JP2021136554A - 放射線撮像装置、放射線撮像システム、放射線撮像装置の駆動方法、および、プログラム - Google Patents
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Abstract
【課題】放射線撮像装置において、高ダイナミックレンジかつ低線量領域におけるリニアリティの低下を抑制するのに有利な技術を提供する。【解決手段】画素信号を生成する変換部をそれぞれ含む複数の画素と、画素信号をサンプリングするサンプリング部と、処理部と、を備え、複数の画素のそれぞれの画素について、サンプリング部は、画素信号を第1感度および第1感度よりも高い第2感度でそれぞれサンプリングし、処理部は、サンプリング部が画素信号を第1感度でサンプリングして得られた第1信号値が第1閾値よりも小さい場合、サンプリング部が画素信号を第2感度でサンプリングして得られた第2信号値に基づいて画素値を生成し、第1信号値が第1閾値よりも大きい第2閾値を超える場合、第1信号値に基づいて画素値を生成し、第1信号値が第1閾値以上かつ第2閾値以下の場合、第1信号値および第2信号値に基づいて画素値を生成する。【選択図】図6
Description
本発明は、放射線撮像装置、放射線撮像システム、放射線撮像装置の駆動方法、および、プログラムに関する。
変換素子と薄膜トランジスタ(TFT)などのスイッチ素子とを組み合わせた画素がアレイ状に配された平面型の画素パネルを含む放射線撮像装置が広く利用されている。特許文献1には、感度切替用の容量をフォトダイオードの出力ノードにスイッチを介して接続し、スイッチのオン/オフを切り替えることによって、高ダイナミックレンジモードと高感度モードとを切り替えることが示されている。
放射線画像には、被写体に応じて線量が多い領域と線量が少ない領域とが生じうる。線量が少ない低線量領域では、画素やA/D変換器などで発生する1/fノイズなどの影響によって、入射線量に対するA/D変換後の信号値のリニアリティが低下しうる。ダイナミックレンジを拡大するために感度切替用の容量をフォトダイオードの出力ノードに接続した高ダイナミックレンジモードでは、低線量領域の信号値は高感度モードよりも小さくなるため、相対的に1/fノイズなどの影響が大きくなってしまう。
本発明は、放射線撮像装置において、高ダイナミックレンジかつ低線量領域におけるリニアリティの低下を抑制するのに有利な技術を提供することを目的とする。
上記課題に鑑みて、本発明の実施形態に係る放射線撮像装置は、入射した放射線に応じた画素信号を生成する変換部をそれぞれ含む複数の画素と、画素信号をサンプリングするサンプリング部と、サンプリング部によってサンプリングされた信号を処理する処理部と、を備える放射線撮像装置であって、複数の画素のそれぞれの画素について、サンプリング部は、画素信号を第1感度および第1感度よりも高い第2感度でそれぞれサンプリングし、処理部は、サンプリング部が画素信号を第1感度でサンプリングして得られた第1信号値が第1閾値よりも小さい場合、サンプリング部が画素信号を第2感度でサンプリングして得られた第2信号値に基づいて画素値を生成し、第1信号値が第1閾値よりも大きい第2閾値を超える場合、第1信号値に基づいて画素値を生成し、第1信号値が第1閾値以上かつ第2閾値以下の場合、第1信号値および第2信号値に基づいて画素値を生成することを特徴とする。
上記手段によって、放射線撮像装置において、高ダイナミックレンジかつ低線量領域におけるリニアリティの低下を抑制するのに有利な技術を提供する。
以下、添付図面を参照して実施形態を詳しく説明する。なお、以下の実施形態は特許請求の範囲に係る発明を限定するものではない。実施形態には複数の特徴が記載されているが、これらの複数の特徴の全てが発明に必須のものとは限らず、また、複数の特徴は任意に組み合わせられてもよい。さらに、添付図面においては、同一若しくは同様の構成に同一の参照番号を付し、重複した説明は省略する。
また、本発明における放射線には、放射線崩壊によって放出される粒子(光子を含む)の作るビームであるα線、β線、γ線などの他に、同程度以上のエネルギを有するビーム、例えばX線や粒子線、宇宙線なども含みうる。
第1実施形態
図1〜8を参照して、本実施形態による放射線撮像装置の構成、及び、駆動方法について説明する。図1は、本実施形態における放射線撮像装置150を備える放射線撮像システムSYSの全体構成例を示すシステムブロック図である。放射線撮像システムSYSは、撮像部100、システム制御部101、表示部102、照射制御部103、放射線源104を含む。
図1〜8を参照して、本実施形態による放射線撮像装置の構成、及び、駆動方法について説明する。図1は、本実施形態における放射線撮像装置150を備える放射線撮像システムSYSの全体構成例を示すシステムブロック図である。放射線撮像システムSYSは、撮像部100、システム制御部101、表示部102、照射制御部103、放射線源104を含む。
撮像部100は、放射線を用いた撮像によって被検体の内部情報を示す画像データを取得し、画像データをシステム制御部101に出力する。システム制御部101は、撮像部100から出力された画像データに対して画像処理やデータ処理を行う処理部130を含む。ここで、本実施形態における放射線撮像装置150は、画像データを取得するための撮像部100と、画像データに対して画像処理やデータ処理を行う処理部130と、を含む。
システム制御部101は、それぞれのユニット間で制御信号の授受を行い、撮像部100や照射制御部103を含む放射線撮像システムSYS全体のシステム制御や同期制御を行う制御部としても機能する。表示部102は、例えばディスプレイを含み、撮像部100からシステム制御部101を介して出力される画像データに基づいて、放射線画像を表示する。例えば、放射線照射に対応したフレーム画像データが、撮像部100からシステム制御部101に転送され、システム制御部101で画像処理が行われた後、表示部102に放射線画像がリアルタイムに表示される。
照射制御部103は、放射線画像の撮像の際に、撮像部100と同期するようにシステム制御部101から制御される。照射制御部103は、システム制御部101から出力される制御信号に応じて、放射線の照射を行うための信号を放射線発生装置である放射線源104に出力する。放射線源104は、照射制御部103から出力される信号に応じて、放射線撮像を行うための放射線を発生する。換言すると、システム制御部101は、放射線撮像装置150の撮像部100へ放射線を照射するための放射線源104に、照射制御部103を介して放射線の照射を制御するための信号を出力する。
撮像部100は、センサパネル105、読出部106、制御部109を含む。読出部106は、センサパネル105から出力される画像用の信号を読み出す。制御部109は、システム制御部101との間で制御信号などの信号の授受を行いながら撮像部100内の各ユニットを制御する。
センサパネル105には、複数のセンサユニット120が配列される。それぞれのセンサユニット120は、例えば、シリコンウェーハなどの半導体の基板を用いて公知の半導体製造プロセスによって作製され、CMOS型の撮像素子である画素が2次元アレイ状に配されたセンサチップでありうる。それぞれのセンサユニット120は、被検体の内部情報を示す画像用の信号を取得するための撮像領域を有する。また、それぞれのセンサユニット120は、撮像領域の他に、遮光されたオプティカルブラック領域を有していてもよい。それぞれのセンサユニット120は、ダイシングなどによって物理的に分離されたものでありうる。換言すると、センサパネル105に配される複数のセンサユニット120は、それぞれのセンサユニット120ごとに分離可能な構成を有しうる。複数のセンサユニット120を不図示の板状の基台の上にタイリングすることによって、センサパネル105を大型化することが可能となる。センサユニット120に形成される画素の変換素子は、互いに隣接するセンサユニット120の境界を挟んで、センサユニット120内部と同等のピッチで配されるように、それぞれのセンサユニット120がタイリングされうる。図1に示す構成では、説明を容易にするため、センサユニット120が2行×7列にわたってタイリングされた構成を示すが、センサパネル105の構成は、この構成に限られるものではない。
センサパネル105の放射線が照射される入射面の側には、例えば、放射線を光に変換するシンチレータ(不図示)が配され、センサパネル105のそれぞれのセンサユニット120に配された画素の変換素子によって、放射線から変換された光に応じた電気信号が得られる。本実施形態では、放射線をシンチレータによって光に変換し、変換された光を光電変換する間接型の変換素子を備える画素を用いた撮像装置の構成例を示すが、放射線を直接、電気信号に変換する直接型の変換素子を用いた撮像装置であってもよい。
読出部106は、例えば、差動アンプ107とアナログデジタル(A/D)変換を行うA/D変換器108と、を含む。差動アンプ107およびA/D変換器108の構成および動作については後述する。
センサパネル105の上辺部、及び、下辺部には、信号の授受、または、電源の供給を行うための電極が配される。電極は、フライングリード式プリント配線板(不図示)などによって外部回路に接続される。例えば、センサパネル105からの画像用の信号は、電極を介して読出部106によって読み出され、また、制御部109からの制御信号は、電極を介してセンサパネル105に供給される。
制御部109は、センサパネル105、差動アンプ107、A/D変換器108の動作を制御し、例えば、それぞれのセンサユニット120に供給する基準電圧の設定やそれぞれの画素の駆動制御、動作モード制御を行う。また、制御部109は、読出部のA/D変換器108によってA/D変換されたセンサパネル105の各センサから出力された画像用の信号(デジタルデータ)を用いて単位期間ごとに1つのフレームデータを生成する。生成されたフレームデータは、画像データとしてシステム制御部101に出力される。
撮像部100は、さらにメモリ115を備えていてもよい。メモリ115には、放射線撮像装置150の撮像部100を動作させる際のプログラムなどが記憶されていてもよい。また、メモリ115には、各種の補正データやパラメータが記憶されていてもよい。
制御部109とシステム制御部101との間では、各種インタフェースを介して、制御コマンドなどの制御信号や画像データなどの授受が行われる。制御用インタフェース110は、駆動モードや各種パラメータなどの撮像情報や設定情報の授受を行うためのインタフェースである。また、制御用インタフェース110は、撮像部100の動作状態などの装置情報の授受を行ってもよい。画像データインタフェース111は、撮像部100から出力される画像用の信号(画像データ)をシステム制御部101に出力するためのインタフェースである。また、制御部109は、撮像部100が撮像可能な状態になったことをREADY信号112によってシステム制御部101に通知する。システム制御部101は、制御部109から出力されるREADY信号112に応じて、放射線の照射開始(曝射)のタイミングを、同期信号113によって制御部109に通知する。システム制御部101は、制御部109から出力される曝射許可信号114がイネーブル状態の間に、照射制御部103に制御信号を出力し、放射線の照射を開始させる。
以上のような構成によって、放射線撮像システムSYSにおける各ユニットの制御、例えば駆動制御、同期制御、駆動モード制御などがなされる。例えば、システム制御部101に、ユーザが動作モードや各種パラメータなどの撮像情報などを入力するための情報入力部や情報入力端末などの入力部(不図示)が接続されていてもよく、各ユニットの制御は、ユーザによって入力された撮像情報に基づいてなされる。例えば、システム制御部101は、駆動モード設定部として機能し、ユーザの入力した撮像情報に基づいて駆動モードを選択し、放射線撮像システムSYSが動作するように放射線撮像システムSYS全体を制御する。そして、撮像部100は、センサパネル105から読み出された画素からの画像用の信号を、1つ1つの単位期間ごとにフレームデータを生成し、画像データとしてシステム制御部101に出力する。システム制御部101の処理部130は、画像データに対して所定の画像処理やデータ処理を行い、画像データに基づく放射線画像を表示部102に表示させる。
放射線撮像システムSYSにおける各ユニットは、上記構成に限られるものではなく、各ユニットの構成は、目的などに応じて、適宜変更されてもよい。例えば、システム制御部101と照射制御部103などの2つ以上のユニットの各機能が、1つのユニットによって達成されてもよい。また、例えば、本実施形態において、撮像部100とシステム制御部101とは、別々のユニットとして示されているが、これに限られることはない。撮像部100は、撮像部100の備える各機能に加え、システム制御部101や表示部102、照射制御部103の一部またはすべての機能を含んでいてもよい。例えば、システム制御部101の画像処理を行う処理部130が撮像部100に含まれるなど、あるユニットの一部の機能が、他のユニットによって達成されてもよい。また例えば、システム制御部101の画像処理を行う処理部130として機能と、システム制御を行う制御部としての機能とが、それぞれ別のユニットによって達成されるなど、それぞれのユニットが、機能によって別のユニットに分かれていてもよい。
図2は、センサパネル105のそれぞれのセンサユニット120に配される複数の画素のうち1つの画素PIXの回路構成例を示している。図2において、フォトダイオードPDは光電変換素子であり、入射する放射線に応じて前述のシンチレータで生じた光を電気信号に変換する。したがって、入射した放射線に応じた画素信号を生成する変換部201が、シンチレータと変換素子であるフォトダイオードPDとを含み構成される。具体的には、シンチレータで生じた光の光量に応じた量の電荷がフォトダイオードPDで発生する。本実施形態において、上述のように間接型の変換素子を用いたセンサパネル105を考えており、放射線を電気信号(電荷)に変換するための変換部201としてフォトダイオードPDを用いる構成を示したが、これに限られることはない。放射線を電気信号に変換するための変換部201として、例えば、放射線を直接、電気信号に変換する直接型の変換素子が用いられてもよい。
本実施形態において、それぞれの画素PIXは、容量Cfd、Cfd1、変換部201の出力ノードと容量Cfd1との間に配されたスイッチであるトランジスタM1を含む。容量Cfdは、フォトダイオードPDで発生した電荷を蓄積するためのフローティングディフュージョン(浮遊拡散領域)の容量である。また、容量Cfdには、フォトダイオードPDに寄生する寄生容量も含まれうる。トランジスタM1は、画素PIXの放射線に対する感度を切り替えるためのスイッチ素子である。容量Cfd1は、画素PIXの感度を切り替えるための切替用容量であり、トランジスタM1を介してフォトダイオードPDに接続される。この構成によって、それぞれの画素PIXにおいて、フォトダイオードPDで生成された電荷を蓄積するための容量の容量値が変更可能となり、画素PIXの放射線に対する感度が切り替えられる。
トランジスタM2は、フォトダイオードPD、容量Cfd、容量Cfd1に蓄積された電荷を放電させるためのリセットスイッチである。トランジスタM4は、ソースフォロアとして動作するための増幅MOSトランジスタ(画素アンプ)である。トランジスタM3はトランジスタM4を動作状態とさせるための選択スイッチである。
トランジスタM4の後段には、フォトダイオードPDを含む変換部201で発生するkTCノイズを除去するためのクランプ回路202が設けられる。容量Cclはクランプ容量であり、トランジスタM5は、クランプ用のクランプスイッチである。トランジスタM7は、ソースフォロアとして動作する増幅MOSトランジスタ(画素アンプ)である。トランジスタM6はトランジスタM7を動作状態とするための選択スイッチである。
トランジスタM7の後段には、3つのサンプルホールド回路が設けられたサンプリング部203が配される。トランジスタM8、M11は、それぞれ放射線から変換された光によってフォトダイオードPDで生成される画像用の画素信号である光信号を蓄積するためのサンプルホールド回路を構成するサンプルホールドスイッチである。容量CS1および容量CS2は、サンプリングした光信号を保持するための保持容量である。トランジスタM14は基準電圧の信号を蓄積するためのサンプルホールド回路を構成するサンプルホールドスイッチである。容量CNは、サンプリングした基準信号を保持するための保持容量である。トランジスタM10、M13は、ソースフォロアとして動作する光信号の増幅MOSトランジスタ(画素アンプ)である。アナログスイッチM9、M12は、トランジスタM10およびトランジスタM13で増幅された光信号を、それぞれ光信号出力部S1、S2へ出力するための転送スイッチである。トランジスタM16は、ソースフォロアとしての動作する基準信号の増幅MOSトランジスタ(画素アンプ)である。アナログスイッチM15は、トランジスタM16で増幅された基準信号を基準信号出力部Nへ出力するための転送スイッチである。
信号ENは、トランジスタM3、M6のゲートに接続され、トランジスタM4、M7の動作状態を制御するための制御信号である。信号ENがハイレベルのとき、トランジスタM4、M7は同時に動作状態となる。信号PRESは、トランジスタM2のゲートに接続され、トランジスタM2の動作状態を制御するための制御信号(リセット信号)である。信号PRESがハイレベルのとき、トランジスタM2はオン動作し、フォトダイオードPD、容量Cfd、Cfd1に蓄積された電荷を放電させる。信号PCLは、トランジスタM5のゲートに接続され、トランジスタM5を制御するための制御信号である。信号PCLがハイレベルのとき、トランジスタM5がオン動作し、容量Cclを基準電圧VCLにセットする。信号TS1は、トランジスタM8のゲートに接続され、光信号のサンプルホールドを制御する制御信号である。信号TS1をハイレベルとし、トランジスタM8をオン動作させることで、光信号がトランジスタM7を介して容量CS1に一括転送される。次いで、すべての画素PIX一括で信号TS1をローレベルとし、トランジスタM8をオフ動作させることで、サンプルホールド回路の容量CS1への光信号のサンプリングが完了する。信号TS2信号は、トランジスタM11のゲートに接続され、信号TS1と同様に動作し、サンプルホールド回路の容量CS2への光信号のサンプリングを行う。このように、サンプリング部203は、複数の画素PIXのそれぞれにおいて、同時にフォトダイオードPDで生成された画素信号(光信号)を異なる感度でサンプリング可能である。信号TNは、トランジスタM14のゲートに接続され、基準信号のサンプルホールドを制御する制御信号である。信号TNをハイレベルとし、トランジスタM14をオン動作させることで、基準信号がトランジスタM7を介して容量CNに一括転送される。次いで、すべての画素一括で信号TNをローレベルとし、トランジスタM14をオフ動作させることで、サンプルホールド回路の容量CNへの基準信号のサンプリングが完了する。基準信号も、サンプリング部203は、複数の画素PIXのそれぞれにおいて、同時にサンプリング可能である。容量CS1、CS2、CNへのサンプルホールド後は、トランジスタM8、M11、M14がオフとなり、容量CS1、CS2、CNは、前段の蓄積回路と切り離される。このため、再度サンプリングを行うまで蓄積された光信号、基準信号は、それぞれアナログスイッチM9、12、15を導通状態にすることによって、非破壊で読み出すことができる。つまり、トランジスタM8、M11、M14を非導通状態にしている間、保持している光信号および基準信号を、任意のタイミングで読み出すことができる。
図3は、図2に示される画素PIXにおける、動画を撮像する際の駆動制御の一例を示すタイミング図である。以下、動画像を撮像する際に、容量CS1、CS2、CNに電荷がサンプルホールドされるまでの制御信号のタイミングについて説明する。
まず、時刻t1において、ユーザによって撮像の際の感度や蓄積時間など、撮像モードの設定が行われた後、撮像開始の設定がなされる。次いで、時刻t2において、制御部109が、外部同期信号がハイレベルとなったことを検出すると、撮像のための駆動が開始される。
ここで、時刻t2から始まるリセット駆動Rについて説明する。リセット駆動Rは、リセットとクランプとを行う駆動である。まず、時刻t2において、システム制御部101からの同期信号113がハイレベルになったことを制御部109が検出すると、制御部109は、信号ENをハイレベルにし、トランジスタM4、M7をオン動作させる。次に、制御部109は、信号WIDE、信号PRESをハイレベルにし、トランジスタM1をオン動作させた状態でフォトダイオードPDを基準電圧VRESに接続する。次いで、制御部109は、信号PCLをハイレベルにすることによってクランプスイッチであるトランジスタM5をオン動作させ、クランプ容量である容量CclのトランジスタM7側を基準電圧VCLに接続する。同時に、制御部109は、信号TS1、TS2、TNをハイレベルにし、トランジスタM8、M11、M14をオン動作させる。
次いで、時刻t3において、制御部109は、信号WIDEをローレベルにしてトランジスタM1をオフ状態にし、変換素子であるフォトダイオードPDを含む変換部201を高感度で放射線を検出するモードに切り替える。さらに、制御部109は、信号PRESをローレベルにしてリセット駆動Rを終了する。
このとき、容量CclのトランジスタM4側にリセット電圧VRESがセットされる。また、容量Cfd1もトランジスタM1側がリセット電圧VRESで保持され、不定電圧が生じることを抑制する。また、制御部109は、トランジスタM5をオフ状態にし、基準電圧VCLと基準電圧VRESとの差分の電圧に応じた電荷が容量Cclに蓄積されクランプが終了する。また、同時に、制御部109は、トランジスタM8、M11、M14もオフ状態にし、容量CS1、CS2、CNに、基準電圧VCLがセットされたときの基準信号が保持される。フォトダイオードPDで生成された画素信号を所定の感度でサンプリングした光信号を保持するための容量CS1、CS2および基準信号を保持するための容量CNの電荷を、サンプリングが行われる前に一定にすることによって、残像の影響が低減される。
時刻t3において、リセット駆動Rが終了し、画素PIXは蓄積状態となったため、制御部109は、曝射許可信号114をイネーブルにし、放射線の曝射を要求する。時間t3は、それぞれの画素PIXにおいて、照射された放射線に応じた画素信号(電荷)を蓄積するための動作を開始する時間といえる。曝射許可信号114をイネーブルにすることによる放射線の照射の開始に応じて、フォトダイオードPD、フローティングディフュージョンの容量Cfdへの電荷の蓄積が始まる。つまり、時刻t3から高感度で、照射された放射線に応じた信号の蓄積が開始される。また、制御部109は、信号ENをローレベルにし、それぞれ画素アンプを構成するトランジスタM4、M7を非動作状態にする。
リセット駆動Rは、放射線撮像装置150に配されたすべての画素PIXに対して一括して行う。後に続くリセット駆動Rも、同様のタイミングで制御される。動画や静止画の撮像時、画素間や走査線間の時間的スイッチングのずれによって発生する画像ズレを防止するため、放射線撮像装置150に配されるすべての画素PIXにおいて同一のタイミング、同一の期間でリセット駆動Rが行われうる。その後、放射線の照射によって電荷の蓄積が行われ、それぞれの画素PIXのフォトダイオードPDで発生した信号電荷が容量CfdおよびフォトダイオードPDの寄生容量に蓄積される。
次に時刻t4から始まる高感度のサンプリング駆動SHについて説明する。時刻t4で、制御部109は、信号ENをハイレベルにしトランジスタM3、M6をオン動作させる。これによって、容量Cfdに蓄積された電荷は、電荷/電圧変換されソースフォロアとして動作し画素アンプを構成するトランジスタM4によって電圧として容量Cclに出力される。トランジスタM4の出力はリセットノイズを含むが、クランプ回路によってリセット駆動Rの際にトランジスタM7側を基準電圧VCLにセットしているため、リセットノイズが除去された光信号として画素アンプを構成するトランジスタM7に出力される。次に、制御部109は、放射線の照射によって光信号のサンプリングを制御する信号TS1をハイレベルとし、トランジスタM8をオン動作させる。これによって、変換部201で生成された光信号(画素信号)は、画素アンプを構成するトランジスタM7を介して、高い感度で光信号をサンプリングした信号を保持する容量CS1に、センサパネル105に配された画素PIXで一括転送される。制御部109は、時刻t5において、曝射許可信号をディセーブルとし、放射線の曝射を停止させる。また、制御部109は、信号TS1をローレベルとし、トランジスタM8をオフ状態にすることによって、容量CS1に高感度でサンプリングした信号が保持される。
時刻t5において、制御部109は、信号WIDEをハイレベルとし、サンプリング駆動SHを終了し、低感度のサンプリング駆動SLを開始する。信号WIDEがハイレベルになることによって、トランジスタM1がオン動作する。感度を切り替えるためのスイッチであるトランジスタM1がオン動作することによって、フローティングディフュージョン部の容量が増え、サンプリング部203は、変換部201で生成された光信号(画素信号を)を低感度でサンプリング可能となる。
次いで、制御部109は、信号TS2をハイレベルとし、トランジスタM11をオン動作させる。これによって、変換部201で生成された光信号(画素信号)は、画素アンプを構成するトランジスタM7を介して、低い感度で光信号をサンプリングした信号を保持する容量CS2に、センサパネル105に配された画素PIXで一括転送される。時刻t6において、制御部109は、信号TS2をローレベルとし、トランジスタM11をオフ状態にすることによって、容量CS2に低感度でサンプリングした信号が保持される。
次に、制御部109は、信号PRESをハイレベルとし、トランジスタM2をオン動作させ、容量Cfd、Cfd1を基準電圧VRESにリセットする。次いで、制御部109は、信号PCLをハイレベルとする。容量Cclには、電圧VCLと電圧VRESとの差分の電圧にリセットノイズが重畳した電荷が蓄積される。さらに、制御部109は、信号TNをハイレベルとし、トランジスタM14をオン動作させることによって、基準電圧VCLにセットされた際の基準信号を容量CNに転送する。続いて、時刻t8で、制御部109は、信号TNをローレベルとし、トランジスタM14をオフ動作させることによって、容量CNに基準信号が保持される。さらに、制御部109は、信号PRES、PCL、ENをローレベルとし、サンプリング駆動SLを終了する。
以上、説明した動作によって、サンプリング部203は、入射した放射線に応じて変換部201で生成された光信号(画素信号)を高感度および低感度でそれぞれサンプリングする。高感度で光信号をサンプリングするサンプリング駆動SHおよび低感度で光信号をサンプリングするサンプリング駆動SLは、センサパネル105に配された全ての画素PIXにおいて一括して行われる。後に、続くサンプリング駆動SH、サンプリング駆動SLも、同様のタイミングで制御される。サンプリング駆動SLの後、制御部109が、外部同期信号がハイレベルとなったことを検出すると、時刻t10から、再びリセット駆動Rが行われ、次のフレームの変換部201における電荷の蓄積が開始される。
高感度でサンプリングされた信号(以下、光信号ROHと記載する場合がある。)、低感度でサンプリングされた信号(以下、光信号ROLと記載する場合がある。)および基準信号の走査は、画素PIXごとに行われる。制御部109は、アナログスイッチM9、M12、M15をオン動作させることによって、容量CS1、CS2、CNの電圧が、光信号出力部S1、S2、基準信号出力部Nを介して、対応する列信号線に出力される。
図2に示される画素PIXにおいて、変換部201の電荷の蓄積を開始するタイミングは、図3に示されるリセット駆動Rの終了後に、信号PCLがローレベルになりクランプが完了した時刻t3、t11である。また、変換部201の電荷の蓄積の終了のタイミングは、信号TS1がローレベルになり、曝射許可信号114がディセーブルし、光信号ROHをサンプリングした時刻t5、t13である。
サンプリング駆動SLの終了後、時刻t7から、制御部109は、それぞれの画素PIXから光信号ROHを読み出す読出処理を行う。光信号ROHの読出処理が終了すると、次いで、時刻t8から、制御部109は、それぞれの画素PIXから光信号ROLを読み出す読出処理を行う。
光信号ROLの読み出しが終了すると、時刻t9において、制御部109は、制御用インタフェース110を介して、システム制御部101の処理部130に対して、光信号ROH、ROLに対する処理の開始を指示する信号を送信する。この信号に応じて、処理部130は、撮像部100のセンサパネル105に配された複数の画素PIXのそれぞれの画素PIXについて、画素値を生成する処理を開始する。処理部130における処理については、図6を用いて後述する。
図4は、センサユニット120の内部構造の構成例を模式的に示す図である。それぞれのセンサユニット120は、チップセレクト端子CS、光信号出力端子TS1、光信号出力端子TS2、基準信号出力端子TN、垂直走査回路スタート信号端子VST、垂直走査回路クロック端子CLKV、水平走査回路スタート信号端子HST、水平走査回路クロック端子CLKHの各端子を含む。また、センサユニット120には、列方向にm個×行方向にn個の画素PIXが2次元アレイ状に配列されている。垂直走査回路403は、行方向に並ぶ画素PIXを行ごとに選択し、垂直走査クロックCLKVに同期して画素群を順次、副走査方向である垂直方向に走査する。垂直走査回路403は、例えば、シフトレジスタで構成されうる。水平走査回路404は、垂直走査回路403によって選択された主査方向である列方向の画素PIXの列信号線を、水平走査クロックCLKHに同期して順次、1画素ずつ選択する。それぞれの画素PIXは、垂直走査回路403に接続された行信号線405がイネーブルになることによって、列信号線406、407、408に、それぞれサンプリングされた光信号および基準信号を出力する。列信号線406、407、408に出力された各信号を水平走査回路404が順次選択することによって、アナログ出力線409、410、411にそれぞれ画素PIXの各信号が順次出力される。以上のように、センサユニット120は、垂直走査回路403、水平走査回路404を使用したXYアドレス方式によるスイッチング動作によって画素PIXの選択が行われる。それぞれの画素PIXの光信号、基準信号は、列信号線406、407、408およびアナログ出力線409、410、411を通して光信号出力端子TS1、光信号出力端子TS2、基準信号出力端子TNから出力される。
図5は、それぞれの画素PIXから出力される光信号および基準信号をA/D変換する差動アンプ107およびA/D変換器108を含む読出部106の構成例を示す図である。光信号出力端子TS1、TS2からの出力は、それぞれ入力スイッチM50、入力スイッチM51に接続される。入力スイッチM50は信号SW1によって動作し、入力スイッチM51は信号SW2によって動作する。信号SW1および信号SW2は、画素PIXから出力される各信号の破壊や、素子の破壊を防ぐため、同時にオン動作しないように制御部109によって制御される。
例えば、それぞれの画素PIXの容量CS1、CS2、CNにサンプルホールドされた光信号(以下、容量CS1にサンプルホールドされた光信号を光信号1、容量CS2にサンプルホールドされた光信号を光信号2と示す場合がある。)、基準信号は、同時に出力される場合でも、まず、制御部109は、信号SW1をハイレベル、信号SW2をローレベルに制御する。そして、図4に示す画素PIX(1、1)から順に画素PIX(n、m)までの光信号1および基準信号が読み出される。次いで、制御部109は、信号SW1をローレベル、信号SW2をハイレベルに制御して、画素PIX(1、1)から順に(n、m)までの光信号2および基準信号が読み出されてもよい。
また、例えば、まず、制御部109は、信号SW1をハイレベル、信号SW2をローレベルに制御し、画素PIX(1、1)から順に画素PIX(n、1)までの光信号1および基準信号を読み出す。次いで、制御部109は、信号SW1をローレベル、信号SW2をハイレベルに制御して、PIX(1、1)から順に画素PIX(n、1)までの光信号2および基準信号を読み出す。次に、制御部109は、垂直走査回路403に垂直走査クロックCLKVを供給させ、副走査方向に1つ走査することによって、画素PIX(1、2)から順に画素PIX(n、2)を選択する。再度、制御部109は、信号SW1をハイレベル、信号SW2をローレベルに制御して、画素PIX(1、2)から順に画素PIX(n、2)までの光信号1および基準信号を読み出す。次いで、制御部109は、信号SW1をローレベル、信号SW2をハイレベルに制御して、画素PIX(1、2)から順に画素PIX(n、2)までの光信号2および基準信号を読み出す。このように、制御部109は、行単位で信号SW1、SW2を制御し、画素PIX(1、1)から順に画素PIX(n、m)まで、光信号および基準信号を読み出してもよい。
差動アンプ107は、マイナス側入力に高感度または低感度で取得した光信号が入力され、プラス側入力に基準信号が入力される。差動アンプ107で基準信号から光信号を減算することによって、画素PIX内のそれぞれの画素アンプでのプロセスばらつきなどによる固定パターンノイズ(FPN)などが除去されうる。差動アンプ107の出力は、A/D変換器108に入力される。A/D変換器108は、信号ADCLKからクロック信号を受け取り、信号ADCLKがハイレベルに切り替わるタイミングでA/D変換されたデジタルの光信号ADOUTを、センサユニット120ごとに制御部109に出力する。
次に、高いダイナミックレンジを確保しつつ、低線量領域における入射線量に対するA/D変換後の信号値のリニアリティの低下を抑制する処理部130の処理について説明する。制御部109に送信された光信号ADOUTは、読出部106で読み出された順番で、画像データインタフェース111を介してシステム制御部101の処理部130に送信され、リニアリティを改善のための処理が行われる。図6は、リニアリティを改善するための処理を説明するフロー図である。
処理部130には、上述のようにサンプリング部203が、変換部201で生成された光信号を高感度および低感度でそれぞれサンプリングした光信号ROH、ROLに対して、基準信号を用いた補正およびA/D変換した信号ROH’、ROL’を制御部109から受信する。信号ROH’、ROL’は、上述の光信号ADOUTに対応する。さらに、上述のように、制御部109から処理の開始を指示する信号を受信することによって、処理部130は、撮像部100のセンサパネル105に配された複数の画素PIXのそれぞれの画素PIXについて画素値を生成する処理を開始する。
まず、センサパネル105やそれぞれのセンサユニット120ごとの特性を補正するために、処理部130は、オフセット補正(S121)、感度補正(S122)、欠陥補正(S123)を行う。このとき、それぞれの画素PIXが出力した信号の信号値と周辺の画素PIXが出力した信号の信号値との相関関係が保たれた状態である。
次に、S124において、処理部130は、センサパネル105における画素PIXの位置を表す変数aを「0」に初期化する。例えば、図4における座標(1、1)に配された画素が、a=0の画素PIXであってもよい。変数aの最大値bは、図1、4に示される構成を備えるセンサパネル105の場合、センサユニット120にn×m個の画素PIXが配されるため、b=(n×m×7×2)−1となる。
ここで、画素位置が「a」のときの低感度の光信号ROLに対応する信号ROL’の信号値をPLa、高感度の光信号ROHに対応する信号ROH’の信号値をPHaとする。また、高感度でのサンプリングと低感度でのサンプリングとの感度比をGとする。
S124で画素PIXの位置の初期化を行った後、処理部130は、S125において、高感度でサンプリングした信号ROH’の信号値PHaを1/G倍し、感度調整値PHagを求める。
感度調整値PHagを生成した後、処理はS126に遷移し、変換部201から低感度でサンプリングされた光信号ROLに基づく信号値PLaの大きさに応じて、処理部130は、位置aの画素PIXの画素値Paの生成方法の選択を行う。本実施形態において、2つの閾値が設定される。ここで、2つの閾値を、閾値ThLと、閾値ThLよりも大きい閾値ThH(ThH>ThL)とする。ここでは、A/D変換器108でA/D変換されたデジタル画像データADOUTが16ビットの場合を示す。
低感度の信号値PLaが閾値ThL未満の場合、処理部130は、高感度でサンプリングすることによって得た信号値PHaを感度比に応じて調整した感度調整値PHagを画素位置が「a」の画素PIXの画素値Paとする(S127)。つまり、処理部130は、サンプリング部203が光信号(画素信号)を低感度でサンプリングして得られた信号値PLaが閾値ThLよりも小さい場合、サンプリング部203が光信号を高感度でサンプリングして得られた信号値PHaに基づいて当該画素の画素値Paを生成する。
また、低感度の信号値PLaが閾値ThHよりも大きい場合、処理部130は、低感度でサンプリングすることによって得た信号値PLaを画素位置が「a」の画素PIXの画素値Paとする(S129)。つまり、処理部130は、サンプリング部203が光信号を低感度でサンプリングした信号値PLaが閾値ThLよりも大きい閾値ThHを超える場合、サンプリング部203が光信号を低感度でサンプリングして得られた信号値PLaに基づいて当該画素の画素値Paを生成する。
さらに、低感度の信号値PLaが閾値ThL以上(第1閾値以上)かつ閾値ThH以下(第2閾値以下)である場合、処理部130は、サンプリング部203が光信号を高感度でサンプリングして得られた信号値PHa(感度調整値PHag)および低感度でサンプリングして得られた信号値PLaに基づいて当該画素の画素値Paを生成する(S128)。このとき、処理部130は、信号値PHa(感度調整値PHag)および信号値PLaの加重平均値に基づいて当該画素の画素値Paを生成してもよい。具体的には、所定の重みづけ係数kを用いて、処理部130は、以下の式(1)を用いて画素値Paを生成する。
Pa=(1−k)×PHag+k×PLa・・・(1)
重みづけ係数kは、例えば、以下の式(2)を用いて生成されてもよい。
k=(PLa−ThL)/(ThH−ThL)・・・(2)
Pa=(1−k)×PHag+k×PLa・・・(1)
重みづけ係数kは、例えば、以下の式(2)を用いて生成されてもよい。
k=(PLa−ThL)/(ThH−ThL)・・・(2)
これによって、信号値PLaと信号値PHa(感度調整値PHag)とを所定の重みづけで合成した画素値Paが生成される。結果として、低感度でサンプリングして得られた信号から生成された画素値による画像と、高感度でサンプリングして得られた信号から生成された画素値による画像と、の境界を滑らかにすることができる。
処理部130は、1つの画素PIXの画素値Paを生成すると、S130に遷移し、画素位置を表す変数aに1を足す。次いで、変数aの値が最大値bより小さい場合(S131のYES)、処理はS125に戻り、処理部130は、次の画素位置の画素値Paの生成を開始する。変数aの値が最大値b以上の場合(S131のNO)、処理はS132に進み、処理部130は、それぞれの画素PIXの画像値Paを生成する処理を終了する。
高ダイナミックレンジを実現するために、変換部201を低感度に設定した場合、センサパネル105のうち入射する放射線の線量が少ない領域の変換部201から出力された信号の信号値は、高感度に設定した場合と比較して相対的に小さい。このため、1/fノイズなどの影響が大きくなり、入射線量に対するA/D変換後の信号値のリニアリティが低下しうる。これに対して、センサパネル105に配された画素PIXのうち、低感度でサンプリングして得られた信号値PLaが所定の閾値ThLよりも小さい画素PIXに対して、高感度でサンプリングして得られた信号値PHaに基づく感度調整値PHagに置き換える。これによって、本実施形態における放射線撮像装置150は、低線量領域のリニアリティを改善した画像を生成することが可能となる。
閾値ThLと閾値ThHは、放射線の照射条件などによって変更可能であってもよい。例えば、処理部130が、閾値ThL、ThHの値を変更する機能を有していてもよい。処理部130は、例えば、ユーザが設定する放射線の照射中に照射される線量および蓄積時間の少なくとも一方に基づいて閾値ThLおよび閾値ThHを変更してもよい。また、例えば、処理部130は、容量Cfdの容量値などによって決まる、高感度のサンプリングにおいて光信号(画素信号)が飽和する信号値(以下、飽和値と呼ぶ場合がある。)に基づいて閾値ThLおよび閾値ThHを変更してもよい。例えば、閾値ThLおよび閾値ThHは、飽和値に感度比Gを除した値に基づいて決めてもよい。例えば、閾値ThL=(飽和値/G)×0.8とし、閾値ThH=(飽和値/G)×0.9としてもよい。また、事前に低感度のサンプリングにおける入射した放射線の線量と出力される信号値との関係(リニアリティ)を測定し、リニアリティに基づいて、閾値ThLおよび閾値ThHが決定されてもよい。
また、上述のように放射線撮像装置150の撮像部100がメモリ115を備えている場合、メモリ115が、ユーザが設定する放射線の照射条件に応じた閾値ThLおよび閾値ThHを記憶していてもよい。この場合、処理部130が、メモリ115から照射条件に応じて閾値ThLおよび閾値ThHを読み出し、画素値Paの生成に用いてもよい。
また、本実施形態において、処理部130は、撮像部100の外部に配されている。しかしながら、上述したように、撮像部100内に配されていてもよいし、処理部130における処理を制御部109で行ってもよい。
図7は、図2に示した画素PIXの変形例である。図2に示される構成と比較して、サンプリング部203が、2つのサンプルホールド回路によって構成されている点が異なる。より具体的には、放射線に応じた光信号をサンプリングし保持する回路が2つから1つになり、トランジスタM8、光信号を保持する保持容量である容量CS1、トランジスタM10、および、アナログスイッチM9で構成されている。
図8は、図7に示される画素PIXにおける、動画を撮像する際の駆動制御の一例を示すタイミング図である。以下、動画像を撮像する際に、容量CS1、CNに電荷がサンプルホールドされるまでの制御信号のタイミングについて説明する。
まず、時刻t1において、ユーザによって撮像の際の感度や蓄積時間など、撮像モードの設定が行われた後、撮像開始の設定がなされる。次いで、時刻t2において、制御部109が、外部同期信号がハイレベルとなったことを検出すると、撮像のための駆動が開始される。
ここで、時刻t2から始まるリセット駆動Rについて説明する。リセット駆動Rは、リセットとクランプとを行う駆動である。まず、時刻t2において、システム制御部101からの同期信号113がハイレベルになったことを制御部109が検出すると、制御部109は、信号ENをハイレベルにし、トランジスタM4、M7をオン動作させる。次に、制御部109は、信号WIDE、信号PRESをハイレベルにし、トランジスタM1をオン動作させた状態でフォトダイオードPDを基準電圧VRESに接続する。次いで、制御部109は、信号PCLをハイレベルにすることによってクランプスイッチであるトランジスタM5をオン動作させ、クランプ容量である容量CclのトランジスタM7側を基準電圧VCLに接続する。同時に、制御部109は、信号TS1、TNをハイレベルにし、トランジスタM8、M14をオン動作させる。
次いで、時刻t3において、制御部109は、信号WIDEをローレベルにしてトランジスタM1をオフ状態にし、フォトダイオードPDを含む変換部201を高感度で放射線を検出するモードに切り替える。さらに、制御部109は、信号PRESをローレベルにしてリセット駆動Rを終了する。
このとき、容量CclのトランジスタM4側にリセット電圧VRESがセットされる。また、容量Cfd1もトランジスタM1側がリセット電圧VRESで保持され、不定電圧が生じることを抑制する。また、制御部109は、トランジスタM5をオフ状態にし、基準電圧VCLと基準電圧VRESとの差分の電圧に応じた電荷が容量Cclに蓄積されクランプが終了する。また、同時に、制御部109は、トランジスタM8、M14をオフ状態にし、容量CS1、CNに基準電圧VCLにセットされたときの基準電圧信号が保持される。容量CS1と容量CNとの電荷を、サンプリングが行われる前に一定にすることによって、残像の影響が低減される。
時刻t3において、リセット駆動Rが終了し、画素PIXは蓄積状態となったため、制御部109は、曝射許可信号114をイネーブルにし、放射線の曝射を要求する。時間t3は、それぞれの画素PIXにおいて、照射された放射線に応じた画素信号(電荷)を蓄積するための動作を開始する時間といえる。曝射許可信号114をイネーブルにすることによる放射線の照射の開始に応じて、フォトダイオードPD、フローティングディフュージョンの容量Cfdへの電荷の蓄積が始まる。つまり、時刻t3から高感度で、照射された放射線に応じた信号の蓄積が開始される。また、制御部109は、信号ENをローレベルにし、それぞれ画素アンプを構成するトランジスタM4、M7を非動作状態にする。
リセット駆動Rは、放射線撮像装置150に配されたすべての画素PIXに対して一括して行う。後に続くリセット駆動Rも、同様のタイミングで制御される。動画や静止画の撮像時、画素間や走査線間の時間的スイッチングのずれによって発生する画像ズレを防止するため、放射線撮像装置150に配されるすべての画素PIXにおいて同一のタイミング、同一の期間でリセット駆動Rが行われうる。その後、放射線の照射によって電荷の蓄積が行われ、それぞれの画素PIXのフォトダイオードPDで発生した信号電荷が容量CfdおよびフォトダイオードPDの寄生容量に蓄積される。
次に時刻t4から始まる高感度のサンプリング駆動SHについて説明する。時刻t4で、制御部109は、信号ENをハイレベルにしトランジスタM3、M6をオン動作させる。これによって、容量Cfdに蓄積された電荷は、電荷/電圧変換されソースフォロアとして動作し画素アンプを構成するトランジスタM4によって電圧として容量Cclに出力される。トランジスタM4の出力はリセットノイズを含むが、クランプ回路によってリセット駆動Rの際にトランジスタM7側を基準電圧VCLにセットしているため、リセットノイズが除去された光信号として画素アンプを構成するトランジスタM7に出力される。次に、制御部109は、放射線の照射によって光信号のサンプリングを制御する信号TS1をハイレベルとし、トランジスタM8をオン動作させる。これによって、変換部201で生成された光信号(画素信号)は、画素アンプを構成するトランジスタM7を介して、高い感度で光信号をサンプリングした信号を保持する容量CS1に、センサパネル105に配された画素PIXで一括転送される。制御部109は、時刻t5において、曝射許可信号をディセーブルとし、放射線の曝射を停止させる。また、制御部109は、信号TS1をローレベルとし、トランジスタM8をオフ状態にすることによって、容量CS1に高感度でサンプリングした信号が保持される。
時刻t5において、制御部109は、信号WIDEをハイレベルとし、サンプリング駆動SHを終了する。信号WIDEがハイレベルになることによって、トランジスタM1がオン動作する。感度を切り替えるためのスイッチであるトランジスタM1がオン動作することによって、フローティングディフュージョン部の容量が増え、サンプリング部203は、変換部201で生成された光信号(画素信号を)を低感度でサンプリング可能となる。続いて、サンプリング駆動SHの終了後に高感度でサンプリング部203の容量CS1にサンプルホールドした信号ROHの読み出し処理が行われる。
それぞれの画素PIXから信号ROHを読み出した後、時刻t6において、制御部109は、信号ENをハイレベルにしトランジスタM3、トランジスタM6をオン動作させる。次いで、制御部109は、信号TS1をハイレベルとし、トランジスタM8をオン動作させることで、変換部201で生成された光信号(画素信号)は、画素アンプを構成するトランジスタM7を介して容量CS1に、センサパネル105に配された画素PIXで一括転送される。時刻t7において、制御部109は、信号TS1をローレベルとし、トランジスタM8をオフ状態にすることによって、容量CS1に低感度でサンプリングした信号が保持される。
次に、制御部109は、信号PRESをハイレベルとし、トランジスタM2をオン動作させ、容量Cfd、Cfd1を基準電圧VRESにリセットする。次いで、制御部109は、信号PCLをハイレベルとする。容量Cclには、電圧VCLと電圧VRESとの差分の電圧にリセットノイズが重畳した電荷が蓄積される。さらに、制御部109は、信号TNをハイレベルとし、トランジスタM14をオン動作させることによって、基準電圧VCLにセットされた際の基準信号を容量CNに転送する。続いて、時刻t8で、制御部109は、信号TNをローレベルとし、トランジスタM14をオフ動作させることによって、容量CNに基準信号が保持される。さらに、制御部109は、信号PRESをローレベルとしリセットを完了する。また、制御部109は、信号PCLをローレベル、信号ENをローレベルとし、低感度のサンプリング駆動SLを終了する。続いて、サンプリング駆動SLの終了後に、低感度でサンプリング部203の容量CS1にサンプルホールドした信号ROLの読み出し処理が行われる。
高感度で光信号をサンプリングするサンプリング駆動SHおよび低感度で光信号をサンプリングするサンプリング駆動SLは、センサパネル105に配された全ての画素PIXにおいて一括して行われる。後に、続くサンプリング駆動SH、サンプリング駆動SLも、同様のタイミングで制御される。サンプリング駆動SLの後、制御部109が、外部同期信号がハイレベルとなったことを検出すると、時刻t10から、再びリセット駆動Rが行われ、次のフレームの変換部201における電荷の蓄積が開始される。
高感度でサンプリングされた信号ROHおよび基準信号の走査は、画素PIXごとに行われる。制御部109は、アナログスイッチM9、M15をオンオン動作させることによって、容量CS1、CNの電圧が、画素アンプとして機能するトランジスタM10、M16、光信号出力部、S2、基準信号出力部Nを介して、対応する列信号線に出力される。
図7に示される画素PIXにおいて、変換部201の電荷の蓄積を開始するタイミングは、図8に示すリセット駆動Rの終了後に、信号PCLがローレベルになりクランプが完了した時刻t3、t11である。また、変換部201の電荷の蓄積の終了のタイミングは、信号TS1がローレベルになり、光信号ROHをサンプリングした時刻t5、t13である。
低感度でサンプリングした信号ROLの読み出しが終了すると、時刻t9において、制御部109は、制御用インタフェース110を介して、システム制御部101の処理部130に対して、光信号ROH、ROLに対する処理の開始を指示する信号を送信する。この信号に応じて、処理部130は、撮像部100のセンサパネル105に配された複数の画素PIXのそれぞれの画素PIXについて、画素値を生成する処理を開始する。画素値を生成する処理は、上述の図6に示す方法と同じであってもよいため、ここでは説明を省略する。図7に示される構成を有する画素PIXを備える放射線撮像装置150においても、図8に示される動作を行うことによって、上述と同様に、低線量領域のリニアリティを改善した画像を生成することが可能となる。
本実施形態では、感度を低感度と高感度の2段階に切り替えたが、さらに追加の感度を切り替えるための切替用容量と、フォトダイオードPDの出力ノードと追加の切替用容量との間にスイッチと、を配し、3段階以上に感度を切り替えてもよい。つまり、サンプリング部203は、光信号(画素信号)を低感度および高感度とは異なる第3の感度(例えば、中間度、より高感度、より低感度(より高ダイナミックレンジ)など。)でサンプリング可能であってもよい。例えば、感度を低感度、中感度、高感度の3段階に切り替える場合も適用可能である。この場合、例えば、感度の組み合わせとして、低感度と高感度との組み合わせだけでなく、低感度および中感度、中感度および高感度の組み合わせとして適用が可能である。さらに、切替用容量の数を増やす、または、切替容量の容量値を複数種類にして組み合わせることによって、4種類以上の感度で、信号をサンプリングできるように放射線撮像装置150が構成されていてもよい。
第2実施形態
図9、10を用いて、本実施形態による放射線撮像装置の構成、及び、駆動方法について説明する。上述の第1実施形態では、画素PIX内に放射線を検出する際の感度を変更するための切替用容量(容量Cfd1)が配される例を説明した。しかしながら、放射線を検出する感度の変更は、画素PIXの外で行われてもよい。図9は、本実施形態における放射線撮像装置150を備える放射線撮像システムSYSの全体構成例を示すシステムブロック図である。
図9、10を用いて、本実施形態による放射線撮像装置の構成、及び、駆動方法について説明する。上述の第1実施形態では、画素PIX内に放射線を検出する際の感度を変更するための切替用容量(容量Cfd1)が配される例を説明した。しかしながら、放射線を検出する感度の変更は、画素PIXの外で行われてもよい。図9は、本実施形態における放射線撮像装置150を備える放射線撮像システムSYSの全体構成例を示すシステムブロック図である。
放射線撮像システムSYSは、放射線撮像装置150、放射線源104、照射制御部103およびシステム制御部101を含む。システム制御部101は、医師や放射線技師などのユーザによって入力された撮像条件に基づいて、放射線撮像装置150との間で通信を行い、放射線撮像装置150を制御する。また、システム制御部101は、照射制御部103を介して放射線源104を駆動する。放射線源104は、照射制御部103からの制御信号に応じて、放射線を発生する。放射線撮像システムSYSは、システム制御部101から出力される画像データに基づいて、放射線画像を表示する表示部102をさらに備えていてもよい。
放射線撮像装置150は、画素アレイ911、駆動部912、読出部913、出力部914、通知部915、電源部916および制御部109を含む。画素アレイ911は、入射した放射線に応じた画素信号を生成する変換部Dをそれぞれ含む複数の画素Sが、行列状に(複数の行および複数の列を形成するように)配されている。画素アレイ911は、上述の図1に示されるセンサパネル105のように、分割可能な複数のセンサユニット120の組み合わせであってもよいし、1つの基板上に行列状に複数の画素Sが配されていてもよい。
駆動部912は、複数の画素Sを行ごとに駆動する垂直走査回路であり、例えば、シフトレジスタなどで構成されうる。駆動部912は、例えば、画素Sをリセット(初期化)し、また、画素Sから画素信号を出力させることができる。読出部913は、詳細については後述とするが、例えば、増幅器などを含み構成されうる。複数の画素Sのうち列方向に配された画素Sの変換部Dから画素信号が転送される複数の列信号線LCを介して、列信号線LCに転送された画素信号を列ごとに読み出す。出力部914は、読出部913によって読み出された画素信号の群を1フレーム分の画像データとして出力する。通知部915は、例えば、光源やディスプレイなどであり、放射線撮像装置150の状態(例えば、動作モード)をユーザに報知する。
電源部916は、外部から供給される電源の電圧から放射線撮像装置150内の各構成要素に供給するための電圧を生成する。具体的には、放射線撮像装置150内の各構成要素は、1つ以上のICチップ(集積回路チップ(半導体チップ))などで構成されうり、電源部916は、これらICチップなどの構成要素に供給するための電圧を生成する電源ICである。典型的には、電源部916は、AC−DCコンバータと1つ以上のDC−DCコンバータとを含む。図中では、単一のユニットとして示されるが、電源部916は複数の電源ICで構成されてもよい。本実施形態では、電源部916は、DC−DCコンバータに用いられるスイッチング方式の電圧レギュレータ161、162を含んでおり、これにより所望の定電圧を発生する。電圧レギュレータはスイッチングレギュレータと表現されてもよい。
詳細については後述とするが、電源部916は、電圧レギュレータ161、162のスイッチング制御を行うためのクロック信号を発生する信号発生部163をさらに含む。ここでは説明を容易にするため、単一の信号発生部163を示すが、電圧レギュレータ161、162のそれぞれに対して1つずつ設けられていてもよい。また、ここでは説明を容易にするため、信号発生部163を電圧レギュレータ161、162とは別のユニットとして説明するが、信号発生部163は、電圧レギュレータ161、162のそれぞれに包含されてもよい。この場合、電圧レギュレータ161、162のそれぞれは、それ自身でクロック信号を生成することができる。
制御部109は、タイミングジェネレータTGを含み、基準クロック信号に基づいて、放射線撮像装置150内の各構成要素を同期制御するための制御信号を発生する。制御部109は、プロセッサとしても機能しうり、例えば、読出部913および出力部914によって読み出された画像データに対して補正処理などのデータ処理を行うことも可能である。ここでは、上述の第1実施形態とは異なり、それぞれの画素Sの画素値を生成する処理部130が、制御部109に配されているとして説明する。
制御部109は、例えば、本明細書に記載の各機能をプログラムすることが可能な集積回路ないしデバイス(例えば、FPGA(Field Programmable Gate Array))などのPLD(Programmable Logic Device))でもよいし、各機能を実現するためのMPU(Micro Processing Unit)、DSP(Digital Signal Processor)などの演算装置、または、専用集積回路(ASIC(Application Specific Integrated Circuit))などでもよい。また、各機能は、CPU(中央演算処理部)およびメモリを備え、所定のプログラムが格納されたパーソナルコンピュータなどによってソフトウェア上で実現されてもよい。即ち、制御部109の機能は、ハードウェア及び/又はソフトウェアによって実現されればよい。
放射線撮像システムSYSの構成例は本例に限られるものでないことは言うまでもなく、この放射線撮像システムSYSを構成する各構成要素の一部の機能は、他のユニットに含まれてもよいし、他の機能を有するユニットが追加されてもよい。例えば、放射線撮像装置150の機能の一部は、システム制御部101によって実現されてもよいし、その逆の関係も成立しうる。例えば、図9に示される構成において、システム制御部101と制御部109とを個別に示したが、これらの機能の一部または全部は、単一のユニットにより実現されてもよい。
図10は、放射線撮像装置150の構成のうち、画素アレイ911、駆動部912、読出部913および出力部914の構成を例示する。ここでは説明を容易にするため、複数の画素Sが3行×3列で配列された画素アレイ911を例示するが、実際の行および列の数は本例より多く、例えば17インチの画素アレイ911では約3000行×3000列である。なお、図中において、第m行かつ第n列の画素Sを「S(m、n)」と示す。例えば、画素S(1、1)は、画素アレイ911における第1行かつ第1列に位置する。
本実施形態において、画素アレイ911の上方には、放射線を光に変換するためのシンチレータ(不図示)が配されており、画素Sは、シンチレータによって変換された光(シンチレーション光)に基づいて画素信号を出力する。具体的には、画素Sは、変換部Dと、この変換部Dに接続されたスイッチ素子Wとを含む。本実施形態において、変換部DとしてMISセンサが用いられるが、PINセンサなど、他の光電変換素子が用いられてもよい。また、スイッチ素子Wとして薄膜トランジスタ(TFT(Thin Film Transistor))が用いられるが、他の構造のトランジスタないしスイッチ素子が用いられてもよい。また、それぞれの画素Sの変換部Dは、スイッチ素子Wとは反対側において、画素アレイ911に基準電圧(ここではバイアス電圧Vs)を供給するためのバイアス線LVSに接続されている。バイアス線LVSは、バイアス電圧供給部918に接続されている。バイアス電圧供給部918において検出されるバイアス線LVSを流れる電流から、放射線の照射の開始や終了などの制御が行われてもよい。
画素アレイ911には、第1〜第3行に対応する制御線G1〜G3が配され、また、第1〜第3列に対応する列信号線LC1〜LC3が配される。駆動部912は、制御線G1〜G3により、行単位で画素Sを駆動することができる。例えば、画素S(1、1)、S(1、2)、S(1、3)のスイッチ素子Wの制御端子(ゲート電極)は、制御線G1に接続されている。駆動部912が制御線G1の制御信号をハイレベルにすることによって、画素S(1、1)、S(1、2)、S(1、3)のスイッチ素子Wがオン動作する。これによって、画素S(1、1)、S(1、2)、S(1、3)から、変換部Dの電荷量に応じた画素信号が、対応する列信号線LC1、LC2、LC3にそれぞれ転送される。
以下において、制御線G1〜G3のいずれかを区別しない場合には単に「制御線G」と示す。他の構成要素に関しても同様である。
読出部913は、増幅部1001および水平転送部1002を含む。増幅部1001は、複数の列信号線LCのそれぞれに対応して配されており、積分増幅器A1および可変増幅器A2を含む増幅回路1011、サンプリング部203、バッファ回路A3を含む。図10では第1列の列信号線LC1に対応する増幅部1001についてのみ、増幅部1001の具体的な構成例を示しているが、他の増幅部1001についても同様の構成を有しうる。
積分増幅器A1は、図10に示されるように、演算増幅器と、この演算増幅器の反転入力端子(図中の「−」端子)および出力端子の間の経路に配されたフィードバック容量と、それと並列に配されたリセットスイッチとを含む。この演算増幅器の非反転入力端子(図中の「+」端子)には参照電圧VREFが供給される。リセットスイッチがオフ状態の間、画素Sから出力された画素信号(具体的には、列信号線LCの電位変動)は、積分増幅器A1によって増幅される。また、リセットスイッチをオン動作させることによって積分増幅器A1はリセットされる。
積分増幅器A1によって増幅された画素信号は、可変増幅器A2によって所定のゲインでさらに増幅された後、サンプリング部203によりサンプリングされる。サンプリング部203は、サンプリングスイッチと、それに接続された保持容量とを含む。サンプリングスイッチをオン動作させることによって、保持容量が増幅回路1011の出力ノードに接続され、保持容量を増幅された画素信号に応じた電圧にし(サンプル)、サンプリングスイッチをオフ状態にすることによって保持容量に該電圧を保持させる(ホールド)。
このようにしてサンプリングされた増幅された画素信号は、バッファ回路A3を介して水平転送部1002より水平転送される。水平転送部1002は、例えば、マルチプレクサおよびシフトレジスタなどで構成されうり、対象の列を順に選択することによって、列ごとに読み出された増幅された画素信号を順に出力部914に水平転送する。
出力部914は、バッファ回路A4およびADコンバータを含み、水平転送された増幅された画素信号を、バッファ回路A4により増幅し、ADコンバータによりAD変換し、そのようにして得られた信号を画像データとして制御部109に出力する。
図10に示される構成において、積分増幅器A1のフィードバック容量および可変増幅器A2のゲインを変更することによって、出力する信号の感度を変更することが可能である。つまり、増幅回路1011の増幅率を変更することによって、サンプリング部203は、画素信号を互いに異なる感度でサンプリングすることができる。
本実施形態において、まず、画素アレイ911のリセット動作を行った後、画素アレイ911のそれぞれの画素Sにおいて電荷蓄積(以下、第1電荷蓄積と示す場合がある。)を行う。具体的には、画素Sのスイッチ素子Wを所定期間にわたってオフ状態にする。これによって、画素Sでは、変換部Dにおいて放射線の照射量に応じた量の電荷が蓄積される。第1電荷蓄積では、積分増幅器A1のフィードバック容量を小さくする、または、可変増幅器A2のゲインを大きくする、または、その両方を行い、画素信号を高感度でサンプリングした高感度の信号ROHとして取得することができる。このとき、サンプリング部203は、複数の画素Sのうち行方向に配された画素Sから、同時に画素信号を高感度の信号ROHとしてサンプリングする。
次に、画素アレイ911のリセット動作を行った後、画素アレイ911のそれぞれの画素Sにおいて電荷蓄積(以下、第2電荷蓄積と示す場合がある。)を行う。第2電荷蓄積では、積分増幅器A1のフィードバック容量を大きくする、または、可変増幅器A2のゲインを小さくする、または、その両方を行い、感度を低感度に設定し、画素信号を低感度でサンプリングした低感度の信号ROLとして取得することができる。このとき、サンプリング部203は、複数の画素Sのうち行方向に配された画素Sから、同時に画素信号を低感度の信号ROLとしてサンプリングする。また、第1電荷蓄積と第2電荷蓄積での放射線の照射条件は、同じ条件とする。
高感度の信号ROHおよび低感度の信号ROLの読み出しが終了すると、制御部109の処理部130において、図6に示す画像処理が行われ、それぞれの画素Sの画素値Paが生成される。これによって、本実施形態においても、上述と第1実施形態と同様に、低線量領域のリニアリティを改善した画像を生成することが可能となる。
第3実施形態
上述の第1実施形態および第2実施形態では、画素値Paを生成する際に2つの閾値ThL、ThHを用いる例を示したが、これに限られることはない。例えば、画素値Paを生成する際に、処理部130は、3つ以上の閾値を用いて、画素値Paを生成する方法を選択してもよい。図11を用いて、処理部130が、3つの閾値を用いて、画素値Paを生成する方法を選択する処理について説明する。
上述の第1実施形態および第2実施形態では、画素値Paを生成する際に2つの閾値ThL、ThHを用いる例を示したが、これに限られることはない。例えば、画素値Paを生成する際に、処理部130は、3つ以上の閾値を用いて、画素値Paを生成する方法を選択してもよい。図11を用いて、処理部130が、3つの閾値を用いて、画素値Paを生成する方法を選択する処理について説明する。
S121〜S125の各ステップは、上述の図6と同様のステップであってもよいため、ここでは、説明を省略する。本実施形態において、画素値Paの生成方法を選択するために、S1101において、3つの閾値が用いられる。ここで、3つの閾値を、閾値ThLと、閾値ThLよりも大きい閾値ThHと、閾値ThLと閾値ThHとの中間の閾値ThM(ThH>ThM>ThL)とする。
S1101において低感度の信号値PLaが閾値ThL未満の場合、処理はS127に遷移する。S127において、処理部130は、図6を用いて説明した場合と同様に、高感度でサンプリングすることによって得た信号値PHaを感度比Gに応じて調整した感度調整値PHagを画素位置が「a」の画素PIXの画素値Paとする。
S1101において低感度の信号値PLaが閾値ThLよりも大きい場合、処理はS129に遷移する。S129において、処理部130は、図6を用いて説明した場合と同様に、低感度でサンプリングすることによって得た信号値PLaを画素位置が「a」の画素PIXの画素値Paとする。
S1101において低感度の信号値PLaが閾値ThL以上(第1閾値以上)かつ閾値ThMよりも小さい(第3閾値よりも小さい)である場合、処理はS1102に遷移する。S1102において、処理部130は、サンプリング部203が光信号(画素信号)を高感度でサンプリングして得られた信号値PHa(感度調整値PHag)および低感度でサンプリングして得られた信号値PLaの加重平均値に基づいて当該画素の画素値Paを生成する。具体的には、所定の重みづけ係数kを用いて、処理部130は、以下の式(3)を用いて画素値Paを生成する。
Pa=(1−k)×PHag+k×PLa・・・(3)
重みづけ係数kは、例えば、以下の式(4)を用いて生成されてもよい。
k=(PLa−ThL)/(ThM−ThL)・・・(4)
Pa=(1−k)×PHag+k×PLa・・・(3)
重みづけ係数kは、例えば、以下の式(4)を用いて生成されてもよい。
k=(PLa−ThL)/(ThM−ThL)・・・(4)
S1101において低感度の信号値PLaが閾値ThM以上(第3閾値以上)かつ閾値ThH以下(第2閾値以下)である場合、処理はS1103に遷移する。S1103において、処理部130は、サンプリング部203が光信号(画素信号)を高感度でサンプリングして得られた信号値PHa(感度調整値PHag)および低感度でサンプリングして得られた信号値PLaの加重平均値に基づいて当該画素の画素値Paを生成する。具体的には、所定の重みづけ係数jを用いて、処理部130は、以下の式(5)を用いて画素値Paを生成する。
Pa=(1−j)×PHag+j×PLa・・・(5)
重みづけ係数jは、例えば、以下の式(6)を用いて生成されてもよい。
j=(PLa−ThM)/(ThH−ThM)・・・(6)
Pa=(1−j)×PHag+j×PLa・・・(5)
重みづけ係数jは、例えば、以下の式(6)を用いて生成されてもよい。
j=(PLa−ThM)/(ThH−ThM)・・・(6)
このように、信号値PHaと信号値PLaとの加重平均値を取得する際に、閾値ThMを境に、信号値PHaと信号値PLaとの重みづけが互いに異なっていてもよい。これによって、低感度でサンプリングして得られた信号から生成された画素値による画像と、高感度でサンプリングして得られた信号から生成された画素値による画像と、の境界をさらに滑らかにすることができる。
S130以降の各ステップは、上述の図6と同様のステップであってもよいため、ここでは、説明を省略する。閾値ThL、ThH、ThMは、上述と同様に、放射線の照射条件などによって変更可能であってもよい。例えば、処理部130が、ユーザが設定する放射線の照射中に照射される線量および蓄積時間の少なくとも一方に基づいて閾値ThL、ThH、ThMを変更してもよい。また、例えば、処理部130が、容量Cfdの容量値などによって決まる、高感度のサンプリングにおいて光信号(画素信号)が飽和する信号値(以下、飽和値と呼ぶ場合がある。)に基づいて閾値ThL、ThH、ThMを変更してもよい。例えば、閾値ThL=(飽和値/G)×0.8とし、閾値ThM=(飽和値/G)×0.9とし、閾値ThH=(飽和値/G)×1.0としてもよい。また、事前に低感度のサンプリングにおける入射した放射線の線量と出力される信号値との関係(リニアリティ)を測定し、リニアリティに基づいて、閾値ThL、ThH、ThMが決定されてもよい。
また、上述のように放射線撮像装置150の撮像部100がメモリ115を備えている場合、メモリ115が、ユーザが設定する放射線の照射条件に応じた閾値ThL、ThH、ThMを記憶していてもよい。この場合、処理部130が、メモリ115から照射条件に応じて閾値ThL、ThH、ThMを読み出し、画素値Paの生成に用いてもよい。
また、図6および図11の説明において、入射した放射線の線量と出力される信号値との関係(リニアリティ)が線形であることを仮定して画素値Paを生成する例を示した。しかしながら、これに限られることはなく、入射した放射線の線量と出力される信号値との関係が2次以上の関数であることを想定して画素値Paを生成してもよい。それぞれのリニアリティの特性に合わせて、適宜決定すればよい。
本発明は、上記の実施形態の機能を実現するソフトウェア(プログラム)をネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、システム又は装置のコンピュータ(CPUやMPUなど)がプログラムを読み出すことにより実行されてもよい。また、本発明は、システム又は装置のコンピュータにおける1つ以上のプロセッサがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能であり、1以上の機能を実現する回路(例えば、ASIC)によっても実現可能である。
発明は上記実施形態に制限されるものではなく、発明の精神及び範囲から離脱することなく、様々な変更及び変形が可能である。従って、発明の範囲を公にするために請求項を添付する。
130:処理部、150:放射線撮像装置、201,D:変換部、203:サンプリング部、PIX,S:画素
Claims (19)
- 入射した放射線に応じた画素信号を生成する変換部をそれぞれ含む複数の画素と、前記画素信号をサンプリングするサンプリング部と、前記サンプリング部によってサンプリングされた信号を処理する処理部と、を備える放射線撮像装置であって、
前記複数の画素のそれぞれの画素について、
前記サンプリング部は、前記画素信号を第1感度および前記第1感度よりも高い第2感度でそれぞれサンプリングし、
前記処理部は、
前記サンプリング部が前記画素信号を前記第1感度でサンプリングして得られた第1信号値が第1閾値よりも小さい場合、前記サンプリング部が前記画素信号を前記第2感度でサンプリングして得られた第2信号値に基づいて画素値を生成し、
前記第1信号値が前記第1閾値よりも大きい第2閾値を超える場合、前記第1信号値に基づいて画素値を生成し、
前記第1信号値が前記第1閾値以上かつ前記第2閾値以下の場合、前記第1信号値および前記第2信号値に基づいて画素値を生成することを特徴とする放射線撮像装置。 - 前記処理部は、前記複数の画素のそれぞれの画素について、前記第1信号値が前記第1閾値以上かつ前記第2閾値以下の場合、前記第1信号値および前記第2信号値の加重平均値に基づいて画素値を生成することを特徴とする請求項1に記載の放射線撮像装置。
- 前記処理部は、前記複数の画素のそれぞれの画素について、
前記第1信号値が前記第1閾値以上かつ前記第1閾値と前記第2閾値との間の第3閾値よりも小さい場合、前記第1信号値および前記第2信号値の第1加重平均値に基づいて画素値を生成し、
前記第1信号値が前記第3閾値以上かつ前記第2閾値以下の場合、前記第1信号値および前記第2信号値の第2加重平均値に基づいて画素値を生成し、
前記第1加重平均値および前記第2加重平均値を取得する際に、前記第1信号値および前記第2信号値の重みづけが互いに異なることを特徴とする請求項1に記載の放射線撮像装置。 - 前記複数の画素のそれぞれが、切替用容量と、前記変換部の出力ノードと前記切替用容量との間に配されたスイッチと、を含み、
前記スイッチがオン動作することによって、前記サンプリング部は、前記画素信号を前記第1感度でサンプリングし、
前記スイッチがオフ動作することによって、前記サンプリング部は、前記画素信号を前記第2感度でサンプリングすることを特徴とする請求項1乃至3の何れか1項に記載の放射線撮像装置。 - 前記サンプリング部が、前記画素信号を前記第1感度または前記第2感度でサンプリングした信号を保持する保持容量を含み、
前記保持容量が、前記複数の画素のそれぞれに配されていることを特徴とする請求項4に記載の放射線撮像装置。 - 前記保持容量が、前記画素信号を前記第1感度でサンプリングした信号を保持する第1保持容量と、前記画素信号を前記第2感度でサンプリングした信号を保持する第2保持容量と、を含むことを特徴とする請求項5に記載の放射線撮像装置。
- 前記サンプリング部は、前記複数の画素のそれぞれにおいて、同時に前記画素信号を前記第1感度または前記第2感度でサンプリングすることを特徴とする請求項5または6に記載の放射線撮像装置。
- 前記放射線撮像装置が、前記複数の画素のうち列方向に配された画素の前記変換部から前記画素信号が転送される複数の列信号線と、前記複数の列信号線に転送された前記画素信号を読み出す読出部と、をさらに含み、
前記読出部が、前記複数の列信号線のそれぞれに対応する増幅回路を含み、
前記増幅回路の増幅率を変更することによって、前記サンプリング部は、前記画素信号を前記第1感度または前記第2感度でサンプリングすることを特徴とする請求項1乃至3の何れか1項に記載の放射線撮像装置。 - 前記増幅回路が、演算増幅器とフィードバック容量とを含む積分増幅器を備え、
前記フィードバック容量を第1容量にすることによって、前記サンプリング部は、前記画素信号を前記第1感度でサンプリングし、
前記フィードバック容量を前記第1容量よりも大きい第2容量にすることによって、前記サンプリング部は、前記画素信号を前記第2感度でサンプリングすることを特徴とする請求項8に記載の放射線撮像装置。 - 前記増幅回路が、可変増幅器を含み、
前記可変増幅器のゲインを第1ゲインにすることによって、前記サンプリング部は、前記画素信号を前記第1感度でサンプリングし、
前記可変増幅器のゲインを前記第1ゲインよりも小さい第2ゲインにすることによって、前記サンプリング部は、前記画素信号を前記第2感度でサンプリングすることを特徴とする請求項8または9に記載の放射線撮像装置。 - 前記サンプリング部が、前記画素信号を前記第1感度または前記第2感度でサンプリングした信号を保持する保持容量を含み、
前記保持容量が、前記増幅回路の出力ノードに接続されていることを特徴とする請求項8乃至10の何れか1項に記載の放射線撮像装置。 - 前記サンプリング部は、前記複数の画素のうち行方向に配された画素から、同時に前記画素信号を前記第1感度または前記第2感度でサンプリングすることを特徴とする請求項8乃至11の何れか1項に記載の放射線撮像装置。
- 前記サンプリング部は、前記画素信号を前記第1感度および前記第2感度とは異なる第3感度でサンプリング可能なことを特徴とする請求項1乃至12の何れか1項に記載の放射線撮像装置。
- 前記処理部は、ユーザが設定する放射線の照射中に照射される線量および蓄積時間の少なくとも一方に基づいて前記第1閾値および前記第2閾値を変更することを特徴とする請求項1乃至13の何れか1項に記載の放射線撮像装置。
- 前記処理部は、予め測定された前記第1感度における前記変換部に入射した放射線の線量と出力される信号値との関係に基づいて前記第1閾値および前記第2閾値を変更することを特徴とする請求項1乃至14の何れか1項に記載の放射線撮像装置。
- 前記処理部は、前記第2感度において前記画素信号が飽和する信号値に基づいて前記第1閾値および前記第2閾値を決定することを特徴とする請求項1乃至15の何れか1項に記載の放射線撮像装置。
- 請求項1乃至16の何れか1項に記載の放射線撮像装置と、
前記放射線撮像装置に放射線を照射する放射線発生装置と、
を備えることを特徴とする放射線撮像システム。 - 入射した放射線に応じた画素信号を生成する変換部をそれぞれ含む複数の画素を備える放射線撮像装置の駆動方法であって、
前記画素信号を第1感度および前記第1感度よりも感度が高い第2感度でそれぞれサンプリングする第1工程と、前記第1工程によってサンプリングされた信号を処理する第2工程と、を含み、
前記第2工程において、前記複数の画素のそれぞれの画素について、
前記画素信号を前記第1感度でサンプリングした第1信号値が第1閾値よりも小さい場合、前記画素信号を前記第2感度でサンプリングした第2信号値に基づいて画素値を生成し、
前記第1信号値が前記第1閾値よりも大きい第2閾値を超える場合、前記第1信号値に基づいて画素値を生成し、
前記第1信号値が前記第1閾値以上かつ前記第2閾値以下の場合、前記第1信号値および前記第2信号値に基づいて画素値を生成することを特徴とする駆動方法。 - コンピュータに、請求項18に記載の駆動方法の各工程を実行させるためのプログラム。
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