JP2021081639A - 駆動回路、表示モジュール、及び移動体 - Google Patents

Abstract

【課題】高電位と低電位とを正常電位とし、高電位と低電位の間の電位である中間電位を異常電位として検査対象から除く。【解決手段】表示パネルを駆動するセグメントドライバー１００に、信号出力回路１４０、第１電圧生成回路１５＿１、電圧出力回路１６０、及び検査回路１７０を設ける。第１電圧生成回路１５＿１は、第１電圧又は第１電圧よりも高い第２電圧を示す表示信号に基づいて電極Ｔａ１に印加すべき電圧を生成する。電圧出力回路１６０は、電極Ｔａ１への電圧の印加状態を検査するための検査電圧Ｖｄを出力する検査電圧出力線Ｌｘを備える。信号出力回路１４０は、表示信号の信号電圧Ｖｓを出力する信号電圧出力線Ｌｙを備える。検査回路１７０は、検査電圧Ｖｄが１電圧よりも高い第１閾値電圧から第２電圧よりも低く第１閾値電圧よりも高い第２閾値電圧までの閾値範囲の電圧である場合、エラーと判定しエラーを示す検査信号ＤＥＴを出力する。【選択図】図４

Description

この発明は、表示パネルの駆動回路に関する。

液晶パネルには、アクティブ駆動に対応するパネルと、スタッティック駆動に対応するパネルがある。特許文献１には、スタッティック駆動の液晶パネルに駆動電圧を出力するドライバーから出力される電圧の検査方法が開示されている。

特開平１１−２４０３６号公報

高電圧と低電圧の２値でスタッティック駆動される液晶パネルにドライバーから出力する電圧の検査において、ドライバーから出力される電圧について高電位と低電位の間の中間電位の検査を行うことは周知である。しかし、従来技術における中間電位の検査では、当該中間電位を異常電位としておらず、中間電位を異常電位として検査対象から除くことができない問題がある。

本開示の一態様による駆動回路は、電極を有する表示パネルを駆動する駆動回路であって、第１電圧又は前記第１電圧よりも高い第２電圧を示す表示信号に基づいて前記電極に印加すべき第３電圧を生成する電圧生成回路と、前記電極と接続される出力端子と、前記電圧生成回路と前記出力端子との間に配置され、前記第３電圧の前記電極への印加状態を検査するための検査電圧を出力する検査電圧出力線を備える電圧出力回路と、前記表示信号の電圧である信号電圧を出力する信号電圧出力線を備える信号出力回路と、検査回路と、を有し、前記検査回路は、前記検査電圧と前記信号電圧に基づいて、前記電圧生成回路の入力から前記電極までの経路に異常があるか否かを検査し、前記検査電圧が、前記第１電圧よりも高い第１閾値電圧から前記第２電圧よりも低く前記第１閾値電圧よりも高い第２閾値電圧までの閾値範囲の電圧である場合、前記検査電圧をエラーと判定し検査電圧エラー信号を出力する。

実施形態に係る表示モジュール１の構成を示すブロック図である。 複数のセグメント電極とセグメントドライバー１００の接続関係を示す説明図である。 複数のコモン電極とコモンドライバー２００の接続関係を示す説明図である。 セグメントドライバー１００の構成を示すブロック図である。 検査回路１７０の構成を示すブロック図である。 閾値電圧発生回路１７００の構成を示すブロック図である。 検査回路１７０の各部における信号値の一例を示す図である。 検査回路１７０の動作例を示す図である。 信号選択回路１３０、信号出力回路１４０、第１乃至第７電圧生成回路１５_１〜１５_７、電圧出力回路１６０、及び検査回路１７０の詳細なブロック図である。 第１検査モードにおけるセグメントドライバー１００の動作を示すタイミングチャートである。 第２検査モードにおけるセグメントドライバー１００の動作を示すタイミングチャートである。 第３検査モードにおける各スイッチの状態を示す説明図である。 第４検査モードにおける各スイッチの状態を示す説明図である。 実施形態の変形に係る信号選択回路１３０、信号出力回路１４０、第１乃至第７電圧生成回路１５_１〜１５_７、電圧出力回路１６０、及び検査回路１７０のブロック図である。 実施形態の変形に係るセグメントドライバー１００のＩＣチップＡにおける構成要素のレイアウトを示す説明図である。 実施形態の変形に係るコモンドライバー２００と複数のコモン電極の接続関係を示す説明図である。 実施形態の他の変形に係るコモンドライバー２００と複数のコモン電極の接続関係を示す説明図である。 表示モジュール１を含むヘッドライト１０００ の構成例を示すブロック図である。 ヘッドライトに適用される液晶パネル１０のセグメントの配置を示す説明図である。 応用例である移動体の模式図である。

以下、図面を参照して実施形態を説明する。ただし、各図において、各部の寸法及び縮尺は、実際のものと適宜に異ならせてある。また、以下に述べる実施形態には技術的に好ましい種々の限定が付されているが、実施形態はこれらの形態に限られるものではない。

１．実施形態
１−１．全体構成
図１は、実施形態に係る表示モジュール１の構成を示すブロック図である。表示モジュール１は、液晶パネル１０と、液晶パネル１０を駆動する駆動回路２０とを備える。表示モジュール１は、ホストプロセッサー２から送信される信号に基づいて動作する。ホストプロセッサー２は、例えばＥＣＵ（Electronic Control Unit）である。液晶パネル１０は、画像を表示する表示パネルの一例である。

液晶パネル１０は、スタッティック駆動に対応するパネルである。液晶パネル１０は、例えば接地電位である第１電圧ＶＳＳと、第１電圧ＶＳＳよりも高い第２電圧ＶＬＣＤとで２値駆動される。液晶パネル１０は、複数のセグメントを有する。セグメントは、画像を表示するための最小の要素である。セグメントは、セグメント電極、コモン電極、セグメント電極及びコモン電極に挟持される液晶を有する。液晶パネル１０は表示パネルの一例である。この例ではセグメント数は７である。本開示のセグメント数は７に限定されず、セグメント数は２以上であればよい。
駆動回路２０は、セグメントドライバー１００、コモンドライバー２００、制御回路３００、及びインターフェイス４００を備える。

制御回路３００には、ホストプロセッサー２からインターフェイス４００を介して入力データＤｉｎが供給される。入力データＤｉｎは、各セグメントで表示すべき階調を示す。入力データＤｉｎは、第１乃至第７セグメントで表示すべき階調を各々示す。この例では、各セグメントで表示可能な階調は８階調である。但し、各セグメントで表示可能な階調は、８階調に限定されず、２階調以上であればどのような階調であってもよい。

入力データＤｉｎは、セグメント数に応じた複数のワードデータから構成される。入力データＤｉｎを構成する複数のワードデータは、複数のセグメントに１対１に対応する。各ワードデータは対応するセグメントに表示すべき階調を示す。この例では、各セグメントで表示可能な階調は８階調であるので、１個のワードデータは３ビットで構成される。

制御回路３００は、各種の制御信号を発生する。制御回路３００は、制御信号をセグメントドライバー１００及びコモンドライバー２００に出力することによって、セグメントドライバー１００及びコモンドライバー２００を制御する。制御回路３００は、入力データＤｉｎをセグメントドライバー１００に出力する。

セグメントドライバー１００は、液晶パネル１０に設けられた複数のセグメント電極に信号電圧を出力する。コモンドライバー２００は、液晶パネル１０に設けられた複数のコモン電極にコモン電圧を出力する。

図２は、複数のセグメント電極とセグメントドライバー１００の接続関係を示す説明図である。図２に示されるように、液晶パネル１０は、第１乃至第７セグメント電極ＳＥ１〜ＳＥ７を備える。

セグメントドライバー１００は、第１乃至第７出力端子Ｔａ１、Ｔａ２、…Ｔａ７と第１乃至第７モニター端子Ｔｂ１、Ｔｂ２、…Ｔｂ７とを備える。以下の説明では、１から７までの任意の整数をｊとする。第ｊ出力端子Ｔａｊは、第ｊ出力線Ｌａｊを介して第ｊセグメント電極ＳＥｊと接続される。第ｊモニター端子Ｔｂｊは、第ｊモニター線Ｌｂｊを介して第ｊセグメント電極ＳＥｊと接続される。

図３は、複数のコモン電極とコモンドライバー２００の接続関係を示す説明図である。図３に示されるように、液晶パネル１０は、第１乃至第７コモン電極ＣＥ１〜ＣＥ７を備える。第１乃至第７コモン電極ＣＥ１〜ＣＥ７は、コモン配線ＬＣによって接続される。

コモンドライバー２００は、第１出力端子Ｔｃ１と第１モニター端子Ｔｄ１とを備える。第１出力端子Ｔｃ１は、第１出力線Ｌｃ１を介してコモン配線ＬＣの一端と接続される。第１モニター端子Ｔｄ１は、第１モニター線Ｌｄ１を介してコモン配線ＬＣの他端と接続される。

１−２．セグメントドライバー
図４は、セグメントドライバー１００の構成を示すブロック図である。セグメントドライバー１００は、液晶パネル１０に画像を表示中に、正常に動作しているかを検査する。

セグメントドライバー１００は、記憶回路１１０、ラッチ回路１２０、信号選択回路１３０、信号出力回路１４０、第１乃至第７電圧生成回路１５_１〜１５_７、電圧出力回路１６０、検査回路１７０、第１乃至第７出力端子Ｔａ１〜Ｔａ７、及び第１乃至第７モニター端子Ｔｂ１〜Ｔｂ７を備える。

記憶回路１１０は、入力データＤｉｎを記憶し、記憶される入力データＤｉｎをラッチ回路１２０に出力する。この例の入力データＤｉｎはワードデータｄ１〜ｄ７から構成される。記憶回路１１０は、例えば、ＲＡＭ（Random Access Memory）で構成される。

ラッチ回路１２０は、ラッチパルスＬＰに同期して、入力データＤｉｎの各ワードデータｄ１、ｄ２、…ｄ７をラッチし、ラッチ結果であるデータＤ１、Ｄ２、…Ｄ７を信号選択回路１３０に出力する。データＤ１は、第１セグメント電極ＳＥ１に対応する領域において表示すべき階調を示す第１データに相当する。データＤ２は、第２セグメント電極ＳＥ２に対応する領域において表示すべき階調を示す第２データに相当する。

信号選択回路１３０は、データＤ１、Ｄ２、…Ｄ７に基づいて、第１乃至第７セグメントに１対１に対応する第１乃至第７表示信号Ｓ１、Ｓ２、…Ｓ７を出力する。第ｊ表示信号は、第１電圧ＶＳＳ又は第２電圧ＶＬＣＤを示す。信号選択回路１３０は、第１乃至第７選択回路１３_１〜１３_７を備える。第１選択回路１３_１は、データＤ１に基づいて複数のＰＷＭ信号Ｐ１〜Ｐ８の中から一つのＰＷＭ信号を選択し、選択される一のＰＷＭ信号を第１表示信号Ｓ１として出力する。第２選択回路１３_２は、データＤ２に基づいて複数のＰＷＭ信号Ｐ１〜Ｐ８の中から一つのＰＷＭ信号を選択し、選択される一のＰＷＭ信号を第２表示信号Ｓ２として出力する。同様に、第ｊ選択回路１３_ｊは、データＤｊに基づいて複数のＰＷＭ信号Ｐ１〜Ｐ８の中から一つのＰＷＭ信号を選択し、選択される一のＰＷＭ信号を第ｊ表示信号Ｓｊとして出力する。

信号出力回路１４０は信号電圧出力線Ｌｙを備える。信号出力回路１４０は第１乃至第７表示信号Ｓ１〜Ｓ７の電圧を時分割で信号電圧出力線Ｌｙに出力する。信号出力回路１４０は、第１乃至第７表示信号Ｓ１〜Ｓ７を第１乃至第７電圧生成回路１５_１〜１５_７へ出力する。

第１乃至第７電圧生成回路１５_１〜１５_７のうち、第ｊ電圧生成回路１５_ｊは、第ｊ表示信号Ｓｊに基づいて、第ｊセグメント電極ＳＥｊに印加すべき電圧Ｖａｊ及び電圧Ｖｂｊを生成する。ここで、電圧Ｖａｊと電圧Ｖｂｊとは同じ値となる。第ｊ電圧生成回路は、２系統の回路を備えることによって、冗長性を有する。即ち、第ｊ電圧生成回路は、一方の系統の回路が故障した場合に、他方の回路が代替する。

電圧出力回路１６０は、電圧Ｖａ１〜Ｖａ７，Ｖｂ１〜Ｖｂ７を第１乃至第７出力端子Ｔａ１〜Ｔａ７，Ｔｂ１〜Ｔｂ７に出力する。また、電圧出力回路１６０は検査電圧出力線Ｌｘを備え、検査電圧Ｖｄを検査回路１７０へ出力する。

検査回路１７０は、検査電圧出力線Ｌｘから入力する検査電圧Ｖｄと信号電圧出力線Ｌｙから入力する信号電圧Ｖｓとに基づいて、第ｊ電圧生成回路１５_ｊの入力から第ｊセグメント電極ＳＥｊの入力までの経路に異常があるか否かを検査し、検査結果を示す検査信号ＤＥＴを制御回路３００に出力する。また、検査回路１７０は、検査電圧Ｖｄが第１電圧ＶＳＳよりも高い第１閾値電圧ＶＴＬから第２電圧ＶＬＣＤよりも低く第１閾値電圧ＶＴＬよりも高い第２閾値電圧ＶＴＨまでの閾値範囲の電圧である場合、検査電圧Ｖｄをエラーと判定し、検査電圧エラーを示す検査信号ＤＥＴを制御回路３００に出力する。

図５は、検査回路１７０の構成を示すブロック図である。図５に示すように、検査回路１７０は、閾値電圧発生回路１７００と、第１比較器１７１０と、第２比較器１７２０と、第１検定回路１７３０と、第２検定回路１７４０と、第３検定回路１７５０と、第４検定回路１７６０と、を有する。

閾値電圧発生回路１７００は、第１閾値電圧ＶＴＬと第２閾値電圧ＶＴＨとを発生させる回路である。図６は、閾値電圧発生回路１７００の構成を示すブロック図である。図６に示すように、閾値電圧発生回路１７００は、第２電圧ＶＬＣＤを印加される高電位電源線ＰＶＬＣＤと第１電圧ＶＳＳを印加される低電位電源線ＰＶＳＳとの間に、抵抗１７０２、抵抗１７０４、及び抵抗１７０６を直列に介挿して構成されるラダー抵抗回路である。本実施形態では、抵抗１７０２、抵抗１７０４、及び抵抗１７０６の抵抗値の比は３：４：３である。抵抗１７０６と抵抗１７０４との共通接続点は第１閾値電圧ＶＴＬの出力端子に接続されており、抵抗１７０４と抵抗１７０２との共通接続点は第２閾値電圧ＶＴＨの出力端子に接続されている。このため、本実施形態では、第１閾値電圧ＶＴＬは第２電圧ＶＬＣＤの３０％の電位を有し、第２閾値電圧ＶＴＨは第２電圧ＶＬＣＤの７０％の電位を有する。

第１比較器１７１０には、検査電圧出力線Ｌｘから出力される検査電圧Ｖｄと第１閾値電圧ＶＴＬとが与えられる。第１比較器１７１０は検査電圧Ｖｄと第１閾値電圧ＶＴＬとを比較し、比較結果を表す第１検定信号Ｓ８を生成する。第１検定信号Ｓ８は、検査電圧Ｖｄが第１閾値電圧ＶＴＬより高いときにハイレベルとなり、検査電圧Ｖｄが第１閾値電圧ＶＴＬ以下のときにローレベルとなる。以下の説明では、第１論理レベルはハイレベルであり、第２論理レベルはローレベルである。

第２比較器１７２０には、検査電圧出力線Ｌｘから出力される検査電圧Ｖｄと第２閾値電圧ＶＴＨとが与えられる。第２比較器１７２０は、検査電圧Ｖｄと第２閾値電圧ＶＴＨとを比較し、比較結果を表す第２検定信号Ｓ９を生成する。第２検定信号Ｓ９は、検査電圧Ｖｄが第２閾値電圧ＶＴＨより高いときにハイレベルとなり、検査電圧Ｖｄが第２閾値電圧ＶＴＨ以下のときにローレベルとなる。

第１検定回路１７３０は排他的論理和回路である。第１検定回路１７３０には第１検定信号Ｓ８と第２検定信号Ｓ９とが与えられる。より詳細には、検査回路１７０は、図示しないレベルシフターを有し、第１検定信号Ｓ８及び第２検定信号Ｓ９はレベルシフターによって検定経路用にレベルダウンされて第１検定回路１７３０に与えられる。第１検定回路１７３０は、レベルダウン済の第１検定信号Ｓ８とレベルダウン済の第２検定信号Ｓ９との排他的論理和を演算し、演算結果を第３検定信号Ｓ１０として出力する。第３検定信号Ｓ１０は、第１検定信号Ｓ８と第２検定信号Ｓ９とが共にハイレベルである場合、又は第１検定信号Ｓ８と第２検定信号Ｓ９とが共にローレベルである場合には、ローレベルとなる。また、第３検定信号Ｓ１０は、第１検定信号Ｓ８と第２検定信号Ｓ９のうちの一方がローレベル、他方がハイレベルである場合にハイレベルとなる。

第２検定回路１７４０は論理積回路である。第２検定回路１７３４には、第１検定回路１７３０と同様に、レベルシフターによりレベルダウン済の第１検定信号Ｓ８と、レベルシフターによりレベルダウン済の第２検定信号Ｓ９と、が与えられる。第２検定回路１７４０には第１検定信号Ｓ８と第２検定信号Ｓ９とが与えられる。第２検定回路１７４０は、第１検定信号Ｓ８と第２検定信号Ｓ９との論理積演算を行い、演算結果を第４検定信号Ｓ１１として出力する。第４検定信号Ｓ１１は、第１検定信号Ｓ８と第２検定信号Ｓ９のいずれか一方がローレベルである場合にはローレベルとなり、第１検定信号Ｓ８と第２検定信号Ｓ９とが共にハイレベルである場合にはハイレベルとなる。

第３検定回路１７５０は排他的論理和回路である。第３検定回路１７５０には信号電圧出力線Ｌｙから入力する表示信号の電圧である信号電圧Ｖｓと第４検定信号Ｓ１１とが与えられる。第３検定回路１７５０は、信号電圧Ｖｓと第４検定信号Ｓ１１との排他的論理和を演算し、演算結果を第５検定信号Ｓ１２として出力する。第５検定信号Ｓ１２は、信号電圧Ｖｓと第４検定信号Ｓ１１とが共にハイレベルである場合、又は信号電圧Ｖｓと第４検定信号Ｓ１１とが共にローレベルである場合には、ローレベルとなる。また、第５検定信号Ｓ１２は、信号電圧Ｖｓと第４検定信号Ｓ１１のうちの一方がローレベル、他方がハイレベルである場合にハイレベルとなる。

第４検定回路１７６０は論理和回路であり、第４検定回路１７６０には第３検定信号Ｓ１０と第５検定信号Ｓ１２とが与えられる。第４検定回路１７６０は、第３検定信号Ｓ１０と第５検定信号Ｓ１２との論理和を演算し、演算結果を検査信号ＤＥＴとして出力する。検査信号ＤＥＴは、第３検定信号Ｓ１０がハイレベルである場合又は第３検定信号Ｓ１０がローレベル且つ第５検定信号Ｓ１２がハイレベルである場合にハイレベルとなり、第３検定信号Ｓ１０がローレベル且つ第５検定信号Ｓ１２がローレベルである場合にローレベルとなる。

検査回路１７０の動作は図７に示す真理値表で表される。なお、図７におけるＨはハイレベルを意味し、図７におけるＬはローレベルを意味する。また、図７におけるＳ１０のＬ範囲とは、検査電圧Ｖｄが第１閾値電圧ＶＴＬ以下であることを意味し、Ｈ範囲とは、検査電圧Ｖｄが第２閾値電圧ＶＴＨ以上であることを意味する。また、図７における中間電位とは、検査電圧Ｖｄが第１閾値電圧ＶＴＬより高く第２閾値電圧ＶＴＨより低い範囲内の電圧であることを意味し、圏外とは第１比較器１７１０の出力と第２比較器１７２０の出力の組み合わせとして有りえないことを意味する。本実施形態では、第３検定信号Ｓ１０がハイレベルである場合には、第５検定信号の信号値を問わずに検査信号ＤＥＴはハイレベル、すなわち検査電圧エラーとされる。これは、第３検定信号Ｓ１０がハイレベルである場合は中間電位又は圏外に対応し、表示信号の信号電圧Ｖｓとの比較を行う必要がないからである。図７におけるdon’t careは信号電圧Ｖｓとの比較結果が検査結果に寄与しないことを意味する。第３検定信号Ｓ１０がローレベルである場合には、第５検定信号Ｓ１２．すなわち信号電圧Ｖｓと第４検定信号Ｓ１１との排他的論理和がＨレベルである場合に検査信号ＤＥＴはハイレベルとされる。信号電圧Ｖｓと第４検定信号Ｓ１１との排他的論理和がＨレベルであることは、信号電圧Ｖｓの論理レベルと検査電圧Ｖｄの論理レベルとが矛盾することを意味するからである。検査回路１７０が以上の動作を行う結果、本実施形態では、図８に示すように、検査電圧Ｖｄが第１閾値電圧ＶＴＬ以下の電圧である場合には、検査信号ＤＥＴはローレベルとなり、検査電圧Ｖｄは第１電圧ＶＳＳと見做される。また、検査電圧Ｖｄが第２閾値電圧ＶＴＨ以上の電圧である場合には、検査信号ＤＥＴはローレベルとなり、検査電圧Ｖｄは第２電圧ＶＬＣＤと見做される。そして、検査電圧Ｖｄが第１閾値電圧ＶＴＬより大きく且つ第２閾値電圧ＶＴＨより小さい閾値範囲の中間電位である場合には、検査信号ＤＥＴはハイレベルとなる。
ここで、閾値範囲は閾値の設定により「閾値以上、閾値以下」にできることは言うまでもない。例えば閾値範囲が「１Ｖより大きく、４Ｖより小さい」設定が可能であり、「１．１Ｖ以上、３．９Ｖ以下」と設定することも可能である。

図９は、信号出力回路１４０、第１乃至第７電圧生成回路１５_１〜１５_７、及び電圧出力回路１６０の詳細なブロック図である。信号出力回路１４０は、スイッチＳＷｆ１、ＳＷｆ２、…ＳＷｆ７を備える。スイッチＳＷｆ１は、信号電圧出力線Ｌｙと第１電圧生成回路１５_１の入力端子Ｔｘ１との間に設けられる。スイッチＳＷｆ２は、信号電圧出力線Ｌｙと第２電圧生成回路１５_２の入力端子Ｔｘ２との間に設けられる。スイッチＳＷｆ１は第１信号スイッチの一例である。スイッチＳＷｆ２は第２信号スイッチの一例である。同様に、スイッチＳＷｆｊは、信号電圧出力線Ｌｙと第ｊ電圧生成回路１５_ｊの入力端子Ｔｘｊとの間に設けられる。以下の説明においてスイッチは、１又は複数のスイッチング素子によって構成される。１個のスイッチは、例えば、ＮチャネルＭＯＳトランジスター及びＰチャネルＭＯＳトランジスターの少なくとも一方を備える。

また、スイッチＳＷｆ１には選択信号ＳＥＬｆ１が供給される。スイッチＳＷｆ２には選択信号ＳＥＬｆ２が供給される。同様に、スイッチＳＷｆｊには、選択信号ＳＥＬｆｊが供給される。スイッチＳＷｆｊは、選択信号ＳＥＬｆｊが第１論理レベルの場合にオン状態となり、選択信号ＳＥＬｊが第２論理レベルの場合にオフ状態となる。例えば、第１論理レベルはハイレベルであり、第２論理レベルはローレベルである。

選択信号ＳＥＬｆ１〜ＳＥＬｆ７は、排他的に第１論理レベルとなる。従って、信号電圧出力線Ｌｙには、第１乃至第７表示信号Ｓ１〜Ｓ７の各電圧が時分割で出力される。

第１電圧生成回路１５_１は、第１回路Ｘ１と第２回路Ｘ２とを備える。第１回路Ｘ１は、バッファーＢ１、レベルシフターＬＳ、及びバッファーＢ２を備える。第１回路Ｘ１において、レベルシフターＬＳは、バッファーＢ１の出力信号をレベルシフトし、レベルシフトされた出力信号をバッファーＢ２に出力する。第１回路Ｘ１のバッファーＢ２は電圧Ｖａ１を出力端子Ｔｙ１を介して出力する。第２回路Ｘ２は、第１回路Ｘ１と同様に構成される。第２回路Ｘ２のバッファーＢ２は電圧Ｖｂ１を出力端子Ｔｚ１を介して出力する。同様に、第ｊ電圧生成回路１５_ｊは、第１回路Ｘ１と第２回路Ｘ２とを備える。第ｊ電圧生成回路１５_ｊの第１回路Ｘ１は電圧Ｖａｊを出力端子Ｔｙｊから出力する。第ｊ電圧生成回路１５_ｊの第２回路Ｘ２は電圧Ｖｂｊを出力端子Ｔｚｊから出力する。

電圧出力回路１６０は、第１乃至第７電圧出力回路１６_１〜１６_７を備える。第１電圧出力回路１６_１は、スイッチＳＷａ１、スイッチＳＷｂ１、スイッチＳＷｂ１、スイッチＳＷｃ１、スイッチＳＷｄ１及びスイッチＳＷｅ１を備える。スイッチＳＷｂ１は第１検査スイッチの一例である。スイッチＳＷｅ１は第１モニタースイッチの一例である。

スイッチＳＷａ１は、出力端子Ｔｙ１と第１出力端子Ｔａ１との間に設けられる。スイッチＳＷｂ１は、検査電圧出力線Ｌｘと第１出力端子Ｔａ１との間に設けられる。スイッチＳＷｃ１は、検査電圧出力線Ｌｘと第１モニター端子Ｔｂ１との間に設けられる。スイッチＳＷｄ１は、出力端子Ｔｚ１と第１モニター端子Ｔｂ１との間に設けられる。スイッチＳＷｅ１は、検査電圧出力線Ｌｘと第１モニター端子Ｔｂ１との間に設けられる。

第２電圧出力回路１６_２は、スイッチＳＷａ２、スイッチＳＷｂ２、スイッチＳＷｃ２、スイッチＳＷｄ２、及びスイッチＳＷｅ２を備える。スイッチＳＷｂ２は第２検査スイッチの一例である。スイッチＳＷｅ２は第２モニタースイッチの一例である。

同様に、第ｊ電圧出力回路１６_ｊは、スイッチＳＷａｊ、スイッチＳＷｂｊ、スイッチＳＷｃｊ、スイッチＳＷｄｊ、及びスイッチＳＷｅｊを備える。スイッチＳＷａｊは、出力端子Ｔｙｊと第ｊ出力端子Ｔａｊとの間に設けられる。スイッチＳＷｂｊは、検査電圧出力線Ｌｘと第ｊ出力端子Ｔａｊとの間に設けられる。スイッチＳＷｃｊは、検査電圧出力線Ｌｘと第ｊモニター端子Ｔｂｊとの間に設けられる。スイッチＳＷｄｊは、出力端子Ｔｚｊと第ｊモニター端子Ｔｂｊとの間に設けられる。スイッチＳＷｅｊは、検査電圧出力線Ｌｘと第ｊモニター端子Ｔｂｊとの間に設けられる。

選択信号ＳＥＬa１〜ＳＥＬa７は、スイッチＳＷa１〜ＳＷa７に１対１に供給される。即ち、選択信号ＳＥＬaｊはスイッチＳＷaｊに供給される。スイッチＳＷaｊは、選択信号ＳＥＬaｊが第１論理レベルの場合にオン状態となり、選択信号ＳＥＬaｊが第２論理レベルの場合にオフ状態となる。
選択信号ＳＥＬｂ１〜ＳＥＬｂ７は、スイッチＳＷｂ１〜ＳＷｂ７に１対１に供給される。即ち、選択信号ＳＥＬｂｊはスイッチＳＷｂｊに供給される。スイッチＳＷｂｊは、選択信号ＳＥＬｂｊが第１論理レベルの場合にオン状態となり、選択信号ＳＥＬｂｊが第２論理レベルの場合にオフ状態となる。

選択信号ＳＥＬｅ１〜ＳＥＬｅ７は、スイッチＳＷｅ１〜ＳＷｅ７に１対１に供給される。即ち、選択信号ＳＥＬｅｊはスイッチＳＷｅｊに供給される。スイッチＳＷｅｊは、選択信号ＳＥＬｅｊが第１論理レベルの場合にオン状態となり、選択信号ＳＥＬｅｊが第２論理レベルの場合にオフ状態となる。

１−３．第１検査モードの動作
本発明の検査には幾つかのモードがある。まず第１検査モードの動作を説明する。検査回路１７０は、第１検査モードにおいて、所定の経路に短絡があるかを検査する。また、検査回路１７０は、検査電圧Ｖｄが中間電位であるか検査する。図１０は第１検査モードにおけるセグメントドライバー１００の動作を示すタイミングチャートである。

セグメントドライバー１００は、第１期間ｔ１、第２期間ｔ２、…第７期間ｔ７の各々において、検査を実行する。具体的には、セグメントドライバー１００は、液晶パネル１０に画像を表示しつつ、第ｊ期間ｔｊにおいて、第ｊ電圧生成回路１５_ｊの入力端子ＴＸｊから第ｊセグメント電極ＳＥｊまでの経路において短絡があるか、及び検査電圧Ｖｄが中間電位であるかを検査する。

第１検査モードにおいて、選択信号ＳＥＬａ１〜ＳＥＬａ７は全てハイレベルとなる。従って、スイッチＳＷａ１〜ＳＷａ７は、全てオン状態となる。一方、第１検査モードにおいて、選択信号ＳＥＬｃ１〜ＳＥＬｃ７、選択信号ＳＥＬｄ１〜ＳＥＬｄ７、及び選択信号ＳＥＬｅ１〜ＳＥＬｅ７は、全てローレベルとなる。従って、スイッチＳＷｃ１〜ＳＷｃ７、スイッチＳＷｄ１〜ＳＷｄ７、及びスイッチＳＷｅ１〜ＳＷｅ７は、全てオフ状態となる。

さらに、第ｊ期間において、選択信号ＳＥＬｆｊ及び選択信号ＳＥＬｂｊはハイレベルとなる。また、第ｊ期間以外の期間において、選択信号ＳＥＬｆｊ及び選択信号ＳＥＬｂｊはローレベルとなる。この結果、スイッチＳＷｆｊ及びスイッチＳＷｂｊは、第ｊ期間においてオン状態となり、第ｊ期間以外の期間においてオフ状態となる。

図１０に示されるように、第ｊ期間ｔｊの開始において、ラッチパルスＬＰはローレベルからハイレベルに立ち上がる。ラッチ回路１２０は、ラッチパルスＬＰの立ち上がりエッジに同期して、記憶回路１１０から出力されるワードデータｄ１〜ｄ７をラッチすることによって、データＤ１〜Ｄ７を出力する。このラッチ動作によって、第１乃至第７期間ｔ１〜ｔ７のいずれかの期間中に、入力データＤｉｎが変更されたとしても、各期間においてデータＤ１〜Ｄ７の値は変更されない。

信号選択回路１３０は、データＤｊに基づいて、ＰＷＭ信号Ｐ１〜Ｐ８のうち一つのＰＷＭ信号を選択し、選択されたＰＷＭ信号を第ｊ表示信号Ｓｊとして出力する。

第１期間ｔ１において信号出力回路１４０は、以下のように動作する。第１期間ｔ１において、選択信号ＳＥＬｆ１はハイレベルとなるため、スイッチＳＷｆ１はオン状態となり、且つ、選択信号ＳＥＬｆ２はローレベルとなるため、スイッチＳＷｆ２はオフ状態となる。この結果、信号出力回路１４０は、第１期間ｔ１において、信号電圧出力線Ｌｙに第１表示信号Ｓ１の電圧を出力し、且つ信号電圧出力線Ｌｙに第２表示信号Ｓ２の電圧を出力しない。また、信号出力回路１４０は、第１期間ｔ１において、選択信号ＳＥＬｆ３〜ＳＥＬｆ７はローレベルとなるため、信号電圧出力線Ｌｙに第３乃至第７表示信号Ｓ３〜Ｓ７の電圧を出力しない。従って、第１期間ｔ１では、第１表示信号Ｓ１の電圧が信号電圧Ｖｓとして信号電圧出力線Ｌｙから検査回路１７０に出力される。

第２期間ｔ２において信号出力回路１４０は、以下のように動作する。第２期間ｔ２において、選択信号ＳＥＬｆ２はハイレベルとなるため、スイッチＳＷｆ２はオン状態となり、且つ、選択信号ＳＥＬｆ１はローレベルとなるため、スイッチＳＷｆ１はオフ状態となる。この結果、信号出力回路１４０は、第２期間ｔ２において、信号電圧出力線Ｌｙに第２表示信号Ｓ２の電圧を出力し、且つ信号電圧出力線Ｌｙに第１表示信号Ｓ１の電圧を出力しない。また、信号出力回路１４０は、第２期間ｔ２において、選択信号ＳＥＬｆ３〜ＳＥＬｆ７はローレベルとなるため、信号電圧出力線Ｌｙに第３乃至第７表示信号Ｓ３〜Ｓ７の電圧を出力しない。従って、第２期間ｔ２では、第２表示信号Ｓ２の電圧が信号電圧Ｖｓとして信号電圧出力線Ｌｙから検査回路１７０に出力される。
同様にして、第７期間ｔ７において、信号出力回路１４０は、信号電圧出力線Ｌｙを介して第７表示信号Ｓ７の電圧を信号電圧Ｖｓとして検査回路１７０に出力する。

第１期間ｔ１において電圧出力回路１６０は、以下のように動作する。第１期間ｔ１において、選択信号ＳＥＬｂ１はハイレベルとなるため、スイッチＳＷｂ１はオン状態となり、且つ、選択信号ＳＥＬｂ２はローレベルとなるため、スイッチＳＷｂ２はオフ状態となる。この結果、電圧出力回路１６０は、第１期間ｔ１において、検査電圧出力線Ｌｘに第１出力端子Ｔａ１の電圧を出力し、且つ検査電圧出力線Ｌｘに第２出力端子Ｔａ２の電圧を出力しない。また、電圧出力回路１６０は、第１期間ｔ１において、選択信号ＳＥＬｂ３〜ＳＥＬｂ７はローレベルとなるため、検査電圧出力線Ｌｘに第３乃至第７出力端子Ｔａ３〜Ｔａ７の電圧を出力しない。従って、第１期間ｔ１では、第１出力端子Ｔａ１の電圧が検査電圧Ｖｄとして検査電圧出力線Ｌｘから検査回路１７０に出力される、第１期間ｔ１においては、検査回路１７０は第１出力端子Ｔａ１の電圧が中間電位であるかを検査し、第１出力端子Ｔａ１の電圧が中間電位である場合には検査電圧エラーを示す検査信号ＤＥＴを制御回路３００に出力する。第１期間ｔ１において第１出力端子Ｔａ１に出力されるべき電圧は本開示における第３電圧の一例であり、第１出力線Ｌａ１を介して第１出力端子Ｔａ１に接続される第１セグメント電極ＳＥ１は本開示における第１電極の一例である。また、第１期間ｔ１において検査電圧出力線Ｌｘに出力される検査電圧Ｖｄは本開示における第１検査電圧の一例であり、信号電圧出力線Ｌｙに出力される第１表示信号Ｓ１の信号電圧Ｖｓは本開示における第１表示信号の電圧の一例である。

第２期間ｔ２において電圧出力回路１６０は、以下のように動作する。第２期間ｔ２において、選択信号ＳＥＬｂ２はハイレベルとなるため、スイッチＳＷｂ２はオン状態となり、且つ、選択信号ＳＥＬｂ１はローレベルとなるため、スイッチＳＷｂ１はオフ状態となる。この結果、電圧出力回路１６０は、第２期間ｔ２において、検査電圧出力線Ｌｘに第２出力端子Ｔａ２の電圧を出力し、且つ検査電圧出力線Ｌｘに第１出力端子Ｔａ１の電圧を出力しない。また、電圧出力回路１６０は、第２期間ｔ２において、選択信号ＳＥＬｂ３〜ＳＥＬｂ７はローレベルとなるため、検査電圧出力線Ｌｘに第３乃至第７出力端子Ｔａ１の電圧を出力しない。従って、第２期間ｔ２では、第２出力端子Ｔａ２の電圧が検査電圧Ｖｄとして検査電圧出力線Ｌｘから検査回路１７０へ出力される。第２期間ｔ２においては、検査回路１７０は第２出力端子Ｔａ２の電圧が中間電位であるかを検査し、第２出力端子Ｔａ２の電圧が中間電位である場合には検査電圧エラーを示す検査信号ＤＥＴを制御回路３００に出力する。第２期間ｔ２において第２出力端子Ｔａ２に出力されるべき電圧は本開示における第４電圧の一例であり、第２出力線Ｌａ２を介して第２出力端子Ｔａ２に接続される第２セグメント電極ＳＥ２は本開示における第２電極の一例である。また、第２期間ｔ２において検査電圧出力線Ｌｘに出力される検査電圧Ｖｄは本開示における第１検査電圧の一例であり、信号電圧出力線Ｌｙに出力される第２表示信号Ｓ２の信号電圧Ｖｓは本開示における第２表示信号の電圧の一例である。
同様にして、第７期間ｔ７において、電圧出力回路１６０は、検査電圧出力線Ｌｘを介して第７出力端子Ｔａ７の電圧を検査電圧Ｖｄとして検査回路１７０に出力する。第ｊ期間ｔｊにおいては、検査回路１７０は第ｊ出力端子Ｔａｊの電圧が中間電位であるかを検査し、第ｊ出力端子Ｔａｊの電圧が中間電位である場合には検査電圧エラーを示す検査信号ＤＥＴを制御回路３００に出力する。

また、検査回路１７０は、検査電圧Ｖｄが中間電位であるか否かを問わずに、信号電圧Ｖｓと検査電圧Ｖｄとに基づいて、第１乃至第７電圧生成回路１５_１〜１５_７の入力から第１乃至第７セグメント電極ＳＥ１〜ＳＥ７までの経路に異常があるか否かを検査する。正常である場合の信号電圧Ｖｓと検査電圧Ｖｄとの関係は予め定められている。検査回路１７０は、信号電圧Ｖｓと検査電圧Ｖｄとが予め定められた関係にあるか否かを判定することによって、上述の経路に異常であるか否かを検査する。

より具体的には、第１期間ｔ１において、検査回路１７０は、第１表示信号Ｓ１の電圧と電圧Ｖａ１とに基づいて、第１経路に異常があるかを検査する。第１経路は、第１電圧生成回路１５_１の入力端子Ｔｘ１→第１電圧生成回路１５_１の第１回路Ｘ１→スイッチＳＷａ１→第１出力端子Ｔａ１→第１出力線Ｌａ１→第１セグメント電極ＳＥ１の経路である。第２期間ｔ２において、検査回路１７０は、第２表示信号Ｓ２の電圧と電圧Ｖａ２とに基づいて、第２経路に異常があるかを検査する。第２経路は、第２電圧生成回路１５_２の入力端子Ｔｘ２→第２電圧生成回路１５_２の第２回路Ｘ２→スイッチＳＷａ２→第２出力端子Ｔａ２→第２出力線Ｌａ２→第２セグメント電極ＳＥ２の経路である。同様にして、第７期間ｔ７において、検査回路１７０は、第７表示信号Ｓ７の電圧と第７出力端子Ｔａ７の電圧とに基づいて、第７経路に異常があるかを検査する。第７経路は、第７電圧生成回路１５_７の入力端子Ｔｘ７→第７電圧生成回路１５_７の第１回路Ｘ１→スイッチＳＷａ７→第７出力端子Ｔａ７→第７出力線Ｌａ７→第７セグメント電極ＳＥ７の経路である。

図１０に示される例では、第１期間ｔ１及び第２期間ｔ２において、信号電圧Ｖｓの論理レベルと検査電圧Ｖｄの論理レベルとが一致している。このため、検査回路１７０は、第１期間ｔ１及び第２期間ｔ２において、ローレベルの検査信号ＤＥＴを出力する。即ち、検査回路１７０は、第１経路及び第２経路を正常と判定する。

この例では、第７期間ｔ７の時刻ｔｘにおいて、電圧Ｖａ７がハイレベルからローレベルに遷移する。一方、第７期間ｔ７において第７表示信号Ｓ７はハイレベルを維持する。例えば、時刻ｔｘにおいて第７出力線Ｌａ７がグランドに短絡した場合、あるいは、第７電圧生成回路１５_７の第１回路Ｘ１が故障した場合に、第７出力端子Ｔａ７の電圧がハイレベルからローレベルに遷移する。

第７期間ｔ７の時刻ｔｘ以降、信号電圧Ｖｓの論理レベルと検査電圧Ｖｄの論理レベルとが不一致となる。このため、検査回路１７０は、第７期間ｔ７の時刻ｔｘにおいて、検査信号ＤＥＴの論理レベルをローレベルからハイレベルに遷移させる。即ち、検査回路１７０は、第７経路を異常と判定する。

以上、説明しように第１検査モードにおいて、セグメントドライバー１００は、液晶パネル１０に画像を表示しつつ、検査電圧Ｖｄが中間電位であるか及び第１乃至第７経路に異常があるかを検査できる。従って、表示モジュール１の信頼性が向上する。また、セグメントドライバー１００は、第１乃至第７経路の短絡異常を時分割で検査するので、第１乃至第７経路に１対１に対応する７個の検査回路を設ける場合と比較して、構成が簡素化される。また、従来の液晶パネルでは、検査電圧ＶｄをＡＤコンバーター及びレベルシフターで、表信信号の信号電圧Ｖｓと比較できる電圧値に変換し、変換済の電圧値を論理回路で信号電圧Ｖｓと比較しており、比較の精度が低かった。このため、従来の液晶パネルでは、本来エラーとすべき検査電圧Ｖｄを正常と判定していた可能性があった。これに対して、本実施形態の検査回路１７０では、ＡＤコンバーターに代えて出力がデジタル値の第１比較器１７１０及び第２比較器１７２０を用いることにより、中間電位を高い精度で判別でき、検査の精度が向上する。

１−４．第２検査モードの動作
次に、第２検査モードの動作を説明する。上述した第１検査モードでは、第１乃至第７経路に短絡があるかが検査される。しかし、第１乃至第７出力線Ｌａ１〜Ｌａ７のいずれかに断線があることは検査できない。仮に、断線があったとしても、信号電圧Ｖｓ及び検査電圧Ｖｄに影響しないからである。第２検査モードでは、検査電圧Ｖｄが中間電位あるかの検査、及び第１乃至第７出力線Ｌａ１〜Ｌａ７のいずれかに断線があることか検査が行われる。図１１は第２検査モードにおけるセグメントドライバー１００の動作を示すタイミングチャートである。検査電圧Ｖｄが中間電位あるかの検査については第１検査モードと同一であるため詳細な説明を省略する。

セグメントドライバー１００は、第１期間ｔ１、第２期間ｔ２、…第７期間ｔ７の各々において、断線の検査を実行する。具体的には、セグメントドライバー１００は、液晶パネル１０に画像を表示しつつ、第ｊ期間ｔｊにおいて、第ｊ出力線Ｌａｊに断線があるかを検査する。

第２検査モードにおいて、選択信号ＳＥＬａ１〜ＳＥＬａ７は全てハイレベルとなる。従って、スイッチＳＷａ１〜ＳＷａ７は、全てオン状態となる。一方、第２検査モードにおいて、選択信号ＳＥＬｂ１〜ＳＥＬｂ７、選択信号ＳＥＬｃ１〜ＳＥＬｃ７、及び選択信号ＳＥＬｄ１〜ＳＥＬｄ７は、全てローレベルとなる。従って、スイッチＳＷｂ１〜ＳＷｂ７、スイッチＳＷｃ１〜ＳＷｃ７、及びスイッチＳＷｄ１〜ＳＷｄ７は、全てオフ状態となる。

さらに、第ｊ期間において、選択信号ＳＥＬｆｊ及び選択信号ＳＥＬｅｊはハイレベルとなる。また、第ｊ期間以外の期間において、選択信号ＳＥＬｆｊ及び選択信号ＳＥＬｅｊはローレベルとなる。この結果、スイッチＳＷｆｊ及びスイッチＳＷｅｊは、第ｊ期間においてオン状態となり、第ｊ期間以外の期間においてオフ状態となる。
記憶回路１１０、ラッチ回路１２０、及び信号出力回路１４０は、第２検査モードにおいて、第１検査モードと同様に動作する。一方、電圧出力回路１６０は、第２検査モードにおいて、第１検査モードと動作が異なる。

第１期間ｔ１において電圧出力回路１６０は、以下のように動作する。第１期間ｔ１において、選択信号ＳＥＬｅ１はハイレベルとなるため、スイッチＳＷｅ１はオン状態となり、且つ、選択信号ＳＥＬｅ２はローレベルとなるため、スイッチＳＷｅ２はオフ状態となる。この結果、電圧出力回路１６０は、第１期間ｔ１において、検査電圧出力線Ｌｘに第１モニター端子Ｔｂ１の電圧を出力し、且つ検査電圧出力線Ｌｘに第２モニター端子Ｔｂ２の電圧を出力しない。また、電圧出力回路１６０は、第１期間ｔ１において、選択信号ＳＥＬｅ３〜ＳＥＬｅ７はローレベルとなるため、検査電圧出力線Ｌｘに第３モニター端子Ｔｂ３〜Ｔｂ７の電圧を出力しない。従って、第１期間ｔ１では、検査電圧出力線Ｌｘから検査回路１７０に第１モニター端子Ｔｂ１の電圧が検査電圧Ｖｄとして出力される。スイッチＳＷｅ１は第１モニタースイッチの一例であり、スイッチＳＷｅ２は第２モニタースイッチの一例である。第２検査モードの第１期間ｔ１は、第１検査モードの第１期間ｔ１及び第２期間ｔ２と異なる第３期間の一例である。

第２期間ｔ２において電圧出力回路１６０は、以下のように動作する。第２期間ｔ２において、選択信号ＳＥＬｅ２はハイレベルとなるため、スイッチＳＷｅ２はオン状態となり、且つ、選択信号ＳＥＬｅ１はローレベルとなるため、スイッチＳＷｅ１はオフ状態となる。この結果、電圧出力回路１６０は、第２期間ｔ２において、検査電圧出力線Ｌｘに第２モニター端子Ｔｂ２の電圧を出力し、且つ検査電圧出力線Ｌｘに第１モニター端子Ｔｂ１の電圧を出力しない。また、電圧出力回路１６０は、第２期間ｔ２において、選択信号ＳＥＬｅ３〜ＳＥＬｅ７はローレベルとなるため、検査電圧出力線Ｌｘに第３乃至第７モニター端子Ｔｂ３〜Ｔｂ７の電圧を出力しない。従って、第２期間ｔ２では、検査電圧出力線Ｌｘから検査回路１７０に第２モニター端子Ｔｂ２の電圧が検査電圧Ｖｄとして出力される。第２検査モードの第２期間ｔ２は、第１検査モードの第１期間ｔ１及び第２期間ｔ２、並びに第２検査モードの第１期間ｔ１と異なる第４期間の一例である。

検査回路１７０は、信号電圧Ｖｓと検査電圧Ｖｄとに基づいて、第１乃至第７経路に異常があるか否かを検査し、検査結果を示す検査信号ＤＥＴを出力する。

以上、説明したように第２検査モードにおいて、セグメントドライバー１００は、液晶パネル１０に画像を表示しつつ、第１乃至第７経路に断線異常があるか検査できる。また、第２検査モードにおいても、検査電圧Ｖｄが中間電位であるかを高い精度で検査できる。従って、表示モジュール１の信頼性が向上する。しかも、セグメントドライバー１００は、第１乃至第７経路の断線異常を時分割で検査するので、各経路の検査回路を共通化できる。従って、第１乃至第７経路に１対１に対応する７個の検査回路を設ける場合と比較して、構成が簡素化される。

１−５．第３検査モード
第３検査モードでは、第１検査モードで検出できない異常を検出する。

第３検査モードでは、制御回路３００は、選択信号ＳＥＬａｊ、ＳＥＬｃｊ、及びＳＥＬｅｊの論理レベルをローレベルにし、選択信号ＳＥＬｂｊ及びＳＥＬｄｊの論理レベルをハイレベルにする。図１２は第３検査モードにおける各スイッチの状態を示す説明図である。図１２に示されるように、スイッチＳＷｂ１及びＳＷｄｊはオン状態となり、スイッチＳＷａｊ、ＳＷｃｊ、及びＳＷｅｊはオフ状態となる。この結果、第ｊ出力端子Ｔａｊの電圧が検査電圧Ｖｄとして、検査電圧出力線Ｌｘから検査回路１７０に出力される。また、第ｊ表示信号Ｓｊの電圧が信号電圧Ｖｓとして、信号電圧出力線Ｌｙから検査回路１７０に出力される。このように、第３検査モードにおいても、信号電圧Ｖｓと検査電圧Ｖｄとが検査回路１７０に与えられるので、検査回路１７０は、第３検査モードにおいても、第１検査モードと同様に検査電圧Ｖｄが中間電位であるかを精度良く検査できる。
検査回路１７０の検査結果が正常を示す場合、第１検査モードにおいて第ｊ経路に異常が発見された原因は、第ｊ電圧生成回路１５_ｊの第１回路Ｘ１が故障であると特定される。この場合、第２回路Ｘ２を用いて電圧Ｖｂｊを生成すれば、表示不良が解消される。そこで、制御回路３００は、選択信号ＳＥＬａｊの論理レベルをローレベルに設定し、且つ選択信号ＳＥＬｄｊの論理レベルをハイレベルに設定する。この制御によって、電圧Ｖｂｊが第ｊモニター線Ｌｂｊを介して第ｊセグメント電極に印加される。
第３検査モードの検査結果が異常を示す場合、第ｊ出力線Ｌａｊが短絡又は断線している可能性がある。そこで、この場合には、第４検査モードにて第ｊ出力線Ｌａｊが短絡又は断線しているかを判定する。

１−６．第４検査モード
第４検査モードでは、第３検査モードで検出できない異常を検出する。制御回路３００は、選択信号ＳＥＬａｊ、ＳＥＬｂｊ、及びＳＥＬｅｊの論理レベルをローレベルにし、選択信号ＳＥＬｃｊ及びＳＥＬｄｊの論理レベルをハイレベルにする。図１３は第４検査モードにおける各スイッチの状態を示す説明図である。図１３に示されるように、スイッチＳＷｃ１及びＳＷｄｊはオン状態となり、スイッチＳＷａｊ、ＳＷｂｊ、及びＳＷｅｊはオフ状態となる。この結果、第ｊモニター端子Ｔｂｊの電圧が検査電圧Ｖｄとして、検査電圧出力線Ｌｘから検査回路１７０に出力される。また、第ｊ表示信号Ｓｊの電圧が信号電圧Ｖｓとして、信号電圧出力線Ｌｙから検査回路１７０に出力される。このように、第４検査モードにおいても、信号電圧Ｖｓと検査電圧Ｖｄとが検査回路１７０に与えられるので、検査回路１７０は、第４検査モードにおいても、第１検査モードと同様に検査電圧Ｖｄが中間電位であるかを精度良く検査できる。

検査回路１７０の検査結果が正常を示す場合、第１検査モード及び第３検査モードにおいて第ｊ経路に異常が発見された原因は、第ｊ出力線Ｌａｊの短絡又は断線であることが特定される。この場合、制御回路３００は、選択信号ＳＥＬａｊの論理レベルをローレベルに設定し、且つ選択信号ＳＥＬｄｊの論理レベルをハイレベルに設定する。この制御によって、電圧Ｖｂｊが第ｊモニター線Ｌｂｊを介して第ｊセグメント電極に印加される。

一方、検査回路１７０の検査結果が異常を示す場合、その原因は第２回路Ｘ２の故障、又は第ｊモニター線Ｌｂｊの短絡である。この場合、制御回路３００は、例えば、インターフェイス４００を介してホストプロセッサー２に表示モジュール１が故障していることを通知する。

以上説明したように、電圧出力回路１６０は、第１電圧生成回路１５_１と第１出力端子Ｔａ１との間、及び第２電圧生成回路１５_２と第２出力端子Ｔａ２との間に配置される。電圧出力回路１６０は、第１検査電圧と第２検査電圧とを出力する検査電圧出力線Ｌｘを備える。第１検査電圧は、電圧Ｖａ１の第１セグメント電極ＳＥ１への印加状態を検査するための検査電圧Ｖｄである。第２検査電圧は、電圧Ｖａ２の第２セグメント電極ＳＥ２への印加状態を検査するための検査電圧Ｖｄである。電圧出力回路１６０は、第１期間ｔ１において、検査電圧出力線Ｌｘに第１検査電圧を出力し且つ検査電圧出力線に第２検査電圧を出力しない。電圧出力回路１６０は、第１期間ｔ１と異なる第２期間ｔ２において、検査電圧出力線Ｌｘに第２検査電圧を出力し、且つ検査電圧出力線Ｌｘに第１検査電圧を出力しない。また、信号出力回路１４０は、第１表示信号Ｓ１の電圧又は第２表示信号Ｓ２の電圧を出力する信号電圧出力線Ｌｙを備える。信号出力回路１４０は、第１期間ｔ１において信号電圧出力線Ｌｙに第１表示信号Ｓ１の電圧を出力し且つ信号電圧出力線Ｌｙに第２表示信号Ｓ２の電圧を出力しない。信号出力回路１４０は、第２期間ｔ２において信号電圧出力線Ｌｙに第２表示信号Ｓ２の電圧を出力し且つ信号電圧出力線Ｌｙに第１表示信号Ｓ１の電圧を出力しない。検査回路１７０は、検査電圧出力線Ｌｘから出力される第１検査電圧又は第２検査電圧と、信号電圧出力線Ｌｙから出力される第１表示信号Ｓ１の電圧又は第２表示信号Ｓ２の電圧とに基づいて、第１期間ｔ１において、第１検査電圧が中間電位であるか、及び第１電圧生成回路１５_１の入力から第１セグメント電極ＳＥ１までの経路に異常があるか否かを検査する。また、検査回路１７０は、第２期間ｔ２において、第２検査電圧が中間電位であるか、及び第２電圧生成回路１５_２の入力から第２セグメント電極ＳＥ２までの経路に異常があるか否かを検査する。

従って、セグメントドライバー１００を備える駆動回路２０は、第１期間ｔ１において第１検査電圧が中間電位であるか、及び第１セグメント電極ＳＥ１に至る経路の検査を実行し、且つ、第２期間ｔ２において第２検査電圧が中間電位であるか、及び第２セグメント電極ＳＥ２に至る経路の検査を実行できる。このように駆動回路２０は、時分割で検査できるので、各経路の検査回路を共通化できる。従って、第１セグメント電極ＳＥ１に対応する検査回路及び第２セグメント電極ＳＥ２に対応する検査回路を設ける場合と比較して、構成が簡素化される。また、駆動回路２０は、第１セグメント電極ＳＥ１に電圧Ｖａ１を印加し、且つ、第２セグメント電極ＳＥ２に電圧Ｖａ２を印加する状態において、検査を実行できる。即ち、駆動回路２０は、表示パネルの一例である液晶パネル１０に画像を表示中に、検査を実行できる。よって、表示モジュール１の動作中に異常を検知できるので、表示モジュール１の信頼性が向上する。

電圧出力回路１６０は、第１検査スイッチの一例であるスイッチＳＷｂ１と第２検査スイッチの一例であるスイッチＳＷｂ２とを備える。スイッチＳＷｂ１は、検査電圧出力線Ｌｘと第１出力端子Ｔａ１との間に設けられる。スイッチＳＷｂ２は、検査電圧出力線Ｌｘと第２出力端子Ｔａ２との間に設けられる。第１期間ｔ１において、スイッチＳＷｂ１はオン状態、且つスイッチＳＷｂ２はオフ状態となる。第２期間ｔ２において、スイッチＳＷｂ２はオン状態、且つスイッチＳＷｂ１はオフ状態となる。
従って、スイッチＳＷｂ１とスイッチＳＷｂ２とは、異なる期間にオン状態となるので、駆動回路２０は、第１出力端子Ｔａ１の電圧と第２出力端子Ｔａ２の電圧とを時分割で検査電圧出力線ＬＸに出力できる。この結果、検査回路に検査電圧Ｖｄを出力する配線を、スイッチＳＷｂ１とスイッチＳＷｂ２と個別に設ける場合と比較して、構成が簡素化される。

信号出力回路１４０は、第１信号スイッチの一例であるスイッチＳＷｆ１と、第２信号スイッチの一例であるスイッチＳＷｆ２とを備える。スイッチＳＷｆ１は、信号電圧出力線Ｌｙと第１電圧生成回路１５_１の入力端子Ｔｘ１との間に設けられる。スイッチＳＷｆ２は信号電圧出力線Ｌｙと第２電圧生成回路１５_２の入力端子Ｔｘ２との間に設けられる。第１期間ｔ１において、スイッチＳＷｆ１はオン状態、且つスイッチＳＷｆ２はオフ状態となる。第２期間ｔ２において、スイッチＳＷｆ２はオン状態、且つスイッチＳＷｆ１はオフ状態となる。
従って、スイッチＳＷｆ１とスイッチＳＷｆ２とは、異なる期間にオン状態となるので、駆動回路２０は第１表示信号Ｓ１の電圧と第２表示信号Ｓ２の電圧とを時分割で信号電圧出力線Ｌｙに出力できる。信号電圧出力線Ｌｙは第１表示信号Ｓ１と第２表示信号Ｓ２との共通の信号出力線である。この結果、検査回路１７０に信号電圧Ｖｓを出力するは配線を、スイッチＳＷｆ１とスイッチＳＷｆ２と個別に設ける場合と比較して、構成が簡素化される。

駆動回路２０は、第１電圧をモニターする第１モニター線Ｌｂ１を介して第１セグメント電極ＳＥ１と接続される第１モニター端子Ｔｂ１と、第２電圧をモニターする第２モニター線Ｌｂ２を介して第２セグメント電極ＳＥ２と接続される第２モニター端子Ｔｂ２とを備える。第１出力端子Ｔａ１と第１セグメント電極ＳＥ１とは、第１出力線Ｌａ１を介して接続される。第２出力端子Ｔａ２と第２セグメント電極ＳＥ２とは、第２出力線Ｌａ２を介して接続される。電圧出力回路１６０は、第１モニタースイッチの一例であるスイッチＳＷｅ１と、第２モニタースイッチの一例であるスイッチＳＷｅ２とを備える。スイッチＳＷｅ１は、検査電圧出力線Ｌｘと第１モニター端子Ｔｂ１との間に設けられる。スイッチＳＷｅ２は、検査電圧出力線Ｌｘと第２モニター端子Ｔｂ２との間に設けられる。第１検査モードの第１期間ｔ１において、スイッチＳＷｅ１及びスイッチＳＷｅ２はオフ状態となる。第１検査モードの第２期間ｔ２において、スイッチＳＷｅ１及びスイッチＳＷｅ２はオフ状態となる。第２検査モードの第１期間ｔ１は、第１検査モードの第１期間ｔ１及び第１検査モードの第２期間ｔ２と異なる第３期間の一例である。第２検査モードの第１期間ｔ１において、スイッチＳＷｅ１はオン状態となり、且つスイッチＳＷｂ１、スイッチＳＷｂ２及びスイッチＳＷｅ２はオフ状態となる。第２検査モードの第２期間ｔ２は、第１検査モードの第１期間ｔ１、第１検査モードの第２期間ｔ２、及び第２検査モードの第１期間ｔ１と異なる第４期間の一例である。第２検査モードの第２期間ｔ２において、スイッチＳＷｅ２はオン状態となり、且つスイッチＳＷｂ１、スイッチＳＷｂ２及びスイッチＳＷｅ１はオフ状態となる。

以上の構成によれば、検査回路１７０は、第２検査モードの第１期間ｔ１において、第１モニター端子Ｔｂ１→第１モニター線Ｌｂ１→第１セグメント電極ＳＥ１→第１出力端子Ｔａ１の経路の異常を検査できる。また、検査回路１７０は、第２検査モードの第２期間ｔ２において、第２モニター端子Ｔｂ２→第２モニター線Ｌｂ２→第２セグメント電極ＳＥ２→第２出力端子Ｔａ２の経路の異常を検査できる。従って、駆動回路２０は、第２検査モードにおいて、時分割で異なる経路の検査を実行できるので、各経路の検査回路を共通化できる。この為、第１セグメント電極ＳＥ１に対応する検査回路及び第２セグメント電極ＳＥ２に対応する検査回路を設ける場合と比較して、構成が簡素化される。また、駆動回路２０は、第１セグメント電極ＳＥ１に電圧Ｖａ１を印加し、且つ、第２セグメント電極ＳＥ２に電圧Ｖａ２を印加する状態において、第１出力線Ｌａ１及び第２出力線Ｌａ２の断線を検査できる。即ち、検査回路１７０は、液晶パネル１０に画像を表示中に、断線の検査を実行できる。よって、表示モジュール１の動作中に異常を検知できるので、表示モジュール１の信頼性が向上する。

第２検査モードの第１期間ｔ１において、スイッチＳＷｆ１はオン状態、且つスイッチＳＷｆ２はオフ状態となる。第２検査モードの第２期間ｔ２において、スイッチＳＷｆ２はオン状態、且つスイッチＳＷｆ１はオフ状態となる。
従って、スイッチＳＷｆ１とスイッチＳＷｆ２とは、異なる期間にオン状態となるので、駆動回路２０は第１表示信号Ｓ１の電圧と第２表示信号Ｓ２の電圧とを時分割で信号電圧出力線Ｌｙに出力できる。この結果、検査回路１７０に信号電圧Ｖｓを出力する配線を、スイッチＳＷｆ１とスイッチＳＷｆ２と個別に設ける場合と比較して、構成が簡素化される。

駆動回路２０は信号選択回路１３０を有し、信号選択回路１３０は、第１選択回路１３_１と第２選択回路１３_２とを備える。第１選択回路１３_１は、第１セグメント電極ＳＥ１に対応する領域において表示すべき階調を示すデータＤ１に基づいて、複数のＰＷＭ信号Ｐ１〜Ｐ８の中から一のＰＷＭ信号を選択し、選択される一のＰＷＭ信号を第１表示信号Ｓ１として出力する。第２選択回路１３_２は第２セグメント電極ＳＥ２に対応する領域において表示すべき階調を示すデータＤ２に基づいて、複数のＰＷＭ信号Ｐ１〜Ｐ８の中から一のＰＷＭ信号を選択し、選択される一のＰＷＭ信号を第２表示信号Ｓ２として出力する。以上の構成によれば、ＰＷＭ信号を用いて、各セグメントに表示すべき階調を制御できる。

表示モジュール１は、駆動回路２０と表示パネルの一例である液晶パネル１０を備える。駆動回路２０は、画像を表示中に中間電位及び短絡等の異常を検出できるので、表示モジュール１の信頼性を向上できる。

２．他の実施形態
本開示は、上述した実施形態に限定されない。本開示は、以下に述べる変形を適宜組み合わせてもよい。

（１）実施形態では、第１検査電圧及び第２検査電圧の各々が中間電位であるかを検査したが、第１検査電圧のみ検査する構成でもよい。本開示の駆動回路は、電極を有する表示パネルを駆動する駆動回路であって、以下の電圧生成回路と、前記電極と接続される出力端子と、電圧出力回路と、信号出力回路と、検査回路と有していればよい。電圧生成回路は、第１電圧又は前記第１電圧よりも高い第２電圧を示す表示信号に基づいて前記電極に印加すべき第３電圧を生成する。電圧出力回路は、前記電圧生成回路と前記出力端子との間に配置され、前記第３電圧の前記電極への印加状態を検査するための検査電圧を出力する検査電圧出力線を備える。信号出力回路は、前記表示信号の電圧を出力する信号電圧出力線を備える。検査回路は、前記検査電圧と前記表示信号の電圧に基づいて、前記電圧生成回路の入力から前記電極までの経路に異常があるか否かを検査する。検査回路は、前記検査電圧が、前記第１電圧よりも高い第１閾値電圧から前記第２電圧よりも低く前記第１閾値電圧よりも高い第２閾値電圧までの閾値範囲の電圧である場合、前記検査電圧をエラーと判定しエラーを示す検査信号を出力する。

（２）実施形態では、第１閾値電圧ＶＴＬは第２電圧ＶＬＣＤの３０％の電圧であったが、第１閾値電圧ＶＴＬは第２電圧ＶＬＣＤの５％から３０％の電圧範囲内の電圧であればよい、同様に、第２閾値電圧ＶＴＨは第２電圧ＶＬＣＤの７０％から９５％の電圧範囲内の電圧であればよい。また、実施形態では、閾値電圧発生回路１７００としてラダー抵抗回路を用いたが、ツェナーダイオード等を用いた周知の基準電圧発生回路を閾値電圧発生回路１７００として用いてもよい。

（３）実施形態では、第１乃至第７電圧生成回路１５_１〜１５_７の各々は、第１回路Ｘ１と第２回路Ｘ２とを備えたが、第２回路Ｘ２を省略してもよい。図１４は実施形態の変形に係る信号選択回路１３０、信号出力回路１４０、第１乃至第７電圧生成回路１５_１〜１５_７、電圧出力回路１６０、及び検査回路１７０のブロック図である。

（４）実施形態のセグメントドライバー１００は、記憶回路１１０及びラッチ回路１２０を備えたが、セグメントドライバー１００は、これらの構成を備えなくてもよい。また、セグメントドライバー１００は、集積回路によって構成されてもよい。図１５は、実施形態の変形に係るセグメントドライバー１００のＩＣチップＡにおける構成要素のレイアウトを模式的に示す説明図である。図１５に示されるようにＩＣチップＡは、平面視において、矩形状である。ＩＣチップＡにおいて、検査電圧出力線Ｌｘ及び信号電圧出力線Ｌｙは、長辺Ｅ２及び長辺Ｅ４に沿って、配置される。また、検査回路１７０は、検査電圧出力線ＬｘとＩＣチップＡの一方の短辺Ｅ１との間、且つ信号電圧出力線Ｌｙと一方の短辺Ｅ１との間に配置される。さらに、第１乃至第７出力端子Ｔａ１〜Ｔａ７及び第１乃至第７モニター端子Ｔｂ１〜Ｔｂ７が長辺Ｅ４に配置される。

以上の構成によれば、第１乃至第７電圧生成回路１５_１〜１５_７を長辺Ｅ２及び長辺Ｅ４に沿って配列でき、さらに、短辺Ｅ１の近傍に検査回路１７０を配置できるので、レイアウトの効率が向上する。

信号出力回路１４０は、第１乃至第７電圧生成回路１５_１〜１５_７へ第１乃至第７表示信号Ｓ１〜Ｓ７を供給する。このため、信号出力回路１４０は、第１乃至第７電圧生成回路１５_１〜１５_７の入力に位置することが好ましい。一方、電圧出力回路１６０は、電圧Ｖａ１〜Ｖａ７，Ｖｂ１〜Ｖｂ７を第１乃至第７出力端子Ｔａ１〜Ｔａ７，Ｔｂ１〜Ｔｂ７に供給する。このため、電圧出力回路１６０は、第１乃至第７電圧生成回路１５_１〜１５_７の出力に位置することが好ましい。

図１５に示されるレイアウトでは、第１乃至第７電圧生成回路１５_１〜１５_７は、ＩＣチップＡの一方の長辺Ｅ２から他方の長辺Ｅ４へ向かう第１の方向Ｙにおいて、信号出力回路１４０と電圧出力回路１６０との間に配置される。このようにレイアウトすることで、第１の方向Ｙに信号を流すことができる。この結果、ＩＣチップＡにおけるレイアウトの効率が向上する。

（５）実施形態のコモンドライバー２００は、第１出力端子Ｔｃ１と第１モニター端子Ｔｄ１とを備えたが、本開示はこれに限定されない。図１６は、実施形態の変形に係るコモンドライバー２００と複数のコモン電極の接続関係を示す説明図である。図１６に示されるように、コモン配線ＬＣの一方の端部は第１出力線Ｌｃ１を介して第１出力端子Ｔｃ１と接続される。コモン配線ＬＣの他方の端部は第２出力線Ｌｃ２を介して第２出力端子Ｔｃ２と接続される。即ち、この例では、コモン配線ＬＣの両端にコモン電圧が印加される。第１モニター端子Ｔｄ１は、第１モニター線Ｌｄ１を介して第３コモン電極ＣＥ３と接続される。第２モニター端子Ｔｄ２は、第２モニター線Ｌｄ２を介して第２コモン電極ＣＥ２と接続される。

図１７は、実施形態の他の変形に係るコモンドライバー２００と複数のコモン電極の接続関係を示す説明図である。図１７に示されるように、コモン配線ＬＣ１の一方の端部は第１出力線Ｌｃ１を介して第１出力端子Ｔｃ１と接続される。コモン配線ＬＣ２の一方の端部は第２出力線Ｌｃ２を介して第２出力端子Ｔｃ２と接続される。また、第１モニター端子Ｔｄ１は、第１モニター線Ｌｄ１を介して第６コモン電極ＣＥ６と接続される。第２モニター端子Ｔｄ２は、第２モニター線Ｌｄ２を介して第５コモン電極ＣＥ５と接続される。すなわち、第１コモン電極ＣＥ１、第２コモン電極ＣＥ２、第６コモン電極ＣＥ６、及び第７コモン電極ＣＥ７と、第３コモン電極ＣＥ３、第４コモン電極ＣＥ４、及び第５コモン電極ＣＥ５は、別系統で駆動される。このように複数のコモン電極を分割して駆動する場合は、上述した実施形態のセグメントドライバー１００について説明したように、時分割で検査を実行してもよい。

（６）実施形態では、液晶パネル１０と駆動回路２０は分離されていたが、駆動回路２０を構成するセグメントドライバー１００及びコモンドライバー２００など構成要素の一部又は全部を液晶パネル１０に設けてもよい。

（７）上述した実施形態では、表示パネルの一例として液晶パネル１０を例示したが、本開示はこれに限定されるものではない。本開示は、電気泳動素子からなる表示パネル等、液晶パネル以外の電気光学パネルであってもよい。

（８）上述した実施形態では、第１乃至第７出力端子Ｔａ１〜Ｔａ７と１対１に対応する第１乃至第７モニター端子Ｔｂ１〜Ｔｂ７を設けたが、本開示はこれに限定されない。即ち、第１乃至第７モニター端子Ｔｂ１〜Ｔｂ７のうち、一部を設けてもよい。

３.応用例
（１）上述した実施形態及び他の実施形態では、画像を表示する表示モジュール１として説明したが、本開示はこれに限定されない。例えば，表示モジュール１は、光の通過と遮断を制御するための液晶シャッターであってもよい。液晶シャッターを適用できる装置の一例としてヘッドライトがある。図１８は、表示モジュール１を含むヘッドライト１０００ の構成例である。また、図１９は、ヘッドライトに適用される液晶パネル１０の例である。
ヘッドライト１０００は液晶パネル１０と光源３０を含む。光源３０はＬＥＤ（Light Emitting Diode）である。或いは光源３０はハロゲンランプ又はキセノンランプであってもよい。

液晶パネル１０には、複数のセグメントＳＥＧ１ 〜ＳＥＧ９ が設けられる。セグメントＳＥＧ１〜ＳＥＧ９の各々は液晶セルである。セグメントＳＥＧ１ 〜ＳＥＧ９は例えば３ ×３ のマトリックスに配置されるが、これに限定されるものではない。駆動回路２０は、セグメントＳＥＧ１〜ＳＥＧ９の各々をオン又はオフに制御する。ここでは、オンは透過状態を意味し、オフは遮断状態を意味する。光源３０は液晶パネル１０に対して光を出射し、その光は、オンになっている液晶セルを通過してヘッドライト１０００の照明対象に出射される。オフになっている液晶セルは、光源３０からの光を遮断する。即ち、セグメントＳＥＧ１〜ＳＥＧ９の各々がシャッターとして機能する。セグメントＳＥＧ１〜ＳＥＧ９のオンオフ状態によって、ヘッドライト１０００の配光が変化する。例えば駆動回路２０がセグメントＳＥＧ１〜ＳＥＧ３をオフにし、セグメントＳＥＧ４〜ＳＥＧ９をオンにすることで、いわゆるロービームを実現できる。また駆動回路２０がセグメントＳＥＧ１〜ＳＥＧ９をオンにすることで、いわゆるハイビームを実現できる。

なお、液晶シャッターの適用例はヘッドライトに限定されない。例えば、液晶シャッターを含む表示モジュールがアクティブマトリックス型表示装置と組み合わされてもよい。このとき、液晶パネル１０には、アクティブマトリックス型表示装置の画面を覆うようにセグメントが設けられ、そのセグメントが液晶シャッターとして機能する。液晶パネルには、液晶シャッターであるセグメントの他に、種々の表示物に対応したセグメントが設けられてもよい。ユーザーが液晶シャッターを通してアクティブマトリックス型表示装置をみるように、液晶装置とアクティブマトリックス型表示装置とが配置されている。そして、駆動回路２０が液晶シャッターをオンにすることで、アクティブマトリックス型表示装置の表示が液晶シャッターを通してユーザーから見えるようになる。一方、駆動回路２０が液晶シャッターをオフにすることで、アクティブマトリックス型表示装置の表示が液晶シャッターによって遮断され、ユーザーから見えなくなる。

（２）図２０は、表示モジュール１を適用した移動体の構成例を示す。移動体は、例えばエンジンやモーター等の駆動機構、ハンドルや舵等の操舵機構、各種の電子機器を備えて、地上や空や海上を移動する機器又は装置である。移動体として、例えば、車、飛行機、バイク、船舶、或いはロボット等が想定される。図２０は移動体の具体例としての自動車３４００を概略的に示している。自動車３４００は、車体３４０１や車輪３４０２を有する。自動車３４００には、液晶パネル１０と、駆動回路２０と、自動車３４００の各部を制御するホストプロセッサー２が組み込まれている。ホストプロセッサー２は例えばＥＣＵなどを含むことができる。液晶パネル１０は例えばメーターパネル等のパネル機器である。ホストプロセッサー２は、ユーザーに提示するための画像を生成し、その画像を駆動回路２０に送信する。駆動回路２０は、受信した画像を液晶パネル１０に表示する。例えば車速や燃料残量、走行距離、各種装置の設定等の情報が画像として表示される。

１…表示モジュール、１０…液晶パネル、１３_１〜１３_７…第１乃至第７選択回路、１５_１〜１５_７…第１乃至第７電圧生成回路、１６_１〜１６_７…第１乃至第７電圧出力回路、２０…駆動回路、１４０…信号出力回路、１６０…電圧出力回路、１７０…検査回路、１７００…閾値電圧発生回路、１７１０…第１比較器、１７２０…第２比較器、１７３０…第１検定回路、１７４０…第２検定回路、１７５０…第３検定回路、１７６０…第４検定回路、４００…インターフェイス、Ａ…ＩＣチップ、Ｄ１〜Ｄ７…データ、Ｌａ１…第１出力線、Ｌａ２…第２出力線、Ｌｂ１…第１モニター線、Ｌｂ２…第２モニター線、Ｌｘ…検査電圧出力線、Ｌｙ…信号電圧出力線、Ｐ１〜Ｐ８…ＰＷＭ信号、Ｓ１…第１表示信号、Ｓ２…第２表示信号、Ｓ８…第１検定信号、Ｓ９…第２検定信号、Ｓ１０…第３検定信号、Ｓ１１…第４検定信号、Ｓ１２…第５検定信号、ＳＥ１…第１セグメント電極、ＳＥ２…第２セグメント電極、Ｔａ１…第１出力端子、Ｔａ２…第２出力端子、Ｖａ１…電圧、Ｖａ２…電圧、ｔ１…第１期間、ｔ２…第２期間。

Claims (8)

1. 電極を有する表示パネルを駆動する駆動回路であって、
   第１電圧又は前記第１電圧よりも高い第２電圧を示す表示信号に基づいて前記電極に印加すべき第３電圧を生成する電圧生成回路と、
   前記電極と接続される出力端子と、
   前記電圧生成回路と前記出力端子との間に配置され、前記第３電圧の前記電極への印加状態を検査するための検査電圧を出力する検査電圧出力線を備える電圧出力回路と、
   前記表示信号の電圧である信号電圧を出力する信号電圧出力線を備える信号出力回路と、
   検査回路と、を有し、
   前記検査回路は、
   前記検査電圧と前記信号電圧に基づいて、前記電圧生成回路の入力から前記電極までの経路に異常があるか否かを検査し、
   前記検査電圧が、前記第１電圧よりも高い第１閾値電圧から前記第２電圧よりも低く前記第１閾値電圧よりも高い第２閾値電圧までの閾値範囲の電圧である場合、前記検査電圧をエラーと判定し検査電圧エラーを示す検査信号を出力する、ことを特徴とする駆動回路。
2. 前記第１閾値電圧は前記第２電圧の３０％の電圧より低く、前記第２閾値電圧は前記第２電圧の７０％の電圧よりも高い、請求項１に記載の駆動回路。
3. 前記第１電圧及び前記第２電圧を与えられ、前記第１閾値電圧及び前記第２閾値電圧を発生させるラダー抵抗回路を備える、請求項１又は請求項２に記載の駆動回路。
4. 前記検査回路は、
   前記検査電圧が前記第１閾値電圧より高いときに第１論理レベルとなり、前記検査電圧が前記第１閾値電圧以下のときに第２論理レベルとなる第１検定信号と、
   前記検査電圧が前記第２閾値電圧より高いときに前記第１論理レベルとなり、前記検査電圧が前記第２閾値電圧以下のときに前記第２論理レベルとなる第２検定信号と、
   前記第１検定信号と前記第２検定信号の排他的論理和である第３検定信号と、
   前記第１検定信号と前記第２検定信号とが共に前記第２論理レベルである場合には前記第２論理レベルとなり、前記第１検定信号と前記第２検定信号とが共に前記第１論理レベルである場合には前記第１論理レベルとなる第４検定信号と、
   前記表示信号の電圧と前記第４検定信号との排他的論理和である第５検定信号と、
   を生成し、
   前記第３検定信号が前記第１論理レベルである場合、又は前記第３検定信号が前記第２論理レベルであり且つ前記第５検定信号が前記第１論理レベルである場合に前記検査信号を前記第１論理レベルとし、前記第３検定信号が前記第２論理レベルであり、且つ前記第５検定信号が前記第２論理レベルである場合に前記検査信号を前記第２論理レベルとする、請求項１から３のうちのいずれか１項に記載の駆動回路。
5. 前記検査回路は、
   前記検査電圧と前記第１閾値電圧とを比較して前記第１検定信号を生成する第１比較器と、
   前記検査電圧と前記第２閾値電圧とを比較して前記第２検定信号を生成する第２比較器と、
   前記第１検定信号と前記第２検定信号との排他的論理和を演算し、演算結果を前記第３検定信号として出力する第１検定回路と、
   前記第１検定信号と前記第２検定信号の論理積を演算し前記第４検定信号を生成する第２検定回路と、
   前記表示信号の電圧と前記第４検定信号との排他的論理和を演算し、演算結果を前記第５検定信号として出力する第３検定回路と、
   前記第３検定信号と前記第５検定信号との論理和を演算し、演算結果を前記検査信号として出力する第４検定回路と、を備える、請求項４に記載の駆動回路。
6. 前記電極は、第１電極であり、
   前記出力端子は、第１出力端子であり、
   前記表示信号は、第１表示信号であり、
   前記電圧生成回路は、第１電圧生成回路であり、
   前記検査電圧は、第１検査電圧であり、
   前記表示パネルは前記第１電極とは異なる第２電極を有し、
   前記第１電圧又は前記第２電圧を示す第２表示信号に基づいて前記第２電極に印加すべき第４電圧を生成する第２電圧生成回路と、
   前記第２電極に接続される第２出力端子と、を備え、
   前記電圧出力回路は、前記第１検査電圧、又は前記第４電圧の前記第２電極への印加状態を検査するための第２検査電圧、を前記検査電圧出力線へ出力し、
   前記信号出力回路は、前記第１表示信号の電圧、又は前記第２表示信号の電圧を前記信号電圧出力線へ出力し、
   前記電圧出力回路は、
   第１期間において、前記検査電圧出力線に前記第１検査電圧を出力し且つ前記検査電圧出力線に前記第２検査電圧を出力せず、前記第１期間と異なる第２期間において、前記検査電圧出力線に前記第２検査電圧を出力し、且つ前記検査電圧出力線に前記第１検査電圧を出力せず、
   前記信号出力回路は、
   前記第１期間において前記信号電圧出力線に前記第１表示信号の電圧を出力し且つ前記信号電圧出力線に前記第２表示信号の電圧を出力せず、前記第２期間において前記信号電圧出力線に前記第２表示信号の電圧を出力し且つ前記信号電圧出力線に前記第１表示信号の電圧を出力せず、
   前記検査回路は、
   前記第１期間においては、前記第１検査電圧と前記第１表示信号の電圧に基づいて、前記第１電圧生成回路の入力から前記第１電極までの経路に異常があるか否かを検査し、前記第２期間においては、前記第２検査電圧と前記第２表示信号の電圧に基づいて、前記第２電圧生成回路の入力から前記第２電極までの経路に異常があるか否かを検査し、
   前記第１期間においては、前記第１検査電圧が前記閾値範囲の電圧である場合に前記第１検査電圧をエラーと判定し検査電圧エラーを示す前記検査信号を出力し、前記第２期間においては、前記第２検査電圧が前記閾値範囲の電圧である場合に前記第２検査電圧をエラーと判定し検査電圧エラーを示す前記検査信号を出力する
   請求項１〜５のうちのいずれか１項に記載の駆動回路。
7. 請求項１から６までのうちいずれか1項に記載の駆動回路と、
   前記表示パネルと、を備える表示モジュール。
8. 請求項７に記載の表示モジュールを備える移動体。

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