JP2021096091A5 - - Google Patents
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Description
上記ようにして得られたデータは、調整量の算出に用いられる。図6(b)に示すように、調整量の算出の際には、φ値に対応するωとχのオフセット値を算出する。まず、P1とP3の中心ω(φ)を以下の計算式(1)の通り計算する(ステップS41)。
そして、計算式(2)を用いてφ軸からの試料の傾きαと方位βを計算する(ステップS42)。
得られた傾きαと方位βは、制御装置40に入力される。制御装置40は、記憶部45に記憶された計算式(3)を読み出し、計算式(2)を用いて算出されたαとβの値を代入した調整量の計算式を本測定に用いる調整量として記憶し(ステップS43)、調整量算出の処理を終了する。なお、傾きαと方位βが予め用意されている場合は、ステップS2~ステップS42を省略し、直接制御装置40に傾きαと方位βを入力することに代用できる。
図7は、φ値に対するω値およびχ値の調整量を示すグラフである。図7は、α=1、β=0°としたときの計算式(3)をグラフで表したものである。ωとχは直交関係にあるため、図7に示すように、φ値の変化に対し、調整量Δχは調整量Δωから90°だけ位相が遅れている。例えばφ軸に対して試料の面法線が傾いている場合、φ回転とロッキングカーブのピーク位置の関係はSinカーブで表現できる。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2019225823A JP7300718B2 (ja) | 2019-12-13 | 2019-12-13 | 制御装置、システム、方法およびプログラム |
EP20211813.9A EP3835767B1 (en) | 2019-12-13 | 2020-12-04 | Control apparatus, system, method, and program |
CN202011435523.0A CN112986291A (zh) | 2019-12-13 | 2020-12-10 | 控制装置、系统、方法以及程序 |
US17/119,166 US11788974B2 (en) | 2019-12-13 | 2020-12-11 | Control apparatus, system, method, and program |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2019225823A JP7300718B2 (ja) | 2019-12-13 | 2019-12-13 | 制御装置、システム、方法およびプログラム |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2021096091A JP2021096091A (ja) | 2021-06-24 |
JP2021096091A5 true JP2021096091A5 (ja) | 2022-05-09 |
JP7300718B2 JP7300718B2 (ja) | 2023-06-30 |
Family
ID=74124974
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019225823A Active JP7300718B2 (ja) | 2019-12-13 | 2019-12-13 | 制御装置、システム、方法およびプログラム |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11788974B2 (ja) |
EP (1) | EP3835767B1 (ja) |
JP (1) | JP7300718B2 (ja) |
CN (1) | CN112986291A (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113945591B (zh) * | 2021-09-14 | 2023-10-24 | 中国电子科技集团公司第十一研究所 | 一种半峰宽自动化测试工装 |
JP2023132352A (ja) * | 2022-03-10 | 2023-09-22 | キオクシア株式会社 | 評価装置 |
Family Cites Families (26)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
AU685950B2 (en) * | 1994-06-25 | 1998-01-29 | Panalytical B.V. | Analysing a material sample |
JP3821414B2 (ja) | 1998-04-03 | 2006-09-13 | 株式会社リガク | X線回折分析方法及びx線回折分析装置 |
JP3561738B2 (ja) | 1998-06-02 | 2004-09-02 | 株式会社リガク | Bragg反射自動選出方法および装置並びに結晶方位自動決定方法およびシステム |
JP2000338059A (ja) | 1999-05-31 | 2000-12-08 | Rigaku Corp | 試料アライメント方法およびx線測定装置 |
GB0222334D0 (en) | 2001-10-04 | 2002-10-30 | X Ray Res Gmbh | Automatic adjusting method for a goniometer and associated device |
JP3954936B2 (ja) | 2002-04-01 | 2007-08-08 | 株式会社リガク | ブラッグ反射条件シミュレーション装置およびブラッグ反射測定システム |
JP3697246B2 (ja) * | 2003-03-26 | 2005-09-21 | 株式会社リガク | X線回折装置 |
JP4906038B2 (ja) | 2005-07-07 | 2012-03-28 | 株式会社リガク | X線分析装置の試料支持装置及びx線分析装置 |
JP5005807B2 (ja) * | 2007-04-03 | 2012-08-22 | ストレステック,オウ | ゴニオメータ |
US7769135B2 (en) * | 2007-10-18 | 2010-08-03 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | X-ray diffraction wafer mapping method for rhombohedral super-hetero-epitaxy |
US7848489B1 (en) * | 2009-04-02 | 2010-12-07 | Broker Axs, Inc. | X-ray diffractometer having co-exiting stages optimized for single crystal and bulk diffraction |
US8903044B2 (en) * | 2011-01-31 | 2014-12-02 | Rigaku Corporation | X-ray diffraction apparatus |
JP5998666B2 (ja) * | 2012-06-14 | 2016-09-28 | 富士通株式会社 | X線分析装置及びx線分析方法 |
KR101360906B1 (ko) * | 2012-11-16 | 2014-02-11 | 한국표준과학연구원 | 고분해능 x-선 로킹 커브 측정을 이용한 단결정 웨이퍼의 면방위 측정 방법 |
US9222901B2 (en) | 2013-03-05 | 2015-12-29 | Danmarks Tekniske Universitet Anker Engelundsvej | X-ray diffraction method of mapping grain structures in a crystalline material sample, and an X-ray diffraction apparatus |
JP6242185B2 (ja) * | 2013-11-22 | 2017-12-06 | 株式会社リガク | 補正情報生成方法および補正情報生成装置 |
JP5944369B2 (ja) * | 2013-11-26 | 2016-07-05 | 株式会社リガク | X線回折装置およびx線回折測定方法 |
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US10444169B2 (en) * | 2016-05-24 | 2019-10-15 | Bruker Axs, Inc. | Two-dimensional X-ray detector position calibration and correction with diffraction pattern |
JP6656519B2 (ja) * | 2016-06-15 | 2020-03-04 | 株式会社リガク | X線回折装置 |
JP6606706B2 (ja) * | 2016-06-24 | 2019-11-20 | 株式会社リガク | 処理方法、処理装置および処理プログラム |
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JP6606658B2 (ja) * | 2016-08-18 | 2019-11-20 | 株式会社リガク | X線回折装置 |
US10416102B2 (en) * | 2017-06-23 | 2019-09-17 | Bruker Axs, Inc. | X-ray diffraction device and method to measure stress with 2D detector and single sample tilt |
WO2019130663A1 (ja) | 2017-12-28 | 2019-07-04 | 株式会社リガク | X線検査装置 |
US20210003462A1 (en) * | 2019-07-02 | 2021-01-07 | Shimadzu Corporation | X-ray stress measurement device |
-
2019
- 2019-12-13 JP JP2019225823A patent/JP7300718B2/ja active Active
-
2020
- 2020-12-04 EP EP20211813.9A patent/EP3835767B1/en active Active
- 2020-12-10 CN CN202011435523.0A patent/CN112986291A/zh active Pending
- 2020-12-11 US US17/119,166 patent/US11788974B2/en active Active
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