JP2021511546A - 投影リソグラフィ用の照明光学デバイス - Google Patents

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Abstract

投影リソグラフィ用の照明光学ユニットは、物体視野を照明するために役立つ。照明光学ユニットは、照明光のための入口エリアおよび出口エリア(20)を備えた光学ロッド(19)を有する。光学ロッド(19)は、全内部反射の複数のインスタンスによって、照明光が光学ロッド(19)の側壁で混合され均質化されるように設計されている。少なくとも1つの補正エリアは、物体視野を照明するとき、照明角度分布の視野依存を補正するのに役立つ。補正エリアは、光学ロッド(19)の出口エリア(20)の領域に配置される。これにより、照明光学ユニットが形成され、ここでは、物体視野への法線入射から極端にずれた照明角度の照明角度分布の場合であっても、指定された照明角度分布の不要な視野依存が低減または完全に回避される。【選択図】図2

Description

本特許出願は、その内容が参照により本明細書に組み込まれる独国特許出願第10 2018 201 009.9号の優先権を主張する。
本発明は、投影リソグラフィ用の照明光学ユニットに関する。さらに、本発明は、そのような照明光学ユニットを含む光学システム、そのような光学システムを含む照明システム、およびそのような照明システムを含む投影露光装置に関する。
最初に述べたタイプの照明光学ユニットは、独国特許出願公開第195 20 563号から知られている。さらなる照明光学ユニットは、国際公開第2005/006079号、国際公開第2003/046663号、独国特許出願公開第10 2007 055 443号、米国特許第7,209,218号、米国特許出願公開第2003/0038931号、米国特許第6,704,092号、国際公開第2009/024 164号、および日本国特許出願公開第2007/27240号から知られている。
本発明の目的は、最初に述べたタイプの照明光学ユニットを、物体視野への法線入射(垂直入射)から極端にずれた照明角度の照明角度分布の場合であっても、指定された照明角度分布の不要な視野依存が低減または完全に回避されるように開発することである。
本発明によれば、この目的は、請求項1で特定された特徴を含む照明光学ユニットによって達成される。
本発明によれば、光学ロッドの出口エリアの領域に光学補正エリアを使用することにより、照明角度分布の不要な視野依存を低減または少なくとも大幅に回避できることが認識された。補正エリアは屈折効果を有することができる。補正エリアの補正構造は、非球面方程式によって記述できる。補正構造は、20μm、10μm、8μm、または6μmの最大矢状(サジタル)高さを有することができる。補正構造は、5μm/mm、3μm/mm、2μm/mm、または1.5μm/mmの最大構造フランク(側面)勾配を有することができる。このような補正エリアにより、視野に依存する補正オプションが利用可能になり、補正オプションは、特に照明光学ユニットの結像収差によって引き起こされる可能性がある照明角度分布の不要な視野依存を軽減または大幅に回避できる。
請求項2に記載の補正エリアの近視野配置は、視野依存の補償または補正効果に特に適していることがわかった。国際公開第2009/024 164号で定義されているパラメータPが0.3以下である場合、照明光学ユニットの視野平面からの補正エリアの近視野配置が存在する。
請求項3に記載の補正エリアの実施形態は、補正エリアを有する追加の光学補正要素を回避する。
請求項4に記載の実施形態は、補正エリアによる補正によって達成可能な柔軟性を高める。
請求項5および6に記載されている設計は、特に適切であることがわかった。
上記の補正エリア配置オプションの組合せも可能である。
請求項7に記載の交換ホルダは、特に、それぞれの補正エリアの補正効果の、所望の照明角度分布、すなわち、所望の照明設定への適合を容易にする。様々な補正要素間で変更する代わりに、特定の補正要素を、交換ホルダによって補正位置とニュートラル位置との間で伸縮させることもできるため、交換ホルダのどの補正要素も、交換ホルダの1つの作業位置において、光学的に効果的ではない。
請求項8に記載の交換ホルダドライブは、自動化された補正要素の交換を容易にする。交換ホルダドライブは、照明光学ユニットの中央制御デバイスに信号接続することができる。
請求項9に記載の光学システムの利点、請求項10に記載の照明システムの利点、および請求項11に記載の投影露光装置の利点は、本発明による照明光学ユニットを参照して上記で既に説明したものに対応する。光源は、DUV(深紫外:deep ultraviolet)光源であり得る。
特に、マイクロ構造化されたまたはナノ構造化された構成要素、特に、たとえばメモリチップのような半導体チップは、投影露光装置を使用して製造することができる。
本発明の例示的な実施形態は、図面を参照して以下により詳細に説明される。
子午断面におけるマイクロリソグラフィ投影露光装置の概略図である。 図1による投影露光装置の照明光学ユニットの光学ロッドの出口エリアの領域に配置され、物体視野を照明するときに照明角度分布の視野依存を補正するための補正エリアを有する補正要素の領域における追加の詳細を示す図1の拡大抜粋図である。 補正エリアの領域における図2の細部IIIの拡大抜粋図である。 照明光学ユニット内の図3による補正エリアの代わりに使用することができる補正エリアのさらなる実施形態の、図3による拡大抜粋図と同様の図である。 照明光学ユニット内の図3による補正エリアの代わりに使用することができる補正エリアのさらなる実施形態の、図3による拡大抜粋図と同様の図である。 図3〜図5による補正エリアの代替として、または、それに加えて使用することができ、同時に光学ロッドの出口エリアを表す補正エリアで具体化される場合の、照明光学ユニットの光学ロッドのさらなる実施形態を示す図である。
マイクロリソグラフィ投影露光装置1は、物体の位置で、画定された照明および物体視野3を照明するための照明光学ユニット2と、マイクロ構造化された、すなわちマイクロエレクトロニクス半導体構成要素の製造のために投影されるテンプレートを表すレチクル4とを備えた照明システムを有する。レチクル4は、ここでは図示しないレチクルホルダにより保持される。
照明システムの照明光の光源5としては、深紫外(DUV)のレーザが使用される。これは、ArFエキシマレーザとすることができる。他のDUV源も可能である。
ビーム拡大器6、たとえばDE−A 41 24 311から知られているミラー配置は、コヒーレンスを低減し、拡大された、コリメートされた照明光7のビームの矩形断面を生成するために使用される。
第1の回折光学ラスタ要素(DOE)8が、コンデンサ9の物体平面に配置される。コンデンサ9は、アキシコンペア10と、正の焦点距離を有するレンズ要素11とを含む。アキシコンペア10のアキシコン要素の互いからの間隔と、レンズ要素11の位置とは、図1の両矢印13、14によって示されるように、照明光学ユニット2の光軸12に沿って調整可能である。したがって、コンデンサ9はズーム光学ユニットを表す。
さらなる回折および/または屈折光学ラスタ要素(ROE)16は、コンデンサ9の出口瞳平面15に配置される。ラスタ要素16が回折の実施形態を有する限りにおいて、たとえば、コンピュータ生成ホログラム(CGH)として具体化され得る。回折光学要素としての実施形態の代替として、または、それに加えて、ROE16は、たとえば、屈折光学ラスタ要素として、特にマイクロレンズアレイとして、屈折実施形態を有することができる。回折実施形態も可能であるが、ラスタ要素16は、以下においてROEと示される。
第1のDOE8を使用して、瞳平面15内の定義された強度分布がROE16の場所に設定される。これにより、指定されたいわゆる照明設定、すなわち、物体視野3にわたり定義された照明角度分布が生成される。したがって、第1のDOE8は、物体視野3にわたる照明角度分布を指定するための照明角度指定要素を表す。
ROE16の下流に配置された入力結合光学ユニット17は、照明光をガラスロッド19の形態の透明な光学ロッドの端部側の入口エリア18に伝達する。ロッド19は、ロッド19の側壁での複数の内部反射によって照明光を混合し、均質化する。調整可能な視野絞りであるレチクルマスキングシステム(REMA)21が配置される中間視野平面は、入口エリア18の反対側にあるロッド19の端部側の出口エリア20に直接配置される。物体視野3を照明するときの照明角度分布の視野依存を補正するための補正エリアは、光学ロッド19の出口エリア20の領域に配置され、前記補正エリアの例示的な実施形態は、特に、図2〜図6と連携して以下にさらに説明される。
ROE16は、照明ビーム7の断面形状を、ロッド19の入口エリア18の長方形形状に適合させるために使用される。したがって、ROE16は、物体視野3にわたる照明強度分布を指定するための照明強度指定要素としても機能する。
コンデンサ22は、REMA21の下流に配置される。複数の絞りまたはフィルタを備えた絞り交換ホルダ24は、コンデンサ22の出口瞳平面23に配置することができ、前記複数の絞りまたはフィルタの2つの絞り25、26が図1に示されている。絞り交換ホルダ24は、絞りカルーセルの形式で様々な絞りを有する。絞りを変更する目的で、カルーセルは、投影露光装置1の中央制御デバイス28aに信号接続されている駆動モータ28の駆動シャフト27の周りを駆動される。絞り交換ホルダ24の絞りは、偶数の別個の絞りセクションに細分化される。絞りセクションは、照明光を完全に遮断する絞り、所定の割合で照明光を減衰させる減光フィルタ、または照明光を直線偏光する偏光フィルタであり得る。
レンズ要素群29、30を備えたさらなるコンデンサは、ロッド19の下流に配置された瞳平面23の下流に移動される。照明光のための90°偏向ミラー31は、2つのレンズ要素群29、30の間に配置される。コンデンサ22および2つのレンズ要素群29、30を有するさらなるコンデンサは、レンズ31aを形成し、これは、REMA21の中間視野平面をレチクル4上に結像する。瞳平面23は、このレンズ31aの内部瞳平面を表す。
投影レンズ32は、物体平面33にある物体視野3を、像平面35の像視野34に結像する。像視野34は、露光されるウェーハ36の表面の一部であり、照明光に敏感なコーティングが施されている。ウェーハ36は、ここでは図示されていないウェーハホルダによって保持される。投影露光中、レチクル4とウェーハ36は互いに同期して走査される。レチクル4のホルダとウェーハ36のホルダの間欠的移動、いわゆるステッパ動作も可能である。
偏向ミラー31を除いて、投影露光装置1の様々なビーム案内またはビーム成形構成要素は、屈折構成要素として示される。ただし、これらは同様に反射屈折構成要素または反射構成要素であり得る。
図2は、ロッド19の出口エリア20およびREMA視野絞り21の領域における照明光学ユニット2の拡大抜粋図を示し、これは、さらなる詳細を説明する。
光学補正要素37は、出口エリア20とREMA視野絞り21との間の照明光7のビーム経路に配置される。
図3は、補正要素37の拡大抜粋図を示す。補正要素37の出口エリアは、補正構造39を有する光学補正エリア38として具体化される。補正エリア38は、物体視野3を照明する際の照明光7の照明角度分布の視野依存を補正するために使用される。補正エリア38は、屈折効果を有することができる。補正構造39は、20μmの最大矢状高さ、すなわち最適な参照エリアに関して、たとえば球面参照エリアに関して、最大振幅を有する。最大矢状高さは、10μm、8μm、6μmにすることもでき、さらに低くすることもできる。補正構造39は、5μm/mmの最大構造フランク勾配を有する。この最大勾配は、3μm/mm、2μm/mm、または1.5μm/mmになる可能性があり、さらに低くなる可能性がある。
REMA視野絞り21に近い配置のために、補正エリア38は、物体視野3の物体平面33と共役な平面の近くに配置される。
照明光学ユニット2内の補正エリア38の位置の視野近接を特徴付けるために、以下のパラメータPを使用することができる。
P(M)=D(SA)/(D(SA)+D(CR))
ここで、
D(SA)は、補正エリア38におけるサブ開口(sub−aperture)の直径であり、
D(CR)は、補正エリア38の基準面(たとえば、対称面または子午面)で測定された、レンズ31aによって結像される物体視野3の主光線の最大間隔であり、
視野平面では、D(CR)は0と等しくなく、D(SA)=0であるため、P=0が適用され、
瞳平面では、D(CR)=0であり、D(SA)は0と等しくないため、P=1が適用される。
光学補正エリア38は、以下が当てはまるように配置される。P≦0.3、特に、P≦0.2;P≦0.1またはP≦0.05。
補正エリア38の補正効果は、特に、物体視野3の垂直照明から大きく逸脱する照明角度、特に、たとえば、レンズ31aの物体側開口数によって制限される最大可能な照明角度から、20%以下、または10%以下逸脱する照明角度が発生する照明設定の場合に発生する。そのような極端な照明角度を特徴付けるパラメータσは、レンズ31aによって使用可能な瞳の最大直径と、現在使用されている照明設定で発生する最大の照明角度を有する照明ビームがそこから生じる瞳位置との間の比を表す。この場合のσ=1は、実際に使用可能な瞳による最大可能な照明角度が使用されることを意味する。σ=0は、物体視野3への純粋な法線入射を意味する。補正エリア38の効果は、特に、σ≧0.8、特にσ≧0.9である照明設定の場合に有利である。ここで、補正構造39は、σ≧0.8の領域の極端な照明角度の場合でさえも、望ましくない減衰なしに、照明光7の可能な最大の割合が、瞳平面23内の開口絞り25または26を通過できるように具体化される。
補正エリア38は、特に、REMA視野絞り21の配置平面と、物体平面33との間の結像時に発生する結像収差、たとえば、斜めの球面収差、コマ、および歪みタイプの結像収差を補正または補償することができる。これらの結像収差は、特に、結像のテレセントリック性および/または視野照明の均一性に望ましくない影響を与える可能性がある。
これらの結像収差が未補正または未補償のままである場合、瞳平面23の絞り25、26で照明光7の不要なトリミングが発生するが、このトリミングはそれぞれの視野点に依存しているため望ましくない。例として、双極照明の場合、コマ収差により、双極照明設定の2つの極のうちの一方は、1つの視野エッジで絞り25または26によって部分的にトリミングされるが、反対側の視野エッジでは、双極照明設定のうちの他方の極は、この絞り25または26によって部分的にトリミングされる。その結果、視野に依存するテレセントリック性の収差が発生する。
斜めの球面収差のために、同様の効果が発生する。
補正構造39は、結果として、照明設定の視野依存傾斜をもたらすように具体化される。これにより、上記の結像収差の望ましくない影響を補償または補正できる。結像収差が、たとえば、照明設定の1つの極が、絞り25または26によって部分的にトリミングされることをもたらす視野領域では、これらの視野領域のこの極が、透過絞り領域内に留まるように、補正構造39の効果があり得る。
瞳平面23における照明設定の変形または変位に対するレンズ結像収差の視野依存効果の知識は、たとえば、スネルの法則と、コンデンサ22の焦点距離の知識との適用による補正または補償目的に必要な補正構造39の形態の計算を可能にする。例として、非球面は、補正エリア38の形態の結果として生じる可能性があり、前記非球面は、x2およびx4項を有する多項式適合として説明することができ、前記非球面の矢状高さは、球面から6μm以下で逸脱し、前記非球面の補正構造は、1.5μm/mmの最大フランク勾配を有する。
図4は、光学補正要素37の代替実施形態を示す。そこでは、入口エリアは、出口エリアの代わりに補正エリア40として具体化され、前記補正エリアの効果は、図4による実施形態の補正エリア38を参照して上記で説明された効果に対応する。
図5は、光学補正要素37のさらなる実施形態を示し、その場合、入口エリアと出口エリアとの両方が、補正エリア41、42として具体化される。これら2つの補正エリア41、42の効果の組合せは、補正エリア38を参照して上記で説明された効果に対応する。
図6は、補正エリア43が光学ロッド19からの出口エリア20を同時に表す実施形態を示す。補正エリア43の光学効果は、補正エリア38を参照して上記で説明した効果に再び対応する。
補正エリア39、40、41、42、43との配置の組合せも可能である。したがって、たとえば、補正エリア43を使用して、同時に光学補正要素37上の少なくとも1つの補正エリアを使用して、補正を実施することができる。
破線を使用して、補正エリア38(図3参照)、40(図4参照)、または41、42(図5参照)を備えた光学補正要素37のさらなる配置の可能性が、図2における位置37’に示されている。光学補正要素37’のこの代替配置は、REMA視野絞り21の下流の照明光7のビーム経路内にある。光学補正要素37’の配置も、上述の意味で、REMA視野絞り21の視野平面に対する近接視野である。
図3〜図5による実施形態における光学補正要素37は、補正要素交換ホルダ44の構成部分であり得る。補正要素交換ホルダ44は、図2に示されるアクティブな光学補正要素37に加えて、光学補正要素37を交換する目的で、図2に示されるニュートラル位置とアクティブ位置との間の交換ホルダドライブ46によって置き換えることができる少なくとも1つのさらなる光学補正要素45を含み、前記アクティブ位置にある光学補正要素45は、光学補正要素37を交換する目的で光学補正要素37に取って代わる。補正要素交換ホルダ44は、交換ホルダカルーセルの形式で具体化することができる。補正要素を交換する目的で、カルーセルは、交換ホルダドライブ46の駆動モータの駆動シャフト47の周りの駆動シャフト47の周りで駆動される。交換ホルダドライブ46は、中央制御デバイス28aに信号接続される。
補正要素交換ホルダ44の様々な光学補正要素37、45、・・・の補正構造は、投影露光装置1で使用できる様々な照明設定に適合させることができる。
様々な光学補正要素間の交換の代わりに、補正要素交換ホルダ44はまた、光学補正要素のいずれもが補正要素交換ホルダ44の1つの位置でアクティブにならないように操作され得る。
マイクロ構造化またはナノ構造化された構成要素のマイクロリソグラフィ製造において、ウェーハ36は、最初に、少なくとも部分的に、感光性層でコーティングされる。そして、投影露光装置1を用いてレチクル4上の構造物をウェーハ36に投影する。次に、露光されたウェーハ36は、マイクロ構造化された構成要素を形成するために処理される。
本特許出願は、その内容が参照により本明細書に組み込まれる独国特許出願第10 2018 201 009.9号の優先権を主張する。
本発明は、投影リソグラフィ用の照明光学ユニットに関する。さらに、本発明は、そのような照明光学ユニットを含む光学システム、そのような光学システムを含む照明システム、およびそのような照明システムを含む投影露光装置に関する。
最初に述べたタイプの照明光学ユニットは、独国特許出願公開第195 20 563号から知られている。さらなる照明光学ユニットは、国際公開第2005/006079号、国際公開第2003/046663号、独国特許出願公開第10 2007 055 443号、米国特許第7,209,218号、米国特許出願公開第2003/0038931号、米国特許第6,704,092号、国際公開第2009/024 164号、および日本国特許出願公開第2007/27240号から知られている。
本発明の目的は、最初に述べたタイプの照明光学ユニットを、物体視野への法線入射(垂直入射)から極端にずれた照明角度の照明角度分布の場合であっても、指定された照明角度分布の不要な視野依存が低減または完全に回避されるように開発することである。
本発明によれば、この目的は、請求項1で特定された特徴を含む照明光学ユニットによって達成される。
本発明によれば、光学ロッドの出口エリアの領域に光学補正エリアを使用することにより、照明角度分布の不要な視野依存を低減または少なくとも大幅に回避できることが認識された。補正エリアは屈折効果を有することができる。補正エリアの補正構造は、非球面方程式によって記述できる。補正構造は、20μm、10μm、8μm、または6μmの最大矢状(サジタル)高さを有することができる。補正構造は、5μm/mm、3μm/mm、2μm/mm、または1.5μm/mmの最大構造フランク(側面)勾配を有することができる。このような補正エリアにより、視野に依存する補正オプションが利用可能になり、補正オプションは、特に照明光学ユニットの結像収差によって引き起こされる可能性がある照明角度分布の不要な視野依存を軽減または大幅に回避できる。補正エリアは同時に、光学ロッドの出口エリアを示す。補正エリアのそのような実施形態は、補正エリアを有する追加の光学補正要素を回避する。
請求項2に記載の補正エリアの近視野配置は、視野依存の補償または補正効果に特に適していることがわかった。国際公開第2009/024 164号で定義されているパラメータPが0.3以下である場合、照明光学ユニットの視野平面からの補正エリアの近視野配置が存在する。
請求項4に記載の実施形態は、補正エリアによる補正によって達成可能な柔軟性を高める。
請求項5および6に記載されている設計は、特に適切であることがわかった。
上記の補正エリア配置オプションの組合せも可能である。
請求項7に記載の交換ホルダは、特に、それぞれの補正エリアの補正効果の、所望の照明角度分布、すなわち、所望の照明設定への適合を容易にする。様々な補正要素間で変更する代わりに、特定の補正要素を、交換ホルダによって補正位置とニュートラル位置との間で伸縮させることもできるため、交換ホルダのどの補正要素も、交換ホルダの1つの作業位置において、光学的に効果的ではない。
請求項8に記載の交換ホルダドライブは、自動化された補正要素の交換を容易にする。交換ホルダドライブは、照明光学ユニットの中央制御デバイスに信号接続することができる。
請求項9に記載の光学システムの利点、請求項10に記載の照明システムの利点、および請求項11に記載の投影露光装置の利点は、本発明による照明光学ユニットを参照して上記で既に説明したものに対応する。光源は、DUV(深紫外:deep ultraviolet)光源であり得る。
特に、マイクロ構造化されたまたはナノ構造化された構成要素、特に、たとえばメモリチップのような半導体チップは、投影露光装置を使用して製造することができる。
本発明の例示的な実施形態は、図面を参照して以下により詳細に説明される。
子午断面におけるマイクロリソグラフィ投影露光装置の概略図である。 図1による投影露光装置の照明光学ユニットの光学ロッドの出口エリアの領域に配置され、物体視野を照明するときに照明角度分布の視野依存を補正するための補正エリアを有する補正要素の領域における追加の詳細を示す図1の拡大抜粋図である。 補正エリアの領域における図2の細部IIIの拡大抜粋図である。 照明光学ユニット内の図3による補正エリアの代わりに使用することができる補正エリアのさらなる実施形態の、図3による拡大抜粋図と同様の図である。 照明光学ユニット内の図3による補正エリアの代わりに使用することができる補正エリアのさらなる実施形態の、図3による拡大抜粋図と同様の図である。 図3〜図5による補正エリアの代替として、または、それに加えて使用することができ、同時に光学ロッドの出口エリアを表す補正エリアで具体化される場合の、照明光学ユニットの光学ロッドのさらなる実施形態を示す図である。
マイクロリソグラフィ投影露光装置1は、物体の位置で、画定された照明および物体視野3を照明するための照明光学ユニット2と、マイクロ構造化された、すなわちマイクロエレクトロニクス半導体構成要素の製造のために投影されるテンプレートを表すレチクル4とを備えた照明システムを有する。レチクル4は、ここでは図示しないレチクルホルダにより保持される。
照明システムの照明光の光源5としては、深紫外(DUV)のレーザが使用される。これは、ArFエキシマレーザとすることができる。他のDUV源も可能である。
ビーム拡大器6、たとえばDE−A 41 24 311から知られているミラー配置は、コヒーレンスを低減し、拡大された、コリメートされた照明光7のビームの矩形断面を生成するために使用される。
第1の回折光学ラスタ要素(DOE)8が、コンデンサ9の物体平面に配置される。コンデンサ9は、アキシコンペア10と、正の焦点距離を有するレンズ要素11とを含む。アキシコンペア10のアキシコン要素の互いからの間隔と、レンズ要素11の位置とは、図1の両矢印13、14によって示されるように、照明光学ユニット2の光軸12に沿って調整可能である。したがって、コンデンサ9はズーム光学ユニットを表す。
さらなる回折および/または屈折光学ラスタ要素(ROE)16は、コンデンサ9の出口瞳平面15に配置される。ラスタ要素16が回折の実施形態を有する限りにおいて、たとえば、コンピュータ生成ホログラム(CGH)として具体化され得る。回折光学要素としての実施形態の代替として、または、それに加えて、ROE16は、たとえば、屈折光学ラスタ要素として、特にマイクロレンズアレイとして、屈折実施形態を有することができる。回折実施形態も可能であるが、ラスタ要素16は、以下においてROEと示される。
第1のDOE8を使用して、瞳平面15内の定義された強度分布がROE16の場所に設定される。これにより、指定されたいわゆる照明設定、すなわち、物体視野3にわたり定義された照明角度分布が生成される。したがって、第1のDOE8は、物体視野3にわたる照明角度分布を指定するための照明角度指定要素を表す。
ROE16の下流に配置された入力結合光学ユニット17は、照明光をガラスロッド19の形態の透明な光学ロッドの端部側の入口エリア18に伝達する。ロッド19は、ロッド19の側壁での複数の内部反射によって照明光を混合し、均質化する。調整可能な視野絞りであるレチクルマスキングシステム(REMA)21が配置される中間視野平面は、入口エリア18の反対側にあるロッド19の端部側の出口エリア20に直接配置される。物体視野3を照明するときの照明角度分布の視野依存を補正するための補正エリアは、光学ロッド19の出口エリア20の領域に配置され、前記補正エリアの例示的な実施形態は、特に、図2〜図6と連携して以下にさらに説明される。
ROE16は、照明ビーム7の断面形状を、ロッド19の入口エリア18の長方形形状に適合させるために使用される。したがって、ROE16は、物体視野3にわたる照明強度分布を指定するための照明強度指定要素としても機能する。
コンデンサ22は、REMA21の下流に配置される。複数の絞りまたはフィルタを備えた絞り交換ホルダ24は、コンデンサ22の出口瞳平面23に配置することができ、前記複数の絞りまたはフィルタの2つの絞り25、26が図1に示されている。絞り交換ホルダ24は、絞りカルーセルの形式で様々な絞りを有する。絞りを変更する目的で、カルーセルは、投影露光装置1の中央制御デバイス28aに信号接続されている駆動モータ28の駆動シャフト27の周りを駆動される。絞り交換ホルダ24の絞りは、偶数の別個の絞りセクションに細分化される。絞りセクションは、照明光を完全に遮断する絞り、所定の割合で照明光を減衰させる減光フィルタ、または照明光を直線偏光する偏光フィルタであり得る。
レンズ要素群29、30を備えたさらなるコンデンサは、ロッド19の下流に配置された瞳平面23の下流に移動される。照明光のための90°偏向ミラー31は、2つのレンズ要素群29、30の間に配置される。コンデンサ22および2つのレンズ要素群29、30を有するさらなるコンデンサは、レンズ31aを形成し、これは、REMA21の中間視野平面をレチクル4上に結像する。瞳平面23は、このレンズ31aの内部瞳平面を表す。
投影レンズ32は、物体平面33にある物体視野3を、像平面35の像視野34に結像する。像視野34は、露光されるウェーハ36の表面の一部であり、照明光に敏感なコーティングが施されている。ウェーハ36は、ここでは図示されていないウェーハホルダによって保持される。投影露光中、レチクル4とウェーハ36は互いに同期して走査される。レチクル4のホルダとウェーハ36のホルダの間欠的移動、いわゆるステッパ動作も可能である。
偏向ミラー31を除いて、投影露光装置1の様々なビーム案内またはビーム成形構成要素は、屈折構成要素として示される。ただし、これらは同様に反射屈折構成要素または反射構成要素であり得る。
図2は、ロッド19の出口エリア20およびREMA視野絞り21の領域における照明光学ユニット2の拡大抜粋図を示し、これは、さらなる詳細を説明する。
光学補正要素37は、出口エリア20とREMA視野絞り21との間の照明光7のビーム経路に配置される。
図3は、補正要素37の拡大抜粋図を示す。補正要素37の出口エリアは、補正構造39を有する光学補正エリア38として具体化される。補正エリア38は、物体視野3を照明する際の照明光7の照明角度分布の視野依存を補正するために使用される。補正エリア38は、屈折効果を有することができる。補正構造39は、20μmの最大矢状高さ、すなわち最適な参照エリアに関して、たとえば球面参照エリアに関して、最大振幅を有する。最大矢状高さは、10μm、8μm、6μmにすることもでき、さらに低くすることもできる。補正構造39は、5μm/mmの最大構造フランク勾配を有する。この最大勾配は、3μm/mm、2μm/mm、または1.5μm/mmになる可能性があり、さらに低くなる可能性がある。
REMA視野絞り21に近い配置のために、補正エリア38は、物体視野3の物体平面33と共役な平面の近くに配置される。
照明光学ユニット2内の補正エリア38の位置の視野近接を特徴付けるために、以下のパラメータPを使用することができる。
P(M)=D(SA)/(D(SA)+D(CR))
ここで、
D(SA)は、補正エリア38におけるサブ開口(sub−aperture)の直径であり、
D(CR)は、補正エリア38の基準面(たとえば、対称面または子午面)で測定された、レンズ31aによって結像される物体視野3の主光線の最大間隔であり、
視野平面では、D(CR)は0と等しくなく、D(SA)=0であるため、P=0が適用され、
瞳平面では、D(CR)=0であり、D(SA)は0と等しくないため、P=1が適用される。
光学補正エリア38は、以下が当てはまるように配置される。P≦0.3、特に、P≦0.2;P≦0.1またはP≦0.05。
補正エリア38の補正効果は、特に、物体視野3の垂直照明から大きく逸脱する照明角度、特に、たとえば、レンズ31aの物体側開口数によって制限される最大可能な照明角度から、20%以下、または10%以下逸脱する照明角度が発生する照明設定の場合に発生する。そのような極端な照明角度を特徴付けるパラメータσは、レンズ31aによって使用可能な瞳の最大直径と、現在使用されている照明設定で発生する最大の照明角度を有する照明ビームがそこから生じる瞳位置との間の比を表す。この場合のσ=1は、実際に使用可能な瞳による最大可能な照明角度が使用されることを意味する。σ=0は、物体視野3への純粋な法線入射を意味する。補正エリア38の効果は、特に、σ≧0.8、特にσ≧0.9である照明設定の場合に有利である。ここで、補正構造39は、σ≧0.8の領域の極端な照明角度の場合でさえも、望ましくない減衰なしに、照明光7の可能な最大の割合が、瞳平面23内の開口絞り25または26を通過できるように具体化される。
補正エリア38は、特に、REMA視野絞り21の配置平面と、物体平面33との間の結像時に発生する結像収差、たとえば、斜めの球面収差、コマ、および歪みタイプの結像収差を補正または補償することができる。これらの結像収差は、特に、結像のテレセントリック性および/または視野照明の均一性に望ましくない影響を与える可能性がある。
これらの結像収差が未補正または未補償のままである場合、瞳平面23の絞り25、26で照明光7の不要なトリミングが発生するが、このトリミングはそれぞれの視野点に依存しているため望ましくない。例として、双極照明の場合、コマ収差により、双極照明設定の2つの極のうちの一方は、1つの視野エッジで絞り25または26によって部分的にトリミングされるが、反対側の視野エッジでは、双極照明設定のうちの他方の極は、この絞り25または26によって部分的にトリミングされる。その結果、視野に依存するテレセントリック性の収差が発生する。
斜めの球面収差のために、同様の効果が発生する。
補正構造39は、結果として、照明設定の視野依存傾斜をもたらすように具体化される。これにより、上記の結像収差の望ましくない影響を補償または補正できる。結像収差が、たとえば、照明設定の1つの極が、絞り25または26によって部分的にトリミングされることをもたらす視野領域では、これらの視野領域のこの極が、透過絞り領域内に留まるように、補正構造39の効果があり得る。
瞳平面23における照明設定の変形または変位に対するレンズ結像収差の視野依存効果の知識は、たとえば、スネルの法則と、コンデンサ22の焦点距離の知識との適用による補正または補償目的に必要な補正構造39の形態の計算を可能にする。例として、非球面は、補正エリア38の形態の結果として生じる可能性があり、前記非球面は、x2およびx4項を有する多項式適合として説明することができ、前記非球面の矢状高さは、球面から6μm以下で逸脱し、前記非球面の補正構造は、1.5μm/mmの最大フランク勾配を有する。
図4は、光学補正要素37の代替実施形態を示す。そこでは、入口エリアは、出口エリアの代わりに補正エリア40として具体化され、前記補正エリアの効果は、図4による実施形態の補正エリア38を参照して上記で説明された効果に対応する。
図5は、光学補正要素37のさらなる実施形態を示し、その場合、入口エリアと出口エリアとの両方が、補正エリア41、42として具体化される。これら2つの補正エリア41、42の効果の組合せは、補正エリア38を参照して上記で説明された効果に対応する。
図6は、補正エリア43が光学ロッド19からの出口エリア20を同時に表す実施形態を示す。補正エリア43の光学効果は、補正エリア38を参照して上記で説明した効果に再び対応する。
補正エリア39、40、41、42、43との配置の組合せも可能である。したがって、たとえば、補正エリア43を使用して、同時に光学補正要素37上の少なくとも1つの補正エリアを使用して、補正を実施することができる。
破線を使用して、補正エリア38(図3参照)、40(図4参照)、または41、42(図5参照)を備えた光学補正要素37のさらなる配置の可能性が、図2における位置37’に示されている。光学補正要素37’のこの代替配置は、REMA視野絞り21の下流の照明光7のビーム経路内にある。光学補正要素37’の配置も、上述の意味で、REMA視野絞り21の視野平面に対する近接視野である。
図3〜図5による実施形態における光学補正要素37は、補正要素交換ホルダ44の構成部分であり得る。補正要素交換ホルダ44は、図2に示されるアクティブな光学補正要素37に加えて、光学補正要素37を交換する目的で、図2に示されるニュートラル位置とアクティブ位置との間の交換ホルダドライブ46によって置き換えることができる少なくとも1つのさらなる光学補正要素45を含み、前記アクティブ位置にある光学補正要素45は、光学補正要素37を交換する目的で光学補正要素37に取って代わる。補正要素交換ホルダ44は、交換ホルダカルーセルの形式で具体化することができる。補正要素を交換する目的で、カルーセルは、交換ホルダドライブ46の駆動モータの駆動シャフト47の周りの駆動シャフト47の周りで駆動される。交換ホルダドライブ46は、中央制御デバイス28aに信号接続される。
補正要素交換ホルダ44の様々な光学補正要素37、45、・・・の補正構造は、投影露光装置1で使用できる様々な照明設定に適合させることができる。
様々な光学補正要素間の交換の代わりに、補正要素交換ホルダ44はまた、光学補正要素のいずれもが補正要素交換ホルダ44の1つの位置でアクティブにならないように操作され得る。
マイクロ構造化またはナノ構造化された構成要素のマイクロリソグラフィ製造において、ウェーハ36は、最初に、少なくとも部分的に、感光性層でコーティングされる。そして、投影露光装置1を用いてレチクル4上の構造物をウェーハ36に投影する。次に、露光されたウェーハ36は、マイクロ構造化された構成要素を形成するために処理される。

Claims (11)

  1. 物体視野(3)を照明するための投影リソグラフィ用の照明光学ユニット(2)であって、
    照明光(7)のための、端部側の入口エリア(18)と、
    前記照明光(7)のための、反対の端部側の出口エリア(20)と
    を備えた光学ロッド(19)を備え、
    前記光学ロッド(19)は、全内部反射の複数の場合(インスタンス)によって、前記照明光(7)が前記光学ロッド(19)の側壁で混合され均質化されるように設計され、
    前記物体視野(3)を照明するときに照明角度分布の視野依存を補正するための少なくとも1つの補正エリア(38;40;41,42;43)を備え、前記補正エリア(38;40;41,42;43)は、前記光学ロッド(19)の前記出口エリア(20)の領域に配置される、照明光学ユニット。
  2. 前記補正エリア(38;40;41,42;43)は、前記物体視野(3)の物体平面(33)と共役な平面の近くに配置されることを特徴とする、請求項1に記載の照明光学ユニット。
  3. 前記補正エリア(43)は、同時に、前記光学ロッド(19)からの前記出口エリア(20)を表すことを特徴とする、請求項1または2に記載の照明光学ユニット。
  4. 前記補正エリア(38;40;41,42)は、前記光学ロッド(19)から離れて配置された補正要素(37)の構成部分であることを特徴とする、請求項1〜3のいずれか1項に記載の照明光学ユニット。
  5. 前記光学補正要素(37)の入口エリアは、補正エリア(40;41)として具体化されることを特徴とする、請求項4に記載の照明光学ユニット。
  6. 前記補正要素(37)の出口エリアは、補正エリア(38;42)として具体化されることを特徴とする、請求項4または5に記載の照明光学ユニット。
  7. 前記補正要素(37)を少なくとも1つのさらなる補正要素(45)と交換するための補正要素交換ホルダ(44)を特徴とする、請求項4〜6のいずれか1項に記載の照明光学ユニット。
  8. 駆動される前記補正要素交換のための前記補正要素交換ホルダ(44)の交換ホルダドライブ(46)を特徴とする、請求項7に記載の照明光学ユニット。
  9. 請求項1〜8のいずれか1項に記載の照明光学ユニット(2)を備え、前記物体視野(3)を像視野(34)へ結像するための投影光学ユニット(32)を備えた、光学システム。
  10. 請求項9に記載の光学システムと、光源(5)とを備えた、照明システム。
  11. 請求項10に記載の照明システムと、物体平面(33)にレチクル(4)を保持するためのレチクルホルダと、前記物体視野(3)を像平面(35)内の像視野(34)に結像するための投影レンズ(31a)とを備え、前記像平面内にウェーハ(36)を保持するためのウェーハホルダを備えた、投影露光装置。
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Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006526276A (ja) * 2003-05-12 2006-11-16 カール・ツァイス・エスエムティー・アーゲー マイクロリソグラフィー投影露光装置用照明系
US20070285644A1 (en) * 2004-09-13 2007-12-13 Carl Zeiss Smt Ag Microlithographic Projection Exposure Apparatus
JP2008529290A (ja) * 2005-01-29 2008-07-31 カール・ツァイス・エスエムティー・アーゲー 照射システム、具体的には、半導体リソグラフにおける投影露光装置のための照射システム
JP2012028767A (ja) * 2006-02-17 2012-02-09 Carl Zeiss Smt Gmbh マイクロリソグラフィ投影露光装置のための照明システム
JP2013187505A (ja) * 2012-03-09 2013-09-19 Nikon Corp 照明装置、照明システム、露光装置、露光方法及びデバイス製造方法

Family Cites Families (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6252647B1 (en) 1990-11-15 2001-06-26 Nikon Corporation Projection exposure apparatus
DE4124311A1 (de) 1991-07-23 1993-01-28 Zeiss Carl Fa Anordnung zur kohaerenzreduktion und strahlformung eines laserstrahls
US6285443B1 (en) 1993-12-13 2001-09-04 Carl-Zeiss-Stiftung Illuminating arrangement for a projection microlithographic apparatus
DE19520563A1 (de) 1995-06-06 1996-12-12 Zeiss Carl Fa Beleuchtungseinrichtung für ein Projektions-Mikrolithographie-Gerät
US6554464B1 (en) * 2000-02-16 2003-04-29 Ultratech Stepper, Inc. Apparatus for and method of reducing or eliminating interference effects in a light tunnel illuminator
DE10065198A1 (de) * 2000-12-20 2002-07-11 Zeiss Carl Lichtintegrator für eine Beleuchtungseinrichtung
TW554411B (en) 2001-08-23 2003-09-21 Nikon Corp Exposure apparatus
DE10158921A1 (de) 2001-11-30 2003-06-26 Zeiss Carl Smt Ag Verfahren zum Bestimmen von mindestens einer Kenngröße, die für die Beleuchtungswinkelverteilung einer der Beleuchtung eines Gegenstandes dienenden Lichtquelle einer Projektionsbelichtungsanlage charakteristisch ist
US7333178B2 (en) * 2002-03-18 2008-02-19 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method
JP3767544B2 (ja) * 2002-11-25 2006-04-19 セイコーエプソン株式会社 光学装置、照明装置及びプロジェクタ
US7298940B2 (en) * 2003-06-10 2007-11-20 Abu-Ageel Nayef M Illumination system and display system employing same
AU2003249967A1 (en) 2003-07-07 2005-01-28 Carl Zeiss Smt Ag Lighting device for a microlithographic projection exposure system
TWI573175B (zh) * 2003-10-28 2017-03-01 尼康股份有限公司 照明光學裝置、曝光裝置、曝光方法以及元件製造 方法
JP2007027240A (ja) 2005-07-13 2007-02-01 Nikon Corp 照明光学装置、露光装置、および露光方法
JP4865270B2 (ja) 2005-07-28 2012-02-01 キヤノン株式会社 露光装置、及びそれを用いたデバイス製造方法
CN101836163B (zh) 2007-08-20 2012-06-27 卡尔蔡司Smt有限责任公司 包括具有反射涂层的镜元件的投射物镜
DE102007055443B4 (de) 2007-11-20 2010-09-23 Carl Zeiss Smt Ag Projektionsbelichtungsanlage für die Mikrolithographie
DE102008013229B4 (de) * 2007-12-11 2015-04-09 Carl Zeiss Smt Gmbh Beleuchtungsoptik für die Mikrolithographie
CN101339367B (zh) * 2008-08-14 2010-06-02 上海微电子装备有限公司 投影曝光装置及校正照明光束动态位置误差的装置与方法
JP5757428B2 (ja) * 2012-04-16 2015-07-29 大日本印刷株式会社 投射装置
DE102014219112A1 (de) * 2014-09-23 2016-03-24 Carl Zeiss Smt Gmbh Beleuchtungsoptik für die Projektionslithographie sowie Hohlwellenleiter-Komponente hierfür

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006526276A (ja) * 2003-05-12 2006-11-16 カール・ツァイス・エスエムティー・アーゲー マイクロリソグラフィー投影露光装置用照明系
US20070285644A1 (en) * 2004-09-13 2007-12-13 Carl Zeiss Smt Ag Microlithographic Projection Exposure Apparatus
JP2008529290A (ja) * 2005-01-29 2008-07-31 カール・ツァイス・エスエムティー・アーゲー 照射システム、具体的には、半導体リソグラフにおける投影露光装置のための照射システム
JP2012028767A (ja) * 2006-02-17 2012-02-09 Carl Zeiss Smt Gmbh マイクロリソグラフィ投影露光装置のための照明システム
JP2013187505A (ja) * 2012-03-09 2013-09-19 Nikon Corp 照明装置、照明システム、露光装置、露光方法及びデバイス製造方法

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