JP2021083054A - 発振回路 - Google Patents

発振回路 Download PDF

Info

Publication number
JP2021083054A
JP2021083054A JP2019211617A JP2019211617A JP2021083054A JP 2021083054 A JP2021083054 A JP 2021083054A JP 2019211617 A JP2019211617 A JP 2019211617A JP 2019211617 A JP2019211617 A JP 2019211617A JP 2021083054 A JP2021083054 A JP 2021083054A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
terminal
output
current source
input
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2019211617A
Other languages
English (en)
Inventor
稔 佐野
Minoru Sano
稔 佐野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ablic Inc
Original Assignee
Ablic Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ablic Inc filed Critical Ablic Inc
Priority to JP2019211617A priority Critical patent/JP2021083054A/ja
Priority to US17/092,604 priority patent/US11290057B2/en
Priority to CN202011309185.6A priority patent/CN112838844A/zh
Publication of JP2021083054A publication Critical patent/JP2021083054A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03BGENERATION OF OSCILLATIONS, DIRECTLY OR BY FREQUENCY-CHANGING, BY CIRCUITS EMPLOYING ACTIVE ELEMENTS WHICH OPERATE IN A NON-SWITCHING MANNER; GENERATION OF NOISE BY SUCH CIRCUITS
    • H03B5/00Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input
    • H03B5/02Details
    • H03B5/06Modifications of generator to ensure starting of oscillations
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K3/00Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
    • H03K3/01Details
    • H03K3/012Modifications of generator to improve response time or to decrease power consumption
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K3/00Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
    • H03K3/02Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
    • H03K3/023Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use of differential amplifiers or comparators, with internal or external positive feedback
    • H03K3/0231Astable circuits
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K3/00Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
    • H03K3/02Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
    • H03K3/027Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use of logic circuits, with internal or external positive feedback
    • H03K3/037Bistable circuits
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K5/00Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
    • H03K5/22Circuits having more than one input and one output for comparing pulses or pulse trains with each other according to input signal characteristics, e.g. slope, integral
    • H03K5/24Circuits having more than one input and one output for comparing pulses or pulse trains with each other according to input signal characteristics, e.g. slope, integral the characteristic being amplitude

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Manipulation Of Pulses (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)
  • Inductance-Capacitance Distribution Constants And Capacitance-Resistance Oscillators (AREA)

Abstract

【課題】従来の弛張型発振回路は、バンドギャップリファレンス回路、および電圧—電流変換回路が必要であり、少なくともオペアンプが3個必要となる。従って、従来の弛張型発振回路は、消費電力が大きく、低消費電力が必要な機器では用いられない。【解決手段】第1と第2の電流源回路と、抵抗器と、第1と第2の容量と、第1と第2の比較回路と、RSラッチを備え、RSラッチの出力の値により第2の電流源回路の出力電流を、第1の容量または第2の容量に入力し、第1の電流源回路の出力電流と抵抗器の抵抗値で決まる基準電圧と、第1の容量の電圧とを、第1の比較回路に入力し、基準電圧と、第2の容量の電圧とを、第2の比較回路に入力し、第1の比較回路の出力と第2の比較回路の出力を、RSラッチに入力する発振回路とした。【選択図】図1

Description

本発明は発振回路に関する。
従来、水晶振動子を用いない発振回路として、弛張型発振回路が知られている。図9に示す弛張型発振回路801は、抵抗RV、容量C1、C2、インバータINV1、INV2、比較回路COMPを有するCR発振回路802と、バンドギャップリファレンス回路803と、電圧電流変換回路804と、から構成されている。この弛張型発振回路の発振周波数は、インバータINV1の出力に接続された抵抗RVを経て充電される容量C1、C2の電圧を、比較回路COMPで基準電圧Vrefと比較することで決定される。
バンドギャップリファレンス回路803は、温度に依存しない基準電圧を、電圧電流変換回路804へ出力する。電圧電流変換回路804は、バンドギャップリファレンス回路803の出力する電圧を電流に変換して比較回路COMPにバイアス電流を供給する。比較回路COMPは、供給されるバイアス電流量に応じて、比較回路COMPの応答速度が制御される。
特開2013−005109号公報
図9に示す弛張型発振回路は、バンドギャップリファレンス回路、および電圧―電流変換回路が必要であり、少なくともオペアンプが3個必要となる。従って、図9に示す弛張型発振回路は、消費電力が大きく、低消費電力が必要な機器では用いられない。本発明は、低消費電力の発振回路を提供することを目的とする。
第1と第2の電流源回路と、抵抗器と、第1と第2の容量と、第1と第2の比較回路と、RSラッチを備え、第2の電流源回路を、RSラッチの出力によって第1の容量または第2の容量に接続し、第1の電流源回路と抵抗器で決まる基準電圧と、第1の容量の電圧とを第1の比較回路に入力し、基準電圧と第2の容量の電圧を第2の比較回路に入力し、第1の比較回路と第2の比較回路の出力をRSラッチに接続する発振回路とした。
本発明の発振回路によれば、回路規模が小さくなり、低消費電力の発振回路とすることができる。
本発明の第1の実施形態の発振回路の回路図である。 本発明の第1の実施形態の第1の電流源回路の回路図である。 本発明の第1の実施形態の起動回路の動作を説明するタイミングチャートである。 本発明の第1の実施形態の第2の電流源回路の回路図である。 本発明の第1の実施形態の比較回路の回路図である。 本発明の第1の実施形態の全体の動作を説明するタイミングチャートである。 本発明の第2の実施形態の第1の電流源回路の回路図である。 本発明の第2の実施形態の第2の電流源回路の回路図である。 従来の発振回路の回路図である。
(第1実施形態)
図1は、本発明の第1の実施形態の発振回路の回路図を示す。本実施形態の発振回路1は、イネーブル信号入力端子ENINPと、出力端子OSCOUTと、スイッチ10〜15と、インバータ20、21と、3入力NAND回路22と、抵抗器25と、容量30、31と、RSラッチ40と、電流源回路100、200と、比較回路300、400と、を備えている。ここで、スイッチ10〜15は、制御端子にHighレベルが入力されたときオン(接続状態)し、Lowレベルが入力されたときオフ(切断状態)する。電流源回路100、200は、電源端子と、出力端子IOUTと、イネーブル信号入力端子ENINと、スタートアップ信号出力端子STUPを有する。比較回路300、400は非反転入力端子INPと、反転入力端子INNと、出力端子OUTと、イネーブル信号入力端子ENを有する。RSラッチ40は、2入力NAND回路23と3入力NAND回路24を有し、3つの入力端子Ta1、Ta2、Ta3と1つの出力端子Ta4を有する。なお、電源VDDと電源GNDについては、一部接続の説明を省略している。
電流源回路100の電源端子は電源VDDに接続され、出力端子IOUTは、抵抗器25を介して電源GNDに接続される。電流源回路200の電源端子は電源VDDに接続され、出力端子IOUTは、スイッチ14と容量30を介して電源GNDに接続され、かつスイッチ15と容量31を介して電源GNDに接続される。
比較回路300の非反転入力端子INPは、電流源回路100の出力端子IOUTと接続され、反転入力端子INNは、スイッチ14と容量30の中間の接続点P1に接続される。比較回路300は、反転入力端子INNに入力される電圧が非反転入力端子INPに入力される電圧より大きいとき、出力端子OUTからLowレベルの電圧を出力する。非反転入力端子INPに入力される電圧が反転入力端子INNに入力される電圧より大きいとき、出力端子OUTからHighレベルの電圧を出力する。
比較回路400の非反転入力端子INPは、電流源回路100の出力端子IOUTに接続され、反転入力端子INNは、スイッチ15と容量31の中間の接続点P2に接続される。比較回路400は、比較回路300と同様に、反転入力端子INNに入力される電圧が非反転入力端子INPに入力される電圧より大きいとき、出力端子OUTからLowレベルの電圧を出力する。非反転入力端子INPに入力される電圧が反転入力端子INNに入力される電圧より大きいとき、出力端子OUTからHighレベルの電圧を出力する。
比較回路300の出力端子OUTはRSラッチ40の第1の入力端子に接続される。比較回路400の出力端子OUTはRSラッチ40の第2の入力端子に接続される。RSラッチ40の出力端子は、スイッチ12の制御端子と、スイッチ14の制御端子と、インバータ21の入力端子に接続され、インバータ21の出力端子は、スイッチ10の制御端子と、スイッチ15の制御端子と、出力端子OSCOUTに接続される。
RSラッチ40の内部接続を説明する。RSラッチ40の第1の入力端子Ta1は、2入力NAND回路23の第1の入力端子に接続される。2入力NAND回路23の出力端子は、3入力NAND回路24の第1の入力端子に接続される。RSラッチ40の第2の入力端子Ta2は、3入力NAND回路24の第2の入力端子に接続される。3入力NAND回路24の出力端子は、2入力NAND回路23の第2の入力端子と、RSラッチ40の出力端子Ta4に接続される。RSラッチ40の第3の入力端子Ta3は3入力NAND回路24の第3の入力端子に接続される。
スイッチ10〜13の接続を説明する。スイッチ10とスイッチ11の第1端子は、容量30の第1端子に接続され、スイッチ10とスイッチ11の第2端子は、容量30の第2端子に接続される。容量30の第2端子は、電源GNDに接続される。スイッチ12とスイッチ13の第1端子は、容量31の第1端子に接続され、スイッチ12とスイッチ13の第2端子は、容量31の第2端子に接続される。容量31の第2端子は、電源GNDに接続される。
イネーブル信号入力端子ENINPは、電流源回路100のイネーブル信号入力端子ENINと、電流源回路200のイネーブル信号入力端子ENINと、3入力NAND回路22の第1の入力端子に接続される。電流源回路100のスタートアップ信号出力端子STUP端子は、3入力NAND回路22の第2の入力端子に接続される。電流源回路200のスタートアップ信号出力端子STUP端子は、3入力NAND回路22の第3の入力端子に接続される。3入力NAND回路22の出力端子は、接続点P0を介して、スイッチ11の制御端子と、スイッチ13の制御端子と、インバータ20の入力端子に接続される。インバータ20の出力端子は、RSラッチ40の第3の入力端子と、比較回路300のEN入力端子と、比較回路400のEN入力端子に接続される。
図2は、本実施形態の電流源回路100の回路図を示す。本実施形態の電流源回路100は、イネーブル信号入力端子ENINと、出力端子IOUTと、スタートアップ信号出力端子STUPと、Pチャネル型MOSトランジスタMP100、MP101、MP102(以下PMOSトランジスタと記す)と、Nチャネル型MOSトランジスタMN100、MN101(以下NMOSトランジスタと記す)と、スイッチ101、102と、インバータ103と、抵抗R104と、起動回路110とを備えている。電流源回路100は、トランジスタMN100、MN101が弱反転領域で動作するワイドラー電流源回路で構成される。抵抗R104は、トランジスタMN100、MN101が弱反転領域で動作するように、大きな抵抗値が設定される。
スイッチ101、102は、制御端子にHighレベルが入力されたときオンし、Lowレベルが入力されたときオフする。本実施形態のスイッチは、PMOSトランジスタ、またはNMOSトランジスタで構成することができる。制御端子に印加される制御信号とオン、オフとの対応関係は、制御端子に印加される信号をインバータで反転することで調整できる。
起動回路110は、1つの入力端子Ta10と、2つの出力端子Ta11、Ta12と、PMOSトランジスタMP110、MP111と、インバータ114、115、116と、スイッチ111、112と、容量113とを備えている。スイッチ111、112は、制御端子にHighレベルが入力されたときオンし、Lowレベルが入力されたときオフする。
電流源回路100の接続について説明する。イネーブル信号入力端子ENINは、起動回路110の入力端子Ta10とインバータ103の入力に接続される。インバータ103の出力は、スイッチ101の制御端子とスイッチ102の制御端子に接続される。PMOSトランジスタMP100のソース端子は電源VDDに接続され、ドレイン端子はNMOSトランジスタMN100のドレイン端子とゲート端子と起動回路の第1の出力端子Ta11とNMOSトランジスタMN101のゲート端子とスイッチ101の第1端子に接続され、ゲート端子はPMOSトランジスタMP101のゲート端子とドレイン端子とNMOSトランジスタMN101のドレイン端子とPMOSトランジスタMP102のゲート端子とスイッチ102の第2端子に接続される。NMOSトランジスタMN100のソース端子は電源GNDに接続される。PMOSトランジスタMP101のソース端子は電源VDDに接続される。NMOSトランジスタMN101のソース端子は抵抗104を介して電源GNDに接続される。PMOSトランジスタMP102のソース端子は電源VDDに接続され、ドレイン端子は出力端子IOUTに接続される。スイッチ101の第2端子は電源GNDに接続される。スイッチ102の第1端子は電源VDDに接続される。
起動回路110の接続を説明する。起動回路110の入力端子Ta10は、インバータ114の入力端子とスイッチ112の制御端子に接続される。インバータ114の出力は、接続点P11を介してPMOSトランジスタMP110のゲート端子とスイッチ111の制御端子に接続される。PMOSトランジスタMP110のソース端子は電源VDDに接続され、ドレイン端子は、接続点P12を介してPMOSトランジスタMP111のゲート端子とインバータ115の入力端子と容量113の第1端子とスイッチ111の第1端子に接続される。PMOSトランジスタMP111のソース端子はスイッチ112の第2端子に接続され、ドレイン端子は第1の出力端子Ta11に接続される。インバータ115の出力はインバータ116の入力に接続される。インバータ116の出力は、第2の出力端子Ta12を介して、スタートアップ信号出力端子STUPに接続される。容量113の第2端子は、電源GNDに接続される。スイッチ112の第1端子は電源VDDに接続される。スイッチ111の第2端子は電源GNDに接続される。
図3は、起動回路110と起動回路210の動作を示すタイミングチャートである。図3は、横軸に時間を、縦軸に起動回路の各部の信号レベルを表示している。図3の上側半分が、起動回路110の動作を示し、下側半分が起動回路210の動作を示すタイミングチャートである。
図3を用いて起動回路110の動作を説明する。起動回路110の入力端子Ta10にLowレベルの信号が入力されている状態(図3のT0)では、接続点P11がHighレベルとなり、スイッチ111がオン状態、スイッチ112がオフ状態、PMOSトランジスタMP110がオフ状態となっている。容量113は、スイッチ111によって両端が短絡され、接続点P12が電源GNDレベルの電圧になる。PMOSトランジスタMP111はオン状態であるが、スイッチ112がオフ状態なので、第1の出力端子Ta11は電圧を出力しない。第2の出力端子Ta12は、Lowレベルの信号を出力する。
起動回路110の入力端子Ta10にHighレベルの信号が入力された状態(図3のT1)では、接続点P11がLowレベルとなり、スイッチ111がオフ状態、スイッチ112がオン状態、PMOSトランジスタMP110がオン状態となっている。容量113は、PMOSトランジスタMP110からの電流で充電され、接続点P12の電圧が電源GNDレベルから上昇していく。接続点P12の電位が、PMOSトランジスタMP111の閾値電圧Vth(MP111)を超えると、PMOSトランジスタMP111はオフ状態となり、スイッチ112からの電位を起動回路110の第1の出力端子Ta11から起動信号として出力する。第2の出力端子Ta12は、Highレベルの信号をスタートアップ信号として出力する。
図4は、本実施形態の電流源回路200の回路図を示す。起動回路210の容量213の容量値以外は電流源回路100と同じくトランジスタMN200、MN201が弱反転領域で動作するワイドラー電流源回路で構成されるので説明を省略する。電流源回路100と電流源回路200は、前記容量値以外の回路構成を同一にしてあるので、温度変化に対する出力電流の変化が同一になる。電流源回路200の容量213の容量値は、電流源回路100の容量113の容量値より大きな容量値とする。
図3を用いて起動回路210の動作を説明する。起動回路210は、容量213の容量値以外は起動回路110と同じであるので、起動回路110と同様の動作をする。容量213の容量値が容量113の容量値より大きく設定されているので、容量213が充電されてPMOSトランジスタMP211の閾値電圧Vth(211)を超え、起動信号が第1の出力端子Ta21から出力されるまでの時間(T1〜T2)は、容量113が充電されてPMOSトランジスタMP111の閾値電圧Vth(111)を超え、起動信号が起動回路110の第1の出力端子Ta11から出力されるまでの時間(T1〜T15)より大きい。また、インバータ215の閾値電圧(ここでは図示しない)を超え、スタートアップ信号が第2の出力端子Ta22から出力されるまでの時間は、インバータ115の閾値電圧(ここでは図示しない)を超え、スタートアップ信号が起動回路110の第2の出力端子Ta12から出力されるまでの時間より大きい。
図5は、本実施形態の比較回路300の回路図を示す。比較回路300は、非反転入力端子INPと、反転入力端子INNとイネーブル信号入力端子ENと、出力端子OUTと、PMOSトランジスタMP300、MP301と、NMOSトランジスタMN300、MN301、MN302と、インバータ305、306、307と、電流源回路I300、I301と、スイッチ301、302、303、304を備えている。スイッチ301〜304は、制御端子にHighレベルが入力されたときオンし、Lowレベルが入力されたときオフする。
比較回路300の接続について説明する。非反転入力端子INPは、PMOSトランジスタMP300のゲート端子に接続される。反転入力端子INNは、PMOSトランジスタMP301のゲート端子に接続される。電流源回路I300の第1端子は電源VDDに接続され、第2端子はスイッチ303の第1端子に接続される。スイッチ303の第2端子は、PMOSトランジスタMP300のソース端子とPMOSトランジスタMP301のソース端子に接続される。PMOSトランジスタMP300のドレイン端子は、NMOSトランジスタMN300のドレイン端子とゲート端子とNMOSトランジスタMN301のゲート端子とスイッチ301の第1端子に接続される。PMOSトランジスタMP301のドレイン端子は、NMOSトランジスタMN301のドレイン端子とNMOSトランジスタMN302のゲート端子とスイッチ302の第1端子に接続される。
電流源回路I301の第1端子は電源VDDに接続され、第2端子はNMOSトランジスタ302のドレインとインバータ306の入力端子とスイッチ304の第2端子に接続される。スイッチ304の第1端子は電源VDDに接続される。インバータ306の出力端子はインバータ307の入力端子に接続される。インバータ307の出力端子は、出力端子OUTに接続される。NMOSトランジスタMN300のソース端子と、NMOSトランジスタMN301のソース端子と、NMOSトランジスタ302のソース端子と、スイッチ301の第2端子と、スイッチ302の第2端子は、電源GNDに接続される。
イネーブル信号入力端子ENは、スイッチ303の制御端子と、インバータ305の入力端子に接続される。インバータ305の出力端子は、スイッチ301の制御端子と、スイッチ302の制御端子と、スイッチ304の制御端子と、に接続される
比較回路300は、イネーブル信号入力端子ENにLowレベルの信号が入力されると、出力端子OUTからHighレベルの信号を出力し、イネーブル信号入力端子ENにHighレベルの信号が入力されると、非反転入力端子INPと反転入力端子INNに入力される信号に応じて、出力端子OUTからHighレベルまたはLowレベルの信号を出力する比較回路として動作する。
比較回路400は、比較回路300と同一の構成であるので、説明を省略する。
図1と図6を参照して、本実施形態の発振回路1の動作を説明する。図6は、横軸に時間を、縦軸に各信号の信号レベルを表示している。
<ENINP=Lowのとき>
イネーブル信号入力端子ENINPにLowレベルの信号が入力されている状態(図6のT0)では、電流源回路100、200は、スタートアップ信号出力端子STUPからLowレベルの信号を出力し、3入力NAND回路22の入力端子にLowレベルの信号が入力される。3入力NAND回路22は、出力端子からHighレベルの信号が出力し、接続点P0はHighレベルとなる。スイッチ11、13がオンになり、比較回路300、400のイネーブル信号入力端子ENとRSラッチ40の第3の入力端子Ta3にLowレベルの信号が入力される。比較回路300、400は、出力端子OUTからHighレベルの信号が出力し、RSラッチ40の第1の入力端子Ta1と第2の入力端子Ta2にHighレベルの信号が入力される。
RSラッチ40は、第3の入力端子Ta3にLowレベルの信号が入力されるので、出力端子Ta4からHighレベルの信号が出力する。発振回路1は、OSCOUTからLowレベルの信号を出力する。また、スイッチ12、14がオンし、スイッチ13、15がオフとなる。
<ENINP=Highのとき>
次に、イネーブル信号入力端子ENINPにHighレベルの信号が入力された場合の動作を説明する。時間T1において、本実施形態の発振回路1は、イネーブル信号入力端子ENINPにHighレベルの信号が入力される。電流源回路100内の起動回路110の容量113は、電流源回路200内の起動回路210の容量213より小さいため、時間T1とT2の間で、最初に、電流源回路100の出力端子IOUTから電流が出力され、電流源回路100のスタートアップ信号出力端子STUPからHighレベルの信号が出力される。
電流源回路100の出力端子IOUTは、抵抗器25を介して電源GNDに接続されているので、電流源回路100の出力する電流値と抵抗器25で決定される電圧が抵抗器25の両端に現れる。この抵抗器25の両端の電圧は基準電圧Vrefとして、比較回路300、400の非反転入力端子INPに入力される。
基準電圧Vrefは、抵抗器25と電流源回路100の抵抗104が同じ材質の抵抗で構成されていれば、NMOSトランジスタMN100とNMOSトランジスタMN101の大きさ比のみで決定され、基準電圧Vrefは温度に対して1次の比例関係を示す。
次に電流源回路200の起動回路210において、容量213の第1端子の電圧が所定の電圧を超え、電流源回路200の出力端子IOUTから電流が出力され、電流源回路200のスタートアップ信号出力端子STUPからHighレベルの信号が出力される(時間T2)。
時間T2において、3入力NAND回路22の入力端子に入力される信号がすべてLowレベルの信号となり、接続点P0の信号がHighレベルの信号からLowレベルの信号へ変わり、スイッチ11、13がオフとなる。また、接続点P0の信号は、インバータ20で反転される。比較回路300、400のイネーブル信号入力端子ENに入力される信号が、LowレベルからHighレベルの信号に変わり、比較回路300、400の出力端子OUTからHighレベルの信号が出力される。
RSラッチ40の2入力NAND回路23は、2つの入力端子にHighレベルの信号が入力され、Lowレベルの信号が出力される。RSラッチ40の3入力NAND回路24は、第1の入力端子に2入力NAND回路23の出力からLowレベルの信号が入力される。RSラッチ40の出力端子Ta4の出力は、Highレベルの出力信号を維持する。発振回路1の出力端子OSCOUTは、Lowレベルの信号の出力を維持する。
スイッチ14がオンし、スイッチ10、11がオフであるので、容量30は電流源回路200の電流で充電され、接続点P1の電圧が上昇を開始する。接続点P1の電圧が、基準電圧Vrefを超えると(時間T3)、比較回路300は、出力端子OUTの信号をHighレベルからLowレベルへ変化させる。RSラッチ40の第1入力端子Ta1の信号がLowレベルからHighレベルへ変化する。RSラッチ40の出力端子Ta4の出力は、Highレベルの出力信号からLowレベルの出力信号へ変化する。発振回路1の出力端子OSCOUTは、Lowレベルの信号出力からHighレベルの信号出力へ変化する。
RSラッチ40の出力信号の変化によって、スイッチ12、14はオフし、スイッチ13、15はオンとなる。容量30の接続点P1の電圧はゼロになり、比較回路300の出力は、Highレベルの信号になる(時間T4)。
容量31は、電流源回路200の電流で充電され、接続点P2の電圧が上昇を開始する。接続点P2の電圧が、基準電圧Vrefを超えると(時間T5)、比較回路400は、出力端子OUTの信号をHighレベルからLowレベルへ変化させる。RSラッチ40の第2の入力端子Ta2の信号がHighレベルからLowレベルへ変化する。RSラッチ40の出力端子Ta4の出力は、Lowレベルの出力信号からHighレベルの出力信号へ変化する。発振回路1の出力端子OSCOUTは、Highレベルの信号出力からLowレベルの信号出力へ変化する。
RSラッチ40の出力信号の変化によって、スイッチ12、14はオンし、スイッチ13、15はオフとなる。接続点P2の電圧はゼロになり、比較回路400の出力は、Highレベルの信号になる(時間T6)。容量30は、電流源回路200の電流で充電され、接続点P1の電圧が上昇を開始する。この状態は、先に説明した時間T2の状態と同じである。本実施形態の発振回路は、時間T2の状態から時間T6の状態を繰り返して発振動作を行う。
ここで、電流源回路100と電流源回路200は、ワイドラー電流源回路である。一般にワイドラー電流源回路は、安定動作点が2つあることが知られている。安定動作点の1つは、出力電流がゼロとなる点であり、もう1つの安定動作点は、所望の出力電流が得られる点である。
本実施形態では、電流源回路100、200で出力電流ゼロとなる点が、安定動作点となることを避けるため、起動回路110、210を設けてある。
ここで電流源回路100が起動するより前に電流源回路200が起動して容量へ充電を開始すると、比較回路の非反転入力端子の入力電圧が、反転入力端子の電圧よりも高くなる場合がある。この場合、比較回路の出力端子の電圧は、Highレベルのままとなり、比較回路の出力端子の電圧が反転せず発振動作を開始しない。
本実施形態は、確実に発振動作を開始させるため、電流源回路100の起動が電流源回路200の起動より前となるように、起動回路210の容量213の容量値を起動回路110の容量113の容量値より大きくなるように設定してある。
本実施形態の発振回路によれば、回路規模が小さく、消費電力の小さい発振回路を得ることができる。
(第2実施形態)
図7は、本発明の第2の実施形態の発振回路の電流源回路100aの回路図であり、図8は、本発明の第2の実施形態の発振回路の電流源回路200aの回路図である。
図7の電流源回路100aと図2の電流源回路100との相違点は、抵抗104aがNMOSトランジスタMN100のドレイン端子とゲート端子間に接続され、NMOSトランジスタMN101のゲート端子がNMOSトランジスタMN100のドレイン端子と接続されている点である。
図2の電流源回路100で生成する電流は、NMOSトランジスタMN101の基板バイアス効果の影響を受ける。これは、NMOSトランジスタMN101のソース端子と電源GNDとの間に抵抗104があることで、抵抗104に流れる電流によってソース端子の電圧よりバックゲートの電圧が、より低くなるためである。NMOSトランジスタMN100とNMOSトランジスタMN101の閾値電圧Vthは、NMOSトランジスタMN101の基板バイアス効果の影響で完全に等しくならない。
図7の電流源回路100aは、NMOSトランジスタMN101に基板バイアス効果が発生しない構成であり、NMOSトランジスタMN100とNMOSトランジスタMN101の閾値電圧を相殺することが可能である。本実施形態の発振回路の温度による影響を削減することが期待できる。
図8の電流源回路200aと図7の電流源回路100aの差異は、図4の電流源回路200と図2の電流源回路100の差異と同様であるので、説明を省略する。
以上、本実施形態の発振回路によれば、回路規模が小さく消費電力も小さな発振回路が得られる。
1、発振回路
25、抵抗器
30、31、容量
40、RSラッチ
100、100a、200、200a、電流源回路
110、210、起動回路
300、400、比較回路
ENIN、イネーブル信号入力端子

Claims (5)

  1. 第1と第2の電流源回路と、抵抗器と、第1と第2の容量と、第1と第2の比較回路と、RSラッチを備え、
    前記RSラッチの出力の値により、前記第2の電流源回路の出力電流を、前記第1の容量または前記第2の容量に入力し、
    前記第1の電流源回路の出力電流と前記抵抗器の抵抗値で決まる基準電圧と、前記第1の容量の電圧とを、前記第1の比較回路に入力し、
    前記基準電圧と、前記第2の容量の電圧とを、前記第2の比較回路に入力し、
    前記第1の比較回路の出力と前記第2の比較回路の出力を、前記RSラッチに入力することを特徴とする発振回路。
  2. 前記第1の電流源回路と前記第2の電流源回路は、温度変化に対する出力電流の変化が同一であることを特徴とする請求項1記載の発振回路。
  3. 前記第1の電流源回路と前記第2の電流源回路は、弱反転領域で動作するトランジスタを有するワイドラー電流源を備えることを特徴とする請求項2記載の発振回路。
  4. 前記第1の電流源回路と前記第2の電流源回路は、イネーブル信号入力端子と起動回路を有することを特徴とする請求項1記載の発振回路。
  5. 前記第1の電流源回路の起動回路の起動信号は、前記第2の電流源回路の起動回路が起動信号を出力する前に出力されることを特徴とする請求項4に記載の発振回路。
JP2019211617A 2019-11-22 2019-11-22 発振回路 Pending JP2021083054A (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019211617A JP2021083054A (ja) 2019-11-22 2019-11-22 発振回路
US17/092,604 US11290057B2 (en) 2019-11-22 2020-11-09 Oscillation circuit
CN202011309185.6A CN112838844A (zh) 2019-11-22 2020-11-20 振荡电路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019211617A JP2021083054A (ja) 2019-11-22 2019-11-22 発振回路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2021083054A true JP2021083054A (ja) 2021-05-27

Family

ID=75923182

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2019211617A Pending JP2021083054A (ja) 2019-11-22 2019-11-22 発振回路

Country Status (3)

Country Link
US (1) US11290057B2 (ja)
JP (1) JP2021083054A (ja)
CN (1) CN112838844A (ja)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013005109A (ja) * 2011-06-14 2013-01-07 Lapis Semiconductor Co Ltd 発振回路
JP2014075744A (ja) * 2012-10-05 2014-04-24 Renesas Electronics Corp 発振回路
JP2015216536A (ja) * 2014-05-12 2015-12-03 ラピスセミコンダクタ株式会社 発振回路、電流生成回路および発振方法

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3852906B2 (ja) * 2000-11-06 2006-12-06 株式会社東芝 温度補償回路及び可変利得増幅回路
US7034627B1 (en) * 2004-04-01 2006-04-25 National Semiconductor Corporation Oscillator circuit with variable reference voltage and current
JP2013172397A (ja) * 2012-02-22 2013-09-02 Renesas Electronics Corp 抵抗値補償回路
US10256797B2 (en) * 2014-06-10 2019-04-09 Agency For Science, Technology And Research Oscillator
TWI605325B (zh) * 2016-11-21 2017-11-11 新唐科技股份有限公司 電流源電路

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013005109A (ja) * 2011-06-14 2013-01-07 Lapis Semiconductor Co Ltd 発振回路
JP2014075744A (ja) * 2012-10-05 2014-04-24 Renesas Electronics Corp 発振回路
JP2015216536A (ja) * 2014-05-12 2015-12-03 ラピスセミコンダクタ株式会社 発振回路、電流生成回路および発振方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN112838844A (zh) 2021-05-25
US11290057B2 (en) 2022-03-29
US20210159853A1 (en) 2021-05-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101812931B1 (ko) 자기-바이어스 rc 발진 장치 및 램프 발생 장치를 구비하는 회로 장치 및 그의 방법
US4891609A (en) Ring oscillator
US8115559B2 (en) Oscillator for providing a constant oscillation signal, and a signal processing device including the oscillator
US7550958B2 (en) Bandgap voltage generating circuit and relevant device using the same
US7692481B2 (en) Band-gap reference voltage generator for low-voltage operation and high precision
JP2008524962A (ja) 電圧補償及び温度補償されたrc発振回路
KR20100077271A (ko) 기준전압 발생회로
JP2002033644A (ja) マイクロパワーrc発振器
KR20100077272A (ko) 기준전압 발생회로
JP2003084846A (ja) 基準電圧発生回路
KR100761369B1 (ko) 온도변화 적응형 내부 전원 발생 장치
JPH1078827A (ja) Icのスタート回路
TW390015B (en) Semiconductor circuit
US20070296421A1 (en) Voltage drop measurement circuit
JP2021083054A (ja) 発振回路
US7218162B2 (en) Semiconductor integrated circuit having output circuit
JPH10143265A (ja) 始動回路を有するバンドギャップリファレンス回路
JPH0661801A (ja) 発振器
US10819317B1 (en) Feedback stabilized ring oscillator
JP2006352384A (ja) 集積回路内蔵発振器
JP7101499B2 (ja) 発振回路
JP2004048690A (ja) リング発振器
JP4167122B2 (ja) 基準電圧発生回路
US20230031567A1 (en) Oscillation circuit
JP2020141220A (ja) パワーオンクリア回路及び半導体装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20221011

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20230420

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20230509

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20230614

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20230912