JP2021509179A - X線回折格子をx線放射線源に位置合わせするためのデバイス及び方法、並びにx線画像取得システム - Google Patents
X線回折格子をx線放射線源に位置合わせするためのデバイス及び方法、並びにx線画像取得システム Download PDFInfo
- Publication number
- JP2021509179A JP2021509179A JP2020552115A JP2020552115A JP2021509179A JP 2021509179 A JP2021509179 A JP 2021509179A JP 2020552115 A JP2020552115 A JP 2020552115A JP 2020552115 A JP2020552115 A JP 2020552115A JP 2021509179 A JP2021509179 A JP 2021509179A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ray
- diffraction grating
- flat
- ray diffraction
- grating
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 title claims abstract description 180
- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims abstract description 64
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 21
- 238000004590 computer program Methods 0.000 claims description 16
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 16
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 7
- 238000002591 computed tomography Methods 0.000 description 7
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 3
- 230000006870 function Effects 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 230000003936 working memory Effects 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000002601 radiography Methods 0.000 description 1
- 230000003252 repetitive effect Effects 0.000 description 1
- 230000002195 synergetic effect Effects 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/42—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis
- A61B6/4291—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis the detector being combined with a grid or grating
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/48—Diagnostic techniques
- A61B6/484—Diagnostic techniques involving phase contrast X-ray imaging
-
- G—PHYSICS
- G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
- G21K—TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
- G21K1/00—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
- G21K1/02—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diaphragms, collimators
-
- G—PHYSICS
- G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
- G21K—TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
- G21K1/00—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
- G21K1/06—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diffraction, refraction or reflection, e.g. monochromators
-
- G—PHYSICS
- G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
- G21K—TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
- G21K2207/00—Particular details of imaging devices or methods using ionizing electromagnetic radiation such as X-rays or gamma rays
- G21K2207/005—Methods and devices obtaining contrast from non-absorbing interaction of the radiation with matter, e.g. phase contrast
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Medical Informatics (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Heart & Thoracic Surgery (AREA)
- Animal Behavior & Ethology (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Pathology (AREA)
- Radiology & Medical Imaging (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- Biophysics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Surgery (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Public Health (AREA)
- Veterinary Medicine (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
Description
Claims (15)
- X線回折格子をX線放射線源に位置合わせするためのデバイスであって、前記デバイスは、
少なくとも2つの平坦なX線回折格子セグメントと、
前記少なくとも2つの平坦なX線回折格子セグメントのうちの1つのX線回折格子セグメントを位置合わせするための少なくとも1つの位置合わせユニットとを備え、
前記少なくとも2つの平坦なX線回折格子セグメントは並置して配置されて、X線回折格子を形成し、
前記少なくとも2つの平坦なX線回折格子セグメントは、各々、X線放射線のための回折格子面を備え、各回折格子面は幾何学中心を備え、
前記回折格子面の各々に対する法線は、共通平面を画定し、前記法線は、前記回折格子面の前記幾何学中心と交差し、
前記少なくとも2つの平坦なX線回折格子セグメントのうちの少なくとも第1のX線回折格子セグメントは、前記共通平面に垂直な軸の周りを回転可能であり、
前記少なくとも2つの平坦なX線回折格子セグメントのうちの前記第1のX線回折格子セグメントは、前記少なくとも1つの位置合わせユニットのうちの第1の位置合わせユニットに接続される、デバイス。 - 前記少なくとも1つの位置合わせユニットのうちの前記第1の位置合わせユニットは、前記少なくとも2つの平坦なX線回折格子セグメントのうちの前記第1のX線回折格子セグメントを、前記軸の周りで回転させ、前記法線が交点で交差するように、前記共通平面内の前記法線間の角度を変更し、前記交点の位置を、前記X線回折格子の焦点を画定する単一の共通の交点に変更する、請求項1に記載のデバイス。
- 前記平坦な各X線回折格子セグメントは、前記軸の周りを回転可能であり、前記少なくとも1つの位置合わせユニットの個々に接続可能である、請求項1又は2に記載のデバイス。
- 前記少なくとも2つの平坦なX線回折格子セグメントのうちの少なくとも1つのX線回折格子セグメントは、少なくとも2つの軸の周りを回転可能であり、及び/又は、前記少なくとも2つの軸に沿って並進可能である、請求項1から3のいずれか一項に記載のデバイス。
- 前記デバイスは、2から100の範囲、好ましくは5から50の範囲の、より好ましくは8から20の範囲の、最も好ましくは10の、平坦なX線回折格子セグメントの中に、いくつかの平坦なX線回折格子セグメントを備え、各X線回折格子セグメントは、前記少なくとも1つの位置合わせユニットの個々に接続可能である、請求項1から4のいずれか一項に記載のデバイス。
- 前記X線回折格子は、X線画像取得デバイスのG2回折格子である、請求項1から5のいずれか一項に記載のデバイス。
- 前記平坦なX線回折格子セグメントの前記軸は、曲線に沿って配置される、請求項1から6のいずれか一項に記載のデバイス。
- 前記回折格子面は、1cmから100cm、好ましくは2cmから80cm、より好ましくは3cmから60cmの範囲の幅及び長さ、最も好ましくは4cmの幅及び43cmの高さを有する、請求項1から7のいずれか一項に記載のデバイス。
- 平坦なX線回折格子セグメントの二次元マトリクスを形成するために、並置して配置された更なる平坦なX線回折格子セグメントであって、前記少なくとも2つの平坦なX線回折格子セグメントの隣に配置された更なる平坦なX線回折格子セグメントを備える、請求項1から8のいずれか一項に記載のデバイス。
- X線放射線源と、
請求項1から9のいずれか一項に記載のデバイスを備えたX線回折格子アセンブリと、
X線放射線検出器と、
少なくとも1つの位置合わせユニットとを備え、
前記X線回折格子アセンブリは、前記X線放射線源と前記X線放射線検出器との間に配置され、
焦点が前記X線放射線源に設けられ、
前記少なくとも2つの平坦なX線回折格子セグメントのうちの1つのX線回折格子セグメントは、前記少なくとも1つの位置合わせユニットのうちの単一の位置合わせユニットに接続される、X線画像取得システム。 - 前記X線画像取得システムは、処理ユニットをさらに備え、
前記処理ユニットは、前記焦点の位置を変更するように、前記少なくとも1つの位置合わせユニットを制御する、請求項10に記載のX線画像取得システム。 - 各位置合わせユニットは、前記焦点の位置を動的に調整するために、前記処理ユニットによって個々に及び/又は動的に制御可能である、請求項10又は11に記載のX線画像取得システム。
- 請求項1から9のいずれか一項に記載のデバイス、又は請求項10から12のいずれか一項に記載のX線画像取得システムで、X線回折格子をX線放射線源に位置合わせする方法であって、前記方法は、
a) 処理ユニットを用いてX線放射線源の位置を決定するステップと、
b) 平坦なX線回折格子セグメントの回折格子面に垂直な法線が、前記X線放射線源と交差するように、位置合わせユニットを用いて、前記平坦なX線回折格子セグメントを回転させるステップであって、前記法線は、前記回折格子面の幾何学中心と交差する、回転させるステップと、
c) 前記平坦な各X線回折格子セグメントに対してステップb)を繰り返すステップとを有する、方法。 - 処理ユニットによって実行されると、請求項13に記載の方法のステップを実行する、請求項1から9のいずれか一項に記載のデバイス、又は、請求項10から12のいずれか一項に記載のX線画像取得システムを制御するためのコンピュータプログラム。
- 請求項14に記載のコンピュータプログラムを格納した、コンピュータ可読媒体。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
EP17206588.0A EP3498170A1 (en) | 2017-12-12 | 2017-12-12 | Device and method for aligning an x-ray grating to an x-ray radiation source, and x-ray image acquisition system |
EP17206588.0 | 2017-12-12 | ||
PCT/EP2018/084084 WO2019115419A1 (en) | 2017-12-12 | 2018-12-10 | Device and method for aligning an x-ray grating to an x-ray radiation source, and x-ray image acquisition system |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2021509179A true JP2021509179A (ja) | 2021-03-18 |
JP6998472B2 JP6998472B2 (ja) | 2022-01-18 |
Family
ID=60888112
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020552115A Active JP6998472B2 (ja) | 2017-12-12 | 2018-12-10 | X線回折格子をx線放射線源に位置合わせするためのデバイス及び方法、並びにx線画像取得システム |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10959693B2 (ja) |
EP (2) | EP3498170A1 (ja) |
JP (1) | JP6998472B2 (ja) |
CN (1) | CN110621230B (ja) |
WO (1) | WO2019115419A1 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10295485B2 (en) | 2013-12-05 | 2019-05-21 | Sigray, Inc. | X-ray transmission spectrometer system |
US10989822B2 (en) | 2018-06-04 | 2021-04-27 | Sigray, Inc. | Wavelength dispersive x-ray spectrometer |
JP7117452B2 (ja) | 2018-07-26 | 2022-08-12 | シグレイ、インコーポレイテッド | 高輝度反射型x線源 |
DE112019004478T5 (de) | 2018-09-07 | 2021-07-08 | Sigray, Inc. | System und verfahren zur röntgenanalyse mit wählbarer tiefe |
WO2021162947A1 (en) | 2020-02-10 | 2021-08-19 | Sigray, Inc. | X-ray mirror optics with multiple hyperboloidal / hyperbolic surface profiles |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5111391A (en) * | 1974-07-18 | 1976-01-29 | Shimadzu Corp | Horoguramuyo x senkan |
JPS60233600A (ja) * | 1984-05-02 | 1985-11-20 | 株式会社島津製作所 | X線レンズ |
JP2013513414A (ja) * | 2009-12-10 | 2013-04-22 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 移動可能x線検出器要素を有する位相コントラスト画像化装置及び方法 |
WO2014034033A1 (ja) * | 2012-09-03 | 2014-03-06 | コニカミノルタ株式会社 | 回折格子および回折格子の製造方法、格子ユニットならびにx線撮像装置 |
Family Cites Families (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4211178B2 (ja) | 2000-01-28 | 2009-01-21 | 株式会社豊田自動織機 | 自動車の車体 |
DE10136795A1 (de) | 2001-07-27 | 2003-02-13 | Siemens Ag | Adaptierbarer Streustrahlenraster mit in Silizium gehalterten Blei-Stiften |
JP2005159213A (ja) * | 2003-11-28 | 2005-06-16 | Canon Inc | シアリング干渉を利用した測定方法及び装置、それを利用した露光方法及び装置、並びに、デバイス製造方法 |
DE102006037281A1 (de) * | 2006-02-01 | 2007-08-09 | Siemens Ag | Röntgenoptisches Durchstrahlungsgitter einer Fokus-Detektor-Anordnung einer Röntgenapparatur zur Erzeugung projektiver oder tomographischer Phasenkontrastaufnahmen von einem Untersuchungsobjekt |
DE102006015358B4 (de) | 2006-02-01 | 2019-08-22 | Paul Scherer Institut | Fokus/Detektor-System einer Röntgenapparatur zur Erzeugung von Phasenkontrastaufnahmen, zugehöriges Röntgen-System sowie Speichermedium und Verfahren zur Erzeugung tomographischer Aufnahmen |
JP2011224330A (ja) * | 2010-03-29 | 2011-11-10 | Fujifilm Corp | 放射線撮影システム及びそのオフセット補正方法 |
JP2011206161A (ja) | 2010-03-29 | 2011-10-20 | Fujifilm Corp | 放射線撮影システム及びその画像生成方法 |
JP5548085B2 (ja) * | 2010-03-30 | 2014-07-16 | 富士フイルム株式会社 | 回折格子の調整方法 |
EP2585817B1 (en) * | 2010-06-28 | 2020-01-22 | Paul Scherrer Institut | A method for x-ray phase contrast and dark-field imaging using an arrangement of gratings in planar geometry |
US10734128B2 (en) * | 2011-02-01 | 2020-08-04 | Koninklijke Philips N.V. | Differential phase-contrast imaging with focussing deflection structure plates |
BR112014017853A8 (pt) * | 2012-01-24 | 2017-07-11 | Koninklijke Philips Nv | Sistema de geração de imagens por raios x para a geração de imagens de contraste de fase de um objeto, método para a geração de imagens por de contraste de fase de raios x de um objeto, elemento de programa de computador para o controle de um aparelho, e meio legível por computador |
US9532760B2 (en) * | 2012-04-24 | 2017-01-03 | Siemens Aktiengesellschaft | X-ray device |
CN105338901B (zh) * | 2013-06-28 | 2019-03-08 | 皇家飞利浦有限公司 | 狭缝扫描相位衬度成像中的校正 |
DE102013219554A1 (de) * | 2013-09-27 | 2015-04-02 | Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg | Untersuchungsverfahren eines Objekts mit einem Röntgenaufnahmesystem zur Phasenkontrast-Bildgebung mit Verschiebungsmessung |
EP2942619A1 (en) * | 2014-05-07 | 2015-11-11 | Paul Scherrer Institut | Tilted-grating approach for scanning-mode X-ray grating interferometry |
EP3178089B1 (en) * | 2014-08-05 | 2018-01-10 | Koninklijke Philips N.V. | Grating device for an x-ray imaging device |
DE102016204046B4 (de) * | 2016-03-11 | 2018-05-24 | Siemens Healthcare Gmbh | Verfahren und Röntgenvorrichtung zur interferometrischen Röntgen-2D-Bildgebung |
JP2018128579A (ja) * | 2017-02-08 | 2018-08-16 | 株式会社島津製作所 | 回折格子の製造方法 |
EP3534376A1 (de) * | 2018-02-28 | 2019-09-04 | Siemens Healthcare GmbH | Verfahren zur herstellung eines mikrostrukturbauteils, mikrostrukturbauteil und röntgengerät |
-
2017
- 2017-12-12 EP EP17206588.0A patent/EP3498170A1/en not_active Withdrawn
-
2018
- 2018-12-10 JP JP2020552115A patent/JP6998472B2/ja active Active
- 2018-12-10 CN CN201880024793.7A patent/CN110621230B/zh active Active
- 2018-12-10 WO PCT/EP2018/084084 patent/WO2019115419A1/en unknown
- 2018-12-10 US US16/500,858 patent/US10959693B2/en active Active
- 2018-12-10 EP EP18811855.8A patent/EP3576628B1/en active Active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5111391A (en) * | 1974-07-18 | 1976-01-29 | Shimadzu Corp | Horoguramuyo x senkan |
JPS60233600A (ja) * | 1984-05-02 | 1985-11-20 | 株式会社島津製作所 | X線レンズ |
JP2013513414A (ja) * | 2009-12-10 | 2013-04-22 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 移動可能x線検出器要素を有する位相コントラスト画像化装置及び方法 |
WO2014034033A1 (ja) * | 2012-09-03 | 2014-03-06 | コニカミノルタ株式会社 | 回折格子および回折格子の製造方法、格子ユニットならびにx線撮像装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2019115419A1 (en) | 2019-06-20 |
CN110621230A (zh) | 2019-12-27 |
US10959693B2 (en) | 2021-03-30 |
CN110621230B (zh) | 2021-08-17 |
EP3576628B1 (en) | 2020-07-29 |
EP3498170A1 (en) | 2019-06-19 |
JP6998472B2 (ja) | 2022-01-18 |
US20200297297A1 (en) | 2020-09-24 |
EP3576628A1 (en) | 2019-12-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6998472B2 (ja) | X線回折格子をx線放射線源に位置合わせするためのデバイス及び方法、並びにx線画像取得システム | |
US9429665B2 (en) | Radiation penetration system and calibration of the same | |
US20150071402A1 (en) | X-ray imaging system | |
KR101830836B1 (ko) | 엑스선 영상 장치 | |
JP2019010546A (ja) | トモシンセシス用の方向付けられたx線場 | |
EP3078328B1 (en) | Tomosynthesis collimation | |
JP2008039776A (ja) | 小さい視野域を有する撮像検出器を用いた撮像のための方法及び装置 | |
EP2806798A1 (en) | Multi-directional phase contrast x-ray imaging | |
JP2016126010A (ja) | Ct検出方法及びct装置 | |
US20120061581A1 (en) | Mixed resolution and multiplexing imaging method and system | |
RU2700470C2 (ru) | Устройство и способ визуализации | |
CN106768328A (zh) | 一种光谱仪成像系统 | |
US9239304B2 (en) | X-ray imaging apparatus | |
KR20170082525A (ko) | 컴퓨터 단층 촬영 장치 및 연관된 방법 | |
US9261608B2 (en) | Imaging apparatus, an aperture for the imaging apparatus and a method for manufacturing an aperture of an imaging apparatus | |
JP5977167B2 (ja) | 放射線断層撮影装置 | |
KR20200102940A (ko) | X선 검사 장치, 및 x선 검사 장치를 작동시키기 위한 방법 | |
JP2008298556A (ja) | X線検出器およびx線ct装置 | |
US10548544B2 (en) | Rotating-slit gamma-ray imager and associated imaging method | |
US7112794B2 (en) | Method and system for creating an image of a radiation source | |
Holt | Geometric calibration of detectors with discrete irregularities for computed tomography | |
WO2015182493A1 (ja) | X線ct装置 | |
Parry et al. | Dual Plane Imaging | |
US20140332660A1 (en) | Orthographic lens system | |
JP2011143308A (ja) | 放射線撮影装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20201204 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20201204 |
|
A871 | Explanation of circumstances concerning accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871 Effective date: 20201204 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20210127 |
|
A975 | Report on accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005 Effective date: 20210216 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20210507 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20210803 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20211104 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20211122 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20211220 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6998472 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |