_小による第３の処理を順次行う。ただし、単一点計測の場合、第１の処理で分析がなされることにより、これらの第２の処理、及び第３の処理は行われない。

まず、第２の処理（図２２のステップＳ１０８）は、図２３、及び図２４に示した第１の処理と同一の分析の流れで、かつ、その処理内容も第１の処理と同一である。
ただし、第２の処理は、第１の処理における分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）をｔ_ｐ（１）｜_大に、分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）をｄｓ_（１）｜_大に、分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）をｔ_ｐ（２）｜_大に、分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）をｄｓ_（２）｜_大に、シース反射Ｍ_１波起生時刻ｔ_{Ｍ１（１）}をｔ_{Ｍ１（１）}｜_大に、分析用２次シース反射Ｍ_１波起生時刻ｔ_{Ｍ１（２）}をｔ_{Ｍ１（２）}｜_大に置き換える。

また、第３の処理（図２２のステップＳ１０９）は、図２３、及び図２４に示した第１の処理と同一の処理の流れで、かつ、その処理内容も第１の処理と同一である。
ただし、第３の処理は、第１の処理における分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）をｔ_ｐ（１）｜_小に、分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）をｄｓ_（１）｜_小に、分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）をｔ_ｐ（２）｜_小に、分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）をｄｓ_（２）｜_小に、シース反射Ｍ_１波起生時刻ｔ_{Ｍ１（１）}をｔ_{Ｍ１（１）}｜_小に、分析用２次シース反射Ｍ_１波起生時刻ｔ_{Ｍ１（２）}をｔ_{Ｍ１（２）}｜_小に置き換える。

ところで、上述した問題点（４）が存在する場合、第１の処理、第２の処理、及び第３の処理でのＷＡＶＥ加算による時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を用いてのグラウト充填状態の判定は、「未充填」を「完全充填」または「充填不足」と誤判定することが多出する。

後述する「閾値反射Ｐ波自動化分析事例」の表３に示す分析例４の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を図３９（ａ）に示している。
図３９（ａ）では、Ｎｏ．５（＝Ｎｏ．１＋Ｎｏ．２＋Ｎｏ．３＋Ｎｏ．４）ＳＰ加算による時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_ｉ＝５を実線で示し、Ｎｏ．５（＝Ｎｏ．１＋Ｎｏ．２＋Ｎｏ．３＋Ｎｏ．４）ＷＡＶＥ加算による時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_ｉ＝５を点線で示している。

図３９（ａ）は、削孔で「未充填」と確認されている計測対象シースであり、空充判定カーソルｔ_＊＝ｔ_ｐ（２）＋＊（ただし、表３の分析例４の分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）＝１９８ｍｍより、表２で＊＝１６）の時刻で、ＳＰ加算（実線）では、空充判定線分α^～ _σを大きく超え、未充填（正解）と判定されているが、ＷＡＶＥ加算（点線）では、空充判定線分α^～ _σを若干超えるだけとなっている。

同シースの図３８（ａ）に示すシース反射波起生状況をみると、測点ｉ＝２，３，４で同一位相となっているが、測点ｉ＝１は約半波位相ズレが生じている。問題点（４）によるこの程度のシースかぶり厚の変化であっても、ＷＡＶＥ加算による分析では、グラウト充填状態の判定に悪影響を与えることを示している。

ここで、問題点（４）の存在を確認する方法と、その対処法を整理する。第１の処理（ステップＳ１０７）、第２の処理（ステップＳ１０８）、及び第３の処理（ステップＳ１０９）ごとの第７の分析処理の第１ＴＡ処理（ステップＳ１１４）及び第２ＴＡ処理（ステップＳ１１６）、並びに第８の分析処理の第１ＴＢ処理（ステップＳ１１７）及び第２ＴＢ処理（ステップＳ１１９）でそれぞれの分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）またはｔ_ｐ（２）｜_大あるいはｔ_ｐ（２）｜_小ごとに、計測対象シースの対応する測点群を選定し、上述の式１４のＷＡＶＥ加算、上述の式１５のＳＰ加算、または上述の式２２のＷＡＶＥ加算、上述の式２３のＳＰ加算を介して、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}、時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}をＷＡＶＥ加算及びＳＰ加算の双方で求めている。

この際、制御部１３６は、ＷＡＶＥ加算及びＳＰ加算双方の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}（ただし、ＭＥＭスペクトル表示、ｎｃ＝２）、及び空充判定カーソルｔ_＊＝ｔ_ｓ（２）＋＊の時刻での時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ_＊）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を、それぞれオペレータの操作を受け付けて表示部１３５に表示可能としている。

正解を得る加算波がＳＰ加算ということより、自動化処理では、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}（ＳＰ加算）を用いて、グラウト充填状態の分析を行っている。
オペレータの操作によって、ＷＡＶＥ加算を用いた時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}（ＷＡＶＥ加算）でも、式１６のグラウト充填状態判定式を用いてグラウト充填状態を分析し、双方の充填状態を図３９（ａ）に示す如く比較し、問題点（４）の存在の有無を確認し、かつＳＰ加算による計測対象シースのグラウト充填状態の分析結果の正当性をオペレータが確認できる。

このような分析結果の対比をオペレータの本閾値分析における分析検討能力を向上させる手段として位置付けている。なお、採用する時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ_＊）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}がＳＰ加算で「未充填または充填不足」であり、ＷＡＶＥ加算で「完全充填」となる場合は、問題点（４）の存在により「未充填または充填不足」が正解であり、ＳＰ加算及びＷＡＶＥ加算の双方で「未充填」の場合は、問題点（４）の有無に関わらず「未充填」が正解であり、ＳＰ加算及びＷＡＶＥ加算の双方で「充填不足」または「未充填」のいずれかの場合は、問題点（４）の有無に関わらず「充填不足」が正解であり、ＳＰ加算で「完全充填」となる場合は、問題点（４）の有無に関わらずＷＡＶＥ加算でも必ず「完全充填」となる。

＜閾値反射Ｐ波自動化分析事例＞
図２２、図２３、及び図２４の分析の流れに沿う閾値反射Ｐ波分析を、多数の計測済みＰＣ橋梁シースの中より選定したシース受信波を用いて具体的に説明する。
次の表３に示す４本のシースは、上述した４つの問題点（１）から（４）のいずれか、または４つの問題点（１）から（４）の組み合わせに対処する分析例である。

表３は、シース径欄が計測対象シースの直径（全てφ_ｓ３８）を示し、版厚欄、２段目シース欄、及びＲＣレーダ欄が、それぞれ分析を妨害する版厚ｄ_ｗ、２段目シースｄ_２ｓ、計測対象シースのレーダ計測かぶり厚ｄｓ｜_ＲＣを示している。さらに、削孔欄が削孔で確認した削孔かぶり厚ｄｓ｜_削、及びグラウト充填状態を示している。

加えて、分析用１次かぶり厚欄が、第１の分析処理（ステップＳ１０４）で得た各側点での分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）（またはｄｓ_（１）｜_大、及びｄｓ_（１）｜_小）を示している。さらにまた、分析用２次かぶり厚欄が、第７の分析処理、及び第８の分析処理で求めた分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）（またはｔ_ｐ（２）｜_大及びｔ_ｐ（２）｜_小）に対応する各測点の分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）（またはｄｓ_（２）｜_大、及びｄｓ_（２）｜_小）を示している。

さらにまた、空充判定欄が、自動分析によるグラウト充填状態の判定結果、及び分析オペレータによるグラウト充填状態の判定結果を示し、白丸印が「未充填」を示し、白三角印が「充填不足」を示し、黒丸印が「完全充填」を示している。

＜分析例１＞
分析例１は、上述した４つの問題点（１）から（４）に対処する分析となる。なお、分析例１の計測対象シースは、表層の密なる配筋下、測点ｉ＝１と測点ｉ＝２との中間位置での削孔等によって、「完全充填」と確認されている。

分析例１では、図２２の第１の収録処理（ステップＳ１０２）、及び第２の収録処理（ステップＳ１０３）を経て、測点ｉ＝１～４の受信波、及びｉ＝５の加算平均波（Ｎｏ．１＋Ｎｏ．２＋Ｎｏ．３＋Ｎｏ．４）のスペクトルと、時系列とを得ている。

さらに、分析例１は、別途、削孔で得た削孔かぶり厚ｄｓ｜_削（＝２６０ｍｍ）に対応する起生時刻ｔ_ｐ｜_削（＝１２５．５μ秒）を、別途求めたコンクリート縦波音速Ｖ_ｐを用いて式１で求め、ｔ_ｈ＝ｔ_ｐ｜_削を基本時刻とする時刻フィルタ関数ＴＧＣ４（ｔ）を前記時系列に乗じて、図２８（ａ）に示す時系列（図中の太線）と対応するスペクトルを得る。

第１の分析処理（図２２のステップＳ１０４）において、図２６（ａ）に示すＦ３（ｆ）フィルタ関数を、図２８（ａ）のスペクトルに乗じて得た図２８（ｂ）によれば、測点ｉ＝１で分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）｜_大となり、測点ｉ＝２，３，４の分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）｜_ｉの平均値がｔ_ｐ（１）｜_小となり、計測対象シースのかぶり厚の状況が、図２７に示した「パターン（１）」となっている。

測点ｉ＝１の分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_大と、測点ｉ＝２，３，４の分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_ｉの平均値ｄｓ_（１）｜_小とは、対応する分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）｜_大、またはｔ_ｐ（１）｜_小をそれぞれ式２の起生時刻ｔ_ｐに適用して得たｄｓ値である。
なお、分析例１では、第１の分析処理において、Ｆ３（ｆ）フィルタ関数の中心振動数ｆ_ｓを、図２８（ｂ）の視認下でのオペレータの操作によって、ｆ_ｓ＝８０ｋＨｚからｆ_ｓ＝８２ｋＨｚに移動させている。

次に、第２の分析処理（図２２のステップＳ１０５）において、受信波（ｉ＝１～４）、及び加算平均波（ｉ＝５、ＷＡＶＥ加算）のスペクトル（図１４（ａ）参照）にＡ_Ｋ（ｆ）フィルタ関数を乗じ、図１４（ｂ）に示すような分析用スペクトルＦＡ（ｆ）｜_{ｉ＝１～５}、及び分析用時系列ＧＡ（ｔ）｜_{ｉ＝１～５}を求めている。

まず、分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_大（分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）｜_大）の測点ｉ＝１でのグラウト充填状態を判定する。シースかぶり厚パターンが「パターン（１）」のため（図２２のステップＳ１０６：Ｙｅｓ）、第２の分析処理で作成した分析用時系列ＧＡ（ｔ）｜_{ｉ＝１～５}に、第２の処理（図２２のステップＳ１０８）における第３の分析処理、第４の分析処理、及び第５の分析処理（図２３のステップＳ１１１）を順次適用し、第３の分析処理で分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）｜_大を用いた分析用切り出し波ＧＢ_（１）（ｔ）｜_{ｉ＝１～５}（図１８（ａ）参照）を、極狭時間帯域波として求め、この波をＦＦＴ変換してスペクトルＦＢ_（１）（ｆ）｜_{ｉ＝１～５}を求めている。

さらに、第４の分析処理でスペクトルＦＢ_（１）（ｆ）｜_{ｉ＝１～５}を閾値処理して求めた分析用１次スペクトルＦＣ_（１）（ｆ）｜_{ｉ＝１～５}（図１８（ｂ）参照）をＦＦＴ逆変換して分析用１次時系列ＧＣ_（１）（ｔ）｜_{ｉ＝１～５}を求め、第５の分析処理で分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）｜_大を用いて、図２９（ａ）の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～５}（図中でＳＰ_ｆ２と表示）、及び時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（１）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝１～５}（図示せず）を求めている。なお、図中において、図示を明確にするため「｜_大」の付記を省略している。
表１によれば、分析例１は、「パターン（１）」であることから、分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_大の場合、ｎＡ＝ｎＢ＝１と目視されるため、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_ｉ＝１を太線で表示している。

次に、第６の分析処理（図２３のステップＳ１１２）で、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_ｉ＝１の形状により、特性ＴＡが選択され、かつｎ１＝ｎＢ＝１と特定される。
時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_ｉ＝１が、Δｔ_Ｂ１＝６μ秒、Δｔ_Ｂ２＝１２μ秒とする時刻ｔ_ｐ（１）｜_大－Δｔ_Ｂ１から順次増加傾向にあり、時刻ｔ_ｐ（１）｜_大＋Δｔ_Ｂ２で閾値α_σを超えていると確認できるため、この選択がなされ、第７の分析処理の第１ＴＡ処理（図２４のステップＳ１１４）へ移行する。

図２９（ａ）の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎＡ～ｎ１}（ただし、ｎＡ＝１、ｎ１＝ｎＢ＝１）により、時刻平均値ｔ_Ａ＝ｔ_１となり、式１２、及び式１３の分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）をｔ_ｐ（１）｜_大に、分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）をｔ_ｐ（２）｜_大に置き換えて、Δｔ_Ａ、及び分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）｜_大を求めている。

その後、第３の分析処理、及び第４の分析処理の再度の処理で、分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）｜_大を分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）｜_大に置き換え、分析用１次時系列ＧＣ_（１）（ｔ）｜_{ｉ＝１～５}の代わりに、分析用２次時系列ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝１～５}を作成し、次に第５の分析処理の再度の処理で時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～５}、及び時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝１～５}を作成したのち、表示部１３５に表示している。

ところで、加算平均波ｉ＝５は、式１４、及び式１５を用いたＷＡＶＥ加算平均波ＧＣ_（２）（ｔ）｜_ｉ＝５、及びＳＰ加算平均波ＧＣ^～ _（２）（ｔ）｜_ｉ＝５の双方となる。このため、第５の分析処理の再々度の台形窓関数Ａの掃引処理に、ＷＡＶＥ加算平均波ＧＣ_（２）（ｔ）｜_ｉ＝５、及びＳＰ加算平均波ＧＣ^～ _（２）（ｔ）｜_ｉ＝５を適用し、ＷＡＶＥ加算とＳＰ加算との双方で時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～５}、及び時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_ｉ＝５を作成し直したのち、表示部１３５に表示している。

分析例１は、偶然、分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）｜_大≒分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）｜_大となっており、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_ｉと時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_ｉとが略同一の形状となることにより、図２９（ａ）を時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～５}として、測点ｉ＝１またはｉ＝５のＳＰ加算の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_ｉを用いて、測点ｉ＝１のグラウト充填状態を判定している。なお、ｎＡ＝ｎＢ＝１ということにより、ＳＰ加算とＷＡＶＥ加算による時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_ｉは同一となり、同一の分析結果となる。

上述の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１，５}（＝ＳＰｔ_＊｜_ｉ）によれば、空充判定カーソルｔ_＊＝ｔ_ｐ（２）｜_大＋＊（ただし、表３の分析例１の分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）｜_大＝２７５ｍｍより、表２から＊＝１８）の時刻で空充判定線分α^～ _σ＝０．５６を超えており、式１６に示すグラウト充填状態判定式でα^～ _σ＜ＳＰｔ_＊｜_{ｉ＝１，５}＜α^～ _σ＋０．１８となるため、「充填不足」と自動判定し、第１ＴＡ処理を終了する。なお、図２９（ａ）中において、図示を明確にするため、分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）、ｄｓ_（１）、分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）、及びｄｓ_（２）は、「｜_大」の付記を省略している。

図２９（ａ）は、白四角印で示す縦カーソルで、２段目シース反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ｜_ｄ２ｓを示している。測点ｉ＝２～４における２段目シース反射Ｐ波（図中の細実線）が、２段目シース反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ｜_ｄ２ｓ近傍から生じていることを確認できる。

なお、分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_大（＝２７０ｍｍ）、及び分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）｜_大（＝２７５ｍｍ）は、それぞれ式２のｔ_ｐを分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）｜_大、及びｔ_ｐ（２）｜_大に置き換えて求めている。
また、図２９（ｂ）に測点ｉ＝１の充填不足を示す時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_ｉ＝１（ただし、ＭＥＭスペクトル表示、ｎｃ＝２）を図示している。

第７の分析処理の第１ＴＡ処理を終了すると、ｎ１＝ｎＢ（＝１）のため（図２４のステップＳ１１５：Ｙｅｓ）、解析機器１３は、第７の分析処理の第２ＴＡ処理をスキップするとともに、第２の処理を終了して、分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_小となる測点の分析を行う第３の処理（図２２のステップＳ１０９）へ移行する。

これより、分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_小の測点ｉ＝２，３，４のグラウト充填状態の分析となる。第３の処理において、上述の第２の分析処理で作成した分析用時系列ＧＡ（ｔ）｜_{ｉ＝１～５}を、第３の分析処理、第４の分析処理、及び第５の分析処理に順次適用し、第３の分析処理で分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）｜_小を用いた分析用切り出し波ＧＢ_（１）（ｔ）｜_{ｉ＝１～５}を求め、対応するスペクトルＦＢ_（１）（ｆ）｜_{ｉ＝１～５}を求める。

さらに、第４の分析処理で上述のスペクトルＦＢ_（１）（ｆ）｜_{ｉ＝１～５}を閾値処理して分析用１次スペクトルＦＣ_（１）（ｆ）｜_{ｉ＝１～５}と、対応する分析用１次時系列ＧＣ_（１）（ｔ）｜_{ｉ＝１～５}を求め、第５の分析処理で分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）｜_小を用いた台形窓関数Ａによる時刻掃引処理で図３０（ａ）の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～５}、及び時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（１）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝１～５}（図示せず）を求めている。

次に、第３の処理における第６の分析処理で、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝２～４}の形状により、特性ＴＢが選択される。
表１によれば、分析例１が「パターン（１）」のため、開始測点ｎＡ＝２、及び終了測点ｎＢ＝４である。時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_ｉが、Δｔ_Ｂ１＝６μ秒、Δｔ_Ｂ２＝１２μ秒として、時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_Ｂ２で閾値α_σを下回る測点がｉ＝ｎＡ～ｎ１（ただし、ｎＡ＝２、ｎ１＝ｎＢ＝４）と確認できるため、この選択がなされ、第８の分析処理の第１ＴＢ処理（図２４のステップＳ１１７）へ移行する。

図３０（ａ）の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎＡ～ｎ１}によれば、測点ｉ＝２，３，４の時刻ｔ_ｉのうち、時刻ｔ_２、及び時刻ｔ_４が式１７を満足させることより、時刻平均値ｔ_Ａを時刻ｔ_２、及び時刻ｔ_４の平均値として、式１８でΔｔ_Ａを算定している。ここで、式１７、式１８、及び式１９に示すシース反射Ｍ_１波起生時刻ｔ_{Ｍ１（１）}は、ｔ_{Ｍ１（１）}≒（ｔ_ｐ（１）＋ｔ_ｐ（１）／０．６２）／２としている。

さらに、式１９で得る分析用２次シース反射Ｍ_１波起生時刻ｔ_{Ｍ１（２）}をｔ_{Ｍ１（２）}｜_小として、式２０の分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）、及び分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）を、それぞれｔ_ｐ（１）｜_小、及びｔ_ｐ（２）｜_小に置き換えて、分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）｜_小を求めている。なお、式２０の増減分量Δｔは式２１で計算している。

分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）｜_小は、式２の起生時刻ｔ_ｐを分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）｜_小に、シースかぶり厚ｄｓを分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）｜_小に置き換えて求めている。
図３０（ａ）によれば、分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_小（＝２３０ｍｍ）、分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）｜_小（＝１１１．８μ秒）、分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）｜_小（＝２２１ｍｍ）、及び分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）｜_小（＝１０７．８μ秒）となっている。

次に、分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）｜_小を、第３の分析処理、第４の分析処理、及び第５の分析処理の再度の連続処理に適用することで、図３０（ｂ）に示す時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～５}を作成している。なお、第５の分析処理の再々度の処理で、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_ｉ＝５、及び時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_ｉ＝５を、測点ｉ＝２，３，４のＷＡＶＥ加算、及びＳＰ加算の双方で再作成している。

さらに、ＳＰ加算の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎＡ～ｎ１}（ただし、ｎＡ＝２、ｎ１＝ｎＢ＝４）を用いて、測点ｉ＝２，３，４のグラウト充填状態を自動判定している。
空充判定カーソルｔ_＊＝ｔ_ｐ（２）＋＊（ただし、分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）＝２２１ｍｍより、表２で＊＝１８）の時刻で時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝２，３，４}が、空充判定線分α^～ _σ＝α_σ＋０．０６（＝０．５６）を大きく下回るため、式１６のグラウト充填状態判定式に基づいて、自動的に測点ｉ＝２，３，４でのグラウト充填状態を「完全充填」と判定して、第８の分析処理の第１ＴＢ処理を終了する。

図３１に、測点ｉ＝２，３，４のＳＰ加算（ｉ＝５）の時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_ｉ＝５（ただし、ＭＥＭスペクトル表示、ｎｃ＝２）を示している。
なお、図３０（ａ）、及び図３０（ｂ）において、図示を明確にするため、分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）、ｄｓ_（１）、分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）、及びｄｓ_（２）は、「｜_小」の付記を省略している。

分析例１は、第８の分析処理の第１ＴＢ処理を終了すると、分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）｜_小のかぶり厚の中でグラウト充填状態が変化しない、換言すれば、ｎ１＝ｎＢ（＝ｎｗ＝４）となるため（図２４のステップＳ１１８：Ｙｅｓ）、解析機器１３は、第８の分析処理の第２ＴＢ処理をスキップして、全ての処理を終了する。

なお、図３０（ａ）及び図３０（ｂ）では、２段目シース反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ｜_ｄ２ｓが自動的に縦カーソルで表示され、２段目シース反射Ｐ波がシース反射Ｐ波の上に混入しない様子を示している。２段目シース反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ｜_ｄ２ｓは、上述の式４でシースかぶり厚ｄｓを、入力受付処理（ステップＳ１０１）で入力された２段目シースのかぶり厚ｄ２ｓと置き換えて求めている。後述の分析例４の図３８（ｂ）、図３９（ａ）、及び図３９（ｂ）でも同様の対処を行っている。

＜分析例２＞
分析例２で用いる計測対象シースは、測点ｉ＝１の削孔でグラウト充填状態が「未充填（空）」と確認されている。この計測対象シースは、図１４、図１５、図１６、及び図１７の順に示したように、シースかぶり厚を同一値とした一連の分析で、測点ｉ＝１～４の全てでグラウト充填状態が「未充填（空）」と分析されているシースと同一のシースである。

上述の一連の分析では、レーダ計測での測点ｉ＝１のレーダ計測かぶり厚ｄｓ｜_ＲＣ＝２４８ｍｍを全測点での分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）として採用している。しかしながら、これは、問題点（３）、及び問題点（４）に起因する誤判定である。正しくは、測点ｉ＝１，２で「未充填」、測点ｉ＝３，４で「完全充填」となるグラウト充填状態境界位置での計測である。

詳述すると、分析例２は、図２２の第１の収録処理（ステップＳ１０２）、及び第２の収録処理（ステップＳ１０３）を経たのち、図２２の第１の分析処理（ステップＳ１０４）の周波数分析（図２６（ａ）、及び図２６（ｂ）参照）により、図３２（ａ）の分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）｜_{ｉ＝１～４}を求め、対応する分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_{ｉ＝１～４}を式２で求めている。

分析例２は、測点ｉ＝１，２の分析用１次かぶり厚をｄｓ_（１）｜_大＝２７１ｍｍ、測点＝３，４の分析用１次かぶり厚をｄｓ_（１）｜_小＝２４４ｍｍとする図２７に示した「パターン（２）」となる分析例である。
なお、第１の分析処理において、Ｆ３（ｆ）フィルタ関数の中心振動数ｆ_ｓを、オペレータの操作によって、ｆ_ｓ＝８０ｋＨｚからｆ_ｓ＝１００ｋＨｚに順次移動させる過程の中で、分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_大（分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）｜_大）、分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_小（分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）｜_小）を高精度に求めている。

次に、第２の分析処理（ステップＳ１０５）において、受信波（ｉ＝１～４）、及び加算平均波（ｉ＝５）のスペクトル（図１４（ａ）参照）に、Ａ_Ｋ（ｆ）フィルタ関数を乗じ、分析用スペクトルＦＡ（ｆ）｜_{ｉ＝１～５}と分析用時系列ＧＡ（ｔ）｜_{ｉ＝１～５}（図１４（ｂ）参照）とを求めている。

まず、分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_大の測点ｉ＝１，２のグラウト充填状態を分析判定する。第２の処理（ステップＳ１０８）において、上述の第２の分析処理で作成した分析用時系列ＧＡ（ｔ）｜_{ｉ＝１～５}に、第３の分析処理、第４の分析処理、及び第５の分析処理を順次適用し、分析例１と同様の処理の流れで、分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）｜_大を用いて図３２（ｂ）に示す時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～５}、及び時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（１）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝１～５}（図示省略）を求めている。

ただし、図３２（ｂ）の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_ｉ＝５は、測点ｉ＝１，２の分析用１次時系列ＧＣ_（１）（ｔ）｜_{ｉ＝１，２}のＷＡＶＥ加算結果を用いて算定し表示している。図３２（ａ）でｉ＝１，２の波に位相ズレがないことより、ＳＰ加算の結果とＷＡＶＥ加算の結果とが同一となる。
次に、第６の分析処理（ステップＳ１１２）で、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝１，２}の形状により、特性ＴＡが選択され、かつ境界測点ｎ１＝２と特定される。

分析例２は、「パターン（２）」のため、表１から開始測点ｎＡ＝１、及び終了測点ｎＢ＝２となる。時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～２}が、Δｔ_Ｂ１＝６μ秒、Δｔ_Ｂ２＝１２μ秒とする時刻ｔ_ｐ（１）｜_大－Δｔ_Ｂ１から時刻ｔ_ｐ（１）｜_大＋Δｔ_Ｂ２の間で増加傾向にあり、時刻ｔ_ｐ（１）｜_大＋Δｔ_Ｂ２で閾値α_σを超える測点が、ｉ＝ｎＡ～ｎ１（ただし、ｎＡ＝１、ｎ１＝ｎＢ＝２）と確認できるため、この選択がなされ、第７の分析処理の第１ＴＡ処理（ステップＳ１１４）へ移行する。

図３２（ｂ）の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎＡ～ｎ１}（ただし、ｎ１＝ｎＢ＝２）で、時刻平均値ｔ_Ａ＝（ｔ_１＋ｔ_２）／２を求め、式１２、及び式１３の分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）をｔ_ｐ（１）｜_大に、分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）をｔ_ｐ（２）｜_大に置き換えて、Δｔ_Ａ、及び分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）｜_大を求めている。

次に、第３の分析処理、第４の分析処理、及び第５の分析処理の再度の連続処理で分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）｜_大を分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）｜_大に置き換えて、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～５}を求め直す。分析例１と同様に、分析例２でも、偶然、分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）｜_大≒分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）｜_大となり、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_ｉと時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_ｉとが、略同一の形状となる。

このため、第５の分析処理の再々度の処理を割愛し、図３２（ｂ）の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_ｉを、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_ｉ（＝ＳＰ_ｔ＊｜_{ｉ＝１，２}）として、式１６のグラウト充填状態判定式に適用し、測点ｉ＝１，２でのグラウト充填状態を「未充填（空）」と自動判定して、第１ＴＡ処理を終了する。

図３３（ａ）に測点ｉ＝１，２の加算波の時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_ｉ＝５（ただし、ＭＥＭスペクトル表示、ｎｃ＝２）を表示している。
なお、測点ｉ＝１～２の加算平均処理で得た図３２（ｂ）の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_ｉ＝５をＳＰ加算ではなくＷＡＶＥ加算で示している。本来、ＳＰ加算による時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_ｉ＝５を用いて、以降の分析を行う手順であるが、以下の理由で、あえてオペレータの操作のもと、ＷＡＶＥ加算の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_ｉ＝５を用いて分析を行っている。

図３２（ａ）の分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）｜_１と分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）｜_２とが同値ということにより、測点ｉ＝１，２のシース反射Ｐ波に位相ズレが生じない。これにより、ＷＡＶＥ加算、及びＳＰ加算のいずれでも正答となる。
なお、図３２（ｂ）において、図示を明確にするため、分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）、及びｄｓ_（２）は、「｜_大」の付記を省略している。

上述の分析がｎ１＝ｎＢ＝２となるため（ステップＳ１１５：Ｙｅｓ）、第７の分析処理の第２ＴＡ処理をスキップするとともに、第２の処理を終了して、分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_小となる測点ｉ＝３，４を分析の対象とする第３の処理（ステップＳ１０９）へ移行する。

第３の処理において、上述の第２の分析処理で作成した分析用時系列ＧＡ（ｔ）｜_{ｉ＝１～５}に、第３の分析処理、第４の分析処理、及び第５の分析処理を順次適用し、分析例１と同様の処理の流れで、分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）｜_小を用いて測点ｉ＝３，４を分析の対象とした図３３（ｂ）の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～５}、及び時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（１）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝１～５}（図示省略）を求めている。

次に、第６の分析処理（ステップＳ１１２）で、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝３，４}の形状により、特性ＴＢが選択され、かつｎ１＝ｎＢ＝４と特定される。表１によれば、分析例２は、「パターン（２）」で、第３の処理では開始測点ｎＡ＝３、及び終了測点ｎＢ＝４となっている。

時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_ｉが、Δｔ_Ｂ２＝１２μ秒とする時刻ｔ_ｐ（１）｜_小＋Δｔ_Ｂ２で閾値α_σを下回る測点として、ｉ＝ｎＡ～ｎ１（ただし、ｎＡ＝３、ｎ１＝ｎＢ＝４）と確認できるため、この選択がなされ、第８の分析処理の第１ＴＢ処理（ステップＳ１１７）へ移行する。

図３３（ｂ）の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎＡ～ｎ１}（ただし、ｎ１＝ｎＢ）で、測点ｉ＝３，４の時刻ｔ_３，及び時刻ｔ_４ともに式１７を満足していることが確認できる。このため、時刻平均値ｔ_Ａを時刻ｔ_３と時刻ｔ_４との平均値として、式１８でΔｔ_Ａを計算し、式１９で分析用２次シース反射Ｍ_１波起生時刻ｔ_{Ｍ１（２）}｜_小を計算している。

さらに、式２０、及び式２１を用いて分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）｜_小から分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）｜_小への増減分量Δｔ、及び分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）｜_小を計算している。分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）｜_小は、式２の起生時刻ｔ_ｐを分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）｜_小に、シースかぶり厚ｄｓを分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）｜_小に置き換えて求めている。

図３３（ｂ）によれば、分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_小（＝２４４ｍｍ）、分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）｜_小（＝１１８．２μ秒）、分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）｜_小（＝２２９ｍｍ）、及び分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）｜_小（＝１１１．２μ秒）となっている。

次に、分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）｜_小を用いた第３の分析処理、第４の分析処理、及び第５の分析処理の再度の連続処理で、図３４（ａ）に示すＳＰ_ｆ２（ｔ）｜_{ｉ＝１～５}（ｉ＝５をｉ＝３，４のＳＰ加算として、ｉ＝３，４，５を太実線で図示している）を作成したのち、第５の分析処理の再々度の処理で測点ｉ＝３，４のＷＡＶＥ加算、及びＳＰ加算の双方の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_ｉ＝５を作成し直したのち、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝３，４}と、ＳＰ加算の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_ｉ＝５とを、式１６のグラウト充填状態判定式に適用し、ｉ＝３，４，５でのグラウト充填状態を「完全充填」と自動判定して、第８の分析処理の第１ＴＢ処理を終了する。

図３４（ｂ）に、オペレータの操作によって表示部１３５に表示された測点ｉ＝３，４でのＳＰ加算による時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_ｉ＝５（ただし、ＭＥＭスペクトル表示、ｎｃ＝２）を図示している。
なお、図３３（ｂ）、及び図３４（ａ）において、図示を明確にするため、ｔ_ｐ（１）、ｄｓ_（１）、ｔ_ｐ（２）、ｄｓ_（２）、ｔ_{Ｍ１（１）}、及びｔ_{Ｍ１（２）}では、「｜_小」の付記を省略している。

第８の分析処理の第１ＴＢ処理を終了すると、分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_小となる測点ｉ＝３，４が「完全充填」と判定され、全ての測点でのグラウト充填状態が判定されているため、第８の分析処理の第２ＴＢ処理をスキップして、全ての処理を終了する。

＜分析例３＞
分析例３で用いる計測対象シースは、測点ｉ＝１の削孔で「完全充填」と確認されている。
図２２の第１の分析処理で、オペレータの操作でレーダ計測かぶり厚ｄｓ｜_ＲＣの代わりに削孔かぶり厚ｄｓ｜_削、及び起生時刻ｔ_ｐ｜_削を指標としてＦ３（ｆ）フィルタ関数による周波数分析、及び時刻フィルタ関数ＴＧＣ４（ｔ）による時系列処理（図２６（ａ）、及び図２６（ｂ）参照）により、分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）と対応する分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）を図３５（ａ）に示すように求めている。かぶり厚がシース長手方向で略同一の「パターン（０）」（図２７参照）となっている。
なお、分析例３では、第１の分析処理において、Ｆ３（ｆ）フィルタ関数の中心振動数ｆ_ｓを、オペレータの操作によって、ｆ_ｓ＝８０ｋＨｚからｆ_ｓ＝９６ｋＨｚに移動させている。

分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）は９７．５μ秒となり、対応する分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）は、式２の起生時刻ｔ_ｐを分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）に、シースかぶり厚ｄｓを分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）に置き換えて得た１９４ｍｍとなる。削孔かぶり厚ｄｓ｜_削が２３６ｍｍのため、分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）と削孔かぶり厚ｄｓ｜_削とに４２ｍｍの差が生じている。計測位置と削孔位置とが異なったと判断する。もし、削孔かぶり厚ｄｓ｜_削を用いて、以降の分析判定を行えば、「未充填（空）」と誤判定される事例である。

上述の分析例１，２と同一の第２の分析処理で、Ａ_Ｋ（ｆ）フィルタ関数を用いて、分析用スペクトルＦＡ（ｆ）｜_{ｉ＝１～５}、及び分析用時系列ＧＡ（ｔ）｜_{ｉ＝１～５}を作成したのち、第１の処理において、分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）を用いた第３の分析処理、第４の分析処理、及び第５の分析処理を順次適用し、分析例１，２と同様の処理の流れで、図３５（ｂ）の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～５}、及び時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（１）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝１～５}（図示省略）を求めている。

次に、第６の分析処理で、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～４}の形状より、特性ＴＢが選択され、かつｎ１＝ｎＢ＝４と特定される。
分析例３は、「パターン（０）」のため、表１から開始測点ｎＡ＝１、及び終了測点ｎＢ＝４となる。時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_ｉが、Δｔ_Ｂ２＝１２μ秒とする時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_Ｂ２で閾値α_σを下回る測点がｉ＝ｎＡ～ｎ１（ただし、ｎＡ＝１、ｎ１＝ｎＢ＝４）と確認できるため、この選択がなされ、第８の分析処理の第１ＴＢ処理へ移行する。

図３５（ｂ）の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎＡ～ｎ１}（ただし、ｎ１＝ｎＢ＝４）でΔｔ算定用の時刻ｔ_ｉのうち、時刻ｔ_２、時刻ｔ_３、及び時刻ｔ_４が式１７を満足させていることにより、時刻平均値ｔ_Ａをこれら時刻ｔ_ｉの平均値として、式１８でΔｔ_Ａを算出する。

さらに、式１９で分析用２次シース反射Ｍ_１波起生時刻ｔ_{Ｍ１（２）}を計算し、式２０、及び式２１を用いて分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）から分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）への増減分量Δｔを計算し、分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）＝ｔ_ｐ（１）＋Δｔを求めている。

次に、第３の分析処理、第４の分析処理、及び第５の分析処理の再度の連続処理で分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）を分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）に置き換えて、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～５}、及び時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝１～５}を作成し、第５の分析処理の再々度の処理でＷＡＶＥ加算、及びＳＰ加算の双方の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～５}、及び時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_ｉ＝５を作成し直したのち、表示部１３５に表示している。

図３６（ａ）の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ_＊）｜_{ｉ＝１～４}（＝ＳＰ_ｔ＊｜_{ｉ＝１～４}）と、ＳＰ加算の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ_＊）｜_ｉ＝５（＝ＳＰ_ｔ＊｜_ｉ＝５）とを、式１６のグラウト充填状態判定式に適用することで、測点ｉ＝１，２，３，４、及びｉ＝５のＳＰ加算波でのグラウト充填状態を自動判定している。

時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～５}が、空充判定カーソルｔ_＊＝ｔ_ｐ（２）＋＊（ただし、表３で分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）＝２０１ｍｍより、表２から＊＝１６）の時刻で空充判定線分α^～ _σを下回っているため、測点ｉ＝１～４のグラウト充填状態を「完全充填」と判定して、第８の分析処理の第１ＴＢ処理を終了する。

第８の分析処理の第１ＴＢ処理を終了すると、解析機器１３は、ｎＡ＝１、及びｎ１＝ｎＢ（＝４）となっているため、換言すれば、全測点におけるグラウト充填状態の分析判定が完了しているため、第８の分析処理の第２ＴＢ処理をスキップして、全ての処理を終了する。

なお、本分析例３で、分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）ではなく、ＲＣレーダ計測で得たレーダ計測かぶり厚ｄｓ｜_ＲＣに対応するシース反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ｜_ＲＣ、または削孔かぶり厚ｄｓ｜_削に対応するシース反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ｜_削のいずれかを用いて得る、例えば時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（削）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～５}を図３７（ａ）に示す。ＲＣレーダ計測で得たレーダ計測かぶり厚ｄｓ｜_ＲＣ、及び削孔かぶり厚ｄｓ｜_削ともに実値と大きく異なっているため、空充判定カーソルｔ_＊前後に、図３６（ａ）の大径丸印で示す計測対象シースのシース反射Ｍ_１波のＳＰ_ｆ２スペクトルが大きく生じ、「未充填（空）」と誤判定している。

図３７（ｂ）に、この誤判定の様相を示す時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（削）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_ｉ＝５（ただし、ＳＰ加算、ＭＥＭスペクトル表示、ｎｃ＝２）を示す。上述の問題点（１）によって、シースかぶり厚またはコンクリート縦波音速を誤認して分析用切り出し波を求め、これを用いてグラウト充填状態を分析すると、「完全充填（充填シース）」を「未充填（空シース）」と誤判定する。

計測ＰＣ橋梁によっては、全ての計測対象シースで問題点（１）（コンクリートの誘電率、音速値の誤認）が大きく生ずることがある。これより、第１の分析処理が欠除した場合、問題点（１）によって、同一橋梁における全計測対象シースの正しい時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及び正しい時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}が取得不能となり、グラウト充填状態が誤判定される計測対象シースが多出する。

＜分析例４＞
分析例４で用いる計測対象シースは、分析用梁モデルであり「未充填（空シース）」と確認されている。
図２２の第１の分析処理で、受信波スペクトルＦ（ｆ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ}にＦ３（ｆ）フィルタ関数を乗じて得る時系列波Ｇ（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ}（ただし、ｎｗ＝４）に、レーダ計測かぶり厚ｄｓ｜_ＲＣを指標とする時刻フィルタ関数ＴＧＣ４（ｔ）を乗算する処理（図２６（ａ）、図２６（ｂ）参照）により、図３８（ａ）の分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）求め、式２で対応する分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）を求めている。
なお、分析例４では、第１の分析処理において、Ｆ３（ｆ）フィルタ関数の中心振動数ｆ_ｓを、オペレータの操作によって、ｆ_ｓ＝８０ｋＨｚからｆ_ｓ＝９６ｋＨｚに移動させている。

かぶり厚がシース長手方向でほとんど変化せず、「パターン（０）」（図２７参照）となっている。
測点ｉ＝１～４で略同一の分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）＝１９４ｍｍであり、レーダ計測かぶり厚ｄｓ｜_ＲＣ＝２１５ｍｍとの差が２１ｍｍとなっている。

次に、上述の分析例１，２，３と同一の第２の分析処理で、Ａ_Ｋ（ｆ）フィルタ関数を用いて分析用スペクトルＦＡ（ｆ）｜_{ｉ＝１～５}、及び分析用時系列ＧＡ（ｔ）｜_{ｉ＝１～５}を作成する。その後、「パターン（０）」（図２７参照）ということにより、第１の処理（ステップＳ１０７）において、第３の分析処理、第４の分析処理、及び第５の分析処理を順次適用し、第３の分析処理で分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）を用いた分析用切り出し波ＧＢ_（１）（ｔ）｜_{ｉ＝１～５}、及びスペクトルＦＢ_（１）（ｆ）｜_{ｉ＝１～５}を求める。

さらに、第４の分析処理で閾値処理された分析用１次スペクトルＦＣ_（１）（ｆ）｜_{ｉ＝１～５}、及び分析用１次時系列ＧＣ_（１）（ｔ）｜_{ｉ＝１～５}を求め、第５の分析処理で分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）を用いた台形窓関数Ａの掃引処理により、図３８（ｂ）に示す時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～５}（ＷＡＶＥ加算）、及び時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（１）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝１～５}（図示省略）を求めている。

次に、第６の分析処理で、図３８（ｂ）の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～４}の形状により、特性ＴＡが選択され、ｎ１＝４と特定される。表１によれば、「パターン（０）」となるため、開始測点ｎＡ＝１、及び終了測点ｎＢ＝４となっている。

時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～５}が、Δｔ_Ｂ１＝６μ秒、Δｔ_Ｂ２＝１２μ秒とする時刻ｔ_ｐ（１）－Δｔ_Ｂ１から時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_Ｂ２の間で増加傾向にあり、時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_Ｂ２で閾値α_σを超えている測点ｉがｉ＝ｎＡ～ｎ１（ただし、ｎ１＝ｎＢ＝４）と確認できるため、この選択がなされ、第７の分析処理の第１ＴＡ処理へ移行する。

図３８（ｂ）の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎＡ～ｎ１}（ただし、ｎＡ＝１、ｎ１＝ｎＢ＝４）で時刻ｔ_２、時刻ｔ_３、及び時刻ｔ_４を選定し、これらの時刻平均値ｔ_Ａ＝（ｔ_２＋ｔ_３＋ｔ_４）／３を求めたのち、式１２でΔｔ_Ａを求め、式１３で分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）を求めている。
対応する分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）は、式２の起生時刻ｔ_ｐを分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）に、シースかぶり厚ｄｓを分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）に置き換えて求めている。

次に、第３の分析処理、第４の分析処理、及び第５の分析処理の再度の連続処理で、分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）を分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）に変更し、図３９（ａ）に示す時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}｜_{ｉ＝１～５}を作成している。

ところで、加算平均波ｉ＝５は、式１４、及び式１５を用いてＷＡＶＥ加算平均波ＧＣ_（２）（ｔ）｜_ｉ＝５、及びＳＰ加算平均波ＧＣ^～ _（２）（ｔ）｜_ｉ＝５の双方となる。このため、第５の分析処理の再々度の台形窓関数Ａの掃引処理に、上述のＷＡＶＥ加算平均波ＧＣ_（２）（ｔ）｜_ｉ＝５、及びＳＰ加算平均波ＧＣ^～ _（２）（ｔ）｜_ｉ＝５を適用し、ＷＡＶＥ加算とＳＰ加算の双方で時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～５}、及び時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_ｉ＝５（図示省略）を作成し直したのち、表示部１３５に表示している。

これらの時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～５}を用いて測点ｉ＝１～４ごとでの、及びＳＰ加算ｉ＝５でのグラウト充填状態を自動判定している。
空充判定カーソルｔ_＊＝ｔ_ｐ（２）＋＊（ただし、表３で分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）＝１９８ｍｍより、表２で＊＝１６）の時刻の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ_＊）｜_{ｉ＝１～５}が、空充判定線分α^～＝α_σ＋０．０６（＝０．５６）を大きく上回るため、式１６のグラウト充填状態判定式に基づいて、自動的に測点ｉ＝１～４のグラウト充填状態を「未充填」と判定して、第７の分析処理の第１ＴＡ処理を終了する。

図３９（ａ）に、ｉ＝５の加算平均（Ｎｏ．１＋Ｎｏ．２＋Ｎｏ．３＋Ｎｏ．４）によるＷＡＶＥ加算（図中の点線）とＳＰ加算（図中の実線）の双方で時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_ｉ＝５を図示している。空充判定カーソルｔ_＊＝ｔ_ｐ（２）＋＊の時刻前後で、ＷＡＶＥ加算で小さく、ＳＰ加算で大きくなっている。これは、図３８（ａ）におけるｉ＝１のシース反射波の位相情報と、ｉ＝２，３，４のシース反射波の位相情報とが半波ズレていることにより生じる現象であり、ＳＰ加算での分析結果「未充填（空）」が正解である。

なお、図３９（ｂ）にＳＰ加算での時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_ｉ＝５（ただし、ＭＥＭスペクトル表示、ｎｃ＝２）を示している。時刻後方に２段目シースの反射Ｐ波（図中の「段２Ｐ」）が生じていることが確認できる。

第７の分析処理の第１ＴＡ処理を終了すると、解析機器１３は、第１ＴＡ処理において、全測点ｉ＝１～４におけるグラウト充填状態が「未充填」と判定済みのため、第２ＴＡ処理をスキップして、全ての処理を終了する。

＜閾値反射Ｐ波分析法の正当性の検証＞
グラウト充填状態の判明している幾つかの計測対象シースを用いて、閾値反射Ｐ波分析法を詳述した。
多数の既設ＰＣ橋梁で収録している極めて多数の計測対象シースから選定したシース反射Ｐ波計測の受信波Ｇ（ｔ）｜_{ｉ＝１～４}を用いて、「閾値を用いた反射Ｐ波自動化分析」の正当性を、表４、及び表５に示す「完全充填」と判明している計３８本の計測対象シースと、表６に示す「未充填（空）」と判明している計１５本の計測対象シースとを用いて検証する。

なお、分析で用いるシース受信波は、平成１７年１１月から平成２２年１２月までの既設ＰＣ橋梁のグラウト充填探査の方法論確立研究の中で、出願人の研究業務として取得した総計８５３本のシース管の反射Ｐ波及び反射Ｓ波計測受信波より任意に選定している。

表４及び表５に示す計測対象シースのグラウト充填状態は、黒丸印が「完全充填」であり、桁梁想定シース埋設コンクリートモデルで設定されたグラウト充填状態、または実橋から切り取った桁梁の切断等による目視、さらにはシース直上位置からの削孔等のいずれかで確認している。

表６に示す計測対象シースのグラウト充填状態は、白丸印が「未充填（空）」であり、桁梁想定シース埋設コンクリートモデルで設定されたグラウト充填状態、または実橋から切り取った桁梁の切断等による目視、さらにはシース直上位置からの削孔等のいずれかで確認している。

表４、表５、及び表６には、探査を妨害する反射波を生じさせる版厚ｄ_ｗ、及び２段目シースかぶり厚ｄ_２ｓと、コンクリート縦波音速Ｖ_ｐと、シース径φ_ｓと、ＲＣレーダ計測かぶり厚ｄｓ｜_ＲＣと、分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）、またはｄｓ_（１）｜_大及びｄｓ_（１）｜_小と、分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）、またはｄｓ_（２）｜_大及びｄｓ_（２）｜_小とを、分析用係数として記載している。

なお、ＲＣレーダ計測位置は、規定では測点ｉ＝１、及びｉ＝４の２ケ所としているが、本分析例ではｉ＝１または４のみで計測している。

まず、表４、及び表５の桁梁想定シース埋設コンクリートモデル、切断梁の目視、または削孔で「完全充填」と判明している計測対象シースの計測分析について詳述する。なお、計測で用いた発信探触子と受信探触子の中心間距離ａは全ての計測対象シースでａ＝２００ｍｍとしている。

「完全充填」と判明している原則として異なる既設ＰＣ橋梁での計３８本の計測対象シースで、式１のシースかぶり厚ｄｓをレーダ計測かぶり厚ｄｓ｜_ＲＣに、起生時刻ｔ_ｐを分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）｜_ＲＣに置き換え、計測対象シースの測点近傍の厚さが既知の間仕切り壁等で計測したコンクリート縦波音速Ｖ_ｐを適用して得た分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）｜_ＲＣを用いて、分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）＝ｔ_ｐ（１）｜_ＲＣとして、第１の処理（ステップＳ１０７）で閾値分析を行った場合と、図２２の第１の分析処理で分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）、またはｔ_ｐ（１）｜_大、あるいはｔ_ｐ（１）｜_小を求め、第１の処理（ステップＳ１０７）または第２の処理（ステップＳ１０８）あるいは第３の処理（ステップＳ１０９）の図２３及び図２４の処理の流れの中で分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）、またはｔ_ｐ（１）｜_大、あるいはｔ_ｐ（１）｜_小を用いて分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）、またはｔ_ｐ（２）｜_大、あるいはｔ_ｐ（２）｜_小を求め、これ等を用いて閾値分析を行った場合とで各計測対象シースのグラウト充填状態の分析結果がどのように異なってくるかを説明する。

図４０（ａ）は、上述の分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）｜_ＲＣを分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）とし、問題点（１）から問題点（４）のいずれにも対処しない時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～４}より、空充判定カーソルｔ_＊＝ｔ_ｐ（１）＋＊での基準化表示スペクトル値ＳＰ_ｔ＊｜_{ｉ＝１～４}を求め示している。

そして、図４０（ｂ）は、図２２～図２４の処理の流れの中で、問題点（１）から問題点（４）の全てに対処して分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）、またはｔ_ｐ（２）｜_大、あるいはｔ_ｐ（２）｜_小として求めた時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～４}より、空充判定カーソルｔ_＊＝ｔ_ｐ（２）＋＊での基準化表示スペクトル値ＳＰ_ｔ＊｜_{ｉ＝１～４}を求め示している。

ただし、いくつかの計測対象シースは、他の計測対象シースとその表示が重なり合うため、図示を省略し計３５本を図示している。以降、計３５本の計測対象シースを用いて説明する。

また、図４０（ａ）と図４０（ｂ）との比較を明確にするために、双方とも横軸を分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）（≒レーダ計測かぶり厚ｄｓ｜_ＲＣ）、縦軸を基準化表示スペクトル値ＳＰ_ｔ＊としてｉ＝１～４ごとに表示している。なお、基準化表示スペクトル値ＳＰ_ｔ＊｜_{ｉ＝１～４}は、計測対象シースごとに、計測位置を左から右へ原則として１１０～１２０ｍｍ前後で、計測対象シース直上のコンクリート面の仮想線分上を順次移動する測点の値で示している。

図４０（ａ）では、計測対象シースごとに空充判定線分α^～ _σ＝０．５６を上回る測点ｉごとの基準化表示スペクトル値ＳＰ_ｔ＊｜_ｉを「未充填または充填不足」を示す白四角印で図示し、空充判定線分α^～ _σ＝０．５６を下回る基準化表示スペクトル値ＳＰ_ｔ＊｜_ｉを「完全充填」を示す黒丸印で図示している。

ところで、分析された表４及び表５の全ての計測対象シースが削孔または他の方法で「完全充填」と確認されている。これが事実とすれば、図４０（ａ）の基準化表示スペクトル値ＳＰ_ｔ＊｜_ｉは、全て黒丸印で示されるはずだが、そのようになっていない。「完全充填」と設定されたシースが、分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）＝ｔ_ｐ｜_ＲＣとする分析で「完全充填」となる割合は、（１４本／３５本）×１００＝約４０％であり、極めて正答率の低い分析結果群となっている。

一方、図４０（ｂ）に示すように、問題点（１）から（４）に対処して作成した分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）、またはｔ_ｐ（２）｜_大、あるいはｔ_ｐ（２）｜_小を用いて得たＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ_＊）｜_ｉ（＝基準化表示スペクトル値ＳＰ_ｔ＊｜_ｉ）が削孔または他の方法で「完全充填」と設定された計３５本の計測対象シースのうち、３１本の計測対象シースの基準化表示スペクトル値ＳＰ_ｔ＊｜_ｉが測点ｉ＝１～４の全てで空充判定線分α^～ _σ＝０．５６を下回り、「完全充填」を示す黒丸印となっている。

さらに、同一橋梁の丸数字で示した「２４」、及び「２５」の計測対象シース、及び他の同一橋梁の丸数字で示した「３０」、及び「３１」の計測対象シースで測点の一部が「未充填（図中の二重丸印）」、他の一部が「完全充填（図中の黒丸印）」と判定されている。これは、偶然、上述の問題点（３）を持つ計測対象シースの空隙と充填部分との境界位置での計測分析結果であると判断できる。

丸数字で示した「２４」、及び「２５」の計測対象シースは、測点ｉ＝１を「未充填」、測点ｉ＝２，３，４を「完全充填」と分析しており、丸数字で示した「３０」、及び「３１」の計測対象シースは、測点ｉ＝１～３を「完全充填」、測点ｉ＝４を「未充填」と分析している。

これより、３５本の全計測対象シースの充填状態特定位置でのグラウト充填状態（完全充填）の分析結果が「完全充填」と分析されている。分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）、またはｔ_ｐ（２）｜_大、あるいはｔ_ｐ（２）｜_小を用いた図４０（ｂ）の分析結果は、測点箇所数３５×４＝１４０の全てで正答率１００％と判断する。

分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）を用いた「閾値反射Ｐ波分析法」が、シース管内部の充填状態の探査に極めて有効であること、そして誤判定の要因の１つが、分析で用いるレーダ計測かぶり厚ｄｓ｜_ＲＣ、及びコンクリート縦波音速Ｖ_ｐの誤認（上述の問題点（１））であることを端的に示している。かつ、他の問題点（２）から（４）にも対処する分析で、計測対象シースのグラウト充填状態を極めて高精度に判定できることを示している。

次に、表６の削孔または他の方法で「未充填」と判明している既設ＰＣ橋梁での１５本の計測対象シースの受信波で閾値分析結果がどのようになるかを説明する。

レーダ計測かぶり厚ｄｓ｜_ＲＣと、測定点以外の場所（測定点周辺の間仕切り壁等）で計測したコンクリート縦波音速Ｖ_ｐとを、式１に適用して得た起生時刻ｔ_ｐ｜_ＲＣを用いる閾値分析は、上述の表４、及び表５の削孔または他の方法で「完全充填」と設定されているシースの分析結果を示す図４０（ａ）で極めて不適切と判明している。これより、問題点（１）から（４）に対処して作成した分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）、またはｔ_ｐ（２）｜_大、あるいはｔ_ｐ（２）｜_小を用いた閾値分析による時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_ｉ（＝ＳＰ_ｔ＊｜_ｉ）を図４１に示している。

計測対象シースの位置を可能な限り桁及び側壁の端部としているため、図４９に示すような計測位置の選定となり、空隙と充填部分との境界位置での本数が増している。図４１（図中の右側）に計測対象シースごとに分析結果から想定されるグラウト充填状態を図示している。

測点ｉ＝１～４の全てで「未充填」と分析される計測対象シースが５本（図中の右側において、丸数字で示す「３」、「６」，「９」，「１０」，及び「１２」）、空隙と充填部分との境界位置と判断される計測対象シースが他の１０本となっている。

図４１は、削孔または他の方法で「未充填」と設定された計測対象シースにおいて、測点ｉ＝１～４のいずれかが、「未充填」、または「充填不足」、または「空隙と充填部分との境界」、または「完全充填」であることを、基準化表示スペクトル値ＳＰ_ｔ＊｜_ｉごとに「未充填」を二重丸印で示し、「充填不足」を白三角印で示し、「完全充填」を黒丸印で示している。

全ての計測対象シースの分析で、問題点（１）、及び問題点（２）に対処しており、かつ分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）、またはｔ_ｐ（２）｜_大、あるいはｔ_ｐ（２）｜_小を用いた閾値分析で問題点（３）、及び問題点（４）に対処していることにより、測点箇所数１５本×４＝６０測点の全てで正答率１００％となっていると判断する。
なお、図４１において、丸数字の「１１」で示した削孔空シースは、表３の分析例２の測点１，２を「未充填（空）」、及び測点３，４を「完全充填」とするシース（図３２（ａ）、図３２（ｂ）、図３３（ａ）、図３３（ｂ）、図３４（ａ）、及び図３４（ｂ）参照）である。

＜反射Ｐ波計測の最適探触子間隔＞
上述の反射Ｐ波計測は、探触子外径φ１００ｍｍ（発信子径、及び受信子径φ７８ｍｍ）で、発信探触子１１ａと受信探触子１２ａとの中心間距離ａを２００ｍｍとした計測である。計測対象シースからの反射波は、シース反射Ｐ波、シース反射Ｍ_１波、及びシース反射Ｍ_２波の３種が存在する。

これらの波の振幅は、図４２に示すように、反射源である計測対象シースと探触子との直線距離ｄと、発信探触子１１ａと受信探触子１２ａとの中心間距離ａとの関係で大きく変化する。この計測対象シースのシースかぶり厚ｄｓが浅くなるにつれて、図４２に示すように、中心間距離ａ／直線距離ｄが「小」から「大」となり、受信波形状が順次変化することで、図２８（ｂ）、図３２（ａ）、図３５（ａ）、及び図３８（ａ）等に示すシース反射Ｐ波の起生時刻ｔ_ｐ（１）の特定が難しくなる。

この問題への対処は、中心間距離ａ＝２００ｍｍを、１１０ｍｍ～１２０ｍｍ前後に変更することで可能となる。一例として、シースかぶり厚ｄｓ＝１１５ｍｍの計測対象シースを用いた中心間距離ａ＝１１０ｍｍでの分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）の取得例を、第１の分析処理によりＦ３（ｆ）フィルタ関数と時刻フィルタ関数ＴＧＣ４（ｔ）を用いて求め図４３（ａ）、及び図４３（ｂ）に示している。

図４３（ａ）は、分析用振動数帯域を中心振動数ｆ_ｓ＝８０ｋＨｚ前後としている。中心間距離ａ／直線距離ｄ＝１１０／１１５≒０．９５であり、図４２の上段（中心間距離ａ／直線距離ｄ：小）の反射波起生状況を示しており、分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）、及び分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）値を明確に特定できる。
これにより、反射Ｐ波を用いる閾値分析法では、中心間距離ａを１１０ｍｍ～１２０ｍｍ程度にすべきと判断する。

中心間距離ａ＝２００ｍｍ前後の場合、シースかぶり厚ｄｓが１５０ｍｍ以下になると、反射Ｐ波分析が難しくなる。これは、上述の問題点（２）に起因するとともに、シース反射Ｐ波、シース反射Ｍ_１波、及びシース反射Ｍ_２波の起生時刻間隔が、図４３（ａ）、及び図４３（ｂ）に示すように極めて狭くなることに起因している。

＜閾値分析における反射Ｐ波計測分析の省力化＞
上述した分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）及び分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）、または分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）｜_大及び分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）｜_大、あるいは分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）｜_小及び分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）｜_小を用いた反射Ｐ波多点計測（ｉ＝１～４）の閾値分析結果である図４０（ｂ）、及び図４１によれば、全測点におけるグラウト充填状態が正確に「完全充填」、「未充填」、または「充填不足」と判定されている。

これより、超音波計測を図４４の上段に示す多点計測ではなく、下段の単一点計測に置き換えても、実用的な計測分析法となる。単一点計測での時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_ｉ＝１を用いて、図４４の下段のＮｏ．１またはＮｏ．１´の測点でのグラウト充填状態の分析判定を、第１の処理（ステップＳ１０７）で行えばよい。

なお、Ｎｏ．１が桁端部側にあり、「完全充填」と判定される場合、桁中央側のＮｏ．１´は、物理的に「完全充填」となり、計測分析判定は不要である。逆に、Ｎｏ．１´が桁端部側にあり、「完全充填」と判定される場合、桁中央側のＮｏ．１での計測分析判定は不要である。

単一点計測は、多点計測に比べて、計測作業効率、及び分析作業効率が極めて大きくなるため、閾値分析で用いる主要な方法と位置付けることができる。一方、多点計測による閾値分析は、グラウト充填状態の分析判定において、問題点（１）から（４）にどのように対処しているかを分析画面の推移で確認できるため、分析オペレータの分析技術能力を向上させる手段と位置付けることもできる。

＜Ａ_Ｇ（ｆ）^ｎＧフィルタ関数を用いた閾値反射Ｐ波自動化分析＞
図２２、図２３、及び図２４の閾値反射Ｐ波自動化分析の流れに沿って、Ａ_Ｇ（ｆ）^ｎＧフィルタ関数を用いて、計測対象シースのグラウト充填状態を分析判定する方法である。
上述の「閾値反射Ｐ波自動化分析」、及び「閾値反射Ｐ波自動化分析事例」では、図１４（ａ）に示す受信波（ｉ＝１～ｎｗ）と、加算平均波（ｉ＝ｎｗ＋１）とで作成される受信波スペクトルＦ（ｆ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}に、Ａ_Ｋ（ｆ）フィルタ関数を乗じて得る図１４（ｂ）に示すＦＡ（ｆ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を分析用スペクトルとしている。

一方、本閾値反射Ｐ波自動化分析では、第２の分析処理（ステップＳ１０５）においてＡ_Ｋ（ｆ）フィルタ関数の代わりにＡ_Ｇ（ｆ）^ｎＧフィルタ関数を用いて、分析用スペクトルＦＡ（ｆ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、分析用時系列ＧＡ（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を求め、これを用いてグラウト充填状態を分析している。

ここで、Ａ_Ｋ（ｆ）フィルタ関数とＡ_Ｇ（ｆ）^ｎＧフィルタ関数の違いを図４５に示す。
図４５の左図に示すＡ_Ｋ（ｆ）フィルタ関数は、図３（ａ）の振動数ｆ_１でのスペクトル、及び振動数ｆ_２でのスペクトルのうち、振動数ｆ_１＝４０～５０ｋＨｚでのスペクトルを除去し、中心振動数ｆ_０＝２０ｋＨｚのスペクトルと振動数ｆ_２＝６０～８０ｋＨｚのスペクトルのうち、８０ｋＨｚ帯域のスペクトルをより多く抽出するフィルタ関数である。このＡ_Ｋ（ｆ）フィルタ関数を用いた第２の分析処理で抽出されたスペクトルＦＡ（ｆ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を分析用スペクトルとし、これに対応する時系列ＧＡ（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を分析用時系列としている。

一方、Ａ_Ｇ（ｆ）^ｎＧフィルタ関数は、その形状を図４５の右図に示すように別途定めた振動数ｆ_ｋを中心振動数とするフィルタ関数である。このＡ_Ｇ（ｆ）^ｎＧフィルタ関数を用いて第２の分析処理で抽出されるスペクトルＦＡ（ｆ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を分析用スペクトルとし、これに対応する時系列ＧＡ（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を分析用時系列としている。

このようなＡ_Ｇ（ｆ）^ｎＧフィルタ関数は、指数ｎＧ＝１の場合、振動数ｆ＝０．０で「０．０」となり、振動数ｆ_ｋで「１．０」となるｓｉｎ形状増加関数、振動数ｆ_ｋで「１．０」となり、振動数ｆ_ｋ×２で「０．０」となるｓｉｎ形状減少関数、そして振動数ｆ_ｋ×２以上で「０．０」となる関数である。

なお、振動数ｆ_ｋは、ｆ_ｋ＝（ｆ_ｗ＋ｆ_２ ^～）／２（ただし、ｆ_２ ^～＝８０ｋＨｚ）と自動設定している。ただし、オペレータの操作で（ｆ_ｗ＋ｆ_２ ^～）／２～ｆ_２ ^～の範囲のいずれかの値を設定することを可能にしている。
また、指数ｎＧは、分析用スペクトルＦＡ（ｆ）｜_ｉの測点ｉのいずれかが振動数ｆ_ｗ～ｆ_２ ^～の間で最大スペクトル値となるときの値である（ｆ_２ ^～は図中においてｆ_２の上に“～”を付された符号を表す）。なお、振動数ｆ_ｗは、４０ｋＨｚ－Δｆ_ｗ＜ｆ_ｗ＜４０ｋＨｚ＋Δｆ_ｗ（ただし、Δｆ_ｗ＝５ｋＨｚ）の範囲のいずれかの値をオペレータの操作で設定している。

以下、図２２、図２３、及び図２４の閾値反射Ｐ波自動化分析の流れに沿って、Ａ_Ｇ（ｆ）^ｎＧフィルタ関数を用いたグラウト充填状態の分析判定方法を説明する。
まず、第１の収録処理（ステップＳ１０２）、及び第２の収録処理（ステップＳ１０３）は、それぞれ上述した処理内容をそのまま用いて、計測対象シースの受信波Ｇ（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ}を収録する。

第１の分析処理（ステップＳ１０４）は、上述した処理内容をそのまま用いて、シースかぶり厚パターンが、「パターン（０）」、「パターン（１）～（４）」、あるいは「パターン（１´）～（４´）」のいずれであるかを特定する。

「パターン（０）」の場合、分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）、及び分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）を求め、「パターン（１）～（４）」または「パターン（１´）～（４´）」場合、分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）｜_大、及び分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_大と、分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）｜_小、及び分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_小とを求める。加えて、シースかぶり厚のパターン毎の開始測点ｎＡ、及び終了測点ｎＢを、Ａｋ（ｆ）フィルタ関数を用いる場合と同様に、上述の表１のように設定する。

次に、第２の分析処理（ステップＳ１０５）は、多点計測受信波Ｇ（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ}と、これらの加算平均波Ｇ（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}とを一緒にした受信波群Ｇ（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}をＦＦＴ変換して得る受信波スペクトルＦ（ｆ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}に対して、Ａ_Ｋ（ｆ）フィルタ関数の代わりにＡ_Ｇ（ｆ）^ｎＧフィルタ関数を乗じ、図４６（ａ）に示す分析用スペクトルＦＡ（ｆ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を求め、これのＦＦＴ逆変換で図４６（ｂ）の分析用時系列ＧＡ（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を作成する（図中の太い実線はｉ＝ｎｗ＋１を示す）。

図４６（ｂ）の分析用時系列ＧＡ（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}によれば、丸印で囲われたシース反射Ｐ波起生帯域に、各測点波（細い実線）、及び加算平均波（太い実線）の双方でコンクリート上面４ａを伝達する表面Ｐ_１波、表面Ｓ_１波、及び表層を浅く潜って伝達する直接波（ＤＩ波）の後方残存波の混入が低減され、シース反射Ｐ波の起生が支配的になっていることがわかる。

この現象は、本計測例がシース長手方向で計測対象シースのかぶり厚ｄｓに変化がなく、かつｄｓ＝２１２ｍｍと深いことにより生じる現象である。もし、シースかぶり厚ｄｓが浅ければ、これらの後方残存波がシース反射Ｐ波の上に混入することで、グラウト充填状態の誤判定要因となる。

このため、Ａ_Ｋ（ｆ）フィルタ関数を用いる反射Ｐ波自動化分析の場合、分析可能なシースかぶり厚ｄｓをｄｓ≧１５０ｍｍとしているが、Ａ_Ｇ（ｆ）^ｎＧフィルタ関数を用いる反射Ｐ波自動化分析では、表面Ｐ_１波、表面Ｓ_１波、直接波（ＤＩ波）の振動数ｆ_２ ^～より減衰の小さい振動数ｆ_ｗ～ｆ_２ ^～の波が、シース反射Ｐ波の上に混入するおそれがある。そこで、Ａ_Ｇ（ｆ）^ｎＧフィルタ関数を用いる自動化分析では、分析判定可能なシースかぶり厚ｄｓをｄｓ≧１５０ｍｍからｄｓ≧２００ｍｍへ変更することで、上述の表面Ｐ_１波、表面Ｓ_１波、直接波（ＤＩ波）がシース反射Ｐ波の上に混入する状況を排除している。

図４５の左図におけるＡ_Ｋ（ｆ）フィルタ関数の使用と同様に、右図のＡ_Ｇ（ｆ）^ｎＧフィルタ関数の使用でも、以降の分析は、図２７のシースかぶり厚のパターンが「パターン（０）」の場合（ステップＳ１０６：Ｎｏ）、第１の処理へ移行し、「パターン（１）～（４）」または「パターン（１´）～（４´）」の場合（ステップＳ１０６：Ｙｅｓ）、第２の処理、及び第３の処理へ順次移行する。

まず、第１の処理（ステップＳ１０７）における第３の分析処理から第８の分析処理（ステップＳ１１１～ステップＳ１１９）について説明する。
第３の分析処理（ステップＳ１１１）は、上述の処理内容をそのまま用いて、第１の分析処理で求めた分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）の分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）及びΔｔ_ｈ１＝６μ秒を用いて作成される時刻フィルタＴＧＣ１（ｔ）及びＴＧＣ２（ｔ）を、上述の分析用時系列ＧＡ（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}に乗じて、分析用切り出し波ＧＢ_（１）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及び対応するスペクトルＦＢ_（１）（ｆ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を求める。

第４の分析処理（ステップＳ１１１）は、上述の処理内容をそのまま用い、スペクトルＦＢ_（１）（ｆ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}ごとに、上述の振動数ｆ_ｗ以下のスペクトルの最大値を１．０と基準化して、上述の振動数ｆ_ｗ以上のスペクトルの最大値を０．５とする閾値処理で分析用１次スペクトルＦＣ_（１）（ｆ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及び分析用１次時系列ＧＣ_（１）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を求めている。

第５の分析処理（ステップＳ１１１）は、上述の処理内容をそのまま用いて、台形窓関数Ａの時刻ｔ_ｐ（２）－Δｔ_ｐ１から時刻ｔ_ｐ（２）＋Δｔ_ｐ２への時刻掃引処理で得るＡ_Ｋ（ｆ）フィルタ関数を用いたときの時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及び時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（１）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}の代わりに、Ａ_Ｇ（ｆ）^ｎＧフィルタ関数を用いたときの時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ１，２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及び時刻掃引ｆ_０，（ｆ_１～ｆ_２）スペクトルＳＰ_{ｆ１，２（１）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}（ただし、振動数ｆ_０＝２０ｋＨｚ、ｆ_ｗ～ｆ_２ ^～帯域の振動数ｆ_１＝４０～５０ｋＨｚ、振動数ｆ_２＝６０～８０ｋＨｚ、ｎｃ＝２）を求めている。

次に、第６の分析処理（ステップＳ１１２）は、上述の処理内容をそのまま用いて、表１で定義される開始測点ｎＡ、終了測点ｎＢを用いて得る時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ１，２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎＡ～ｎＢ}の形状特性が特性ＴＡと特定され、かつ境界測点ｎ１を特定した後（ステップＳ１１３：１）、第７の分析処理の第１ＴＡ処理、及び第２ＴＡ処理へ順次移行する。
または、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ１，２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎＡ～ｎＢ}の形状特性が特性ＴＢと特定され、かつ境界測点ｎ１を特定した後（ステップＳ１１３：２）、第８の分析処理の第１ＴＢ処理、及び第２ＴＢ処理へ順次移行する。

引き続き、第７の分析処理での第１ＴＡ処理、及び第２ＴＡ処理を説明する。これは、多点計測と単一点計測の双方に対する処理である。

（第１ＴＡ処理）
第７の分析処理における第１ＴＡ処理（ステップＳ１１４）は、上述した処理内容をそのまま用いて、分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）を特定し、第３の分析処理の再度の処理で、分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）を分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）に置き換えて、分析用切り出し波ＧＢ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及び対応するスペクトルＦＢ_（２）（ｆ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を作成している。

次に、第１ＴＡ処理は、第４の分析処理による再度の閾値処理でＡ_Ｇ（ｆ）^ｎＧフィルタ関数での振動数ｆ_ｗを用いて、分析用２次スペクトルＦＣ_（２）（ｆ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を作成し、これに対応する分析用２次時系列ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を求めている。

さらに、第１ＴＡ処理は、第５の分析処理の再度の処理で分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）を用いて時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及び時刻掃引ｆ_０，（ｆ_１～ｆ_２）スペクトルＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}（ただし、ＭＥＭスペクトル表示、ｎｃ＝２）を作成したのち、オペレータの操作を受け付けて表示部１３５に表示可能としている。

ところで、第１ＴＡ処理で作成する加算平均波は、測定ｉ＝ｎＡ～ｎＢではなく、測点ｉ＝ｎＡ～ｎ１の分析用２次時系列ＧＣ_（２）（ｔ）｜_ｉを用いて作成する必要がある。
そこで、ＷＡＶＥ加算平均波ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を、上述の式１４及び上述の式１５に基づいて算出されるＷＡＶＥ加算平均波ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}、及びＳＰ加算平均波ＧＣ^～ _（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}の２つに置き換えて、第５の分析処理の再々度の台形窓関数Ａの掃引処理で、ＷＡＶＥ加算、及びＳＰ加算の双方の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及び双方の時刻掃引ｆ_０，（ｆ_１～ｆ_２）スペクトルＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}（ただし、ＭＥＭスペクトル表示、ｎｃ＝２）を作成し直したのち、オペレータの操作を受け付けて表示部１３５にそれぞれ表示可能としている。

次に、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎＡ～ｎ１}と、上述のＳＰ加算の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}とを用いて、測点ｉ＝ｎＡ～ｎ１各々での、及びＳＰ加算ｉ＝ｎｗ＋１でのグラウト充填状態を、式１６のグラウト充填状態判定式に空充判定カーソルｔ_＊＝ｔ_ｐ（２）＋＊を用いて得る時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｔ_＊）｜_ｉ（＝ＳＰ_ｔ＊｜_{ｉ＝ｎＡ～ｎ１，ｎｗ＋１}）を適用して自動判定した後、第１ＴＡ処理での判定結果と、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}（ＳＰ加算）とを一緒にして、表示部１３５に自動表示している。

なお、オペレータの操作でｉ＝ｎｗ＋１のＷＡＶＥ加算とＳＰ加算との双方とする２つの時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及び２つの時刻掃引ｆ_０，（ｆ_１～ｆ_２）スペクトルＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}（ただし、ＭＥＭスペクトル表示、ｎｃ＝２）を比較表示可能とし、上述の問題点（４）の存在の有無を確認できるようにしている。

そして、第１の分析処理で得た表１のシースかぶり厚パターンの開始測点ｎＡ、及び終了測点ｎＢを用いて、ｎ１＝ｎＢの場合は（ステップＳ１１５：Ｙｅｓ）、測点ｉ＝ｎＡ～ｎＢの全ての測点でのグラウト充填状態が判定済みのため、第７の分析処理の第２ＴＡ処理をスキップして、全ての処理を終了する。なお、単一点計測の場合も全ての処理を終了する。
一方、ｎ１＜ｎＢの場合は（ステップＳ１１５：Ｎｏ）、測点ｉ＝ｎ１＋１～ｎＢでのグラウト充填状態を判定するため、第２ＴＡ処理へ移行する。

（第２ＴＡ処理）
第７の分析処理における第２ＴＡ処理（ステップＳ１１６）は、上述の処理内容をそのまま用いて分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）を特定し、第３の分析処理の再度の処理で、分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）を分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）に置き換えて分析用切り出し波ＧＢ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及び対応するスペクトルＦＢ_（２）（ｆ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を作成している。

次に、第２ＴＡ処理は、第４の分析処理による再度の閾値処理で、Ａ_Ｇ（ｆ）^ｎＧフィルタ関数での振動数ｆ_ｗを用いて分析用２次スペクトルＦＣ_（２）（ｆ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を作成し、これに対応する分析用２次時系列ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を求めている。

さらに、第２ＴＡ処理は、第５の分析処理の再度の処理で、分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）を用いて時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及び時刻掃引ｆ_０，（ｆ_１～ｆ_２）スペクトルＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}（ただし、ＭＥＭスペクトル表示、ｎｃ＝２）を作成したのち、オペレータの操作を受け付けて表示部１３５に表示可能としている。

ところで、第２ＴＡ処理で作成する加算平均波は、測定ｉ＝ｎＡ～ｎＢではなく、測点ｉ＝ｎ１＋１～ｎＢの分析用２次時系列ＧＣ_（２）（ｔ）｜_ｉを用いて作成する必要がある。
そこで、ＷＡＶＥ加算平均波ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を、上述の式２２及び上述の式２３に基づいて算出されるＷＡＶＥ加算平均波ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}、及びＳＰ加算平均波ＧＣ^～ _（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}の２つに置き換えて、第５の分析処理の再々度の台形窓関数Ａの掃引処理で、ＷＡＶＥ加算及びＳＰ加算の双方の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及び双方の時刻掃引ｆ_０，（ｆ_１～ｆ_２）スペクトルＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}（ただし、ＭＥＭスペクトル表示、ｎｃ＝２）を作成し直したのち、オペレータの操作を受け付けて表示部１３５にそれぞれ表示可能としている。

次に、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎ１＋１～ｎＢ}とＳＰ加算の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}とを用いて、測点ｉ＝ｎ１＋１～ｎＢ各々での、及びＳＰ加算ｉ＝ｎｗ＋１でのグラウト充填状態を、式１６のグラウト充填状態判定式に空充判定カーソルｔ_＊＝ｔ_ｐ（２）＋＊を用いて得る時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｔ_＊）｜_ｉ（＝ＳＰ_ｔ＊｜_{ｉ＝ｎ１＋１～ｎＢ，ｎｗ＋１}）を適用して自動判定したのち、第２ＴＡ処理での判定結果と、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}（ＳＰ加算）とを一緒にして表示部１３５に自動表示して第７の分析処理を終了する。

なお、オペレータの操作でｉ＝ｎｗ＋１のＷＡＶＥ加算とＳＰ加算との双方とする２つの時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及び２つの時刻掃引ｆ_０，（ｆ_１～ｆ_２）スペクトルＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}（ただし、ＭＥＭスペクトル表示、ｎｃ＝２）を比較表示可能とし、上述の問題点（４）の存在の有無を確認できるようにしている。

次に、第８の分析処理での第１ＴＢ処理、及び第２ＴＢ処理を説明する。
（第１ＴＢ処理）
第８の分析処理における第１ＴＢ処理（ステップＳ１１７）は、上述の処理内容をそのまま用いて分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）を特定し、第３の分析処理の再度の処理で分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）を分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）に置き換えて、分析用切り出し波ＧＢ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及び対応するスペクトルＦＢ_（２）（ｆ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を作成している。

次に、第１ＴＢ処理は、第４の分析処理による再度の閾値処理で、Ａ_Ｇ（ｆ）^ｎＧフィルタ関数での振動数ｆ_ｗを用いて、分析用２次スペクトルＦＣ_（２）（ｆ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を作成し、これに対応する分析用２次時系列ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を求めている。

さらに、第１ＴＢ処理は、第５の分析処理の再度の処理で分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）を用いて時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及び時刻掃引ｆ_０，（ｆ_１～ｆ_２）スペクトルＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}（ただし、ＭＥＭスペクトル表示、ｎｃ＝２）を作成したのち、オペレータの操作を受け付けて表示部１３５に表示可能としている。

ところで、第１ＴＢ処理で作成する加算平均波は、測定ｉ＝ｎＡ～ｎＢではなく、測点ｉ＝ｎＡ～ｎ１の分析用２次時系列ＧＣ_（２）（ｔ）｜_ｉを用いて作成する必要がある。
そこで、ＷＡＶＥ加算平均波ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を、上述の式１４及び上述の式１５に基づいて算出されるＷＡＶＥ加算平均波ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}、及びＳＰ加算平均波ＧＣ^～ _（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}の２つに置き換えて、第５の分析処理の再々度の台形窓関数Ａの掃引処理で、ＷＡＶＥ加算及びＳＰ加算の双方の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及び双方の時刻掃引ｆ_０，（ｆ_１～ｆ_２）スペクトルＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}（ただし、ＭＥＭスペクトル表示、ｎｃ＝２）を作成し直したのち、オペレータの操作を受け付けて表示部１３５にそれぞれ表示可能としている。

次に、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎＡ～ｎ１}と、ＳＰ加算の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}とを用いて、測点ｉ＝ｎＡ～ｎ１各々での、及びＳＰ加算ｉ＝ｎｗ＋１でのグラウト充填状態を、式１６のグラウト充填状態判定式に空充判定カーソルｔ_＊＝ｔ_ｐ（２）＋＊を用いて得る時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｔ_＊）｜_ｉ（＝ＳＰ_ｔ＊｜_{ｉ＝ｎＡ～ｎ１，ｎｗ＋１}）を適用して自動判定した後、第１ＴＢ処理での判定結果と、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}（ＳＰ加算）とを一緒にして表示部１３５に自動表示している。

なお、オペレータの操作でｉ＝ｎｗ＋１のＷＡＶＥ加算とＳＰ加算との双方とする２つの時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及び２つの時刻掃引ｆ_０，（ｆ_１～ｆ_２）スペクトルＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}（ただし、ＭＥＭスペクトル表示、ｎｃ＝２）を比較表示可能とし、上述の問題点（４）の存在の有無を確認できるようにしている。

そして、第１の分析処理で得た表１のシースかぶり厚パターンの開始測点ｎＡ、及び終了測点ｎＢを用いて、ｎ１＝ｎＢの場合は（ステップＳ１１８：Ｙｅｓ）、ｎＡ～ｎＢの全ての測点でのグラウト充填状態が判定済みのため、第８の分析処理の第２ＴＢ処理をスキップして、全ての処理を終了する。なお単一点計測の場合も全ての処理を終了する。
一方、ｎ１＜ｎＢの場合は（ステップＳ１１８：Ｎｏ）、測点ｉ＝ｎ１＋１～ｎＢでのグラウト充填状態を判定するため、第２ＴＢ処理へ移行する。

（第２ＴＢ処理）
第８の分析処理における第２ＴＢ処理（ステップＳ１１９）は、上述の処理内容をそのまま用いて分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）を特定し、第３の分析処理の再度の処理で分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）を分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）に置き換えて分析用切り出し波ＧＢ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及びスペクトルＦＢ_（２）（ｆ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を作成している。

次に、第２ＴＢ処理は、第４の分析処理による再度の閾値処理で、Ａ_Ｇ（ｆ）^ｎＧフィルタ関数での振動数ｆ_ｗを用いて、分析用２次スペクトルＦＣ_（２）（ｆ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を作成し、これに対応する分析用２次時系列ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を求めている。

さらに、第２ＴＢ処理は、第５の分析処理の再度の処理で、分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）を用いて時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及び時刻掃引ｆ_０，（ｆ_１～ｆ_２）スペクトルＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}（ただし、ＭＥＭスペクトル表示、ｎｃ＝２）を作成したのち、オペレータの操作を受け付けて表示部１３５に表示可能としている。

ところで、第２ＴＢ処理で作成する加算平均波は、測点ｉ＝ｎＡ～ｎＢではなく、測点ｉ＝ｎ１＋１～ｎＢの分析用２次時系列ＧＣ_（２）（ｔ）｜_ｉを用いて作成する必要がある。
そこで、ＷＡＶＥ加算平均波ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を、上述の式２２及び上述の式２３に基づいて算出されるＷＡＶＥ加算平均波ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}、及びＳＰ加算平均波ＧＣ^～ _（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}の２つに置き換えて、第５の分析処理の再々度の台形窓関数Ａの掃引処理で、ＷＡＶＥ加算、及びＳＰ加算の双方の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及び双方の時刻掃引ｆ_０，（ｆ_１～ｆ_２）スペクトルＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}（ただし、ＭＥＭスペクトル表示、ｎｃ＝２）を作成し直したのち、オペレータの操作を受け付けて表示部１３５にそれぞれ表示可能としている。

次に、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎ１＋１～ｎＢ}と、ＳＰ加算の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}とを用いて、測点ｉ＝ｎ１＋１～ｎＢ各々での、及びＳＰ加算ｉ＝ｎｗ＋１でのグラウト充填状態を、式１６のグラウト充填状態判定式に空充判定カーソルｔ_＊＝ｔ_ｐ（２）＋＊を用いて得る時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｔ_＊）｜_ｉ（＝ＳＰ_ｔ＊｜_{ｉ＝ｎ１＋１～ｎＢ，ｎｗ＋１}）を適用して自動判定したのち、第２ＴＢ処理での判定結果と、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}（ＳＰ加算）とを一緒にして表示部１３５に自動表示して第８の分析処理を終了する。

なお、オペレータの操作でｉ＝ｎｗ＋１のＷＡＶＥ加算とＳＰ加算との双方とする２つの時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及び２つの時刻掃引ｆ_０，（ｆ_１～ｆ_２）スペクトルＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}（ただし、ＭＥＭスペクトル表示、ｎｃ＝２）を比較表示可能とし、上述の問題点（４）の存在の有無を確認できるようにしている。

次に、第２の処理、及び第３の処理について説明する。
シースかぶり厚パターンが、図２７に示す「パターン（１）～（４）」、「パターン（１´）～（４´）」となる場合（ステップＳ１０６：Ｙｅｓ）、上述の表１の対応パターンの開始測点ｎＡ及び終了測点ｎＢを用いて、分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_大による第２の処理（ステップＳ１０８）、及び分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_小による第３の処理（ステップＳ１０９）をこの順番で行う。
ただし、単一点計測の場合、第１の処理で分析がなされることにより、第２の処理、及び第３の処理は行われない。

第２の処理（ステップＳ１０８）における分析の流れ、及び処理内容は、上述の第１の処理（ステップＳ１０７）と同一である。ただし、第２の処理における第３の分析処理から第８の分析処理は、第１の処理における第３の分析処理から第８の分析処理（ステップＳ１１１～ステップＳ１１９）の分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）をｔ_ｐ（１）｜_大に、分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）をｄｓ_（１）｜_大に置き換え、分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）をｔ_ｐ（２）｜_大に、分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）をｄｓ_（２）｜_大に、シース反射Ｍ_１波起生時刻ｔ_{Ｍ１（１）}をｔ_{Ｍ１（１）}｜_大に、分析用２次シース反射Ｍ_１波起生時刻ｔ_{Ｍ１（２）}をｔ_{Ｍ１（２）}｜_大に置き換える。

第３の処理（ステップＳ１０９）における分析の流れ、及び処理内容は、上述の第１の処理（ステップＳ１０７）と同一である。ただし、第３の処理における第３の分析処理から第８の分析処理は、第１の処理における第３の分析処理から第８の分析処理（ステップＳ１１１～ステップＳ１１９）の分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）をｔ_ｐ（１）｜_小に、分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）をｄｓ_（１）｜_小に置き換え、分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）をｔ_ｐ（２）｜_小に、分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）をｄｓ_（２）｜_小に、シース反射Ｍ_１波起生時刻ｔ_{Ｍ１（１）}をｔ_{Ｍ１（１）}｜_小に、分析用２次シース反射Ｍ_１波起生時刻ｔ_{Ｍ１（２）}をｔ_{Ｍ１（２）}｜_小に置き換える。

Ａ_Ｇ（ｆ）^ｎＧフィルタ関数を用いた閾値分析での問題点（４）の存在を確認する方法と、その対処法を整理する。第１の処理（ステップＳ１０７）、第２の処理（ステップＳ１０８）、及び第３の処理（ステップＳ１０９）ごとの第７の分析処理の第１ＴＡ処理（ステップＳ１１４）及び第２ＴＡ処理（ステップＳ１１６）、並びに第８の分析処理の第１ＴＢ処理（ステップＳ１１７）及び第２ＴＢ処理（ステップＳ１１９）でそれぞれの分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）またはｔ_ｐ（２）｜_大あるいはｔ_ｐ（２）｜_小ごとに、計測対象シースの対応する測点群を選定し、上述の式１４のＷＡＶＥ加算、上述の式１５のＳＰ加算、または上述の式２２のＷＡＶＥ加算、上述の式２３のＳＰ加算を介して、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、時刻掃引ｆ_０，（ｆ_１～ｆ_２）スペクトルＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}（ただし、ＭＥＭスペクトル表示、ｎｃ＝２）を、ＷＡＶＥ加算及びＳＰ加算の双方で求めたのち、オペレータの操作を受け付けて表示部１３５にそれぞれ表示可能としている。

正解を得る加算波がＳＰ加算ということより、ｉ＝ｎｗ＋１の自動化処理では、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}（ＳＰ加算）を用いて、グラウト充填状態の分析結果を表示している。
オペレータの操作で、ＷＡＶＥ加算を用いた時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}（ＷＡＶＥ加算）でも、グラウト充填状態を表示し、双方の充填状態を比較し、問題点（４）の存在の有無を確認し、かつＳＰ加算による計測対象シースのグラウト充填状態の分析結果の正当性をオペレータが確認できる。
このような分析結果の対比をオペレータの本閾値分析における分析検討能力を向上させる手段として位置付けている。

以下、ｎｗ＝４とする多点計測で、測点ｉ＝１～ｎｗの全てが「未充填」の状態にある計測対象シースのＡ_Ｇ（ｆ）^ｎＧフィルタ関数を用いた閾値分析の流れを、図４７（ａ）、図４７（ｂ）、及び図４８の順に示す。
表３の４つの計測対象シースの分析例で、Ａ_Ｋ（ｆ）フィルタ関数を用いた場合の処理の流れを多面的に示しているが、Ａ_Ｇ（ｆ）^ｎＧフィルタ関数を用いた場合の分析も同一の処理の流れとなる。

本Ａ_Ｇ（ｆ）^ｎＧフィルタ関数を用いた閾値分析の流れを、第１の分析処理でシース埋設状態がシースかぶり厚に変化がなく、「パターン（０）」、開始測点ｎＡ＝１、終了測点ｎＢ＝４、及び分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）＝１２５μ秒（分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）＝２５５ｍｍ）と特定されているシースでの加算平均波Ｇ（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}（ただし、中心間距離ａ＝２００ｍｍ、ｎｗ＝４）のみを用いて詳述する。

まず、図４７（ａ）について説明する。
図中の丸数字の「１」で示した細線は、第２の分析処理で自動設定されている振動数ｆ_ｋ＝（ｆ_ｗ＋ｆ_２ ^～）／２を用いた指数ｎＧ＝２とするＡ_Ｇ（ｆ）^ｎＧフィルタ関数を、中心間距離ａ＝２００ｍｍとする計測対象シース直上計測での受信波スペクトルＦ（ｆ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}に乗じて得た分析用スペクトルＦＡ（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}に対応する分析用時系列ＧＡ（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}である。

また、図中の丸数字の「２」で示した太線は、第１の処理における第３の分析処理で得た分析用切り出し波ＧＢ_（１）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}に対応するスペクトルＦＢ_（１）（ｆ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}にＡ_Ｇ（ｆ）^ｎＧフィルタ関数を用いた第４の分析処理の閾値処理で、４０ｋＨｚ－Δｆ_ｗ＜ｆ_ｗ＜４０ｋＨｚ＋Δｆ_ｗ（ただし、Δｆ_ｗ＝５ｋＨｚ）の範囲でオペレータが選定した振動数ｆ_ｗを用いて取得したＦＣ_（１）（ｆ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}に対応する分析用１次時系列ＧＣ_（１）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}のＧＣ_（１）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}である。

なお、第３の分析処理では、分析用切り出し波ＧＢ_（１）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}の取得で、上述の時刻フィルタ関数ＴＧＣ１（ｔ）、及び時刻フィルタ関数ＴＧＣ２（ｔ）を用いるのを基本としているが、本分析例では、コンクリート打設直後ということもあり、シース反射波の振幅が大きくなり、かつシースかぶり厚ｄｓ_（１）が２５５ｍｍ（分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）＝１２５μ秒）と深いことにより、コンクリート表面Ｓ_１波、直接波（ＤＩ波）の後方残存波の振幅がシース反射Ｐ波の振幅に比べて小さくなり、時刻フィルタ関数ＴＧＣ１（ｔ）、及び時刻フィルタ関数ＴＧＣ２（ｔ）の代わりに図示する時刻フィルタ関数ＴＧＣ４（ｔ）を用いても、グラウト充填分析結果に悪影響を及ぼさない。

これにより、本分析例では、図中の丸数字の「４」で示した時刻ｔ_ｈ＝ｔ_ｐ（１）＝１２５μ秒とする時刻フィルタ関数ＴＧＣ４（ｔ）を用いている。なお、図中の丸数字の「３」は、版厚反射Ｐ波起生時刻を示している。

図４７（ｂ）は、第５の分析処理で、上述の分析用１次時系列ＧＣ_（１）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}に台形窓関数Ａを時刻ｔ_始（＝ｔ_ｐ（１）－Δｔ_ｐ１）から時刻ｔ_終（＝ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_ｐ２）まで掃引する状況を、ｉ＝ｎｗ＋１のみで示している。この経緯の中で、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ１，２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及び時刻掃引ｆ_０，（ｆ_１～ｆ_２）スペクトルＳＰ_{ｆ１，２（１）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}（ただし、ＭＥＭスペクトル表示、ｎｃ＝２）を求めている。

次に、第６の分析処理で、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ１，２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ}の形状特性が図３８（ａ）及び図３８（ｂ）のようになり、特性ＴＡ、かつｎ１＝ｎＢ＝４と特定されることより（ステップＳ１１３：１）、第７の分析処理へ移行し、第１ＴＡ処理で分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）を求めた後、第３の分析処理、第４の分析処理、第５の分析処理の再度の処理で、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及び時刻掃引ｆ_０，（ｆ_１～ｆ_２）スペクトルＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}をｉ＝ｎＡ～ｎ１として、ＷＡＶＥ加算及びＳＰ加算の双方で作成し、それぞれＷＡＶＥ加算及びＳＰ加算の２つの時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}と、２つの時刻掃引ｆ_０，（ｆ_１～ｆ_２）スペクトルＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}とを求めている。

詳細な図示を省略するが、本分析例は、偶然、分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）≒分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）となることにより、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ}≒時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ１，２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ}とし、時刻掃引ｆ_０，（ｆ_１～ｆ_２）スペクトルＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝１～ｎｗ}≒時刻掃引ｆ_０，（ｆ_１～ｆ_２）スペクトルＳＰ_{ｆ１，２（１）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝１～ｎｗ}として、測点ｉ＝ｎＡ～ｎＢ（１～ｎｗ）の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ}と、ＳＰ加算ｉ＝ｎｗ＋１の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}とを、空充判定カーソルｔ_＊＝ｔ_ｐ（２）＋＊として式１６のグラウト充填状態判定式に適用し、全ての測点で「未充填」と判定し処理を終了している。

図４８は、ＳＰ加算による時刻掃引ｆ_０，（ｆ_１～ｆ_２）スペクトルＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}（ただし、ＭＥＭスペクトル表示、ｎｃ＝２）を示したものである。振動数ｆ_ｗ～ｆ_２ ^～のスペクトルが大きく起生し、計測対象シースが「未充填」であることを示す時刻掃引ｆ_０，（ｆ_１～ｆ_２）スペクトルとなっており、削孔結果である「未充填」と合致している。
なお、時刻掃引ｆ_０，（ｆ_１～ｆ_２）スペクトルＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃは、全分析時刻ｔの中で最大スペクトル値を「１．０」に基準化して、ｎｃ＝２として表示している。

ところで、図４８では、シース反射Ｐ波の「未充填」を示す振動数ｆ_ｗ～ｆ_２ ^～のスペクトルの起生が比較的、長時間継続している。一方、上述のＡ_Ｋ（ｆ）フィルタ関数を用いて抽出した事例の１つである図３３（ａ）の「未充填」を示す振動数ｆ_２＝８０ｋＨｚのスペクトルを用いた時刻の推移では、その継続時間が短い。

これは、図４８が、振動数ｆ_ｗ～ｆ_２ ^～のうち、減衰の少ない低振動数側の振動数が支配的な掃引スペクトルであり、図３３（ａ）が、減衰の大きい振動数ｆ_２＝８０ｋＨｚでのスペクトルが支配的な掃引スペクトルであることにより生じる現象である。
以上のような動作を実現する反射Ｐ波閾値分析法に基づいた非破壊検査装置１０、及びこれを用いた非破壊検査方法は、グラウト充填状態を効率よく、かつ精度よく非破壊検査することができる。

また、上述した一連の第１の分析処理、第２の分析処理、第３の分析処理、第４の分析処理、及び第５の分析処理のソフトウェア機能を個々に用意し、これ等の分析機能による分析結果を、オペレータが第６の分析処理に適用した後、第７の分析処理及び第８の分析処理での第３の分析処理、第４の分析処理、第５の分析処理を再度、そして、第５の分析処理を再々度適用するオペレータによる半自動化処理でグラウト充填状態を判定する方法でも、精度よく非破壊検査することが出来る。

この発明の構成と、上述の実施形態との対応において、
この発明の入力受付手段及び操作受付手段は、実施形態の操作部１３４に対応し、
以下同様に、
コンクリート表面は、コンクリート上面４ａに対応し、
計測対象シースは、シース管２に対応し、
第１の収録手段、第２の収録手段、第１の分析手段、第２の分析手段、第３の分析手段、第４の分析手段、第５の分析手段、第６の分析手段、第７の分析手段、第８の分析手段、第１の処理手段、第２の処理手段、及び第３の処理手段は、制御部１３６に対応し、
入力受付工程は、ステップＳ１０１に対応し、
第１の収録工程は、ステップＳ１０２に対応し、
第２の収録工程は、ステップＳ１０３に対応し、
操作受付工程、及び第１の分析工程は、ステップＳ１０４に対応し、
第２の分析工程は、ステップＳ１０５に対応し、
第１の処理工程は、ステップＳ１０７に対応し、
第２の処理工程は、ステップＳ１０８に対応し、
第３の処理工程は、ステップＳ１０９に対応し、
第３の分析工程、第４の分析工程、及び第５の分析工程は、ステップＳ１１１に対応し、
第６の分析工程は、ステップＳ１１２に対応し、
第７の分析工程は、ステップＳ１１４～ステップＳ１１６に対応し、
第８の分析工程は、ステップＳ１１７～ステップＳ１１９に対応するが、
この発明は、上述の実施形態の構成のみに限定されるものではなく、多くの実施の形態を得ることができる。

２…シース管
４ａ…コンクリート上面
１０…非破壊検査装置
１１ａ…発信探触子
１２ａ…受信探触子
１３…解析機器
１３４…操作部
１３５…表示部
１３６…制御部

多数の分析事例によれば、この問題による計測グラウト充填状態の誤判定の発生率は、５０％以上になることもある。この問題への対処をなす必要がある。

Claims (4)

1. 超音波を発信する発信探触子、及び超音波を受信する受信探触子からなる一対の探触子と、少なくとも各種情報を表示する表示部を有して計測対象シースのグラウト充填状態を分析判定する解析機器とを備えた非破壊検査装置であって、
   オペレータの操作によるコンクリート縦波音速、２段目シースのかぶり厚、版厚、及び版厚底部コーナーの路程長の入力を受け付ける入力受付手段と、
   計測対象シースの断面中心からコンクリート表面への垂線と前記コンクリート表面との交点をとおる前記計測対象シースの長手方向に沿った前記コンクリート表面の仮想線分上において、測点ｉ＝１～ｎｗを順に計測する多点計測の場合、測点ｉ＝１でのシースかぶり厚と測点ｉ＝ｎｗでのシースかぶり厚との平均値を、あるいは測点ｉ＝１となる単一点計測の場合、測点ｉ＝１でのシースかぶり厚を、レーダ計測かぶり厚ｄｓ｜_ＲＣとして取得して、下式のｄｓをレーダ計測かぶり厚ｄｓ｜_ＲＣに置き換えてシース反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ＝ｔ_ｐ｜_ＲＣを取得する第１の収録手段と、
   

   

   前記発信探触子から前記計測対象シースに向かって、所定時刻間隔で超音波を連続発信し、発信のたびに前記受信探触子で得た収録波を加算平均して測点ｉ毎の受信波Ｇ（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ}を取得し、該受信波Ｇ（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ}をＦＦＴ変換して対応する受信波スペクトルＦ（ｆ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ}を取得する第２の収録手段と、
   振動数０．０から（ｆ_ｓ－Δｆ_ｓ）の間が「０．０」、振動数（ｆ_ｓ－Δｆ_ｓ）からｆ_ｓの間が「０．０から１．０」となるｓｉｎ形状増加関数、振動数ｆ_ｓから（ｆ_ｓ＋Δｆ_ｓ）の間が「１．０から０．０」となるｓｉｎ形状減少関数、振動数（ｆ_ｓ＋Δｆ_ｓ）以上で「０．０」となる関数をＦ３フィルタ関数として、
   該Ｆ３（ｆ）フィルタ関数の中心振動数ｆ_ｓを低振動数または高振動数側へ徐々に移動させるオペレータの操作を受け付ける操作受付手段と、
   Δｔ_ｋをオペレータによって設定される値とし、時刻０．０から（ｔ_ｐ｜_ＲＣ－Δｔ_ｋ）の間が「０．０」、時刻（ｔ_ｐ｜_ＲＣ－Δｔ_ｋ）で「０．０」となり時刻ｔ_ｐ｜_ＲＣで「１．０」となるｓｉｎ形状増加関数、時刻ｔ_ｐ｜_ＲＣで「１．０」となり時刻（ｔ_ｐ｜_ＲＣ＋Δｔ_ｋ）で「０．０」となるｓｉｎ形状減少関数、時刻（ｔ_ｐ｜_ＲＣ＋Δｔ_ｋ）以降で「０．０」となる関数を時刻フィルタ関数ＴＧＣ４（ｔ）として、前記操作受付手段でオペレータの操作を受け付けるたびに、前記中心振動数ｆ_ｓとする前記Ｆ３（ｆ）フィルタ関数を前記受信波スペクトルＦ（ｆ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ}に乗じて得たスペクトルをＦＦＴ逆変換して得る時系列波に対して、該時系列波のいずれかの測点ｉの起生時刻を中心時刻とする前記時刻フィルタ関数ＴＧＣ４（ｔ）を乗じて、分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）｜_{ｉ＝１～ｎｗ}を取得するとともに、下式のｄｓを分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_ｉに、下式のｔ_ｐを前記分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）｜_ｉに置き換えて、分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_ｉを取得し、
   

   

   さらに、測点ｉ＝１～ｎｗの多点計測における前記分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_ｉが全ての測点ｉで同一、または測点ｉ＝ｎｗ＝１の単一点計測の場合、前記分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）｜_ｉ、及び前記分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_ｉをそれぞれｔ_ｐ（１）、及びｄｓ_（１）とするとともに、開始測点ｎＡをｉ＝１、終了測点ｎＢをｉ＝ｎｗとし、測点ｉ＝１～ｎｗの多点計測における前記分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_ｉが測点ｉごとに異なる場合、前記分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）｜_{ｉ＝１～ｎｗ}を２つに区分し、それぞれの平均値をｔ_ｐ（１）｜_大、及びｔ_ｐ（１）｜_小とし、前記分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）｜_大を上式に適用して得た分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）を分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_大とし、前記分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）｜_小を上式に適用して得た分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）を分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_小として、前記分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_大及びｄｓ_（１）｜_小ごとの開始測点ｎＡ、及び終了測点ｎＢを取得する第１の分析手段と、
   中心振動数ｆ_０を２０ｋＨｚ、振動数ｆ_ｗをオペレータによって設定される５０ｋＨｚ－Δｆ_ｗ＜ｆ_ｗ＜５０ｋＨｚ＋Δｆ_ｗ（ただし、Δｆ_ｗ＝５ｋＨｚ）の範囲のいずれかの値、振動数ｆ_２を８０ｋＨｚとして、振動数－１０ｋＨｚからｆ_０が「０．０から１．０」となるｓｉｎ形状増加関数、振動数ｆ_０からｆ_ｗが「１．０から０．０」となるｓｉｎ形状減少関数、振動数ｆ_ｗからｆ_２が「０．０から１．０」となるｓｉｎ形状増加関数、振動数ｆ_２から（ｆ_２＋３０ｋＨｚ）が「１．０から０．０」となるｓｉｎ形状減少関数、振動数（ｆ_２＋３０ｋＨｚ）以上で「０．０」となるＡ_Ｋ（ｆ）フィルタ関数を、ｉ＝１～ｎｗを受信波、ｉ＝ｎｗ＋１を加算平均波とする受信波スペクトルＦ（ｆ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}に乗じて分析用スペクトルＦＡ（ｆ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を取得し、該分析用スペクトルＦＡ（ｆ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}をＦＦＴ逆変換して対応する分析用時系列ＧＡ（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を取得する第２の分析手段と、
   ｉ＝１の単一点計測の場合、またはｉ＝１～ｎｗの多点計測における前記分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_ｉが同一の場合、前記分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）｜_ｉをｔ_ｐ（１）とし、前記分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_ｉをｄｓ_（１）として、第３の分析手段、第４の分析手段、第５の分析手段、第６の分析手段、第７の分析手段、及び第８の分析手段による分析によって、前記計測対象シースのグラウト充填状態を判定する第１の処理手段と、
   ｉ＝１～ｎｗの多点計測における前記分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_ｉが異なる場合、前記分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）をｔ_ｐ（１）｜_大に、前記分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）をｄｓ_（１）｜_大に置き換えた前記第３の分析手段、前記第４の分析手段、前記第５の分析手段、前記第６の分析手段、前記第７の分析手段、及び前記第８の分析手段による分析によって、前記分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_大における前記計測対象シースのグラウト充填状態を判定する第２の処理手段と、
   該第２の処理手段での判定に引き続いて、前記分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）をｔ_ｐ（１）｜_小に、前記分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）をｄｓ_（１）｜_小に置き換えた前記第３の分析手段、前記第４の分析手段、前記第５の分析手段、前記第６の分析手段、前記第７の分析手段、及び前記第８の分析手段による分析によって、前記分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_小における前記計測対象シースのグラウト充填状態を判定する第３の処理手段とを備え、
   前記第３の分析手段は、
   時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_ｈ１を基準時刻とする時刻フィルタ関数ＴＧＣ１（ｔ）、及び時刻ｔ_ｐ（１）を基準時刻とする時刻フィルタ関数ＴＧＣ２（ｔ）を、前記分析用時系列ＧＡ（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}に乗じて分析用切り出し波ＧＢ_（１）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を取得し、該分析用切り出し波ＧＢ_（１）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}をＦＦＴ変換して対応するスペクトルＦＢ_（１）（ｆ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を取得する分析手段であり、
   前記時刻フィルタ関数ＴＧＣ１（ｔ）は、
   基準時刻ｔ_ｈ＝ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_ｈ１として、時刻ｔ＝０で「０．０」となり、基準時刻ｔ_ｈで「１．０」となるｓｉｎ形状増加線分、時刻ｔ＝基準時刻ｔ_ｈ以降が「１．０」となるＴＧＣＡ（ｔ）関数を用いて、（ＴＧＣＡ（ｔ））^ｎｅで算出される関数であり、
   前記時刻フィルタ関数ＴＧＣ２（ｔ）は、
   基準時刻ｔ_ｈ＝ｔ_ｐ（１）として、時刻ｔ＝０．０から時刻ｔ＝ｔ_ｈが「１．０」、時刻ｔ＝基準時刻ｔ_ｈで「１．０」となり、時刻ｔ＝４００μ秒で「０．０」となるｓｉｎ形状減少線分、時刻ｔ＝４００μ秒以降が「０．０」となるＴＧＣＢ（ｔ）関数を用いて、（ＴＧＣＢ（ｔ））^ｎｆで算出される関数であり、
   前記第４の分析手段は、
   前記スペクトルＦＢ_（１）（ｆ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}で、ｉごとに前記振動数ｆ_ｗよりも低振動数側の最大スペクトル値を基準値＝１．０としたのち、前記振動数ｆ_ｗよりも高振動数側の最大スペクトル値を閾値α_σとする閾値処理で、分析用１次スペクトルＦＣ_（１）（ｆ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を取得し、該分析用１次スペクトルＦＣ_（１）（ｆ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}に対応する分析用１次時系列ＧＣ_（１）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}をＦＦＴ逆変換で取得する分析手段であり、
   前記第５の分析手段は、
   台形窓関数Ａを時刻ｔ_始＝ｔ_ｐ（１）－Δｔ_ｐ１から時刻ｔ_終＝ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_ｐ２までΔｔ_ａ間隔で移動させるたびに、前記分析用１次時系列ＧＣ_（１）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}に台形窓関数Ａを乗じて切り出した時系列に対応するスペクトルを求め、前記振動数ｆ_ｗ以下での最大スペクトル値を１．０に基準化して得たスペクトルにおいて、前記振動数ｆ_ｗ以上での最大スペクトル値を時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_ｆ２として、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を作成するとともに、前記振動数ｆ_ｗ以上、及び前記振動数ｆ_ｗ以下での最大スペクトル値を時刻の推移毎に比較して大きい方の最大スペクトル値を１．０に基準化して得た時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（１）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を作成する分析手段であり、
   前記台形窓関数Ａは、
   基準時刻をｔ_始とし、前記分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）またはｄｓ_（１）｜_大あるいはｄｓ_（１）｜_小に応じて設定された時間幅を示す値をｔ_ａとして、時刻ｔ＝０．０からｔ_始－５の間が「０．０」、時刻ｔ＝ｔ_始－５からｔ_始が「０．０」から「１．０」となるｓｉｎ形状増加関数、時刻ｔ＝ｔ_始からｔ_始＋ｔ_ａが「１．０」、時刻ｔ＝ｔ_始＋ｔ_ａからｔ_始＋ｔ_ａ＋５が「１．０」から「０．０」となるｓｉｎ形状減少関数、時刻ｔ＝ｔ_始＋ｔ_ａ＋５以降が「０．０」となる関数であり、
   前記第６の分析手段は、
   計測対象シースの空隙部分とグラウト充填部分との境界測点をｎ１として、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎＡ～ｎＢ}のスペクトル値が、測点ｉ＝ｎＡ～ｎ１（ただし、境界測点ｎ１≦終了測点ｎＢ）において、時刻ｔ_ｐ（１）－Δｔ_Ｂ１から時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_Ｂ２の間で増加傾向にあり、時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_Ｂ２で閾値α_σを超えることを確認して前記境界測点ｎ１が特定される特性ＴＡ、または時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎＡ～ｎＢ}のスペクトル値が、測点ｉ＝ｎＡ～ｎ１（ただし、境界測点ｎ１≦終了測点ｎＢ）において、時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_Ｂ２で閾値α_σを下回ることを確認して前記境界測点ｎ１が特定される特性ＴＢのいずれであるかを特定する分析手段であり、
   前記第７の分析手段は、
   前記第６の分析手段において、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎＡ～ｎＢ}のスペクトル形状が特性ＴＡと特定された場合、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎＡ～ｎＢ}に基づいて、第１ＴＡ処理手段、及び第２ＴＡ処理手段による分析を行い、グラウト充填状態を判定する分析手段であり、
   前記第８の分析手段は、
   前記第６の分析手段において、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎＡ～ｎＢ}のスペクトル形状が特性ＴＢと特定された場合、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎＡ～ｎＢ}に基づいて、第１ＴＢ処理手段、及び第２ＴＢ処理手段による分析を行い、グラウト充填状態を判定する分析手段であり、
   前記第７の分析手段の前記第１ＴＡ処理手段は、
   時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_ｉが、測点ｉ＝ｎＡ～ｎ１（ただし、ｎ１≦ｎＢ）ごとに時刻ｔ_ｐ（１）－Δｔ_Ｂ１と時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_Ｂ２の間で増加傾向にあり、時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_Ｂ２で閾値α_σを超えている時、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎＡ～ｎ１}（ただし、ｎ１≦ｎＢ）ごとに、時刻ｔ_ｐ（１）－Δｔ_Ｂ１と時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_Ｂ２との間で、閾値α_σを超える時刻をｔ_ｉとし、この平均値をｔ_Ａとし、または単一点計測の場合、ｔ_Ａ＝ｔ_１として、下式に基づいてΔｔ_Ａを取得するとともに、
   

   

   下式に基づいて分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）を取得し、
   

   

   下式のｄｓを分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）に、下式のｔ_ｐを前記分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）に置き換えて分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）を取得し、
   

   

   前記第３の分析手段、及び前記第４の分析手段における前記分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）を分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）に置き換えて、前記第３の分析手段、及び前記第４の分析手段による再度の分析によって、分析用１次時系列ＧＣ_（１）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}の代わりに分析用２次時系列ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を作成し、さらに、前記第５の分析手段による再度の分析で前記分析用２次時系列ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}に分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）を用いた前記台形窓関数Ａのｔ_ｐ（２）－Δｔ_ｐ１を始点時刻ｔ_始とし、ｔ_ｐ（２）＋Δｔ_ｐ２を終点時刻ｔ_終とする掃引処理を適用し、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及び時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を作成し、次に、ＷＡＶＥ加算平均波ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を下式で作成し直すとともに、
   

   

   前記ＷＡＶＥ加算平均波ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}のＦＦＴ変換でスペクトルＦＣ_（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を求め、さらに下式に基づいてスペクトルＦＣ^～ _（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を作成し、
   

   

   前記スペクトルＦＣ^～ _（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}の位相情報を、前記スペクトルＦＣ_（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}の位相情報に変更したのち、前記スペクトルＦＣ^～ _（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}のＦＦＴ逆変換でＳＰ加算平均波ＧＣ^～ _（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を作成し、再々度の前記第５の分析手段による前記台形窓関数Ａのｔ_ｐ（２）－Δｔ_ｐ１を始点時刻ｔ_始とし、ｔ_ｐ（２）＋Δｔ_ｐ２を終点時刻ｔ_終とする掃引処理を前記ＳＰ加算平均波ＧＣ^～ _（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}に適用し、前記分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）とするＳＰ加算の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及び時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を作成し直したのち、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎＡ～ｎ１}とＳＰ加算の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}とを用いて測点ｉ＝ｎＡ～ｎ１各々での、及びＳＰ加算ｉ＝ｎｗ＋１でのグラウト充填状態を、空充判定線分α^～ _σ（＝α_σ＋０．０６）値、及び前記分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）に応じて設定された時刻を＊値とする空充判定カーソルｔ_＊＝ｔ_ｐ（２）＋＊を用いて取得した時刻ｔ_＊での時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ_＊）｜_ｉが、α^～ _σ＋０．１８＜ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ_＊）｜_ｉの場合に「未充填」と自動判定し、α^～ _σ＜ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ_＊）｜_ｉ≦α^～ _σ＋０．１８の場合に「充填不足」と自動判定し、該判定結果及び時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を表示部に表示する処理手段であり、
   前記第７の分析手段の前記第２ＴＡ処理手段は、
   ｎ１＜ｎＢの場合において、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_ｉが測点ｉ＝ｎ１＋１～ｎＢごとに、時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_Ｂ２で閾値α_σを下回る時、時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_Ｂ２のさらなる時刻後方で、測点ｉ＝ｎ１＋１～ｎＢの時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_ｉが閾値α_σを超える時刻をｔ_ｉとして、下式を満足させる測点ｉの時刻ｔ_ｉを選定し、該時刻ｔ_ｉの平均値を時刻平均値ｔ_Ａとし、
   

   

   

   上式を満足させる時刻ｔ_ｉがない場合、時刻平均値ｔ_Ａ＝ｔ_{Ｍ１（１）}として、下式でΔｔ_Ａを求め、
   

   

   分析用２次シース反射Ｍ_１波起生時刻ｔ_{Ｍ１（２）}及び分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）を下式群に基づいて取得するとともに、
   

   

   

   

   下式のｄｓを分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）に、下式のｔ_ｐを前記分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）に置き換えて、分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）を取得し、
   

   

   前記第３の分析手段、及び前記第４の分析手段における前記分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）を分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）に置き換えて、前記第３の分析手段、及び前記第４の分析手段による再度の分析によって、分析用１次時系列ＧＣ_（１）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}の代わりに分析用２次時系列ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を作成し、さらに、前記第５の分析手段による再度の分析で前記分析用２次時系列ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}に分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）を用いた前記台形窓関数Ａのｔ_ｐ（２）－Δｔ_ｐ１を始点時刻ｔ_始とし、ｔ_ｐ（２）＋Δｔ_ｐ２を終点時刻ｔ_終とする掃引処理を適用し、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及び時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を作成し、次に、ＷＡＶＥ加算平均波ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を下式で作成し直すとともに、
   

   

   前記ＷＡＶＥ加算平均波ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}のＦＦＴ変換でスペクトルＦＣ_（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を求め、さらに下式に基づいてスペクトルＦＣ^～ _（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を作成し、
   

   

   前記スペクトルＦＣ^～ _（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}の位相情報を、前記スペクトルＦＣ_（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}の位相情報に変更したのち、前記スペクトルＦＣ^～ _（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}のＦＦＴ逆変換でＳＰ加算平均波ＧＣ^～ _（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を作成し、再々度の前記第５の分析手段による前記台形窓関数Ａのｔ_ｐ（２）－Δｔ_ｐ１を始点時刻ｔ_始とし、ｔ_ｐ（２）＋Δｔ_ｐ２を終点時刻ｔ_終とする掃引処理を前記ＳＰ加算平均波ＧＣ^～ _（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}に適用し、前記分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）を用いたＳＰ加算の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及び時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を作成し直したのち、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎ１＋１～ｎＢ}とＳＰ加算の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}とを用いて測点ｉ＝ｎ１＋１～ｎＢ各々での、及びＳＰ加算ｉ＝ｎｗ＋１でのグラウト充填状態を、空充判定線分α^～ _σ（＝α_σ＋０．０６）値、及び前記分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）に応じて設定された時刻を＊値とする空充判定カーソルｔ_＊＝ｔ_ｐ（２）＋＊を用いて取得した時刻ｔ_＊での時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ_＊）｜_ｉが、ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ_＊）｜_ｉ≦α^～ _σの場合に「完全充填」と自動判定し、該判定結果及び時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を表示部に表示する処理手段であり、
   前記第８の分析手段の前記第１ＴＢ処理手段は、
   時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_ｉが測点ｉ＝ｎＡ～ｎ１（ただし、ｎ１≦ｎＢ）ごとに、時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_Ｂ２で閾値α_σを下回る場合、時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_Ｂ２のさらなる時刻後方で、測点ｉ＝ｎＡ～ｎ１（ただし、ｎ１≦ｎＢ）ごとの時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_ｉが閾値α_σを超える時刻をｔ_ｉ（単一点計測の場合、時刻ｔ_ｉ＝ｔ_１）として、下式を満足させる測点ｉの時刻ｔ_ｉを選定し、該時刻ｔ_ｉの平均値を時刻平均値ｔ_Ａとし、
   

   

   

   上式を満足させる時刻ｔ_ｉがない場合、時刻平均値ｔ_Ａ＝ｔ_{Ｍ１（１）}として、下式でΔｔ_Ａを求め、
   

   

   分析用２次シース反射Ｍ_１波起生時刻ｔ_{Ｍ１（２）}及び分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）を下式群に基づいて取得するとともに、
   

   

   

   

   下式のｄｓを分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）に、下式のｔ_ｐを前記分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）に置き換えて、分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）を取得し、
   

   

   前記第３の分析手段、及び前記第４の分析手段における前記分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）を分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）に置き換えて、前記第３の分析手段、及び前記第４の分析手段による再度の分析によって、分析用１次時系列ＧＣ_（１）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}の代わりに分析用２次時系列ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を作成し、さらに、前記第５の分析手段による再度の分析で前記分析用２次時系列ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}に分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）を用いた前記台形窓関数Ａのｔ_ｐ（２）－Δｔ_ｐ１を始点時刻ｔ_始とし、ｔ_ｐ（２）＋Δｔ_ｐ２を終点時刻ｔ_終とする掃引処理を適用し、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及び時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を作成し、次に、ＷＡＶＥ加算平均波ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を下式で作成し直すともに、
   

   

   前記ＷＡＶＥ加算平均波ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}のＦＦＴ変換でスペクトルＦＣ_（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を求め、さらに下式に基づいてスペクトルＦＣ^～ _（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を作成し、
   

   

   前記スペクトルＦＣ^～ _（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}の位相情報を、前記スペクトルＦＣ_（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}の位相情報に変更したのち、前記スペクトルＦＣ^～ _（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}のＦＦＴ逆変換でＳＰ加算平均波ＧＣ^～ _（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を作成し、再々度の前記第５の分析手段による前記台形窓関数Ａのｔ_ｐ（２）－Δｔ_ｐ１を始点時刻ｔ_始とし、ｔ_ｐ（２）＋Δｔ_ｐ２を終点時刻ｔ_終とする掃引処理を前記ＳＰ加算平均波ＧＣ^～ _（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}に適用し、前記分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）とするＳＰ加算の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及び時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を作成し直したのち、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎＡ～ｎ１}とＳＰ加算の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}とを用いて測点ｉ＝ｎＡ～ｎ１各々での、及びＳＰ加算ｉ＝ｎｗ＋１でのグラウト充填状態を、空充判定線分α^～ _σ（＝α_σ＋０．０６）値、及び前記分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）に応じて設定された時刻を＊値とする空充判定カーソルｔ_＊＝ｔ_ｐ（２）＋＊を用いて取得した時刻ｔ_＊での時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ_＊）｜_ｉが、ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ_＊）｜_ｉ≦α^～ _σの場合に「完全充填」と自動判定し、該判定結果及び時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を表示部に表示する処理手段であり、
   前記第８の分析手段の前記第２ＴＢ処理手段は、
   ｎ１＜ｎＢの場合において、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎ１＋１～ｎＢ}ごとに時刻ｔ_ｐ（１）－Δｔ_Ｂ１と時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_Ｂ２の間で増加傾向にあり、時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_Ｂ２で閾値α_σを超える時、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎ１＋１～ｎＢ}ごとに時刻ｔ_ｐ（１）－Δｔ_Ｂ１と時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_Ｂ２との間で閾値α_σを超える時刻をｔ_ｉとし、測点ｉごとの時刻ｔ_ｉの平均値である時刻平均値ｔ_Ａを求め、下式に基づいてΔｔ_Ａを取得するとともに、
   

   

   下式に基づいて分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）を取得し、
   

   

   下式のｄｓを分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）に、下式のｔ_ｐを前記分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）に置き換えて、分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）を取得し、
   

   

   前記第３の分析手段、及び前記第４の分析手段における前記分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）を分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）に置き換えて、前記第３の分析手段、及び前記第４の分析手段による再度の分析によって、分析用１次時系列ＧＣ_（１）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}の代わりに分析用２次時系列ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を作成し、さらに、前記第５の分析手段による再度の分析で前記分析用２次時系列ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}に分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）を用いた前記台形窓関数Ａのｔ_ｐ（２）－Δｔ_ｐ１を始点時刻ｔ_始とし、ｔ_ｐ（２）＋Δｔ_ｐ２を終点時刻ｔ_終とする掃引処理を適用し、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及び時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を作成し、次に、ＷＡＶＥ加算平均波ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を下式で作成し直すとともに、
   

   

   前記ＷＡＶＥ加算平均波ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}のＦＦＴ変換でスペクトルＦＣ_（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を求め、さらに下式に基づいてスペクトルＦＣ^～ _（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を作成し、
   

   

   前記スペクトルＦＣ^～ _（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}の位相情報を、スペクトルＦＣ_（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}の位相情報に変更したのち、前記スペクトルＦＣ^～ _（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}のＦＦＴ逆変換でＳＰ加算平均波ＧＣ^～ _（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を作成し、再々度の前記第５の分析手段による前記台形窓関数Ａのｔ_ｐ（２）－Δｔ_ｐ１を始点時刻ｔ_始とし、ｔ_ｐ（２）＋Δｔ_ｐ２を終点時刻ｔ_終とする掃引処理を前記ＳＰ加算平均波ＧＣ^～ _（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}に適用し、前記分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）とするＳＰ加算の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及び時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を作成し直したのち、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎ１＋１～ｎＢ}とＳＰ加算の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}とを用いて測点ｉ＝ｎ１＋１～ｎＢ各々での、及びＳＰ加算ｉ＝ｎｗ＋１でのグラウト充填状態を、空充判定線分α^～ _σ（＝α_σ＋０．０６）値、及び前記分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）に応じて設定された時刻を＊値とする空充判定カーソルｔ_＊＝ｔ_ｐ（２）＋＊を用いて得る時刻ｔ_＊での時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ_＊）｜_ｉが、α^～ _σ＋０．１８＜ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ_＊）｜_ｉの場合に「未充填」と自動判定し、α^～ _σ＜ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ_＊）｜_ｉ≦α^～ _σ＋０．１８の場合に「充填不足」と自動判定し、該判定結果及び時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を表示部に表示する処理手段である
   非破壊検査装置。
2. 前記第２の分析手段は、
   前記Ａ_Ｋ（ｆ）フィルタ関数をＡ_Ｇ（ｆ）^ｎＧフィルタ関数に置き換えて、測点ｉ＝１～ｎｗ＋１での前記分析用スペクトルＦＡ（ｆ）｜_ｉ、及び前記分析用時系列ＧＡ（ｔ）｜_ｉを取得する手段であり、
   前記Ａ_Ｇ（ｆ）^ｎＧフィルタ関数は、
   （ｆ_ｗ＋ｆ_２ ^～）／２（ただし、ｆ_２ ^～＝８０ｋＨｚ）を振動数ｆ_ｋとして、振動数ｆ＝０．０で「０．０」となり、振動数ｆ_ｋで「１．０」となるｓｉｎ形状増加関数、前記振動数ｆ_ｋで「１．０」となり、前記振動数ｆ_ｋ×２で「０．０」となるｓｉｎ形状減少関数、そして前記振動数ｆ_ｋ×２以上で「０．０」となる関数であり、
   前記Ａ_Ｇ（ｆ）^ｎＧフィルタ関数のｎＧ値は、
   前記振動数ｆ_ｗをオペレータの操作によって設定された４０ｋＨｚ－Δｆ_ｗ＜ｆ_ｗ＜４０ｋＨｚ＋Δｆ_ｗ（ただし、Δｆ_ｗ＝５ｋＨｚ）の範囲のいずれかの値として、前記分析用スペクトルＦＡ（ｆ）｜_ｉが、測点ｉのいずれかで振動数ｆ_ｗ～振動数ｆ_２ ^～＝８０ｋＨｚの間で最大スペクトル値となるときの値であり、
   前記第４の分析手段は、
   前記第３の分析手段で取得したスペクトルＦＢ（ｆ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}ごとに前記振動数ｆ_ｗ以下での最大スペクトル値を１．０に基準化し、前記振動数ｆ_ｗ以上での最大スペクトル値を前記閾値α_σとする手段であり、
   前記第５の分析手段は、
   前記時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及び前記時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（１）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}の代わりに、それぞれ時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ１，２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及び時刻掃引ｆ_０，（ｆ_１～ｆ_２）スペクトルＳＰ_{ｆ１，２（１）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を作成する手段であり、
   前記第６の分析手段は、
   前記時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ１，２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎＡ～ｎＢ}のスペクトル値が、前記特性ＴＡまたは前記特性ＴＢのいずれであるかを特定し、かつ前記境界測点ｎ１を特定する手段であり、
   前記第７の分析手段、及び前記第８の分析手段は、
   前記時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_ｉ、及び前記時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_ｉの代わりに、それぞれ時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｔ）｜_ｉ、及び時刻掃引ｆ_０，（ｆ_１～ｆ_２）スペクトルＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_ｉを作成し、前記時刻ｔ_＊での前記時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ_＊）｜_ｉに代えて、前記時刻ｔ_＊での時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｔ_＊）｜_ｉを求めて、グラウト充填状態を判定する手段である
   請求項１に記載の非破壊検査装置。
3. 超音波を発信する発信探触子、及び超音波を受信する受信探触子からなる一対の探触子と、少なくとも各種情報を表示する表示部を有して計測対象シースのグラウト充填状態を分析判定する解析機器とを備えた装置を用いた非破壊検査方法であって、
   前記解析機器は、
   オペレータの操作によるコンクリート縦波音速、２段目シースのかぶり厚、版厚、及び版厚底部コーナーの路程長の入力を受け付ける入力受付工程と、
   計測対象シースの断面中心からコンクリート表面への垂線と前記コンクリート表面との交点をとおる前記計測対象シースの長手方向に沿った前記コンクリート表面の仮想線分上において、測点ｉ＝１～ｎｗを順に計測する多点計測の場合、測点ｉ＝１でのシースかぶり厚と測点ｉ＝ｎｗでのシースかぶり厚との平均値を、あるいは測点ｉ＝１となる単一点計測の場合、測点ｉ＝１でのシースかぶり厚を、レーダ計測かぶり厚ｄｓ｜_ＲＣとして取得して、下式のｄｓをレーダ計測かぶり厚ｄｓ｜_ＲＣに置き換えてシース反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ＝ｔ_ｐ｜_ＲＣを取得する第１の収録工程と、
   

   

   前記発信探触子から前記計測対象シースに向かって、所定時刻間隔で超音波を連続発信し、発信のたびに前記受信探触子で得た収録波を加算平均して測点ｉ毎の受信波Ｇ（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ}を取得し、該受信波Ｇ（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ}をＦＦＴ変換して対応する受信波スペクトルＦ（ｆ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ}を取得する第２の収録工程と、
   振動数０．０から（ｆ_ｓ－Δｆ_ｓ）の間が「０．０」、振動数（ｆ_ｓ－Δｆ_ｓ）からｆ_ｓの間が「０．０から１．０」となるｓｉｎ形状増加関数、振動数ｆ_ｓから（ｆ_ｓ＋Δｆ_ｓ）の間が「１．０から０．０」となるｓｉｎ形状減少関数、振動数（ｆ_ｓ＋Δｆ_ｓ）以上で「０．０」となる関数をＦ３フィルタ関数として、該Ｆ３（ｆ）フィルタ関数の中心振動数ｆ_ｓを低振動数または高振動数側へ徐々に移動させるオペレータの操作を受け付ける操作受付工程と、
   Δｔ_ｋをオペレータによって設定される値とし、時刻０．０から（ｔ_ｐ｜_ＲＣ－Δｔ_ｋ）の間が「０．０」、時刻（ｔ_ｐ｜_ＲＣ－Δｔ_ｋ）で「０．０」となり時刻ｔ_ｐ｜_ＲＣで「１．０」となるｓｉｎ形状増加関数、時刻ｔ_ｐ｜_ＲＣで「１．０」となり時刻（ｔ_ｐ｜_ＲＣ＋Δｔ_ｋ）で「０．０」となるｓｉｎ形状減少関数、時刻（ｔ_ｐ｜_ＲＣ＋Δｔ_ｋ）以降で「０．０」となる関数を時刻フィルタ関数ＴＧＣ４（ｔ）として、前記操作受付工程でオペレータの操作を受け付けるたびに、前記中心振動数ｆ_ｓとする前記Ｆ３（ｆ）フィルタ関数を前記受信波スペクトルＦ（ｆ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ}に乗じて得たスペクトルをＦＦＴ逆変換して得る時系列波に対して、該時系列波のいずれかの測点ｉの起生時刻を中心時刻とする前記時刻フィルタ関数ＴＧＣ４（ｔ）を乗じて、分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）｜_{ｉ＝１～ｎｗ}を取得するとともに、下式のｄｓを分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_ｉに、下式のｔ_ｐを前記分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）｜_ｉに置き換えて、分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_ｉを取得し、
   

   

   さらに、測点ｉ＝１～ｎｗの多点計測における前記分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_ｉが全ての測点ｉで同一、または測点ｉ＝ｎｗ＝１の単一点計測の場合、前記分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）｜_ｉ、及び前記分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_ｉをそれぞれｔ_ｐ（１）、及びｄｓ_（１）とするとともに、開始測点ｎＡをｉ＝１、終了測点ｎＢをｉ＝ｎｗとし、測点ｉ＝１～ｎｗの多点計測における前記分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_ｉが測点ｉごとに異なる場合、前記分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）｜_{ｉ＝１～ｎｗ}を２つに区分し、それぞれの平均値をｔ_ｐ（１）｜_大、及びｔ_ｐ（１）｜_小とし、前記分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）｜_大を上式に適用して得た分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）を分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_大とし、前記分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）｜_小を上式に適用して得た分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）を分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_小として、前記分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_大及びｄｓ_（１）｜_小ごとの開始測点ｎＡ、及び終了測点ｎＢを取得する第１の分析工程と、
   中心振動数ｆ_０を２０ｋＨｚ、振動数ｆ_ｗをオペレータによって設定される５０ｋＨｚ－Δｆ_ｗ＜ｆ_ｗ＜５０ｋＨｚ＋Δｆ_ｗ（ただし、Δｆ_ｗ＝５ｋＨｚ）の範囲のいずれかの値、振動数ｆ_２を８０ｋＨｚとして、振動数－１０ｋＨｚからｆ_０が「０．０から１．０」となるｓｉｎ形状増加関数、振動数ｆ_０からｆ_ｗが「１．０から０．０」となるｓｉｎ形状減少関数、振動数ｆ_ｗからｆ_２が「０．０から１．０」となるｓｉｎ形状増加関数、振動数ｆ_２から（ｆ_２＋３０ｋＨｚ）が「１．０から０．０」となるｓｉｎ形状減少関数、振動数（ｆ_２＋３０ｋＨｚ）以上で「０．０」となるＡ_Ｋ（ｆ）フィルタ関数を、ｉ＝１～ｎｗを受信波、ｉ＝ｎｗ＋１を加算平均波とする受信波スペクトルＦ（ｆ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}に乗じて分析用スペクトルＦＡ（ｆ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を取得し、該分析用スペクトルＦＡ（ｆ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}をＦＦＴ逆変換して対応する分析用時系列ＧＡ（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を取得する第２の分析工程と、
   ｉ＝１の単一点計測の場合、またはｉ＝１～ｎｗの多点計測における前記分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_ｉが同一の場合、前記分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）｜_ｉをｔ_ｐ（１）とし、前記分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_ｉをｄｓ_（１）として、第３の分析工程、第４の分析工程、第５の分析工程、第６の分析工程、第７の分析工程、及び第８の分析工程による分析によって、前記計測対象シースのグラウト充填状態を判定する第１の処理工程と、
   ｉ＝１～ｎｗの多点計測における前記分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_ｉが異なる場合、前記分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）をｔ_ｐ（１）｜_大に、前記分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）をｄｓ_（１）｜_大に置き換えた前記第３の分析工程、前記第４の分析工程、前記第５の分析工程、前記第６の分析工程、前記第７の分析工程、及び前記第８の分析工程による分析によって、前記分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_大における前記計測対象シースのグラウト充填状態を判定する第２の処理工程と、
   該第２の処理工程での判定に引き続いて、前記分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）をｔ_ｐ（１）｜_小に、前記分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）をｄｓ_（１）｜_小に置き換えた前記第３の分析工程、前記第４の分析工程、前記第５の分析工程、前記第６の分析工程、前記第７の分析工程、及び前記第８の分析工程による分析によって、前記分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）｜_小における前記計測対象シースのグラウト充填状態を判定する第３の処理工程とを備え、
   前記第３の分析工程は、
   時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_ｈ１を基準時刻とする時刻フィルタ関数ＴＧＣ１（ｔ）、及び時刻ｔ_ｐ（１）を基準時刻とする時刻フィルタ関数ＴＧＣ２（ｔ）を、前記分析用時系列ＧＡ（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}に乗じて分析用切り出し波ＧＢ_（１）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を取得し、該分析用切り出し波ＧＢ_（１）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}をＦＦＴ変換して対応するスペクトルＦＢ_（１）（ｆ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を取得する分析工程であり、
   前記時刻フィルタ関数ＴＧＣ１（ｔ）は、
   基準時刻ｔ_ｈ＝ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_ｈ１として、時刻ｔ＝０で「０．０」となり、基準時刻ｔ_ｈで「１．０」となるｓｉｎ形状増加線分、時刻ｔ＝基準時刻ｔ_ｈ以降が「１．０」となるＴＧＣＡ（ｔ）関数を用いて、（ＴＧＣＡ（ｔ））^ｎｅで算出される関数であり、
   前記時刻フィルタ関数ＴＧＣ２（ｔ）は、
   基準時刻ｔ_ｈ＝ｔ_ｐ（１）として、時刻ｔ＝０．０から時刻ｔ＝ｔ_ｈが「１．０」、時刻ｔ＝基準時刻ｔ_ｈで「１．０」となり、時刻ｔ＝４００μ秒で「０．０」となるｓｉｎ形状減少線分、時刻ｔ＝４００μ秒以降が「０．０」となるＴＧＣＢ（ｔ）関数を用いて、（ＴＧＣＢ（ｔ））^ｎｆで算出される関数であり、
   前記第４の分析工程は、
   前記スペクトルＦＢ_（１）（ｆ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}で、ｉごとに前記振動数ｆ_ｗよりも低振動数側の最大スペクトル値を基準値＝１．０としたのち、前記振動数ｆ_ｗよりも高振動数側の最大スペクトル値を閾値α_σとする閾値処理で、分析用１次スペクトルＦＣ_（１）（ｆ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を取得し、該分析用１次スペクトルＦＣ_（１）（ｆ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}に対応する分析用１次時系列ＧＣ_（１）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}をＦＦＴ逆変換で取得する分析工程であり、
   前記第５の分析工程は、
   台形窓関数Ａを時刻ｔ_始＝ｔ_ｐ（１）－Δｔ_ｐ１から時刻ｔ_終＝ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_ｐ２までΔｔ_ａ間隔で移動させるたびに、前記分析用１次時系列ＧＣ_（１）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}に台形窓関数Ａを乗じて切り出した時系列に対応するスペクトルを求め、前記振動数ｆ_ｗ以下での最大スペクトル値を１．０に基準化して得たスペクトルにおいて、前記振動数ｆ_ｗ以上での最大スペクトル値を時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_ｆ２として、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を作成するとともに、前記振動数ｆ_ｗ以上、及び前記振動数ｆ_ｗ以下での最大スペクトル値を時刻の推移毎に比較して大きい方の最大スペクトル値を１．０に基準化して得た時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（１）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を作成する分析工程であり、
   前記台形窓関数Ａは、
   基準時刻をｔ_始とし、前記分析用１次かぶり厚ｄｓ_（１）またはｄｓ_（１）｜_大あるいはｄｓ_（１）｜_小に応じて設定された時間幅を示す値をｔ_ａとして、時刻ｔ＝０．０からｔ_始－５の間が「０．０」、時刻ｔ＝ｔ_始－５からｔ_始が「０．０」から「１．０」となるｓｉｎ形状増加関数、時刻ｔ＝ｔ_始からｔ_始＋ｔ_ａが「１．０」、時刻ｔ＝ｔ_始＋ｔ_ａからｔ_始＋ｔ_ａ＋５が「１．０」から「０．０」となるｓｉｎ形状減少関数、時刻ｔ＝ｔ_始＋ｔ_ａ＋５以降が「０．０」となる関数であり、
   前記第６の分析工程は、
   計測対象シースの空隙部分とグラウト充填部分との境界測点をｎ１として、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎＡ～ｎＢ}のスペクトル値が、測点ｉ＝ｎＡ～ｎ１（ただし、境界測点ｎ１≦終了測点ｎＢ）において、時刻ｔ_ｐ（１）－Δｔ_Ｂ１から時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_Ｂ２の間で増加傾向にあり、時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_Ｂ２で閾値α_σを超えることを確認して前記境界測点ｎ１が特定される特性ＴＡ、または時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎＡ～ｎＢ}のスペクトル値が、測点ｉ＝ｎＡ～ｎ１（ただし、境界測点ｎ１≦終了測点ｎＢ）において、時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_Ｂ２で閾値α_σを下回ることを確認して前記境界測点ｎ１が特定される特性ＴＢのいずれであるかを特定する分析工程であり、
   前記第７の分析工程は、
   前記第６の分析工程において、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎＡ～ｎＢ}のスペクトル形状が特性ＴＡと特定された場合、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎＡ～ｎＢ}に基づいて、第１ＴＡ処理工程、及び第２ＴＡ処理工程による分析を行い、グラウト充填状態を判定する分析工程であり、
   前記第８の分析工程は、
   前記第６の分析工程において、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎＡ～ｎＢ}のスペクトル形状が特性ＴＢと特定された場合、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎＡ～ｎＢ}に基づいて、第１ＴＢ処理工程、及び第２ＴＢ処理工程による分析を行い、グラウト充填状態を判定する分析工程であり、
   前記第７の分析工程の前記第１ＴＡ処理工程は、
   時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_ｉが、測点ｉ＝ｎＡ～ｎ１（ただし、ｎ１≦ｎＢ）ごとに時刻ｔ_ｐ（１）－Δｔ_Ｂ１と時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_Ｂ２の間で増加傾向にあり、時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_Ｂ２で閾値α_σを超えている時、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎＡ～ｎ１}（ただし、ｎ１≦ｎＢ）ごとに、時刻ｔ_ｐ（１）－Δｔ_Ｂ１と時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_Ｂ２との間で、閾値α_σを超える時刻をｔ_ｉとし、この平均値をｔ_Ａとし、または単一点計測の場合、ｔ_Ａ＝ｔ_１として、下式に基づいてΔｔ_Ａを取得するとともに、
   

   

   下式に基づいて分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）を取得し、
   

   

   下式のｄｓを分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）に、下式のｔ_ｐを前記分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）に置き換えて分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）を取得し、
   

   

   前記第３の分析工程、及び前記第４の分析工程における前記分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）を分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）に置き換えて、前記第３の分析工程、及び前記第４の分析工程による再度の分析によって、分析用１次時系列ＧＣ_（１）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}の代わりに分析用２次時系列ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を作成し、さらに、前記第５の分析工程による再度の分析で前記分析用２次時系列ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}に分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）を用いた前記台形窓関数Ａのｔ_ｐ（２）－Δｔ_ｐ１を始点時刻ｔ_始とし、ｔ_ｐ（２）＋Δｔ_ｐ２を終点時刻ｔ_終とする掃引処理を適用し、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及び時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を作成し、次に、ＷＡＶＥ加算平均波ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を下式で作成し直すとともに、
   

   

   前記ＷＡＶＥ加算平均波ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}のＦＦＴ変換でスペクトルＦＣ_（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を求め、さらに下式に基づいてスペクトルＦＣ^～ _（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を作成し、
   

   

   前記スペクトルＦＣ^～ _（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}の位相情報を、前記スペクトルＦＣ_（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}の位相情報に変更したのち、前記スペクトルＦＣ^～ _（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}のＦＦＴ逆変換でＳＰ加算平均波ＧＣ^～ _（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を作成し、再々度の前記第５の分析工程による前記台形窓関数Ａのｔ_ｐ（２）－Δｔ_ｐ１を始点時刻ｔ_始とし、ｔ_ｐ（２）＋Δｔ_ｐ２を終点時刻ｔ_終とする掃引処理を前記ＳＰ加算平均波ＧＣ^～ _（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}に適用し、前記分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）とするＳＰ加算の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及び時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を作成し直したのち、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎＡ～ｎ１}とＳＰ加算の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}とを用いて測点ｉ＝ｎＡ～ｎ１各々での、及びＳＰ加算ｉ＝ｎｗ＋１でのグラウト充填状態を、空充判定線分α^～ _σ（＝α_σ＋０．０６）値、及び前記分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）に応じて設定された時刻を＊値とする空充判定カーソルｔ_＊＝ｔ_ｐ（２）＋＊を用いて取得した時刻ｔ_＊での時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ_＊）｜_ｉが、α^～ _σ＋０．１８＜ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ_＊）｜_ｉの場合に「未充填」と自動判定し、α^～ _σ＜ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ_＊）｜_ｉ≦α^～ _σ＋０．１８の場合に「充填不足」と自動判定し、該判定結果及び時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を表示部に表示する処理工程であり、
   前記第７の分析工程の前記第２ＴＡ処理工程は、
   ｎ１＜ｎＢの場合において、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_ｉが測点ｉ＝ｎ１＋１～ｎＢごとに、時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_Ｂ２で閾値α_σを下回る時、時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_Ｂ２のさらなる時刻後方で、測点ｉ＝ｎ１＋１～ｎＢの時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_ｉが閾値α_σを超える時刻をｔ_ｉとして、下式を満足させる測点ｉの時刻ｔ_ｉを選定し、該時刻ｔ_ｉの平均値を時刻平均値ｔ_Ａとし、
   

   

   

   上式を満足させる時刻ｔ_ｉがない場合、時刻平均値ｔ_Ａ＝ｔ_{Ｍ１（１）}として、下式でΔｔ_Ａを求め、
   

   

   分析用２次シース反射Ｍ_１波起生時刻ｔ_{Ｍ１（２）}及び分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）を下式群に基づいて取得するとともに、
   

   

   

   

   下式のｄｓを分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）に、下式のｔ_ｐを前記分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）に置き換えて、分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）を取得し、
   

   

   前記第３の分析工程、及び前記第４の分析工程における前記分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）を分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）に置き換えて、前記第３の分析工程、及び前記第４の分析工程による再度の分析によって、分析用１次時系列ＧＣ_（１）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}の代わりに分析用２次時系列ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を作成し、さらに、前記第５の分析工程による再度の分析で前記分析用２次時系列ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}に分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）を用いた前記台形窓関数Ａのｔ_ｐ（２）－Δｔ_ｐ１を始点時刻ｔ_始とし、ｔ_ｐ（２）＋Δｔ_ｐ２を終点時刻ｔ_終とする掃引処理を適用し、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及び時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を作成し、次に、ＷＡＶＥ加算平均波ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を下式で作成し直すとともに、
   

   

   前記ＷＡＶＥ加算平均波ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}のＦＦＴ変換でスペクトルＦＣ_（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を求め、さらに下式に基づいてスペクトルＦＣ^～ _（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を作成し、
   

   

   前記スペクトルＦＣ^～ _（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}の位相情報を、前記スペクトルＦＣ_（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}の位相情報に変更したのち、前記スペクトルＦＣ^～ _（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}のＦＦＴ逆変換でＳＰ加算平均波ＧＣ^～ _（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を作成し、再々度の前記第５の分析工程による前記台形窓関数Ａのｔ_ｐ（２）－Δｔ_ｐ１を始点時刻ｔ_始とし、ｔ_ｐ（２）＋Δｔ_ｐ２を終点時刻ｔ_終とする掃引処理を前記ＳＰ加算平均波ＧＣ^～ _（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}に適用し、前記分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）を用いたＳＰ加算の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及び時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を作成し直したのち、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎ１＋１～ｎＢ}とＳＰ加算の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}とを用いて測点ｉ＝ｎ１＋１～ｎＢ各々での、及びＳＰ加算ｉ＝ｎｗ＋１でのグラウト充填状態を、空充判定線分α^～ _σ（＝α_σ＋０．０６）値、及び前記分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）に応じて設定された時刻を＊値とする空充判定カーソルｔ_＊＝ｔ_ｐ（２）＋＊を用いて取得した時刻ｔ_＊での時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ_＊）｜_ｉが、ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ_＊）｜_ｉ≦α^～ _σの場合に「完全充填」と自動判定し、該判定結果及び時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を表示部に表示する処理工程であり、
   前記第８の分析工程の前記第１ＴＢ処理工程は、
   時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_ｉが測点ｉ＝ｎＡ～ｎ１（ただし、ｎ１≦ｎＢ）ごとに、時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_Ｂ２で閾値α_σを下回る場合、時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_Ｂ２のさらなる時刻後方で、測点ｉ＝ｎＡ～ｎ１（ただし、ｎ１≦ｎＢ）ごとの時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_ｉが閾値α_σを超える時刻をｔ_ｉ（単一点計測の場合、時刻ｔ_ｉ＝ｔ_１）として、下式を満足させる測点ｉの時刻ｔ_ｉを選定し、該時刻ｔ_ｉの平均値を時刻平均値ｔ_Ａとし、
   

   

   

   上式を満足させる時刻ｔ_ｉがない場合、時刻平均値ｔ_Ａ＝ｔ_{Ｍ１（１）}として、下式でΔｔ_Ａを求め、
   

   

   分析用２次シース反射Ｍ_１波起生時刻ｔ_{Ｍ１（２）}及び分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）を下式群に基づいて取得するとともに、
   

   

   

   

   下式のｄｓを分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）に、下式のｔ_ｐを前記分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）に置き換えて、分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）を取得し、
   

   

   前記第３の分析工程、及び前記第４の分析工程における前記分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）を分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）に置き換えて、前記第３の分析工程、及び前記第４の分析工程による再度の分析によって、分析用１次時系列ＧＣ_（１）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}の代わりに分析用２次時系列ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を作成し、さらに、前記第５の分析工程による再度の分析で前記分析用２次時系列ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}に分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）を用いた前記台形窓関数Ａのｔ_ｐ（２）－Δｔ_ｐ１を始点時刻ｔ_始とし、ｔ_ｐ（２）＋Δｔ_ｐ２を終点時刻ｔ_終とする掃引処理を適用し、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及び時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を作成し、次に、ＷＡＶＥ加算平均波ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を下式で作成し直すともに、
   

   

   前記ＷＡＶＥ加算平均波ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}のＦＦＴ変換でスペクトルＦＣ_（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を求め、さらに下式に基づいてスペクトルＦＣ^～ _（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を作成し、
   

   

   前記スペクトルＦＣ^～ _（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}の位相情報を、前記スペクトルＦＣ_（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}の位相情報に変更したのち、前記スペクトルＦＣ^～ _（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}のＦＦＴ逆変換でＳＰ加算平均波ＧＣ^～ _（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を作成し、再々度の前記第５の分析工程による前記台形窓関数Ａのｔ_ｐ（２）－Δｔ_ｐ１を始点時刻ｔ_始とし、ｔ_ｐ（２）＋Δｔ_ｐ２を終点時刻ｔ_終とする掃引処理を前記ＳＰ加算平均波ＧＣ^～ _（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}に適用し、前記分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）とするＳＰ加算の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及び時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を作成し直したのち、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎＡ～ｎ１}とＳＰ加算の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}とを用いて測点ｉ＝ｎＡ～ｎ１各々での、及びＳＰ加算ｉ＝ｎｗ＋１でのグラウト充填状態を、空充判定線分α^～ _σ（＝α_σ＋０．０６）値、及び前記分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）に応じて設定された時刻を＊値とする空充判定カーソルｔ_＊＝ｔ_ｐ（２）＋＊を用いて取得した時刻ｔ_＊での時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ_＊）｜_ｉが、ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ_＊）｜_ｉ≦α^～ _σの場合に「完全充填」と自動判定し、該判定結果及び時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を表示部に表示する処理工程であり、
   前記第８の分析工程の前記第２ＴＢ処理工程は、
   ｎ１＜ｎＢの場合において、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎ１＋１～ｎＢ}ごとに時刻ｔ_ｐ（１）－Δｔ_Ｂ１と時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_Ｂ２の間で増加傾向にあり、時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_Ｂ２で閾値α_σを超える時、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎ１＋１～ｎＢ}ごとに時刻ｔ_ｐ（１）－Δｔ_Ｂ１と時刻ｔ_ｐ（１）＋Δｔ_Ｂ２との間で閾値α_σを超える時刻をｔ_ｉとし、測点ｉごとの時刻ｔ_ｉの平均値である時刻平均値ｔ_Ａを求め、下式に基づいてΔｔ_Ａを取得するとともに、
   

   

   下式に基づいて分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）を取得し、
   

   

   下式のｄｓを分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）に、下式のｔ_ｐを前記分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）に置き換えて、分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）を取得し、
   

   

   前記第３の分析工程、及び前記第４の分析工程における前記分析用１次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（１）を分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）に置き換えて、前記第３の分析工程、及び前記第４の分析工程による再度の分析によって、分析用１次時系列ＧＣ_（１）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}の代わりに分析用２次時系列ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を作成し、さらに、前記第５の分析工程による再度の分析で前記分析用２次時系列ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}に分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）を用いた前記台形窓関数Ａのｔ_ｐ（２）－Δｔ_ｐ１を始点時刻ｔ_始とし、ｔ_ｐ（２）＋Δｔ_ｐ２を終点時刻ｔ_終とする掃引処理を適用し、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及び時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を作成し、次に、ＷＡＶＥ加算平均波ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を下式で作成し直すとともに、
   

   

   前記ＷＡＶＥ加算平均波ＧＣ_（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}のＦＦＴ変換でスペクトルＦＣ_（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を求め、さらに下式に基づいてスペクトルＦＣ^～ _（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を作成し、
   

   

   前記スペクトルＦＣ^～ _（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}の位相情報を、スペクトルＦＣ_（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}の位相情報に変更したのち、前記スペクトルＦＣ^～ _（２）（ｆ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}のＦＦＴ逆変換でＳＰ加算平均波ＧＣ^～ _（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を作成し、再々度の前記第５の分析工程による前記台形窓関数Ａのｔ_ｐ（２）－Δｔ_ｐ１を始点時刻ｔ_始とし、ｔ_ｐ（２）＋Δｔ_ｐ２を終点時刻ｔ_終とする掃引処理を前記ＳＰ加算平均波ＧＣ^～ _（２）（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}に適用し、前記分析用２次反射Ｐ波起生時刻ｔ_ｐ（２）とするＳＰ加算の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及び時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}を作成し直したのち、時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎ１＋１～ｎＢ}とＳＰ加算の時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎｗ＋１}とを用いて測点ｉ＝ｎ１＋１～ｎＢ各々での、及びＳＰ加算ｉ＝ｎｗ＋１でのグラウト充填状態を、空充判定線分α^～ _σ（＝α_σ＋０．０６）値、及び前記分析用２次かぶり厚ｄｓ_（２）に応じて設定された時刻を＊値とする空充判定カーソルｔ_＊＝ｔ_ｐ（２）＋＊を用いて得る時刻ｔ_＊での時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ_＊）｜_ｉが、α^～ _σ＋０．１８＜ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ_＊）｜_ｉの場合に「未充填」と自動判定し、α^～ _σ＜ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ_＊）｜_ｉ≦α^～ _σ＋０．１８の場合に「充填不足」と自動判定し、該判定結果及び時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を表示部に表示する処理工程である
   非破壊検査方法。
4. 前記第２の分析工程は、
   前記Ａ_Ｋ（ｆ）フィルタ関数をＡ_Ｇ（ｆ）^ｎＧフィルタ関数に置き換えて、測点ｉ＝１～ｎｗ＋１での前記分析用スペクトルＦＡ（ｆ）｜_ｉ、及び前記分析用時系列ＧＡ（ｔ）｜_ｉを取得する工程であり、
   前記Ａ_Ｇ（ｆ）^ｎＧフィルタ関数は、
   （ｆ_ｗ＋ｆ_２ ^～）／２（ただし、ｆ_２ ^～＝８０ｋＨｚ）を振動数ｆ_ｋとして、振動数ｆ＝０．０で「０．０」となり、振動数ｆ_ｋで「１．０」となるｓｉｎ形状増加関数、前記振動数ｆ_ｋで「１．０」となり、前記振動数ｆ_ｋ×２で「０．０」となるｓｉｎ形状減少関数、そして前記振動数ｆ_ｋ×２以上で「０．０」となる関数であり、
   前記Ａ_Ｇ（ｆ）^ｎＧフィルタ関数のｎＧ値は、
   前記振動数ｆ_ｗをオペレータの操作によって設定された４０ｋＨｚ－Δｆ_ｗ＜ｆ_ｗ＜４０ｋＨｚ＋Δｆ_ｗ（ただし、Δｆ_ｗ＝５ｋＨｚ）の範囲のいずれかの値として、前記分析用スペクトルＦＡ（ｆ）｜_ｉが、測点ｉのいずれかで振動数ｆ_ｗ～振動数ｆ_２ ^～＝８０ｋＨｚの間で最大スペクトル値となるときの値であり、
   前記第４の分析工程は、
   前記第３の分析工程で取得したスペクトルＦＢ（ｆ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}ごとに前記振動数ｆ_ｗ以下での最大スペクトル値を１．０に基準化し、前記振動数ｆ_ｗ以上での最大スペクトル値を前記閾値α_σとする工程であり、
   前記第５の分析工程は、
   前記時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及び前記時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（１）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}の代わりに、それぞれ時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ１，２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}、及び時刻掃引ｆ_０，（ｆ_１～ｆ_２）スペクトルＳＰ_{ｆ１，２（１）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_{ｉ＝１～ｎｗ＋１}を作成する工程であり、
   前記第６の分析工程は、
   前記時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ１，２（１）}（ｔ）｜_{ｉ＝ｎＡ～ｎＢ}のスペクトル値が、前記特性ＴＡまたは前記特性ＴＢのいずれであるかを特定し、かつ前記境界測点ｎ１を特定する工程であり、
   前記第７の分析工程、及び前記第８の分析工程は、
   前記時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ）｜_ｉ、及び前記時刻掃引ｆ_０，ｆ_２スペクトルＳＰ_{ｆ２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_ｉの代わりに、それぞれ時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｔ）｜_ｉ、及び時刻掃引ｆ_０，（ｆ_１～ｆ_２）スペクトルＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｆ，ｔ）^ｎｃ｜_ｉを作成し、前記時刻ｔ_＊での前記時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ２（２）}（ｔ_＊）｜_ｉに代えて、前記時刻ｔ_＊での時刻掃引基準化スペクトル値ＳＰ_{ｆ１，２（２）}（ｔ_＊）｜_ｉを求めて、グラウト充填状態を判定する工程である
   請求項３に記載の非破壊検査方法。

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