JP2021096091A5 - - Google Patents

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上記ようにして得られたデータは、調整量の算出に用いられる。図6(b)に示すように、調整量の算出の際には、φ値に対応するωとχのオフセット値を算出する。まず、P1とP3の中心ω(φ)を以下の計算式(1)の通り計算する(ステップS41)。
Figure 2021096091000001
そして、計算式(2)を用いてφ軸からの試料の傾きαと方位βを計算する(ステップS42)。
Figure 2021096091000002
得られた傾きαと方位βは、制御装置40に入力される。制御装置40は、記憶部45に記憶された計算式(3)を読み出し、計算式(2)を用いて算出されたαとβの値を代入した調整量の計算式を本測定に用いる調整量として記憶し(ステップS43)、調整量算出の処理を終了する。なお、傾きαと方位βが予め用意されている場合は、ステップS2~ステップS42を省略し、直接制御装置40に傾きαと方位βを入力することに代用できる。
Figure 2021096091000003
図7は、φ値に対するω値およびχ値の調整量を示すグラフである。図7は、α=1、β=0°としたときの計算式(3)をグラフで表したものである。ωとχは直交関係にあるため、図7に示すように、φ値の変化に対し、調整量Δχは調整量Δωから90°だけ位相が遅れている。例えばφ軸に対して試料の面法線が傾いている場合、φ回転とロッキングカーブのピーク位置の関係はSinカーブで表現できる。
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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113945591B (zh) * 2021-09-14 2023-10-24 中国电子科技集团公司第十一研究所 一种半峰宽自动化测试工装
JP2023132352A (ja) * 2022-03-10 2023-09-22 キオクシア株式会社 評価装置

Family Cites Families (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
AU685950B2 (en) * 1994-06-25 1998-01-29 Panalytical B.V. Analysing a material sample
JP3821414B2 (ja) 1998-04-03 2006-09-13 株式会社リガク X線回折分析方法及びx線回折分析装置
JP3561738B2 (ja) 1998-06-02 2004-09-02 株式会社リガク Bragg反射自動選出方法および装置並びに結晶方位自動決定方法およびシステム
JP2000338059A (ja) 1999-05-31 2000-12-08 Rigaku Corp 試料アライメント方法およびx線測定装置
GB0222334D0 (en) 2001-10-04 2002-10-30 X Ray Res Gmbh Automatic adjusting method for a goniometer and associated device
JP3954936B2 (ja) 2002-04-01 2007-08-08 株式会社リガク ブラッグ反射条件シミュレーション装置およびブラッグ反射測定システム
JP3697246B2 (ja) * 2003-03-26 2005-09-21 株式会社リガク X線回折装置
JP4906038B2 (ja) 2005-07-07 2012-03-28 株式会社リガク X線分析装置の試料支持装置及びx線分析装置
JP5005807B2 (ja) * 2007-04-03 2012-08-22 ストレステック,オウ ゴニオメータ
US7769135B2 (en) * 2007-10-18 2010-08-03 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration X-ray diffraction wafer mapping method for rhombohedral super-hetero-epitaxy
US7848489B1 (en) * 2009-04-02 2010-12-07 Broker Axs, Inc. X-ray diffractometer having co-exiting stages optimized for single crystal and bulk diffraction
US8903044B2 (en) * 2011-01-31 2014-12-02 Rigaku Corporation X-ray diffraction apparatus
JP5998666B2 (ja) * 2012-06-14 2016-09-28 富士通株式会社 X線分析装置及びx線分析方法
KR101360906B1 (ko) * 2012-11-16 2014-02-11 한국표준과학연구원 고분해능 x-선 로킹 커브 측정을 이용한 단결정 웨이퍼의 면방위 측정 방법
US9222901B2 (en) 2013-03-05 2015-12-29 Danmarks Tekniske Universitet Anker Engelundsvej X-ray diffraction method of mapping grain structures in a crystalline material sample, and an X-ray diffraction apparatus
JP6242185B2 (ja) * 2013-11-22 2017-12-06 株式会社リガク 補正情報生成方法および補正情報生成装置
JP5944369B2 (ja) * 2013-11-26 2016-07-05 株式会社リガク X線回折装置およびx線回折測定方法
US9864075B2 (en) * 2014-05-28 2018-01-09 Bruker Axs, Inc. Integrated reciprocal space mapping for simultaneous lattice parameter refinement using a two-dimensional X-ray detector
US10444169B2 (en) * 2016-05-24 2019-10-15 Bruker Axs, Inc. Two-dimensional X-ray detector position calibration and correction with diffraction pattern
JP6656519B2 (ja) * 2016-06-15 2020-03-04 株式会社リガク X線回折装置
JP6606706B2 (ja) * 2016-06-24 2019-11-20 株式会社リガク 処理方法、処理装置および処理プログラム
US10145809B2 (en) * 2016-06-28 2018-12-04 Shimadzu Corporation X-ray diffraction device and sensitivity calibration method for X-ray diffraction device
JP6606658B2 (ja) * 2016-08-18 2019-11-20 株式会社リガク X線回折装置
US10416102B2 (en) * 2017-06-23 2019-09-17 Bruker Axs, Inc. X-ray diffraction device and method to measure stress with 2D detector and single sample tilt
WO2019130663A1 (ja) 2017-12-28 2019-07-04 株式会社リガク X線検査装置
US20210003462A1 (en) * 2019-07-02 2021-01-07 Shimadzu Corporation X-ray stress measurement device

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