KR20190056476A - 표시 장치 및 표시 장치 구동 방법 - Google Patents

표시 장치 및 표시 장치 구동 방법 Download PDF

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Abstract

표시 장치는 복수의 게이트 라인들 및 복수의 데이터 라인들을 포함하는 표시 패널, 상기 표시 패널에 배치되며, 상기 게이트 라인들과 전기적으로 연결된 게이트 구동부, 상기 표시 패널에 배치되며, 적어도 3 개 이상의 온도 검출 회로들을 포함하는 온도 검출부, 및 상기 온도 검출 회로들 각각으로 테스트 전압을 출력하며, 상기 온도 검출 회로들로부터 수신된 결과 전압들 중 가장 낮은 전압을 기준으로 보상된 클럭 신호를 상기 게이트 구동부로 출력하는 전압 발생 회로를 포함할 수 있다.

Description

표시 장치 및 표시 장치 구동 방법{DISPLAY DEVICE AND DRIVING METHOD OF THE SAME}
본 발명은 온도 보상 기능을 갖는 표시 장치 및 표시 장치 구동 방법에 관한 것이다.
표시 장치는 영상을 표시하기 위한 표시 패널, 표시 패널을 구동하는 구동 회로를 포함한다. 표시 패널은 복수의 게이트 라인들, 복수의 데이터 라인들 및 복수의 화소들을 포함한다. 구동 회로는 표시 패널의 동작에 필요한 다양한 구동 전압들을 발생한다.
구동 회로는 온도에 따른 전하의 이동도 차이로 동작 특성에 차이가 생길 수 있다. 특히, 저온의 환경에서 전하의 이동도가 저하되는 경우, 화소를 충분히 턴 온 시키지 못하는 문제점이 발생한다.
본 발명의 목적은 광원 유닛과의 위치관계에 따라 적절한 온도 보상을 실시하는 표시 장치 및 표시 장치 구동 방법을 제공하는데 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치는 각각이 제1 방향으로 연장된 복수의 게이트 라인들 및 각각이 상기 제1 방향과 교차하는 제2 방향으로 연장된 복수의 데이터 라인들을 포함하는 표시 패널, 상기 표시 패널에 배치되며, 상기 게이트 라인들과 전기적으로 연결된 게이트 구동부, 상기 표시 패널에 배치되며, 적어도 3 개 이상의 온도 검출 회로들을 포함하는 온도 검출부, 및 상기 온도 검출 회로들 각각으로 테스트 전압을 출력하며, 상기 온도 검출 회로들로부터 수신된 결과 전압들 중 가장 낮은 전압을 기준으로 보상된 클럭 신호를 상기 게이트 구동부로 출력하는 전압 발생 회로를 포함할 수 있다.
상기 온도 검출 회로들 각각은 직렬 연결된 복수의 다이오드 커넥트 트랜지스터들을 포함할 수 있다.
상기 게이트 구동부는 제1 게이트 구동부 및 제2 게이트 구동부를 포함하고, 상기 제1 게이트 구동부 및 상기 제2 게이트 구동부는 상기 복수의 게이트 라인들을 사이에 두고 상기 제1 방향으로 이격되어 배치되며, 상기 온도 검출 회로들은 상기 제1 게이트 구동부 또는 상기 제2 게이트 구동부와 상기 제1 방향으로 이격되어 인접하게 배치될 수 있다.
상기 표시 패널은 상기 제2 방향을 따라 순차적으로 제1 영역, 제2 영역, 및 제3 영역이 정의되고, 상기 온도 검출부는 상기 제1 영역에 배치된 제1 온도 검출 회로, 상기 제2 영역에 배치된 제2 온도 검출 회로, 및 상기 제3 영역에 배치된 제3 온도 검출 회로를 포함할 수 있다.
상기 제1 내지 제3 온도 검출 회로들 중 적어도 어느 하나는 상기 제1 게이트 구동부와 인접하여 배치되고, 나머지 적어도 어느 하나는 상기 제2 게이트 구동부와 인접하여 배치될 수 있다.
상기 온도 검출부는 상기 제1 영역에 배치된 제4 온도 검출 회로, 상기 제2 영역에 배치된 제5 온도 검출 회로 및 상기 제3 영역에 배치된 제6 온도 검출 회로를 더 포함하고, 상기 제1 내지 제3 온도 검출 회로들은 상기 제1 게이트 구동부와 인접하여 배치되고, 상기 제4 내지 제6 온도 검출 회로들은 상기 제2 게이트 구동부와 인접하게 배치될 수 있다.
상기 제1 온도 검출 회로가 포함하는 복수의 제1 다이오드 커넥트 트랜지스터들, 상기 제2 온도 검출 회로가 포함하는 복수의 제2 다이오드 커넥트 트랜지스터들, 상기 제3 온도 검출 회로가 포함하는 복수의 제3 다이오드 커넥트 트랜지스터들 각각의 수는 서로 동일할 수 있다.
상기 복수의 제1 다이오드 커넥트 트랜지스터들의 수, 상기 복수의 제2 다이오드 커넥트 트랜지스터들의 수, 및 상기 제3 다이오드 커넥트 트랜지스터들의 수의 합은 상기 복수의 게이트 라인들의 수와 동일할 수 있다.
상기 제1 온도 검출 회로는 제1 스위치를 포함하고, 상기 제2 온도 검출 회로는 제2 스위치를 포함하고, 상기 제3 온도 검출 회로는 제3 스위치를 포함하고, 상기 제1 스위치, 상기 제2 스위치, 및 상기 제3 스위치는 순차적으로 턴-온되어 상기 전압 발생 회로로부터 상기 테스트 전압을 수신하고, 온도에 따라 변화된 상기 결과 전압을 상기 전압 발생 회로로 출력할 수 있다.
상기 전압 발생 회로는 상기 제1 스위치, 상기 제2 스위치 및 상기 제3 스위치를 순차적으로 턴-온시키는 신호를 생성하는 스위치 신호 생성부, 상기 테스트 전압을 출력하고, 상기 결과 전압들을 수신하는 전압 출력 및 센싱부, 상기 테스트 전압과 상기 결과 전압들 사이의 전압 강하를 비교하여, 보상 기준을 판단하는 보상 기준 판단부, 및 상기 보상 기준을 근거로 상기 클럭 신호를 보상하는 보상부를 포함할 수 있다.
상기 복수의 다이오드 커넥트 트랜지스터들은 상기 제2 방향을 따라 배열될 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치는 제1 방향으로 연장하는 복수의 게이트 라인들, 및 상기 제1 방향과 교차하는 제2 방향으로 연장하는 복수의 데이터 라인들을 포함하며, 상기 제2 방향을 따라 순차적으로 제1 영역, 제2 영역 및 제3 영역이 정의된 표시 패널, 상기 복수의 게이트 라인들로 게이트 신호를 출력하며, 상기 제1 영역, 상기 제2 영역 및 상기 제3 영역에 배치된 게이트 구동부, 상기 제1 영역에 배치된 제1 온도 검출 회로, 상기 제2 영역에 배치된 제2 온도 검출 회로, 및 상기 제3 영역에 배치된 제3 온도 검출 회로를 포함하는 온도 검출부, 및 상기 제1 내지 제3 온도 검출 회로들 각각으로 테스트 전압을 출력하며, 상기 제1 내지 제3 온도 검출 회로들로부터 수신된 제1 내지 제3 결과 전압들을 근거로 보상된 클럭 신호를 상기 게이트 구동부로 출력하는 전압 발생 회로를 포함할 수 있다.
상기 전압 발생 회로는 상기 제1 내지 제3 결과 전압들 각각과 상기 테스트 전압을 비교하여 전압 강하가 가장 큰 전압을 기준으로 상기 클럭 신호를 보상할 수 있다.
상기 게이트 구동부는 제1 게이트 구동부 및 제2 게이트 구동부를 포함하고, 상기 제1 게이트 구동부 및 상기 제2 게이트 구동부는 상기 복수의 게이트 라인들을 사이에 두고 상기 제1 방향으로 이격되어 배치되며, 상기 제1 내지 제3 온도 검출 회로들은 상기 제1 게이트 구동부 또는 상기 제2 게이트 구동부와 상기 제1 방향으로 이격되어 인접하게 배치될 수 있다.
상기 제1 내지 제3 온도 검출 회로들 중 어느 하나는 상기 제1 게이트 구동부와 인접하여 배치되고, 나머지는 상기 제2 게이트 구동부와 인접하여 배치될 수 있다.
상기 온도 검출부는 상기 제1 영역에 배치된 제4 온도 검출 회로, 상기 제2 영역에 배치된 제5 온도 검출 회로 및 상기 제3 영역에 배치된 제6 온도 검출 회로를 더 포함하고, 상기 제1 내지 제3 온도 검출 회로들은 상기 제1 게이트 구동부와 인접하여 배치되고, 상기 제4 내지 제6 온도 검출 회로들은 상기 제2 게이트 구동부와 인접하게 배치될 수 있다.
상기 제1 내지 제3 온도 검출 회로들 각각은 직렬 연결된 복수의 다이오드 커넥트 트랜지스터들을 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치 구동 방법은 표시 패널에 게이트 구동부 및 상기 게이트 구동부와 인접한 영역에 제1 내지 제3 온도 검출 회로가 집적된 표시 장치에 있어서 테스트 전압을 상기 제1 내지 제3 온도 검출 회로로 순차적으로 출력하는 테스트 전압 출력 단계, 상기 제1 내지 제3 온도 검출 회로로부터 전압 강하된 제1 내지 제3 결과 전압들을 순차적으로 수신하는 테스트 전압 수신 단계, 상기 제1 내지 제3 결과 전압들 각각과 상기 테스트 전압을 비교하는 전압 강하 비교 단계, 및 상기 제1 내지 제3 결과 전압들 중 전압 강하가 가장 큰 결과 전압을 기준으로 상기 게이트 구동부로 출력되는 클럭 신호의 전압 레벨을 조절하여 온도 보상을 실시하는 온도 보상 단계를 포함할 수 있다.
상기 테스트 전압은 상기 표시 장치의 전원이 턴-온 된 후 소정 시간 지난 후에 출력될 수 있다.
상기 제1 내지 제3 온도 검출 회로 중 어느 하나로 상기 테스트 전압을 출력하기 위해 스위치 신호를 생성하는 단계를 더 포함할 수 있다.
본 발명에 따르면, 표시 패널과 광원 유닛과의 위치 조합이 다양하게 변경되더라도, 다수의 온도 검출 회로들로부터 검출된 결과 전압들 중 가장 전압 강하량이 큰 결과 전압을 근거로 게이트 온-오프 전압의 레벨을 보상한다. 즉, 가장 저온에 대응하여 게이트 온-오프 전압 레벨의 보상이 가능하다. 따라서, 화소가 충분히 턴-온되지 않는 현상을 방지할 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 블록도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 일부 구성을 도시한 평면도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 패널의 개략적인 평면도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 전압 발생 회로의 블록도 및 온도 검출부의 등가 회로도를 도시한 도면이다.
도 5a는 본 발명의 일 실시예에 따른 테스트 전압, 및 결과 전압의 레벨을 예시적으로 도시한 도면이다.
도 5b는 본 발명의 일 실시예에 따른 테스트 전압, 및 결과 전압의 레벨을 예시적으로 도시한 도면이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 게이트 구동부 보상 동작에 관한 순서도이다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 패널의 개략적인 평면도이다.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 패널의 개략적인 평면도이다.
본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 형태를 가질 수 있는 바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 본문에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명을 특정한 개시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.
"포함하다" 및 "갖는다" 등의 용어는 명세서 상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.
제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 예를 들어, 본 발명의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소는 제1 구성요소로 명명될 수 있다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다.
이하, 도면을 참조하여 본 발명의 실시예들을 설명한다.
도면들에 있어서, 구성요소들의 비율 및 치수는 기술적 내용의 효과적인 설명을 위해 과장된 것이다. "및/또는"은 연관된 구성들이 정의할 수 있는 하나 이상의 조합을 모두 포함한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 블록도이다.
도 1을 참조하면, 표시 장치(DD)는 표시 패널(100) 및 구동 회로(200)를 포함할 수 있다. 구동 회로(200)는 신호 제어부(210), 전압 발생 회로(220), 게이트 구동부(230), 데이터 구동부(240), 및 온도 검출부(250)를 포함할 수 있다.
표시 패널(100)은 입력된 영상 데이터에 대응하는 이미지를 생성한다. 본 실시예에 따른 표시 패널(100)은 액정 표시 패널일 수 있으며, 특별히 한정되지 않는다. 예를 들어, 표시 패널(100)은 수광형 표시패널이라면 다양하게 변경될 수 있다.
표시 패널(100)은 복수의 데이터 라인들(DL1~DLm), 복수의 게이트 라인들(GL1~GLn) 및 복수의 화소들(PX)을 포함할 수 있다.
복수의 게이트 라인들(GL1~GLn) 각각은 제1 방향(DR1)으로 연장되고, 복수의 게이트 라인들(GL1~GLn)은 제1 방향(DR1)과 교차하는 제2 방향(DR2)을 따라 배열될 수 있다. 복수의 데이터 라인들(DL1~DLm) 각각은 제2 방향(DR2)으로 연장되고, 복수의 데이터 라인들(DL1~DLm)은 제1 방향(DR1)을 따라 배열될 수 있다.
복수의 데이터 라인들(DL1~DLm) 및 복수의 게이트 라인들(GL1~GLn)은 화소 영역들을 정의하며, 화소 영역들 각각에는 영상을 표시하는 화소(PX)가 구비될 수 있다. 도 1에는 제1 데이터 라인(DL1)과 제1 게이트 라인(GL1)에 연결된 화소(PX)를 일 예로 도시하였다.
화소(PX)는 주요색(primary color) 중 하나 또는 혼합색 중 하나를 표시할 수 있다. 상기 주요색은 레드, 그린, 블루, 및 화이트를 포함할 수 있고, 상기 혼합색은 옐로우, 시안, 마젠타 등 다양한 색상을 포함할 수 있다. 다만, 화소(PX)가 표시하는 색상이 이에 제한되는 것은 아니다.
신호 제어부(210, 또는 타이밍 컨트롤러)는 외부로부터 제공되는 제어 신호(CS) 및 영상 데이터(RGB)를 수신할 수 있다. 신호 제어부(210)는 제1 제어 신호(CONT1)를 데이터 구동부(240)로 제공하고, 제2 제어 신호(CONT2)를 게이트 구동부(230)로 제공한다. 제1 제어 신호(CONT1)는 데이터 구동부(240)를 구동하기 위한 신호이고, 제2 제어 신호(CONT2)를 게이트 구동부(230)를 제어하기 위한 신호이다.
전압 발생 회로(220)는 외부로부터 전원 전압(VIN)을 수신하고, 신호 제어부(210)로부터 클럭 제어 신호(CPV) 및 수직 개시 신호(STV)를 수신할 수 있다.
전압 발생 회로(220)는 클럭 제어 신호(CPV) 및 수직 개시 신호(STV)에 응답해서 구동 전압들을 생성하고, 구동 전압들에 기초하여 클럭 신호들(CKV)을 생성할 수 있다. 클럭 신호(CKV)는 게이트 온 전압 레벨 및 게이트 오프 전압 레벨을 갖는 파형의 신호일 수 있다. 클럭 신호들(CKV)은 게이트 구동부(230)로 출력될 수 있다.
게이트 구동부(230)는 신호 제어부(210)로부터의 제2 제어 신호(CONT2)에 응답해서 게이트 라인들(GL1~GLn)에 신호를 제공한다. 게이트 구동부(230)는 표시 패널(100)의 소정 영역에 집적될 수 있다. 이 경우, 게이트 구동부(230)는 비정질-실리콘 박막 트랜지스터(amorphous Silicon Thin Film Transistor a-Si TFT)를 포함하고, ASG(Amorphous silicon gate)를 이용한 회로로 구현될 수 있다.
게이트 구동부(230)를 구성하는 비정질-실리콘 박막 트랜지스터는 온도 특성에 따라 전하의 이동도 차이가 발생할 수 있다. 특히, 저온에서 전하의 이동도가 저하될 수 있다. 저온에서 복수의 게이트 라인들(GL1~GLn)에 인가되는 게이트 온 전압 레벨이 낮아지게 되면 화소(PX)가 충분히 턴-온되지 않는 현상이 발생될 수 있다. 저온에서 전하의 이동도 저하를 보상하기 위해, 구동 회로(200)는 온도 검출부(250)를 포함할 수 있다.
온도 검출부(250)는 표시 패널(100)의 소정 영역에 집적될 수 있다. 구체적으로, 온도 검출부(250)는 게이트 구동부(230)의 온도를 보상하기 위해 제공되는 것이므로, 게이트 구동부(230)와 인접하여 제공될 수 있다. 온도 검출부(250)는 전압 발생 회로(220)로부터 테스트 전압(VT1) 및 스위치 신호(CB)를 수신하고, 온도에 따라 변화된 결과 전압(VT2)을 전압 발생 회로(220)로 출력한다.
전압 발생 회로(220)는 온도 검출부(250)로부터 수신한 결과 전압(VT2)에 기초하여, 게이트 온 전압 및/또는 게이트 오프 전압의 레벨을 조정하여 게이트 구동부(230)로 클럭 신호(CKV)를 출력할 수 있다.
데이터 구동부(240)는 신호 제어부(210)로부터 수신한 제1 제어 신호(CONT1)에 응답해서 복수의 데이터 라인들(DL1~DLm)을 구동할 수 있다. 데이터 구동부(240)는 독립된 집적 회로로 구현되어서 표시 패널(100)의 일 측에 전기적으로 연결되거나, 표시 패널(100) 상에 직접 실장될 수 있다. 또한 데이터 구동부(240)는 단일 칩으로 구현되거나 복수의 칩들을 포함할 수 있다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 일부 구성을 도시한 평면도이다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 표시 패널(100)은 표시 영역(DA) 및 비표시 영역(NDA)을 포함할 수 있다. 표시 영역(DA)은 영상을 표시하는 영역이고, 비표시 영역(NDA)은 표시 영역(DA)을 둘러싸며 영상이 표시되지 않는 영역이다.
표시 영역(DA)에는 복수의 데이터 라인들(DL1~DLm), 복수의 게이트 라인들(GL1~GLn) 및 복수의 화소들(PX)이 배치될 수 있고, 비표시 영역(NDA)에는 게이트 구동부(230), 및 온도 검출부(250)가 배치될 수 있다. 신호 제어부(210), 전압 발생 회로(220), 및 데이터 구동부(240)는 독립된 집적 회로로 구현되어서 표시 패널(100)의 일 측에 전기적으로 연결될 수 있고, 이에 대한 구성은 도 2에서 생략되었다.
게이트 구동부(230)는 제1 게이트 구동부(231) 및 제2 게이트 구동부(232)를 포함할 수 있다. 이 경우, 제1 게이트 구동부(231)와 제2 게이트 구동부(232)는 표시 영역(DA)을 사이에 두고 제1 방향(DR1)으로 이격되어 배치될 수 있다. 하지만, 이는 예시적인 것으로, 게이트 구동부(230)는 제1 게이트 구동부(231) 또는 제2 게이트 구동부(232) 만을 포함할 수도 있다.
제1 게이트 구동부(231) 및 제2 게이트 구동부(232) 각각은 복수의 시프트 레지스터를 포함할 수 있다. 복수의 시프트 레지스터들의 개수는 복수의 게이트 라인들(GL1~GLn, 도 1 참조)의 수 이상일 수 있다. 예를 들어, 제1 게이트 구동부(231)는 n 개의 시프트 레지스터들을 포함하고, 제2 게이트 구동부(232)는 n 개의 시프트 레지스터들을 포함할 수 있고, 하나의 게이트 라인은 제1 게이트 구동부(231) 및 제2 게이트 구동부(232)에 모두 연결될 수 있다. 또한, 다른 예에서는 제1 게이트 구동부(231)는 n/2 개의 시프트 레지스터들을 포함하고, 제2 게이트 구동부(232)는 n/2 개의 시프트 레지스터들을 포함하고, 게이트 라인들 중 일부는 제1 게이트 구동부(231)에 연결되고, 다른 일부는 제2 게이트 구동부(232)에 연결될 수도 있다.
온도 검출부(250)는 제1 온도 검출부(251) 및 제2 온도 검출부(252)를 포함할 수 있다. 제1 온도 검출부(251)는 제1 게이트 구동부(231)와 인접하여 배치되고, 제2 온도 검출부(252)는 제2 게이트 구동부(232)와 인접하여 배치될 수 있다. 제1 온도 검출부(251)는 제1 게이트 구동부(231)에 대해 제1 방향(DR1)으로 이격되어 배치되고, 제2 온도 검출부(252)는 제2 게이트 구동부(232)에 대해 제1 방향(DR1)으로 이격되어 배치될 수 있다.
본 발명의 다른 실시예에서, 제1 게이트 구동부(231) 만이 제공되는 경우, 제2 온도 검출부(252)는 생략될 수 있고, 제2 게이트 구동부(232) 만이 제공되는 경우, 제1 온도 검출부(251)는 생략될 수 있다. 온도 검출부(250)는 게이트 구동부(230)와 동시에 형성될 수 있다.
본 발명의 실시예에 따르면, 온도 검출부(250)가 게이트 구동부(230)와 인접하여 제공되기 때문에, 게이트 구동부(230)와 인접한 영역의 온도 변화를 센싱할 수 있다. 따라서, 측정된 온도의 정확도와 신뢰도가 향상될 수 있다.
표시 패널(100)이 수광형 표시 패널(100)이기 때문에 표시 패널(100)로 광을 제공하기 위한 광원 유닛이 필요하다. 제품에 따라 표시 패널(100)과 광원 유닛은 다양한 위치 관계를 가질 수 있다.
도 2에서는 광원 유닛이 배치 가능한 영역에 광원 유닛들(LUA, LUB, LUC, LUD)을 점선으로 도시하였다. 광원 유닛들(LUA, LUB, LUC, LUD)의 위치에 따라, 제1 광원 유닛(LUA), 제2 광원 유닛(LUB), 제3 광원 유닛(LUC), 및 제4 광원 유닛(LUD)라 명칭 한다.
표시 패널(100)은 제1 방향(DR1)으로 연장되는 제1 변(101) 및 제2 변(101a) 및 제2 방향(DR2)으로 연장되는 제3 변(102) 및 제4 변(102a)을 포함하는 직사각 형상을 가질 수 있다. 제1 광원 유닛(LUA)은 제1 변(101)에 인접하여 배치되고, 제2 광원 유닛(LUB)은 제2 변(101a)에 인접하여 배치되고, 제3 광원 유닛(LUC)은 제3 변(102)에 인접하여 배치되고, 제4 광원 유닛(LUD)은 제4 변(102a)에 인접하여 배치될 수 있다.
표시 패널(100) 내의 온도는 광원 유닛과의 거리에 따라 상이할 수 있다. 예를 들어, 표시 장치(DD, 도 1 참조)가 제1 광원 유닛(LUA)만을 포함하는 경우, 제1 게이트 구동부(231)가 배치된 영역의 온도는 제2 게이트 구동부(232)가 배치된 영역의 온도보다 높을 수 있다. 또한, 표시 장치(DD)가 제3 광원 유닛(LUC)만을 포함하는 경우, 표시 패널(DP)의 제1 내지 제3 영역(DPAa, DPAb, DPAc) 중 제3 영역(DPAc)의 온도가 가장 낮을 수 있다. 제1 내지 제3 영역(DPAa, DPAb, DPAc)은 제2 방향(DR2)을 따라 순차적으로 정의된 영역일 수 있다.
제1 및 제2 게이트 구동부(231, 232)의 온도 변화에 따른 전하의 보상하기 위한 적절한 온도를 검출하기 위해 온도 검출부(250)의 위치가 결정될 수 있다. 이에 대해서는 도 3에서 구체적으로 설명된다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 패널의 개략적인 평면도이고, 도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 전압 발생 회로의 블록도 및 온도 검출부의 등가 회로도를 도시한 도면이다.
도 3 및 도 4를 참조하면, 온도 검출부(250, 도 1 참조)는 총 6 개의 제1 내지 제6 온도 검출 회로들(251a, 251b, 251c, 252a, 252b, 252c)을 포함할 수 있다. 제1 내지 제3 온도 검출 회로들(251a, 251b, 251c)은 제1 게이트 구동부(231)와 인접하여 배치되며, 제2 방향(DR2)을 따라 순차적으로 배열될 수 있다. 제4 내지 제6 온도 검출 회로들(252a, 252b, 252c)은 제2 게이트 구동부(232)와 인접하여 배치되며, 제2 방향(DR2)을 따라 순차적으로 배열될 수 있다.
제1 및 제2 게이트 구동부(231, 232)는 표시 패널(DP)의 제1 영역(DPAa), 제2 영역(DPAb), 및 제3 영역(DPAc) 위에 배치될 수 있다. 제1 및 제4 온도 검출 회로들(251a, 252a)은 표시 패널(DP)의 제1 영역(DPAa)에 배치되고, 제2 및 제5 온도 검출 회로들(251b, 252b)은 표시 패널(DP)의 제2 영역(DPAb)에 배치되고, 제3 및 제6 온도 검출 회로들(251c, 252c)은 표시 패널(DP)의 제3 영역(DPAc)에 배치될 수 있다.
제1 내지 제6 온도 검출 회로들(251a, 251b, 251c, 252a, 252b, 252c) 각각은 복수의 다이오드 커넥트 트랜지스터들을 포함할 수 있다. 제1 내지 제6 온도 검출 회로들(251a, 251b, 251c, 252a, 252b, 252c) 각각이 포함하는 복수의 박막 트랜지스터들의 개수는 서로 동일할 수 있다. 도 4에서는 제1 내지 제3 온도 검출 회로들(251a, 251b, 251c)에 대해서만 도시하였다. 제 4 내지 제6 온도 검출 회로들(252a, 252b, 252c)도 동일한 회로 구조를 포함할 수 있다.
제1 온도 검출 회로(251a)는 복수의 박막 트랜지스터들(TR1)을 포함한다. 복수의 박막 트랜지스터들(TR1) 각각은 제어 전극, 제1 전극 및 제2 전극을 포함하고, 제어 전극과 제1 전극이 서로 연결될 수 있다. 복수의 박막 트랜지스터들(TR1)은 서로 직렬로 연결될 수 있다. 저온으로 갈수록 복수의 박막 트랜지스터들(TR1) 각각의 문턱 전압은 증가할 수 있다. 또한, 복수의 박막 트랜지스터들(TR1)이 직렬로 연결됨에 따라 전압 강하 정도를 보다 용이하게 측정할 수 있다.
제1 게이트 구동부(231)와 인접한 제1 내지 제3 온도 검출 회로들(251a, 251b, 251c) 각각의 박막 트랜지스터들(TR1, TR2, TR3) 수의 합은 게이트 라인(GL1~GLn, 도 1 참조)의 수와 동일할 수 있다. 하지만, 본 발명이 이에 제한되는 것은 아니다.
전압 발생 회로(220)는 스위치 신호 생성부(221), 전압 출력 및 센싱부(222), 보상 기준 판단부(223) 및 보상부(224)를 포함할 수 있다. 스위치 신호 생성부(221), 전압 출력 및 센싱부(222), 보상 기준 판단부(223) 및 보상부(224) 각각은 회로로 구성된 블록을 기능에 따라 나누어 명칭한 것이다.
스위치 신호 생성부(221)는 n비트의 2진 코드 값을 입력으로 받아들여 서로 다른 정보로 바꿔주는 디코더를 포함할 수 있다. 스위치 신호 생성부(221)는 스위치 신호(CB)를 온도 검출부(250, 도 1 참조)로 출력할 수 있다.
제1 내지 제6 온도 검출 회로들(251a, 251b, 251c, 252a, 252b, 252c) 각각의 스위치를 별도로 턴-온 시키는 경우, 스위치 신호(CB)는 6 개 정보의 신호를 포함할 수 있다. 또한, 제1 영역(DPAa)에 배치된 제1 및 제4 온도 검출 회로들(251a, 252a)를 동시에 턴-온시키고, 제2 영역(DPAb)에 배치된 제2 및 제5 온도 검출 회로들(251b, 252b)를 동시에 턴-온시키고, 제3 영역(DPAc)에 배치된 제3 및 제6 온도 검출 회로들(251c, 252c)을 동시에 턴-온시키는 경우, ㅅ위치 신호(CB)는 3 개의 정보의 신호를 포함할 수 있다.
전압 출력 및 센싱부(222)는 테스트 전압(VT1)을 온도 검출부(250, 도 1 참조)로 출력할 수 있다. 스위치 신호(CB)에 의해 제1 스위치(SW1, SW1a)가 턴-온되는 경우, 테스트 전압(VT1)은 제1 온도 검출 회로(251a)로 제공되고, 제2 스위치(SW2, SW2a)가 턴-온되는 경우, 테스트 전압(VT1)은 제2 온도 검출 회로(251b)로 제공되고, 제3 스위치(SW3, SE3a)가 턴-온되는 경우, 테스트 전압(VT1)은 제3 온도 검출 회로(251c)로 제공될 수 있다.
전압 출력 및 센싱부(222)는 결과 전압(VT2)을 수신할 수 있다. 결과 전압(VT2)은 테스트 전압(VT1)으로부터 직렬로 연결된 박막 트랜지스터들의 문턱 전압의 합만큼 강하된 전압 레벨을 가질 수 있다.
보상 기준 판단부(223)는 비교기들을 포함할 수 있다. 보상 기준 판단부(223)는 제1 내지 제6 온도 검출 회로들(251a, 251b, 251c, 252a, 252b, 252c)로부터 수신한 복수의 결과 전압(VT2)들 중 테스트 전압(VT1)과 결과 전압(VT2) 사이의 차이가 가장 큰 결과 전압(VT2)을 보상 기준으로 판단할 수 있다.
보상부(224)는 보상 기준 판단부(223)의 결과를 근거로 게이트 온 전압 및/또는 게이트 오프 전압의 레벨을 조정하여 제1 및 제2 게이트 구동부들(231, 232)로 클럭 신호(CKV)를 출력할 수 있다. 보상부(224)는 전압 차이에 따른 게이트 온 전압 및/또는 게이트 오프 전압의 보상 레벨을 룩업 테이블로 저장하거나, 보상 레벨의 최대값 및 최소값을 정해놓고 그 사이 전압을 리니어 인터폴레이션 또는 기타 연산에 의해 정할 수 있다. 보상부(224)의 보상 방법은 다양하게 변형될 수 있다.
도 5a는 본 발명의 일 실시예에 따른 그라운드 전압(GND), 테스트 전압(VT1), 및 결과 전압(VT2)의 레벨을 예시적으로 도시한 도면이다. 구체적으로, 결과 전압(VT2)은 표시 패널(100)의 제3 변(102, 도 2 참조)과 인접한 영역에 제3 광원 유닛(LUC, 도 2 참조)이 배치된 경우에 측정된 결과 전압이다.
도 2, 도 3 및 도 5a를 참조하면, 제1 및 제4 온도 검출 회로들(251a, 252a)은 제3 광원 유닛(LUC, 도 2 참조)과 가장 가까운 영역에 배치되고, 제3 및 제6 온도 검출 회로들(251c, 252c)은 제3 광원 유닛(LUC, 도 2 참조)과 가장 먼 영역에 배치될 수 있다.
따라서, 제1 내지 제6 온도 검출 회로들(251a, 251b, 251c, 252a, 252b, 252c) 각각의 전압 강하량(VD1, VD2, VD3, VD1a. VD2a, VD3a)을 살펴보면, 제3 및 제6 온도 검출 회로들(251c, 252c)의 전압 강하량(VD3, VD3a)이 가장 큼을 알 수 있다.
즉, 제3 및 제6 온도 검출 회로들(251c, 252c)이 배치된 영역이 가장 저온일 수 있다. 따라서, 제1 및 제2 게이트 구동부들(231, 232)의 이동도 저하를 보상하기 위해 제3 및 제6 온도 검출 회로들(251c, 252c)의 전압 강하량(VD3, VD3a)을 기준으로 온도 보상을 실시할 수 있다.
도 5b는 본 발명의 일 실시예에 따른 그라운드 전압(GND), 테스트 전압(VT1), 및 결과 전압(VT2a)의 레벨을 예시적으로 도시한 도면이다. 구체적으로, 결과 전압(VT2a)은 표시 패널(100)의 제1 변(101, 도 2 참조)과 인접한 영역에 제1 광원 유닛(LUA, 도 2 참조)이 배치된 경우에 측정된 결과 전압이다.
도 2, 도 3 및 도 5b를 참조하면, 제1 내지 제3 온도 검출 회로들(251a, 251b, 251c)은 제1 광원 유닛(LUA, 도 2 참조)과 가장 가까운 영역에 배치되고, 제4 내지 제6 온도 검출 회로들(252a, 252b, 252c)은 제1 광원 유닛(LUA, 도 2 참조)과 가장 먼 영역에 배치될 수 있다.
따라서, 제1 내지 제6 온도 검출 회로들(251a, 251b, 251c, 252a, 252b, 252c) 각각의 전압 강하량(VD1, VD2, VD3, VD1a. VD2a, VD3a)을 살펴보면, 제4 내지 제6 온도 검출 회로들(252a, 252b, 252c)의 전압 강하량(VD1a, VD2a, VD3a)이 가장 큼을 알 수 있다.
즉, 제4 내지 제6 온도 검출 회로들(252a, 252b, 252c)이 배치된 영역이 가장 저온일 수 있다. 따라서, 제1 및 제2 게이트 구동부들(231, 232)의 이동도 저하를 보상하기 위해 제4 내지 제6 온도 검출 회로들(252a, 252b, 252c)의 전압 강하량(VD1a, VD2a, VD3a)을 기준으로 온도 보상을 실시할 수 있다.
본 발명의 실시예에 따르면, 표시 패널(100)과 광원 유닛과의 위치 조합이 다양하게 변경되더라도, 다수의 온도 검출 회로들로부터 가장 전압 강하량이 큰 결과 전압을 근거로 게이트 온-오프 전압의 레벨을 보상한다. 즉, 가장 저온에 대응하여 게이트 온-오프 전압 레벨의 보상이 가능하고, 그에 따라 화소(PX, 도 1 참조)가 충분히 턴-온되지 않는 현상을 방지할 수 있다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 게이트 구동부 보상 동작에 관한 순서도이다.
도 1 및 도 6을 참조하면, 표시 장치(DD)의 전원이 턴-온 된다(S10). 전압 발생 회로(220)는 소정 시간 이후 테스트 전압(VT1)을 온도 검출부(250)로 출력하고, 결과 전압들(VT2)을 수신한다(S20). 상기 소정 시간은 일정 시간 동안 전기적 신호를 주는 에이징 시간일 수 있다.
전압 발생 회로(220)는 온도 검출 영역 별 전압 강하를 비교할 수 있다(S30). 온도 검출 영역이란, 앞서 설명한 온도 검출 회로들이 배치된 영역으로, 박막 트랜지스터가 직렬로 연결된 영역을 하나의 온도 검출 영역이라 정의할 수 있다.
전압 발생 회로(220)는 전압 강하 최대값을 기준으로 온도 보상 동작을 실시할 수 있다(S40). 따라서, 최저 온도를 기준으로 게이트 온-오프 전압의 레벨을 보상하기 때문에, 저온에서의 게이트 구동부(230)를 구성하는 박막 트랜지스터의 전하의 이동도를 보상하여 줄 수 있다. 따라서, 화소(PX)가 충분히 턴-온 되지 않는 현상을 방지할 수 있다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 패널의 개략적인 평면도이다. 도 7을 설명함에 있어서, 앞서 도 3에서 설명한 구성에 대해서는 도면 부호를 병기하고 이에 대한 설명은 생략된다.
도 1 및 도 7을 참조하면, 온도 검출부(250)는 제1 온도 검출 회로(251d), 제2 온도 검출 회로(252d) 및 제3 온도 검출 회로(251e)를 포함할 수 있다.
제1 온도 검출 회로(251d)는 제1 영역(DPAa)에 배치되고, 제2 온도 검출 회로(252d)는 제2 영역(DPAb)에 배치되고, 제3 온도 검출 회로(251e)는 제3 영역(DPAc)에 배치될 수 있다.
제1 내지 제3 온도 검출 회로들(251d, 252d, 251e) 중 적어도 어느 하나는 제1 게이트 구동부(231)와 인접하여 배치되고, 나머지 적어도 어느 하나는 제2 게이트 구동부(232)와 인접하게 배치될 수 있다.
도 7에서는 제1 및 제3 온도 검출 회로들(251d, 251e)은 제1 게이트 구동부(231)와 인접하게 배치되고, 제2 온도 검출 회로(252d)는 제2 게이트 구동부(232)와 인접하게 배치된 것을 예시적으로 도시하였다. 하지만, 본 발명의 실시예가 이에 제한되는 것은 아니다.
몇 가지 다른 배치 방법을 예를 들어 설명하면, 제1 및 제2 온도 검출 회로들(251d, 252d)이 제1 게이트 구동부(231)에 인접하게 배치되고, 제3 온도 검출 회로(251e)가 제2 게이트 구동부(232)에 인접하게 배치될 수도 있고, 제1 온도 검출 회로(251d)가 제1 게이트 구동부(231)에 인접하게 배치되고, 제2 및 제3 온도 검출 회로들(252d, 251e)이 제2 게이트 구동부(232)에 인접하게 배치될 수 있다.
다시 도 2 및 도 7을 참조하면, 표시 장치(DD, 도 1 참조)가 제1 광원 유닛(LUA), 제2 광원 유닛(LUB), 제3 광원 유닛(LUC), 및 제4 광원 유닛(LUD) 중 적어도 어느 하나를 포함하더라도, 제1 내지 제3 온도 검출 회로들(251d, 252d, 251e)로부터 최저 온도 영역을 검출할 수 있다. 따라서, 최저 온도 영역을 기준으로 제1 및 제2 게이트 구동부(231, 232)로 제공되는 클럭 신호(CKV)의 전압 레벨을 보정할 수 있다. 그 결과, 화소(PX, 도 1 참조)가 충분히 턴-온되지 않는 현상을 방지할 수 있다.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 패널의 개략적인 평면도이다. 도 8을 설명함에 있어서, 앞서 도 3에서 설명한 구성에 대해서는 도면 부호를 병기하고 이에 대한 설명은 생략된다.
도 1 및 도 8을 참조하면, 온도 검출부(250)는 제1 내지 제10 온도 검출 회로들(251f, 251g, 251h, 251i, 251j, 252f, 252g, 252h, 252i, 252j)을 포함할 수 있다. 제1 내지 제5 온도 검출 회로들(251f, 251g, 251h, 251i, 251j)은 제1 게이트 구동부(231)와 인접하여 배치되고, 제6 내지 제10 온도 검출 회로들(252f, 252g, 252h, 252i, 252j)은 제2 게이트 구동부(232)와 인접하게 배치될 수 있다.
표시 패널은 제1 내지 제5 영역(DPA1, DPA2, DPA3, DPA4, DPA5)으로 구분되고, 제1 내지 제5 영역(DPA1, DPA2, DPA3, DPA4, DPA5)은 제2 방향(DR2)을 따라 순차적으로 정의된 영역일 수 있다.
제1 내지 제5 온도 검출 회로들(251f, 251g, 251h, 251i, 251j)은 순차적으로 제1 내지 제5 영역(DPA1, DPA2, DPA3, DPA4, DPA5)에 배치되고, 제6 내지 제10 온도 검출 회로들(252f, 252g, 252h, 252i, 252j)은 순차적으로 제1 내지 제5 영역(DPA1, DPA2, DPA3, DPA4, DPA5)에 배치될 수 있다.
온도 검출 회로들의 개수는 표시 패널(DP)의 크기에 따라 다양하게 조절될 수 있다. 예를 들어, 표시 패널(DP)의 크기가 커질수록 온도 검출 회로들의 개수는 증가할 수 있다. 또한, 최저 온도 영역을 더 구체적으로 센싱하기 위해 영역을 더 분할할 수 있고, 그에 따라 온도 검출 회로들의 개수도 증가할 수 있다. 온도 검출 회로들의 개수는 본 명세서에서 설명한 실시예들에 제한되는 것은 아니며 다양하게 변경될 수 있다.
실시 예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다. 또한 본 발명에 개시된 실시 예는 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니고, 하기의 특허 청구의 범위 및 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
DD: 표시 장치 100: 표시 패널
200: 구동 회로 210: 신호 제어부
220: 전압 발생 회로 230: 게이트 구동부
240: 데이터 구동부 250: 온도 검출부

Claims (20)

  1. 각각이 제1 방향으로 연장된 복수의 게이트 라인들 및 각각이 상기 제1 방향과 교차하는 제2 방향으로 연장된 복수의 데이터 라인들을 포함하는 표시 패널;
    상기 표시 패널에 배치되며, 상기 게이트 라인들과 전기적으로 연결된 게이트 구동부;
    상기 표시 패널에 배치되며, 적어도 3 개 이상의 온도 검출 회로들을 포함하는 온도 검출부; 및
    상기 온도 검출 회로들 각각으로 테스트 전압을 출력하며, 상기 온도 검출 회로들로부터 수신된 결과 전압들 중 가장 낮은 전압을 기준으로 보상된 클럭 신호를 상기 게이트 구동부로 출력하는 전압 발생 회로를 포함하는 표시 장치.
  2. 제1 항에 있어서,
    상기 온도 검출 회로들 각각은 직렬 연결된 복수의 다이오드 커넥트 트랜지스터들을 포함하는 표시 장치.
  3. 제1 항에 있어서,
    상기 게이트 구동부는 제1 게이트 구동부 및 제2 게이트 구동부를 포함하고, 상기 제1 게이트 구동부 및 상기 제2 게이트 구동부는 상기 복수의 게이트 라인들을 사이에 두고 상기 제1 방향으로 이격되어 배치되며, 상기 온도 검출 회로들은 상기 제1 게이트 구동부 또는 상기 제2 게이트 구동부와 상기 제1 방향으로 이격되어 인접하게 배치된 표시 장치.
  4. 제3 항에 있어서,
    상기 표시 패널은 상기 제2 방향을 따라 순차적으로 제1 영역, 제2 영역, 및 제3 영역이 정의되고, 상기 온도 검출부는 상기 제1 영역에 배치된 제1 온도 검출 회로, 상기 제2 영역에 배치된 제2 온도 검출 회로, 및 상기 제3 영역에 배치된 제3 온도 검출 회로를 포함하는 표시 장치.
  5. 제4 항에 있어서,
    상기 제1 내지 제3 온도 검출 회로들 중 적어도 어느 하나는 상기 제1 게이트 구동부와 인접하여 배치되고, 나머지 적어도 어느 하나는 상기 제2 게이트 구동부와 인접하여 배치된 표시 장치.
  6. 제4 항에 있어서,
    상기 온도 검출부는 상기 제1 영역에 배치된 제4 온도 검출 회로, 상기 제2 영역에 배치된 제5 온도 검출 회로 및 상기 제3 영역에 배치된 제6 온도 검출 회로를 더 포함하고,
    상기 제1 내지 제3 온도 검출 회로들은 상기 제1 게이트 구동부와 인접하여 배치되고, 상기 제4 내지 제6 온도 검출 회로들은 상기 제2 게이트 구동부와 인접하게 배치된 표시 장치.
  7. 제4 항에 있어서,
    상기 제1 온도 검출 회로가 포함하는 복수의 제1 다이오드 커넥트 트랜지스터들, 상기 제2 온도 검출 회로가 포함하는 복수의 제2 다이오드 커넥트 트랜지스터들, 상기 제3 온도 검출 회로가 포함하는 복수의 제3 다이오드 커넥트 트랜지스터들 각각의 수는 서로 동일한 표시 장치.
  8. 제7 항에 있어서,
    상기 복수의 제1 다이오드 커넥트 트랜지스터들의 수, 상기 복수의 제2 다이오드 커넥트 트랜지스터들의 수, 및 상기 제3 다이오드 커넥트 트랜지스터들의 수의 합은 상기 복수의 게이트 라인들의 수와 동일한 표시 장치.
  9. 제4 항에 있어서,
    상기 제1 온도 검출 회로는 제1 스위치를 포함하고, 상기 제2 온도 검출 회로는 제2 스위치를 포함하고, 상기 제3 온도 검출 회로는 제3 스위치를 포함하고,
    상기 제1 스위치, 상기 제2 스위치, 및 상기 제3 스위치는 순차적으로 턴-온되어 상기 전압 발생 회로로부터 상기 테스트 전압을 수신하고, 온도에 따라 변화된 상기 결과 전압을 상기 전압 발생 회로로 출력하는 표시 장치.
  10. 제9 항에 있어서,
    상기 전압 발생 회로는
    상기 제1 스위치, 상기 제2 스위치 및 상기 제3 스위치를 순차적으로 턴-온시키는 신호를 생성하는 스위치 신호 생성부;
    상기 테스트 전압을 출력하고, 상기 결과 전압들을 수신하는 전압 출력 및 센싱부;
    상기 테스트 전압과 상기 결과 전압들 사이의 전압 강하를 비교하여, 보상 기준을 판단하는 보상 기준 판단부; 및
    상기 보상 기준을 근거로 상기 클럭 신호를 보상하는 보상부를 포함하는 표시 장치.
  11. 제2 항에 있어서,
    상기 복수의 다이오드 커넥트 트랜지스터들은 상기 제2 방향을 따라 배열된 표시 장치.
  12. 제1 방향으로 연장하는 복수의 게이트 라인들, 및 상기 제1 방향과 교차하는 제2 방향으로 연장하는 복수의 데이터 라인들을 포함하며, 상기 제2 방향을 따라 순차적으로 제1 영역, 제2 영역 및 제3 영역이 정의된 표시 패널;
    상기 복수의 게이트 라인들로 게이트 신호를 출력하며, 상기 제1 영역, 상기 제2 영역 및 상기 제3 영역에 배치된 게이트 구동부;
    상기 제1 영역에 배치된 제1 온도 검출 회로, 상기 제2 영역에 배치된 제2 온도 검출 회로, 및 상기 제3 영역에 배치된 제3 온도 검출 회로를 포함하는 온도 검출부; 및
    상기 제1 내지 제3 온도 검출 회로들 각각으로 테스트 전압을 출력하며, 상기 제1 내지 제3 온도 검출 회로들로부터 수신된 제1 내지 제3 결과 전압들을 근거로 보상된 클럭 신호를 상기 게이트 구동부로 출력하는 전압 발생 회로를 포함하는 표시 장치.
  13. 제12 항에 있어서,
    상기 전압 발생 회로는 상기 제1 내지 제3 결과 전압들 각각과 상기 테스트 전압을 비교하여 전압 강하가 가장 큰 전압을 기준으로 상기 클럭 신호를 보상하는 표시 장치.
  14. 제12 항에 있어서,
    상기 게이트 구동부는 제1 게이트 구동부 및 제2 게이트 구동부를 포함하고, 상기 제1 게이트 구동부 및 상기 제2 게이트 구동부는 상기 복수의 게이트 라인들을 사이에 두고 상기 제1 방향으로 이격되어 배치되며, 상기 제1 내지 제3 온도 검출 회로들은 상기 제1 게이트 구동부 또는 상기 제2 게이트 구동부와 상기 제1 방향으로 이격되어 인접하게 배치된 표시 장치.
  15. 제14 항에 있어서,
    상기 제1 내지 제3 온도 검출 회로들 중 어느 하나는 상기 제1 게이트 구동부와 인접하여 배치되고, 나머지는 상기 제2 게이트 구동부와 인접하여 배치된 표시 장치.
  16. 제14 항에 있어서,
    상기 온도 검출부는 상기 제1 영역에 배치된 제4 온도 검출 회로, 상기 제2 영역에 배치된 제5 온도 검출 회로 및 상기 제3 영역에 배치된 제6 온도 검출 회로를 더 포함하고,
    상기 제1 내지 제3 온도 검출 회로들은 상기 제1 게이트 구동부와 인접하여 배치되고, 상기 제4 내지 제6 온도 검출 회로들은 상기 제2 게이트 구동부와 인접하게 배치된 표시 장치.
  17. 제13 항에 있어서,
    상기 제1 내지 제3 온도 검출 회로들 각각은 직렬 연결된 복수의 다이오드 커넥트 트랜지스터들을 포함하는 표시 장치.
  18. 표시 패널에 게이트 구동부 및 상기 게이트 구동부와 인접한 영역에 제1 내지 제3 온도 검출 회로가 집적된 표시 장치에 있어서,
    테스트 전압을 상기 제1 내지 제3 온도 검출 회로로 순차적으로 출력하는 테스트 전압 출력 단계;
    상기 제1 내지 제3 온도 검출 회로로부터 전압 강하된 제1 내지 제3 결과 전압들을 순차적으로 수신하는 테스트 전압 수신 단계;
    상기 제1 내지 제3 결과 전압들 각각과 상기 테스트 전압을 비교하는 전압 강하 비교 단계; 및
    상기 제1 내지 제3 결과 전압들 중 전압 강하가 가장 큰 결과 전압을 기준으로 상기 게이트 구동부로 출력되는 클럭 신호의 전압 레벨을 조절하여 온도 보상을 실시하는 온도 보상 단계를 포함하는 표시 장치 구동 방법.
  19. 제18 항에 있어서,
    상기 테스트 전압은 상기 표시 장치의 전원이 턴-온 된 후 소정 시간 지난 후에 출력되는 표시 장치 구동 방법.
  20. 제18 항에 있어서,
    상기 제1 내지 제3 온도 검출 회로 중 어느 하나로 상기 테스트 전압을 출력하기 위해 스위치 신호를 생성하는 단계를 더 포함하는 표시 장치 구동 방법.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110782857A (zh) * 2019-11-15 2020-02-11 Tcl华星光电技术有限公司 一种显示装置及其驱动方法
WO2021157923A1 (ko) * 2020-02-07 2021-08-12 삼성전자 주식회사 더미 화소가 구비된 표시 패널을 포함하는 전자 장치

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11263967B2 (en) * 2018-09-14 2022-03-01 Microsoft Technology Licensing, Llc Dynamic voltage display driver
CN113436566B (zh) * 2021-06-22 2023-05-02 上海中航光电子有限公司 显示面板及其驱动方法
KR20230085680A (ko) * 2021-12-07 2023-06-14 주식회사 엘엑스세미콘 타이밍 컨트롤러 및 드라이버, 그리고 이들을 포함하는 디스플레이 시스템

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20080024400A (ko) * 2006-09-13 2008-03-18 삼성전자주식회사 전압발생회로 및 이를 갖는 표시장치
KR20080038840A (ko) * 2006-10-31 2008-05-07 삼성전자주식회사 표시 장치의 구동 장치 및 이를 포함하는 표시 장치
KR20080057155A (ko) * 2006-12-19 2008-06-24 소니 가부시끼 가이샤 표시장치의 온도제어방법 및 표시장치
KR20120096710A (ko) * 2011-02-23 2012-08-31 삼성전자주식회사 표시 패널 및 이를 포함하는 표시 장치
KR20150071360A (ko) * 2013-12-18 2015-06-26 엘지디스플레이 주식회사 액정표시장치
KR20160070607A (ko) * 2014-12-10 2016-06-20 엘지디스플레이 주식회사 전원공급부 및 이를 포함하는 표시장치
KR20170003841A (ko) * 2015-06-30 2017-01-10 엘지디스플레이 주식회사 선택적 센싱을 구동하는 타이밍 컨트롤러 및 이를 포함하는 유기발광표시장치

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000338518A (ja) 1999-06-01 2000-12-08 Nec Corp 液晶表示装置および液晶表示装置の製造方法
KR100992135B1 (ko) 2003-11-10 2010-11-04 삼성전자주식회사 액정 표시 장치의 구동 장치
KR20050082779A (ko) 2004-02-20 2005-08-24 삼성전자주식회사 온도 감지 장치 및 이를 갖는 표시 장치
KR20090008950A (ko) 2007-07-19 2009-01-22 삼성전자주식회사 표시 장치 및 그 구동 방법
KR101117736B1 (ko) 2010-02-05 2012-02-27 삼성모바일디스플레이주식회사 디스플레이 장치
CN103901669B (zh) 2012-12-26 2017-04-19 上海天马微电子有限公司 一种液晶面板
KR102393370B1 (ko) 2014-10-02 2022-05-03 삼성디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 장치 및 그 구동 방법

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20080024400A (ko) * 2006-09-13 2008-03-18 삼성전자주식회사 전압발생회로 및 이를 갖는 표시장치
KR20080038840A (ko) * 2006-10-31 2008-05-07 삼성전자주식회사 표시 장치의 구동 장치 및 이를 포함하는 표시 장치
KR20080057155A (ko) * 2006-12-19 2008-06-24 소니 가부시끼 가이샤 표시장치의 온도제어방법 및 표시장치
KR20120096710A (ko) * 2011-02-23 2012-08-31 삼성전자주식회사 표시 패널 및 이를 포함하는 표시 장치
KR20150071360A (ko) * 2013-12-18 2015-06-26 엘지디스플레이 주식회사 액정표시장치
KR20160070607A (ko) * 2014-12-10 2016-06-20 엘지디스플레이 주식회사 전원공급부 및 이를 포함하는 표시장치
KR20170003841A (ko) * 2015-06-30 2017-01-10 엘지디스플레이 주식회사 선택적 센싱을 구동하는 타이밍 컨트롤러 및 이를 포함하는 유기발광표시장치

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110782857A (zh) * 2019-11-15 2020-02-11 Tcl华星光电技术有限公司 一种显示装置及其驱动方法
WO2021157923A1 (ko) * 2020-02-07 2021-08-12 삼성전자 주식회사 더미 화소가 구비된 표시 패널을 포함하는 전자 장치

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