JP2022052174A - Substrate processing apparatus and substrate processing method - Google Patents

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Abstract

To manage substrate transfer and processing for each group.SOLUTION: A sequential processing unit performs processing on a substrate while sequentially transporting the substrate on the basis of sequential processing substrate data set for each substrate divided into a plurality of groups. A simultaneous processing unit simultaneously processes the substrate for each group on the basis of the simultaneous processing substrate data set for each group. The simultaneous processing substrate data includes group identification information for identifying the group, a substrate number for distinguishing the substrates belonging to the group from each other, position information indicating a position of the substrate in the group in a transport direction, and recipe information for defining the processing contents commonly performed on the substrate belonging to the group. The sequential processing substrate data includes the position information about the substrate corresponding to the sequential processing substrate data, the group identification information, and the recipe information.SELECTED DRAWING: Figure 5

Description

本願は、基板処理装置および基板処理方法に関する。 The present application relates to a substrate processing apparatus and a substrate processing method.

基板処理のスループットを向上するために、複数の基板を一纏まりとして装置間を搬送させる技術が提案されている。例えば順次処理装置(これは後に詳述される)へと複数の基板が一括して搬送される。基板は順次処理装置において1枚ずつ順次に搬送されつつ処理が行われる。処理された複数の基板は同時処理装置(これは後に詳述される)へ一括して搬送される。 In order to improve the substrate processing throughput, a technique for transporting a plurality of substrates as a group between devices has been proposed. For example, a plurality of substrates are collectively transported to a sequential processing device (which will be described in detail later). The substrates are sequentially conveyed and processed one by one in the sequential processing apparatus. A plurality of processed substrates are collectively transported to a simultaneous processing apparatus (which will be described in detail later).

例えば下記の特許文献1では、個別基板データに基づいて順次処理装置における複数の基板の各々に対する搬送および処理が制御され、全体基板データに基づいて同時処理装置における複数の基板の搬送および処理が制御される技術が開示される。個別基板データおよび全体基板データのいずれにもレシピ情報が含まれる。レシピ情報によって基板への処理内容が規定される。一纏まりとなった複数の基板のレシピ情報は共通する。 For example, in Patent Document 1 below, transfer and processing of a plurality of boards in a sequential processing device are controlled based on individual board data, and transfer and processing of a plurality of boards in a simultaneous processing device are controlled based on the entire board data. The technology to be used is disclosed. Recipe information is included in both the individual board data and the whole board data. The recipe information defines the processing content for the board. The recipe information of multiple boards that are grouped together is common.

特開2020-17604号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2020-17604

複数の基板の纏まり(以下「グループ」とも称す)ごとにレシピ情報が共通するとき、グループごとに基板の搬送および処理が管理されることが望まれる。例えば順次処理装置から同時処理装置へと搬送される基板が、どのグループに属しているのかが管理されることが望ましい。例えばあるグループに属する基板のいずれかが順次処理装置において除去されても、かかる管理が望ましい。 When the recipe information is common to each group of a plurality of boards (hereinafter, also referred to as "group"), it is desired that the transfer and processing of the boards are managed for each group. For example, it is desirable to manage which group the substrate transported from the sequential processing device to the simultaneous processing device belongs to. For example, even if any of the substrates belonging to a certain group is sequentially removed in the processing apparatus, such control is desirable.

本願に開示される基板処理装置および基板処理方法は、グループごとに基板の搬送および処理を管理することを目的とする。 The substrate processing apparatus and the substrate processing method disclosed in the present application are intended to control the transfer and processing of the substrate for each group.

本願に開示される基板処理装置は、順次処理部と、同時処理部と、制御部とを備える。前記順次処理部は、複数のグループに分けられた基板ごとに設定される順次処理基板データに基づいて、前記基板を順次に搬送しつつ、前記基板に対して処理を行う。前記同時処理部は、前記グループごとに設定される同時処理基板データに基づいて、前記グループごとに前記基板を同時に処理する。前記制御部は、前記順次処理基板データに基づいて前記順次処理部における前記基板に対する搬送および前記処理を制御し、前記同時処理基板データに基づいて前記同時処理部における前記基板への処理を制御する。 The substrate processing apparatus disclosed in the present application includes a sequential processing unit, a simultaneous processing unit, and a control unit. The sequential processing unit performs processing on the substrate while sequentially transporting the substrate based on the sequential processing substrate data set for each substrate divided into a plurality of groups. The simultaneous processing unit simultaneously processes the substrate for each group based on the simultaneous processing board data set for each group. The control unit controls the transfer to the substrate and the processing in the sequential processing unit based on the sequential processing board data, and controls the processing to the substrate in the simultaneous processing unit based on the simultaneous processing board data. ..

前記同時処理基板データは、前記グループを識別するグループ識別情報と、前記グループに属する前記基板を互いに区別する基板番号と、前記グループにおける前記基板の搬送方向についての位置たる搬送位置を示す位置情報と、前記グループに属する前記基板に共通してなされる処理内容を規定するためのレシピ情報とを含む。 The simultaneous processing board data includes group identification information for identifying the group, a board number for distinguishing the boards belonging to the group from each other, and position information indicating a position of the board in the group in a transport direction. , The recipe information for defining the processing contents commonly performed on the substrate belonging to the group.

前記順次処理基板データは、前記順次処理基板データに対応する前記基板についての前記位置情報と、前記グループ識別情報と、前記レシピ情報とを含む。 The sequential processing board data includes the position information about the substrate corresponding to the sequential processing board data, the group identification information, and the recipe information.

前記制御部は、前記同時処理基板データから前記順次処理基板データを生成し、前記順次処理基板データから前記同時処理基板データを生成する。 The control unit generates the sequential processing board data from the simultaneous processing board data, and generates the simultaneous processing board data from the sequential processing board data.

本願に開示される基板処理方法は、順次処理と同時処理とを備える。前記順次処理は、複数のグループに分けられた基板ごとに設定される順次処理基板データに基づいて、前記基板を順次に搬送しつつ、前記基板に対して処理を行う。前記同時処理は、前記グループごとに設定される同時処理基板データに基づいて、前記グループごとに前記基板を同時に処理する。 The substrate processing method disclosed in the present application includes sequential processing and simultaneous processing. In the sequential processing, processing is performed on the substrate while sequentially transporting the substrate based on the sequential processing substrate data set for each substrate divided into a plurality of groups. In the simultaneous processing, the substrate is simultaneously processed for each group based on the simultaneous processing board data set for each group.

前記同時処理基板データは、前記グループを識別するグループ識別情報と、前記グループに属する前記基板を互いに区別する基板番号と、前記グループにおける前記基板の搬送方向についての位置たる搬送位置を示す位置情報と、前記グループに属する前記基板に共通してなされる処理内容を規定するためのレシピ情報とを含む。 The simultaneous processing board data includes group identification information for identifying the group, a board number for distinguishing the boards belonging to the group from each other, and position information indicating a position of the board in the group in a transport direction. , The recipe information for defining the processing contents commonly performed on the substrate belonging to the group.

前記順次処理基板データは、前記順次処理基板データに対応する前記基板についての前記位置情報と、前記グループ識別情報と、前記レシピ情報とを含む。 The sequential processing board data includes the position information about the substrate corresponding to the sequential processing board data, the group identification information, and the recipe information.

前記同時処理基板データから前記順次処理基板データが生成され、前記順次処理基板データから前記同時処理基板データが生成される。 The sequential processing board data is generated from the simultaneous processing board data, and the simultaneous processing board data is generated from the sequential processing board data.

本願に開示される基板処理装置および基板処理方法は、グループごとに基板の搬送および処理を管理する。 The substrate processing apparatus and the substrate processing method disclosed in the present application control the transfer and processing of the substrate for each group.

本願明細書に開示される技術に関する目的と、特徴と、局面と、利点とは、以下に示される詳細な説明と添付図面とによって、さらに明白となる。 The objectives, features, aspects and advantages of the technology disclosed herein will be further clarified by the detailed description and accompanying drawings set forth below.

基板処理装置の構成の一例を概略的に示す平面図である。It is a top view which shows an example of the structure of the substrate processing apparatus schematically. 順次処理装置の構成の一例を概略的に示す側面図である。It is a side view which shows the example of the structure of the sequential processing apparatus schematically. 同時処理装置の構成の一例を概略的に示す平面図である。It is a top view which shows the example of the structure of the simultaneous processing apparatus schematically. 制御部の構成の一例を概略的に示す機能ブロック図である。It is a functional block diagram which shows an example of the structure of a control part schematicly. 同時処理基板データの一例を概略的に示す図である。It is a figure which shows the example of the simultaneous processing board data schematically. カセットにおいて複数の基板が収容される態様を模式的に示す図である。It is a figure which shows typically the mode in which a plurality of substrates are accommodated in a cassette. カセットにおいて複数の基板が収容される態様を模式的に示す図である。It is a figure which shows typically the mode in which a plurality of substrates are accommodated in a cassette. 同時処理基板データの一例を概略的に示す図である。It is a figure which shows the example of the simultaneous processing board data schematically. 同時処理基板データの一例を概略的に示す図である。It is a figure which shows the example of the simultaneous processing board data schematically. 同時処理装置の基板搬送の事例を概略的に示す平面図である。It is a top view which shows the example of the substrate transfer of the simultaneous processing apparatus schematically. 順次処理基板データの一例を概略的に示す図である。It is a figure which shows the example of the sequential processing board data schematically. 順次処理基板データの一例を概略的に示す図である。It is a figure which shows the example of the sequential processing board data schematically. 順次処理装置の基板搬送の事例を概略的に示す側面図である。It is a side view which shows the example of substrate transfer of a sequential processing apparatus schematicly. 順次処理装置の基板搬送の事例を概略的に示す側面図である。It is a side view which shows the example of substrate transfer of a sequential processing apparatus schematicly. 順次処理基板データの一例を概略的に示す図である。It is a figure which shows the example of the sequential processing board data schematically. 順次処理装置の基板搬送の事例を概略的に示す側面図である。It is a side view which shows the example of substrate transfer of a sequential processing apparatus schematicly. 順次処理装置の基板搬送の事例を概略的に示す側面図である。It is a side view which shows the example of substrate transfer of a sequential processing apparatus schematicly. 順次処理装置の基板搬送の事例を概略的に示す側面図である。It is a side view which shows the example of substrate transfer of a sequential processing apparatus schematicly. 順次処理装置の基板搬送の事例を概略的に示す側面図である。It is a side view which shows the example of substrate transfer of a sequential processing apparatus schematicly. 同時処理装置および順次処理装置における動作の流れを例示するフローチャートである。It is a flowchart which illustrates the flow of operation in a simultaneous processing apparatus and a sequential processing apparatus. ステップS3の詳細を例示するフローチャートである。It is a flowchart illustrating the details of step S3. ステップS5の詳細を例示するフローチャートである。It is a flowchart illustrating the details of step S5. ステップS509の詳細を例示するフローチャートである。It is a flowchart illustrating the details of step S509.

以下、添付される図面を参照しながら実施の形態について説明する。なお、図面は概略的に示されるものであり、説明の便宜のため、適宜、構成の省略および構成の簡略化がなされるものである。また、図面に示される構成の大きさおよび位置の相互関係は、必ずしも正確に記載されるものではなく、適宜変更され得るものである。 Hereinafter, embodiments will be described with reference to the attached drawings. It should be noted that the drawings are shown schematically, and for convenience of explanation, the configuration is omitted and the configuration is simplified as appropriate. Further, the interrelationship between the sizes and positions of the configurations shown in the drawings is not always accurately described and can be changed as appropriate.

また、以下に示される説明では、同様の構成要素には同じ符号を付して図示し、それらの名称と機能とについても同様のものとする。したがって、それらについての詳細な説明を、重複を避けるために省略する場合がある。 Further, in the description shown below, similar components are illustrated with the same reference numerals, and their names and functions are the same. Therefore, detailed description of them may be omitted to avoid duplication.

また、以下に記載される説明において、「第1」または「第2」などの序数が用いられる場合があっても、これらの用語は、実施の形態の内容を理解することを容易にするために便宜上用いられるものであり、これらの序数によって生じ得る順序などに限定されるものではない。 Further, even if ordinal numbers such as "first" or "second" may be used in the description described below, these terms are used to facilitate understanding of the contents of the embodiments. It is used for convenience, and is not limited to the order that can occur due to these ordinal numbers.

相対的または絶対的な位置関係を示す表現(例えば「一方向に」「一方向に沿って」「平行」「直交」「中心」「同心」「同軸」など)は、特に断らない限り、その位置関係を厳密に表すのみならず、公差もしくは同程度の機能が得られる範囲で相対的に角度または距離に関して変位された状態も表すものとする。等しい状態であることを示す表現(例えば「同一」「等しい」「均質」など)は、特に断らない限り、定量的に厳密に等しい状態を表すのみならず、公差もしくは同程度の機能が得られる差が存在する状態も表すものとする。形状を示す表現(例えば、「四角形状」または「円筒形状」など)は、特に断らない限り、幾何学的に厳密にその形状を表すのみならず、同程度の効果が得られる範囲で、例えば凹凸や面取りなどを有する形状も表すものとする。一の構成要素を「備える」「具える」「具備する」「含む」または「有する」という表現は、他の構成要素の存在を除外する排他的表現ではない。「A,BおよびCの少なくともいずれか一つ」という表現は、Aのみ、Bのみ、Cのみ、A,BおよびCのうち任意の2つ、ならびに、A,BおよびCの全てを含む。 Expressions that indicate relative or absolute positional relationships (for example, "in one direction", "along one direction", "parallel", "orthogonal", "center", "concentric", "coaxial", etc.) are not specified. Not only does it represent the positional relationship exactly, but it also represents the state of being displaced relative to the angle or distance within the range where tolerances or similar functions can be obtained. Expressions indicating equality (eg, "same", "equal", "homogeneous", etc.) not only represent quantitatively exactly equal states, but also provide tolerance or similar functionality, unless otherwise noted. It shall also represent the state in which there is a difference. Unless otherwise specified, the expression indicating the shape (for example, "square shape" or "cylindrical shape") not only expresses the shape strictly geometrically, but also, for example, to the extent that the same effect can be obtained. It shall also represent a shape having irregularities and chamfers. The expressions "equipped", "equipped", "equipped", "included", or "have" one component are not exclusive expressions that exclude the existence of other components. The expression "at least one of A, B and C" includes A only, B only, C only, any two of A, B and C, and all of A, B and C.

<1.基板処理装置の全体構成・全体動作>
図1は、基板処理装置1の構成の一例を概略的に示す図である。図1の例では、基板処理装置1はコータ/デベロッパ装置であり、主として、洗浄装置12、脱水ベーク装置13、塗布関連装置14、プリベーク装置15、現像装置17およびポストベーク装置18の各処理装置を備える。また、基板処理装置1の一方側には、基板処理装置1に対して基板を搬入、搬出するインデクサ部11が配置される。さらに基板処理装置1の他方側に図示しないインターフェイス部を介して露光装置16が配置される。
<1. Overall configuration / operation of board processing equipment>
FIG. 1 is a diagram schematically showing an example of the configuration of the substrate processing device 1. In the example of FIG. 1, the substrate processing device 1 is a coater / developer device, and is mainly a cleaning device 12, a dehydration baking device 13, a coating-related device 14, a prebaking device 15, a developing device 17, and a post-baking device 18. To prepare for. Further, on one side of the substrate processing apparatus 1, an indexer unit 11 for carrying in and out the substrate to the substrate processing apparatus 1 is arranged. Further, the exposure apparatus 16 is arranged on the other side of the substrate processing apparatus 1 via an interface portion (not shown).

インデクサ部11から露光装置16までの行きラインには、洗浄装置12、脱水ベーク装置13、塗布関連装置14およびプリベーク装置15がこの順で配置される。露光装置16からインデクサ部11までの帰りラインには、現像装置17およびポストベーク装置18がこの順で配置される。 A cleaning device 12, a dehydration baking device 13, a coating-related device 14, and a pre-baking device 15 are arranged in this order on the going line from the indexer section 11 to the exposure device 16. The developing device 17 and the post-baking device 18 are arranged in this order on the return line from the exposure device 16 to the indexer section 11.

インデクサ部11には複数の基板を収納する複数のカセット(図示省略)が載置される。基板は、例えば液晶表示装置に用いられる矩形状のガラス基板である。インデクサ部11には、搬送部としてのインデクサロボット(図示省略)が配置されている。インデクサロボットはカセットから基板を取り出し、この基板を洗浄装置12へと搬送する。洗浄装置12においては、基板に洗浄処理が行われる。洗浄処理が行われた基板は、脱水ベーク装置13に搬送される。脱水ベーク装置13においては、加熱により脱水処理(脱水ベーク処理)が行われる。脱水ベーク処理が行われた基板は、塗布関連装置14に搬送され、レジストの塗布処理を含む各種の処理が行われる。この処理が行われた基板は、プリベーク装置15に搬送され、加熱処理が行われる。加熱処理が行われた基板は、露光装置16に搬送され、露光処理が行われる。 A plurality of cassettes (not shown) for accommodating a plurality of substrates are placed on the indexer unit 11. The substrate is, for example, a rectangular glass substrate used in a liquid crystal display device. An indexer robot (not shown) as a transport unit is arranged in the indexer unit 11. The indexer robot takes out the substrate from the cassette and conveys the substrate to the cleaning device 12. In the cleaning device 12, the substrate is cleaned. The washed substrate is conveyed to the dehydration baking device 13. In the dehydration bake device 13, a dehydration treatment (dehydration bake treatment) is performed by heating. The substrate that has been dehydrated and baked is conveyed to the coating-related device 14, and various treatments including the resist coating treatment are performed. The substrate on which this treatment has been performed is conveyed to the prebaking device 15 and heat-treated. The heat-treated substrate is conveyed to the exposure apparatus 16 and exposed.

これらの処理が行われた基板は、現像装置17に搬送され、現像処理が行われる。現像処理が行われた基板は、ポストベーク装置18に搬送され、加熱処理が行われる。その後、該基板は、インデクサロボットによってインデクサ部11に載置されるカセットに収容される。これらの一連の処理により、基板の表面にはレジストのパターンが形成される。 The substrate on which these treatments have been performed is conveyed to the developing apparatus 17, and the developing treatment is performed. The developed substrate is transferred to the post-baking device 18 and heat-treated. After that, the substrate is housed in a cassette placed on the indexer unit 11 by the indexer robot. By a series of these processes, a resist pattern is formed on the surface of the substrate.

以下では第1の処理が第2の処理に先だって行われるとき、第1の処理を行う装置は第2の処理を行う装置の「上流」にあると説明され、第2の処理を行う装置は第1の処理を行う装置の「下流」にあると説明される。インデクサ部11は洗浄装置12に対して上流にあり、かつポストベーク装置18に対して下流にある。「上流」「下流」という用語は装置や当該装置を構成する諸要素に対してのみならず、搬送される基板の位置関係を説明する場合にも採用される。 In the following, when the first process is performed prior to the second process, the device performing the first process is described as being "upstream" of the device performing the second process, and the device performing the second process is described as being "upstream". It is described as being "downstream" of the device performing the first process. The indexer portion 11 is upstream of the cleaning device 12 and downstream of the post-baking device 18. The terms "upstream" and "downstream" are used not only for the device and the elements that make up the device, but also for explaining the positional relationship of the substrates to be transported.

<2.処理装置のタイプ>
この基板処理装置1では、処理装置のタイプとして次の2つのタイプの処理装置が混在している。すなわち、基板を順次に一方向に搬送しつつ当該基板に対して1枚ずつ処理を行う順次処理装置(平流し処理装置)と、N(2以上の整数)枚の基板に対して一括して同時に処理可能な同時処理装置とが混在する。なお同時処理装置によるN枚の基板の処理期間は完全に一致する必要はなく、各処理期間の少なくとも一部が重なっていればよい。要するに、ここでいう同時とは、各処理期間が全く重ならない状態と対比した意味で用いられる。順次処理装置としては、洗浄装置12および現像装置17が例示され、同時処理装置としては、脱水ベーク装置13、塗布関連装置14、プリベーク装置15およびポストベーク装置18が例示される。
<2. Processing device type>
In this substrate processing device 1, the following two types of processing devices are mixed as the types of processing devices. That is, a sequential processing device (flat flow processing device) that sequentially transports the boards in one direction and processes the boards one by one, and an N (integer of 2 or more) boards collectively. Simultaneous processing devices that can process at the same time are mixed. It should be noted that the processing periods of the N substrates by the simultaneous processing apparatus do not have to be completely the same, and it is sufficient that at least a part of each processing period overlaps. In short, the term "simultaneous" here is used in contrast to the state in which the treatment periods do not overlap at all. Examples of the sequential processing device include a cleaning device 12 and a developing device 17, and examples of the simultaneous processing device include a dehydration baking device 13, a coating-related device 14, a prebaking device 15, and a post-baking device 18.

順次処理装置は基板処理装置1の一部分である順次処理部であるとみることができる。同時処理装置は基板処理装置1の一部分である同時処理部であるとみることができる。 The sequential processing apparatus can be regarded as a sequential processing unit that is a part of the substrate processing apparatus 1. The simultaneous processing apparatus can be regarded as a simultaneous processing unit that is a part of the substrate processing apparatus 1.

<2-1.順次処理装置>
図2は、順次処理装置30の構成の一例を概略的に示す側面図である。順次処理装置30は処理装置本体32と基板導出部33とを備えており、順次処理装置30の直前には、基板導入部(受入部)31が設けられている。基板導入部31は上流の装置から搬送される複数(N枚)の基板Wを一括的に受け入れる。処理装置本体32は基板導入部31から搬送される複数の基板Wを1枚ずつ順次に受け取り、この基板Wを一方向(搬送方向:図2においては左側から右側へ向かう方向)に沿って搬送させつつ、基板Wに対して各種の処理を行う。処理後の基板Wは処理装置本体32から基板導出部33へと搬送される。基板導出部33は処理装置本体32から搬送された複数の基板Wを順次に受け取る。基板導出部33は順次に受け取った基板Wを複数(N枚)保持することができる。複数の基板Wは基板導出部33から一括して取り出されて、下流の装置へと搬送される。なお基板導入部31は順次処理装置30に含まれている、とみなしても構わない。基板導入部31は順次処理装置30の入口部として機能でき、基板導出部33は順次処理装置30の出口部として機能できる。以下ではN=2の場合が例示される。
<2-1. Sequential processing device>
FIG. 2 is a side view schematically showing an example of the configuration of the sequential processing device 30. The sequential processing device 30 includes a processing device main body 32 and a substrate lead-out unit 33, and a substrate introduction unit (accepting unit) 31 is provided immediately before the sequential processing device 30. The board introduction unit 31 collectively receives a plurality of (N sheets) of boards W transported from the upstream device. The processing apparatus main body 32 sequentially receives a plurality of substrates W transported from the substrate introduction unit 31 one by one, and transports the substrate W along one direction (transport direction: from the left side to the right side in FIG. 2). While doing so, various processes are performed on the substrate W. The processed substrate W is conveyed from the processing apparatus main body 32 to the substrate lead-out unit 33. The board lead-out unit 33 sequentially receives a plurality of boards W conveyed from the processing device main body 32. The board lead-out unit 33 can hold a plurality (N sheets) of the boards W received in sequence. The plurality of boards W are collectively taken out from the board lead-out unit 33 and transported to a downstream device. It may be considered that the substrate introduction unit 31 is included in the sequential processing device 30. The substrate introduction unit 31 can function as an inlet portion of the sequential processing device 30, and the substrate lead-out unit 33 can function as an outlet portion of the sequential processing device 30. In the following, the case of N = 2 is exemplified.

<2-1-1.基板導入部31>
基板導入部31は搬送機構としての複数のローラ311および複数のローラ313と、センサ314,315とを有している。ローラ311,313の断面は円形状を有しており、ローラ311,313は、その中心軸が基板Wの搬送方向に略垂直かつ略水平となるように設けられる。ここでいう搬送方向とは、順次処理装置30における基板Wの搬送方向である。複数のローラ311は搬送方向に沿って間隔を空けて並んで設けられる。各ローラ311は自身の中心軸を回転軸として回転することができる。各ローラ311の中心軸における両端は、それぞれ支持板(不図示)に回転可能に固定される。この一対の支持板は搬送方向に沿って延びる板状部材であり、床面に設けられた所定の架台312に固定される。複数のローラ313は搬送方向に沿って間隔を空けて並んで設けられる。ローラ313はローラ311よりも下流側に位置しており、ローラ311と同じ高さに設けられている。各ローラ313は自身の中心軸を回転軸として回転することができる。各ローラ313の中心軸における両端は、それぞれ支持板に回転可能に固定される。
<2-1-1. Board introduction unit 31>
The substrate introduction unit 31 has a plurality of rollers 311 and a plurality of rollers 313 as a transport mechanism, and sensors 314 and 315. The cross section of the rollers 311, 313 has a circular shape, and the rollers 311, 313 are provided so that the central axis thereof is substantially perpendicular to and substantially horizontal to the transport direction of the substrate W. The transport direction referred to here is the transport direction of the substrate W in the sequential processing device 30. The plurality of rollers 311 are provided side by side at intervals along the transport direction. Each roller 311 can rotate about its own central axis as a rotation axis. Both ends of each roller 311 on the central axis are rotatably fixed to a support plate (not shown). The pair of support plates are plate-shaped members extending along the transport direction, and are fixed to a predetermined pedestal 312 provided on the floor surface. The plurality of rollers 313 are provided side by side at intervals along the transport direction. The roller 313 is located downstream of the roller 311 and is provided at the same height as the roller 311. Each roller 313 can rotate about its own central axis as a rotation axis. Both ends of each roller 313 in the central axis are rotatably fixed to the support plate.

複数のローラ311は駆動部(不図示)によって駆動されて、予め定められた同じ方向に略等しい回転速度で回転(同期回転)する。駆動部はモータを有している。複数のローラ311の上には、基板Wが載置される。基板Wはその主面の法線方向が鉛直方向(図2においては上下方向)に沿うように載置される。この状態で、複数のローラ311が同じ方向に同期回転することにより、基板Wはローラ311の上を搬送方向に沿って処理装置本体32へと移動する。複数のローラ313も駆動部(不図示)によって駆動されて同期回転する。ローラ311,313は互いに異なる駆動部によって駆動されるので、互いに独立して制御される。 The plurality of rollers 311 are driven by a drive unit (not shown) and rotate (synchronously rotate) in the same predetermined direction at substantially equal rotation speeds. The drive unit has a motor. The substrate W is placed on the plurality of rollers 311. The substrate W is placed so that the normal direction of its main surface is along the vertical direction (vertical direction in FIG. 2). In this state, the plurality of rollers 311 rotate synchronously in the same direction, so that the substrate W moves on the rollers 311 to the processing apparatus main body 32 along the transport direction. The plurality of rollers 313 are also driven by a drive unit (not shown) and rotate synchronously. Since the rollers 311, 313 are driven by different drive units, they are controlled independently of each other.

ローラ311,313の上には、1枚ずつ基板Wが載置される。例えばインデクサ部11から2枚の基板Wがローラ311,313の上に載置されてもよい。この状態でローラ313のみが同期回転することにより、ローラ313上の基板Wを処理装置本体32へと搬送できる。次にローラ311,313の両方が同期回転することにより、ローラ313上の基板Wを処理装置本体32へと搬送できる。 The substrate W is placed one by one on the rollers 311, 313. For example, two substrates W from the indexer portion 11 may be placed on the rollers 311, 313. By synchronously rotating only the roller 313 in this state, the substrate W on the roller 313 can be conveyed to the processing apparatus main body 32. Next, both the rollers 311, 313 rotate synchronously, so that the substrate W on the rollers 313 can be transported to the processing apparatus main body 32.

センサ314はローラ311上の停止位置に基板Wが存在しているか否かを検出する。センサ315はローラ313上の停止位置に基板Wが存在しているか否かを検出する。センサ314,315は例えば光学式のセンサであって、基板Wからの反射光を受光したときに、基板Wを検出する。センサ314,315の検出結果は制御部60へと出力される。 The sensor 314 detects whether or not the substrate W is present at the stop position on the roller 311. The sensor 315 detects whether or not the substrate W is present at the stop position on the roller 313. The sensors 314 and 315 are, for example, optical sensors, and detect the substrate W when the reflected light from the substrate W is received. The detection results of the sensors 314 and 315 are output to the control unit 60.

以下では、2枚の基板Wの一方を基板W1とも呼び、他方を基板W2とも呼ぶ。ここでは、基板W1は基板W2よりも上流側に位置するものとする。 Hereinafter, one of the two substrates W is also referred to as a substrate W1, and the other is also referred to as a substrate W2. Here, it is assumed that the substrate W1 is located on the upstream side of the substrate W2.

<2-1-2.基板導出部33>
基板導出部33は、処理装置本体32から順次に搬送される基板Wの複数(N枚)を保持することができる。基板導出部33が保持可能な基板Wの枚数は、次の同時処理装置40(例えば順次処理装置30が洗浄装置12であれば、脱水ベーク装置13)で処理可能な基板Wの枚数と同じである。ここでは、一例として、基板導出部33は2枚の基板Wを保持し、同時処理装置40は2枚の基板Wに対して同時に処理を行うものとする。
<2-1-2. Board lead-out unit 33>
The board lead-out unit 33 can hold a plurality (N sheets) of boards W sequentially conveyed from the processing apparatus main body 32. The number of substrates W that can be held by the substrate lead-out unit 33 is the same as the number of substrates W that can be processed by the next simultaneous processing device 40 (for example, if the sequential processing device 30 is the cleaning device 12, the dehydration baking device 13). be. Here, as an example, it is assumed that the substrate lead-out unit 33 holds two substrates W, and the simultaneous processing device 40 simultaneously processes the two substrates W.

基板導出部33は、搬送機構としての複数のローラ331および複数のローラ332と、センサ334,335とを備えている。ローラ331,332の断面は円形状を有している。ローラ331は、その中心軸が基板Wの搬送方向に垂直かつ水平となるように搬送方向に沿って間隔を空けて配置される。ローラ332はローラ331よりも下流側に配置される。ローラ332はローラ331と同様の姿勢で搬送方向に沿って間隔を空けて配置される。各ローラ331,332の中心軸における両端は、それぞれ支持板(不図示)に回転可能に固定される。複数のローラ331は駆動部(不図示)によって同期回転し、複数のローラ332は駆動部(不図示)によって同期回転する。ローラ331およびローラ332は互いに異なる駆動部によって駆動されるので、互いに独立して制御可能である。各駆動部は例えばモータを有する。 The board lead-out unit 33 includes a plurality of rollers 331 and a plurality of rollers 332 as a transport mechanism, and sensors 334 and 335. The cross sections of the rollers 331 and 332 have a circular shape. The rollers 331 are arranged at intervals along the transport direction so that the central axis thereof is perpendicular and horizontal to the transport direction of the substrate W. The roller 332 is arranged on the downstream side of the roller 331. The rollers 332 are arranged at intervals along the transport direction in the same posture as the rollers 331. Both ends of each roller 331 and 332 in the central axis are rotatably fixed to a support plate (not shown). The plurality of rollers 331 are synchronously rotated by the drive unit (not shown), and the plurality of rollers 332 are synchronously rotated by the drive unit (not shown). Since the rollers 331 and 332 are driven by different drive units, they can be controlled independently of each other. Each drive unit has, for example, a motor.

ローラ331,332は、互いに同じ高さに設けられている。基板Wは処理装置本体32からローラ331へと搬送され、適宜にローラ331からローラ332へと搬送される。後に説明するように、ローラ331の上には1枚の基板Wが停止し、ローラ332の上には1枚の基板Wが停止する。これにより、基板導出部33は2枚の基板Wを保持することができる。 The rollers 331 and 332 are provided at the same height as each other. The substrate W is conveyed from the processing apparatus main body 32 to the rollers 331, and is appropriately conveyed from the rollers 331 to the rollers 332. As will be described later, one substrate W is stopped on the roller 331, and one substrate W is stopped on the roller 332. As a result, the substrate lead-out unit 33 can hold the two substrates W.

センサ334はローラ331上の停止位置に基板Wが存在しているか否かを検出する。センサ335はローラ332上の停止位置に基板Wが存在しているか否かを検出する。センサ334,335は例えば光学式のセンサであって、基板Wからの反射光を受光したときに、基板Wを検出する。センサ334,335の検出結果は制御部60へと出力される。 The sensor 334 detects whether or not the substrate W is present at the stop position on the roller 331. The sensor 335 detects whether or not the substrate W is present at the stop position on the roller 332. The sensors 334 and 335 are, for example, optical sensors, and detect the substrate W when the reflected light from the substrate W is received. The detection results of the sensors 334 and 335 are output to the control unit 60.

基板導出部33は処理装置本体32から2枚の基板Wを順次に受け取り、これらを保持することができる。以下ではまず、簡単のために2枚の基板Wが一括して処理される場合について説明する。N枚の基板Wが一括されずに処理される場合については、後に詳述される。 The board lead-out unit 33 can sequentially receive two boards W from the processing device main body 32 and hold them. Hereinafter, for the sake of simplicity, a case where two substrates W are processed together will be described below. The case where the N substrates W are processed without being batched will be described in detail later.

まず1枚目の基板Wはローラ331,332が同期回転することで、ローラ332の上の停止位置まで搬送される。具体的には、センサ334,335の両方が基板Wを検出していないときに、ローラ331,332を同期回転させて、処理装置本体32からの基板Wを基板導出部33へと搬送する。そしてセンサ335が基板Wを検出したときにローラ332の同期回転を停止する。これにより、1枚目の基板W(下流側の基板W2)はローラ332上で停止して支持される。2枚目の基板W(上流側の基板W1)に対しては、ローラ332を回転させず、ローラ331を同期回転させることにより、ローラ331の停止位置まで当該基板Wを搬送する。具体的にはセンサ334が基板Wを検出したときにローラ331の同期回転を停止する。つまり、センサ334,335の両方が基板Wを検出しているときに、ローラ331の同期回転を停止する。これにより、2枚目の基板Wはローラ331上で停止して支持される。このように基板導出部33は2枚の基板Wを保持することができる。 First, the first substrate W is conveyed to the stop position on the roller 332 by the synchronous rotation of the rollers 331 and 332. Specifically, when both the sensors 334 and 335 do not detect the substrate W, the rollers 331 and 332 are rotated synchronously to convey the substrate W from the processing apparatus main body 32 to the substrate lead-out unit 33. Then, when the sensor 335 detects the substrate W, the synchronous rotation of the roller 332 is stopped. As a result, the first substrate W (the substrate W2 on the downstream side) is stopped and supported on the roller 332. For the second substrate W (upstream side substrate W1), the roller 332 is not rotated, but the roller 331 is rotated synchronously to convey the substrate W to the stop position of the roller 331. Specifically, when the sensor 334 detects the substrate W, the synchronous rotation of the roller 331 is stopped. That is, when both the sensors 334 and 335 detect the substrate W, the synchronous rotation of the roller 331 is stopped. As a result, the second substrate W is stopped and supported on the roller 331. In this way, the substrate lead-out unit 33 can hold the two substrates W.

<2-1-3.処理装置本体32>
処理装置本体32は搬送機構としての複数のローラ321を有している。複数のローラ321はローラ311と同様の形状を有しており、ローラ311と同様の姿勢で配置される。ローラ321の中心軸における両端は、それぞれ支持板(不図示)に回転可能に固定される。複数のローラ321は搬送方向に沿って間隔を空けて並んでいる。複数のローラ321は基板導入部31のローラ311と同じ高さに設けられており、基板Wはローラ311からローラ313,321,331をこの順に介してローラ332へと移動することができる。
<2-1-3. Processing device body 32>
The processing device main body 32 has a plurality of rollers 321 as a transport mechanism. The plurality of rollers 321 have the same shape as the rollers 311 and are arranged in the same posture as the rollers 311. Both ends of the roller 321 on the central axis are rotatably fixed to a support plate (not shown). The plurality of rollers 321 are arranged at intervals along the transport direction. The plurality of rollers 321 are provided at the same height as the rollers 311 of the substrate introduction portion 31, and the substrate W can move from the rollers 311 to the rollers 332 via the rollers 313, 321, 331 in this order.

処理装置本体32は、ローラ321の上を流れる基板Wに対して、その搬送方向の各位置において適宜に処理を行う。ここでは、順次処理装置30として洗浄装置12を例に挙げて説明する。例えば処理装置本体32は、薬液部34、水洗部35および水切り部36を有している。薬液部34、水洗部35および水切り部36は上流から下流へ向かってこの順で直列に設けられている。また複数のローラ321は薬液部34、水洗部35および水切り部36に亘って設けられている。複数のローラ321は駆動部(不図示)によって駆動されて同期回転する。これにより、基板Wを搬送方向に沿って搬送して、薬液部34、水洗部35および水切り部36をこの順で通過させることができる。 The processing apparatus main body 32 appropriately processes the substrate W flowing on the roller 321 at each position in the transport direction. Here, the cleaning device 12 will be described as an example of the sequential processing device 30. For example, the processing device main body 32 has a chemical solution unit 34, a water washing unit 35, and a draining unit 36. The chemical solution unit 34, the water washing unit 35, and the draining unit 36 are provided in series in this order from upstream to downstream. Further, the plurality of rollers 321 are provided over the chemical solution section 34, the washing section 35, and the draining section 36. The plurality of rollers 321 are driven by a drive unit (not shown) and rotate synchronously. As a result, the substrate W can be conveyed along the conveying direction, and the chemical solution portion 34, the washing portion 35, and the draining portion 36 can be passed in this order.

薬液部34は、ローラ321上の基板Wへと薬液を供給して基板Wを洗浄する装置である。薬液部34は、薬液を吐出する複数のノズル341と、薬液を貯留する薬液槽342と、薬液槽342およびノズル341を繋ぐ供給管343と、供給管343を経由して薬液をノズル341へ供給するポンプ344とを備えている。ノズル341は鉛直方向において基板Wの両側に設けられており、基板Wの両面へと薬液を供給する。供給管343には流量センサ345が設けられ、供給される薬液の量の制御に寄与する。薬液部34は、基板Wをブラッシングするためのブラシ(不図示)などを有していてもよい。薬液を基板Wに供給しながらブラッシングを行うことにより、洗浄効果を高めることができる。基板Wに供給された薬液は主として基板Wの周縁から落ちて、薬液槽342へと回収される。 The chemical solution unit 34 is a device for cleaning the substrate W by supplying the chemical solution to the substrate W on the roller 321. The chemical solution unit 34 supplies the chemical solution to the nozzle 341 via a plurality of nozzles 341 for discharging the chemical solution, a chemical solution tank 342 for storing the chemical solution, a supply pipe 343 connecting the chemical solution tank 342 and the nozzle 341, and a supply pipe 343. It is equipped with a pump 344. Nozzles 341 are provided on both sides of the substrate W in the vertical direction, and supply chemicals to both sides of the substrate W. The supply pipe 343 is provided with a flow rate sensor 345, which contributes to controlling the amount of the chemical liquid to be supplied. The chemical solution unit 34 may have a brush (not shown) for brushing the substrate W or the like. By brushing while supplying the chemical solution to the substrate W, the cleaning effect can be enhanced. The chemical solution supplied to the substrate W mainly falls from the peripheral edge of the substrate W and is collected in the chemical solution tank 342.

水洗部35は、基板Wに対して洗浄水を供給することで基板Wに残留した薬液を洗い流す装置である。水洗部35は洗浄水を貯留する第1水槽355および第2水槽356を有している。また水洗部35は上流から下流に向かってこの順で配置される低圧水供給部351、高圧水供給部352、超音波洗浄水供給部353および純水供給部354を有している。各部351~354は薬液部34と同様に、基板Wに液を吐出するノズルと、当該ノズルに連結された供給管と、当該供給管を経由して当該ノズルに液を供給するポンプとを備えている。 The water washing unit 35 is a device for washing away the chemical solution remaining on the substrate W by supplying washing water to the substrate W. The washing unit 35 has a first water tank 355 and a second water tank 356 for storing washing water. Further, the water washing unit 35 has a low pressure water supply unit 351, a high pressure water supply unit 352, an ultrasonic cleaning water supply unit 353, and a pure water supply unit 354 arranged in this order from upstream to downstream. Similar to the chemical solution unit 34, each unit 351 to 354 includes a nozzle for discharging the liquid to the substrate W, a supply pipe connected to the nozzle, and a pump for supplying the liquid to the nozzle via the supply pipe. ing.

低圧水供給部351のポンプ35tは低圧ポンプであって、低い圧力で第1水槽355から洗浄水を汲み上げてノズルに供給する。これにより、低圧水供給部351は低圧で洗浄水を基板Wに供給できる。低圧水供給部351にはスリットノズル(液ナイフとも呼ぶ)35aが設けられ、液ナイフ35aからも洗浄水が基板Wに供給される。低圧水供給部351に供給される洗浄水の圧力は圧力センサ357によって測定される。 The pump 35t of the low-pressure water supply unit 351 is a low-pressure pump, and draws wash water from the first water tank 355 with a low pressure and supplies it to the nozzle. As a result, the low pressure water supply unit 351 can supply the washing water to the substrate W at a low pressure. The low-pressure water supply unit 351 is provided with a slit nozzle (also referred to as a liquid knife) 35a, and cleaning water is also supplied to the substrate W from the liquid knife 35a. The pressure of the washing water supplied to the low pressure water supply unit 351 is measured by the pressure sensor 357.

高圧水供給部352のポンプ35rは高圧ポンプであって、高い圧力で第1水槽355から洗浄水を汲み上げてノズルに供給する。これにより、高圧水供給部352は高圧で洗浄水を基板Wに供給できる。高圧水供給部352に供給される洗浄水の圧力は圧力センサ358によって測定される。低圧水供給部351および高圧水供給部352によって供給された洗浄水は主として基板Wの周縁から落ちて第1水槽355へと回収される。 The pump 35r of the high-pressure water supply unit 352 is a high-pressure pump, and draws wash water from the first water tank 355 with high pressure and supplies it to the nozzle. As a result, the high-pressure water supply unit 352 can supply the washing water to the substrate W at high pressure. The pressure of the washing water supplied to the high-pressure water supply unit 352 is measured by the pressure sensor 358. The washing water supplied by the low-pressure water supply unit 351 and the high-pressure water supply unit 352 mainly falls from the peripheral edge of the substrate W and is collected in the first water tank 355.

超音波洗浄水供給部353のノズル35bには、第2水槽356からの洗浄水に超音波振動を付与する超音波振動子が設けられている。ノズル35bは液ナイフとして機能する。超音波洗浄水供給部353のポンプ35sは、第2水槽356から洗浄水を汲み上げてノズル35bに供給する。ノズル35bの超音波振動子が振動することで、超音波洗浄水供給部353はノズル35bから振動状態の洗浄水を基板Wへと供給する。超音波洗浄水供給部353によって供給された洗浄水は主として第2水槽356へ回収される。ノズル35bへ供給される洗浄水の流量は流量センサ359によって測定される。 The nozzle 35b of the ultrasonic cleaning water supply unit 353 is provided with an ultrasonic vibrator that applies ultrasonic vibration to the cleaning water from the second water tank 356. The nozzle 35b functions as a liquid knife. The pump 35s of the ultrasonic cleaning water supply unit 353 draws cleaning water from the second water tank 356 and supplies it to the nozzle 35b. When the ultrasonic vibrator of the nozzle 35b vibrates, the ultrasonic cleaning water supply unit 353 supplies the cleaning water in a vibrating state from the nozzle 35b to the substrate W. The cleaning water supplied by the ultrasonic cleaning water supply unit 353 is mainly collected in the second water tank 356. The flow rate of the washing water supplied to the nozzle 35b is measured by the flow rate sensor 359.

純水供給部354のノズルは、純水供給源365から供給される純水を基板Wに向けて供給する。純水供給源365は例えば工場設備(ユーティリティ)として設けられる。この純水は主として第2水槽356へ回収される。 The nozzle of the pure water supply unit 354 supplies pure water supplied from the pure water supply source 365 toward the substrate W. The pure water supply source 365 is provided, for example, as factory equipment (utility). This pure water is mainly recovered in the second water tank 356.

水切り部36は基板Wへと高圧の気流を流すことで基板Wから水を吹き飛ばす装置である。水切り部36は、基板Wに気体を噴射する噴射部(乾燥エアーナイフ)361と、気体を供給する気体供給源362と、噴射部361および気体供給源362を連結する管路363とを有している。管路363には当該気体の流量を測定する流量センサ364が設けられる。気体供給源362は工場設備(ユーティリティ)として設けられた気体源である。 The draining portion 36 is a device that blows water from the substrate W by flowing a high-pressure air flow to the substrate W. The draining unit 36 has an injection unit (dry air knife) 361 that injects gas onto the substrate W, a gas supply source 362 that supplies gas, and a pipeline 363 that connects the injection unit 361 and the gas supply source 362. ing. A flow rate sensor 364 for measuring the flow rate of the gas is provided in the pipeline 363. The gas supply source 362 is a gas source provided as factory equipment (utility).

以上のように、処理装置本体32において基板Wは搬送方向に沿って搬送されて、各位置において各種の処理が行われる。処理装置本体32によって全ての処理が行われた基板Wは基板導出部33へと搬送される。 As described above, in the processing apparatus main body 32, the substrate W is conveyed along the conveying direction, and various processing is performed at each position. The substrate W that has been completely processed by the processing apparatus main body 32 is conveyed to the substrate lead-out unit 33.

<3.同時処理装置40>
図3は、同時処理装置40の構成の一例を概略的に示す図である。ここでは同時処理装置40として脱水ベーク装置13を例に挙げて説明する。図3は、脱水ベーク装置13の構成の一例を鉛直下向きに沿って見て示す概略的な平面図である。
<3. Simultaneous processing device 40>
FIG. 3 is a diagram schematically showing an example of the configuration of the simultaneous processing device 40. Here, the dehydration baking device 13 will be described as an example of the simultaneous processing device 40. FIG. 3 is a schematic plan view showing an example of the configuration of the dehydration bake device 13 as viewed vertically downward.

<3-1.脱水ベーク装置13>
脱水ベーク装置13は加熱部82および冷却部83を備えている。この脱水ベーク装置13は、(順次処理装置30である)洗浄装置12によって洗浄処理が行われた基板Wを搬送ロボット(搬送部)81から受け取り、受け取った基板Wに対して同時に処理を行う。脱水ベーク装置13は複数枚(N枚)の基板Wについて同時に処理を行うことができる。以下ではまず、簡単のために2枚の基板Wが一括して処理される場合について説明する。N枚の基板Wが一括されずに処理される場合については、後に詳述される。
<3-1. Dehydration baking device 13>
The dehydration baking device 13 includes a heating unit 82 and a cooling unit 83. The dehydration baking device 13 receives the substrate W cleaned by the cleaning device 12 (which is the sequential processing device 30) from the transfer robot (transport unit) 81, and simultaneously processes the received substrate W. The dehydration baking device 13 can simultaneously process a plurality of (N) substrates W. Hereinafter, for the sake of simplicity, a case where two substrates W are processed together will be described below. The case where the N substrates W are processed without being batched will be described in detail later.

<3-1-1.搬送ロボット81>
搬送ロボット81はハンドH1と移動機構51と昇降機構52と回転機構53とを有している。移動機構51はハンドH1を水平面内で移動させることができる。例えば移動機構51は一対のアーム(不図示)を有している。各アームは長尺状の複数の連結部材を有しており、その連結部材の端部同士が回転可能に連結される。各アームの一端はハンドH1に連結され、他端は昇降機構52に連結される。連結部材の連結角度が制御されることで、ハンドH1を水平面内で移動させることができる。昇降機構52はアームを鉛直方向に沿って昇降させることで、ハンドH1を昇降させる。昇降機構52は例えばボールねじ機構を有している。回転機構53は鉛直方向に沿う回転軸を中心として昇降機構52を回転させることができる。これにより、ハンドH1は周方向に沿って回動する。この回動により、ハンドH1の向きを変えることができる。回転機構53は例えばモータを有している。
<3-1-1. Transfer robot 81>
The transfer robot 81 has a hand H1, a moving mechanism 51, an elevating mechanism 52, and a rotation mechanism 53. The moving mechanism 51 can move the hand H1 in a horizontal plane. For example, the moving mechanism 51 has a pair of arms (not shown). Each arm has a plurality of long connecting members, and the ends of the connecting members are rotatably connected to each other. One end of each arm is connected to the hand H1 and the other end is connected to the elevating mechanism 52. By controlling the connecting angle of the connecting member, the hand H1 can be moved in the horizontal plane. The elevating mechanism 52 raises and lowers the hand H1 by raising and lowering the arm along the vertical direction. The elevating mechanism 52 has, for example, a ball screw mechanism. The rotation mechanism 53 can rotate the elevating mechanism 52 around a rotation axis along the vertical direction. As a result, the hand H1 rotates along the circumferential direction. By this rotation, the direction of the hand H1 can be changed. The rotation mechanism 53 has, for example, a motor.

ハンドH1には、2枚の基板Wが水平な一方向(図3において左右方向)において並んだ状態で載置される。ハンドH1は例えば複数本の指状部材F1と、指状部材F1の基端同士を連結する基端部材P1を有している。この基端部材P1には上述されたアームの一端が連結される。指状部材F1は長尺状の形状を有しており、その上面において基板Wが載置される。この2枚の基板Wは指状部材F1の長手方向(図3において左右方向)に沿って並んで載置される。よって、指状部材F1の長手方向の長さは、基板Wの2枚分の長さと、基板Wの間の間隔とに応じて設定される。 The two substrates W are placed side by side on the hand H1 in one horizontal direction (horizontal direction in FIG. 3). The hand H1 has, for example, a plurality of finger-shaped members F1 and a base end member P1 that connects the base ends of the finger-shaped members F1 to each other. One end of the above-mentioned arm is connected to the base end member P1. The finger-shaped member F1 has a long shape, and the substrate W is placed on the upper surface thereof. The two substrates W are placed side by side along the longitudinal direction (left-right direction in FIG. 3) of the finger-shaped member F1. Therefore, the length of the finger-shaped member F1 in the longitudinal direction is set according to the length of two substrates W and the distance between the substrates W.

搬送ロボット81はハンドH1を適宜に移動および回転させることで、ハンドH1を加熱部82、冷却部83、洗浄装置12の基板導出部33および次工程の塗布関連装置14(図3において不図示)の各々へと移動させることができる。搬送ロボット81は2枚の基板Wを一括して基板導出部33、加熱部82および冷却部83の各々から取り出したり、あるいは、2枚の基板Wを一括して加熱部82、冷却部83および塗布関連装置14の各々へ渡したりすることができる。 The transfer robot 81 appropriately moves and rotates the hand H1 to move the hand H1 to a heating unit 82, a cooling unit 83, a substrate lead-out unit 33 of the cleaning device 12, and a coating-related device 14 in the next process (not shown in FIG. 3). Can be moved to each of. The transfer robot 81 may collectively take out the two substrates W from each of the substrate lead-out unit 33, the heating unit 82, and the cooling unit 83, or collectively take out the two substrates W from the heating unit 82, the cooling unit 83, and the cooling unit 83. It can be handed over to each of the coating-related devices 14.

例えば搬送ロボット81は次のように基板導出部33から2枚の基板Wを一括して取り出す。すなわち、搬送ロボット81は、基板導出部33で保持された2枚の基板Wの下方にハンドH1を位置させるべく、ハンドH1を基板導出部33へと移動させる。 For example, the transfer robot 81 collectively takes out two boards W from the board lead-out unit 33 as follows. That is, the transfer robot 81 moves the hand H1 to the board lead-out unit 33 in order to position the hand H1 below the two boards W held by the board lead-out unit 33.

なおローラ331,332は、搬送ロボット81のハンドH1との衝突を避けるように構成されている。そして搬送ロボット81はハンドH1を鉛直上方へと上昇させることで、N枚の基板WをハンドH1によって持ち上げることができる。これにより、2枚の基板Wはそれぞれローラ331,332から離れる。2枚の基板WはハンドH1の上において、その長手方向に沿って間隔を空けて並んで載置されることになる。2枚の基板Wはその主面の法線方向が鉛直方向に沿う姿勢でハンドH1の上に載置される。 The rollers 331 and 332 are configured to avoid collision with the hand H1 of the transfer robot 81. Then, the transfer robot 81 can lift the N-sheet substrate W by the hand H1 by raising the hand H1 vertically upward. As a result, the two substrates W are separated from the rollers 331 and 332, respectively. The two substrates W will be placed side by side on the hand H1 at intervals along the longitudinal direction thereof. The two substrates W are placed on the hand H1 in a posture in which the normal direction of the main surface is along the vertical direction.

2枚の基板WはハンドH1の上において、その横手方向(短手方向)に沿って間隔を空けて並んで載置されてもよい。このような載置は、例えばターンテーブルを設けて基板Wを90度回転させることによって実現される。 The two substrates W may be placed side by side on the hand H1 at intervals along the lateral direction (minor direction). Such mounting is realized, for example, by providing a turntable and rotating the substrate W by 90 degrees.

次に搬送ロボット81はハンドH1を基板導出部33から遠ざけるように移動させることで、基板導出部33から2枚の基板Wを一括して取り出す。 Next, the transfer robot 81 moves the hand H1 away from the board lead-out unit 33, so that the two boards W are collectively taken out from the board lead-out unit 33.

なお指状部材F1の上面(基板Wが載置される面)には、複数の吸引口が形成されていても構わない。この吸引口は2枚の基板Wと対向する位置に設けられており、当該吸引口から空気が引き抜かれて基板Wを吸引する。これにより、基板Wを保持するための保持力を向上できる。 A plurality of suction ports may be formed on the upper surface of the finger-shaped member F1 (the surface on which the substrate W is placed). This suction port is provided at a position facing the two boards W, and air is drawn from the suction port to suck the board W. Thereby, the holding force for holding the substrate W can be improved.

搬送ロボット81は上記動作と同様の動作によって加熱部82および冷却部83の各々から2枚の基板Wを一括して取り出す。一方、搬送ロボット81は上記動作とは逆の手順で、加熱部82、冷却部83および塗布関連装置14の各々(以下、各部と呼ぶ)へと2枚の基板Wを一括して渡す。つまり、搬送ロボット81は2枚の基板Wが載置されたハンドH1を各部の内部へと移動させ、ハンドH1を下降させて各部の基板保持部の上面に2枚の基板Wを一括して載置する。なお、各部の基板保持部は2枚の基板Wの搬出入の際にハンドH1と衝突しないように構成されている。そして搬送ロボット81はハンドH1を各部の内部から外部へと移動させる。これにより、2枚の基板Wが各部に一括して渡される。 The transfer robot 81 collectively takes out two substrates W from each of the heating unit 82 and the cooling unit 83 by the same operation as the above operation. On the other hand, the transfer robot 81 collectively passes the two substrates W to each of the heating unit 82, the cooling unit 83, and the coating-related device 14 (hereinafter referred to as each unit) in the reverse procedure of the above operation. That is, the transfer robot 81 moves the hand H1 on which the two boards W are placed to the inside of each part, lowers the hand H1 and collectively puts the two boards W on the upper surface of the board holding part of each part. Place it. The substrate holding portion of each portion is configured so as not to collide with the hand H1 when the two substrates W are carried in and out. Then, the transfer robot 81 moves the hand H1 from the inside to the outside of each part. As a result, the two substrates W are collectively passed to each part.

以上のように、搬送ロボット81は、順次処理装置である洗浄装置12により処理された複数の基板WのうちN枚(2枚)の基板Wを水平な一方向に並べて保持しつつ、このN枚(2枚)の基板Wを一括して同時処理装置である脱水ベーク装置13へ搬送することができる。複数枚の基板Wを一括して搬送することにより、基板Wを1枚ずつ搬送する場合に比べて、搬送動作のスループットを向上することができる。 As described above, the transfer robot 81 holds N (two) of the plurality of substrates W processed by the cleaning apparatus 12, which is a sequential processing device, side by side in one horizontal direction, and holds the N. The sheets (two sheets) of the substrate W can be collectively transported to the dehydration baking device 13 which is a simultaneous processing device. By transporting a plurality of substrates W at once, it is possible to improve the throughput of the transport operation as compared with the case where the substrates W are transported one by one.

<3-1-2.加熱部82>
加熱部82には、搬送ロボット81から2枚の基板Wが一括して渡される。この加熱部82は、この2枚の基板Wを水平方向に並べて保持する基板保持部91と、この2枚の基板Wに対して一括して同時に加熱処理を行う加熱手段92とを備えている。換言すれば、加熱部82は、2枚の基板Wに対して同時に加熱処理を行う。
<3-1-2. Heating unit 82>
Two substrates W are collectively handed over to the heating unit 82 from the transfer robot 81. The heating unit 82 includes a substrate holding unit 91 that holds the two substrates W side by side in the horizontal direction, and a heating means 92 that simultaneously heats the two substrates W at the same time. .. In other words, the heating unit 82 heat-treats the two substrates W at the same time.

基板保持部91は2枚の基板Wの下面を支持する部材を有している。2枚の基板Wはこの部材の上に載置されることによって保持される。2枚の基板Wはその主面の法線方向が鉛直方向に沿う姿勢で載置される。例えば基板保持部91は複数のリフトピン(不図示)を備える。この複数のリフトピンは、基板保持部91の上面より、その先端を突出させた上位置と、上面より下に退避した下位置との間で昇降する。搬送ロボット81は上方に突出した複数のリフトピンに2枚の基板Wを渡した後、加熱部82から退避する。複数のリフトピンは2枚の基板Wを支持した状態で下降し、基板保持部91の上面に2枚の基板Wを載置する。 The board holding portion 91 has a member that supports the lower surfaces of the two boards W. The two substrates W are held by being placed on this member. The two substrates W are placed in a posture in which the normal direction of the main surface is along the vertical direction. For example, the substrate holding portion 91 includes a plurality of lift pins (not shown). The plurality of lift pins move up and down between the upper position where the tip of the lift pin protrudes from the upper surface of the substrate holding portion 91 and the lower position retracted below the upper surface. The transfer robot 81 passes the two substrates W to the plurality of lift pins protruding upward, and then retracts from the heating unit 82. The plurality of lift pins descend while supporting the two boards W, and the two boards W are placed on the upper surface of the board holding portion 91.

加熱手段92は例えばヒータなどであり、基板保持部91によって保持された2枚の基板Wに対して一括して同時に加熱処理を行う。この加熱処理により、例えば基板Wに残留した純水を蒸発させることができる(脱水処理)。複数枚の基板Wに対して一括して同時に加熱処理を行うことにより、基板Wに対して1枚ずつ加熱処理を行う場合に比べて、加熱処理のスループットを向上することができる。 The heating means 92 is, for example, a heater or the like, and simultaneously heat-treats the two substrates W held by the substrate holding portion 91 at the same time. By this heat treatment, for example, the pure water remaining on the substrate W can be evaporated (dehydration treatment). By performing the heat treatment on a plurality of substrates W at the same time at the same time, the throughput of the heat treatment can be improved as compared with the case where the heat treatment is performed on the substrate W one by one.

<3-1-3.冷却部83>
冷却部83には、加熱部82によって加熱された2枚の基板Wが搬送ロボット81から一括して渡される。つまり、搬送ロボット81は、順次処理装置たる洗浄装置12によって処理された後に加熱部82によって処理された2枚の基板Wを、水平な一方向に並べて保持しつつ、当該2枚の基板Wを一括して冷却部83へと搬送する。この冷却部83は、この2枚の基板Wを水平方向に並べて保持する基板保持部93と、この2枚の基板Wに対して一括して冷却処理を行う冷却手段94とを備えている。換言すれば、冷却部83は、2枚の基板Wに対して同時に冷却処理を行う。
<3-1-3. Cooling unit 83>
The two substrates W heated by the heating unit 82 are collectively delivered to the cooling unit 83 from the transfer robot 81. That is, the transfer robot 81 holds the two substrates W processed by the heating unit 82 after being processed by the cleaning device 12, which is a sequential processing device, side by side in one horizontal direction, and holds the two substrates W. It is collectively transported to the cooling unit 83. The cooling unit 83 includes a substrate holding unit 93 that holds the two substrates W side by side in the horizontal direction, and a cooling means 94 that collectively cools the two substrates W. In other words, the cooling unit 83 cools the two substrates W at the same time.

この基板保持部93は2枚の基板Wの下面を支持する部材(不図示)を有している。2枚の基板Wはこの部材の上に載置されることによって保持される。2枚の基板Wはその主面の法線方向が鉛直方向に沿う姿勢で載置される。基板保持部93の構造は基板保持部91と同様である。 The substrate holding portion 93 has a member (not shown) that supports the lower surfaces of the two substrates W. The two substrates W are held by being placed on this member. The two substrates W are placed in a posture in which the normal direction of the main surface is along the vertical direction. The structure of the substrate holding portion 93 is the same as that of the substrate holding portion 91.

冷却手段94は例えば金属板の内部に形成された液路に冷水を流す冷却板などであり、基板保持部93に保持された2枚の基板Wに対して一括して冷却処理を行う。冷却手段94は制御部60によって制御される。この冷却処理により、2枚の基板Wが冷却され、2枚の基板Wの温度を下流側の処理装置(塗布関連装置14)に適した温度とすることができる。2枚の基板Wに対して一括して同時に冷却処理を行うことにより、基板Wに対して1枚ずつ冷却処理を行う場合に比べて、冷却処理のスループットを向上することができる。 The cooling means 94 is, for example, a cooling plate for flowing cold water through a liquid passage formed inside the metal plate, and collectively performs cooling treatment on the two substrates W held by the substrate holding portion 93. The cooling means 94 is controlled by the control unit 60. By this cooling treatment, the two substrates W are cooled, and the temperature of the two substrates W can be set to a temperature suitable for the processing device (coating-related device 14) on the downstream side. By performing the cooling treatment on the two substrates W at the same time at the same time, the throughput of the cooling treatment can be improved as compared with the case where the cooling treatment is performed on the substrates W one by one.

なお冷却部83は自然冷却により2枚の基板Wを冷却してもよい。自然冷却とは、加熱された基板Wに対して動力(電力)を用いた冷却を行わずに、基板Wを放置して冷却することである。この場合、冷却板などの構成としての冷却手段94は不要である。 The cooling unit 83 may cool the two substrates W by natural cooling. The natural cooling means that the heated substrate W is not cooled by using power (electric power), but the substrate W is left to cool. In this case, the cooling means 94 as a configuration such as a cooling plate is unnecessary.

<3-1-4.脱水ベーク装置の一連の処理>
次に脱水ベーク装置13による一連の処理を簡単に説明する。搬送ロボット81は上流側の洗浄装置12の基板導出部33から2枚の基板Wを一括して取り出して、この2枚の基板Wを一括して加熱部82へと渡す。この加熱部82でも、2枚の基板Wは水平方向に並んだ状態で保持される。加熱部82はこの2枚の基板Wに対して一括して加熱処理を行う。加熱処理後の2枚の基板Wは搬送ロボット81によって一括して取り出され、冷却部83へと一括して渡される。冷却部83でも、2枚の基板Wは水平方向に並んだ状態で保持される。冷却部83はこの2枚の基板Wに対して一括して冷却処理を行う。冷却処理が行われた2枚の基板Wは搬送ロボット81によって一括して取り出されて、塗布関連装置14へと一括して搬送される。
<3-1-4. A series of processing of dehydration baking equipment>
Next, a series of processes by the dehydration baking apparatus 13 will be briefly described. The transfer robot 81 collectively takes out two boards W from the board lead-out unit 33 of the cleaning device 12 on the upstream side, and hands the two boards W together to the heating unit 82. Even in this heating unit 82, the two substrates W are held in a horizontally aligned state. The heating unit 82 collectively heats the two substrates W. The two substrates W after the heat treatment are collectively taken out by the transfer robot 81 and collectively passed to the cooling unit 83. Even in the cooling unit 83, the two substrates W are held in a horizontally aligned state. The cooling unit 83 collectively cools the two substrates W. The two substrates W that have been cooled are collectively taken out by the transfer robot 81 and collectively transferred to the coating-related device 14.

<4.制御部>
図1に例示するように、基板処理装置1は、各処理装置での処理および基板の搬送を制御する制御部60を有している。図4は、制御部60の構成の一例を概略的に示す機能ブロック図である。
<4. Control unit>
As illustrated in FIG. 1, the substrate processing apparatus 1 has a control unit 60 that controls processing in each processing apparatus and transfer of a substrate. FIG. 4 is a functional block diagram schematically showing an example of the configuration of the control unit 60.

制御部60は制御回路であって、図4に示されるように、例えば、CPU(Central Processing Unit)61、ROM(Read Only Memory)62、RAM(Random Access Memory)63および記憶装置64等が、バスライン65を介して相互接続された一般的なコンピュータによって構成される。ROM62は基本プログラム等を格納しており、RAM63はCPU61が所定の処理を行う際の作業領域として供される。記憶装置64は、フラッシュメモリ、あるいは、ハードディスク装置等の不揮発性の記憶装置によって構成される。 The control unit 60 is a control circuit, and as shown in FIG. 4, for example, a CPU (Central Processing Unit) 61, a ROM (Read Only Memory) 62, a RAM (Random Access Memory) 63, a storage device 64, and the like are included. It is composed of general computers interconnected via a bus line 65. The ROM 62 stores a basic program and the like, and the RAM 63 is provided as a work area when the CPU 61 performs a predetermined process. The storage device 64 is composed of a flash memory or a non-volatile storage device such as a hard disk device.

また、制御部60では、入力部66、表示部67、通信部68もバスライン65に接続されている。入力部66は、各種スイッチ、あるいは、タッチパネル等により構成されており、オペレータから処理レシピ等の各種の入力設定指示を受ける。表示部67は、液晶表示装置およびランプ等により構成されており、CPU61による制御のもと各種の情報を表示する。通信部68は、LAN(Local Area Network)等を介したデータ通信機能を有する。 Further, in the control unit 60, the input unit 66, the display unit 67, and the communication unit 68 are also connected to the bus line 65. The input unit 66 is composed of various switches, a touch panel, or the like, and receives various input setting instructions such as processing recipes from the operator. The display unit 67 is composed of a liquid crystal display device, a lamp, and the like, and displays various information under the control of the CPU 61. The communication unit 68 has a data communication function via a LAN (Local Area Network) or the like.

また、制御部60には、各ロボット(インデクサロボット等の搬送ロボットなど)および上述の各処理装置が制御対象として接続されている。つまり制御部60は基板Wの搬送を制御する搬送制御部として機能できる。 Further, each robot (such as a transfer robot such as an indexer robot) and each of the above-mentioned processing devices are connected to the control unit 60 as control targets. That is, the control unit 60 can function as a transfer control unit that controls the transfer of the substrate W.

制御部60の記憶装置64には、基板処理装置1を構成する各装置を制御するための処理プログラムPが格納されている。制御部60のCPU61が処理プログラムPを実行することによって、基板の搬送動作および処理動作が制御される。また、処理プログラムPは、記録媒体に記憶されていてもよい。この記録媒体を用いれば、制御部60(コンピュータ)に処理プログラムPをインストールすることができる。また制御部60が実行する機能の一部または全部は必ずしもソフトウェアによって実現される必要はなく、専用の論理回路などのハードウェアによって実現されてもよい。 The storage device 64 of the control unit 60 stores a processing program P for controlling each device constituting the board processing device 1. By executing the processing program P by the CPU 61 of the control unit 60, the transfer operation and the processing operation of the substrate are controlled. Further, the processing program P may be stored in the recording medium. By using this recording medium, the processing program P can be installed in the control unit 60 (computer). Further, a part or all of the functions executed by the control unit 60 do not necessarily have to be realized by software, and may be realized by hardware such as a dedicated logic circuit.

制御部60は複数階層構造を有していてもよい。例えば、制御部60は、主制御部と、複数の末端制御部とを含んでもよい。末端制御部は、例えば、インデクサ部11、洗浄装置12、脱水ベーク装置13、塗布関連装置14、プリベーク装置15、露光装置16、現像装置17およびポストベーク装置18の各処理装置に設けられる。主制御部は基板処理装置1に設けられ、複数の末端制御部と通信する。主制御部は基板処理装置1の全体の動作を管理し、末端制御部は対応する各装置の動作を制御する。 The control unit 60 may have a plurality of layers. For example, the control unit 60 may include a main control unit and a plurality of terminal control units. The terminal control unit is provided in, for example, each processing device of the indexer unit 11, the cleaning device 12, the dehydration baking device 13, the coating-related device 14, the prebaking device 15, the exposure device 16, the developing device 17, and the post-baking device 18. The main control unit is provided in the substrate processing device 1 and communicates with a plurality of terminal control units. The main control unit manages the overall operation of the substrate processing device 1, and the terminal control unit controls the operation of each corresponding device.

複数の末端制御部は相互に通信可能である。例えば、末端制御部の間で、基板Wに関するデータが送受信される。基板Wに関するデータは、例えば、グループ単位での基板Wのデータを示し、基板Wの処理の内容を示す情報が当該データに含まれている。末端制御部は、一つ上流側の末端制御部から受け取った基板Wのデータに基づいて、対応する装置を制御し、基板Wを処理する。例えば、洗浄装置12の末端制御部は、インデクサ部11の末端制御部から基板Wのデータを受け取るとともに、洗浄装置12に基板Wがグループ単位で搬入される。洗浄装置12の末端制御部は、受け取った基板のデータに基づいて洗浄装置12を制御して、搬入された基板Wに対する洗浄処理を行う。そして、基板Wの処理終了後に基板Wがグループ単位で脱水ベーク装置13に搬送されつつ、洗浄装置12の末端制御部から脱水ベーク装置13の末端装置に基板Wのデータが伝達される。以下、同様にして処理が行われる。 A plurality of terminal control units can communicate with each other. For example, data regarding the substrate W is transmitted and received between the terminal control units. The data relating to the substrate W indicates, for example, the data of the substrate W in a group unit, and the data includes information indicating the contents of the processing of the substrate W. The terminal control unit controls the corresponding device based on the data of the substrate W received from the terminal control unit on the upstream side, and processes the substrate W. For example, the terminal control unit of the cleaning device 12 receives the data of the substrate W from the terminal control unit of the indexer unit 11, and the substrate W is carried into the cleaning device 12 in group units. The terminal control unit of the cleaning device 12 controls the cleaning device 12 based on the received data of the substrate to perform the cleaning process on the carried-in substrate W. Then, after the processing of the substrate W is completed, the substrate W is conveyed to the dehydration bake device 13 in group units, and the data of the substrate W is transmitted from the terminal control unit of the cleaning device 12 to the terminal device of the dehydration bake device 13. Hereinafter, the process is performed in the same manner.

<5.同時処理基板データ>
制御部60は、各基板Wに対応した基板データを取り扱うことができる。制御部60は、同時処理基板データD0(k)に基づいて、同時処理装置40における基板Wへの処理を制御する。
<5. Simultaneous processing board data>
The control unit 60 can handle the board data corresponding to each board W. The control unit 60 controls the processing on the substrate W in the simultaneous processing apparatus 40 based on the simultaneous processing board data D0 (k).

図5は、同時処理基板データD0(k)の一例を概略的に示す図である(kは正の整数)。同時処理基板データD0(k)は、第kのグループに属するN枚(ここでは2枚)の基板Wに対応したデータを含む。同じグループに属する基板Wは、同時処理装置と順次処理装置との間で搬送される際に、一括して搬送される。 FIG. 5 is a diagram schematically showing an example of simultaneous processing board data D0 (k) (k is a positive integer). The simultaneous processing board data D0 (k) includes data corresponding to N boards (here, two boards) belonging to the kth group. The substrates W belonging to the same group are collectively conveyed when they are conveyed between the simultaneous processing apparatus and the sequential processing apparatus.

図5に例示されるように同時処理基板データD0(k)は、基板番号、グループ識別情報Da1、位置情報Db1、レシピ情報Dc1を含む。 As illustrated in FIG. 5, the simultaneous processing board data D0 (k) includes a board number, group identification information Da1, position information Db1, and recipe information Dc1.

基板番号は、同じグループに属する基板W同士を識別するための情報である。図5に示された例においては、一方の基板Wの基板番号は(基板)W1であり、他方の基板Wの基板番号は(基板)W2である。 The board number is information for identifying the boards W belonging to the same group. In the example shown in FIG. 5, the substrate number of one substrate W is (board) W1, and the substrate number of the other substrate W is (board) W2.

グループ識別情報Da1は同時処理基板データD0(k)がどのグループに対応するかを示す。図5に示された例においては一つのグループに一対の基板が属することから、ペア番号kが、グループ識別情報Da1として採用される。例えば第1のグループについての同時処理基板データD0(1)においてグループ識別情報Da1としてペア番号1が採用される。同様に、第2のグループについての同時処理基板データD0(2)においてグループ識別情報Da1としてペア番号2が採用される。 The group identification information Da1 indicates which group the simultaneous processing board data D0 (k) corresponds to. In the example shown in FIG. 5, since a pair of substrates belong to one group, the pair number k is adopted as the group identification information Da1. For example, in the simultaneous processing board data D0 (1) for the first group, the pair number 1 is adopted as the group identification information Da1. Similarly, in the simultaneous processing board data D0 (2) for the second group, the pair number 2 is adopted as the group identification information Da1.

図6はカセット10において複数の基板がグループごとに収容される態様を模式的に示す図である。複数の基板はカセット10においてグループごとに互いに異なる収容位置(スロット)に収容される。よって、グループ識別情報Da1として、カセット10におけるグループの収容位置を示す情報(スロット番号)を採用してもよい。 FIG. 6 is a diagram schematically showing a mode in which a plurality of substrates are housed in a group in the cassette 10. A plurality of boards are housed in cassettes 10 in different storage positions (slots) for each group. Therefore, as the group identification information Da1, information (slot number) indicating the accommodation position of the group in the cassette 10 may be adopted.

カセット10において基板Wが収容される態様は、インデクサ部11から洗浄装置12へ基板Wが搬送される場合と、ポストベーク装置18からインデクサ部11へ基板が搬送される場合とにおいて共通する。 The mode in which the substrate W is accommodated in the cassette 10 is common to the case where the substrate W is conveyed from the indexer section 11 to the cleaning device 12 and the case where the substrate W is conveyed from the post-baking device 18 to the indexer section 11.

図6において異なるスロットは図において上下に位置する。図6においては第kのグループのいずれにおいても二枚の基板W1(k),W2(k)が格納される場合が例示される。 The different slots in FIG. 6 are located above and below in the figure. In FIG. 6, a case where two substrates W1 (k) and W2 (k) are stored in any of the k-th groups is exemplified.

カセット10においては第kのグループに属する基板W1(k),W2(k)(但し図6においてk=1~7)が図において左右方向に格納される。基板W1(k)は上述の基板W1の例示として考えられ、基板W2(k)は上述の基板W2の例示として考えられる。 In the cassette 10, the substrates W1 (k) and W2 (k) belonging to the kth group (however, k = 1 to 7 in FIG. 6) are stored in the left-right direction in the figure. The substrate W1 (k) can be considered as an example of the above-mentioned substrate W1, and the substrate W2 (k) can be considered as an example of the above-mentioned substrate W2.

位置情報Db1は、N枚(ここでは2枚)の基板Wの搬送方向における位置関係を示す。図5に示された例では、第kのグループにおいて基板番号W1に対応する基板W1(k)が基板番号W2に対応する基板W2(k)に対して上流側に位置しており、基板番号W1,W2に対する位置情報Db1はそれぞれ「上流」および「下流」を示す。位置情報Db1は、主として、順次処理装置30における搬送制御に用いられる。具体的には、順次処理装置30は「下流」の位置情報Db1が付与された基板W2(k)を先に搬送し、その後に「上流」の位置情報Db1が付与された基板W1(k)を搬送する。 The position information Db1 indicates the positional relationship of N (here, two) substrates W in the transport direction. In the example shown in FIG. 5, in the kth group, the substrate W1 (k) corresponding to the substrate number W1 is located upstream of the substrate W2 (k) corresponding to the substrate number W2, and the substrate number is The position information Db1 with respect to W1 and W2 indicates "upstream" and "downstream", respectively. The position information Db1 is mainly used for transport control in the sequential processing device 30. Specifically, the sequential processing device 30 first conveys the substrate W2 (k) to which the "downstream" position information Db1 is attached, and then the substrate W1 (k) to which the "upstream" position information Db1 is attached. To transport.

以下の説明においては、グループ識別情報Da1が示す値が大きいほど、当該グループ識別情報Da1に対応するグループに属する基板が、より上流において搬送される。例えば、図6において上方に示されるスロットに格納された基板から下方に示されるスロットに格納された基板へと順に搬出される場合、基板W1(3)は基板W2(3)よりも上流において搬送され、基板W2(3)は基板W1(2)よりも上流において搬送され、基板W1(2)は基板W2(2)よりも上流において搬送され、基板W2(2)は基板W1(1)よりも上流において搬送され、基板W1(1)は基板W2(1)よりも上流において搬送される。 In the following description, the larger the value indicated by the group identification information Da1, the more upstream the substrate belonging to the group corresponding to the group identification information Da1 is conveyed. For example, when the substrate W1 (3) is sequentially carried out from the substrate stored in the slot shown above in FIG. 6 to the substrate stored in the slot shown below, the substrate W1 (3) is conveyed upstream of the substrate W2 (3). The substrate W2 (3) is conveyed upstream of the substrate W1 (2), the substrate W1 (2) is conveyed upstream of the substrate W2 (2), and the substrate W2 (2) is conveyed upstream of the substrate W1 (1). Is also transported upstream, and the substrate W1 (1) is transported upstream of the substrate W2 (1).

レシピ情報Dc1は、グループ識別情報Da1に同じペア番号kが与えられる(つまり第kのグループに属する)基板W1(k),W2(k)に対して共通に行われるべき処理を示す情報(例えばレシピ番号)と、その処理における処理条件の情報を含む。 The recipe information Dc1 is information indicating processing to be performed in common for the substrates W1 (k) and W2 (k) to which the same pair number k is given to the group identification information Da1 (that is, belonging to the kth group) (for example,). Recipe number) and information on processing conditions in the processing.

処理条件としては、例えば洗浄処理についていえば、使用する薬液の種類、薬液の流量および処理時間(つまり搬送速度)等の条件が採用され得る。例えば脱水ベーク処理であれば、処理条件として、加熱温度、加熱時間、冷却温度および冷却時間等の条件が採用され得る。 As the treatment conditions, for example, for the cleaning treatment, conditions such as the type of the chemical solution to be used, the flow rate of the chemical solution, and the treatment time (that is, the transport speed) can be adopted. For example, in the case of dehydration baking treatment, conditions such as heating temperature, heating time, cooling temperature and cooling time can be adopted as treatment conditions.

レシピ情報Dc1は基板W1(k),W2(k)に共通の情報であるので、レシピ情報Dc1は基板番号W1,W2に対して共通し、グループ識別情報Da1に対応する。 Since the recipe information Dc1 is information common to the substrates W1 (k) and W2 (k), the recipe information Dc1 is common to the substrate numbers W1 and W2 and corresponds to the group identification information Da1.

図7はカセット10において複数の基板Wがグループごとに収容される他の態様を模式的に示す図である。図7においては第2のグループにおいて基板W2(2)は格納されずに基板W1(2)のみが格納され、第5のグループにおいて基板W1(5)は格納されず基板W2(5)のみが格納される場合が例示される。 FIG. 7 is a diagram schematically showing another aspect in which a plurality of substrates W are housed in a group in the cassette 10. In FIG. 7, in the second group, the substrate W2 (2) is not stored and only the substrate W1 (2) is stored, and in the fifth group, the substrate W1 (5) is not stored and only the substrate W2 (5) is stored. The case where it is stored is exemplified.

図8は第kのグループにおいて下流側の基板W2(k)が存在しないときの同時処理基板データD0(k)の一例を概略的に示す図である。図9は第kのグループにおいて上流側の基板W1(k)が存在しないときの同時処理基板データD0(k)の一例を概略的に示す図である。図7に即して言えば、図5はk=1,3,4,6,7の場合に相当し、図8はk=2の場合に相当し、図9はk=5の場合に相当する。 FIG. 8 is a diagram schematically showing an example of simultaneous processing board data D0 (k) when the downstream board W2 (k) does not exist in the kth group. FIG. 9 is a diagram schematically showing an example of simultaneous processing board data D0 (k) when the upstream board W1 (k) does not exist in the kth group. According to FIG. 7, FIG. 5 corresponds to the case of k = 1,3,4,6,7, FIG. 8 corresponds to the case of k = 2, and FIG. 9 corresponds to the case of k = 5. Equivalent to.

図5、図8、図9、図11、図12、図15において、記号「×」が付記された欄は、当該欄に該当する値は特に意味を持たないことを示す。ここで「意味を持たない」とは、基板が存在しないことに加え、何らかの物体が存在しても評価の対象ではないことをも含む。 In FIGS. 5, 8, 9, 11, 12, and 15, the column marked with the symbol “x” indicates that the value corresponding to the column has no particular meaning. Here, "meaningless" includes not only the absence of the substrate but also the existence of some object that is not the subject of evaluation.

図10は、図3と類似して、同時処理装置40(例えば脱水ベーク装置13)を鉛直下向きに沿って見て示す概略的な平面図である。図10は、同時処理装置40の基板搬送の事例を概略的に示す。図3において基板Wは一対となって処理される場合が例示される。図10においては、基板Wがグループごとに処理される場合が例示される。但し第1のグループには基板W2(1)は存在せずに基板W1(1)が存在し、第2のグループには基板W1(2)は存在せずに基板W2(2)が存在し、第3のグループには基板W1(3),W2(3)のいずれもが存在する場合が例示される。仮想的に基板W2(1),W1(2)が存在する場合のそれらの位置が、一点鎖線で示される。 FIG. 10 is a schematic plan view showing the simultaneous processing device 40 (for example, the dehydration baking device 13) as viewed vertically downward, similar to FIG. FIG. 10 schematically shows an example of substrate transfer of the simultaneous processing device 40. In FIG. 3, a case where the substrates W are processed as a pair is exemplified. In FIG. 10, a case where the substrate W is processed for each group is exemplified. However, in the first group, the substrate W2 (1) does not exist and the substrate W1 (1) exists, and in the second group, the substrate W1 (2) does not exist and the substrate W2 (2) exists. , The case where any of the substrates W1 (3) and W2 (3) is present in the third group is exemplified. When the substrates W2 (1) and W1 (2) are virtually present, their positions are indicated by the alternate long and short dash line.

図10に即して言えば、図5はk=3の場合に相当し、図8はk=1の場合に相当し、図9はk=2の場合に相当する。 According to FIG. 10, FIG. 5 corresponds to the case of k = 3, FIG. 8 corresponds to the case of k = 1, and FIG. 9 corresponds to the case of k = 2.

同時処理装置40は、グループごとに設定される同時処理基板データD0(k)に基づいて、グループごとに基板W1(k)、W2(k)を同時に処理する、ということができる。かかる観点からインデクサ部11も同時処理装置40の例とみることができる。 It can be said that the simultaneous processing apparatus 40 simultaneously processes the substrates W1 (k) and W2 (k) for each group based on the simultaneous processing board data D0 (k) set for each group. From this point of view, the indexer unit 11 can also be regarded as an example of the simultaneous processing device 40.

<6.順次処理基板データ>
第kのグループに属する基板W1(k)、W2(k)ごとに、順次処理基板データJ1(k),J2(k)が設定される。順次処理基板データJ1(k)は、これに対応する基板W1(k)についてのグループ識別情報Da1と、位置情報Db1と、レシピ情報Dc1とを含む。順次処理基板データJ2(k)は、これに対応する基板W2(k)についての位置情報Db1とレシピ情報Dc1とを含む。
<6. Sequential processing board data>
The processing board data J1 (k) and J2 (k) are sequentially set for each of the boards W1 (k) and W2 (k) belonging to the kth group. The sequential processing board data J1 (k) includes group identification information Da1 for the corresponding board W1 (k), position information Db1, and recipe information Dc1. The sequential processing board data J2 (k) includes position information Db1 and recipe information Dc1 for the corresponding board W2 (k).

下記の説明では順次処理基板データJ1(k)は基板番号W1を含み、順次処理基板データJ2(k)は基板番号W2を含む。但し、順次処理基板データJ1(k)は基板W1(k)に対して設定されるので基板番号W1を含む必要はない。順次処理基板データJ2(k)は基板W2(k)に対して設定されるので基板番号W2を含む必要はない。 In the following description, the sequential processing board data J1 (k) includes the substrate number W1, and the sequential processing board data J2 (k) includes the substrate number W2. However, since the sequential processing board data J1 (k) is set for the board W1 (k), it is not necessary to include the board number W1. Since the sequential processing board data J2 (k) is set for the board W2 (k), it is not necessary to include the board number W2.

順次処理基板データJ1(k),J2(k)は、制御部60によって、同時処理基板データD0(k)から生成される。制御部60は、順次処理基板データJ1(k),J2(k)に基づいて順次処理装置30(例えばインデクサ部11の下流に位置し、脱水ベーク装置13の上流に位置する洗浄装置12)における基板W1(k),W2(k)に対する搬送および処理を制御する。 The sequential processing board data J1 (k) and J2 (k) are generated from the simultaneous processing board data D0 (k) by the control unit 60. The control unit 60 is in the sequential processing device 30 (for example, the cleaning device 12 located downstream of the indexer unit 11 and upstream of the dehydration bake device 13) based on the sequential processing board data J1 (k) and J2 (k). Controls transport and processing for the substrates W1 (k) and W2 (k).

順次処理装置30は、複数のグループに分けられた基板W1(k),W2(k)を順次に搬送しつつ、順次処理基板データJ1(k),J2(k)に基づいて、基板W1(k),W2(k)に対して処理を行う。 The sequential processing apparatus 30 sequentially conveys the substrates W1 (k) and W2 (k) divided into a plurality of groups, and based on the sequential processing substrate data J1 (k) and J2 (k), the substrate W1 ( processing is performed for k) and W2 (k).

<6-1.グループにおいて基板が欠如しない場合>
本節では、第kのグループ(k=1,2,3)の全てにおいて基板W1(k),W2(k)が存在する場合が説明される。図5はこの場合における同時処理基板データD0(k)に該当する。図11はこの場合における順次処理基板データJ1(k)の一例を概略的に示す図である。図12はこの場合における順次処理基板データJ2(k)の一例を概略的に示す図である。
<6-1. If there is no lack of board in the group>
In this section, the case where the substrates W1 (k) and W2 (k) are present in all of the kth groups (k = 1, 2, 3) will be described. FIG. 5 corresponds to the simultaneous processing board data D0 (k) in this case. FIG. 11 is a diagram schematically showing an example of sequential processing board data J1 (k) in this case. FIG. 12 is a diagram schematically showing an example of sequential processing board data J2 (k) in this case.

順次処理基板データJ1(k),J2(k)のいずれのグループ識別情報Da1にも、同時処理基板データD0(k)に含まれていたグループ識別情報Da1が採用される。これにより順次処理装置30においても基板Wのグループ分けが維持され、グループごとに基板Wの搬送および処理が管理される。 The group identification information Da1 included in the simultaneous processing board data D0 (k) is adopted for any of the group identification information Da1 of the sequential processing board data J1 (k) and J2 (k). As a result, the grouping of the substrate W is maintained also in the sequential processing apparatus 30, and the transport and processing of the substrate W are managed for each group.

順次処理基板データJ1(k)の位置情報Db1には、同時処理基板データD0(k)において基板番号W1に対応した位置情報Db1(「上流」)が採用される。順次処理基板データJ2(k)の位置情報Db1には、同時処理基板データD0(k)において基板番号W2に対応した位置情報Db1(「下流」)が採用される。同時処理装置40においても順次処理装置30においても、基板Wの搬送位置の関係が維持され、グループごとに基板Wの搬送および処理が管理される。 As the position information Db1 of the sequential processing board data J1 (k), the position information Db1 (“upstream”) corresponding to the board number W1 in the simultaneous processing board data D0 (k) is adopted. As the position information Db1 of the sequential processing board data J2 (k), the position information Db1 (“downstream”) corresponding to the board number W2 in the simultaneous processing board data D0 (k) is adopted. In both the simultaneous processing device 40 and the sequential processing device 30, the relationship between the transfer positions of the substrate W is maintained, and the transfer and processing of the substrate W are managed for each group.

順次処理基板データJ1(k),J2(k)のいずれのレシピ情報Dc1にも、同時処理基板データD0(k)に含まれていたレシピ情報Dc1が採用される。レシピ情報Dc1は、基板W1(k),W2(k)のいずれにも共通して行われるべき処理およびその処理における処理条件を示す情報だからである。 The recipe information Dc1 included in the simultaneous processing board data D0 (k) is adopted for any of the recipe information Dc1 of the sequential processing board data J1 (k) and J2 (k). This is because the recipe information Dc1 is information indicating the processing to be performed in common to both the substrates W1 (k) and W2 (k) and the processing conditions in the processing.

順次処理基板データJ1(k),J2(k)のいずれも最終情報Dd1を含む。最終情報Dd1は、ある基板番号Wn(nは1以上N以下の整数)に対応する基板Wn(k)が属する第kのグループにおいて、当該基板Wn(k)が搬送方向についての最後尾であるか否かを示す。ここでは第kのグループに属する基板Wの枚数はN=2であり、基板W1(k),W2(k)のいずれも存在し、かつ基板W1(k)の搬送位置は基板W2(k)の搬送位置よりも上流にある。よって順次処理基板データJ1(k)における最終情報Dd1には、順次処理基板データJ1(k)に対応する基板W1(k)が第kのグループにおいて最後尾であること(これは最上流でもある)を示す「END」が採用される。順次処理基板データJ1(k)における最終情報Dd1には特に値は採用されない。 Both the sequential processing board data J1 (k) and J2 (k) include the final information Dd1. In the final information Dd1, in the kth group to which the substrate Wn (k) corresponding to a certain substrate number Wn (n is an integer of 1 or more and N or less) belongs, the substrate Wn (k) is the last in the transport direction. Indicates whether or not. Here, the number of substrates W belonging to the kth group is N = 2, both of the substrates W1 (k) and W2 (k) exist, and the transport position of the substrate W1 (k) is the substrate W2 (k). It is upstream from the transport position of. Therefore, in the final information Dd1 in the sequential processing board data J1 (k), the substrate W1 (k) corresponding to the sequential processing board data J1 (k) is the last in the kth group (this is also the most upstream). ) Is adopted. No particular value is adopted for the final information Dd1 in the sequential processing board data J1 (k).

なお、順次処理基板データJ1(k),J2(k)のいずれもが最終情報Dd1を含まなくてもよい場合がある。この場合については後に<6-2-2>,<6-2-3>において改めて説明される。 In some cases, none of the sequential processing board data J1 (k) and J2 (k) may include the final information Dd1. This case will be described later in <6-2-2> and <6-2-3>.

図13は順次処理装置30の基板搬送の事例を概略的に示す側面図である。図13においては、図2で示された順次処理装置30の構成から、液や気体を供給する構成および液を回収する構成の描画が省略されている。 FIG. 13 is a side view schematically showing an example of substrate transfer of the sequential processing device 30. In FIG. 13, from the configuration of the sequential processing apparatus 30 shown in FIG. 2, the drawing of the configuration for supplying the liquid or gas and the configuration for recovering the liquid is omitted.

図13に示された状態においては、基板W1(3),W2(3)が基板導入部31に位置する。基板W1(3)がローラ311の上に載置されていることはセンサ314によって検出される。基板W2(3)がローラ313の上に載置されていることはセンサ315によって検出される。 In the state shown in FIG. 13, the substrates W1 (3) and W2 (3) are located at the substrate introduction portion 31. It is detected by the sensor 314 that the substrate W1 (3) is placed on the roller 311. It is detected by the sensor 315 that the substrate W2 (3) is placed on the roller 313.

基板W1(2)は基板W1(3),W2(3)よりも下流の薬液部34に位置する。基板W2(2)は基板W1(2)よりも下流の水洗部35に位置する。 The substrate W1 (2) is located in the chemical solution portion 34 downstream of the substrates W1 (3) and W2 (3). The substrate W2 (2) is located in the washing portion 35 downstream of the substrate W1 (2).

基板W1(1),W2(1)が基板W2(2)よりも下流の基板導出部33に位置する。基板W1(1)がローラ331の上に載置されていることはセンサ334によって検出される。基板W2(1)がローラ332の上に載置されていることはセンサ335によって検出される。 The substrates W1 (1) and W2 (1) are located in the substrate lead-out portion 33 downstream of the substrate W2 (2). It is detected by the sensor 334 that the substrate W1 (1) is placed on the roller 331. It is detected by the sensor 335 that the substrate W2 (1) is placed on the roller 332.

当該状態よりも前に、基板W1(1),W2(1)が基板導入部31に位置し、その後に基板W1(1),W2(1)が処理装置本体32へ搬送される。制御部60は、例えばセンサ314,315によって基板W1(1),W2(1)の存在が検出されたことを契機として、順次処理基板データJ1(1),J2(1)を生成する。その後、同様にして基板W1(2),W2(2)が基板導入部31に位置して順次処理基板データJ1(2),J2(2)が生成され、基板W1(3),W2(3)が基板導入部31に位置して順次処理基板データJ1(3),J2(3)が生成される。 Prior to this state, the substrates W1 (1) and W2 (1) are located at the substrate introduction portion 31, and then the substrates W1 (1) and W2 (1) are conveyed to the processing apparatus main body 32. The control unit 60 sequentially generates the processing board data J1 (1) and J2 (1) when the presence of the boards W1 (1) and W2 (1) is detected by the sensors 314 and 315, for example. After that, the substrates W1 (2) and W2 (2) are similarly located at the substrate introduction portion 31, and the processing substrate data J1 (2) and J2 (2) are sequentially generated, and the substrates W1 (3) and W2 (3) are generated. ) Is located in the substrate introduction unit 31, and the processing substrate data J1 (3) and J2 (3) are sequentially generated.

図13に示された状態の後、基板W1(1),W2(1)は基板導出部33から、より下流にある同時処理装置40(例えば脱水ベーク装置13)へ払い出される。 After the state shown in FIG. 13, the substrates W1 (1) and W2 (1) are discharged from the substrate lead-out unit 33 to the simultaneous processing device 40 (for example, the dehydration bake device 13) located further downstream.

制御部60は、順次処理基板データJ1(k),J2(k)から同時処理基板データD0(k)を生成する。例えば最終情報Dd1に「END」が採用された順次処理基板データJ1(k)に対応する基板W1(k)がセンサ334によって検出されたことを契機として、同時処理基板データD0(k)が生成される。 The control unit 60 generates simultaneous processing board data D0 (k) from the sequential processing board data J1 (k) and J2 (k). For example, simultaneous processing board data D0 (k) is generated when the sensor 334 detects the board W1 (k) corresponding to the sequential processing board data J1 (k) in which "END" is adopted as the final information Dd1. Will be done.

順次処理基板データJ1(1),J2(1)から以下のようにして同時処理基板データD0(1)が生成される。 Simultaneous processing board data D0 (1) is generated from the sequential processing board data J1 (1) and J2 (1) as follows.

同時処理基板データD0(1)におけるグループ識別情報Da1には、順次処理基板データJ1(1),J2(1)において共通するグループ識別情報Da1が採用される。これにより下流にある同時処理装置40においても基板Wのグループ分けが維持され、グループごとに基板Wの搬送および処理が管理される。 As the group identification information Da1 in the simultaneous processing board data D0 (1), the group identification information Da1 common to the sequential processing board data J1 (1) and J2 (1) is adopted. As a result, the grouping of the substrate W is maintained even in the simultaneous processing apparatus 40 located downstream, and the transport and processing of the substrate W are managed for each group.

同時処理基板データD0(1)におけるレシピ情報Dc1には、順次処理基板データJ1(1),J2(1)において共通するレシピ情報Dc1が採用される。レシピ情報Dc1は、基板W1(1),W2(1)のいずれにも共通して行われるべき処理およびその処理における処理条件を示す情報だからである。 As the recipe information Dc1 in the simultaneous processing board data D0 (1), the recipe information Dc1 common to the sequential processing board data J1 (1) and J2 (1) is adopted. This is because the recipe information Dc1 is information indicating the processing to be performed in common to both the substrates W1 (1) and W2 (1) and the processing conditions in the processing.

同時処理基板データD0(1)において基板番号W1に対する位置情報Db1には、順次処理基板データJ1(1)における位置情報Db1(「上流」)が採用される。同時処理基板データD0(1)において基板番号W2に対する位置情報Db1には、順次処理基板データJ2(1)における位置情報Db1が採用される(「下流」)。位置情報Db1は同時処理装置40において必ずしも用いられないものの、当該同時処理装置40よりもさらに下流にある他の順次処理装置30(例えば現像装置17)において用いられる。位置情報Db1が同時処理基板データD0(1)において採用されることは、当該他の順次処理装置30において用いられる順次処理基板データJ1(1),J2(1)を生成することに寄与する。 In the simultaneous processing board data D0 (1), the position information Db1 (“upstream”) in the sequential processing board data J1 (1) is adopted as the position information Db1 with respect to the board number W1. In the simultaneous processing board data D0 (1), the position information Db1 in the sequential processing board data J2 (1) is adopted as the position information Db1 with respect to the board number W2 (“downstream”). Although the position information Db1 is not necessarily used in the simultaneous processing device 40, it is used in another sequential processing device 30 (for example, a developing device 17) further downstream from the simultaneous processing device 40. The fact that the position information Db1 is adopted in the simultaneous processing board data D0 (1) contributes to the generation of the sequential processing board data J1 (1) and J2 (1) used in the other sequential processing apparatus 30.

同時処理装置40における処理には基板Wの搬送位置は関係が小さい。最終情報Dd1は後述されるように、順次処理装置30における基板の欠如によって変動する情報であって、複数の順次処理装置30において共通して採用される必要はない。よって同時処理基板データD0(k)において最終情報Dd1を保持する必要性は小さく、省略され得る。 The transport position of the substrate W has little relation to the processing in the simultaneous processing apparatus 40. As will be described later, the final information Dd1 is information that varies due to the lack of a substrate in the sequential processing device 30, and does not need to be commonly adopted in the plurality of sequential processing devices 30. Therefore, the need to retain the final information Dd1 in the simultaneous processing board data D0 (k) is small and can be omitted.

基板W1(1),W2(1)が基板導出部33から払い出された後、順次処理装置30における処理が進んで基板W1(2),W2(2)が基板導出部33に位置する。順次処理基板データJ1(2),J2(2)から同時処理基板データD0(2)が、同時処理基板データD0(1)と同様にして生成される。その後も同様にして順次処理基板データJ1(3),J2(3)から同時処理基板データD0(3)が生成される。 After the substrates W1 (1) and W2 (1) are discharged from the substrate out-licensing unit 33, the processing in the processing apparatus 30 proceeds in sequence, and the substrates W1 (2) and W2 (2) are located in the substrate out-licensing unit 33. Simultaneous processing board data D0 (2) is generated from the sequential processing board data J1 (2) and J2 (2) in the same manner as the simultaneous processing board data D0 (1). After that, the simultaneous processing board data D0 (3) is similarly generated from the sequential processing board data J1 (3) and J2 (3).

グループごとに対応する同時処理基板データD0(k)に基づいて同時処理装置40による処理が行われ、順次処理装置30の上流と下流においてグループ分けは維持され、グループごとに基板Wの搬送および処理が管理される。 Processing by the simultaneous processing device 40 is performed based on the simultaneous processing board data D0 (k) corresponding to each group, grouping is maintained upstream and downstream of the sequential processing device 30, and the substrate W is transported and processed for each group. Is managed.

<6-2.グループにおいて基板が欠如する場合>
本節では、第kのグループ(k=1,2,3)のいずれかにおいて基板W1(k),W2(k)が存在しない場合が説明される。
<6-2. If the group lacks a board>
In this section, the case where the substrates W1 (k) and W2 (k) do not exist in any one of the kth groups (k = 1, 2, 3) will be described.

<6-2-1.順次処理装置において上流側の基板が排除される場合>
図5はこの場合における同時処理基板データD0(k)に該当する。図11はこの場合において最初に生成される順次処理基板データJ1(k)の一例を概略的に示す図である。図12はこの場合において最初に生成される順次処理基板データJ2(k)の一例を概略的に示す図である。「最初に生成される」とは基板W1(k),W2(k)が基板導入部31に位置したときに生成されることを指す。
<6-2-1. When the upstream board is eliminated in the sequential processing device>
FIG. 5 corresponds to the simultaneous processing board data D0 (k) in this case. FIG. 11 is a diagram schematically showing an example of the sequential processing board data J1 (k) first generated in this case. FIG. 12 is a diagram schematically showing an example of sequential processing board data J2 (k) first generated in this case. “First generated” means that the substrates W1 (k) and W2 (k) are generated when they are located at the substrate introduction unit 31.

図14は順次処理装置30の基板搬送の事例を概略的に示す側面図である。図14においても、図2で示された順次処理装置30の構成から、液や気体を供給する構成および液を回収する構成の描画が省略されている。 FIG. 14 is a side view schematically showing an example of substrate transfer of the sequential processing device 30. Also in FIG. 14, from the configuration of the sequential processing apparatus 30 shown in FIG. 2, the drawing of the configuration for supplying the liquid or gas and the configuration for recovering the liquid is omitted.

図14に示された状態は、図13に示された状態では存在していた基板W1(1)が、水切り部36において処理を受けている際に排除された態様を示す。排除される前の基板W1(1)の位置は仮想的に一点鎖線で示される。 The state shown in FIG. 14 shows an aspect in which the substrate W1 (1), which was present in the state shown in FIG. 13, was eliminated when being processed by the draining portion 36. The position of the substrate W1 (1) before being excluded is virtually indicated by a long-dotted line.

かかる排除は、例えば水切り部36において基板W1(1)が破損したり、ローラ321からの基板W(1)の落下を含む処理の不良が生じたりしたとき、操作者によって行われる。 Such exclusion is performed by the operator when, for example, the substrate W1 (1) is damaged in the draining portion 36, or a processing defect including dropping of the substrate W (1) from the roller 321 occurs.

かかる排除を行った操作者は制御部60を操作し、順次処理基板データJ1(1)を制御部60に削除させる。制御部60は順次処理基板データJ1(1)を削除する際、その最終情報Dd1の内容を確認する。順次処理基板データJ1(1)の最終情報Dd1が「END」であるが基板W1(1)が排除されたので、制御部60は、基板W1(1)よりも下流であって同じグループに属する基板W2(1)に対応する順次処理基板データJ2(1)を再度生成する。ここにいう再度の生成には、順次処理基板データJ2(1)へと最終情報Dd1として「END」が伝達されることも含む。具体的には順次処理基板データJ2(1)のグループ識別情報Da1、位置情報Db1、レシピ情報Dc1が維持され、最終情報Dd1に「END」が採用される。このような再度の順次処理基板データJ2(1)の生成は、順次処理基板データJ2(1)の更新であるともいえる。 The operator who has performed such exclusion operates the control unit 60 and causes the control unit 60 to sequentially delete the processing board data J1 (1). When the control unit 60 deletes the sequential processing board data J1 (1), the control unit 60 confirms the content of the final information Dd1. Since the final information Dd1 of the sequential processing board data J1 (1) is "END" but the board W1 (1) is excluded, the control unit 60 is downstream from the board W1 (1) and belongs to the same group. The sequential processing board data J2 (1) corresponding to the board W2 (1) is generated again. The re-generation referred to here includes the transmission of "END" as the final information Dd1 to the sequential processing board data J2 (1). Specifically, the group identification information Da1, the position information Db1, and the recipe information Dc1 of the sequential processing board data J2 (1) are maintained, and "END" is adopted as the final information Dd1. It can be said that such generation of the sequential processing board data J2 (1) again is an update of the sequential processing board data J2 (1).

順次処理基板データJ1(1)が削除される前には、順次処理基板データJ1(1)は図11においてk=1の場合に相当する。更新される前の順次処理基板データJ2(1)は図12においてk=1の場合に相当する。図15は更新された後の順次処理基板データJ2(k)を示す。更新された後の順次処理基板データJ2(1)は図15においてk=1の場合に相当し、最終情報Dd1に「END」が採用される。図15に示された構成は図12に示された構成に対して最終情報Dd1に「END」が採用される点のみ相違する。 Before the sequential processing board data J1 (1) is deleted, the sequential processing board data J1 (1) corresponds to the case of k = 1 in FIG. The sequential processing board data J2 (1) before being updated corresponds to the case of k = 1 in FIG. FIG. 15 shows the sequential processing board data J2 (k) after being updated. The updated sequential processing board data J2 (1) corresponds to the case of k = 1 in FIG. 15, and “END” is adopted as the final information Dd1. The configuration shown in FIG. 15 differs from the configuration shown in FIG. 12 only in that "END" is adopted for the final information Dd1.

最終情報Dd1に「END」が採用された順次処理基板データJ2(1)に対応する基板W2(1)がセンサ335によって検出されたことを契機として、同時処理基板データD0(1)が生成される。基板W2(1)は基板導出部33から払い出される。 Simultaneous processing board data D0 (1) is generated when the sensor 335 detects the board W2 (1) corresponding to the sequential processing board data J2 (1) in which "END" is adopted as the final information Dd1. To. The substrate W2 (1) is dispensed from the substrate lead-out unit 33.

同時処理基板データD0(1)は、削除された順次処理基板データJ1(1)を用いずに順次処理基板データJ2(1)を用いて生成される。 The simultaneous processing board data D0 (1) is generated by using the sequential processing board data J2 (1) without using the deleted sequential processing board data J1 (1).

同時処理基板データD0(1)におけるグループ識別情報Da1には、順次処理基板データJ2(1)におけるグループ識別情報Da1が採用される。これにより下流にある同時処理装置40においても基板Wのグループ分けが維持され、グループごとに基板Wの搬送および処理が管理される。 As the group identification information Da1 in the simultaneous processing board data D0 (1), the group identification information Da1 in the sequential processing board data J2 (1) is adopted. As a result, the grouping of the substrate W is maintained even in the simultaneous processing apparatus 40 located downstream, and the transport and processing of the substrate W are managed for each group.

同時処理基板データD0(1)におけるレシピ情報Dc1には、順次処理基板データJ2(1)におけるレシピ情報Dc1が採用される。レシピ情報Dc1は、基板W1(1)の有無によらず基板W2(1)に行われるべき処理およびその処理における処理条件を示す情報だからである。 The recipe information Dc1 in the sequential processing board data J2 (1) is adopted as the recipe information Dc1 in the simultaneous processing board data D0 (1). This is because the recipe information Dc1 is information indicating the processing to be performed on the substrate W2 (1) regardless of the presence or absence of the substrate W1 (1) and the processing conditions in the processing.

同時処理基板データD0(1)において基板番号W1および基板番号W1に対する位置情報Db1は採用されない。同時処理基板データD0(1)において基板番号W2に対する位置情報Db1には、順次処理基板データJ2(1)における位置情報Db1が採用される。同時処理基板データD0(k)において最終情報Dd1は不要である。 In the simultaneous processing board data D0 (1), the position information Db1 with respect to the board number W1 and the board number W1 is not adopted. In the simultaneous processing board data D0 (1), the position information Db1 in the sequential processing board data J2 (1) is adopted as the position information Db1 with respect to the board number W2. The final information Dd1 is unnecessary in the simultaneous processing board data D0 (k).

このようにして、グループごとに対応する同時処理基板データD0(k)に基づいて同時処理装置40による処理が行われ、基板Wの排除があっても、順次処理装置30の上流と下流においてグループ分けが維持され、グループごとに基板Wの搬送および処理が管理される。 In this way, processing is performed by the simultaneous processing device 40 based on the simultaneous processing board data D0 (k) corresponding to each group, and even if the board W is eliminated, the groups are sequentially upstream and downstream of the processing device 30. The division is maintained, and the transfer and processing of the substrate W are managed for each group.

例えば、最終情報Dd1に「END」が採用されて更新された順次処理基板データJ2(1)が得られ、基板W2(1)がセンサ335によって検出されたことを契機として、アラームが例えば表示部67によって発報される。かかる発報は基板Wが除去され、グループを構成する基板の枚数が正常ではない状況であることを表し、基板処理装置1の操作者への注意喚起に寄与する。 For example, when "END" is adopted as the final information Dd1 and updated sequential processing board data J2 (1) is obtained and the board W2 (1) is detected by the sensor 335, an alarm is set, for example, a display unit. Issued by 67. Such an alarm indicates that the substrate W is removed and the number of substrates constituting the group is not normal, which contributes to alerting the operator of the substrate processing apparatus 1.

<6-2-2.順次処理装置において上流側の基板の有無が確認される場合>
この項で説明される手法では最終情報Dd1の値は不問であって、順次処理基板データJ1(k),J2(k)のいずれもが最終情報Dd1を含まなくてもよい。
<6-2-2. When the presence or absence of the board on the upstream side is confirmed in the sequential processing device>
In the method described in this section, the value of the final information Dd1 does not matter, and neither of the sequential processing board data J1 (k) and J2 (k) may include the final information Dd1.

順次処理装置において上流側の基板の有無が確認される場合の第1の例として、<6-2-1>において説明されたように、基板W1(1)が順次処理装置30において搬送され、処理を受けている途中において、操作者によって排除される場合が挙げられる。第2の例として、基板導入部31へと基板Wが搬送された時点において既に上流側の基板W1(k)が存在せず、同時処理基板データD0(k)においても基板番号W1が存在していなかった場合が挙げられる。以下の説明においては、第1の例としても第2の例としても、基板W1(1)が存在せず基板W2(1)が存在する場合が例示される。 As a first example in which the presence or absence of the substrate on the upstream side is confirmed in the sequential processing apparatus, the substrate W1 (1) is conveyed in the sequential processing apparatus 30 as described in <6-2-1>. In the middle of receiving the process, it may be excluded by the operator. As a second example, the board W1 (k) on the upstream side does not already exist at the time when the board W is transported to the board introduction unit 31, and the board number W1 also exists in the simultaneous processing board data D0 (k). There are cases where it was not. In the following description, in both the first example and the second example, the case where the substrate W1 (1) does not exist and the substrate W2 (1) exists is exemplified.

図16は順次処理装置30の基板搬送の事例を概略的に示す側面図である。図16においても、図2で示された順次処理装置30の構成から、液や気体を供給する構成および液を回収する構成の描画が省略されている。 FIG. 16 is a side view schematically showing an example of substrate transfer of the sequential processing device 30. Also in FIG. 16, from the configuration of the sequential processing apparatus 30 shown in FIG. 2, the drawing of the configuration for supplying the liquid or gas and the configuration for recovering the liquid is omitted.

第1の例においては、<6-2-1>において説明されたように、制御部60は順次処理基板データJ1(1)を削除する。順次処理基板データJ2(1)は図12においてk=1とした構造を維持してもよいし、図15においてk=1とした構造へと更新されてもよい。 In the first example, as described in <6-2-1>, the control unit 60 sequentially deletes the processing board data J1 (1). The sequential processing board data J2 (1) may maintain the structure in which k = 1 in FIG. 12, or may be updated to the structure in which k = 1 in FIG.

第2の例であって、同時処理基板データD0(1)が図9においてk=1とした構造を有するとき、制御部60は順次処理基板データJ1(1)を生成せずに、順次処理基板データJ2(1)を生成する。順次処理基板データJ2(1)は、図15においてk=1とした構造を有してもよいし、図12においてk=1とした構造を有してもよい。順次処理基板データJ2(1)は最終情報Dd1を含まなくてもよい。 In the second example, when the simultaneous processing board data D0 (1) has a structure in which k = 1 in FIG. 9, the control unit 60 sequentially processes the processing board data J1 (1) without generating it. The board data J2 (1) is generated. The sequential processing board data J2 (1) may have a structure in which k = 1 in FIG. 15 or a structure in which k = 1 in FIG. The sequential processing board data J2 (1) does not have to include the final information Dd1.

第1の例であっても、第2の例であっても、順次処理基板データJ1(1)は存在せず、センサ334によって基板W1(1)が検出されず、基板W1(1)の欠如が確認される。かかる確認と、センサ335によって基板W2(1)が検出されたことを契機として、順次処理基板データJ2(1)を用いて同時処理基板データD0(1)が生成される。基板W2(1)は基板導出部33から払い出される。 In both the first example and the second example, the sequential processing board data J1 (1) does not exist, the board W1 (1) is not detected by the sensor 334, and the board W1 (1) The lack is confirmed. With this confirmation and the detection of the substrate W2 (1) by the sensor 335, the simultaneous processing substrate data D0 (1) is generated using the sequential processing substrate data J2 (1). The substrate W2 (1) is dispensed from the substrate lead-out unit 33.

例えば制御部60は、センサ335が基板W2を検出したときに、基板W2の順次処理基板データのグループ識別情報Da1と、当該基板W2よりも一つ上流側の基板Wの順次処理基板データのグループ識別情報Da1とを比較する。順次処理基板データが搬送順に並んでいることは、隣接して搬送される二つの基板Wについてのそれぞれの順次処理基板データが制御部60によって特定されることを容易にする。これら二つのグループ識別情報Da1が互いに異なっている場合には、当該基板W2と同じグループに属する基板W1が欠如している。この場合に制御部60は、上述の例では、順次処理基板データJ2(1)を用いて同時処理基板データD0(1)を生成する。センサ334による基板Wの検出を待たずに、基板W2(1)が基板導出部33から払い出される。 For example, when the sensor 335 detects the substrate W2, the control unit 60 has a group of the group identification information Da1 of the sequential processing board data of the substrate W2 and a group of the sequential processing board data of the substrate W on the upstream side of the substrate W2. Compare with the identification information Da1. The fact that the sequentially processed board data are arranged in the order of transfer makes it easy for the control unit 60 to specify the respective sequentially processed board data for the two boards W to be transferred adjacent to each other. When these two group identification information Da1 are different from each other, the substrate W1 belonging to the same group as the substrate W2 is missing. In this case, in the above example, the control unit 60 generates the simultaneous processing board data D0 (1) using the sequential processing board data J2 (1). The substrate W2 (1) is discharged from the substrate lead-out unit 33 without waiting for the detection of the substrate W by the sensor 334.

同時処理基板データD0(1)は、(削除された、あるいは生成されなかった)順次処理基板データJ1(1)を用いずに順次処理基板データJ2(1)を用いて生成される。 The simultaneous processing board data D0 (1) is generated using the sequential processing board data J2 (1) without using the sequential processing board data J1 (1) (deleted or not generated).

同時処理基板データD0(1)におけるグループ識別情報Da1には、順次処理基板データJ2(1)におけるグループ識別情報Da1が採用される。これにより下流にある同時処理装置40においても基板Wのグループ分けが維持され、グループごとに基板Wの搬送および処理が管理される。 As the group identification information Da1 in the simultaneous processing board data D0 (1), the group identification information Da1 in the sequential processing board data J2 (1) is adopted. As a result, the grouping of the substrate W is maintained even in the simultaneous processing apparatus 40 located downstream, and the transport and processing of the substrate W are managed for each group.

同時処理基板データD0(1)におけるレシピ情報Dc1には、順次処理基板データJ2(1)におけるレシピ情報Dc1が採用される。 The recipe information Dc1 in the sequential processing board data J2 (1) is adopted as the recipe information Dc1 in the simultaneous processing board data D0 (1).

同時処理基板データD0(1)において基板番号W1および基板番号W1に対する位置情報Db1は採用されない。同時処理基板データD0(1)において基板番号W2に対する位置情報Db1には、順次処理基板データJ2(1)における位置情報Db1が採用される。同時処理基板データD0(k)において最終情報Dd1は不要である。 In the simultaneous processing board data D0 (1), the position information Db1 with respect to the board number W1 and the board number W1 is not adopted. In the simultaneous processing board data D0 (1), the position information Db1 in the sequential processing board data J2 (1) is adopted as the position information Db1 with respect to the board number W2. The final information Dd1 is unnecessary in the simultaneous processing board data D0 (k).

このようにして、グループごとに対応する同時処理基板データD0(k)に基づいて同時処理装置40による処理が行われ、基板Wの排除があっても、順次処理装置30の上流と下流においてグループ分けが維持され、グループごとに基板Wの搬送および処理が管理される。 In this way, processing is performed by the simultaneous processing device 40 based on the simultaneous processing board data D0 (k) corresponding to each group, and even if the board W is eliminated, the groups are sequentially upstream and downstream of the processing device 30. The division is maintained, and the transfer and processing of the substrate W are managed for each group.

例えば、順次処理基板データJ1(1)がなく、センサ334によって基板W1(1)が検出されることなく、センサ335によって基板W2(1)が検出されたことを契機として、アラームが例えば表示部67によって発報される。かかる発報は基板Wが除去され、グループを構成する基板の枚数が正常ではない状況であることを表し、基板処理装置1の操作者への注意喚起に寄与する。 For example, when there is no sequential processing board data J1 (1), the board W1 (1) is not detected by the sensor 334, and the board W2 (1) is detected by the sensor 335, an alarm is set, for example, a display unit. Issued by 67. Such an alarm indicates that the substrate W is removed and the number of substrates constituting the group is not normal, which contributes to alerting the operator of the substrate processing apparatus 1.

<6-2-3.順次処理装置において下流側の基板が欠如する場合>
この項で説明される手法では最終情報Dd1の値は不問であって、順次処理基板データJ1(k),J2(k)のいずれもが最終情報Dd1を含まなくてもよい。
<6-2-3. When the downstream board is missing in the sequential processing device>
In the method described in this section, the value of the final information Dd1 does not matter, and neither of the sequential processing board data J1 (k) and J2 (k) may include the final information Dd1.

順次処理装置において下流側の基板の有無が確認される場合の第1の例として、基板W2(k)が順次処理装置30において搬送され、処理を受けている途中において、操作者によって排除される場合が挙げられる。また第2の例として、基板導入部31へと基板Wが搬送された時点において既に下流側の基板W2(k)が存在せず、同時処理基板データD0(k)においても基板番号W2が存在していなかった場合が挙げられる。以下の説明においては、第1の例としても第2の例としても、基板W2(1)が存在せず基板W1(1)が存在する場合が例示される。 As a first example of the case where the presence or absence of the substrate on the downstream side is confirmed in the sequential processing apparatus, the substrate W2 (k) is conveyed in the sequential processing apparatus 30 and is eliminated by the operator while being processed. There are cases. Further, as a second example, the substrate W2 (k) on the downstream side does not already exist at the time when the substrate W is conveyed to the substrate introduction unit 31, and the substrate number W2 also exists in the simultaneous processing substrate data D0 (k). There are cases where it was not done. In the following description, in both the first example and the second example, the case where the substrate W2 (1) does not exist and the substrate W1 (1) exists is exemplified.

図17は順次処理装置30の基板搬送の事例を概略的に示す側面図である。図17においても、図2で示された順次処理装置30の構成から、液や気体を供給する構成および液を回収する構成の描画が省略されている。 FIG. 17 is a side view schematically showing an example of substrate transfer of the sequential processing device 30. Also in FIG. 17, from the configuration of the sequential processing apparatus 30 shown in FIG. 2, the drawing of the configuration for supplying the liquid or gas and the configuration for recovering the liquid is omitted.

第1の例では制御部60は順次処理基板データJ2(1)を削除する。第2の例であって、同時処理基板データD0(1)が図8においてk=1とした構造を有するとき、制御部60は順次処理基板データJ2(1)を生成せずに、順次処理基板データJ1(1)を生成する。順次処理基板データJ1(1)には図11においてk=1とした構造が採用される。但し順次処理基板データJ1(1)は最終情報Dd1を含まなくてもよい。 In the first example, the control unit 60 sequentially deletes the processing board data J2 (1). In the second example, when the simultaneous processing board data D0 (1) has a structure in which k = 1 in FIG. 8, the control unit 60 sequentially processes the processing board data J2 (1) without generating it. The board data J1 (1) is generated. The structure in which k = 1 is adopted in FIG. 11 for the sequential processing board data J1 (1). However, the sequential processing board data J1 (1) does not have to include the final information Dd1.

第1の例であっても、第2の例であっても、順次処理基板データJ2(1)が存在せず、順次処理基板データJ1(1)は生成される。センサ335によって基板W2(1)が検出されることなく、センサ334によって基板W1(1)が検出されたことを契機として、同時処理基板データD0(1)が生成される。基板W1(1)は基板導出部33から払い出される。 In both the first example and the second example, the sequential processing board data J2 (1) does not exist, and the sequential processing board data J1 (1) is generated. Simultaneous processing board data D0 (1) is generated when the board W1 (1) is detected by the sensor 334 without the board W2 (1) being detected by the sensor 335. The substrate W1 (1) is dispensed from the substrate lead-out unit 33.

同時処理基板データD0(1)は、(削除された、あるいは生成されなかった)順次処理基板データJ2(1)を用いずに順次処理基板データJ1(1)を用いて生成される。 The simultaneous processing board data D0 (1) is generated using the sequential processing board data J1 (1) without using the sequential processing board data J2 (1) (deleted or not generated).

同時処理基板データD0(1)におけるグループ識別情報Da1には、順次処理基板データJ1(1)におけるグループ識別情報Da1が採用される。これにより下流にある同時処理装置40においても基板Wのグループ分けが維持され、グループごとに基板Wの搬送および処理が管理される。 As the group identification information Da1 in the simultaneous processing board data D0 (1), the group identification information Da1 in the sequential processing board data J1 (1) is adopted. As a result, the grouping of the substrate W is maintained even in the simultaneous processing apparatus 40 located downstream, and the transport and processing of the substrate W are managed for each group.

同時処理基板データD0(1)におけるレシピ情報Dc1には、順次処理基板データJ1(1)におけるレシピ情報Dc1が採用される。 The recipe information Dc1 in the sequential processing board data J1 (1) is adopted as the recipe information Dc1 in the simultaneous processing board data D0 (1).

同時処理基板データD0(1)において基板番号W2および基板番号W2に対する位置情報Db1は採用されない。同時処理基板データD0(1)において基板番号W1に対する位置情報Db1には、順次処理基板データJ1(1)における位置情報Db1が採用される。同時処理基板データD0(k)において最終情報Dd1は不要である。 In the simultaneous processing board data D0 (1), the position information Db1 with respect to the board number W2 and the board number W2 is not adopted. In the simultaneous processing board data D0 (1), the position information Db1 in the sequential processing board data J1 (1) is adopted as the position information Db1 with respect to the board number W1. The final information Dd1 is unnecessary in the simultaneous processing board data D0 (k).

このようにして、グループごとに対応する同時処理基板データD0(k)に基づいて同時処理装置40による処理が行われ、基板Wの排除があっても、順次処理装置30の上流と下流においてグループ分けが維持され、グループごとに基板Wの搬送および処理が管理される。 In this way, processing is performed by the simultaneous processing device 40 based on the simultaneous processing board data D0 (k) corresponding to each group, and even if the board W is eliminated, the groups are sequentially upstream and downstream of the processing device 30. The division is maintained, and the transfer and processing of the substrate W are managed for each group.

例えば、順次処理基板データJ2(1)がなく、センサ335によって基板W2(1)が検出されることなく、センサ334によって基板W1(1)が検出されたことを契機として、アラームが例えば表示部67によって発報される。かかる発報は基板Wが除去され、グループを構成する基板の枚数が正常ではない状況であることを表し、基板処理装置1の操作者への注意喚起に寄与する。 For example, when there is no sequential processing board data J2 (1), the board W2 (1) is not detected by the sensor 335, and the board W1 (1) is detected by the sensor 334, an alarm is set, for example, a display unit. Issued by 67. Such an alarm indicates that the substrate W is removed and the number of substrates constituting the group is not normal, which contributes to alerting the operator of the substrate processing apparatus 1.

<6-2-4.同時処理基板データにおいて基板の欠如が現れていない場合>
基板導入部31へと基板Wが搬送された時点において、上流側の基板W1(k)が存在していなかった場合について<6-2-2>における第2の例と同じ対応で処理される。当該説明における同時処理基板データD0(1)は、図9においてk=1とした構造を有していた。
<6-2-4. When the lack of the board does not appear in the simultaneous processing board data>
When the substrate W is transported to the substrate introduction unit 31, the case where the upstream substrate W1 (k) does not exist is processed in the same manner as the second example in <6--2-2>. .. The simultaneous processing board data D0 (1) in the above description has a structure in which k = 1 in FIG.

基板導入部31へと基板Wが搬送された時点において、下流側の基板W2(k)が存在していなかった場合について<6-2-3>における第2の例と同じ対応で処理される。当該説明における同時処理基板データD0(1)は、図8においてk=1とした構造を有していた。 When the substrate W is transported to the substrate introduction unit 31, the case where the downstream substrate W2 (k) does not exist is processed in the same manner as the second example in <6-2-3>. .. The simultaneous processing board data D0 (1) in the above description has a structure in which k = 1 in FIG.

これらの第2の例においては、同時処理基板データD0(1)に基板の欠如が現れている場合が説明された。かかる場合の例として、例えばカセット10において基板の欠如が判明しているとき、搬送ロボット81によって基板の欠如が検出されるときが挙げられる。 In these second examples, the case where the lack of the substrate appears in the simultaneous processing substrate data D0 (1) was described. An example of such a case is, for example, when the lack of a substrate is found in the cassette 10, and the lack of the substrate is detected by the transfer robot 81.

しかしながら、同時処理基板データD0(k)に基板の欠如が現れていない場合も想定される。例えば、同時処理基板データD0(k)が図5に示された構成を有しながらも、センサ314によって基板W1(k)が検出されることなくセンサ315によって基板W2(k)が検出された場合(以下「第3の例」と称される)が想定される。あるいは例えば、同時処理基板データD0(k)が図5に示された構成を有しながらも、センサ314によって基板W1(k)が検出されながらもセンサ315によって基板W2(k)が検出されない場合(以下「第4の例」と称される)も想定される。 However, it is assumed that the lack of the substrate does not appear in the simultaneous processing substrate data D0 (k). For example, although the simultaneous processing board data D0 (k) has the configuration shown in FIG. 5, the board W2 (k) is detected by the sensor 315 without the board W1 (k) being detected by the sensor 314. A case (hereinafter referred to as "third example") is assumed. Alternatively, for example, when the simultaneous processing board data D0 (k) has the configuration shown in FIG. 5, but the board W1 (k) is detected by the sensor 314 but the board W2 (k) is not detected by the sensor 315. (Hereinafter referred to as "fourth example") is also assumed.

図18および図19は、いずれも順次処理装置30の基板搬送の事例を概略的に示す側面図である。図18は第3の例を示し、図19は第4の例を示す。図18および図19においても、図2で示された順次処理装置30の構成から、液や気体を供給する構成および液を回収する構成の描画が省略されている。 18 and 19 are side views schematically showing an example of substrate transfer of the sequential processing apparatus 30. FIG. 18 shows a third example and FIG. 19 shows a fourth example. Also in FIGS. 18 and 19, the drawing of the configuration for supplying the liquid or gas and the configuration for recovering the liquid is omitted from the configuration of the sequential processing apparatus 30 shown in FIG.

第3の例について、基板導入部31へと第3グループの基板Wが搬送された時点において、センサ314によって基板W1(3)が検出されることなく、センサ315によって基板W2(3)が検出される場合が、図18に例示される。 Regarding the third example, when the substrate W of the third group is conveyed to the substrate introduction unit 31, the substrate W1 (3) is not detected by the sensor 314, but the substrate W2 (3) is detected by the sensor 315. Is illustrated in FIG.

第3の例においては、この時点における同時処理基板データD0(3)は図5においてk=3とした構成を有し、基板W1(3)の欠如が現れていない。制御部60はセンサ314,315の動作の結果から、順次処理基板データJ1(3)を生成せずに、順次処理基板データJ2(3)を生成する。順次処理基板データJ2(3)は、図15においてk=3とした構造を有する。 In the third example, the simultaneous processing board data D0 (3) at this time has a configuration in which k = 3 in FIG. 5, and the lack of the board W1 (3) does not appear. The control unit 60 generates the sequential processing board data J2 (3) from the operation results of the sensors 314 and 315 without generating the sequential processing board data J1 (3). The sequential processing board data J2 (3) has a structure in which k = 3 in FIG.

あるいはこのときには、制御部60は一旦は順次処理基板データJ1(3),J2(3)を生成し、アラームが例えば表示部67によって発報される。アラームを認識した操作者は入力部66を用いて、制御部60に対し、順次処理基板データJ1(3)を削除させ、順次処理基板データJ2(3)を維持する。 Alternatively, at this time, the control unit 60 once sequentially generates the processing board data J1 (3) and J2 (3), and the alarm is issued by, for example, the display unit 67. The operator who recognizes the alarm causes the control unit 60 to delete the sequential processing board data J1 (3) by using the input unit 66, and maintains the sequential processing board data J2 (3).

第4の例について、基板導入部31へと第3グループの基板Wが搬送された時点において、センサ315によって基板W2(3)が検出されることなく、センサ314によって基板W1(3)が検出される場合が、図19に例示される。 Regarding the fourth example, when the substrate W of the third group is conveyed to the substrate introduction unit 31, the substrate W1 (3) is detected by the sensor 314 without being detected by the sensor 315. Is illustrated in FIG.

第4の例においては、この時点における同時処理基板データD0(3)は図5においてk=3とした構成を有し、基板W2(3)の欠如が現れていない。制御部60はセンサ314,315の動作の結果から、順次処理基板データJ2(3)を生成せずに、順次処理基板データJ1(3)を生成する。順次処理基板データJ1(3)は、図11においてk=3とした構造を有する。 In the fourth example, the simultaneous processing board data D0 (3) at this time has a configuration in which k = 3 in FIG. 5, and the lack of the board W2 (3) does not appear. The control unit 60 generates the sequential processing board data J1 (3) from the operation results of the sensors 314 and 315 without generating the sequential processing board data J2 (3). The sequential processing board data J1 (3) has a structure in which k = 3 in FIG.

あるいはこのときには、制御部60は一旦は順次処理基板データJ1(3),J2(3)を生成し、アラームが例えば表示部67によって発報される。アラームを認識した操作者は入力部66を用いて、制御部60に対し、順次処理基板データJ2(3)を削除させ、順次処理基板データJ1(3)を維持する。 Alternatively, at this time, the control unit 60 once sequentially generates the processing board data J1 (3) and J2 (3), and the alarm is issued by, for example, the display unit 67. The operator who recognizes the alarm causes the control unit 60 to delete the sequential processing board data J2 (3) by using the input unit 66, and maintains the sequential processing board data J1 (3).

<7.全体的な処理の説明>
図20は本実施の形態における同時処理装置40および順次処理装置30における動作の流れを例示するフローチャートである。当該フローチャートでは順次処理装置30における処理に主眼がおかれる。
<7. Explanation of the overall process>
FIG. 20 is a flowchart illustrating the flow of operations in the simultaneous processing device 40 and the sequential processing device 30 in the present embodiment. In the flowchart, the main focus is on the processing in the sequential processing device 30.

ステップS1において、順次処理装置30(例えば洗浄装置12)は、その上流側における同時処理装置40(例えばインデクサ部11)から搬送された基板Wを、順次処理装置30の入口部(例えば基板導入部31)において受け取る。 In step S1, the sequential processing device 30 (for example, the cleaning device 12) transfers the substrate W conveyed from the simultaneous processing device 40 (for example, the indexer section 11) on the upstream side thereof to the inlet portion (for example, the substrate introduction section) of the sequential processing device 30. Receive at 31).

ステップS2において同時処理装置40において用いられていた同時処理基板データD0(k)を、制御部60が受け取る。同時処理基板データD0(k)は同時処理装置40またはさらに上流側の装置から送信されてもよい。例えば同時処理基板データD0(k)はインデクサ部11またはインデクサ部11よりも上流側の装置から送信される。例えばカセット10から基板Wが取り出される際に、同時処理基板データD0(k)が得られてもよい。 The control unit 60 receives the simultaneous processing board data D0 (k) used in the simultaneous processing device 40 in step S2. The simultaneous processing board data D0 (k) may be transmitted from the simultaneous processing device 40 or a device on the upstream side. For example, the simultaneous processing board data D0 (k) is transmitted from the indexer unit 11 or a device upstream of the indexer unit 11. For example, when the substrate W is taken out from the cassette 10, the simultaneous processing substrate data D0 (k) may be obtained.

同時処理基板データD0(k)は必ずしも上流側の装置から送信される必要はなく、操作者が入力部66を用いて同時処理基板データD0(k)を入力してもよい。ステップS1,S2が実行される順序は入れ替わってもよい。例えば基板Wをグループに分けずに処理される制御から、基板Wをグループに分けて処理する制御へと変更されるときに同時処理基板データD0(k)が得られてもよい。 The simultaneous processing board data D0 (k) does not necessarily have to be transmitted from the device on the upstream side, and the operator may input the simultaneous processing board data D0 (k) using the input unit 66. The order in which steps S1 and S2 are executed may be changed. For example, the simultaneous processing board data D0 (k) may be obtained when the control in which the substrate W is processed without being divided into groups is changed to the control in which the substrate W is processed in groups.

ステップS3において、制御部60は同時処理基板データD0(k)に基づいて順次処理基板データJ1(k)および順次処理基板データJ2(k)のいずれか一方または両方を生成する。図20以降の図において「and/or」とは、その前後における構成要素のいずれか一方または両方を意味する。 In step S3, the control unit 60 generates one or both of the sequential processing board data J1 (k) and the sequential processing board data J2 (k) based on the simultaneous processing board data D0 (k). In the figures after FIG. 20, “and / or” means one or both of the components before and after the component.

例えば<6-1>において説明された場合には順次処理基板データJ1(k),J2(k)の両方が生成される。 For example, in the case described in <6-1>, both the sequential processing board data J1 (k) and J2 (k) are generated.

例えば<6-2-1>、<6-2-2>の第1の例において説明された場合には、後のステップS4において順次処理基板データJ1(k)が削除されるものの、順次処理基板データJ1(k),J2(k)の両方が一旦は生成される。 For example, in the case described in the first example of <6-2-1> and <6--2-2>, although the sequential processing board data J1 (k) is deleted in the subsequent step S4, the sequential processing is performed. Both the board data J1 (k) and J2 (k) are once generated.

例えば<6-2-3>の第1の例において説明された場合には、後のステップS4において順次処理基板データJ2(k)が削除されるものの、順次処理基板データJ1(k),J2(k)の両方が一旦は生成される。 For example, in the case described in the first example of <6-2-3>, although the sequential processing board data J2 (k) is deleted in the later step S4, the sequential processing board data J1 (k), J2 Both of (k) are once generated.

例えば<6-2-2>の第2の例、<6-2-4>の第3の例において説明された場合には順次処理基板データJ2(k)のみが生成される。例えば<6-2-3>の第2の例、<6-2-4>の第4の例において説明された場合には順次処理基板データJ1(k)のみが生成される。 For example, in the case described in the second example of <6--2-2> and the third example of <6-2-4>, only the sequential processing board data J2 (k) is generated. For example, in the case described in the second example of <6-2-3> and the fourth example of <6-2-4>, only the sequential processing board data J1 (k) is generated.

ステップS4において順次処理装置30において、順次処理基板データJ1(k)および順次処理基板データJ2(k)のいずれか一方を用いた順次処理が行われる。例えば<6-1>において説明された場合には順次処理基板データJ1(k),J2(k)の両方が用いられて順次処理が行われる。 In step S4, the sequential processing apparatus 30 performs sequential processing using either the sequential processing board data J1 (k) or the sequential processing board data J2 (k). For example, in the case described in <6-1>, the sequential processing is performed using both the sequential processing board data J1 (k) and J2 (k).

例えば<6-2-1>、<6-2-2>の第1の例において説明された場合には、順次処理基板データJ1(k),J2(k)の両方が用いられて順次処理が行われた後、順次処理基板データJ2(k)のみが用いられて順次処理が行われる。具体的にはステップS3が実行された後に、基板W1(1)が排除されて存在しなくなり、基板W2(1)が存在する。そして基板番号W2についての最終情報Dd1に「END」が採用されて、順次処理基板データJ2(1)のみが残る(図15参照)。 For example, in the case described in the first example of <6-2-1> and <6--2-2>, both the sequential processing board data J1 (k) and J2 (k) are used for sequential processing. After that, the sequential processing is performed using only the sequential processing board data J2 (k). Specifically, after step S3 is executed, the substrate W1 (1) is eliminated and does not exist, and the substrate W2 (1) exists. Then, "END" is adopted as the final information Dd1 about the substrate number W2, and only the sequentially processed substrate data J2 (1) remains (see FIG. 15).

例えば<6-2-3>の第1の例において説明された場合には、順次処理基板データJ1(k),J2(k)の両方が用いられて順次処理が行われた後、順次処理基板データJ1(k)のみが用いられて順次処理が行われる。具体的にはステップS3が実行された後に、基板W2(1)が排除されて存在しなくなり、基板W1(1)が存在する。そして基板番号W1についての最終情報Dd1に「END」が採用されたまま、順次処理基板データJ1(1)のみが残る(図11参照)。 For example, in the case described in the first example of <6-2-3>, the sequential processing is performed using both the sequential processing board data J1 (k) and J2 (k), and then the sequential processing is performed. Only the board data J1 (k) is used and the sequential processing is performed. Specifically, after step S3 is executed, the substrate W2 (1) is eliminated and does not exist, and the substrate W1 (1) exists. Then, while "END" is adopted as the final information Dd1 about the substrate number W1, only the sequentially processed substrate data J1 (1) remains (see FIG. 11).

例えば<6-2-2>の第2の例、<6-2-4>の第3の例において説明された場合には順次処理基板データJ2(k)のみが用いられて順次処理が行われる。 For example, in the case described in the second example of <6--2-2> and the third example of <6-2-4>, only the sequential processing board data J2 (k) is used and the sequential processing is performed. Will be.

例えば<6-2-3>の第2の例、<6-2-4>の第4の例において説明された場合には順次処理基板データJ1(k)のみが用いられて順次処理が行われる。 For example, in the case described in the second example of <6-2-3> and the fourth example of <6-2-4>, only the sequential processing board data J1 (k) is used and the sequential processing is performed. Will be.

ステップS5において、制御部60は順次処理基板データJ1(k),J2(k)のいずれか一方または両方に基づいて同時処理基板データD0(k)を生成する。例えば<6-1>において説明された場合には順次処理基板データJ1(k),J2(k)の両方に基づいて同時処理基板データD0(k)が生成される。 In step S5, the control unit 60 generates simultaneous processing board data D0 (k) based on one or both of the sequential processing board data J1 (k) and J2 (k). For example, in the case described in <6-1>, the simultaneous processing board data D0 (k) is generated based on both the sequential processing board data J1 (k) and J2 (k).

例えば<6-2-1>、<6-2-2>の第1の例および第2の例、<6-2-4>の第3の例において説明された場合には、順次処理基板データJ2(k)のみに基づいて同時処理基板データD0(k)が生成される。 For example, in the cases described in the first example and the second example of <6-2-1>, <6--2-2>, and the third example of <6--2-4>, the processing substrate is sequentially processed. Simultaneous processing board data D0 (k) is generated based only on the data J2 (k).

例えば<6-2-3>の第1の例および第2の例、<6-2-4>の第4の例において説明された場合には順次処理基板データJ1(k)のみに基づいて同時処理基板データD0(k)が生成される。 For example, in the case described in the first example and the second example of <6-2-3> and the fourth example of <6-2-4>, it is based only on the sequential processing board data J1 (k). Simultaneous processing board data D0 (k) is generated.

基板Wは順次処理装置30の出口部(例えば基板導出部33)において同時処理装置40へ払い出される。 The substrate W is dispensed to the simultaneous processing apparatus 40 at the outlet portion (for example, the substrate lead-out portion 33) of the sequential processing apparatus 30.

ステップS6において、同時処理基板データD0(k)を用いた同時処理が同時処理装置40(例えば脱水ベーク装置13)において行われる。 In step S6, simultaneous processing using the simultaneous processing board data D0 (k) is performed in the simultaneous processing device 40 (for example, the dehydration baking device 13).

図21はステップS3の詳細を例示するフローチャートである。ステップS3はステップS301~S305を有する。 FIG. 21 is a flowchart illustrating the details of step S3. Step S3 has steps S301 to S305.

ステップS301において、同時処理基板データD0(k)に基板番号W1,W2の全てが有るか否かが判断される。当該判断の結果が肯定的となる場合は、ステップS302へ処理が進み、否定的となる場合にはステップS305へ処理が進む。 In step S301, it is determined whether or not all of the board numbers W1 and W2 are present in the simultaneous processing board data D0 (k). If the result of the determination is positive, the process proceeds to step S302, and if the result is negative, the process proceeds to step S305.

例えば<6-1>、<6-2-1>、<6-2-2>の第1の例、<6-2-3>の第1の例、<6-2-4>の第3の例および第4の例において説明された場合には、ステップS301における判断の結果は肯定的となって、処理がステップS302へ進む。例えば<6-2-2>の第2の例、<6-2-3>の第2の例において説明された場合には、ステップS301における判断の結果は否定的となって、処理がステップS305へ進む。 For example, the first example of <6-1>, <6-2-1>, <6--2-2>, the first example of <6-2-3>, the first example of <6-2-4>. In the case described in the third example and the fourth example, the result of the determination in step S301 becomes affirmative, and the process proceeds to step S302. For example, in the case of the second example of <6--2-2> and the second example of <6-2-3>, the result of the determination in step S301 is negative, and the process is stepped. Proceed to S305.

ステップS302においては、入口部において基板W1(k),W2(k)の全てが検知されたか否かが判断される。当該判断の結果が肯定的となる場合は、ステップS303へ処理が進み、否定的となる場合にはステップS304へ処理が進む。 In step S302, it is determined whether or not all of the substrates W1 (k) and W2 (k) are detected at the inlet portion. If the result of the determination is positive, the process proceeds to step S303, and if the result is negative, the process proceeds to step S304.

例えば<6-1>、<6-2-1>、<6-2-2>の第1の例、<6-2-3>の第1の例において説明された場合には、ステップS302における判断の結果は肯定的となって、処理がステップS303へ進む。例えば<6-2-4>の第3の例および第4の例において説明された場合には、ステップS302における判断の結果は否定的となって、処理がステップS304へ進む。 For example, in the case described in the first example of <6-1>, <6-2-1>, <6--2-2>, and the first example of <6-2-3>, step S302. The result of the determination in is positive, and the process proceeds to step S303. For example, in the case described in the third example and the fourth example of <6-2-4>, the result of the determination in step S302 becomes negative, and the process proceeds to step S304.

ステップS303においては同時処理基板データD0(k)の分離が行われる。ここで「分離」とはグループ識別情報Da1、位置情報Db1、レシピ情報Dc1を、基板番号W1,W2ごとに(別々に)得ることを指す。例えばステップS303における処理によって、図8に示された構造を有する同時処理基板データD0(k)と同じ構造を有するデータと、図9に示された構造を有する同時処理基板データD0(k)と同じ構造を有するデータとが、図5に示された構造を有する同時処理基板データD0(k)から得られる。 In step S303, the simultaneous processing board data D0 (k) is separated. Here, "separation" means that the group identification information Da1, the position information Db1, and the recipe information Dc1 are obtained (separately) for each of the substrate numbers W1 and W2. For example, by the processing in step S303, the data having the same structure as the simultaneous processing board data D0 (k) having the structure shown in FIG. 8 and the simultaneous processing board data D0 (k) having the structure shown in FIG. 9 The data having the same structure is obtained from the simultaneous processing board data D0 (k) having the structure shown in FIG.

ステップS304においては、入口部において検知されない基板に対応する、基板番号および位置情報Db1の削除が行われる。例えば<6-2-4>の第3の例において説明された場合には、ステップS304における処理によって、同時処理基板データD0(k)が有する構造は、図5に示された構造から図9に示された構造へ変更される。例えば<6-2-4>の第4の例において説明された場合には、ステップS304における処理によって、同時処理基板データD0(k)が有する構造は、図5に示された構造から図8に示された構造へ変更される。 In step S304, the board number and the position information Db1 corresponding to the board not detected at the inlet portion are deleted. For example, in the case described in the third example of <6-2-4>, the structure of the simultaneous processing board data D0 (k) by the processing in step S304 is changed from the structure shown in FIG. 5 to FIG. The structure is changed to the one shown in. For example, in the case described in the fourth example of <6-2-4>, the structure of the simultaneous processing board data D0 (k) by the processing in step S304 is changed from the structure shown in FIG. 5 to FIG. The structure is changed to the one shown in.

ステップS303が実行された後であっても、ステップS304が実行された後であっても、ステップS301における判断において否定的な結果が得られた場合と同様に、ステップS305が実行される。 Whether after step S303 has been executed or after step S304 has been executed, step S305 is executed as if a negative result was obtained in the determination in step S301.

ステップS305においては、順次処理基板データJ1(k),J2(k)のいずれか一方または両方が生成される。存在する基板番号のうち、最上流(これは最後尾でもある)の基板番号についての最終情報Dd1に「END」が採用される。 In step S305, one or both of the sequential processing board data J1 (k) and J2 (k) are generated. Among the existing substrate numbers, "END" is adopted as the final information Dd1 about the most upstream (which is also the last) substrate number.

例えば<6-1>、<6-2-1>、<6-2-2>の第1の例、<6-2-3>の第1の例において説明された場合には、ステップS303が実行された後に、基板W1(k)、基板W2(k)のいずれもが存在し、基板番号W1についての最終情報Dd1に「END」が採用されて、順次処理基板データJ1(k),J2(k)の両方が生成される(図11、図12参照)。 For example, in the case described in the first example of <6-1>, <6-2-1>, <6--2-2>, and the first example of <6-2-3>, step S303. Is executed, both the substrate W1 (k) and the substrate W2 (k) are present, and "END" is adopted as the final information Dd1 about the substrate number W1, and the sequentially processed substrate data J1 (k), Both J2 (k) are generated (see FIGS. 11 and 12).

但し、上述のように、<6-2-2>の第1の例、<6-2-3>の第1の例において説明された場合には、最終情報Dd1の値は不問であって、最終情報Dd1の追加が省略されてもよい。 However, as described above, in the case described in the first example of <6-2-2> and the first example of <6-2-3>, the value of the final information Dd1 is irrelevant. , The addition of the final information Dd1 may be omitted.

例えば<6-2-4>の第3の例において説明された場合には、ステップS304の実行により同時処理基板データD0(3)において基板番号W1が存在せず基板番号W2が存在する。ステップS305においては、基板番号W2についての最終情報Dd1に「END」が採用されて、順次処理基板データJ2(3)のみが生成される(図15参照)。 For example, in the case described in the third example of <6-2-4>, the substrate number W1 does not exist and the substrate number W2 exists in the simultaneous processing board data D0 (3) by executing step S304. In step S305, "END" is adopted as the final information Dd1 for the substrate number W2, and only the sequential processing substrate data J2 (3) is generated (see FIG. 15).

例えば<6-2-4>の第4の例において説明された場合には、ステップS304の実行により同時処理基板データD0(3)において基板番号W2が存在せず基板番号W1が存在する。ステップS305においては、基板番号W1についての最終情報Dd1に「END」が採用されたまま、順次処理基板データJ1(3)のみが生成される(図11参照)。 For example, in the case described in the fourth example of <6-2-4>, the substrate number W2 does not exist but the substrate number W1 exists in the simultaneous processing board data D0 (3) by executing step S304. In step S305, only the sequential processing board data J1 (3) is generated while "END" is adopted as the final information Dd1 for the board number W1 (see FIG. 11).

例えば<6-2-2>の第2の例において説明された場合には、同時処理基板データD0(1)において基板番号W1は存在せず、基板番号W2が存在する。ステップS305においては、基板番号W2についての最終情報Dd1に「END」が採用されて、順次処理基板データJ2(3)のみが生成される(図15参照)。 For example, in the case described in the second example of <6--2-2>, the substrate number W1 does not exist in the simultaneous processing substrate data D0 (1), but the substrate number W2 exists. In step S305, "END" is adopted as the final information Dd1 for the substrate number W2, and only the sequential processing substrate data J2 (3) is generated (see FIG. 15).

例えば<6-2-3>の第2の例において説明された場合には、同時処理基板データD0(1)において基板番号W2は存在せず、基板番号W1が存在する。ステップS305においては、基板番号W1についての最終情報Dd1に「END」が採用されて、順次処理基板データJ1(3)のみが生成される(図11参照)。 For example, in the case described in the second example of <6-2-3>, the substrate number W2 does not exist in the simultaneous processing substrate data D0 (1), but the substrate number W1 exists. In step S305, "END" is adopted as the final information Dd1 about the substrate number W1, and only the sequential processing board data J1 (3) is generated (see FIG. 11).

図22はステップS5の詳細を例示するフローチャートである。ステップS5はステップS501~S509を有する。図23はステップS509の詳細を例示するフローチャートである。 FIG. 22 is a flowchart illustrating the details of step S5. Step S5 includes steps S501 to S509. FIG. 23 is a flowchart illustrating the details of step S509.

ステップS4において順次処理装置30において、順次処理基板データJ1(k)および順次処理基板データJ2(k)のいずれか一方を用いた順次処理が行われた後、ステップS501が実行される。 In step S4, the sequential processing apparatus 30 performs sequential processing using either the sequential processing board data J1 (k) or the sequential processing board data J2 (k), and then step S501 is executed.

ステップS501においては、順次処理装置30の出口部に基板W2(k)が到着したか否かが判断される。当該判断の結果が肯定的であれば処理はステップS502に進む。当該判断の結果が否定的であれば処理はステップS509に進む。 In step S501, it is determined whether or not the substrate W2 (k) has arrived at the outlet portion of the sequential processing apparatus 30. If the result of the determination is positive, the process proceeds to step S502. If the result of the determination is negative, the process proceeds to step S509.

例えば<6-1>、<6-2-1>、<6-2-2>の第1の例および第2の例、<6-2-4>の第3の例において説明された場合には、ステップS501における判断の結果は肯定的となって、処理がステップS502へ進む。例えば<6-2-3>の第1の例および第2の例、<6-2-4>の第4の例において説明された場合には、ステップS501における判断の結果は否定的となって、処理がステップS509へ進む。 For example, when described in the first example and the second example of <6-1>, <6-2-1>, <6--2-2>, and the third example of <6--2-4>. The result of the determination in step S501 becomes affirmative, and the process proceeds to step S502. For example, when described in the first and second examples of <6-2-3> and the fourth example of <6-2-4>, the result of the determination in step S501 is negative. Then, the process proceeds to step S509.

ステップS502においては順次処理基板データJ2(k)の最終情報Dd1に「END」が有るか否か(「END」が採用されているか否か)が判断される。当該判断の結果が肯定的であれば処理はステップS507に進む。当該判断の結果が否定的であれば処理はステップS503に進む。 In step S502, it is determined whether or not "END" is present in the final information Dd1 of the sequential processing board data J2 (k) (whether or not "END" is adopted). If the result of the determination is positive, the process proceeds to step S507. If the result of the determination is negative, the process proceeds to step S503.

例えば<6-2-1>、<6-2-2>の第1の例、<6-2-2>の第2の例(順次処理基板データJ2(k)が図15に示される構造を有するとき)において説明された場合には、ステップS305の実行によって順次処理基板データJ2(k)の最終情報Dd1に「END」が採用され、ステップS502における判断の結果は肯定的となって、処理がステップS507へ進む。例えば<6-1>、<6-2-2>の第2の例(順次処理基板データJ2(k)が図12に示される構造を有するとき)、<6-2-4>の第3の例において説明された場合には、ステップS502における判断の結果は否定的となって、処理がステップS503へ進む。 For example, the first example of <6-2-1>, <6--2-2>, and the second example of <6--2-2> (the structure in which the sequential processing board data J2 (k) is shown in FIG. 15). When described in), "END" is adopted as the final information Dd1 of the sequential processing board data J2 (k) by executing step S305, and the result of the determination in step S502 becomes positive. The process proceeds to step S507. For example, the second example of <6-1> and <6--2-2> (when the sequential processing board data J2 (k) has the structure shown in FIG. 12), the third of <6-2-4>. In the case described in the above example, the result of the determination in step S502 becomes negative, and the process proceeds to step S503.

ステップS503においては、基板W2(k)の上流側に基板W1(k)(これは基板W2(k)と同じ第kのグループに属する)が存在するか否かが判断される。当該判断の結果が肯定的であれば処理はステップS504に進む。当該判断の結果が否定的であれば処理はステップS507に進む。 In step S503, it is determined whether or not the substrate W1 (k) (which belongs to the same k-th group as the substrate W2 (k)) exists on the upstream side of the substrate W2 (k). If the result of the determination is positive, the process proceeds to step S504. If the result of the determination is negative, the process proceeds to step S507.

例えば<6-1>において説明された場合には、ステップS503における判断の結果は肯定的となって、処理がステップS504へ進む。例えば、<6-2-2>の第2の例(順次処理基板データJ2(k)が図12に示される構造を有するとき)、<6-2-4>の第3の例において説明された場合には、ステップS503における判断の結果は否定的となって、処理がステップS507へと進む。 For example, in the case described in <6-1>, the result of the determination in step S503 becomes affirmative, and the process proceeds to step S504. For example, it will be described in the second example of <6--2-2> (when the sequential processing board data J2 (k) has the structure shown in FIG. 12) and the third example of <6-2-4>. If so, the result of the determination in step S503 becomes negative, and the process proceeds to step S507.

上記の処理の流れから、<6-2-2>の第2の例において説明された場合は、順次処理基板データJ2(k)が図12に示された構造を有するか図15に示された構造を有するかに拘わらず、ステップS507が実行される。 From the above processing flow, in the case described in the second example of <6-2-2>, it is shown in FIG. 15 whether the sequential processing board data J2 (k) has the structure shown in FIG. Step S507 is performed regardless of the structure.

ステップS504において、順次処理装置30の出口部に基板W1(k)が到着したか否かが判断される。当該判断の結果が否定的であればステップS504が繰り返し実行され、他の処理が待機される。ステップS504における判断の結果が肯定的であれば処理がステップS505へ進む。 In step S504, it is determined whether or not the substrate W1 (k) has arrived at the outlet portion of the sequential processing apparatus 30. If the result of the determination is negative, step S504 is repeatedly executed, and another process is awaited. If the result of the determination in step S504 is affirmative, the process proceeds to step S505.

ステップS504の実行はステップS503における肯定的な判断が前提であるので、ステップS504において処理が停止することはない。 Since the execution of step S504 is premised on the positive judgment in step S503, the process does not stop in step S504.

ステップS505において、順次処理基板データJ1(k),J2(k)を結合して同時処理基板データD0(k)が生成される。ここで「結合」とは基板番号W1に対応するデータとして順次処理基板データJ1(k)が有していたデータを採用し、基板番号W2に対応するデータとして順次処理基板データJ2(k)が有していたデータを採用して同時処理基板データD0(k)が生成されることを指す。 In step S505, the simultaneous processing board data D0 (k) is generated by combining the sequential processing board data J1 (k) and J2 (k). Here, "coupling" adopts the data possessed by the sequential processing board data J1 (k) as the data corresponding to the board number W1, and the sequential processing board data J2 (k) is used as the data corresponding to the board number W2. It means that the simultaneous processing board data D0 (k) is generated by adopting the possessed data.

上述のように同じグループにおいてはグループ識別情報Da1、レシピ情報Dc1は共通する。同時処理基板データD0(k)においては基板番号W1,W2に共通するデータとして用いられる。 As described above, the group identification information Da1 and the recipe information Dc1 are common in the same group. In the simultaneous processing board data D0 (k), it is used as data common to the board numbers W1 and W2.

ステップS505が実行された後、ステップS506が実行される。ステップS506においては基板W1(k),W2(k)が同時処理装置40へ払い出される。 After step S505 is executed, step S506 is executed. In step S506, the substrates W1 (k) and W2 (k) are dispensed to the simultaneous processing device 40.

ステップS507においては、順次処理基板データJ2(k)から最終情報Dd1が削除される。最終情報Dd1が削除された順次処理基板データJ2(k)を用いて同時処理基板データD0(k)が生成される。 In step S507, the final information Dd1 is deleted from the sequential processing board data J2 (k). Simultaneous processing board data D0 (k) is generated using the sequential processing board data J2 (k) from which the final information Dd1 is deleted.

例えばステップS502において肯定的な判断がされた、<6-2-1>、<6-2-2>の第1の例、<6-2-2>の第2の例(順次処理基板データJ2(k)が図15に示される構造を有するとき)において説明された場合には、ステップS305の実行によって順次処理基板データJ2(k)の最終情報Dd1に「END」が採用された。かかる最終情報Dd1によって基板W1(k)が存在しないことが示唆され、同時処理基板データD0(k)の生成には順次処理基板データJ1(k)は用いられない。 For example, the first example of <6-2-1>, <6--2-2>, and the second example of <6--2-2> (sequential processing board data) for which a positive judgment was made in step S502. When J2 (k) has the structure shown in FIG. 15), "END" is adopted as the final information Dd1 of the sequential processing board data J2 (k) by executing step S305. The final information Dd1 suggests that the substrate W1 (k) does not exist, and the sequential processing board data J1 (k) is not used to generate the simultaneous processing board data D0 (k).

例えばステップS503において否定的な判断がされた、<6-2-2>の第2の例(順次処理基板データJ2(k)が図12に示される構造を有するとき)、<6-2-4>の第3の例において説明された場合には、順次処理基板データJ1(k)が生成されていなかった。これらの場合にも同時処理基板データD0(k)の生成には順次処理基板データJ1(k)は用いられない。 For example, the second example of <6--2-2> (when the sequential processing board data J2 (k) has the structure shown in FIG. 12), <6--2-, which was negatively determined in step S503). In the case described in the third example of 4>, the sequential processing board data J1 (k) was not generated. Even in these cases, the sequential processing board data J1 (k) is not used to generate the simultaneous processing board data D0 (k).

ステップS507が実行された後、ステップS508が実行される。ステップS508においては基板W2(k)のみが同時処理装置40へ払い出される。 After step S507 is executed, step S508 is executed. In step S508, only the substrate W2 (k) is dispensed to the simultaneous processing device 40.

ステップS506,S508が実行された後、処理はステップS6(図20参照)に進む。 After the steps S506 and S508 are executed, the process proceeds to step S6 (see FIG. 20).

ステップS509はステップS511~S513を含む(図23参照)。ステップS501における判断が否定的であったとき、ステップS511が実行される。ステップD511においては順次処理装置30の出口部(基板導出部33)に基板W1(k)が到着したか否かが判断される。当該判断の結果が肯定的であったときステップS512へ処理が進む。 Step S509 includes steps S511 to S513 (see FIG. 23). When the determination in step S501 is negative, step S511 is executed. In step D511, it is determined whether or not the substrate W1 (k) has arrived at the outlet portion (board lead-out portion 33) of the sequential processing apparatus 30. When the result of the determination is positive, the process proceeds to step S512.

当該判断の結果が否定的であったときステップS5における処理は終了し(図22参照)、ステップS6へ処理が進む(図20参照)。但し、ステップS511における判断が否定的であったとき、既にステップS501における判断によって基板W2(k)が到着していないので、順次処理装置30の出口部から払い出される基板W1(k),W2(k)の全てが存在しない。よってステップS511における判断が否定的であったとき、第kグループに関するステップS6は、実質的には実行されない。 When the result of the determination is negative, the process in step S5 ends (see FIG. 22), and the process proceeds to step S6 (see FIG. 20). However, when the determination in step S511 is negative, the substrate W2 (k) has not already arrived due to the determination in step S501, so that the substrates W1 (k) and W2 (k), W2 ( All of k) do not exist. Therefore, when the judgment in step S511 is negative, step S6 regarding the k-th group is not substantially executed.

ステップS512において制御部60は、順次処理基板データJ2(k)を用いずに、順次処理基板データJ1(k)から最終情報Dd1を削除して、同時処理基板データD0(k)を生成する。例えば<6-2-3>の第1の例においては順次処理基板データJ2(k)はステップS4において削除される。例えば<6-2-3>の第2の例、<6-2-4>の第4の例においては、順次処理基板データJ2(k)は生成されない。 In step S512, the control unit 60 deletes the final information Dd1 from the sequential processing board data J1 (k) without using the sequential processing board data J2 (k), and generates the simultaneous processing board data D0 (k). For example, in the first example of <6-2-3>, the sequential processing board data J2 (k) is deleted in step S4. For example, in the second example of <6-2-3> and the fourth example of <6-2-4>, the sequential processing board data J2 (k) is not generated.

ステップS512によって同時処理基板データD0(k)が生成された後、ステップS513が実行される。ステップS513において基板W1(k)のみが同時処理装置40へ払い出される。 After the simultaneous processing board data D0 (k) is generated by step S512, step S513 is executed. In step S513, only the substrate W1 (k) is dispensed to the simultaneous processing device 40.

ステップS513が実行されたことによりステップS509は終了し、処理はステップS6へ進む(図20参照)。 Since step S513 is executed, step S509 ends, and the process proceeds to step S6 (see FIG. 20).

<8.一般的な説明>
上記の各項の説明に基づいて、以下に一般的な説明が行われる。
<8. General explanation>
Based on the description of each of the above sections, a general description will be given below.

(i)基板処理装置1は、基板Wに対して処理を行う順次処理装置30と、基板Wを同時に処理する同時処理装置40と、制御部60とを備える。例えば基板処理装置1は順次処理装置30として洗浄装置12を備える。例えば基板処理装置1は同時処理装置40としてインデクサ部11と脱水ベーク装置13とを備える。 (i) The substrate processing apparatus 1 includes a sequential processing apparatus 30 that processes the substrate W, a simultaneous processing apparatus 40 that simultaneously processes the substrate W, and a control unit 60. For example, the substrate processing device 1 includes a cleaning device 12 as a sequential processing device 30. For example, the substrate processing device 1 includes an indexer unit 11 and a dehydration baking device 13 as a simultaneous processing device 40.

基板Wは複数のグループに分けられる。第kのグループには基板W1(k),…WN(k)が属する。記号Nは正整数を示す。例えばN=2として説明されたが、N≧3であってもよい。 The substrate W is divided into a plurality of groups. The substrate W1 (k), ... WN (k) belong to the kth group. The symbol N indicates a positive integer. For example, although it was explained as N = 2, N ≧ 3 may be used.

順次処理装置30は順次処理基板データJ1(k),…JN(k)に基づいて、基板Wを順次に搬送しつつ、基板Wに対して処理を行う。順次処理基板データJ1(k),…JN(k)は、それぞれ基板W1(k),…WN(k)に対して設定される。 The sequential processing apparatus 30 processes the substrate W while sequentially transporting the substrate W based on the sequential processing board data J1 (k), ... JN (k). The sequential processing board data J1 (k) and ... JN (k) are set for the boards W1 (k) and ... WN (k), respectively.

同時処理装置40は、同時処理基板データD0(k)に基づいて、グループごとに基板W1(k),…WN(k)を同時に処理する。同時処理基板データD0(k)は第kのグループに対応して設定される。 The simultaneous processing apparatus 40 simultaneously processes the substrates W1 (k), ... WN (k) for each group based on the simultaneous processing board data D0 (k). The simultaneous processing board data D0 (k) is set corresponding to the kth group.

制御部60は、第kのグループに属する基板W1(k),…WN(k)ごとに設定される順次処理基板データJ1(k),…JN(k)に基づいて、順次処理装置30における基板W1(k),…WN(k)に対する搬送および処理を制御する。 The control unit 60 in the sequential processing apparatus 30 is based on the sequential processing board data J1 (k), ... JN (k) set for each of the substrates W1 (k), ... WN (k) belonging to the kth group. Controls transport and processing for the substrates W1 (k), ... WN (k).

制御部60は、同時処理基板データD0(k)に基づいて、同時処理装置40における基板W1(k),…WN(k)に対する基板への処理を制御する。 The control unit 60 controls the processing of the substrates W1 (k), ... WN (k) in the simultaneous processing apparatus 40 on the substrate based on the simultaneous processing board data D0 (k).

同時処理基板データD0(k)は、グループ識別情報Da1と、基板番号W1,W2と、位置情報Db1と、レシピ情報Dc1とを含む。グループ識別情報Da1は、グループを識別する。具体的には基板W1(k),…WN(k)が第kのグループに属することがグループ識別情報Da1によって示される。基板番号W1,…WNは、同じグループに属する基板Wを互いに区別する。位置情報Db1は、同じグループにおける基板Wの搬送位置を示す。レシピ情報Dc1は、同じグループに属する基板Wに共通してなされる処理内容を規定する。 The simultaneous processing board data D0 (k) includes the group identification information Da1, the board numbers W1 and W2, the position information Db1, and the recipe information Dc1. The group identification information Da1 identifies the group. Specifically, the group identification information Da1 indicates that the substrates W1 (k), ... WN (k) belong to the kth group. The substrate numbers W1, ... WN distinguish the substrates W belonging to the same group from each other. The position information Db1 indicates the transport position of the substrate W in the same group. The recipe information Dc1 defines the processing content commonly performed on the substrate W belonging to the same group.

順次処理基板データJ1(k),…JN(k)は、それぞれに対応する基板W1(k),…WN(k)についての位置情報Db1と、グループ識別情報Da1と、レシピ情報Dc1とを含む。 The sequential processing board data J1 (k), ... JN (k) includes position information Db1 for the corresponding boards W1 (k), ... WN (k), group identification information Da1, and recipe information Dc1. ..

制御部60は、同時処理基板データD0(k)から順次処理基板データJ1(k),…JN(k)を生成する(図20のステップS3参照)。制御部60は、順次処理基板データJ1(k),…JN(k)から同時処理基板データD0(k)を生成する(図20のステップS5参照)。 The control unit 60 sequentially generates the processing board data J1 (k), ... JN (k) from the simultaneous processing board data D0 (k) (see step S3 in FIG. 20). The control unit 60 generates simultaneous processing board data D0 (k) from the sequential processing board data J1 (k), ... JN (k) (see step S5 in FIG. 20).

順次処理基板データJ1(k),…JN(k)のいずれのグループ識別情報Da1にも、同時処理基板データD0(k)に含まれていたグループ識別情報Da1が採用される。これにより順次処理装置30においても基板Wのグループ分けが維持され、グループごとに基板Wの搬送および処理が管理される。 The group identification information Da1 included in the simultaneous processing board data D0 (k) is adopted for any of the group identification information Da1 of the sequential processing board data J1 (k) and ... JN (k). As a result, the grouping of the substrate W is maintained also in the sequential processing apparatus 30, and the transport and processing of the substrate W are managed for each group.

(ii)例えば制御部60は、同時処理基板データD0(k)における基板番号W1と、基板番号W1に対応する位置情報Db1と、レシピ情報Dc1と、最終情報Dd1とを用いて、基板番号W1に対応する基板W1(k)についての順次処理基板データJ1(k)を生成する(図11参照)。同時処理基板データD0(k)における基板番号Wmと、基板番号Wmに対応する位置情報Db1と、レシピ情報Dc1と、最終情報Dd1とを用いて、基板番号Wmに対応する基板Wm(k)についての順次処理基板データJm(k)を生成する(mは2以上N以下の整数であって、図12参照)。 (ii) For example, the control unit 60 uses the board number W1 in the simultaneous processing board data D0 (k), the position information Db1 corresponding to the board number W1, the recipe information Dc1, and the final information Dd1 to use the board number W1. The sequential processing board data J1 (k) for the board W1 (k) corresponding to the above is generated (see FIG. 11). About the substrate Wm (k) corresponding to the substrate number Wm by using the substrate number Wm in the simultaneous processing substrate data D0 (k), the position information Db1 corresponding to the substrate number Wm, the recipe information Dc1 and the final information Dd1. Sequentially processed board data Jm (k) is generated (m is an integer of 2 or more and N or less, see FIG. 12).

当該最終情報Dd1は、基板番号W1に対応する基板W1(k)が属する第kのグループにおいて、基板W1(k)が搬送方向についての最後尾(最上流)であるか否かを示す。例えば<6-2-1>において説明された場合には、一旦は、図11に示された構成を有する順次処理基板データJ1(k)が生成される(図21のステップS305参照)。その後、順次処理基板データJ1(k)が削除され、順次処理基板データJm(k)のうち、搬送方向についての最後尾(最上流)となる順次処理基板データJ2(k)の最終情報Dd1が基板W2(k)が搬送方向についての最後尾(最上流)であることを示す(図15参照)。 The final information Dd1 indicates whether or not the substrate W1 (k) is the last (most upstream) in the transport direction in the kth group to which the substrate W1 (k) corresponding to the substrate number W1 belongs. For example, in the case described in <6-2-1>, the sequential processing board data J1 (k) having the configuration shown in FIG. 11 is once generated (see step S305 in FIG. 21). After that, the sequential processing board data J1 (k) is deleted, and among the sequential processing board data Jm (k), the final information Dd1 of the sequential processing board data J2 (k) which is the last (most upstream) in the transport direction is obtained. It is shown that the substrate W2 (k) is the last (most upstream) in the transport direction (see FIG. 15).

これにより順次処理装置30においても、グループ識別情報Da1によらなくても基板Wのグループ分けが維持され、グループごとに基板Wの搬送および処理が管理される。 As a result, even in the sequential processing apparatus 30, the grouping of the substrate W is maintained without relying on the group identification information Da1, and the transport and processing of the substrate W are managed for each group.

(iii)例えば制御部60は、同時処理基板データD0(k)における基板番号Wnと、基板番号Wnに対応する位置情報Db1と、レシピ情報Dc1と、グループ識別情報Da1とを用いて、基板番号Wnに対応する基板Wn(k)についての順次処理基板データJn(k)を生成する。これにより順次処理装置30においても、最終情報Dd1によらなくても基板Wのグループ分けが維持され、グループごとに基板Wの搬送および処理が管理される。この場合において最終情報Dd1を用いて基板Wのグループ分けが維持されてもよい。 (iii) For example, the control unit 60 uses the board number Wn in the simultaneous processing board data D0 (k), the position information Db1 corresponding to the board number Wn, the recipe information Dc1, and the group identification information Da1. The sequential processing board data Jn (k) for the board Wn (k) corresponding to Wn is generated. As a result, even in the sequential processing apparatus 30, the grouping of the substrate W is maintained without relying on the final information Dd1, and the transport and processing of the substrate W are managed for each group. In this case, the grouping of the substrate W may be maintained by using the final information Dd1.

(iv)例えば順次処理装置30は、同時処理装置40へ基板Wを払い出す出口部たる基板導出部33を含む。順次処理装置30として洗浄装置12を考えると、同時処理装置40として脱水ベーク装置13が考えられる。 (iv) For example, the sequential processing apparatus 30 includes a substrate lead-out unit 33 which is an outlet portion for discharging the substrate W to the simultaneous processing apparatus 40. Considering the cleaning device 12 as the sequential processing device 30, the dehydration baking device 13 can be considered as the simultaneous processing device 40.

基板導出部33は、基板導出部33における基板Wの存否を検出するセンサ334,335を有する。出口部におけるセンサによって基板W1(k)が検出されることなく基板Wm(k)が検出され(図22のステップS503からステップS507への流れを参照)、かつ基板W1(k)の欠如が確認されたとき(図22のステップS503からステップS507への流れを参照)、制御部60は基板W1(k)についての順次処理基板データJ1(k)を用いずに、基板Wm(k)についての順次処理基板データJm(k)を用いて同時処理基板データD0(k)を生成する(図22のステップS507参照)。 The board lead-out unit 33 has sensors 334 and 335 for detecting the presence / absence of the board W in the board lead-out unit 33. The substrate Wm (k) is detected without the substrate W1 (k) being detected by the sensor at the outlet (see the flow from step S503 to step S507 in FIG. 22), and the lack of the substrate W1 (k) is confirmed. When this is done (see the flow from step S503 to step S507 in FIG. 22), the control unit 60 is about the substrate Wm (k) without using the sequential processing substrate data J1 (k) for the substrate W1 (k). Simultaneous processing board data D0 (k) is generated using the sequential processing board data Jm (k) (see step S507 in FIG. 22).

例えば、基板W1(k),…Ws(k)が(s=m-1)、基板Wm(k),…WN(k)よりも上流に配置され、基板W1(k),…Wm(k)はいずれも第kのグループに属している場合を想定する。 For example, the substrates W1 (k), ... Ws (k) are arranged upstream of the substrates Wm (k), ... WN (k), and the substrates W1 (k), ... Wm (k). ) Suppose that they all belong to the kth group.

例えば、基板W1(k),…Ws(k)が検出されることなく基板Wm(k),…WN(k)が検出されたときに、ステップS507において制御部60が順次処理基板データJ1(k),…Js(k)を用いずに、順次処理基板データJm(k),…WN(k)を用いて同時処理基板データD0(k)を生成する。 For example, when the substrate Wm (k), ... WN (k) is detected without detecting the substrate W1 (k), ... Ws (k), the control unit 60 sequentially processes the substrate data J1 (in step S507). Simultaneous processing board data D0 (k) is generated using sequential processing board data Jm (k), ... WN (k) without using k), ... Js (k).

これにより、実際に払い出される基板Wと対応した同時処理基板データD0(k)が、同時処理に供される(図22のステップS508参照)。 As a result, the simultaneous processing board data D0 (k) corresponding to the board W actually discharged is subjected to simultaneous processing (see step S508 in FIG. 22).

例えば基板W1(k),…Ws(k)を第1の基板として捉え、基板Wm(k),…WN(k)を第2の基板として捉えることができる。この場合、出口部におけるセンサによって第1の基板が検出されることなく第2の基板が検出され、かつ第1の基板の欠如が確認されたときに、制御部60は第1の基板についての順次処理基板データJ1(k),…Js(k)を用いずに、第2の基板についての順次処理基板データJm(k),…JN(k)を用いて同時処理基板データD0(k)を生成する。 For example, the substrates W1 (k), ... Ws (k) can be regarded as the first substrate, and the substrates Wm (k), ... WN (k) can be regarded as the second substrate. In this case, when the second board is detected without the first board being detected by the sensor at the outlet and the lack of the first board is confirmed, the control unit 60 describes the first board. Simultaneous processing board data D0 (k) using sequential processing board data Jm (k), ... JN (k) for the second substrate without using sequential processing board data J1 (k), ... Js (k). To generate.

(v)例えば順次処理装置30は、同時処理装置40へ基板Wを払い出す出口部たる基板導出部33を含む。基板導出部33は、基板導出部33における基板Wの存否を検出するセンサ334,335を有する。出口部におけるセンサによって基板W1(k)が、基板Wm(k)が検出されることなく検出されたときに(図23のステップS501からステップS512への処理の流れを参照)、制御部60は基板Wm(k)についての順次処理基板データJm(k)を用いずに、基板W1(k)についての順次処理基板データJ1(k)を用いて同時処理基板データD0(k)を生成する(図23のステップS512参照)。 (v) For example, the sequential processing device 30 includes a board lead-out unit 33 which is an outlet unit for discharging the board W to the simultaneous processing device 40. The board lead-out unit 33 has sensors 334 and 335 for detecting the presence / absence of the board W in the board lead-out unit 33. When the substrate W1 (k) is detected by the sensor at the outlet portion without detecting the substrate Wm (k) (see the process flow from step S501 to step S512 in FIG. 23), the control unit 60 Simultaneous processing board data D0 (k) is generated using the sequential processing board data J1 (k) for the board W1 (k) without using the sequential processing board data Jm (k) for the board Wm (k). See step S512 in FIG. 23).

基板W1(k),Wm(k)はいずれも第kのグループに属する。これらの位置情報Db1は、基板W1(k)が基板Wm(k)よりも上流側(搬送方向についていえば後ろ側)であることを示す。例えば、図11を参照して基板W1(k)は他の基板よりも上流にあることを示す。例えば図12を参照して基板W2(k)は他の基板よりも上流にあることを示す。 The substrates W1 (k) and Wm (k) both belong to the kth group. These position information Db1 indicate that the substrate W1 (k) is on the upstream side (rear side in the transport direction) of the substrate Wm (k). For example, with reference to FIG. 11, it is shown that the substrate W1 (k) is upstream of the other substrates. For example, with reference to FIG. 12, it is shown that the substrate W2 (k) is upstream of the other substrates.

例えば基板Wm(k),…WN(k)が検出されることなく基板W1(k),…Ws(k)が検出されたときに、ステップS512において制御部60が順次処理基板データJm(k),…JN(k)を用いずに、順次処理基板データJ1(k),…Ws(k)を用いて同時処理基板データD0(k)を生成する。 For example, when the substrate W1 (k), ... Ws (k) is detected without detecting the substrate Wm (k), ... WN (k), the control unit 60 sequentially processes the substrate data Jm (k) in step S512. ), ... The simultaneous processing board data D0 (k) is generated using the sequential processing board data J1 (k), ... Ws (k) without using JN (k).

これにより、実際に払い出される基板Wと対応した同時処理基板データD0(k)が、同時処理に供される(図22のステップS513参照)。 As a result, the simultaneous processing board data D0 (k) corresponding to the board W actually discharged is subjected to simultaneous processing (see step S513 in FIG. 22).

例えば基板W1(k),…Ws(k)を第1の基板として捉え、基板Wm(k),…WN(k)を第2の基板として捉えることができる。この場合、出口部におけるセンサによって第1の基板が、第2の基板が検出されることなく検出されたときに、制御部60は第2の基板についての順次処理基板データJm(k),…JN(k)を用いずに、第1の基板についての順次処理基板データJ1(k),…Js(k)を用いて同時処理基板データD0(k)を生成する。 For example, the substrates W1 (k), ... Ws (k) can be regarded as the first substrate, and the substrates Wm (k), ... WN (k) can be regarded as the second substrate. In this case, when the first substrate is detected by the sensor at the outlet portion without detecting the second substrate, the control unit 60 sequentially processes the second substrate data Jm (k), ... Simultaneous processing board data D0 (k) is generated using sequential processing board data J1 (k), ... Js (k) for the first board without using JN (k).

(vi)例えば出口部におけるセンサは複数設けられ、その個数はグループに属する基板Wの個数と一致する。例えばN=2のとき、基板導出部33は、基板導出部33における基板Wの存否を検出するセンサ334,335を有する。このような個数でセンサを設けることは、グループにおける基板Wの存否の的確な検出に寄与する。 (vi) For example, a plurality of sensors are provided at the outlet portion, and the number thereof matches the number of substrates W belonging to the group. For example, when N = 2, the substrate lead-out unit 33 has sensors 334 and 335 for detecting the presence / absence of the substrate W in the substrate lead-out unit 33. Providing such a number of sensors contributes to accurate detection of the presence or absence of the substrate W in the group.

(vii)例えば順次処理装置30は、同時処理装置40から基板Wを受け取る入口部たる基板導入部31を含む。順次処理装置30として洗浄装置12を考えると、同時処理装置40としてインデクサ部11が考えられる。基板導入部31は、基板導入部31における基板Wの存否を検出するセンサ314,315を有する。 (vii) For example, the sequential processing device 30 includes a substrate introduction unit 31 which is an inlet portion for receiving the substrate W from the simultaneous processing device 40. Considering the cleaning device 12 as the sequential processing device 30, the indexer unit 11 can be considered as the simultaneous processing device 40. The substrate introduction unit 31 has sensors 314 and 315 that detect the presence or absence of the substrate W in the substrate introduction unit 31.

入口部におけるセンサによって基板W1(k)が検出されることなく基板W2(k)が検出されたときに(例えば<6-2-4>の第3の例において説明された場合)、制御部60は順次処理基板データJ1(k)を生成せずに、順次処理基板データJ2(k)を生成する(図21のステップS304参照)。 When the substrate W2 (k) is detected without being detected by the sensor at the inlet (for example, as described in the third example of <6-2-4>), the control unit 60 does not generate the sequential processing board data J1 (k), but generates the sequential processing board data J2 (k) (see step S304 in FIG. 21).

入口部におけるセンサによって基板W2(k)が検出されることなく基板W1(k)が検出されたときに(例えば<6-2-4>の第4の例において説明された場合)、制御部60は順次処理基板データJ2(k)を生成せずに、順次処理基板データJ1(k)を生成する(図21のステップS304参照)。 When the substrate W1 (k) is detected without being detected by the sensor at the inlet (for example, as described in the fourth example of <6-2-4>), the control unit 60 does not generate the sequential processing board data J2 (k), but generates the sequential processing board data J1 (k) (see step S304 in FIG. 21).

例えば基板W1(k),…Ws(k)を第3の基板として捉え、基板Wm(k),…WN(k)を第4の基板として捉えることができる。この場合、入口部におけるセンサによって第3の基板が、第4の基板が検出されることなく検出されたときに、ステップS305において制御部60が第4の基板についての順次処理基板データJm(k),…JN(k)を生成せずに、第3の基板についての順次処理基板データJ1(k),…Js(k)を生成する。 For example, the substrates W1 (k), ... Ws (k) can be regarded as the third substrate, and the substrates Wm (k), ... WN (k) can be regarded as the fourth substrate. In this case, when the third substrate is detected by the sensor at the inlet portion without detecting the fourth substrate, the control unit 60 in step S305 sequentially processes the substrate data Jm (k) for the fourth substrate. ), ... The sequential processing board data J1 (k), ... Js (k) for the third substrate is generated without generating JN (k).

入口部におけるセンサによって第4の基板が、第3の基板が検出されることなく検出されたときに、ステップS305において制御部60が第3の基板についての順次処理基板データJ1(k),…Js(k)を生成せずに、第4の基板についての順次処理基板データJm(k),…JN(k)を生成する。 When the fourth board is detected by the sensor at the inlet without detecting the third board, the control unit 60 sequentially processes the third board in step S305. Board data J1 (k), ... The sequential processing board data Jm (k), ... JN (k) for the fourth board is generated without generating Js (k).

また上述の基板処理装置は、下記の基板処理方法を実現するということができる。当該基板処理方法は、順次処理と同時処理とを備える。順次処理は、複数のグループに分けられた基板Wごとに設定される順次処理基板データJn(k)に基づいて、基板W1(k),…WN(k)を順次に搬送しつつ、基板Wn(k)に対して処理を行う。同時処理は、グループごとに設定される同時処理基板データD0(k)に基づいて、グループごとに基板W1(k),…WN(k)を同時に処理する。 Further, it can be said that the above-mentioned substrate processing apparatus realizes the following substrate processing method. The substrate processing method includes sequential processing and simultaneous processing. In the sequential processing, the substrate Wn while sequentially transporting the substrates W1 (k), ... WN (k) based on the sequential processing substrate data Jn (k) set for each substrate W divided into a plurality of groups. Processing is performed for (k). In the simultaneous processing, the substrates W1 (k) and ... WN (k) are simultaneously processed for each group based on the simultaneous processing board data D0 (k) set for each group.

同時処理基板データD0(k)は、グループ識別情報Da1と、基板番号W1,W2と、位置情報Db1と、レシピ情報Dc1とを含む。グループ識別情報Da1は、グループを識別する。具体的には基板W1(k),…WN(k)が第kのグループに属することがグループ識別情報Da1によって示される。基板番号W1,…WNは、同じグループに属する基板Wを互いに区別する。位置情報Db1は、同じグループにおける基板Wの搬送位置を示す。レシピ情報Dc1は、同じグループに属する基板Wに共通してなされる処理内容を規定する。 The simultaneous processing board data D0 (k) includes the group identification information Da1, the board numbers W1 and W2, the position information Db1, and the recipe information Dc1. The group identification information Da1 identifies the group. Specifically, the group identification information Da1 indicates that the substrates W1 (k), ... WN (k) belong to the kth group. The substrate numbers W1, ... WN distinguish the substrates W belonging to the same group from each other. The position information Db1 indicates the transport position of the substrate W in the same group. The recipe information Dc1 defines the processing content commonly performed on the substrate W belonging to the same group.

順次処理基板データJ1(k),…JN(k)は、それぞれに対応する基板W1(k),…WN(k)についての位置情報Db1と、グループ識別情報Da1と、レシピ情報Dc1とを含む。 The sequential processing board data J1 (k), ... JN (k) includes position information Db1 for the corresponding boards W1 (k), ... WN (k), group identification information Da1, and recipe information Dc1. ..

同時処理基板データD0(k)から順次処理基板データJ1(k),…JN(k)が生成され、順次処理基板データJ1(k),…JN(k)から同時処理基板データD0(k)が生成される。 Sequential processing board data J1 (k), ... JN (k) is generated from the simultaneous processing board data D0 (k), and simultaneous processing board data D0 (k) is generated from the sequential processing board data J1 (k), ... JN (k). Is generated.

以上のように、基板処理装置および基板処理方法は詳細に説明されたが、上記した説明は、全ての局面において例示であって、この開示がそれに限定されるものではない。また、上述した各種変形例は、相互に矛盾しない限り組み合わせて適用可能である。そして、例示されていない多数の変形例が、この開示の範囲から外れることなく想定され得るものと解される。 As described above, the substrate processing apparatus and the substrate processing method have been described in detail, but the above description is exemplary in all aspects, and the disclosure is not limited thereto. Further, the various modifications described above can be applied in combination as long as they do not contradict each other. And it is understood that a large number of modifications not exemplified can be assumed without departing from the scope of this disclosure.

31 基板導入部(入口部)
33 基板導出部(出口部)
314,315,334,335:センサ
Da1 グループ識別情報
Db1 位置情報
Dc1 レシピ情報
Dd1 最終情報
k ペア番号
J1(k),J2(k) 順次処理基板データ
D0(k) 同時処理基板データ
W,W1,W2,W1(k),W2(k) 基板
31 Board introduction part (entrance part)
33 Board lead-out part (exit part)
314,315,334,335: Sensor Da1 group identification information Db1 position information Dc1 recipe information Dd1 final information k pair number J1 (k), J2 (k) sequential processing board data D0 (k) simultaneous processing board data W, W1, W2, W1 (k), W2 (k) substrate

Claims (7)

複数のグループに分けられた基板ごとに設定される順次処理基板データに基づいて、前記基板を順次に搬送しつつ、前記基板に対して処理を行う順次処理部と、
前記グループごとに設定される同時処理基板データに基づいて、前記グループごとに前記基板を同時に処理する同時処理部と、
前記順次処理基板データに基づいて前記順次処理部における前記基板に対する搬送および前記処理を制御し、前記同時処理基板データに基づいて前記同時処理部における前記基板への処理を制御する制御部と
を備え、
前記同時処理基板データは、前記グループを識別するグループ識別情報と、前記グループに属する前記基板を互いに区別する基板番号と、前記グループにおける前記基板の搬送方向についての位置たる搬送位置を示す位置情報と、前記グループに属する前記基板に共通してなされる処理内容を規定するためのレシピ情報とを含み、
前記順次処理基板データは、前記順次処理基板データに対応する前記基板についての前記位置情報と、前記グループ識別情報と、前記レシピ情報とを含み、
前記制御部は、前記同時処理基板データから前記順次処理基板データを生成し、前記順次処理基板データから前記同時処理基板データを生成する、基板処理装置。
Sequential processing unit that performs processing on the substrate while sequentially transporting the substrate based on the sequential processing board data set for each substrate divided into a plurality of groups.
A simultaneous processing unit that simultaneously processes the board for each group based on the simultaneous processing board data set for each group.
It is provided with a control unit that controls the transfer to the substrate and the processing in the sequential processing unit based on the sequential processing board data, and controls the processing to the substrate in the simultaneous processing unit based on the simultaneous processing board data. ,
The simultaneous processing board data includes group identification information for identifying the group, a board number for distinguishing the boards belonging to the group from each other, and position information indicating a position of the board in the group in a transport direction. , Includes recipe information for defining the processing content commonly performed on the substrate belonging to the group.
The sequential processing board data includes the position information about the substrate corresponding to the sequential processing board data, the group identification information, and the recipe information.
The control unit is a substrate processing apparatus that generates the sequential processing board data from the simultaneous processing board data and generates the simultaneous processing board data from the sequential processing board data.
前記制御部は、前記同時処理基板データの一の前記基板番号と、前記一の前記基板番号に対応する前記位置情報と、前記レシピ情報と、最終情報とを用いて、前記一の前記基板番号に対応する前記基板についての前記順次処理基板データを生成し、
前記最終情報は、前記一の前記基板番号に対応する前記基板が属する前記グループにおいて、前記一の前記基板番号に対応する前記基板が前記搬送方向についての最後尾であるか否かを示す、請求項1記載の基板処理装置。
The control unit uses the board number of one of the simultaneous processing board data, the position information corresponding to the board number of the one, the recipe information, and the final information, and the board number of the one. Generates the sequential processing board data for the board corresponding to
The final information indicates whether or not the substrate corresponding to the one substrate number is the last in the transport direction in the group to which the substrate corresponding to the one substrate number belongs. Item 1. The substrate processing apparatus according to item 1.
前記制御部は、前記同時処理基板データの一の前記基板番号と、前記一の前記基板番号に対応する前記位置情報と、前記グループ識別情報と、前記レシピ情報とを用いて、前記一の前記基板番号に対応する前記基板についての前記順次処理基板データを生成する、請求項1記載の基板処理装置。 The control unit uses the board number of the simultaneous processing board data, the position information corresponding to the board number of the one, the group identification information, and the recipe information of the one. The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the sequential processing substrate data for the substrate corresponding to the substrate number is generated. 前記順次処理部は、前記同時処理部へ前記基板を払い出す出口部を含み、
前記出口部は、前記出口部における前記基板の存否を検出するセンサを有し、
前記センサによって第1の前記基板が検出されることなく第2の前記基板が検出され、かつ前記第1の前記基板の欠如が確認されたとき、前記制御部は前記第1の前記基板についての前記順次処理基板データを用いずに、前記第2の前記基板についての前記順次処理基板データを用いて前記同時処理基板データを生成し、
前記第1の前記基板と前記第2の前記基板は同じ前記グループに属し、
前記第1の前記基板の前記位置情報または前記第2の前記基板の前記位置情報は、前記第1の前記基板が前記第2の前記基板よりも上流側であることを示す、請求項2または請求項3記載の基板処理装置。
The sequential processing unit includes an outlet unit for discharging the substrate to the simultaneous processing unit.
The outlet portion has a sensor for detecting the presence / absence of the substrate at the outlet portion.
When the second substrate is detected without the sensor detecting the first substrate and the lack of the first substrate is confirmed, the control unit determines the first substrate. Instead of using the sequential processing board data, the simultaneous processing board data is generated using the sequential processing board data for the second substrate.
The first substrate and the second substrate belong to the same group.
The position information of the first substrate or the position information of the second substrate indicates that the first substrate is upstream of the second substrate, claim 2 or. The substrate processing apparatus according to claim 3.
前記順次処理部は、前記同時処理部へ前記基板を払い出す出口部を含み、
前記出口部は、前記出口部における前記基板の存否を検出するセンサを有し、
前記センサによって第1の前記基板が、第2の前記基板が検出されることなく検出されたときに、前記制御部は前記第2の前記基板についての前記順次処理基板データを用いずに、前記第1の前記基板についての前記順次処理基板データを用いて前記同時処理基板データを生成し、
前記第1の前記基板と前記第2の前記基板とは同じグループに属し、
前記第1の前記基板の前記位置情報または前記第2の前記基板の前記位置情報は、前記第1の前記基板が前記第2の前記基板よりも上流側であることを示す、請求項3記載の基板処理装置。
The sequential processing unit includes an outlet unit for discharging the substrate to the simultaneous processing unit.
The outlet portion has a sensor for detecting the presence / absence of the substrate at the outlet portion.
When the first substrate is detected by the sensor without detecting the second substrate, the control unit does not use the sequential processing substrate data for the second substrate, and the control unit does not use the sequential processing substrate data for the second substrate. Using the sequential processing board data for the first board, the simultaneous processing board data is generated.
The first substrate and the second substrate belong to the same group.
3. The third aspect of the present invention, wherein the position information of the first substrate or the position information of the second substrate indicates that the first substrate is on the upstream side of the second substrate. Board processing equipment.
前記順次処理部は、前記同時処理部から前記基板を受け取る入口部を含み、
前記入口部は、前記入口部における前記基板の存否を検出するセンサを有し、
前記入口部における前記センサによって第3の前記基板が検出されることなく、第4の前記基板が検出されたときに、前記制御部は前記第3の前記基板についての前記順次処理基板データを生成せずに、前記第4の前記基板についての前記順次処理基板データを生成し、
前記第3の前記基板と前記第4の前記基板とは同じグループに属する、請求項1から請求項5のいずれか一つに記載の基板処理装置。
The sequential processing unit includes an inlet unit that receives the substrate from the simultaneous processing unit.
The entrance portion has a sensor for detecting the presence / absence of the substrate at the entrance portion.
When the fourth board is detected without the sensor at the inlet detecting the third board, the control unit generates the sequential processing board data for the third board. Instead, generate the sequential processing board data for the fourth board.
The substrate processing apparatus according to any one of claims 1 to 5, wherein the third substrate and the fourth substrate belong to the same group.
複数のグループに分けられた基板ごとに設定される順次処理基板データに基づいて、前記基板を順次に搬送しつつ、前記基板に対して処理を行う順次処理と、
前記グループごとに設定される同時処理基板データに基づいて、前記グループごとに前記基板を同時に処理する同時処理と
を備える基板処理方法であって、
前記順次処理基板データに基づいて前記順次処理における前記基板に対する搬送および前記処理が制御され、
前記同時処理基板データに基づいて前記同時処理における前記基板への処理が制御され、
前記同時処理基板データは、前記グループを識別するグループ識別情報と、前記グループに属する前記基板を互いに区別する基板番号と、前記グループにおける前記基板の搬送方向についての位置たる搬送位置を示す位置情報と、前記グループに属する前記基板に共通してなされる処理内容を規定するためのレシピ情報とを含み、
前記順次処理基板データは、前記順次処理基板データに対応する前記基板についての前記位置情報と、前記グループ識別情報と、前記レシピ情報とを含み、
前記同時処理基板データから前記順次処理基板データが生成され、前記順次処理基板データから前記同時処理基板データが生成される、基板処理方法。
Sequential processing that is set for each board divided into a plurality of groups Sequential processing that performs processing on the board while sequentially transporting the board based on the board data.
A substrate processing method including simultaneous processing of simultaneously processing the substrate for each group based on the simultaneous processing board data set for each group.
The transfer to the substrate and the processing in the sequential processing are controlled based on the sequential processing board data.
The processing to the substrate in the simultaneous processing is controlled based on the simultaneous processing board data.
The simultaneous processing board data includes group identification information for identifying the group, a board number for distinguishing the boards belonging to the group from each other, and position information indicating a position of the board in the group in a transport direction. , Includes recipe information for defining the processing content commonly performed on the substrate belonging to the group.
The sequential processing board data includes the position information about the substrate corresponding to the sequential processing board data, the group identification information, and the recipe information.
A substrate processing method in which the sequential processing board data is generated from the simultaneous processing board data, and the simultaneous processing board data is generated from the sequential processing board data.
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