JP2021086807A - ソケット及び検査用ソケット - Google Patents

ソケット及び検査用ソケット Download PDF

Info

Publication number
JP2021086807A
JP2021086807A JP2019217025A JP2019217025A JP2021086807A JP 2021086807 A JP2021086807 A JP 2021086807A JP 2019217025 A JP2019217025 A JP 2019217025A JP 2019217025 A JP2019217025 A JP 2019217025A JP 2021086807 A JP2021086807 A JP 2021086807A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
opening
closing
pressed
cover
pressing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2019217025A
Other languages
English (en)
Inventor
市川 浩幸
Hiroyuki Ichikawa
浩幸 市川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Enplas Corp
Original Assignee
Enplas Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Enplas Corp filed Critical Enplas Corp
Priority to JP2019217025A priority Critical patent/JP2021086807A/ja
Priority to PCT/JP2020/043345 priority patent/WO2021106771A1/ja
Priority to US17/779,626 priority patent/US20230018751A1/en
Priority to CN202080079964.3A priority patent/CN114731018A/zh
Priority to TW109141740A priority patent/TW202131584A/zh
Publication of JP2021086807A publication Critical patent/JP2021086807A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • G01R1/0433Sockets for IC's or transistors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R12/00Structural associations of a plurality of mutually-insulated electrical connecting elements, specially adapted for printed circuits, e.g. printed circuit boards [PCB], flat or ribbon cables, or like generally planar structures, e.g. terminal strips, terminal blocks; Coupling devices specially adapted for printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures; Terminals specially adapted for contact with, or insertion into, printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures
    • H01R12/70Coupling devices
    • H01R12/82Coupling devices connected with low or zero insertion force
    • H01R12/85Coupling devices connected with low or zero insertion force contact pressure producing means, contacts activated after insertion of printed circuits or like structures
    • H01R12/88Coupling devices connected with low or zero insertion force contact pressure producing means, contacts activated after insertion of printed circuits or like structures acting manually by rotating or pivoting connector housing parts
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R2201/00Connectors or connections adapted for particular applications
    • H01R2201/20Connectors or connections adapted for particular applications for testing or measuring purposes

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Connecting Device With Holders (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

【課題】ソケットを閉じる際に加える押圧力を小さくする。【解決手段】電子部品を収容可能な凹部を有する収容部と、凹部の開口部を開閉する開閉部と、開閉部を開状態と閉状態との間で回転移動可能に支持する回転支持部と、を備え、開閉部は、第一端部において回転支持部に支持され、開閉部の閉状態において回転移動の回転軸方向に直交する方向且つ回転支持部から離れる方向である第一方向に向けて、第一端部から延在するカバーと、第一端部よりも第一方向側に設けられ、開閉部の閉状態において、凹部内の電子部品を押圧する押圧部と、押圧部よりも第一方向側に設けられ、開閉部の閉状態において、カバーを収容部に係止する係止部と、被押圧面を有し、係止部よりも回転支持部から離れた位置に、カバーとともに回転移動可能に設けられた被押圧部と、を有する。【選択図】図6

Description

本発明は、ソケット及び検査用ソケットに関する。
従来、集積回路(IC)等の電子部品を外部との電気的接続のために収容するソケットとして、例えば、ICソケットが知られている。ICソケットは、電子部品を出荷検査する際に、その電気的特性を検査するために使用される。
このようなソケットは一般に、電子部品との電気的接続を確実にするため、電子部品を押圧する構成を備えている。例えば、特許文献1に開示されたソケットは、カバー部材に取り付けられたプッシャによりICパッケージを押圧する。
又、上記ソケットは、カバー部材に支持されたラッチ部材を有する。作業者は、ソケットを閉じる際、カバー部材を下方に押圧してラッチ部材をハウジングに係合させる。
ラッチ部材は、ハウジングとの係合に基づいて、カバー部材がハウジングに対して閉じた状態を維持する。ラッチ部材がハウジングに係合した状態において、カバー部材は、プッシャを介して電子部品である半導体装置を下方に押圧する。
特開2011−60496号公報
上述のような特許文献1に開示されたソケットの場合、例えば作業者は、ソケットを閉じる際、カバー部材の上面においてラッチ部材よりも上記ソケットの中心に近い位置を、下方に押圧する。ソケットを閉じる際、作業者がカバー部材を押圧する力(押圧力)は、小さい方が作業効率の観点から望ましい。
本発明の目的は、ソケットを閉じる際に加える押圧力を小さくできるソケット及び検査用ソケットを提供することである。
本発明に係るソケットの一態様は、
電子部品を収容可能な凹部を有する収容部と、
凹部の開口部を開閉する開閉部と、
開閉部を開状態と閉状態との間で回転移動可能に支持する回転支持部と、
を備え、
開閉部は、
第一端部において回転支持部に支持され、開閉部の閉状態において回転移動の回転軸方向に直交する方向且つ回転支持部から離れる方向である第一方向に向けて、第一端部から延在するカバーと、
カバーの第一端部よりも第一方向側に設けられ、開閉部の閉状態において、凹部内の電子部品を押圧する押圧部と、
押圧部よりも第一方向側に設けられ、開閉部の閉状態において、カバーを収容部に係止する係止部と、
被押圧面を有し、係止部よりも回転支持部から離れた位置に、カバーとともに回転移動可能に設けられた被押圧部と、
を有する。
本発明に係る検査用ソケットの一態様は、
電子部品の電気的特性の検査に用いる検査用ソケットであって、
上記ソケットと、
凹部の底部に配置され、凹部内の電子部品と電気的に接続するコンタクト部と、
を備える。
本発明によれば、ソケット及び検査用ソケットにおいて、ソケットを閉じる際に加える押圧力を小さくできる。
図1は、本発明の実施形態に係るソケットの閉状態における斜視図である。 図2は、図1に示したソケットの閉状態における上面図である。 図3は、図1に示したソケットの開状態における斜視図である。 図4は、図2のA1−A1線矢視断面図である。 図5は、図2のB1−B1線矢視断面図である。 図6は、図2のC1−C1線矢視断面図であって、開閉部の開度が100°のとき(開状態)のソケットを示す図である。 図7は、図2のC1−C1線矢視断面図であって、開閉部の開度が6°のときのソケットを示す図である。 図8は、図2のC1−C1線矢視断面図であって、開閉部の開度が0°のとき(閉状態)のソケットを示す図である。 図9aは、カバーの変形例1の側面図である。 図9bは、カバーの変形例2の側面図である。
以下、本発明の実施形態に係るソケットを図面に基づいて詳細に説明する。ソケットの一例として、検査用ソケットを例示するが、本発明は、外部との電気的接続のために電子部品を収容するソケットであれば適用可能である。
[実施形態]
<検査用ソケット>
以下、図1〜図8を参照して、本実施形態に係る検査用ソケット1Aについて説明する。
本明細書において、開閉部3Aの閉位置とは、図1、図2、及び図8に示す開閉部3Aの位置を意味する。開閉部3Aの閉位置において、開閉部3Aの開度は0°である。開閉部3Aが閉位置に位置する状態は、検査用ソケット1Aの閉状態及び開閉部3Aの閉状態とも称する。
又、本明細書において、開閉部3Aの開位置とは、図3及び図6に示す開閉部3Aの位置を意味する。開閉部3Aの開位置において、開閉部3Aの開度は100°である。開閉部3Aが開位置に位置する状態は、検査用ソケット1Aの開状態及び開閉部3Aの開状態とも称する。
開閉部3Aの開位置は、開閉部3Aが最も開いた状態(全開状態とも称する。)における、開閉部3Aの位置と捉えてよい。開閉部3Aの開位置における、開閉部3Aの開度は、ソケットの仕様に応じて設定される値であって、100°に限定されない。
尚、図6〜図8では、閉状態における開閉部3Aの開度を0°として、開閉部3Aの開度が6°の状態及び開閉部3Aの開度が100°の状態における検査用ソケット1Aを図示している。但し、開閉部3Aの開度が6°及び100°の状態は、例示であり、開閉部3Aの開度は、他の値に適宜に変更可能である。
図1及び図2に示すように、本実施形態では、直交座標系(X,Y,Z)を使用して説明する。図1及び図2に示される直交座標系(X,Y,Z)は、他の各図に示される直交座標系(X,Y,Z)と共通である。
直交座標系(X,Y,Z)におけるX方向は、検査用ソケット1Aの横方向に対応する。又、直交座標系(X,Y,Z)におけるY方向は、検査用ソケット1Aの縦方向に対応する。又、直交座標系(X,Y,Z)におけるZ方向は、検査用ソケット1Aの高さ方向に対応する。
尚、検査用ソケット1Aが備える部材のうち後述の開閉部3Aは、回転支持部(後述の支持軸22)を中心に回転する。このため、開閉部3Aの縦方向は、回転に応じて変わると捉えてよい。
又、直交座標系(X,Y,Z)におけるZ方向は、検査用ソケット1Aの上下方向にも対応する。Z方向+側は検査用ソケット1Aの上側に対応し、Z方向−側は検査用ソケット1Aの下側に対応する。
検査用ソケット1Aは、後述の被検査体S(電子部品、例えば、ICパッケージ)の電気的特性の検査において使用される。検査用ソケット1Aは、使用時に、図示省略した配線基板上に配設される。
検査用ソケット1Aは、ベース2A及び開閉部3A等を備える。
<ベース>
ベース2Aは、収容部の一例に該当し、ボディ21、支持軸22、付勢部材23、凹部24、及びコンタクト部25等を備える。
<ボディ>
ボディ21は、ベース2Aの外周部分を構成する枠体である。ボディ21は、縦方向における一方側(Y方向−側)の端部である第一端部と、縦方向における他方側(Y方向+側)の端部である第二端部と、を有する。
ボディ21は、中央部分に凹部24を有する。又、ボディ21は、第一端部(Y方向−側の端部)に、軸支持部211を有する。
ボディ21は、第二端部(Y方向+側の端部)に、被係止部212を有する。本実施形態の場合、ボディ21は、2つの軸支持部211及び1つの被係止部212を有する。軸支持部及び被係止部の個数は適宜に変更可能である。
軸支持部211は、支持軸22を支持している。被係止部212は、検査用ソケット1Aの閉状態において、ラッチ5と係合する。
被係止部212は、斜面213と被係止面214とを有する。開閉部3Aが開状態(開位置)から閉状態(閉位置)に回転移動する際、ラッチ5は、斜面213に当接した状態で下方に移動し、被係止面214と係合する。
ラッチ5が被係止面214に係合すると、開閉部3Aは、ラッチ5を介してベース2Aに係止される。ラッチ5が被係止面214に係合すると、検査用ソケット1A(開閉部3A)は、閉状態となる。
<支持軸>
支持軸22は、回転支持部の一例に該当し、軸支持部211に支持されている。具体的には、支持軸22は、両端部が、上述した2つの軸支持部211に挿通されている。つまり、支持軸22は、ベース2Aに対して固定されている。支持軸22は、開閉部3A及び保持部材6を回転可能に支持している。
<付勢部材>
付勢部材23は、支持軸22に保持されている。付勢部材23は、開閉部3Aを開方向に付勢する付勢力を付与するものである。尚、開閉部3Aの開方向は、開閉部3Aが閉状態から開状態に遷移する際の開閉部3Aの回転方向を意味する。開閉部3Aの閉方向は、開閉部3Aが開状態から閉状態に遷移する際の開閉部3Aの回転方向を意味する。
具体的には、付勢部材23は、ねじりコイルばねであって、第一端部、第二端部、及びコイル部を有する。
付勢部材23の第一端部は、ベース2Aに支持されている。付勢部材23の第二端部は、開閉部3Aに支持されている。付勢部材23のコイル部には、支持軸22が挿通されている。付勢部材23としては、一例として、ねじりコイルバネを使用しているが、同等のものであれば、他の付勢部材でもよい。
<凹部>
凹部24は、被検査体Sを内部に収容可能である。凹部24の開口部は、開閉部3Aにより開閉される。開閉部3Aの閉状態において、開閉部3Aは、押圧部材4を介して、被検査体Sを下方に押圧する。
<コンタクト部>
コンタクト部25は、凹部24の底部に配設され、被検査体Sとの電気的接続を行うとともに、配線基板との電気的接続を行う。コンタクト部25は、被検査体Sの電気端子の構成に応じたコンタクトピン(図示省略)を複数有する。
被検査体Sの検査時において、被検査体Sは、凹部24内のコンタクト部25上に載置される。そして、被検査体Sは、押圧部材4により下方に押圧される。この状態で、被検査体Sの電気端子がコンタクトピンと接触し、コンタクトピンが配線基板に配設された接続端子(図示省略)と接触する。この結果、被検査体Sと配線基板とが電気的に接続される。
<開閉部>
開閉部3Aは、開閉部本体31、押圧部材4、ラッチ5、保持部材6、及び板バネ7等を有する。開閉部3Aは、開閉部本体31と、開閉部本体31に組み付けられ且つ開閉部本体31とともに回転移動する部材と、により構成されている。
開閉部3Aは、押圧部材4により、凹部24の開口部を開閉する。開閉部3Aは、開閉部3Aの閉状態において、ラッチ5とベース2A(具体的には、ボディ21の被係止部212)との係合に基づき、ベース2Aに係止される。
開閉部3Aの閉状態において、開閉部3Aは、押圧部材4により凹部24内の被検査体Sを押圧方向Fに押圧する(図8を参照)。
本実施形態では、押圧方向Fは、凹部24の底面及び/又は凹部24内の被検査体Sの表面に対し、垂直な方向である。このような押圧方向Fに被検査体Sを押圧することにより、被検査体Sと配線基板との電気的接続が確実に行われる。
尚、押圧方向Fは、被検査体Sの表面及び/又は凹部24の底面に対して垂直な方向でなくてもよい。押圧方向Fは、押圧方向Fの押圧力に基づいて、被検査体Sが凹部24の底面上で移動することがない方向であればよい。
<開閉部本体>
開閉部本体31は、開閉部3Aの外周部分を構成する枠体である。開閉部本体31は、開閉部3Aの閉状態において、ベース2Aの凹部24が設けられた側の面を覆う。以下、回転軸方向とは、開閉部本体31の回転軸である支持軸22の軸方向(中心軸の方向)を意味する。本実施形態において、回転軸方向は、X方向に対応する。
開閉部本体31は、開閉部3Aの閉状態において、ラッチ5とベース2Aとの係合に基づいて、ベース2Aに係止される。
開閉部本体31は、カバー31a、延長部32a、被支持部32、第一開口部34、第二開口部37、ラッチ支持板33、及び保持板35等を有する。
又、開閉部本体31は、第一端部31f及び第二端部31sを有する。第一端部31f及び第二端部31sは、開閉部本体31において、回転軸である支持軸22の回転軸方向(Y方向)に直交する方向の両端部である。
尚、開閉部本体31及び開閉部3Aに関して、支持軸22の回転軸方向に直交する方向を、開閉部3Aの縦方向及び開閉部本体31の縦方向と称する。開閉部3Aの閉状態において、開閉部3Aの縦方向及び開閉部本体31の縦方向は、検査用ソケット1Aの縦方向(Y方向)に一致する。
以下、開閉部3A及び開閉部3Aを構成する部材の説明において、開閉部3Aの縦方向及び開閉部本体31の縦方向を、単に縦方向と称する。
開閉部本体31は、検査用ソケット1Aの閉状態において、第一端部31fから第二端部31sに向けて縦方向に延在している。本明細書において、開閉部3Aの閉状態において、第一端部31fから第二端部31sに向かう方向を、第一方向と称する。
換言すれば、第一方向は、開閉部3Aの閉状態において、開閉部本体31の回転移動の回転軸方向(X方向)に直交する方向且つ回転支持部(支持軸22)から離れる方向でもある。尚、第二方向は、第一方向と反対方向である。
図8に示すように、第一方向は、検査用ソケット1Aの閉状態において、検査用ソケット1Aの縦方向における一方側(Y方向−側)から縦方向における他方側(Y方向+側)に向かう方向に一致する。
<カバー>
カバー31aは、矩形枠状に接続された第一枠要素311、第二枠要素312、第三枠要素313、及び第四枠要素314を有する。
第一枠要素311と第二枠要素312とは、回転軸方向(X方向)に延在し、互いに平行である。第一枠要素311は、開閉部本体31の第一端部31fに対応する部分に設けられている。第二枠要素312は、第一枠要素311よりも縦方向における第一方向側に設けられている。
第三枠要素313は、第一枠要素311の第一端部(X方向+側の端部)と、第二枠要素312の第一端部(X方向+側の端部)とを、縦方向に接続している。第三枠要素313の縦方向における第一端部は、第一枠要素311の第一端部に接続されている。第三枠要素313の縦方向における第二端部は、第二枠要素312の第一端部に接続されている。
第四枠要素314は、第一枠要素311の第二端部(X方向−側の端部)と、第二枠要素312の第二端部(X方向−側の端部)とを、縦方向に接続している。第四枠要素314の縦方向における第一端部は、第一枠要素311の第二端部に接続されている。第四枠要素314の縦方向における第二端部は、第二枠要素312の第二端部に接続されている。
第三枠要素313及び第四枠要素314はそれぞれ、押圧部材4(後述)の外周部である立壁部44と回転軸方向(X方向)において対向している。第三枠要素313及び第四枠要素314は、開閉部3Aの閉状態において、ベース2Aとの間に空隙を形成するよう配置されている。
<延長部>
延長部32aは、図1及び図2に示すように、カバー31aから第一方向(Y方向+側)に延在している。本実施形態の場合、延長部32aは、カバー31aと一体成形されている。但し、延長部32aは、カバー31aとは別部材であって、カバー31aに締結手段により接合されてもよい。締結手段は、例えば、ボルト、ピン等の締結部品、又は、溶接であってよい。
具体的には、延長部32aは、第一腕部321、第二腕部322、及び被押圧部323を有する。
<第一腕部>
第一腕部321は、腕部の一例に該当し、縦方向に延在する。第一腕部321は、縦方向における第一端部及び第二端部を有する。
第一腕部321の縦方向における第一端部は、カバー31aの第三枠要素313に接続されている。具体的には、第一腕部321は、第三枠要素313の縦方向における第二端部から第一方向に延在している。本実施形態の場合、第一腕部321は、全長にわたり、縦方向に平行な部材である。
<第二腕部>
第二腕部322は、腕部の一例に該当し、第一腕部321と平行な状態で縦方向に延在している。第二腕部322は、縦方向における第一端部及び第二端部を有する。
第二腕部322の縦方向における第一端部は、カバー31aの第四枠要素314に接続されている。具体的には、第二腕部322は、第四枠要素314の縦方向における第二端部から第一方向に延在している。本実施形態の場合、第二腕部322は、全長にわたり、縦方向に平行な部材である。
<被押圧部>
被押圧部323は、回転軸方向(X方向)に平行な部材である。被押圧部323は、第一腕部321の縦方向における第二端部と、第二腕部322の縦方向における第二端部と、を回転軸方向(X方向)に接続している。
被押圧部323は、ラッチ5よりも縦方向における第一方向側に設けられている。被押圧部323は、ベース2Aよりも第一方向に突出している。よって、検査用ソケット1Aの閉状態において、被押圧部323は、ベース2Aと上下方向に対面していない。
開閉部3Aの閉状態において(開閉部3Aが閉位置に位置するとき)、開閉部3Aは、第一方向において、ベース2Aから距離L(図8参照)突出している。一方、開閉部3Aの開状態において(開閉部3Aが開位置に位置するとき)、開閉部3Aは、第一方向と反対方向である第二方向において、ベース2Aから距離L(図6参照)突出している。本実施形態の場合、距離Lは、距離L以下である(L≦L)。
このような構成により、検査用ソケット1Aを開閉部3Aの第一方向に複数個並べた状態で検査を行う際、縦方向に隣り合う検査用ソケット1A同士の干渉を抑制できる。
又、本実施形態の場合、被押圧部323は、第一腕部321及び第二腕部322を介して、カバー31aと一体成形されている。よって、被押圧部323は、カバー31aとともに回転移動可能である。
被押圧部323は、上方を向いた平坦面である被押圧面324を有する。被押圧面324は、開閉部3Aを閉じる際に押圧される部分である。換言すれば、被押圧面324は、ラッチ5をベース2A(具体的には、ボディ21の被係止部212)に係合させる際、下方に向けて押圧される部分である。
尚、被押圧面は、平坦面に限定されない。被押圧面は、例えば、凹凸面又は曲面であってもよい。又、被押圧面の向きは上方に限定されない。つまり、被押圧面の法線方向は、上下方向(Z方向)に平行な方向に限らず、上下方向(Z方向)に対して傾いていてもよい。
又、本実施形態の場合、被押圧部323は、ラッチ5よりも縦方向における第一方向側に設けられている。但し、ラッチに対する被押圧部の位置は、本実施形態の場合に限定されない。被押圧部は、ラッチよりも支持軸22から離れた位置に設けられていればよい。
開閉部3Aを閉じる作業が作業者により手動的に実施される場合、被押圧面324は、作業者の手により下方に押圧される。又、開閉部3Aを閉じる作業が装置により機械的に実施される場合、被押圧面324は、装置の一部(例えば、装置の押圧部)より下方に押圧される。
本実施形態の場合、被押圧面324は、カバー31aの上面と同一面上に位置している。又、本実施形態の場合、押圧部材4が被検査体Sを押圧する際の押圧中心O(図2参照)を通り且つ上下方向(Z方向)に平行な中心線を中心とした円S(図2に二点鎖線で示す円)が、被押圧面324上を、被押圧面324の回転軸方向における第一端部から第二端部にかけて連続して通っている。
このような構成により、開閉部3Aを閉じるために作業者が被押圧面324に加える押圧力が、被押圧面324全体において平滑化される。よって、作業者が加える押圧力が、被押圧面324上の位置に応じて、大きく異なることがない。尚、上述の説明では、被押圧部323を被押圧部の一例として捉えているが、延長部32aを被押圧部の一例として捉えてもよい。
<カバーの変形例1>
図9aは、変形例1に係る開閉部本体31Aの側面図(開閉部本体31AをX方向+側から見た側面図)である。図9aには、実線により、本変形例の開閉部本体31Aの延長部32a1が示されている。又、図9aには、二点鎖線により、上述の実施形態に係る開閉部本体31の延長部32aが示されている。カバー31aの構成は、上述の実施形態と同様である。
本変形例の場合、延長部32a1の被押圧部323Aは、上述の実施形態における延長部32aの被押圧部323よりも上方(Z方向+側)に設けられている。
このために、延長部32aの第一腕部321A及び第二腕部322Aは、縦方向の第一方向に向かうほど、上方に向かう方向に傾斜している。
被押圧部323Aは、第一腕部321Aの縦方向における第二端部と、第二腕部322Aの縦方向における第二端部とを、回転軸方向に接続している。
本変形例の場合も、被押圧部323Aは、ラッチ5よりも第一方向側に設けられている。又、本変形例の場合も、被押圧部323Aは、カバー31aと一体成形されている。よって、被押圧部323Aは、カバー31aとともに回転移動可能である。
被押圧部323Aは、上方を向いた平坦面である被押圧面324Aを有する。被押圧面324Aは、カバー31aの上面よりも上方に位置している。その他の被押圧部323Aの構造は、既述の実施形態における被押圧部323の構造と同様である。
このような変形例1に係る延長部の構成によれば、被押圧面324Aの位置を、既述の実施形態1の被押圧面324よりも、押圧部材4が被検査体Sを押圧する際の押圧中心Oから遠い位置に配置できる。この結果、開閉部3Aを閉じる際に、被押圧面324Aに加える下方向きの力がより小さくなる。
尚、本変形例の場合、被押圧部323Aは、第一腕部321A及び第二腕部322Aに対して所定角度だけ傾斜している。但し、図示は省略するが、被押圧部は、第一腕部321A及び第二腕部322Aと平行であってもよい。この場合、被押圧面の向き(被押圧面の法線方向)は、上下方向に対して傾斜する。
<カバーの変形例2>
図9bは、変形例2に係る開閉部本体31Bの側面図である。図9bには、実線により、本変形例の開閉部本体31Bの延長部32a2が示されている。又、図9bには、二点鎖線により、上述の実施形態に係る開閉部本体31の延長部32aが示されている。カバー31aの構成は、上述の実施形態と同様である。
本変形例の場合、延長部32a2の被押圧部323Bは、上述の実施形態における延長部32aの被押圧部323よりも下方(Z方向−側)に設けられている。
このために、延長部32aの第一腕部321B及び第二腕部322Bは、縦方向の第一方向に向かうほど、下方に向かう方向に傾斜している。
被押圧部323Bは、第一腕部321Bの縦方向における第二端部と、第二腕部322Bの縦方向における第二端部とを、回転軸方向に接続している。
本変形例の場合も、被押圧部323Bは、ラッチ5よりも第一方向側に設けられている。又、本変形例の場合も、被押圧部323Bは、カバー31aと一体成形されている。よって、被押圧部323Bは、カバー31aとともに回転移動可能である。
被押圧部323Bは、上方を向いた平坦面である、被押圧面324Bを有する。被押圧面324Bは、カバー31aの上面よりも下方に位置している。その他の被押圧部323Bの構造は、既述の実施形態における被押圧部323の構造と同様である。
このような変形例2に係る延長部の構成によれば、被押圧面324Bの位置を、既述の実施形態1の被押圧面324よりも、押圧部材4が被検査体Sを押圧する際の押圧中心Oから遠い位置に配置できる。この結果、開閉部3Aを閉じる際に、被押圧面324Bに加える下方向きの力が小さくなる。
また、上述の変形例1及び変形例2では、被押圧面324が上方を向いた平坦面である態様を示したが、本発明はこれに限定されず、被押圧面324が上方を向いていなくてもよい。例えば、変形例1又は変形例2において、被押圧面324を折り曲げず、第一腕部321B及び第二腕部322Bと被押圧面324とが同じ角度であってもよい。
また、被押圧面324は、ラッチ5よりも回転支持部から離れた位置に配置されていればよく、例えば、上記位置関係を満たすものであれば、ラッチ5の直上に押圧面324があってもよい。
<被支持部>
被支持部32は、開閉部本体31(具体的には、カバー31a)の第一端部31f(支持軸22側の端部)に設けられている。本実施形態の場合、被支持部32は、開閉部本体31の第一端部31fにおいて、回転軸方向(X方向)の両端部に設けられている。
被支持部32は、丸孔の支持軸孔を有する。この支持軸孔には、支持軸22が挿通されている。被支持部32は、支持軸22及び支持軸孔により、ベース2Aに対する回転可能に支持されている。よって、開閉部3Aは、支持軸22を中心に回転することにより、ベース2Aに対して開閉する。
<第一開口部>
第一開口部34は、カバー31aの第一枠要素311、第二枠要素312、第三枠要素313、及び第四枠要素314により囲まれた部分に設けられている。第一開口部34は、上方及び下方に開口した開口部である。第一開口部34には、押圧部材4及び保持部材6が設けられている。
<第二開口部>
第二開口部37は、カバー31aの第四枠要素314と、延長部32aの第一腕部321、第二腕部322、及び被押圧部323と、により囲まれた部分に設けられている。第二開口部37は、上方及び下方に開口した開口部である。
第二開口部37は、開閉部本体31において、第一開口部34より第一方向側に設けられている。第二開口部37には、ラッチ5が設けられている。よって、ラッチ5は、押圧部材4よりも開閉部本体31の第一方向側に設けられている。
<ラッチ支持板>
ラッチ支持板33は、開閉部本体31の第二開口部37に対応する位置において、開閉部本体31の上面314に垂直な方向に延設された一対の平板状である。一対のラッチ支持板33により、ラッチ5を回転可能に支持している。
<保持板>
保持板35は、保持部材6の被保持部64を、保持溝351(後述)の範囲内で開閉部3Aの開閉方向に相対移動可能に保持している。保持板35は、開閉部本体31の第二端部31sであって、開閉部本体31の上面314に垂直な方向に延設された平板状である。
具体的には、図5に示すように、保持板35は、基部354と、基部354の回転軸方向の両端に設けられた保持溝351と、を備える。
保持溝351は、基部354の回転軸方向における端部の開閉部本体31側に設けられた第一保持部352と、基部354の回転軸方向における端部のボディ21側に設けられた第二保持部353と、により画定されている。
第一保持部352は、L字形状であって、基部354の回転軸方向における端部から、回転軸方向における外側に延在している。具体的には、第一保持部352はそれぞれ、第一腕部と、第二腕部と、を有する。
第一腕部は、基部354の回転軸方向における端部に接続された第一端部(回転軸方向における内側端部)から第二端部(回転軸方向における外側端部)に向けて回転軸方向における外側に延在している。第二腕部は、第一腕部の第二端部からボディ21に向けて延在している。
第二保持部353は、基部354の回転軸方向における端部から回転軸方向の外側に延在している。第一保持部352と第二保持部353との間が保持溝351である。この保持溝351を保持部材6の被保持部64が挿通している。
尚、本明細書において、回転軸方向における外側とは、基点となる所定位置から、回転軸方向に平行な方向且つ検査用ソケット1Aの中央部から離れる方向を意味する。一方、本明細書において、回転軸方向における内側とは、基点となる所定位置から、回転軸方向に平行な方向且つ検査用ソケット1Aの中央部に向かう方向を意味する。
<押圧部材>
押圧部材4は、押圧部の一例に該当し、押圧部材本体41、押圧面42、下フランジ43、立壁部44、上フランジ45(縦方向部)、上方フィン46、及び側方フィン47(押圧部材突出部)等を備える。
押圧部材4は。開閉部本体31の第一端部31fよりも開閉部本体31の第一方向側に設けられている。具体的には、押圧部材4は、保持部材6により開閉部本体31の第一開口部34に保持されている。
押圧部材本体41は、押圧部材4の本体部分である。押圧面42は、押圧部材本体41の底部により構成されている。そして、開閉部3Aの閉状態において、押圧面42により、コンタクト部25上に載置された被検査体Sを押圧方向Fに押圧する。
押圧部材4に押圧されることにより、コンタクト部25を介して、被検査体Sと配線基板との電気的接続が確実に行われることになる。
押圧部材本体41は、回転軸方向の両端部に、下フランジ43、立壁部44、及び上フランジ45を有する。下フランジ43、立壁部44、及び上フランジ45は、保持部材6に沿うように縦方向に延設されている。
下フランジ43は、回転軸方向における押圧部材本体41の端部から回転軸方向の外側へ突出している。
立壁部44は、下フランジ43の外縁部に立設されている。上フランジ45は、立壁部44から回転軸方向の内側へ突出して設けられている。つまり、これらの下フランジ43、立壁部44、及び上フランジ45は、開閉部3Aの縦方向に直交する平面で切断した場合の断面形状がコの字形状である。
そして、上フランジ45は、その下面が縦方向に延在している。上フランジ45は、支持部63に支持される部分として機能するように、支持部63に対向して配置されている。
又、立壁部44と立壁部44に対向する押圧部材本体41とは、保持部材6を挟んで回転軸方向に対向して配置されている。立壁部44と押圧部材本体41とは、保持部材6の回転軸方向への移動を規制する移動規制部として機能する。
保持部材6が立壁部44と押圧部材本体41とに囲まれているため、回転軸方向外側への保持部材6の脱落が抑制される。又、立壁部44と押圧部材本体41との間の幅は狭くできるため、検査用ソケット1Aの横幅の拡大を抑制できる。
上方フィン46及び側方フィン47も、下フランジ43、立壁部44、及び上フランジ45と同様に、縦方向に延設されている。上方フィン46は、押圧部材本体41の上部から上方へ延在している。上方フィン46は、開閉部本体31の上面314から検査用ソケット1Aの外部に突出している。
又、側方フィン47は、立壁部44の端部から回転軸方向の外側に延在している。側方フィン47は、開閉部本体31の第三枠要素313及び第四枠要素314とベース2Aとの間の空隙を貫通して立壁部44から検査用ソケット1Aの外部へ突出している。
このような押圧部材4は、被検査体Sと接触して、被検査体Sから熱を奪うとともに、奪った熱を複数の上方フィン46及び側方フィン47から周囲に放出して、被検査体Sを所定の温度に保つための放熱部材として機能する。
又、本実施形態では、開閉部本体31の高さが必要ないので、上方フィン46及び側方フィン47を露出させる、又は、上方フィン46及び側方フィン47を開閉部本体31の外側に突出させることで、放熱性能を更に向上できる。
尚、本実施形態の場合、押圧部材4が放熱部材を兼ねているため、複数の上方フィン46及び側方フィン47を有しているが、放熱部材としての機能が不要な場合には、上方フィン46及び側方フィン47は省略されてもよい。
又、保持部材6を使用することにより、押圧部材4にシャフト用の孔を加工する必要がなくなるので、押圧部材4を押出加工により成形することも可能となる。この結果、押圧部材4の製造コストを低減するとともに、加工の自由度も大きくなる。
<ラッチ>
ラッチ5は、係止部の一例に該当し、開閉部本体31における第二開口部37に設けられている。ラッチ5は、開閉部3Aを閉状態とするときに、ベース2A側に押し込まれ、開閉部3Aとベース2Aとを係止する。
ラッチ5は、一対のラッチ支持板33の間に回転可能に取り付けられ、開閉部3Aの閉状態において、ベース2Aの被係止部212に係止される。このとき、被係止部212への係止状態が維持されるように、ラッチ5に設けたねじりコイルバネ等の付勢部材(図示省略)により、ラッチ5は付勢されている。
<保持部材>
保持部材6は、図6〜図8に示すように、保持部材本体61、被支持部62(切欠き部)、支持部63(押圧部材支持部)、及び被保持部64(延長部)等を備える。
保持部材6は、開閉部本体31と押圧部材4との間に掛け渡されている。このため、保持部材6は、押圧部材4が開閉部本体31とともに回転移動可能となるように、押圧部材4を保持している。
又、保持部材6は、押圧部材4が被検査体Sに接触する際、押圧面42が被検査体Sの表面に沿うように、押圧部材4を移動可能に保持している。
尚、本実施形態の場合、2つの保持部材6を設けているが、保持部材の個数や軸方向における配置位置は、適宜に変更可能である。保持部材の個数や配置位置を変更した場合には、この変更に対応するように、押圧部材4の下フランジ43、立壁部44、及び上フランジ45の個数や配置位置を変更すればよい。
保持部材本体61は、縦方向に延在した平板状の板状部材である。保持部材本体61の側面は、立壁部44に対向している。
被支持部62は、保持部材本体61の基端部に設けられている。保持部材本体61の基端部は、縦方向において、開閉部本体31の第一端部31fに対応する側の端部である。
被支持部62は、支持軸22を着脱可能に嵌め込むように切り欠いた形状、例えば、U字形状やC字形状に形成されている。被支持部62は、支持軸22に回転可能に支持されている。
このような形状に被支持部62が形成されているので、被検査体Sの形状(厚さ等)に応じて、保持部材6を異なるサイズのものに変更する場合に、容易に交換できる。
支持部63は、押圧部材4の上フランジ45を支持する部分である。支持部63は、保持部材本体61において、被支持部62と被保持部64との間に設けられている。
開閉部3Aの閉方向への回転移動により、押圧部材4が被検査体Sと接触すると、押圧部材4は、被検査体Sから反力を受ける。このとき、支持部63は、接触に伴う反力により、その少なくとも一部が上フランジ45から離間できるように、上フランジ45を閉位置の側から支持している。
又、支持部63は、縦方向における両側に開位置の側に突出する突出部631(保持部材突出部)を有する。支持部63と突出部631とは、上フランジ45を収容する収容溝632を画定している。
突出部631は、押圧部材4を案内して、収容溝632に上フランジ45を収容するとともに、上フランジ45の位置を規制して、押圧部材4の位置決めを行っている。このような構成により、押圧部材4は、縦方向への移動を規制される。
被保持部64は、保持部材本体61における先端部に設けられている。保持部材本体61の先端部は、縦方向において、開閉部本体31の第二端部31sに対応する側の端部である。
被保持部64は、支持部63から第一方向に延在している。被保持部64は、保持板35の保持溝351に挿通されている。被保持部64が保持溝351の内側の範囲内を移動可能であるので、保持部材6は、保持溝351の内側の範囲に対応する角度の範囲内で開閉部3Aに対して回転可能である。
特許文献1に示すようなソケットは、カバー部材の側面の挿通口から水平方向に挿入されるシャフトによりプッシャが取り付けられているので、カバー部材の側面に高さが必要だった。
これに対して、本実施形態では、縦方向に延びた保持部材6で押圧部材4を保持するため、開閉部本体31の側面部313には従来のような挿通口の形成が不要となり、高さが必要なくなる。つまり、開閉部3A延いては検査用ソケット1Aの低背化が可能となる。
又、本実施形態では、保持部材6が開閉部本体31と押圧部材4との間に掛け渡されているため、被検査体Sとの接触時には、押圧部材4が保持部材6から離間でき、押圧面42が被検査体Sの表面と平行になるように、押圧部材4の向きを調整可能である。
又、保持部材6は、平板状であるため、プレス加工により簡単に作製することができ、その形状変更も容易である。例えば、被検査体Sの形状に応じて、押圧部材4を押圧する距離を変更する、又は、押圧部材4を傾けて押圧する場合には、被保持部64及び/又は収容溝632等の閉位置における開閉部3Aに対する位置及び/又は傾きを変更すればよい。
<板バネ>
板バネ7は、図2、及び、図6〜図8に示すように、縦方向に延設された平板状の板状部材である。板バネ7は、縦方向に延在し、固定部71及び押圧部72等を備える。
板バネ7は、両端に固定部71を有する。固定部71は、開閉部本体31の上面314にネジ止めされている。このようにして、板バネ7は、開閉部3Aに固定されている。
板バネ7は、押圧部材4の上フランジ45が保持部材6の支持部63から離間して、板バネ7に当接した場合、上フランジ45の上面を押圧方向Fに押圧する。このような板バネ7は、フランジ押圧部として機能する。
板バネ7は、支持部63から離間する上フランジ45から加わる力に基づいて弾性変形し、この弾性変形により生じる復元力で、上フランジ45の上面を閉方向に押圧する。
押圧部72は、板バネ7の中央部分に配置され、押圧部材4へ押圧力を作用させる部分である。押圧部72は、上フランジ45側に向けて凸形状となるように湾曲している。
押圧部72を湾曲した形状とすることにより、ラッチ5と被係止部212とが係合する前の状態(「開閉部3Aのラッチ前の状態」とも称する。)において、上フランジ45の縦方向の両端部と支持部63との間に比較的大きな隙間が存在する。
又、ラッチ5と被係止部212とが係合した状態(「開閉部3Aのラッチ状態」とも称する。)には、押圧部72は、上フランジ45を下方に向けて押圧する。
従来のソケットにおいては、押圧部材をカバー等のしなりで押圧したり、コイルバネ等の弾性部材で押圧したり、カムで押圧していた。そのため、部品点数が多いといった問題、押圧部材の押圧設定を容易に変更できないといった問題、押圧部材が意図せず傾くといった問題、及び被検査体を擦る等の問題があった。
これに対して、本実施形態では、板バネ7を用いて押圧部材4を押圧する。このため、板バネ7の材質や厚みを変更することで、板バネ7のたわみのみで押圧条件を設定できる。よって、押圧部材4に対する押圧力を所望の押圧力に容易に変更できる。又、上述のような板バネ7の製造は、容易である。又、板バネ7は、保持部材6に対して容易に位置決めされ得る。
又、板バネ7は、押圧部材4の上フランジ45に沿った縦方向に配置されるため、省スペース化を図ることができる。又、板バネ7は、コイルバネ等と比較すると、高さが必要なくなる。このため、開閉部3A延いては検査用ソケット1Aの低背化が可能となる。
又、開閉部3Aの開閉方向において、押圧部材4の上フランジ45を挟んで、押圧部72と支持部63とを近接配置している。このため、開閉部3A延いては検査用ソケット1Aの低背化が可能となる。
<検査用ソケットの動作>
上述した検査用ソケット1Aにおける保持部材6の動作について、図6〜図8を参照して説明を行う。
以下の検査用ソケット1Aの説明において、開閉部3Aを閉じる作業の主体は、作業者である。但し、開閉部3Aを閉じる作業の主体は、装置であってもよい。開閉部3Aを閉じる作業の主体が装置の場合には、以下の説明における作業者の部分を、装置に適宜読み替えればよい。
図6を参照して、開閉部3Aの開度100°のときの検査用ソケット1Aを説明する。板バネ7は、上述したように、開閉部3Aに固定されている。一方、保持部材6は、上述したように、保持溝351の内側の範囲に対応する角度の範囲内で回転可能であり、開閉部3Aの開度が100°のときは開閉部本体31に対して回転可能である。
この時点では、板バネ7の押圧部72は押圧部材4の上フランジ45を押圧しておらず、又、押圧部材4は被検査体Sとも接触していない。そのため、上フランジ45が保持部材6と板バネ7との間に配置された押圧部材4は、保持部材6から離間可能な状態であるが、重力以外の力はかかっていない状態である。
作業者は、図6に示す開閉部3Aの開状態から、作業者の手により開閉部3Aを回転させる。この結果、検査用ソケット1Aの状態は、図7に示す状態に遷移する。
尚、開閉部3A(検査用ソケット1A)の開状態(図6に示す状態)と閉状態(図8に示す状態)との間の状態を、開閉部3A(検査用ソケット1A)の中間状態と称する。図6に示す開閉部3A及び検査用ソケット1Aの状態は、中間状態と捉えてよい。
図7を参照して、開閉部3Aの開度が6°のときの検査用ソケット1Aを説明する。開閉部3Aを閉方向に移動していくと、開閉部3Aの開度が6°のとき、ラッチ5の先端が図3に示す被係止部212の斜面213に接触する。
保持部材6の被保持部64は、保持溝351に保持されている。又、押圧部材4の上フランジ45は、保持部材6と板バネ7との間に配置されている。このため、保持部材6及び押圧部材4は、開閉部3Aとともに閉方向に移動する。
開閉部3Aの開度が6°の場合も、開閉部3Aの開度が100°の場合と同様に、押圧部材4は、保持部材6から離間可能な状態、且つ、被検査体Sと接触していない状態である。
但し、押圧部材4は、保持部材6と板バネ7との間で移動可能な状態である。このため、開閉部3Aの開度が小さくなるに従って、上フランジ45は、押圧部材4の自重に基づいて、収容溝632の内側に収容される。
開閉部3Aが更に閉方向に移動すると、押圧部材4の押圧面42の一部が、被検査体Sと接触する。但し、上フランジ45が押圧部72に押圧されるまで、押圧部材4は、開閉部3Aの開度が6°の場合と同様に、保持部材6から離間可能な状態である。
このため、押圧面42の一部が被検査体Sと接触すると、この接触に伴う反力により、押圧部材4の押圧面42が被検査体Sの表面と平行になるように、押圧部材4が傾く。
このとき、上フランジ45が収容溝632の内側に収容された状態である。このため、押圧部材4は、突出部631により上フランジ45の収容溝632からの逸脱が抑制された状態で、押圧面42が被検査体Sの表面と平行になるように傾く。
次に、作業者は、図7に示す状態から、作業者の手により、開閉部3Aの被押圧面324を下方に押圧する。すると、ラッチ5が被係止部212に係合して、開閉部3Aが、ラッチ5を介して、ベース2Aに係止される。この結果、検査用ソケット1Aの状態は、図8に示す閉状態に遷移する。
図8を参照して、開閉部3Aの開度が0°のときの検査用ソケット1Aを説明する。被押圧面324が作業者に押圧されることにより、開閉部3Aが更に閉方向に移動すると、開閉部3Aの開度が0°となり、ラッチ5は、図3に示す被係止部212の被係止面214に係止された係止状態となる。
このとき、板バネ7の押圧部72が押圧部材4の上フランジ45を下方に押圧する。上述したように、押圧面42は被検査体Sの表面と平行であるため、板バネ7は、押圧部材4を介して、被検査体Sの表面を垂直における下方に押圧する。
このようにして、押圧部材4は、開閉部3Aや板バネ7を介した押圧力により、被検査体Sの表面を垂直方向における下方に押圧した状態となる。
以上説明したように、本実施形態の場合、開閉部3Aを閉じる作業において、作業者又は装置が押圧する部分である被押圧部323(被押圧面324)が、ラッチ5よりも第一方向側に位置している。
つまり、このような被押圧部323(被押圧面324)の位置(以下、「ソケットを閉じる際の押圧位置」と称する。)は、従来構造のソケットを閉じる際、作業者が押圧する位置よりも、押圧部材4が被検査体Sを押圧する際の押圧中心Oから遠い。
換言すれば、支持軸22を支点とし、上記押圧中心Oを作用点とし、ソケットを閉じる際の押圧位置を力点とした場合、本実施形態の検査用ソケット1Aにおける力点と作用点との距離は、従来構造のソケットにおける力点と作用点との距離よりも大きい。
よって、本実施形態に係る検査用ソケット1Aを閉じる際、作業者又は装置は、従来構造のソケットを閉じる際に上記押圧位置を下方に押圧する力よりも小さい力で、ソケットを閉じることができる。
又、本実施形態では、保持部材6が、押圧時以外は、押圧部材4を離間可能に保持している。このため、押圧部材4が被検査体Sに接触する際、押圧部材4が傾き、押圧面42と被検査体Sの表面とが平行になる。
その結果、被検査体Sを押圧する際、被検査体Sの表面に対して押圧部材4を垂直方向における下方に押圧できる。よって、被検査体Sの横ずれに起因して被検査体Sの表面に傷がつくことを抑制できる。
又、本実施形態の場合、板バネ7が、押圧部材4を押圧する。このため、板バネ7の材質や厚みを変更することにより、板バネ7のたわみのみで押圧条件を設定できる。よって、板バネ7から押圧部材4に作用する押圧力を、所望の値に容易に変更できる。
又、本実施形態の場合、板バネ7の押圧部72が、上フランジ45の中央を押圧する。このため、押圧部材4の傾きや形状に依存することなく、板バネ7が押圧部材4を押圧できる。
又、特許文献1に示すような検査用ソケットにおいては、シャフトをカバー部材の側面から圧入して、押圧部材を取り付けているため、以下のような問題が発生していた。
(1)シャフトを切削加工しているため、コストがかかる。
(2)押圧部材にシャフト固定用の横孔加工が必ず必要であり、コストがかかる。
(3)シャフトは押圧部材に圧入されているため、外れた場合には、配線基板上に落下し、配線基板がショートするおそれがある。
(4)カバー部材がシャフトを揺動可能に支持しているため、シャフト支持のため、カバー部材に厚みが必要になる。押圧部材がヒートシンクの機能も兼ねる場合には、押圧部材周囲のカバー部材の厚みにより、押圧部材の放熱性が著しく低下する。
(5)シャフトは、押圧部材に対しては、固定以外の機能がない。
本実施形態では、シャフトに代えて、上述した保持部材6を用いるため、上述の(1)〜(5)の問題点も解消できる。
具体的には、検査用ソケット1Aは、特許文献1に示す検査用ソケットが備えるシャフトを備えていない。このため、押圧部材4にシャフト用の孔を設ける必要がなくなるため、押圧部材4の製造コストを低減できる。
又、シャフトを備えていないので、開閉部3Aの厚さを薄くできる。押圧部材がヒートシンクの機能を兼ねる場合には、より効率的な放熱性を実現できる。
加えて、保持部材6はプレス加工で成形されるため、保持部材6の製造コストを大幅に低減できる。
又、保持部材6は、開閉部3Aの第一開口部34内に設けられている。このため、もし、保持部材6が支持軸22から外れたとしても、保持部材6が落ちる範囲は、検査用ソケット1Aの内部であり、配線基板上ではない。よって、保持部材6の落下に起因いて、配線基板がショートするおそれがなくなる。
又、保持部材6はプレス加工で成形されるため、保持部材6の形状の変更は容易である。保持部材6を被検査体Sのサイズに対応して交換することにより種々のサイズの被検査体Sに適用できる。
尚、上記実施形態では、何れも本発明を実施するにあたっての具体化の一例を示したものに過ぎず、これらによって本発明の技術的範囲が限定的に解釈されてはならない。即ち、本発明はその要旨、又はその主要な特徴から逸脱することなく、様々な形で実施できる。
本発明は、電子部品を検査するためのソケットに好適に利用される。
1A 検査用ソケット
2A ベース
21 ボディ
211 軸支持部
212 被係止部
213 斜面
214 被係止面
22 支持軸
23 付勢部材
24 凹部
25 コンタクト部
3A 開閉部
31、31A、31B 開閉部本体
31a カバー
311 第一枠要素
312 第二枠要素
313 第三枠要素
314 第四枠要素
31f 第一端部
31s 第二端部
32a、32a1、32a2 延長部
321、321A 第一腕部
322、322A 第二腕部
323、323A、323B 被押圧部
324、324A、324B 被押圧面
32 被支持部
33 ラッチ支持板
34 第一開口部
35 保持板
351 保持溝
352 第一保持部
353 第二保持部
354 基部
37 第二開口部
4 押圧部材
41 押圧部材本体
42 押圧面
43 下フランジ
44 立壁部
45 上フランジ
46 上方フィン
47 側方フィン
5 ラッチ
6 保持部材
61 保持部材本体
62 被支持部
63 支持部
631 突出部
632 収容溝
64 被保持部
7 板バネ
71 固定部
72 押圧部
F 押圧方向
S 被検査体

Claims (11)

  1. 電子部品を収容可能な凹部を有する収容部と、
    前記凹部の開口部を開閉する開閉部と、
    前記開閉部を開状態と閉状態との間で回転移動可能に支持する回転支持部と、
    を備え、
    前記開閉部は、
    第一端部において前記回転支持部に支持され、前記開閉部の閉状態において前記回転移動の回転軸方向に直交する方向且つ前記回転支持部から離れる方向である第一方向に向けて、前記第一端部から延在するカバーと、
    前記第一端部よりも前記第一方向側に設けられ、前記開閉部の閉状態において、前記凹部内の前記電子部品を押圧する押圧部と、
    前記押圧部よりも前記第一方向側に設けられ、前記開閉部の閉状態において、前記カバーを前記収容部に係止する係止部と、
    被押圧面を有し、前記係止部よりも前記回転支持部から離れた位置に、前記カバーとともに回転移動可能に設けられた被押圧部と、を有する、
    ソケット。
  2. 前記被押圧面は、前記カバーの上面と同一面上に位置している、請求項1に記載のソケット。
  3. 前記被押圧面は、前記カバーの上面よりも下方に位置している、請求項1に記載のソケット。
  4. 前記被押圧面は、前記カバーの上面よりも上方に位置している、請求項1に記載のソケット。
  5. 前記被押圧部は、前記回転軸方向に離間して設けられ、前記カバーにおける前記第一方向の端部から前記第一方向に延在する一対の腕部と、前記一対の腕部同士を前記回転軸方向に接続する接続部と、により前記カバーに接続されている、請求項1〜4の何れか一項に記載のソケット。
  6. 前記被押圧部は、前記カバーに一体成形されている、請求項1〜5の何れか一項に記載のソケット。
  7. 前記被押圧部は、前記カバーと別部材であり、締結手段により前記カバーに接合されている、請求項1〜5の何れか一項に記載のソケット。
  8. 前記被押圧面は、前記収容部よりも前記第一方向側に突出している、請求項1〜7の何れか一項に記載のソケット。
  9. 前記開閉部の閉状態において、前記第一方向において、前記開閉部が前記収容部から突出している距離は、前記開閉部の開状態において、前記第一方向と反対方向である第二方向において、前記開閉部が前記収容部から突出している距離以下である、請求項1〜8の何れか一項に記載のソケット。
  10. 前記押圧部の押圧中心を通り且つ上下方向に平行な中心線を中心とした円が、前記被押圧面上を、前記被押圧面の前記回転軸方向における第一端部から第二端部にかけて連続して通る、請求項1〜9の何れか一項に記載のソケット。
  11. 電子部品の電気的特性の検査に用いる検査用ソケットであって、
    請求項1〜10の何れか一項に記載のソケットと、
    前記凹部の底部に配置され、前記凹部内の前記電子部品と電気的に接続するコンタクト部と、
    を備える、検査用ソケット。
JP2019217025A 2019-11-29 2019-11-29 ソケット及び検査用ソケット Pending JP2021086807A (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019217025A JP2021086807A (ja) 2019-11-29 2019-11-29 ソケット及び検査用ソケット
PCT/JP2020/043345 WO2021106771A1 (ja) 2019-11-29 2020-11-20 ソケット及び検査用ソケット
US17/779,626 US20230018751A1 (en) 2019-11-29 2020-11-20 Socket and inspection socket
CN202080079964.3A CN114731018A (zh) 2019-11-29 2020-11-20 插座及检查用插座
TW109141740A TW202131584A (zh) 2019-11-29 2020-11-27 插座及檢查用插座

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019217025A JP2021086807A (ja) 2019-11-29 2019-11-29 ソケット及び検査用ソケット

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2021086807A true JP2021086807A (ja) 2021-06-03

Family

ID=76088092

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2019217025A Pending JP2021086807A (ja) 2019-11-29 2019-11-29 ソケット及び検査用ソケット

Country Status (5)

Country Link
US (1) US20230018751A1 (ja)
JP (1) JP2021086807A (ja)
CN (1) CN114731018A (ja)
TW (1) TW202131584A (ja)
WO (1) WO2021106771A1 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI774628B (zh) * 2021-12-29 2022-08-11 致茂電子股份有限公司 微型待測物載具

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5360348A (en) * 1993-08-16 1994-11-01 Johnstech International Corporation Integrated circuit device test socket
KR0123780Y1 (ko) * 1994-11-01 1998-10-01 문정환 반도체디바이스용 소켓
US5926027A (en) * 1995-09-28 1999-07-20 Bumb, Jr.; Frank E. Apparatus and method for testing a device
JP2001183415A (ja) * 1999-12-28 2001-07-06 Molex Inc ベアチップ用icソケット
US6570398B2 (en) * 2001-09-24 2003-05-27 Texas Instruments Incorporated Socket apparatus particularly adapted for LGA type semiconductor devices
JP4372395B2 (ja) * 2002-07-10 2009-11-25 ケル株式会社 Icコネクタ
US7172450B1 (en) * 2006-01-11 2007-02-06 Qualitau, Inc. High temperature open ended zero insertion force (ZIF) test socket
JP5196327B2 (ja) * 2008-12-22 2013-05-15 山一電機株式会社 半導体装置用ソケット

Also Published As

Publication number Publication date
US20230018751A1 (en) 2023-01-19
CN114731018A (zh) 2022-07-08
TW202131584A (zh) 2021-08-16
WO2021106771A1 (ja) 2021-06-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5383167B2 (ja) 電気部品用ソケット
US6485320B1 (en) Land grid array connector assembly
US7357674B2 (en) Memory card socket structure
JP2757105B2 (ja) 電子パッケージ用ソケット
US7462057B2 (en) Socket
US9853380B2 (en) Electronic component socket
US6638091B2 (en) Socket for electrical parts
JP4322635B2 (ja) 電気部品用ソケット
WO2021106771A1 (ja) ソケット及び検査用ソケット
KR100485501B1 (ko) 커넥터
TW202009494A (zh) 探針單元
US6293809B1 (en) Socket for electrical parts
WO2021070841A1 (ja) ソケット及び検査用ソケット
WO2021070840A1 (ja) ソケット及び検査用ソケット
KR101345816B1 (ko) 반도체 패키지 테스트용 소켓
US6350142B1 (en) ZIF type socket
JP2003303655A (ja) 電気部品用ソケット
US20220320778A1 (en) Contact and connector
WO2017199937A1 (ja) 電気部品用ソケット
WO2024042822A1 (ja) ソケット
JP3217638U (ja) ベアリング部材及び位置決め装置
JP4822887B2 (ja) 電気部品用ソケット
JP2002280098A (ja) カード用コネクタ
US20070128903A1 (en) Card locking structure
JPWO2021070412A1 (ja) 測定用ソケット